JP2001059175A - Tin oxide film, its production and device for producing tin oxide film - Google Patents
Tin oxide film, its production and device for producing tin oxide filmInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、酸化錫膜とその製
造方法に関し、詳しくは、太陽電池基板用透明導電膜等
として好適に用いられる酸化錫膜とその製造方法に関す
る。また、本発明は、前記製造方法に用いられる酸化錫
膜の製造装置に関する。The present invention relates to a tin oxide film and a method for producing the same, and more particularly, to a tin oxide film suitably used as a transparent conductive film for a solar cell substrate and a method for producing the same. Further, the present invention relates to an apparatus for producing a tin oxide film used in the production method.
【0002】[0002]
【従来の技術】酸化錫膜の形成方法として、四塩化錫と
水との反応を利用して酸化錫膜を常圧CVD法により形
成する方法が知られている。この方法では、酸化性雰囲
気中で、加熱した基体表面に四塩化錫の蒸気を接触させ
て、基体表面での熱分解・酸化反応により基体表面に酸
化錫膜を形成させる。2. Description of the Related Art As a method of forming a tin oxide film, a method of forming a tin oxide film by a normal pressure CVD method utilizing a reaction between tin tetrachloride and water is known. In this method, tin tetrachloride vapor is brought into contact with a heated substrate surface in an oxidizing atmosphere to form a tin oxide film on the substrate surface by a thermal decomposition / oxidation reaction on the substrate surface.
【0003】酸化錫膜の主な用途の一つに、太陽電池基
板用透明導電膜がある。太陽電池基板用透明導電膜とし
て用いられる酸化錫膜は、太陽電池のエネルギー変換効
率(以下、単に「変換効率」ともいう。)を高くするた
め、シート抵抗が小さく、透過率が高く、かつ、ヘイズ
率が高く均一なものが望まれている。ここで、ヘイズ率
とは拡散透過光量を全透過光量で除した値である。ヘイ
ズ率が高いと、光が膜を通過する際の散乱が大きくなる
ため、太陽電池の光電変換層内の光路長が長くなる。し
たがって、ヘイズ率を高くすることができれば、光電変
換層での光吸収率が高くなり、太陽電池の変換効率が優
れたものになる。ヘイズ率を高くする手法としては、酸
化錫透明導電膜の表面を微細な凹凸を有する形状にし
て、散乱を大きくすることが知られている。現在では、
CVD法によれば表面を微細な凹凸を有する形状とする
ことができることから、酸化錫透明導電膜の形成にはC
VD法が用いられている。この場合、酸化錫膜全面にお
けるヘイズ率が不均一であると、酸化錫膜全面での変換
効率が低下する等の弊害が生じる。ヘイズ率が不均一と
なるのは、表面の凹凸が不均一である場合である。すな
わち、表面の凹凸が不均一である状態、具体的には、凸
部が大きい部分(凸部と凹部の高低差が大きい部分)が
存在する状態であると、変換効率が低下する等の弊害が
生じる。したがって、そのような弊害を防止するために
は、表面に凹凸を均一に有するものとする必要がある。One of the main uses of a tin oxide film is as a transparent conductive film for a solar cell substrate. A tin oxide film used as a transparent conductive film for a solar cell substrate has a low sheet resistance, a high transmittance, and a high energy conversion efficiency (hereinafter, also simply referred to as “conversion efficiency”) of the solar cell, and What has a high haze rate and a uniform thing is desired. Here, the haze ratio is a value obtained by dividing the diffuse transmitted light amount by the total transmitted light amount. When the haze ratio is high, scattering when light passes through the film increases, so that the optical path length in the photoelectric conversion layer of the solar cell increases. Therefore, if the haze ratio can be increased, the light absorptivity in the photoelectric conversion layer increases, and the conversion efficiency of the solar cell becomes excellent. As a technique for increasing the haze ratio, it is known to make the surface of the tin oxide transparent conductive film into a shape having fine irregularities to increase scattering. Currently,
According to the CVD method, the surface can be formed into a shape having fine irregularities.
The VD method is used. In this case, if the haze ratio is uneven over the entire surface of the tin oxide film, adverse effects such as a decrease in conversion efficiency over the entire surface of the tin oxide film occur. The haze ratio becomes non-uniform when the unevenness of the surface is non-uniform. In other words, when the surface is uneven, specifically, when there is a portion having a large convex portion (a portion having a large difference in height between the convex portion and the concave portion), adverse effects such as a decrease in conversion efficiency are caused. Occurs. Therefore, in order to prevent such an adverse effect, it is necessary to have unevenness on the surface uniformly.
【0004】酸化錫膜をCVD法により形成する方法と
しては、有機錫化合物の反応を利用する方法と四塩化錫
と水との反応を利用する方法が知られている。有機錫化
合物の反応を利用する方法は、得られる酸化錫膜の透過
率が低いという欠点がある。一方、四塩化錫と水との反
応を利用する方法は、透過率を高くすることはできる
が、表面の凹凸が不均一になる、すなわち、ヘイズ率が
不均一になるという欠点があった。As a method of forming a tin oxide film by a CVD method, a method utilizing a reaction of an organic tin compound and a method utilizing a reaction between tin tetrachloride and water are known. The method utilizing the reaction of the organotin compound has a disadvantage that the transmittance of the obtained tin oxide film is low. On the other hand, the method utilizing the reaction between tin tetrachloride and water can increase the transmittance, but has the disadvantage that the unevenness of the surface becomes uneven, that is, the haze ratio becomes uneven.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、シート抵抗
が小さく、透過率が高く、かつ、ヘイズ率が高い酸化錫
膜であって、表面に微細な凹凸を均一に有する酸化錫膜
を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a tin oxide film having a small sheet resistance, a high transmittance, and a high haze ratio, which has fine irregularities uniformly on its surface. The purpose is to do.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明者は、鋭意研究の
結果、塩化錫と水とを反応させて一方向に移動するガラ
ス基板上に酸化錫膜を常圧CVD法により形成する酸化
錫膜の製造方法であって、四塩化錫および水を含有する
ガスをガラス基板上に吐出して酸化錫膜を形成させる方
法により、シート抵抗が小さく、透過率が高く、ヘイズ
率が高く、表面に微細な凹凸を均一に有する酸化錫膜を
得ることは、ガラス基板上への酸化錫膜の形成初期(す
なわち、酸化錫膜のガラス基板表面に近い部分の形成
時)において、四塩化錫に対する水の割合を大きくする
ことにより達成できることを見出し、本発明を完成し
た。Means for Solving the Problems As a result of intensive studies, the present inventors have found that a tin oxide film is formed on a glass substrate moving in one direction by reacting tin chloride with water by a normal pressure CVD method. A method for producing a film, in which a gas containing tin tetrachloride and water is discharged onto a glass substrate to form a tin oxide film, the sheet resistance is small, the transmittance is high, the haze is high, and the surface is high. Obtaining a tin oxide film having fine irregularities uniformly on the surface of the glass substrate is required in the initial stage of the formation of the tin oxide film on the glass substrate (that is, at the time of forming the portion of the tin oxide film near the glass substrate surface). They have found that this can be achieved by increasing the proportion of water, and have completed the present invention.
【0007】すなわち、本発明は、四塩化錫と水とを反
応させて一方向に移動するガラス基板上に酸化錫膜を常
圧CVD法により形成する酸化錫膜の製造方法であっ
て、四塩化錫および水を含有するガスをガラス基板上に
吐出して酸化錫膜を形成させる際の雰囲気が、ガラス表
面に近い部分の酸化錫膜の形成時の四塩化錫に対する水
の割合がガラス表面から遠い部分の形成時より大きい雰
囲気であることを特徴とする酸化錫膜の製造方法を提供
する。That is, the present invention relates to a method for producing a tin oxide film by forming a tin oxide film on a glass substrate moving in one direction by reacting tin tetrachloride with water by atmospheric pressure CVD. The atmosphere at the time of forming a tin oxide film by discharging a gas containing tin chloride and water onto a glass substrate is such that the ratio of water to tin tetrachloride at the time of forming the tin oxide film near the glass surface is lower than that of the glass surface. A method for producing a tin oxide film, characterized in that the atmosphere is larger than the atmosphere at the time of forming a portion far from the tin oxide film.
【0008】具体的には、四塩化錫と水とを反応させて
一方向に移動するガラス基板上に酸化錫膜を常圧CVD
法により形成する酸化錫膜の製造方法であって、四塩化
錫および水を含有するガスをガラス基板上に吐出して酸
化錫膜を形成させる際の雰囲気が、ガラス基板の移動方
向の上流側の方が下流側より水濃度が高い雰囲気である
ことを特徴とする酸化錫膜の製造方法を提供する。[0008] Specifically, a tin oxide film is formed on a glass substrate moving in one direction by reacting tin tetrachloride and water under normal pressure CVD.
A method for producing a tin oxide film formed by a method, wherein an atmosphere at the time of discharging a gas containing tin tetrachloride and water onto a glass substrate to form a tin oxide film is on the upstream side in the moving direction of the glass substrate. Is an atmosphere having a higher water concentration than the downstream side.
【0009】本発明は、四塩化錫と水とを反応させて一
方向に移動するガラス基板上に酸化錫膜を常圧CVD法
により形成する酸化錫膜の製造方法であって、ガラス基
板の移動方向に並ぶ複数個の吐出口から、水を含有し四
塩化錫を含有しないガス、および/または、四塩化錫お
よび水を含有するガスをガラス基板上に吐出し、その際
にガラス基板の移動方向の上流側の吐出口の方が下流側
の吐出口より水濃度が高いガスを吐出することを特徴と
する酸化錫膜の製造方法を提供する。The present invention relates to a method for producing a tin oxide film by forming a tin oxide film on a glass substrate moving in one direction by reacting tin tetrachloride and water by a normal pressure CVD method. A gas containing water and not containing tin tetrachloride, and / or a gas containing tin tetrachloride and water is discharged onto a glass substrate from a plurality of discharge ports arranged in the moving direction. Disclosed is a method for manufacturing a tin oxide film, wherein a gas having a higher water concentration is discharged from a discharge port on an upstream side in a moving direction than a discharge port on a downstream side.
【0010】また、本発明は、上記方法により得られる
酸化錫膜を提供する。[0010] The present invention also provides a tin oxide film obtained by the above method.
【0011】更に、本発明は、四塩化錫と水とを反応さ
せて一方向に移動するガラス基板上に酸化錫膜を常圧C
VD法により形成する酸化錫膜の製造装置であって、水
を含有し四塩化錫を含有しないガス、および/または、
四塩化錫および水を含有するガスをガラス基板上に吐出
する吐出口をガラス基板の移動方向に複数個備え、ガラ
ス基板の移動方向の上流側の吐出口の方が下流側の吐出
口より水濃度が高いガスを吐出することを特徴とする酸
化錫膜の製造装置を提供する。Further, the present invention provides a tin oxide film formed on a glass substrate moving in one direction by reacting tin tetrachloride with water at normal pressure.
