[go: up one dir, main page]

DE69926659D1 - Verfahren und vorrichtung für die optische Inspektion von Objekten auf einem Substrat - Google Patents

Verfahren und vorrichtung für die optische Inspektion von Objekten auf einem Substrat

Info

Publication number
DE69926659D1
DE69926659D1 DE69926659T DE69926659T DE69926659D1 DE 69926659 D1 DE69926659 D1 DE 69926659D1 DE 69926659 T DE69926659 T DE 69926659T DE 69926659 T DE69926659 T DE 69926659T DE 69926659 D1 DE69926659 D1 DE 69926659D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
objects
substrate
image
sensor
radiator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69926659T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69926659T2 (de
Inventor
Gunnar Bostroem
Mattias Johannesson
Simon Sandgren
Hans Ahlen
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mycronic AB
Original Assignee
MyData Automation AB
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by MyData Automation AB filed Critical MyData Automation AB
Application granted granted Critical
Publication of DE69926659D1 publication Critical patent/DE69926659D1/de
Publication of DE69926659T2 publication Critical patent/DE69926659T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/04Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
DE69926659T 1999-01-18 1999-12-14 Verfahren und vorrichtung für die optische Inspektion von Objekten auf einem Substrat Expired - Lifetime DE69926659T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9900124A SE514859C2 (sv) 1999-01-18 1999-01-18 Förfarande och anordning för undersökning av objekt på ett substrat genom att ta bilder av substratet och analysera dessa
SE9900124 1999-01-18
PCT/SE1999/002349 WO2000042381A1 (en) 1999-01-18 1999-12-14 Method and device for inspecting objects

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69926659D1 true DE69926659D1 (de) 2005-09-15
DE69926659T2 DE69926659T2 (de) 2006-06-08

Family

ID=20414123

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69926659T Expired - Lifetime DE69926659T2 (de) 1999-01-18 1999-12-14 Verfahren und vorrichtung für die optische Inspektion von Objekten auf einem Substrat

Country Status (11)

Country Link
US (1) US6496254B2 (de)
EP (1) EP1153265B1 (de)
JP (1) JP4515638B2 (de)
KR (1) KR100602765B1 (de)
CN (1) CN1179192C (de)
AT (1) ATE301818T1 (de)
AU (1) AU3090200A (de)
DE (1) DE69926659T2 (de)
ES (1) ES2247853T3 (de)
SE (1) SE514859C2 (de)
WO (1) WO2000042381A1 (de)

Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6750899B1 (en) * 2000-01-07 2004-06-15 Cyberoptics Corporation Solder paste inspection system
US6549647B1 (en) 2000-01-07 2003-04-15 Cyberoptics Corporation Inspection system with vibration resistant video capture
SE518642C2 (sv) 2000-07-11 2002-11-05 Mydata Automation Ab Förfarande, anordning för att förse ett substrat med visköst medium, anordning för korrigering av applikationsfel samt användningen av utskjutnings- organ för korrigering av appliceringsfel
SE518640C2 (sv) 2000-07-11 2002-11-05 Mydata Automation Ab Förfarande, anordning för applicering av ett visköst medium på ett substrat, anordning för applicering av ytterligare visköst medium samt användningen av screentryckning
US7009163B2 (en) 2001-06-22 2006-03-07 Orbotech Ltd. High-sensitivity optical scanning using memory integration
KR20040058365A (ko) 2001-12-05 2004-07-03 세미컨덕터 테크놀로지스 앤드 인스트루먼츠.인크. 백색광 간섭 측정계를 사용하는 검사 시스템 및 검사 방법
DE10208286A1 (de) * 2002-02-26 2003-09-18 Koenig & Bauer Ag Elektronische Bildauswerteeinrichtung und ein Verfahren zur Auswertung
DE10208289C1 (de) * 2002-02-26 2003-02-27 Koenig & Bauer Ag Elektronischer Bildsensor und ein Verfahren zur Auswertung
SE523681C2 (sv) * 2002-04-05 2004-05-11 Integrated Vision Prod System och sensor för avbildning av egenskaper hos ett objekt
EP1544571A4 (de) * 2002-09-10 2009-05-27 Sapporo Breweries Verfahren und instrument zur messung der grösse von blasen eines malzalkoholgetränks
TWI298097B (en) * 2003-01-09 2008-06-21 Orbotech Ltd Method and apparatus for simultaneous 2-d and topographical inspection
JP4166587B2 (ja) * 2003-01-24 2008-10-15 株式会社サキコーポレーション 外観検査装置および体積検査方法
US20040218006A1 (en) * 2003-04-30 2004-11-04 Dickerson Stephen Lang Scanning apparatus
US7436504B2 (en) * 2003-09-10 2008-10-14 Shear Graphics, Llc Non-destructive testing and imaging
US7187437B2 (en) * 2003-09-10 2007-03-06 Shearographics, Llc Plurality of light sources for inspection apparatus and method
US6934018B2 (en) * 2003-09-10 2005-08-23 Shearographics, Llc Tire inspection apparatus and method
JP2006041352A (ja) * 2004-07-29 2006-02-09 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 皮膜検査装置、検査システム、プログラム、皮膜検査方法およびプリント基板検査方法
SG121898A1 (en) * 2004-10-06 2006-05-26 Generic Power Pte Ltd System for 2-D and 3-D vision inspection
DE102004056698B3 (de) * 2004-11-24 2006-08-17 Stratus Vision Gmbh Inspektionsvorrichtung für ein Substrat, das mindestens eine aufgedruckte Schicht aufweist
DE102004063076A1 (de) * 2004-12-28 2006-07-06 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Vermessung einer strukturierten Oberfläche sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE102006009593B4 (de) * 2005-10-01 2008-12-18 Vistec Semiconductor Systems Gmbh Vorrichtung zur Aufnahme von mehreren Bildern von scheibenförmigen Objekten
DE102005058873A1 (de) * 2005-12-09 2007-06-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung der Oberfläche eines Körpers
US7830528B2 (en) * 2005-12-14 2010-11-09 Koh Young Technology, Inc. 3D image measuring apparatus and method thereof
KR100795509B1 (ko) 2006-02-24 2008-01-16 주식회사 탑 엔지니어링 페이스트 패턴 검사 방법
WO2008018591A1 (fr) * 2006-08-10 2008-02-14 I-Pulse Kabushiki Kaisha Appareil et procédé d'inspection
JP2008064624A (ja) * 2006-09-07 2008-03-21 Toyo Inspections Kk 撮像装置及び撮像方法
US20100021050A1 (en) * 2006-09-21 2010-01-28 I-Pulse Kabushiki Kaisha Inspecting apparatus
US20080199068A1 (en) * 2007-01-10 2008-08-21 Duquette David W Inspection System
EP2009390A1 (de) * 2007-06-25 2008-12-31 Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Messsystem
JP4777310B2 (ja) * 2007-07-31 2011-09-21 シャープ株式会社 検査装置、検査方法、検査システム、カラーフィルタの製造方法、検査装置制御プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
