FI83911C - Foerfarande och anordning foer maetning av ett hinnartat eller skivlikt bands tjocklek. - Google Patents
Foerfarande och anordning foer maetning av ett hinnartat eller skivlikt bands tjocklek. Download PDFInfo
- Publication number
- FI83911C FI83911C FI862006A FI862006A FI83911C FI 83911 C FI83911 C FI 83911C FI 862006 A FI862006 A FI 862006A FI 862006 A FI862006 A FI 862006A FI 83911 C FI83911 C FI 83911C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- measuring
- web
- distance
- measured
- sensors
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0691—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of objects while moving
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/40—Caliper-like sensors
- G01B2210/44—Caliper-like sensors with detectors on both sides of the object to be measured
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/40—Caliper-like sensors
- G01B2210/46—Caliper-like sensors with one or more detectors on a single side of the object to be measured and with a transmitter on the other side
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
1 83911
MENETELMÄ JA LAITE KALVOMAISEN TAI LEVYMÄISEN RAINAN PAKSUUDEN MITTAAMISEKSI - FÖRFARANDE OCH ANORDNING FÖR MÄTNING AV ETT HINNARTAT ELLER SKIVLIKT BANDS TJOCKLEK
5 Keksinnön kohteena on patenttivaatimuksen 1 johdanto-osassa määritelty menetelmä sekä patenttivaatimuksen 6 johdanto-osassa määritelty laite kalvomaisen tai levymäisen rainan paksuuden mittaamiseksi.
Paperikoneissa olevien rainan paksuusmittarei-10 den yleinen toimintaperiaate on se, että raina koskettaa toisella pinnallaan anturin kiinteään osaan ja toisella liikkuvaaan osaan, joka liikkuu rainan paksuuden mukana ja esim. induktiivisesta mittaa liikkuvan osan etäisyyttä kiinteään osaan. Jos anturit kosketta-15 vat koko ajan mitattavaa rainaa tasaisesti molemmilta puolilta, paksuus saadaan mitatuksi oikein. Tämän vuoksi liikkuva osa on tehty kevyeksi, jotta se pystyisi liikkumaan nopeasti ja jotta se ei rikkoisi rainaa. Keveydestä johtuen rainan lepatus pystyy heilutta-20 maan liikkuvaa osaa siten, että raina ei kosketakaan molemmilta pinnoiltaan anturiin ja täten saadaan väärä . mittaustulos. Toisena haittana on se, että liikkuvalla osalla on kuitenkin aina tietty massa, jonka hitaus aiheuttaa sen, että se ei pysty seuraamaan rainan no-25 peata paksuuden vaihtelua tai lepatusta, ja tällöin saadaan väärä mittaustulos.
Käytössä olevissa paksuusantureissa on muunnoksia edellä esitetystä, mutta perusperiaate on kuitenkin se, että raina kulkee kahden kappaleen välissä, ____ 30 joiden välimatkaa mitataan ja sen oletetaan olevan verraNnollinen rainan paksuuteen, mutta mm. rainan lepatus aiheuttaa väärän mittaustuloksen.
Toista tekniikan tasoa rainan paksuuden mittaamiseksi on kuvattu US patettijulkaisuissa 3 536 405, 35 4 068 955 ja 3 671 726, joissa rainan paksuuden mittaus tapahtuu koskettamatta rainaa. Nämä menetelmät eivät sovellu leveiden rainojen tarkkaan mittaukseen, koska 2 83911 pitkiin tukirakenteisiin tuetut anturit rainan kuomallakin puolella värähtelevät koneen käynnistä johtuen, jolloin mittaustulos ei ole tarkka erityisesti sen vuoksi, että mitattavat paksuudet ovat mikrometri- tai 5 korkeintaan millimetri-luokkaa pientenkin värähtelyjen aiheuttaessa tällöin suhteellisesti suuren virheen.
