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JP2001307301A - Rotary magnetic drum device and method for measuring resistance value of magneto-resistance element head of the same - Google Patents

Rotary magnetic drum device and method for measuring resistance value of magneto-resistance element head of the same

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Publication number
JP2001307301A
JP2001307301A JP2000127675A JP2000127675A JP2001307301A JP 2001307301 A JP2001307301 A JP 2001307301A JP 2000127675 A JP2000127675 A JP 2000127675A JP 2000127675 A JP2000127675 A JP 2000127675A JP 2001307301 A JP2001307301 A JP 2001307301A
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Japan
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resistance value
element head
magnetoresistive element
rotating
data
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JP2000127675A
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Japanese (ja)
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Yoshinori Takai
芳紀 高井
Noritoshi Eguchi
典稔 江口
Kiyoshi Kurihara
潔 栗原
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a rotary magnetic drum device capable of easily and surely controlling the film thickness of a magneto-resistance element head, and a method for measuring the resistance value of the magneto-resistance element head of the same. SOLUTION: This rotary magnetic drum device 10 for reproducing the information of a tape-like information recording medium TP is provided with a fixed body 1, and a rotary body 2 having a magneto-resistance element head 20 rotated with respect to the fixed body 1 to reproduce information. The rotary body 2 is provided with a resistance value measuring section 100 for measuring the resistance value of the magneto-resistance element head 20, and a conversion section 150 for transmitting the resistance value of the magneto resistance element head 20 obtained by the resistance value measuring section 100 as data to the outside.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、テープ状の情報記
録媒体の情報を再生する回転磁気ドラム装置および回転
磁気ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方法
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a rotating magnetic drum device for reproducing information from a tape-shaped information recording medium and a method for measuring the resistance value of a magnetoresistive element head of the rotating magnetic drum device.

【0002】[0002]

【従来の技術】磁気テープに対して情報を記録したり磁
気テープの情報を再生するような装置としては、ビデオ
テープレコーダやテープストリーマ等がある。このよう
な種類の情報記録装置は、磁気テープに対して信号を記
録したり、磁気テープの信号を再生するために回転磁気
ドラム装置を備えている。回転磁気ドラム装置は、回転
磁気ヘッド装置などともいい、回転ドラムと固定ドラム
を有し、たとえば回転ドラムは記録ヘッドと再生ヘッド
を有している。記録ヘッドは磁気テープに対して信号を
記録するヘッドで、再生ヘッドは磁気テープに記録され
ている信号を再生するのに用いられる。
2. Description of the Related Art As a device for recording information on a magnetic tape or reproducing information from a magnetic tape, there are a video tape recorder, a tape streamer and the like. Such an information recording apparatus includes a rotating magnetic drum device for recording a signal on a magnetic tape and reproducing a signal from the magnetic tape. The rotating magnetic drum device is also called a rotating magnetic head device or the like, and has a rotating drum and a fixed drum. For example, the rotating drum has a recording head and a reproducing head. The recording head is a head for recording a signal on the magnetic tape, and the reproducing head is used for reproducing a signal recorded on the magnetic tape.

【0003】回転ドラムはこれらの記録ヘッド及び再生
ヘッドを保持し、固定ドラムに対してモータの作動によ
り回転することで、記録ヘッドあるいは再生ヘッドを磁
気テープに対して、例えばヘリカルスキャン方式で走査
して、磁気テープに対して情報を記録したり磁気テープ
の情報を再生することができる。このようなヘリカルス
キャン方式を採用することにより、磁気テープに対して
信号の高密度記録が可能である。
The rotating drum holds the recording head and the reproducing head, and rotates the motor with respect to the fixed drum to scan the recording head or the reproducing head against the magnetic tape, for example, by a helical scan method. Thus, information can be recorded on the magnetic tape or the information on the magnetic tape can be reproduced. By employing such a helical scan method, high-density recording of signals on a magnetic tape is possible.

【0004】この種の回転磁気ドラム装置の再生ヘッド
としては、磁気抵抗素子ヘッド(MRヘッド)が採用さ
れている。再生用の磁気抵抗素子ヘッドは、再生信号を
得る場合には常時バイアス電流を必要とし、磁気抵抗素
子ヘッドは、磁界が変化すると抵抗の変化を起こすヘッ
ドであり、信号磁界(入力信号)の変化を抵抗変化に変
換して再生出力信号の変化として取り出すことができ
る。磁気抵抗素子ヘッドは、磁気テープの速度に依存せ
ずに高い安定した再生出力信号を得ることから再生ヘッ
ドとしては有効である。
[0004] A magnetoresistive element head (MR head) is employed as a reproducing head of this type of rotating magnetic drum device. A reproducing magnetoresistive element head always requires a bias current to obtain a reproducing signal, and a magnetoresistive element head is a head that causes a change in resistance when a magnetic field changes, and a change in a signal magnetic field (input signal). Can be converted into a change in resistance and taken out as a change in the reproduced output signal. The magnetoresistive element head is effective as a reproducing head because it obtains a high and stable reproduced output signal without depending on the speed of the magnetic tape.

【0005】磁気抵抗素子ヘッドは、上述したようにテ
ープ状の情報記録媒体(メディア)に記録された磁気信
号の磁気変化量を抵抗変化量として検出する。磁気抵抗
素子ヘッドの抵抗値は、磁気抵抗素子ヘッドの膜厚(M
R膜厚ともいう)と密接に関係し、抵抗値と膜厚は反比
例の関係にある。磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値を最適に
するためには、製造段階での磁気抵抗素子ヘッドの表面
研摩量を厳密に管理する必要がある。図11は、従来行
われている磁気抵抗素子ヘッドの研摩工程を示してい
る。図11(a)に示す磁気抵抗素子ヘッド1000
は、磁気抵抗素子ヘッドの製造プロセスで作られたもの
である。このように製造プロセスで作られた磁気抵抗素
子ヘッド1000は、図11(b)に示すようにMR膜
1001が研摩材1002によりある程度研摩される。
[0005] As described above, the magnetoresistive element head detects a magnetic change amount of a magnetic signal recorded on a tape-shaped information recording medium (medium) as a resistance change amount. The resistance value of the magnetoresistive element head is determined by the film thickness (M
R film thickness), and the resistance value and the film thickness are in inverse proportion. In order to optimize the resistance value of the magnetoresistive element head, it is necessary to strictly control the surface polishing amount of the magnetoresistive element head at the manufacturing stage. FIG. 11 shows a conventional grinding process for a magnetoresistive element head. The magnetoresistive element head 1000 shown in FIG.
Are manufactured by a manufacturing process of a magnetoresistive element head. As shown in FIG. 11B, the MR film 1001 of the magnetoresistive element head 1000 manufactured by the manufacturing process is polished to some extent by the abrasive 1002.

【0006】磁気抵抗素子ヘッド1000のMR膜厚と
DC抵抗値(直流抵抗値)の関係は、図12に示すよう
な反比例の関係がある。このことから、MR膜1001
の研摩量の目安として、磁気抵抗素子ヘッドの電極端子
のDC抵抗値を測りながらMR膜1001の研摩を行
う。MR膜1001は、図12の領域Aで示すように、
ある程度の膜厚のある時にはあまりDC抵抗値が変化し
ない。しかしある膜厚の値Eよりも小さくなると、DC
抵抗値は急激に大きくなる。
The relationship between the MR film thickness and the DC resistance value (DC resistance value) of the magnetoresistive element head 1000 is inversely proportional as shown in FIG. From this, the MR film 1001
As a measure of the amount of polishing, the MR film 1001 is polished while measuring the DC resistance value of the electrode terminal of the magnetoresistive element head. The MR film 1001, as shown by a region A in FIG.
When there is a certain thickness, the DC resistance value does not change much. However, when the film thickness becomes smaller than a certain film thickness value E, DC
The resistance value increases rapidly.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】以上のことから、図1
1の領域Aでは、抵抗値の変化を検出することが難し
く、正確な膜厚の管理をすることが困難である。そのた
めに、膜厚を測定して管理できるようにするために、膜
厚が図11に示すある膜厚の値Eになるまでは、図10
(b)で示すように研摩材1002を用いてMR膜10
01を研摩する。膜厚が図11のある膜厚の値Eよりも
小さくなったところで、図10(c)に示すように、回
転ドラム1010に対して磁気抵抗素子ヘッド1000
を取り付けた後に、回転ドラム1010を実際のたとえ
ばビデオテープレコーダに搭載する。そして、カセット
1030の研摩用テープ1020をF方向に走行させな
がら、回転ドラム1010を連続回転させることによ
り、磁気抵抗素子ヘッド1000の表面を研摩する。実
際のビデオテープレコーダにおける磁気抵抗素子ヘッド
のいわゆるあたりのばらつきを吸収する。このような研
摩用テープ1020による研摩により、MR膜厚がさら
に薄くなり、図11の領域Bのいずれかの膜厚になる。
As described above, FIG.
In the first region A, it is difficult to detect a change in the resistance value, and it is difficult to accurately control the film thickness. Therefore, in order to measure and control the film thickness, until the film thickness reaches a certain film thickness value E shown in FIG.
(B) As shown in FIG.
Grind 01. When the film thickness becomes smaller than a certain film thickness value E in FIG. 11, as shown in FIG.
, The rotating drum 1010 is mounted on an actual video tape recorder, for example. The surface of the magnetoresistive element head 1000 is polished by continuously rotating the rotating drum 1010 while the polishing tape 1020 of the cassette 1030 runs in the F direction. It absorbs the so-called variation of the magnetoresistive element head in an actual video tape recorder. By polishing with such a polishing tape 1020, the MR film thickness is further reduced, and becomes any one of the regions B in FIG.

【0008】しかしこのような従来の研摩方法では、次
のような問題がある。回転ドラム1010とともに磁気
抵抗素子ヘッド1000を実際の機械であるビデオテー
プレコーダに搭載してしまうと、作業者は磁気抵抗素子
ヘッド1000の実際のDC抵抗値(MR抵抗値とも呼
ぶ)を直接測定することができないために、研摩用テー
プ1020で研摩した磁気抵抗素子ヘッド1000のD
C抵抗値が不明であり、最適な抵抗値に設定することは
全くできない。
However, such a conventional polishing method has the following problems. When the magnetoresistive element head 1000 is mounted together with the rotating drum 1010 on a video tape recorder, which is an actual machine, an operator directly measures the actual DC resistance value (also referred to as MR resistance value) of the magnetoresistive element head 1000. Cannot be used, the D of the magnetoresistive element head 1000 polished with the polishing tape 1020 is used.
Since the C resistance value is unknown, it is impossible to set an optimum resistance value at all.

