JP2000258483A

JP2000258483A - 実時間測定値の集合を適応学習するための方法及び自動試験システム

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Publication number: JP2000258483A
Application number: JP2000053749A
Authority: JP
Inventors: T Crook David; デイヴィッド・ティー・クルーク; K List Stephen; スティーブン・ケー・リスト; P Rozamu Stephen; ステファン・ピー・ロザム; L Williamson Eddy; エディー・エル・ウイリアムソン
Original assignee: Agilent Technologies Inc
Current assignee: Agilent Technologies Inc
Priority date: 1999-03-01
Filing date: 2000-02-29
Publication date: 2000-09-22
Also published as: EP1039389A1; DE60002518T2; EP1039389B1; DE60002518D1; US6324486B1

Abstract

(57)【要約】【課題】試験ランに関して実時間試験測定の回数を減少
させる。【解決手段】試験構成回路（１０）は被試験部品（１０
８）から実時間測定値（４２）の現集合を取得する。結
果解析器（２０）は、実時間測定値の現集合と実時間測
定値の現集合に含まれていない必要な測定値の代わりの
履歴測定値（３４）を用いて、前記被試験部品の部品値
を計算し、前記部品値が所定の試験限界内に含まれるか
否かを判定し、前記計算された部品値が前記所定の試験
限界内に含まれないと再試行信号（２６）を発する。測
定結合プロセッサ（３０）は再試行信号（２６）に応じ
て、実時間測定値の現再試行集合（３６）を選択する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、自動試験
技法に関するものであり、とりわけ、実時間で行う測定
回数を減らすため、自動試験システムにおける試験誤差
源を適応学習する方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】自動試験装置は、手動で実施される可能
性のある多種多様な試験を、より高速及び／またはより
低コストで実施するために利用される。試験の自動化に
は、一般に、被試験装置からの測定値に計算を施し、被
試験装置が許容可能な試験限界内か、または、限界外か
を判定することがなされる。例えば、電子回路を大規模
生産する場合、回路基板ランの各基板毎に、自動試験装
置を用いて、試験が実施される。ランは、異なるタイプ
のアセンブリの干渉を受けない、同タイプのアセンブリ
の試験系列である。典型的な自動回路テスタには、試験
構成回路、ベッド・オブ・ネイル固定具、及び、１組の
プログラマブル・リレー・マトリックス及び内部測定バ
スが含まれている。被試験回路は、ネールが被試験回路
のノードに電気的に接続するように、ベッド・オブ・ネ
ール固定具に配置される。被試験回路から試験構成回路
までの測定経路は、その経路内の適合するリレーを閉じ
るようにプログラムして接続される。測定経路内のリレ
ーが閉じている間、試験構成回路は、実際の測定を行う
ように設定され、準備される。リレーが閉じた後、測定
値が被試験回路から読み取られる。測定値に基づいて計
算を行い、被試験回路が、その試験に合格したか否かが
判定される。

【０００３】先行技術において、自動テスタは、実時間
で必要な各測定値を取得する、すなわち、試験の合／否
を判定する計算において必要とされる各測定値は、同じ
試験ランの一部である被試験装置の各試験毎に物理的に
取得される。しかし、多くの用途では、必要とされる測
定値のいくつかは、時間が経過してもあまり変化しな
い。これは、一般に、特定の試験ランについて一定のま
まであるシステム・レベルの誤差源に起因する可能性が
ある。これらの安定した誤差源を測定すると、不必要な
試験時間のオーバヘッドが生じることになる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、被試験装置のランに関して実時間試験測定の回数を
減少させるための方法を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】先行技術による自動試験
技法に対する本発明の改良点は、いくつかの方法で実現
される。第１に、試験ラン間において、あるいは、時間
の経過に伴ってあまり変化しない誤差源の補償に必要な
測定値が、測定され、後続の試験ランにおいて、被試験
部品の値の計算に用いられる履歴測定値として記憶され
る。試験ラン間において、あるいは、時間の経過に伴っ
て大きく変化する上述の誤差源の補償に必要な測定値
は、試験毎に、実時間で測定される。

【０００６】第２に、誤差源の補償は、試験毎に異なる
ので、誤差源の補償に必要な測定値も、試験毎に異な
る。従って、誤差補償及び試験計算のために測定され、
利用される履歴測定値は、各個別試験毎に記憶される。

【０００７】第３に、誤差補償及び試験計算に利用され
る記憶された履歴測定値は、第１に、それらが被試験部
品の値計算に影響を及ぼし始めるので、第２に、同じ記
憶された履歴測定値が被試験部品の値計算に用いられる
物理的回数が、時間の経過につれて増大し始めるので、
周期的に更新される（すなわち、再測定され、再記憶さ
れる）。

【０００８】そのため、本発明の技法では、測定値、従
って、時間と共に変化しない誤差源を有効に適応学習す
る。誤差源補償に用いられるどの測定値が時間と共に変
化しないかを適応学習し、その測定値の代わりに履歴測
定値を用いることによって、実時間で行う必要のある測
定回数が大幅に減少し、従って、試験速度（すなわち、
その実行時間）が大幅に改善される。

【０００９】本発明によれば、実時間で測定される実時
間測定値の集合が、適応学習技法を用いることによって
減少する。まず、実時間測定値の現集合が選択される。
実時間測定値の現集合は、試験の合格または不合格を判
定するのに必要とされる、必要な測定値の全集合の部分
集合である。実時間測定値の現集合が選択されると、こ
れらの測定値が、被試験回路から実時間で測定される。
実時間測定値の現集合に含まれていない、必要な測定値
のそれぞれに関する履歴測定値からなる履歴測定値の現
集合の値が取得される。測定された実時間測定値の現集
合と、実時間測定値の現集合に含まれていない、必要な
測定値の代わりに用いられる履歴測定値の現集合に基づ
いて、前記試験の合格または不合格に関する判定が下さ
れる。試験に不合格になると、実時間測定値の現集合と
は異なる、必要な測定値の部分集合からなる実時間測定
値の現再試行集合が選択される。次に、実時間測定値の
現再試行集合が、実時間で測定される。実時間測定値の
現再試行集合に含まれていない、必要な測定値のそれぞ
れに対応する履歴測定値からなる履歴測定値の現再試行
集合が、取得され、測定された実時間測定値の現再試行
集合と、実時間測定値の現再試行集合に含まれていな
い、必要な測定値の代わりに用いられる履歴測定値の現
再試行集合に基づいて、前記試験の合格または不合格に
関する判定が下される。

【００１０】実施態様の１つでは、実時間測定値の現再
試行集合と履歴測定値の現再試行集合を利用して、試験
に不合格になると、実時間測定値の次の再試行集合が選
択され、これらの集合を用いて、試験が再実行される。
このプロセスは、試験に合格するか、または、実時間測
定値の現再試行集合が、必要な測定値の全集合から構成
されることになるまで反復することが可能である。試験
の実行中に、試験に合格すると、現再試行集合をなす実
時間測定値のそれぞれに対応する履歴測定値を、測定さ
れた対応する実時間測定値によって更新することが可能
になる。さらに、試験の再実行中に、試験に合格する
と、実時間測定値の現集合は、次の被試験回路の試験に
おける利用に備えて、実時間測定値の現再試行集合に設
定することが可能になる。試験の再実行中に、試験に合
格すると実施が可能になるオプション機能は、実時間測
定値の新しい集合を決定し、実時間測定値の新しい集合
を実時間測定値の現集合として用いて、実時間測定値の
現集合を再評価することである。試験の再実行中に、試
験に合格すると実施が可能になるもう１つのオプション
機能は、履歴測定値の集合が、現測定値によって更新さ
れる監査機能である。

