JP2002087844A - 表示パネルの製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 155
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims abstract description 145
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 23
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 13
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 77
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 41
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 31
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 22
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 12
- 238000007654 immersion Methods 0.000 claims description 7
- 238000012993 chemical processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 claims description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 12
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 3
- QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N n-(2,4-dichloro-5-propan-2-yloxyphenyl)acetamide Chemical compound CC(C)OC1=CC(NC(C)=O)=C(Cl)C=C1Cl QPJSUIGXIBEQAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 16
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 8
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 7
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 3
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 2
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000011550 stock solution Substances 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C15/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by etching
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/133302—Rigid substrates, e.g. inorganic substrates
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
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Abstract
低下させることなく、表示パネルの軽量化及び薄型化を
実現する。 【解決手段】 表示パネルを製造する為、所定の肉厚を
有する基板を用いて表示パネル1を作り込むパネル作成
工程と、表示パネル1を薬液17に浸漬し、化学反応に
より基板の表面を一定量除去して肉厚を薄くする化学処
理工程とを行う。化学処理工程は、薬液17の温度変化
が予め設定した温度から±5℃の範囲に収まるように制
御しながら、基板の表面を一定量除去する。この場合、
薬液17の予め設定した温度は、30℃から60℃の間
にある。又、薬液17の濃度変化が予め設定した濃度か
ら±5重量%の範囲に収まるように制御しながら、基板
の表面を一定量除去する。この場合、薬液17の予め設
定した濃度は、10重量%から30重量%の間にある。
又、化学反応によって析出する物質を薬液17中から回
収しながら、基板の表面を一定量除去する。又、容器2
0に満たした薬液17を循環しながら表示パネル1を薬
液17に浸漬する。
Description
法に関する。より詳しくは、液晶ディスプレイなどで代
表されるガラス基板を用いたフラット型の表示パネルの
薄型化及び軽量化技術に関する。
