JP2000201295A - Digital still video camera - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、デジタルスチル
ビデオカメラに関し、より詳細には、逆光、過順光、お
よび高輝度部を判定して露出制御を行うデジタルスチル
ビデオカメラに関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a digital still video camera, and more particularly, to a digital still video camera that determines backlight, over-directed light, and a high-luminance portion and controls exposure.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、ビデオカメラや銀塩カメラにおい
て、逆光、過順光、順光の状態を判定して露出制御する
方式として、画面の中央部分に着目して、中央部分のエ
リアの輝度と中央部を除く周辺部のエリアの輝度を比較
することで、逆光、過順光、順光の状態を判別し、その
状態に応じて露出を制御するものがある。2. Description of the Related Art Conventionally, in a video camera or a silver halide camera, as a method of judging the state of back light, over-direct light, or direct light, exposure control is performed by focusing on a central portion of a screen. In some cases, the state of backlight, over-directed light, or forward light is determined by comparing the brightness of the area with the peripheral area excluding the central part, and the exposure is controlled according to the state.
【0003】例えば、特開平6−225205号公報で
は、2次元画像を複数のブロックに分割し、各ブロック
毎に輝度信号を累積し、累積データを求めて、画面の中
央部分が逆光状態か、過順光状態かをブロックのデータ
により判定し、アイリスを適正状態に制御するビデオカ
メラが開示されている。具体的には、図19に示す如
く、撮像される2次元画像を4×4のブロック(a〜
p)に分割し、例えば、図20に示す如き中央の人物が
暗く沈み込んだ逆光状態では、f、g、j、k、n,o
のブロックとその他のブロックとの輝度を比較して順
光、逆光を判断している。For example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-225205, a two-dimensional image is divided into a plurality of blocks, luminance signals are accumulated for each block, and accumulated data is obtained. There is disclosed a video camera that determines whether an over-illuminated state is present based on block data and controls an iris to an appropriate state. Specifically, as shown in FIG. 19, the captured two-dimensional image is divided into 4 × 4 blocks (a to
p) and, for example, in a backlight state where the central person is darkly sunk as shown in FIG. 20, f, g, j, k, n, o
The luminance of the block is compared with the luminance of the other blocks to determine the direct light or the backlight.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記特
開平6−225205号公報に記載されたビデオカメラ
にあっては、逆光または過順光時には、補正基準値を変
化させて対応しているが、被写体の位置または大きさに
よっては、図20に示すような逆光状態となっている被
写体とそれ以外の部分の輝度の差が正確に反映されず、
逆光、順光、および過順光の検出に失敗して適正な露出
補正値を算出することができず、精度の良い露出制御が
できないという問題がある。この問題は、局所的に高輝
度のものを含む場合も同様である。However, in the video camera described in Japanese Patent Laid-Open No. 6-225205, the backlight or the over-directed light is changed by changing the correction reference value. Depending on the position or size of the subject, the difference in luminance between the subject in the backlight state as shown in FIG. 20 and the other portions is not accurately reflected,
There is a problem that the detection of the backlight, the forward light, and the over-direct light fails, so that an appropriate exposure correction value cannot be calculated, and accurate exposure control cannot be performed. This problem is the same also when a high brightness thing is included locally.
【0005】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、逆光、過順光、局所的な高輝度部を含む被写体
の場合においても、適正な露出制御を行うことが可能な
デジタルスチルビデオカメラを提供することを目的とす
る。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has been made in consideration of a digital still which can perform appropriate exposure control even in a case of a subject including a backlight, an over-direct light, and a local high-luminance portion. It is intended to provide a video camera.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上述課題を解決するため
に、請求項1に係る発明は、画面の一部または全部を複
数のブロックに分割するブロック分割手段と、前記ブロ
ック毎の輝度レベルの変化率および前記ブロックの輝度
レベルの分布の変化率を算出する輝度変化率算出手段
と、前記輝度変化率算出手段の算出結果に基づき、逆
光、過順光、および高輝度部を判定し、また、高輝度の
ブロックを削除する逆光高輝度検出手段と、前記逆光高
輝度検出手段の判定結果に基づき、露出補正量を算出す
る補正量生成手段と、前記露出補正量に基づき露出制御
量を算出して露出制御を行う露出制御手段と、を備えた
ものである。In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 comprises a block dividing means for dividing a part or the whole of a screen into a plurality of blocks, and a luminance level of each block. A luminance change rate calculating means for calculating a change rate and a change rate of the distribution of the luminance level of the block; and, based on a calculation result of the luminance change rate calculating means, determining a backlight, an over-sequential light, and a high luminance portion, and A backlight high-luminance detecting means for deleting a high-luminance block; a correction-amount generating means for calculating an exposure correction amount based on a determination result of the backlight high-luminance detecting means; and an exposure control amount based on the exposure correction amount. Exposure control means for performing exposure control.
【0007】また、請求項2に係る発明は、請求項1に
記載の発明において、前記輝度変化率算出手段は、フォ
ーカスレンズを移動させた際に各レンズ位置で取得した
輝度信号に基づき前記ブロック毎の輝度レベルの変化率
および前記ブロックの輝度レベルの分布の変化率を算出
し、前記逆光高輝度検出手段は、前記輝度変化率算出手
段の算出結果および前記分割された複数のブロックのう
ちの任意の複数ブロックから構成されるエリア間の輝度
比に基づき、逆光、過順光、および高輝度部を判定する
ものである。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the brightness change rate calculating means is configured to execute the block based on a brightness signal acquired at each lens position when a focus lens is moved. Calculating the rate of change of the luminance level for each of the blocks and the rate of change of the distribution of the luminance level of the block, wherein the backlight high luminance detecting means calculates the result of the luminance change rate calculating means and the divided blocks. The backlight, the over-order light, and the high-luminance portion are determined based on the luminance ratio between areas composed of arbitrary plural blocks.
【0008】また、請求項3に係る発明は、請求項1に
記載の発明において、前記逆光高輝度検出手段は、無限
遠から至近側までフォーカスレンズを移動させた後、ま
たは、山登りスキャンで合焦位置を検出した後に、逆
光、過順光、および高輝度部を判定し、また、高輝度の
ブロックを削除するものである。According to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the backlight high-intensity detecting means focuses after moving the focus lens from infinity to a close side or in a hill-climbing scan. After detecting the position, the backlight, over-directed light, and high-luminance portion are determined, and the high-luminance block is deleted.
【0009】また、請求項4に係る発明は、請求項1に
記載の発明において、前記逆光高輝度検出手段は、輝度
レベルまたは輝度レベルの変化率が所定の閾値より大き
いブロックを高輝度のブロックとして削除するものであ
る。According to a fourth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the backlight high-luminance detecting means converts a block having a luminance level or a change rate of the luminance level larger than a predetermined threshold into a high-luminance block. Is to be deleted.
【0010】また、請求項5に係る発明は、請求項1に
記載の発明において、前記逆光高輝度検出手段は、前記
輝度変化率算出手段の算出結果に基づき、逆光、過順
光、および高輝度部を判定して状態定数を設定し、前記
補正量生成手段は、前記状態定数に基づき前記露出補正
量を算出するものである。According to a fifth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the backlight high luminance detecting means includes a backlight, an over-normal light, and a high light based on a calculation result of the luminance change rate calculating means. The luminance constant is determined and a state constant is set, and the correction amount generation means calculates the exposure correction amount based on the state constant.
【0011】また、請求項6に係る発明は、請求項1に
記載の発明において、前記逆光高輝度検出手段は、前記
ブロックの輝度レベルの分布の変化率が所定の閾値より
大きい場合に高輝度部があると判定するものである。According to a sixth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the backlight high-luminance detecting means increases the high-luminance when the rate of change of the luminance level distribution of the block is larger than a predetermined threshold. It is determined that there is a copy.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明に係る好適な実施の形態を詳細に説明する。Preferred embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.
【0013】(実施の形態1)図1はこの発明にデジタ
ルスチルビデオカメラの一実施の形態(実施の形態1)
を示すブロック図である。図1において、1はデジタル
スチルビデオカメラを示しており、このデジタルスチル
ビデオカメラ1は、レンズ11、絞り12,CCD1
3、CDS(2重相関サンプリング)回路14,AGC
回路15,A/D変換器16,画像信号処理回路17,
ブロック生成回路18、状態検出回路19,輝度変化率
算出回路20,逆光高輝度検出回路21、補正量生成回
路22,露出制御回路23,フォーカス制御回路24,
およびフォーカス駆動回路25を備えている。(Embodiment 1) FIG. 1 shows an embodiment of a digital still video camera according to the present invention (Embodiment 1).
FIG. 1, reference numeral 1 denotes a digital still video camera. This digital still video camera 1 has a lens 11, an aperture 12, a CCD 1
3. CDS (double correlation sampling) circuit 14, AGC
Circuit 15, A / D converter 16, image signal processing circuit 17,
A block generation circuit 18, a state detection circuit 19, a luminance change rate calculation circuit 20, a backlight high luminance detection circuit 21, a correction amount generation circuit 22, an exposure control circuit 23, a focus control circuit 24,
And a focus drive circuit 25.
【0014】CCD13は、上述のレンズ11を介して
入射された光信号をアナログ画像データ(電気信号)に
変換する。CDS回路14は、CCD13の出力に接続
され、CCD13の出力信号を相関2重サンプリングし
てCCD13の出力信号のノイズを低減させる。The CCD 13 converts an optical signal incident through the lens 11 into analog image data (electric signal). The CDS circuit 14 is connected to the output of the CCD 13 and correlatively double-samples the output signal of the CCD 13 to reduce noise of the output signal of the CCD 13.
【0015】AGC回路15は、CDS回路14に接続
され、CDS回路14の出力信号のゲインを調整して信
号レベルを補正する。A/D変換器16は、AGC回路
15の出力に接続され、AGC回路15の出力信号を最
適なサンプリング周波数(例えば、NTSC信号のサブ
キャリア周波数の整数倍)にてアナログ−デジタル信号
に変換してデジタル画像データを出力する。The AGC circuit 15 is connected to the CDS circuit 14, and adjusts the gain of the output signal of the CDS circuit 14 to correct the signal level. The A / D converter 16 is connected to the output of the AGC circuit 15 and converts the output signal of the AGC circuit 15 into an analog-digital signal at an optimal sampling frequency (for example, an integer multiple of the subcarrier frequency of the NTSC signal). To output digital image data.
【0016】画像信号処理回路17は、A/D変換器1
6から入力したデジタル画像データに対してガンマ補
正、色分離等の通常のビデオ信号処理を施して、NTS
C方式に準拠した輝度信号と色差信号を生成して出力す
る。また、ブロック生成回路18は、画面の一部または
全部を複数のブロックに分割し、画像信号処理回路17
から出力される輝度信号を、各ブロック内で累積して各
ブロック毎の累積輝度を算出する。The image signal processing circuit 17 includes an A / D converter 1
6 performs normal video signal processing such as gamma correction and color separation on the digital image data input from
It generates and outputs a luminance signal and a color difference signal conforming to the C system. The block generation circuit 18 divides a part or the whole of the screen into a plurality of blocks, and
Are accumulated in each block to calculate the accumulated luminance for each block.