DE502007000856D1 (de) 2007-08-14 2009-07-23 Sick Ag Verfahren und Vorrichtung zur dynamischen Erzeugung und Weitergabe von Geometriedaten
DE102007063041A1 (de) * 2007-12-28 2009-07-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Laserlicht-Schnittanordnung und Laserlicht-Schnittverfahren zur Bestimmung des Höhenprofils eines Objekts
US8059280B2 (en) 2008-01-31 2011-11-15 Cyberoptics Corporation Method for three-dimensional imaging using multi-phase structured light
DE102008014690A1 (de) * 2008-03-18 2009-09-24 Conti Temic Microelectronic Gmbh Verfahren zur Herstellung von Schaltungsträgern
CN102105777B (zh) 2008-07-22 2013-03-13 奥博泰克有限公司 高效的远心光学系统
KR101503304B1 (ko) * 2008-10-23 2015-03-17 대우조선해양 주식회사 레이저 포인터를 이용하는 러그 용접 로봇의 위치 및 자세 세팅방법
JP5542367B2 (ja) * 2009-05-08 2014-07-09 池上通信機株式会社 外観検査装置及び外観検査用の光学装置
DE102010028894B4 (de) 2009-05-13 2018-05-24 Koh Young Technology Inc. Verfahren zur Messung eines Messobjekts
JP5621178B2 (ja) * 2009-10-24 2014-11-05 株式会社第一メカテック 外観検査装置及び印刷半田検査装置
CN102954759A (zh) * 2011-08-31 2013-03-06 陈启宏 箱体运输测算装置及箱体运输测算方法
US10126252B2 (en) 2013-04-29 2018-11-13 Cyberoptics Corporation Enhanced illumination control for three-dimensional imaging
CN103278090B (zh) * 2013-05-14 2015-10-07 陕西科技大学 一种不规则物体体积的视觉测量方法
DE102014114506B4 (de) * 2014-10-07 2020-06-04 Sick Ag Kamera zur Montage an einer Fördereinrichtung und Verfahren zur Inspektion oder Identifikation
DE102014016087B4 (de) * 2014-11-03 2016-03-10 In-Situ Gmbh Dreidimensionale optische Erfassung von Objektoberflächen
US10349491B2 (en) 2015-01-19 2019-07-09 Tetra Tech, Inc. Light emission power control apparatus and method
CA2892885C (en) 2015-02-20 2020-07-28 Tetra Tech, Inc. 3d track assessment system and method
CN105675614A (zh) * 2016-02-19 2016-06-15 清华大学 一种包装袋封口质量检测设备和包装袋封口质量检测方法
US10572992B2 (en) * 2017-12-28 2020-02-25 Intel Corporation 2D metrology technique for solder paste inspection
US11507097B2 (en) 2018-02-05 2022-11-22 Pixart Imaging Inc. Control apparatus for auto clean machine and auto clean machine control method
CN108273761A (zh) * 2018-03-12 2018-07-13 华侨大学 一种分拣建筑垃圾的装置及方法
US10807623B2 (en) 2018-06-01 2020-10-20 Tetra Tech, Inc. Apparatus and method for gathering data from sensors oriented at an oblique angle relative to a railway track
US10730538B2 (en) 2018-06-01 2020-08-04 Tetra Tech, Inc. Apparatus and method for calculating plate cut and rail seat abrasion based on measurements only of rail head elevation and crosstie surface elevation
US10625760B2 (en) 2018-06-01 2020-04-21 Tetra Tech, Inc. Apparatus and method for calculating wooden crosstie plate cut measurements and rail seat abrasion measurements based on rail head height
US11377130B2 (en) 2018-06-01 2022-07-05 Tetra Tech, Inc. Autonomous track assessment system
CA3130198C (en) 2019-05-16 2022-05-17 Darel Mesher System and method for generating and interpreting point clouds of a rail corridor along a survey path
CN110455199A (zh) * 2019-07-02 2019-11-15 深圳市格灵人工智能与机器人研究院有限公司 PCB板Pin针高度检测方法及系统
CN112857234A (zh) * 2019-11-12 2021-05-28 峻鼎科技股份有限公司 结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57132044A (en) * 1981-02-10 1982-08-16 Hitachi Metals Ltd Discriminating method of surface defect
DE3204086A1 (de) * 1982-02-06 1983-08-11 Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart Vorrichtung zur automatischen optischen beschaffenheitspruefung
JPH02231510A (ja) * 1989-03-02 1990-09-13 Omron Tateisi Electron Co 基板検査装置
JP2890578B2 (ja) * 1989-12-25 1999-05-17 ソニー株式会社 Icリード検査装置とicリード検査方法
JP2691789B2 (ja) * 1990-03-08 1997-12-17 三菱電機株式会社 はんだ印刷検査装置
US5048965A (en) * 1990-05-02 1991-09-17 At&T Bell Laboratories Three-dimensional imaging technique with occlusion avoidance
US5302836A (en) * 1992-07-16 1994-04-12 Bernard Siu High speed image acquisition for microelectronics inspection
JP3180198B2 (ja) * 1992-10-29 2001-06-25 株式会社オーク製作所 ワークのバンプ検査方法およびその装置