【００１１】

【発明の実施の形態】本発明では、実時間で行われる測
定回数を減らすことによって、自動試験を実施するのに
必要な時間を最適化する適応学習アルゴリズムが解説さ
れる。例示の実施態様については、ＰＣ基板におけるア
ナログ回路のイン・サーキット試験に関連して説明され
るが、もちろん、本発明は、試験の合格または不合格の
判定に複数の測定値が必要になるいかなる自動試験にも
適用される。

【００１２】本明細書で用いられる限りにおいて、「被
試験部品」という用語は、試験される回路の個別部品に
も、あるいは、試験される回路そのもの全体にまで及ぶ
試験される回路の複数部品にも適用されるものと理解す
べきである。必要とされる測定値は、被試験部品の値で
ある部品値の計算において必要とされ、用いられる測定
値である。実時間測定値は、部品値を計算するために、
その新たな読み取り値が収集される必要な測定値の部分
集合である。履歴測定値は、同じか、または、同様の被
試験部品の以前の読み取りから得られた測定値である。

【００１３】本明細書における本発明の説明は、自動ア
ナログ・イン・サーキット試験（すなわち、回路に電力
供給をおこなわずに実施される回路アセンブリ・部品の
試験）に関連して行われる。アナログ・イン・サーキッ
ト試験によって、アナログ部品値が指定の許容差内に含
まれるか否かとともに、部品のアナログ値の測定によっ
て、プリント回路（ＰＣ）基板におけるアナログ部品の
電気的接続が適正であるか検証される。電子回路の大規
模生産の場合、イン・サーキット試験は、一般に、ベッ
ド・オブ・ネール固定具またはロボット型フライング・
プローバを用いて実施される。当該技術者には既知のよ
うに、フライング・プローバは、ベッド・オブ・ネール
に取って代わって、特定の被試験部品を測定するため移
動するようにプログラム可能な１組のプローブである。
ベッド・オブ・ネール固定具／ロボット型フライング・
プローバは、現在試験中の回路の特定の部品に関連し
た、プリント回路（ＰＣ）基板におけるノードを探査
し、１組の刺激を加え、その応答を測定する。

【００１４】自動アナログ・イン・サーキット試験に対
する本発明の適用についてより深い理解が得られるよう
に、まず、アナログ・イン・サーキット試験構成につい
て説明を行う。図１に例示の典型的なアナログ・イン・
サーキット試験構成には、被試験部品１０８を探査し、
被試験部品１０８に関連した部品値の計算に必要な測定
値１２の集合を出力する試験構成回路１０が含まれてい
る。被試験部品１０８と試験構成回路１０を接続するた
め、試験構成回路１０に接続されたベッド・オブ・ネー
ル固定具を利用して、被試験部品１０８に関連したＰＣ
基板のノードが探査される。次に、被試験部品１０８に
既知の電圧を印加し、試験構成回路１０を電流・電圧変
換器として利用して、結果生じる電流を測定することに
よって、被試験部品１０８の測定値１２が得られる。結
果解析器２０は、部品値の計算に必要とされる、必要な
測定値のそれぞれに関する実時間測定値１２を利用し
て、部品値を計算し、被試験部品１０８が合格（すなわ
ち、計算値が指定の許容差レベル内である）か、また
は、不合格（すなわち、計算値が指定の許容差レベル外
である）かに関する表示２２を出力する。

【００１５】図２は、先行技術による試験構成回路１０
の一例１００である。試験構成回路１００は、「２線」
測定回路として知られている。試験構成回路１００に
は、正の入力端子１１６がアースに結合され、負の入力
端子１１８が入力ノード（I)１１０に結合された演算増
幅器１０２が含まれている。基準抵抗器Ｒ_ref１１２
が、演算増幅器１０２の入力ノード（I) １１０と出力
ノードＶ_o１１４の間に結合されている。未知のインピ
ーダンスＺ_xを有する被試験部品１０８が、入力ノード
（I) １１０と、刺激電圧源１０４によって既知の基準
電圧が供給される電源入力ノード（S)１０６との間に結
合されている。理想の演算増幅器回路を仮定して、試験
構成回路１００では、被試験部品１０８の未知のインピ
ーダンスＺ_xを通る電流が、基準抵抗器Ｒ_ref１１２を通
る電流に等しく、演算増幅器１０２によって、負の入力
端子１１８における仮想アースが維持されるものと仮定
されている。従って、理想の演算増幅器回路の場合、理
論的インピーダンス計算は、次の通りである：Ｚ_x＝−Ｒ_ref（Ｖ_s／Ｖ_o）（式１）抵抗器のようなアナログ抵抗成分の試験時には、精密Ｄ
Ｃ刺激電圧源１０４と出力ノードＶ_o１１４におけるＤ
Ｃ検出器の利用を駆使して、出力電圧の抵抗成分が求め
られる。コンデンサ及びインダクタのようなアナログ無
効分の試験時には、精密ＡＣ刺激電圧源１０４と出力ノ
ードＶ_o１１４における位相同期検出器の利用を駆使し
て、出力電圧の無効分が求められる。

【００１６】装置測定は、被試験部品１０８と並列のイ
ンピーダンスを導入するプリント回路（ＰＣ）基板によ
って複雑になる。被試験部品１０８と並列をなす経路に
接続されたこれら他のデバイスの影響によって、基本測
定に誤差を生じる可能性がある。結果として、ＰＣ基板
の回路に接続された部品の試験には、ガード法のような
特殊測定技法が必要になる可能性がある。さらに、イン
・サーキット測定のためＰＣ基板のノードを探査するた
めに用いられるベッド・オブ・ネール配線及びプロー
ブ、システム・リレー、及び、被試験部品１０８を試験
構成回路１００に接続するシステム・バスも、測定問題
を生じる可能性がある。バス・ワイヤは、被試験部品１
０８と直列をなすインピーダンスに相当する。これら
は、リード・インピーダンス誤差に分類される。システ
ム・リレーの熱起電力（ＥＭＦ）が、温度依存電圧源と
して生じる可能性がある。リレーのバイメタル接点によ
って、基本的熱電対素子が形成される。電流またはその
システムに関する他の熱源によって、これらの接点が加
熱されると、温度依存出力電圧（すなわち、熱オフセッ
ト）が発生する。これらは、電圧オフセット誤差に分類
される。

【００１７】上述の誤差源は、３つの主要タイプの誤差
源、すなわち、（１）電源電圧誤差、（２）ガード誤
差、及び、（３）電流測定誤差に分類することが可能で
ある。能動的または受動的検知及び／または高度測定法
から構成されるガード及びマルチ・ワイヤ測定のような
補償技法を用いて、これら３タイプの誤差源の影響が補
償される。

【００１８】図３には、ガード技法を用いて、並列抵抗
経路を遮断する３線試験測定構成回路２００が示されて
いる。試験構成回路２００は、被試験部品１０８が、ガ
ードの前で、並列インピーダンスＺ_sg１２０＋Ｚ_ig１２
６によって分岐されるという点を除けば、２線回路１０
０と同様である。並列経路の影響は、図３に示すように
ガード・バス１２４を接続することによって軽減され
る。ガード・バス１２４は、試験構成回路２００のアー
スに結合されて、インピーダンスＺ_igの両端を同じ電位
にする。Ｚ_igの両端間において電圧降下が生じないの
で、インピーダンスＺ_igを通る電流がなく、このため、
被試験部品１０８のインピーダンスＺ_xからの全電流が
強制的に基準抵抗Ｒ_ref１１２を流れる。従って、分路
部品Ｚ_sg１２０及びＺ_ig１２６が、被試験部品１０８の
インピーダンスＺ_xについて測定される値に影響を及ぼ
すことはない。