イなどの表示パネルに対する需要の増加とともに、表示
パネルに対する薄型化及び軽量化への要求が高まってい
る。表示パネルにおいて、厚さと重さの点で大きなウエ
イトを占めているのがガラス基板である。従って、表示
パネルの薄型化及び軽量化には、ガラス基板の薄型化が
必要である。大型の液晶ディスプレイに着目した場合、
ガラス基板の厚さは、近年1.1mmから0.7mmに
薄型化されている。この場合には、単にガラス基板の厚
みを薄くして組立工程に投入するだけで済み、生産ライ
ンの大きな変更は要求されなかった。基板サイズについ
ても、0.7mm厚では、対角寸法が1mの表示パネル
までは対応可能と考えられている。
ル用途として、更なる基板の薄型化に対する要求が強ま
っている。次段階の基板厚みの目標としては、0.5m
mが想定されている。0.5mmまでガラス基板を薄く
すると、撓みが大きくなり、例えば600mm×700
mmのサイズのガラス基板を考えた場合、現状の生産技
術及び搬送技術では対応が不可能である。この為、基板
のサイズを400mm×500mmまで縮小して生産ラ
インを再構築することが考えられる。しかしながら、基
板サイズを縮小すると、一枚当たりから取り出される最
終製品としての液晶パネルの取り個数が少なくなる為、
生産性が大きく落ちることになる。又、一旦基板を厚い
まま表示パネルに組立て、その後にガラス基板の表面を
機械的に研磨することで、表示パネルの薄型化を図る試
みもある。しかしながら、この機械的な研磨方式では、
大型の基板を組立てた後、複数個のパネルに切り出した
後で、個々のパネル毎に機械研磨を掛ける為、やはり生
産性が低下するという課題がある。以上の様に、薄い基
板を生産ラインの最初から投入しようとすると、基板の
撓みの影響があり、基板サイズを無制限に大きくするこ
とができないという問題が生じる。又、基板をパネルに
組立てた後研磨して薄くしようとすると、基板からパネ
ルを一枚ずつ取り出した後に研磨処理することとなり、
時間が掛かる為生産性が低下するという問題が生じる。
に鑑み、本発明は基板サイズを縮小することなく且つ生
産性を低下させることなく、表示パネルの軽量化及び薄
型化を実現する製造方法を提供することを目的とする。
係る目的を達成する為に以下の手段を講じた。即ち、本
発明に係る表示パネルの製造方法は、所定の肉厚を有す
る基板を用いて表示パネルを作り込むパネル作成工程
と、該表示パネルを薬液に浸漬し、化学反応により該基
板の表面を一定量除去して肉厚を薄くする化学処理工程
とを行う。好ましくは、前記化学処理工程は、該薬液の
温度変化が予め設定した温度から±5℃の範囲に収まる
ように制御しながら、該基板の表面を一定量除去する。
この場合、前記化学処理工程は、該薬液の予め設定した
温度が、30℃から60℃の間にある。又、前記化学処
理工程は、該薬液の濃度変化が予め設定した濃度から±
5重量%の範囲に収まるように制御しながら、該基板の
表面を一定量除去する。この場合、前記化学処理工程
は、該薬液の予め設定した濃度が、10重量%から30
重量%の間にある。又、前記化学処理工程は、該化学反
応によって析出する物質を薬液中から回収しながら、該
基板の表面を一定量除去する。又、前記化学処理工程
は、容器に満たした薬液を循環しながら該表示パネルを
薬液に浸漬し、該基板の表面を一定量除去する。又、前
記化学処理工程は、該薬液に気泡を導入して攪拌しなが
ら該表示パネルを薬液に浸漬し、該基板の表面を一定量
除去する。又、前記化学処理工程は、該表示パネルを揺
動しながら薬液に浸漬し、該基板の表面を一定量除去す
る。又、前記パネル作成工程と前記化学処理工程との間
で、該基板に付着した異物を除去する異物除去工程を行
う。この場合、前記異物除去工程は、該基板にオゾン水
を作用させて異物を除去する。又、前記化学処理工程の
後、40℃以上に加温された純水を用いて、該基板に付
着した薬液を除去する薬液除去工程を行う。又、前記化
学処理工程は、該基板の表面を一定量除去したか否かを
検出する手順を含む。又、前記化学処理工程は、フッ酸
と硫酸を含む薬液に浸漬して、ガラスからなる基板の表
面を一定量除去する。又、前記パネル作成工程は、所定
の肉厚を有する二枚の基板を所定の間隙で互いに張り合
わせて表示パネルを作り込み、前記化学処理工程の後該
表示パネルの間隙に液晶を注入する液晶注入工程を行
う。或いは、前記パネル作成工程は、所定の肉厚を有す
る一枚の基板の上にエレクトロルミネッセンス素子を形
成して表示パネルを作り込み、前記化学処理工程は、該
エレクトロルミネッセンス素子を保護した状態で表示パ
ネルを薬液に浸漬し該基板の表面を一定量除去する。
する二枚の基板を組み合わせた後、これらの基板を薬液
に浸漬し、化学反応により基板表面を一定量除去する。
大型の基板から個々の表示パネルを切り出す前に一括し
て処理できる為、生産性を低下させることがない。又、
組立て段階では、厚い状態の基板を用いて生産プロセス
が進む為、基板を大型化してもハンドリングの問題が生
じない。尚、基板の厚みを全面に亘って一定に薄くする
為、本発明では化学反応に用いる薬液の温度を±5℃以
