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JP2001330850A - 液晶表示装置およびその欠陥修正方法 - Google Patents

液晶表示装置およびその欠陥修正方法

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Publication number
JP2001330850A
JP2001330850A JP2000147252A JP2000147252A JP2001330850A JP 2001330850 A JP2001330850 A JP 2001330850A JP 2000147252 A JP2000147252 A JP 2000147252A JP 2000147252 A JP2000147252 A JP 2000147252A JP 2001330850 A JP2001330850 A JP 2001330850A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
region
auxiliary capacitance
liquid crystal
connection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000147252A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Nakanishi
勇夫 中西
Hiroyuki Okazoe
博之 岡副
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2000147252A priority Critical patent/JP2001330850A/ja
Publication of JP2001330850A publication Critical patent/JP2001330850A/ja
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  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 補助容量の欠陥に起因する表示欠陥の修正が
容易な構造を備える液晶表示装置およびその欠陥修正方
法を提供することにより、液晶表示装置の製造歩留まり
を向上する。 【解決手段】 補助容量電極14は、第1領域14a、
第2領域14b、および第3領域14cを有する。第1
領域14aは、接続配線24と接続される接続端14t
と、第1コンタクトホール19a内に露出されるコンタ
クト部14hとを含み、第2領域14bは、第1領域1
4aおよび第2領域14bよりも幅の狭い第3領域14
cを介して、第1領域14aと電気的に接続されてい
る。補助容量電極14の第3領域14cを切断し、第1
領域14aと第2領域14bとを互いに電気的に切断す
ることによって、第2領域14bの欠陥に起因する表示
不良が修正される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置およ
びその表示欠陥を修正する方法に関し、特に、補助容量
の欠陥に起因する表示欠陥の修正が可能な液晶表示装置
およびその欠陥修正方法に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示装置は、小型、軽量、薄型また
は低消費電力などの利点から、OA機器やAV機器など
の分野で実用化が進んでいる。特に、スイッチング素子
として薄膜トランジスタ(以下、「TFT」と略す。)
を用いたアクティブマトリクス型液晶表示装置(以下、
「TFT型液晶表示装置」と称する。)は、精細な動画
表示が可能であり、種々のディスプレイとして使用され
ている。
【0003】従来のTFT型液晶表示装置の構成を模式
に図3に示す。TFT型液晶表示装置400は、マトリ
クス状に配置された複数の絵素容量40と、絵素容量4
0のそれぞれに電気的に接続された薄膜トランジスタ5
0とを有する。絵素容量40のそれぞれは、液晶容量4
2と、液晶容量42に電気的に並列に接続された補助容
量44とを有する。
【0004】TFT50のゲート電極Gは走査配線52
に接続されており、走査電圧が印加される。TFT50
のソース電極Sは信号配線54に接続されおり、信号電
圧が印加される。TFT50のドレイン電極Dは絵素容
量40の一端に接続されている。絵素容量40を構成す
る液晶容量42および補助容量44のそれぞれの一方の
電極がTFT50のドレイン電極に接続されており、こ
れらの電極には、TFT50を介して、信号電圧が印加