【００１９】低インピーダンス部品を測定する場合、２
つの測定バス（すなわち、電源バス（S)１０６と入力バ
ス（I)１１０）のリード・インピーダンスによって、測
定結果が影響される可能性がある。リード・インピーダ
ンスを補償するため、被試験部品１０８に４線式測定を
実施することが可能である。図４には、この技法が、先
行技術による４線式試験構成回路３００によって例示さ
れている。この試験構成回路３００は、被試験部品１０
８の両端の電圧が、電源センス・ノード（A）１０７と
入力センス・ノード（B)１１１において直接測定され、
さらに、基準抵抗Ｒ_ref１１２の両端の電圧が、入力セ
ンス・ノード（I) １１０と出力ノードＶ _o１１４におい
て測定されるという点を除けば、２線回路１００と同様
である。このため、リード・インピーダンスＺ_lead1１
０５及びＺ_lead2１３０の影響、及び、固定具インピー
ダンス、リレー・インピーダンス、及び、他の試験構成
回路の内部インピーダンスによって生じる他の影響が除
去される。

【００２０】４線式試験構成回路３００における４線式
測定では、図５に示すインピーダンスＺ_ig１２６を通る
電流を除去するのに十分ではない。これは、並列経路Ｚ
_sg＋Ｚ_igのインピーダンスが、試験受ける１０８に関す
るインピーダンスＺ_xよりはるかに小さい場合である。
図５に示すＺ_sg１２０を通る大電流によって、ガードバ
ス１２４（図５に示す）の両端に誤差電圧が生じ、この
ため、Ｚ_ig１２６を通る誤差電流が発生する。結果生じ
る誤差のため、３線式ガード及び４線式測定でうまく試
験できる部品及び回路構成の範囲が制限される。これら
の誤差は、図５に示すように、電源センス・ノード（A)
１０７、入力センス・ノード（B)１１１、及び、追加ガ
ードセンス・バス（Ｌ）１２８を利用し、４線式測定と
同様の、前述の追加の電圧測定を行うことによって最小
限にとどめることが可能である。

【００２１】現在のところ、抵抗器の試験結果は、前述
の誤差源を補償するため、８つの測定を実施することに
よって改良される。８つの測定には、それぞれ、電源Ｖ
_s１０４をオンにして１回づつ、次に、電源Ｖ_s１０４を
オフにしてもう１回づつ測定される、電源ソース・ノー
ド（A)１０７、入力センス・ノード（B)１１１、入力ノ
ード（I)１１０、及び、出力ノードＶ_o１１４の電圧測
定が含まれる。結果得られる測定値は、結果解析器２０
に送られ、そこで、この測定値を利用して、被試験部品
１０８に印加される実際の電圧、基準抵抗器Ｒ_ref１１
２の両端間における実際の電圧が計算され、実際の較正
された基準抵抗器の値を利用して、被試験部品１０８に
関する実際のインピーダンス値Ｚ_xが計算される。

【００２２】改良されたコンデンサ・試験は、全く同じ
回路設定で行なわれるが、Ｖ_sにはＡＣ電源が利用さ
れ、システム・誤差の補償のため、位相同期検出器を用
いて、１２の測定が実施される。１２の測定には、４つ
のノード（A)１０７、（B)１１１、（I) １１０、Ｖ_o１
１４のそれぞれに関する実数部測定、正の虚数部測定、
及び、負の虚数部測定が含まれている。結果生じる測定
値は、結果解析器２０に送られ、そこで、この測定値を
利用して、基準抵抗器Ｒ_ref１１２の両端間における電
圧の実際の実数分と虚数分が計算され、実際の基準抵抗
器の値Ｒ_refを利用して、被試験部品１０８の実際のキ
ャパシタンスが計算される。

【００２３】先行技術の場合、被試験部品１０８の値の
計算に必要な全ての測定は、実時間で実施される、すな
わち、測定は、被試験部品１０８が試験される毎に、す
なわち、測定誤差源を補償するため、ＰＣ基板の試験を
繰り返す毎に実施される。図３〜図５の試験構成におい
て既述の追加したガード検知及び多線式測定によって、
被試験部品１０８の部品値を極めて高い正確度で測定す
ることが可能になる。しかし、これらの追加測定によっ
て、追加試験時間を要することになる。誤差源を有効に
除去するのに必要なこの追加試験時間によって、１つの
ランをなす同じタイプのＰＣ基板の試験が遅くなる。

【００２４】改良された測定によって補償を試みる誤差
源には、刺激電圧源誤差、ガード・オフセット誤差（ま
たはガード利得誤差）、及び、電流分割誤差が含まれて
いる。これらの誤差源は、とりわけ、ＰＣ基板トポロ
ジ、リレー接点抵抗、プローブ接点抵抗、及び、熱オフ
セット（指定の＋／−５゜Ｃの自動調整帯域内における
温度変動に起因する）によって生じる可能性がある。上
述の誤差源の多くは、時間とともに、あるいは、ＰＣ基
板の試験間において大幅に変化することはない。例え
ば、ＰＣ基板トポロジによる刺激電圧源誤差は、時間が
経過しても変化しない。また、温度が一定のままであれ
ば、該誤差源は、時間とともに変化することはない。説
明に役立つ例において、誤差源には経時変化を生じない
ものもあるという事実を利用して、生産試験時における
ＰＣ基板上の被試験アナログ部品に関する全試験回数を
先行技術の技法に対して改善するために、本発明が適用
される。従来、これは、誤差源を簡単または容易に識別
することができないために、実施されなかった。

【００２５】本発明によれば、可能であれば、被試験部
品１０８の値を計算し、被試験部品１０８が、結果解析
器２０による判定で、合格か否かを判定するため、必要
な測定値の全集合より少ない部分集合が取得される。結
果解析器２０による判定で、試験に不合格の場合、「不
合格による再試行」が実施される、すなわち、被試験部
品１０８に関する追加及び／または異なる実時間測定値
が取得され、結果解析器２０によって被試験部品１０８
の値が再計算され、該再試行について、試験に合格か否
かが判定される。

【００２６】本発明の働きが、図６（ａ）〜図６（ｃ）
に示すフローチャートによって明らかにされている。図
６（ａ）には、本発明の最も原初的な形態が示されてい
る。この実施態様の場合、被試験部品１０８に関する測
定値の全集合が取得され、履歴測定値として保管される
（６０２）。試験の各実行時に、必要な測定値の全集合
の部分集合が選択され、実時間で測定される（６０
４）。被試験部品１０８の値は、実時間測定値の部分集
合を利用し、必要とされる測定値の全集合の一部をなす
が、実時間測定値の選択された部分集合に含まれていな
い測定値の代わりに履歴測定値を用いて、計算される
（６０６）。試験に合格の場合、「合格」が表示される
（６０８）。試験に不合格の場合、不合格による再試行
（６１０）が実施される。この実施態様の場合、不合格
による再試行には、一般に、被試験部品１０８に関する
測定値の全集合を再測定して、部品値を計算し、被試験
部品１０８の合格または不合格を判定することが含まれ
る。不合格の場合は、「不合格」が表示される（６１
２）。