【0017】上記状態検出回路19は、ブロック生成回
路18の出力に基づき、各ブロックの累積輝度の輝度レ
ベルが基準範囲内にあるか否かを判定する。また、輝度
変化率算出回路20は、ブロック毎の輝度レベルの変化
率およびブロックの輝度レベルの分布の変化率を算出す
る。The state detection circuit 19 determines whether or not the luminance level of the accumulated luminance of each block is within a reference range based on the output of the block generation circuit 18. Further, the luminance change rate calculation circuit 20 calculates the change rate of the luminance level for each block and the change rate of the distribution of the luminance levels of the blocks.
【0018】逆光高輝度検出回路21は、輝度変化率算
出回路20の算出結果に基づき、逆光、過順光、高輝度
部の検出、および高輝度のブロックの削除を行う。補正
量生成回路22は、逆光高輝度検出回路21の判定結果
に基づき、露出補正量を算出する。露出制御回路23
は、補正量生成回路22で算出された露出補正量に基づ
いて露出制御量を算出して、絞り12の絞り値、CCD
13のシャッター速度、AGC回路14のゲイン値等を
制御して露出制御を行う。また、フォーカス制御回路2
4は、フォーカス情報を生成し、被写体の焦点が合う位
置(合焦位置)を算出する。フォーカス駆動回路25
は、レンズ11を駆動する。The backlight high-luminance detection circuit 21 detects a backlight, an over-direct light, a high-luminance part, and deletes a high-luminance block based on the calculation result of the luminance change rate calculation circuit 20. The correction amount generation circuit 22 calculates an exposure correction amount based on the determination result of the backlight high luminance detection circuit 21. Exposure control circuit 23
Calculates the exposure control amount based on the exposure correction amount calculated by the correction amount generation circuit 22, and calculates the aperture value of the aperture 12,
Exposure control is performed by controlling the shutter speed 13, the gain value of the AGC circuit 14, and the like. Also, the focus control circuit 2
Reference numeral 4 generates focus information and calculates a position where the subject is in focus (an in-focus position). Focus drive circuit 25
Drives the lens 11.
【0019】なお、図1に示した構成において、ブロッ
ク生成回路18はブロック分割手段を、輝度変化率算出
回路20は輝度変化率算出手段を、逆光高輝度検出回路
21は逆光高輝度検出手段を、補正量生成回路22は補
正量生成手段を,露出制御回路23は露出制御手段をそ
れぞれ実現している。In the configuration shown in FIG. 1, the block generating circuit 18 is a block dividing means, the luminance change rate calculating circuit 20 is a luminance change rate calculating means, and the backlight high luminance detecting circuit 21 is a backlight high luminance detecting means. The correction amount generation circuit 22 realizes a correction amount generation unit, and the exposure control circuit 23 realizes an exposure control unit.
【0020】次に、ブロック生成回路18、状態検出回
路19,輝度変化率算出回路20,逆光高輝度検出回路
21、補正量生成回路22,および露出制御回路23の
詳細な処理内容を順に説明する。Next, detailed processing contents of the block generation circuit 18, the state detection circuit 19, the luminance change rate calculation circuit 20, the backlight high luminance detection circuit 21, the correction amount generation circuit 22, and the exposure control circuit 23 will be described in order. .
【0021】[ブロック生成回路18]ブロック生成回
路18は、上述した如く、入力画像(画面)を、複数の
ブロックに分割し、各ブロック内で輝度信号を累積して
各ブロック毎の累積輝度を算出する。以下では、ブロッ
ク生成回路18により、図2に示すような、8×6ブロ
ックの累積輝度が生成された場合を例に挙げて説明す
る。フォーカス位置が無限遠位置のときの8×6ブロッ
クの累積輝度をY(i,j)とする(i=1〜8,j=
1〜6)。また、8×6のブロックを、図2に示すよう
に、エリア1〜6に区分した場合を例に挙げて説明す
る。同図において、エリア5は、エリア6を含んでいな
いものとする。[Block Generation Circuit 18] As described above, the block generation circuit 18 divides an input image (screen) into a plurality of blocks, accumulates a luminance signal in each block, and calculates the accumulated luminance of each block. calculate. Hereinafter, a case in which the block generation circuit 18 generates the accumulated luminance of 8 × 6 blocks as shown in FIG. 2 will be described as an example. Assume that the accumulated luminance of the 8 × 6 block when the focus position is at the infinity position is Y (i, j) (i = 1 to 8, j =
1-6). Also, a case where an 8 × 6 block is divided into areas 1 to 6 as shown in FIG. 2 will be described as an example. In the figure, it is assumed that area 5 does not include area 6.
【0022】[状態検出回路19]状態検出回路19
は、上述した如く、ブロック生成回路18の出力に基づ
き、任意のエリアの輝度レベルが基準範囲内にあるか否
かを判定する。ここで、状態検出回路19の動作を図3
を参照して説明する。図3は状態検出回路19の動作を
説明するためのフローチャートである。なお、図3にお
いて、初期状態では、輝度レベルは、基準の輝度レベル
の範囲内でないものとする。[State Detector 19] State Detector 19
Determines whether the luminance level of an arbitrary area is within the reference range based on the output of the block generation circuit 18 as described above. Here, the operation of the state detection circuit 19 is shown in FIG.
This will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation of the state detection circuit 19. In FIG. 3, it is assumed that the luminance level is not within the range of the reference luminance level in the initial state.
【0023】まず、露出制御回路23の制御により、C
CD13にpEVで露光が行われる(ステップS10
1)。状態検出回路19では、露光量pEVで露光した
結果得られる任意のエリアの輝度レベルYc が、基準の
輝度レベルの範囲内であるか否かを、Y1_Thrd<Yc
<Yu_Thrdであるか否かにより判定する(ステップS
102)。ここで、Y1_Thrd、Yu_Thrdは、基準の
輝度レベルの範囲を決める下限、上限のしきい値であ
る。また、Yc は、例えば、図2のエリア5とエリア6
内の全ブロックの平均値とし、下式(1)により算出す
る。 Yc =ΣY(i,j)/16 ‥‥‥ (1) 但し、i=3〜6,j=2〜5 また、上記した如く、Y(i,j)は、各ブロックの累
積輝度を示す。First, under the control of the exposure control circuit 23, C
The CD 13 is exposed by pEV (step S10).
1). The state detection circuit 19 determines whether or not the luminance level Yc of an arbitrary area obtained as a result of exposure with the exposure amount pEV is within the range of the reference luminance level, Y1_Thrd <Yc.
It is determined based on whether or not <Yu_Thrd (step S
102). Here, Y1_Thrd and Yu_Thrd are lower and upper thresholds that determine the range of the reference luminance level. Yc is, for example, the area 5 and the area 6 in FIG.
Is calculated as the average value of all the blocks in the following equation (1). Yc = {Y (i, j) / 16} (1) where i = 3-6, j = 2-5 As described above, Y (i, j) indicates the accumulated luminance of each block. .
【0024】この判定の結果、Y1_Thrd<Yc <Yu
_Thrdの範囲内でない場合には、露出制御回路23によ
り、露光量を変更して露光量qEVでCCD13への露
光が行われ(ステップS103)、露光量qEVで露光
した結果得られる輝度信号の輝度レベルが、Y1_Thrd
<Yc <Yu_Thrdとなるか否かの判定が行われる(ス
テップS102)。As a result of this determination, Y1_Thrd <Yc <Yu
If it is not within the range of _Thrd, the exposure control circuit 23 changes the exposure amount to expose the CCD 13 with the exposure amount qEV (step S103), and obtains the luminance of the luminance signal obtained as a result of the exposure with the exposure amount qEV. Level is Y1_Thrd
It is determined whether <Yc <Yu_Thrd or not (step S102).
【0025】他方、Y1_Thrd<Yc <Yu_Thrdの範
囲内である場合には、処理はステップS104に移行
し、補正量生成回路22はCVを算出する。ここで、C
Vは、Yc を基準の輝度レベルとする基準値Tまでの補
正量であり、例えば、下式(2)により算出される。 CV=−log2 (T/Yc ) ‥‥‥ (2)On the other hand, if it is within the range of Y1_Thrd <Yc <Yu_Thrd, the process proceeds to step S104, and the correction amount generation circuit 22 calculates CV. Where C
V is a correction amount up to a reference value T using Yc as a reference luminance level, and is calculated by, for example, the following equation (2). CV = −log 2 (T / Yc) ‥‥‥ (2)
【0026】そして、露出制御回路23は、以降、補正
量生成回路22で露出補正量mEVを算出するための撮
像では、p+CV(q+CV)EVの露光量でCCD1
3に露光を行う(ステップS105)。Then, the exposure control circuit 23 uses the exposure amount of p + CV (q + CV) EV in the imaging for calculating the exposure correction amount mEV in the correction amount generation circuit 22 thereafter.
3 is exposed (step S105).
【0027】なお、インプリメントする際には、CV
は、線形補間等をして算出することにしても良い。ま
た、pEV、qEVは、測光時において、測光範囲を全
域カバーできるような任意のEVを指定すれば良い。一
般的なシーンでは、画面内に含まれる各輝度の被写体
は、約5EVの範囲となっている。従って、例えば、測
光可能な範囲を9〜17EVとした場合は、p=13,
q=16とすると全域をカバーできる。When implementing, CV
May be calculated by linear interpolation or the like. Further, as the pEV and qEV, at the time of photometry, an arbitrary EV that can cover the entire photometry range may be specified. In a general scene, the subject of each luminance included in the screen has a range of about 5 EV. Therefore, for example, when the photometric range is 9 to 17 EV, p = 13,
If q = 16, the entire area can be covered.
【0028】また、任意のエリアの輝度レベルYc が、
基準の輝度レベルの範囲内(Y1_Thrd<Yc <Yu_
Thrd)となった場合には、フォーカス制御回路24によ
り合焦位置が算出される。かかる合焦位置は、例えば山
登りサーボ方式を使用して決定する。フォーカス制御回
路24は、フォーカス駆動回路25を制御してレンズ1
1を駆動しながら撮像して得られる輝度信号の高周波成
分をバンドパスフィルタ等により抽出してフォーカス情
報を算出する。そして、フォーカス制御回路24は、輝
度信号の高周波成分が最大となるレンズ位置を合焦位置
と決定する。また、山登りサーボを行うレンズ駆動時
に、任意のステップ間隔で測光を行い、逆光、過順光、
および高輝度部の判定等のための輝度情報を取得する。The luminance level Yc of an arbitrary area is
Within the range of the reference luminance level (Y1_Thrd <Yc <Yu_
In the case of Thrd), the focus control circuit 24 calculates the in-focus position. Such an in-focus position is determined using, for example, a hill-climbing servo system. The focus control circuit 24 controls the focus drive circuit 25 to control the lens 1
The focus information is calculated by extracting a high frequency component of a luminance signal obtained by capturing an image while driving 1 by a band-pass filter or the like. Then, the focus control circuit 24 determines the lens position at which the high frequency component of the luminance signal is maximum as the focus position. Also, when driving a lens that performs a hill-climbing servo, photometry is performed at arbitrary step intervals,
Also, luminance information for determining a high luminance portion is acquired.
