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DE911528C - Corpuscular beam apparatus, in particular an electron or ion microscope - Google Patents

Corpuscular beam apparatus, in particular an electron or ion microscope

Info

Publication number
DE911528C
DE911528C DES10883D DES0010883D DE911528C DE 911528 C DE911528 C DE 911528C DE S10883 D DES10883 D DE S10883D DE S0010883 D DES0010883 D DE S0010883D DE 911528 C DE911528 C DE 911528C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
pivoting
arrangement according
generator
attached
surface images
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DES10883D
Other languages
German (de)
Inventor
Dr-Ing Ernst Ruska
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DES10883D priority Critical patent/DE911528C/en
Application granted granted Critical
Publication of DE911528C publication Critical patent/DE911528C/en
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/18Vacuum locks ; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/147Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path
    • H01J37/15External mechanical adjustment of electron or ion optical components

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

Korpuskularstrahlapparat, insbesondere Elektronen- oder Ionenmikroskop Zusatz zum Patent 898 043 Das Patent 898 043 betrifft eine Anordnung zur vergrößerten Abbildung von Objektoberflächen mit einem Elektronenmikroskop, wobei die vom Strahlerzeuger her kommenden Strahlen so gelenkt werden, daß der Winkel zwischen dem bestrahlenden Strahlengang und dem abbildenden Strahlengang höchstens 2o° beträgt, und zwar vorzugsweise in dem Bereich zwischen 20 und r ° liegt. Hierbei haben die das Bild erzeugenden, vom Objekt in die Objektivöffnung abgestreuten Elektronen nur « eine relativ geringe Änderung ihrer Richtung erfahren, so daß sich eine hinsichtlich des chromatischen Fehlers günstige Anordnung ergibt. Auch die Intensitätsverhältnisse sind besser als bei größeren Neigungswinkeln, so daß man bei noch ausreichender Lichtstärke kleinere Objektivaperturen verwenden kann, die hier nicht durch die Kondensorapertur, sondern ausschließlich durch die Objektivblendenapertur bestimmt werden. Durch die Möglichkeit, zur Erzielung ausreichender Bildhelligkeit mit kleineren Objektivaperturen auszukommen, läßt sich auch der öffnungsfehler in engeren Grenzen halten als bisher.Corpuscular beam apparatus, in particular an electron or ion microscope Addendum to Patent 898 043 Patent 898 043 relates to an arrangement for enlarged Imaging of object surfaces with an electron microscope, with the beam generator coming rays are directed so that the angle between the irradiating Beam path and the imaging beam path is at most 2o °, and preferably is in the range between 20 and r °. Here, the image-generating, The electrons scattered from the object into the lens opening are only “relatively small Experience change of direction, so that there is a change in the chromatic Error favorable arrangement results. The intensity ratios are also better than with larger angles of inclination, so that one can still use sufficient light intensity can use smaller objective apertures that are not here through the condenser aperture, but can only be determined by the lens aperture. Through the Possibility to achieve sufficient image brightness with smaller lens apertures getting along, the opening error can also be kept within narrower limits than before.