【００２７】図６（ｂ）には、本発明の代替実施態様が
示されている。この実施態様の場合、被試験部品１０８
に関して必要な測定値の全集合が取得され（６０２）、
履歴測定値として保管される。試験の各実行毎に、必要
な測定値の全集合の部分集合が選択され、実時間で測定
される（６０４）。被試験部品１０８の値が、実時間測
定値の部分集合を利用し、測定値の全集合の一部をなす
が、実時間測定値の選択された部分集合に含まれていな
い測定値の代わりに履歴測定値を用いて、計算される
（６０６）。試験に合格の場合、「合格」が表示される
（６０８）。試験に不合格の場合、不合格による再試行
（６１４）が実施される。この実施態様の場合、不合格
による再試行には、利用可能であれば、被試験部品１０
８に関して実時間で測定すべき測定値の全集合から異な
る部分集合を選択し、実時間測定値の新たな部分集合を
実時間で測定することが含まれる。被試験部品１０８の
値が、実時間測定値の新たな部分集合を利用し、測定値
の全集合の一部をなすが、実時間測定値の新たな部分集
合に含まれていない測定値の代わりに履歴測定値を用い
て、計算される（６０６）。試験に合格の場合、「合
格」が表示され（６０８）；試験に不合格の場合、実時
間測定値の全集合の別の部分集合に関して、ステップ６
１４及び６０６を反復することが可能である。実時間測
定値の現部分集合に、測定値の全集合が含まれ、それで
も、試験に不合格の場合、「不合格」が表示される（６
１２）。

【００２８】図６（ｃ）に示す本発明のより高度な実施
態様の場合、不合格による再試行時の選択プロセスにイ
ンテリジェンスが付加される。この実施態様の場合、被
試験部品１０８に必要な測定値の全集合が取得され（６
０２）、履歴測定値として保管される。試験の各実行毎
に、測定値の全集合から部分集合が選択され、実時間で
測定される（６０４）。被試験部品１０８の値が、実時
間測定値の部分集合を利用し、測定値の全集合の一部を
なすが、実時間測定値の選択された部分集合に含まれて
いない測定値の代わりに履歴測定値を用いて、計算され
る（６０６）。試験に合格の場合、「合格」が表示され
る（６０８）。試験に不合格の場合、不合格による再試
行（６１６）が実施される。この実施態様の場合、不合
格による再試行には、利用可能であれば、被試験部品１
０８に関して実時間で測定すべき測定値の全集合から異
なる部分集合を知的選択し、実時間測定値の新たな部分
集合を実時間で測定することが含まれる。知的選択に
は、試験構成において問題となることが分かっている、
ある誤差源に特有な測定値の一定の組み合わせの選択を
含むことが可能である。詳細に後述する望ましい実施態
様の場合、実時間測定値の部分集合は、実時間で取得す
る必要のある最小集合の測定値に基づいて、「誤った不
合格」にならないように、選択される。被試験部品１０
８の値が、実時間測定値の新たな部分集合を利用し、測
定値の全集合の一部をなすが、実時間測定値の新たな部
分集合に含まれていない測定値の代わりに履歴測定値を
用いて、計算される（６０６）。試験に合格の場合、
「合格」が表示され（６０８）；試験に不合格の場合、
実時間測定値の全集合から別の部分集合を知的選択し
て、ステップ６１４及び６０６を反復することが可能で
ある。実時間測定値の現部分集合に、測定値の全集合が
含まれ、それでも、試験に不合格の場合、「不合格」が
表示される（６１２）。

【００２９】本発明の望ましい実施態様によれば、最少
数の実時間測定値を取得して、被試験部品１０８の値が
計算され、被試験部品１０８が、結果解析器２０による
判定で、試験に合格するか否かが判定される。誤差源を
補償し、被試験部品１０８の値を計算するために利用さ
れる測定値は、誤差源が「誤った不合格」の形で現れる
ように、誤差源に適応するように構成される。誤差源を
補償し、被試験部品１０８の値を計算する（従って、合
格／不合格情報を判定する）のに必要な各測定値の履歴
は、試験の最初のランに基づいて生成される。測定値の
それぞれの値は、履歴測定値として保持され、また、そ
の特定の被試験部品１０８に関して保持される。被試験
部品１０８の試験に必要な測定値のそれぞれについて、
履歴測定値が取得されると、試験の各後続ランでは、最
少数の実時間測定値に関連した履歴測定値を利用して、
被試験部品１０８の合格または不合格の正確な反映が得
られるように試みられる。本発明の望ましい実施態様の
場合、これは、試験構成回路１０の出力電圧だけを実時
間で測定し、被試験部品１０８の値の計算に用いられる
残りの測定値を、その特定の被試験部品１０８について
取得された履歴測定値に置き換えて実施される。これ
は、結果解析器２０において不合格が検出されるまで、
通常モードの動作である。いつでも、「誤った不合格」
が生じる（すなわち、実時間測定値と履歴測定値の組み
合わせが用いられると、被試験部品１０８の値の計算が
不合格になるが、計算に用いられる必要な測定値の全て
が、実時間に取得されると、計算結果が合格になる）場
合には、追加処理によって、「誤った不合格」を生じさ
せた誤差源を補償するために、試験構成回路１０におけ
る他のどの測定値を実時間に取得しなければならないか
が判定される。

【００３０】望ましい実施態様の場合、実施しなければ
ならない追加実時間測定を判定するために用いられるア
ルゴリズムは、実時間測定値の最小集合（例えば、２
つ）と履歴測定値を組み合わせて、誤差源を補償し、被
試験部品１０８の値を計算することから開始される。実
時間測定値と履歴測定値の各組み合わせによる計算結果
は、実時間測定値の全てを利用して取得したばかりの計
算結果と比較される。被試験装置（１０８）の計算にお
いて履歴測定値と組み合わせられると、（ａ）装置の試
験に合格し、（ｂ）実時間測定値の全てを利用して得ら
れる実際の結果からの偏差が最小になる、実時間測定値
の最小集合が、ラン毎に取得しなければならない実時間
測定値の新たな現集合として用いられることになる。

【００３１】上記要件が満たされる前に、履歴測定値と
組み合わせられる実時間測定値の最小集合の全ての組み
合わせが尽きてしまうと、実時間測定値の最小集合が１
つだけ拡大される（例えば３つになる）。次に、この新
たな実時間測定値の最小集合を用いて、アルゴリズムが
反復される。

【００３２】このプロセスは、上記条件（ａ）及び
（ｂ）を満たす実時間測定値の集合（履歴測定値と組み
合わせられた）が見つかるか、または、実時間測定値の
集合に、実時間測定値の全てが含まれることになるまで
繰り返される。実時間測定値の最小集合が決まると、そ
の集合が、その被試験部品１０８のために保持される。
従って、試験される、各被試験部品１０８は、それぞれ
異なる実時間測定値の最小集合を備えている可能性があ
る。別の「誤った不合格」が生じる場合には、この最小
集合は、アルゴリズムに対する入力としても利用され
る。全ての実時間測定値の再測定が済んだ後、結果解析
器２０によって不合格の装置であると表示されると、被
試験部品１０８は、「真の」不合格であると判定され、
合格／不合格標識によって、不合格と表示される。

