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JP2000505957A - 二次元的にバランスをとった位置決め装置及びこのような位置決め装置を設けたリソグラフ装置 - Google Patents

二次元的にバランスをとった位置決め装置及びこのような位置決め装置を設けたリソグラフ装置

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JP2000505957A JP10528564A JP52856498A JP2000505957A JP 2000505957 A JP2000505957 A JP 2000505957A JP 10528564 A JP10528564 A JP 10528564A JP 52856498 A JP52856498 A JP 52856498A JP 2000505957 A JP2000505957 A JP 2000505957A
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Abstract

(57)【要約】 位置決め装置(3,121,141)はベース(67)と、このベースに対してX方向及びY方向に平行にXアクチュエータ(45,47,123,125)及びYアクチュエータ(49,127)によって相対移動可能にした移動可能ユニット(5)を有する。Xアクチュエータ及びYアクチュエータの各々は、X方向及びY方向に平行に見てそれぞれ移動可能ユニットに連結した第1部分(51,53,129,131;59,137)と、X方向及びY方向に平行に見てそれぞれ共通バランシングユニット(43)に連結した第2部分(55,57,133,135;61,139)とを設け、バランシングユニットはX方向及びY方向に平行に案内(69)に沿って移動自在にし、この案内(69)はX方向及びY方向に平行に延在させてベースに固定する。動作中、Xアクチュエータ及びYアクチュエータの第1部分は、第2部分に対してそれぞれX方向及びY方向に平行に指向する反作用力を加え、これにより、共通バランシングユニットをX方向及びY方向に平行に移動する。従って、反作用力がベースに伝達されるのを防止し、ベースの機械的振動が減少する。特別な実施例においては、バランシングユニットは、支持体(43)を有し、この支持体(43)はX方向及びY方向に平行に延在する表面(41)を有し、この表面(41)に沿って移動可能ユニットが案内される。この位置決め装置(3,121,141)は、半導体サブストレートを製造するためのリソグラフ装置のサブストレートホルダ(5)の移動及び位置決めに使用することができる。

Description

【発明の詳細な説明】 二次元的にバランスをとった位置決め装置及びこのような位置決め装置を設けた リソグラフ装置 本発明は、ベースと、このベースに対してXアクチュエータによってX方向に 平行な第1案内に沿って移動可能な移動自在ユニットとを設けた位置決め装置で あって、前記Xアクチュエータは、互いに相対移動することができかつ動作中に 互いに駆動力を発生する第1部分及び第2部分を有し、X方向に平行に見てXア クチュエータの第1部分を移動自在ユニットに連結し、またX方向に平行に見て アクチュエータの第2部分をバランシングユニットに連結し、このバランシング ユニットを前記ベースに対してこのベースに固定しかつX方向に平行に延在する 第2案内に沿って移動自在にした位置決め装置に関するものである。 本発明は、更に、放射源、マスクホルダ、合焦ユニット、及び位置決め装置を 固定するフレームを設けたリソグラフ装置であって、前記合焦ユニットは主軸を 有し、前記位置決め装置に前記合焦ユニットに対して前記主軸に直交するX方向 に平行に、またX方向及び主軸に直交するY方向に平行に移動自在のサブストレ ートホルダを設けたリソグラフ装置に関するものである。 冒頭に述べた種類の位置決め装置は、米国特許第5,208,497号に記載 されている。この既知の位置決め装置は写真複写機に使用するのに好適であり、 位置決め装置の移動自在ユニットが写真複写機のフレームに対して一方向の走査 (スキャン)方向に平行に移動自在の光学ユニットを有する。動作中、位置決め 装置の移動自在ユニットは、Xアクチュエータの第2部分によってXアクチュエ ータの第1部分に加わる駆動力の作用の下に移動する。このとき、Xアクチュエ ータの第1部分はXアクチュエータの第2部分に対して、駆動力の値に等しい値 であり、また駆動力の向きが逆の反作用力を発生する。Xアクチュエータの第2 部分をバランシング(釣り合い)ユニットに連結し、このバランシングユニット は第2案内に沿って移動自在であるため、バランシングユニットは、駆動力の作 用の下で移動自在ユニットが移動する方向とは逆向きの方向の反作用力の作用の 下で第2案内に沿って移動する。従って、反作用力は写真複写機のフレームに伝 達されるのを防止し、これにより、反作用力から生ずる写真複写機の振動が阻止 される。バランシングユニットの移動は、反作用力の値及びバランシングユニッ トの質量の関数であるため、いわゆる慣性反作用力補償を既知の位置決め装置に 利用できる。このような慣性反作用力補償の利点は、慣性反作用力補償が移動ユ ニットの質量の値に無関係であるという点である。この慣性反作用力補償の他に 、運動学的反作用力補償が他の周知の通常の位置決め装置からも知られており、 この場合、バランシング(釣り合い)質量の移動を移動自在ユニットの移動に運 動学的に連結している。このような運動学的反作用補償は、しかし、移動自在ユ ニットの質量がほぼ一定の所定圧力を有する場合しか満足に機能しない。 既知の位置決め装置の欠点は、移動自在ユニットは一方向にしか平行に移動す ることができない点にある。米国特許第5,208,497号には、2つの異な る方向に平行に移動自在の移動自在ユニットを有する位置決め装置に対してどの ように慣性反作用力補償を発生させるかについては記載はない。米国特許第5, 208,497号から既知の2個のリニア位置決め装置を構造的に積層させ、こ の2個のリニア位置決め装置のうちの第1のリニア位置決め装置をこの第1のリ ニア位置決め装置の移動方向とは異なる方向に平行な第2のリニア位置決め装置 によって全体的に移動することができるようにした積層構造は、構造が実用的で はなく、いわゆる積層エラーによって生ずる位置決め誤差を生ずることになる。 更に、リニア位置決め装置の駆動力がリニア位置決め装置の移動方向に完全に平 行ではないためこのような積層構造におけるベースに残存振動を生ずる。 従って、本発明の目的は、移動自在ユニットが2個の異なる方向に平行に移動 自在である冒頭に述べた種類の位置決め装置を得るにあり、慣性反作用力補償が 実用的な構造によって得られ、また残留振動を最大限防止することができる位置 決め装置を得るにある。 この目的を達成するため、本発明位置決め装置は、前記移動自在ユニットを前 記ベースに対してYアクチュエータによってY方向に平行な前記第1案内に沿っ て移動可能にし、前記第1案内には、X方向及びY方向に平行な第1表面を設け 、前記Yアクチュエータには互いに相対移動して動作中に互いに駆動力を発生す る 第1部分及び第2部分を設けるとともに、Yアクチュエータの第2部分をY方向 に平行に見て前記バランシングユニットに連結し、前記第2案内にはX方向及び Y方向に平行な第2表面を設けたことを特徴とする。 本発明によれば、バランシングユニットはXアクチュエータ及びYアクチュエ ータに共通のバランシングユニットである。第2案内はX方向及びY方向に平行 な第2表面を有し、バランシングユニットはXアクチュエータ及びYアクチュエ ータの反作用力の下でX方向及びY方向で規定される平面上に存在する任意の方 向に平行に移動することができる。更に、バランシングユニットはX方向及びY 方向に直交する回転軸線の周りに回転することもできる。このようにして、慣性 反作用力補償は、X方向及びY方向に平行な反作用力ばかりでなく、X方向及び Y方向によって規定される平面に平行なすべての反作用力に対しても慣性反作用 力補償が得られる。更に、慣性反作用力補償はXアクチュエータ及びYアクチュ エータによりバランシングユニットに対して加わるバランシングユニットの回転 軸線の周りの反作用モーメントに対しても得られる。バランシングユニットは共 通バランシングユニットであり、第1案内及び第2案内の双方が平坦な平面であ るため、位置決め装置の構造が簡単になる。 本発明位置決め装置の好適な実施例においては、前記バランシングユニットを 前記第1表面を有する支持体により構成する。支持体は、例えば、移動自在ユニ ットが移動可能に案内されるみかげ石のスラブとする。この実施例における支持 体は二重の機能を有する即ち、移動自在ユニットのための支持及び案内する機能 、及びXアクチュエータ及びYアクチュエータのためのバランシングユニットと しての機能を有する。 本発明による位置決め装置の他の好適な実施例においては、移動自在ユニット の重心及びバランシングユニットの重心をX方向及びY方向に直交する方向に見 て同一レベルの位置に配置する。この実施例においては、駆動力が移動自在ユニ ットに加わるポイント及び反作用力がバランシングユニットに加わるポイントが 、X方向及びY方向に直交する方向に見て、移動自在ユニット及びバランシング ユニットの重心の位置に対応する場合、バランシングユニットの重心を通過しか つX方向及びY方向によって規定される平面に平なすべての軸線の周りの好まし く ない反作用モーメントは阻止される。 バランシングユニットを第1表面を有する支持体により構成した本発明位置決 め装置の更に他の実施例においては、前記支持体は前記第1表面を区画する少な くとも1個の隆起した壁を有するものとして構成する。