An apparatus for producing a tin oxide film formed by a VD method, wherein the gas contains water and does not contain tin tetrachloride, and / or
A plurality of discharge ports for discharging a gas containing tin tetrachloride and water onto the glass substrate are provided in the moving direction of the glass substrate, and the discharge port on the upstream side in the moving direction of the glass substrate is more water than the discharge port on the downstream side. Provided is an apparatus for manufacturing a tin oxide film, which discharges a gas having a high concentration.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】本発明の酸化錫膜の製造方法は、
四塩化錫と水とを反応させて一方向に移動するガラス基
板上に酸化錫膜を常圧CVD法により形成する酸化錫膜
の製造方法であって、四塩化錫および水を含有するガス
をガラス基板上に吐出して酸化錫膜を形成させる際の雰
囲気が、ガラス基板の移動方向の上流側の方が下流側よ
り水濃度が高い雰囲気であることを特徴とするものであ
る。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A method for producing a tin oxide film according to the present invention comprises:
A method for producing a tin oxide film in which a tin oxide film is formed by a normal pressure CVD method on a glass substrate moving in one direction by reacting tin tetrachloride and water, wherein a gas containing tin tetrachloride and water is formed. An atmosphere in which a tin oxide film is formed by discharging onto a glass substrate is an atmosphere in which the water concentration is higher on the upstream side in the moving direction of the glass substrate than on the downstream side.
【0013】四塩化錫および水を含有するガスをガラス
基板上に吐出して酸化錫膜を形成させる際の雰囲気にお
いて、ガラス基板の移動方向の上流側の方が下流側より
水濃度が高い雰囲気とする方法は、特に限定されない
が、ガラス基板の移動方向に並ぶ複数個の吐出口から、
水を含有し四塩化錫を含有しないガス、および/また
は、四塩化錫および水を含有するガスをガラス基板上に
吐出し、その際にガラス基板の移動方向の上流側の吐出
口の方が下流側の吐出口より水濃度が高いガスを吐出す
る方法が挙げられる。前記方法の具体例としては、ガラ
ス基板の移動方向の最上流の吐出口から吐出するガス
が、四塩化錫および水を含有するガスである方法と、
水を含有し四塩化錫を含有しないガスである方法とが
例示される。これらの方法について、ガラス基板の移動
方向に並ぶ吐出口の数が2個である場合を例に挙げて説
明する。In an atmosphere in which a gas containing tin tetrachloride and water is discharged onto a glass substrate to form a tin oxide film, an atmosphere having a higher water concentration on the upstream side in the moving direction of the glass substrate than on the downstream side. The method is not particularly limited, from a plurality of discharge ports arranged in the moving direction of the glass substrate,
A gas containing water and not containing tin tetrachloride, and / or a gas containing tin tetrachloride and water is discharged onto the glass substrate, and the discharge port on the upstream side in the moving direction of the glass substrate is A method of discharging a gas having a high water concentration from a downstream discharge port is exemplified. As a specific example of the method, a method in which the gas discharged from the most upstream discharge port in the moving direction of the glass substrate is a gas containing tin tetrachloride and water,
A gas containing water and not containing tin tetrachloride. These methods will be described by taking as an example a case where the number of discharge ports arranged in the moving direction of the glass substrate is two.
【0014】の方法においては、一方向に移動してい
るガラス基板の表面に、まず上流側の第一の吐出口から
水濃度が高い四塩化錫および水を含有するガスが吹き付
けられ、次に下流側の第二の吐出口から水濃度が低いガ
スが吹き付けられ、酸化錫膜が生成する。酸化錫膜形成
の初期においては、第一の吐出口から吐出された水濃度
が高いガスの雰囲気で酸化錫膜が形成される。すなわ
ち、ガラス基板の移動方向の上流側で初期に形成され
る、酸化錫膜のガラス表面に近い部分は、四塩化錫に対
する水の割合が大きい状態で形成される。次に、第二の
吐出口から水濃度が低いガスが吹き付けられると、水濃
度が高いガスの雰囲気に水濃度が低いガスが混入してく
るため、酸化錫膜が形成される際の四塩化錫に対する水
の割合が、時間の経過とともに低下してくる。すなわ
ち、ガラス基板の移動方向の下流側で形成される、酸化
錫膜のガラス表面に遠い部分は、ガラス表面に近い部分
に比べて、水の割合が小さい状態で形成される。In the method of (1), a gas containing tin tetrachloride having a high water concentration and water is first blown from the first discharge port on the upstream side to the surface of the glass substrate moving in one direction. A gas having a low water concentration is blown from the second discharge port on the downstream side, and a tin oxide film is generated. In the initial stage of the formation of the tin oxide film, the tin oxide film is formed in an atmosphere of a gas having a high water concentration discharged from the first discharge port. That is, the portion of the tin oxide film which is initially formed on the upstream side in the moving direction of the glass substrate and is close to the glass surface is formed in a state where the ratio of water to tin tetrachloride is large. Next, when a gas having a low water concentration is blown from the second discharge port, the gas having a low water concentration is mixed into the atmosphere of the gas having a high water concentration, so that tetrachloride when the tin oxide film is formed is formed. The ratio of water to tin decreases over time. That is, the portion of the tin oxide film formed on the downstream side in the moving direction of the glass substrate, which is far from the glass surface, is formed in a state where the proportion of water is smaller than that of the portion near the glass surface.
【0015】の方法においては、一方向に移動してい
るガラス基板の表面に、まず第一の吐出口から水を含有
し四塩化錫を含有しないガスが吹き付けられ、次に第二
の吐出口から四塩化錫および水を含有するガスが吹き付
けられ、酸化錫膜が生成する。酸化錫膜形成の初期にお
いては、ガラス表面付近に多量に存在する水に、四塩化
錫および水を含有するガスに由来する四塩化錫が混入し
てくるため、酸化錫膜を形成する雰囲気における四塩化
錫に対する水の割合は大きい。すなわち、ガラス基板の
移動方向の上流側で初期に形成される、酸化錫膜のガラ
ス表面に近い部分は、水が多量に存在する雰囲気で形成
される。その後、四塩化錫の混入が進むため、時間の経
過とともに、酸化錫膜を形成する雰囲気における水の割
合は小さくなってくる。すなわち、ガラス基板の移動方
向の下流側で形成される酸化錫膜のガラス表面に遠い部
分は、ガラス表面に近い部分に比べて、水が少ない雰囲
気で形成される。上記の方法においては、インジェク
ターから連なる吐出口を通じて水を含有し四塩化錫を含
有しないガスを吐出してもよいが、四塩化錫および水を
含有するガスの流れを一定方向に向けるために用いられ
る、いわゆるエアカーテンの空気に水を含有させて吐出
することもできる。In the method, a gas containing water and not containing tin tetrachloride is blown from a first discharge port to the surface of the glass substrate moving in one direction, and then a second discharge port is formed. A gas containing tin tetrachloride and water is blown from the substrate to form a tin oxide film. In the early stage of tin oxide film formation, tin tetrachloride and tin tetrachloride derived from a gas containing water are mixed into water present in a large amount near the glass surface. The ratio of water to tin tetrachloride is large. That is, the portion near the glass surface of the tin oxide film, which is initially formed on the upstream side in the moving direction of the glass substrate, is formed in an atmosphere in which a large amount of water exists. After that, as the mixing of tin tetrachloride proceeds, the proportion of water in the atmosphere in which the tin oxide film is formed decreases over time. That is, the portion of the tin oxide film formed on the downstream side in the moving direction of the glass substrate, which is far from the glass surface, is formed in an atmosphere with less water than the portion near the glass surface. In the above method, a gas containing water and not containing tin tetrachloride may be discharged through a discharge port connected to the injector, but is used to direct the flow of the gas containing tin tetrachloride and water in a certain direction. It is also possible to make the air of a so-called air curtain contain water and discharge it.
【0016】後述するように、本発明においては、酸化
錫膜形成初期における雰囲気とガラス表面との親和性が
重要である。したがって、本発明においては、酸化錫膜
形成の初期段階における雰囲気の水の濃度が高く、初期
段階に続く段階における雰囲気の水の濃度が初期段階よ
り低ければよく、その後の段階における雰囲気の水の濃
度は、特に限定されない。具体的には、ガラス基板の移
動方向に並ぶ複数個の吐出口において、ガラス基板の移
動方向の最上流の吐出口が、その下流側の吐出口のうち
最も上流側にある吐出口(上流側から2番目の吐出口)
より水濃度が高いガスを吐出する方法であって、酸化錫
膜形成の初期段階における雰囲気の水の濃度がその後の
段階における雰囲気の水の濃度より低い方法であればよ
く、吐出口が3個以上ある場合には、更にその下流にあ
る吐出口(上流側から3番目以降の吐出口)の水濃度は
特に限定されない。As will be described later, in the present invention, the affinity between the atmosphere and the glass surface in the early stage of the formation of the tin oxide film is important. Therefore, in the present invention, the concentration of water in the atmosphere in the initial stage of the formation of the tin oxide film may be high, and the concentration of water in the atmosphere in a stage following the initial stage may be lower than that in the initial stage. The concentration is not particularly limited. Specifically, among a plurality of discharge ports arranged in the moving direction of the glass substrate, the discharge port at the most upstream position in the moving direction of the glass substrate is the discharge port located at the most upstream side among the discharge ports on the downstream side (upstream side). Second discharge port)
Any method that discharges a gas having a higher water concentration may be used as long as the concentration of water in the atmosphere in the initial stage of the formation of the tin oxide film is lower than the concentration of water in the atmosphere in the subsequent stage. In the case where there is the above, the water concentration of the discharge port further downstream (the third and subsequent discharge ports from the upstream side) is not particularly limited.