【００３３】図７は、本発明の適応学習方法７００のプ
ロセスを表したフローチャートである。図示のように、
実時間測定値の現集合が選択される（７０２）。実時間
測定値の現集合は、試験エンジニアが選択し、自動テス
タによる現試験ランでの利用に備えて記憶するか、また
は、試験ランの第１パスの前に、最適化された最小集合
を得るため、任意の最適化アルゴリズムに従って決定す
ることが可能である。実時間測定値の現集合は、試験の
合格または不合格を判定するために必要とされる、全集
合をなす必要な測定値のうちの部分集合である。実時間
測定値の現集合が選択されると、これらの測定値は、被
試験回路から実時間で測定、取得される（７０４）。実
時間測定値の現集合に含まれていない必要な測定値のそ
れぞれに関する履歴測定値からなる履歴測定値の現集合
の値が取得される（７０６）。測定された実時間測定値
の現集合と実時間測定値の現集合に含まれていない必要
な測定値の代わりになる履歴測定値の現集合に基づい
て、前記試験の合格または不合格が判定される（７０
８）。試験に合格すると、試験の合格状況が表示され、
試験は完了する。試験に不合格の場合には、実時間測定
値の現集合とは異なる必要な測定値の部分集合からな
る、実時間測定値の現再試行集合が選択される（７１
０）。次に、実時間測定値の現再試行集合が、実時間で
測定される（７１２）。実時間測定値の現再試行集合に
含まれていない必要な測定値のそれぞれについて対応す
る履歴測定値からなる、履歴測定値の現再試行集合が、
取得される（７１４）。測定された実時間測定値の現再
試行集合と、実時間測定値の現再試行集合に含まれてい
ない必要な測定値の代わりになる履歴測定値の現再試行
集合に基づいて、前記試験の合格または不合格が判定さ
れる（７１６）。実施態様の１つでは、実時間測定値の
現再試行集合は、必要な測定値の全集合である。従っ
て、試験の再実行時に、試験に不合格になると、その不
合格は、真の不合格であることが分かる。

【００３４】実施態様の１つでは、実時間測定値の現再
試行集合と履歴測定値の現再試行集合を利用して、試験
に不合格になると、実時間測定値の次の再試行集合が選
択され（７１８）、実時間測定値の現再試行集合の代わ
りに、実時間測定値の次の再試行集合を利用して、再試
行枝（ステップ７１０〜７１６）が再実行されるが、こ
の場合、履歴測定値の現集合は、実時間測定値の次の再
試行集合に含まれていない必要な測定値の部分集合であ
る。このプロセスは、試験に合格するか、または、実時
間測定値の現再試行集合が、必要とされる測定値の全集
合から構成されることになるまで反復することが可能で
ある。試験の再実行時に、試験に合格すると、実時間測
定値の現再試行集合のそれぞれに関する対応する履歴測
定値を、対応する測定された実時間測定値によって更新
することが可能になる（７２０）。さらに、試験の再実
行時に、試験に合格すると、実時間測定値の新たな現集
合を選択し、設定することが可能になる（７２２）。実
時間測定値のこの新たな現集合は、実時間測定値の現再
試行集合とすることも可能であり、あるいは、最適化ア
ルゴリズムを利用して、別のやり方で選択することも可
能である。実時間測定値の新たな現集合は、次の被試験
回路の試験において、実時間測定値の現集合として用い
られる。試験の再実行時に、試験に合格すると実施可能
になるもう１つのオプションの機能は、監査機能７２４
である。実時間測定値の新たな集合を決定し、その実時
間測定値の新たな集合を実時間測定値の現集合として用
いて、実時間測定値の現集合の再評価を行うことが含ま
れる。

【００３５】図８は、本発明による試験設定例のブロッ
ク図である。試験設定には、被試験回路５０のノードに
接続して、被試験部品１０８の測定値を取得する試験構
成回路１０が含まれている。試験構成回路１０は、アナ
ログ測定バス５２によって、被試験部品１０８に関する
全ての測定値を、一般に、アナログ・デジタル（Ａ／
Ｄ）変換器を用いて実施される測定シーケンサ４０に送
る。測定シーケンサ４０は、測定値要求３６に応答し、
バス５２で受信した測定値の全集合から要求された測定
値４２だけを出力する。試験装置には、測定結合プロセ
ッサ３０が含まれている。測定結合プロセッサ３０は、
被試験部品１０８の値の計算において結果解析器２０が
必要とする各測定値に関する履歴測定値３４を保持す
る。測定結合プロセッサ３０は、被試験部品１０８が合
格するか否かを正確に反映することになる、実時間測定
値３６の集合も決定する。測定結合プロセッサ３０は、
取得すべき実時間測定値の集合の要求を測定シーケンサ
４０に送り、要求した実時間測定値４２を受け取り、実
時間測定値４２と、実時間測定値の集合に含まれていな
い測定値の代わりに用いられる履歴測定値３４との組み
合わせ３２を結果解析器２０に送る。結果解析器２０
は、受信した実時間測定値４２と履歴測定値３４の組み
合わせ３２に基づいて、被試験部品１０８の値を計算す
る。結果解析器２０は、部品値が合格の場合、標識２
２、さらには、２６による装置の合格情報を出力する。
測定結合プロセッサ３０は、結果解析器２０の合格／不
合格標識２６を受信し、計算された部品値が、出力２６
の不合格標識によって表示されるように不合格の場合、
誤差源を補償する（従って、被試験部品１０８の値を計
算する）に必要な全ての測定値、または、その部分集合
が含まれる可能性のある、実時間測定値の新たな集合を
要求する（３６）。測定結合プロセッサ３０は、要求さ
れた実時間測定値４２を受信して、実時間測定値４２
と、実時間測定値４２の新たな集合に含まれていない、
全集合をなす測定値のうちの任意の測定値の代わりに用
いられる履歴測定値３４（もしあれば）との組み合わせ
３２を結果解析器２０に送り、新たな実時間測定値４２
と代用される履歴測定値３４の組み合わせ３２を利用し
て、被試験部品１０８の値が再計算されるようにする。
この時点で、再計算された被試験部品１０８の値の結果
が、合格／不合格標識２２及び２６によって出力され
る。結果解析器２０は、部品の合格の最初の検出時に、
出力２２で合格標識を出力する。不合格標識は、結果解
析器２０によって、計算された部品値が、測定回路要素
に固有の誤差源の結果であるはずがないと判定されるま
では、出力２２で出力されない。

【００３６】図９（ａ）及び図９（ｂ）は、共に、測定
結合プロセッサ３０によって、実時間測定値集合の決
定、及び、結果解析器２０によって計算された部品値が
合格か、「誤った不合格」か、または、実際の不合格か
の判定に用いられる方法９００の適応誤差源学習アルゴ
リズムの実施態様の１つに関するフローチャートを構成
する。なお、図９（ａ）の下辺のA,Bは図９（ｂ）の上
辺のA,Bに連結されて一つながりのフローチャートを構
成するものである。ステップ９０２において決定される
ＰＣ基板のランの開始時に、必要な実時間測定値の全集
合が取得され、履歴測定値として保管される（９０
４）。従って、計算された部品値におけるどの誤差も、
さまざまな測定装置における１つ以上の誤差源によるも
のであることが分かる。履歴測定値の集合は、取得され
ると、測定結合プロセッサ３０による利用に備えて、で
きれば、ＣＰＵレジスタまたはキャッシュ・メモリ等に
高速アクセス方法によって保持される。測定結合プロセ
ッサ３０は、爾後試験ランで取得すべき実時間測定値の
現部分集合を選択する（９０６）。実時間測定値の選択
された現部分集合は、結果解析器２０による被試験部品
１０８の値の計算に必要とされる被試験部品１０８の値
の部分集合である。実時間測定値の現部分集合は、実時
間に取得しなければならない、同時に、結果解析器２０
によって計算された場合に、被試験部品１０８が合格か
不合格（否）かを正確に反映することになる、互いに必
要な測定値の履歴測定値に取って代わる最少数の測定値
である。必要な測定値のどの組み合わせを実時間で測定
すべきか、また、どれが、その対応する履歴測定値に置
き換誤差れるべきかを判定するためのさまざまな方法が
存在する。一般に、その選択は、試験技術上の経験及び
／または理論的試験計算に基づいて行われる。実時間測
定値の選択された現部分集合は、部品値が、実時間測定
値の部分集合と残りの必要な測定値に関する履歴測定値
の組み合わせ３２を利用して計算された場合に、部品が
合格することを正確に反映する最少数の測定値である。
換言すれば、その概念は、実時間で最少数の測定値を取
得することによって、被試験部品１０８が、合格仕様の
範囲内にあるか否かを判定することである。例えば、前
記２、３、４、及び、６線回路１００、２００、３０
０、４００のいずれにおいても、実時間測定値の部分集
合は、出力ノード１１４において測定される演算増幅器
出力値Ｖ_oだけであることが望ましい。