JP3189500B2 (ja) * 1993-06-25 2001-07-16 松下電器産業株式会社 電子部品の外観検査装置および外観検査方法
JPH07190736A (ja) * 1993-12-27 1995-07-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半田フィレット部の高さ測定方法及び装置
JP3373327B2 (ja) * 1995-04-24 2003-02-04 松下電器産業株式会社 異物検査装置
US5835620A (en) * 1995-12-19 1998-11-10 Neuromedical Systems, Inc. Boundary mapping system and method
JPH09229632A (ja) * 1996-02-27 1997-09-05 Toray Ind Inc 画像情報出力装置および方法、形状測定装置および方法
US5912732A (en) * 1996-07-05 1999-06-15 Kabushiki Kaisha Topcon Surface detecting apparatus
JPH1073421A (ja) * 1996-08-29 1998-03-17 Nippei Toyama Corp 三次元曲面測定方法及び装置
US5815274A (en) * 1996-12-31 1998-09-29 Pitney Bowes Inc. Method for dimensional weighing by spaced line projection
ES2153150T3 (es) * 1997-08-22 2001-02-16 Fraunhofer Ges Forschung Metodo y aparato para la inspeccion automatica de superficies en movimiento.
JP2001118899A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Mitsubishi Electric Corp 異物及びパターン欠陥検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE69926659T2 (de) 2006-06-08
EP1153265A1 (de) 2001-11-14
AU3090200A (en) 2000-08-01
CN1179192C (zh) 2004-12-08
ATE301818T1 (de) 2005-08-15
KR20010101576A (ko) 2001-11-14
EP1153265B1 (de) 2005-08-10
US6496254B2 (en) 2002-12-17
SE9900124L (sv) 2000-09-12
ES2247853T3 (es) 2006-03-01
JP4515638B2 (ja) 2010-08-04
US20020030808A1 (en) 2002-03-14
SE514859C2 (sv) 2001-05-07
JP2002535606A (ja) 2002-10-22
SE9900124D0 (sv) 1999-01-18
KR100602765B1 (ko) 2006-07-24
WO2000042381A1 (en) 2000-07-20
CN1333869A (zh) 2002-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69926659D1 (de) Verfahren und vorrichtung für die optische Inspektion von Objekten auf einem Substrat
GB2368120A (en) Optical inspection system
DE69628661D1 (de) System und verfahren zum abbilden eines grenzbereichs
ATE346353T1 (de) Verfahren, vorrichtung und gerät zur ablesung von informationen von, zum beispiel, gestapelten jetons
US20240161516A1 (en) Systems and methods for locating a retroreflective object in a digital image
DE69802514D1 (de) Abbildungssystem und -verfahren für mikroskopie
EP0969390A3 (de) Bildverarbeitungsgerät, Bildverarbeitungsverfahren und Speichermedium
HUP9901704A2 (hu) Berendezés és eljárás tartályok vizsgálatára
ATE236412T1 (de) Programmierbares räumlich lichtmoduliertes mikroskop und mikroskopieverfahren
EP1045328A3 (de) Automatisches optisches Erfassungssystem und Verfahren
DE60218260D1 (de) Vorrichtung zum Überwachen der Umgebung eines Fahrzeuges und Verfahren zur Einstellung derselben
PT1166223E (pt) Aparelho para a detencao de impressoes digitais
EP2290445A3 (de) Bilderzeugungsverfahren und -vorrichtung
ATE279757T1 (de) Vorrichtung zur lagebestimmung von etiketten, unter verwendung mehrerer auflösungen
EP1041532A3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung eines rechnererzeugten projizierten Bildes
ATE227434T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur objektabbildung
DE69938895D1 (de) Prüfmustergenerator mit verbesserter adressenauflösung
DE60316942D1 (de) Adaptive automatisierte Bearbeitung von überfüllten Kanälen
DE69841620D1 (de) Vorrichtung zum Kalibrieren von Bilderzeugungssystemen zur Analyse von Agglutinationsreaktionen
EP0999475A3 (de) System zur Positionsdetektion und Belichtungsapparat unter Verwendung desselben
DE50212561D1 (de) Verfahren zur Erkennung und Verfolgung von Objekten
SE1250048A1 (sv) En bildförbättringsanordning för reduktion av brus i digitala bilder
US20110007162A1 (en) Method and device for image detection for motor vehicles
EP4080479A3 (de) Verfahren zur identifizierung von verkehrsampeln, vorrichtung, cloud-steuerungsplattform und fahrzeug-strasse-koordinationssystem
ATE325394T1 (de) Erfassen und greifen von gegenst nden

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition