DE68919455T2

DE68919455T2 - Optischer Aufzeichnungsträger und Antriebssystem.

Info

Publication number: DE68919455T2
Application number: DE68919455T
Authority: DE
Inventors: Junji Hirokane; Tetsuya Inui; Hiroyuki Katayama; Michinobu Mieda; Yukinori Nishitani; Kenji Ohta; Akira Takahashi; Kazuo Van
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1988-08-22
Filing date: 1989-08-22
Publication date: 1995-06-08
Anticipated expiration: 2009-08-23
Also published as: CA1333093C; DE68929228D1; EP0603171B1; EP0356201A2; EP0603171A2; US5170390A; EP0603171A3; US5335220A; EP0356201B1; KR900003830A; US5459711A; DE68929228T2; EP0356201A3; KR920010000B1; DE68919455D1

Description

Die Erfindung betrifft einen optischen Aufzeichnungsträger.
Optische Aufzeichnungsträger, auf die ein Laserstrahl von einem Halbleiterlaser oder einer anderen Vorrichtung projiziert wird, um damit Information aufzuzeichnen, wiederzugewinnen oder zu löschen, haben als Aufzeichnungsmedien hoher Dichte mit großer Kapazität und hoher Portabilität Beachtung gefunden. Ein magnetooptischer Aufzeichnungsträger mit einer Magnetschicht als Aufzeichnungsmedium ist die am höchsten entwickelte Einrichtung bei wiederbeschreibbaren optischen Aufzeichnungsträgern. Eine magnetooptische Platte umfaßt eine auf einem transparenten Träger gebildete Aufzeichnungsschicht, die eine Magnetschicht mit vertikaler magnetischer Anisotropie enthält, und durch Umkehren der Magnetisierungsrichtung der Magnetschicht wird Information darin gespeichert. Bei einem optischen Speichersystem für einen derartigen magnetooptischen Aufzeichnungsträger erfolgt das Aufzeichnen und Löschen der Information durch Verändern des Magnetisierungszustandes der Aufzeichnungsschicht mit einem daran angelegten äußeren Magnetfeld, während die Temperatur der Aufzeichnungsschicht durch einen Laserstrahl angehoben wird, oder durch das entmagnetisierende Feld der Magnetschicht selbst. Zum anderen erfolgt die Rückgewinnung der Information durch Ausnutzen des Effektes, daß, wenn der auf das Aufzeichnungsmedium einfallende Laserstrahl reflektiert wird, die Polarisationsebene des Strahles entsprechend der Magnetisierungsrichtung gedreht wird.
Ein derartiges optisches Speichersystem muß imstande sein, zu prüfen, ob die Information richtig aufgezeichnet wird, wenn neue Information in ei nem Bereich des optischen Aufzeichnungsträgers (optische Platte) aufgezeichnet wird, wo keine Information gespeichert ist. Bei Verwendung eines herkömmlichen optischen Speichersystems kann die erwähnte Prüfung erst durchgeführt werden, wenn sich die optische Platte einmal gedreht hat und ihr Aufzeichnungsbereich (eine erste Umdrehung) nach der Vollendung der Informationsaufzeichnung zu der dem optischen Kopf gegenüberstehenden Position zurückkehrt.
Im Fall der Aufzeichnung neuer Information in einem Bereich, wo vorher Information aufgezeichnet worden ist, werden die folgenden Schritte unternommen, um zu prüfen, ob der Aufzeichnungsvorgang korrekt durchgeführt worden ist: (i) die vorangehende in dem Aufzeichnungsbereich gespeicherte Information wird durch Einstellen der Magnetisierung der Aufzeichnungsschicht in die Ausgangsrichtung gelöscht; (ii) die optische Platte dreht sich einmal, so daß der Aufzeichnungsbereich zu der dem optischen Kopf gegenüberstehenden Position zurückkehrt (eine erste Umdrehung); (iii) die neue Information wird in dem Aufzeichnungsbereich aufgezeichnet; (iv) die optische Platte dreht sich abermals, so daß der Aufzeichnungsbereich zu der vorgenannten Position zurückkehrt (eine zweite Umdrehung); (v) die neue Information wird ausgelesen.
Um, wie oben beschrieben, zu bestätigen, daß die Information richtig aufgezeichnet wurde, wird in dem ersten Fall wenigstens die Zeit für eine Umdrehung der optischen Platte benötigt, und im letzteren Fall wird wenigstens die Zeit für zwei Umdrehungen der optischen Platte benötigt. Dies verursacht eine beträchtliche Zunahme in der für die Informationsaufzeichnung und ihre Prüfung erforderlichen Zeit.
In jüngerer Zelt sind bei einem derartigen optischen Aufzeichnungsträger die Lichtrahlen eines Halbleiterlasers oder dergleichen verwendet worden, um Information aufzuzeichnen, wiederzugewinnen oder zu löschen. Ein Linsensystem, das einen Lichtstrahl von einem Halbleiterlaser bündelt, um den optischen Aufzeichnungsträger anzustrahlen, und ein optisches System (z.B. eine optische Abnehmereinrichtung) mit einem Photodetektor, der die Leuchtenergie des von dem optischen Aufzeichnungsträger reflektierten Lichts ermittelt, müssen in bezug auf den optischen Aufzeichnungsträger mit hoher Geschwindigkeit zweldimensional bewegt werden. Es ist daher recht schwierig, das optische System in bezug auf den optischen Aufzeichnungsträger genau und präzise zu positionieren.
Bei einem herkömmlichen Verfahren wird das optische System, während der scheibenförmige Aufzeichnungsträger gedreht wird, in der Radialrichtung des Aufzeichnungsträgers eindimensional bewegt, um dadurch Information auf der Plattenoberfläche des Aufzeichnungsträgers aufzuzeichnen und die darin gespeicherte Information auszulesen oder zu löschen.
Im allgemeinen besitzt ein derartiger scheibenförmiger Aufzeichnungsträger, wie in Fig. 22 gezeigt, eine Anzahl auf einer Oberfläche eines Trägers 79 angeordneter Führungsrillen 80, um einen gebündelten Lichtstrahl zu führen, sowie eine Aufzeichnungsschicht 81 auf der gleichen mit den Fuhrungsrillen 80 versehenen Oberfläche. Das Aufzeichnen, Wiedergewinnen oder Löschen der Information erfolgt dadurch, daß ein von einer Objektivlinse 83 gebündelter Lichtstrahl 82 von der anderen Oberfläche des Trägers 79 auf die Aufzeichnungsrillen 84 gerichtet wird.
Die in großer Zahl auf dem Träger 79 angeordneten Führungsrillen 80 dienen der genauen Positionierung des gebündelten Lichtstrahls, um Information in einem gewünschten Bereich aufzuzeichnen oder diese aus einem gewünschten Bereich zu lesen. Bei einer derartigen Anordnung ist es üblich, daß eine Folge von Pits 85 in jede der Aufzeichnungsrillen 84 teilweise eingelegt sind und die Adresse der Aufzeichnungsrille 84 durch die Längen und Positionen der Pits 85 angezeigt wird. Das heißt, eine Aufzeichnungsschicht wird in einer kontinuierlichen Form auf einem transparenten Träger gebildet, dessen Oberfläche mit den Führungsrillen und den Adreßpits uneben ist. Diese Rillen und Pits werden durch Herstellen von Vertiefungsabschnitten auf dem Träger gebildet.
Wenn die Leistung eines für die Informationsaufzeichnung verwendeten Halbleiterlasers unerwartet hoch ist (die Aufzeichnungsleistung variiert in der Tat abhängend von einem optischen Speichersystem), kommt es bei dem obigen optischen Aufzeichnungsträger häufig vor, daß sich ein auf der Aufzeichnungsschicht über der Aufzeichnungsrille 84 aufgezeichnetes Aufzeichnungsbit 86 bis zu den Aufzeichnungsschlchten über den angrenzenden Führungsrillen 80 erstreckt, wie in Fig. 24 gezeigt. Als Folge wird ein Signal, das nicht gelesen werden sollte, mit einem korrekten Signal vermischt, wenn durch den Lichtstrahl ein Signal von einer der angrenzenden Führungsrillen 80 gelesen wird. Dies hat das Auftreten von übersprechen zur Folge.
Eine solche Deformation der Aufzeichnungsbits zeigt sich in der Richtung der Aufzeichnungsrillen. Das heißt, die Größen der Aufzeichnungsbits variieren infolge der Abweichung in der Aufzeichnungsleistung in der Richtung der Aufzeichnungsrillen, was eine Verschlechterung der Signalqualität zur Folge hat.
Ein für den optischen Aufzeichnungsträger, wie z.B. eine optische Platte und eine magnetooptische Platte, in einem optischen Speichersystem benutztes Aufzeichnungsbit besltzt eine sehr kleine Fläche, d.h. etwa 1 um², so daß eine genaue und präzise Steuerung bei dem Zugriffsvorgang des Lichtstrahls erforderlich ist. Bei optischen Platten zur Datenaufzeichnung werden zwei Arten von Nachführverfahren, d.h. ein Verfahren mit durchgehender Rille und ein Abtastverfahren, verwendet.
Bei dem Verfahren mit durchgehender Rille ist eine Rille 92 auf einem Träger 91 angeordnet, wie in Fig. 25 gezeigt, und die Brechung eines Lichtstrahls an der Rille 92 wird benutzt, um den Versatz des Lichtstrahls zu ermitteln.
Das heißt, es wird ein Lichtstrahl von einer Laserlichtquelle (nicht gezeigt) durch einen Halbspiegel 93 und eine Objektivlinse 94 auf die auf dem Träger 91 gebildete Rille 92 abgestrahlt. Ein von der Rille 92 reflektiertes Licht fällt nach Durchlaufen der Objektivlinse 94 und des Halbspiegels 93 auf einen zweiteiligen Photodetektor 95, und die Differenz zwischen den jeweils von den lichtermittelnden Teilen 95a und 95b des Photodetektors 95 ausgegebenen Signalen wird von einem Differenzverstärker 96 verstärkt, um dadurch ein Nachführfehlersignal zu erzeugen.