【0009】また磁気抵抗素子ヘッド1000のMR膜
1001の研摩量は、研摩用テープ1020の走行時間
等からの推測でしか管理できないために、いわゆるあた
りやMR膜厚に依存する耐久時間のばらつきが、搭載し
た実機毎に異なってしまうので、磁気抵抗素子ヘッドの
DC抵抗値の管理、すなわち磁気抵抗素子ヘッドのMR
膜厚の管理ができない。そこで本発明は上記課題を解消
し、磁気抵抗素子ヘッドの膜厚の管理を簡単にかつ確実
に行うことができる回転磁気ドラム装置および回転磁気
ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方法を提
供することを目的としている。
Further, since the amount of polishing of the MR film 1001 of the magnetoresistive element head 1000 can be controlled only by estimating the running time of the polishing tape 1020 and the like, the so-called hit and the variation in the durability time depending on the MR film thickness are reduced. Therefore, the DC resistance value of the magnetoresistive element head is controlled, that is, the MR resistance of the magnetoresistive element head is different.
The film thickness cannot be controlled. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances and provides a rotating magnetic drum device and a method for measuring the resistance value of a magnetoresistive element head of a rotating magnetic drum device, which can easily and reliably manage the thickness of a magnetoresistive element head. It is intended to be.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、テー
プ状の情報記録媒体の情報を再生する回転磁気ドラム装
置において、固定体と、前記固定体に対して回転して前
記情報を再生するための磁気抵抗素子ヘッドを有する回
転体と、を備え、前記回転体は、前記磁気抵抗素子ヘッ
ドの抵抗値を測定する抵抗値測定部と、前記抵抗値測定
部で得られた前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値をデータ
として前記回転体の外部に伝送するための変換部と、を
有することを特徴とする回転磁気ドラム装置である。請
求項1では、回転体は固定体に対して回転して情報を再
生するための磁気抵抗素子ヘッドを有している。この回
転体は、抵抗値測定部と周波数変換部を有している。抵
抗値測定部は、磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値を測定す
る。変換部は、抵抗値測定部で得られた磁気抵抗素子ヘ
ッドの抵抗値をデータとして回転体の外部に伝送するよ
うになっている。これにより、磁気抵抗素子ヘッドの抵
抗値は、リアルタイムで外部に伝送することができるの
で、回転体を実際の電子機器に搭載したとしても、磁気
抵抗素子ヘッドの抵抗値に関係する、磁気抵抗素子ヘッ
ドの膜厚をリアルタイムで正確にかつ簡単に得ることが
できる。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a rotary magnetic drum apparatus for reproducing information on a tape-shaped information recording medium, wherein the information is reproduced by rotating the fixed body with respect to the fixed body. A rotating body having a magnetoresistive element head for measuring the resistance of the magnetoresistive element head, wherein the rotating body measures a resistance value of the magnetoresistive element head, and the magnetic resistance obtained by the resistance value measuring section. A converter for transmitting the resistance value of the element head as data to the outside of the rotating body. In the first aspect, the rotating body has a magnetoresistive element head for rotating the fixed body to reproduce information. This rotating body has a resistance value measurement unit and a frequency conversion unit. The resistance value measuring unit measures the resistance value of the magnetoresistive element head. The conversion unit transmits the resistance value of the magnetoresistive element head obtained by the resistance value measurement unit to the outside of the rotating body as data. Thereby, the resistance value of the magnetoresistive element head can be transmitted to the outside in real time. Therefore, even if the rotating body is mounted on an actual electronic device, the magnetoresistive element head has a relation with the resistance value of the magnetoresistive element head. The thickness of the head can be accurately and easily obtained in real time.

【0011】請求項2の発明は、請求項1に記載の回転
磁気ドラム装置において、前記磁気抵抗素子ヘッドの抵
抗値は直流抵抗値であり、前記回転体と前記固定体との
間には、前記変換部からの前記データを前記回転体側か
ら前記固定体側に伝送する非接触型の伝送装置を有す
る。請求項2では、非接触型の伝送装置を用いることに
より、回転体から固定体側へ磁気抵抗素子ヘッドの抵抗
値のデータを伝送することができる。
According to a second aspect of the present invention, in the rotary magnetic drum device according to the first aspect, the resistance value of the magnetoresistive element head is a direct current resistance value, and between the rotating body and the fixed body, A non-contact transmission device for transmitting the data from the conversion unit from the rotating body to the fixed body; According to the second aspect, by using the non-contact type transmission device, the data of the resistance value of the magnetoresistive element head can be transmitted from the rotating body to the fixed body side.

【0012】請求項3の発明は、請求項2に記載の回転
磁気ドラム装置において、前記非接触型の伝送装置は、
磁気的な誘導により非接触で前記データを送るトランス
であり、前記トランスは前記回転体に設けられたロータ
コアと前記固定体に設けられたステータコアを有する。
請求項3では、磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値は、トラン
スの磁気的な誘導により、回転体から固定体に伝送する
ことができる。
According to a third aspect of the present invention, in the rotary magnetic drum device according to the second aspect, the non-contact type transmission device comprises:
A transformer for transmitting the data in a non-contact manner by magnetic induction, the transformer having a rotor core provided on the rotating body and a stator core provided on the fixed body.
According to the third aspect, the resistance value of the magnetoresistive element head can be transmitted from the rotating body to the fixed body by magnetic induction of a transformer.

【0013】請求項4の発明は、請求項2に記載の回転
磁気ドラム装置において、前記非接触型の伝送装置は、
光信号により非接触で前記データを送る光空間伝送装置
であり、前記光空間伝送装置は前記回転体に設けられて
前記データを発生する発光部と、前記固定体に設けられ
て前記発光部からの前記データを受光する受光部を有す
る。請求項4では、磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値は、光
信号により非接触で回転体から固定体へ伝送することが
できる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the rotary magnetic drum device according to the second aspect, the non-contact type transmission device comprises:
An optical spatial transmission device that transmits the data in a non-contact manner by an optical signal, wherein the optical spatial transmission device is provided on the rotating body to generate the data, and a light emitting unit that is provided on the fixed body, from the light emitting unit. And a light receiving unit for receiving the data. According to the fourth aspect, the resistance value of the magnetoresistive element head can be transmitted from the rotating body to the fixed body in a non-contact manner by an optical signal.

【0014】請求項5の発明は、請求項1に記載の回転
磁気ドラム装置において、前記磁気抵抗素子ヘッドの抵
抗値を前記データとして伝送するのは、前記回転磁気ド
ラム装置が電子機器に搭載された状態で、前記磁気抵抗
素子ヘッドを研摩する際に行なわれる。請求項5では、
磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値をデータとして伝送するの
は、回転磁気ドラム装置が電子機器に搭載された状態で
かつ磁気抵抗素子ヘッドを研摩する際に行われる。これ
により回転磁気ドラム装置を実際の電子機器に搭載した
状態で、リアルタイムで磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値、
すなわち磁気抵抗素子ヘッドの膜厚の値を研摩しながら
正確に知ることができる。
According to a fifth aspect of the present invention, in the rotary magnetic drum device according to the first aspect, the resistance value of the magnetoresistive element head is transmitted as the data because the rotary magnetic drum device is mounted on an electronic device. This is performed when the magnetoresistive element head is polished in a state where the magnetic head is polished. In claim 5,
The transmission of the resistance value of the magnetoresistive element head as data is performed when the rotary magnetic drum device is mounted on an electronic device and when the magnetoresistive element head is polished. With the rotary magnetic drum device mounted on actual electronic equipment, the resistance value of the magnetoresistive element head can be calculated in real time.
That is, the value of the film thickness of the magnetoresistive element head can be accurately known while polishing.

【0015】請求項6の発明は、回転体が固定体に対し
て回転することで、前記回転体の磁気抵抗素子ヘッドが
テープ状の情報記録媒体に情報を再生するようになって
いる回転磁気ドラム装置において前記磁気抵抗素子ヘッ
ドの抵抗値を測定する測定方法であり、前記回転磁気ド
ラム装置が電子機器に搭載された状態で、前記回転ドラ
ムの前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値を抵抗値測定部に
より測定する測定ステップと、前記抵抗値測定部で得ら
れた前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値をデータとして前
記回転体の外部に伝送するデータ伝送ステップと、を有
することを特徴とする回転磁気ドラム装置の磁気抵抗素
子ヘッドの抵抗値測定方法である。請求項6では、測定
ステップにおいて、回転磁気ドラム装置が電子機器に搭
載された状態で回転ドラムの磁気抵抗素子ヘッドの抵抗
値を抵抗値測定部により測定する。そして、データ伝送
ステップにおいて、抵抗値測定部で得られた磁気抵抗素
子ヘッドの抵抗値を変換部によりデータとして回転体の
外部に伝送する。これにより、磁気抵抗素子ヘッドの抵
抗値は、リアルタイムで外部に伝送することができるの
で、回転体を実際の電子機器に搭載したとしても、磁気
抵抗素子ヘッドの抵抗値に関係する、磁気抵抗素子ヘッ
ドの膜厚をリアルタイムで正確にかつ簡単に得ることが
できる。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a rotating magnetic device wherein a rotating body rotates with respect to a fixed body so that a magnetoresistive element head of the rotating body reproduces information on a tape-shaped information recording medium. A measuring method for measuring a resistance value of the magnetoresistive element head in a drum device, wherein the resistance value of the magnetoresistive element head of the rotating drum is measured while the rotating magnetic drum device is mounted on an electronic device. And a data transmission step of transmitting the resistance value of the magnetoresistive element head obtained by the resistance value measurement unit as data to the outside of the rotating body. This is a method for measuring the resistance value of the magnetoresistive element head of the drum device. According to a sixth aspect of the present invention, in the measuring step, the resistance value of the magnetoresistive element head of the rotating drum is measured by the resistance value measuring unit while the rotating magnetic drum device is mounted on the electronic device. Then, in the data transmission step, the resistance value of the magnetoresistive element head obtained by the resistance value measurement unit is transmitted as data to the outside of the rotating body by the conversion unit. Thereby, the resistance value of the magnetoresistive element head can be transmitted to the outside in real time. Therefore, even if the rotating body is mounted on an actual electronic device, the magnetoresistive element head has a relation with the resistance value of the magnetoresistive element head. The thickness of the head can be accurately and easily obtained in real time.

