[go: up one dir, main page]

DE9017042U1 - Halbleitermodul - Google Patents

Halbleitermodul

Info

Publication number
DE9017042U1
DE9017042U1 DE9017042U DE9017042U DE9017042U1 DE 9017042 U1 DE9017042 U1 DE 9017042U1 DE 9017042 U DE9017042 U DE 9017042U DE 9017042 U DE9017042 U DE 9017042U DE 9017042 U1 DE9017042 U1 DE 9017042U1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
contact
copper
contact plate
plate
thickness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE9017042U
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to DE9017042U priority Critical patent/DE9017042U1/de
Publication of DE9017042U1 publication Critical patent/DE9017042U1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group subclass H10D
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group subclass H10D the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Description

Beschreibung:
Die Erfindung betrifft einen Halbleitermodul gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Module, die in einem Gehäuse eine Mehrzahl von Leistungsha IbLeitern vereinigen, werden seit Jahrzehnten in sehr großen Stückzahlen hergestellt und eingesetzt. In einer Vielzahl dieser Module sind die Halbleiterchips entweder direkt oder über eine zwischengelegte Molybdän-Ronde auf ein Kupfer-Kontaktblech gelötet. Das Kontaktblech kann mit Hilfe des sogenannten Direct-Bonding-Verf ahrens auf einer Oxidkeramik, meist AI2O3, befestigt sein, wobei die gegenüberliegende Oberfläche der Keramikplatte ebenfalls mit Kupferblech belegt ist, um ein Verbiegen aufgrund der ungleichen Ausdehnungskoeffizienten von Kupfer und Keramik zu ve rh i nde rn.
Aufgrund langjähriger Erfahrungen ist es bekannt, daß die Verwendung von Kupfer-Kontaktblechen einer Stärke von 0,3 mm, welches nach dem Direct-Bonding-Verfahren mit der Oxidkeramik verbunden ist, einen optimalen Kompromiß darstellt. Einerseits ist die Materialstärke dünn genug, um übermäßige Wärmedehnungen des Kupferblechs wirksam zu bremsen, so daß die aufgelöteten SiIicium-HaIbIeiterchips, deren Ausdehnungskoeffizient erheblich kleiner a.Is der von Kupfer ist, nicht beschädigt werden, andererseits können Ströme bis zu etwa 100 Ampere ohne weiteres verkraftet werden. Für die äußeren AnschLußkontakte werden jedoch von den internationalen Normen Materialstärken von 1 mm verlangt.
In der Praxis sind nun zwei Lösungsvarianten bekannt geworden. Die eine Lösungsvariante besteht darin,
&bgr; &Ogr; «■ * &Lgr; 1
AnschLußkontakte und Kontaktbleche einheitLich und einstückig aus 1 mm starkem KupferbLech herzustellen. Die Folge davon ist, daß zusätzliche Maßnahmen, beispielsweise die schon erwähnte Verwendung von Mo I ybdän-Ronden, erforderlich sind, um die Ausdehnungsdifferenzen zwischen Kupfer und Silicium so aufzufangen, daß weder die Si Iiciumchips noch die Lotschicht durch die Ausdehnungsdifferenzen zerstört werden. Die andere Lösungsvariante besteht darin, auf die 0,3 mm starken Kontaktb leche 1 mm starke Ansch lußcLipse aufzulöten. Hierzu sind besondere Lötformen erforderlich, ebenso zusätzliche Arbeitsgänge. Außerdem stellt jede Lötstelle eine mögliche Fehle rque lie dar.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Halbleiter-Modul der eingangs genannten Art anzugeben, der die Vorteile beider Varianten in überzeugender Weise miteinander verbindet.