【００３７】被試験部品１０８の値は、実時間測定値の
部分集合を利用し、残りの必要な測定値を対応する履歴
測定値に置き換えることによって計算される（９０
８）。計算された部品値が、指定の試験限界内にあるか
否かについて、判定が下される（９１０）。計算された
部品値が試験限界内にある場合、被試験部品１０８は合
格し、結果解析器２０内の合格／不合格フラグが「合
格」状態に設定され（９１２）；計算された部品値が合
格許容差内になければ、結果解析器２０内の合格／不合
格フラグが「不合格」状態に設定される（９１４）。こ
れで、部品・試験は完了する。

【００３８】部品試験の後続ランでは、それによって履
歴測定値が更新されることになる、監査が必要かどうか
を判定する（９１６）。望ましい実施態様の場合、監査
は、所定の時間期間の各期間後、所定数の部品の試験
後、または、連続した合格部品が所定数を超えた後（例
えば、Ｎの限界＝１００の連続した合格部品試験）、実
施される。監査が必要な場合、ステップ９０４〜９１４
が繰り返される。

【００３９】監査の必要がなければ、実時間測定値の現
集合が、被試験部品１０８のために取得される（９１
８）。次に、ステップ９１８で取得した実時間測定値の
現集合を利用し、実時間測定値の現集合に含まれていな
い任意の必要な測定値の代わりに、ステップ９０４で取
得した履歴測定値を用いて、被試験部品１０８の値が計
算される（９２０）。被試験部品１０８の値が、所定の
指定試験限界内にあるか否かに関する判定が行われる
（９２２）。被試験部品１０８の値が、限界内にある場
合、合格／不合格フラグは、「合格」状態に設定され
（９２４）、その被試験部品１０８の試験が完了する。
被試験部品１０８の値が、試験限界内にない場合、部品
値の計算に必要な各測定値が、実時間で測定され（９２
６）、実時間測定値の全てを利用して、被試験部品１０
８の値が計算される（９２８）。被試験部品１０８の値
が、ステップ９３０における判定で、所定の試験限界内
にない場合、合格／不合格フラグが「不合格」状態に設
定され（９３２）、その特定の部品の試験が完了する。

【００４０】ステップ９２６〜９３０で、不合格による
再試行を実施した後、被試験部品１０８の値が所定の試
験限界内にあると判定されると、「誤った不合格」条件
が検出されたことになる。この場合、アルゴリズムは、
実時間測定値の完全な集合を用いて計算された合格測定
値（９２８）と比較した場合に最も近い結果を生じるこ
とにになる、実時間測定値の次の最小集合を決定しよう
とする。これは、実時間測定値集合の数（すなわち、実
時間で行う必要のある測定の回数）を１つだけ増すこと
によって（９３４）実施される。次の実時間測定値の組
み合わせが、現実時間測定集合から選択される（例え
ば、２つの測定値の全組み合わせ）（９３６）。ステッ
プ９３８における判定で、試行されなかった現実時間測
定値集合からの組み合わせが存在するものと仮定し、ス
テップ９３６で選択された組み合わせからの実時間測定
値を利用し、選択された組み合わせに含まれていない任
意の必要な測定値の代わりに履歴測定値を用いて、被試
験部品１０８の値が計算される（９４０）。計算された
被試験部品１０８の値が所定の試験限界内にあるか否か
に関する判定が行われる（９４２）。限界内にある場
合、誤差源を除去するために作成しなければならない実
時間測定値集合は、ステップ９３６において選択された
実時間測定値の現組み合わせにリセットされ（９４
４）、履歴測定値が、適応不合格が生じた後に得られた
（９２６）実時間測定値によって更新される（９４
６）。

【００４１】ステップ９４２において、被試験部品１０
８の値が所定の試験限界内にないと判定されると、現実
時間測定集合から次の実時間測定値の組み合わせが選択
され（９３６）、ある組み合わせが、ステップ９４２に
おける判定で、試験に合格するか、実時間測定値集合の
現集合からの実時間測定値の組み合わせが、ステップ９
３８における判定で、残っていなくなるまで、ステップ
９３８〜９４２が繰り返される。

【００４２】ステップ９３８における判定で、現実時間
測定値集合からの組み合わせに、選択すべきものが残さ
れていないということになると、実時間測定値集合がそ
れ以上存在するか否かに関する判定が行われる（９４
８）。実時間測定値集合がさらに存在する場合には、ス
テップ９３４〜９４２が繰り返される。それ以上実時間
測定値集合が存在しない場合、取得すべき実時間測定値
の集合は、必要とされる測定値の完全な集合に設定され
る（９５０）。

【００４３】下記の例から、図９（ａ）及び図９（ｂ）
の適応誤差源学習アルゴリズムの働きがさらに明瞭にな
る。この例の場合、図４に示す４線試験構成回路が考慮
されている。被試験部品１０８の値を計算するのに必要
な測定値の総数は電源センス・ノード（A)１０７、入力
センス・ノード（B)１１１、入力ノード（I)１１０、及
び、出力電圧Ｖ_o１１４の測定値を含む、８つである。
まず、電源Ｖ_s１０４がオンでの測定値の組は（Ａ、
Ｂ、Ｉ、Ｖ_o）で、電源Ｖ_s１０４がオフでの測定値の組
は（Ａ₀、Ｂ₀、Ｉ₀、Ｖｏ₀）である。一般に、全部で８
つの測定値の可能性のある組み合わせは２５６存在する
が、この例の場合、組み合わせ数は、表１に示すよう
に、可能性のある現実的な２３の測定値にまで減少し
た。必要な測定値の組み合わせは、試験設計者が開発し
た性能指数に基づいて減少させられる。この性能指数
は、実験、以前の試験結果、理論的計算、及び／また
は、当該産業の技術者の経験に基づくものとすることが
可能である。

【００４４】従って、可能性のある２５６までの組み合
わせを作ることが可能であるが、表１にしめすこれら組
み合わせの縮小部分集合で、被試験部品１０８の真の不
合格、この場合、抵抗器の接続及び許容差を検出するた
めの、測定値の実用的な範囲を満たしている。表１は、
優先順に編成されており、１、２、３〜９までの実時間
測定を必要とする、相対的時間と表示された行に示す実
時間測定値集合に区分されている。各実時間測定値集合
内には、その集合内に含まれる、取得すべき異なる測定
値のいくつかの組み合わせが存在する。例えば、実時間
測定値集合＃１内には１つの組み合わせが存在し、実時
間測定値集合＃２内には、３つの組み合わせが存在し、
実時間測定値集合＃３内には、４つの組み合わせが存在
し、以下同様である。電源センス・ノード（A)、入力セ
ンス・ノード（B)、入力ノード（I)、及び、出力電圧ノ
ードＶ_oの測定値を取得するため、刺激電圧源Ｖ_s１０４
がオフになる時は、いつでも、電源待機時間はアルゴリ
ズムによって使用される測定時間とみなされる。例え
ば、方法９００を用いた試験が、繰り返し８による場
合、表１の列８には、出力電圧Ｖ_oが、電源Ｖ_s１０４を
オンにし、さらに、電源Ｖ_s１０４をオフにして
（Ｖ_o0）測定されたことが示される。刺激電圧源Ｖ_sを
オフにするために、追加時間サイクルが必要になり、従
って、その相対的測定時間は、２サイクルではなく、３
サイクルになる。表１に示すように、追加時間サイクル
は、電源Ｖ_s１０４をオンにし、さらに、電源Ｖ_s１０４
をオフにして測定することが必要とされる毎に、相対的
時間に追加される。