【0017】上述した本発明の酸化錫膜の製造方法によ
り得られる本発明の酸化錫膜は、シート抵抗が小さく、
透過率が高く、かつ、ヘイズ率が高い。これは、四塩化
錫の含有量に対して水の含有量の少ないガスを用いて酸
化錫膜をガラス表面に形成する場合よりも、酸化錫膜形
成初期においては水の量を多くして親和性を高めてお
き、その後水の量を少なくして酸化錫膜を形成していく
方が、ガラス表面上での酸化錫の結晶成長が安定的に行
われやすいからであると考えられる。また、本発明の酸
化錫膜は、全表面にわたり微細な凹凸を均一に有する形
状となり、その凸部の高さ(凸部と凹部の高低差)は、
100〜200nm程度である。このような形状になる
のは、酸化錫の結晶成長が安定的に行われるため、結晶
粒径が均一になるからである。酸化錫膜が前記形状にな
り、ヘイズ率が高く全表面にわたり均一となるので、変
換効率が高くなる。したがって、本発明の酸化錫膜は、
太陽電池基板用透明導電膜として用いる場合には高い変
換効率を実現することができ、極めて好適である。The tin oxide film of the present invention obtained by the above-described method for producing a tin oxide film of the present invention has a small sheet resistance,
High transmittance and high haze. This is because the amount of water is increased in the early stage of the formation of the tin oxide film and the affinity is higher than when the tin oxide film is formed on the glass surface using a gas having a smaller content of water than the content of tin tetrachloride. It is conceivable that the tin oxide film is formed more stably on the glass surface when the tin oxide film is formed by increasing the properties and then reducing the amount of water. Further, the tin oxide film of the present invention has a shape having fine irregularities uniformly over the entire surface, and the height of the convex portion (the difference in height between the convex portion and the concave portion) is:
It is about 100 to 200 nm. The reason for such a shape is that the crystal growth of tin oxide is performed stably and the crystal grain size becomes uniform. Since the tin oxide film has the above-mentioned shape and has a high haze ratio and is uniform over the entire surface, the conversion efficiency is increased. Therefore, the tin oxide film of the present invention,
When used as a transparent conductive film for a solar cell substrate, high conversion efficiency can be realized, which is extremely preferable.
【0018】本発明に用いられる四塩化錫および水(水
蒸気)を含有するガスは、例えば、四塩化錫を含有する
ガスと水を含有するガスとを混合して得られる。四塩化
錫を含有するガスは、例えば、バブラータンク中の液状
の四塩化錫に不活性気体(四塩化錫と反応しない気
体)、好ましくは窒素を吹き込み、四塩化錫を気化して
得ることができる。四塩化錫を含有するガスが窒素等の
不活性気体を含有する場合は、四塩化錫と水との反応が
より起こりにくくなるので、好ましい一態様である。水
を含有するガスは、例えば、水蒸気のみからなるもの、
水蒸気を含有する空気からなるものが挙げられる。The gas containing tin tetrachloride and water (steam) used in the present invention is obtained, for example, by mixing a gas containing tin tetrachloride and a gas containing water. The gas containing tin tetrachloride can be obtained, for example, by vaporizing tin tetrachloride by blowing an inert gas (a gas that does not react with tin tetrachloride), preferably nitrogen, into liquid tin tetrachloride in a bubbler tank. it can. When the gas containing tin tetrachloride contains an inert gas such as nitrogen, the reaction between tin tetrachloride and water is less likely to occur, which is a preferred embodiment. Gases containing water are, for example, those consisting only of water vapor,
Examples include air-containing air.
【0019】四塩化錫を含有するガスと水を含有するガ
スとは、好ましくは100〜240℃の範囲内の温度で
混合され、維持される。混合後のガスを上記温度範囲で
維持すると、四塩化錫と水との反応が抑制され、反応が
全く起こらないか、起こった場合でもわずかにしか起こ
らない。130〜170℃の範囲内の温度であるのがよ
り好ましい。The gas containing tin tetrachloride and the gas containing water are mixed and maintained preferably at a temperature in the range of 100-240 ° C. When the gas after mixing is maintained in the above temperature range, the reaction between tin tetrachloride and water is suppressed, and no or little reaction occurs. More preferably, the temperature is in the range of 130 to 170C.
【0020】四塩化錫を含有するガスと水を含有するガ
スとは、混合すると気体分子の拡散現象により均一なガ
スになるが、ガスミキサー等により撹拌を行ってもよ
い。When the gas containing tin tetrachloride and the gas containing water are mixed, the gas becomes uniform due to the diffusion phenomenon of gas molecules. However, the gas may be stirred by a gas mixer or the like.
【0021】の方法の場合には、四塩化錫および水を
含有するガスにおける四塩化錫と水の割合は、上流側の
第一の吐出口から吐出されるガスにおいては、四塩化錫
1molに対して、水が80〜200molであるのが
好ましく、100〜150molであるのがより好まし
い。下流側の第二の吐出口から吐出されるガスにおいて
は、四塩化錫1molに対して、水が30〜70mol
であるのが好ましく、40〜60molであるのがより
好ましい。上記範囲で、酸化錫膜生成初期において四塩
化錫と水の割合が適当になり、酸化錫の結晶成長が安定
的に行われる。この場合、第一の吐出口からの吐出量
と、第二の吐出口からの吐出量との割合を、(第一の吐
出口からの吐出量):(第二の吐出口からの吐出量)=
1:5〜1:20とするのが好ましく、1:10〜1:
15とするのがより好ましい。上記範囲で、酸化錫膜形
成初期における四塩化錫および水の量が適当となり、ま
た、製造コストを低廉化することができる。In the case of the method (1), the ratio of tin tetrachloride and water in the gas containing tin tetrachloride and water is 1 mol of tin tetrachloride in the gas discharged from the first discharge port on the upstream side. On the other hand, water is preferably 80 to 200 mol, more preferably 100 to 150 mol. In the gas discharged from the second discharge port on the downstream side, water is 30 to 70 mol per 1 mol of tin tetrachloride.
And more preferably 40 to 60 mol. Within the above range, the ratio of tin tetrachloride and water becomes appropriate in the early stage of the formation of the tin oxide film, and the crystal growth of tin oxide is performed stably. In this case, the ratio of the discharge amount from the first discharge port to the discharge amount from the second discharge port is represented by (the discharge amount from the first discharge port): (the discharge amount from the second discharge port) ) =
The ratio is preferably 1: 5 to 1:20, and 1:10 to 1:
More preferably, it is set to 15. Within the above range, the amounts of tin tetrachloride and water in the initial stage of the formation of the tin oxide film are appropriate, and the production cost can be reduced.
【0022】また、の方法の場合には、下流側の第二
の吐出口から吐出される四塩化錫および水を含有するガ
スにおける四塩化錫と水の割合は、四塩化錫1molに
対して、水が30〜70molであるのが好ましく、4
0〜60molであるのがより好ましい。上記範囲で、
酸化錫膜生成初期において四塩化錫と水の割合が適当に
なり、酸化錫の結晶成長が安定的に行われる。この場
合、上流側の第一の吐出口から吐出される水を含有し四
塩化錫を含有しないガスの吐出量は、第二の吐出口から
吐出される四塩化錫1molに対して、第一の吐出口か
ら吐出される水が50〜150molとなるようにする
のが好ましく、60〜100molとなるようにするの
がより好ましい。上記範囲で、酸化錫膜形成初期におけ
る四塩化錫および水の量が適当となり、また、製造コス
トを低廉化することができる。In the case of the above method, the ratio of tin tetrachloride and water in the gas containing tin tetrachloride and water discharged from the second discharge port on the downstream side is based on 1 mol of tin tetrachloride. , Water is preferably 30-70 mol, and 4
More preferably, it is 0 to 60 mol. Within the above range,
In the initial stage of the formation of the tin oxide film, the ratio of tin tetrachloride and water becomes appropriate, and the crystal growth of tin oxide is performed stably. In this case, the discharge amount of the gas containing water and not containing tin tetrachloride discharged from the first discharge port on the upstream side is the first amount with respect to 1 mol of tin tetrachloride discharged from the second discharge port. The amount of water discharged from the discharge port is preferably 50 to 150 mol, and more preferably 60 to 100 mol. Within the above range, the amounts of tin tetrachloride and water in the initial stage of the formation of the tin oxide film are appropriate, and the production cost can be reduced.
【0023】また、第一の吐出口と第二の吐出口との間
に排気管を設けることもできる。このようにすると、酸
化錫膜の形成時の四塩化錫に対する水の割合を容易に調
節することができるようになる。Further, an exhaust pipe may be provided between the first discharge port and the second discharge port. This makes it possible to easily adjust the ratio of water to tin tetrachloride at the time of forming the tin oxide film.
【0024】各吐出口から吐出されるガスの流れる方向
は、ガラス基板の移動方向と同方向であってもよく、逆
方向であってもよい。The direction in which the gas discharged from each discharge port flows may be the same as the direction in which the glass substrate moves, or may be the opposite direction.
【0025】四塩化錫および水を含有するガスは、本発
明の目的を損なわない範囲で、他の物質を含有すること
ができる。例えば、塩化水素;フッ化水素、トリフルオ
ロ酢酸等のフッ素化合物;メタノール、エタノール等の
低級アルコール;窒素等の不活性気体を含有することが
できる。四塩化錫および水を含有するガスが塩化水素を
含有する場合は、四塩化錫と水との反応がより起こりに
くくなるので、好ましい一態様である。四塩化錫を含有
するガスと水を含有するガスの少なくとも一方が塩化水
素を含有する場合には、両者の混合は、好ましくは45
0℃以下の温度で行われる。塩化水素の含有量は、四塩
化錫1molに対して1mol以上であるのが好まし
く、3〜5molであるのがより好ましい。また、四塩
化錫および水を含有するガスがフッ素化合物を含有する
場合は、電導性が高くなるので、好ましい一態様であ
る。この場合、さらに低級アルコールを含有すると、フ
ッ素ドーピングが促進される。The gas containing tin tetrachloride and water can contain other substances as long as the object of the present invention is not impaired. For example, it may contain hydrogen chloride; a fluorine compound such as hydrogen fluoride and trifluoroacetic acid; a lower alcohol such as methanol and ethanol; and an inert gas such as nitrogen. When the gas containing tin tetrachloride and water contains hydrogen chloride, the reaction between tin tetrachloride and water is less likely to occur, which is a preferred embodiment. When at least one of the gas containing tin tetrachloride and the gas containing water contains hydrogen chloride, the mixture of the two is preferably 45%.
It is performed at a temperature of 0 ° C. or less. The content of hydrogen chloride is preferably at least 1 mol per mol of tin tetrachloride, more preferably 3 to 5 mol. Further, when the gas containing tin tetrachloride and water contains a fluorine compound, the conductivity is high, which is a preferable embodiment. In this case, when a lower alcohol is further contained, fluorine doping is promoted.
【0026】本発明に用いられるガラスは、特に限定さ
れない。例えば、酸化物ガラスが挙げられる。酸化物ガ
ラスは、例えば、ケイ酸塩ガラス、リン酸塩ガラス、ホ
ウ酸塩ガラスが挙げられる。ケイ酸塩ガラスは、例え
ば、ソーダ石灰ガラス、ケイ酸ガラス、ケイ酸アルカリ
ガラス、カリ石灰ガラス、鉛(アルカリ)ガラス、ホウ
ケイ酸ガラス、アルミノケイ酸塩ガラスが挙げられる。The glass used in the present invention is not particularly limited. For example, oxide glass can be used. Examples of the oxide glass include silicate glass, phosphate glass, and borate glass. Examples of the silicate glass include soda lime glass, silicate glass, alkali silicate glass, potassium lime glass, lead (alkali) glass, borosilicate glass, and aluminosilicate glass.