【0029】[輝度変化率算出回路20]輝度変化率算
出回路20は、上述した如く、ブロック毎の輝度信号の
変化率およびブロックの輝度信号の分布の変化率を算出
する。ここで、輝度変化率算出回路20の動作を図4〜
図9を参照して説明する。以下では、フォーカス領域の
無限遠位置から至近側まで、若しくは山登りスキャンで
合焦位置を検出するまでの間において、nポイントで輝
度信号を取得した場合を例に挙げて説明する。なお、輝
度信号の取得は、被写界深度内で複数回行っても輝度信
号の変化率が取りにくいため、被写界深度内で複数回は
行わないものとする。この場合の8×6ブロックの累積
輝度をY1 (i,j)〜Yn (i,j)とする(但し、
i=1〜8,j=1〜6)。[Brightness Change Rate Calculation Circuit 20] The brightness change rate calculation circuit 20 calculates the change rate of the luminance signal for each block and the change rate of the luminance signal distribution of the block, as described above. Here, the operation of the luminance change rate calculation circuit 20 is shown in FIGS.
This will be described with reference to FIG. Hereinafter, a case will be described as an example where a luminance signal is obtained at n points from the infinity position to the close side of the focus area or until the in-focus position is detected by the hill-climbing scan. Note that it is difficult to obtain the luminance signal a plurality of times within the depth of field because the rate of change of the luminance signal is difficult to obtain even when the acquisition is performed a plurality of times within the depth of field. In this case, the cumulative luminance of the 8.times.6 block is defined as Y1 (i, j) to Yn (i, j) (where,
i = 1-8, j = 1-6).
【0030】図4は画面上のシーンの一例を示す図であ
る。図5は図4の画面の一部をブロックA,B,Cと
し、各ブロックA、B、Cのレンズ位置が∞〜Near
までの各ポイント(1〜n)における輝度レベルを示
す。図4において、ブロックAは逆光になっている被写
体の一部を示す。ブロックBはブロック内の一部にかな
り高輝度のものを含む場合で高輝度部分は無限遠に位置
している場合を示す。ブロックCはブロック内の全体が
比較的高輝度になっている場合を示す。FIG. 4 is a diagram showing an example of a scene on the screen. FIG. 5 shows a part of the screen of FIG. 4 as blocks A, B, and C, and the lens positions of the blocks A, B, and C are ∞ to Near.
The luminance level at each point (1 to n) is shown. In FIG. 4, a block A shows a part of the subject that is backlighting. Block B shows a case where a part of the block includes a considerably high luminance one and the high luminance part is located at infinity. Block C shows a case where the whole of the block has relatively high brightness.
【0031】また、図5において、横軸はフォーカス領
域の無限遠から至近側までにおける輝度信号を取得した
ポイント位置、縦軸は輝度レベルを示す。同図に示すよ
うに、ブロックB,C、Aの順に輝度レベルが高くなっ
ている。In FIG. 5, the abscissa indicates a point position at which a luminance signal is obtained from infinity to the closest side of the focus area, and the ordinate indicates a luminance level. As shown in the drawing, the luminance levels increase in the order of blocks B, C, and A.
【0032】図6は、図4に示すシーンにおける8×6
ブロックの累積輝度の無限側での輝度レベルの分布例を
示し、図7は、図4に示すシーンにおける8×6ブロッ
クの累積輝度の至近側での輝度レベルの分布例を示す。
図6および図7において、縦軸は分布数、横軸は輝度レ
ベルを示す。FIG. 6 shows an 8 × 6 image in the scene shown in FIG.
FIG. 7 shows an example of the distribution of the luminance level on the infinite side of the cumulative luminance of the block, and FIG. 7 shows an example of the distribution of the luminance level on the nearest side of the cumulative luminance of the 8 × 6 block in the scene shown in FIG.
6 and 7, the vertical axis represents the number of distributions, and the horizontal axis represents the luminance level.
【0033】ところで、極端に暗い場合を除いて、光源
等の局所的な高輝度部がないものについては、フォーカ
ス位置に無関係に比較的輝度レベルが一定になる。他
方、光源等の局所的な高輝度部があるものは、ぼけ量が
大きくなるにつれて高輝度部の範囲が拡大してくるの
で、ブロック内の高輝度部分の占める割合が大きくな
り、図5〜図7に示すような輝度レベルの分布となる。By the way, except for an extremely dark case, the brightness level of a light source or the like having no local high-brightness portion is relatively constant regardless of the focus position. On the other hand, in the case where there is a local high-luminance portion such as a light source, the range of the high-luminance portion increases as the amount of blur increases, so that the proportion of the high-luminance portion in the block increases, and FIG. The luminance level distribution is as shown in FIG.
【0034】輝度変化率算出回路20は、ブロック毎の
輝度レベルの変化率を、例えば、下式(3)により算出
する。 y _rate(i、j)=min {Yf (i、j)}/max {Yg (i、j)} ‥‥‥ (3) 但し、i=1〜8、j=1〜6 y_rate(i、j):任意のブロックの輝度レベルの変
化率 min{Yf (i、j)}:Y1 (i,j)〜Yn (i,
j)における最小値 max{Yg (i、j)}:Y1 (i,j)〜Yn (i,
j)における最大値The luminance change rate calculation circuit 20 calculates the change rate of the luminance level for each block by, for example, the following equation (3). y_rate (i, j) = min {Yf (i, j)} / max {Yg (i, j)} (3) where i = 1 to 8, j = 1 to 6 y_rate (i, j): Rate of change in luminance level of an arbitrary block min {Yf (i, j)}: Y1 (i, j) to Yn (i, j)
j) the minimum value max {Yg (i, j)}: Y1 (i, j) to Yn (i, j)
the maximum value in j)
【0035】また、輝度変化率算出回路20は、ブロッ
クの輝度レベルの分布の変化率を、以下の如くして算出
する。図6および図7の分布において、分布を輝度レベ
ルに応じてY1 〜Ym にm分割し、Y1 〜Ym で各々分
布数を求める。無限遠における各々の分布数をNinf
(Y1 )〜Ninf (Ym )、至近側における各々の分布
数をNnear(Y1 )〜Nnear(Ym )とした場合に、Y
1 〜Ym における無限側と至近側での分布数の絶対値差
D1 〜Dm は、それぞれ下式(4)の如く表すことがで
きる。 D1 =|Ninf (Y1 )−Nnear(Y1 )| : : : : Dm =|Ninf (Ym )−Nnear(Ym )| ‥‥‥ (4)The luminance change rate calculation circuit 20 calculates the change rate of the distribution of the luminance levels of the blocks as follows. In the distributions shown in FIGS. 6 and 7, the distribution is divided into m parts Y1 to Ym according to the luminance level, and the number of distributions is obtained for each of Y1 to Ym. Let Ninf be the number of each distribution at infinity
(Y1) to Ninf (Ym), and when the distribution numbers on the nearest side are Nnear (Y1) to Nnear (Ym), Y
The absolute value differences D1 to Dm of the distribution numbers on the infinity side and the closest side in 1 to Ym can be represented by the following equations (4). D1 = | Ninf (Y1) -Nnear (Y1) | :::: Dm = | Ninf (Ym) -Nnear (Ym) | ‥‥‥ (4)
【0036】そして、輝度レベルの分布の変化率Drate
は、下式(5)の如く表すことができる。 Drate=ΣDk /(total ×2 )(k =1 〜m ) ‥‥‥ (5) 但し、total :総分布数(総ブロック数)Then, the change rate Drate of the distribution of the luminance level
Can be expressed as in the following equation (5). Drate = {Dk / (total × 2) (k = 1 to m)} (5) where, total: total number of distributions (total number of blocks)
【0037】図8は、図6および図7の分布におけるD
1 〜Dm の例を示す。なお、輝度レベルに応じて分割す
る場合には、全範囲で行う必要はなく、簡略的に所定の
輝度レベル以上の範囲に限定して、Y1 〜YP にP分割
しても良い。この場合は、総分布数total は、所定の輝
度レベル以上での総分布数となり、この例を図9に示
す。FIG. 8 shows D in the distributions of FIGS.
Examples of 1 to Dm are shown. The division according to the luminance level does not need to be performed in the whole range, but may be simply limited to a range of a predetermined luminance level or more and divided into Y1 to YP. In this case, the total number of distributions total is the total number of distributions at or above a predetermined luminance level, and this example is shown in FIG.
【0038】[逆光高輝度検出回路21]逆光高輝度検
出回路21は、前述した如く、輝度変化率算出回路20
の算出結果に基づき、順光、逆光、過順光、高輝度部の
検出、および高輝度のブロックの削除を行う。ここで、
逆光高輝度検出回路21の動作を図10〜図12を参照
して説明する。図10は逆光高輝度検出回路21の動作
を説明するためのフローチャートを示す。図11は図1
0の逆光処理を説明するためのフローチャートを示す。
図12は図10の過順光処理を説明するためのフローチ
ャートを示す。[Backlight high luminance detection circuit 21] The backlight high luminance detection circuit 21 is, as described above, a luminance change rate calculation circuit 20.
Based on the calculation result of (1), forward light, back light, over-forward light, detection of a high-luminance portion, and deletion of a high-luminance block are performed. here,
The operation of the backlight high luminance detection circuit 21 will be described with reference to FIGS. FIG. 10 is a flowchart for explaining the operation of the backlight high luminance detection circuit 21. FIG. 11 shows FIG.
9 is a flowchart illustrating a backlighting process of 0.
FIG. 12 is a flowchart for explaining the over-order light processing of FIG.
【0039】図10は、中央重点としたときの例を示し
ている。同図に示すy _a1、y _a2、y _a5、y _a6
は、図2に示す各エリア1,2,5,6内のY(i,
j)の総ブロックの平均を示し、st_nl1 、st_nl2 、
st_nl3 は、順光の状態定数を示す。FIG. 10 shows an example when the center is emphasized. Y_a1, y_a2, y_a5, y_a6 shown in FIG.
Represents Y (i, i, y) in each of areas 1, 2, 5, and 6 shown in FIG.
j) indicates the average of the total blocks, st_nl1, st_nl2,
st_nl3 indicates a state constant of forward light.
