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JP2000201295A - デジタルスチルビデオカメラ - Google Patents

デジタルスチルビデオカメラ

Info

Publication number
JP2000201295A
JP2000201295A JP11003412A JP341299A JP2000201295A JP 2000201295 A JP2000201295 A JP 2000201295A JP 11003412 A JP11003412 A JP 11003412A JP 341299 A JP341299 A JP 341299A JP 2000201295 A JP2000201295 A JP 2000201295A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
luminance
block
backlight
change rate
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11003412A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoru Numakura
覚 沼倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP11003412A priority Critical patent/JP2000201295A/ja
Publication of JP2000201295A publication Critical patent/JP2000201295A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Exposure Control For Cameras (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 逆光、過順光、局所的な高輝度部を含む被写
体の場合においても、適正な露出制御を行うことが可能
なデジタルスチルビデオカメラを提供すること。 【解決手段】 本発明に係るデジタルスチルビデオカメ
ラは、画面の一部または全部を複数のブロックに分割す
るブロック分割回路18と、ブロック毎の輝度レベルの
変化率およびブロックの輝度レベルの分布の変化率を算
出する輝度変化率算出回路20と、輝度変化率算出回路
20の算出結果に基づき、逆光、過順光、および高輝度
部を判定し、また、高輝度のブロックを削除する逆光高
輝度検出回路21と、逆光高輝度検出回路21の判定結
果に基づき、露出補正量を算出する補正量生成回路22
と、露出補正量に基づき露出制御量を算出して露出制御
を行う露出制御回路23とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、デジタルスチル
ビデオカメラに関し、より詳細には、逆光、過順光、お
よび高輝度部を判定して露出制御を行うデジタルスチル
ビデオカメラに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ビデオカメラや銀塩カメラにおい
て、逆光、過順光、順光の状態を判定して露出制御する
方式として、画面の中央部分に着目して、中央部分のエ
リアの輝度と中央部を除く周辺部のエリアの輝度を比較
することで、逆光、過順光、順光の状態を判別し、その
状態に応じて露出を制御するものがある。
【0003】例えば、特開平6−225205号公報で
は、2次元画像を複数のブロックに分割し、各ブロック
毎に輝度信号を累積し、累積データを求めて、画面の中
央部分が逆光状態か、過順光状態かをブロックのデータ
により判定し、アイリスを適正状態に制御するビデオカ
メラが開示されている。具体的には、図19に示す如
く、撮像される2次元画像を4×4のブロック(a〜
p)に分割し、例えば、図20に示す如き中央の人物が
暗く沈み込んだ逆光状態では、f、g、j、k、n,o
のブロックとその他のブロックとの輝度を比較して順
光、逆光を判断している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記特
開平6−225205号公報に記載されたビデオカメラ
にあっては、逆光または過順光時には、補正基準値を変
化させて対応しているが、被写体の位置または大きさに
よっては、図20に示すような逆光状態となっている被
写体とそれ以外の部分の輝度の差が正確に反映されず、
逆光、順光、および過順光の検出に失敗して適正な露出
補正値を算出することができず、精度の良い露出制御が
できないという問題がある。この問題は、局所的に高輝
度のものを含む場合も同様である。
【0005】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、逆光、過順光、局所的な高輝度部を含む被写体
の場合においても、適正な露出制御を行うことが可能な
デジタルスチルビデオカメラを提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述課題を解決するため
に、請求項1に係る発明は、画面の一部または全部を複
数のブロックに分割するブロック分割手段と、前記ブロ
ック毎の輝度レベルの変化率および前記ブロックの輝度
レベルの分布の変化率を算出する輝度変化率算出手段
と、前記輝度変化率算出手段の算出結果に基づき、逆
光、過順光、および高輝度部を判定し、また、高輝度の
ブロックを削除する逆光高輝度検出手段と、前記逆光高
輝度検出手段の判定結果に基づき、露出補正量を算出す
る補正量生成手段と、前記露出補正量に基づき露出制御
量を算出して露出制御を行う露出制御手段と、を備えた
ものである。
【0007】また、請求項2に係る発明は、請求項1に
記載の発明において、前記輝度変化率算出手段は、フォ
ーカスレンズを移動させた際に各レンズ位置で取得した
輝度信号に基づき前記ブロック毎の輝度レベルの変化率
および前記ブロックの輝度レベルの分布の変化率を算出
し、前記逆光高輝度検出手段は、前記輝度変化率算出手
段の算出結果および前記分割された複数のブロックのう
