JP2001345174A - 自発光装置及びその作製方法 - Google Patents
自発光装置及びその作製方法Info
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Abstract
層、陰極を形成し、さらに、EL素子上にEL素子を封
止する層を連続的に形成することを目的とする。 【解決手段】 EL層及びカバー層を同一の成膜方法で
形成することにより、図1(A)に示すように、EL
層、陰極、バリア層及びカバー層を連続的に同一のマル
チチャンバーで形成することができる。以上により、図
1(B)に示すようなEL素子の封止構造を形成するこ
とができる。
Description
れらの間にEL(Electro Luminescence)が得られる発
光性有機材料(以下、有機EL材料という)を挟んだ構
造でなるEL素子を絶縁体上に形成した自発光装置及び
その自発光装置を表示部(表示ディスプレイまたは表示
モニター)として有する電気器具の作製方法に関する。
なお、上記自発光装置はOLED(Organic Light Emit
ting Diodes)ともいう。
した自発光素子としてEL素子を用いた表示装置(自発
光装置)の開発が進んでいる。自発光装置は自発光型で
あるため、液晶表示装置のようなバックライトが不要で
あり、さらに視野角が広いことから電気器具の表示部と
して有望視されている。
ンス(Electro Luminescence:電場を加えることで発生
するルミネッセンス)が得られる有機化合物を含む層
(以下、EL層と記す)と、陽極層と、陰極層とを有す
る。有機化合物におけるルミネッセンスには、一重項励
起状態から基底状態に戻る際の発光(蛍光)と三重項励
起状態から基底状態に戻る際の発光(リン光)とがある
が、本発明は、どちらの発光を用いた場合にも適用可能
である。
ス型)とアクティブ型(アクティブマトリクス型)の2
種類があり、どちらも盛んに開発が行われている。特に
現在はアクティブマトリクス型自発光装置が注目されて
いる。また、EL素子の中心とも言えるEL層となるE
L材料は、低分子系有機EL材料と高分子系(ポリマー
系)有機EL材料とがそれぞれ研究されているが、低分
子有機EL材料よりも取り扱いが容易で耐熱性の高いポ
リマー系有機EL材料が注目されている。
は、電界により制御して塗布する方法やセイコーエプソ
ン株式会社が提唱するインクジェット法が挙げられる。
EL素子上にEL素子を覆って形成される有機材料(有
機樹脂)からなる膜(以下、カバー層とよぶ)を同一の
方法を用いて形成するというものである。なお、カバー
層とは、陽極、EL層及び陰極からなるEL素子の陰極
上に形成される有機材料からなるものであり、このカバ
ー層を設けることでTFTまたは、EL素子の応力緩和
に効果的である。さらに水分や酸素のEL層への進入を
防ぐことができ、これによりEL層の劣化を防ぐことが
できる。さらに、カバー層の上に無機材料からなる膜
(以下、バリア層とよぶ)を形成することにより、水分
や酸素がカバー層、またはEL層へ進入するのを防ぐこ
とができる。
内でEL層から陰極、バリア層およびカバー層までを連
続的に処理することを課題とする。
くカバー層を形成することを課題とする。さらに、この
ような手段を用いた自発光装置及びその作製方法を提供
するとともに、このような自発光装置を表示部として有
する電気器具を提供することを課題とする。
に用いるマルチチャンバーとは、EL層及び有機材料か
らなるカバー層を電界塗布法又は、インクジェット法で
塗布形成するための塗布室と陰極を蒸着法で形成するた
めの蒸着室と窒化珪素や酸化タンタルからなるバリア層
を形成するためのスパッタリング室を有する成膜装置で
ある。
溶解させた溶液を塗布してEL層を形成する場合には、
この溶液を材料室に備える。本明細書中では、この溶液
を塗布液という。そして、塗布液が霧状になり電荷を持
つと、電極により与えられる電界に制御され、基板上の
塗布位置に成膜される。
機樹脂液を材料室に備えておき、これをEL層形成と同
様の方法で塗布し形成する。
上にカバー層を形成した後でバリア層を形成しても良い
し、EL素子の陰極上にバリア層を形成した後でカバー
層を形成する構造としても良い。
て図1を用いて説明する。図1(A)に示すように、E
L層、陰極、バリア層及びカバー層を連続的に同一のマ
ルチチャンバーで形成することができる。
の進入を防ぐために設ける無機材料で形成されるパッシ
ベーション膜のことをいう。
ェット方式を用いてEL層を形成する。次に蒸着室で陰
極を蒸着法により形成させ、さらにこの陰極上にバリア
層として窒化珪素、酸化タンタル、窒化アルミニウムも
しくは炭素からなるダイヤモンドライクカーボン(DL
C)といった無機材料からなる無機膜をスパッタリング
法やプラズマCVD法を用いて形成する。最後に、バリ
ア層の上にEL層を形成したときと同様に塗布室でイン
クジェット法によりカバー層を形成することで自発光装
置の封止構造を完成することができる。
を形成するときに同じ方法を用いているために所望の位
置のみに選択的に膜を形成することができ、同一チャン
バー内で処理することが可能である。
を図1(B)に示す。図1(B)において101はガラ
ス基板であり、102は電流制御用TFTである。さら
に、103は、電流制御用TFTに電気的に接続された
透明性の導電膜からなる画素電極である。画素電極10
3上には、EL層104を前に述べたような方法で形成
する。さらに、EL層104上に、陰極105を蒸着法
で形成する。
ンタルまたは、炭素からなるDLC膜といった無機膜か
らなるバリア層106を形成した後、有機樹脂膜からな
るカバー層107をEL層と同様の塗布方法で形成す
る。
7を形成する際に電界で塗布液を制御して塗布する電界
塗布法を示す。図1(C)において、110は、図1
(B)に示す積層構造のうちバリア層まで形成した基板
である。また、111は、カバー層を形成するための有
機樹脂液が備えられている材料室である。材料室111
には、超音波振動子112を設け、有機樹脂液が放出さ
れる材料室111の先端のノズル113には、電極11
4を設ける。
で超音波振動子112に与えられる超音波振動により霧
状になる。ここで霧状になった有機樹脂液は材料室11
1のノズル113に設けた電極114により帯電して帯
電粒子となり、アクティブマトリクス基板110上の所
望の位置に成膜される。
極115がノズル113から引き出し、加速電極116
が飛翔方向に加速し、さらに制御電極117が塗布位置
を制御して基板110の所望の位置に塗布する。
構造を同一のマルチチャンバー内で形成することができ
自発光装置の封止構造が完成する。
て、無機材料からなるバリア層を形成した後、有機材料
からなるカバー層を形成した場合について示したが、本
発明においては、EL素子を覆って有機材料からなるカ
バー層を形成した後で、無機材料からなるバリア層を形
成しても良い。
素部の断面図を図2に、その上面図を図3(A)に、そ
の回路構成を図3(B)に示す。実際には画素がストラ
イプ状に複数配列されて画素部(画像表示部)が形成さ
れる。なお、図3(A)をA−A’で切断した断面図が
図2に相当する。従って図2及び図3で共通の符号を用
いているので、適宜両図面を参照すると良い。また、図
3の上面図では二つの画素を図示しているが、どちらも
同じ構造である。
なる絶縁膜(以下、下地膜という)である。基板11と
してはガラス、ガラスセラミックス、石英、シリコン、
セラミックス、金属若しくはプラスチックでなる基板を
用いることができる。
基板や導電性を有する基板を用いる場合に有効である
が、石英基板には設けなくても構わない。下地膜12と
しては、珪素(シリコン)を含む絶縁膜を用いれば良
い。なお、本明細書において「珪素を含む絶縁膜」と
は、具体的には酸化珪素膜、窒化珪素膜若しくは窒化酸
化珪素膜(SiOxNyで示される)など珪素、酸素若
しくは窒素を所定の割合で含む絶縁膜を指す。
とによりTFTの発熱を発散させることはTFTの劣化
又はEL素子の劣化を防ぐためにも有効である。放熱効
果を持たせるには公知のあらゆる材料を用いることがで
きる。
いる。201はスイッチング用TFTであり、nチャネ
ル型TFTで形成され、202は電流制御用TFTであ
り、pチャネル型TFTで形成されている。
TFTをnチャネル型TFT、電流制御用TFTをpチ