【0040】図10において、逆光高輝度検出回路21
は、y _a5とy _a6とで輝度比があるか否かを判定し
(ステップS111)、y _a5とy _a6とで輝度比があ
る場合には、ステップS112に移行する一方、y _a5
とy _a6とで輝度比がない場合には、ステップS115
に移行する。In FIG. 10, the backlight high luminance detection circuit 21
Determines whether there is a luminance ratio between y_a5 and y_a6 (step S111). If there is a luminance ratio between y_a5 and y_a6, the process proceeds to step S112 while y_a5
If there is no luminance ratio between y_a6 and y_a6, step S115
Move to
【0041】具体的には、y _a5とy _a6とで輝度比が
あるか否かの判定は以下の如く行う。まず、y _a5>y
_a6の場合は、y _a6×Y _THRD<y _a5を満たすとき
輝度比ありとし、y _a6×Y _THRD<y _a5を満たさな
い場合は輝度比なしとする。他方、y _a5<y _a6の場
合は、y _a5×Y _THRD<y _a6を満たすとき輝度比あ
りとし、y _a5×Y _THRD<y _a6を満たさない場合は
輝度比なしとする。ここで、Y _THRDは、輝度比に対す
る所定の閾値でY _THRD≧1 である。なお、y_a5=y
_a6の場合は、輝度比なしとする。More specifically, whether or not there is a luminance ratio between y_a5 and y_a6 is determined as follows. First, y_a5> y
In the case of _a6, it is determined that there is a luminance ratio when y_a6 × Y_THRD <y_a5 is satisfied, and there is no luminance ratio when y_a6 × Y_THRD <y_a5 is not satisfied. On the other hand, when y_a5 <y_a6, it is determined that there is a luminance ratio when y_a5 × Y_THRD <y_a6 is satisfied, and when there is not y_a5 × Y_THRD <y_a6, there is no luminance ratio. Here, Y_THRD is a predetermined threshold value for the luminance ratio, and Y_THRD ≧ 1. Note that y_a5 = y
In the case of _a6, there is no luminance ratio.
【0042】ステップS112では、逆光高輝度検出回
路21は、y _a5>y _a6か否かを判定し、y _a5>y
_a6であれば逆光であると判断して逆光処理を行う(ス
テップS113)一方、y _a5>y _a6でなければ過順
光であると判断して過順光処理を行う(ステップS11
4)。In step S112, the backlight high luminance detection circuit 21 determines whether y_a5> y_a6 or not, and y_a5> y.
If y_a6, it is determined that the light is backlit, and the backlight processing is performed (step S113). On the other hand, if y_a5> y_a6, it is determined that the light is over-directed and the over-light processing is performed (step S11).
4).
【0043】ステップS115では、逆光高輝度検出回
路21は、y _a1とy _a6とで輝度比があるか否かを判
定し(ステップS111)、y _a1とy _a6とで輝度比
がある場合には、ステップS116に移行する一方、y
_a1とy _a6とで輝度比がない場合には、ステップS1
17に移行する。In step S115, the backlight high luminance detection circuit 21 determines whether or not there is a luminance ratio between y_a1 and y_a6 (step S111). If there is a luminance ratio between y_a1 and y_a6, Goes to step S116, while y
If there is no luminance ratio between _a1 and y_a6, step S1
Move to 17.
【0044】具体的には、y _a1とy _a6とで輝度比が
あるか否かの判定は以下の如く行う。まず、y _a1>y
_a6の場合は、y _a6×Y _THRD<y _a1を満たすとき
輝度比ありとし、y _a6×Y _THRD<y _a1を満たさな
い場合は輝度比なしとする。他方、y _a1<y _a6の場
合は、y _a1×Y _THRD<y _a6を満たすとき輝度比あ
りとし、y _a1×Y _THRD<y _a6を満たさない場合は
輝度比なしとする。ここで、Y _THRDは、輝度比に対す
る所定の閾値でY _THRD≧1 である。なお、y_a1=y
_a6の場合は、輝度比なしとする。Specifically, the determination as to whether or not there is a luminance ratio between y_a1 and y_a6 is performed as follows. First, y_a1> y
In the case of _a6, it is determined that there is a luminance ratio when y_a6 × Y_THRD <y_a1 is satisfied, and it is determined that there is no luminance ratio when y_a6 × Y_THRD <y_a1 is not satisfied. On the other hand, when y_a1 <y_a6, it is determined that there is a luminance ratio when y_a1 × Y_THRD <y_a6 is satisfied, and when no y_a1 × Y_THRD <y_a6 is satisfied, there is no luminance ratio. Here, Y_THRD is a predetermined threshold value for the luminance ratio, and Y_THRD ≧ 1. Note that y_a1 = y
In the case of _a6, there is no luminance ratio.
【0045】ステップS116では、逆光高輝度検出回
路21は、y _a1>y _a6か否かを判定し、y _a1>y
_a6であれば逆光であると判断して逆光処理を行う(ス
テップS113)一方、y _a1>y _a6でなければ過順
光であると判断して過順光処理を行う(ステップS11
4)。In step S116, the backlight high luminance detection circuit 21 determines whether or not y_a1> y_a6, and y_a1> y.
If y_a6, it is determined that the light is backlit and the backlighting process is performed (step S113). On the other hand, if y_a1> y_a6, it is determined that the light is over-directed and the over-lighting process is performed (step S11).
4).
【0046】ステップS117では、逆光高輝度検出回
路21は、y _a6とy _a2とで輝度比があるか否かを判
定し、y _a6とy _a2とで輝度比がある場合には、ステ
ップS118に移行する一方、y _a6とy _a2とで輝度
比がない場合には、ステップS119に移行する。In step S117, the backlight high luminance detection circuit 21 determines whether or not there is a luminance ratio between y_a6 and y_a2. If there is a luminance ratio between y_a6 and y_a2, step S118. On the other hand, when there is no luminance ratio between y_a6 and y_a2, the flow shifts to step S119.
【0047】具体的には、y _a6とy _a2とで輝度比が
あるか否かの判定は以下の如く行う。まず、y _a2>y
_a6の場合は、y _a6×Y _THRD<y _a2を満たすとき
輝度比ありとし、y _a6×Y _THRD<y _a2を満たさな
い場合は輝度比なしとする。他方、y _a2<y _a6の場
合は、y _a2×Y _THRD<y _a6を満たすとき輝度比あ
りとし、y _a2×Y _THRD<y _a6を満たさない場合は
輝度比なしとする。ここで、Y _THRDは、輝度比に対す
る所定の閾値でY _THRD≧1 である。なお、y_a2=y
_a6の場合は、輝度比なしとする。More specifically, whether or not there is a luminance ratio between y_a6 and y_a2 is determined as follows. First, y_a2> y
In the case of _a6, it is determined that there is a luminance ratio when y_a6 × Y_THRD <y_a2 is satisfied, and there is no luminance ratio when y_a6 × Y_THRD <y_a2 is not satisfied. On the other hand, in the case of y_a2 <y_a6, it is determined that there is a luminance ratio when y_a2 × Y_THRD <y_a6 is satisfied, and it is determined that there is no luminance ratio when y_a2 × Y_THRD <y_a6 is not satisfied. Here, Y_THRD is a predetermined threshold value for the luminance ratio, and Y_THRD ≧ 1. Note that y_a2 = y
In the case of _a6, there is no luminance ratio.
【0048】ステップS118では、逆光高輝度検出回
路21は、y _a2>y _a6か否かを判定し、y _a2>y
_a6であれば逆光であると判断して逆光処理を行う(ス
テップS113)。一方、y _a2>y _a6でなければ過
順光であると判断して過順光処理を行う(ステップS1
14)。In step S118, the backlight high luminance detection circuit 21 determines whether or not y_a2> y_a6, and y_a2> y.
If _a6, it is determined that the subject is backlit, and a backlight process is performed (step S113). On the other hand, if y_a2> y_a6 is not satisfied, it is determined that the light is over-ordered, and the over-ordered light processing is performed (step S1).
14).
【0049】さて、ステップS119では、逆光高輝度
検出回路21は、エリア5,6内に光源があるか否かを
判定し、エリア5,6内に光源があると判定した場合に
はステップS120に移行する一方、エリア5,6内に
光源がないと判定した場合にはステップS122に移行
する。In step S119, the backlight high-luminance detection circuit 21 determines whether there is a light source in the areas 5 and 6. If it is determined that there is a light source in the areas 5 and 6, step S120. On the other hand, if it is determined that there is no light source in the areas 5 and 6, the process proceeds to step S122.
【0050】ステップS120では、逆光高輝度検出回
路21は、順光の状態定数としてst_nl1 を設定し、高
輝度除去処理を行う(ステップS121)。この高輝度
除去処理の内容を具体的に説明する。逆光高輝度検出回
路21は、エリア5,6内にて、Y(i,j)>high_
thrd、または、y _rate(i,j)>high_rate_thrd
のブロックを削除する。ここで、high__thrdは高輝度
レベルを判定する所定の閾値、 high _rate_thrdは高
輝度の輝度変化率を判定する所定の閾値である。In step S120, the backlight high-luminance detection circuit 21 sets st_nl1 as a state constant of forward light, and performs high-luminance removal processing (step S121). The details of the high luminance removal processing will be specifically described. The backlight high luminance detection circuit 21 determines that Y (i, j)> high_
thrd or y_rate (i, j)> high_rate_thrd
Delete block. Here, high__thrd is a predetermined threshold for determining a high luminance level, and high_rate_thrd is a predetermined threshold for determining a luminance change rate of high luminance.
【0051】また、削除されないブロックY(i,j)
をYM(i,j)、その個数をYm_coとすると、Ym
_coが所定の閾値以下のときは、代表輝度RY を下式
(6)の如く表すことができ、また、Ym _coが所定の
閾値以下でないときには、代表輝度RY は下式(7)の
如く表すことができる。Block Y (i, j) that is not deleted
Is YM (i, j) and the number is Ym_co.
When _co is equal to or less than a predetermined threshold, the representative luminance RY can be expressed as in the following equation (6). When Ym_co is not equal to or less than the predetermined threshold, the representative luminance RY is expressed as in the following equation (7). be able to.
【0052】 RY =ΣY(i,j)/16(i=3〜6,j=2〜5) ‥‥‥(6) RY =ΣYM(i,j)/Ym _co ‥‥‥(7)RY = {Y (i, j) / 16 (i = 3 to 6, j = 2 to 5)} (6) RY = {YM (i, j) / Ym_co} (7)
【0053】他方、ステップS122では、逆光高輝度
検出回路21は、エリア1,2、3,4内に光源がある
か否かを判定し、エリア1,2、3,4内に光源がある
と判定した場合には状態定数としてst_nl3 を設定し
(ステップS123)、エリア1,2、3,4内に光源
がないと判定した場合には状態定数としてst_nl2 を設
定する(ステップS124)。On the other hand, in step S122, the backlight high luminance detection circuit 21 determines whether or not there is a light source in the areas 1, 2, 3, and 4, and there is a light source in the areas 1, 2, 3, and 4. If it is determined that st_nl3 is set as the state constant (step S123), and if it is determined that there is no light source in the areas 1, 2, 3, and 4, st_nl2 is set as the state constant (step S124).