ちの任意の複数ブロックから構成されるエリア間の輝度
比に基づき、逆光、過順光、および高輝度部を判定する
ものである。
【0008】また、請求項3に係る発明は、請求項1に
記載の発明において、前記逆光高輝度検出手段は、無限
遠から至近側までフォーカスレンズを移動させた後、ま
たは、山登りスキャンで合焦位置を検出した後に、逆
光、過順光、および高輝度部を判定し、また、高輝度の
ブロックを削除するものである。
【0009】また、請求項4に係る発明は、請求項1に
記載の発明において、前記逆光高輝度検出手段は、輝度
レベルまたは輝度レベルの変化率が所定の閾値より大き
いブロックを高輝度のブロックとして削除するものであ
る。
【0010】また、請求項5に係る発明は、請求項1に
記載の発明において、前記逆光高輝度検出手段は、前記
輝度変化率算出手段の算出結果に基づき、逆光、過順
光、および高輝度部を判定して状態定数を設定し、前記
補正量生成手段は、前記状態定数に基づき前記露出補正
量を算出するものである。
【0011】また、請求項6に係る発明は、請求項1に
記載の発明において、前記逆光高輝度検出手段は、前記
ブロックの輝度レベルの分布の変化率が所定の閾値より
大きい場合に高輝度部があると判定するものである。
【0012】
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明に係る好適な実施の形態を詳細に説明する。
【0013】(実施の形態1)図1はこの発明にデジタ
ルスチルビデオカメラの一実施の形態(実施の形態1)
を示すブロック図である。図1において、1はデジタル
スチルビデオカメラを示しており、このデジタルスチル
ビデオカメラ1は、レンズ11、絞り12,CCD1
3、CDS(2重相関サンプリング)回路14,AGC
回路15,A/D変換器16,画像信号処理回路17,
ブロック生成回路18、状態検出回路19,輝度変化率
算出回路20,逆光高輝度検出回路21、補正量生成回
路22,露出制御回路23,フォーカス制御回路24,
およびフォーカス駆動回路25を備えている。
【0014】CCD13は、上述のレンズ11を介して
入射された光信号をアナログ画像データ(電気信号)に
変換する。CDS回路14は、CCD13の出力に接続
され、CCD13の出力信号を相関2重サンプリングし
てCCD13の出力信号のノイズを低減させる。
【0015】AGC回路15は、CDS回路14に接続
され、CDS回路14の出力信号のゲインを調整して信
号レベルを補正する。A/D変換器16は、AGC回路
15の出力に接続され、AGC回路15の出力信号を最
適なサンプリング周波数(例えば、NTSC信号のサブ
キャリア周波数の整数倍)にてアナログ−デジタル信号
に変換してデジタル画像データを出力する。
【0016】画像信号処理回路17は、A/D変換器1
6から入力したデジタル画像データに対してガンマ補
正、色分離等の通常のビデオ信号処理を施して、NTS
C方式に準拠した輝度信号と色差信号を生成して出力す
る。また、ブロック生成回路18は、画面の一部または
全部を複数のブロックに分割し、画像信号処理回路17
から出力される輝度信号を、各ブロック内で累積して各
ブロック毎の累積輝度を算出する。
【0017】上記状態検出回路19は、ブロック生成回
路18の出力に基づき、各ブロックの累積輝度の輝度レ
ベルが基準範囲内にあるか否かを判定する。また、輝度
変化率算出回路20は、ブロック毎の輝度レベルの変化
率およびブロックの輝度レベルの分布の変化率を算出す
る。
【0018】逆光高輝度検出回路21は、輝度変化率算
出回路20の算出結果に基づき、逆光、過順光、高輝度
部の検出、および高輝度のブロックの削除を行う。補正
量生成回路22は、逆光高輝度検出回路21の判定結果
に基づき、露出補正量を算出する。露出制御回路23
は、補正量生成回路22で算出された露出補正量に基づ
いて露出制御量を算出して、絞り12の絞り値、CCD
13のシャッター速度、AGC回路14のゲイン値等を
制御して露出制御を行う。また、フォーカス制御回路2
4は、フォーカス情報を生成し、被写体の焦点が合う位
置(合焦位置)を算出する。フォーカス駆動回路25
は、レンズ11を駆動する。
【0019】なお、図1に示した構成において、ブロッ
ク生成回路18はブロック分割手段を、輝度変化率算出
回路20は輝度変化率算出手段を、逆光高輝度検出回路
21は逆光高輝度検出手段を、補正量生成回路22は補
正量生成手段を,露出制御回路23は露出制御手段をそ
れぞれ実現している。
【0020】次に、ブロック生成回路18、状態検出回
路19,輝度変化率算出回路20,逆光高輝度検出回路
21、補正量生成回路22,および露出制御回路23の
詳細な処理内容を順に説明する。
【0021】[ブロック生成回路18]ブロック生成回
路18は、上述した如く、入力画像(画面)を、複数の
ブロックに分割し、各ブロック内で輝度信号を累積して
各ブロック毎の累積輝度を算出する。以下では、ブロッ
ク生成回路18により、図2に示すような、8×6ブロ
ックの累積輝度が生成された場合を例に挙げて説明す
る。フォーカス位置が無限遠位置のときの8×6ブロッ
クの累積輝度をY(i,j)とする(i=1〜8,j=
1〜6)。また、8×6のブロックを、図2に示すよう
に、エリア1〜6に区分した場合を例に挙げて説明す
る。同図において、エリア5は、エリア6を含んでいな
いものとする。
【0022】[状態検出回路19]状態検出回路19
は、上述した如く、ブロック生成回路18の出力に基づ
き、任意のエリアの輝度レベルが基準範囲内にあるか否
かを判定する。ここで、状態検出回路19の動作を図3
を参照して説明する。図3は状態検出回路19の動作を
説明するためのフローチャートである。なお、図3にお
いて、初期状態では、輝度レベルは、基準の輝度レベル
の範囲内でないものとする。
【0023】まず、露出制御回路23の制御により、C
CD13にpEVで露光が行われる(ステップS10
1)。状態検出回路19では、露光量pEVで露光した
結果得られる任意のエリアの輝度レベルYc が、基準の
輝度レベルの範囲内であるか否かを、Y1_Thrd<Yc
<Yu_Thrdであるか否かにより判定する(ステップS
