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HINTERGRUND DER ERFINDUNG
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Diese
Erfindung betrifft im Allgemeinen Empfänger für optische Signale. Diese Erfindung
betrifft insbesondere ein Verfahren zum Minimieren des Schwunds
eines Polarisierungssignals in einem optischen Empfänger, der
in einem faseroptischen interferometrischen Sensorsystem enthalten
ist. Noch spezieller betrifft diese Erfindung einen Maskenauswahlalgorithmus
für einen
Dreizellen-Polarisationsdiversitätsdetektor,
der die Wahrscheinlichkeit erhöht, das
Maskenelement mit dem größten Signal
für einen gegebenen
Eingang auszuwählen.
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Nicht übereinstimmende
faseroptische Interferometer werden gewöhnlich als Sensorelemente in faseroptischen
Sensoranordnungen zum Messen von Änderungen in einem Parameter
wie Flüssigkeitsdruck,
Beschleunigung, Magnetfeldintensität usw. verwendet. Derartige
Sensorelemente messen die zeitvariante Phasenverzögerung zwischen
optischen Signalen, die sich über
getrennte optische Wege mit ungleicher Weglänge fortgepflanzt haben.
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Mischen
zwischen einem Referenzsignal und einem Datensignal ist oft erforderlich,
um Informationen von einem optischen Träger zu extrahieren. Beim interferometrischen
Messen erfolgt das Mischen gewöhnlich
zwischen einem Referenzsignal und einem Signal, dessen Phase durch
den Parameter, der gemessen wird, modifiziert oder moduliert wurde.
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Gewöhnlich wird
Modulation verwendet, um Informationen von einer Informationsquelle
wie einem Sensorsystem, wo Informationen erfasst werden, zu einem
Informationsziel wie einem Empfänger,
wo erfasste Signale empfangen und verarbeitet werden, zu übertragen.
Nach konventionellen Modulationstechniken moduliert ein interessierendes
Signal, das von einem Sensor erfasst wurde, eine oder mehr Charakteristiken
des Trägersignals
wie Amplitude, Frequenz oder Phase, um ein moduliertes Trägersignal
zu bilden. Das modulierte Trägersignal
wird dann einfacher über
die entsprechenden Kommunikationskanäle zum Ziel oder Empfängersystem übertragen,
wo das modulierte Trägersignal
dann demoduliert wird, um das interessierende Signal zurückzuerlangen
und die Information zu bestimmen.
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Die
faseroptischen Sensoren erfassen oder detektieren Signale, die die
Ausgangsphase des Sensorsystems oder Interferometers modulieren. Der
modulierte Träger
kann dann zu einem Empfängersystem übertragen
und fotodetektiert werden. In einem System, das eine Anordnung von
Sensoren aufweist, werden die Signale oft unter Verwendung von beispielsweise
Zeitmultiplexing (TDM) und/oder Wellenlängenmultiplexing (WDM) sowie
Frequenzmultiplexing (FDM) gemultiplext.
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Faseroptische
Sensorsysteme erfassen in dem Demodulationsprozess eine Signalkomponente, die
proportional zum Sinus der Sensorphasenverschiebung ist, und eine
weitere Signalkomponente, die proportional zum Kosinus der Sensorphasenverschiebung
ist. Der Sinus der Sensorphasenverschiebung wird als der quadratische
Term, Q, bezeichnet, und der Kosinus der Sensorphasenverschiebung wird
als der phasengleiche Term, I, bezeichnet. Der Winkel der Phasenverschiebung
wird durch Berechnung des Verhältnisses
I/Q ermittelt, das der Arkustangens der Sensorphasenverschiebung
ist. Die Amplitude des Sinus- und Kosinusterms müssen durch ein Normalisierungsverfahren
gleich gesetzt werden, um die genaue Implementierung einer Arkustangensroutine
zur Bestimmung der Sensorphasenverschiebung zu gewährleisten.
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Eine
Art von Modulationstechnik, die in interferometrischen und anderen
Sensorsystemen implementiert ist, beinhaltet die Verwendung von
phasengenerierten Trägern.
Das zeitvariante Phasensignal (interessierende Signal) von jedem
Sensor moduliert die phasengenerierten Träger, um modulierte Träger zu bilden.