【0054】次に、上記ステップS113の逆光処理を
図11のフローチャートを参照して説明する。同図のst
_bl1 、st_bl2 は、逆光の状態定数を示す。図11に
おいて、逆光高輝度検出回路21は、エリア5,6内に
光源があるか否かを判定する(ステップS131)。こ
の判定の結果、エリア5,6内に光源がある場合には逆
光の状態定数としてst_bl1 を設定し(ステップS13
2)、エリア5,6内に光源がない場合には逆光の状態
定数としてst_bl2 を設定する(ステップS133)。
具体的には、光源の有無は、輝度レベルの分布の変化率
Drateが、Drate>Drate_thrdとなる場合に光源があ
るとし、Drate>Drate_thrdでない場合に光源がない
と判定する。ここで、Drate_thrdは、光源の有無を判
定する所定の閾値を示す。また、Drateを求める際の総
分布数total は、エリア内における総ブロック数を示
す。Next, the backlight process of step S113 will be described with reference to the flowchart of FIG. St in the figure
_Bl1 and st_bl2 indicate state constants of backlight. In FIG. 11, the backlight high luminance detection circuit 21 determines whether there is a light source in the areas 5 and 6 (step S131). As a result of this determination, if there is a light source in the areas 5 and 6, st_bl1 is set as the state constant of the backlight (step S13).
2) If there is no light source in the areas 5 and 6, st_bl2 is set as a state constant of backlight (step S133).
Specifically, the presence / absence of a light source is determined when the change rate Drate of the luminance level distribution is Drate> Drate_thrd, and it is determined that there is no light source when Drate> Drate_thrd is not satisfied. Here, Drate_thrd indicates a predetermined threshold for determining the presence or absence of a light source. The total number of distributions when calculating Drate indicates the total number of blocks in the area.
【0055】次に、上記ステップS114の過順光処理
を図12のフローチャートを参照して説明する。同図の
st_ol1 、st_ol2 は、過順光の状態定数を示す。図1
2において、逆光高輝度検出回路21は、エリア5,6
内に光源があるか否かを判定する(ステップS14
1)。この判定の結果、エリア5,6内に光源がある場
合には過順光の状態定数としてst_ol1 を設定し(ステ
ップS142)、エリア5,6内に光源がない場合には
過順光の状態定数としてst_ol2 を設定する(ステップ
S133)。光源の有無の判定方法は、上記と同様であ
るのでその説明は省略する。Next, the over-order light processing in step S114 will be described with reference to the flowchart in FIG. In the same figure
st_ol1 and st_ol2 indicate state constants of over-ordered light. FIG.
2, the backlight high luminance detection circuit 21
It is determined whether there is a light source inside (step S14)
1). As a result of this determination, if there is a light source in the areas 5 and 6, st_ol1 is set as a state constant of over-directed light (step S142). St_ol2 is set as a constant (step S133). The method of determining the presence or absence of a light source is the same as described above, and a description thereof will be omitted.
【0056】[補正量生成回路22]補正量生成回路2
2は、上述した如く、逆光高輝度検出回路21の順光
(st_nl1 、st_nl2 、st_nl3 )、逆光(st_bl1 、
st_bl2 )、過順光(st_ol1、st_ol2 )の判定結果
に基づき、露出補正量mEVを算出する。補正量生成回
路22の動作を図13〜図17を参照して説明する。図
13は、補正量生成回路22の動作を説明するためのフ
ローチャートである。[Correction amount generation circuit 22] Correction amount generation circuit 2
Reference numeral 2 denotes the normal light (st_nl1, st_nl2, st_nl3) and the backlight (st_bl1,...) Of the backlight high luminance detection circuit 21 as described above.
The exposure correction amount mEV is calculated based on the determination results of the st_bl2) and the over-direct light (st_ol1, st_ol2). The operation of the correction amount generation circuit 22 will be described with reference to FIGS. FIG. 13 is a flowchart for explaining the operation of the correction amount generation circuit 22.
【0057】まず、図13のフローチャートの説明で使
用する変数の説明を行う。 CMP :規定補正量 w _bl1 、w _bl2 :st_bl1 、st_bl2 の場合のそれ
ぞれの補正係数 w _ol1 、w _ol2 :st_ol1 、st_ol2 の場合のそれ
ぞれの補正係数 w _nl1 、w _nl2 :st_nl1 、st_nl2 の場合のそれ
ぞれの補正係数 w _nl31、w _nl32:st_nl3 の場合の補正係数 ev_thrd:輝度を表す所定の閾値(Ev)を示す。図中
で、輝度がev_thrdより大か?とは、”エリア5,6を
用いて測光したときの絶対的な輝度(Ev)が、ev_th
rdより大か”ということを意味する。First, variables used in the description of the flowchart of FIG. 13 will be described. CMP: prescribed correction amounts w_bl1, w_bl2: respective correction coefficients w_ol1 and w_ol2 for st_bl1 and st_bl2: st_ol1 and correction coefficients w_nl1 for st_ol2 and w_nl2 for w_nl1 and st_nl2 for st_ol2 Correction coefficient w_nl31, w_nl32: correction coefficient ev_thrd in the case of st_nl3: a predetermined threshold value (Ev) representing luminance. In the figure, is the luminance greater than ev_thrd? Means that the absolute luminance (Ev) at the time of photometry using areas 5 and 6 is ev_th
Is it greater than rd? "
【0058】前述した補正係数w _bl1 、w _bl2 、w
_ol1 、w _ol2 、w _nl1 、w _nl2 、w _nl31、w
_nl32は、以下の〜に示す特性を有する。 |w _bl1 |≧|w _bl2 |となり、w _bl1 、w _
bl2 は、ともに基準値Tに対して、オーバー方向になる
ような補正係数である。 |w _ol1 |≦|w _ol2 |となり、w _ol1 、w _
ol2 は、ともに基準値Tに対して、アンダー方向になる
ような補正係数である。 |w _nl31|≧|w _nl32|となり、w _nl31、w _
nl32は、ともに基準値Tに対して、オーバー方向になる
ような補正係数である。 |w _nl2 |≦|w _nl32|となり、w _nl2 は、基
準値Tに対して、オーバー方向またはアンダー方向にな
るような微妙な補正係数である。 w _nl1 は、基準値Tに対し、オーバー方向またはア
ンダー方向になるような微妙な補正係数である。The above-mentioned correction coefficients w_bl1, w_bl2, w
_Ol1, w_ol2, w_nl1, w_nl2, w_nl31, w
_Nl32 has the following characteristics. | W_bl1 | ≧ | w_bl2 |, and w_bl1, w_
bl2 is a correction coefficient such that the reference value T is over the reference value T. | W_ol1 | ≦ | w_ol2 |, where w_ol1 and w_
ol2 is a correction coefficient that makes the reference value T be in an under direction. | W_nl31 | ≧ | w_nl32 |, and w_nl31, w_
nl32 is a correction coefficient that makes the reference value T exceed the reference value T. | W_nl2 | ≦ | w_nl32 |, where w_nl2 is a delicate correction coefficient such that the reference value T is over or under. w_nl1 is a delicate correction coefficient such that the reference value T is over or under.
【0059】図13において、補正量生成回路22は、
逆光高輝度検出回路21で設定された状態定数を判別
し、露出補正量mEVを算出する。具体的には、まず、
補正量生成回路22は、状態定数としてst_bl1 が設定
されているか否かを判別する(ステップS151)。補
正量生成回路22は、状態定数としてst_bl1 が設定さ
れていない場合にはステップS152に移行する一方、
状態定数としてst_bl1が設定されている場合には、露
出補正量mEVを下式(8)により算出する(ステップ
S158)。 mEV=CMP ×w _bl1 ‥‥‥ (8)In FIG. 13, the correction amount generation circuit 22
The state constant set by the backlight high luminance detection circuit 21 is determined, and the exposure correction amount mEV is calculated. Specifically, first,
The correction amount generation circuit 22 determines whether or not st_bl1 is set as a state constant (step S151). If st_bl1 is not set as the state constant, the correction amount generation circuit 22 proceeds to step S152,
If st_bl1 is set as the state constant, the exposure correction amount mEV is calculated by the following equation (8) (step S158). mEV = CMP × w_bl1 ‥‥‥ (8)
【0060】ステップS152では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_bl2 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_bl2 が設定されていない場合にはステップS153に
移行する一方、状態定数としてst_bl2 が設定されてい
る場合には、露出補正量mEVを下式(9)により算出
する(ステップS159)。 mEV=CMP ×w _bl2 ‥‥‥ (9)In step S152, the correction amount generation circuit 2
No. 2 determines whether or not st_bl2 is set as the state constant. The correction amount generation circuit 22 uses st as a state constant.
If _bl2 is not set, the process proceeds to step S153, while if st_bl2 is set as the state constant, the exposure correction amount mEV is calculated by the following equation (9) (step S159). mEV = CMP × w — bl2 (9)
【0061】ステップS153では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_ol1 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_ol1 が設定されていない場合にはステップS154に
移行する一方、状態定数としてst_ol1 が設定されてい
る場合には、露出補正量mEVを下式(10)により算
出する(ステップS160)。 mEV=CMP ×w _ol1 ‥‥‥ (10)In step S153, the correction amount generation circuit 2
Step 2 determines whether or not st_ol1 is set as the state constant. The correction amount generation circuit 22 uses st as a state constant.
If _ol1 is not set, the process proceeds to step S154, while if st_ol1 is set as the state constant, the exposure correction amount mEV is calculated by the following equation (10) (step S160). mEV = CMP × w_ol1 ‥‥‥ (10)
【0062】ステップS154では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_ol2 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_ol2 が設定されていない場合にはステップS155に
移行する一方、状態定数としてst_ol1 が設定されてい
る場合には、露出補正量mEVを下式(11)により算
出する(ステップS161)。 mEV=CMP ×w _ol2 ‥‥‥ (11)In step S154, the correction amount generation circuit 2
No. 2 determines whether or not st_ol2 is set as a state constant. The correction amount generation circuit 22 uses st as a state constant.
If _ol2 is not set, the process proceeds to step S155, while if st_ol1 is set as the state constant, the exposure correction amount mEV is calculated by the following equation (11) (step S161). mEV = CMP × w_ol2 ‥‥‥ (11)
【0063】ステップS155では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_nl1 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_nl1 が設定されていない場合にはステップS156に
移行する一方、状態定数としてst_nl1 が設定されてい
る場合には、露出補正量mEVを下式(12)により算
出する(ステップS162)。 mEV=−log2 (T/RY)+CMP ×w _nl1 ‥‥‥(12)In step S155, the correction amount generation circuit 2
2 determines whether or not st_nl1 is set as a state constant. The correction amount generation circuit 22 uses st as a state constant.