Diese Aufgabe wird gelöst durch einen gattungsgemäßen Halbleiter-Modul mit den Merkmalen gemäß Kennzeichen des Anspruchs 1.
Die Erfindung nutzt die Tatsache aus, daß es in einfacher Weise möglich ist, Kupfer-FormteiIe mit unterschiedlich starken Materialdicken herzustellen. Beispielsweise kann man 1 mm dickes Kupferblech durch Fräsen oder Walzea bereichsweise auf 0,3 mm reduzieren. Auch die umgekehrte Vorgehensweise ist denkbar, indem auf ein einheitlich 0,3 mm starkes Material bereichsweise 0,7 mm starkes Material aufgesetzt wird. Auf jeden Fall entfällt das Auflöten entweder der Mo lybdänronden oder der Ansch lußc I ipse , so daß der fertige Modul erheblich einfacher, preiswerter und vor allem betriebssicherer wird als es bisher bekannt ist. Dies ist besonders von Bedeutung, da diese
Leistungs-HaLbLeitermoduLe in großen StückzahLen hergesteLLt und eingesetzt werden.
Gemäß einer bevorzugten WeiterbiLdung kann an dem KontaktbLech eine Verbindungsbrücke zu einem weiteren Leistungs-HaLbLeiterchi&rgr; einstückig angeformt sein.
Anhand der Zeichnung soLL die Erfindung in Form eines Ausführungs beispieLs näher erLäutert werden.
Die Figur zeigt eine Seitenansicht eines Leistungs-HaLbLeitermoduLs. Dies besteht aus einem Kupfer-BasisbLech 1, zwei GrundpLatten 2, 2' aus ALumi&eegr;iumoxidkeramik und zwei Kupfer-KontaktbLechen 3, 3'. ALLe KupferbLeche 1, 3, 3' sind mit HiLfe des sogenannten Direct-Bonding-Verf ahrens mit den KeramikgrundpL atten 2, 2'
ve rbunden.
Auf die KontaktbLeche 3, 3' ist je ein
LeistungshaLbLeiter-Chi&rgr; 4, 4' aufgeLötet. An dem einen KontaktbLech 3 ist eine Verbindungsbrücke 6 einstückig angeformt zur HersteLLung einer eLektrischen Verbindung zu dem zweiten HaLbLeiterchip 4 ' . Dank der geringen Dicke der Brücke 6 wird die LötsteLLe 6' während Last- und TemperaturwechseLn nicht überbeansprucht. Auf MoLybdän-Ronden kann verzichtet werden.
Bei den HaLb Leiterchips 4, 4' handeLt es sich im vorliegenden FaLL um Leistungsdioden, die dank der dargesteLLten VerschaLtung eine sogenannte HaLbbrücke biLden. Eine Bestückung mit Thyristorchips, Transistorchips oder auch eine gemischte Bestückung ist ohne weiteres mögLich. Dank der Verwendung von KontaktbLechen 3, 3' aus 0,3 mm starkem Kupfer entspricht der resuLtierende Ausdehnungskoeffizient der KupferbLeche 3, 3' in etwa dem
der SiLicium-HaLbLeiterchips 4, 41, so daß eine Lötverbindung ohne ZwischeneLemente wie MoLybdänronden mög Lieh ist.
Äußere AnschLußkontakte 5, 5' sind einstückig an den KontaktbLechen 3, 31 angeformt. Durch geeignete VorbehandLung wird erreicht, daß die Kupferkontakte 5, 5'
sich während des Direct-Bonding-Verf ahrens nicht mit der
KeramikgrundpLatte 2, 2 ' verbinden. Sie werden nach HersteLLung der Kupfer-Keramik-Verbindung nach oben gebogen,
wie in der Zeichnung dargesteLLt ist.
Ein dritter AnschLußkontakt 5'', ebenfaLLs mit einem dünnen KontaktbLech 3' ' , wird in an sich bekannter Weise mit dem freien PoL des HaLbLeiterchips 4 verLötet.
Das fertige ModuL benötigt nur noch eine minimaLe AnzahL von LötsteLLen, ist aLso optimaL betriebssicher bei minimaLen He rs te L Lungskost en, und erfüLLt aLLe von der Norm geforderten Werte.