102)。ここで、Y1_Thrd、Yu_Thrdは、基準の
輝度レベルの範囲を決める下限、上限のしきい値であ
る。また、Yc は、例えば、図2のエリア5とエリア6
内の全ブロックの平均値とし、下式(1)により算出す
る。 Yc =ΣY(i,j)/16 ‥‥‥ (1) 但し、i=3〜6,j=2〜5 また、上記した如く、Y(i,j)は、各ブロックの累
積輝度を示す。
【0024】この判定の結果、Y1_Thrd<Yc <Yu
_Thrdの範囲内でない場合には、露出制御回路23によ
り、露光量を変更して露光量qEVでCCD13への露
光が行われ(ステップS103)、露光量qEVで露光
した結果得られる輝度信号の輝度レベルが、Y1_Thrd
<Yc <Yu_Thrdとなるか否かの判定が行われる(ス
テップS102)。
【0025】他方、Y1_Thrd<Yc <Yu_Thrdの範
囲内である場合には、処理はステップS104に移行
し、補正量生成回路22はCVを算出する。ここで、C
Vは、Yc を基準の輝度レベルとする基準値Tまでの補
正量であり、例えば、下式(2)により算出される。 CV=−log2 (T/Yc ) ‥‥‥ (2)
【0026】そして、露出制御回路23は、以降、補正
量生成回路22で露出補正量mEVを算出するための撮
像では、p+CV(q+CV)EVの露光量でCCD1
3に露光を行う(ステップS105)。
【0027】なお、インプリメントする際には、CV
は、線形補間等をして算出することにしても良い。ま
た、pEV、qEVは、測光時において、測光範囲を全
域カバーできるような任意のEVを指定すれば良い。一
般的なシーンでは、画面内に含まれる各輝度の被写体
は、約5EVの範囲となっている。従って、例えば、測
光可能な範囲を9〜17EVとした場合は、p=13,
q=16とすると全域をカバーできる。
【0028】また、任意のエリアの輝度レベルYc が、
基準の輝度レベルの範囲内(Y1_Thrd<Yc <Yu_
Thrd)となった場合には、フォーカス制御回路24によ
り合焦位置が算出される。かかる合焦位置は、例えば山
登りサーボ方式を使用して決定する。フォーカス制御回
路24は、フォーカス駆動回路25を制御してレンズ1
1を駆動しながら撮像して得られる輝度信号の高周波成
分をバンドパスフィルタ等により抽出してフォーカス情
報を算出する。そして、フォーカス制御回路24は、輝
度信号の高周波成分が最大となるレンズ位置を合焦位置
と決定する。また、山登りサーボを行うレンズ駆動時
に、任意のステップ間隔で測光を行い、逆光、過順光、
および高輝度部の判定等のための輝度情報を取得する。
【0029】[輝度変化率算出回路20]輝度変化率算
出回路20は、上述した如く、ブロック毎の輝度信号の
変化率およびブロックの輝度信号の分布の変化率を算出
する。ここで、輝度変化率算出回路20の動作を図4〜
図9を参照して説明する。以下では、フォーカス領域の
無限遠位置から至近側まで、若しくは山登りスキャンで
合焦位置を検出するまでの間において、nポイントで輝
度信号を取得した場合を例に挙げて説明する。なお、輝
度信号の取得は、被写界深度内で複数回行っても輝度信
号の変化率が取りにくいため、被写界深度内で複数回は
行わないものとする。この場合の8×6ブロックの累積
輝度をY1 (i,j)〜Yn (i,j)とする(但し、
i=1〜8,j=1〜6)。
【0030】図4は画面上のシーンの一例を示す図であ
る。図5は図4の画面の一部をブロックA,B,Cと
し、各ブロックA、B、Cのレンズ位置が∞〜Near
までの各ポイント(1〜n)における輝度レベルを示
す。図4において、ブロックAは逆光になっている被写
体の一部を示す。ブロックBはブロック内の一部にかな
り高輝度のものを含む場合で高輝度部分は無限遠に位置
している場合を示す。ブロックCはブロック内の全体が
比較的高輝度になっている場合を示す。
【0031】また、図5において、横軸はフォーカス領
域の無限遠から至近側までにおける輝度信号を取得した
ポイント位置、縦軸は輝度レベルを示す。同図に示すよ
うに、ブロックB,C、Aの順に輝度レベルが高くなっ
ている。
【0032】図6は、図4に示すシーンにおける8×6
ブロックの累積輝度の無限側での輝度レベルの分布例を
示し、図7は、図4に示すシーンにおける8×6ブロッ
クの累積輝度の至近側での輝度レベルの分布例を示す。
図6および図7において、縦軸は分布数、横軸は輝度レ
ベルを示す。
【0033】ところで、極端に暗い場合を除いて、光源
等の局所的な高輝度部がないものについては、フォーカ
ス位置に無関係に比較的輝度レベルが一定になる。他
方、光源等の局所的な高輝度部があるものは、ぼけ量が
大きくなるにつれて高輝度部の範囲が拡大してくるの
で、ブロック内の高輝度部分の占める割合が大きくな
り、図5〜図7に示すような輝度レベルの分布となる。
【0034】輝度変化率算出回路20は、ブロック毎の
輝度レベルの変化率を、例えば、下式(3)により算出
する。 y _rate(i、j)=min {Yf (i、j)}/max {Yg (i、j)} ‥‥‥ (3) 但し、i=1〜8、j=1〜6 y_rate(i、j):任意のブロックの輝度レベルの変
化率 min{Yf (i、j)}:Y1 (i,j)〜Yn (i,
j)における最小値 max{Yg (i、j)}:Y1 (i,j)〜Yn (i,
j)における最大値
【0035】また、輝度変化率算出回路20は、ブロッ
クの輝度レベルの分布の変化率を、以下の如くして算出
する。図6および図7の分布において、分布を輝度レベ
ルに応じてY1 〜Ym にm分割し、Y1 〜Ym で各々分
布数を求める。無限遠における各々の分布数をNinf
(Y1 )〜Ninf (Ym )、至近側における各々の分布
数をNnear(Y1 )〜Nnear(Ym )とした場合に、Y
1 〜Ym における無限側と至近側での分布数の絶対値差
D1 〜Dm は、それぞれ下式(4)の如く表すことがで
きる。 D1 =|Ninf (Y1 )−Nnear(Y1 )| : : : : Dm =|Ninf (Ym )−Nnear(Ym )| ‥‥‥ (4)
【0036】そして、輝度レベルの分布の変化率Drate