【0016】請求項7の発明は、請求項6に記載の回転
磁気ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方法
において、前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値は直流抵抗
値であり、前記回転体と前記固定体との間に配置された
非接触型の伝送装置が、前記データを前記回転体側から
前記固定体側に伝送する。請求項7では、非接触型の伝
送装置を用いることにより、回転体から固定体側へ磁気
抵抗素子ヘッドの抵抗値のデータを伝送することができ
る。
According to a seventh aspect of the present invention, in the method for measuring a resistance value of a magnetoresistive element head of a rotary magnetic drum device according to the sixth aspect, the resistance value of the magnetoresistive element head is a DC resistance value, and And a non-contact transmission device disposed between the fixed body and the fixed body transmits the data from the rotating body side to the fixed body side. According to the seventh aspect, by using the non-contact type transmission device, the data of the resistance value of the magnetoresistive element head can be transmitted from the rotating body to the fixed body side.

【0017】請求項8の発明は、請求項7に記載の回転
磁気ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方法
において、前記非接触型の伝送装置は、磁気的な誘導に
より非接触で前記データを送るトランスであり、前記ト
ランスは前記回転体に設けられたロータコアと前記固定
体に設けられたステータコアの間で前記磁気的な誘導に
より非接触で前記データを送る。請求項8では、磁気抵
抗素子ヘッドの抵抗値は、トランスの磁気的な誘導によ
り、回転体から固定体に伝送することができる。
According to an eighth aspect of the present invention, in the method for measuring a resistance value of a magnetoresistive element head of a rotary magnetic drum device according to the seventh aspect, the non-contact type transmission device is provided in a non-contact manner by magnetic induction. A transformer for transmitting data, wherein the transformer transmits the data in a non-contact manner by the magnetic induction between a rotor core provided on the rotating body and a stator core provided on the fixed body. According to the eighth aspect, the resistance value of the magnetoresistive element head can be transmitted from the rotating body to the fixed body by magnetic induction of a transformer.

【0018】請求項9の発明は、請求項7に記載の回転
磁気ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方法
において、前記非接触型の伝送装置は、光信号により非
接触で前記データを送る光空間伝送装置であり、前記光
空間伝送装置は前記回転体に設けられて前記データを発
生する発光部と、前記固定体に設けられて前記発光部か
らの前記データを受光する受光部の間で光信号により非
接触で前記データを送る。請求項9では、磁気抵抗素子
ヘッドの抵抗値は、光信号により非接触で回転体から固
定体へ伝送することができる。
According to a ninth aspect of the present invention, in the method for measuring the resistance value of the magnetoresistive element head of the rotary magnetic drum device according to the seventh aspect, the non-contact type transmission device transmits the data in a non-contact manner by an optical signal. A spatial light transmission device for transmitting, wherein the spatial light transmission device includes a light emitting unit that is provided on the rotating body and generates the data, and a light receiving unit that is provided on the fixed body and receives the data from the light emitting unit. The data is transmitted in a contactless manner by an optical signal. According to the ninth aspect, the resistance value of the magnetoresistive element head can be transmitted from the rotating body to the fixed body without contact by an optical signal.

【0019】請求項10の発明は、請求項6に記載の回
転磁気ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方
法において、前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値を前記デ
ータとして伝送するのは、前記回転磁気ドラム装置が電
子機器に搭載された状態で、前記磁気抵抗素子ヘッドを
研摩する際に行なわれる。請求項10では、磁気抵抗素
子ヘッドの抵抗値をデータとして伝送するのは、回転磁
気ドラム装置が電子機器に搭載された状態でかつ磁気抵
抗素子ヘッドを研摩する際に行われる。これにより回転
磁気ドラム装置を実際の電子機器に搭載した状態で、リ
アルタイムで磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値、すなわち磁
気抵抗素子ヘッドの膜厚の値を研摩しながら正確に知る
ことができる。
According to a tenth aspect of the present invention, in the method of measuring a resistance value of the magnetoresistive element head of the rotary magnetic drum device according to the sixth aspect, the step of transmitting the resistance value of the magnetoresistive element head as the data includes This is performed when the magnetoresistive element head is polished with the rotating magnetic drum device mounted on an electronic device. According to the tenth aspect, the transmission of the resistance value of the magnetoresistive element head as data is performed when the rotary magnetic drum device is mounted on an electronic device and when the magnetoresistive element head is polished. Thus, the resistance value of the magnetoresistive element head, that is, the value of the film thickness of the magnetoresistive element head can be accurately known in real time while the rotating magnetic drum device is mounted on an actual electronic device while polishing.

【0020】請求項11の発明は、請求項10に記載の
回転磁気ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定
方法において、前記磁気抵抗素子ヘッドを研摩するの
は、前記電子機器において走行される研摩用のテープ体
である。請求項11では、電子機器において走行される
研摩用のテープ体により磁気抵抗素子ヘッドを研摩す
る。
According to an eleventh aspect of the present invention, in the method for measuring a resistance value of a magnetoresistive element head of a rotary magnetic drum device according to the tenth aspect, polishing the magnetoresistive element head is performed in the electronic equipment. It is a tape body for polishing. According to the eleventh aspect, the magnetoresistive element head is polished by a polishing tape that is run in the electronic device.

【0021】請求項12の発明は、請求項11に記載の
回転磁気ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定
方法において、前記磁気抵抗素子ヘッドの前記抵抗値が
目標設定値に近づくにつれて前記回転体の回転数を下げ
る。請求項12では、磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値が目
標設定値に近づくにつれて回転体の回転数を下げてい
く。これにより、磁気抵抗素子ヘッドの研摩量を徐々に
減らしていくことができるので、抵抗値は目標設定値に
容易に設定することができる。
According to a twelfth aspect of the present invention, in the method for measuring a resistance value of a magnetoresistive element head of a rotary magnetic drum device according to the eleventh aspect, the rotation of the magnetoresistive element head is increased as the resistance value approaches a target set value. Decrease body rotation. According to the twelfth aspect, as the resistance value of the magnetoresistive element head approaches the target set value, the rotation speed of the rotating body is reduced. As a result, the polishing amount of the magnetoresistive element head can be gradually reduced, so that the resistance value can be easily set to the target set value.

【0022】請求項13の発明は、請求項11に記載の
回転磁気ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定
方法において、前記磁気抵抗素子ヘッドの前記抵抗値が
目標設定値に近づくにつれて前記研摩用のテープ体のテ
ープテンションを下げる。請求項13では、抵抗値が目
標設定値に近づくにつれて研摩用のテープ体のテープテ
ンションを下げていく。これにより、磁気抵抗素子ヘッ
ドの研摩量を徐々に減らしていくことができるので、抵
抗値は目標設定値に容易に設定することができる。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the method of the eleventh aspect, the polishing is performed as the resistance of the magnetoresistive element head approaches a target set value. Decrease the tape tension of the tape body. According to the thirteenth aspect, the tape tension of the tape body for polishing is reduced as the resistance value approaches the target set value. As a result, the polishing amount of the magnetoresistive element head can be gradually reduced, so that the resistance value can be easily set to the target set value.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明
の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの形態に限られるものではな
い。
Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. Note that the embodiments described below are preferred specific examples of the present invention,
Although various technically preferable limits are given, the scope of the present invention is not limited to these modes unless otherwise specified in the following description.

【0024】図1は、本発明の回転磁気ドラム装置の好
ましい実施の形態を示している。図2は、図1の回転磁
気ドラム装置10の断面構造例を示している。図1と図
2の回転磁気ドラム装置10は、回転磁気ヘッド装置や
回転磁気再生装置あるいは回転磁気記録再生装置等とも
いい、たとえばビデオテープレコーダ、データストリー
マ、デジタルオーディオシステム等に適用されて、テー
プ状の情報記録媒体である磁気テープTPに対して信号
を記録したり、磁気テープTPに記録されている信号を
再生するのに用いられる。回転磁気ドラム装置10は、
この磁気テープTPに記録されている信号を再生するた
めに、磁気抵抗素子ヘッド(MRヘッド)20を有して
いる。この磁気抵抗素子ヘッド20の他に、磁気テープ
TPに対して信号を記録する記録ヘッド等も有している
が、図示を省略している。
FIG. 1 shows a preferred embodiment of the rotary magnetic drum device of the present invention. FIG. 2 shows an example of a sectional structure of the rotary magnetic drum device 10 of FIG. The rotating magnetic drum device 10 shown in FIGS. 1 and 2 is also called a rotating magnetic head device, a rotating magnetic reproducing device, or a rotating magnetic recording / reproducing device, and is applied to, for example, a video tape recorder, a data streamer, a digital audio system, and the like. It is used to record signals on a magnetic tape TP, which is an information recording medium, and to reproduce signals recorded on the magnetic tape TP. The rotating magnetic drum device 10 includes:
In order to reproduce a signal recorded on the magnetic tape TP, a magnetic resistance element head (MR head) 20 is provided. In addition to the magnetoresistive element head 20, a recording head for recording a signal on the magnetic tape TP is also provided, but is not shown.

【0025】回転磁気ドラム装置10は、固定ドラム
1、回転ドラム2、ロータリトランス3、およびモータ
Mを有している。磁気抵抗素子ヘッド20および図示し
ない記録ヘッドは、回転ドラム2に搭載されている。固
定ドラム1は固定体であり、回転ドラム2は回転体であ
る。回転ドラム2は上ドラムともいい、固定ドラム1は
下ドラムともいう。ロータリトランス3は、たとえばパ
ワーロータリトランスであり、いわゆる非接触型の伝送
装置である。図1に示すように、磁気テープTPは、テ
ープ走行方向IN(入口側)から入り、固定ドラム1の
リードガイド部3に沿って案内された後に、テープ走行
方向OUTに沿って出ていくようになっている。
The rotary magnetic drum device 10 has a fixed drum 1, a rotary drum 2, a rotary transformer 3, and a motor M. The magnetoresistive element head 20 and a recording head (not shown) are mounted on the rotating drum 2. The fixed drum 1 is a fixed body, and the rotating drum 2 is a rotating body. The rotating drum 2 is also called an upper drum, and the fixed drum 1 is also called a lower drum. The rotary transformer 3 is, for example, a power rotary transformer, and is a so-called non-contact type transmission device. As shown in FIG. 1, the magnetic tape TP enters in the tape traveling direction IN (entrance side), is guided along the lead guide portion 3 of the fixed drum 1, and then exits in the tape traveling direction OUT. It has become.