内に調節している。同様の目的で、薬液の濃度はばらつ
きの範囲が±5重量%以内に調節している。又、化学反
応中に生成した物質の再付着は均一な肉厚除去の障害と
なる為、再付着を防止する手段が講じられている。例え
ば、基板浸漬中に、化学反応で析出した物質を回収する
為にフィルタを使っている。又処理中薬液が循環する様
になっている。更に、薬液に気体を混入し、基板に対し
てバブリングの作用が働く様にする。加えて、処理中に
は、浸漬している基板が揺動できる様にする。又、化学
処理を均一に行なう為、予め基板を貼り合わせる工程と
化学的に基板をエッチングする工程との間に、基板に付
着している異物を除去する工程を加えている。この異物
除去工程では、例えば酸化力の強いオゾン水を用いて、
有機の異物を除去している。更には、基板に付着した薬
液を除去するリンス工程において、リンス液として40
℃以上の温純水を用いることで、乾燥を容易にしてい
る。又、基板を浸漬処理中あるいは浸漬処理後、所定量
除去されたことをモニタして、基板の厚み管理を定量的
に行なっている。
の形態を詳細に説明する。図1は、本発明に係る表示パ
ネルの製造方法の第一実施形態の一例を模式的に表わし
たものである。具体的には、本発明に係る表示パネルの
製造方法を実現する為の装置を概略的に表わしている。
図示する様に、本装置は容器20を基本としており、そ
の中には薬液17が満たされている。この薬液17に
は、処理対象となるパネル1を搭載したカセット6を投
入可能である。カセット6は、矢印で示す様に容器20
内で上下に揺動可能である。容器20にはHF供給ライ
ン7を介してフッ酸を含む薬液17を投入可能である。
又、容器20には純水供給ライン8を介して純水も導入
できる。容器20の底部には廃液ライン13が接続され
ており、使用済みとなった薬液17を排出することがで
きる。図示する様に、本発明の製造方法では、大型の基
板を貼り合わせてパネル1を作成した後、このパネル1
をカセット6に入れ、薬液17で満たされた容器20に
浸漬させて、基板表面を一定量除去する。薬液17とし
てはフッ酸(HF)を用い、濃度は20重量%に設定し
ている。又、容器20のサイズは、縦700mm×横7
00mm×高さ900mmとなっている。
1を組立てた状態を表わしている。ガラス基板の大きさ
は600mm×720mmであり、例えばコーニング社
製の7059を使用することができる。二枚のガラス基
板はシール剤3により互いに接着されている。シール剤
3で囲まれた部分は表示領域2となる。化学処理でガラ
ス基板の肉厚を一定量除去した後、パネル1は表示領域
2毎に切断され、本例の場合は最終的に四個の表示パネ
ルが得られる。本例では、表示領域2を囲むシール剤3
は完全に閉じた形状となっており、薬液が表示領域に浸
入できない様な構造としている。シール剤3の塗布はデ
ィスペンサにより行なう為、自動制御用のプログラムを
編集し、閉じたパタンに沿ってシール剤3を塗布するこ
とは容易である。シール剤3はエポキシ樹脂など熱硬化
性の樹脂を用いている。エポキシ樹脂はHFへの耐エッ
チング性がある為、パネル1をHFに浸漬した場合で
も、表示領域2を保護することができる。
な断面図である。図示する様に、パネル1は一対の基板
1a,1bをシール剤3で貼り合わせた構造となってい
る。ガラスからなる基板1a,1bを貼り合わせた後、
パネル1をHFの入った反応槽に浸漬させ、ガラス表面
のエッチングを行なった。時間は60分である。これに
より、点線で示す様に、両基板1a,1bの表面から肉
厚が一定量だけ除去されている。一時間経った後、槽内
のHFを排出し、同じ槽に純水を満たし、基板表面のリ
ンス処理を行なった。リンス時間は5分である。乾燥処
理を行なった後で、パネル1の面内における厚みを測定
した。処理前は、面内25点について、平均値が1.4
10mmで、分散が0.016mmであった。処理後
は、平均値が1.008mmで、分散が0.036であ
り、表示パネルとして問題のない面内均一性が得られ
た。
たパネルを、スクライブ、ブレークし、図の様に表示パ
ネル1x毎に切り出した。この時、表示パネル1xの表
示領域2を囲んでいたシール剤3の一部を注入口のとこ
ろで切り離す様にしている。ブレーク後、注入口から液
晶を注入し、偏光板を貼り付けて画像を表示させたとこ
ろ、曇り、むら、画素欠陥等のない、良好な表示が得ら
れた。
造方法は、所定の肉厚を有する基板1a,1bを用いて
表示パネル1を作り込むパネル作成工程と、表示パネル
1を薬液17に浸漬し、化学反応により基板1a,1b
の表面を一定量除去して肉厚を薄くする化学処理工程と
を行なう。化学処理工程では、薬液17の温度変化が予
め設定した温度から±5℃の範囲に収まる様に制御しな
がら、基板1a,1bの表面を一定量除去する。これに
より、表示パネルの厚みの面内ばらつきを均一にでき
る。尚、薬液の予め設定した温度は、30℃〜60℃の
間に入る。好ましくは40±5℃である。更に好ましく
は40±2℃である。30℃以下ではガラスのエッチン
グ速度が遅くなる。60℃以上では、エッチングの面内