は、下式(5)の如く表すことができる。 Drate=ΣDk /(total ×2 )(k =1 〜m ) ‥‥‥ (5) 但し、total :総分布数(総ブロック数)
【0037】図8は、図6および図7の分布におけるD
1 〜Dm の例を示す。なお、輝度レベルに応じて分割す
る場合には、全範囲で行う必要はなく、簡略的に所定の
輝度レベル以上の範囲に限定して、Y1 〜YP にP分割
しても良い。この場合は、総分布数total は、所定の輝
度レベル以上での総分布数となり、この例を図9に示
す。
【0038】[逆光高輝度検出回路21]逆光高輝度検
出回路21は、前述した如く、輝度変化率算出回路20
の算出結果に基づき、順光、逆光、過順光、高輝度部の
検出、および高輝度のブロックの削除を行う。ここで、
逆光高輝度検出回路21の動作を図10〜図12を参照
して説明する。図10は逆光高輝度検出回路21の動作
を説明するためのフローチャートを示す。図11は図1
0の逆光処理を説明するためのフローチャートを示す。
図12は図10の過順光処理を説明するためのフローチ
ャートを示す。
【0039】図10は、中央重点としたときの例を示し
ている。同図に示すy _a1、y _a2、y _a5、y _a6
は、図2に示す各エリア1,2,5,6内のY(i,
j)の総ブロックの平均を示し、st_nl1 、st_nl2 、
st_nl3 は、順光の状態定数を示す。
【0040】図10において、逆光高輝度検出回路21
は、y _a5とy _a6とで輝度比があるか否かを判定し
(ステップS111)、y _a5とy _a6とで輝度比があ
る場合には、ステップS112に移行する一方、y _a5
とy _a6とで輝度比がない場合には、ステップS115
に移行する。
【0041】具体的には、y _a5とy _a6とで輝度比が
あるか否かの判定は以下の如く行う。まず、y _a5>y
_a6の場合は、y _a6×Y _THRD<y _a5を満たすとき
輝度比ありとし、y _a6×Y _THRD<y _a5を満たさな
い場合は輝度比なしとする。他方、y _a5<y _a6の場
合は、y _a5×Y _THRD<y _a6を満たすとき輝度比あ
りとし、y _a5×Y _THRD<y _a6を満たさない場合は
輝度比なしとする。ここで、Y _THRDは、輝度比に対す
る所定の閾値でY _THRD≧1 である。なお、y_a5=y
_a6の場合は、輝度比なしとする。
【0042】ステップS112では、逆光高輝度検出回
路21は、y _a5>y _a6か否かを判定し、y _a5>y
_a6であれば逆光であると判断して逆光処理を行う(ス
テップS113)一方、y _a5>y _a6でなければ過順
光であると判断して過順光処理を行う(ステップS11
4)。
【0043】ステップS115では、逆光高輝度検出回
路21は、y _a1とy _a6とで輝度比があるか否かを判
定し(ステップS111)、y _a1とy _a6とで輝度比
がある場合には、ステップS116に移行する一方、y
_a1とy _a6とで輝度比がない場合には、ステップS1
17に移行する。
【0044】具体的には、y _a1とy _a6とで輝度比が
あるか否かの判定は以下の如く行う。まず、y _a1>y
_a6の場合は、y _a6×Y _THRD<y _a1を満たすとき
輝度比ありとし、y _a6×Y _THRD<y _a1を満たさな
い場合は輝度比なしとする。他方、y _a1<y _a6の場
合は、y _a1×Y _THRD<y _a6を満たすとき輝度比あ
りとし、y _a1×Y _THRD<y _a6を満たさない場合は
輝度比なしとする。ここで、Y _THRDは、輝度比に対す
る所定の閾値でY _THRD≧1 である。なお、y_a1=y
_a6の場合は、輝度比なしとする。
【0045】ステップS116では、逆光高輝度検出回
路21は、y _a1>y _a6か否かを判定し、y _a1>y
_a6であれば逆光であると判断して逆光処理を行う(ス
テップS113)一方、y _a1>y _a6でなければ過順
光であると判断して過順光処理を行う(ステップS11
4)。
【0046】ステップS117では、逆光高輝度検出回
路21は、y _a6とy _a2とで輝度比があるか否かを判
定し、y _a6とy _a2とで輝度比がある場合には、ステ
ップS118に移行する一方、y _a6とy _a2とで輝度
比がない場合には、ステップS119に移行する。
【0047】具体的には、y _a6とy _a2とで輝度比が
あるか否かの判定は以下の如く行う。まず、y _a2>y
_a6の場合は、y _a6×Y _THRD<y _a2を満たすとき
輝度比ありとし、y _a6×Y _THRD<y _a2を満たさな
い場合は輝度比なしとする。他方、y _a2<y _a6の場
合は、y _a2×Y _THRD<y _a6を満たすとき輝度比あ
りとし、y _a2×Y _THRD<y _a6を満たさない場合は
輝度比なしとする。ここで、Y _THRDは、輝度比に対す
る所定の閾値でY _THRD≧1 である。なお、y_a2=y
_a6の場合は、輝度比なしとする。
【0048】ステップS118では、逆光高輝度検出回
路21は、y _a2>y _a6か否かを判定し、y _a2>y
_a6であれば逆光であると判断して逆光処理を行う(ス
テップS113)。一方、y _a2>y _a6でなければ過
順光であると判断して過順光処理を行う(ステップS1
14)。
【0049】さて、ステップS119では、逆光高輝度
検出回路21は、エリア5,6内に光源があるか否かを
判定し、エリア5,6内に光源があると判定した場合に
はステップS120に移行する一方、エリア5,6内に
光源がないと判定した場合にはステップS122に移行
する。
【0050】ステップS120では、逆光高輝度検出回
路21は、順光の状態定数としてst_nl1 を設定し、高
輝度除去処理を行う(ステップS121)。この高輝度
除去処理の内容を具体的に説明する。逆光高輝度検出回
路21は、エリア5,6内にて、Y(i,j)>high_
thrd、または、y _rate(i,j)>high_rate_thrd
のブロックを削除する。ここで、high__thrdは高輝度