隆起した壁を使用するこ とにより、移動自在ユニットの重心及びバランシングユニットの重心がX方向及 びY方向に直交する方向に見て一致させることが簡単かつ有効に得られる。 更に、本発明位置決め装置の好適な実施例においては、前記バランシングユニ ットをスタティック(静力学的又は静圧)ガス軸受により第2案内に沿って案内 する。スタティックガス軸受を使用することによって、第2案内に沿うバランシ ングユニットのほぼ摩擦のない案内が得られ、反作用力の作用の下にバランシン グユニットの移動はバランシングユニットと第2案内との間に生ずる摩擦力によ って乱されることがなくなる。バランシングユニットの移動に乱れがあると、反 作用力補償の好ましくない乱れを生ずる。 更に、本発明の他の好適な実施例においては、バランシングユニットは、第1 バランシング部分及び第2バランシング部分を有し、第1バランシング部分をX アクチュエータの第2部分及びYアクチュエータの第2部分に固定し、前記第2 バランシング部分を前記第1バランシング部分に対してX方向及びY方向に直交 する回転軸線の周りに回転モータによって回転自在にし、前記回転モータには、 互いに相対回転して動作中互いに駆動トルクを発生する第1部分及び第2部分を 設け、前記回転モータの第1部分を第1バランシング部分に固定し、前記回転モ ータの第2部分を第2バランシング部分に固定する。移動自在ユニットが第1案 内に沿う経路上をスタート位置から移動し、経路の端部でスタート位置に向けて 復帰するとき、バランシングユニットは、X方向及びY方向に平行に見て、バラ ンシングユニットが経路のスタートにあるスタート位置にほぼ対応する経路の端 部の端部位置をとる。バランシングユニットのスタート位置と端部位置との間の 僅かな変位はいわゆるドリフト(漂動)防止アクチュエータによって補正され、 このドリフト防止アクチュエータはベースに固定し、比較的小さいドリフト阻止 力をバランシングユニットに加える。このようなドリフト防止アクチュエータを 使用することは米国特許第5,208,497号に記載されている。しかし、バ ランシングユニットに加わる反作用力はバランシングユニットの重心のX方向及 びY方向に平行な移動を生ずるばかりでなく、バランシングユニットのX方向及 びY方向に直交する回転軸線の周りの回転も生ずる。バランシングユニットのこ のような回転はドリフト防止アクチュエータの比較的小さいドリフト阻止力によ っては補償することができない。第1バランシング部分、第2バランシング部分 及び回転モータを使用することにより、回転モータの駆動モーメントの作用の下 に、反作用力によって生ずる第1バランシング部分の回転を補償する程度に第1 バランシング部分を回転させることができるようになる。回転モータの反作用モ ーメントが第2バランシング部分に加わり、この反作用モーメントによって第2 バランシング部分が回転させられるため、回転モータの反作用モーメントはベー スには伝わらない。第2バランシング部分は例えば、フライホイールとして構成 するとよい。 更に、本発明の他の好適な実施例においては、Xアクチュエータの第2部分を バランシングユニットに固定し、Yアクチュエータの第2部分をXアクチュエー タの第1部分に固定し、X方向及びY方向に平行に見てYアクチュエータの第1 部分を移動自在ユニットに連結する。この実施例においては、Yアクチュエータ は全体的にX方向に平行にXアクチュエータによって移動することができる。X アクチュエータ及びYアクチュエータに共通のバランシングユニットはXアクチ ュエータの第2部分に固定するとともに、Yアクチュエータの反作用力はXアク チュエータを介して共通のバランシングユニットに伝達される。 本発明による位置決め装置の他の好適な実施例においては、位置決め装置に他 のXアクチュエータ及び他のYアクチュエータを設け、この他のXアクチュエー タの第1部分及び他のYアクチュエータの第1部分を移動自在ユニットに固定す るとともに、他のXアクチュエータの第2部分及び他のYアクチュエータの第2 部分をYアクチュエータの第1部分に固定する。この実施例においては、移動自 在ユニットはXアクチュエータ及びYアクチュエータによって比較的大きな距離 にわたり比較的低い精度で移動することができ、また他のXアクチュエータ及び 他のYアクチュエータによって比較的小さい距離にわたり比較的高い精度で移動 することができる。他のXアクチュエータ及び他のYアクチュエータの反作用力 はYアクチュエータ及びXアクチュエータを介して共通のバランシングユニット に伝達される。 更に、本発明位置決め装置の他の好適な実施例においては、前記Xアクチュエ ータの第2部分及びYアクチュエータの第2部分を前記バランシングユニットに 固定する。この実施例においては、Xアクチュエータの第2部分及びYアクチュ エータの第2部分をバランシングユニットに直接固定し、Xアクチュエータの反 作用力及びYアクチュエータの反作用力が直接バランシングユニットに伝達され る。移動自在ユニットを、X方向に平行に見て、Xアクチュエータの第1部分に 連結し、またY方向に平行に見て、Yアクチュエータの第1部分に連結する。 更に、他の本発明位置決め装置の好適な実施例においては、位置決め装置に他 のXアクチュエータ及び他のYアクチュエータを設け、この他のXアクチュエー タの第1部分及び他のYアクチュエータの第1部分を移動自在ユニットに固定し 、他のXアクチュエータの第2部分及び他のYアクチュエータの第2部分を、X 方向に平行に見てXアクチュエータの第1部分に連結し、Y方向に平行に見てY アクチュエータの第1部分に連結する。この実施例においては、移動自在ユニッ トが、Xアクチュエータ及びYアクチュエータによって比較的大きい距離にわた り比較的低い精度で移動することができるとともに、他のXアクチュエータ及び 他のYアクチュエータによって比較的小さい距離にわたり比較的高い精度で移動 することができる。他のXアクチュエータの反作用力はXアクチュエータを介し て共通のバランシングユニットに伝達され、Yアクチュエータの反作用力はYア クチュエータを介して共通のバランシングユニットに伝達される。 冒頭に述べた種類のリソグラフ装置はヨーロッパ特許公開第0,498,49 6号に記載されている。この既知のリソグラフ装置は光学的リソグラフプロセス によって集積半導体回路を製造するのに使用される。この既知のリソグラフ装置 の放射源は光源であり、合焦ユニットは集積半導体回路のサブパターンを縮尺し て半導体サブストレート上に結像する光学レンズ系であり、この半導体サブスト レートを位置決め装置のサブストレートホルダ上に配置し、リソグラフ装置のマ スクホルダに配置することができるマスクはサブパターンを有する。 このような半導体サブストレートは多数のフィールドを有し、このフィールド毎 に同一の半導体回路を設ける。この目的のため半導体サブストレートの個別のフ ィールドを順次露光し、この個別フィールドの露光中マスク及び合焦ユニットに 対して半導体サブストレートを一定位置に配置するとともに、2個の順次の露光 ステップ間で半導体サブストレートの次のフィールドを位置決め装置によって合 焦ユニットに対して所定位置に送る。このプロセスを多数回繰り返し、各回毎に 異なるパターンを設けた異なるサブマスクで行い、比較的複雑な構造の集積半導 体回路を製造することができる。このような集積半導体回路の構造はサブミクロ ンのレンジの精細寸法を有する。順次のマスク上に存在するサブパターンは半導 体サブストレートのフィールド上に互いにサブミクロンレンジの精度で結像され る。従って、半導体サブストレートは、やはりサブミクロンレンジの精度で位置 決め装置によりマスク及び合焦ユニットに対して位置決めさなければならない。 半導体回路を製造するのに必要とされる時間を減少するため、半導体サブストレ ートを2個の順次の露光ステップ間で比較的高速に移動しなければならず、また 所要の精度でマスク及び合焦ユニットに対して位置決めしなければならない。 本発明リソグラフ装置によれば、位置決め装置を本発明による位置決め装置と し、位置決め装置の移動自在ユニットをサブストレートホルダにより構成し、位 置決め装置のベースをフレームに固定する。本発明による位置決め装置を使用す ることにより、2回の露光ステップ間における比較的高速移動中にサブストレー トホルダによって位置決め装置に加わる相当大きな反作用力がリソグラフ装置の フレームに伝わらず、位置決め装置のバランシングユニットの移動に変換される ことになる。マスクホルダ、合焦ユニット、及びサブストレートホルダを支持す るリソグラフ装置のフレームは、反作用力によって発生する機械的振動からほぼ 免れることができるようになる。サブストレートホルダがマスクホルダ及び合焦 ユニット対して位置決めする精度、及びサブストレートホルダを所要の精度で位 置決めするに必要な時間をこのような機械的振動によって悪影響を受けないよう になる。 本発明によるリソグラフ装置の好適な実施例においては、前記マスクホルダを 前記合焦ユニットに対してX方向に平行に他の位置決め装置によって移動可能に する。この実施例においては、製造すべき半導体サブストレートは個別のフィー ルドの露光中にマスク及び合焦ユニットに対する一定の位置をとらず、半導体サ ブストレート及びマスクが、サブストレートホルダの位置決め装置及びマスクホ ルダの他の位置決め装置により合焦ユニットに対してそれぞれ露光中にX方向に 平行に同期して移動する。マスク上のパターンも同様に同期させてX方向に平行 に走査し、半導体サブストレート上に結像する。これにより、合焦ユニットを経 て半導体サブストレート上に結像することができるマスクの最大表面積は、合焦 ユニットの開孔寸法程度のより小さいものに制限することができる。 