If _nl1 has not been set, the process proceeds to step S156, while if st_nl1 has been set as the state constant, the exposure correction amount mEV is calculated by the following equation (12) (step S162). mEV = −log 2 (T / RY) + CMP × w —nl1 (12)
【0064】ステップS156では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_nl2 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_nl2 が設定されていない場合にはステップS157に
移行する一方、状態定数としてst_nl2 が設定されてい
る場合には、露出補正量mEVを下式(13)により算
出する(ステップS163)。 mEV=CMP ×w _nl2 ‥‥‥ (13)In step S156, the correction amount generation circuit 2
No. 2 determines whether or not st_nl2 is set as a state constant. The correction amount generation circuit 22 uses st as a state constant.
If _nl2 is not set, the process proceeds to step S157, while if st_nl2 is set as the state constant, the exposure correction amount mEV is calculated by the following equation (13) (step S163). mEV = CMP × w — nl2 (13)
【0065】ステップS157では、補正量生成回路2
2は、状態定数としてst_nl3 が設定されているか否か
を判別する。補正量生成回路22は、状態定数としてst
_nl3 がが設定されている場合には、ステップS164
に移行し、輝度がev_thrdより大か否かを判別する。こ
の判別の結果、補正量生成回路22は、輝度がev_thrd
より大きい場合には、ステップS165に移行して、下
式(14)により露出補正量mEVを算出する。一方、
輝度がev_thrdより大きくない場合には、ステップS1
66に移行して、下式(15)により露出補正量mEV
を算出する。 mEV=CMP ×w _nl31 ‥‥‥ (14) mEV=CMP ×w _nl32 ‥‥‥ (15)In step S157, the correction amount generation circuit 2
2 judges whether or not st_nl3 is set as a state constant. The correction amount generation circuit 22 uses st as a state constant.
If _nl3 is set, step S164
To determine whether the luminance is greater than ev_thrd. As a result of this determination, the correction amount generation circuit 22 determines that the luminance is ev_thrd
If it is larger, the flow shifts to step S165 to calculate the exposure correction amount mEV by the following equation (14). on the other hand,
If the luminance is not greater than ev_thrd, step S1
66, and the exposure correction amount mEV is calculated by the following equation (15).
Is calculated. mEV = CMP × w_nl31 (14) mEV = CMP × w_nl32 (15)
【0066】次に、逆光状態、過順光状態、および順光
状態の具体的なイメージ例を図14〜図17に示す。図
14〜図17において、”あり”、”なし”は、図10
における比較をしている所定のブロックの集まりである
任意のエリア間の輝度比が、各々”あり”、”なし”を
示している。Next, specific image examples of the backlit state, the over-directed state, and the forward-lit state are shown in FIGS. In FIGS. 14 to 17, “Yes” and “No” correspond to FIG.
The luminance ratios between arbitrary areas, which are a group of predetermined blocks that are being compared, indicate “present” and “absent”, respectively.
【0067】図14は状態定数がst_bl1 (逆光状態)
となるイメージ例を示す。同図は、逆光でかつ光源等の
局所的な高輝度部分を含むイメージ例である。同図のイ
メージは、エリア間の輝度比があり逆光と判定され、ま
た、高輝度部ありと判定される。従って、同図に示すよ
うなイメージでは、逆光であり、かつ、光源等の局所的
な高輝度部分を含み露出がアンダーぎみとなるため、オ
ーバー側へ補正を比較的大きく行う。FIG. 14 shows that the state constant is st_bl1 (backlit state).
The following is an example of the image. FIG. 3 is an example of an image including a high-luminance portion such as a light source, which is backlit. In the image shown in the drawing, there is a luminance ratio between the areas, and it is determined that the image is a backlight, and it is also determined that there is a high luminance part. Therefore, in the image as shown in FIG. 11, the image is backlit and the exposure is underexposed, including a local high-luminance portion such as a light source.
【0068】図15は状態定数がst_ol1 (過順光状
態)となるイメージ例を示す。同図は、過順光でかつ光
源等の局所的な高輝度部分を含むイメージ例である。同
図のイメージは、エリア間の輝度比があり、過順光と判
定され、また、高輝度部ありと判定される。従って、露
出はオーバーぎみになるが光源等の局所的な高輝度部分
も含むため、アンダー側へ補正を比較的小さく行う。FIG. 15 shows an example of an image in which the state constant is st_ol1 (excessive light state). FIG. 3 is an example of an image that includes a local high-luminance portion such as a light source that is over-ordered light. In the image shown in the figure, there is a luminance ratio between the areas, it is determined that the light is over-ordered, and it is determined that there is a high luminance part. Therefore, the exposure is over-exposed, but also includes a local high-luminance portion such as a light source.
【0069】図16は状態定数がst_nl1 (順光状態)
となるイメージ例を示す。同図は、被写体が小さく、ブ
ロック内で光源等の局所的な高輝度部分を含み、かつエ
リア間の輝度比がないイメージ例である。同図のイメー
ジは、エリア間の輝度比からは逆光と判定されないが、
高輝度部ありと判定される。従って、同図に示すような
イメージでは、高輝度部分を含んでいるので、高輝度部
分を削除して再測光する。FIG. 16 shows that the state constant is st_nl1 (direct light state).
The following is an example of the image. This figure is an example of an image in which a subject is small, includes a local high-luminance portion such as a light source in a block, and has no luminance ratio between areas. In the image shown in the figure, the backlight is not determined from the luminance ratio between the areas,
It is determined that there is a high luminance portion. Therefore, since the image as shown in FIG. 7 includes a high luminance portion, the high luminance portion is deleted and photometry is performed again.
【0070】図17は状態定数がst_nl3 (順光状態)
となるイメージ例を示す。同図は、周辺部に光源等の局
所的な高輝度部分を含み、周辺部がかなり明るいイメー
ジ例である。従って、エリア間の輝度比はないが、同図
に示すようなイメージでは、周辺部の影響で露出がアン
ダーぎみになるため、オーバー側へ補正を比較的大きく
行う。FIG. 17 shows that the state constant is st_nl3 (direct light state).
The following is an example of the image. This figure is an example of an image in which a peripheral portion includes a local high luminance portion such as a light source and the peripheral portion is considerably bright. Therefore, although there is no luminance ratio between the areas, in the image as shown in FIG. 11, the exposure is underexposed due to the influence of the peripheral portion, so that the correction is made relatively large toward the over side.
【0071】[露出制御回路23]露出制御回路23
は、補正量生成回路22から出力される露出補正量mE
Vに基づいて露出制御量を算出し、絞り12の絞り値、
CCD13のシャッター速度、およびAGC回路16の
ゲイン値等を制御して露出制御する。[Exposure control circuit 23] Exposure control circuit 23
Is the exposure correction amount mE output from the correction amount generation circuit 22.
The exposure control amount is calculated based on V, and the aperture value of the aperture 12
Exposure is controlled by controlling the shutter speed of the CCD 13, the gain value of the AGC circuit 16, and the like.
【0072】以上説明したように、上記した実施の形態
においては、ブロック生成回路18は画面の一部または
全部を複数のブロックに分割し、輝度変化率算出回路2
0は、ブロック毎の輝度レベルの変化率およびブロック
の輝度レベルの分布の変化率を算出し、逆光高輝度検出
回路21は、輝度変化率算出回路20の算出結果に基づ
き逆光、過順光、および高輝度部を判定し、また、高輝
度のブロックを削除し、補正量制御回路22は、逆光高
輝度検出回路21の判定結果に基づき露出補正量を算出
し、露出制御回路23は露出補正量に基づき露出制御量
を求めて露出制御を行うこととしたので、逆光、過順
光、および局所的な高輝度部を含む被写体の場合でも適
切な露出制御が可能となる。As described above, in the above-described embodiment, the block generation circuit 18 divides a part or the whole of the screen into a plurality of blocks, and
0 calculates the change rate of the luminance level for each block and the change rate of the distribution of the luminance level of the block, and the backlight high luminance detection circuit 21 calculates the backlight, the over-direct light, And the high-brightness part is determined, and the high-brightness block is deleted. The correction amount control circuit 22 calculates the exposure correction amount based on the determination result of the backlight high-brightness detection circuit 21, and the exposure control circuit 23 determines the exposure correction amount. Since the exposure control is performed by obtaining the exposure control amount based on the amount, appropriate exposure control can be performed even in the case of a subject including a backlight, an over-direct light, and a local high-luminance portion.
【0073】また、上記した実施の形態では、輝度変化
率算出回路20は、フォーカスレンズを移動させた際に
各レンズ位置で取得した輝度信号に基づきブロック毎の
輝度レベルの変化率およびブロックの輝度レベルの分布
の変化率を算出し、逆光高輝度検出回路21は、輝度変
化率算出回路20の算出結果および分割された複数のブ
ロックのうちの任意の複数ブロックから構成されるエリ
ア間の輝度比に基づき、逆光、過順光、および高輝度部
を判定することとしたので、ブロック内での小さな高輝
度部分や任意のエリア間の輝度比を正確に判定でき、精
度良く、逆光、過順光および高輝度部の判定、並びに高
輝度のブロックの削除が可能となる。In the above-described embodiment, the luminance change rate calculating circuit 20 calculates the change rate of the luminance level for each block and the luminance of the block based on the luminance signal obtained at each lens position when the focus lens is moved. The change ratio of the level distribution is calculated, and the backlight high luminance detection circuit 21 calculates the luminance result between the luminance change ratio calculation circuit 20 and the luminance ratio between the areas formed by an arbitrary plurality of blocks among the plurality of divided blocks. , The backlight ratio, over-order light, and high-luminance portion are determined, so that the luminance ratio between small high-luminance portions and an arbitrary area in the block can be accurately determined. It is possible to determine the light and the high-luminance part, and to delete the high-luminance block.
【0074】また、上記した実施の形態では、逆光高輝
度検出回路21、無限遠から至近側までフォーカスレン
ズを移動させた後、または、山登りスキャンで合焦位置
を検出した後に、逆光、過順光、および高輝度部を判定
し、また、高輝度のブロックを削除することとしたの
で、フォーカスレンズ移動後に取得されたブロックにお
ける輝度レベルの変化率および輝度レベルの分布の変化
率を用いることができ、精度良く、逆光、過順光および
高輝度部の判定、並びに高輝度部のブロックの削除が可
能となる。Further, in the above-described embodiment, after the backlight high-luminance detecting circuit 21 moves the focus lens from infinity to the closest side, or after detecting the focus position by hill-climbing scan, the backlight or over-direct light is detected. , And the high-luminance portion are determined, and the high-luminance block is deleted. Therefore, it is possible to use the change rate of the luminance level and the change rate of the luminance level distribution in the block obtained after the focus lens is moved. It is possible to accurately determine the backlight, the over-order light, and the high-luminance portion, and to delete the block of the high-luminance portion.