レベルを判定する所定の閾値、 high _rate_thrdは高
輝度の輝度変化率を判定する所定の閾値である。
【0051】また、削除されないブロックY(i,j)
をYM(i,j)、その個数をYm_coとすると、Ym
_coが所定の閾値以下のときは、代表輝度RY を下式
(6)の如く表すことができ、また、Ym _coが所定の
閾値以下でないときには、代表輝度RY は下式(7)の
如く表すことができる。
【0052】 RY =ΣY(i,j)/16(i=3〜6,j=2〜5) ‥‥‥(6) RY =ΣYM(i,j)/Ym _co ‥‥‥(7)
【0053】他方、ステップS122では、逆光高輝度
検出回路21は、エリア1,2、3,4内に光源がある
か否かを判定し、エリア1,2、3,4内に光源がある
と判定した場合には状態定数としてst_nl3 を設定し
(ステップS123)、エリア1,2、3,4内に光源
がないと判定した場合には状態定数としてst_nl2 を設
定する(ステップS124)。
【0054】次に、上記ステップS113の逆光処理を
図11のフローチャートを参照して説明する。同図のst
_bl1 、st_bl2 は、逆光の状態定数を示す。図11に
おいて、逆光高輝度検出回路21は、エリア5,6内に
光源があるか否かを判定する(ステップS131)。こ
の判定の結果、エリア5,6内に光源がある場合には逆
光の状態定数としてst_bl1 を設定し(ステップS13
2)、エリア5,6内に光源がない場合には逆光の状態
定数としてst_bl2 を設定する(ステップS133)。
具体的には、光源の有無は、輝度レベルの分布の変化率
Drateが、Drate>Drate_thrdとなる場合に光源があ
るとし、Drate>Drate_thrdでない場合に光源がない
と判定する。ここで、Drate_thrdは、光源の有無を判
定する所定の閾値を示す。また、Drateを求める際の総
分布数total は、エリア内における総ブロック数を示
す。
【0055】次に、上記ステップS114の過順光処理
を図12のフローチャートを参照して説明する。同図の
st_ol1 、st_ol2 は、過順光の状態定数を示す。図1
2において、逆光高輝度検出回路21は、エリア5,6
内に光源があるか否かを判定する(ステップS14
1)。この判定の結果、エリア5,6内に光源がある場
合には過順光の状態定数としてst_ol1 を設定し(ステ
ップS142)、エリア5,6内に光源がない場合には
過順光の状態定数としてst_ol2 を設定する(ステップ
S133)。光源の有無の判定方法は、上記と同様であ
るのでその説明は省略する。
【0056】[補正量生成回路22]補正量生成回路2
2は、上述した如く、逆光高輝度検出回路21の順光
(st_nl1 、st_nl2 、st_nl3 )、逆光(st_bl1 、
st_bl2 )、過順光(st_ol1、st_ol2 )の判定結果
に基づき、露出補正量mEVを算出する。補正量生成回
路22の動作を図13〜図17を参照して説明する。図
13は、補正量生成回路22の動作を説明するためのフ
ローチャートである。
【0057】まず、図13のフローチャートの説明で使
用する変数の説明を行う。 CMP :規定補正量 w _bl1 、w _bl2 :st_bl1 、st_bl2 の場合のそれ
ぞれの補正係数 w _ol1 、w _ol2 :st_ol1 、st_ol2 の場合のそれ
ぞれの補正係数 w _nl1 、w _nl2 :st_nl1 、st_nl2 の場合のそれ
ぞれの補正係数 w _nl31、w _nl32:st_nl3 の場合の補正係数 ev_thrd:輝度を表す所定の閾値(Ev)を示す。図中
で、輝度がev_thrdより大か?とは、”エリア5,6を
用いて測光したときの絶対的な輝度(Ev)が、ev_th
rdより大か”ということを意味する。
【0058】前述した補正係数w _bl1 、w _bl2 、w
_ol1 、w _ol2 、w _nl1 、w _nl2 、w _nl31、w
_nl32は、以下の〜に示す特性を有する。 |w _bl1 |≧|w _bl2 |となり、w _bl1 、w _
bl2 は、ともに基準値Tに対して、オーバー方向になる
ような補正係数である。 |w _ol1 |≦|w _ol2 |となり、w _ol1 、w _
ol2 は、ともに基準値Tに対して、アンダー方向になる
ような補正係数である。 |w _nl31|≧|w _nl32|となり、w _nl31、w _
nl32は、ともに基準値Tに対して、オーバー方向になる
ような補正係数である。 |w _nl2 |≦|w _nl32|となり、w _nl2 は、基
準値Tに対して、オーバー方向またはアンダー方向にな
るような微妙な補正係数である。 w _nl1 は、基準値Tに対し、オーバー方向またはア
ンダー方向になるような微妙な補正係数である。
【0059】図13において、補正量生成回路22は、
逆光高輝度検出回路21で設定された状態定数を判別
し、露出補正量mEVを算出する。具体的には、まず、
補正量生成回路22は、状態定数としてst_bl1 が設定
されているか否かを判別する(ステップS151)。補
正量生成回路22は、状態定数としてst_bl1 が設定さ
れていない場合にはステップS152に移行する一方、
状態定数としてst_bl1が設定されている場合には、露
出補正量mEVを下式(8)により算出する(ステップ
S158)。 mEV=CMP ×w _bl1 ‥‥‥ (8)
【0060】ステップS152では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_bl2 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_bl2 が設定されていない場合にはステップS153に
移行する一方、状態定数としてst_bl2 が設定されてい
る場合には、露出補正量mEVを下式(9)により算出
する(ステップS159)。 mEV=CMP ×w _bl2 ‥‥‥ (9)