される。液晶容量42および補助容量44の他方の電極
には、対向電圧が印加される。
【0005】TFT50のゲート電極Gに、例えば60
Hzの周波数で順次、走査電圧を印加することによっ
て、TFT50が順次ON状態とされ、信号電圧が印加
される絵素容量40が順次選択される(線順次走査)。
信号電圧は、この走査に同期しており、それぞれの絵素
容量40に対応する階調電圧値を有してる。絵素容量4
0は、TFT50がON状態にある期間に印加された電
圧を1フィールド期間(または1フレーム期間)に亘っ
て保持する。絵素容量40を液晶容量42だけで構成す
ると、液晶容量42の漏れ電流によって電圧が低下する
ので、これを抑制・防止するために補助容量44が設け
られている。
【0006】TFT型液晶表示装置400の絵素領域の
具体的な構成を図4を参照しながら説明する。図4は、
TFT型液晶表示装置400の絵素領域の模式的な平面
図である(例えば、特開平9−281524号公報参
照)。TFT型液晶表示装置400は、TFT基板と、
カラーフィルタ基板(または対向基板)と、これらの間
に設けられた液晶層とを有している。簡単さのために、
図4には、TFT基板の構成だけを示している。
【0007】TFT基板400aは、透明基板(例え
ば、ガラス基板)と、ガラス基板上に形成されたTFT
50と、TFT50に接続された、走査配線52、信号
配線54および絵素電極42aとを有している。TFT
基板400aは、さらに、補助容量電極44と、補助容
量共通配線46とを有している。
【0008】TFT50のゲート電極G、走査配線52
および補助容量共通配線46を覆うように、典型的に
は、TFT基板400aのほぼ全面に、ゲート絶縁膜
(不図示)が形成されている。ゲート絶縁膜上に、TF
T50を構成する半導体層(ソース領域、チャネル領
域、ドレイン領域を含む)と、信号配線54と、補助容
量電極44と、接続配線64とが形成されている。接続
配線64は、TFT50のドレイン電極Dと補助容量電
極44aとを互いに電気的に接続している。
【0009】さらに、これらを覆うように、TFT基板
のほぼ全面に絶縁層(不図示)が形成されており、この
絶縁層上に絵素電極42aが形成されている。絵素電極
42aは、この絶縁層に形成されたコンタクトホール内
において、補助容量電極44のコンタクトホール部44
hと電気的に接続されている。すなわち、絵素電極42
aは、補助容量電極44および接続電極64を介して、
TFT50のドレイン電極Dに電気的に接続されてい
る。
【0010】液晶容量42は、絵素電極42aと、絵素
電極42aに対向する対向電極(不図示)と、これらの
間の液晶層(不図示)によって構成されている。補助容
量44は、補助容量電極44と補助容量共通配線46
と、これらの間に位置するゲート絶縁膜(不図示)によ
って構成されている。絵素電極42aおよび補助容量電
極44はTFT50のドレイン電極Dに接続されてお
り、補助容量共通配線46には、対向電極(不図示)と
同じ電圧が印加されるように構成されている。このよう
にして、液晶容量42と、液晶容量42に並列に接続さ
れた補助容量44が絵素容量40を構成している。液晶
層が、液晶容量42に印加された電圧に応じた配向状態
をとり、その光学特性が変化すること(電気光学特性)
を利用して、表示が行われる。
【0011】種々のタイプの液晶層を用いたTFT型液
晶表示装置が実用化されている。特に、90°ツイスト
配向のネマティック液晶層を用いたツイステッドネマテ
ィック(以下、「TN型」と称する。)の液晶表示装置
が最も広く利用されている。TN型液晶表示装置は、電
圧無印加時に白表示を行う、ノーマリホワイトモード
(以下、「NWモード」と称する。)として一般的に利
用されている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】TFT型液晶表示装置
は広く利用されるているが、TFT基板の構造が複雑で
ある上、ディスプレイパネルの大型化や高精細化に進展
に伴う、絵素数の増加や、微細化のために、表示欠陥と
なる絵素の発生率が上昇している。すなわち、TFT型
液晶表示装置の製造の歩留まりが低いという問題があ
る。
【0013】これまで、TFTの不良や配線(走査配線
や信号配線)の起因する表示欠陥を修正するために、一
絵素に対して複数のTFTや、複数の配線を設けれるな
ど、冗長構造を利用する方法が検討されているが、補助
容量に起因する表示欠陥を修正するための構造や方法は
検討されていない。
【0014】本発明は、上記の問題に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、補助容量の欠陥に起因する表示