更に、本発明によるリソグラフ装置においては、前記他の位置決め装置は、互 いに相対移動可能でありかつ動作中に駆動力を発生する第1部分及び第2部分を 有する他のXアクチュエータを設け、この他のXアクチュエータの前記第1部分 をX方向に平行に見てマスクホルダに連結し、前記他のXアクチュエータの前記 第2部分をX方向に平行に見て他のバランシングユニットに連結し、前記他のバ ランシングユニットを前記フレームに固定しかつX方向に平行な他の案内に沿っ てフレームに対して移動自在にする。サブミクリンのレンジで製造すべき集積半 導体回路の精細寸法、半導体サブストレート及びマスクは、露光中合焦ユニット に対してやはりサブミクロンのレンジの精度で移動させなければならない。半導 体回路の製造に必要な時間を短縮するため、半導体サブストレート及びマスクを 露光中に比較的高速で相対移動及び相対位置決めしなければならない。マスク上 に存在するパターンは縮尺スケールで半導体サブストレート上に結像するため、 マスクが移動する速度及び距離は、半導体サブストレートが移動する速度及び距 離よりも大きく、速度間の比及び距離間の比は、合焦ユニットによって得られる 縮尺率に等しい。マスクホルダの他の位置決め装置にもバランシングユニットを 設けてあることから、半導体サブストレートの露光中のマスクホルダの比較的高 速な速度及び加速度の結果マスクホルダによってマスクホルダの他の位置決め装 置に対して加わる比較的大きな反作用力はリソグラフ装置のフレームには伝達さ れず、マスクホルダの他の位置決め装置のバランシングユニットの移動に変換さ れる。この結果、マスクホルダ、合焦ユニット及びサブストレートホルダを支持 するリソグラフ装置のフレームは、他の位置決め装置の反作用力から生ずる機械 的振動からほとんど免れることができる。半導体サブストレートの露光中、サブ ストレートホルダ及びマスクホルダを合焦ユニットに対して移動することができ る精度はこのような機械的振動によって悪影響を受けない。 以下に、図面につき本発明を詳細に説明する。 図1は、本発明によるリソグラフ装置の説明図、 図2は、図1のリソグラフ装置に使用するのに好適な本発明による位置決め装 置の第1の実施例の平面図、 図3は、図2のIII-III線上の線図的断面図、 図4は、図2の位置決め装置のアンチドリフトアクチュエータの説明図、 図5は、図1のリソグラフ装置に使用するのに好適な本発明による位置決め装 置の第2の実施例の平面図、 図6は、図1のリソグラフ装置に使用するのに好適な本発明による位置決め装 置の第3の実施例の平面図、 図7は、「ステップアンドスキャン」原理によって動作するリング装置グラフ 装置におけるマスクホルダの移動のために好適な他の位置決め装置の線図的平面 図である。 図1に示す本発明によるリソグラフ装置は光学的リソグラフプロセスにより及 びいわゆる「ステップ及びリピート」原理に従うイメージング(結像)方法によ り集積半導体回路を製造するのに使用する。図1に示すように、リソグラフ装置 にはフレーム1を設け、このフレーム1には、垂直のZ方向に平行に見て以下の 順序で、サブストレートホルダ5を有する位置決め装置3、合焦ユニット7、マ スクホルダ9及び放射源11を支持する。図1に示すリソグラフ装置は光学的リ ソグラフ装置であり、放射源11は、光源13、ダイヤフラム15、及びミラー 17,19を有する。サブストレートホルダ5は、支持面21を有し、この支持 面21はZ方向に直交し、この支持面21に半導体サブストレート23を配置す ることができる。サブストレートホルダ5は、合焦ユニット7に対してZ方向に 直交するX方向に平行に、またX方向及びZ方向に直交するY方向に平行に位置 決め装置3によって移動自在とする。合焦ユニット7は、イメージング(結像) 系又は投影系であり、Z方向に平行に指向する主光軸27を有し、光学的縮小率 が例えば4又は5の光学レンズ系25を設ける。マスクホルダ9はZ方向に直交 する支持面29を有し、この支持面29上にマスク31を配置することができる 。マスク31は集積半導体回路のパターン又はサブパターンを有する。作動中、 光源13から発生する光ビーム33をダイヤフラム15及びミラー17,19を 介してマスク31に導入し、レンズ系25により半導体サブストレート23上に 合焦し、マスク31に存在するパターンを縮尺して半導体サブストレート23上 に結像する。半導体サブストレート23は多数の個別フィールドを有し、これら の個別フィールドに同一の半導体回路を設けるようにする。半導体サブストレー ト23のフィールドは、この目的のためマスク31を介して順次に露光する。マ スク31及び半導体サブストレート23は、半導体サブストレート23の個別フ ィールドの露光中、その都度、合焦ユニット7に対する固定位置をとり、個別フ ィールドの露光後に次のフィールドを合焦ユニット7に対する所定位置に送り、 このときサブストレートホルダ5はX方向又はY方向に平行に位置決め装置3に よって移動する。このプロセスは多数回繰り返し、この度毎に異なるマスクを使 用し、積層構造の複雑な集積半導体回路を製造する。リソグラフ装置によって製 造した集積半導体回路はサブミクロン範囲の微細寸法の構体である。半導体サブ ストレート23は多数の異なる順次のマスクにより露光するため、マスクに存在 するパターンは半導体サブストレート23上に互いにサブミクロンのレンジの精 度で結合しなければならない。従って、半導体サブストレート23はマスク31 及び合焦ユニットに対して2つの順次の露光ステップ間において同様の精度で位 置決めしなければならず、このことは位置決め装置3の位置決め精度に極めて高 い要求が課せられる。 図2に詳細に示すように、位置決め装置3のサブストレートホルダ5は位置決 め装置3の第1表面41上にわたり案内し、この第1表面41はX方向及びY方 向に平行にスタティックガス軸受を設けたいわゆる空気静力学的支持の脚39に よって延在させる。第1表面41は位置決め装置3の第1案内をなしており、み かげ石スラブの形式の支持体43の上側面である。サブストレートホルダ5は、 第1表面41上を2個のXアクチュエータ45,47及びYアクチュエータ49 により移動自在にし、これらのアクチュエータはそれぞれリニア電動モータとし て構成する。2個のXアクチュエータ45,47の各々は第1部分51,53及 び第2部分55,57を有する。第2部分55,57は支持体43に固定し、そ れぞれX方向に平行に延在しかつ電気コイル装置を設けたステータとして構成す る。第1部分51,53はそれぞれ一組の永久磁石を設けたトランスレータ(並 進装置)として構成し、関連する第2部分55,57に沿って移動自在に案内す る。Yアクチュエータ49は第1部分59及び第2部分61を有する。第2部分 61は、Y方向にほぼ平行に延在しかつ電気コイル装置を設けたステータを有す る。第2部分61の第1端部63の近傍でXアクチュエータ45の第1部分51 に固着するとともに、第2端部65の近傍でXアクチュエータ47の第1部分5 3に固着する。第1部分59をサブストレートホルダ5に固着し、一組の永久磁 石を設けかつ第2部分61に沿って移動自在に案内するトランスレータ(並進装 置)として構成する。サブストレートホルダ5は、2個のXアクチュエータ45 ,47を同一に動作させることによりX方向に平行に移動自在となるとともに、 Yアクチュエータ49を動作させることによりY方向に平行にサブストレートホ ルダ5を移動することができる。特別な実施例ではYアクチュエータ49の第2 部分61は、Z方向に平行な回転軸線の周りに限定角度内でXアクチュエータ4 5,47の第1部分51,53に対して回転可能にXアクチュエータ45,47 の第1部分51,53に固定する。この特別な実施例におけるサブストレートホ ルダ5は更に、Xアクチュエータ45,47を互いに逆方向に動作させることに よってZ方向に平行な回転軸線の周りに僅かな角度にわたり回転できるようにす る。 図1及び図2に示すように、リソグラフ装置のフレーム1は、支持体43を支 持するキャリヤ67を有する。このキャリヤ67は、Z方向に直交しかつZ方向 に直交する上側面69を設けたプレートを有する。図2に線図的に示すように、 支持体43の下側面の近傍に3個のスタティック(静力学的)ガス軸受71を設 け、これらのスタティック(静力学的)ガス軸受71により支持体43がキャリ ヤ67の上側面69に沿ってX方向及びY方向に平行に移動自在に案内されるよ うにする。キャリヤ67は位置決め装置3のベースを構成するとともに、支持体 43は位置決め装置3のバランシングユニットをも構成し、このバランシングユ ニットの機能を以下に詳細に説明する。キャリヤ67の上側面69は位置決め装 置3の第2案内をも構成し、この第2案内は位置決め装置3のX方向及びY方向 に平行な第2表面を有する。 サブストレートホルダ5は位置決め装置3の移動自在のユニットを構成し、こ のユニットは位置決め装置3のベースに対して第1表面上を2個のXアクチュエ ータ45,47及びYアクチュエータ49により移動自在となる。この目的のた め、Xアクチュエータ45,47の第1部分51,53及び第2部分55,57 は動作中にほぼX方向に平行な方向の駆動力を互いに発生し、Yアクチュエータ 49の第1部分59及び第2部分61はY方向にほぼ平行な方向の駆動力を互い に発生する。この結果、Xアクチュエータ45,47の第2部分55,57は、 支持体43に対してX方向にほぼ平行であって、Xアクチュエータ45,47の 駆動力の値にほぼ等しくXアクチュエータ45,47の駆動力の方向とは逆向き の反作用力を発生する。Yアクチュエータ49の第2部分61は、Xアクチュエ ータ45,47に対してY方向にほぼ平行であって、Yアクチュエータ49の駆 動力の値にほぼ等しくYアクチュエータ49の駆動力の方向とは逆向きの方向の 反作用力を発生する。Yアクチュエータの反作用力は、Xアクチュエータ45, 47の第1部分51,53及び第2部分55,57を介して支持体43に伝達さ れる。