【0027】また、ガラス基板にスパッタリング、真空
蒸着等によって1層以上の薄膜を形成した後、該薄膜の
上に本発明により酸化錫膜を形成し、多層膜とすること
ができる。そのような薄膜としては、例えば、金属、合
金、これらの酸化物、窒化物、炭化物等の薄膜が挙げら
れる。具体的には、ソーダ石灰ガラスを基板として用い
る場合において、該基板からのアルカリ成分の拡散防止
のためのアンダーコート(以下「アルカリバリア層」と
いう。)として、シリカ(SiO2 )膜等を形成したも
のを用いる例が挙げられる。Further, after forming at least one thin film on a glass substrate by sputtering, vacuum deposition or the like, a tin oxide film can be formed on the thin film according to the present invention to form a multilayer film. Examples of such a thin film include thin films of metals, alloys, oxides, nitrides, and carbides thereof. Specifically, when soda-lime glass is used as a substrate, a silica (SiO 2 ) film or the like is formed as an undercoat (hereinafter, referred to as an “alkali barrier layer”) for preventing diffusion of an alkali component from the substrate. There is an example of using the above.
【0028】ガラス基板の形状および大きさは、特に限
定されず、例えば、厚みが0.2〜5mmの板状とする
ことができる。板状のガラス基板は、幅10〜500c
mとすることができ、適当な長さに切断されていてもよ
く、また、切断されていない状態(リボン状)であって
もよい。アルカリバリア層の幾何学的膜厚(以下、単に
「膜厚」という。)は、例えば、2〜100nmとする
ことができる。ガラス基板の温度は、450〜620℃
であるのが好ましい。上記範囲で、四塩化錫と水との反
応が十分に起こり、成膜速度が大きいからである。ガラ
ス基板の温度は、500〜600℃であるのがより好ま
しい。The shape and size of the glass substrate are not particularly limited, and may be, for example, a plate having a thickness of 0.2 to 5 mm. The plate-like glass substrate has a width of 10 to 500 c.
m, and may be cut to an appropriate length, or may be in an uncut state (ribbon shape). The geometric thickness (hereinafter, simply referred to as “film thickness”) of the alkali barrier layer can be, for example, 2 to 100 nm. The temperature of the glass substrate is 450-620 ° C
It is preferred that This is because the reaction between tin tetrachloride and water sufficiently occurs within the above range, and the film formation rate is high. The temperature of the glass substrate is more preferably 500 to 600C.
【0029】CVD法は、常圧(大気圧)で行うことが
好ましい。The CVD method is preferably performed at normal pressure (atmospheric pressure).
【0030】本発明の酸化錫膜の膜厚(最大膜厚)は、
特に限定されず、用途に合わせて調節できるが、太陽電
池基板用透明導電膜(太陽電池用電極)として用いる場
合には、400〜1000nmであるのが好ましく、6
00〜800nmであるのがより好ましい。本発明の酸
化錫膜の膜厚(最大膜厚)の変動幅は、−15〜+15
%、特に−10〜+10%であるのが好ましい。The thickness (maximum thickness) of the tin oxide film of the present invention is:
It is not particularly limited and can be adjusted according to the application. However, when it is used as a transparent conductive film for a solar cell substrate (electrode for a solar cell), the thickness is preferably 400 to 1000 nm, and 6 nm.
It is more preferably from 00 to 800 nm. The variation width of the thickness (maximum thickness) of the tin oxide film of the present invention is −15 to +15.
%, Especially -10 to + 10%.
【0031】本発明の酸化錫膜のシート抵抗は、特に限
定されず、用途に合わせて調節できるが、太陽電池基板
用透明導電膜として用いる場合には、5〜15Ω/□で
あるのが好ましく、5〜10Ω/□であるのがより好ま
しい。The sheet resistance of the tin oxide film of the present invention is not particularly limited and can be adjusted according to the application. However, when used as a transparent conductive film for a solar cell substrate, it is preferably 5 to 15 Ω / □. More preferably, it is 5 to 10 Ω / □.
【0032】本発明の酸化錫膜の可視光線透過率(以
下、単に「透過率」という。)は、特に限定されず、用
途に合わせて調節できるが、太陽電池基板用透明導電膜
として用いる場合には、80〜95%であるのが好まし
く、85〜95%であるのがより好ましい。The visible light transmittance (hereinafter simply referred to as “transmittance”) of the tin oxide film of the present invention is not particularly limited and can be adjusted according to the application. Is preferably 80 to 95%, more preferably 85 to 95%.
【0033】本発明の酸化錫膜のヘイズ率は、特に限定
されず、用途に合わせて調節できるが、太陽電池基板用
透明導電膜として用いる場合には、平均3〜30%であ
るのが好ましく、平均10〜15%であるのがより好ま
しい。また、ヘイズ率の変動幅は、ヘイズ率の平均値に
対して、−20〜+20%であるのが好ましく、−10
〜+10%であるのがより好ましい。The haze ratio of the tin oxide film of the present invention is not particularly limited and can be adjusted according to the application. However, when the tin oxide film is used as a transparent conductive film for a solar cell substrate, it is preferably 3 to 30% on average. More preferably, the average is 10 to 15%. Further, the fluctuation range of the haze ratio is preferably -20 to + 20% with respect to the average value of the haze ratio, and -10
More preferably, it is + 10%.
【0034】本発明の酸化錫膜は、その用途を特に限定
されるものではないが、シート抵抗が小さく、透過率が
高く、ヘイズ率が高く、表面に微細な凹凸を均一に有す
るので、太陽電池基板用透明導電膜として極めて好適に
用いることができる。また、例えば、液晶ディスプレ
イ、ELディスプレイ、プラズマディスプレイ、タッチ
パネル等の透明電極;自動車用および建築用の熱線反射
膜;フォトマスクその他各種用途の帯電防止膜;CRT
表面の電磁遮蔽膜;冷凍ショーケース用等の各種の防曇
用の透明発熱体;調光ガラスとしてのエレクトロクロミ
ック素子用基板としても用いることができる。Although the use of the tin oxide film of the present invention is not particularly limited, the tin oxide film has a low sheet resistance, a high transmittance, a high haze ratio, and has fine irregularities on its surface. It can be used very suitably as a transparent conductive film for a battery substrate. Also, for example, transparent electrodes for liquid crystal displays, EL displays, plasma displays, touch panels, etc .; heat ray reflective films for automobiles and buildings; antistatic films for photomasks and other various applications; CRTs
Electromagnetic shielding film on the surface; various types of transparent heating elements for anti-fogging such as for a freezing showcase; and a substrate for an electrochromic element as a light control glass.
【0035】本発明の酸化錫膜を太陽電池基板用透明導
電膜として用いる具体例を以下に示す。なお、本発明の
酸化錫膜を用いる太陽電池基板は、以下のものに限定さ
れない。本発明によりガラス基板上に酸化錫膜を形成す
る。次に、プラズマCVD法により、基板全面にアモル
ファスシリコン薄膜等のシリコン薄膜を形成する。アモ
ルファスシリコン薄膜は、酸化錫膜に近い方から、p層
のa−SiC膜(アモルファスシリコン・カーバイド
膜)(膜厚約10nm)、b層のa−SiC膜(膜厚約
10nm)、i層のa−Si膜(アモルファスシリコン
膜)(膜厚約350nm)、n層のa−Si膜(膜厚約
20nm)よりなる。さらに、スパッタリング法によ
り、基板全面に裏面電極として、酸化亜鉛透明導電膜
(膜厚約50nm)および銀膜(膜厚約200nm)を
形成する。Specific examples in which the tin oxide film of the present invention is used as a transparent conductive film for a solar cell substrate are shown below. The solar cell substrate using the tin oxide film of the present invention is not limited to the following. According to the present invention, a tin oxide film is formed on a glass substrate. Next, a silicon thin film such as an amorphous silicon thin film is formed on the entire surface of the substrate by a plasma CVD method. The amorphous silicon thin film is composed of a p-layer a-SiC film (amorphous silicon carbide film) (thickness of about 10 nm), a b-layer a-SiC film (thickness of about 10 nm), and an i-layer A-Si film (amorphous silicon film) (thickness: about 350 nm) and an n-layer a-Si film (thickness: about 20 nm). Further, a zinc oxide transparent conductive film (about 50 nm in thickness) and a silver film (about 200 nm in thickness) are formed on the entire surface of the substrate as back electrodes by sputtering.
【0036】現在、太陽電池の光電変換層であるアモル
ファスシリコン薄膜等のシリコン薄膜を透明導電性基板
上に形成する方法としては、主にプラズマCVD法が用
いられている。本発明の酸化錫膜を太陽電池基板用透明
導電膜として用いる場合には、耐プラズマ性を付与する
ために、酸化亜鉛等の結晶性薄膜からなる透明導電膜を
本発明の酸化錫膜の上にオーバーコートして用いるのも
好ましい一態様である。したがって、上記例において、
アモルファスシリコン薄膜等のシリコン薄膜を形成する
前に、酸化錫膜の上に20〜200nmの酸化亜鉛膜等
を形成するのも好ましい一例である。At present, as a method for forming a silicon thin film such as an amorphous silicon thin film as a photoelectric conversion layer of a solar cell on a transparent conductive substrate, a plasma CVD method is mainly used. When the tin oxide film of the present invention is used as a transparent conductive film for a solar cell substrate, a transparent conductive film made of a crystalline thin film such as zinc oxide is formed on the tin oxide film of the present invention in order to impart plasma resistance. It is also a preferred embodiment to use it after overcoating. Therefore, in the above example,
Before forming a silicon thin film such as an amorphous silicon thin film, it is also a preferable example to form a zinc oxide film having a thickness of 20 to 200 nm on the tin oxide film.
【0037】本発明の酸化錫膜を用いて30cm×30
cmの太陽電池基板を上記構成で作成した場合、太陽電
池の変換効率は、8〜11%、より好適には10〜11
%とすることができる。Using the tin oxide film of the present invention, 30 cm × 30
cm of the solar cell substrate having the above configuration, the conversion efficiency of the solar cell is 8 to 11%, more preferably 10 to 11%.
%.
【0038】本発明の酸化錫膜の製造装置は、四塩化錫
と水とを反応させて一方向に移動するガラス基板上に酸
化錫膜を常圧CVD法により形成する酸化錫膜の製造装
置であって、水を含有し四塩化錫を含有しないガス、お
よび/または、四塩化錫および水を含有するガスをガラ
ス基板上に吐出する吐出口をガラス基板の移動方向に複
数個備え、ガラス基板の移動方向の上流側の吐出口の方
が下流側の吐出口より水濃度が高いガスを吐出すること
を特徴とするものである。以下、図1〜4を参照しつ
つ、具体的に説明する。なお、本発明の製造装置はこれ
らに限定されない。The tin oxide film manufacturing apparatus of the present invention is an apparatus for forming a tin oxide film on a glass substrate moving in one direction by reacting tin tetrachloride and water by a normal pressure CVD method. A plurality of discharge ports for discharging a gas containing water and not containing tin tetrachloride and / or a gas containing tin tetrachloride and water onto a glass substrate in a moving direction of the glass substrate; The discharge port on the upstream side in the moving direction of the substrate discharges a gas having a higher water concentration than the discharge port on the downstream side. Hereinafter, a specific description will be given with reference to FIGS. Note that the manufacturing apparatus of the present invention is not limited to these.