【0075】また、上記した実施の形態では、逆光高輝
度検出回路21は、輝度レベルまたは輝度レベルの変化
率が所定の閾値より大きいブロックを高輝度のブロック
として削除することとしたので、ブロック内全体が高輝
度部分であるもの、およびブロック内に小さな高輝度部
分があるものにも対応でき、正確に高輝度部分を削除す
ることが可能となる。In the above-described embodiment, the backlight high-luminance detection circuit 21 deletes a block whose luminance level or the rate of change of the luminance level is larger than a predetermined threshold value as a high-luminance block. It is possible to cope with a high-luminance part as a whole or a small high-luminance part in a block, and to accurately delete the high-luminance part.
【0076】また、上記した実施の形態では、逆光高輝
度検出回路21は、輝度変化率算出回路20の算出結果
に基づき、逆光、過順光、および高輝度部を判定して状
態定数を設定し、補正量生成回路22は、当該状態定数
に基づき露出補正量を算出することとしたので、逆光お
よび過順光の度合に応じた露出制御が可能となる。In the above-described embodiment, the backlight high-luminance detection circuit 21 determines the backlight, the over-direct light, and the high-luminance portion based on the calculation result of the luminance change rate calculation circuit 20 and sets the state constant. However, since the correction amount generation circuit 22 calculates the exposure correction amount based on the state constant, it is possible to perform exposure control according to the degree of back light and excessive forward light.
【0077】また、上記した実施の形態では、逆光高輝
度検出回路21は、ブロックの輝度レベルの分布の変化
率が所定の閾値より大きい場合に高輝度部があると判定
することとしたので、精度良く高輝度部を判定すること
が可能となる。In the above-described embodiment, the backlight high-luminance detection circuit 21 determines that there is a high-luminance portion when the rate of change in the distribution of the luminance levels of the blocks is larger than a predetermined threshold. It is possible to accurately determine a high-luminance portion.
【0078】(実施の形態2)図18に示すように、マ
イクロプロセッサ等のデジタル処理回路を使用して図1
で示したデジタルスチルビデオカメラと同様の処理を行
うことが可能である。図18はこの発明に係るデジタル
スチルビデオカメラの一実施の形態(実施の形態2)の
構成を示すブロック図である。(Embodiment 2) As shown in FIG. 18, a digital processing circuit such as a microprocessor
It is possible to perform the same processing as that of the digital still video camera shown by. FIG. 18 is a block diagram showing a configuration of an embodiment (Embodiment 2) of a digital still video camera according to the present invention.
【0079】図18に示すデジタルスチルビデオカメラ
は、CCDカメラ部31、A/D変換器32、画像信号
処理部33、画像データを格納するフレームメモリ3
4、ブロック生成部35、露出補正部36、メモリカー
ド37、フォーカス制御部38、CPU39,CCDカ
メラ制御部40から構成されている。The digital still video camera shown in FIG. 18 has a CCD camera section 31, an A / D converter 32, an image signal processing section 33, and a frame memory 3 for storing image data.
4, a block generator 35, an exposure corrector 36, a memory card 37, a focus controller 38, a CPU 39, and a CCD camera controller 40.
【0080】CCDカメラ部31は、図1のレンズ1、
絞り12、CCD13、CDS回路14、およびAGC
回路15に、ブロック生成部35は、図1のブロック生
成回路18に、露出補正部36は、図1の状態検出回路
19、輝度変化率算出回路20、逆光高輝度検出回路2
1、および補正量生成回路22に、フォーカス制御部3
8は、図1のフォーカス制御回路24に、CCDカメラ
制御部40は、図1の露出制御回路23およびフォーカ
ス駆動回路25にそれぞれ対応し上述したのと同様の動
作を行う。また、CPU39は、各部の動作を制御す
る。The CCD camera unit 31 includes the lens 1 shown in FIG.
Aperture 12, CCD 13, CDS circuit 14, and AGC
In the circuit 15, the block generation unit 35 is used in the block generation circuit 18 in FIG. 1, and the exposure correction unit 36 is used in the state detection circuit 19, the luminance change rate calculation circuit 20, the backlight high luminance detection circuit 2 in FIG.
1 and the focus control unit 3
Reference numeral 8 corresponds to the focus control circuit 24 in FIG. 1, and the CCD camera control unit 40 performs the same operation as described above, corresponding to the exposure control circuit 23 and the focus drive circuit 25 in FIG. The CPU 39 controls the operation of each unit.
【0081】なお、本発明は上記した実施の形態に限定
されるものではなく、発明の要旨を変更しない範囲で適
宜変更して実施可能である。例えば、上記した実施の形
態では、画面のブロック数を8×6とした例を説明した
が、本発明はこれに限られるものではなく、画面のブロ
ック数はいくつとしても良い。また、エリアの区分も上
記した実施の形態に限定されるものではない。The present invention is not limited to the above-described embodiment, but can be implemented with appropriate modifications without departing from the spirit of the invention. For example, in the above-described embodiment, an example in which the number of screen blocks is set to 8 × 6 has been described. However, the present invention is not limited to this, and any number of screen blocks may be used. Further, the division of the area is not limited to the above embodiment.
【0082】[0082]
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に係る発
明によれば、ブロック分割手段は画面の一部または全部
を複数のブロックに分割し、輝度変化率算出手段はブロ
ック毎の輝度レベルの変化率およびブロックの輝度レベ
ルの分布の変化率を算出し、逆光高輝度検出手段は輝度
変化率算出手段の算出結果に基づき、逆光、過順光、お
よび高輝度部を判定し、また、高輝度のブロックを削除
し、補正量生成手段は輝度検出手段の判定結果に基づき
露出補正量を算出し、露出制御手段は露出補正量に基づ
き露出制御量を算出して露出制御を行うこととしたの
で、逆光、過順光、および局所的な高輝度部を含む被写
体の場合でも適切な露出制御が可能となる。As described above, according to the first aspect of the invention, the block dividing means divides a part or the whole of the screen into a plurality of blocks, and the luminance change rate calculating means calculates the luminance level for each block. Calculate the change rate of the distribution of the luminance level of the block and the rate of change, the backlight high luminance detection means, based on the calculation result of the luminance change rate calculation means, determine backlight, over-direct light, and high luminance portion, The high-brightness block is deleted, the correction amount generation unit calculates the exposure correction amount based on the determination result of the luminance detection unit, and the exposure control unit calculates the exposure control amount based on the exposure correction amount to perform exposure control. Therefore, appropriate exposure control can be performed even for a subject including a backlight, an over-direct light, and a local high-luminance portion.
【0083】また、請求項2に係る発明によれば、請求
項1に記載の発明において、輝度変化率算出手段は、フ
ォーカスレンズを移動させた際に各レンズ位置で取得し
た輝度信号に基づきブロック毎の輝度レベルの変化率お
よびブロックの輝度レベルの分布の変化率を算出し、逆
光高輝度検出手段は、輝度変化率算出手段の算出結果お
よび分割された複数のブロックのうちの任意の複数ブロ
ックから構成されるエリア間の輝度比に基づき、逆光、
過順光、および高輝度部を判定することとしたので、請
求項1に記載の発明の効果に加えて、ブロック内での小
さな高輝度部分や任意のエリア間の輝度比を正確に判定
でき、精度良く、逆光、過順光および高輝度部の判定、
並びに高輝度のブロックの削除が可能となる。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the luminance change rate calculating means is configured to block based on a luminance signal acquired at each lens position when the focus lens is moved. The change rate of the luminance level for each of the blocks and the change rate of the distribution of the luminance levels of the blocks are calculated, and the backlight high luminance detection means calculates the calculation result of the luminance change rate calculation means and any of the plurality of divided blocks. Backlight,
Since the over-order light and the high-luminance portion are determined, in addition to the effect of the invention described in claim 1, the luminance ratio between a small high-luminance portion and an arbitrary area in the block can be accurately determined. , With high accuracy, determination of backlight, over-ordered light and high brightness part,
In addition, high-luminance blocks can be deleted.
【0084】また、請求項3に係る発明によれば、請求
項1に記載の発明において、逆光高輝度検出手段は、無
限遠から至近側までフォーカスレンズを移動させた後、
または、山登りスキャンで合焦位置を検出した後に、逆
光、過順光、および高輝度部を判定し、また、高輝度の
ブロックを削除することとしたので、請求項1に記載の
発明の効果に加えて、フォーカスレンズ移動後に取得さ
れたブロックにおける輝度レベルの変化率および輝度レ
ベルの分布の変化率を用いることができ、精度良く、逆
光、過順光および高輝度部の判定、並びに高輝度部のブ
ロックの削除が可能となる。According to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the backlight high-luminance detecting means moves the focus lens from infinity to the closest side,
Alternatively, after detecting the in-focus position by the hill-climbing scan, the backlight, the over-order light, and the high-luminance portion are determined, and the high-luminance block is deleted. In addition to the above, the change rate of the luminance level and the change rate of the distribution of the luminance level in the block obtained after the movement of the focus lens can be used, and it is possible to accurately determine the backlight, the over-order light, the high-luminance portion, and the high luminance. It is possible to delete some blocks.
【0085】また、請求項4に係る発明によれば、請求
項1に記載の発明において、逆光高輝度検出手段は、輝
度レベルまたは輝度レベルの変化率が所定の閾値より大
きいブロックを高輝度のブロックとして削除することと
したので、請求項1に記載の発明の効果に加えて、ブロ
ック内全体が高輝度部分であるもの、およびブロック内
に小さな高輝度部分があるものにも対応でき、正確に高
輝度部分を削除することが可能となる。According to a fourth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the backlight high-luminance detecting means detects a block whose luminance level or a change rate of the luminance level is larger than a predetermined threshold value. Since the block is deleted, in addition to the effect of the invention described in claim 1, it is possible to cope with the case where the whole block has a high luminance portion and the case where the block has a small high luminance portion. It is possible to delete the high luminance portion.
【0086】また、請求項5に係る発明によれば、請求
項1に記載の発明において、逆光高輝度検出手段は、輝
度変化率算出手段の算出結果に基づき、逆光、過順光、
および高輝度部を判定して状態定数を設定し、補正量生
成手段は、当該状態定数に基づき露出補正量を算出する
こととしたので、請求項1に記載の発明の効果に加え
て、逆光および過順光の度合に応じた露出制御が可能と
なる。According to a fifth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the backlight high-luminance detecting means includes a backlight, over-direct light,
And the high-luminance portion is determined to set a state constant, and the correction amount generating means calculates the exposure correction amount based on the state constant. Exposure can be controlled according to the degree of over-directed light.