【0026】まず固定ドラム1について説明する。図2
に示す固定ドラム1は、本体1Aとステータコア3Aお
よび円筒部30を有している。円筒部30の中には2組
の軸受32,34が設けられている。軸受32,34の
間にはスプリング36が配置されている。軸受32,3
4のボール32A,34Aは、軸38を回転可能に支持
している。このスプリング36が軸受32,34の間に
設けられているのは、ボール32A,34Aを、軸38
の溝38A,38Bに押し付けることにより、軸32を
安定して回転させるためである。固定ドラム1の内底面
には、ロータリトランス3のステータコア3Aが固定さ
れている。
First, the fixed drum 1 will be described. FIG.
Has a main body 1A, a stator core 3A, and a cylindrical portion 30. Two sets of bearings 32 and 34 are provided in the cylindrical portion 30. A spring 36 is arranged between the bearings 32 and 34. Bearings 32, 3
The four balls 32A and 34A rotatably support the shaft 38. The spring 36 is provided between the bearings 32 and 34 because the balls 32A and 34A
By pressing the shaft 32 against the grooves 38A and 38B, the shaft 32 is rotated stably. The stator core 3 </ b> A of the rotary transformer 3 is fixed to the inner bottom surface of the fixed drum 1.

【0027】次に、回転ドラム2について説明する。図
2に示す回転ドラム2は、本体2A、回路基板40、ヘ
ッド20等を有している。回転ドラム2の本体2Aは、
固定ドラム1の本体1Aと同様に、たとえばアルミニウ
ム等の材質で作られている。ヘッド20は、再生ヘッド
であり、回転ドラム2に対して所定角度をおいて、1つ
または複数個配置されている。ヘッド20は、磁気抵抗
素子型の再生ヘッド(MRヘッド)を採用することがで
きる。
Next, the rotary drum 2 will be described. The rotary drum 2 shown in FIG. 2 has a main body 2A, a circuit board 40, a head 20, and the like. The main body 2A of the rotating drum 2 is
Like the main body 1A of the fixed drum 1, it is made of a material such as aluminum. The head 20 is a reproducing head, and one or a plurality of heads 20 are arranged at a predetermined angle with respect to the rotating drum 2. As the head 20, a reproducing head (MR head) of a magnetoresistive element type can be adopted.

【0028】この再生用の磁気抵抗素子ヘッドは、再生
信号を得る場合には常時バイアス電流を必要とし、磁気
抵抗素子ヘッドは、磁界が変化すると抵抗の変化を起こ
すヘッドであり、信号磁界(入力信号)の変化を抵抗変
化に変換して再生出力信号の変化として取り出すことが
できる。磁気抵抗素子ヘッドは、磁気テープの速度に依
存せずに高い安定した再生出力信号を得ることから再生
ヘッドとしては有効である。
The magnetoresistive element head for reproduction always needs a bias current to obtain a reproduction signal. The magnetoresistive element head is a head that causes a change in resistance when the magnetic field changes, and the signal magnetic field (input Signal) into a change in resistance and can be extracted as a change in the reproduced output signal. The magnetoresistive element head is effective as a reproducing head because it obtains a high and stable reproduced output signal without depending on the speed of the magnetic tape.

【0029】回転ドラム2の本体2Aの上部には、回路
基板40が固定されている。本体2Aの下部には、ロー
タリトランス3のロータコア3Bが固定されている。ロ
ータコア3Bは、ステータコア3Aに対して所定の隙間
をおいて対向して配置されている。回転ドラム2は、軸
32の上部にたとえば圧入により固定されている。
A circuit board 40 is fixed above the main body 2A of the rotating drum 2. A rotor core 3B of the rotary transformer 3 is fixed to a lower portion of the main body 2A. The rotor core 3B is arranged to face the stator core 3A with a predetermined gap. The rotating drum 2 is fixed to an upper portion of the shaft 32 by, for example, press fitting.

【0030】次に、モータMについて説明する。モータ
Mは、ロータ70とステータ80を有している。ロータ
70のハウジング71は、取付部72により保持されて
いる。ハウジング71はリング状もしくは円盤状であ
り、ハウジング71の内側には、リング状のマグネット
73が固定されている。このマグネット73は、S極と
N極が交互に多極着磁されたものである。取付部72
は、軸38の下部に圧入により固定されている。
Next, the motor M will be described. The motor M has a rotor 70 and a stator 80. The housing 71 of the rotor 70 is held by a mounting part 72. The housing 71 has a ring shape or a disk shape, and a ring-shaped magnet 73 is fixed inside the housing 71. The magnet 73 has an S pole and an N pole alternately magnetized in multiple poles. Mounting part 72
Is fixed to the lower portion of the shaft 38 by press fitting.

【0031】ステータ80は、ステータ基板82とコイ
ル84および鉄芯86を有している。ステータ基板82
を通じて、コイル84に所定のパターンで通電すること
により、ロータ70の駆動用のマグネット73と、コイ
ル84との磁気的作用により、ロータ70はステータ8
0に対して連続回転する。ロータ70が連続回転するこ
とにより、軸38を介して、回転ドラム2が、固定ドラ
ム1に対して軸38を中心として連続回転するようにな
っている。回転ドラム2が連続回転すると、記録用のヘ
ッドは、図1に示すように斜めに送られている磁気テー
プTPに対してヘリカルスキャン方式で磁気テープTP
に対して情報を記録する。磁気素子ヘッドであれば、ヘ
ッド20は磁気テープTPに記録されている情報を再生
することができる。
The stator 80 has a stator substrate 82, a coil 84, and an iron core 86. Stator board 82
Through the coil 84 in a predetermined pattern, the rotor 70 is driven by the magnetic action of the magnet 73 for driving the rotor 70 and the coil 84 so that the rotor 70
Continuous rotation with respect to 0. The continuous rotation of the rotor 70 causes the rotary drum 2 to continuously rotate about the shaft 38 with respect to the fixed drum 1 via the shaft 38. When the rotating drum 2 rotates continuously, the recording head moves the magnetic tape TP in a helical scan manner with respect to the magnetic tape TP sent obliquely as shown in FIG.
Record information for If it is a magnetic element head, the head 20 can reproduce information recorded on the magnetic tape TP.

【0032】次に、図2のロータリトランス3について
説明する。ロータリトランス3は、非接触型の伝送装置
である。ロータリトランス3のステータコア3Aは、上
述したように固定ドラム1側に固定されており、ロータ
コア3Bは、回転ドラム2側に固定されている。図2の
実施の形態では、ステータコア3Aとロータコア3B
は、リング状でかつ円盤状のコアであり、たとえばフェ
ライトのような透磁性の材料により作られている。ステ
ータコア3Aとロータコア3Bは、信号を非接触で磁気
的な誘導により伝送する非接触型のトランスである。
Next, the rotary transformer 3 shown in FIG. 2 will be described. The rotary transformer 3 is a non-contact type transmission device. As described above, the stator core 3A of the rotary transformer 3 is fixed to the fixed drum 1 side, and the rotor core 3B is fixed to the rotary drum 2 side. In the embodiment of FIG. 2, the stator core 3A and the rotor core 3B
Is a ring-shaped and disk-shaped core made of a magnetically permeable material such as ferrite. The stator core 3A and the rotor core 3B are non-contact type transformers that transmit signals by magnetic induction in a non-contact manner.

【0033】磁気抵抗素子ヘッド20は、磁気テープT
Pに記録された情報である磁気信号の磁界変化量を抵抗
変化量に検出するものである。磁気抵抗素子ヘッドのD
C抵抗値(直流抵抗値)は、磁気抵抗素子ヘッドのMR
膜厚(磁気抵抗膜厚)と密接な関係、すなわち反比例の
関係にある。この磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値と、MR
膜厚の関係は、図8に示している。図8において、MR
膜厚が、たとえば4〜8μmよりも大きいと、領域Aで
示すようにたとえば磁気抵抗素子ヘッドのDC抵抗値
(オーム)は、たとえば40オームよりも小さく、ほぼ
一定値である。これに対してMR膜厚が4〜8μmより
も小さい領域Bでは、MR膜厚が小さくなっていくと、
磁気抵抗素子ヘッドのDC抵抗値は急激に大きくなって
いくという特徴がある。
The magnetoresistive element head 20 is a magnetic tape T
The amount of change in the magnetic field of the magnetic signal, which is information recorded in P, is detected as the amount of change in resistance. D of the magnetoresistive element head
The C resistance (DC resistance) is the MR of the magnetoresistive element head.
There is a close relationship with the film thickness (magnetoresistive film thickness), that is, an inversely proportional relationship. The resistance value of this magnetoresistive element head and MR
FIG. 8 shows the relationship between the film thicknesses. In FIG.
When the film thickness is larger than, for example, 4 to 8 μm, the DC resistance value (ohms) of the magnetoresistive element head is smaller than, for example, 40 ohms and is almost constant, as shown by region A. On the other hand, in the region B where the MR film thickness is smaller than 4 to 8 μm, as the MR film thickness becomes smaller,
There is a feature that the DC resistance value of the magnetoresistive element head rapidly increases.

【0034】このようなことから磁気抵抗素子ヘッドの
抵抗値を最適な抵抗値にするには、ヘッド表面研摩量を
厳密に管理する必要がある。磁気抵抗素子ヘッド(MR
ヘッド)20は、異方性磁気抵抗(AMR:Aniso
tropic Magnetoresistive)効
果を利用した再生専用ヘッドである。磁気抵抗素子ヘッ
ドは、テープ状の情報記録媒体である磁気テープTPか
らの磁界により抵抗が変化する。磁気抵抗素子ヘッドに
対してセンス電流(バイアス電流とも呼ぶ)を流すこと
により、再生電圧を取り出す構造である。これにより磁
気抵抗素子ヘッド20は、磁気テープTPの速度に依存
せずに高い安定した再生出力信号を得ることができる。
From the above, in order to make the resistance of the magnetoresistive element head the optimum resistance, it is necessary to strictly control the head surface polishing amount. Magnetoresistance element head (MR
The head 20 has an anisotropic magnetoresistance (AMR: Aniso)
It is a read-only head that utilizes a "tropic magnetoresistive" effect. The resistance of the magnetoresistive element head changes due to a magnetic field from a magnetic tape TP, which is a tape-shaped information recording medium. This is a structure in which a read current is extracted by passing a sense current (also referred to as a bias current) to the magnetoresistive element head. Thereby, the magnetoresistive element head 20 can obtain a high and stable reproduction output signal without depending on the speed of the magnetic tape TP.