欠陥の修正が容易な構造を備える液晶表示装置およびそ
の欠陥修正方法を提供することにより、液晶表示装置の
製造歩留まりを向上することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置
は、マトリクス状に配置された複数の絵素容量と、前記
複数の絵素容量のそれぞれに電気的に接続された薄膜ト
ランジスタとを有し、前記複数の絵素容量のそれぞれ
は、液晶容量と、前記液晶容量に電気的に並列に接続さ
れた補助容量とを有し、前記液晶容量は、第1基板に形
成された絵素電極と、第2基板に形成された対向電極
と、前記絵素電極と前記対向電極との間に設けられた液
晶層とを有し、前記補助容量は、前記第1基板に形成さ
れた補助容量共通配線および補助容量電極と、前記補助
容量共通配線と前記補助容量電極との間に設けられた第
1絶縁層とを有し、前記第1基板は、前記薄膜トランジ
スタと、前記薄膜トランジスタのゲート電極に接続され
た走査配線と、前記薄膜トランジスタのソース電極に接
続された信号配線と、前記薄膜トランジスタのドレイン
電極と前記補助容量電極とを電気的に互いに接続する第
1接続配線と、少なくとも前記ドレイン電極、前記補助
容量電極および前記第1接続配線の上に形成された第2
絶縁層とをさらに有し、前記絵素電極は、前記第2絶縁
層上に形成されており、前記補助容量電極上に位置する
前記第2絶縁層に形成された第1コンタクトホール内に
おいて、前記補助容量電極に接続されており、前記補助
容量電極は、第1、第2および第3領域を有し、前記第
1領域は、前記接続配線と接続される接続端と、前記第
1コンタクトホール内に露出されるコンタクト部とを含
み、前記第2領域は、前記第1領域および前記第2領域
よりも幅の狭い前記第3領域を介して、前記第1領域と
電気的に接続されており、前記第3領域は、前記補助容
量共通配線と重ならない位置に形成されている構成を備
え、そのことによって上記目的が達成される。
【0016】本発明の液晶表示装置の欠陥修正方法は、
上述の構成を備える液晶表示装置について、前記複数の
絵素容量のなかから表示欠陥を呈する絵素容量を特定す
る工程と、前記特定された絵素容量の前記補助容量電極
の前記第3領域を切断することによって、前記第1領域
と前記第2領域とを互いに電気的に切断する工程とを包
含し、そのことによって上記目的が達成される。
【0017】本発明の液晶表示装置は、前記第1基板
は、前記第1絶縁層の下部に形成された修正用接続電極
をさらに有し、前記絵素電極は、前記修正用接続電極上
に位置する前記第1絶縁層に形成された第2コンタクト
ホール内において、前記修正用接続電極と接続されてお
り、前記ドレイン電極から前記補助容量電極の前記第3
領域に至る接続経路の一部および、前記補助容量電極の
前記第2領域の一部または前記第2領域から延設された
第2接続配線が、前記第1絶縁層を介して前記修正用接
続電極に対向するように配置されている構成を備えるこ
とが好ましい。
【0018】前記修正用接続電極は、前記ゲート電極
と、前記走査配線と、前記補助容量共通配線と同一の導
電層から形成されていることが好ましい。
【0019】本発明の液晶表示装置の欠陥修正方法は、
修正用接続電極を備える上述の液晶表示装置について、
前記複数の絵素容量のなかから表示欠陥を呈する絵素容
量を特定する工程と、前記特定された絵素容量の前記補
助容量電極の前記第3領域を切断することによって、前
記第1領域と前記第2領域とを互いに電気的に切断する
工程と、前記絵素電極と前記補助容量電極とを互いに電
気的に切断する工程と、 前記第1接続電極配線と前記
補助容量電極の前記接続端とを互いに電気的に切断する
工程と、前記第1絶縁層を介して前記修正用接続電極に
対向するように配置されている、前記ドレイン電極から
前記補助容量電極の前記第3領域に至る接続経路の前記
一部および、前記補助容量電極の前記第2領域の前記一
部または前記第2領域から延設された前記第2接続配線
を、それぞれ前記修正用接続電極に電気的に接続する工
程とを包含してもよい。
【0020】前記ソース電極と前記ドレイン電極とを前
記ゲート電極を介して互いに電気的に短絡させる工程
と、前記ゲート電極と前記走査配線とを互いに電気的に
切断する工程と、前記補助容量電極の前記第2領域の前
記一部または前記第2領域から延設された前記第2接続
配線と、前記修正用接続電極との電気的な接続を切断す
る工程とを包含してもよい。
【0021】以下に、本発明の作用を説明する。
【0022】本発明の液晶表示装置が備える補助容量電
極は、第1、第2および第3の領域を有している。第3
