DE928914C - Slit diaphragm for microphotometer - Google Patents
Slit diaphragm for microphotometerInfo
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/40—Measuring the intensity of spectral lines by determining density of a photograph of the spectrum; Spectrography
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Description
Spaltblende für Mikrophotometer Zusatz zum Patent 847 219 Gegenstand des Patents 847 2I9 ist eine Spaltblende für Mikrophotometer mit Projektionseinrichtung, bei welchen das Projektionsbild durch Licht von einer der Selektivität des Strahlungsempfängers angepaßten Farbe erzeugt wird und dazu zwei Farbfilter nebeneinander angeordnet sind, die durch zwei dazwischenliegende lichtundurchlässige Streifen derart distanziert sind, daß das photometrierende vorzugsweise weiße Lichtbündel einerseits durch die Dicke der Streifen, andererseits durch den Abstand ihrer Stirnflächen begrenzt wird.Slit diaphragm for microphotometer Addition to patent 847 219 object of patent 847 2I9 is a slit diaphragm for microphotometers with projection device, in which the projection image by light from one of the selectivity of the radiation receiver Matched color is generated and two color filters are arranged side by side for this purpose are spaced by two opaque strips in between are that the photometric preferably white light bundle on the one hand by the Thickness of the strips, on the other hand, is limited by the distance between their end faces.
Bei der Anordnung dieser Spaltblende besteht die Gefahr, daß zufolge der zur Ausschaltung des aus der unmittelbaren Umgebung der zu photometrierenden Fläche stammenden Streulichts unbedingt erforderlichen innigen Berührung zwischen der Blende und der Plattenschicht eine Beschädigung der Schicht oder der Blende durch Verkratzen auftritt, wenn das Spektrogramm zwecks Einstellung auf die zu photometrierende Analysenlinie unter der Blende hinweg bewegt wird. Die Gefahr ist um so größer, als diese Bewegungen ziemlich groß sein können und zwecks raschen Arbeitens möglichst schnell ausgeführt werden. When arranging this slit diaphragm there is a risk that according to the one to switch off the from the immediate vicinity of the Surface originating scattered light absolutely necessary intimate contact between the panel and the plate layer damage the layer or the panel by scratching occurs when the spectrogram for the purpose of adjustment to the one to be photometric Analysis line is moved under the diaphragm. The danger is all the greater than these movements can be quite large and for the purpose of working as quickly as possible run quickly.
Man könnte daran denken, während dieser Grobeinstellung der Platte die beweglich angeordnete Blende durch ein zusätzliches Bedienungselement abzuheben und erst vor der eigentlichen Photonietrierung wieder aufzulegen. Da es indessen in zahlreichen praktischen Anwendungsfällen auf größtmögliche Schnelligkeit der Messung ankommt, um das Analysenresultat so rasch wie möglich zu erhalten, so beispielsweise bei der Analyse von Metallschmelzen während des Herstellungsprozes ses, so wäre ein derartiges Vorgehen zu umständlich und zeitraubend. One might think of this during this rough adjustment of the plate the movably arranged panel can be lifted off with an additional operating element and only to hang up again before the actual photonization. Since it is meanwhile in numerous practical applications for the greatest possible speed of the Measurement arrives in order to receive the analysis result as quickly as possible, for example when analyzing Metal melting during the manufacturing process ses, such a procedure would be too cumbersome and time-consuming.
Erflndungsgemäß wird die geschilderte Schwierigkeit dadurch behoben, daß die Spaltblende ständig durch eine passend ausgebildete Halterung in geringem Abstand von der Plattenschicht gehalten wird und sich erst nach erfolgter Grobeinstellung der jeweiligen Analysenlinie auf die Schicht legt sowie der Mechanismus- zur Feineinstellung auf die Fläche maximaler Schwärzung betätigt wird. Erfindungsgemäß wird hierzu vorzugsweise ein Drehknopf oder ähnliches Stellorgan verwendet, dessen Drehung die Feineinstellung bewerkstelligt, während durch gleichzeitiges Eindrücken des gleichen Knopfes um einen geringen Betrag der Kontakt zwischen Blende und Schicht bewirkt wird. According to the invention, the described difficulty is eliminated by that the slit diaphragm constantly by a suitably designed bracket in a small amount Distance from the plate layer is kept and only after rough adjustment the respective analysis line on the layer as well as the mechanism for fine adjustment is pressed on the surface of maximum density. According to the invention, this is preferred a rotary knob or similar actuator is used, the rotation of which the fine adjustment accomplished while by simultaneously pressing the same button around a small amount of contact between the screen and the layer is caused.