支持体43は位置決め装置3のバランシング(釣り合い)ユニットであっ て、キャリヤ67の上側表面69に沿ってX方向及びY方向に平行に移動自在に 案内され、Xアクチュエータ45,47及びYアクチュエータ49の反作用力は リソグラフ装置のキャリヤ67及びフレーム1には伝わらず、キャリヤ67に対 して上側表面69に沿って支持体43を相対移動させるのに使用される。このよ うにして生じた支持体43の移動は、サブストレートホルダ5が移動する方向と は逆の方向性を持つ。このような反作用力補償は慣性反作用力補償と称されるも のであり、バランシングユニットの移動量は、反作用力の値の関数であり、また バランシングユニットの移動可能な質量の値の関数である。このように反作用力 はリソグラフ装置のフレーム1に伝達されず、バランシングユニットの移動にほ ぼ完全に変換されるため、フレーム1はこのような反作用力で生ずるはずの機械 的振動をほとんど受けないようになる。従って、サブストレートホルダ5を合焦 ユニット7及びマスクホルダ9に対して位置決めすることができる精度はこのよ うな機械的振動に悪影響を受けない。上述の慣性反作用補償効果は位置決め装置 3の移動自在ユニットの移動可能な質量の値に無関係である。この結果、処理す る半導体サブストレート23の質量変動も反作用補償効果に影響せず、反作用補 償効果は処理すべき半導体サブストレート23毎及び半導体サブストレートタイ プ毎に最適となる。 上述したように、支持体43は2個のXアクチュエータ45,47及びYアク チュエータ49のための共通のバランシング(釣り合い)ユニットを構成する。 支持体43はキャリヤ67の上側表面69上にスタティック(静力学的)ガス軸 受71によって案内され、共通のバランシングユニットは上側表面69に沿って Xアクチュエータ45,47の反作用力の下にX方向平行に移動可能となり、ま た上側表面69に沿ってYアクチュエータ49の反作用力の下にY方向平行に移 動可能となる。2個の異なる方向の慣性反作用力補償はこのように簡単の構造に よって得られる。更に、支持体43はZ方向に平行に指向する回転軸線の周りに 上側表面69上で回転自在にし、これにより、2個のXアクチュエータ45,4 7が互いに逆向きに作用し、サブストレートホルダ5をZ軸線に平行な回転軸線 の周りに回転させるときに生ずる反作用モーメントにも補償することができるよ うになる。しかし、以下に説明するように、起こりうる支持体43の回転は以下 に説明するように利用しない。更に、上述の簡単な構造は支持体43が二重の機 能を持つということからも得られる。実際、支持体43はサブストレートホルダ 5を移動自在に案内する支持体をなす。更に、支持体43は位置決め装置3の慣 性反作用力補償を得るためのバランシングユニットをもなす。 上述したように、支持体43はキャリヤ67の上側表面69上をスタティック ガス軸受71によって案内される。これにより、上側表面69上の支持体43の ほぼ摩擦のない案内が得られ、反作用力及び位置決め装置3の慣性反作用力補償 の下での支持体43の移動は支持体43及び上側表面69巻に生ずる摩擦力によ って干渉されない。重力は別として他の外力はサブストレートホルダ5及び支持 体43を有する位置決め装置3にはほとんど作用しないため、位置決め装置3に は3個のいわゆるドリフト(漂動)防止アクチュエータ73,74及び77を設 け、これらドリフト(漂動)防止アクチュエータ73,74及び77を図2での み線図的に示し、図4で詳細に説明する。ドリフト(漂動)防止アクチュエータ 73,74及び77をキャリヤ67に取り付け、ドリフト防止アクチュエータ7 3,75が支持体43に対してX方向に平行なドリフト阻止力を発生するように し、またドリフト防止アクチュエータ77がY方向に平行なドリフト阻止力を支 持体43に対して発生するようにする。ドリフト防止アクチュエータ73,75 ,77は図示しない制御ユニットにより制御し、この制御ユニットにはやはり図 示しない位置センサを設け、このセンサによってX方向及びY方向に平行な支持 体43の平均位置を測定するようにする。ドリフト防止アクチュエータ73,7 5,77は、支持体43がX方向及びY方向に平行なほぼ一定の平均位置をとる よう制御する。ドリフト防止アクチュエータ73,75,77を使用することに よって、支持体43がキャリヤ67の端縁に向かってドリフト(漂動)するのを 阻止し、この端縁においては支持体43は外部干渉力の作用の下に移動の自由度 が制限される。例えば、キャリヤ67の上側表面69が完全に水平に位置決めさ れていない場合にこのような外部干渉力は発生し、この結果、上側表面69に平 行な重力の僅かな成分が支持体43に作用する。 図4に詳細に示すように、ドリフト防止アクチュエータ73,75,77の各 々はZ方向に平行な駆動軸81を有する電動サーボモータ79により構成する。 偏心ピース85を駆動軸81の端部83に固定し、駆動軸81に対して偏心した 位置に軸受ピン87を設ける。2個のローラ89,91を軸受ピン87の周りに 回転自在に支持する。X方向のためのドリフト防止アクチュエータ73,75の 偏心ローラ89,91をY方向に平行であり、支持体43に固定した2個の案内 レール93,95間に案内するとともに、Y方向のためのドリフト防止アクチュ エータ77の偏心ローラ89’,91’をX方向に平行であり、やはり支持体4 3に固定した2個の案内レール93’,95’間に案内する。偏心ローラ89, 91及び89’,91’が回転すると、ドリフト防止アクチュエータ73,75 及びドリフト防止アクチュエータ77は、それぞれ案内レール93,95に対し てX方向に平行なドリフト阻止力及び案内レール93’,95’に対してY方向 に平行なドリフト阻止力を発生する。作動中支持体43のドリフト運動を生ぜし める外部干渉力は比較的小さく、上述のドリフト阻止力も比較的小さく、従って 、ドリフト防止アクチュエータ73,75,77はリソグラフ装置のフレーム1 に 対して僅かな反作用力を発生するのみである。このような僅かな反作用力は作動 中にフレーム1を認知できる機械的振動を発生することにはならない。 Xアクチュエータ45,47又はYアクチュエータ49によりサブストレートホ ルダ5が移動する場合、Xアクチュエータ45,47及びYアクチュエータ49 は支持体43に反作用力だけげなく、反作用モーメントをも発生する。支持体4 3の重心は反作用力の下に移動する一方、支持体43は反作用モーメントの下に Z方向に平行であり、支持体43の重心を通過する回転軸線の周りに回転する。 サブストレートホルダ5をスタート位置から所定経路にわたり移動し、この経路 の端部でスタート位置に再び復帰する場合、支持体43の重心もサブストレート ホルダ5の経路の端部で支持体43の重心がサブストレートホルダ5の経路の起 点における初期位置に復帰する。支持体43のスタート位置と端部位置との間の 僅かな変位は、上述したようにドリフト防止アクチュエータ73,75,77を 使用することによって防止される。しかし、他の手段を講じない場合、サブスト レートホルダ5の経路の端部において、支持体43の重心を通過する回転軸線の 周りにの支持体43の回転角度を経路のスタート(起点)における回転軸線の周 りの支持体43の回転角度に対応しない。Xアクチュエータ45,47及びYア クチュエータ49の反作用モーメントの作用の下に支持体43のこのような回転 は好ましいものではなく、ドリフト防止アクチュエータ73,75,77の比較 的小さいドリフト阻止力では補償することができない。図3に示すように、支持 体43には支持体43の好ましくない回転を防止するための第1バランシング部 分97及び第2バランシング部分99を設ける。Xアクチュエータ45,47の 第2部分55,57を第1表面41を有する第1バランシング部分97に固定す る。第2バランシング部分99を、第1バランシング部分97の下側面に設けた 窪み103に配置したフライホイール101により構成する。第2バランシング 部分99は、第1バランシング部分97に対してZ方向に平行な回転軸線の周り に回転モータ105により回転可能にする。回転モータ105は、第1バランシ ング部分97に固定した第1部分109と、第2バランシング部分99に固定し た第2部分111により構成する。第2バランシング部分99が回転モータ10 5によって第1バランシング部分97に対して回転する場合、回転モータ105 の第2部分111は第2バランシング部分99に駆動モーメントを発生するとと もに、回転モータと105の第1部分109は第1バランシング部分97に反作 用モーメントを発生する。回転モータ105は図示しないまたXアクチュエータ 45,47及びYアクチュエータ49をも制御するリソグラフ装置の制御ユニッ トによって制御する。サブストレートホルダ5がXアクチュエータ45,47及 びYアクチュエータ49によって移動する場合、制御ユニットは、サブストレー トホルダ5の移動中支持体43の第1バランシング部分97に対してXアクチュ エータ45,47及びYアクチュエータ49によって生ずる反作用モーメントの 値を計算する。このようにして、回転モータ105は制御ユニットによって制御 され、回転モータ105の第1部分109は第1バランシング部分97に反作用 モーメントを発生し、この反作用モーメントの値はXアクチュエータ45,47 及びYアクチュエータ49の反作用モーメントの値に対応しかつXアクチュエー タ45,47及びYアクチュエータ49の反作用モーメントの方向とは逆向きの 向きを有する。Xアクチュエータ45,47及びYアクチュエータ49の反作用 モーメントはこのようにして回転モータ105の反作用モーメントによって補償 される。回転モータ105によって第2バランシング部分99に発生する駆動モ ーメントは第2バランシング部分99の回転軸線107の周りの回転に変換され てこの駆動モーメントはリソグラフ装置のフレーム1には伝達されず、従って、 フレーム1の好ましくない振動を生じない。 