【0035】図3は、回転ドラム2に搭載されている回
路例と、固定ドラム1に搭載されている回路例を示して
いる。回転ドラム2は、磁気抵抗素子ヘッド20にバイ
アス電流を与えるバイアス電流回路100と、周波数変
換部150等を搭載している。固定ドラム1はアンプ1
60を搭載している。磁気抵抗素子ヘッド20のバイア
ス電流回路100は、磁気抵抗素子ヘッド20のDC抵
抗値の検出回路を兼ねている。DC抵抗値の抵抗値測定
部に相当する。
FIG. 3 shows an example of a circuit mounted on the rotating drum 2 and an example of a circuit mounted on the fixed drum 1. The rotating drum 2 includes a bias current circuit 100 that applies a bias current to the magnetoresistive element head 20, a frequency conversion unit 150, and the like. Fixed drum 1 is amplifier 1
60 is mounted. The bias current circuit 100 of the magnetoresistive element head 20 also functions as a circuit for detecting the DC resistance value of the magnetoresistive element head 20. This corresponds to a DC resistance value resistance measurement unit.

【0036】磁気抵抗素子ヘッド20のバイアス電流回
路100と周波数変換部150は、たとえば図2に示す
回路基板40に搭載されている。バイアス電流回路10
0は、バイアス電流源170と、磁気抵抗素子ヘッド2
0の等価回路である可変抵抗器175を有している。可
変抵抗器175はバイアス電流源170からバイアス電
流が供給される。可変抵抗器175の一端部は端子17
1に接続されている。可変抵抗器175の他端部はコン
デンサ178を介してヘッドアンプ180に接続されて
いる。もう1つの端子172はコンデンサ176を介し
てヘッドアンプ180に接続されている。さらに別の端
子173と、上述した端子171,172は、切換スイ
ッチSW1を構成している。ヘッドアンプ180の出力
側はロータリトランス3のロータコア3Bの巻線3Mに
接続されている。
The bias current circuit 100 and the frequency converter 150 of the magnetoresistive element head 20 are mounted on, for example, a circuit board 40 shown in FIG. Bias current circuit 10
0 is the bias current source 170 and the magnetoresistive element head 2
It has a variable resistor 175 which is an equivalent circuit of 0. The bias current is supplied to the variable resistor 175 from the bias current source 170. One end of the variable resistor 175 is a terminal 17
1 connected. The other end of the variable resistor 175 is connected to a head amplifier 180 via a capacitor 178. The other terminal 172 is connected to the head amplifier 180 via the capacitor 176. Still another terminal 173 and the above-described terminals 171 and 172 constitute a changeover switch SW1. The output side of the head amplifier 180 is connected to the winding 3M of the rotor core 3B of the rotary transformer 3.

【0037】切換スイッチSW1の端子173とヘッド
アンプ180の出力側の間には周波数変換部(変換部に
相当)150が設けられている。端子173はアンプ1
82を介してV/F変換器184に接続されている。V
/F変換器184は、アンプ182から出力される出力
電圧Vの大きさを周波数に変換するものである。V/F
変換器184の出力側は、ヘッドアンプ180の出力側
にそれぞれ接続されている。固定ドラム1のステータコ
ア3Aの巻線3Nは、アンプ160の入力側に接続され
ている。アンプ160の出力側は固定ドラム1の外部に
設けられたモニター装置190に接続されている。この
モニター装置190により作業者がDC抵抗値をモニタ
ーするための装置である。
A frequency conversion unit (corresponding to a conversion unit) 150 is provided between the terminal 173 of the changeover switch SW1 and the output side of the head amplifier 180. Terminal 173 is amplifier 1
It is connected to the V / F converter 184 via. V
The / F converter 184 converts the magnitude of the output voltage V output from the amplifier 182 into a frequency. V / F
The output side of the converter 184 is connected to the output side of the head amplifier 180, respectively. The winding 3N of the stator core 3A of the fixed drum 1 is connected to the input side of the amplifier 160. The output side of the amplifier 160 is connected to a monitor device 190 provided outside the fixed drum 1. This monitor device 190 is used by an operator to monitor the DC resistance value.

【0038】磁気抵抗素子ヘッドのバイアス電流回路1
00のバイアス電流源170からバイアス電流が可変抵
抗器175に送られると、可変抵抗器175すなわち磁
気抵抗素子ヘッド20は、再生出力信号をヘッドアンプ
180を介してロータリトランス3のロータコア3Bの
巻線3Mに出力する。これによりステータコア3Aの巻
線3Nには再生出力信号が非接触で伝達されることか
ら、アンプ160はこの再生出力信号をモニター装置1
90に送ることができる。この場合には、切換スイッチ
SW1の端子171と端子172が電気的に接続されて
おり、端子173は開放状態である。
Bias current circuit 1 for magnetoresistive element head
When the bias current is sent from the bias current source 170 to the variable resistor 175, the variable resistor 175, that is, the magnetoresistive element head 20 transmits the reproduced output signal to the winding of the rotor core 3 </ b> B of the rotary transformer 3 via the head amplifier 180. Output to 3M. As a result, the reproduced output signal is transmitted to the winding 3N of the stator core 3A in a non-contact manner.
90. In this case, the terminals 171 and 172 of the changeover switch SW1 are electrically connected, and the terminal 173 is open.

【0039】一方、DC抵抗値をモニター装置190で
モニターするためにバイアス電流回路100がDC抵抗
値の検出回路として機能する場合には、切換スイッチS
W1の端子171と端子173が電気的に接続され、端
子172は開放された状態である。この状態では、可変
抵抗器175、すなわち磁気抵抗素子ヘッド20の出力
電圧は、アンプ182により増幅されて出力電圧Vとな
る。この出力電圧Vは、V/F変換器184により電圧
/周波数変換される。変換で得られる出力周波数Fは、
ロータコア3Bの巻線3Mに供給される。出力周波数F
は、ロータリトランス3のロータコア3Bの巻線3Mと
ステータコア3Aの巻線3Nの間で非接触で伝送されて
アンプ160に送られる。アンプ160は送られてきた
出力周波数Fを増幅して、この出力周波数Fはモニター
用のモニター装置190に送られるようになっている。
On the other hand, when the bias current circuit 100 functions as a DC resistance detection circuit in order to monitor the DC resistance with the monitor 190, the changeover switch S
The terminal 171 and the terminal 173 of W1 are electrically connected, and the terminal 172 is open. In this state, the output voltage of the variable resistor 175, that is, the output voltage of the magnetoresistive element head 20, is amplified by the amplifier 182 to become the output voltage V. This output voltage V is subjected to voltage / frequency conversion by a V / F converter 184. The output frequency F obtained by the conversion is
It is supplied to the winding 3M of the rotor core 3B. Output frequency F
Is transmitted in a non-contact manner between the winding 3M of the rotor core 3B of the rotary transformer 3 and the winding 3N of the stator core 3A and sent to the amplifier 160. The amplifier 160 amplifies the transmitted output frequency F, and the output frequency F is sent to a monitor device 190 for monitoring.

【0040】次に、回転磁気ドラム装置の磁気抵抗素子
ヘッドの抵抗値測定方法について説明する。図6の測定
ステップのステップST1において、図5(B)に示す
ように、回転磁気ドラム装置10は、測定の最初から実
機であるたとえばビデオテープレコーダに組み込んで搭
載される。回転磁気ドラム装置10の回転ドラム2には
磁気抵抗素子ヘッド20が搭載されている。研摩用のテ
ープ体である研摩用のテープTは、研摩用のテープのカ
セットCから繰り出されており、研摩用のテープTは2
本のテンションガイド200により案内されることで、
研摩用のテープTは回転ドラム2の周囲面に接してい
る。この研摩用のテープTは、回転ドラム2の磁気抵抗
素子ヘッド20のMR膜を研摩するためのテープであ
り、たとえば酸化クロム系(Cr2 3 )、酸化鉄系
(Fe2 3 )あるいはダイヤモンド砥粒を含んだテー
プ等を採用することができる。
Next, a method for measuring the resistance value of the magnetoresistive element head of the rotating magnetic drum device will be described. In step ST1 of the measurement step of FIG. 6, as shown in FIG. 5B, the rotating magnetic drum device 10 is mounted in a real machine, for example, a video tape recorder from the beginning of the measurement. The rotating drum 2 of the rotating magnetic drum device 10 has a magnetoresistive element head 20 mounted thereon. A polishing tape T, which is a polishing tape body, is drawn out from a polishing tape cassette C, and the polishing tape T is 2 tapes.
By being guided by the book tension guide 200,
The polishing tape T is in contact with the peripheral surface of the rotating drum 2. The polishing tape T is a tape for polishing the MR film of the magnetoresistive element head 20 of the rotating drum 2, and is, for example, a chromium oxide type (Cr 2 O 3 ), an iron oxide type (Fe 2 O 3 ) or A tape or the like containing diamond abrasive grains can be used.

【0041】次に、図6の測定ステップのステップST
2において、図3の周波数変換部150の切換スイッチ
SW1の端子171が端子173と電気的に接続され
る。これにより、磁気抵抗素子ヘッド20に相当する可
変抵抗器175の出力電圧がアンプ182により増幅さ
れて出力電圧Vとなる。この出力電圧Vの大きさはV/
F変換器184により出力周波数Fに変換される。出力
周波数Fは、ロータリトランス3のロータコア3Bの巻
線3Mに供給される。
Next, step ST of the measuring step of FIG.
2, the terminal 171 of the changeover switch SW1 of the frequency conversion unit 150 in FIG. 3 is electrically connected to the terminal 173. As a result, the output voltage of the variable resistor 175 corresponding to the magnetoresistive element head 20 is amplified by the amplifier 182 to become the output voltage V. The magnitude of this output voltage V is V /
The output frequency is converted to an output frequency F by an F converter 184. The output frequency F is supplied to the winding 3M of the rotor core 3B of the rotary transformer 3.