領域は、第1および第2領域よりも狭い幅を有している
ので、例えば、レーザ光を照射することによって容易に
切断することができる。第2領域は、ドレイン電極に接
続されている第1領域に、第3領域を介して接続されて
いるので、第3領域を切断することによって、第2領域
はドレイン電極から電気的に切断される。従って、補助
容量電極の第2領域が関与する表示欠陥(例えば、補助
容量電極の第2領域と補助容量共通配線との短絡に起因
する欠陥)は、上記の操作によって修正される。
【0023】第3領域を補助容量共通配線と重ならない
位置に形成しておけば、第3領域にレーザ光を照射する
工程において、補助容量共通配線にダメージを与えるこ
とが防止されるとともに、切断すべき位置を光学的に
(例えばルーペを用いて)容易に確認することができ
る。
【0024】上述の構成では、補助容量電極の第1領域
が関与する表示欠陥(例えば、補助容量電極の第1領域
と補助容量共通配線との短絡に起因する欠陥)を修正す
ることができないが、以下の構成を採用することによっ
て、第1領域が関与する表示欠陥を修正することが可能
となる。
【0025】第1絶縁層の下部(すなわち、補助容量共
通配線と同じレベル)に修正用接続電極を設け、第1絶
縁層に設けた第2コンタクトホールを介して修正用接続
電極を絵素電極とを電気的に互いに接続しておく。ドレ
イン電極から補助容量電極の第3領域に至る接続経路の
一部(すなわち、接続電極または補助容量電極の第1領
域の一部)および、補助容量電極の第2領域の一部また
は第2領域から延設された第2接続配線が、第1絶縁層
を介して、この修正用接続電極に対向するように配置し
ておく。製造されたままの状態(欠陥修正されるまで)
では、修正用接続電極は、絵素電極以外の電極や配線と
は電気的に接続されていない。
【0026】修正用接続電極は、上述したように、補助
容量電極の第2領域をドレイン電極から電気的に切断し
ても表示欠陥が修正されない場合に、補助容量電極の第
1領域をドレイン電極および絵素電極から電気的に切断
した状態で、第2領域を再びドレイン電極に電気的に接
続するために用いられる。すなわち、補助容量電極の第
1領域が関与する表示欠陥を修正するために用いられ
る。
【0027】修正用接続電極は以下の様にして、ドレイ
ン電極および補助容量電極の第2領域と電気的に接続さ
れる。
【0028】第1絶縁層を介して修正用接続電極に対向
するように形成された、ドレイン電極から補助容量電極
の第3領域に至る接続経路の一部(導体層)に、例えば
レーザ光を照射することによって、第1絶縁層にコンタ
クトホールが形成されるとともに、レーザ光照射によっ
て溶融された導体層が、第1絶縁層に形成されたコンタ
クトホール内に流れ込み、修正用接続電極がドレイン電
極に電気的に接続される。同様に、第1絶縁層を介して
修正用接続電極に対向するように形成された、補助容量
電極の第2領域の一部または第2領域から延設された第
2接続配線(導体層)に、例えばレーザ光を照射するこ
とによって、第1絶縁層にコンタクトホールが形成され
るとともに、レーザ光照射によって溶融された導体層
が、第1絶縁層に形成されたコンタクトホール内に流れ
込み、修正用接続電極が補助容量電極の第2領域に電気
的に接続される。なお、補助容量電極の第1領域をドレ
イン電極および絵素電極から電気的に切断する工程は、
例えば、レーザ光照射によって実行することができる。
【0029】上述の操作を行っても表示欠陥が修正され
ない場合、ソース電極とドレイン電極とをゲート電極を
介して互いに電気的に短絡させ、ゲート電極を走査配線
から電気的に切断し、且つ、補助容量電極の第2領域と
修正用接続電極との電気的な接続を切断することによっ
て、絵素電極の電位をソース電極の電位と常に同じにす
ることができる。従って、表示欠陥を呈していた絵素
は、常に点灯状態となり、視認されにくくなる。特に、
NWモードの液晶表示装置においては、輝点欠陥が暗点
欠陥となるので、表示品位の低下が効果的に抑制され
る。
【0030】
【発明の実施の形態】図面を参照しながら本発明による
実施形態のTFT型液晶表示装置を説明する。本発明は
以下の実施形態に限定されるものではなく、補助容量を
備えるTFT型液晶表示装置に広く適用できる。
【0031】図1、図2Aおよび図2Bを参照しなが
ら、本発明による実施形態のTFT型液晶表示装置10
0を説明する。液晶表示装置100は、図4に示した従
来のTFT型液晶表示装置400と同様に、図3に示し
た等価回路であらわされる。補助容量の欠陥を修正する
ための構造を有している点で、従来のTFT型液晶表示
装置400と異なる。図2Aおよび図2Bは、それぞれ
図1中の2A−2A’線および2B−2B’線に沿った