Claims (2)

Schutzansprüche:
1. HaLbLeiter-ModuL, wenigstens bestehend aus einer Grundplatte (2, 2') aus A luminiumoxid-Keramik, einem Kontaktblech (3, 3') und einem Basisblech (1), beide aus Kupfer bestehend und an einander gegenüberliegenden Flächen der Grundplatte (2, 21) mittels Direct-Bonding-Verf ahren befestigt, auf das Kontaktblech (3, 3') gelöteten
Leistungsha IbIeiterchips (4, 4') und äußeren
Anschlußkontakten (5, 5', 5'') zu den Chips (4, 4'), dadurch gekennzeichnet, daß das Kontaktblech (3, 3') mit dem zugehörigen Anschlußkontakt (5, 5') einstückig ausgebildet ist und daß das Kontaktblech (3, 3') eine Stärke (d) von 0,3 ± 0,1 mm, der Anschlußkontakt (5, 5') eine Stärke (D) von 1,0 ± 0,1 mm besitzt.
2. Modul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an dem Kontaktblech (3) eine Verbindungsbrücke (6) einstückig angeformt ist, deren Stärke der des Kontaktb lechs (3, 3') entspricht.
DE9017042U 1990-12-18 1990-12-18 Halbleitermodul Expired - Lifetime DE9017042U1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE9017042U DE9017042U1 (de) 1990-12-18 1990-12-18 Halbleitermodul

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE9017042U DE9017042U1 (de) 1990-12-18 1990-12-18 Halbleitermodul

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE9017042U1 true DE9017042U1 (de) 1991-03-07

Family

ID=6860378

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE9017042U Expired - Lifetime DE9017042U1 (de) 1990-12-18 1990-12-18 Halbleitermodul

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE9017042U1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4300516A1 (de) * 1993-01-12 1994-07-14 Abb Ixys Semiconductor Gmbh Leistungshalbleitermodul
EP0671766A1 (de) * 1994-02-25 1995-09-13 Harris Corporation Gehäuse für Halbleiter und dessen Herstellungsverfahren

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4300516A1 (de) * 1993-01-12 1994-07-14 Abb Ixys Semiconductor Gmbh Leistungshalbleitermodul
DE4300516C2 (de) * 1993-01-12 2001-05-17 Ixys Semiconductor Gmbh Leistungshalbleitermodul
EP0671766A1 (de) * 1994-02-25 1995-09-13 Harris Corporation Gehäuse für Halbleiter und dessen Herstellungsverfahren

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19601372B4 (de) Halbleitermodul
DE68924452T2 (de) Packungsstruktur für integrierte Schaltungen.
DE69018846T2 (de) Keramische Packung vom Halbleiteranordnungstyp und Verfahren zum Zusammensetzen derselben.
DE10066443B4 (de) Halbleitervorrichtung mit Abstrahlungsbauteilen
DE69008480T2 (de) Gehäuse für einen Festkörperbildsensor.
WO1998032213A2 (de) Leistungsmodul mit einer aktive halbleiterbauelemente und passive bauelemente aufweisenden schaltungsanordnung sowie herstellungsverfahren hierzu
DE69223906T2 (de) Verfahren zur Herstellung invertierter IC's und IC-Moduln mit einem solcher IC's
DE3924225C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Keramik-Metall-Verbundsubstrats sowie Keramik-Metall-Verbundsubstrat
DE102006002452A1 (de) Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE10162966A1 (de) Leistungshalbleitermodul
WO1998015005A9 (de) Mikroelektronisches bauteil in sandwich-bauweise
DE102013208350A1 (de) Herstellungsverfahren für einen kühler
DE69004581T2 (de) Plastikumhüllte Hybrid-Halbleiteranordnung.
DE112021002452T5 (de) Halbleitermodul
DE112019006032T5 (de) Halbleiterbauteil
DE202021004369U1 (de) Halbleitermodul
DE69128601T2 (de) Verfahren zum Herstellen von wärmestrahlender Substraten zum Montieren von Halbleitern und gemäss diesem Verfahren hergestellte Halbleiterpackung
DE3728096C1 (en) Flat body, especially for use as a heat sink for electronic power components
DE69419881T2 (de) Verpackte Halbeiteranordnung und deren Herstellungsverfahren
DE3709200A1 (de) Elektronisches bauteil
DE3884019T2 (de) Verfahren zum Herstellen einer Modul-Halbleiter-Leistungsanordnung und hergestellte Anordnung.
DE3922485C1 (de)
DE112021004922T5 (de) Halbleiterbauelement
DE4017181C2 (de) Elektrisches Bauelement
EP0322434B1 (de) Flacher körper, insbesondere zur verwendung als wärmesenke für elektronische leistungsbauelemente