図2及び図3に示すように、支持体43の第1表面41は支持体43の4個の 隆起した壁113,115,117及び119により区画される。壁113,1 17のみが図3の断面で見える。隆起した壁113,115,117及び119 を使用することにより、位置決め装置3の移動可能ユニットの重心Z1及び位置 決め装置3のバランシングユニットの重心Z2は、Z方向に平行な方向に見たとき ほぼ同一のレベルの位置をとる。更に、Xアクチュエータ45,47及びYアク チュエータ49の駆動力FX,FY及び反作用力RX,RYは移動可能ユニットの重 心Z1及びX方向及びY方向に平行なバランシングユニットの重心Z2を通過する 平面上に存在する。駆動力FY及び反作用力RYのみを図3で示す。このようにし て、移動可能ユニット及びバランシングユニットには、それぞれ移動 可能ユニットの重心Z1を通過しかつZ方向に直交する軸線の周りの及びバラン シングユニットの重心Z2を通過しかつZ方向に直交する軸線の周りの力のモー メントは加わらない。このようなモーメントは好ましくない。即ち、このような モーメントはバランシングユニットの移動には変換されず、第1表面41及び第 2表面(上側表面69)を介してリソグラフ装置のフレーム1に伝達され、フレ ーム1に振動を発生することになるからである。隆起した壁113,115,1 17及び119を使用することにより、Z方向に平行に見てバランシングユニッ トの重心Z2の所要の位置を簡単かつ効果的に得ることができる。 上述の位置決め装置3において、2個のXアクチュエータ45,47の第2部 分55,57をバランシングユニット(支持体43)に固定し、Yアクチュエー タ49の第1部分59を移動自在ユニット(サブストレートホルダ5)に固定す る。更に、Yアクチュエータ49の第2部分61をXアクチュエータ45,47 の2個の第1部分51,53に固定する。このようにして、Yアクチュエータ4 9はX方向に平行にXアクチュエータ45,47によって全体的に移動可能にな る。Yアクチュエータ49の反作用はXアクチュエータ45,47を介して、X アクチュエータ45,47及びYアクチュエータ49に共通のバランシングユニ ットをなす支持体43に伝達される。しかし、本発明によれば、異なるタイプの Xアクチュエータ及び異なるタイプのYアクチュエータを使用する、若しくはX アクチュエータ及びYアクチュエータを異なる方法で位置決めする位置決め装置 にも適用できる。図5には本発明による第2の実施例の位置決め装置であり、上 述の位置決め装置3の代わりにリソグラフ装置に適用できる位置決め装置121 を示す。この位置決め装置121はヨーロッパ特許公開第0421527号に記 載されており、この特許公開公報には位置決め装置121の詳細及び動作が記載 されている。位置決め装置3のコンポーネントに対応する位置決め装置121の コンポーネントには図5において同一の参照符号を付して説明する。位置決め装 置121はやはり、リニアスピンドルモータとして構成した2個のXアクチュエ ータ45,47及びYアクチュエータ49を有する。Xアクチュエータ45,4 7の第2部分55,57を支持体43に固定するとともに、Yアクチュエータ4 9の第2部分61をXアクチュエータ45,47の第1部分51,53に固定ス ル。位置決め装置3と同様に、位置決め装置121には他の2個のXアクチュエ ータ123,125と他のYアクチュエータ127を設け、これらの他のアクチ ュエータは電磁ローレンツ力モータとして構成する。他のXアクチュエータ12 3,125は、それぞれサブストレートホルダ5に固定した第1部分129,1 31、及びYアクチュエータ49の第1部分59に固定した第2部分133,1 35を有する。他のYアクチュエータ127は、サブストレートホルダ5に固定 した第1部分137、及びYアクチュエータ49の第1部分59に固定した第2 部分139を有する。サブストレートホルダ5はX方向及びY方向に平行に比較 的大きな距離にわたり移動可能であり、この移動中他のXアクチュエータ123 ,125及び他のYアクチュエータ127のローレンツ力によってホルダ5はY アクチュエータ49の第1部分59と一緒に移動する。更に、サブストレートホ ルダ5は、他のXアクチュエータ123,125及び他のYアクチュエータ12 7によってYアクチュエータ49の第1部分59に対してX方向及びY方向に平 行に比較的僅かな距離にわたり比較的低い精度で移動し、またX方向及びY方向 に直交する回転軸線の周りに小さい角度にわたり回転することができる。サブス トレートホルダ5の位置は、このようにして、位置決め装置121によって第1 の粗いステップ及び第2の微細ステップで得ることができる。他のXアクチュエ ータ123,125及び他のYアクチュエータ127の反作用力はYアクチュエ ータ49及び2個のXアクチュエータ45,47を介して支持体43に伝達され 、この支持体は2個のXアクチュエータ45,47、Yアクチュエータ49、2 個の他のXアクチュエータ123,125及び他のYアクチュエータ127の共 通バランシングユニットを構成する。 図6には本発明による第3の実施例の上述の位置決め装置3の代わりにリソグ ラフ装置に適用可能な位置決め装置141を示す。このような位置決め装置14 1はヨーロッパ特許公開第0421527号に記載されており、この特許公開公 報には位置決め装置141の詳細及び動作が記載されている。上述の位置決め装 置121のコンポーネントに対応する位置決め装置141のコンポーネントは図 6において、同一の参照符号を付して説明する。位置決め装置141は、位置決 め装置121と同様に、リニアスピンドルモータとして構成した2個のXアクチ ュエータ45,47を有する。位置決め装置121とは異なり、位置決め装置1 41は、やはりリニアスピンドルモータとして構成した2個のYアクチュエータ 49,49’を設ける。2個のXアクチュエータ45,47の第2部分55,5 7及び2個のYアクチュエータの第2部分61,61’を支持体43に固定する 。Xアクチュエータ45,47の各々には対応の第2部分55,57に対してX 方向に平行に移動自在の第1部分51,53を設ける。Yアクチュエータ49, 49’には対応の第2部分61,61’に対してY方向に平行に移動自在の第1 部分59,59’を設ける。Xアクチュエータ45,47の第1部分51,53 をY方向に平行な2個の案内143,143’によって相互連結するとともに、 Yアクチュエータ49,49’の第1部分59,59’をX方向に平行な2個の 案内145,145’によって相互連結する。位置決め装置141は、位置決め 装置121と同様に、電磁ローレンツ力モータとして構成した2個の他のXアク チュエータ123,125及び他のYアクチュエータ127を有する。他のXア クチュエータ123、125の第1部分129,131及び他のYアクチュエー タ127の第1部分137をサブストレートホルダ5に固定する(図6には図面 をわかり易くするため図示しない)。他のXアクチュエータ123,125の第 2部分133,135及び他のYアクチュエータ127の第2部分139を共通 のキャリヤ147に固定し、このキャリヤ147をXアクチュエータ45,47 の案内143,143’に沿ってホイール149によって案内し、またYアクチ ュエータ49,49’の案内145,145’に沿ってホイール151により案 内する。他のXアクチュエータ123,125の第2部分133,135及び他 のYアクチュエータ127の第2部分139を、X方向に平行に見てXアクチュ エータ45,47の第1部分51,53にホイール149及び案内143,14 3’によって連結し、またY方向に平行に見てYアクチュエータ49,49’の 第1部分59,59’にホイール151及び案内145,145’によって連結 する。サブストレートホルダ5は、Xアクチュエータ45,47及びYアクチュ エータ49によってX方向及びY方向に平行に比較的大きい距離にわたりまた比 較的低い精度で移動することができ、またXアクチュエータ45,47の第1部 分51,53及びYアクチュエータ49,49’の第1部分59,59’に対し て、他の Xアクチュエータ123,125及び他のYアクチュエータ127のローレンツ 力によって一緒に移動する。更に、サブストレートホルダ5は、他のXアクチュ エータ123,125及び他のYアクチュエータ127によってXアクチュエー タ45,47の第1部分51,53及びYアクチュエータ49,49’の第1部 分59,59’に対してX方向及びY方向に平行に比較的小さい距離にわたりま た比較的高い精度で移動することができ、またX方向及びY方向に直交する回転 軸線の周りに小さい角度にわたり回転することができる。位置決め装置121と 同様に、位置決め装置141によれば、サブストレートホルダ5を2段階で位置 決めする即ち、第1の粗いステップと第2の微細なステップとにより位置決めす る。Xアクチュエータ45,47及びYアクチュエータ49,49’の反作用力 は支持体43に直接伝達される。X方向に平行な他のXアクチュエータ123, 125の反作用力は支持体43に案内143,143’を介して伝達されるとと もに、Y方向に平行な他のYアクチュエータ127の反作用力は支持体43に案 内145,145’及びYアクチュエータ49,49’を介して伝達される。こ のようにして、支持体43は、位置決め装置141において、2個のXアクチュ エータ45,47、Yアクチュエータ49、2個の他のXアクチュエータ123 ,125及び他のYアクチュエータ127のための共通のバランシングユニット を構成する。 上述したように、位置決め装置2,121,141のXアクチュエータ45, 47の第2部分55,57はバランシングユニット(支持体43)に直接固定す る。