[go: up one dir, main page]

DE760949C - Zur Untersuchung von Objekten dienender, an eine Vakuumpumpe angeschlossener Korpuskularstrahlapparat, insbesondere ein Elektronenmikroskop - Google Patents

Zur Untersuchung von Objekten dienender, an eine Vakuumpumpe angeschlossener Korpuskularstrahlapparat, insbesondere ein Elektronenmikroskop

Info

Publication number
DE760949C
DE760949C DES146191D DES0146191D DE760949C DE 760949 C DE760949 C DE 760949C DE S146191 D DES146191 D DE S146191D DE S0146191 D DES0146191 D DE S0146191D DE 760949 C DE760949 C DE 760949C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
vacuum pump
electron microscope
rotatable
opening
beam apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DES146191D
Other languages
English (en)
Inventor
Ernst Dr-Ing Ruska
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens and Halske AG
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens and Halske AG
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens and Halske AG, Siemens Corp filed Critical Siemens and Halske AG
Priority to DES146191D priority Critical patent/DE760949C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE760949C publication Critical patent/DE760949C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/20Means for supporting or positioning the object or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

Bei Korpuskularstrahlapparaten, insbesondere Elektronenmikroskopen, ist es bekannt, das Vakuumgefäß mehrteilig auszuführen und die Einzelteile durch Abdichtungskonusse auseinanderzusetzen. Hierdurch ist es möglich, solche Apparate leicht auseinanderzunehmen und in das Innere eingebaute Einzelteile zu prüfen, auszuwechseln u. dgl. Bisher hat man bei Elektronenmikroskopen dieser Art besondere Objektschleuseinrichtungen verwendet, die so ausgestaltet sind, daß ein Einbringen und Entnehmen des Objektträgers (Patrone) ohne Unterbrechung des Vakuums im Apparat möglich ist. Die hierzu benötigten
Schleuseinrichtungen erfordern einen verhältnismäßig großen Aufwand an baulichen Einzelteilen. Sie bringen aber den Vorteil, daß man die Objektträger sehr rasch und ohne erhebliche Betriebsunterbrechungen auswechseln kann.
Die Erfindung bezieht sich auf einen zur Untersuchung von Objekten dienenden, an eine Vakuumpumpe angeschlossenen Korpuskularstrahlapparat, bei dem zwischen dem Strahlerzeuger und dem die abbildenden Linsen aufnehmenden Teil ein als Objektschleuse dienender, mit einer konischen Schlifffläche abgedichteter, drehbarer Absperrhahn
vorgesehen ist. Erfindungsgemäß ist der die Schleuse bildende drehbare Hahn so angeordnet und ausgebildet, daß er bei nach außen geöffnetem Schleusenraum zum Absperren der Vakuumpumpe dient. Hierdurch ist es möglich, die Vorrichtung zum Einbringen und Entnehmen der Objekte sehr einfach auszugestalten. Diese Vorrichtung bildet nämlich nunmehr gleichzeitig einen Absperrhahn der ίο Vakuumpumpe und dient auch dazu, den gesamten oberen den Strahlerzeuger aufnehmenden Teil des Apparates genau zentriert auf den die Abbildungslinsen enthaltenden Unterteil aufzusetzen, wodurch auch der obere und iS untere Teil des Gerätes, die voneinander lösbar sind, durch die Schlifffläche des Hahnes einwandfrei gegeneinander abgedichtet werden. Bei der neuen Schleuseinrichtung ist bewußt in Kauf genommen, daß das Vakuum in einem Teil des Gerätes beim Schleusvorgang unterbrochen wird. Man wird z. B. an dem mit einem konischen Außenschliff versehenen oberen Stück des die Objektpatrone und die Abbildungslinsen bildenden Apparatteils eine as seitliche Einschleusöffnung anordnen, der eine entsprechende Öffnung in dem mit einem Innenschliff versehenen unteren als drehbares Hahnküken ausgebildeten Stück des Bestrahlungsapparates zugeordnet ist; die zur Vakuumpumpe führende Leitung kann man dann ebenfalls an eine zweite Öffnung des oberen Stückes des Abbildungsteils anschließen.
Als Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Figur ein Querschnitt durch den oberen Teil eines Elektronenmikroskops dargestellt. Das Strahlerzeugungssystem besteht aus einer Kathode und einem sie umschließenden Wehneltzylinder i. Der Kathodenschaf12 ist mit Hilfe einer Kappe 3 oben auf einen Isolator 4 4.0 aufgesetzt, die Konusse 5 dienen zur guten Abdichtung zwischen Kappe und Isolator. Mit 6 ist die Anodenblende des Systems bezeichnet. Diese sitzt in einem Halter 7 und ist diesem gegenüber durch Konusse 8 abgedichtet. Mit 9 ist ein Trägerkörper für das Strahlerzeugungssystem bezeichnet. Relativ zu diesem Körper kann das Strahlerzeugungssystem mit Hilfe von Einstellschrauben 10, 11, die in an sich bekannter Weise mit Gegenfedern 12, 13 zusammenarbeiten, quer zur Achsrichtung des Strahles verschoben und auch verkantet werden. Der untere Teil 14 des Trägers 9 ist als Hahnküken ausgebildet. Er hat einen Innenschliff 15, der mit einem entsprechenden Außenschliff 16 des oberen Stücks
17 der Objektivlinse zusammenarbeitet. In den Teilen 14 und 17 befinden sich Öffnungen
18 und 19, die bei der dargestellten Betriebslage einander gegenüberstehen, so daß der Innenraum 20 des Mikroskops nach außen hin zum Einsetzen und Entnehmen einer Objektpatrone 21 geöffnet ist. Mit 22 ist eine zur Vakuumpumpe führende Rohrleitung bezeichnet, die an eine Öffnung 23 des Teiles 17 angeschlossen ist. In der dargestellten Betriebslage ist somit die Vakuumleitung 22 abgesperrt; mit 24 ist eine Einstellschraube für den Objektpatronenhalter 25 bezeichnet, die mit einer Gegenfeder 26 zusammenarbeitet. Diese Einstellvorrichtung dient dazu, kleine Querverschiebungen der Objektpatrone zum Strahl zwecks Einstellung des gewünschten Bildausschnittes durchzuführen.
Nach dem Einsetzen der Patrone in die dargestellte Lage wird das Strahlerzeugungssystem mit Hilfe des drehbaren Teiles 14 um i8o° gedreht, so daß nunmehr die öffnung 19 nach außen hin verschlossen ist und dafür die Vakuumpumpenleitung 22 über die öffnung im Hahnküken 14 nunmehr mit dem Mikroskopinnern in Verbindung steht.