Sowohl die interessierenden Signale als auch die phasengenerierten
Träger
können
mathematisch als eine Bessel-Reihe von harmonisch verwandten Termen
dargestellt werden. Während
der Modulation moduliert die Bessel-Reihe der interessierenden Signale
die Bessel-Reihe der phasengenerierten Träger. Die Zahl der Terme in
der Bessel-Reihe der resultierenden modulierten Träger wird von
der Amplitude des gemessenen oder erfassten interessierenden Signals
abhängig
sein. Die harmonisch verwandten Terme in der Bessel-Reihe der modulierten
Träger
repräsentieren
sowohl das gemessene oder erfasste interessierende Signal als auch das
Trägersignal.
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Typische
faseroptische Sensorsysteme, die phasengenerierte Träger verwenden,
um ein erfasstes oder gemessenes Signal (interessierendes Signal)
zu einem Empfängersystem
zu übertragen,
haben ein Paar von Quadraturträgern
mit Frequenzen von entweder ωc und 2ωc oder 2ωc und 3ωc verwendet, wobei ωc die
phasengenerierte Trägerfrequenz ist.
In gemultiplexten Sensorsystemen muss die Sensorabtastfrequenz fs ausgewählt
werden, um zu gewährleisten,
dass Frequenzen größer als
fs/2 nicht in das interessierende Band unter
fs/2 rückgespiegelt werden.
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In
einigen Systemen ist der optische Signaleingang zum Interferometer
ein phasengenerierter Träger,
der durch Generierung von zeitabhängigen Variationen in der Frequenz
des optischen Signalausgangs durch einen Laser erzeugt wurde. Ein
phasengenerierter Träger
kann durch verschiedene Techniken erzeugt werden. Eine Technik beinhaltet Führung des
Ausgangs der Laserquelle durch einen externen Phasenmodulator und
Anlegen einer Sequenz von getrennten und eindeutigen linearen Sägezahnspannungen
an den linearen Phasenmodulator, um stufige Änderungen in der optischen
Frequenz zu erzeugen.
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Eine
andere Technik zur Erzeugung eines phasengenerierten Trägers verwendet
sinusförmige Phasenmodulation
des Quellensignals. Anstatt Signale abzutasten, die mit getrennten
optischen Frequenzen assoziiert sind, ist die Abtastung von Signalen
mit Integration über
Abschnitten einer Periode des phasengenerierten Trägers assoziiert.
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Eine
weitere Technik zur Erzeugung eines phasengenerierten Trägers beinhaltet
die Verwendung eines Direktdigitalsynthesizers (DDS), der einen
numerisch gesteuerten Oszillator (NCO) enthält. Insbesondere erzeugen Träger, die
gegenüber
der NCO-Phase um 180° phasenverschoben
sind, Sensorreaktionen mit entgegengesetztem Vorzeichen nach der
Demodulation, anders als diejenigen, die von Trägern erzeugt werden, die mit
der NCO-Phase in dem DDS phasengleich sind. Bei kohärenter Kombination
werden Sensorreaktionen mit entgegengesetzten Vorzeichen destruktiv
kombiniert, was in einer Dämpfung
des kombinierten Ausgangs und einer Reduktion des gesamten dynamischen
Bereichs des Systems resultiert.
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Ein
beträchtliches
Problem in Systemen, die den Empfang von optischen Signalen von
einer Lichtleitfaser anwenden, ist Signalschwund, der durch Änderungen
in der Polarisation der optischen Signale, die durch die Lichtleitfaser übertragen
werden, verursacht wird. Insbesondere können Phaseninformationen von
zwei oder mehr optischen Signalen, die sich durch eine faseroptische Übertragungsleitung
fortpflanzen, am Empfänger
verloren gehen, wenn die Polarisationen von zwei interessierenden
Signalen gekreuzt sind, was in keinem Detektorschwebungston resultiert.
Es ist daher erforderlich, einen Mechanismus zur Bearbeitung des
Signals vorzusehen, der einen ausreichend großen Detektorschwebungston für Signalverarbeitung
in allen Fällen
von Polarisationsausrichtungen ergibt.
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Polarisationsdiversitätsdetektoren
werden verwendet, um ein optisches Signal von zufälliger zeitvarianter
Polarisation zu erfassen und einen elektrischen Ausgang zu erzeugen,
der mit einer ausgewählten
Polarisationskomponente in dem optischen Signal korrespondiert.