Keksinnön tarkoituksena on poistaa edellä mainitut epäkohdat. Erityisesti keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin menetelmä ja laite rainan paksuuden 10 mittaamiseksi, jossa sekä ulkopuoliset, rainan liikkeestä ja rainaa liiikuttavasta koneesta että rainan epätasaisuuksista johtuvat mittausepätarkkuudet saadaan eliminoiduksi. Lisäksi keksinnön tarkoituksena on esittää menetelmä ja laite, joilla käytettävien antureiden 15 asennus ja kalibrointi oikeille paikoille ei ole niin tarkkaa kuin nykyisissä menetelmissä ja laitteissa, koska anturit itse mittaavat ja ottavat huomioon vähäiset niiden sijoittelussa mahdollisesti tapahtuvat virheet .
20 Keksinnölle tunnusomaisten seikkojen osalta viitataan vaatimusosaan.
Keksinnön mukaiselle mittausmenetelmälle on tunnusomaista, että mitattavan rainan molemmille puolille on sijoitettu mittapäät, joiden välistä kes-25 kinäistä etäisyyttä mitataan samanaikaisesti kun kum-•i mankin mittapään etäisyyttä välissä olevaan rainaan mitataan, jolloin näistä kolmesta mitatusta suureesta saadaan joko analogisesti tai digitaalisesti laskemalla rainan paksuus.
30 Keksinnön mukaiselle mittauslaitteelle on tun nusomaista, että laitteeseen kuuluu rainan kummallekin puolelle asetettavat mittapäät, joihin kuuluu ainakin yksi anturi mittapäiden välisen etäisyyden mittaamiseksi. Lisäksi kumpaankin mittapäähän kuuluu anturit rai-35 nan sen puolisen pinnan etäisyyden mittaamiseksi mitta-päästä.
Keksinnön mukaisella mittausmenetelmällä ja 3 83911 -laitteella voidaan rainan paksuutta mitata olennaisesti jatkuvasti tai jaksottain aina tarpeen mukaan. Olennaista on, että aina samanaikaisesti mitataan mittapäi-den etäisyyttä rainan vastaavista pinnoista ja mitta-5 päiden välistä etäisyyttä.
Täten keksinnön mukaisen mittausmenetelmän ja -laitteen etuna tunnettuun tekniikkaan verrattuna on, että ympäristöstä, koneen käynnistä tai rainan epätasaisuuksista johtuvat värinät ja tärähtelyt eivät 10 vaikuta mittaustulokseen, vaan käyttäen samanaikaisesti kolmea eri anturia keksinnön mukaisesti saadaan nykyisissä mittauksissa ilmenevät häiriöt eliminoiduksi.
Seuraavassa keksintöä selostetaan yksityiskohtaisesti viittaamalla oheiseen piirustukseen, jossa 15 kuva 1 esittää erästä keksinnön mukaista sovellutusta, kuva 2 esittää kuvan 1 sovellutusta toisesta suunnasta katsottuna, ja kuva 3 esittää erästä toista keksinnön mukaista sovellutusta .
20 Kuvien 1 ja 2 esittämään erääseen keksinnön mukaiseen mittauslaitteeseen kuuluu kaksi lähekkäin olevaa mittapäätä 4 ja 11. Mittapäiden välissä on mitattava raina 5 vapaana kosketuksesta mittapäihin. Mit-tapäässä 4 on kapean valonsäteen lähettämä valolähde 25 1. Siitä lähtevä valonsäde kohtaa alla olevan rainan 5 yläpinnan 14 ja tämä valopiste kuvautuu vastaanottimen 2 paikkaherkälle pinnalle. Valopisteen kuvan paikka vastaanottimen paikkaherkällä pinnalla muuttuu, jos rainan yläpinnan etäisyys muuttuu mittapäästä 4. Toisin 30 sanoen vastaanottimesta 2 saadaan signaali UI, jonka suuruus on verrannollinen mittapään 4 etäisyyteen rainan yläpinnasta 14.