【0039】図1は、本発明の酸化錫膜の製造装置の一
例を示す概念図である。初めに、本発明の酸化錫膜の製
造装置の構成について説明する。本発明の酸化錫膜の製
造装置は、ガラス基板の移動方向の上流側の第一のイン
ジェクター1および下流側の第二のインジェクター2を
備える。図1においては、2つのインジェクターを備え
る酸化錫膜の製造装置を示したが、水濃度の異なるガス
を吐出する2つの吐出口に連なる1つのインジェクター
を備える製造装置であってもよいし、1つの吐出口に連
なるインジェクターを備え、かつ、いわゆるエアカーテ
ンを備え、そのエアカーテンから水を含有するガスを吐
出する製造装置であってもよい。第一のインジェクター
1は、気化した四塩化錫を含有するガスと水を含有する
ガスとが供給され、両者を混合するインジェクター本体
3と、混合したガスを吐出するインジェクター吐出部4
とを備える。インジェクター本体3は、内部に熱媒体
(油等)を通しインジェクター本体3を一定温度に保つ
ためのジャケット5を備えており、インジェクター吐出
部4は、内部に熱媒体(油等)を通しインジェクター吐
出部4を一定温度に保つためのジャケット6を備えてい
る。FIG. 1 is a conceptual diagram showing an example of the apparatus for producing a tin oxide film of the present invention. First, the configuration of the tin oxide film manufacturing apparatus of the present invention will be described. The apparatus for producing a tin oxide film of the present invention includes a first injector 1 on the upstream side in the moving direction of the glass substrate and a second injector 2 on the downstream side. FIG. 1 shows a tin oxide film manufacturing apparatus provided with two injectors. However, a manufacturing apparatus provided with one injector connected to two discharge ports for discharging gases having different water concentrations may be used. The manufacturing apparatus may be provided with an injector connected to one of the discharge ports and provided with a so-called air curtain, and discharge a gas containing water from the air curtain. The first injector 1 is supplied with a gas containing vaporized tin tetrachloride and a gas containing water, and the injector body 3 mixes the two, and the injector discharge section 4 discharges the mixed gas.
And The injector body 3 is provided with a jacket 5 for passing a heat medium (oil or the like) therein and keeping the injector body 3 at a constant temperature, and the injector discharge section 4 passes a heat medium (oil or the like) inside to discharge the injector. A jacket 6 is provided for keeping the part 4 at a constant temperature.
【0040】インジェクター本体3は、バブラータンク
から四塩化錫を含有するガスが供給される導管7を備え
る。バブラータンクにおいては、液状の四塩化錫にボン
ベから窒素等の不活性気体が吹き込まれ、四塩化錫が気
化し、四塩化錫を含有するガスが発生する。バブラータ
ンクは、20〜100℃に保持される。四塩化錫を含有
するガスは、水を含有するガスと混合する前に130〜
170℃に加熱され、インジェクター本体3に供給され
る。The injector body 3 has a conduit 7 to which a gas containing tin tetrachloride is supplied from a bubbler tank. In the bubbler tank, an inert gas such as nitrogen is blown into the liquid tin tetrachloride from a cylinder, and the tin tetrachloride is vaporized to generate a gas containing tin tetrachloride. The bubbler tank is kept at 20 to 100C. The gas containing tin tetrachloride should be 130-130 before mixing with the gas containing water.
It is heated to 170 ° C. and supplied to the injector body 3.
【0041】また、インジェクター本体3は、ボイラー
から気化した水(水蒸気)が供給される導管8を備え
る。水を供給するボイラーは、100℃以上に保持され
る。水を含有するガスは、四塩化錫を含有するガスと混
合する前に130〜170℃に加熱され、インジェクタ
ー本体3に供給される。The injector body 3 includes a conduit 8 to which vaporized water (steam) is supplied from a boiler. The boiler supplying water is kept at 100 ° C. or higher. The gas containing water is heated to 130 to 170 ° C. before being mixed with the gas containing tin tetrachloride and supplied to the injector body 3.
【0042】インジェクター本体3においては、バブラ
ータンクから導管7を介して供給される四塩化錫を含有
するガスと、ボイラーから導管8を介して供給される水
を含有するガスが混合される。インジェクター本体3の
内部温度は、ジャケット5に熱媒体(油等)を通すこと
により130〜170℃に保持される。このとき、図示
しないバルブ等の流量調節器で、導管7および8からそ
れぞれ供給される四塩化錫を含有するガスと水を含有す
るガスとの混合比が所望の値に設定できる。インジェク
ター吐出部4は、均一に混合されたガスを吐出する。イ
ンジェクター吐出部4の内部温度は、ジャケット6に熱
媒体(油等)を通すことにより130〜170℃に保持
される。In the injector body 3, a gas containing tin tetrachloride supplied from a bubbler tank via a conduit 7 and a gas containing water supplied from a boiler via a conduit 8 are mixed. The internal temperature of the injector body 3 is maintained at 130 to 170 ° C. by passing a heat medium (oil or the like) through the jacket 5. At this time, the mixing ratio of the gas containing tin tetrachloride and the gas containing water supplied from the conduits 7 and 8 can be set to desired values by a flow controller such as a valve (not shown). The injector discharge section 4 discharges a uniformly mixed gas. The internal temperature of the injector discharge section 4 is maintained at 130 to 170 ° C. by passing a heat medium (oil or the like) through the jacket 6.
【0043】第二のインジェクターは、第一のインジェ
クターと同様の構造とすることができる。導管13およ
び14からそれぞれ供給される四塩化錫を含有するガス
と水を含有するガスとの混合比も所望の値に設定でき、
インジェクター本体3中のガスの水濃度はインジェクタ
ー本体9中のガスの水濃度より高い。The second injector can have the same structure as the first injector. The mixing ratio between the gas containing tin tetrachloride and the gas containing water supplied from the conduits 13 and 14, respectively, can also be set to a desired value,
The water concentration of the gas in the injector body 3 is higher than the water concentration of the gas in the injector body 9.
【0044】四塩化錫および水を含有するガスは、イン
ジェクター吐出部4および10から、それぞれガス流路
15および16を通って、ガラス基板17に吐出され
る。ガス流路15および16は、カーボンブロック1
8、19、20により形成されている。ガラス基板上に
吐出された四塩化錫および水を含有するガスは、ガラス
基板の移動方向と同方向に流れ、酸化錫膜の形成に用い
られない過剰の水は、排気管21から排出され、酸化錫
膜を形成する雰囲気における四塩化錫と水の割合が調整
される。インジェクターからガラス基板上に吐出される
四塩化錫および水を含有するガスにおける水濃度は、上
流側の第一のインジェクター1の方が下流側の第二のイ
ンジェクター2より高い。したがって、四塩化錫と水の
割合を、例えば、上流側の第一のインジェクター1で
は、mol比で、四塩化錫:水=1:100〜1:20
0とし、下流側の第二のインジェクター2では、mol
比で、四塩化錫:水=1:30〜1:60とすることが
できる。図1の酸化錫膜の製造装置においては、第一の
インジェクターから水を含有し四塩化錫を含有しないガ
スを吐出することもできる。この場合には、四塩化錫と
水の割合を、例えば、下流側の第二のインジェクター2
では、mol比で、四塩化錫:水=1:30〜1:60
とすることができる。The gas containing tin tetrachloride and water is discharged from the injector discharge sections 4 and 10 to the glass substrate 17 through gas flow paths 15 and 16, respectively. The gas passages 15 and 16 are
8, 19, and 20. The gas containing tin tetrachloride and water discharged on the glass substrate flows in the same direction as the moving direction of the glass substrate, and excess water not used for forming the tin oxide film is discharged from the exhaust pipe 21. The ratio of tin tetrachloride and water in the atmosphere for forming the tin oxide film is adjusted. The water concentration of the gas containing tin tetrachloride and water discharged from the injector onto the glass substrate is higher in the first injector 1 on the upstream side than in the second injector 2 on the downstream side. Therefore, for example, in the first injector 1 on the upstream side, tin tetrachloride: water = 1: 100 to 1:20 in molar ratio in the first injector 1 on the upstream side.
0, and in the second injector 2 on the downstream side,
In a ratio, tin tetrachloride: water = 1: 30 to 1:60. In the apparatus for manufacturing a tin oxide film of FIG. 1, a gas containing water and not containing tin tetrachloride can be discharged from the first injector. In this case, the ratio of tin tetrachloride and water is determined, for example, by using the second injector 2 on the downstream side.
Then, in terms of mol ratio, tin tetrachloride: water = 1: 30 to 1:60
It can be.
【0045】ガス流路15の下端にある吐出口と、ガラ
ス基板表面との距離は、1〜3cmとするのが好まし
い。吐出角度は、ガラス基板表面に対して45〜90度
(ガラス基板の移動方向を0度とする。)とするのが好
ましい。ガス流路16の下端にある吐出口と、ガラス基
板表面との距離は、1〜3cmとするのが好ましい。吐
出角度は、ガラス基板表面に対して45〜90度(ガラ
ス基板の移動方向を0度とする。)とするのが好まし
い。The distance between the discharge port at the lower end of the gas flow path 15 and the surface of the glass substrate is preferably 1 to 3 cm. The discharge angle is preferably 45 to 90 degrees with respect to the glass substrate surface (the moving direction of the glass substrate is 0 degree). It is preferable that the distance between the discharge port at the lower end of the gas flow path 16 and the surface of the glass substrate is 1 to 3 cm. The discharge angle is preferably 45 to 90 degrees with respect to the glass substrate surface (the moving direction of the glass substrate is 0 degree).
【0046】ガス流路15の下端にある吐出口と、ガス
流路16の下端にある吐出口との距離は、ガラス基板の
移動速度との関係により変化するので限定されるもので
はないが、10〜100cmとするのが好ましく、20
〜80cmとするのがより好ましい。The distance between the discharge port at the lower end of the gas flow path 15 and the discharge port at the lower end of the gas flow path 16 is not limited because it changes depending on the relationship with the moving speed of the glass substrate. It is preferably 10 to 100 cm, and 20
More preferably, it is set to 80 cm.