US-Patent Nr. 5852507 , ausgestellt
am 22. Dezember 1998 an David B. Hall und übertragen an Litton Systems,
Inc., Rechtsnachfolger der vorliegenden Erfindung, offenbart einen
Dreizellen-Polarisationsdiversitätsdetektor,
der mehrere Ausgangssignale von einem auftreffenden Strahl erzeugt,
der zwei orthogonale Polarisationskomponenten aufweist.
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US-Patent Nr. 5448058 , ausgestellt
am 5. September 1995 an Arab-Sadeghabadi und von Bierein und übertragen
an Litton Systems, Inc., Rechtsnachfolger der vorliegenden Erfindung,
offenbart einen Polarisationsdiversitätsdetektor, der eine Anordnung
von drei Polarisatoren enthält,
deren Polarisationsachsen um ausgewählte Winkel voneinander entfernt
angeordnet sind, so dass ein optisches Signal, das auf die Polarisatorenanordnung
auftrifft, eine Komponente entlang mindestens einer der Polarisationsachsen
hat. Eine Fotodetektoranordnung ist derart angeordnet, dass jeder
Fotodetektor Licht von einem ausgewählten einen der Polarisatoren
empfängt.
Mindestens einer der Fotodetektoren empfängt Polarisationskomponenten,
die ein elektrisches Signal bilden, das Interferenzen zwischen den
parallelen Polarisationskomponenten anzeigt.
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ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
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Diese
Erfindung betrifft einen Maskenauswahlalgorithmus für einen
Dreizellen-Polarisationsdiversitätsdetektor,
der die Wahrscheinlichkeit erhöht, das
Maskenelement mit der größten Wechselstromsignalamplitude
für einen
gegebenen Eingang auszuwählen.
Die Fähigkeit
zur Auswahl der Dreizellen-Maske mit dem größten Signal, das für einen
gegebenen Eingang vorhanden ist, maximiert die Signal-Rausch-Leistung
für das
System für
diesen bestimmten Eingang.
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Nach
einem ersten Aspekt wird ein Verfahren zum Auswählen einer Zelle aus einer
Fotodetektoranordnung bereitgestellt, wie in Anspruch 1 oder Anspruch
7 angeführt.
Die Fotodetektoranordnung, die zum Detektieren von optischen Signalen
dient, die von einer Vielzahl von Sensoren ausgegeben werden, die
angeordnet sind, um Interferenzen zwischen zwei optischen Signalen
unbekannter Polarisation anzuzeigen, die auf die Fotodetektoranordnung
auftreffen, umfasst die Schritte des Auswählen einer Zelle zum Prüfen und
Sammeln einer ausgewählten Zahl
von Muster des Signalausgangs für
jede ausgewählte
Zelle, wobei jedes Muster eine gleichphasige Komponente der Größenordnung
I und eine quadratische Komponente der Größenordnung Q hat. Das Verfahren
umfasst weiter den Schritt des Berechnen eines Amplitudensummenwerts
E = I·I
+ Q·Q
für eine vorbestimmte
Zahl von Muster in der ausgewählten Zahl
von Muster des Signalausgangs für
jede ausgewählte
Zelle. Das Verfahren enthält
Wiederholen der vorstehenden Schritte für jede zum Prüfen ausgewählte Zelle
und Auswählen
der Zelle, die den größten Amplitudensummenwert
hat.
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Das
Verfahren kann weiter den Schritt umfassen, den größten Amplitudensummenwert
zu prüfen,
um zu bestimmen, ob er für
Demodulation geeignet ist.
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Das
Verfahren kann weiter die Schritte umfassen, den größten Amplitudensummenwert
mit einer Referenzamplitude Aref zu vergleichen
und die Verstärkung
in dem Kanal beizubehalten, der die Zelle mit dem größten Amplitudensummensignal
enthält,
wenn das größte Amplitudensummensignal nicht
kleiner ist als die Referenzamplitude.
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Das
Verfahren kann weiter die Schritte umfassen, das größte Amplitudensummensignal
mit einem ausgewählten
minimalen Amplitudenwert Amin zu vergleichen,
wenn das größte Amplitudensummensignal
kleiner ist als die Referenzamplitude, und eine Verstärkungskorrektur
zu berechnen, wenn das größte Amplitudensummensignal
kleiner ist als die ausgewählte
minimale Amplitude.