Die Erfindung betrifft einen Korpuskularstrahlapparat, insbesondere ein Elektronen- oder Ionenmikroskop, das durch einen kippbar angeordneten Strahlerzeuger wahlweise zur Herstellung von Durchstrahlungsbildern oder Oberflächenbildern von Objekten eingerichtet werden kann. Erfindungsgemäß werden zwei an sich bekannte, mit gegenüberliegenden Gegenfedern zusammenarbeitende, um 9o° gegeneinander versetzte Einstellschrauben angeordnet, wobei eine dieser Einstellschrauben und die zugehörige Gegenfeder relativ zur optischen Achse des Gerätes lediglich eine Schwenkbewegung um kleine Beträge durchzuführen gestattet, während' die andere Einstellschraube mit ihrer Gegenfeder so angeordnet und/oder ausgebildet ist, daß sie außerdem die zur Herstellung von Oberflächenbildern erforderliche Schwenkung des Strahlerzeugers um den gewünschten größeren Winkelbetrag von beispielsweise 8° durchzuführen gestattet. Man kann bei Anwendung der Erfindung somit mit ganz geringfügigen Änderungen eine an sich bekannte Konstruktion anwenden, bei der der Strahlerzeuger vorzugsweise zusammen mit der Kondensorlinse zur genauen Einjustierung des Strahles um geringfügige Beträge derart verkantet werden kann, daß Drehbewegungen um den Mittelpunkt des Objektes stattfinden. Indem man bei dieser bekannten Anordnung nunmehr der einen Verstellrichtung auch noch eine größere Beweglichkeit zuordnet, kann man nunmehr leicht das Mikroskop so einrichten, daß man in kürzester Zeit jeweils vom Durchstrahlungsbetrieb auf einen Betrieb zur Abbildung von Objektoberflächen übergehen kann. Von den vier Justierschrauben für die Feineinstellung, von denen zwei als Gegenfedern ausgebildet sind, verbleiben beim Erfindungsgegenstand die beiden Schrauben der einen Verstellebene für beide Bestrahlungsarten in ihrer Lage, die beiden anderen Verstellschrauben werden so ausgebildet, daß sie in den sie haltenden Kranz verschieden eingeschraubt werden können. Man kann die Anordnung auch so wählen, daß in der Schwenkrichtung für die Herstellung von Oberflächenbildern je nach dem Verwendungszweck verschieden ausgeführte Einstellschrauben in das zugehörige Gewinde des Halters eingesetzt werden. Am unteren Teil des Strahlerzeugers wird man den inneren Rand einer Dichtungsscheibe aus elastischem Material befestigen, deren äußerer Rand an einem feststehenden Teil des Gerätes, vorzugsweise an dem die Obj ektaufnahmekammer bildenden Teil, befestigt ist. Die mit Gewinde versehenen Bohrungen zur Aufnahme der Einstellschrauben für die Kippbewegung können sich in einem schalenförmigen Körper befinden, der nach der Seite-der größten Schwenkmöglichkeit einen exzentrischen Durchbruch für die Bewegung des unteren Teiles des Strahlerzeugers besitzt. Die Schäle, welche die Verstelleinrichtungen für die Schwenkbewegungen aufnimmt, wird man vorzugsweise so anordnen, daß sie quer verschiebbar auf einem feststehenden Teil des Apparats ruht.The invention relates to a particle beam apparatus, in particular an electron or ion microscope, which is arranged by a tiltable Jet generator optionally for the production of radiographic images or surface images of Objects can be set up. According to the invention, two known per se, working together with opposing counter springs, offset from one another by 90 ° Adjusting screws arranged, one of these adjusting screws and the associated The counter spring only swivels relative to the optical axis of the device Allowed to carry out small amounts while 'the other adjusting screw is arranged and / or designed with its counter spring so that it also has the Swiveling of the jet generator required to produce surface images allowed to carry out the desired larger angular amount of, for example, 8 °. You can use the invention thus with very minor changes use known construction in which the beam generator is preferred together with the condenser lens for precise adjustment of the beam by slight Amounts can be canted in such a way that rotational movements around the center of the Object take place. By now one with this known arrangement Adjustment direction also assigns greater mobility, one can now Easily set up the microscope in such a way that you can get away from radiographic operation in no time at all can switch to an operation for mapping object surfaces. Of the four Adjusting screws for fine adjustment, two of which are designed as counter springs are, remain in the subject matter of the invention, the two screws of one adjustment plane the other two adjusting screws in their position for both types of irradiation are designed so that they are screwed differently into the wreath that holds them can be. You can also choose the arrangement so that in the pivoting direction for the production of surface images different depending on the purpose Executed adjusting screws are inserted into the associated thread of the holder. At the lower part of the jet generator one becomes the inner edge of a sealing washer Fasten made of elastic material, the outer edge of which is attached to a fixed part of the device, preferably attached to the part forming the object receiving chamber is. The threaded holes to accommodate the adjustment screws for the tilting movement can be located in a bowl-shaped body that follows the side-the greatest pivoting possibility an eccentric breakthrough for the Movement of the lower part of the jet generator possesses. The shells that the Adjusting devices for the pivoting movements takes, one is preferred arrange so that they can slide transversely on a fixed part of the apparatus rests.