Bei dem Abtastverfahren wird, wie in Fig. 26 gezeigt, ein Träger 97 mit paarigen Pits 98 und 99 zur Nachführfehlerermittlung versehen, die senkrecht zur Spur beabstandet sind, wobei die Mittellinie der Spur durch den Pfeil B dazwischen angedeutet ist. Diese Pits sind in gleichen Abständen von der Mittellinie angeordnet, auf der die Datenpits 100 ausgerichtet sind. Die Amplitude der ausgelesenen Signale, die jeweils von den Pits 98 und 99 ausgehen, werden verglichen, und wenn die Amplitude S&sub1;' des Lesesignals von dem Pit 98 größer ist als die Amplitude S&sub2;' des Lesesignals von dem Pit 99 (s. Fig. 27(a)), wird angenommen, daß der Lichtstrahl auf eine Stelle zugegriffen hat, die entlang der durch den Pfeil A angedeuteten Richtung dem Pit 98 näher ist. Wenn die Amplituden S&sub1; und S&sub2; der Lesesignale von den Pits 98 und 99 gleich sind (s. Fig. 27(b)), wird angenommen, daß der Lichtstrahl entlang der Richtung des Pfeils B auf die Mitte der Spur zugegriffen hat, und wenn die Amplitude S&sub1;'' des Lesesignals von dem Pit 99 größer ist die Amplitude S&sub2;'' des Lesesignals von dem Pit 98 (s. Fig. 27 (c)), wird angenommen, daß der Lichtstrahl entlang der Richtung des Pfeils C auf eine Stelle zugegriffen hat, die dem Pit 99 näher ist. Paare der Pits 98 und 99 sind in großer Zahl auf der Spur angeordnet.
Bei dem oben beschriebenen Abtastverfahren durchläuft das von den auf dem Träger 97 angeordneten Pits 98 und 99 refektierte Licht nacheinander die Objektivlinse 94 und den Halbspiegel 93 und fällt dann auf den Photodetektor 101, wie in Fig. 28 gezeigt. Danach werden die Signale, die gemäß der Amplitude der aus den Pits 98 und 99 gelesenen Signale erzeugt werden, nacheineinander von dem Photodetektor 101 über eine Impulsformungsschaltung 103 an ein Schieberegister 102 übermittelt. Die Differenz zwischen den ausgelesenen Signalen der Pits 98 und 9g wird gemäß einem Signal von einem Taktsignalerzeuger 104 gewonnen und durch den Differenzverstärker 105 verstärkt, um ein Nachführfehler-Ermittlungssignal auszugeben.
Bei dem obigen in Fig. 25 gezeigten Verfahren mit durchgehender Rllle wird das Nachführfehlersignal, auch wenn der Lichtstrahl auf die richtige Stelle, d.h. die Mitte der Spur, zugreift, nicht "0", wenn der Träger 91 geneigt ist. Daher bestand ein Problem derart, daß es schwierig ist, zu beurteilen, ob das Nachführfehlersignal wegen eines Nachführfehlers oder wegen des geneigten Trägers 91 nicht "0" wird. Um dieses Problem zu überwinden, muß bei diesem Verfahren die Neigung des Trägers 91 auf einen kleinen zulässigen Bereich begrenzt werden.
Obwohl bei dem in Fig. 26 bis Fig. 28 gezeigten Abtastverfahren ein solches durch die Neigung des Trägers verursachtes Nachführfehlersignal kaum erzeugt wird, müssen die Größen der Pits 98 und 99 eine genaue Breite und Tiefe besitzen, um die genaue Ermittlung von Nachführfehlern durchzuführen. Da bei diesem Verfahren die Ermittlung eines Auslesesignals durch Abtastung erfolgt, wird die Zeit, bei der der Lichtstrahl die Pits 98 und 99 durchläuft, im voraus bestimmt. Dies erfordert die genaue Positionierung des Pitpaares 98 und 99 relativ zu einem anderen Pitpaar 98 und 99, was eine Erhöhung der Herstellungskosten des Trägers 97 zur Folge hat.
Aus EP-A-0 169 433 ist eine optische Aufzeichnungsplatte mit einem voraufgezeichneten Markenmuster bekannt. Der Nachführfehler eines Strahlpunktes wird mit Hilfe der Seitenkanten des Markenmusters ermittelt, wobei die Kanten in der Spurrichtung verlaufen. Dieser Stand der Technik bildet die Grundlage des Oberbegriffs des unabhängigen Anspruchs 1.
Aus EP-A-0 197 256 ist ein auf einem thermoplastischen Träger gebildetes digitales Aufzeichnungsmedium mit einer regelmäßigen Anordnung von einzelnen, mikroskopischen, optisch veränderbaren Spiegeln bekannt. Dieser Stand der Technik bildet die Grundlage des Oberbegriffs des unabhängigen Anspruchs 12.
In einem ersten Aspekt stellt die vorliegende Erfindung einen optischen Aufzeichnungsträger zur Verfügung, das eine auf einem Träger gebildete Aufzeichnungsschicht, in der Daten entlang einer Spur aufgezeichnet werden können, sowie Abtastmarkengruppen umfaßt, die entlang der Spur in Abständen einer festen Entfernung angeordnet sind, um Information über die Datenaufzeichnungsstellen der Spur und Information über den Nachführfehler zu liefern, wobei jede der Abtastmarkengruppen optisch ermittelbare Abtastmarken umfaßt, dadurch gekennzeichnet, daß jede Abtastmarkengruppe wenigstens zwei Abtastmarken umfaßt, die auf der Spurmittellinie zentriert und längs derselben beabstandet und so angeordnet sind, daß der Abstand zwischen den jeweiligen Mitten aneinandergrenzender Abtastmarken in der Spurrichtung von der Größe und der Richtung der Abweichung von der Spurmittellinie abhängt, um die Nachführfehlerinformation zu liefern.
In einem zweiten Aspekt stellt die vorliegende Erfindung einen optischen Aufzeichnungsträger zur Verfügung, das eine auf einem Träger gebildete Aufzeichnungsschicht umfaßt, wobei die Aufzeichnungsschicht eine Vielzahl von Aufzeichnungseinheiten umfaßt, wobei jede einen jeweiligen einzelnen Teil der Aufzeichnungsschicht umfaßt, dadurch gekennzeichnet, daß die Aufzeichnungsschicht magnetooptisches Material umfaßt.
Ein Vorteil des ersten Aspektes der Erfindung besteht darin, daß die Phasendifferenz zwischen Auslesesignalen von der Abtastmarkengruppe ermittelt werden kann, wodurch ein Nachführfehler-Ermittlungssignal durch irgendeine Neigung des optischen Aufzeichnungsträgers nicht beeinflußt werden wird.
Ein anderer Vorteil besteht darin, daß der Einfluß der Breiten und Tiefen der Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte, welche die Abstastmarken bilden, vermindert wird, auch wenn die obigen Nachführfehler- Ermittlungsabschnitte die Form von Pits oder Rillen besitzen, so daß eine genaue Nachführfehlerermittlung durchgeführt werden kann.
Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß die bei dem Abtastverfahren benötigte hohe Positionierungsgenauigkeit beim Positionieren einer Abtastmarke in bezug auf eine andere Abtasmarke nicht erforderlich ist, was niedrige Herstellungskosten zur Folge hat.
Gemäß einer bevorzugten Ausführung des ersten Aspekts der Erfindung ist wenigstens einer der Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte (Abastmarken) länglich und in bezug auf die Zugangsrichtung des Lichtstrahls geneigt. Bei dieser Ausführung kann, wenn die Abtastmarkengruppe zwei Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte umfaßt, die Zeitverzögerung zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals an einem der Nachführfehler- Ermittlungsabschnitte und der Erzeugung eines Auslesesignals an dem anderen Nachführfehler-Ermittlungsabschnitt ermittelt werden, wobei die Erzeugung dieser Signale durch den Zugriff des Lichtstrahles bewirkt wird. Mit anderen Worten, die Phasendifferenz zwischen den zwei Nachführfehler-Ermittlungsabschnitten wird gemäß dem Betrag der Versetzung der Zugriffsposition des Lichtstrahles von der Mitte der Spur in einer Richtung senkrecht zu der Spurrichtung verändert. Ein Nachführfehler kann folglich durch Gewinnung der Phasendifferenz zwischen den von den zwei Nachführfehler-Ermittlungsabschnittem jeweils erzeugten Auslesesignalen ermittelt werden.
In diesem Fall kann als Photodetektor ein Einelement-Photodetektor anstelle eines Zweielement-Photodetektors benutzt werden, so daß die Neigung des Trägers die Nachführfehler-Ermittlungssignale nicht so stark beeinflußt. Da ein Nachführfehler gemäß der Phasendifferenz zwischen den Auslesesignalen von der Abtastmarkengruppe ermittelt wird, wird, auch wenn die Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte, die die Abtastmarkengruppen bilden, in der Form von Pits, Rillen oder dergleichen gebildet sind, der Einfluß der Veränderung in den Breiten, Tiefen usw. der pit- oder rillenartigen Nachführfehler-Ermittlungsabschnltte vermindert werden, wodurch eine genaue Nachführfehlerermittlung durchgeführt werden kann. Obwohl es erforderlich ist, die relativen Positionen der Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte, die die Abtastmarkengruppe bilden, genau zu bestimmen, wird außerdem keine solche Genauigkeit bei der Positionierung von einem Abtastpit in bezug zu einem anderen Abtastpit benötigt wie sie bei dem vorerwähnten Abtastverfahren benötigt wird. Dies kann bei der Herstellung einer kostengünstigen optischen Aufzeichnungsvorrichtung ein Vorteil sein.
Ein Vorteil des zweiten Aspektes der Erfindung besteht darin, daß nicht nur das durch Veränderungen in der Aufzeichnungsleistung einer Aufzeichnungsvorrichtung verursachte Austreten der Aufzeichnungsbits aus den Aufzeichnungsrillen verhindert wird, um die Größe der auf einer Aufzeichnungsrille ausgerichteten Aufzeichnungsbits gleichmäßig zu halten, sondern auch das Auftreten von übersprechen vermindert wird, wodurch die Signalqualität verbessert wird.
Ein anderer Vorteil besteht darin, daß das Aufzeichnen und Löschen der Information geprüft werden kann, um einen Lichtstrahl zu machen, der genau auf einen nicht durchgehenden Bereich, der eine Aufzeichnungseinheit bildet, abgestrahlt wird, wodurch Funktionen, wie Aufzeichnen (Löschen) und Wiedergeben, genau ausgeführt werden können.
Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß, wenn Information in einem optischen Aufzeichnungsträger aufgezeichnet wird, die Prüfung, ob das Aufzeichnen richtig ausgeführt worden ist, für jede Aufzeichnungseinheit in einer sehr kurzen Zeit durchgeführt werden kann, so daß die Verarbeitungsgeschwindigkeit stark verbessert und die bestrahlende Position eines Lichtstrahles in jeder Aufzeichnungselnheit genau gesteuert wird, um dadurch Aufzeichnungsvorgänge genau auszuführen.
Gemäß einer bevorzugten Ausführung des zweiten Aspektes der Erfindung wird die Breite einer Aufzeichnungseinheit, die einen Aufzeichnungsbereich bildet, auf eine Größe begrenzt, die gleich dem Durchmesser des Aufzeichnungsbits ist. Das heißt, die Aufzeichnungseinheiten besitzen senkrecht zu der Spurrichtung eine Abmessung, die gleich dem Durchmesser des Aufzeichnungsbits ist, und sind in dieser Richtung in einem Abstand angeordnet, der gleich dem Abstand zwischen den Aufzeichnungsbits in der Spurrichtung ist.
Fig. 1 bis 21 betreffen die vorliegende Erfindung.
Fig. 1(a) ist eine Draufsicht eines magnetooptischen Aufzeichnungsträgers, und Fig. 1(b) ist eine Schnittansicht genommen entlang der Linie X-X von Fig. 1(a).
Fig. 2 ist ein Diagramm, das die Intensitätsverteilung eines Laserstrahles zeigt.
Fig. 3 ist ein Diagramm, das die Temperaturverteilung einer Aufzeichnungsschicht zeigt.
Fig. 4 ist ein Diagramm, das einen Effekt der vorliegenden Erfindung zeigt, bei dem in der Nähe eines Pits eine unregelmäßige Temperaturverteilung erhalten und Information bei mehr als einer vorbestimmten Temperatur aufgezeichnet werden kann.
Fig. 5 zeigt ein Beispiel der Struktur einer in der vorliegenden Erfindung verwendeten magnetooptischen Schicht.
Fig. 6 ist eine exemplarische Darstellung, die eine Ausführung eines optischen Aufzeichnungsträgers der vorliegenden Erfindung zeigt.
Fig. 7 ist ein Blockschaltbild, das den Aufbau eines Antriebssystems für den optischen Aufzeichnungsträger zeigt.
Fig. 8(a) ist ein Zeitdiagramm, das den Ausgang eines abzustrahlenden Laserstrahles zeigt, und Fig. 8(b) ist eine Schnittansicht, die den magnetooptischen Aufzeichnungsträger in Verbindung mit Fig. 8(a) veranschaulicht. Fig. 8(c) ist ein Zeitdiagramm eines Summensignals, das die Summe der Ausgänge von zwei PIN-Photodioden angibt, und Fig. 8(d) ist ein Zeitdiagramm eines Differenzsignals, das die Differenz zwischen den Ausgängen der zwei PIN-Photodioden angibt.
Fig. 9(a) ist eine Schnittansicht des magnetooptischen Aufzeichnungsträgers. Fig. 9(b) ist ein Zeitdiagramm, das den Ausgang des abzustrahlenden Laserstrahles in Verbindung mit Fig. 9(a) zeigt. Fig. 9(c) ist ein Zeitdiagramm eines Differenzsignals, das die Differenz zwischen den Ausgängen der zwei PIN-Photodioden angibt.
Fig. 10 ist eine teilweise Draufsicht des optischen Aufzeichnungsträgers.
Fig. 11 zeigt die Wellenformen der Signale, die jeweils erzeugt werden, wenn der Lichtstrahl die Richtungen A, B und C von Fig. 10 abtastet.
Fig. 12 ist ein Blockschaltbild, das den Aufbau einer Schaltung zum Lesen der Information zeigt.
Fig. 13 ist eine schematische Vorderansicht, die einen Träger des optischen Aufzeichnungsträgers zeigt.
Fig. 14 ist ein Zeitdiagramm, das die Zeitverzögerung zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals an einem Referenzpit und der Erzeugung eines Auslesesignals an einem geneigten Pit zeigt.
Fig. 15 und 16 zeigen jeweils ein anderes Beispiel des geneigten Pits.
Fig. 17(a) ist eine schematische Vorderansicht, die das als Nachführfehler-Ermittlungsabschnitt verwendete geneigte Pit zeigt, und Fig. 17(b) ist eine Graphik, die eine Änderung in der Intensität eines Auslesesignals zeigt, das erzeugt wird, wenn ein Lichtstrahl das geneigte Pit durchläuft.
Fig. 18(a) ist eine schematische Vorderansicht, die zwei als Nachführfehler-Ermittlungsabschnitt verwendete Pits zeigt, und Fig. 18(b) ist eine Graphik, die eine Änderung in der Intensität eines Auslesesignals zeigt, das erzeugt wird, wenn der Lichtstrahl zwei Pits durchläuft.
Fig. 19(a) ist eine schematische Vorderansicht, die zwei als Nachführfehler-Ermittlungsabschnitt verwendete Pits zeigt, und Fig. 19(b) ist eine Graphik, die die Intensität eines Auslesesignals zeigt, das erzeugt wird, wenn der Lichtstrahl zwei Pits durchläuft.
Fig. 20 ist ein Blockschaltbild, das den Aufbau der Schaltung eines Treibersystems für den optischen Aufzeichnungsträger zeigt.
Fig. 21 zeigt Wellenformen von Signalen, die in den Abschnitten von Fig. 20 jeweils erzeugt werden.
Fig. 22 bis 28 zeigen jeweils den Stand der Technik.
Fig. 22 ist eine teilweise vergrößerte Schnittansicht eines herkömmlichen optischen Aufzeichnungsträgers.
Fig. 23 zeigt schematisch die Beziehung zwischen einer Aufzeichnungsrille und Pits, die Adreßinformation über eine Spur liefern.
Fig. 24 zeigt den Fall der Verwendung des herkömmlichen optischen Aufzeichnungsträgers, bei dem eine Aufzeichnungsschicht infolge der übermäßigen Aufzeichnungsleistung eines Laserstrahles zu hoch erhitzt wird, so daß sich ein Aufzeichnungsbit außerhalb der Führungsrille ausdehnt.
Fig. 25 ist eine schematische Darstellung des Aufbaus einer herkömmlichen Lesevorrichtung.
Fig. 26 ist eine schematische Vorderansicht, die einen anderen herkömmlichen Träger zeigt.
Fig. 27 ist Zeitdiagramm, das die Amplitude eines Auslesesignals von einem Pit zu Nachführfehlerermittlung in der herkömmlichen Einrichtung von Fig. 26 zeigt.
Fig. 28 ist eine schematisch Darstellung des Aufbaus einer Lesevorrichtung in der herkömmlichen Einrichtung von Fig. 26.
Die folgende Beschreibung wird Ausführungen der vorliegenden Erfindung mit Bezugnahme auf die begleitenden Zeichnungen 1 bis 21 im einzelnen beschreiben.
Bei dieser Beschreibung wird ein magnetooptischer Aufzeichnungsträger 4 als Beispiel eines optischen Aufzeichnungsträgers verwendet. Wie die teilweise vergrößerte Schnittansicht von Fig. 1(b) zeigt, umfaßt der magnetooptische Aufzeichnungsträger 4 die in Fig. 1(a) gezeigten Aufzeichnungspits 2 (nachfolgend als Pits 2 bezeichnet), die auf einer Oberfläche eines aus Glas oder dergleichen bestehenden transparenten Trägers 1 gebildet sind, wobei jedes Pit 2 die gleiche Größe besitzt wie ein Aufzeichnungsbit. Auf dem transparenten Träger 1 befinden sich Aufzeichnungsschichten 3, von denen jede eine Magnetschicht mit einer Dicke umfaßt, die kleiner ist als die Tiefe des Pits 2.
Bie dieser Anordnung ist eine Reihe nicht durchgehender Aufzeichnungsschichten vorgesehen, so daß die Aufzeichnungsbitbereiche (d.h. Pits 2) und andere Bereiche als die Aufzeichnungsbitbereiche (d.h. Führungsrillen) je eine einzelne und unabhängige Aufzeichnungsschicht 3 besitzen. Dies verhindert, daß ein in dem Pit 2 aufgezeichnetes Bit außerhalb des Pits 2 verläuft, wodurch die Signalqualität ohne das Auftreten von übersprechen verbessert wird.
Allgemein ausgedrückt, wenn ein zur optischen Aufzeichnung benutzter Halbleiter-Laserstrahl durch eine Objektivlinse fokussiert wird, wird eine Leuchtkraftverteilung ähnlich der in Fig. 2 gezeigten Gaußschen Verteilung erhalten. Wenn ein Lichtstrahl mit einer solchen Leuchtkraftverteilung auf eine Aufzeichnungsschicht abgestrahlt wird, wird die Temperaturvertellung vorübergehend ähnlich der obigen Leuchtkraftverteilung (z.B. die in Fig. 3(a) gezeigte Temperaturverteilung) und wird infolge der Wärmeübertragung der Aufzeichnungsschicht mit der Zeit allmählich breiter (s. Fig. 3(b)). Im Gegensatz dazu wird bei Verwendung des optischen Aufzeichnungsträgers der Erfindung mit der Aufzeichnungsschicht 3, die getrennt und innerhalb der Furche von Pit 2 gebildet ist, die Wärme durch den Wandteil, der zwischen dem Pit 2 und der Führungsrille vorhanden ist, daran gehindert, sich außerhalb des Pits 2 zu erstrecken. Auch wenn z.B. ein Licht mit einer in Fig. 4(a) gezeigten Leuchtverteilung abgestrahlt wird, wird die Temperaturverteilung in dem Bereich in der Nähe von Pit 2 ungleichmäßig sein, wie in Fig 4(b) gezeigt. Dies zeigt, daß sich der Aufzeichnungsbereich (d.h. der Aufzeichnungsbitbereich) nicht außerhalb des Pits 2 erstrekken wird, wenn eine Aufzeichnungsschicht verwendet wird, in der Information nicht bei einer Temperatur aufgezeichnet werden kann, die niedriger ist als die in Fig. 4(b) gezeigte Temperatur B.
Wie oben beschrieben, ist diese Erfindung besonders bei der Aufzeichnung nützlich, die durch Erhitzen einer Magnetschicht durch einen gebündelten Lichtstrahl auf eine höhere Temperatur als ein spezifizierter Schwellwert durchgeführt wird, und kann bei der magnetooptischen Aufzeichnung und bei der Aufzeichnung verwendet werden, bei der der Phasenübergang vom Kristall- in den Nicht-Kristallzustand ausgenutzt wird.