• Vastaavasti rainan 5 alapuolella on mittapää 11, jossa on valonsäteen lähettämä valolähde 6 ja vas-35 taanotin 7, joka antaa signaalin U2, jonka suuruus on verrannollinen mittapään 11 etäisyyteen rainan 5 alapinnasta 15.
4 83911
Mittapäässä 11 on induktiivinen anturi 8/ joka tunnistaa mittapään 4 alapinnan 3 antaen signaalin U3, joka on verrannollinen mittapäiden 4 ja 11 väliseen etäisyyteen induktiivisen anturin 8 kohdalla. Signaa-5 lista U3 saadaan mittapäiden 4 ja 11 välinen todellinen etäisyys L3 ja vastaavasti signaalista UI mittapään 4 todellinen etäisyys Li paperin yläpinnasta 14 sekä signaalista U2 mittapään 11 todellinen etäisyys L2 paperin alapinnasta 15. Tällöin saadaan paperin paksuus 10 T = L3-L1-L2.
Koska kuitenkin induktiivisella anturilla on vaikea mitata mittapäiden välistä etäisyyttä juuri samasta paikasta, jossa optisten antureiden säteet kohtaavat rainan, induktiivinen anturi sijoitetaan optisia 15 antureita yhdistävän kuvitellun tason ulkopuolelle. Kuten kuvasta 2 ilmenee, jos mittapäät 4 ja 11 eivät pysy jatkuvasti tietyssä asennossa toisiinsa nähden mittapäiden välistä etäisyyttä mitataan kahdella anturilla 8 ja 9, jolloin mittapäiden mahdollinen keskinäisen asen-20 non muutos voidaan määrittää ja samalla määrittää todellinen mittapäiden etäisyys toisistaan optisten antureiden mittauskohdassa.
Kuvassa 3 on esitetty eräs toinen keksinnön sovellutus, jossa mittapäiden 4 ja 11 välinen etäisyys • 25 mitataan optisella anturilla. Mittapäähän 11 on sijoi tettu kapean valonsäteen lähettävä valolähde 12, joka lähettää sellaisen aallonpituuden omaavaa valoa, joka tunkeutuu paperin läpi mittapään 4 pintaan 3 ja tämän valopisteen kuva muodostuu vastaanottimen 13 paikkaher-30 källe pinnalle. Tässä tapauksessa kyseeseen tulee esim. IR-säteily. Tällöin vastaanottimesta 13 saadaan signaali, jonka suuruus on verrannollinen mittapäiden väliseen etäisyyteen.
Valitsemalla sopivasti optisten antureiden 35 valonsäteiden tulo ja lähtökulmat, kaikki etäisyydet voidaan määrittää samalle, rainan suhteen kohtisuoralle suoralle, jolloin mittapäiden 4 ja 11 keskinäisen etäi- 5 83911 syyden mittaamisessa ei tarvita kuin yksi optinen anturi, vaikka mittapäiden keskinäinen asento hiukan vaihteiksikin.
Alan ammattimiehelle on selvää, että keksinnön 5 erilaiset sovellutusmuodot eivät rajoitu pelkästään yllä esitettyihin esimerkkeihin, vaan ne voivat vaihdella patenttivaatimusten rajaaman keksinnöllisen ajatuksen puitteissa. Niinpä mittapäiden keskinäisen etäisyyden ja mittapään ja rainan välisen etäisyyden mit-10 taamiseen voidaan käyttää muitakin menetelmiä ja laitteita kuin edellä esitetyt.