ャネル型TFTに限定する必要はなく、スイッチング用
TFTをpチャネル型TFT、電流制御用TFTをnチ
ャネル型TFTにしたり、両方ともnチャネル型、又は
pチャネル型TFTを用いることも可能である。
域13、ドレイン領域14、LDD領域15a〜15d、
高濃度不純物領域16及びチャネル形成領域17a、1
7bを含む活性層、ゲート絶縁膜18、ゲート電極19
a、19b、第1層間絶縁膜20、ソース配線21並びに
ドレイン配線22を有して形成される。
a、19bは別の材料(ゲート電極19a、19bよりも低
抵抗な材料)で形成されたゲート配線211によって電
気的に接続されたダブルゲート構造となっている。勿
論、ダブルゲート構造だけでなく、シングルゲートもし
くはトリプルゲート構造といったいわゆるマルチゲート
構造(直列に接続された二つ以上のチャネル形成領域を
有する活性層を含む構造)であっても良い。マルチゲー
ト構造はオフ電流値を低減する上で極めて有効であり、
本発明では画素のスイッチング素子201をマルチゲー
ト構造とすることによりオフ電流値の低いスイッチング
素子を実現している。
形成される。即ち、単結晶半導体膜でも良いし、多結晶
半導体膜や微結晶半導体膜でも良い。また、ゲート絶縁
膜18は珪素を含む絶縁膜で形成すれば良い。また、ゲ
ート電極、ソース配線若しくはドレイン配線としてはあ
らゆる導電膜を用いることができる。
いては、LDD領域15a〜15dは、ゲート絶縁膜18
を挟んでゲート電極19a、19bと重ならないように設
ける。このような構造はオフ電流値を低減する上で非常
に効果的である。
間にオフセット領域(チャネル形成領域と同一組成の半
導体層からなり、ゲート電圧が印加されない領域)を設
けることはオフ電流値を下げる上でさらに好ましい。ま
た、二つ以上のゲート電極を有するマルチゲート構造の
場合、チャネル形成領域の間に設けられた高濃度不純物
領域がオフ電流値の低減に効果的である。
領域31、ドレイン領域32及びチャネル形成領域34
を含む活性層、ゲート絶縁膜18、ゲート電極35、第
1層間絶縁膜20、ソース配線36並びにドレイン配線
37を有して形成される。なお、ゲート電極35はシン
グルゲート構造となっているが、マルチゲート構造であ
っても良い。
のドレインは電流制御用TFT202のゲートに接続さ
れている。具体的には電流制御用TFT202のゲート
電極35はスイッチング用TFT201のドレイン領域
14とドレイン配線(接続配線とも言える)22を介し
て電気的に接続されている。また、ソース配線36は電
源供給線212に接続される。
に注入される電流量を制御するための素子であるが、E
L素子の劣化を考慮するとあまり多くの電流を流すこと
は好ましくない。そのため、電流制御用TFT202に
過剰な電流が流れないように、チャネル長(L)は長め
に設計することが好ましい。望ましくは一画素あたり
0.5〜2μA(好ましくは1〜1.5μA)となるよ
うにする。
されるLDD領域の長さ(幅)は0.5〜3.5μm、
代表的には2.0〜2.5μmとすれば良い。
202のゲート電極35を含む配線は、50で示される
領域で電源供給線212と絶縁膜を挟んで重なる。この
とき50で示される領域では、保持容量(コンデンサ)
が形成される。保持容量50には半導体膜51、ゲート
絶縁膜と同一層の絶縁膜(図示せず)及び電源供給線2
12で形成される容量も用いることが可能である。この
保持容量50は、電流制御用TFT202のゲート電極
35にかかる電圧を保持するためのコンデンサとして機
能する。
点から見れば、電流制御用TFT202の活性層(特に
チャネル形成領域)の膜厚を厚くする(好ましくは50
〜100nm、さらに好ましくは60〜80nm)こと
も有効である。逆に、スイッチング用TFT201の場
合はオフ電流値を小さくするという観点から見れば、活
性層(特にチャネル形成領域)の膜厚を薄くする(好ま
しくは20〜50nm、さらに好ましくは25〜40n
m)ことも有効である。
り、膜厚は10nm〜1μm(好ましくは200〜50
0nm)とすれば良い。材料としては、珪素を含む絶縁
膜(特に窒化酸化珪素膜又は窒化珪素膜が好ましい)を
用いることができる。
TFTを覆うような形で第2層間絶縁膜(平坦化膜と言
っても良い)39を形成し、TFTによってできる段差
の平坦化を行う。第2層間絶縁膜39としては、有機樹
脂膜が好ましく、ポリイミド、ポリアミド、アクリル樹
脂、BCB(ベンゾシクロブテン)等を用いると良い。
勿論、十分な平坦化が可能であれば、無機膜を用いても
良い。
段差を平坦化することは非常に重要である。後に形成さ
れるEL層は非常に薄いため、段差が存在することによ
って発光不良を起こす場合がある。従って、EL層をで
きるだけ平坦面に形成しうるように画素電極を形成する
前に平坦化しておくことが望ましい。
(EL素子の陽極に相当する)であり、第2層間絶縁膜
39及び第1パッシベーション膜38にコンタクトホー
ル(開孔)を開けた後、形成された開口部において電流
制御用TFT202のドレイン配線37に接続されるよ
うに形成される。
ジウムと酸化スズの化合物でなる導電膜を用いる。ま
た、これに少量のガリウムを添加しても良い。さらに酸
化インジウムと酸化亜鉛との化合物や酸化亜鉛と酸化ガ
リウムの化合物を用いることもできる。
ンク41を形成する。バンクは、1〜2μm厚のアクリ
ル樹脂または、ポリイミド膜をパターニングして形成す
ればよい。このバンク41は、画素列と画素列の間にス
トライプ状に形成される。本実施例ではソース配線21
に沿って形成するがゲート配線35に沿って形成しても
良い。
うな電界塗布法により形成される。なお、ここでは一画
素しか図示していないが、R(赤)、G(緑)、B
(青)の各色に対応したEL層が形成される。
リマー系材料を用いる。代表的なポリマー系材料として
は、ポリパラフェニレンビニレン(PPV)系、ポリビ
ニルカルバゾール(PVK)系、ポリフルオレン系など
が挙げられる。
な型のものがあるが、例えば以下のような分子式が発表
されている。 (「H. Shenk,H.Becker,O.Gelsen,E.Kluge,W.Kreuder,a
nd H.Spreitzer,“Polymers for Light Emitting Diode
s”,Euro Display,Proceedings,1999,p.33-37」)
載された分子式のポリフェニルビニルを用いることもで
きる。分子式は以下のようになる。
のような分子式がある。
で溶媒に溶かして塗布することもできるし、モノマーの
状態で溶媒に溶かして塗布した後に重合することもでき
る。モノマーの状態で塗布した場合、まずポリマー前駆
体が形成され、真空中で加熱することにより重合してポ
リマーになる。
EL層にはシアノポリフェニレンビニレン、緑色に発光
するEL層にはポリフェニレンビニレン、青色に発光す
るEL層にはポリフェニレンビニレン若しくはポリアル
キルフェニレンを用いれば良い。膜厚は30〜150n
m(好ましくは40〜100nm)とすれば良い。
いることのできる有機EL材料の一例であって、これに
限定する必要はまったくない。本発明では有機EL材料
と溶媒との混合物を電界塗布方式により塗布して、溶媒
を揮発させて除去することによりEL層を形成する。従
って、溶媒を揮発させる際にEL層のガラス転移温度を
超えない組み合わせであれば如何なる有機EL材料を用
いても良いし、ここでは述べなかったような低分子EL
材料を用いたり、低分子材料と高分子材料を併せて用い
て形成させても良い。
シレン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン、アニソー
ル、クロロフォルム、ジクロロメタン、γブチルラクト
ン、ブチルセルソルブ、シクロヘキサン、NMP(N−
メチル−2−ピロリドン)、シクロヘキサノン、ジオキ
サンまたは、THF(テトラヒドロフラン)が挙げられ
る。なお、前出のEL材料を上記の溶媒に溶解させた溶
液を本明細書中では、塗布液と呼ぶ。また、塗布液の粘
性は、1×10-3〜3×10-2Pa・sであることが好
ましい。
1に備えられた塗布液が超音波振動子112により霧状
になる。これがノズル113に設けられている電極11
4による電界の影響で塗布液が帯電粒子となると引き出
し電極115によりノズル113から引き出される。引
き出された塗布液は、加速電極116により加速された