均一性に悪影響が出る可能性がある。又、化学処理工程
では、薬液17の濃度変化が予め設定した濃度から±5
重量%の範囲に収まる様に制御しながら、基板1a,1
bの表面を一定量除去している。これにより、ガラス基
板の厚みの面内ばらつきを抑制することができる。尚、
薬液の予め設定した濃度は、10重量%から30重量%
の間にある。10重量%以下ではエッチングレートが遅
くなり、30重量%を超えるとエッチングにむらが生じ
る場合がある。好ましくは、化学処理工程では、化学反
応によって析出する物質を薬液中から回収しながら、基
板の表面を一定量除去している。例えば、ガラス基板を
HF(フッ酸)で処理した場合、化学反応によって反応
生成物が析出する場合がある。この析出した反応生成物
が基板表面に再付着するとエッチングむらとなる。そこ
で、フィルタを用いて薬液中から析出物質を回収するこ
とが好ましい。又、化学処理工程では、容器20に満た
した薬液17を循環しながらパネル1を薬液17に浸漬
し、基板1a,1bの表面を一定量除去する。これによ
り、析出物質の再付着を抑制できる。又、化学処理工程
では、薬液17に窒素ガスなどの気泡を導入して撹拌し
ながらパネル1を薬液に浸漬し、基板1a,1bの表面
を一定量除去するとよい。これにより、析出物質の再付
着を防止できる。同様な理由により、パネル1を揺動し
ながら薬液17に浸漬し、基板1a,1bの表面を一定
量除去するとよい。好ましくは、前述したパネル作成工
程と化学処理工程との間で、基板1a,1bに付着した
異物をあらかじめ除去する異物除去工程を行なうとよ
い。この異物除去工程では、例えば基板1a,1bにオ
ゾン水を作用させて、有機の異物を酸化作用により除去
できる。化学処理工程前に予め異物を除去することで、
エッチングを均一に行なうことができる。化学処理工程
の後、40℃以上に加温された純水を用いて、基板1
a,1bに付着した薬液を除去することが好ましい。温
純水を用いることで、リンス後の乾燥を容易に行なうこ
とができる。好ましくは、化学処理工程では、基板1
a,1bの表面を一定量除去したか否かを検出する手順
を含む。好適な実施例では、化学処理工程は、フッ酸
(HF)と硫酸を含む薬液に浸漬して、ガラスからなる
基板の表面を一定量除去する。フッ酸に加え硫酸を用い
ることで、化学反応によって析出する物質の量を抑制可
能である。即ち、硫酸は反応生成物の凝集を抑制する効
果が認められる。
の第二実施形態の一例を示すものであり、本製造方法を
実現する装置の概略を表わしている。尚、理解を容易に
する為に、図1に示した化学反応装置(エッチング装
置)と対応する部分には対応する参照番号を付してあ
る。図示する様に、本実施形態では、薬液17が容器2
0内で循環可能となっている。又、HF濃度計10を用
いた濃度調整機能の他、フィルタ11、ヒータ12、N
2 供給ライン25を有する。又、第一実施形態と同様に
カセット6は処理中に上下に揺動することが可能となっ
ている。薬液17はHFを用い、濃度は20重量%とし
た。又、容器20のサイズは、図1に示した第一実施形
態と同様に、縦700mm×横700mm×高さ900
mmとなっている。
により循環させる様にし、毎分10リットルの流量で循
環する様に設定した。濃度については、循環ラインにH
F濃度計10を取り付け、濃度が18重量%になった
ら、49重量%の原液をHF供給ライン7から供給する
設定とした。原液は濃度計10の値が22重量%となる
まで供給され、そこに到達したところでバルブVが閉ま
る様にしてある。尚、本実施形態では濃度を±2重量%
の範囲で制御しているが、±5重量%の範囲に制御すれ
ば、エッチングむらをある程度抑制することができる。
又、循環ラインの途中にフィルタ11を取り付けてい
る。フィルタ11の径は0.5μmとした。これによ
り、化学反応により生成された物質を濾過できる。又、
ヒータ12を取り付け、温度を上げてエッチングできる
様にしている。温度設定は、40℃としている。容器2
0に取り付けた温度計(図示省略)の値をヒータ12に
フィードバックして温度が40±2℃となる様に制御し
ている。尚、設定温度に対して±5℃の範囲で制御すれ
ば、基板表面のエッチングむらをある程度緩和すること
が可能である。又、薬液槽となる容器20の底部に気泡
発生器26を取り付け、N 2 供給ライン25からN2 を
送り込み、バブリングする機能も設けてある。これによ
り、反応生成物の再付着を防いでいる。更に、カセット
6を容器20に投入するロボット(図示せず)に、エッ
チング中もカセット6を上下に揺動させる機能も設けて
ある。カセット6は、エッチング中10cmの距離で上
下方向に揺動し、且つ30サイクル/分の間隔で上下動
する。
に示した処理槽に浸漬させ、表面のエッチングを行なっ
た。時間は第一実施形態と同様に一時間である。一時間
経った後、槽内のHFを排出し、同じ槽に純水を満た
し、基板表面のリンス処理を行なった。リンス時間は5
分とした。乾燥処理を行なった後で、基板面内厚さを測
定した。処理前は、面内25点について、平均値が1.