Wie Fig. 5 zeigt, umfaßt die in Fig. 1 gezeigte Aufzeichnungsschicht 3 einen transparenten Träger 1 und eine darauf gebildete vierlagige Magnetschicht, die beeinhaltet: eine erste Stickstoff-Verbundschicht 5, gebildet aus SIN oder dergleichen; eine Magnetschicht 6, gebildet aus GdTbFe, TbFeCo, GdNdFe oder dergleichen; eine zweite Stickstoff- Verbundschicht 7, gebildet aus SiN oder dergleichen, sowie eine reflektierende Schicht 8, gebildet aus Al, Ta, Ti oder dergleichen. Diese vierlagige Struktur ist sehr wirkungsvoll, das sie die Herstellung einer dünnen Magnetschicht mit flachen, auf dem Träger 1 elngepreßten Pits erlaubt. Die Magnetschicht 6 bei der obigen vierlagigen Struktur besitzt z.B. eine Dicke, die bevorzugt im Bereich von 15 nm (150 Å) bis 20 nm (300 Å) liegt, und in diesem Fall kann die Tiefe der Pits mehr als 30 nm (300 Å) betragen.
Ein Åtzverfahren wie in 'Japanese publication for unexamined patent application' 210547/1984 offenbart, ist zur Herstellung des Trägers mit Pits wie in dieser Erfindung offenbart geeignet, und besonders die anisotropische Ätzung, z.B. die reaktive Ionenätzung, ist wirkungsvoll, da die Stirnfläche des Pits im wesentlichen senkrecht zu dem Träger gemacht wird.
Bei der vorliegenden Erfindung besitzt ein magnetooptischer Aufzeichnungsträger Aufzeichnungsbereiche, von denen jeder in jeder Aufzeichnungseinheit (d.h. ein Bit) in einem nicht durchgehenden Zustand gebildet wird. Fig 6 zeigt zeigt ein Beispiel der Anordnung der Pits bei dem magnetooptischen Aufzeichnungsträger dieser Erfindung.
Wie Fig. 7 zeigt, umfaßt das Treibersystem für den Aufzeichnungsträger: ein erstes optisches System 17, um einen Halbleiter-Laserstrahl an den magnetooptischen Aufzeichnungsträger 4 zu führen, das einen Halbleiterlaser 11, eine parallel richtende Linse 12, ein Prisma 13, einen Strahlteiler 14, einen Spiegel 15 und eine Objektivlinse 16 umfaßt; ein zweites optisches System 24 zum Erfassen eines von dem magnetooptischen Aufzeichnungsträger 4 reflektierten Lichtstrahles, um Information zu lesen, das einen Strahlteiler 18, eine 1/2-Wellenlängenplatte 19, eine fokussiernde Linse 20, einen Strahlteiler 21 und die PIN-Photodioden 22 und 23 umfaßt, sowie ein drittes optisches System 28 zum Erfassen eines von dem magnetooptischen Aufzeichnungsträger 4 reflektierten Lichtstrahls, um ein Signal an einen Fokussierungsservo und Nachführservo zu senden, das eine fokussiernde Linse 25, eine zylindrische Linse 26 und eine PIN-Photodiode für einen Servo 27 umfaßt.
Die Rückgewinnung des magnetooptischen Signals erfolgt durch Ermitteln der Differenz zwischen den Ausgängen der PIN-Photodioden 22 und 23. Zum Beispiel wird eine Änderung in der Polarisierungsrichtung (der Kerr-Drehwinkel) eines reflektierten Lichts, die der Richtung der Magnetisierung der Aufzeichnungsschicht 3 entspricht, durch Ermitteln der Differenz zwischen den Stärken der reflektierten Lichter erfaßt, die jeweils auf die PIN-Photodioden 22 und 23 fallen, die auf zwei verschiedenen Achsen angeordnet sind.
Ferner wird die Summe der Ausgänge der PIN-Phodioden 22 und 23 ermittelt, um die Anwesenheit der Pits 2 zu ermitteln, indem z.B. eine Änderung in der Gesamtstärke des an dem Pit 2 reflektierten Lichtes ausgenutzt wird, die durch die Lichtbrechung verursacht wird, die infolge des Unterschiedes zwischen den Höhen des Pits 2 und dem Nicht- Pit-Bereich auftritt. Der Halbleiterlaser 11 emittiert den in Fig. 8(a) gezeigten gepulsten Lichstrahl, der auf den magnetooptischen Aufzeichnungsträger 3 abgestrahlt wird, so daß drei Impulse einem Pit 2 entsprechen (s. Fig. 8(b)), wo der magnetooptische Träger 4 in Verbindung mit Fig. 8(a) dargestellt ist. Nimmt man z.B. Fig. 8(a) und 8(b), dann entsprechen die Impulse a, b und c einem Pit 2a mit einer Aufzeichnungsschicht 3a, die in der positiven Richtung (d.h. in der Ausgangsrichtung) magnetisiert ist, und die Impulse d, e und f entsprechen einem Pit 2b mit einer Aufzeichnungsschicht 3b, die in der entgegengesetzten Richtung magnetisiert ist.
Gemäß der vorangehenden Anordnung sind in den Summenslgnalen der Ausgänge der PIN-Photodioden 22 und 23, die den gepulsten Lichtstrahlen entsprechen, die Ausgänge der Impulse a&sub1;, b&sub1;, c&sub1;; d&sub1;, e&sub1;, f&sub1;, die jeweils den Impulsen a, b, c; d, e, f enstsprechen, bis zu einem gewissen Grad niedriger als diejenigen der Impule a, b, c; d, e, f, wie in Fig. 8(c) gezeigt. Die Anwesenheit der Pits 2 kann durch Ermitteln des Summensignals ermittelt werden.
Zum anderen sind in den Differenzsignalen der Ausgänge der PIN-Photcdioden 22 und 23, die den gepulsten Lichtstrahlen entsprechen, die Ausgänge der Impulse a&sub2;, b&sub2;, c&sub2;, die jeweils den Impulsen a, b, c entsprechen, weiter niedriger als die der Impulse a, b und c, und die Im pulse d&sub2;, e&sub2;, f&sub2;, die jeweils den Impulsen d, e, f entsprechen, sind positiv, wenn die Letzteren negativ sind und umgekehrt. Wie aus der obigen Beschreibung hervorgeht, können nicht nur Pitsignale und magnetooptische Signale getrennt entnommen werden, sondern es kann auch ein magnetooptisches Signal mit den Impulsen a&sub2;, b&sub2;, c&sub2; von einem anderen magnetooptisches Signal mit den Impulsen d&sub2;, e&sub2;, f&sub2; unterschieden werden. Eine derartige Anordnung erlaubt die Aufzeichnung von Information auf dem magnetooptischen Aufzeichnungsträger 4.
Wenn auf dem magnetooptischen Aufzeichnungsträger 4 Information aufgezeichnet oder darin gespeicherte Information gelöscht wird, müssen die Operationen ausführt werden, nachdem der Aufzeichnungszustand der auf dem Pit 2 gebildeten Aufzeichnungsschicht 3, in der Information aufzuzeichnen ist oder aus der Information zu löschen ist, gepüft worden ist. Die Impulse a und d werden bei der obigen Prüfung verwendet. Nimmt man z.B. Fig. 9, so wird von den drei Impulsen a', b', c' (diese sind die Impulse eines abgestrahlten Laserstrahls), die dem in Fig. 9(a) gezeigten Pit 2c entsprechen, der Impuls a' verwendet.
Wenn sich das Pit 2c in einem nicht aufgezeichneten Zustand befindet, wird der Impuls a&sub2;', der a' entspricht, wie andere Impulse positiv, wie in Fig. 9(c) gezeigt. Der Aufzeichnungszustand der Aufzeichnungsschicht 3 auf dem Pit 2c wird durch Erfassen dieses Impulses a&sub2;' geprüft. Wenn sich das Pit 2c unerwartet in einem nicht aufgezeichneten Zustand befindet, wird der Ausgang des nächsten Impulses b' erhöht, wodurch die Temperatur der Aufzeichnungsschicht 3 auf dem Pit 2c anhoben wird, um die Koerzitivkraft der Aufzeichnungsschicht 3 zu vermindern und die Magnetisierungsrichtung umzukehren. Die Informationsaufzeichnung ist somit ausgeführt. Die obige Aufzeichnung wird durch den nächsten Impuls c' geprüft (der Ausgang des Impulses c' ist der gleiche wie der des Impulses a'). In dem obigen Fall wird der Impuls c&sub2;', der dem Impuls c' entspricht, negativ, wie in Fig. 9(c) gezeigt, wodurch angezeigt wird, daß sich das Pit 2c in einem Aufzeichnungszustand befindet. Die Richtung der Magnetisierung der Aufzeichnungsschicht 3 auf dem Pit 2 wird somit erfaßt, indem ermittelt wird, ob der Impuls c&sub2;' negativ oder positiv ist.
Wie oben beschrieben, kann das Aufzeichnen/Löschen der Information und ihre Prüfung während der Zeit durchgeführt werden, als ein Lichtstrahl einen nicht durchgehenden Bereich (eine Aufzeichnungseinheit) durchläuft, so daß keine Notwendigkeit besteht, auf den Umlauf der optischen Platte, wie im herkömmlichen Fall, zu warten. Eine ganze Menge der für das Aufzeichnen/Löschen der Information und ihrer Prüfung benötigten Zeit kann daher insgesamt gespart werden.
Wenn durch Erfassen des Impulses a&sub2;' entschieden wird, daß sich die Aufzeichnungschicht 3 auf dem Pit 2c in einem erwarteten Zustand befindet, kann der Ausgang des nächsten Impulses b' der gleiche sein wie der von Impuls a'. Mit anderen Worten, da bei dieser Ausführung die Richtung der Magnetisierung der Aufzeichnungsschicht durch Erfassen des Impulses a&sub2;' in voraus ermittelt wird, kann das Aufzeichnen/Löschen auf der Aufzeichnungsschicht 3 auf dem Pit 2 entfallen, wenn entschieden wird, daß sich das obige Pit 2 in einem erwarteten Zustand befindet.
Bei der Verwendung des optischen Aufzeichnungsträgers und seines Treibersystems der vorliegenden Erfindung werden die Aufzeichnung der Information auf dem nicht durchgehenden Bereich mit einem Lichstrahl, der, wenn erforderlich, verändert wird, und die Prüfung, ob die aufgezeichnete Information richtig ist, innerhalb der Zeit durchgeführt, als der Lichtstrahl einen nicht durchgehenden Bereich durchläuft. Der vorerwähnte gepulste Lichtstrahl wird durch einen Impuls gebildet, um die Richtung der Magnetisierung zu ermitteln; einen Impuls zum Umkehren der Richtung der Magnetisierung, sowie einen Impuls zum Prüfen der Richtung der Magnetisierung. Die Zahl der jedem Pit 2 entsprechenden Impulse ist nicht auf drei begrenzt, sondern kann mehr als drei betragen. Zum Beispiel können durch Verwendung eines gepulsten Lichtstrahles mit fünf Impulsen die folgenden Schritte während der Zeit, als der Lichtstrahl ein Pit 2 durchläuft, unternommen werden: i) Ermitteln der Richtung der Magnetisierung; ii) Umkehren der Richtung der Magnetisierung; iii) Prüfen der Richtung der Magnetisierung; iv) Umkehren der Richtung der Magbetiserung; v) Prüfen der Richtung der Magnetisierung. Wenn bei dieser Anordnung bei Schritt iii) entschieden wird, daß sich die Richtung der Magnetisierung in einem unerwarteten Zustand befindet, kann die Richtung der Magnetisierung durch Umkehren der Richtung der Magnetisierung in dem nächsten Schritt iv) geändert werden.