しかし、位置装置3,121,141において、Xアクチュエータ45,4 7の第1部分51,53は移動自在ユニット(サブストレートホルダ5)には直 接連結しない。位置決め装置3におけるXアクチュエータ45,47の第1部分 51,53に加わる駆動力はYアクチュエータ49の第2部分61及び第1部分 59を介してサブストレートホルダ5に伝達され、Xアクチュエータ45,47 の第1部分51,53はX方向に平行にYアクチュエータ49を介して移動自在 ユニットに連結される。従って、請求の範囲に使用する「X方向に平行に見て… 連結した」及び「Y方向に平行に見て…連結した」の表現は、一方の部分を他方 の部分に直接固定した構造、並びに一方の部分を他方の部分に直接ではないが両 者間に機械的又は他の何らかの物理的結合を生じ、関連の方向に平行な両者間の 力の結合を生ずる構造を意味するものとする。従って、例えば、位置決め装置3 におけるYアクチュエータ49の第2部分61は、Y方向に見て即ち、Xアクチ ュエータ45,47の第1部分51,53及び第2部分55,57を介してバラ ンシングユニット(支持体43)に結合されており、Y方向に平行なYアクチュ エータ49の反作用力をバランシングユニットに伝達することができる。位置決 め装置141においては、例えば、Xアクチュエータ45,47の第1部分51 ,53はX方向に平行に見て即ち、案内143,143’、ホイール149、共 通キャリヤ147及び他のXアクチュエータ123、125のローレンツ力を介 して移動自在ユニット(サブストレートホルダ5)に連結され、X方向に平行な Xアクチュエータ45,47の駆動力が移動自在ユニットに伝達される。 本発明による位置決め装置は単に製造中の半導体サブストレートを「ステップ アンドリピート」原理で露光するリソグラフ装置例えば、図1に示すリソグラフ 装置に使用することができるだけでなく、製造中の半導体サブストレートをいわ ゆる「ステップアンドスキャン」原理で露光するリソグラフ装置にも使用するこ とができる。「ステップアンドスキャン」原理で動作するリソグラフ装置におい て、マスクホルダは例えば、X方向に他の位置決め装置によって合焦ユニットに 対して移動することができる。露光ステップ中に、露光すべき半導体サブストレ ート及びマスクは合焦ユニットに対してX方向に平行に同期して移動し、マスク をX方向に平行にスキャン(走査)し、スキャン移動において、半導体サブスト レートの個別のフィールド上にマスクパターンを結像する。マスク及び半導体サ ブストレートの一回のスキャン移動後に、半導体サブストレートの次のフィール ドは合焦ユニットに対する所定位置に送られ、次のスキャン移動を行う際にマス ク及び半導体サブストレートは露光される。マスク上のパターンは半導体サブス トレート上に縮尺で結像されるため、露光中半導体サブストレートよりも合焦ユ ニットに対して高速で移動すべきであり、マスクの速度と半導体サブストレート の速度の比は合焦ユニットの縮尺率に対応する。この結果、リソグラフ装置にお いて、サブストレートホルダを移動可能にする位置決めユニットの駆動力よりも マスクホルダを移動可能にする他の位置決めユニットの駆動力を相当大きくする のが一般的である。 図7には「ステップアンドスキャン」原理で動作するリソグラフ装置のマスク ホルダを移動するに好適な他の位置決め装置153を線図的に示す。このような リソグラフ装置は、例えば、図1に示すリソグラフ装置のマスクホルダ9の代わ りに以下に説明する他の位置決め装置153を使用する。図7に示すように、他 の位置決め装置153には2個のリニアXアクチュエータ155,157を設け 、それぞれX方向に平行な対応の第2部分163,165に対してX方向に平行 な駆動力の作用の下に移動自在の第1部分159,161を設ける。第1部分1 59,161をマスクホルダ167に固定し、このマスクホルダ167にはマス クのための支持面169及び中心光路171を設け、またスタティックガス軸受 によりX方向に平行な第1案内173に沿って案内される。第2部分163,1 65はソリッド対向質量(カウンタマス)として構成した他の共通バランシング ユニット175に固定する。バランシングユニット175及びXアクチュエータ 155,157の第2部分163,165は、X方向に平行でありかつリソグラ フ装置のフレーム1にスタティックガス軸受177(図7には線図的にのみ示す )によって固定された2個の他の案内179,179’に沿ってほぼ摩擦なしに 案内される。動作中マスクホルダ167をX方向に平行にリニアXアクチュエー タ155,157により移動するとき、第2部分163,165に加わるXアク チュエータ155,157の反作用力は他のバランシング装置175に伝達され 、この他のバランシングユニット175の他の案内179,179’に沿う移動 に変換される。このようにして、サブストレートホルダ5の位置決め装置3,1 21,141と同様にして、Xアクチュエータ155,157の反作用力がリソ グラフ装置のフレーム1に伝達されるのを防止する。この他の位置決め装置15 3には、位置決め装置121、141と同様に、マスクホルダ167に固定した 第1部分及びXアクチュエータ155,157の第1部分159,161に固定 した第2部分を有する他のXアクチュエータを設けることができる。この場合、 マスクホルダ167の2段階の位置決め即ち、第1の粗いステップ及び第2の微 細なステップの位置決めはこのようにして他の位置決め装置153でも得ること ができる。 上述の本発明によるリソグラフ装置は集積電子半導体回路の製造における半導 体サブストレート露光に使用することができる。このようなリソグラフ装置はサ ブミクロンのレンジの微細寸法を有する構体を設けた製品の製造にも使用でき、 このリソグラフ装置によってマスクパターンをサブストレート上に結像する。こ の製品例としては集積光学系の構体、又は磁気ドメインメモリの伝導及び検出パ ターン、又は液晶ディスプレイパターンの構体がある。 本発明による位置決め装置はリソグラフ装置のみならず、物体又はサブストレ ートを正確に位置決めする必要がある他の装置にも使用することができる。この ような例としては、測定装置又は走査装置に対して物体又は材料を正確に位置決 め又は移動すべき物体又は材料分析又は測定装置がある。本発明による位置決め 装置の他の用途としては、ワークピース例えば、レンズをサブミクロンのレンジ の精度で加工することができる精密工作機械がある。この場合、本発明による位 置決め装置は、回転するツールに対してワークピースを位置決めしたり、回転す るワークピースに対してツールを位置決めするのに使用する。 上述の本発明による位置決め装置2,121,141においては、バランシン グユニットは第1表面41を設けた支持体43をにより構成し、移動自在ユニッ ト(サブストレートホルダ5)は第1表面上を案内する。最後に、本発明によれ ば、バランシングユニット及び第1表面を有する支持体を位置決め装置の個別の 構成部材とすることもできる。上述したように、支持体43の支持及びバランシ ング(釣り合い)の組み合わせ機能のため、位置決め装置3,121,141に おいて簡単かつ効果的な構造が得られる。
───────────────────────────────────────────────────── 【要約の続き】 械的振動が減少する。特別な実施例においては、バラン シングユニットは、支持体(43)を有し、この支持体 (43)はX方向及びY方向に平行に延在する表面(4 1)を有し、この表面(41)に沿って移動可能ユニッ トが案内される。この位置決め装置(3,121,14 1)は、半導体サブストレートを製造するためのリソグ ラフ装置のサブストレートホルダ(5)の移動及び位置 決めに使用することができる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.ベースと、このベースに対してXアクチュエータによってX方向に平行な第 1案内に沿って移動可能な移動自在ユニットとを設けた位置決め装置であって 、前記Xアクチュエータは、互いに相対移動することができかつ動作中に互い に駆動力を発生する第1部分及び第2部分を有し、X方向に平行に見てXアク チュエータの第1部分を移動自在ユニットに連結し、またX方向に平行に見て アクチュエータの第2部分をバランシングユニットに連結し、このバランシン グユニットを前記ベースに対してこのベースに固定しかつX方向に平行に延在 する第2案内に沿って移動自在にした位置決め装置において、前記移動自在ユ ニットを前記ベースに対してYアクチュエータによってY方向に平行な前記第 1案内に沿って移動可能にし、前記第1案内には、X方向及びY方向に平行な 第1表面を設け、前記Yアクチュエータには互いに相対移動して動作中に互い に駆動力を発生する第1部分及び第2部分を設けるとともに、Yアクチュエー タの第2部分をY方向に平行に見て前記バランシングユニットに連結し、前記 第2案内にはX方向及びY方向に平行な第2表面を設けたことを特徴とする位 置決め装置。 2.前記バランシングユニットを前記第1表面を有する支持体により構成した請 求項1記載の位置決め装置。 3.移動自在ユニットの重心及びバランシングユニットの重心をX方向及びY方 向に直交する方向に見て同一レベルの位置に配置した請求項1又は2記載の位 置決め装置。 4.前記支持体は前記第1表面を区画する少なくとも1個の隆起した壁を有する ものとして構成した請求項2に従属する請求項3記載の位置決め装置。 5.前記バランシングユニットをスタティックガス軸受により第2案内に沿って 案内した請求項1乃至4のうちのいずれか一項に記載の位置決め装置。 6.