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Das
Verfahren kann weiter den Schritt umfassen, die Verstärkung in
dem Kanal, der die Zelle mit dem größten Amplitudensummensignal
enthält, auf
Null zu setzen, wenn das größte Amplitudensummensignal
kleiner ist als die ausgewählte
minimale Amplitude.
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Ein
Verständnis
der Aufgaben der vorliegenden Erfindung und ein vollständigeres
Verständnis
ihrer Struktur und ihres Operationsverfahrens können durch Lesen der folgenden
Beschreibung der bevorzugten Ausführungsform und durch Bezugnahme
auf die beigefügten
Zeichnungen erlangt werden.
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KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
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1 zeigt
eine faseroptische Sensoranordnung;
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2 zeigt einen Polarisationsdiversitätsdetektor,
der in der Sensoranordnung von 1 enthalten
sein kann; und
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3A und 3B zeigen
Ablaufdiagramme eines Maskenauswahlalgorithmus nach der vorliegenden
Erfindung zum Auswählen
des besten Polarisationsmaske für
jeden Kanal in der faseroptischen Sensoranordnung von 1.
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AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
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Diese
Erfindung betrifft einen Signalverarbeitungsalgorithmus zum Verarbeiten
von Signalen, die von einem Sensor ausgegeben werden. 1 zeigt eine
faseroptische Mehrkanalarchitektur 10, mit der der Algorithmus
nach der vorliegenden Erfindung verwendet werden kann. Als Beispiel
zeigt 1 sechs Kanäle 11A–11F. 2 zeigt ein Beispiel eines Polarisationsdiversitätsdetektors 100,
der verwendet werden kann, um optische Signale zu erfassen, die
von jedem Kanal des faseroptischen Sensorsystems 10 ausgegeben
werden. Der Algorithmus nach der vorliegenden Erfindung kann mit
anderen Sensorarchitekturen (nicht dargestellt) und mit anderen
Polarisationsdiversitätsdetektoren
(nicht dargestellt) verwendet werden. Das besondere faseroptische
Sensorsystem 10 und der besondere Polarisationsdiversitätsdetektor 100 werden
hierin nur offenbart, um Beispiele derartiger Vorrichtungen bereitzustellen,
die mit der Erfindung verwendet werden können.
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Das
faseroptische Sensorsystem
10 wird vollständig in
US-Patent Nr. 6728165 offenbart,
ausgestellt am 27. April 2004 und übertragen an Litton Systems,
Rechtsnachfolger der gegenwärtigen
Erfindung. Das faseroptische Sensorsystem
10 wird außerdem vollständig in
US-Patent Nr. 6724319 offenbart,
ausgestellt am 20. April 2004 und übertragen an Litton Systems,
Inc. Das faseroptische Sensorsystem
10 enthält eine
Vielzahl von optischen Signalquellen
12–
17, die angeordnet
sind, um eine Vielzahl von korrespondierenden optischen Speiseleitungen
20–
25 vorzusehen.
Die optischen Speiseleitungen sind an einer optischen Anschlussschaltung
28 zusammengeschaltet.
Die optische Anschlussschaltung
28 ist mit einem Zuführungskabel
30 verbunden, das
mit einem Akustikanordnungskabel
32 verbunden ist. Das
Akustikanordnungskabel
32 enthält eine Vielzahl von Sensoren,
die sich in dieser beispielhaften Ausführungsform auf sechsundneunzig
belaufen und mit S1–S96
gekennzeichnet sind. Die optische Anschlussschaltung
28 bietet
außerdem
eine Verknüpfung
zwischen dem Zuführungskabel
30 und
einer Vielzahl (z. B. 16) Rücklauffasern
34–
49,
die angeordnet sind, um optische Signale zu korrespondierenden Dreizellen-Fotodetektoren
50–
65 bereitzustellen.
Die Ausgänge
der Dreizellen-Fotodetektoren
50–
65 sind elektrisch
mit einem Systemprozessor
68 verbunden.
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Die
optischen Signalquellen 12–17 enthalten einen
jeweiligen Laser 70–75 und
einen Phasenmodulator 76–81. Jeder der Laser 70–75 erzeugt
ein optisches Signal mit einer verschiedenen optischen Wellenlänge. Die
von den Lasern 70–75 erzeugten sechs
optischen Signale werden zu jeweiligen Phasenmodulatoren 76–81 geführt. Vorzugsweise
sind die Phasenmodulatoren 76–81 jeweils durch
eine verschiedene Modulationsfrequenz gekennzeichnet. Folglich erzeugen
die optischen Signalquellen 12–17 sechs optische
Signale, die jeweils verschiedene optische Wellenlängen aufweisen
und jeweils mit einer separaten Modulationsfrequenz moduliert sind.