後、制御電極117により制御され所望の位置に塗布さ
れる。これによりEL層を形成する。なお、この塗布液
が材料室111から飛び出す瞬間にノズル113に取り
付けられている電極114に与えられる電界の影響で塗
布液が帯電し、帯電粒子となる。
備えられている赤色EL層用塗布液を霧状にして電界で
制御して塗布することで、画素上の赤色に発光する画素
列を形成することができる。次に基板を隣の画素列方向
に3列分移動しながら2列おきに赤色に発光する画素列
を形成する。次に、材料室111に備えられている緑色
EL層用塗布液を同様に塗布させ、緑色に発光すべき画
素列を2列おきに形成する。さらに材料室111に備え
られている青色EL層用塗布液を同様に塗布させ、青色
に発光すべき画素列を形成する。
列にストライプ状に並んだ画素列を基板上に複数形成さ
せることができる。
111は、EL層用塗布液の種類を変える度に一緒に変
えても良いし、材料室を変えずにEL層用塗布液のみを
入れ替えて用いても良い。また、材料室111に取り付
けられているノズル113は、一つに限られることはな
く二つ以上であっても良い。
1と基板の間にマスクを備えてマスクを介して基板上に
塗布液が塗布される位置を制御してもよい。なお、材料
室111及びマスクを別々に設けても良いが、一体形成
して装置化しても良い。
は水分や酸素の存在によって容易に劣化してしまうた
め、処理雰囲気は水分や酸素の少ない雰囲気とし、窒素
やアルゴンといった不活性ガス中で行うことが望まし
い。さらに処理雰囲気としては、塗布液の蒸発速度を制
御できることから塗布液作製に用いた溶媒雰囲気にする
のも良い。
ら、次に遮光性導電膜からなる陰極43及び保護電極が
形成される。本実施例では陰極43として、MgAgか
らなる導電膜を用い、保護電極44としてアルミニウム
からなる導電膜を用いる。
で、陰極43はなるべく低温(好ましくは室温から12
0℃までの温度範囲)で成膜するのが望ましい。従っ
て、プラズマCVD法、スパッタリング法が望ましい成
膜方法といえる。又、ここまで完成したものを本明細書
中では、アクティブマトリクス基板という。
クス基板上に窒化珪素、酸化タンタル及びまたは炭素と
いった無機膜からなるバリア層45を形成させた後、有
機樹脂膜からなるカバー層46を図1(C)で説明した
ような電界塗布法で形成する。このときカバー層46を
形成するために用いる有機樹脂液の粘性は、1×10 -3
〜3×10-2Pa・sであることが好ましい。又、この
とき形成されるカバー層の膜厚は0.1μm〜20μm
が好ましいが、塗布と乾燥を繰り返すことで膜厚をこれ
以上に厚くすることも可能である。
置の封止が完了したことになるが、カバー層46の上に
ガラス基板、石英基板またはプラスチック基板といった
封止基板を設けて封止構造を完成してもよい。なお、こ
のときカバー層46にアクティブマトリクス基板と封止
基板を密着させるための接着剤としての役割を持たせて
も良い。
分または酸素に対する対策として有機樹脂膜からなるカ
バー層内に酸化バリウムといった乾燥剤や酸化防止剤を
加えておくことも可能である。
部とその周辺に設けられる駆動回路部のTFTを同時に
作製する方法について図4〜図6を用いて説明する。但
し、説明を簡単にするために、駆動回路に関しては基本
回路であるCMOS回路を図示することとする。
板300上に下地膜301を300nmの厚さに形成す
る。本実施例では下地膜301として100nm厚の窒
化酸化珪素膜と200nmの窒化酸化珪素膜とを積層し
て用いる。この時、ガラス基板300に接する方の窒素
濃度を10〜25wt%としておくと良い。もちろん下
地膜を設けずに石英基板上に直接素子を形成しても良
い。
非晶質珪素膜(図示せず))を公知の成膜法で形成す
る。なお、非晶質珪素膜に限定する必要はなく、非晶質
構造を含む半導体膜(微結晶半導体膜を含む)であれば
良い。さらに非晶質シリコンゲルマニウム膜などの非晶
質構造を含む化合物半導体膜でも良い。また、膜厚は2
0〜100nmの厚さであれば良い。
結晶化し、結晶質珪素膜(多結晶シリコン膜若しくはポ
リシリコン膜ともいう)302を形成する。公知の結晶
化方法としては、電熱炉を使用した熱結晶化方法、レー
ザー光を用いたレーザーアニール結晶化法、赤外光を用
いたランプアニール結晶化法がある。本実施例では、X
eClガスを用いたエキシマレーザー光を用いて結晶化
する。
発振型のエキシマレーザー光を用いるが、矩形であって
も良いし、連続発振型のアルゴンレーザー光や連続発振
型のエキシマレーザー光を用いることもできる。
層として用いるが、非晶質珪素膜を用いることも可能で
ある。また、オフ電流を低減する必要のあるスイッチン
グ用TFTの活性層を非晶質珪素膜で形成し、電流制御
用TFTの活性層を結晶質珪素膜で形成することも可能
である。非晶質珪素膜はキャリア移動度が低いため電流
を流しにくくオフ電流が流れにくい。即ち、電流を流し
にくい非晶質珪素膜と電流を流しやすい結晶質珪素膜の
両者の利点を生かすことができる。
素膜302上に酸化珪素膜でなる保護膜303を130
nmの厚さに形成する。この厚さは100〜200nm
(好ましくは130〜170nm)の範囲で選べば良
い。また、珪素を含む絶縁膜であれば他の膜でも良い。
この保護膜303は不純物を添加する際に結晶質珪素膜
が直接プラズマに曝されないようにするためと、微妙な
濃度制御を可能にするために設ける。
a、304bを形成し、保護膜303を介してn型を付与
する不純物元素(以下、n型不純物元素という)を添加
する。なお、n型不純物元素としては、代表的には15
族に属する元素、典型的にはリン又は砒素を用いること
ができる。なお、本実施例ではホスフィン(PH3)を
質量分離しないでプラズマ励起したプラズマ(イオン)
ドーピング法を用い、リンを1×1018atoms/cm3の濃
度で添加する。勿論、質量分離を行うイオンインプラン
テーション法を用いても良い。
305には、n型不純物元素が2×1016〜5×1019
atoms/cm3(代表的には5×1017〜5×1018atoms/c
m3)の濃度で含まれるようにドーズ量を調節する。
03およびレジスト304a、304bを除去し、添加
した15族に属する元素の活性化を行う。活性化手段は
公知の技術を用いれば良いが、本実施例ではエキシマレ
ーザー光の照射により活性化する。勿論、パルス発振型
でも連続発振型でも良いし、エキシマレーザー光に限定
する必要はない。但し、添加された不純物元素の活性化
が目的であるので、結晶質珪素膜が溶融しない程度のエ
ネルギーで照射することが好ましい。なお、保護膜30
3をつけたままレーザー光を照射しても良い。
活性化に際して、熱処理による活性化を併用しても構わ
ない。熱処理による活性化を行う場合は、基板の耐熱性
を考慮して450〜550℃程度の熱処理を行えば良
い。
部、即ち、n型不純物領域305、の周囲に存在するn
型不純物元素を添加していない領域との境界部(接合
部)が明確になる。このことは、後にTFTが完成した
時点において、LDD領域とチャネル形成領域とが非常
に良好な接合部を形成しうることを意味する。
素膜の不要な部分を除去して、島状の半導体膜(以下、
活性層という)306〜309を形成する。
06〜309を覆ってゲート絶縁膜310を形成する。
ゲート絶縁膜310としては、10〜200nm、好ま
しくは50〜150nmの厚さの珪素を含む絶縁膜を用
いれば良い。これは単層構造でも積層構造でも良い。本
実施例では110nm厚の窒化酸化珪素膜を用いる。
成し、パターニングしてゲート電極311〜315を形
成する。このゲート電極311〜315の端部をテーパ
ー状にすることもできる。なお、本実施例ではゲート電
極と、ゲート電極に電気的に接続された引き回しのため
の配線(以下、ゲート配線という)とを別の材料で形成
する。具体的にはゲート電極よりも低抵抗な材料をゲー
ト配線として用いる。これは、ゲート電極としては微細
加工が可能な材料を用い、ゲート配線には微細加工はで
きなくとも配線抵抗が小さい材料を用いるためである。
勿論、ゲート電極とゲート配線とを同一材料で形成して
も構わない。
ても良いが、必要に応じて二層、三層といった積層膜と
することが好ましい。ゲート電極の材料としては公知の
あらゆる導電膜を用いることができる。ただし、上述の
ように微細加工が可能、具体的には2μm以下の線幅に