バランシングユニットは、第1バランシング部分及び第2バランシング部分 を有し、第1バランシング部分をXアクチュエータの第2部分及びYアクチュ エータの第2部分に固定し、前記第2バランシング部分を前記第1バランシン グ部分に対してX方向及びY方向に直交する回転軸線の周りに回転モータによ って回転自在にし、前記回転モータには、互いに相対回転して動作中互いに駆 動トルクを発生する第1部分及び第2部分を設け、前記回転モータの第1部分 を第1バランシング部分に固定し、前記回転モータの第2部分を第2バランシ ング部分に固定した請求項1乃至5のうちのいずれか一項に記載の位置決め装 置。 7.Xアクチュエータの第2部分をバランシングユニットに固定し、Yアクチュ エータの第2部分をXアクチュエータの第1部分に固定し、X方向及びY方向 に平行に見てYアクチュエータの第1部分を移動自在ユニットに連結した請求 項1乃至6のうちのいずれか一項に記載の位置決め装置。 8.位置決め装置に他のXアクチュエータ及び他のYアクチュエータを設け、こ の他のXアクチュエータの第1部分及び他のYアクチュエータの第1部分を移 動自在ユニットに固定するとともに、他のXアクチュエータの第2部分及び他 のYアクチュエータの第2部分をYアクチュエータの第1部分に固定した請求 項7記載の位置決め装置。 9.前記Xアクチュエータの第2部分及びYアクチュエータの第2部分を前記バ ランシングユニットに固定した請求項1乃至6のうちのいずれか一項に記載の 位置決め装置。 10.位置決め装置に他のXアクチュエータ及び他のYアクチュエータを設け、こ の他のXアクチュエータの第1部分及び他のYアクチュエータの第1部分を移 動自在ユニットに固定し、他のXアクチュエータの第2部分及び他のYアクチ ュエータの第2部分を、X方向に平行に見てXアクチュエータの第1部分に連 結し、Y方向に平行に見てYアクチュエータの第1部分に連結した請求項7記 載の位置決め装置。 11.放射源、マスクホルダ、合焦ユニット、及び位置決め装置を固定するフレー ムを設けたリソグラフ装置であって、前記合焦ユニットは主軸を有し、前記位 置決め装置に前記合焦ユニットに対して前記主軸に直交するX方向に平行に、 またX方向及び主軸に直交するY方向に平行に移動自在のサブストレートホル ダを設けたリソグラフ装置において、前記位置決め装置を請求項1乃至10の うちのいずれか一項に記載の位置決め装置とし、前記位置決め装置の移動自在 ユニットをサブストレートホルダを設け、前記位置決め装置のベースを前記フ レームに固定したことを特徴とするリソグラフ装置。 12.前記マスクホルダを前記合焦ユニットに対してX方向に平行に他の位置決め 装置によって移動可能にした請求項11記載のリソグラフ装置。 13.前記他の位置決め装置は、互いに相対移動可能でありかつ動作中に駆動力を 発生する第1部分及び第2部分を有する他のXアクチュエータを設け、この他 のXアクチュエータの前記第1部分をX方向に平行に見てマスクホルダに連結 し、前記他のXアクチュエータの前記第2部分をX方向に平行に見て他のバラ ンシングユニットに連結し、前記他のバランシングユニットを前記フレームに 固定しかつX方向に平行な他の案内に沿ってフレームに対して移動自在にした 請求項12記載のリソグラフ装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018136305A (ja) * 2016-12-14 2018-08-30 ブルーカー アーイクスエス ゲーエムベーハーBruker AXS GmbH ゴニオメータのディテクタサークルにおいてモータ駆動トルク補償を行なうx線装置

Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100521704B1 (ko) * 1997-09-19 2005-10-14 가부시키가이샤 니콘 스테이지장치, 주사형 노광장치 및 방법, 그리고 이것으로제조된 디바이스
US20010003028A1 (en) 1997-09-19 2001-06-07 Nikon Corporation Scanning Exposure Method
KR20010030903A (ko) 1997-11-12 2001-04-16 오노 시게오 투영노광장치
JP3387809B2 (ja) * 1998-02-18 2003-03-17 キヤノン株式会社 露光装置及びデバイス製造方法
AU4061099A (en) * 1998-06-17 2000-01-05 Nikon Corporation Exposure method and exposure apparatus
JP4146952B2 (ja) 1999-01-11 2008-09-10 キヤノン株式会社 露光装置およびデバイス製造方法
JP2001118773A (ja) 1999-10-18 2001-04-27 Nikon Corp ステージ装置及び露光装置
DE60032568T2 (de) * 1999-12-01 2007-10-04 Asml Netherlands B.V. Positionierungsapparat und damit versehener lithographischer Apparat
TWI264617B (en) 1999-12-21 2006-10-21 Asml Netherlands Bv Balanced positioning system for use in lithographic apparatus
EP1111469B1 (en) * 1999-12-21 2007-10-17 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus with a balanced positioning system
US6836093B1 (en) 1999-12-21 2004-12-28 Nikon Corporation Exposure method and apparatus
TW546551B (en) 1999-12-21 2003-08-11 Asml Netherlands Bv Balanced positioning system for use in lithographic apparatus
EP1111470B1 (en) * 1999-12-21 2007-03-07 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus with a balanced positioning system
JP4474020B2 (ja) * 2000-06-23 2010-06-02 キヤノン株式会社 移動装置及び露光装置
US6757053B1 (en) 2000-11-16 2004-06-29 Nikon Corporation Stage assembly including a reaction mass assembly
US6603531B1 (en) * 2000-11-16 2003-08-05 Nikon Corporation Stage assembly including a reaction assembly that is connected by actuators
US6958808B2 (en) * 2000-11-16 2005-10-25 Nikon Corporation System and method for resetting a reaction mass assembly of a stage assembly
US6885430B2 (en) * 2000-11-16 2005-04-26 Nikon Corporation System and method for resetting a reaction mass assembly of a stage assembly
US6593997B1 (en) * 2000-11-16 2003-07-15 Nikon Corporation Stage assembly including a reaction assembly
US6987558B2 (en) 2001-01-16 2006-01-17 Nikon Corporation Reaction mass for a stage device
US6927838B2 (en) 2001-02-27 2005-08-09 Nikon Corporation Multiple stage, stage assembly having independent stage bases
US20020117109A1 (en) * 2001-02-27 2002-08-29 Hazelton Andrew J. Multiple stage, stage assembly having independent reaction force transfer
EP1243969A1 (en) * 2001-03-20 2002-09-25 Asm Lithography B.V. Lithographic projection apparatus and positioning system
US6844694B2 (en) 2001-08-10 2005-01-18 Nikon Corporation Stage assembly and exposure apparatus including the same
US6597435B2 (en) 2001-10-09 2003-07-22 Nikon Corporation Reticle stage with reaction force cancellation
US6927505B2 (en) * 2001-12-19 2005-08-09 Nikon Corporation Following stage planar motor