【0061】ステップS153では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_ol1 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_ol1 が設定されていない場合にはステップS154に
移行する一方、状態定数としてst_ol1 が設定されてい
る場合には、露出補正量mEVを下式(10)により算
出する(ステップS160)。 mEV=CMP ×w _ol1 ‥‥‥ (10)
【0062】ステップS154では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_ol2 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_ol2 が設定されていない場合にはステップS155に
移行する一方、状態定数としてst_ol1 が設定されてい
る場合には、露出補正量mEVを下式(11)により算
出する(ステップS161)。 mEV=CMP ×w _ol2 ‥‥‥ (11)
【0063】ステップS155では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_nl1 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_nl1 が設定されていない場合にはステップS156に
移行する一方、状態定数としてst_nl1 が設定されてい
る場合には、露出補正量mEVを下式(12)により算
出する(ステップS162)。 mEV=−log2 (T/RY)+CMP ×w _nl1 ‥‥‥(12)
【0064】ステップS156では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_nl2 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_nl2 が設定されていない場合にはステップS157に
移行する一方、状態定数としてst_nl2 が設定されてい
る場合には、露出補正量mEVを下式(13)により算
出する(ステップS163)。 mEV=CMP ×w _nl2 ‥‥‥ (13)
【0065】ステップS157では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_nl3 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_nl3 がが設定されている場合には、ステップS164
に移行し、輝度がev_thrdより大か否かを判別する。こ
の判別の結果、補正量生成回路22は、輝度がev_thrd
より大きい場合には、ステップS165に移行して、下
式(14)により露出補正量mEVを算出する。一方、
輝度がev_thrdより大きくない場合には、ステップS1
66に移行して、下式(15)により露出補正量mEV
を算出する。 mEV=CMP ×w _nl31 ‥‥‥ (14) mEV=CMP ×w _nl32 ‥‥‥ (15)
【0066】次に、逆光状態、過順光状態、および順光
状態の具体的なイメージ例を図14〜図17に示す。図
14〜図17において、”あり”、”なし”は、図10
における比較をしている所定のブロックの集まりである
任意のエリア間の輝度比が、各々”あり”、”なし”を
示している。
【0067】図14は状態定数がst_bl1 (逆光状態)
となるイメージ例を示す。同図は、逆光でかつ光源等の
局所的な高輝度部分を含むイメージ例である。同図のイ
メージは、エリア間の輝度比があり逆光と判定され、ま
た、高輝度部ありと判定される。従って、同図に示すよ
うなイメージでは、逆光であり、かつ、光源等の局所的
な高輝度部分を含み露出がアンダーぎみとなるため、オ
ーバー側へ補正を比較的大きく行う。
【0068】図15は状態定数がst_ol1 (過順光状
態)となるイメージ例を示す。同図は、過順光でかつ光
源等の局所的な高輝度部分を含むイメージ例である。同
図のイメージは、エリア間の輝度比があり、過順光と判
定され、また、高輝度部ありと判定される。従って、露
出はオーバーぎみになるが光源等の局所的な高輝度部分
も含むため、アンダー側へ補正を比較的小さく行う。
【0069】図16は状態定数がst_nl1 (順光状態)
となるイメージ例を示す。同図は、被写体が小さく、ブ
ロック内で光源等の局所的な高輝度部分を含み、かつエ
リア間の輝度比がないイメージ例である。同図のイメー
ジは、エリア間の輝度比からは逆光と判定されないが、
高輝度部ありと判定される。従って、同図に示すような
イメージでは、高輝度部分を含んでいるので、高輝度部
分を削除して再測光する。
【0070】図17は状態定数がst_nl3 (順光状態)
となるイメージ例を示す。同図は、周辺部に光源等の局
所的な高輝度部分を含み、周辺部がかなり明るいイメー
ジ例である。従って、エリア間の輝度比はないが、同図
に示すようなイメージでは、周辺部の影響で露出がアン
ダーぎみになるため、オーバー側へ補正を比較的大きく
行う。
【0071】[露出制御回路23]露出制御回路23
は、補正量生成回路22から出力される露出補正量mE
Vに基づいて露出制御量を算出し、絞り12の絞り値、
CCD13のシャッター速度、およびAGC回路16の
ゲイン値等を制御して露出制御する。
【0072】以上説明したように、上記した実施の形態
においては、ブロック生成回路18は画面の一部または
全部を複数のブロックに分割し、輝度変化率算出回路2
0は、ブロック毎の輝度レベルの変化率およびブロック
の輝度レベルの分布の変化率を算出し、逆光高輝度検出
回路21は、輝度変化率算出回路20の算出結果に基づ
き逆光、過順光、および高輝度部を判定し、また、高輝
度のブロックを削除し、補正量制御回路22は、逆光高
輝度検出回路21の判定結果に基づき露出補正量を算出
し、露出制御回路23は露出補正量に基づき露出制御量
を求めて露出制御を行うこととしたので、逆光、過順
光、および局所的な高輝度部を含む被写体の場合でも適
切な露出制御が可能となる。
【0073】また、上記した実施の形態では、輝度変化
率算出回路20は、フォーカスレンズを移動させた際に
各レンズ位置で取得した輝度信号に基づきブロック毎の