パターニング可能な材料が好ましい。
(Ti)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、
クロム(Cr)、シリコン(Si)から選ばれた元素で
なる膜、または前記元素の窒化物膜(代表的には窒化タ
ンタル膜、窒化タングステン膜、窒化チタン膜)、また
は前記元素を組み合わせた合金膜(代表的にはMo−W
合金、Mo−Ta合金)、または前記元素のシリサイド
膜(代表的にはタングステンシリサイド膜、チタンシリ
サイド膜)を用いることができる。勿論、単層で用いて
も積層して用いても良い。
(TaN)膜と、350nm厚のタンタル(Ta)膜と
からなる積層膜を用いる。これはスパッタ法で形成すれ
ば良い。また、スパッタガスとしてXe、Ne等の不活
性ガスを添加すると応力による膜はがれを防止すること
ができる。
物領域305の一部とゲート絶縁膜310を挟んで重な
るように形成する。この重なった部分が後にゲート電極
と重なったLDD領域となる。なお、ゲート電極31
3,314は、断面では、二つに見えるが実際には電気
的に接続されている。
極311〜315をマスクとして自己整合的にn型不純
物元素(本実施例ではリン)を添加する。こうして形成
される不純物領域316〜323にはn型不純物領域3
05の1/2〜1/10(代表的には1/3〜1/4)
の濃度でリンが添加されるように調節する。具体的に
は、1×1016〜5×1018atoms/cm3(典型的には3
×1017〜3×1018atoms/cm3)の濃度が好ましい。
極等を覆う形でレジストマスク324a〜324dを形
成し、n型不純物元素(本実施例ではリン)を添加して
高濃度にリンを含む不純物領域325〜329を形成す
る。ここでもホスフィン(PH3)を用いたイオンドー
プ法で行い、この領域のリンの濃度は1×1020〜1×
1021atoms/cm3(代表的には2×1020〜5×1021a
toms/cm3)となるように調節する。
ース領域若しくはドレイン領域が形成されるが、スイッ
チング用TFTでは、図5(A)の工程で形成したn型
不純物領域319〜321の一部を残す。この残された
領域が、図5におけるスイッチング用TFT201のL
DD領域15a〜15dに対応する。
マスク324a〜324dを除去し、新たにレジストマ
スク332を形成する。そして、p型不純物元素(本実
施例ではボロン)を添加し、高濃度にボロンを含む不純
物領域333〜336を形成する。ここではジボラン
(B2H6)を用いたイオンドープ法により3×1020〜
3×1021atoms/cm3(代表的には5×1020〜1×1
021atoms/cm3)の濃度となるようにボロンを添加す
る。
1×1020〜1×1021atoms/cm3の濃度でリンが添加
されているが、ここで添加されるボロンはその少なくと
も3倍以上の濃度で添加される。そのため、予め形成さ
れていたn型の不純物領域は完全にp型に反転し、p型
の不純物領域として機能する。
後、それぞれの濃度で添加されたn型またはp型不純物
元素を活性化する。活性化手段としては、ファーネスア
ニール法、レーザーアニール法、またはランプアニール
法で行うことができる。本実施例では電熱炉において窒
素雰囲気中、550℃、4時間の熱処理を行う。
とが重要である。なぜならば酸素が少しでも存在してい
ると露呈したゲート電極の表面が酸化され、抵抗の増加
を招くと共に後にオーミックコンタクトを取りにくくな
るからである。従って、上記活性化工程における処理雰
囲気中の酸素濃度は1ppm以下、好ましくは0.1p
pm以下とすることが望ましい。
に示すように300nm厚のゲート配線337を形成す
る。ゲート配線337の材料としては、アルミニウム
(Al)又は銅(Cu)を主成分(組成として50〜1
00%を占める。)とする金属を用いれば良い。配置と
しては図3のようにゲート配線211とスイッチング用
TFTのゲート電極19a、19b(図4(E)の31
3、314)が電気的に接続するように形成する。
配線抵抗を非常に小さくすることができるため、面積の
大きい画像表示領域(画素部)を形成することができ
る。即ち、画面の大きさが対角10インチ以上(さらに
は30インチ以上)の自発光装置を実現する上で、本実
施例の画素構造は極めて有効である。
絶縁膜338を形成する。第1層間絶縁膜338として
は、珪素を含む絶縁膜を単層で用いるか、2種類以上の
珪素を含む絶縁膜を組み合わせた積層膜を用いれば良
い。また、膜厚は400nm〜1.5μmとすれば良
い。本実施例では、200nm厚の窒化酸化珪素膜の上
に800nm厚の酸化珪素膜を積層した構造とする。
中で、300〜450℃で1〜12時間の熱処理を行
い、水素化処理をする。この工程は熱的に励起された水
素により半導体膜の不対結合手を水素終端する工程であ
る。水素化の他の手段として、プラズマ水素化(プラズ
マ化して生成された水素を用いる)を行っても良い。
を形成する間に入れても良い。即ち、200nm厚の窒
化酸化珪素膜を形成した後で上記のように水素化処理を
行い、その後で残り800nmの膜厚の酸化珪素膜を形
成してもよい。
縁膜310に対してコンタクトホールを形成し、ソース
配線339〜342と、ドレイン配線343〜345を
形成する。なお、本実施例ではこの電極を、Ti膜を1
00nm、Tiを含むアルミニウム膜を300nm、T
i膜150nmをスパッタ法で連続形成した3層構造の
積層膜とする。勿論、他の導電膜でも良い。
0〜300nm)の厚さで第1パッシベーション膜34
6を形成する。本実施例では第1パッシベーション膜3
46として300nm厚の窒化酸化珪素膜を用いる。こ
れは窒化珪素膜で代用しても良い。
2、NH3等水素を含むガスを用いてプラズマ処理を行う
ことは有効である。この前処理により励起された水素が
第1層間絶縁膜338に供給され、熱処理を行うこと
で、第1パッシベーション膜346の膜質が改善され
る。それと同時に、第1層間絶縁膜338に添加された
水素が下層側に拡散するため、効果的に活性層を水素化
することができる。
らなる第2層間絶縁膜347を形成する。有機樹脂とし
てはポリイミド、ポリアミド、アクリル樹脂またはBC
B(ベンゾシクロブテン)といった材料を使用すること
ができる。特に、第2層間絶縁膜347は平坦化の意味
合いが強いので、平坦性に優れたアクリル樹脂が好まし
い。本実施例ではTFTによって形成される段差を十分
に平坦化しうる膜厚でアクリル樹脂膜を形成する。好ま
しくは1〜5μm(さらに好ましくは2〜4μm)とすれ
ば良い。
シベーション膜346に対してコンタクトホールを形成
し、ドレイン配線345と電気的に接続する画素電極3
48を形成する。本実施例では酸化インジウム・スズ
(ITO)膜を110nmの厚さに形成し、パターニン
グを行って画素電極とする。また、酸化インジウムに2
〜20%の酸化亜鉛(ZnO)を混合した化合物や、酸
化亜鉛と酸化ガリウムからなる化合物を透明電極として
用いても良い。この画素電極がEL素子の陽極となる。
からなるバンク349を形成する。バンク349は合計
で1〜2μmの膜厚のアクリル樹脂膜またはポリイミド
膜といった膜をパターニングして形成すれば良い。この
バンク349は図6に示したように、画素と画素との間
にストライプ状に形成する。本実施例ではソース配線3
41に沿って形成するがゲート配線337に沿って形成
しても良い。
した電界塗布法により形成する。なお、ここでは一画素
しか図示していないが、実施例1で説明したようにR
(赤)、G(緑)、B(青)の各色に対応したEL層を
それぞれ形成する。
を超音波振動子による超音波振動で霧状にする。この霧
状のEL層用塗布液を電極にかけられた電圧が与える電
界で帯電させると、材料室の外部に設けられた引き出し
電極により引き出すことができる。引き出されたEL層
用塗布液は、加速電極により飛翔方向に加速された後、
制御電極で制御して、基板110上の所望の位置に塗布
することができる。
EL層用塗布液を霧状のEL層用塗布液として引き出し
電極により引き出し、加速電極により加速した後、制御
電極により制御して、画素上の赤色に発光する画素列に
EL層を形成する。次に基板を横方向に移動した後、材
料室から緑色EL層用塗布液を塗布し、緑色に発光すべ
き画素列を形成する。さらに基板を横方向に移動して材
料室から青色EL層用塗布液を塗布し、青色に発光すべ
き画素列を形成する。