【0047】四塩化錫および水を含有するガスの吐出量
は、第一のインジェクター1では、ガラス基板の幅1m
当たり、0.025〜1.4m3 /minとするのが好
ましく、第二のインジェクター2では、ガラス基板の幅
1m当たり、0.5〜7m3/minとするのが好まし
い。四塩化錫および水を含有するガスの吐出速度は、第
一のインジェクター1では、0.1〜10m/sとする
のが好ましく、第二のインジェクター2では、0.5〜
20m/sとするのが好ましい。第一のインジェクター
から水を含有し四塩化錫を含有しないガスを吐出する場
合には、四塩化錫および水を含有するガスの吐出量は、
第二のインジェクター2では、ガラス基板の幅1m当た
り、0.5〜7m3 /minとするのが好ましい。ま
た、この場合には、ガスの吐出速度は、第一のインジェ
クター1では、0.1〜10m/sとするのが好まし
く、第二のインジェクター2では、0.5〜20m/s
とするのが好ましい。In the first injector 1, the discharge amount of the gas containing tin tetrachloride and water is 1 m in width of the glass substrate.
It is preferably 0.025 to 1.4 m 3 / min, and in the second injector 2, it is preferably 0.5 to 7 m 3 / min per 1 m width of the glass substrate. The discharge rate of the gas containing tin tetrachloride and water is preferably 0.1 to 10 m / s in the first injector 1 and 0.5 to 10 m / s in the second injector 2.
It is preferably 20 m / s. When discharging a gas containing water and not containing tin tetrachloride from the first injector, the discharge amount of the gas containing tin tetrachloride and water is:
In the second injector 2, it is preferably 0.5 to 7 m 3 / min per 1 m of the width of the glass substrate. Further, in this case, the discharge speed of the gas is preferably 0.1 to 10 m / s in the first injector 1 and 0.5 to 20 m / s in the second injector 2.
It is preferred that
【0048】ガラス基板の移動速度は、四塩化錫および
水を含有するガスの吐出量にもよるが、例えば、第一の
インジェクター1からのガラス基板の幅1m当たりの吐
出量を0.1m3 /min、第二のインジェクター2か
らのガラス基板の幅1m当たりの吐出量を1.0m3 /
minとする場合には、1.0〜2.0m/minとす
るのが好ましい。The moving speed of the glass substrate depends on the discharge amount of the gas containing tin tetrachloride and water. For example, the discharge amount per 1 m width of the glass substrate from the first injector 1 is 0.1 m 3. / Min, the discharge amount per 1 m width of the glass substrate from the second injector 2 is set to 1.0 m 3 /
When it is set to min, it is preferably set to 1.0 to 2.0 m / min.
【0049】四塩化錫および水を含有するガスは、層流
であってもよく、乱流であってもよい。The gas containing tin tetrachloride and water may be laminar or turbulent.
【0050】図2は、本発明の酸化錫膜の製造装置の一
例を示す概念図である。図2の酸化錫膜の製造装置は、
ガラス基板の移動方向の上流側の第一のインジェクター
26および下流側の第二のインジェクター27を備える
点で、図1の装置と同様であるが、排気管28の位置が
2つのインジェクターの間にある点で異なる。第一のイ
ンジェクター26から吐出されたガスは、ガラス基板の
移動方向と同方向に流れ、第二のインジェクター27か
ら吐出されたガスは、ガラス基板の移動方向と逆方向に
流れ、排気管28から排気される。インジェクターから
吐出されるガスにおける水濃度が、上流側の第一のイン
ジェクター26の方が下流側の第二のインジェクター2
7より高いこと、第一のインジェクター26からは水を
含有し四塩化錫を含有しないガスを吐出することができ
ることについては、図1の装置と同様である。その他の
条件等は、図1の装置に準ずる。なお、第二のインジェ
クター27より下流側に、排気管28とは別の排気管を
更に有していてもよい。FIG. 2 is a conceptual view showing an example of the apparatus for producing a tin oxide film of the present invention. The production apparatus of the tin oxide film of FIG.
It is the same as the apparatus of FIG. 1 in that it has a first injector 26 on the upstream side and a second injector 27 on the downstream side in the moving direction of the glass substrate, but the position of the exhaust pipe 28 is between the two injectors. Some differences. The gas discharged from the first injector 26 flows in the same direction as the direction of movement of the glass substrate, and the gas discharged from the second injector 27 flows in the direction opposite to the direction of movement of the glass substrate. Exhausted. The water concentration in the gas discharged from the injector is such that the upstream first injector 26 is more downstream than the second injector 2.
1 and that a gas containing water and not containing tin tetrachloride can be discharged from the first injector 26 is the same as the apparatus of FIG. Other conditions are the same as those of the apparatus shown in FIG. Note that an exhaust pipe different from the exhaust pipe 28 may be further provided downstream of the second injector 27.
【0051】図3は、本発明の酸化錫膜の製造装置の一
例を示す概念図である。図3の酸化錫膜の製造装置は、
図2の装置の第一のインジェクターの代わりにエアカー
テン29を用いるものである。エアカーテン29から
は、水を含有し四塩化錫を含有しないガス、例えば、水
蒸気を含有する空気を吐出する。前記ガスにおける水の
濃度は、例えば、1〜50%とすることができる。エア
カーテン29から吐出されたガスは、ガラス基板の移動
方向と同方向に流れ、インジェクター30から吐出され
たガスは、排気管31と排気管32から排気される。エ
アカーテン29から吐出された水を含有し四塩化錫を含
有しないガスは、排気管31から排気されるが、排気管
31の下端付近でインジェクター30から吐出された四
塩化錫および水を含有するガスと混合し、排気管31よ
り下流側の雰囲気よりも水濃度が高い雰囲気を生成す
る。これは、図2の装置において、第一のインジェクタ
ー26から水を含有し四塩化錫を含有しないガスを吐出
する場合と同様である。その他の条件等は、図2の装置
と同様である。FIG. 3 is a conceptual diagram showing an example of the apparatus for producing a tin oxide film of the present invention. The apparatus for manufacturing a tin oxide film in FIG.
An air curtain 29 is used instead of the first injector of the apparatus shown in FIG. From the air curtain 29, a gas containing water and not containing tin tetrachloride, for example, air containing water vapor is discharged. The concentration of water in the gas can be, for example, 1 to 50%. The gas discharged from the air curtain 29 flows in the same direction as the moving direction of the glass substrate, and the gas discharged from the injector 30 is discharged from the exhaust pipe 31 and the exhaust pipe 32. The gas containing water and not containing tin tetrachloride discharged from the air curtain 29 is exhausted from the exhaust pipe 31, but contains tin tetrachloride and water discharged from the injector 30 near the lower end of the exhaust pipe 31. It mixes with the gas to generate an atmosphere having a higher water concentration than the atmosphere downstream of the exhaust pipe 31. This is similar to the case where the gas containing water and not containing tin tetrachloride is discharged from the first injector 26 in the apparatus of FIG. Other conditions and the like are the same as those of the apparatus of FIG.
【0052】図4は、本発明の酸化錫膜の製造装置の一
例を示す概念図である。図4の酸化錫膜の製造装置は、
ガラス基板の移動方向の上流側の第一のインジェクター
33および下流側の第二のインジェクター34を備える
点で、図1の装置と同様であるが、排気管35の位置が
第一のインジェクター33の上流側にある点で異なる。
第一のインジェクター33および第二のインジェクター
34から吐出されたガスは、ガラス基板の移動方向と逆
方向に流れ、排気管35から排気される。インジェクタ
ーから吐出されるガスにおける水濃度が、上流側の第一
のインジェクター33の方が下流側の第二のインジェク
ター34より高いこと、第一のインジェクター33から
は水を含有し四塩化錫を含有しないガスを吐出すること
ができることについては、図1の装置と同様である。そ
の他の条件等は、図1の装置に準ずる。なお、第二のイ
ンジェクター34より下流側に、排気管35とは別の排
気管を更に有していてもよい。FIG. 4 is a conceptual diagram showing an example of the apparatus for producing a tin oxide film of the present invention. The apparatus for manufacturing a tin oxide film shown in FIG.
1 in that it has a first injector 33 on the upstream side and a second injector 34 on the downstream side in the moving direction of the glass substrate, but the position of the exhaust pipe 35 is the same as that of the first injector 33. The difference is that it is on the upstream side.
The gas discharged from the first injector 33 and the second injector 34 flows in the direction opposite to the moving direction of the glass substrate, and is exhausted from the exhaust pipe 35. The water concentration in the gas discharged from the injector is such that the upstream first injector 33 is higher than the downstream second injector 34, and the first injector 33 contains water and contains tin tetrachloride. It is the same as the apparatus of FIG. 1 that a gas not to be discharged can be discharged. Other conditions are the same as those of the apparatus shown in FIG. Note that an exhaust pipe different from the exhaust pipe 35 may be further provided downstream of the second injector 34.
【0053】本発明の酸化錫膜の製造装置によれば、シ
ート抵抗が小さく、透過率が高く、ヘイズ率が高く、表
面に微細な凹凸を均一に有する酸化錫膜を得ることがで
き、本発明の酸化錫膜の製造装置は、本発明の酸化錫膜
の製造方法の実施に最適なものの一例として挙げられ
る。According to the apparatus for producing a tin oxide film of the present invention, a tin oxide film having a small sheet resistance, a high transmittance, a high haze rate and uniform fine irregularities on the surface can be obtained. The apparatus for producing a tin oxide film of the present invention can be cited as an example of an apparatus best suited for implementing the method for producing a tin oxide film of the present invention.
【0054】特許第2833797号明細書には、ガラ
ス面に沿うように四塩化錫からなる第一の反応ガスの流
れを作り、その流れ内に20%フッ化水素酸からなる第
二の反応ガスの乱流の流れを導入し、結合された乱流の
結合流により酸化錫層を付着する方法が記載されてい
る。そして、前記明細書には、第二の反応ガスを乱流と
して与えることにより、ガラスと既に接触している第一
の流れと十分な混合度で混合させ、十分均一な酸化錫層
を付着させることができる旨記載されている。しかし、
前記方法は、上流側の第一の流れの方が下流側の第二の
流れより水濃度が低いので、酸化錫の結晶成長が均一な
ものとならず、また、実際には、第一の流れと第二の流
れの混合が十分ではなく、得られる酸化錫膜は十分に均
一なものとはいえない。特に、太陽電池基板用透明導電
膜として用いられる酸化錫膜に要求されるような、高い
レベルでヘイズ率の均一性が満たされるものではない。
したがって、本発明のようなシート抵抗が小さく、透過
率が高く、ヘイズ率が高く、表面に微細な凹凸を均一に
有する酸化錫膜は得られない。Japanese Patent No. 2,833,797 discloses that a flow of a first reaction gas composed of tin tetrachloride is formed along a glass surface, and a second reaction gas composed of 20% hydrofluoric acid is formed in the flow. A method is described in which a turbulent stream is introduced and a tin oxide layer is deposited by the combined turbulent stream. In the above specification, the second reactant gas is given as a turbulent flow to mix with the first flow already in contact with the glass at a sufficient degree of mixing, thereby depositing a sufficiently uniform tin oxide layer. It states that it can be done. But,
In the method, since the first stream on the upstream side has a lower water concentration than the second stream on the downstream side, the crystal growth of tin oxide is not uniform, and in fact, the first stream is The mixing of the stream and the second stream is not sufficient, and the resulting tin oxide film is not sufficiently uniform. In particular, the haze ratio uniformity is not satisfied at a high level required for a tin oxide film used as a transparent conductive film for a solar cell substrate.