断面図である。
【0032】液晶表示装置100のTFT基板100a
は、透明基板(例えば、ガラス基板)11と、ガラス基
板上に形成されたTFT50と、TFT50に接続され
た、走査配線52、信号配線54および絵素電極42a
と、を有している。TFT基板100aは、さらに、補
助容量電極14と、補助容量共通配線16と、修正用接
続電極18と、第1接続配線24と、第2接続配線26
とを有している。
【0033】TFT50のゲート電極G、走査配線5
2、補助容量共通配線16および修正用接続電極26
は、同じ金属層(例えば、Ta層)をパターニングする
ことによって形成されている。このような構成を採用す
ることによって、製造プロセスの増加を抑制できる利点
が得られる。勿論、他の導電層(例えばITO層)を含
む積層構造としてもよい。
【0034】TFT50のゲート電極G、走査配線5
2、補助容量共通配線16および修正用接続電極26を
覆うように、典型的には、TFT基板100aのほぼ全
面に、ゲート絶縁膜(例えばSiNx層)17が形成さ
れている。ゲート絶縁膜17上に、TFT50を構成す
る半導体層(チャネル領域(例えばa−Si層)、ソー
ス領域およびドレイン領域(n+−Si層)を含む:不
図示)と、ソース電極Sと、ドレイン電極Dと、信号配
線54と、補助容量電極14と、第1接続配線24およ
び第2接続配線26とが形成されている。ソース電極
S、ドレイン電極D、信号配線54、補助容量電極1
4、第1接続配線24および第2接続配線26は、同じ
金属層(例えばTa層)をパターニングすることによっ
て形成されている。勿論、他の導電層(例えばITO
層)を含む積層構造としてもよい。
【0035】補助容量電極14は、第1領域14aと、
第2領域14bと、第3領域14cとを備えている。補
助容量電極14の第1領域14aおよび第2領域14b
は、補助容量共通配線16よりも幅が広く、第3領域1
4cは、第1領域14aおよび第2領域14bよりも幅
が狭く形成されている。言い換えると、補助容量電極
は、その中央部にくびれた(幅の狭い)領域(第3領域
14c)を有している。さらに、第3領域14cは、補
助容量共通配線16と重ならない位置に形成されてい
る。補助容量電極14は、ゲート絶縁膜17を介して補
助容量共通配線16と対向し、補助容量44(図3参
照)を構成する。
【0036】第1接続配線24は、TFT50のドレイ
ン電極Dと補助容量電極14とを互いに電気的に接続し
ており、且つ、その分岐部24aの一部がゲート絶縁膜
17を介して修正用接続電極18と対向するように形成
されている。第1接続電極24と補助容量電極14とが
互いに接続される接続端14tは、補助容量電極14の
第1領域14a内にある。第2接続配線26は補助容量
電極14の第2領域14bから延設されており、その一
部がゲート絶縁膜17を介して修正用接続電極18と対
向するように形成されている。
【0037】さらに、これらを覆うように、TFT基板
100aのほぼ全面に絶縁層(例えば、約2μmの樹脂
層)19が形成されており、この絶縁層19上に絵素電
極(例えばITO層)42aが形成されている。TFT
基板100aの表面をほぼ平坦にできる比較的厚い絶縁
層19を形成すると、絵素電極42aをTFT50、走
査配線52や信号配線54の一部と重畳するように形成
できるので、開口率を向上することができる。絶縁層1
9を複数の層(例えば、SiNxなどの無機材料からな
る層と樹脂層との積層構造)から形成してもよい。
【0038】絵素電極42aは、この絶縁層19に形成
されたコンタクトホール19a内において、補助容量電
極14のコンタクトホール部14hと電気的に接続され
ている(図2A参照)。絵素電極42aと補助容量電極
14とが電気的に接続されるコンタクトホール部14h
は、補助容量電極14がドレイン電極Dに電気的に接続
される接続端14tと同様に、第1領域14a内に形成
されている。絵素電極42aは、また、絶縁層19に形
成されたコンタクトホール19aおよびゲート絶縁層1
7に形成されたコンタクトホール17aを介して、修正
用接続電極18のコンタクト領域18hと電気的に接続
されている。TFT基板100aの製造プロセスでは、
修正用接続電極18は、絵素電極42a以外の電極や配
線に接続されおらず、絵素電極42aは、補助容量電極
14および第1接続電極24を介して、TFT50のド
レイン電極Dに電気的に接続されている。
【0039】上述のような構成を有するTFT基板10
0aは、公知の製造プロセスで製造することができる。
得られたTFT基板100aと、別途形成されたカラー
フィルタ基板(不図示)とを用いて、常法に従って液晶