【0087】また、請求項6に係る発明によれば、請求
項1に記載の発明において、逆光高輝度検出手段は、ブ
ロックの輝度レベルの分布の変化率が所定の閾値より大
きい場合に高輝度部があると判定することとしたので、
請求項1に記載の発明の効果に加えて、精度良く高輝度
部を判定することが可能となる。According to a sixth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the backlight high-luminance detecting means increases the high-luminance when the change rate of the distribution of the luminance level of the block is larger than a predetermined threshold. Because it was decided that there is a part,
In addition to the effect of the first aspect, it is possible to determine a high-luminance portion with high accuracy.
【図1】この発明に係るデジタルスチルビデオカメラの
一実施の形態(実施の形態1)を示すブロック図であ
る。FIG. 1 is a block diagram illustrating an embodiment (Embodiment 1) of a digital still video camera according to the present invention.
【図2】画面のブロックおよびエリア分割例を示す図で
ある。FIG. 2 is a diagram showing an example of screen blocks and area division.
【図3】図1の状態検出回路の動作を説明するためのフ
ローチャートである。FIG. 3 is a flowchart illustrating an operation of the state detection circuit of FIG. 1;
【図4】画面上のシーンの一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a scene on a screen.
【図5】図4の画面の一部をブロックA,B,Cとした
場合に、各ブロックA、B、Cのレンズ位置が∞〜Ne
arまでの各ポイント(1〜n)における輝度レベルを
示す図である。FIG. 5 shows a case where a part of the screen of FIG. 4 is made up of blocks A, B, and C, and the lens positions of the blocks A, B, and C are ∞ to Ne.
It is a figure which shows the brightness level in each point (1-n) until ar.
【図6】図4に示すシーンにおける8×6ブロックの累
積輝度の無限側での輝度レベルの分布例を示す図であ
る。6 is a diagram showing an example of a distribution of luminance levels on the infinite side of the accumulated luminance of 8 × 6 blocks in the scene shown in FIG. 4;
【図7】図4に示すシーンにおける8×6ブロックの累
積輝度の至近側での輝度レベルの分布例を示す図であ
る。7 is a diagram showing an example of a distribution of luminance levels on the closest side of the accumulated luminance of 8 × 6 blocks in the scene shown in FIG. 4;
【図8】輝度レベルの分布数を説明するための説明図
(その1)である。FIG. 8 is an explanatory diagram (part 1) for describing the number of distributions of luminance levels.
【図9】輝度レベルの分布数を説明するための説明図
(その2)である。FIG. 9 is an explanatory diagram (part 2) for describing the number of distributions of luminance levels.
【図10】逆光高輝度検出回路の動作を説明するための
フローチャートである。FIG. 10 is a flowchart for explaining the operation of the backlight high luminance detection circuit.
【図11】図10の逆光処理を説明するためのフローチ
ャートである。FIG. 11 is a flowchart for explaining the backlight process of FIG. 10;
【図12】図10の過順光処理を説明するためのフロー
チャートである。FIG. 12 is a flowchart illustrating the over-order light processing of FIG. 10;
【図13】図1の補正量生成回路の動作を説明するため
のフローチャートである。FIG. 13 is a flowchart for explaining the operation of the correction amount generation circuit of FIG. 1;
【図14】逆光状態の具体的なイメージ例を示す図であ
る。FIG. 14 is a diagram illustrating a specific image example of a backlight state.
【図15】過順光状態の具体的なイメージ例を図であ
る。FIG. 15 is a diagram illustrating a specific image example of an over-ordered light state.
【図16】順光状態の具体的なイメージ例(その1)を
図である。FIG. 16 is a view showing a specific image example (part 1) of a normal light state.
【図17】順光状態の具体的なイメージ例(その1)を
図である。FIG. 17 is a diagram illustrating a specific image example (part 1) of a normal light state.
【図18】この発明に係るデジタルスチルビデオカメラ
の一実施の形態(実施の形態2)の構成を示すブロック
図である。FIG. 18 is a block diagram showing a configuration of an embodiment (Embodiment 2) of a digital still video camera according to the present invention.
【図19】従来技術を示しており、画面(画像)の分割
例を示している。FIG. 19 illustrates a conventional technique, and illustrates an example of division of a screen (image).
【図20】従来技術を示しており、逆光状態の画面(画
像)の分割例を示している。FIG. 20 illustrates a conventional technique, and illustrates an example of dividing a screen (image) in a backlight state.
1 デジタルスチルビデオカメラ 11 レンズ 12 絞り 13 CCD 14 CDS回路 15 AGC回路 16 A/D変換器 17 画像信号処理回路 18 ブロック生成回路 19 状態検出回路 20 輝度変化率算出回路 21 逆光高輝度検出回路 22 補正量生成回路 23 露出制御回路 24 フォーカス制御回路 25 フォーカス駆動回路 31 CCDカメラ部 32 A/D変換器 33 画像信号処理部 34 フレームメモリ 35 ブロック生成部 36 露出補正部 37 メモリカード 38 フォーカス制御部 39 CPU 40 CCDカメラ制御部 Reference Signs List 1 digital still video camera 11 lens 12 aperture 13 CCD 14 CDS circuit 15 AGC circuit 16 A / D converter 17 image signal processing circuit 18 block generation circuit 19 state detection circuit 20 brightness change rate calculation circuit 21 backlight high brightness detection circuit 22 correction Amount generation circuit 23 Exposure control circuit 24 Focus control circuit 25 Focus drive circuit 31 CCD camera unit 32 A / D converter 33 Image signal processing unit 34 Frame memory 35 Block generation unit 36 Exposure correction unit 37 Memory card 38 Focus control unit 39 CPU 40 CCD camera control unit
Claims (6)
に分割するブロック分割手段と、 前記ブロック毎の輝度レベルの変化率および前記ブロッ
クの輝度レベルの分布の変化率を算出する輝度変化率算
出手段と、 前記輝度変化率算出手段の算出結果に基づき、逆光、過
順光、および高輝度部を判定し、また、高輝度のブロッ
クを削除する逆光高輝度検出手段と、 前記逆光高輝度検出手段の判定結果に基づき、露出補正
量を算出する補正量生成手段と、 前記露出補正量に基づき露出制御量を算出して露出制御
を行う露出制御手段と、 を備えたことを特徴とするデジタルスチルビデオカメ
ラ。1. A block dividing means for dividing a part or the whole of a screen into a plurality of blocks, and a luminance change rate calculation for calculating a change rate of a luminance level for each block and a change rate of a distribution of luminance levels of the blocks. Means, based on the calculation result of the brightness change rate calculation means, to determine backlight, over-ordered light, and high brightness portion, and a backlight high brightness detection means for deleting a high brightness block; and the backlight high brightness detection A correction amount generation unit that calculates an exposure correction amount based on a determination result of the unit; and an exposure control unit that calculates an exposure control amount based on the exposure correction amount and performs exposure control. Still video camera.
レンズを移動させた際に各レンズ位置で取得した輝度信
号に基づき前記ブロック毎の輝度レベルの変化率および
前記ブロックの輝度レベルの分布の変化率を算出し、 前記逆光高輝度検出手段は、前記輝度変化率算出手段の
算出結果および前記分割された複数のブロックのうちの
任意の複数ブロックから構成されるエリア間の輝度比に
基づき、逆光、過順光、および高輝度部を判定すること
を特徴とする請求項1に記載のデジタルスチルビデオカ
メラ。2. The method according to claim 1, wherein the luminance change rate calculation unit calculates a change rate of a luminance level of each block and a change of a luminance level distribution of the block based on a luminance signal acquired at each lens position when a focus lens is moved. Calculating the ratio, the backlight high-luminance detection means, based on the calculation result of the luminance change rate calculation means and the luminance ratio between areas composed of arbitrary plural blocks of the plurality of divided blocks, 2. The digital still video camera according to claim 1, wherein the digital still video camera is configured to determine over-illuminated light, high-order light, and high-luminance part.
至近側までフォーカスレンズを移動させた後、または、
山登りスキャンで合焦位置を検出した後に、逆光、過順
光、および高輝度部を判定し、また、高輝度のブロック
を削除することを特徴とする請求項1に記載のデジタル
スチルビデオカメラ。3. The backlight high-intensity detecting means, after moving the focus lens from infinity to a close side, or
2. The digital still video camera according to claim 1, wherein after detecting a focus position in the hill-climbing scan, a backlight, an excessively-directed light, and a high-luminance portion are determined, and a high-luminance block is deleted.
または輝度レベルの変化率が所定の閾値より大きいブロ
ックを高輝度のブロックとして削除することを特徴とす
る請求項1に記載のデジタルスチルビデオカメラ。4. The digital still video according to claim 1, wherein the backlight high luminance detecting means deletes a block having a luminance level or a change rate of the luminance level larger than a predetermined threshold value as a high luminance block. camera.
化率算出手段の算出結果に基づき、逆光、過順光、およ
び高輝度部を判定して状態定数を設定し、 前記補正量生成手段は、前記状態定数に基づき前記露出
補正量を算出することを特徴とする請求項1に記載のデ
ジタルスチルビデオカメラ。5. The backlight high-luminance detecting means determines a backlight, an over-direct light, and a high-luminance part and sets a state constant based on a calculation result of the luminance change rate calculating means, and the correction amount generating means 2. The digital still video camera according to claim 1, wherein the calculating unit calculates the exposure correction amount based on the state constant.
クの輝度レベルの分布の変化率が所定の閾値より大きい
場合に高輝度部があると判定することを特徴とする請求
項1に記載のデジタルスチルビデオカメラ。6. The backlight according to claim 1, wherein the backlight high-luminance detecting means determines that there is a high-luminance portion when a change rate of the distribution of the luminance level of the block is larger than a predetermined threshold. Digital still video camera.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11003412A JP2000201295A (en) | 1999-01-08 | 1999-01-08 | Digital still video camera |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11003412A JP2000201295A (en) | 1999-01-08 | 1999-01-08 | Digital still video camera |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000201295A true JP2000201295A (en) | 2000-07-18 |
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ID=11556678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP11003412A Pending JP2000201295A (en) | 1999-01-08 | 1999-01-08 | Digital still video camera |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000201295A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7251057B2 (en) * | 2001-06-19 | 2007-07-31 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Digital camera |
JP2009100252A (en) * | 2007-10-17 | 2009-05-07 | Mitsubishi Electric Corp | Imaging device |
US8040400B2 (en) | 2006-08-08 | 2011-10-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Signal processing device, image sensing system, and signal processing method |
JP2012023546A (en) * | 2010-07-14 | 2012-02-02 | Jvc Kenwood Corp | Control device, stereoscopic video pickup device, and control method |
WO2012140697A1 (en) * | 2011-04-14 | 2012-10-18 | 三菱電機株式会社 | On-board image processing device |
KR101383896B1 (en) * | 2009-02-11 | 2014-04-10 | 삼성테크윈 주식회사 | Method for image processing devices and method thereof |
-
1999
- 1999-01-08 JP JP11003412A patent/JP2000201295A/en active Pending
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