【００４５】

【表１】

【００４６】上記例において、取得すべき実時間測定値
の組み合わせを判定し、結果解析器２０によって計算さ
れた部品値が合格か、「誤った」不合格か、あるいは、
実際の不合格かを判定するのに前記方法７００を用いる
場合、測定結合プロセッサ３０は、取得すべき実時間測
定値の現集合として、列「１」から始まる表１の各列の
集合を利用する。従って、測定結合プロセッサ３０は、
電源をオンにした場合の出力電圧Ｖ_oだけしか含まな
い、実時間測定値の第１集合を選択する（ステップ７０
２）。実時間で出力電圧Ｖ_oを測定した後（ステップ７
０４）、計算された部品値（ステップ７０６及び７０
８）が、必要とされる合格許容差の範囲内になければ、
測定結合プロセッサ３０は、次の実時間測定値集合とし
て、実時間測定値集合の数を表１に含まれる集合＃２に
増大させる。３つの異なる組み合わせ（表１の列２、
３、及び、４に示された）の１つが、現実時間測定値集
合から選択される（例えば列２の組み合わせ）（ステッ
プ７１０）。計算された部品値によって、合格状況が生
じると、選択された組み合わせが、試験の後続ランにお
いて取得しなければならない実時間測定値の集合として
設定される（ステップ７２２）。計算された被試験部品
１０８の値によって、不合格状況が生じると、測定結合
プロセッサ３０は、現実時間測定値集合から前記組み合
わせの異なる１つ（例えば、列３の組み合わせ）を選択
し（ステップ７１８）、プロセスが繰り返される。全て
の組み合わせを使い尽くすと、実時間測定値集合は、測
定値の次の最小集合（例えば、集合＃３）にインクリメ
ントされ、組み合わせの１つが合格するか、あるいは、
全ての組み合わせを使い尽くすまで、その集合から組み
合わせが選択される。全ての組み合わせを使い尽くす
と、実時間測定値の後続集合からの組み合わせによっ
て、試験に合格するか、または、全集合の全組み合わせ
を使い尽くすまで、プロセスが繰り返される。全集合の
全組み合わせを使い尽くすと、必要とされる測定値の全
てが、実時間で取得され、実時間測定値の集合は、最大
に設定される。

【００４７】表２は、コンデンサのような被試験能動部
品１０８の測定に用いられる測定結合の可能性のある縮
小集合の一例である。部品値の計算に必要な測定値に
は、電源センス・ノード（A)１０７、入力センス・ノー
ド（B)１１１、入力ノード（I)１１０、及び、出力ノー
ドＶ_o１１４のそれぞれに関する実数分（R）、正の虚数
分（＋i）、及び、負の虚数分（−i）が含まれている。
測定結合プロセッサ３０は、表２の列「１」に含まれる
もの（すなわち、出力ノードＶ_o１１４の正の虚数分）
を含む実時間測定値の初期集合を決定する。計算された
部品値によって、合格状況が生じなければ、測定結合プ
ロセッサ３０は、表２の列「２」に含まれるもの（すな
わち、電源センス・ノード（A)１０７における実成分及
び出力ノードＶ_o１１４における正の虚数分）を含む実
時間で取得すべき必要な測定値の次の集合を決定する。
計算された部品値によって、やはり、合格状況が生じな
ければ、測定結合プロセッサ３０は、計算された部品値
によって、合格状況が生じるか、または、実時間で取得
された必要な測定値の全てについて計算しても、やは
り、計算された部品値が不合格になるまで、列３〜２２
のそれぞれを繰り返す。

【００４８】

【表２】

【００４９】上記例の場合、出力電圧ノードＶ_o１１４
の負の虚数分は、履歴として保持することができない。
さらに、負の虚数分−ｉが、実時間で必要とされない場
合、ＤＣオフセットが生じることはなく、スループット
の改善レベルをさらに高めることが可能である。この改
善レベルのさらなる向上は、ＤＣオフセットの計算を必
要としないように、結果解析器２０に修正を施すことに
よって得られる。１２の測定値計算は、実数分Ｒと正の
虚数分＋ｉだけを用いて、８つの測定値計算に減少させ
ることが可能である。

【００５０】うまくいった、連続したｎの試験ランの全
て（ステップ９０４〜９１４が後続するステップ９１
６）の後で、履歴測定値を更新する監査機能は、測定値
プロセッサ３０において実施されるオプションの機能で
ある。監査機能の実施例において、Ｎ＝１００の連続し
た合格ランについて、試験が安定している（すなわち、
「誤った不合格」がない）場合、結果解析器２０のアル
ゴリズムによって、自動的に、必要とされる測定値の全
てがもう一度計測され、履歴測定値が再測定された測定
値によって更新される。従って、履歴測定値は、根元的
な測定誤差源の変化時に、更新を反映するように適応さ
せられる。

【００５１】本発明を利用して、被試験部品１０８の測
定待機時間に適応することが可能である。各被試験部品
１０８は、刺激電圧源の時間がその所望の値に達するこ
とを可能にするため、刺激電圧源Ｖ_s１０４を適用し、
取り除くのに関連した指定の待機時間を備えている。こ
の時間は、被試験部品１０８の周囲のトポロジによって
影響を受ける可能性がある。用いられる待機時間は、周
囲のトポロジの最悪のケースの分散に基づいて計算され
る。これらの待機時間は、部品値を測定し、被試験部品
１０８が不合格になり始めるポイントまで、待機時間を
短縮することによって、被試験部品１０８に適応させる
ことが可能である。次に、被試験部品１０８の待機時間
は、その最小値に、ＰＣ基板の現特定ランに関するある
程度のマージンを加えた値に調整することが可能であ
る。

【００５２】任意の被試験パラメータが、所定の試験限
界内にあるか否かを判定するために通常測定された他の
測定パラメータから計算される場合、適応するように更
新された履歴測定値と実時間測定値の組み合わせを、そ
のパラメータに関する自動化合格／不合格試験に適用す
ることが可能である。

【００５３】本発明は、例示の実施態様に関連して解説
してきたが、当該技術者には明らかなように、本発明の
精神及び範囲を逸脱することなく、例示の実施態様に対
してさまざまな変更及び修正を加えることが可能であ
る。本発明の範囲は、決して、図示し、解説した例証と
なる実施態様に制限されるものではなく、本発明は、付
属の請求項によってのみ制限されるものとする。

【００５４】（実施態様１）自動試験の実行中、実時間
で取得する実時間測定値の集合を適応学習するための方
法であって、それぞれ、前記試験の合格または不合格を
判定するのに必要な測定値の全集合の部分集合からなる
実時間測定値の現集合を測定するステップ（７０４）
と、前記実時間測定値の現集合に含まれていない前記必
要な測定値のそれぞれについて、対応する履歴測定値か
らなる履歴測定値の現集合を取得するステップ（７０
６）と、前記測定された実時間の測定値と、前記実時間
測定値の現集合に含まれていない必要な測定値の代わり
に用いられる前記履歴測定値の現集合に基づいて、前記
試験の合格または不合格を判定するステップ（７０８）
と、前記試験に不合格の場合、前記実時間測定値の現集
合とは異なる前記必要な測定値の部分集合からなる実時
間測定値の現再試行集合を選択するステップ（７１０）
と、前記実時間測定値の現再試行集合を実時間で測定す
るステップ（７１２）と、前記実時間測定値の現再試行
集合に含まれていない前記必要な測定値のそれぞれにつ
いて、対応する履歴測定値からなる履歴測定値の現再試
行集合を取得するステップ（７１４）と、前記実時間の
測定値の現再試行集合と、前記履歴測定値の現再試行集
合に基づいて、前記試験の合格または不合格を再判定す
るステップ（７１６）が含まれている、方法。