Therefore, a tin oxide film having a small sheet resistance, a high transmittance, a high haze, and uniform fine irregularities on the surface as in the present invention cannot be obtained.
【0055】[0055]
【実施例】以下に実施例を示して本発明を具体的に説明
するが、本発明はこれらに限られるものではない。 1.酸化錫膜の製造 (実施例1)ソーダライムガラス基板(30cm×30
cm×3mm)を用意し、十分に洗浄を行った後、アル
カリバリアー層として約50nmの膜厚のシリカ膜をC
VD法で形成し、その後図1に示す本発明の酸化錫膜の
製造装置を用い、CVD法により四塩化錫を主原料と
し、水との加水分解反応により酸化錫膜を形成した。具
体的には、以下の手順で行った。四塩化錫を55℃に保
持したバブラータンクに入れ、ボンベから窒素を導入し
て気化させた。水は100℃以上に保持したボイラーか
ら供給した。また、膜を低抵抗化するためのフッ化水素
ガスをボンベを約80℃に加熱して気化させた。さら
に、メタノールを30℃に保持したバブラータンクに入
れ、ボンベから窒素を導入して気化させた。四塩化錫お
よび水をそれぞれ150℃に加熱した後、150℃に保
温した導管7、8、13および14を経由して、第一の
インジェクター1および第二のインジェクター2に輸送
した。また、フッ化水素ガスおよびメタノールをそれぞ
れ150℃に加熱した後、それぞれ150℃に保温した
導管(図示せず)を経由して、第一のインジェクター1
および第二のインジェクター2に輸送した。四塩化錫、
水、フッ化水素ガスおよびメタノールをインジェクター
本体3および9で混合した。混合比(mol比)は、第
一のインジェクター1では、四塩化錫:水=1:10
0、第二のインジェクター2では、四塩化錫:水=1:
50とした。インジェクター本体3および9の温度は熱
媒体(油)により約150℃に保持した。EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. 1. Production of tin oxide film (Example 1) Soda lime glass substrate (30 cm × 30
cm × 3 mm), and after sufficient washing, a silica film having a thickness of about 50 nm was
The tin oxide film was formed by a VD method, and thereafter, a tin oxide film was formed by a hydrolysis reaction with water using tin tetrachloride as a main raw material by a CVD method using the apparatus for manufacturing a tin oxide film of the present invention shown in FIG. Specifically, the procedure was as follows. Tin tetrachloride was put into a bubbler tank maintained at 55 ° C., and nitrogen was introduced from a cylinder to evaporate. Water was supplied from a boiler maintained at 100 ° C. or higher. The cylinder was heated to about 80 ° C. to evaporate hydrogen fluoride gas for lowering the resistance of the film. Further, methanol was placed in a bubbler tank maintained at 30 ° C., and nitrogen was introduced from a cylinder to evaporate. After heating tin tetrachloride and water respectively to 150 ° C., they were transported to the first injector 1 and the second injector 2 via conduits 7, 8, 13 and 14 kept at 150 ° C. After heating the hydrogen fluoride gas and methanol to 150 ° C., respectively, the first injector 1 was heated via a conduit (not shown) kept at 150 ° C.
And transported to the second injector 2. Tin tetrachloride,
Water, hydrogen fluoride gas and methanol were mixed in the injector bodies 3 and 9. In the first injector 1, the mixing ratio (mol ratio) was tin tetrachloride: water = 1: 10.
0, in the second injector 2, tin tetrachloride: water = 1:
50. The temperature of the injector bodies 3 and 9 was maintained at about 150 ° C. by a heating medium (oil).
【0056】約500℃のガラス基板17を、第一のイ
ンジェクター1からの水濃度が高いガスが吐出するガス
流路15、ついで第二のインジェクター2からの水濃度
が低いガスが吐出するガス流路16の下を通過させ、ガ
ラス基板表面に酸化錫膜を形成させた。吐出量比は、
(第一のインジェクターからの吐出量):(第二のイン
ジェクターからの吐出量)=1:10とした。排気管2
1からは、過剰の水の排気を行った。A gas flow path 15 for discharging a gas having a high water concentration from the first injector 1 to a glass substrate 17 at about 500 ° C., and a gas flow for discharging a gas having a low water concentration from the second injector 2 Passing under the path 16, a tin oxide film was formed on the surface of the glass substrate. The discharge rate ratio is
(Discharge amount from first injector): (Discharge amount from second injector) = 1: 10. Exhaust pipe 2
From 1 onward, excess water was exhausted.
【0057】(実施例2)第一のインジェクター1から
吐出するガスとして、四塩化錫および水を含有するガス
の代わりに、水蒸気を用いた以外は、実施例1と同様の
方法により、ガラス基板表面に酸化錫膜を形成させた。
すなわち、約500℃のガラス基板17を、第一のイン
ジェクター1からの水蒸気が吐出するガス流路15、つ
いで第二のインジェクター2からの四塩化錫および水を
含有するガスが吐出するガス流路16の下を通過させ、
ガラス基板表面に酸化錫膜を形成させた。なお、四塩化
錫と水との混合比(mol比)は、第二のインジェクタ
ー2では、四塩化錫:水=1:50とした。また、吐出
量比は、(第一のインジェクターからの吐出量):(第
二のインジェクターからの吐出量)=1:5とした。(Example 2) A glass substrate was produced in the same manner as in Example 1 except that steam discharged from the first injector 1 was water instead of a gas containing tin tetrachloride and water. A tin oxide film was formed on the surface.
That is, the gas flow path 15 from which the steam from the first injector 1 is discharged, and the gas flow path from which the gas containing tin tetrachloride and water is discharged from the second injector 2 are passed through the glass substrate 17 at about 500 ° C. Pass under 16,
A tin oxide film was formed on the surface of the glass substrate. The mixing ratio (mol ratio) between tin tetrachloride and water was set to be tin tetrachloride: water = 1: 50 in the second injector 2. In addition, the discharge amount ratio was (a discharge amount from the first injector) :( a discharge amount from the second injector) = 1: 5.
【0058】(比較例1)吐出口15からガスを吐出せ
ず、かつ、排気管21から排気しなかったこと以外は、
実施例1と同様の方法により、ガラス基板表面に酸化錫
膜を形成させた。(Comparative Example 1) Except that no gas was discharged from the discharge port 15 and no gas was exhausted from the exhaust pipe 21,
In the same manner as in Example 1, a tin oxide film was formed on the glass substrate surface.
【0059】2.酸化錫膜の物性 得られた酸化錫膜について、以下の物性を測定し、評価
を行った。結果を第1表に示す。なお、実施例1とは別
に、図1の装置の代わりに図2または図4の装置を用い
て、同様の条件でガラス基板表面に酸化錫膜を形成させ
る試みを行い、それぞれ実施例1と同様の酸化錫膜を得
ることができた。また、実施例2とは別に、図1の装置
の代わりに図3の装置を用いて、同様の条件でガラス基
板表面に酸化錫膜を形成させる試みを行い、実施例2と
同様の酸化錫膜を得ることができた。以下、実施例1お
よび2で得られた酸化錫膜についての結果を示すが、図
2〜4の装置を用いて得られた酸化錫膜についての結果
も同様であった。2. Physical Properties of Tin Oxide Film The following physical properties of the obtained tin oxide film were measured and evaluated. The results are shown in Table 1. In addition, apart from Example 1, an attempt was made to form a tin oxide film on a glass substrate surface under the same conditions using the apparatus of FIG. 2 or 4 instead of the apparatus of FIG. A similar tin oxide film could be obtained. Further, apart from the second embodiment, an attempt was made to form a tin oxide film on a glass substrate surface under the same conditions by using the apparatus of FIG. 3 instead of the apparatus of FIG. A film could be obtained. Hereinafter, the results for the tin oxide films obtained in Examples 1 and 2 are shown, but the results for the tin oxide films obtained using the apparatuses of FIGS.
【0060】(1)膜厚 触針式表面あらさ計を用いて、膜厚(最大膜厚)を測定
した。実施例1の膜は800nm、実施例2の膜は70
0nm、比較例1の膜は600nmであった。(1) Film thickness The film thickness (maximum film thickness) was measured using a stylus type surface roughness meter. The film of Example 1 was 800 nm, and the film of Example 2 was 70 nm.
0 nm, and the film of Comparative Example 1 had a thickness of 600 nm.
【0061】(2)シート抵抗 シート抵抗は、4端子法で測定した。実施例および比較
例で得られた表面に膜を有するガラス基板を約3cm角
に切り出し、対向する2辺に、長さ3cmの一対の電極
を電極間距離が3cmとなるように、膜の上に平行に取
り付けた。次に、テスターで電極間の抵抗(シート抵
抗)を測定した。実施例1の膜は7Ω/□、実施例2の
膜は8Ω/□、比較例1の膜は10Ω/□であった。(2) Sheet Resistance The sheet resistance was measured by a four-terminal method. A glass substrate having a film on the surface obtained in each of Examples and Comparative Examples was cut into a square of about 3 cm, and a pair of electrodes having a length of 3 cm was placed on two opposing sides so that the distance between the electrodes was 3 cm. Was mounted in parallel. Next, the resistance (sheet resistance) between the electrodes was measured with a tester. The film of Example 1 was 7Ω / □, the film of Example 2 was 8Ω / □, and the film of Comparative Example 1 was 10Ω / □.
【0062】(3)透過率 波長400nm〜800nmでの分光透過率の平均値を
積分球を用いた分光光度計によって測定し、ヘイズによ
る透過率の測定値の低下を補正し、透過率を算出した。
実施例1の膜は84%、実施例2の膜は85%、比較例
1の膜は83%であった。(3) Transmittance The average value of the spectral transmittance at a wavelength of 400 nm to 800 nm is measured by a spectrophotometer using an integrating sphere, and the transmittance is calculated by correcting a decrease in the measured value of the transmittance due to haze. did.
The film of Example 1 was 84%, the film of Example 2 was 85%, and the film of Comparative Example 1 was 83%.
【0063】(4)ヘイズむらおよびヘイズ率 ヘイズむらを肉眼により観察した。また、基板全面に分
布する10箇所において、波長400nm〜800nm
の光に対するヘイズ率をヘイズメータで測定した。実施
例1の膜は基板全面においてヘイズむらは観察されず、
ヘイズ率は平均15%であり、高い部分では18%、低
い部分では12%であった。実施例2の膜は基板全面に
おいてヘイズむらは観察されず、ヘイズ率は平均12%
であり、高い部分では15%、低い部分では9%であっ
た。比較例1の膜は基板全面において縞模様のヘイズむ
らが観察され、ヘイズ率は平均7%であり、高い部分で
は18%、低い部分では4%であった。(4) Haze unevenness and haze ratio Haze unevenness was visually observed. Further, at 10 locations distributed over the entire surface of the substrate, the wavelength is 400 nm to 800 nm.