表示装置100を作製することができる。本発明に液晶
表示装置に用いられるカラーフィルタ基板(対向基板)
や液晶層に特に制限はない。
【0040】上述した構成を有する液晶表示装置100
の表示欠陥は、以下のようにして修正することができ
る。液晶表示装置100は、表示欠陥が補助容量44の
欠陥(例えば、補助容量電極14と補助容量共通配線1
6との短絡不良)に起因する表示欠陥を修正することが
できる。
【0041】まず、絵素容量40のなかから表示欠陥を
呈する絵素容量40を特定する。例えば、液晶表示装置
100を表示動作し、欠陥絵素を目視で(例えばルーペ
を用いて)特定する。特定された絵素容量40の補助容
量電極14の第3領域14cに、例えばレーザ光を照射
し、第1領域14aと第2領域14bとを互いに電気的
に切断する(切断箇所:図1中のX1)。レーザ光照射
による補助容量電極14の第3領域14cの切断は、公
知の方法で実施することができる。
【0042】第3領域14cは、第1領域14aおよび
第2領域14bよりも狭い幅を有しているので、容易に
切断することができる。また、第3領域14cは補助容
量共通配線16と重ならない位置に形成されているの
で、第3領域にレーザ光を照射する工程において、補助
容量共通配線16にダメージを与えることが防止される
とともに、切断すべき位置を光学的に容易に確認するこ
とができる。
【0043】このようにして、補助容量電極14の第2
領域14bを第1領域14aから電気的に切断すると、
例えば、第2領域14bと補助容量共通配線16との短
絡不良に起因する表示欠陥が修正される。
【0044】この後、上記の表示欠陥が修正されたか否
かを確認し、表示欠陥が修正されていなかった場合に
は、以下の操作を行うことによって、補助容量電極14
の第1領域14aをTFT50のドレイン電極Dおよび
絵素電極42aから電気的に切断した状態で、修正用接
続電極18を介して第2領域14bを再びドレイン電極
Dに電気的に接続する。すなわち、補助容量電極14の
第1領域14aが補助容量共通配線16と短絡している
ことに起因する表示欠陥を修正する。
【0045】まず、補助容量電極14の第1領域14a
をドレイン電極Dおよび絵素電極42から電気的に切断
する工程を説明する。コンタクトホール14hの周辺
(図1中の破線で示した箇所X2)に、例えばレーザ光
を照射することによって、補助容量電極14の第1領域
14aを絵素電極42から電気的に切断する。また、第
1接続配線24の修正用接続電極18と重なるように形
成された分岐部24aと接続端14tとの間(図1中の
X3)に、例えばレーザ光を照射することによって、第
1領域14aをドレイン電極Dから電気的に切断する。
【0046】修正用接続電極18は、以下のようにし
て、補助容量電極14の第2領域14bおよびTFT5
0のドレイン電極Dに電気的に接続される。
【0047】ゲート絶縁膜17を介して修正用接続電極
18に対向するように形成された、ドレイン電極Dから
補助容量電極14の第3領域14cに至る接続経路の一
部(ここでは、第1接続電極24の分岐部24a)に、
例えばレーザ光を照射することによって、ゲート絶縁膜
17にコンタクトホールが形成されるとともに、レーザ
光照射によって溶融された第1接続電極24を構成する
金属が、ゲート絶縁膜17に形成されたコンタクトホー
ル内に流れ込み、修正用接続電極18がドレイン電極D
に電気的に接続される(図1中の接続点Y1)。
【0048】同様に、ゲート絶縁膜17を介して修正用
接続電極18に対向するように形成された第2領域14
bから延設された第2接続配線26に、例えばレーザ光
を照射することによって、ゲート絶縁膜17にコンタク
トホールが形成されるとともに、レーザ光照射によって
溶融された金属が、ゲート絶縁膜17に形成されたコン
タクトホール内に流れ込み、修正用接続電極18が補助
容量電極14の第2領域14bに電気的に接続される
(図1中の接続点Y2)。なお、ここでは、第2接続配
線26を設けたが、補助容量電極14の第2領域14b
の一部が修正用接続電極18と重畳する構成を採用する
こともできる。
【0049】なお、上述した、補助容量電極14の第1
領域14aをTFT50のドレイン電極Dおよび絵素電
極42aから電気的に切断する工程と、修正用接続電極
18を介して第2領域14bを再びドレイン電極Dに電
気的に接続する工程とは、どちらを先に実行しても良
い。また、それぞれの工程における切断または接続を行
う順序に制限はない。
【0050】この後、上記の表示欠陥が修正されたか否
かを確認し、例えば、補助容量値の不足などにより、表
示欠陥が修正されていなかった場合には、TFT50の