408mmで分散が0.018mmであった。処理後
は、平均値が0.924mmで分散が0.020であっ
た。第一実施形態よりも更に面内分布が改善され、表示
パネルとして問題のない面内均一性が得られた。
法の第三実施形態の一例を示す模式図であり、本製造方
法を実現する為の装置構成を概略的に表わしている。
尚、理解を容易にする為、図5に示した装置と対応する
部分には対応する参照番号を付してある。本実施形態で
は、基板表面をエッチングするHF槽となる容器20に
加え、リンス槽となる容器21を設けている。このリン
ス槽には、純水供給ライン8とオゾン水供給ライン14
が取り付けられている。オゾン水を供給するオゾン供給
装置を設け、リンス槽にオゾン水を供給する様にしてい
る。オゾン水の濃度は10ppmとしてある。純水供給
ライン8及びオゾン水供給ライン14はそれぞれ毎分1
0リットルの供給能力を持ち、HF槽で基板を処理中
に、リンス槽の中の薬液22を交換できる様にしてい
る。HF槽については第二実施形態と同様に、濃度調整
用のHF濃度計10、フィルタ11、ヒータ12、窒素
供給ライン(図示省略)、カセット揺動機構(図示省
略)を取り付け、第二実施形態と同様の処理を可能とし
ている。薬液はHFを用い、濃度は20重量%とした。
又、リンス槽の大きさは第一実施形態と同様、縦700
mm×横700mm×高さ900mmとなっている。処
理として、最初にリンス槽の中のオゾン水にパネルをデ
ィップし、その後HF槽でエッチングし、その後リンス
槽に戻して純水でリンスする工程とした。
れにより、パネル表面に付着した油やゴミなどの有機異
物を酸化作用で除去することができる。オゾン処理後、
カセット6ごとHF槽に移し、基板表面のエッチングを
行なった。エッチング処理については、濃度調整機能、
フィルタ、ヒータ、窒素供給ライン、カセット揺動機能
を使い、第二実施形態と同様の処理とした。時間も同じ
く一時間に設定した。HF処理後、今度はカセット6ご
と、リンス槽に移し、純水にてリンス処理を行なった。
リンス槽には、オゾン処理後オゾン水を排出した後にあ
らかじめ純水を満たしてある。このリンス槽にて、5分
間リンス処理を行なった。この後乾燥処理を行ない、基
板面内の厚みを測定した。処理前は面内25点につい
て、平均値1.405mm分散0.014mmであった
が、処理後は平均値0.902mm分散0.018であ
り、表示パネルとして問題のない面内均一性が得られ
た。又、第一実施形態及び第二実施形態で観察された基
板表面での若干の光の散乱が本実施形態では見られなか
った。これは、オゾン水処理によって基板表面から予め
異物を除去した効果が現れたものであると考えられる。
法の第四実施形態の一例を示す模式図であり、同じく本
製造方法を実現する装置を概略的に表わしている。本実
施形態では、パネル1の表面をエッチングするHF槽と
なる容器20の外側に、HeNeレーザ15とそのディ
テクタ16が取り付けられている。HeNeレーザ15
から発射した光束はパネル1に対して30°の角度で入
射し、ディテクタ16にパネル1を通過したレーザ光が
取り込まれる様になっている。レーザ光はパネル1の基
板に入射すると屈折して光路が変わるが、ディテクタ1
6は基板の厚みが1.0mmになった時丁度屈折したレ
ーザ光を取り込むことができる様に位置決め設定されて
いる。
1を浸漬し、エッチングを行なったところ、48分30
秒でHeNeレーザ15とディテクタ16からなる厚み
センサが作動した。そこで、HFが排出され、以降は第
二実施形態と同様にリンス処理及び乾燥処理を行なっ
た。処理後、レーザ光が当たった部分の厚みを測定した
ところ、0.998mmであった。又、処理後の面内均
一性は、平均値1.004mm、分散0.019であ
り、表示パネルとして問題のない面内均一性が得られ
た。
ネルの一例を示す模式的な斜視図である。本例は、一対
の基板を貼り合わせて作成した液晶表示装置である。図
示するように、本表示装置は一対の絶縁基板100,1
02と両者の間に保持された電気光学物質103とを備
えたパネル構造を有する。電気光学物質103として
は、液晶材料を用いる。下側の絶縁基板100には画素
アレイ部104と駆動回路部とが集積形成されている。