Was measured with a haze meter. In the film of Example 1, uneven haze was not observed on the entire surface of the substrate.
The haze rate averaged 15%, 18% in the high part and 12% in the low part. In the film of Example 2, uneven haze was not observed on the entire surface of the substrate, and the haze ratio was 12% on average.
15% in the high part and 9% in the low part. In the film of Comparative Example 1, haze unevenness of a striped pattern was observed on the entire surface of the substrate, and the haze ratio was 7% on average, 18% in a high portion, and 4% in a low portion.
【0064】(5)膜表面の凹凸形状 走査電子顕微鏡(SEM)により、膜表面の凹凸形状を
観察した。実施例1および2の膜は、表面に微細なピラ
ミッド状の凹凸を均一に有していた。凸部の高さ(凸部
と凹部の高低差)は、実施例1の膜が約150〜170
nm、実施例2の膜が約120〜150nmであった。
比較例1の膜は、表面の凹凸が不均一であり、凸部の高
さ(凸部と凹部の高低差)は、約80〜250nmと大
きくばらついていた。(5) Concavo-convex shape on film surface The concavo-convex shape on the film surface was observed with a scanning electron microscope (SEM). The films of Examples 1 and 2 had fine pyramid-shaped irregularities uniformly on the surface. The height of the protrusion (the difference in height between the protrusion and the recess) was about 150 to 170 for the film of Example 1.
nm, and that of the film of Example 2 was about 120 to 150 nm.
The film of Comparative Example 1 had uneven surface irregularities, and the heights of the projections (the difference in height between the projections and the depressions) varied widely, from about 80 to 250 nm.
【0065】(6)太陽電池基板用透明導電膜とした場
合の太陽電池基板のエネルギー変換効率 実施例1、2および比較例1で得られた酸化錫膜の形成
されたガラス基板(30cm×30cm)に、プラズマ
CVD法により、全面にアモルファスシリコン薄膜を形
成した。アモルファスシリコン薄膜は、酸化錫膜に近い
方から、p層のa−SiC膜(アモルファスシリコン・
カーバイド膜)(膜厚約10nm)、b層のa−SiC
膜(膜厚約10nm)、i層のa−Si膜(アモルファ
スシリコン膜)(膜厚約350nm)、n層のa−Si
膜(膜厚約20nm)より構成した。さらに、スパッタ
リング法により、基板全面に裏面電極として酸化亜鉛膜
(膜厚約50nm)および銀膜(膜厚約200nm)を
形成した。得られた太陽電池基板について、AM(Ai
r Mass)1.5のソーラーシミュレータを用い
て、エネルギー変換効率を測定した。実施例1の膜は1
0%、実施例2の膜は9.5%であった。一方、比較例
1の膜は7%であったが、比較例1により得られた膜の
中には、全く性能を発揮しないものもあった。これは表
面の凹凸が不均一であるので、凸部の高さ(凸部と凹部
の高低差)が大きい部分で短絡しているためであると考
えられる。(6) Energy Conversion Efficiency of Solar Cell Substrate in Case of Transparent Conductive Film for Solar Cell Substrate The glass substrate (30 cm × 30 cm) on which the tin oxide film obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Example 1 was formed 2), an amorphous silicon thin film was formed on the entire surface by a plasma CVD method. The amorphous silicon thin film is formed from a p-layer a-SiC film (amorphous silicon
Carbide film) (thickness: about 10 nm), b-layer a-SiC
Film (thickness: about 10 nm), i-layer a-Si film (amorphous silicon film) (thickness: about 350 nm), n-layer a-Si
It was composed of a film (about 20 nm thick). Further, a zinc oxide film (about 50 nm in thickness) and a silver film (about 200 nm in thickness) were formed as back electrodes on the entire surface of the substrate by sputtering. About the obtained solar cell substrate, AM (Ai
The energy conversion efficiency was measured using a solar simulator of (r Mass) 1.5. The film of Example 1 is 1
0%, and the film of Example 2 was 9.5%. On the other hand, although the film of Comparative Example 1 was 7%, some of the films obtained in Comparative Example 1 did not exhibit any performance. It is considered that this is because the unevenness of the surface is non-uniform, and short-circuiting occurs at a portion where the height of the convex portion (the height difference between the convex portion and the concave portion) is large.
【0066】[0066]
【表1】 [Table 1]
【0067】[0067]
【発明の効果】本発明の酸化錫膜の製造方法によれば、
本発明は、シート抵抗が小さく、透過率が高く、かつ、
ヘイズ率が高くかつ均一な酸化錫膜であって、表面に微
細な凹凸を均一に有する酸化錫膜が得られる。前記本発
明の酸化錫膜は、太陽電池基板用透明導電膜に用いる
と、エネルギー変換効率が高い太陽電池が得られるの
で、極めて好適である。また、本発明の酸化錫膜の製造
装置は、前記方法の実施に好ましく用いられる。According to the method for producing a tin oxide film of the present invention,
The present invention has a low sheet resistance, a high transmittance, and
A tin oxide film having a high haze ratio and uniform tin oxide film having fine irregularities uniformly on the surface can be obtained. When the tin oxide film of the present invention is used for a transparent conductive film for a solar cell substrate, a solar cell with high energy conversion efficiency can be obtained, which is very suitable. The apparatus for producing a tin oxide film of the present invention is preferably used for carrying out the above method.
【図1】 本発明の酸化錫膜の製造装置の一例を示す図
である。FIG. 1 is a diagram showing an example of a tin oxide film manufacturing apparatus of the present invention.
【図2】 本発明の酸化錫膜の製造装置の一例を示す図
である。FIG. 2 is a diagram showing an example of a tin oxide film manufacturing apparatus of the present invention.
【図3】 本発明の酸化錫膜の製造装置の一例を示す図
である。FIG. 3 is a diagram showing an example of a tin oxide film manufacturing apparatus of the present invention.
【図4】 本発明の酸化錫膜の製造装置の一例を示す図
である。FIG. 4 is a diagram showing an example of a tin oxide film manufacturing apparatus of the present invention.
1 第一のインジェクター 2 第二のインジェクター 3、9 インジェクター本体 4、10 インジェクター吐出部 5、6、11、12 ジャケット 7、8、13、14 導管 15、16 ガス流路 17 ガラス基板 18、19、20、22、23、24 カーボンブロッ
ク 21、25 排気管 26 第一のインジェクター 27 第二のインジェクター 28 排気管 29 エアカーテン 30 インジェクター 31、32 排気管 33 第一のインジェクター 34 第二のインジェクター 35 排気管DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st injector 2 2nd injector 3, 9 Injector main body 4, 10 Injector discharge part 5, 6, 11, 12 Jacket 7, 8, 13, 14 Conduit 15, 16 Gas flow path 17 Glass substrate 18, 19, 20, 22, 23, 24 Carbon block 21, 25 Exhaust pipe 26 First injector 27 Second injector 28 Exhaust pipe 29 Air curtain 30 Injector 31, 32 Exhaust pipe 33 First injector 34 Second injector 35 Exhaust pipe
フロントページの続き (72)発明者 府川 真 神奈川県横浜市神奈川区羽沢町1150番地 旭硝子株式会社内 (72)発明者 池田 徹 神奈川県横浜市神奈川区羽沢町1150番地 旭硝子株式会社内 Fターム(参考) 4G059 AA01 AC12 EA02 EB01 4K030 AA03 BA45 CA06 EA06 LA01 LA11 5F051 BA14 CA15 CB27 FA03 FA19 FA24 GA03 Continued on the front page (72) Inventor Makoto Fukawa 1150 Hazawa-cho, Kanagawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Inside Asahi Glass Co., Ltd. 4G059 AA01 AC12 EA02 EB01 4K030 AA03 BA45 CA06 EA06 LA01 LA11 5F051 BA14 CA15 CB27 FA03 FA19 FA24 GA03
Claims (4)
するガラス基板上に酸化錫膜を常圧CVD法により形成
する酸化錫膜の製造方法であって、 四塩化錫および水を含有するガスをガラス基板上に吐出
して酸化錫膜を形成させる際の雰囲気が、ガラス基板の
移動方向の上流側の方が下流側より水濃度が高い雰囲気
であることを特徴とする酸化錫膜の製造方法。1. A method for producing a tin oxide film by forming a tin oxide film on a glass substrate moving in one direction by reacting tin tetrachloride and water by a normal pressure CVD method, comprising the steps of: Is characterized in that an atmosphere in which a tin oxide film is formed by discharging a gas containing tin on a glass substrate is an atmosphere having a higher water concentration on the upstream side in the moving direction of the glass substrate than on the downstream side. Manufacturing method of tin film.
するガラス基板上に酸化錫膜を常圧CVD法により形成
する酸化錫膜の製造方法であって、 ガラス基板の移動方向に並ぶ複数個の吐出口から、水を
含有し四塩化錫を含有しないガス、および/または、四
塩化錫および水を含有するガスをガラス基板上に吐出
し、その際にガラス基板の移動方向の上流側の吐出口の
方が下流側の吐出口より水濃度が高いガスを吐出するこ
とを特徴とする酸化錫膜の製造方法。2. A method for producing a tin oxide film by forming a tin oxide film on a glass substrate moving in one direction by reacting tin tetrachloride and water by a normal pressure CVD method, comprising: A gas containing water and not containing tin tetrachloride and / or a gas containing tin tetrachloride and water is discharged onto a glass substrate from a plurality of discharge ports arranged in the direction of movement of the glass substrate. Characterized in that a gas having a higher water concentration is discharged from a discharge port on the upstream side than a discharge port on the downstream side.
れる酸化錫膜。3. A tin oxide film obtained by the method according to claim 1.
するガラス基板上に酸化錫膜を常圧CVD法により形成
する酸化錫膜の製造装置であって、 水を含有し四塩化錫を含有しないガス、および/また
は、四塩化錫および水を含有するガスをガラス基板上に
吐出する吐出口をガラス基板の移動方向に複数個備え、
ガラス基板の移動方向の上流側の吐出口の方が下流側の
吐出口より水濃度が高いガスを吐出することを特徴とす
る酸化錫膜の製造装置。4. A tin oxide film manufacturing apparatus for forming a tin oxide film on a glass substrate moving in one direction by reacting tin tetrachloride with water by a normal pressure CVD method. A plurality of discharge ports for discharging a gas containing no tin chloride, and / or a gas containing tin tetrachloride and water onto the glass substrate in a moving direction of the glass substrate,
An apparatus for producing a tin oxide film, wherein a gas having a higher water concentration is discharged from a discharge port on an upstream side in a moving direction of a glass substrate than a discharge port on a downstream side.
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