Bei der Verwendung des vorgenannten Treibersystems für den optischen Aufzeichnungsträger, der einen in jeder Aufzeichnungseinheit in einem nicht durchgehenden Zustand gebildeten Informationsaufzeichnungsbereich umfaßt, wird die Temperatur des nicht durchgehenden Bereiches, bei geringer Änderung in der Temperaturverteilung daselbst, auch dann erhöht werden, wenn ein Laserstrahl auf die Aufzeichnungsschicht abgestrahlt wird, dessen Mittelpunkt mehr oder weniger vom Zentrum des nicht durchgehenden Bereichs abkommt, wenn Information in diesem Bereich (bei dieser Ausführung die Aufzeichnungsschicht 3 auf dem Pit 2) aufgezeichnet wird. Da sich die Wärme in anderen Bereichen als dem nicht durchgehenden Bereich leicht verteilt, zeigt sich ein großer Unterschied zwischen den Temperaturen der zwei Bereiche. Dadurch wird die Richtung der Magnetisierung nur in dem nicht durchgehenden Bereich umgkehrt, und die Umkehr tritt außerhalb des nicht durchgehenden Bereiches nicht auf. Dadurch können Probleme, wie das Auftreten von übersprechen, überwunden werden.
Der magnetooptische Aufzeichnungsträger 4 besitzt nicht durchgehende Informationsaufzeichnungsbereiche, von denen jeder eine Aufzeichnungsschicht 3 besitzt und durch das Niveau der Pits, das sich von den anderen Bereichen unterscheidet, abgegrenzt wird. Fig. 6 zeigt die gesamte Pitanordnung des magnetooptischen Aufzeichnungsträgers 4. Dieser magnetooptische Aufzeichnungsträger 4 umfaßt nicht nur die oben beschriebenen Pits, die in den Aufzeichnungseinheiten (d.h. den Aufzeichnungspits) angeordnet sind, sondern auch eine Vielzahl von Pits (d.h. Abtastpits), die Information liefern, aus der die Stellen der Aufzeichnungseinheiten gewonnen werden können. Jedes Abtastpit ist nächst nach der Folge von Aufzeichnungspits angeordnet und umfaßt ein oder eine Mehrzahl von Referenzpits und ein geneigtes Pit. Der Abstand zwischen dem Referenzpit und dem geneigten Pit (eindeutiger Abstand) unterscheidet sich von dem Abstand zwischen den angrenzenden Aufzeichnungspits. Die Abtastpits sind in dem magnetooptischen Träger 4 in Intervallen mit gleichem Abstand angeordnet.
Die folgende Beschreibung wird die in fig. 6 gezeigten Abtastpits mit Verweis auf Fig. 10 und 11 erörtern.
Wie Fig. 10 zeigt, umfaßt der magnetooptische Aufzeichnungsträger darauf eine Mehrzahl von Aufzeichnungspits (Datenpits) 2, die entlang der Mitte der Spur, angedeutet durch Pfeil B, gebildet sind, und ein Referenzpit 30, das im wesentlichen rund ist und in der Mitte der Spur zwischen die Aufzeichnungspits 2 eingefügt ist. Dieses Referenzpit wird als ein Teil der zwei Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte benutzt.
Ein langes geneigtes Pit 31, das als der andere Nachführfehler-Ermittlungsabschnitt dient, ist in einem vorbestimmten Abstand von dem Referenzpit 30 in der Zugriffsrichtung des Lichtstrahles, die die Spurrichtung ist, angeordnet. Das geneigte Pit 31 ist in der Form einer Rille angeordnet, die um den Winkel θ in bezug auf die Zugriffsrichtung des Lichtstrahles (d.h. die Spurrichtung) geneigt ist. Das geneigte Pit 31 erstreckt sich in der Richtung senkrecht zu der Spurrichtung, wobei die Mitte der Spur durch den Pfeil B als ein Zentrum angezeigt wird.
Wenn bei der oben beschriebenen Anordnung der Lichtstrahl von der Leseinrichtung (später beschrieben) entlang der Richtung des Pfeils B auf die Mitte der Spur zugreift, wird die Zeitverzögerung zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals an dem Referenzpit 30 und der Erzeugung eines Auslesesignals an dem geneigten Pit 31 to, wie In Fig. 11(b) gezeigt.
Wenn der Lichtstrahl entlang der mit Pfeil A bezeichneten Richtung zugreift, wobei diese Richtung um einen vorbestimmten Abstand von der Mittellinie der Spur senkrecht zur Spurrichtung versetzt ist, ist der Zeitpunkt, bei dem ein Auslesesignal von dem Referenzpit 30 erzeugt wird, der gleiche wie in dem Fall, wenn der Lichtstrahl auf die Mitte der Spur zugreift, wie in Fig. 11(a) gezeigt, aber der Zeitpunkt, bei dem ein Auslesesignal von dem geneigten Pit 31 erzeugt wird, ist später als bei dem oben erwähnten Fall. Als Folge davon wird die Zeitverzögerung t zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am Referenzpit 30 und der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 31 um Δt länger als die Zeitverzögerung t&sub0;.
Wenn der Lichtstrahl entlang der mit Pfeil C bezeichneten Richtung zugreift, wobei diese Richtung um den genannten vorbestimmten Abstand von der Mittellinie der Spur in der entgegengesetzten Richtung zu der von dem Pfeil A angezeigten Richtung versetzt ist, ist der Zeitpunkt, bei dem ein Auslesesignal von dem geneigten Pit 31 erzeugt wird, früher als in dem Fall, wenn wenn der Lichtstrahl auf die Mitte der Spur zugreift, und die Zeitverzögerung t' zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am Referenzpit 30 und der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 31 wird folglich um Δt kürzer als die Zeitverzögerung to.
Die Richtung, in der Lichtstrahl von der Mitte der Spur versetzt ist, kann erhalten werden, indem entschieden wird, ob die Zeitverzögerung zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am Referenzpit 30 und der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 31 länger oder kürzer ist als Zeitverzögerung to, mit anderen Worten, durch Ermitteln der Phasendifferenz zwischen den von dem Referenzpit 30 und dem geneigten Pit 31 erzeugten Auslesesignalen. Ebenso kann der Versetzungsbetrag des Lichtstrahls von der Spurmitte erhalten werden, indem man die Differenz zwischen der nach der Erzeugung eines Auslesesignals vom Referenzpit 30 bis zur Erzeugung eines Auslesesignals vom geneigten Pit 31 tatsächlich vergangenen Zeit und der Zeitverzögerung to ermittelt, die verursacht wird, wenn der Lichtstrahl auf die Spurmitte zugreift.
Nachfolgend wird die Leseeinrichtung zum Auslesen der Information von dem optischen Aufzeichnungsträger 4 beschrieben.
Bei der in Fig. 12 gezeigten Anordnung wird die Nachführfehlerermittlung wie folgt durchgeführt. Ein von einer Laserstrahlquelle (nicht gezeigt) emittierter Lichtstrahl wird durch einen Halbspiegel 55 und eine Objektivlinse 56 hindurch auf den Aufzeichnungsträger 4 abgestrahlt. Dann werden von dem Referenzpit 30 und dem geneigten Pit 31 (beide nicht gezeigt), die auf dem Aufzeichnungsträger 4 gebildet sind, reflektierte Lichtstrahlen nacheinander durch die Objektivlinse 56 und den Halbspiegel 55 hindurch auf den Photodetektor 57 zurückprojiziert. Danach werden von dem Photodetektor 57 Signale erzeugt, die jeweils den reflektierten Lichtstrahlen des Referenzpits 30 und des geneigten Pits 31 entsprechen, und nach dem Durchlaufen einer Impulsformungsschaltung 32 in einen Zeitverzögerungsdetektor 33 eingegeben. Dann wird gemäß einem Zeitsignal von einem Zeitsignalerzeuger 34 die Zeitverzögerung zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am Referenzpit 30 und der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 31 durch den Zeitverzögerungsdetektor 33 ermittelt, um dadurch ein Nachführfehler-Ermittlungssignal zu gewinnen.
Ein anderes Beispiel des Abtastpits wird nachfolgend mit Verweis auf Fig. 13 bis 16 erklärt.
Wie Fig. 13 zeigt, besitzt der magnetooptische Aufzeichnungsträger 4 darauf ein erstes Referenzpit 61 und ein geneigtes Pit 62 für einen der Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte. Dieser magnetooptische Aufzeichnungsträger besitzt auch ein zweites Referenzpit 63 für den anderen Nachführfehler-Ermittlungsabschnitt, das hinter dem geneigten Pit 62, gesehen in der Zugriffsrichtung des Lichtstrahles, angeordnet ist. Der Abstand zwischen dem zweiten Referenzpit 63 und dem geneigten Pit 62 ist gleich dem Abstand zwischen dem ersten Referenzpit 61 und dem geneigten Pit 62.
Bei Verwendung dieses Abtastpits erfolgt ein Vergleich zwischen der Zeitverzögerung zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am ersten Referenzpit 61 und der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 62 und der Zeitverzögerung zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 62 und der Erzeugung eines Auslesesignals am zweiten Referenzpit 63, um dadurch ein Nachführfehlersignal zu ermitteln.
Insbesondere wird, wenn der Lichtstrahl auf die Spurmitte, angedeutet durch Pfeil B, zugreift, die Zeitverzögerung t&sub1; zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am ersten Referenzpit 61 und der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 62 gleich der Zeitverzögerung t&sub2; zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 62 und der Erzeugung eines Auslesesignals am zweiten Referenzpit 63, wie in Fig. 14(b) gezeigt.