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Die
Sensoren S1–S96
können
als Michelson-Interferometer (nicht dargestellt) oder Mach-Zehnder-Interferometer (nicht
dargestellt) gebildet sein, die Interferenzmuster als Reaktion auf Änderungen
in dem Parameter, der von der Sensoranordnung 10 überwacht
wird, erzeugen. Der Parameter kann beispielsweise akustischer Druck
oder seismische Vibrationen sein. Nach dem Stand der Technik gibt
es eine Vielfalt von Beispielen derartiger faseroptischer interferometrischer
Sensoren, die zur Überwachung
von physikalischen Parametern verwendet werden.
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Jeder
der Dreizellen-Fotodetektoren
56-65 kann gebildet werden,
wie in
2 dargestellt, die ein hocheffizientes
Polarisationsdiversitätsdetektorsystem
100 zeigt.
Das Polarisationsdiversitätsdetektorsystem
100 wird
vollständig
in
US-Patent Nr. 5852507 offenbart.
Das Polarisationsdiversitätsdetektorsystem
100 empfängt ein
optisches Signal von einer Einmodenlichtleitfaser
102,
die ein optisches Signal von einer geeigneten Quelle (nicht dargestellt),
die ein Laser sein kann, überträgt. Die
Lichtleitfaser
102 wird in einem Stützrohr oder einer Hülse
104 in
einer Weise, die im Fachgebiet gut bekannt ist, starr gehalten.
Das optische Signal tritt als ein Strahl aus dem proximalen Ende
der Lichtleitfaser
102 aus und tritt in eine Fokussierlinse
106 ein,
nachdem es eine optische Lücke
108 durchquert
hat. Die Linse
106 ist vorzugsweise eine Gradientendexlinse
der Ausführung,
die kommerziell von NSG America, Inc., Somerset, N.J. unter der
Handelsmarke „SELFOC" erhältlich ist,
oder ein Äquivalent.
Die Linse
106 fokussiert den optischen Strahl in einer
Weise, die nachstehend beschrieben wird. Die Lücke
108 kann aus jedem
Material, das für
die verwendete optische Wellenlänge
transparent ist, bestehen, einschließlich Luft. Vorzugsweise ist
die Lücke
108 anpassbar,
um zu gewährleisten,
dass der optische Strahl mit dem richtigen Divergenzbetrag in die
Linse
106 eintritt, um die gewünschte Brennweite der Linse
zu erzielen.
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Die
Linse 106 ist mechanisch und optisch an einen ersten Polarisationsstrahlenteiler 110 gekoppelt.
Der erste Strahlenteiler 110 umfasst ein erstes oder Eingangsprisma 112 (an
das die Linse 106 gekoppelt ist) und ein zweites oder Ausgangsprisma 114,
das an das Eingangsprisma 112 entlang einer beschichteten
optischen Grenzfläche 116 gekoppelt ist.
Die Prismen 112, 114 sind kommerziell erhältliche Teile
aus optischem Qualitätsglas,
vorzugsweise von der Ausführung,
die unter der Kennzeichnung „BK7" von Schott Glaswerke,
Mainz, Deutschland, vertrieben wird, oder ein Äquivalent.
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Die
Prismen 112 und 114 sind vorzugsweise rechtwinklige
Prismen. Die optische Grenzfläche
zwischen den Prismen 112 und 114 bildet einen
Winkel von 45° in
Bezug auf den auftreffenden optischen Strahl I, der von der Linse 106 in
den ersten Strahlenteiler 110 eintritt. Die Grenzfläche 116 ist
optisch beschichtet, um den auftreffenden Strahl I in zwei Strahlen,
die voneinander um 90° getrennt
sind, mit verschiedenen Verhältnissen
von p-Polarisation und s-Polarisation des optischen Signals zu teilen.