US6724466B2 (en) 2002-03-26 2004-04-20 Nikon Corporation Stage assembly including a damping assembly
US7061577B2 (en) 2002-03-26 2006-06-13 Nikon Corporation Image adjustor including damping assembly
US6906786B2 (en) * 2002-06-07 2005-06-14 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
EP1369745B1 (en) * 2002-06-07 2013-02-27 ASML Netherlands B.V. Lihographic apparatus and device manufaturing method
US20040119436A1 (en) * 2002-12-23 2004-06-24 Michael Binnard Method and apparatus for reducing countermass stroke with initial velocity
JP2004253741A (ja) * 2003-02-21 2004-09-09 Sumitomo Eaton Noba Kk 移動装置及び半導体製造装置
KR101288767B1 (ko) 2003-02-26 2013-07-23 가부시키가이샤 니콘 노광 장치, 노광 방법 및 디바이스 제조 방법
KR20180054929A (ko) 2003-04-11 2018-05-24 가부시키가이샤 니콘 액침 리소그래피 머신에서 웨이퍼 교환동안 투영 렌즈 아래의 갭에서 액침 액체를 유지하는 장치 및 방법
SG10201803122UA (en) 2003-04-11 2018-06-28 Nikon Corp Immersion lithography apparatus and device manufacturing method
TWI518742B (zh) 2003-05-23 2016-01-21 尼康股份有限公司 A method of manufacturing an exposure apparatus and an element
US20040252287A1 (en) * 2003-06-11 2004-12-16 Michael Binnard Reaction frame assembly that functions as a reaction mass
EP2275869B1 (en) 2003-06-19 2014-01-15 Nikon Corporation Exposure apparatus and device manufacturing method
US7248339B2 (en) * 2003-07-04 2007-07-24 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
WO2005006418A1 (ja) 2003-07-09 2005-01-20 Nikon Corporation 露光装置及びデバイス製造方法
EP1653501B1 (en) 2003-07-28 2012-09-19 Nikon Corporation Exposure apparatus, device producing method, and exposure apparatus controlling method
US7221433B2 (en) 2004-01-28 2007-05-22 Nikon Corporation Stage assembly including a reaction assembly having a connector assembly
JP2005216132A (ja) * 2004-01-30 2005-08-11 Sumitomo Eaton Noba Kk 移動装置の制御方法、及び移動装置の連動装置、及び移動装置の連動方法、及び半導体製造装置、及び液晶製造装置、及びメカニカルスキャンイオン注入装置
US7589822B2 (en) 2004-02-02 2009-09-15 Nikon Corporation Stage drive method and stage unit, exposure apparatus, and device manufacturing method
US7224432B2 (en) * 2004-05-14 2007-05-29 Canon Kabushiki Kaisha Stage device, exposure apparatus, and device manufacturing method
KR101422964B1 (ko) 2004-06-09 2014-07-24 가부시키가이샤 니콘 노광 장치 및 디바이스 제조 방법
ATE441937T1 (de) 2004-07-12 2009-09-15 Nikon Corp Belichtungsgerät und bauelemente- herstellungsverfahren
JP4677987B2 (ja) * 2004-07-21 2011-04-27 株式会社ニコン 露光方法及びデバイス製造方法
US7193683B2 (en) * 2005-01-06 2007-03-20 Nikon Corporation Stage design for reflective optics
KR20080066836A (ko) * 2005-11-09 2008-07-16 가부시키가이샤 니콘 노광 장치, 노광 방법 및 디바이스 제조 방법
KR100745371B1 (ko) * 2006-10-23 2007-08-02 삼성전자주식회사 자기부상형 웨이퍼 스테이지
US8164736B2 (en) * 2007-05-29 2012-04-24 Nikon Corporation Exposure method, exposure apparatus, and method for producing device
NL2002935A1 (nl) * 2008-06-27 2009-12-29 Asml Netherlands Bv Object support positioning device and lithographic apparatus.
JP4739442B2 (ja) * 2009-06-09 2011-08-03 キヤノン株式会社 ステージ装置、及びステージ装置の制御方法、それを用いた露光装置及びデバイスの製造方法
RU2633302C2 (ru) * 2012-10-09 2017-10-11 Конинклейке Филипс Н.В. Позиционирующее устройство, управляющее устройство и способ управления
JP6261967B2 (ja) * 2013-12-03 2018-01-17 株式会社ディスコ 加工装置
DE102018210996A1 (de) * 2018-07-04 2020-01-09 Carl Zeiss Smt Gmbh Abstützung einer optischen einheit

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4676649A (en) * 1985-11-27 1987-06-30 Compact Spindle Bearing Corp. Multi-axis gas bearing stage assembly
US5208497A (en) * 1989-04-17 1993-05-04 Sharp Kabushiki Kaisha Linear driving apparatus
NL8902471A (nl) * 1989-10-05 1991-05-01 Philips Nv Tweetraps positioneerinrichting.
NL9100202A (nl) * 1991-02-05 1992-09-01 Asm Lithography Bv Lithografische inrichting met een hangende objecttafel.
NL9100421A (nl) * 1991-03-08 1992-10-01 Asm Lithography Bv Ondersteuningsinrichting met een kantelbare objecttafel alsmede optisch lithografische inrichting voorzien van een dergelijke ondersteuningsinrichting.
JP3277581B2 (ja) * 1993-02-01 2002-04-22 株式会社ニコン ステージ装置および露光装置
US5623853A (en) * 1994-10-19 1997-04-29 Nikon Precision Inc. Precision motion stage with single guide beam and follower stage

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018136305A (ja) * 2016-12-14 2018-08-30 ブルーカー アーイクスエス ゲーエムベーハーBruker AXS GmbH ゴニオメータのディテクタサークルにおいてモータ駆動トルク補償を行なうx線装置

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