Im Gegensatz dazu wird, wenn der Lichtstrahl auf die Spur entlang der durch Pfeil A angedeuteten Richtung, die von der Spurmitte in senkrechter Richtung zur Spurrichtung versetzt ist, zugreift, die Zeitverzögerung t&sub1;' zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am ersten Referenzpit 61 und der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 62 länger als die Zeitverzögerung t&sub2;' zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 62 und der Erzeugung eines Auslesesignals am zweiten Referenzpit 63, wie in Fig. 14(a) gezeigt.
Wenn der Lichtstrahl auf die Spur entlang der durch Pfeil C angedeuteten Richtung, die von der Spurmitte in der entgegengesetzten Richtung zur Richtung von Pfeil A versetzt ist, zugreift, wird die Zeitverzögerung t&sub1;'' zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am ersten Referenzpit 61 und der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 62 kürzer als die Zeitverzögerung t&sub2;'' zwischen der Erzeugung eines Auslesesignals am geneigten Pit 62 und der Erzeugung eines Auslesesignals am zweiten Referenzpit 63, wie in Fig. 14(c) gezeigt.
Bei den vorangehenden Ausführungen werden ein oder eine Mehrzahl von Referenzpits und ein geneigtes Pit als Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte verwendet. Es ist aber auch möglich, anstelle der vorerwähnten Referenzpits 61 und 63 ein Paar geneigter Pits 64 und 65, wie in Fig. 15 gezeigt, zu verwenden. Diese beiden Pits 64 und 65 sind in bezug auf die durch den Pfeil D angedeutete Zugriffsrichtung des Lichtstrahles entgegengesetzt geneigt, und die Nachführfehlerermittlung kann gemäß der nach dem Erzeugen eines Auslesesignals vom geneigten Pit 64 bis zum Erzeugen eines Auslesesignals vom geneigten Pit 65 vergangenen Zeit durchgeführt werden.
Desgleichen können zwei geneigte Abschnitte 67a und 67b, wie in Fig. 16 gezeigt, als Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte auf einer Rille 67 der magnetooptischen Platte angeordnet werden, wobei diese Rllle Aufzeichnungsbits 66 (durch schraffierte Teile in Fig. 16 angedeutet) besitzt. Diese Abschnitte 67a und 67b sind entgegengesetzt genelgt, und die Nachführfehlerermittlung kann auf der Basis der Zeitverzögerung zwischen der Erzeugung der Signale der geneigten Abschnitte 67a und 67b durchgeführt werden.
Die folgende Beschreibung wird den geeigneten Neigungswinkel des geneigten Pits bzw. der Rille zur Zugriffsrichtung des Lichtstrahls erörtern, der durch Berechnung erhalten wird.
Fig. 17(b) zeigt eine Änderung in der Stärke des Lichtstrahls, der das in Fig. 17(a) gezeigte lange geneigte Pit 68 durchläuft, das eine Breite von 0.6 um und eine Tiefe von 100 nm besitzt und um 45º zur Zugriffsrichtung des Lichtstrahles, d.h. zur Spurrichtung, geneigt ist. Die obigen Stärken wurden durch Berechnung gewonnen. In Fig. 17(b) zeigt die Kurve I zeigt eine Änderung in der Stärke des Lichtstrahles, der durch die Mitte der Spur entlang der Richtung des Pfeils E von 17(a) läuft; Kurve II zeigt eine Änderung in der Stärke des Lichtstrahles, der entlang der von der Spurmitte in senkrechter Richtung um 0.25 um versetzten Richtung des Pfeils F läuft, und Kurve III zeigt eine Änderung in der Stärke des Lichtstrahles, der entlang der von der Spurmitte in gleicher Richtung wie Pfeil E um 0.5 um versetzten Richtung des Pfeils G läuft. Die in der Ordinate aufgetragene Leuchtkraft ist ein relativer Wert.
Aus Fig. 17(b) ist ersichtlich, daß der Abstand zwischen dem Scheitelpunkt der Kraft in Kurve III und dem Scheitelpunkt der Kraft in in Kurve I 0.5 um beträgt. Das Verhältnis des Versetzungsbetrages des Lichtsrahles senkrecht zur Spur, Δx, zum Versetzungsbetrag des Scheitelpunkts der Kraft, Δy, ist 1 : 1. Im allgemeinen wird, wenn das geneigte Pit 68 um einen Winkel θ zur Spur geneigt ist, die folgende Formel erhalten:
Δy / Δx = cos θ / sin θ
Da Δy / Δx der Nachweisempfindlichkeit des Nachführfehlers proportional ist, nimmt die Empfindlichkeit mit abnehmendem Winkel 6 zu.
Wenn der Winkel θ klein ist, unterscheiden sich die reproduzierten Wellenformen nicht von denen in Fig. 17(b) außer, daß sich die obigen Wellenformen in Richtung der Abszisse verbreitern. Die Zeitkonstante in einer Differenzierschaltung zur Ermittlung eines Scheitelwertes kann daher im Verhältnis cos θ / sin θ erhöht werden.
Wenn jedoch der Winkel θ übermäßig klein ist, wird das geneigte Pit 68 länger, was eine Verminderung des Datenbereichs zur Folge hat. Der Winkel θ hat deshalb eine Untergrenze.
Im allgemeinen liegt die Zahl der in einer Spurrunde der Platte gebildeten Pits zur Ermittlung eines Nachführfehlers im Bereich von 1,000 bis 2,000. Folglich sind bei einer Platte mit einem Durchmesser von ca. 90 mm oder 130 mm die Pits zur Ermittlung eines Nachführfehlers in Abständen von 80 um bis 150 um angeordnet. Angenommen, daß 10 Prozent der obigen Länge (d.h. 80 um bis 150 um) der Spur zum Ermitteln eines Nachführfehlers benutzt werden, beträgt die Länge des Pits (oder Rille) zur Nachführfehlerermittlung 8 um bis 15 um in der Spurrichtung. Wenn der Spurabstand auf 1.6 um festgelegt ist, beträgt folglich die untere Grenze des Winkels θ 11º bis 6.1º.
Wenn andererseits der Winkel θ groß ist, wird die Laufzeit des Lichtstrahles durch das Pit im allgemeinen auf die Größenordnung von 1 us abnehmen. In diesem Fall ist eine genaue Zeitmessung bis zu 1/20 us erforderlich, um einen Nachführfehler auf ein zwanzigstel des Spurabstandes zu begrenzen. Für den Winkel von 45º wird die Durchlaufzeit des Lichtstrahles durch das Pit etwa 50 ns betragen. Unter der Annahme, daß eine genaue Zeitmessung bis zu 10 ns praktisch durchführbar ist, beträgt der Winkel θ daher 81.9º. Folglich liegt der Neigungswinkel 8 des geneigten Pits 68 praktisch im Bereich von 6º bis 80º.
In dem vorangehenden Fall wird das geneigte Pit 68 für einen der Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte benutzt, aber die in Fig. 18(a) gezeigten Pit können anstelle des geneigten Pits 68 adaptiert werden. Das heißt, diese Pits, die für einen der Nachführfehler-Ermittlungsab schnitte benutzt werden, sind so ausgelegt, daß ein Pit 70 mit einem Durchmesser von 0.6 um und einer Tiefe von 100 nm in der Mitte der Spur plaziert wird und ein Pit 71 mit dem gleichen Durchmesser und gleicher Tiefe wie das Pit 70 im Abstand von 0.5 um von dem Pit 70 sowohl in der Spurrichtung als auch in einer Richtung senkrecht zur Spur plaziert wird, so daß die Linie zwischen den Mitten der Pits 70 und 71 mit der Spur einen Winkel von 45 bildet. Ein weiteres Pit (nicht gezeigt) mit dem gleichen Durchmesser und der gleichen Tiefe wie die obigen beiden Pits 70 und 71 ist symmetrisch zu dem Pit 71 angeordnet, so daß das Pit 71 einen Abstand von 0.5 um von diesem Pit sowohl in der Spurrichtung als auch in einer Richtung senkrecht zur Spur besitzt und die Linie zwischen den Mitten des Pits 71 und dieses Pits mit der Spur einen Winkel von 45º bildet. Durch Berechnung ist erwiesen, daß die obigen drei Pits die gleiche Wirkung zeigen, wie sie bei Verwendung des geneigten Pits 68 erhalten wird.
Die Kurven I, II und III von Fig. 18(b) zeigen jeweils i) eine Änderung in der Stärke des Lichtstrahles, der durch die Mitte der Spur entlang der Richtung des Pfeils E von 18(a) läuft; 11) eine Änderung in der Stärke des Lichtstrahles, der entlang der von der Spurmitte in senkrechter Richtung um 0.25 um versetzten Richtung des Pfeils F läuft, und iii) eine Änderung in der Stärke des Lichtstrahles, der entlang der von der Spurmitte in gleicher Richtung wie Pfeil E um 0.5 um versetzten Richtung des Pfeils G läuft. In diesen Fall wurden Wellenformen der Lichtstärken erhalten, die denen in Fig. 17(b) ähnlich sind.
Anstelle der Pits 70 und 71 und des weiteren Pits (nicht gezeigt) können die in Fig. 19(a) gezeigten Bits 72, 73 und ein weiteres Bit (nicht gezeigt) für einen der Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte bei einer optischen Platte eines Phasenübergangstyps benutzt werden, wobei die Menge des reflektierten Lichts abhängend von Teilen variiert. Das Bit 72 ist in der Mitte der Spur angeordnet, so daß die Linie zwischen den Mitten der Bits 72 und 73 mit der Spur einen Winkel von 45º bildet.
Wie in Fig. 19(b) gezeigt, werden Wellenformen der Lichtstärken erhalten, die denen bei Verwendung der Pits 70, 71 und des weiteren Pits (nicht gezeigt) ähnlich sind. Bei der vorgenannten optischen Platte des Phasenübergangstyps wird die Reflexionsrate in den Bits 72, 73 und dem weiteren Bit (nicht gezeigt) auf "0" gesetzt, und die Reflexionsrate in anderen Teilen als diesen Bitbereichen wird auf "1" gesetzt. Bei der auf die obigen Fälle angewandten Berechnung, deren Ergebnisse in Fig. 17(b), 18(b) und 19(b) dargestellt sind, beträgt die Wellenlänge l des Lichstrahles 780 nm, die numerische Apertur NA = 0.53 und der Strahldurchmesser 1.3 um (der Strahldurchmesser wird in dem Bereich gemessen, wo die Leuchtstärke 1/e² der Stärke im Zentrum des Lichstrahles beträgt).