駆動回路部は垂直駆動回路105と水平駆動回路106
とに分かれている。又、絶縁基板100の周辺部上端に
は外部接続用の端子部107が形成されている。端子部
107は配線108を介して垂直駆動回路105及び水
平駆動回路106に接続している。画素アレイ部104
には行状のゲート配線109と列状の信号配線110が
形成されている。両配線の交差部には画素電極111と
これを駆動する薄膜トランジスタTFTが形成されてい
る。薄膜トランジスタTFTのゲート電極は対応するゲ
ート配線109に接続され、ドレイン領域は対応する画
素電極111に接続され、ソース領域は対応する信号配
線110に接続している。ゲート配線109は垂直駆動
回路105に接続する一方、信号配線110は水平駆動
回路106に接続している。
置の他の例を示す模式的な部分断面図である。本例で
は、一枚の基板を用いてエレクトロルミネッセンス表示
装置を作成している。尚、このパネルをエッチングする
際には、予め画素部を保護した状態で、HFに浸漬し、
ガラス基板のエッチングを行なうことが好ましい。本実
施例は、画素として有機エレクトロルミネッセンス素子
OLEDを用いている。図示する様に、OLEDは陽極
A,有機層210及び陰極Kを順に重ねたものである。
陽極Aは画素毎に分離しており、例えばクロムからなり
基本的に光反射性である。陰極Kは画素間で共通接続さ
れており、例えば極薄の金属層211と透明導電層21
2の積層構造であり、基本的に光透過性である。係る構
成を有するOLEDの陽極A/陰極K間に順方向の電圧
(10V程度)を印加すると、電子や正孔などキャリア
の注入が起こり、発光が観測される。OLEDの動作
は、陽極Aから注入された正孔と陰極Kから注入された
電子により形成された励起子による発光と考えられる。
タTFTは、ガラスなどからなる基板200の上に形成
されたゲート電極201と、その上面に重ねられたゲー
ト絶縁膜223と、このゲート絶縁膜223を介してゲ
ート電極201の上方に重ねられた半導体薄膜205と
からなる。薄膜トランジスタTFTはOLEDに供給さ
れる電流の通路となるソース領域S、チャネル領域Ch
及びドレイン領域Dを備えている。チャネル領域Chは
丁度ゲート電極201の直上に位置する。このボトムゲ
ート構造を有する薄膜トランジスタTFTは層間絶縁膜
207により被覆されており、その上には配線電極20
9及びドレイン電極220が形成されている。これらの
上には別の層間絶縁膜291を介して前述したOLED
が成膜されている。このOLEDの陽極Aはドレイン電
極220を介して薄膜トランジスタTFTに電気接続さ
れている。
パネルの製造方法では、基板表面に対して半導体プロセ
スなどを行なって画素アレイを形成した後、他の基板あ
るいは保護部材を貼り合わせた状態で、薬液に浸漬し基
板の表面を化学的な反応によりエッチングしている。従
って、厚い基板のままで基板表面に対する半導体プロセ
スが行なえ、現状の表示パネル製造プロセスに化学反応
プロセスを加えるだけで、薄型及び軽量の表示パネルが
得られる。又、本発明に係る製造方法では、パネルを薬
液へ浸漬し化学的な反応により基板表面を一定量除去す
る為、基板をバッチ処理することが可能である。この
為、薬液槽を大型化することにより、600mm×70
0mm程度の大型基板でも、一時間当たり20枚の処理
が可能となり、量産設備としての適応性がある。
形態を示す模式図である。
す平面図である。
面図である。
示す平面図である。
形態を示す模式図である。
模式図である。
形態を示す模式図である。
示す斜視図である。
を示す部分断面図である。
・・・表示領域、3・・・シール剤、6・・・カセッ
ト、7・・・HF供給ライン、8・・・純水供給ライ
ン、9・・・循環ポンプ、10・・・HF濃度計、11
・・・フィルタ、12・・・ヒータ、13・・・廃液ラ
イン、14・・・オゾン水供給ライン、15・・・He
Neレーザ、16・・・ディテクタ
Claims (32)
- 【請求項1】 所定の肉厚を有する基板を用いて表示パ
ネルを作り込むパネル作成工程と、 該表示パネルを薬液に浸漬し、化学反応により該基板の
表面を一定量除去して肉厚を薄くする化学処理工程とを