Claims (12)
1. Menetelmä kalvomaisen tai levymäisen rainan paksuuden mittaamiseksi, jossa menetelmässä rainan (5) 5 molemmilla puolilla on vapaana rainan kosketuksesta olevat mittapäät (4, 11) antureineen (2, 7), joiden avulla mittapäiden etäisyydet vastaavista rainan pinnoista mitataan samalta kohdalta rainaa (14, 15), tunnettu siitä, että mittapäiden (4, 11) väli- 10 nen etäisyys mitataan rainan läpi mittaavalla anturilla (8) olennaisesti vastaavalta kohdalta ja saaduista kolmesta mittaustuloksesta lasketaan rainan (5) paksuus.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittapäiden (4, 11) välinen 15 etäisyys mitataan optisesti käyttämällä aallonpituutta, joka tunkeutuu mittapäiden välissä olevan rainan (5) läpi.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittapäiden (4, 11) välinen 20 etäisyys mitataan induktiivisella mittalaitteella.
4. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukainen menetelmä, t un ne ttu siitä, että rainan (5) pintojen (14, 15) etäisyydet vastaavista mittapäistä (4, 11) mitataan samalta rainaan nähden kohtisuoralta 25 linjalta kuin mittapäiden välinen etäisyys mitataan.
5. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukainen menetelmä, tu nn ettu siitä, että mittapäiden (4, 11) välinen etäisyys mitataan kahdella anturilla (8, 9) ja niiden välistä, antureiden (8, 9) keskikohdal- 30 ta mitataan rainan (5) pintojen (14, 15) etäisyydet vastaavista mittapäistä.
6. Mittauslaite kalvomaisen tai levymäisen rainan (5) paksuuden mittaamiseksi, johon laitteeseen kuuluu rainan molemmille puolille etäisyyden päässä 35 rainasta mittapäät (4, 11), joissa on anturit (2, 7) kummankin mittapään etäisyyden mittaamiseksi samalta kohdalta rainan vastaavanpuoleisesta rainan pinnasta 7 83911 (14, 15), tu nn et tu siitä, että laitteeseen kuuluu mittapäiden (4, 11) keskinäisen etäisyyden olennaisesti vastaavalta kohdalta rainan läpi mittaava anturi (8).
6 83911
7. Patenttivaatimuksen 6 mukainen laite, tunnettu siitä, että laitteeseen kuuluu ainakin kaksi anturia (8, 9) mittapäiden (4, 11) välisen etäisyyden mittaamiseksi.
8. Patenttivaatimuksen 6 tai 7 mukainen laite, 10 tunnettu siitä, että laitteeseen kuuluu toisessa mittapäässä (4, 11) ainakin kaksi anturia mittapään ja sen puoleisen rainan pinnan välisen etäisyyden mittaamiseksi.
9. Jonkin patenttivaatimuksista 6-8 mukainen 15 laite, tunnettu siitä, että laitteeseen kuuluu optinen mittauslaite mittapäiden (4, 11) keskinäisen etäisyyden mittaamiseksi mittauslaitteen käyttäessä aallonpituutta, joka tunkeutuu mittapäiden välissä olevan rainan (5) läpi.
10. Jonkin patenttivaatimuksista 6-8 mukainen laite, tunne tt u siitä, että laitteeseen kuuluu induktiivinen mittauslaite mittapäiden (4, 11) keskinäisen etäisyyden mittaamiseksi.
11. Jonkin patenttivaatimuksista 6-10 mukai-25 nen laite, tunnettu siitä, että mittapäät (4, 11. ja mittapäiden välisen etäisyyden mittaava anturi (13) on sijoitettu siten, että vastaavien mittausten mittauspisteet sijaitsevat samalla mitattavaan rainaan (5) nähden kohtisuoralla suoralla.