Die folgende Beschreibung wird die Hilfsmuster für die Ermittlung der Positionen der auf dem optischen Aufzeichnungsträger 4 angeordneten Nachführfehler-Ermittlungsabschnitte erörtern, die aus den oben beschriebenen Referenzpits und dem geneigten Pit oder aus den in der Rille gebildeten geneigten Teilen bestehen.
Das Referenzpit 30 befindet sich in einem vorbestimmten Abstand (bezeichnet als eindeutiger Abstand) von dem geneigten Pit 31, so daß die Zeit, die vergeht, bis der Lichtstrahl nach Durchlaufen des Referenzpits 30 das geneigte Pit 31 erreicht, fixiert werden kann. Das heißt, da sich der magnetooptische Aufzeichnungsträger 4 mit einer gleichmäßigen Geschwindigkeit dreht (CAV), wird der physikalische Abstand zwischen dem Referenzpit 30 und dem geneigten Pit 31 in Richtung auf die Plattenmitte schmaler.
Als nächstes werden die Muster für das Abtastpit erklärt, das bei dem abtastenden Servoverfahren zur Ermittlung eines Nachführfehelrs verwendet wird. Im allgemeinen wird die Vier-zu-Fünfzehn-Modulation benutzt, um die Aufzeichnungsdatenmodulation auszuführen. Diese Modulation wird verwendet, um einen 1-Byte-(8 Bits) Code in einen 15-Kanal Bitcode zu verändern. Bei dieser Modulation ist das 15. Bit immer "0", und die übrigen 14 Kanalbits werden in zwei Gruppen geteilt, d.h. geradzahlige Bits und ungeradzahlige Bits. Die geradzahligen Bits und die ungeradzahligen Bits werden den vier linken Bits bzw. den vier rechten Bits zugewiesen. Bei sowohl den geradzahligen Bits als auch den ungeradzahligen Bits werden zwei Bits immer auf "1" und die verbleibenden fünf Bits auf "0" gesetzt.
Daher sind &sub7;C&sub2; = 7 × 6 ÷ 2 = 21 Muster in jeder Gruppe verfügbar, d.h., geradzahlige Bits und ungeradzahlige Bits, und 21 × 21 = 441 Muster sind nach der Modulation insgesamt verfügbar. Der ursprüngliche 8-Bit Code stellt 2&sup8; = 256 Muster zur Verfügung, so daß 441 - 256 = 185 Muster redundant sein werden. Aus den obigen redundanten Mustern werden spezifizierte Muster für die Hilfsmuster für das Abtastpit ausgewählt. Die Hilfsmuster für das Abtastpit können aus den redundanten Mustern bei der Verwendung anderer Modulationsverfahren als der oben beschriebenen Vier-zu-Fünfzehn-Modulation ausgewählt werden, da die von ihnen erhaltenen Muster immer die Zahl der von dem ursprünglichen Code erhaltenen Muster übersteigen.
Ein anderes Verfahren, um Hilfsmuster zu erhalten, wird nachstehend beschrieben.
Um die Muster nach der Modulation leicht auszulesen, ist die Modulation im allgemeinen nicht so eingerichtet, daß Muster wie "010101..." erzeugt werden, bei denen die Pits in kürzesten Intervallen ausgerichtet sind. Muster, in denen mehr als eine vorbestimmte Anzahl von "0"en oder "1"en in Folge vorhanden sind, werden ebenfalls vermieden.
Muster, in denen mehr als die vorbestimmte Anzahl von "0"en zwischen zwei "1"en in Folge vorhanden sind, z.B. "10000....01", können daher als Hilfsmuster für das Sample-Pit verwendet werden. Die vorgenannte festgelgte Anzahl von "0"en und "1"en bedeutet, daß eine bestimmte Anzahl von "0"en und "1"en in Folge vorhanden sein dürfen, wenn die Modulation normal durchgeführt wird.
Genauer gesagt, bei Verwendung der Vier-zu-Fünfzehn-Modulation sind Muster mit etwa 16 bis 19 "0"en in Folge für die Hilfsmuster geeignet. Bei Verwendung der Acht-zu-Zehn-Modulation, die einen 8-Bit Code in einen 10-Bit Code umsetzt, dürfen nicht mehr als vier "0"en oder "1"en in Folge vorhanden sein, so daß Muster mit fünf "0"en oder mehr zwischen "1"en für die Hilfsmuster geeignet sind. Desgleichen dürfen bei der Zwei-zu-Sieben-Modulation zwei bis sieben "0"en oder "1"en in Folge vorhanden sein, so daß Muster mit acht "0"en oder mehr zwischen "1"en als Hilfsmuster benutzt werden.
In der vorangehenden Beschreibung ist bereits erläutert worden, daß es für diese Erfindung notwendig ist, die Abstrahlung eines Laserstrahles so zu steuern, daß wenigstens drei davon erzeugte Impulse einem Aufzeichnungspit 2 des magnetooptischen Aufzeichnungsträgers 4 entsprechen (s. Fig. 8(a) und 8(b)). Wenn die Zahl der Impulse für eine Aufzeichnungseinheit auf fünf festgelegt ist, werden im übrigen fünf einem Aufzeichnungspit 2 entsprechende Impulse benötigt. Um die obige Anordnung zu verwirklichen, ist die folgende Steuerung erforderlich.
Fig. 20 zeigt ein Blockschaltbild zur Ausführung der obigen Steuerung.
Fig. 21 zeigt Wellenformen von Signalen, die in der Schaltung erzeugt werden.
In Fig. 20 stellt Bezugszeichen 4 den oben erwähnten optischen Aufzeichnungsträger dar, der durch einen Motor 40 mit einer gleichmäßigen Geschwindigkeit (CAV) gedreht wird. Bezugszeichen 41 stellt eine optische Abnehmereinrichtung dar, die das in Fig. 7 gezeigte optische System umfaßt. Die Ausgänge der in Fig. 7 gezeigten PIN-Photodioden 22 und 23 werden in einen Differenzverstärker 42 eingegeben, wo ein magnetooptisches Signal (HF-Signal) erzeugt wird. Die Ausgänge der PIN-Photodioden 22 und 23 werden ferner in einem Verstärker 43 addiert, um Pitinformation zu erzeugen. Durch Erfassen dieser Pitinformation wird von einem in Fig. 6 gezeigten ID-Pitabschnitt, wo Signale für Spuradressen gespeichert werden, ein ID-Signal erhalten. Mit dem Ermittlungsteil 44, der den eindeutigen Abstand (Zeitintervall) zwischen dem Referenzpit 30 und dem geneigten Pit 31 ermittelt, wird ein Nachführfehlersignal (RES) gewonnen, das angibt, nach welcher Seite der Lichtstrahl von der Spurmitte versetzt ist. Dieser Ermittlungsteil 44 umfaßt eine Impulsformungsschaltung 32, einen Zeitverzögerungsdetektor 33 und einen Zeitsignalerzeuger 34, wie in Fig. 7 gezeigt.
Fig. 21(a) zeigt die Wellenform eines Ausgangs a vom Verstärker 43, die die Positionen der Pits anzeigt. Ein in Fig. 20 gezeigter Referenzpit-Ermittlungsteil 45 ermittelt den Durchgang des in Fig. 6 gezeigten Referenzpits 30 an der bestrahlenden Station. Der Referenzpit-Ermittlungsteil 45 kann den Durchgang des Referenzpits im ersten Moment des Anlaufens des magnetooptischen Aufzeichnungsträgers 4 nicht erfassen, kann ihn aber erfassen, wenn einmal die Drehung begonnen worden ist. Das heißt, die Anwesenheit des Abtastpits kann durch Ermitteln seines eindeutigen Abstandes erfaßt werden, so daß es möglich ist, die Ankunftszeit des Referenzpits des nächsten Abtastpits an der bestrahlenden Station zu schätzen. Von der Pitermittlung kann bei der geschätzten Zeit das Referenzpit 30 ermittelt werden. Fig. 21(b) zeigt die Wellenform eines Ausgangs b des Referenzpit-Ermittlungsteils 45. Der Zähler 47 beginnt synchron mit der abfallenden Flanke des obigen Ausgangsimpulses Impulse von einem Oszillator 46 zu zählen. Der Zähler 47 ist vorgesehen, einen einzigen Impuls zu erzeugen, wenn er bis zu einer vorbestimmten Zahl gezählt hat. Fig. 21(c) zeigt die Wellenform eines Ausgangs c des Zählers 47. Die Zeit, die vergeht, bis der Zähler 47 bis zu einer bestimmten Zahl gezählt hat, entspricht der abgelaufenen Zeit bis der Lichtstrahl nach dem Durchlaufen eines Referenzpits 30 gerade vor ein erstes Pit kommt, das unmittelbar dem nächsten geneigten Pit 31 folgt.
Der Ausgang c des Zählers 47 wird einer zentralen Verarbeitungseinheit (CPU) 50 übermittelt, die synchron mit der abfallenden Flanke des Impulses des Ausgangs c ein Aufzeichnungsinformationssignal d abgibt. Das Aufzeichnungsinformationssignal d ist in Fig. 21(d) dargestellt. Das Aufzeichnungsinformationssignal d und die Impulse von dem Oszillator 46 werden einer Leistungssteuereinheit 48 übermittelt. Bei Empfang des obigen Signals und der Impulse erzeugt die Leistungssteuereinheit 48 ein Signal, von dem drei Impulse einem Aufzeichnungsbit entsprechen (der Aufzeichnungsimpuls ist mit dem Takt der Impulse aus dem Oszillator 46 synchronisiert). Wie in Fig. 9(b) gezeigt, besitzt nur der mittlere von drei Impulsen zum Zeitpunkt der Aufzeichnung einen hohen Pegel. Ein Ausgang e der Leistungssteuereinheit 48 wird einer Halbleiterlaser-Treiberschaltung 4g übermittelt, und der in der Abnehmereinrichtung 41 angeordnete Halbleiterlaser wird dem Ausgang der Halbleiterlaser-Treiberschaltung 49 entsprechend angesteuert.
Bei Verwendung einer Schaltung mit dem obigen Aufbau kann der Laserstrahl genau auf das Aufzeichnungspit 2, welches das erste Pit ist, das unmittelbar folgt, nachdem der Laserstrahl die Sample-Pits 30 und 31 durchlaufen hat, abgestrahlt werden. Sobald der Laserstrahl korrekt auf das obige, zuerst kommende Pit 2 abgestrahlt werden kann, wird die Positionierung eines Strahlpunktes hinsichtlich der aufeinanderfolgenden Aufzeichnungspits 2 automatisch ausgeführt, da das Zeitintervall zwischen den zwei Aufzeichnungspits 2 festgelegt ist. Die oben beschriebene Signalverarbeitung macht es möglich, Signale zu steuern, so daß jedem Aufzeichnungspit 2 drei Impulse entsprechen.
Während in der vorangegangenen Beschreibung die Verarbeiting von Aufzeichnungssignalen erklärt worden ist, kann die gleiche Verarbeitung auf die Rückgewinnung der Information angewandt werden.