Weitere für die Erfindung wesentliche Merkmale werden in dem folgenden beschriebenen Ausführungsbeispiel behandelt. Die Fig. i und 2 zeigen den mit den Verstelleinrichtungen gemäß der Erfindung versehenen Strahlerzeuger eines Elektronenmikroskops. In Fig. i ist ein Längsschnitt durch den Strahlerzeuger dargestellt, wobei dieser so eingestellt ist, daß seine Achse mit der optischen Achse des Mikroskops zusammenfällt; Fig. 2 zeigt denselben Strahlerzeuger nach seiner Kippung um den Winkel a. Beim Ausführungsbeispiel ist ein magnetostatisches Objektiv i verwendet. Der obere Teil e des Magnetkörpers bildet gleichzeitig die Kammer 3, in welche durch eine Öffnung 4. die Objektpatrone 5 eingesetzt werden kann. Die Öffnung 4. ist mit Hilfe des Verschlusses 6 dicht nach außen abschließbar. Bei 7 ist eine Kammeröffnung vorgesehen, an die die Vakuumpumpe angeschlossen werden kann. Der Strahlerzeuger besteht aus dem Kathodenschaft 8 und der Anode g. Der Schaft 8 ist an einem Isolator io befestigt, der seinerseits mit Hilfe eines konischen Schliffes in die konische Bohrung des Anodenhalters i i eingesetzt ist. Am unteren Teil des Anodenhalters ist der innere Rand 12 einer Dichtungsscheibe 13 aus elastischem Material festgeschraubt, der äußere Rand io dieser Dichtungsscheibe ist am Wandteil 15 befestigt. Auf einer ebenen Gleitfläche 16, die in den Teil 15 eingelassen ist, ruht unter Zwischenschaltung von Kugeln 17 der Halter 18, der seinerseits am oberen Ende den Träger i9 der Anode unter Zwischenschaltung der Kugeln 2o trägt. Mit 21 ist eine Einstellschraube für den Haltering 22 der Kugeln 2o bezeichnet. Der gesamte Strahlerzeuger kann durch Ouerbewegungen des Teiles i8 quer zur Strahlachse um kleine Beträge verstellt werden, um den Strahl parallel zu sich selbst einstellen zu können. Ferner kann der Strahlerzeuger mit Hilfe der Einstellschrauben 23 und der zugeordneten Gegenfedern 24 um geringe Beträge verkantet werden, und zwar derart, daß sich dabei eine Drehbewegung um das Objekt als Mittelpunkt ergibt. Diese Drehbewegung wird dadurch erzwungen, daß der Teil i9 eine entsprechende kugelförmige Auflagefläche 25 besitzt. Außer der in der Fig. i dargestellten Einstellschraube 23 und der zugeordneten Gegenfeder 24 ist noch eine entsprechende Einstellschraube und eine Gegenfeder um go° dagegen versetzt angeordnet. Einstellschrauben und Gegenfedern arbeiten mit Gleitrollen 26, die sich gegen entsprechende Gleitflächen 27 des Teiles i9 stützen. Die in der Figur nicht sichtbare Einstellschraube und zugeordnete Gegenfeder, welche der Schwenkbewegung entspricht, dient lediglich zur Bewegung des Strahlerzeugers um kleine Winkelbeträge. Will man den Strahlerzeuger zum Übergang von der Durchstrahlungsmethöde, die im Falle der Fig. i angewendet ist, zur Oberflächenabbildung von Objekten übergehen, so wird der ganze Strahlerzeuger in die in Fig. 2 dargestellte Lage um den Winkel a geschwenkt. Diese Schwenkung wird dadurch durchgeführt, daß die Feder 24 in die in Fig. 2 ersichtliche Lage zurückgedreht wird, während an Stelle der Feineinstellschraube 23 nunmehr eine längere Einstellschraube 28 in die entsprechende Bohrung des Halters 29 eingesetzt wird. Um die Schwenkbewegung des Strahlerzeugers um den Winkel a durchführen zu können, besitzt der Halter 18 nach der Seite der größten Schwenkmöglichkeit hin einen exzentrischen Durchbruch 30, um die Bewegung des unteren Teiles des Strahlerzeugers zu ermöglichen. In den Figuren sind die Einstellschrauben für die Querverstellung des gesamten Strahlerzeugers nicht dargestellt.Further features essential to the invention are dealt with in the exemplary embodiment described below. FIGS. I and 2 show the beam generator of an electron microscope provided with the adjustment devices according to the invention. FIG. I shows a longitudinal section through the beam generator, the latter being set so that its axis coincides with the optical axis of the microscope; Fig. 2 shows the same jet generator after it has been tilted by the angle a. In the exemplary embodiment, a magnetostatic lens i is used. The upper part e of the magnet body simultaneously forms the chamber 3, into which the specimen cartridge 5 can be inserted through an opening 4. The opening 4 can be closed tightly to the outside with the aid of the closure 6. At 7 a chamber opening is provided to which the vacuum pump can be connected. The beam generator consists of the cathode shaft 8 and the anode g. The shaft 8 is attached to an insulator io, which in turn is inserted into the conical bore of the anode holder ii with the aid of a conical cut. The inner edge 12 of a sealing washer 13 made of elastic material is screwed to the lower part of the anode holder, and the outer edge of this sealing washer is attached to the wall part 15. On a flat sliding surface 16, which is embedded in the part 15, rests with the interposition of balls 17 of the holder 18, which in turn carries the carrier 19 of the anode at the upper end with the interposition of the balls 2o. With an adjusting screw for the retaining ring 22 of the balls 2o is designated. The entire beam generator can be adjusted by moving the part 18 across the beam axis by small amounts in order to be able to set the beam parallel to itself. Furthermore, the jet generator can be tilted by small amounts with the aid of the adjusting screws 23 and the associated counter springs 24, namely in such a way that a rotational movement about the object as the center point results. This rotary movement is forced by the fact that part 19 has a corresponding spherical bearing surface 25. In addition to the adjusting screw 23 and the associated counter spring 24 shown in FIG. Adjusting screws and counter springs work with sliding rollers 26 which are supported against corresponding sliding surfaces 27 of part i9. The adjusting screw (not visible in the figure) and the associated counter spring, which corresponds to the pivoting movement, are only used to move the jet generator by small angular amounts. If one wishes to use the beam generator to transition from the radiographic method, which is used in the case of FIG. 1, to surface imaging of objects, the entire beam generator is pivoted into the position shown in FIG. This pivoting is carried out in that the spring 24 is turned back into the position shown in FIG. In order to be able to carry out the pivoting movement of the jet generator by the angle α, the holder 18 has an eccentric opening 30 on the side of the greatest pivoting possibility in order to enable the movement of the lower part of the jet generator. In the figures, the adjusting screws for the transverse adjustment of the entire jet generator are not shown.