ソース電極Sとドレイン電極Dとをゲート電極Gを介し
て互いに電気的に短絡させ、ゲート電極を走査配線から
電気的に切断し、且つ、補助容量電極14の第2領域1
4bと修正用接続電極18との電気的な接続を切断す
る。このようにすると、絵素電極42aの電位をソース
電極S(すなわち、信号配線54)の電位と常に同じに
することができる。従って、表示欠陥を呈していた絵素
は、常に点灯状態となり、視認されにくくなる。特に、
NWモードの液晶表示装置においては、輝点欠陥が暗点
欠陥となるので、表示品位の低下が効果的に抑制され
る。
【0051】TFT50のソース電極Sとドレイン電極
Dと電気的に短絡させる工程は、特開平7−10431
3号公報に開示されている方法を用いて実行することが
できる。ソース電極Sおよびドレイン電極Dとゲート電
極Gとの重畳部(図1中のY3およびY4)にレーザ光
を照射することによって、半導体層(不図示)にコンタ
クトホールが形成されるとともに、レーザ光照射によっ
て溶融された金属が、形成されたコンタクトホール内に
流れ込み、ソース電極Sおよびドレイン電極Dがゲート
電極Gを介して互いに電気的に接続される。
【0052】上記の実施形態では、修正用接続電極18
を設け、補助容量電極14の第1領域14aにおける不
良に起因する表示欠陥をも修正できる構成を説明した
が、修正用接続電極18を省略しても、補助容量電極1
4の第2領域14bにおける不良に起因する表示欠陥を
修正することができるので、液晶表示装置の製造歩留ま
りを従来よりも向上することができる。
【0053】また、上記に実施形態では、補助容量電極
14を2つの領域(第1領域14aと第2領域14b)
に分割したが、3以上の領域に分割してもよい。但し、
修正後に使用される補助容量電極の面積が小さくなりす
ぎると、補助容量値が不足するので、例示した2分割構
造が好ましい。また、第1領域14aと第2領域14b
の面積は、それぞれの領域による容量値が略等しくなる
ように設定することが好ましい。なお、修正用接続電極
18を省略し、第1領域だけを用いる場合には、第1領
域による容量値が十分得られるように、第2領域による
容量値よりも第1領域による容量値が大きくなるよう
に、補助容量電極14を分割してもよい。
【0054】
【発明の効果】本発明によれば、補助容量の欠陥に起因
する表示欠陥の修正が容易な構造を備える液晶表示装置
およびその欠陥修正方法が提供され、その結果、液晶表
示装置の製造歩留まりを向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による実施形態のTFT型液晶表示装置
100の模式的な平面図である。
【図2A】液晶表示装置100の模式的な断面図であ
り、図1中の2A−2A’線に沿った断面を示す。
【図2B】液晶表示装置100の模式的な断面図であ
り、図1中の2B−2B’線に沿った断面を示す。
【図3】補助容量を備える従来のTFT型液晶表示装置
400の等価回路示す模式図である。
【図4】従来のTFT型液晶表示装置400の模式的な
平面図である。
【符号の説明】
11 透明基板 14 補助容量電極 14a 補助容量電極の第1領域 14b 補助容量電極の第2領域 14c 補助容量電極の第3領域 14t 補助容量電極の接続端 16 補助容量共通配線 17 ゲート絶縁膜 18 修正用接続電極 24 第1接続配線 24a 第1接続配線の分岐部 26 第2接続配線 40 絵素容量 42 液晶容量 44 補助容量 50 TFT 52 走査配線 54 信号配線 100 液晶表示装置 100a TFT基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H092 JA26 JB56 JB69 JB72 JB73 KA12 KB22 MA37 MA47 MA52 NA13 NA29 PA08 5C094 AA42 AA45 BA03 BA43 CA19 EA04 EA05 EB02 ED02 HA08 5F110 AA27 BB01 CC07 DD02 FF03 GG02 GG15 HK09 NN02 NN03 NN24 NN27 NN73 5G435 AA17 AA19 BB12 GG12 KK05 KK10 LL04 LL08

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マトリクス状に配置された複数の絵素容
    量と、前記複数の絵素容量のそれぞれに電気的に接続さ
    れた薄膜トランジスタとを有し、 前記複数の絵素容量のそれぞれは、液晶容量と、前記液
    晶容量に電気的に並列に接続された補助容量とを有し、