12. Jonkin patenttivaatimuksista 6-11 mukainen laite, tunne tt u siitä, että laitteeseen kuuluu kaksi samaan mittapäähän (11) siten sijoitettua anturia (8, 9), että mittapään etäisyyden mittaus rainan (5) pinnasta tapahtuu anturiparin (8, 9) välistä olen-35 naisesti keskikohdalta. 8 83911
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI862006A FI83911C (fi) | 1986-05-14 | 1986-05-14 | Foerfarande och anordning foer maetning av ett hinnartat eller skivlikt bands tjocklek. |
US06/909,980 US4773760A (en) | 1986-05-14 | 1986-09-22 | Procedure and means for measuring the thickness of a film-like or sheet-like web |
SE8604020A SE464207B (sv) | 1986-05-14 | 1986-09-24 | Saett och anordning foer maetning av tjockleken av en filmliknande eller arkliknande bana |
CA000519015A CA1269525A (en) | 1986-05-14 | 1986-09-24 | Procedure and means for measuring the thickness of a film-like or sheet-like web |
DE19863642377 DE3642377A1 (de) | 1986-05-14 | 1986-12-11 | Verfahren und vorrichtung zur abmessung der dicke einer folien- oder blattartigen materialbahn |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI862006 | 1986-05-14 | ||
FI862006A FI83911C (fi) | 1986-05-14 | 1986-05-14 | Foerfarande och anordning foer maetning av ett hinnartat eller skivlikt bands tjocklek. |
Publications (4)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI862006A0 FI862006A0 (fi) | 1986-05-14 |
FI862006A FI862006A (fi) | 1987-11-15 |
FI83911B FI83911B (fi) | 1991-05-31 |
FI83911C true FI83911C (fi) | 1992-01-10 |
Family
ID=8522612
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI862006A FI83911C (fi) | 1986-05-14 | 1986-05-14 | Foerfarande och anordning foer maetning av ett hinnartat eller skivlikt bands tjocklek. |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4773760A (fi) |
CA (1) | CA1269525A (fi) |
DE (1) | DE3642377A1 (fi) |
FI (1) | FI83911C (fi) |
SE (1) | SE464207B (fi) |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT1236799B (it) * | 1989-11-17 | 1993-04-02 | Electronic Systems Spa | Metodo ed apparecchiatura per verificare e regolare il posizionamento dei trefoli di rinforzo metallici in fogli di gomma in particolare per la costruzione di pneumatici. |
DE4007363A1 (de) * | 1990-03-08 | 1991-09-12 | Weber Maschinenbau Gmbh | Verfahren zur messung der dicke einer schicht auf einem traegermaterial |
DE4008600A1 (de) * | 1990-03-17 | 1991-09-19 | Koenig & Bauer Ag | Laser-mehrfachbogenkontrolle |
US5113358A (en) * | 1990-03-28 | 1992-05-12 | Barber-Colman Company | Web caliper measuring system |
DE4024849A1 (de) * | 1990-08-06 | 1992-02-13 | Horn Hannes Dr Schulze | Digitales verfahren zur ermittlung von abmessungen von gegenstaenden |
US5327082A (en) * | 1992-01-13 | 1994-07-05 | Valmet Automation (Canada) Ltd. | On line electromagnetic web thickness measuring apparatus incorporating a servomechanism with optical distance measuring |
US5499733A (en) * | 1992-09-17 | 1996-03-19 | Luxtron Corporation | Optical techniques of measuring endpoint during the processing of material layers in an optically hostile environment |
US5496407A (en) * | 1993-04-19 | 1996-03-05 | Mcaleavey; Michael E. | System and method for monitoring and controlling thickness |
US5891352A (en) | 1993-09-16 | 1999-04-06 | Luxtron Corporation | Optical techniques of measuring endpoint during the processing of material layers in an optically hostile environment |
US5568917A (en) * | 1994-07-08 | 1996-10-29 | Am International, Inc. | Apparatus for calipering a collated assemblage |