Für diese
Ausführungsform
ist die Beschichtung an der Grenzfläche 116 vorgesehen,
um eine fast ideale 100-%ige Transmission der p-polarisierten Komponente
des Signals und folglich eine fast ideale 0-%ige Reflexion der p-polarisierten
Komponente zu erreichen. Für
die s-polarisierte Komponente ist es wünschenswert, ungefähr eine
ideale Transmission von 33% und folglich ungefähr eine ideale Reflexion von 67%
zu erreichen. Damit enthält
der Anteil T des durch die Grenzfläche 116 durchgelassenen
optischen Signals ungefähr
100% seiner p-polarisierten Komponente und ungefähr 33% seiner s-polarisierten
Komponente. Der Anteil R des an der Grenzfläche 116 reflektierten
optischen Signals wird fast nichts seiner p-polarisierten Komponente und ungefähr 67% seiner
s-polarisierten Komponente enthalten.
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Die
spezifische Beschichtung, die erforderlich ist, um die vorher erwähnten Polarisationseigenschaften
der durchgelassenen und reflektierten Anteile des auftreffenden
Strahls zu erreichen, ist von der Wellenlänge des auftreffenden Strahls
abhängig. Wenn
beispielsweise eine nominelle Wellenlänge von 1320 nm eingesetzt
wird, sollte die Beschichtung eine Schichtung von einer viertel
Welle betragen, die drei Lagen von Stickstoffsilicid, jede etwa
221 nm dick, abwechselnd mit zwei Lagen von Siliciumdioxid, jede
etwa 330 nm dick, umfassen. Diese Materialien und Abmessungen werden
nicht die oben angeführten
idealen Transmissions- und Reflexionsverhältnisse erreichen, aber sie
werden ausreichend nahe Näherungen
erreichen, um brauchbare Ergebnisse zu erzielen. Die Bereitstellung
von spezifischen Beschichtungs-Zusammensetzungen und -Dicken, die für andere
Wellenlängen
von potenziellem Interesse geeignet sind, wird als gut im fachmännischen
Können
von Durchschnittsfachleuten in den relevanten Fachgebieten liegend
angesehen.
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Der
reflektierte Anteil R des auftreffenden Strahls I wird durch das
Eingangsprisma 112 in einem rechten Winkel zu dem durchgelassenen
Anteil in einen ersten Fotodetektor A geleitet. Der durchgelassene
Anteil T geht durch das Ausgangsprisma 114 in eine uniaxiale
Calcitkristallplatte 120, die mechanisch und optisch an
das Ausgangsprisma 114 gekoppelt ist, um den durchgelassenen
Strahlenanteil T dadurch zu empfangen. Die Calcitkristallplatte 120 funktioniert
als ein zweiter Polarisationsstrahlenteiler und stellt eine 45°-Drehung
der Polarisations-Eigenzustände
des durchgelassenen Strahlenanteils T um seine Fortpflanzungsachse
zwischen den beiden Strahlenteilern 110 und 120 bereit.
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Die
Calcitkristallplatte 120 verbreitet eine lineare Polarisation
des durchgelassenen Strahlenanteils T als einen ordentlichen Strahl
und die orthogonale Polarisation als einen außerordentlichen Strahl in einem
Winkel von etwa 6° zu
dem ordentlichen Strahl. Der ordentliche Strahl verlässt die
Calcitkristallplatte 120 als ein erster durchgelassener
Strahlenanteil T1, der in einen zweiten
Fotodetektor B eintritt, während
der außerordentliche
Strahl die Calcitkristallplatte 120 als ein zweiter durchgelassener Strahlenanteil
T2 verlässt,
der in einen dritten Fotodetektor C eintritt.
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Die
Fotodetektoren A, B und C erzeugen analoge elektrische Signale,
die die Intensität
(d. h. Wechselstromamplitude) der optischen Signale R, T1 bzw. T2 angeben.
Die von der Sensoranordnung ausgegebenen optischen Signale unterliegen
Signalschwund aufgrund von Änderungen
der Polarisation. Die analogen Signale werden digitalisiert, so
dass sie in den Systemprozessor 68 eingegeben werden können. Der
Systemprozessor 68 wählt
aus, welcher der Fotodetektoren A, B oder C das Signal erzeugt,
das verarbeitet werden wird, um den Sensorausgang zu bestimmen.
Das Ziel des Algorithmus ist, das stärkste Signal auszuwählen, das
Interferenzen zwischen optischen Signalen für jeden Kanal in der Sensoranordnung 10 repräsentiert.
Der Algorithmus nach der vorliegenden Erfindung verarbeitet jeden
Kanal bis zu einem bestimmten Punkt und entscheidet dann, welcher
für Signalverarbeitung
verwendet werden soll.