行う表示パネルの製造方法。 - 【請求項2】 前記化学処理工程は、該薬液の温度変化
が予め設定した温度から±5℃の範囲に収まるように制
御しながら、該基板の表面を一定量除去する請求項1記
載の表示パネルの製造方法。 - 【請求項3】 前記化学処理工程は、該薬液の予め設定
した温度が、30℃から60℃の間にある請求項2記載
の表示パネルの製造方法。 - 【請求項4】 前記化学処理工程は、該薬液の濃度変化
が予め設定した濃度から±5重量%の範囲に収まるよう
に制御しながら、該基板の表面を一定量除去する請求項
1記載の表示パネルの製造方法。 - 【請求項5】 前記化学処理工程は、該薬液の予め設定
した濃度が、10重量%から30重量%の間にある請求
項4記載の表示パネルの製造方法。 - 【請求項6】 前記化学処理工程は、該化学反応によっ
て析出する物質を薬液中から回収しながら、該基板の表
面を一定量除去する請求項1記載の表示パネルの製造方
法。 - 【請求項7】 前記化学処理工程は、容器に満たした薬
液を循環しながら該表示パネルを薬液に浸漬し、該基板
の表面を一定量除去する請求項1記載の表示パネルの製
造方法。 - 【請求項8】 前記化学処理工程は、該薬液に気泡を導
入して攪拌しながら該表示パネルを薬液に浸漬し、該基
板の表面を一定量除去する請求項1記載の表示パネルの
製造方法。 - 【請求項9】 前記化学処理工程は、該表示パネルを揺
動しながら薬液に浸漬し、該基板の表面を一定量除去す
る請求項1記載の表示パネルの製造方法。 - 【請求項10】 前記パネル作成工程と前記化学処理工
程との間で、該基板に付着した異物を除去する異物除去
工程を行う請求項1記載の表示パネルの製造方法。 - 【請求項11】 前記異物除去工程は、該基板にオゾン
水を作用させて異物を除去する請求項10記載の表示パ
ネルの製造方法。 - 【請求項12】 前記化学処理工程の後、40℃以上に
加温された純水を用いて、該基板に付着した薬液を除去
する薬液除去工程を行う請求項1記載の表示パネルの製
造方法。 - 【請求項13】 前記化学処理工程は、該基板の表面を
一定量除去したか否かを検出する手順を含む請求項1記
載の表示パネルの製造方法。 - 【請求項14】 前記化学処理工程は、フッ酸と硫酸を
含む薬液に浸漬して、ガラスからなる基板の表面を一定
量除去する請求項1記載の表示パネルの製造方法。 - 【請求項15】 前記パネル作成工程は、所定の肉厚を
有する二枚の基板を所定の間隙で互いに張り合わせて表
示パネルを作り込み、前記化学処理工程の後該表示パネ
ルの間隙に液晶を注入する液晶注入工程を行う請求項1
記載の表示パネルの製造方法。 - 【請求項16】 前記パネル作成工程は、所定の肉厚を
有する一枚の基板の上にエレクトロルミネッセンス素子
を形成して表示パネルを作り込み、前記化学処理工程
は、該エレクトロルミネッセンス素子を保護した状態で
表示パネルを薬液に浸漬し該基板の表面を一定量除去す
る請求項1記載の表示パネルの製造方法。 - 【請求項17】 所定の肉厚を有する基板を用いて作り
込まれた表示パネルであって、該基板は、該表示パネル
を薬液に浸漬し、化学反応により該基板の表面を一定量
除去して肉厚を薄くしたものであることを特徴とする表
示パネル。 - 【請求項18】 前記基板は、該薬液の温度変化が予め
設定した温度から±5℃の範囲に収まるように制御しな
がら、表面を一定量除去したものであることを特徴とす
る請求項17記載の表示パネル。 - 【請求項19】 前記基板は、該薬液の予め設定した温
度が30℃から60℃の間で表面を一定量除去したもの
であることを特徴とする請求項18記載の表示パネル。 - 【請求項20】 前記基板は、該薬液の濃度変化が予め
設定した濃度から±5重量%の範囲に収まるように制御
しながら、表面を一定量除去したものであることを特徴
とする請求項17記載の表示パネル。 - 【請求項21】 前記基板は、該薬液の予め設定した濃
度が10重量%から30重量%の間で表面を一定量除去
したものであることを特徴とする請求項20記載の表示
パネル。 - 【請求項22】 前記基板は、該化学反応によって析出
する物質を薬液中から回収しながら表面を一定量除去し
たものであることを特徴とする請求項17記載の表示パ