Die tbersetzung ist hierbei so gewählt, daß die Feineinstellung nur einen Bruchteil einer vollen Umdrehung des Knopfes erfordert, so daß das gleichzeitige Drehen und Eindrücken des Knopfes keinerlei Erschwerung oder Verlangsamung der Bedienung bedeutet.The translation is chosen so that the fine adjustment only requires a fraction of a full turn of the knob, so that's simultaneous Turning and pressing the button does not make operation difficult or slow down means.
Ein Ausführungsbeispiel ist schematisch in der Zeichnung dargestellt, ohne auf Einzelheiten und auf die Vielzahl der möglichen technischen Ausführungen einzugehen. Die Zeichnung kann als Grundriß betrachtet werden; indessen kann die gleiche Anordnung auch in mehr oder weniger geneigter Lage verwendet werden. An exemplary embodiment is shown schematically in the drawing, without going into details and the multitude of possible technical designs enter into. The drawing can be viewed as a plan; meanwhile, the the same arrangement can also be used in a more or less inclined position.
Das Spektrogramm I (strichpunktiert gezeichnet) liegt auf dem Plattenträger 2, der in Seiten- und Höhenrichtung schnell um beliebige Beträge verschoben werden kann. Die hierzu dienenden Einrichtungen bekannter Art sind in der Zeichnung fortgelassen. Mit dem Plattenträger ist eine Mutter 3 verbunden, die auf der Feinstellspindel 4 gleitet, welche über Zahnräder 5 und 6 durch Drehen des Knopfes 7 gedreht wird. Der Knopf 7 sitzt fest auf der Achse 8, die ein Vierkant g trägt, welches die Drehung der Achse auf das Zahnrad 6 überträgt. The spectrogram I (shown in dash-dotted lines) is on the plate carrier 2, which can be quickly shifted by any amount in the lateral and vertical directions can. The known type of devices used for this purpose are omitted from the drawing. A nut 3 is connected to the plate carrier and is on the fine adjustment spindle 4 slides, which is rotated via gears 5 and 6 by turning the knob 7. The button 7 is firmly seated on the axis 8, which carries a square g, which the rotation the axis on the gear 6 transmits.
Die Spaltblende IO ist mit den Zapfen II und I2 drehbar an einem Halter 13 gelagert, der um die feststehende Achse 14 schwenkbar ist. The slit diaphragm IO is rotatable with the pins II and I2 on one Mounted holder 13, which is pivotable about the fixed axis 14.
Die Achse 8 trägt oben den konischen Ansatz 15 Sie kann um einen geringen Betrag axial verschoben werden, welcher Betrag durch die Stirnffäche des konischen Ansatzes 15 und durch einen Anschlag I6 begrenzt wird. Durch die Feder I7 wird sie in der gezeichneten Lage gehalten. Auf den konischen Ansatz 15 legt sich die Verlängerung I8 des Trägers I3. The axis 8 carries the conical extension 15 at the top axially shifted small amount, which amount by the face of the conical extension 15 and is limited by a stop I6. By the pen I7 it is held in the position shown. On the conical approach 15 places the extension I8 of the carrier I3.
Die Wirkungsweise ist folgende: Während der schnellen Grobverschiebung des Spektrogramms in Höhen- und- Seitenrichtung ist die Spaltblende 10 stets abgehoben, da die Feder I7 die Achse 8 ständig nach vorn drückt, womit die Verlängerung 18 des Blendenhalters auf dem konischen Ansatz 15 liegt, der so bemessen ist, daß die Spaltblende 10 in geringem Abstand von der Oberfläche des Spektrogramms I entfernt ist. The mode of action is as follows: During the rapid coarse shift of the spectrogram in the vertical and lateral direction, the slit 10 is always lifted, since the spring I7 constantly pushes the axis 8 forward, with which the extension 18 of the aperture holder is on the conical extension 15, which is dimensioned so that the Slit diaphragm 10 at a small distance from the surface of the spectrogram I. is.