JPH08316279A (ja) * | 1995-02-14 | 1996-11-29 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 半導体基体の厚さ測定方法及びその測定装置 |
US5714763A (en) * | 1996-03-25 | 1998-02-03 | Measurex Corporation | Method and apparatus for optical alignment of a measuring head in an X-Y plane |
US5754294A (en) * | 1996-05-03 | 1998-05-19 | Virginia Semiconductor, Inc. | Optical micrometer for measuring thickness of transparent wafers |
DE19724156C2 (de) * | 1997-06-07 | 2001-12-13 | Fette Wilhelm Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Funktionslänge von Preßstempeln |
DE19733297C2 (de) * | 1997-08-01 | 1999-12-09 | Marcus Gut | Berührungslose optische Dickenmessung |
DE19743984A1 (de) * | 1997-10-06 | 1999-04-08 | Focke & Co | Vorrichtung zum Herstellen von Zuschnitten für Packungen |
FI980444A0 (fi) * | 1998-02-26 | 1998-02-26 | Valmet Automation Inc | Foerfarande och anordning foer maetning av tjockleken hos en roerlig bana |
DE19913928B4 (de) * | 1999-03-26 | 2015-06-11 | Voith Patent Gmbh | Vorrichtung zum Bestimmen von Eigenschaften einer laufenden Materialbahn |
IT1313339B1 (it) * | 1999-08-03 | 2002-07-23 | Electronic Systems Spa | Metodo ed apparecchiatura per misurare il bilanciamneto di un'animametallica in uno strato di gomma o simili. |
US6863754B2 (en) * | 1999-10-12 | 2005-03-08 | Com-Pac International, Inc. | Apparatus and method for manufacturing reclosable bags utilizing zipper tape material |
US6757069B2 (en) | 2001-03-05 | 2004-06-29 | Northrop Grumman Corporation | Laser non-contact thickness measurement system |
DE10361161A1 (de) * | 2003-12-22 | 2005-07-21 | Voith Paper Patent Gmbh | Messvorrichtung |
US7417738B2 (en) * | 2004-01-27 | 2008-08-26 | Tradewind Scientific Ltd. | Determining surface properties of a roadway or runway from a moving vehicle |
DE102004004012A1 (de) | 2004-01-27 | 2005-08-18 | Man Roland Druckmaschinen Ag | Vorrichtung zur Erleichterung der Einstellung der Dicke einer Produktbahn |
JP4546161B2 (ja) * | 2004-06-08 | 2010-09-15 | キヤノン株式会社 | 記録用シート検知装置及び情報記録装置 |
US7199884B2 (en) * | 2004-12-21 | 2007-04-03 | Honeywell International Inc. | Thin thickness measurement method and apparatus |
DE102005022819A1 (de) * | 2005-05-12 | 2006-11-16 | Nanofocus Ag | Verfahren zur Bestimmung der absoluten Dicke von nicht transparenten und transparenten Proben mittels konfokaler Messtechnik |
US8017927B2 (en) * | 2005-12-16 | 2011-09-13 | Honeywell International Inc. | Apparatus, system, and method for print quality measurements using multiple adjustable sensors |
US7688447B2 (en) * | 2005-12-29 | 2010-03-30 | Honeywell International Inc. | Color sensor |
US8174258B2 (en) * | 2006-03-29 | 2012-05-08 | Dolphin Measurement Systems Llc | Method and system for measurement of parameters of a flat material |
DE102006062776A1 (de) * | 2006-12-15 | 2008-08-21 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Dickenmessung |
EP2100092B1 (de) * | 2006-12-15 | 2010-06-23 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und vorrichtung zur dickenmessung |
US7880156B2 (en) * | 2006-12-27 | 2011-02-01 | Honeywell International Inc. | System and method for z-structure measurements using simultaneous multi-band tomography |
FI127623B (fi) * | 2007-08-31 | 2018-10-31 | Abb Ltd | Rainan paksuuden mittauslaite |
US8681345B2 (en) * | 2010-03-25 | 2014-03-25 | First Solar, Inc. | System and method for measuring photovoltaic module thickness |
US8401809B2 (en) | 2010-07-12 | 2013-03-19 | Honeywell International Inc. | System and method for adjusting an on-line appearance sensor system |