【００５５】（実施態様２）前記再判定ステップ後、前
記試験に不合格の場合、前記実時間測定値の次の再試行
集合を選択するステップ（７１８）と、前記実時間測定
値の現再試行集合として、前記実時間測定値の次の再試
行集合を利用して、前記第２の測定ステップ（７１２）
〜前記再判定ステップ（７１６）を反復するステップが
含まれることを特徴とする、実施態様１に記載の方法。（実施態様３）前記第２の測定ステップ（７１２）、前
記第２の取得ステップ（７１４）、前記再判定ステップ
（７１６）、前記第２の選択ステップ（７１８）を反復
するステップと、前記反復ステップが、前記試験に合格
するか、または、前記実時間測定値の現再試行集合が、
必要な測定値の前記全集合になるまで行われることを特
徴とする、実施態様２に記載の方法。

【００５６】（実施態様４）前記所定のステップ（７１
６）の後、前記試験に合格する場合、前記現再試行集合
をなす実時間測定値のそれぞれに関する前記対応する履
歴測定値を前記対応する測定された実時間測定値によっ
て更新するステップ（７２０）が含まれることを特徴と
する、実施態様１〜実施態様３のいずれかに記載の方
法。（実施態様５）前記再判定ステップ（７１６）の後、前
記試験に合格する場合、前記実時間測定値の現集合を実
時間測定値の新集合に設定するステップ（７２２）が含
まれることを特徴とする、実施態様１〜実施態様４のい
ずれかに記載の方法。

【００５７】（実施態様６）試験部品（１０８）を試験
するための自動試験システムであって、前記被試験部品
（１０８）に接続し、実時間測定値（４２）の現集合を
取得する試験構成回路（１０）と、前記実時間測定値
（４２）の現集合を利用し、且つ、前記実時間測定値
（４２）の現集合に含まれていない必要な測定値の代わ
りに履歴測定値（３４）を用いて、前記被試験部品（１
０８）に関する部品値を計算し、前記部品値が所定の試
験限界内に含まれるか否かを判定し、前記計算された部
品値が前記所定の試験限界内に含まれない場合には、再
試行信号（２６）を発する結果解析器（２０）と、前記
再試行信号（２６）に応じて、実時間測定値の現再試行
集合（３６）を選択する測定結合プロセッサ（３０）が
含まれており、前記試験構成回路（１０）が、前記被試
験部品（１０８）から前記実時間測定値の現再試行集合
を取得し、前記結果解析器（２０）が、前記実時間測定
値（４２）の現再試行集合を利用し、前記実時間測定値
（４２）の現再試行集合に含まれていない必要な測定値
の代わりに履歴測定値（３４）を用いて、前記被試験部
品（１０８）に関する部品値を計算し、前記部品値が前
記所定の試験限界内に含まれるか否かを判定することを
特徴とする、システム。

【００５８】（実施態様７）前記計算された部品値が、
前記所定の試験限界内に含まれておらず、前記実時間測
定値の現集合が、前記必要な測定値のそれぞれから構成
されていない場合、前記測定結合プロセッサ（３０）
は、実時間測定値の次の再試行集合を選択することを特
徴とする、実施態様６に記載のシステム。（実施態様８）それぞれ、前記実時間測定値の現集合と
して部分集合を利用する順序を定義する関連優先順位を
備えた、複数の部分集合をなす前記必要な測定値を含む
テーブル（テーブル１、テーブル２）が含まれることを
特徴とする、実施態様６または実施態様７に記載のシス
テム。

【００５９】（実施態様９）前記測定結合プロセッサ
が、実前記時間測定値の現集合として、前記定義された
優先順位の順に、前記テーブル（テーブル１、テーブル
２）から部分集合を選択することを特徴とする、実施態
様８に記載のシステム。（実施態様１０）前記必要な測定値の少なくとも１つを
実時間で周期的に再測定し、前記履歴測定値（３４）を
再測定された前記対応する必要な測定値に置き換える監
査機能（７２４）が含まれることを特徴とする、実施態
様６〜実施態様９のいずれかに記載のシステム。

【図面の簡単な説明】

【図１】先行技術による電子装置の試験装置設定に関す
るブロック図である。

【図２】先行技術による２線試験構成回路を示す図であ
る。

【図３】先行技術による３線試験構成回路を示す図であ
る。

【図４】先行技術による４線試験構成回路を示す図であ
る。

【図５】先行技術による５線試験構成回路を示す図であ
る。

【図６（ａ）】本発明の方法に関する実施態様の１つの
フローチャートである。

【図６（ｂ）】本発明の方法に関するもう１つの実施態
様のフローチャートである。

【図６（ｃ）】本発明の方法に関するさらにもう１つの
実施態様のフローチャートである。

【図７】本発明の適応学習アルゴリズムのフローチャー
トである。

【図８】本発明に従って実施される電子装置の試験装置
設定のブロック図である。

【図９（ａ）】本発明の説明に役立つ例において用いら
れる適応誤差源学習アルゴリズムのフローチャートであ
る。

【図９（ｂ）】本発明の説明に役立つ例において用いら
れる適応誤差源学習アルゴリズムのフローチャートであ
る。

【符号の説明】

１０試験構成回路１２測定値２０結果解析器３０測定結合プロセッサ３４履歴測定値４２実時間測定値１０８被試験部品

フロントページの続き (71)出願人 399117121 395 ＰａｇｅＭｉｌｌＲｏａｄＰａｌｏＡｌｔｏ，ＣａｌｉｆｏｒｎｉａＵ．Ｓ．Ａ. (72)発明者スティーブン・ケー・リストアメリカ合衆国コロラド州ラブランドヴァイオレット・ドライブ 205 (72)発明者ステファン・ピー・ロザムアメリカ合衆国コロラド州ラブランドマウンテンヴィスタコート 4616 (72)発明者エディー・エル・ウイリアムソンアメリカ合衆国コロラド州フォートコリンズキングスバーグドライブ 4261

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】自動試験の実行中、実時間で取得する実時
間測定値の集合を適応学習するための方法であって、それぞれ、前記試験の合格または不合格を判定するのに
必要な測定値の全集合の部分集合からなる実時間測定値
の現集合を測定するステップと、前記実時間測定値の現集合に含まれていない前記必要な
測定値のそれぞれについて、対応する履歴測定値からな
る履歴測定値の現集合を取得するステップと、前記測定された実時間の測定値と、前記実時間測定値の
現集合に含まれていない必要な測定値の代わりに用いら
れる前記履歴測定値の現集合に基づいて、前記試験の合
格または不合格を判定するステップと、前記試験に不合格の場合、前記実時間測定値の現集合とは異なる前記必要な測定値
の部分集合からなる実時間測定値の現再試行集合を選択
するステップと、前記実時間測定値の現再試行集合を実時間で測定するス
テップと、前記実時間測定値の現再試行集合に含まれていない前記
必要な測定値のそれぞれについて、対応する履歴測定値
からなる履歴測定値の現再試行集合を取得するステップ
と、前記実時間の測定値の現再試行集合と、前記履歴測定値
の現再試行集合に基づいて、前記試験の合格または不合
格を再判定するステップが含まれている、方法。