Nach erfolgter Grobeinstellung dreht der Benutzer den Stellknopf.7 so lange in wechselnder Richtung, bis das an das lichtempfindliche Element angeschlossene Galvanometer den kleinsten Ausschlag erreicht hat, d. h. bis die Stelle der maximalen Schwärzung gefunden ist. Gleichzeitig drückt der Beobachter den Knopf 7 um einen geringen Betrag nach. hinten, womit der konische Ansatz 15 unter der Verlängerung 18 des Blendenträgers I3 hinweggleitet und die Verlängerung I8 schließlich ganz freigibt, so daß sich die Spaltblende IO nunmehr unter Einwirkung ihres Eigengewichts oder einer Feder auf die Oberfläche des Spektrogramms legt. Ein sanftes Auflegen und zugleich ein inniger Kontakt zwischen Blende und Plattenschicht sind durch die pendelnde Beweglichkeit der Blende 10 zwischen den Zapfen II und I2 gewährleistet. After the coarse setting has been made, the user turns the adjusting knob. 7 in alternating directions until the one connected to the light-sensitive element Galvanometer has reached the smallest deflection, d. H. up to the point of maximum Blackening is found. At the same time, the observer presses button 7 by one small amount after. rear, with which the conical extension 15 under the extension 18 of the panel support I3 slides away and the extension I8 finally completely releases, so that the slit IO is now under the action of its own weight or a feather on the surface of the spectrogram. A gentle hang-up and at the same time there is an intimate contact between the panel and the plate layer pendulum mobility of the diaphragm 10 between the pins II and I2 guaranteed.
Der Kontakt zwischen Blende und Schicht ist somit nur mehr während der Feineinstellung der Platte vorhanden. Da diese Feinbewegung nur ganz geringe Beträge erreicht und schon mit Rücksicht auf die Einstellung des Galvanometers mit geringer Geschwindigkeit vorgenommen wird, so ist die Gefahr eines Verkratzens von Schicht oder Blende hiermit praktisch ausgeschaltet. The contact between the screen and the layer is therefore only during the fine adjustment of the plate. Since this fine movement is only very slight Amounts reached and already with regard to the setting of the galvanometer is carried out at a low speed, there is a risk of scratching Layer or diaphragm practically switched off.
PATENTANSPRSCHE: I. Spaltblende für Mikrophotometer nach Patent 847 2I9, gekennzeichnet durch eine Anordnung, welche die Blende stets in geringem Abstand von der Oberfläche des Spektrogramms entfernt hält und die unmittelbare Berührung zwischen Blende und Schichtseite erst dann zustande kommen läßt, wenn der Mechanismus zur Feinverschiebung des Spektrogramms zweck Erfassung der Fläche maximaler Schwärzung betätigt wird. PATENT CLAIMS: I. Slit diaphragm for microphotometers according to patent 847 2I9, characterized by an arrangement which always keeps the aperture at a small distance keeps away from the surface of the spectrogram and has immediate contact between the diaphragm and the layer side can only come about when the mechanism for fine adjustment of the spectrogram, the purpose is to capture the area of maximum blackening is operated.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEF13704A DE928914C (en) | 1954-01-19 | 1954-01-19 | Slit diaphragm for microphotometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEF13704A DE928914C (en) | 1954-01-19 | 1954-01-19 | Slit diaphragm for microphotometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE928914C true DE928914C (en) | 1955-06-13 |
Family
ID=7087383
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEF13704A Expired DE928914C (en) | 1954-01-19 | 1954-01-19 | Slit diaphragm for microphotometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE928914C (en) |
-
1954
- 1954-01-19 DE DEF13704A patent/DE928914C/en not_active Expired
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