US8618929B2 (en) | 2011-05-09 | 2013-12-31 | Honeywell International Inc. | Wireless conveyor belt condition monitoring system and related apparatus and method |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3565531A (en) * | 1969-03-12 | 1971-02-23 | Sanders Associates Inc | Electro-optical thickness measurement apparatus |
FR2082717A5 (fi) * | 1970-03-25 | 1971-12-10 | Cellophane Sa | |
US4358960A (en) * | 1979-05-04 | 1982-11-16 | Ladd Research Industries, Inc. | Differential fiber optic proximity sensor |
US4276480A (en) * | 1979-09-28 | 1981-06-30 | Accuray Corporation | Sensor position independent material property determination using radiant energy |
US4298286A (en) * | 1980-06-02 | 1981-11-03 | The Carl Maxey Company | Measuring apparatus |
JPS57104806A (en) * | 1980-12-23 | 1982-06-30 | Fujitsu Ltd | Thickness control of grinding painted film |
-
1986
- 1986-05-14 FI FI862006A patent/FI83911C/fi not_active IP Right Cessation
- 1986-09-22 US US06/909,980 patent/US4773760A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-09-24 CA CA000519015A patent/CA1269525A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-09-24 SE SE8604020A patent/SE464207B/sv not_active IP Right Cessation
- 1986-12-11 DE DE19863642377 patent/DE3642377A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4773760A (en) | 1988-09-27 |
FI862006A (fi) | 1987-11-15 |
SE464207B (sv) | 1991-03-18 |
SE8604020D0 (sv) | 1986-09-24 |
FI862006A0 (fi) | 1986-05-14 |
SE8604020L (sv) | 1987-11-15 |
FI83911B (fi) | 1991-05-31 |
DE3642377A1 (de) | 1987-11-19 |
CA1269525A (en) | 1990-05-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI83911C (fi) | Foerfarande och anordning foer maetning av ett hinnartat eller skivlikt bands tjocklek. | |
US5714763A (en) | Method and apparatus for optical alignment of a measuring head in an X-Y plane | |
US7528400B2 (en) | Optical translation of triangulation position measurement | |
CN101120230B (zh) | 薄膜厚度的测量方法和设备 | |
US9046349B2 (en) | Method and device for contactless determination of the thickness of a web of material, including correction of the alignment error | |
US4548105A (en) | Method and arrangement for observing a position | |
US4088411A (en) | Length measurement apparatus for continuously advancing articles | |
EP1766335B1 (en) | Scale and readhead apparatus | |
CA2649933C (en) | Calibration element for calibrating the magnification ratio of a camera, and a calibration method | |
CN101379366A (zh) | 三角测量位置测量的光学平移 | |
JPH06167327A (ja) | キャンバ測定方法 | |
JPH06307816A (ja) | 非接触板幅測定装置 | |
JPS61182514A (ja) | 棒材用曲り量測定装置 | |
JPH0781841B2 (ja) | 厚み測定装置 | |
JPH01155213A (ja) | フィルム様ないしシート様ウェブの厚さ測定方法および測定手段 | |
Howick et al. | Development of an automatic line scale measuring instrument | |
RU2133012C1 (ru) | Устройство для контроля прямолинейности поверхности | |
GB1591462A (en) | Grain slope measuring apparatus | |
RU2091700C1 (ru) | Способ измерения отклонений от параллельности шпоночного паза относительно оси базовой поверхности | |
JPH02259517A (ja) | 面の形状測定装置 | |
JPS60203804A (ja) | 真直度測定装置 | |
FI75054C (fi) | Maetningsfoerfarande och -anordning foer att foerutse kedjeblanketthoegens fall ur ett provark som tagits fraon pappersbanan. | |
JPH03269307A (ja) | すきま測定機 | |
JPH0476410A (ja) | 光学式形状測定装置 | |
JPH03146813A (ja) | 距離測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM | Patent lapsed | ||
MM | Patent lapsed |
Owner name: TAPIO TECHNOLOGIES OY |