Claims (1)

PATFNTANSPRIJCHE: i. Korpuskularstrahlapparat, insbesondere Elektronen- oder Ionenmikroskop, das durch einen kippbar angeordneten Strahlerzeuger wahlweise zur Herstellung von Durchstrahlungsbildern oder Oberflächenbildern von Objekten eingerichtet werden kann, nach Patent 898 043, dadurch gekennzeichnet, daß zwei an sich bekannte, mit gegenüberliegenden Gegenfedern zusammenarbeitende, um 9o° gegeneinander versetzte Einstellschrauben angeordnet sind und daß eine dieser Einstellschrauben und die zugehörige Gegenfeder relativ zur optischen Achse des Gerätes lediglich eine Schwenkbewegung um kleine Beträge durchzuführen gestattet, während die andere Einstellschraube mit ihrer Gegenfeder so angeordnet und/oder ausgebildet ist, daß sie außerdem die zur Herstellung von Oberflächenbildern erforderliche Schwenkung des Strahlerzeugers um einen größeren Winkelbetrag durchzuführen gestattet. a. Anordnung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß in der Schwenkrichtung für die Herstellung von Oberflächenbildern je nach dem Verwendungszweck verschieden ausgeführte Einstellschrauben, z. B. von verschiedener Länge, in das zugehörige Gewinde des Halters einzusetzen sind. 3. Anordnung nach Anspruch i oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß am unteren Teil des Strahlerzeugers der innere Rand einer Dichtungsscheibe aus elastischem Material befestigt ist, deren äußerer Rand an einem feststehenden Teil des Gerätes, vorzugsweise an dem die Objektaufnahmekammer bildenden Teil, befestigt ist. 4. Anordnung nach Anspruch i oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die mit Gewinde versehenen Bohrungen zur Aufnahme der Einstellschrauben für die Kippbewegung sich in einem schalenförmigen Körper befinden, der nach der Seite der größten Schwenkmöglichkeit einen exzentrischen Durchbruch für die Bewegung des unterenTeiles des Strahlerzeugers besitzt. 5. Anordnung nach Anspruch i oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Schale, welche die Verstelleinrichtungen für die Schwenkbewegungen aufnimmt, quer verschiebbar auf einem feststehenden Teil des Apparats ruht.PATENT CLAIMS: i. Corpuscular beam apparatus, especially electron beam or ion microscope, which is optionally available by means of a tiltable beam generator for the production of radiographic images or surface images of objects can be set up according to patent 898 043, characterized in that two known per se, cooperating with opposing counter springs, by 9o ° offset adjustment screws are arranged and that one of these adjustment screws and the associated return spring relative to the optical axis of the device only one swivel movement allowed to perform small amounts, while the other Adjusting screw is arranged and / or designed with its counter spring so that they also do the pivoting required to produce surface images of the jet generator to carry out a larger angular amount. a. arrangement according to claim i, characterized in that in the pivoting direction for the production of surface images differently designed adjusting screws depending on the intended use, z. B. of different lengths to use in the associated thread of the holder are. 3. Arrangement according to claim i or one of the following, characterized in that that at the lower part of the jet generator, the inner edge of a sealing washer from elastic material is attached, the outer edge of which is attached to a fixed part of the device, preferably attached to the part forming the specimen receiving chamber is. 4. Arrangement according to claim i or one of the following, characterized in that that the threaded holes to accommodate the adjustment screws for the tilting movement are in a bowl-shaped body that faces to the side the greatest pivoting possibility an eccentric breakthrough for the movement of the the lower part of the beam generator. 5. Arrangement according to claim i or one the following, characterized in that the shell, which the adjusting devices for the pivoting movements, can be moved transversely on a fixed part the device is idle.
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