【0042】図4は、磁気抵抗素子ヘッドのDC抵抗値
Rと、図3の出力電圧Vおよび出力周波数F(モニター
用の出力周波数F)の関係例を示している。図4(A)
で示す磁気抵抗素子ヘッドのDC抵抗値Rと、出力電圧
Vは、研摩時間が経過するとほぼ同じように増大してい
く関係を有している。図4(B)の出力電圧Vに対応し
て、図4(C)に示すように出力周波数F(モニター用
の出力周波数F)の周波数が変化する。すなわち出力電
圧Vの値が小さいと、出力周波数Fの周波数は低いが、
出力電圧Vが大きくなっていくと、出力周波数Fの周波
数はそれに対応して高くなっていく。出力電圧Vは研摩
時間が経過すると増大し、出力周波数Fも高くなってゆ
く。
FIG. 4 shows an example of the relationship between the DC resistance value R of the magnetoresistive element head and the output voltage V and output frequency F (output frequency F for monitoring) of FIG. FIG. 4 (A)
The DC resistance value R of the magnetoresistive element head and the output voltage V have a relationship that increases substantially in the same manner as the polishing time elapses. The frequency of the output frequency F (output frequency F for monitoring) changes as shown in FIG. 4C, corresponding to the output voltage V in FIG. 4B. That is, when the value of the output voltage V is small, the frequency of the output frequency F is low,
As the output voltage V increases, the frequency of the output frequency F increases correspondingly. The output voltage V increases as the polishing time elapses, and the output frequency F also increases.

【0043】図5(A)は、モニター用の出力周波数F
の周波数の変化の関係を示している。図5の研摩用のテ
ープTがJ方向に走行することにより、所定のテープテ
ンションで研摩用のテープTが磁気抵抗素子ヘッド20
のMR膜を研摩していく。図8に示すように、磁気抵抗
素子ヘッドのMR膜厚がたとえば4〜8μmよりも小さ
くなると急激にMR抵抗値が増加する。図3のアンプ1
82から得られる出力電圧Vは、磁気抵抗素子ヘッド2
0のヘッド表面のMR膜の研摩が進むにつれて、その電
圧が高くなる。
FIG. 5A shows the output frequency F for monitoring.
2 shows the relationship of the change of the frequency. When the polishing tape T shown in FIG. 5 runs in the J direction, the polishing tape T is moved with a predetermined tape tension to the magnetoresistive element head 20.
Is being polished. As shown in FIG. 8, when the MR film thickness of the magnetoresistive element head becomes smaller than, for example, 4 to 8 μm, the MR resistance value sharply increases. Amplifier 1 of FIG.
The output voltage V obtained from the magnetoresistive element head 2
As the polishing of the MR film on the head surface of No. 0 progresses, the voltage increases.

【0044】磁気抵抗素子ヘッド20のMR膜の研摩が
あまりされていない段階すなわち研摩時間がさほど経過
していない段階では、図4(B)および(C)に示すよ
うに、出力電圧Vが低く出力周波数Fまたはモニター用
の出力周波数Fの周波数は低い。しかし磁気抵抗素子ヘ
ッド20のMR膜が研摩されて薄くなっていくに従い、
図4(B)と(C)に示すように出力電圧Vは高くなり
出力周波数Fは高くなる。
At a stage where the MR film of the magnetoresistive element head 20 is not polished much, that is, at a stage where the polishing time has not passed much, as shown in FIGS. 4B and 4C, the output voltage V is low. The output frequency F or the output frequency F for monitoring is low. However, as the MR film of the magnetoresistive element head 20 is polished and thinned,
As shown in FIGS. 4B and 4C, the output voltage V increases and the output frequency F increases.

【0045】次に図6のデータ伝送ステップST3に移
り、このような図4(C)の出力周波数Fの変化は、図
3のロータリトランス3を介して非接触で回転ドラム2
から固定ドラム1側に伝送する。これにより作業者はモ
ニター用の出力周波数Fをモニター装置190により観
測することができる。
Next, the process proceeds to the data transmission step ST3 of FIG. 6, and the change of the output frequency F of FIG. 4C is transmitted through the rotary transformer 3 of FIG.
To the fixed drum 1 side. Thereby, the operator can observe the output frequency F for monitoring by the monitor device 190.

【0046】図3と図4(C)のモニター用の出力周波
数Fと図5(A)のモニター用の出力周波数Fが、所定
の目標設定値に達すると、図5に示す研摩用のテープT
を用いた磁気抵抗素子ヘッド20のMR膜の研摩を終了
する。その後図3の切換スイッチSW1の端子171は
端子172側に電気的に接続され、端子173は開放状
態になる。この状態にしてから、回転磁気ドラム装置1
0を備える電子機器であるたとえばビデオテープレコー
ダを出荷することになる。
When the output frequency F for monitoring in FIGS. 3 and 4C and the output frequency F for monitoring in FIG. 5A reach a predetermined target set value, the polishing tape shown in FIG. T
The polishing of the MR film of the magnetoresistive element head 20 using the method is ended. Thereafter, the terminal 171 of the changeover switch SW1 in FIG. 3 is electrically connected to the terminal 172 side, and the terminal 173 is opened. After this state, the rotating magnetic drum device 1
For example, a video tape recorder, which is an electronic device provided with a “0”, will be shipped.

【0047】このように、本発明の実施の形態では、磁
気抵抗素子ヘッドのDC抵抗値を測定して、DC抵抗値
Rは非接触の伝送回路であるロータリトランスを通じて
回転ドラム側から固定ドラム側に伝送することにより、
回転ドラム2を回転させながら研摩用のテープTにより
磁気抵抗素子ヘッド20のMR膜を研摩する作業中に、
磁気抵抗素子ヘッドのDC抵抗値を管理しながら磁気抵
抗素子ヘッドのMR膜厚の管理を容易かつ確実に行うこ
とができる。
As described above, in the embodiment of the present invention, the DC resistance value of the magnetoresistive element head is measured, and the DC resistance value R is changed from the rotating drum side to the fixed drum side through a rotary transformer which is a non-contact transmission circuit. By transmitting to
During the operation of polishing the MR film of the magnetoresistive element head 20 with the polishing tape T while rotating the rotary drum 2,
The MR film thickness of the magnetoresistive element head can be easily and reliably managed while managing the DC resistance value of the magnetoresistive element head.

【0048】図7は、本発明の磁気抵抗素子ヘッドの抵
抗値測定方法の別の実施の形態を示している。図7の実
施の形態は、上述した図1〜図5の実施の形態とほぼ同
様であるが、次の点で異なる。図3のモニター装置19
0がモニター用の出力周波数Fをモニターしている状態
で、図5の回転ドラム2の回転速度SPの値と、2本の
テンションガイド210によるテープテンションTTの
値を変化させる。このように回転ドラム2の回転速度S
PとテープテンションTTを変化させることにより、磁
気抵抗素子ヘッドのMR膜の厚みの研摩精度を上げるこ
とが可能である。
FIG. 7 shows another embodiment of the method of measuring the resistance of a magnetoresistive element head according to the present invention. The embodiment of FIG. 7 is substantially the same as the embodiment of FIGS. 1 to 5 described above, but differs in the following points. The monitor device 19 of FIG.
When 0 is monitoring the output frequency F for monitoring, the value of the rotation speed SP of the rotating drum 2 and the value of the tape tension TT by the two tension guides 210 in FIG. Thus, the rotation speed S of the rotating drum 2
By changing P and the tape tension TT, it is possible to increase the polishing accuracy of the thickness of the MR film of the magnetoresistive element head.

【0049】磁気抵抗素子ヘッド20のMR膜の研摩量
と研摩時間は、研摩用のテープTが同じものであるとす
ると、回転ドラム2の回転速度SPとテープテンション
TTに大きく依存する。テープテンションTTは、磁気
抵抗素子ヘッド20に対して研摩用のテープTが押し付
けられる強さである。図7では、縦軸に周波数をとり、
横軸に研摩時間(研摩量)をとっており、図7ではモニ
ター用の出力周波数Fと、テープテンションTTおよび
回転ドラム2の回転速度SPの関係例を示している。
The polishing amount and polishing time of the MR film of the magnetoresistive element head 20 greatly depend on the rotation speed SP of the rotary drum 2 and the tape tension TT, assuming that the polishing tape T is the same. The tape tension TT is a strength with which the polishing tape T is pressed against the magnetoresistive element head 20. In FIG. 7, the frequency is plotted on the vertical axis,
The horizontal axis represents the polishing time (amount of polishing), and FIG. 7 shows an example of the relationship between the output frequency F for monitoring, the tape tension TT, and the rotation speed SP of the rotary drum 2.

【0050】モニター用の出力周波数Fが、ある周波数
Fa(Hz)に研摩時間Aにおいて達すると、回転ドラ
ム2の回転速度SPを遅くして、時間当たりの研摩量を
少なくすることにより、磁気抵抗素子ヘッドのMR膜の
研摩量の正確なコントロールを行う。さらに図7におい
てモニター用の出力周波数Fが、研摩時間Bにおいてあ
る周波数Fb(Hz)に達して目標のMR膜の厚みに近
づくと、図5においてテープテンションガイド210を
弱める方向X1方向に移動することによりテープテンシ
ョンTTを下げる。これにより磁気抵抗素子ヘッド20
のMR膜の時間当たりの研摩量の正確なコントロールを
行うことができる。そして研摩時間Cに達すると、研摩
用のテープTの排出を行い回転ドラム2の回転を停止し
て、磁気抵抗素子ヘッド20のMR膜の研摩を終了す
る。このようにすることで、作業者はモニター用の出力
周波数Fを図3のモニター装置190で観測しながら、
回転ドラムの回転速度SPとテープテンションTTを別
々に下げていくことで、回転磁気ドラム装置10を実際
の機械であるビデオテープレコーダに搭載しているにも
かかわらず、従来とは異なり目標のMR膜をリアルタイ
ムで確実かつ容易に得ることができる。
When the output frequency F for monitoring reaches a certain frequency Fa (Hz) during the polishing time A, the rotational speed SP of the rotary drum 2 is reduced to reduce the amount of polishing per time, thereby reducing the magnetoresistance. The amount of polishing of the MR film of the element head is accurately controlled. Further, in FIG. 7, when the output frequency F for monitoring reaches a certain frequency Fb (Hz) during the polishing time B and approaches the target thickness of the MR film, it moves in the direction X1 in which the tape tension guide 210 is weakened in FIG. This lowers the tape tension TT. Thereby, the magnetoresistive element head 20
The amount of polishing per unit time of the MR film can be accurately controlled. Then, when the polishing time C has been reached, the polishing tape T is discharged, the rotation of the rotary drum 2 is stopped, and the polishing of the MR film of the magnetoresistive element head 20 is completed. In this way, the operator observes the monitor output frequency F with the monitor device 190 in FIG.
By lowering the rotating speed SP of the rotating drum and the tape tension TT separately, the target MR differs from the conventional one even though the rotating magnetic drum device 10 is mounted on a video tape recorder which is an actual machine. The membrane can be obtained reliably and easily in real time.

【0051】次に、図9と図10を参照して、本発明の
別の実施の形態について説明する。図9の実施の形態で
は、回転ドラム2側には変換部350が設けられてい
る。この変換部350は、発光部340とアンプ382
を有している。アンプ382からの出力電圧330は発
光部340に供給される。この発光部340は、出力電
圧330の大きさに応じた光強度を発生するたとえばL
ED(発光ダイオード)あるいはLD(レーザダイオー
ド)等である。
Next, another embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In the embodiment shown in FIG. 9, a converter 350 is provided on the rotary drum 2 side. The conversion unit 350 includes a light emitting unit 340 and an amplifier 382.
have. The output voltage 330 from the amplifier 382 is supplied to the light emitting unit 340. The light emitting unit 340 generates light intensity corresponding to the magnitude of the output voltage 330, for example, L
ED (light emitting diode) or LD (laser diode).

【0052】一方、固定ドラム1には、受光部360と
I/V変換器370およびアンプ380を有している。
受光部360は、たとえばフォトダイオードを用いるこ
とができる。発光部340と受光部360は、図3の実
施の形態におけるロータリトランスによる非接触伝送に
代えて使用される光空間伝送装置400を構成してい
る。発光部340が発生する光Lは、受光部360で受
光すると受光部360は出力電流I1を生じる。その出
力電流はI/V変換器370により電流/電圧変換が行
われ、I/V変換器370から出力される出力電圧V2
は、アンプ380により増幅されて、MR抵抗値に対応
したモニター用の出力電圧V3になり、このモニター用
の出力電圧V3はモニター装置190によりモニターす
ることができる。
On the other hand, the fixed drum 1 has a light receiving section 360, an I / V converter 370, and an amplifier 380.
As the light receiving section 360, for example, a photodiode can be used. The light emitting section 340 and the light receiving section 360 constitute an optical space transmission apparatus 400 used in place of the non-contact transmission by the rotary transformer in the embodiment of FIG. When the light L generated by the light emitting unit 340 is received by the light receiving unit 360, the light receiving unit 360 generates an output current I1. The output current is subjected to current / voltage conversion by the I / V converter 370, and the output voltage V2 output from the I / V converter 370 is output.
Is amplified by the amplifier 380 to become a monitor output voltage V3 corresponding to the MR resistance value. The monitor output voltage V3 can be monitored by the monitor device 190.

【0053】図9の実施の形態では、磁気抵抗素子ヘッ
ド20に相当する可変抵抗器175の再生出力信号は、
ヘッドアンプ180によりロータリトランス3のロータ
コア3Bの巻線3Mに供給できる。この場合には切換ス
イッチSW1の端子171と端子172が電気的に接続
され、端子173は開放されている。ロータコア3Bの
巻線3Mに供給された可変抵抗器175の出力電圧は、
ステータコア3Aの巻線3Nに電磁的誘導により非接触
で送られて、アンプ460により増幅されることによ
り、磁気抵抗素子ヘッドの再生信号を得ることができ
る。可変抵抗器175のDC抵抗値を測定する場合に
は、切換スイッチSW1の端子171が端子173に接
続されて端子172は開放された状態になる。これによ
り可変抵抗器175から出力される電圧はアンプ382
により増幅されて出力電圧330となり、この出力電圧
330は発光部340に送られる。
In the embodiment shown in FIG. 9, the reproduction output signal of the variable resistor 175 corresponding to the magnetoresistive element head 20 is:
The power can be supplied to the winding 3M of the rotor core 3B of the rotary transformer 3 by the head amplifier 180. In this case, the terminals 171 and 172 of the changeover switch SW1 are electrically connected, and the terminal 173 is open. The output voltage of the variable resistor 175 supplied to the winding 3M of the rotor core 3B is:
The signal is sent to the winding 3N of the stator core 3A in a non-contact manner by electromagnetic induction and amplified by the amplifier 460, so that a reproduction signal of the magnetoresistive element head can be obtained. When measuring the DC resistance value of the variable resistor 175, the terminal 171 of the changeover switch SW1 is connected to the terminal 173, and the terminal 172 is opened. As a result, the voltage output from the variable resistor 175 is
The output voltage 330 is amplified by the output voltage 330, and the output voltage 330 is sent to the light emitting unit 340.

【0054】図10は、磁気抵抗素子ヘッドのDC抵抗
値Rと、出力電圧330、発光部340の光強度450
およびモニター用の出力電圧V3の関係例を示してい
る。これらのDC抵抗値R、出力電圧330、光強度4
50およびモニター用の出力電圧V3の関係は、研摩時
間が経過するのに従って増大する関係にある。このこと
から、モニター装置190はモニター用の出力電圧V3
をモニターすることにより、磁気抵抗素子ヘッドのDC
抵抗値R、すなわち磁気抵抗素子ヘッドのMR膜の厚み
のチェックを簡単かつ確実に行うことができる。
FIG. 10 shows the DC resistance value R of the magnetoresistive element head, the output voltage 330, and the light intensity 450 of the light emitting section 340.
7 shows an example of the relationship between the monitor output voltage V3 and the output voltage V3 for monitoring. These DC resistance value R, output voltage 330, light intensity 4
The relationship between 50 and the monitor output voltage V3 is such that it increases as the polishing time elapses. From this, the monitor device 190 outputs the monitor output voltage V3.
By monitoring the DC of the magnetoresistive element head.
The resistance value R, that is, the thickness of the MR film of the magnetoresistive element head can be easily and reliably checked.

【0055】図3においては、磁気抵抗素子ヘッドのD
C抵抗値を周波数に変換して電磁的な誘導により非接触
型で伝送している。しかし図9の実施の形態では磁気抵
抗素子ヘッドのDC抵抗値は周波数ではなく光空間伝送
装置400により光により伝送している。その他に光空
間伝送装置に代えて、他の形式の非接触の伝送形式を採
用することも勿論可能である。
In FIG. 3, D of the magnetoresistive element head is shown.
The C resistance value is converted to a frequency and transmitted in a non-contact type by electromagnetic induction. However, in the embodiment of FIG. 9, the DC resistance value of the magnetoresistive element head is transmitted not by frequency but by light by the optical space transmission device 400. In addition, it is of course possible to employ another type of non-contact transmission format instead of the optical space transmission device.

【0056】本発明では、回転磁気ドラム装置の磁気抵
抗素子ヘッドの膜厚が、実機搭載後のMR抵抗値の正確
な測定により検出可能となり、膜厚測定において信頼性
が向上する。MR膜厚の必要最小限の研摩が可能となる
ことで、ヘッド摩耗による耐久時間の向上が図れる。製
品出荷後ユーザによる抵抗値の測定が行えるので、ユー
ザによるメンテナンスタイミングの推測が可能となる。
According to the present invention, the film thickness of the magnetoresistive element head of the rotary magnetic drum device can be detected by accurate measurement of the MR resistance value after mounting on the actual machine, and the reliability in the film thickness measurement is improved. Since the required minimum thickness of the MR film can be polished, the durability time due to head wear can be improved. Since the resistance value can be measured by the user after the product is shipped, the maintenance timing by the user can be estimated.

【0057】実際の電子機器に回転磁気ドラム装置を実
装した後にヘッド表面の研摩を行う際に、ヘッドの抵抗
値がリアルタイムで計測できることにより、ヘッドの磁
気テープに対するあたりの確保が図れ、最適なMR膜厚
の管理が行える。製品出荷前検査等で、MR抵抗値を測
定することで、MRヘッドのバイアス電流を自動調整す
ることもできる。
When the head surface is polished after the rotary magnetic drum device is mounted on the actual electronic equipment, the resistance value of the head can be measured in real time, so that the head can be secured against the magnetic tape and the optimum MR can be secured. The thickness can be controlled. The bias current of the MR head can be automatically adjusted by measuring the MR resistance value in a pre-shipment inspection or the like.

【0058】[0058]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
磁気抵抗素子ヘッドの膜厚の管理を簡単にかつ確実に行
うことができる。
As described above, according to the present invention,
The thickness of the magnetoresistive element head can be easily and reliably managed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の回転磁気ドラム装置の好ましい実施の
形態を示す斜視図。
FIG. 1 is a perspective view showing a preferred embodiment of a rotary magnetic drum device according to the present invention.

【図2】図1の回転磁気ドラム装置の断面構造例を示す
図。
FIG. 2 is a view showing an example of a sectional structure of the rotary magnetic drum device of FIG. 1;

【図3】回転ドラムと固定ドラムにおける回路例を示す
図。
FIG. 3 is a diagram showing a circuit example of a rotating drum and a fixed drum.

【図4】磁気抵抗素子ヘッドのDC抵抗値、出力電圧お
よび出力周波数、モニター用の出力周波数の関係例を示
す図。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a relationship among a DC resistance value, an output voltage and an output frequency of a magnetoresistive element head, and an output frequency for monitoring.

【図5】モニター用の出力周波数と、研摩用のテープに
より磁気抵抗素子ヘッドの表面を研摩する様子の例を示
す図。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a monitor output frequency and a state in which the surface of a magnetoresistive element head is polished with a polishing tape.

【図6】本発明の回転磁気ドラム装置の磁気抵抗素子ヘ
ッドの抵抗値測定方法の例を示す図。
FIG. 6 is a diagram showing an example of a method for measuring the resistance value of the magnetoresistive element head of the rotating magnetic drum device of the present invention.

【図7】モニター用の出力周波数、テープテンション、
および回転ドラムの回転速度の関係の例を示す図。
FIG. 7 shows an output frequency for monitor, tape tension,
FIG. 4 is a diagram showing an example of the relationship between the rotation speed of a rotating drum.

【図8】DC抵抗値とMR膜厚の関係例を示す図。FIG. 8 is a diagram showing an example of a relationship between a DC resistance value and an MR film thickness.

【図9】本発明の回転磁気ドラム装置の回路例の別の実
施の形態を示す図。
FIG. 9 is a diagram showing another embodiment of the circuit example of the rotating magnetic drum device of the present invention.

【図10】図9の実施の形態におけるMRヘッドのDC
抵抗値、出力電圧、発光部の光強度およびモニター用の
出力電圧の関係例を示す図。
FIG. 10 shows the DC of the MR head in the embodiment of FIG. 9;
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a relationship among a resistance value, an output voltage, light intensity of a light emitting unit, and an output voltage for monitoring.

【図11】従来の磁気抵抗素子ヘッドの研摩工程を示す
図。
FIG. 11 is a view showing a polishing step of a conventional magnetoresistive element head.