緑、青色に発光する画素列を順次塗布することで3色の
ストライプ状のEL層を形成する。なお、本実施例では
一画素しか図示されていないが、同じ色に発光するEL
層は、一列ずつ形成しても良いし、同時に形成しても良
い。また、必要に応じては、材料室と基板の間にマスク
を設けたり、マスクに電界をかけて塗布液の塗布位置を
制御することも可能である。
発光するEL層にはシアノポリフェニレンビニレン、緑
色に発光するEL層にはポリフェニレンビニレン、青色
に発光するEL層にはポリフェニレンビニレン若しくは
ポリアルキルフェニレンを用いれば良い。膜厚は30〜
150nm(好ましくは40〜100nm)とすれば良
い。
ことができる。公知の材料としては、駆動電圧を考慮す
ると有機材料を用いるのが好ましい。なお、本実施例で
はEL層350は、上記EL材料から形成される、いわ
ゆる発光層のみの単層構造とするが、必要に応じて電子
注入層、電子輸送層、正孔輸送層、正孔注入層、電子阻
止層もしくは正孔素子層を設けても良い。また、本実施
例ではEL素子の陰極351としてMgAg電極を用い
た例を示すが、公知の他の材料であっても良い。
を示したが、インクジェット法やEL層用材料を荷電粒
子として制御して塗布する方法を用いても良い。
されるが、電子注入層、電子輸送層、正孔輸送層、正孔
注入層、電子阻止層もしくは正孔素子層を形成する場合
は、発光層を形成する材料が異なっていても、関係なく
同一材料をスピンコート法、塗布法といった方法を用い
て、一度に形成してもよい。
g電極)351を真空蒸着法により形成する。なお、E
L層350の膜厚は80〜200nm(典型的には10
0〜120nm)、陰極351の厚さは180〜300
nm(典型的には200〜250nm)とすれば良い。
2を設ける。保護電極352としてはアルミニウムを主
成分とする導電膜を用いると良い。保護電極352は、
マスクを用いて真空蒸着法で形成すると良い。なお、基
板上に保護電極まで形成した状態を本明細書中では、ア
クティブマトリクス基板という。
トリクス基板上には、さらに外気に曝されないようにし
て、バリア層353を形成する。本実施例においては、
バリア層353を形成する材料として酸化タンタルを用
いるが、窒化珪素、窒化アルミニウムもしくは炭素膜、
具体的にはDLC膜といった無機材料を用いても良い。
また、本実施例においてバリア層353は、スパッタリ
ング法を用いて形成するが、プラズマCVD法といった
室温で成膜できる方法を用いることもできる。
53の上に有機樹脂からなるカバー層354を形成す
る。なお、有機樹脂を溶媒に溶解したり、有機樹脂自体
の粘度を適度に調節して有機樹脂液を作製した後、これ
を材料室に備えて電界塗布法により塗布し、カバー層3
54を形成する。このとき有機樹脂液の粘性は、1×1
0-3〜3×10-2Pa・sであることが好ましい。
液の内部に酸化バリウムといった吸湿剤や酸化防止剤を
加えるとEL素子の劣化原因である水分や酸素の進入を
防ぐのに効果的である。
に、nチャネル型205の活性層は、ソース領域35
5、ドレイン領域356、LDD領域357及びチャネ
ル形成領域358を含み、LDD領域357はゲート絶
縁膜310を挟んでゲート電極312と重なっている。
ているのは、動作速度を落とさないための配慮である。
また、このnチャネル型TFT205はオフ電流値をあ
まり気にする必要はなく、それよりも動作速度を重視し
た方が良い。従って、LDD領域357は完全にゲート
電極に重ねてしまい、極力抵抗成分を少なくすることが
望ましい。即ち、いわゆるオフセットはなくした方がよ
い。
ス基板は、画素部だけでなく駆動回路部にも最適な構造
のTFTを配置することにより、非常に高い信頼性を示
し、動作特性も向上しうる。
ットキャリア注入を低減させる構造を有するTFTを、
駆動回路部を形成するCMOS回路のnチャネル型TF
T205として用いる。なお、ここでいう駆動回路とし
ては、シフトレジスタ、バッファ、レベルシフタ、サン
プリング回路(サンプル及びホールド回路)などが含ま
れる。デジタル駆動を行う場合には、D/Aコンバータ
などの信号変換回路も含まれうる。
型のスイッチング用TFTの断面構造を図7により説明
する。なお、ここで用いた符号は、図2で用いた符号と
対応している。
であるが、図7(A)は、LDD領域15a〜15dが
ゲート絶縁膜18を挟んでデート電極19a及び19b
と重ならないように設けられている。このような構造
は、オフ電流値を低減する上で非常に効果的である。
LDD領域15a〜15dは設けられていない。図7
(B)の構造とする場合には、図7(A)の構造を形成
させる場合に比べて工程を減らすことができるので生産
効率を向上することができる。
しては、図7(A)及び図7(B)のどちらの構造を用
いても良い。
nチャネル型の電流制御用TFTの断面構造図を示す。
なお、ここで用いた符号は、図2で用いた符号と対応し
ている。
いて、ドレイン領域32とチャネル形成領域34との間
にLDD領域33が設けられる。ここでは、LDD領域
33がゲート絶縁膜18を挟んでゲート電極35に重な
っている領域と重なっていない領域とを有する構造を示
したが、図8(B)に示すようにLDD領域33を設け
ない構造としてもよい。
るための電流を供給すると同時に、その供給量を制御し
て階調表示を可能とする。そのため、電流を流しても劣
化しないようにホットキャリア注入による劣化対策を講
じておく必要がある
は、ゲート電極に対してLDD領域が重なった構造が非
常に効果的であることが知られている。そのため、図8
(A)に示したようにゲート絶縁膜18を挟んでゲート
電極35に重なっている領域にLDD領域を設けるとい
う構造が適当であるが、ここではオフ電流対策としてゲ
ート電極に重ならないLDD領域も設けるという構造を
示した。しかし、ゲート電極に重ならないLDD領域
は、必ずしも設けなくて良い。また、場合によっては、
図8(B)に示すようにこれらのLDD領域を設けなく
ても良い。
て、TFTにかかる電圧VDSが10V以上であるときに
は、図8(A)で示した構造が好ましいがTFTにかか
る電圧VDSが10Vに満たない場合には図8(B)で示
す構造が好ましい。
で形成して気密性を高めたら、絶縁体上に形成された素
子又は回路から引き回された端子と外部信号端子とを接
続するためのコネクター(フレキシブルプリントサーキ
ット:FPC)を取り付けて製品として完成する。この
ような出荷できる状態にまでした状態を本明細書中では
自発光装置(またはELモジュール)をという。
ELモジュールについて図9(A)、(B)を用いて説
明する。
装置は、ガラス基板901上に形成された、画素部90
2と、ゲート側駆動回路903と、ソース側駆動回路9
04を含む。画素部のスイッチング用TFT905はn
チャネル型TFTであり、ゲート側駆動回路903に接
続されたゲート配線906、ソース側駆動回路904に
接続されたソース配線907の交点に配置されている。
また、スイッチング用TFT905のドレインは電流制
御用TFT908のゲートに接続されている。
側は電源供給線909に接続される。本実施例のような
構造では、電源供給線909には接地電位(アース電
位)が与えられている。また、電流制御用TFT908
のドレインにはEL素子910が接続されている。ま
た、このEL素子910の陽極には所定の電圧(3〜1
2V、好ましくは3〜5V)が加えられる。
1には駆動回路部まで信号を伝達するための接続配線9
12、913、及び電源供給線909に接続された接続
配線914が設けられている。
断面図を図9(B)に示す。なお、図9(A)、(B)
では同一の部位に同一の符号を用いている。一部には、
図6と同一の部位に同一の符号を用いている。
は画素部902、ゲート側駆動回路903を形成し、画
素部902は電流制御用TFT202とそれに電気的に
接続された画素電極348を含む複数の画素により形成
する。また、ゲート側駆動回路903はnチャネル型T
FT205とpチャネル型TFT206とを相補的に組
み合わせたCMOS回路を用いて形成する。
能する。また、画素電極348間の隙間にはバンク34
9を形成し、バンク349の内側にEL層350を形成
する。また、その上に陰極351及び保護電極352を
形成する。なおここで示したEL素子の構造に限られる
必要はなく素子構造を反対とし、画素電極を陰極として
も構わない。