輝度レベルの変化率およびブロックの輝度レベルの分布
の変化率を算出し、逆光高輝度検出回路21は、輝度変
化率算出回路20の算出結果および分割された複数のブ
ロックのうちの任意の複数ブロックから構成されるエリ
ア間の輝度比に基づき、逆光、過順光、および高輝度部
を判定することとしたので、ブロック内での小さな高輝
度部分や任意のエリア間の輝度比を正確に判定でき、精
度良く、逆光、過順光および高輝度部の判定、並びに高
輝度のブロックの削除が可能となる。
【0074】また、上記した実施の形態では、逆光高輝
度検出回路21、無限遠から至近側までフォーカスレン
ズを移動させた後、または、山登りスキャンで合焦位置
を検出した後に、逆光、過順光、および高輝度部を判定
し、また、高輝度のブロックを削除することとしたの
で、フォーカスレンズ移動後に取得されたブロックにお
ける輝度レベルの変化率および輝度レベルの分布の変化
率を用いることができ、精度良く、逆光、過順光および
高輝度部の判定、並びに高輝度部のブロックの削除が可
能となる。
【0075】また、上記した実施の形態では、逆光高輝
度検出回路21は、輝度レベルまたは輝度レベルの変化
率が所定の閾値より大きいブロックを高輝度のブロック
として削除することとしたので、ブロック内全体が高輝
度部分であるもの、およびブロック内に小さな高輝度部
分があるものにも対応でき、正確に高輝度部分を削除す
ることが可能となる。
【0076】また、上記した実施の形態では、逆光高輝
度検出回路21は、輝度変化率算出回路20の算出結果
に基づき、逆光、過順光、および高輝度部を判定して状
態定数を設定し、補正量生成回路22は、当該状態定数
に基づき露出補正量を算出することとしたので、逆光お
よび過順光の度合に応じた露出制御が可能となる。
【0077】また、上記した実施の形態では、逆光高輝
度検出回路21は、ブロックの輝度レベルの分布の変化
率が所定の閾値より大きい場合に高輝度部があると判定
することとしたので、精度良く高輝度部を判定すること
が可能となる。
【0078】(実施の形態2)図18に示すように、マ
イクロプロセッサ等のデジタル処理回路を使用して図1
で示したデジタルスチルビデオカメラと同様の処理を行
うことが可能である。図18はこの発明に係るデジタル
スチルビデオカメラの一実施の形態(実施の形態2)の
構成を示すブロック図である。
【0079】図18に示すデジタルスチルビデオカメラ
は、CCDカメラ部31、A/D変換器32、画像信号
処理部33、画像データを格納するフレームメモリ3
4、ブロック生成部35、露出補正部36、メモリカー
ド37、フォーカス制御部38、CPU39,CCDカ
メラ制御部40から構成されている。
【0080】CCDカメラ部31は、図1のレンズ1、
絞り12、CCD13、CDS回路14、およびAGC
回路15に、ブロック生成部35は、図1のブロック生
成回路18に、露出補正部36は、図1の状態検出回路
19、輝度変化率算出回路20、逆光高輝度検出回路2
1、および補正量生成回路22に、フォーカス制御部3
8は、図1のフォーカス制御回路24に、CCDカメラ
制御部40は、図1の露出制御回路23およびフォーカ
ス駆動回路25にそれぞれ対応し上述したのと同様の動
作を行う。また、CPU39は、各部の動作を制御す
る。
【0081】なお、本発明は上記した実施の形態に限定
されるものではなく、発明の要旨を変更しない範囲で適
宜変更して実施可能である。例えば、上記した実施の形
態では、画面のブロック数を8×6とした例を説明した
が、本発明はこれに限られるものではなく、画面のブロ
ック数はいくつとしても良い。また、エリアの区分も上
記した実施の形態に限定されるものではない。
【0082】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に係る発
明によれば、ブロック分割手段は画面の一部または全部
を複数のブロックに分割し、輝度変化率算出手段はブロ
ック毎の輝度レベルの変化率およびブロックの輝度レベ
ルの分布の変化率を算出し、逆光高輝度検出手段は輝度
変化率算出手段の算出結果に基づき、逆光、過順光、お
よび高輝度部を判定し、また、高輝度のブロックを削除
し、補正量生成手段は輝度検出手段の判定結果に基づき
露出補正量を算出し、露出制御手段は露出補正量に基づ
き露出制御量を算出して露出制御を行うこととしたの
で、逆光、過順光、および局所的な高輝度部を含む被写
体の場合でも適切な露出制御が可能となる。
【0083】また、請求項2に係る発明によれば、請求
項1に記載の発明において、輝度変化率算出手段は、フ
ォーカスレンズを移動させた際に各レンズ位置で取得し
た輝度信号に基づきブロック毎の輝度レベルの変化率お
よびブロックの輝度レベルの分布の変化率を算出し、逆
光高輝度検出手段は、輝度変化率算出手段の算出結果お
よび分割された複数のブロックのうちの任意の複数ブロ
ックから構成されるエリア間の輝度比に基づき、逆光、
過順光、および高輝度部を判定することとしたので、請
求項1に記載の発明の効果に加えて、ブロック内での小
さな高輝度部分や任意のエリア間の輝度比を正確に判定
でき、精度良く、逆光、過順光および高輝度部の判定、
並びに高輝度のブロックの削除が可能となる。
【0084】また、請求項3に係る発明によれば、請求
項1に記載の発明において、逆光高輝度検出手段は、無
限遠から至近側までフォーカスレンズを移動させた後、
または、山登りスキャンで合焦位置を検出した後に、逆
光、過順光、および高輝度部を判定し、また、高輝度の
ブロックを削除することとしたので、請求項1に記載の
発明の効果に加えて、フォーカスレンズ移動後に取得さ
れたブロックにおける輝度レベルの変化率および輝度レ
ベルの分布の変化率を用いることができ、精度良く、逆
光、過順光および高輝度部の判定、並びに高輝度部のブ
ロックの削除が可能となる。
【0085】また、請求項4に係る発明によれば、請求
項1に記載の発明において、逆光高輝度検出手段は、輝
度レベルまたは輝度レベルの変化率が所定の閾値より大
きいブロックを高輝度のブロックとして削除することと
したので、請求項1に記載の発明の効果に加えて、ブロ
ック内全体が高輝度部分であるもの、およびブロック内