【図12】DC抵抗値とMR膜厚の関係例を示す図。FIG. 12 is a diagram showing an example of a relationship between a DC resistance value and an MR film thickness.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・固定ドラム(固定体)、2・・・回転ドラム
(回転体)、3・・・ロータリトランス(非接触型の伝
送装置)、10・・・回転磁気ドラム装置、20・・・
磁気抵抗素子ヘッド(MRヘッド)、100・・・磁気
抵抗素子ヘッドのバイアス電流回路(DC抵抗値の検出
回路を兼ねる抵抗値測定部)、150・・・周波数変換
部(変換部)、175・・・可変抵抗器(磁気抵抗素子
ヘッド20に相当する等価回路)、210・・・テンシ
ョンガイド、SP・・・回転ドラムの回転速度、SW1
・・・切換スイッチ、T・・・研摩用のテープ、TT・
・・テープテンション、TP・・・磁気テープ(テープ
状の情報記録媒体)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Fixed drum (fixed body), 2 ... Rotary drum (rotary body), 3 ... Rotary transformer (non-contact type transmission device), 10 ... Rotary magnetic drum device, 20 ...
Magneto-resistive element head (MR head), 100: bias current circuit of the magneto-resistive element head (resistance measuring unit also serving as DC resistance detecting circuit), 150: frequency converter (converter), 175 ..Variable resistor (equivalent circuit corresponding to magnetoresistive element head 20), 210: tension guide, SP: rotation speed of rotary drum, SW1
... Changeover switch, T ... Polishing tape, TT
..Tape tension, TP ... magnetic tape (tape information recording medium)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 栗原 潔 静岡県浜松市新貝町1128番地 ソニー浜松 株式会社内 Fターム(参考) 5D034 BA02 BB14 DA02 DA07 5D091 AA03 DD03 EE11 EE24 FF01 FF04 HH20  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Kiyoshi Kurihara 1128 Shinkaicho, Hamamatsu-shi, Shizuoka Prefecture Sony Hamamatsu Co., Ltd. F-term (reference) 5D034 BA02 BB14 DA02 DA07 5D091 AA03 DD03 EE11 EE24 FF01 FF04 HH20

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 テープ状の情報記録媒体の情報を再生す
る回転磁気ドラム装置において、 固定体と、 前記固定体に対して回転して前記情報を再生するための
磁気抵抗素子ヘッドを有する回転体と、を備え、 前記回転体は、 前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値を測定する抵抗値測定
部と、 前記抵抗値測定部で得られた前記磁気抵抗素子ヘッドの
抵抗値をデータとして前記回転体の外部に伝送するため
の変換部と、を有することを特徴とする回転磁気ドラム
装置。
1. A rotating magnetic drum device for reproducing information on a tape-shaped information recording medium, comprising: a rotating body having a fixed body, and a magnetoresistive element head for rotating the fixed body to reproduce the information. The rotating body comprises: a resistance value measuring unit that measures a resistance value of the magnetoresistive element head; and the rotating body using the resistance value of the magnetoresistive element head obtained by the resistance value measuring unit as data. And a conversion unit for transmitting the signal to the outside of the rotary magnetic drum device.
【請求項2】 前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値は直流
抵抗値であり、前記回転体と前記固定体との間には、前
記変換部からの前記データを前記回転体側から前記固定
体側に伝送する非接触型の伝送装置を有する請求項1に
記載の回転磁気ドラム装置。
2. The resistance value of the magnetoresistive element head is a DC resistance value, and the data from the conversion unit is transmitted between the rotating body and the fixed body from the rotating body to the fixed body between the rotating body and the fixed body. 2. The rotating magnetic drum device according to claim 1, further comprising a non-contact type transmission device.
【請求項3】 前記非接触型の伝送装置は、磁気的な誘
導により非接触で前記データを送るトランスであり、前
記トランスは前記回転体に設けられたロータコアと前記
固定体に設けられたステータコアを有する請求項2に記
載の回転磁気ドラム装置。
3. The non-contact transmission device is a transformer for transmitting the data in a non-contact manner by magnetic induction, wherein the transformer is a rotor core provided on the rotating body and a stator core provided on the fixed body. The rotating magnetic drum device according to claim 2, comprising:
【請求項4】 前記非接触型の伝送装置は、光信号によ
り非接触で前記データを送る光空間伝送装置であり、前
記光空間伝送装置は前記回転体に設けられて前記データ
を発生する発光部と、前記固定体に設けられて前記発光
部からの前記データを受光する受光部を有する請求項2
に記載の回転磁気ドラム装置。
4. The non-contact type transmission device is a spatial light transmission device for transmitting the data in a non-contact manner by an optical signal, and the spatial light transmission device is provided in the rotating body and emits light for generating the data. And a light receiving unit provided on the fixed body and receiving the data from the light emitting unit.
4. The rotary magnetic drum device according to item 1.
【請求項5】 前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値を前記
データとして伝送するのは、前記回転磁気ドラム装置が
電子機器に搭載された状態で、前記磁気抵抗素子ヘッド
を研摩する際に行なわれる請求項1に記載の回転磁気ド
ラム装置。
5. The method of transmitting the resistance value of the magnetoresistive element head as the data when polishing the magnetoresistive element head in a state where the rotary magnetic drum device is mounted on an electronic device. Item 2. The rotating magnetic drum device according to Item 1.
【請求項6】 回転体が固定体に対して回転すること
で、前記回転体の磁気抵抗素子ヘッドがテープ状の情報
記録媒体に情報を再生するようになっている回転磁気ド
ラム装置において前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値を測
定する測定方法であり、 前記回転磁気ドラム装置が電子機器に搭載された状態
で、前記回転ドラムの前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値
を抵抗値測定部により測定する測定ステップと、 前記抵抗値測定部で得られた前記磁気抵抗素子ヘッドの
抵抗値をデータとして前記回転体の外部に伝送するデー
タ伝送ステップと、を有することを特徴とする回転磁気
ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方法。
6. A rotating magnetic drum device wherein a rotating body rotates with respect to a fixed body so that a magnetoresistive element head of the rotating body reproduces information on a tape-shaped information recording medium. A measurement method for measuring a resistance value of a resistance element head, wherein the resistance value of the magnetoresistive element head of the rotary drum is measured by a resistance value measurement unit in a state where the rotating magnetic drum device is mounted on an electronic device. And a data transmission step of transmitting, as data, the resistance value of the magnetoresistive element head obtained by the resistance value measurement unit to the outside of the rotating body, the magnetoresistance of the rotating magnetic drum device, Element head resistance measurement method.
【請求項7】 前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値は直流
抵抗値であり、前記回転体と前記固定体との間に配置さ
れた非接触型の伝送装置が、前記データを前記回転体側
から前記固定体側に伝送する請求項6に記載の回転磁気
ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方法。
7. A resistance value of the magnetoresistive element head is a DC resistance value, and a non-contact transmission device disposed between the rotating body and the fixed body transmits the data from the rotating body side to the non-contact type transmission device. 7. The method for measuring a resistance value of a magnetoresistive element head of a rotary magnetic drum device according to claim 6, wherein the resistance value is transmitted to a fixed body.
【請求項8】 前記非接触型の伝送装置は、磁気的な誘
導により非接触で前記データを送るトランスであり、前
記トランスは前記回転体に設けられたロータコアと前記
固定体に設けられたステータコアの間で前記磁気的な誘
導により非接触で前記データを送る請求項7に記載の回
転磁気ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方
法。
8. The non-contact transmission device is a transformer for transmitting the data in a non-contact manner by magnetic induction, wherein the transformer is a rotor core provided on the rotating body and a stator core provided on the fixed body. 8. The method for measuring the resistance value of a magnetoresistive element head of a rotary magnetic drum device according to claim 7, wherein the data is sent in a non-contact manner by the magnetic induction between the magnetic heads.
【請求項9】 前記非接触型の伝送装置は、光信号によ
り非接触で前記データを送る光空間伝送装置であり、前
記光空間伝送装置は前記回転体に設けられて前記データ
を発生する発光部と、前記固定体に設けられて前記発光
部からの前記データを受光する受光部の間で光信号によ
り非接触で前記データを送る請求項7に記載の回転磁気
ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方法。
9. The non-contact transmission device is an optical space transmission device for transmitting the data in a non-contact manner by an optical signal, and the light space transmission device is provided on the rotating body and emits light for generating the data. 8. The magnetoresistive element head of the rotary magnetic drum device according to claim 7, wherein the data is transmitted in a non-contact manner by an optical signal between a unit and a light receiving unit provided on the fixed body and receiving the data from the light emitting unit. 9. Resistance measurement method.
【請求項10】 前記磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値を前
記データとして伝送するのは、前記回転磁気ドラム装置
が電子機器に搭載された状態で、前記磁気抵抗素子ヘッ
ドを研摩する際に行なわれる請求項6に記載の回転磁気
ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方法。
10. The method of transmitting the resistance value of the magnetoresistive element head as the data when polishing the magnetoresistive element head with the rotating magnetic drum device mounted on an electronic device. Item 7. A method for measuring a resistance value of a magnetoresistive element head of a rotary magnetic drum device according to Item 6.
【請求項11】 前記磁気抵抗素子ヘッドを研摩するの
は、前記電子機器において走行される研摩用のテープ体
である請求項10に記載の回転磁気ドラム装置の磁気抵
抗素子ヘッドの抵抗値測定方法。
11. The method for measuring a resistance value of a magnetoresistive element head of a rotary magnetic drum device according to claim 10, wherein the polishing of the magnetoresistive element head is performed by a polishing tape that is run in the electronic device. .
【請求項12】 前記磁気抵抗素子ヘッドの前記抵抗値
が目標設定値に近づくにつれて前記回転体の回転数を下
げる請求項11に記載の回転磁気ドラム装置の磁気抵抗
素子ヘッドの抵抗値測定方法。
12. The method according to claim 11, wherein the number of revolutions of the rotating body is reduced as the resistance value of the magnetoresistive element head approaches a target set value.
【請求項13】 前記磁気抵抗素子ヘッドの前記抵抗値
が目標設定値に近づくにつれて前記研摩用のテープ体の
テープテンションを下げる請求項11に記載の回転磁気
ドラム装置の磁気抵抗素子ヘッドの抵抗値測定方法。
13. The resistance value of the magnetoresistive element head of the rotating magnetic drum device according to claim 11, wherein the tape tension of the polishing tape body is reduced as the resistance value of the magnetoresistive element head approaches a target set value. Measuring method.
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