ネル。 - 【請求項23】 前記基板は、容器に満たした薬液を循
環しながら容器に浸漬して表面を一定量除去したもので
あることを特徴とする請求項17記載の表示パネル。 - 【請求項24】 前記基板は、該薬液に気泡を導入して
攪拌しながら浸漬して表面を一定量除去したものである
ことを特徴とする請求項17記載の表示パネル。 - 【請求項25】 前記基板は、該表示パネルを揺動しな
がら薬液に浸漬し、該基板の表面を一定量除去したもの
であることを特徴とする請求項17記載の表示パネルの
製造方法。 - 【請求項26】 前記基板は、薬液に浸漬して化学反応
により表面を一定量除去する前に、表面に付着していた
異物を予め除去したものであることを特徴とする請求項
17記載の表示パネル。 - 【請求項27】 前記基板は、オゾン水を作用させて表
面に付着していた異物を予め除去したものであることを
特徴とする請求項26記載の表示パネル。 - 【請求項28】 前記基板は、40℃以上に加温された
純水を用いて表面に付着した薬液を除去したものである
事を特徴とする請求項17記載の表示パネル。 - 【請求項29】 前記基板は、肉厚の変化を検出しなが
ら表面を一定量除去したものであることを特徴とする請
求項17記載の表示パネル。 - 【請求項30】 前記基板はガラスからなり、フッ酸と
硫酸を含む薬液に浸漬して表面を一定量除去したもので
あることを特徴とする請求項17記載の表示パネル。 - 【請求項31】 所定の肉厚を有する二枚の基板を所定
の間隙で互いに張り合わせた後、薬液に浸漬して各基板
の表面を一定量除去し、該間隙に液晶を注入したもので
あることを特徴とする請求項17記載の表示パネル。 - 【請求項32】 所定の肉厚を有する一枚の基板の上に
エレクトロルミネッセンス素子を形成した後、該エレク
トロルミネッセンス素子を保護した状態で該基板を薬液
に浸漬し表面を一定量除去したものであることを特徴と
する請求項17記載の表示パネル。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000280363A JP2002087844A (ja) | 2000-09-14 | 2000-09-14 | 表示パネルの製造方法 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2000280363A JP2002087844A (ja) | 2000-09-14 | 2000-09-14 | 表示パネルの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002087844A true JP2002087844A (ja) | 2002-03-27 |
Family
ID=18765217
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000280363A Pending JP2002087844A (ja) | 2000-09-14 | 2000-09-14 | 表示パネルの製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6646711B2 (ja) |
JP (1) | JP2002087844A (ja) |
KR (1) | KR100780256B1 (ja) |
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KR100780256B1 (ko) | 2007-11-28 |
TW543014B (en) | 2003-07-21 |
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Legal Events
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A977 | Report on retrieval |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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