Claims

1. Optischer Aufzeichnungsträger umfassend eine auf einem Träger (1) gebildete Aufzeichnungsschicht (3), in der Daten entlang einer Spur aufgezeichnet werden können, Abtastmarkengruppen, die entlang der Spur in Intervallen mit festgelegtem Abstand angeordnet sind, um Information über die Datenaufzeichnungsstellen (2) der Spur und Information über den Nachführfehler zu liefern, wobei jede der Abtastmarkengruppen optisch erfaßbare Abtastmarken umfaßt, dadurch gekennzeichnet, daß jede Abtastmarkengruppe wenigstens zwei Abtastmarken (30,31) umfaßt, die auf der Spurmittellinie zentriert und längs derselben beabstandet und so angeordnet sind, daß der Abstand zwischen den jeweiligen Mitten aneinandergrenzender Abtastmarken in der Spurrichtung von der Größe und der Richtung der Abweichung von der Spurmittellinie abhängt, um die Nachführfehlerinformation zu liefern.

2. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 1, bei dem die Abtastmarkengruppe eine erste Abtastmarke (30), die in bezug auf die Spurmittellinie symmetrisch ist, und eine zweite Abtastmarke (31) umfaßt, die in bezug auf die Spurmittellinie unsymmetrisch ist.

3. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 2, bei dem die zweite Abtastmarke (31) länglich und in bezug auf die Spurmittellinie geneigt ist.

4. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 2 oder 3, bei dem die Abtastmarkengruppe eine dritte Abtastmarke (63) umfaßt, die in bezug auf die Spurmittellinie symmetrisch ist, wobei die zweite Abtastmarke (62) zwischen der ersten und der dritten Abtastmarke (61,63) angeordnet ist, und wobei der Abstand längs der Spurmittellinie zwischen der ersten und der zweiten Abtastmarke (61,62) längs der Spurmittellinie gleich dem Abstand zwischen der zweiten und der dritten Abtastmarke (62,63) ist.

5. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 1, bei dem die Abtastmarkengruppe eine erste und zweite Abtastmarke (64,65) umfaßt, die jeweils in bezug auf die Spurmittellinie unsymmetrisch sind.

6. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 5, bei dem die erste und zweite Abtastmarke (64,65) länglich und in bezug auf die Spurmittellinie unter jeweiligen Winkeln von gleicher Größe und entgegengesetztem Vorzeichen geneigt sind.

7. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 3 oder 6, bei dem der Neigungswinkel der oder jeder länglichen Abtastmarke (31;62;64;65;68) in bezug auf die Spurmittelinie im Bereich von 6 bis 80 liegt.

8. Optischer Aufzeichnungsträger nach einem der Ansprüche 2 bis 4 oder Anspruch 7 in Verbindung mit Anspruch 3, bei dem jede symmetrische Abtastmarke (30;61,63) eine im wesentlichen runde Form besitzt.

9. Optischer Aufzeichnungsträger nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem jede Abtastmarke ein in dem Träger gebildetes Abtastpit umfaßt.

10. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 9, bei dem die Aufzeichnungsschicht (3) magnetooptisches Material umfaßt.

11. Optischer Aufzeichnungsträger nach einem der vorangehenden Ansprüche, bei dem jede der Datenaufzeichnungsstellen eine Folge von Aufzeichnungseinheiten (2) umfaßt, wobei jede Aufzeichnungseinheit einen jeweiligen einzelnen Teil der Aufzeichnungsschicht (3) umfaßt, wobei die Einheiten (2) dieser Folge längs der Spur zwischen den angrenzenden Abtastmarkengruppen gleichmäßig beabstandet sind, wobei der Abstand der Aufzeichnungseinheiten dieser Folge sich von dem Abstand der Abastmarken der Abastmarkengruppe unterscheidet.

12. Optischer Aufzeichnungsträger umfassend eine auf einem Träger (1) gebildete Aufzeichnungsschicht (3), wobei die Aufzeichnungsschicht (3) eine Vielzahl von Aufzeichnungseinheiten (2) umfaßt, die je einen jeweiligen einzelnen Teil der Aufzeichnungsschicht (3) umfassen, dadurch gekennzeichnet, daß die Aufzeichnungsschicht (3) magnetooptisches Material umfaßt.

13. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 11 oder 12, bei dem jede der Aufzeichnungseinheiten (2) eine Barriere umfaßt, die verhindert, daß durch einen auf einen Bitbereich der Aufzeichnungsschicht (3), in dem Information aufzuzeichnen ist, abgestrahlten Strahlpunkt erzeugte Wärme außerhalb des Bitbereiches übertragen wird.

14. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 13, bei dem diese Barriere die Wand eines in dem Träger (1) gebildeten Aufzeichnungspits (2) umfaßt.

15. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 11 oder 12, bei dem jede der Aufzeichnungseinhelten ein in dem Träger (1) gebildetes Aufzeichnungspit (2) umfaßt, wobei der einzelne Teil (3) der Aufzeichnungsschicht an der Bodenoberfläche des Aufzeichnungspits gebildet ist, wobei das Aufzeichnungspit eine Tiefe besitzt, die die Dicke der Aufzeichnungsschicht überschreitet, und die Aufzeichnungsschicht (3) auch in den pitfreien Bereichen der Trägeroberfläche gebildet ist.

16. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 15, bei dem die Aufzeichnungspits (2) in Abständen von ca. 1 um angeordnet sind und jedes einen Durchmesser von ca. 1 um besitzt.

17. Optischer Aufzeichnungsträger nach einem der Ansprüche 11 bis 16, bei dem die Aufzeichnungsschicht (3) eine Magnetschicht mit vertikaler magnetischer Anisotropie umfaßt.

18. Optischer Aufzeichnungsträger nach einem der Ansprüche 11 bis 16, bei dem die Aufzeichnungsschicht (3) eine mehrlagige Struktur auf dem Träger (1) aufweist, die umfaßt:

eine erste Stickstoff-Verbundschicht (5);

eine Magnetschicht mit vertikaler magnetischer Anisotropie (6);

eine zweite Stickstoff-Verbundschicht (7), und

eine reflektierende Schicht (8).

19. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 18, bei dem die erste und zweite Stickstoff-Verbundschicht (5,7) jeweils SiN umfaßt, die Magnetschicht (6) GdTbFe, TbFeCo oder GdNdFe umfaßt und die reflektierende Schicht (8) Al, Ta oder Ti umfaßt.

20. Optischer Aufzeichnungsträger nach Anspruch 18 oder 19, beide in Verbindung mit Anspruch 15, bei dem die Magnetschicht (6) eine Dicke im Bereich von 15 nm bis 30 nm (150 Å bis 300 Å) besitzt und die Aufzeichnungspits (2) eine Tiefe von wenigstens 30 nm (300 Å) aufweisen.