ごとに共通の配線としても機能し、接続配線912を経
由してFPC911に電気的に接続されている。さら
に、画素部902及びゲート側駆動回路903に含まれ
る素子は全て窒化珪素、酸化タンタルもしくは炭素(具
体的にはDLC膜)といった無機材料からなるバリア層
で覆われている。このバリア層353は省略することも
可能であるが、各素子を外部と遮断する上で設けた方が
好ましい。
ようにしてカバー層916を設ける。カバー層916と
しては、PVC(ポリビニルクロライド)、エポキシ樹
脂、シリコン樹脂、アクリル樹脂、PVB(ポリビニル
ブチラル)またはEVA(エチレンビニルアセテート)
を用いることができる。このカバー層916の内部に乾
燥剤(図示せず)を設けておくと、吸湿効果を保ち続け
られるので好ましい。
プラスチック、およびセラミックスでなる保護基板を設
けることができる。さらに、カバー層916を用いて保
護基板(図示せず)を接着する構造としても良い。
353及びカバー層916を設けることにより、EL素
子910を外部から完全に遮断することができ、外部か
ら水分や酸素等のEL層の酸化による劣化を促す物質が
侵入することを防ぐことができる。従って、信頼性の高
い自発光装置を作製することができる。
の一例を図10に示す。本実施例の自発光装置は、ソー
ス側駆動回路1001、ゲート側駆動回路(A)100
7、ゲート側駆動回路(B)1011、画素部1006
を有している。なお、本明細書中において、駆動回路部
とはソース側処理回路およびゲート側駆動回路を含めた
総称である。
スタ1002、レベルシフタ1003、バッファ100
4、サンプリング回路(サンプル及びホールド回路)1
005を備えている。また、ゲート側駆動回路(A)1
007は、シフトレジスタ1008、レベルシフタ10
09、バッファ1010を備えている。ゲート側駆動回
路(B)1011も同様な構成である。
は駆動電圧が5〜16V(代表的には10V)であり、
回路を形成するCMOS回路に使われるnチャネル型T
FTは図6(C)の205で示される構造が適してい
る。
バッファ1004、1010はシフトレジスタと同様
に、図6(C)のnチャネル型TFT205を含むCM
OS回路が適している。なお、ゲート配線をダブルゲー
ト構造、トリプルゲート構造といったマルチゲート構造
とすることは、各回路の信頼性を向上させる上で有効で
ある。また、画素部1006は図2に示した構造の画素
を配置する。
工程に従ってTFTを作製することによって容易に実現
することができる。また、本実施例では画素部と駆動回
路部の構成のみ示しているが、本実施例の作製工程に従
えば、その他にも信号分割回路、D/Aコンバータ回
路、オペアンプ回路、γ補正回路など駆動回路以外の論
理回路を同一絶縁体上に形成することが可能であり、さ
らにはメモリ部やマイクロプロセッサ等を形成しうると
考えている。
と自由に組み合わせることができる。
たのと異なる積層構造の作製について説明する。図11
において、基板1100上に電流制御用TFT101を
形成し、電流制御用TFT1101に電気的に接続され
た画素電極1102を図のように形成する。画素電極1
102上には、EL層1103を形成するが、本実施例
ではインクジェット法を用いる。なお、本実施例で用い
るEL層用塗布液は、実施例1で用いたものと同様の材
料を用いるとよい。
て陰極1104を形成する。なお陰極には、MgAgや
Al−Liといった仕事関数の低い材料を用いると良
い。陰極1104を形成した後で再びインクジェト法に
より有機樹脂膜からなるカバー層1105を画素部に均
一に成膜する。なお、成膜するカバー層1105の膜厚
は10nm〜300nmが好ましい。
を形成する材料としては、硬度が高く、水分または酸素
といった物質を通しにくく、平坦性のある材料を用いる
と良い。具体的には、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポ
リイミド、ポリアミドおよびシリコン樹脂といった有機
樹脂が好ましい。なお、カバー層1105の形成にはイ
ンクジェット法を用いることから画素部分に選択的に形
成することができる。
ブマトリクス基板1200上の画素部1201にカバー
層1202を形成する方法を示す。なお、ここに示す構
造のヘッド1203からEL層を形成する塗布液やカバ
ー層を形成する有機樹脂液を吐出する。なお、インクジ
ェット法で知られるピエゾ方式には、MLP(MultiLay
er Piezo)タイプとMLChip(Multi Layer Cerami
c Hyper IntegratedPiezo Segments)タイプがあるが、
ここで示すヘッド1203は、セイコーエプソン社製の
オンデマンドピエゾ駆動MLChip方式と呼ばれるヘ
ッドである。
板1204、連通板1205、及び材料室板1206で
材料室1207を形成し、振動板1204上にピエゾ素
子1208を各材料室に対応して形成したアクチュエー
ターである。
レスプレート(SUSプレート)を積層して、供給孔1
209、リザーバー1210、ノズル1211を形成し
ヘッド1203を形成する。なお図12には、ノズル1
211が二つ設けられている様子を示すが、ノズルの数
はこれに限られることはなく塗布する領域や塗布液によ
って一つであっても良いし、三つ以上設けられていても
良い。
原理は、上部電極1212及び下部電極1213に電圧
がかけられた際に、ピエゾ素子1208が振動すること
によるピエゾ素子1208と振動板1204の圧電効果
であり、撓み振動である。つまり、この撓みにより材料
室1207に圧力がかかり、材料室1207に備えられ
ている有機樹脂液が押し出され、塗布がなされる。
成した後、スパッタリング法を用いてカバー層1105
を覆うようにバリア層1106を形成する。本実施例で
は、バリア層1106を炭素膜、具体的にはDLC膜
(ダイヤモンドライクカーボン)により形成する。しか
し、バリア層1106を形成する材料は、これに限定す
る必要はなく、酸化タンタル、窒化アルミニウムまたは
窒化珪素などを用いても良い。なお、バリア層1106
はシャドウマスクを用いて選択的に形成する。
層1106をアクティブマトリクス基板上に形成するこ
とで、外部からEL素子の劣化原因となる水分や酸素の
進入を防ぐことができる。
ブ型(単純マトリクス型)の自発光装置に用いた場合に
ついて説明する。説明には図13を用いる。図13にお
いて、1301はプラスチックからなる基板、1302
は透明性の導電膜からなる陽極である。本実施例では、
陽極1302として酸化インジウムと酸化亜鉛との化合
物をスパッタリング法により形成する。なお、図13で
は図示されていないが、複数本の陽極1302が紙面と
平行な方向へストライプ状に配列されている。
05を紙面に垂直な方向に形成し、さらに陰極1305
の間を埋めるようにバンク1303を形成する。
〜1304cを実施例1で示した電界塗布法により形成
する。なお、1304aは赤色に発光するEL層、13
04bは緑色に発光するEL層、1304cは青色に発光
するEL層である。用いる有機EL材料は実施例1と同
様のものを用いれば良い。これらのEL層はバンク13
03が形成する溝に沿って形成されるため、紙面に垂直
な方向にストライプ状に形成される。
赤、緑、青の三色の画素をストライプ状に形成する。な
お、画素の色は、必ずしも三色である必要はなく、一色
または、二色であってもよい。また、色は、赤、緑、青
に限られることはなく、黄色、オレンジ、グレーといっ
た発色することが可能な他の色を用いてもよい。
ておく。この塗布液を外部に設けた電極が与える電界で
引き出す。引き出されたEL層用塗布液は電界により制
御され、所望の画素部に到達する。これにより、EL層
が形成される。
布液を電界で制御するので選択的に画素部の所望の位置
にEL層用塗布液を塗布することができる。なお、ノズ
ルを一つの画素列を形成する方向に移動しながら塗布す
るとよい。
うに移動した後、緑色EL層用塗布液を塗布する。さら
にノズルを隣の画素列に移動させた後、青色EL層用塗
布液を塗布して、画素部に赤、緑、青からなるストライ
プ状のEL層を形成する。
3に示すように画素部にストライプ状の画素を形成する
ことができる。なお、同じ色の発光層は一列ずつ形成し
ても良いし、同時に形成しても良い。
構造を指しているが、電荷注入層、電荷輸送層といった
発光に寄与する有機EL材料からなる層を用いることも