に小さな高輝度部分があるものにも対応でき、正確に高
輝度部分を削除することが可能となる。
【0086】また、請求項5に係る発明によれば、請求
項1に記載の発明において、逆光高輝度検出手段は、輝
度変化率算出手段の算出結果に基づき、逆光、過順光、
および高輝度部を判定して状態定数を設定し、補正量生
成手段は、当該状態定数に基づき露出補正量を算出する
こととしたので、請求項1に記載の発明の効果に加え
て、逆光および過順光の度合に応じた露出制御が可能と
なる。
【0087】また、請求項6に係る発明によれば、請求
項1に記載の発明において、逆光高輝度検出手段は、ブ
ロックの輝度レベルの分布の変化率が所定の閾値より大
きい場合に高輝度部があると判定することとしたので、
請求項1に記載の発明の効果に加えて、精度良く高輝度
部を判定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係るデジタルスチルビデオカメラの
一実施の形態(実施の形態1)を示すブロック図であ
る。
【図2】画面のブロックおよびエリア分割例を示す図で
ある。
【図3】図1の状態検出回路の動作を説明するためのフ
ローチャートである。
【図4】画面上のシーンの一例を示す図である。
【図5】図4の画面の一部をブロックA,B,Cとした
場合に、各ブロックA、B、Cのレンズ位置が∞〜Ne
arまでの各ポイント(1〜n)における輝度レベルを
示す図である。
【図6】図4に示すシーンにおける8×6ブロックの累
積輝度の無限側での輝度レベルの分布例を示す図であ
る。
【図7】図4に示すシーンにおける8×6ブロックの累
積輝度の至近側での輝度レベルの分布例を示す図であ
る。
【図8】輝度レベルの分布数を説明するための説明図
(その1)である。
【図9】輝度レベルの分布数を説明するための説明図
(その2)である。
【図10】逆光高輝度検出回路の動作を説明するための
フローチャートである。
【図11】図10の逆光処理を説明するためのフローチ
ャートである。
【図12】図10の過順光処理を説明するためのフロー
チャートである。
【図13】図1の補正量生成回路の動作を説明するため
のフローチャートである。
【図14】逆光状態の具体的なイメージ例を示す図であ
る。
【図15】過順光状態の具体的なイメージ例を図であ
る。
【図16】順光状態の具体的なイメージ例(その1)を
図である。
【図17】順光状態の具体的なイメージ例(その1)を
図である。
【図18】この発明に係るデジタルスチルビデオカメラ
の一実施の形態(実施の形態2)の構成を示すブロック
図である。
【図19】従来技術を示しており、画面(画像)の分割
例を示している。
【図20】従来技術を示しており、逆光状態の画面(画
像)の分割例を示している。
【符号の説明】
1 デジタルスチルビデオカメラ 11 レンズ 12 絞り 13 CCD 14 CDS回路 15 AGC回路 16 A/D変換器 17 画像信号処理回路 18 ブロック生成回路 19 状態検出回路 20 輝度変化率算出回路 21 逆光高輝度検出回路 22 補正量生成回路 23 露出制御回路 24 フォーカス制御回路 25 フォーカス駆動回路 31 CCDカメラ部 32 A/D変換器 33 画像信号処理部 34 フレームメモリ 35 ブロック生成部 36 露出補正部 37 メモリカード 38 フォーカス制御部 39 CPU 40 CCDカメラ制御部

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画面の一部または全部を複数のブロック
    に分割するブロック分割手段と、 前記ブロック毎の輝度レベルの変化率および前記ブロッ
    クの輝度レベルの分布の変化率を算出する輝度変化率算
    出手段と、 前記輝度変化率算出手段の算出結果に基づき、逆光、過
    順光、および高輝度部を判定し、また、高輝度のブロッ
    クを削除する逆光高輝度検出手段と、 前記逆光高輝度検出手段の判定結果に基づき、露出補正
    量を算出する補正量生成手段と、 前記露出補正量に基づき露出制御量を算出して露出制御
    を行う露出制御手段と、 を備えたことを特徴とするデジタルスチルビデオカメ
    ラ。
  2. 【請求項2】 前記輝度変化率算出手段は、フォーカス
    レンズを移動させた際に各レンズ位置で取得した輝度信
    号に基づき前記ブロック毎の輝度レベルの変化率および
    前記ブロックの輝度レベルの分布の変化率を算出し、 前記逆光高輝度検出手段は、前記輝度変化率算出手段の
    算出結果および前記分割された複数のブロックのうちの
    任意の複数ブロックから構成されるエリア間の輝度比に
    基づき、逆光、過順光、および高輝度部を判定すること
    を特徴とする請求項1に記載のデジタルスチルビデオカ
    メラ。
  3. 【請求項3】 前記逆光高輝度検出手段は、無限遠から
    至近側までフォーカスレンズを移動させた後、または、
    山登りスキャンで合焦位置を検出した後に、逆光、過順
    光、および高輝度部を判定し、また、高輝度のブロック
    を削除することを特徴とする請求項1に記載のデジタル
    スチルビデオカメラ。
  4. 【請求項4】 前記逆光高輝度検出手段は、輝度レベル
    または輝度レベルの変化率が所定の閾値より大きいブロ
    ックを高輝度のブロックとして削除することを特徴とす
    る請求項1に記載のデジタルスチルビデオカメラ。
  5. 【請求項5】 前記逆光高輝度検出手段は、前記輝度変
    化率算出手段の算出結果に基づき、逆光、過順光、およ
    び高輝度部を判定して状態定数を設定し、 前記補正量生成手段は、前記状態定数に基づき前記露出
    補正量を算出することを特徴とする請求項1に記載のデ
    ジタルスチルビデオカメラ。
  6. 【請求項6】 前記逆光高輝度検出手段は、前記ブロッ
    クの輝度レベルの分布の変化率が所定の閾値より大きい
    場合に高輝度部があると判定することを特徴とする請求
    項1に記載のデジタルスチルビデオカメラ。
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