Claims (3)

  1. Patentansprüche-.
    i. Zur Untersuchung von Objekten dienender, an eine Vakuumpumpe angeschlossener Korpuskularstrahlapparat, bei dem zwischen dem Strahlerzeuger und dem die abbildenden Linsen aufnehmenden Teil ein als Objektschleuse dienender, mit einer konischen Schlifffläche abgedichteter, drehbarer Absperrhahn vorgesehen ist, insbesondere ein Elektronenmikroskop, dadurch gekennzeichnet, daß der die Schleuse bildende drehbare Hahn so angeordnet und ausgebildet ist, daß er bei nach außen geöffnetem Schleusenraum zum Absperren der Vakuumpumpe dient.
  2. 2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in dem mit einem konischen Außenschliff versehenen oberen Stück des Abbildungsteiles eine seitliche Einschleusöffnung vorgesehen ist, der eine entsprechende Öffnung in dem als konischer Innenschliff ausgebildeten unteren drehbaren Stück des Strahlerzeugungssystems zugeordnet ist.
  3. 3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die zur Vakuumpumpe führende Leitung an eine zweite Öffnung des oberen Stückes des Abbildungsteiles angeschlossen ist.
    Zur Abgrenzung des Erfindungsgegenstands vom Stand der Technik ist im Erteilungsverfahren folgende Druckschrift in Betracht •ezogen worden:
    Deutsche Patentschrift Nr. 842 484.
    Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
DES146191D 1941-07-16 1941-07-17 Zur Untersuchung von Objekten dienender, an eine Vakuumpumpe angeschlossener Korpuskularstrahlapparat, insbesondere ein Elektronenmikroskop Expired DE760949C (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES146191D DE760949C (de) 1941-07-16 1941-07-17 Zur Untersuchung von Objekten dienender, an eine Vakuumpumpe angeschlossener Korpuskularstrahlapparat, insbesondere ein Elektronenmikroskop