可能である。発光層単層とする場合もありうるが、例え
ば正孔注入層と発光層とを積層した場合はその積層膜を
EL層と呼ぶ。
素の相互の距離(D)は、EL層の膜厚(t)の5倍以
上(好ましくは10倍以上)とすることが望ましい。こ
れは、D<5tでは画素間でクロストークの問題が発生
しうるからである。なお、距離(D)が離れすぎても高
精細な画像が得られなくなるので、5t<D<50t
(好ましくは10t<D<35t)とすることが好まし
い。
成し、赤色に発光するEL層、緑色に発光するEL層及
び青色に発光するEL層をそれぞれ横に形成しても良
い。このときバンクは絶縁膜を介したゲート配線の上方
に、ゲート配線に沿って形成する。
素の相互の距離(D)は、EL層の膜厚(t)の5倍以
上(好ましくは10倍以上)、さらに好ましくは5t<
D<50t(好ましくは10t<D<35t)とすると
良い。
してEL層を形成することで塗布位置の制御が可能とな
る。
複数本の陰極及び保護電極が紙面に垂直な方向が長手方
向となり、且つ、陽極1302と直交するようにストラ
イプ状に配列される。なお、本実施例では、陰極130
5は、MgAgでなり、保護電極1306はアルミニウ
ム合金膜でなり、それぞれ蒸着法により形成する。ま
た、図示されていないが保護電極1306は所定の電圧
が加わるように、後にFPCが取り付けられる部分まで
配線が引き出されている。
子を形成する。なお、本実施例では下側の電極が透光性
の陽極となっているため、EL層1304a〜1304c
で発生した光は下面(基板1301)に放射される。し
かしながら、EL素子の構造を反対にし、下側の電極を
遮光性の陰極とすることもできる。その場合、EL層1
304a〜1304cで発生した光は上面(基板1301
とは反対側)に放射されることになる。
料からなるバリア層1307を形成する。ここでは、窒
化珪素、酸化タンタル、窒化アルミニウム、炭素(具体
的にはDLC膜)といった無機材料を用いると良く、プ
ラズマCVD法、スパッタリング法または蒸着法により
形成することができるが、本実施例では、窒化珪素膜を
スパッタリング法により形成する。なお、このときバリ
ア層1307の膜厚は、10nm〜100nmが好まし
い。
8をEL層と同様の方法で形成する。なお、ここで用い
る有機樹脂としては、ポリアミドやポリイミドといった
材料を用いると良い。さらにこの有機樹脂膜には、乾燥
剤(図示せず)として酸化バリウムを添加してもよい。
最後に異方導電性フィルム1309を介してFPC13
10を取り付けてパッシブ型の自発光装置が完成する。
上に無機樹脂膜からなるバリア層1307を形成し、バ
リア層1307の上にカバー層1308が形成される構
造のパッシブ型自発光装置を示したが、図14に示すよ
うにEL素子上にカバー層1407を形成した後、バリ
ア層1408を形成する構造としても良い。
例3のいずれの構成とも自由に組み合わせて実施するこ
とが可能である。
して炭素からなるDLC膜(ダイヤモンドライクカーボ
ン)膜を用いることは有効である。但し、膜厚が厚すぎ
ると透過率が落ちるので、膜厚は50nm以下(好まし
くは10〜20nm)とすることが好ましい。
くらいに非対称のピークを有し、1300cm-1くらい
に肩をもつラマンスペクトル分布を有する。また、微小
硬度計で測定した時に15〜25GPaの硬度を示すほ
か、耐薬品性に優れるという特徴をもつ。従って、この
ようなDLC膜をEL素子上に成膜したり、EL素子上
のカバー層の上に成膜することは、有効である。いずれ
にしてもDLC膜の成膜はスパッタリング法、ECRプ
ラズマCVD法、高周波プラズマCVD法またはイオン
ビーム蒸着法といった方法を用いれば良い。
ずれの構成とも自由に組み合わせて実施することが可能
である。
マトリクス型の自発光装置を作製する際に、基板として
シリコン基板(シリコンウェハー)を用いることは有効
である。基板としてシリコン基板を用いた場合、画素部
に形成するスイッチング用素子や電流制御用素子または
駆動回路部に形成する駆動用素子を、従来のICやLS
Iなどに用いられているMOSFETの作製技術を用い
て作製することができる。
ように非常にばらつきの小さい回路を形成することが可
能であり、特に電流値で階調表現を行うアナログ駆動の
アクティブマトリクス型自発光装置には有効である。
EL層からの光は基板と反対側に放射されるような構造
とする必要がある。本実施例の自発光装置はEL素子の
構造的には図9と似ているが、画素部902、駆動回路
部903を形成するTFTの代わりにMOSFETを用
いる点で異なる。
例5のいずれの構成とも自由に組み合わせて実施するこ
とが可能である。
自発光装置は、自発光型であるため液晶表示装置に比べ
て明るい場所での視認性に優れ、しかも視野角が広い。
従って、様々な電子機器の表示部として用いることがで
きる。例えば、TV放送等を大画面で鑑賞するには対角
30インチ以上(典型的には40インチ以上)のELデ
ィスプレイ(自発光装置を筐体に組み込んだディスプレ
イ)の表示部として本発明の自発光装置を用いるとよ
い。
ディスプレイ、TV放送受信用ディスプレイ、広告表示
用ディスプレイ等の全ての情報表示用ディスプレイが含
まれる。また、その他にも様々な電子機器の表示部とし
て本発明の自発光装置を用いることができる。
オカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ
(ヘッドマウントディスプレイ)、ナビゲーションシス
テム、音響再生装置(カーオーディオ、オーディオコン
ポ等)、ノート型パーソナルコンピュータ、ゲーム機
器、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、
携帯型ゲーム機または電子書籍等)、記録媒体を備えた
画像再生装置(具体的にはデジタルビデオディスク(D
VD)等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうるデ
ィスプレイを備えた装置)などが挙げられる。特に、斜
め方向から見ることの多い携帯情報端末は視野角の広さ
が重要視されるため、自発光装置を用いることが望まし
い。それら電子機器の具体例を図15、図16に示す。
筐体2001、支持台2002、表示部2003等を含
む。本発明は表示部2003に用いることができる。E
Lディスプレイは自発光型であるためバックライトが必
要なく、液晶ディスプレイよりも薄い表示部とすること
ができる。
2101、表示部2102、音声入力部2103、操作
スイッチ2104、バッテリー2105、受像部210
6等を含む。本発明の自発光装置は表示部2102に用
いることができる。
スプレイの一部(右片側)であり、本体2201、信号
ケーブル2202、頭部固定バンド2203、表示部2
204、光学系2205、自発光装置2206等を含
む。本発明は自発光装置2206に用いることができ
る。
装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本体230
1、記録媒体(DVD等)2302、操作スイッチ23
03、表示部(a)2304、表示部(b)2305等
を含む。表示部(a)は主として画像情報を表示し、表
示部(b)は主として文字情報を表示するが、本発明の
自発光装置はこれら表示部(a)、(b)に用いること
ができる。なお、記録媒体を備えた画像再生装置には家
庭用ゲーム機器なども含まれる。
ュータであり、本体2401、カメラ部2402、受像
部2403、操作スイッチ2404、表示部2405等
を含む。本発明の自発光装置は表示部2405に用いる
ことができる。
あり、本体2501、筐体2502、表示部2503、
キーボード2504等を含む。本発明の自発光装置は表
示部2503に用いることができる。
高くなれば、出力した画像情報を含む光をレンズ等で拡
大投影してフロント型若しくはリア型のプロジェクター
に用いることも可能となる。
ATV(ケーブルテレビ)などの電子通信回線を通じて
配信された情報を表示することが多くなり、特に動画情
報を表示する機会が増してきている。有機EL材料の応
答速度は非常に高いため、自発光装置は動画表示に好ま
しいが、画素間の輪郭がぼやけてしまっては動画全体も
ぼけてしまう。従って、画素間の輪郭を明瞭にするとい
う本発明の自発光装置を電気器具の表示部として用いる