    前記液晶容量は、第1基板に形成された絵素電極と、第
    2基板に形成された対向電極と、前記絵素電極と前記対
    向電極との間に設けられた液晶層とを有し、前記補助容
    量は、前記第1基板に形成された補助容量共通配線およ
    び補助容量電極と、前記補助容量共通配線と前記補助容
    量電極との間に設けられた第1絶縁層とを有し、 前記第1基板は、前記薄膜トランジスタと、前記薄膜ト
    ランジスタのゲート電極に接続された走査配線と、前記
    薄膜トランジスタのソース電極に接続された信号配線
    と、前記薄膜トランジスタのドレイン電極と前記補助容
    量電極とを電気的に互いに接続する第1接続配線と、少
    なくとも前記ドレイン電極、前記補助容量電極および前
    記第1接続配線の上に形成された第2絶縁層とをさらに
    有し、 前記絵素電極は、前記第2絶縁層上に形成されており、
    前記補助容量電極上に位置する前記第2絶縁層に形成さ
    れた第1コンタクトホール内において、前記補助容量電
    極に接続されており、 前記補助容量電極は、第1、第2および第3領域を有
    し、前記第1領域は、前記接続配線と接続される接続端
    と、前記第1コンタクトホール内に露出されるコンタク
    ト部とを含み、前記第2領域は、前記第1領域および前
    記第2領域よりも幅の狭い前記第3領域を介して、前記
    第1領域と電気的に接続されており、前記第3領域は、
    前記補助容量共通配線と重ならない位置に形成されてい
    る、液晶表示装置。
  2. 【請求項2】 前記第1基板は、前記第1絶縁層の下部
    に形成された修正用接続電極をさらに有し、前記絵素電
    極は、前記修正用接続電極上に位置する前記第1絶縁層
    に形成された第2コンタクトホール内において、前記修
    正用接続電極と接続されており、 前記ドレイン電極から前記補助容量電極の前記第3領域
    に至る接続経路の一部および、前記補助容量電極の前記
    第2領域の一部または前記第2領域から延設された第2
    接続配線が、前記第1絶縁層を介して前記修正用接続電
    極に対向するように配置されている、請求項1に記載の
    液晶表示装置。
  3. 【請求項3】 前記修正用接続電極は、前記ゲート電極
    と、前記走査配線と、前記補助容量共通配線と同一の導
    電層から形成されている、請求項2に記載の液晶表示装
    置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の液晶表示装置の欠陥を
    修正する方法であって、 前記複数の絵素容量のなかから表示欠陥を呈する絵素容
    量を特定する工程と、 前記特定された絵素容量の前記補助容量電極の前記第3
    領域を切断することによって、前記第1領域と前記第2
    領域とを互いに電気的に切断する工程と、を包含する、
    液晶表示装置の欠陥修正方法。
  5. 【請求項5】 請求項2または3に記載の液晶表示装置
    の欠陥を修正する方法であって、 前記複数の絵素容量のなかから表示欠陥を呈する絵素容
    量を特定する工程と、 前記特定された絵素容量の前記補助容量電極の前記第3
    領域を切断することによって、前記第1領域と前記第2
    領域とを互いに電気的に切断する工程と、 前記絵素電極と前記補助容量電極とを互いに電気的に切
    断する工程と、 前記第1接続電極配線と前記補助容量電極の前記接続端
    とを互いに電気的に切断する工程と、 前記第1絶縁層を介して前記修正用接続電極に対向する
    ように配置されている、前記ドレイン電極から前記補助
    容量電極の前記第3領域に至る接続経路の前記一部およ
    び、前記補助容量電極の前記第2領域の前記一部または
    前記第2領域から延設された前記第2接続配線を、それ
    ぞれ前記修正用接続電極に電気的に接続する工程と、 を包含する、液晶表示装置の欠陥修正方法。
  6. 【請求項6】 前記ソース電極と前記ドレイン電極とを
    前記ゲート電極を介して互いに電気的に短絡させる工程
    と、 前記ゲート電極と前記走査配線とを互いに電気的に切断
    する工程と、 前記補助容量電極の前記第2領域の前記一部または前記
    第2領域から延設された前記第2接続配線と、前記修正
    用接続電極との電気的な接続を切断する工程と、をさら
    に包含する、請求項5に記載の液晶表示装置の欠陥修正
    方法。
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