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE227692X 1941-07-16
DES146191D DE760949C (de) 1941-07-16 1941-07-17 Zur Untersuchung von Objekten dienender, an eine Vakuumpumpe angeschlossener Korpuskularstrahlapparat, insbesondere ein Elektronenmikroskop

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE760949C true DE760949C (de) 1954-10-11

Family

ID=25764365

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DES146191D Expired DE760949C (de) 1941-07-16 1941-07-17 Zur Untersuchung von Objekten dienender, an eine Vakuumpumpe angeschlossener Korpuskularstrahlapparat, insbesondere ein Elektronenmikroskop

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE760949C (de)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE842484C (de) * 1940-08-28 1952-06-26 Comp Generale Electricite Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines mit parallelen Faeden armierten Stoffes

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE842484C (de) * 1940-08-28 1952-06-26 Comp Generale Electricite Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines mit parallelen Faeden armierten Stoffes

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE760949C (de) Zur Untersuchung von Objekten dienender, an eine Vakuumpumpe angeschlossener Korpuskularstrahlapparat, insbesondere ein Elektronenmikroskop
DE7707767U1 (de) Halterung fuer substratplaettchen
DE2700196C2 (de)
DE112014003586B4 (de) Probenhalter und mit geladenen Teilchen arbeitende Vorrichtung
DE10003291C2 (de) Aufnahmefutter für optische Bauteile zum Feinschleifen und/oder Polieren
DE889482C (de) Anlage zur Herstellung von elektronenmikroskopischen Bildern und Elektronenbeugungsbildern
DE761373C (de) Vorrichtung zur Verstellung eines Teiles eines Korpuskular-strahlapparates, z. B. eines Elektronenmikroskopes
DE10035297A1 (de) Eindampfvorrichtung für Proben
EP0141272A1 (de) Einrichtung zur Ionenstrahlbearbeitung von Festkörperproben
DE1539718B2 (de) Elektronenemissionsmikroskop
DE888895C (de) Elektronenmikroskop
DE887386C (de) Mit mindestens zwei Vergroesserungslinsen ausgeruestetes Korpuskularstrahlmikroskop
DE1614688C3 (de) Korpuskularstrahlgerät, insbesondere Elektronenmikroskop, mit einer Doppelkondensoranordnung
DE914289C (de) An der Pumpe betriebener Korpuskularstrahlapparat
DE913803C (de) Einrichtung zur Materialbearbeitung, insbesondere Bohren, Fraesen oder Bedampfen, mittels Ladungstraegerstrahles
DE956757C (de) Wasserregelungsventil fuer Kaelteanlagen
DE760464C (de) Elektronenmikroskop
DE102018008038A1 (de) Vorrichtung zur Befestigung eines Schauglases an einer Vakuumkammer
DE905416C (de) Vakuumapparat, insbesondere Elektronenmikroskop mit metallischen Wandungen
DE952578C (de) Sicherung gegen das ungewollte Ausstroemen von Gasen aus einem vorher hochevakuierten Raum in einen angeschlossenen, ebenfalls hochevakuierten Raum im Falle des Zusammenbruchs des Vakuums in dem ersten Raum
DE738088C (de) Einrichtung zum Beobachten des Innern von Druckgefaessen
DE857254C (de) An der Pumpe arbeitender Korpuskularstrahlapparat
DE911528C (de) Korpuskularstrahlapparat, insbesondere Elektronen- oder Ionenmikroskop
DE955537C (de) Halter fuer Objekttraeger, der in das Innere eines Vakuumraumes eines Korpuskularstrahlapparates, insbesondere eines Elektronenmikroskops, eingebaut ist
DE911412C (de) Korpuskularstrahlapparat, insbesondere Elektronenmikroskop