ことは極めて有効である。
力を消費するため、発光部分が極力少なくなるように情
報を表示することが望ましい。従って、携帯情報端末、
特に携帯電話や音響再生装置のような文字情報を主とす
る表示部に自発光装置を用いる場合には、非発光部分を
背景として文字情報を発光部分で形成するように駆動す
ることが望ましい。
体2601、音声出力部2602、音声入力部260
3、表示部2604、操作スイッチ2605、アンテナ
2606を含む。本発明の自発光装置は表示部2604
に用いることができる。なお、表示部2604は黒色の
背景に白色の文字を表示することで携帯電話の消費電力
を抑えることができる。
的には車載用オーディオであり、本体2701、表示部
2702、操作スイッチ2703、2704を含む。本
発明の自発光装置は表示部2702に用いることができ
る。また、本実施例では車載用オーディオを示すが、携
帯型や家庭用の音響再生装置に用いても良い。なお、表
示部2704は黒色の背景に白色の文字を表示すること
で消費電力を抑えられる。これは携帯型の音響再生装置
において特に有効である。
く、あらゆる分野の電気器具に用いることが可能であ
る。また、本実施例の電気器具は実施例1〜6に示した
いずれの構成の自発光装置を用いても良い。
子からの燐光を発光に利用できるEL材料を用いること
で、外部発光量子効率を飛躍的に向上させることができ
る。これにより、EL素子の低消費電力化、長寿命化、
および軽量化が可能になる。ここで、三重項励起子を利
用し、外部発光量子効率を向上させた報告を示す。 (T.Tsutsui, C.Adachi, S.Saito, Photochemical Proce
sses in Organized Molecular Systems, ed.K.Honda,
(Elsevier Sci.Pub., Tokyo,1991) p.437.) 上記の論文により報告されたEL材料(クマリン色素)
の分子式を以下に示す。
stikov, S.Sibley, M.E.Thompson, S.R.Forrest, Natur
e 395 (1998) p.151.) 上記の論文により報告されたEL材料(Pt錯体)の分
子式を以下に示す。
M.E.Thompson, S.R.Forrest, Appl.Phys.Lett.,75 (199
9) p.4.) (T.Tsutsui, M.-J.Yang, M.Yahiro, K.Nakamura, T.Wat
anabe, T.tsuji, Y.Fukuda, T.Wakimoto, S.Mayaguchi,
Jpn.Appl.Phys., 38 (12B) (1999) L1502.) 上記の論文により報告されたEL材料(Ir錯体)の分
子式を以下に示す。
を利用できれば原理的には一重項励起子からの蛍光発光
を用いる場合より3〜4倍の高い外部発光量子効率の実
現が可能となる。なお、本実施例の構成は、実施例1〜
実施例7のいずれの構成とも自由に組みあわせて実施す
ることが可能である。
バー層を同一の塗布方法で形成することができる。これ
により、大気解放することなく効率的にEL層、陰極、
バリア層及びカバー層を同一のマルチチャンバーで連続
的に形成することが可能である。また、バリア層及びカ
バー層を形成させることでEL層への水分や酸素の進入
を防ぎ、EL層の劣化対策に効果的である。また、バリ
ア層及びカバー層を形成することで封止構造が完成する
ので、通常の封止構造に比べると小型化、軽量化が可能
となる。
面構造を示す図。
図。
図。
Claims (20)
- 【請求項1】EL素子を有する自発光装置において、前
記EL素子を覆う無機材料からなる膜と、前記無機材料
からなる膜を覆う有機材料からなる膜と、を有すること
を特徴とする自発光装置。 - 【請求項2】陽極、EL層及び陰極からなるEL素子を
有する自発光装置において、前記陰極を覆う無機材料か
らなる膜と、前記無機材料からなる膜を覆う有機材料か
らなる膜と、を有することを特徴とする自発光装置。 - 【請求項3】EL素子を有する自発光装置において、前
記EL素子に接する無機材料からなる膜と、前記無機材
料からなる膜に接する有機材料からなる膜と、を有する
ことを特徴とする自発光装置。 - 【請求項4】陽極、EL層及び陰極からなるEL素子を
有する自発光装置において、前記陰極に接する無機材料
からなる膜と、前記無機材料からなる膜に接する有機材
料からなる膜と、を有することを特徴とする自発光装
置。 - 【請求項5】EL素子を有する自発光装置において、前
記EL素子を覆う有機材料からなる膜と、前記有機材料
からなる膜を覆う無機材料からなる膜と、を有すること
を特徴とする自発光装置。 - 【請求項6】陽極、EL層及び陰極からなるEL素子を
有する自発光装置において、前記陰極を覆う有機材料か
らなる膜と、前記有機材料からなる膜を覆う無機材料か
らなる膜と、を有することを特徴とする自発光装置。 - 【請求項7】EL素子を有する自発光装置において、前
記EL素子に接する有機材料からなる膜と、前記有機材
料からなる膜に接する無機材料からなる膜とを有するこ
とを特徴とする自発光装置。 - 【請求項8】陽極、EL層及び陰極からなるEL素子を
有する自発光装置において、前記陰極に接する有機材料
からなる膜と、前記有機材料からなる膜に接する無機材
料からなる膜とを有することを特徴とする自発光装置。 - 【請求項9】請求項1乃至請求項8のいずれか一におい
て、前記無機材料からなる膜は、窒化珪素、酸化タンタ
ル、窒化アルミニウムまたは炭素からなることを特徴と
する自発光装置。 - 【請求項10】請求項1乃至請求項9のいずれか一にお
いて、前記有機材料からなる膜は、ポリアミド、ポリイ
ミド、アクリル樹脂、またはベンゾシクロブテンからな
ることを特徴とする自発光装置。 - 【請求項11】請求項1乃至請求項10のいずれか一に
おいて、前記有機材料からなる膜の膜厚は、0.1〜2
0μmであることを特徴とする自発光装置。 - 【請求項12】請求項1乃至請求項11のいずれか一に
おいて、前記無機材料からなる膜はバリア層であり、前
記有機材料からなる膜はカバー層であることを特徴とす
る自発光装置。 - 【請求項13】請求項1乃至請求項12のいずれか一に
記載の自発光装置を用いたことを特徴とする電気器具。 - 【請求項14】陽極、EL層及び陰極からなるEL素子
を有する自発光装置の作製方法であって、前記EL素子
を覆う無機材料からなる膜をCVD法または蒸着法によ
り成膜し、前記無機材料からなる膜を覆う有機材料から
なる膜をインクジェット法により成膜することを特徴と
する自発光装置の作製方法。 - 【請求項15】陽極、EL層及び陰極からなるEL素子
を有する自発光装置の作製方法であって、前記陰極を覆
う無機材料からなる膜をCVD法または蒸着法により成
膜し、前記無機材料からなる膜を覆う有機材料からなる
膜をインクジェット法により成膜することを特徴とする
自発光装置の作製方法。 - 【請求項16】陽極、EL層及び陰極からなるEL素子
を有する自発光装置の作製方法であって、前記EL素子
を覆う有機材料からなる膜をインクジェット法により成
膜し、前記有機材料からなる膜を覆う無機材料からなる
膜をCVD法または蒸着法により成膜することを特徴と
する自発光装置の作製方法。 - 【請求項17】陽極、EL層及び陰極からなるEL素子
を有する自発光装置の作製方法であって、前記陰極を覆
う有機材料からなる膜をインクジェット法により成膜
し、前記有機材料からなる膜を覆う無機材料からなる膜
をCVD法または蒸着法により成膜することを特徴とす
る自発光装置の作製方法。 - 【請求項18】請求項14乃至請求項17のいずれか一
において、前記EL層、前記陰極、前記無機材料からな
る膜及び前記有機材料からなる膜を同一の成膜装置で成
膜することを特徴とする自発光装置の作製方法。 - 【請求項19】請求項14乃至請求項18のいずれか一
において、前記EL層と、前記有機材料からなる膜を電
界塗布法、またはインクジェット法により成膜すること
を特徴とする自発光装置の作製方法。 - 【請求項20】請求項14乃至請求項19のいずれか一
において、前記無機材料からなる膜はバリア層であり、
前記有機材料からなる膜はカバー層であることを特徴と
する自発光装置の作製方法。
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