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Bezug
nehmend auf 3, umschließt der Algorithmus
nach der vorliegenden Erfindung einen Maskenauswahlalgorithmus mit
drei Masken innerhalb eines Entscheidungsalgorithmus. Eine innere Schleife 130 kontrolliert
sequentiell all drei Maskeneingänge
A, B, C für
jeden der sechs Sensorkanäle 11A-11F und
wählt die
Maske aus, die die größte Vektorgröße hat.
Eine äußere Schleife 132 akkumuliert
die Ergebnisse jedes einzelnen Durchlaufs und wählt die Maske basierend auf
einer Mehrheitsentscheidung für
die Zahl der Durchläufe
durch den Algorithmus aus.
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Nach
einem Startschritt 134 prüft der Algorithmus auf fünf Versuche 136.
Wenn fünf
Versuche nicht abgeschlossen wurden, prüft der Algorithmus dann, um
zu ermitteln, ob die Sensoren in jedem der vier Banken 138 von
Anordnungen 10 abgetastet wurden. Der Algorithmus fährt mit
einem Schritt 140 fort, der ermittelt, ob alle sechs Kanäle in jeder
Anordnung abgetastet wurden. Nachdem ein Schritt 142 ausgeführt wurde,
der den Kalibrierungskanal auf den aktuellen Signalkanal setzt,
fahrt der Algorithmus einen Schritt 146 aus, der die aktuelle
Dreizellenmaske auswählt.
Für jede
Maske A, B, C hat der Algorithmus den Verzögerungsschritt 146,
in dem er wartet, bis eine Zahl von Muster gesammelt wurde. Beispielsweise
kann jede Maske 1000 Mal abgetastet werden, um Werte der gleichphasigen
Komponente I und der quadratischen Komponente Q zu erhalten.
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Der
Anordnungsprozessor 68 akkumuliert 1000 Muster für jede Maske
und führt
dann einen Schritt 150 aus, in dem eine Amplitudensumme
E berechnet wird. Die Amplitudensumme E ist die Summe der Quadrate
der Wechselstromamplituden (I·I
+ Q·Q)
des Signalausgangs von jeder Maske für eine ausgewählte Zahl
von Mustern. Beispielsweise kann E die Summe von zehn aufeinanderfolgenden
Muster von I·I
+ Q·Q
für jede
Maske sein, wobei I das gleichphasige Signal und Q das quadratische
Signal ist, wie oben beschrieben. Nachdem für jede Maske die ausgewählte Zahl
von Muster genommen und der Betrag E berechnet wurde, wird der größte Wert
von E in einen Prüfprozess 152 eingegeben.
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Ein
Diagramm des Prüfprozesses 152 ist
in 3B dargestellt. Der Prüfprozess 152 beinhaltet die
Bestimmung, ob das Signal für
die ausgewählte Maske
(das die größte Wechselstromsignalamplitude hat)
eine Amplitude hat, die für
Demodulation geeignet ist. Wenn die Maskenamplitude ein Minimalkriterium
nicht erfüllt,
erhöht
der Systemprozessor 68 die Amplitude in dem betreffenden
Demodulatorkanal durch Anwenden einer Verstärkungserhöhung, die zu der Differenz
zwischen der gemessenen Wechselstromsignalamplitude der Maske und
einer festen Referenzamplitude proportional ist. Wenn die Maskenamplitude
unter einer absoluten Minimalreferenz fällt, setzt der Systemprozessor 68 die
Verstärkung
in dem betreffenden Demodulatorkanal auf Null, wodurch dieser bestimmte
Kanal effektiv ausgeschaltet wird. Der Grund dafür ist, einen „Screamer", das ist ein akustischer
Kanal mit sehr geringer Amplitude, zu vermeiden. Kanäle mit vernachlässigbarem
Ausgang erzeugen extrem große
Arkustangens-Ergebnisse, die,
wenn sie kohärent
mit den Ausgängen
von anderen Kanälen
kombiniert werden, die gesamte Signal-Rausch-Leistung des Systems
beträchtlich
verschlechtern.
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Der
Prüfprozess 152 hat
einen ersten Vergleichsschritt 154, der den ausgewählten Wert
von E mit einem ausgewählten
Referenzwert Aref vergleicht. Wenn E nicht
kleiner als Aref ist, wird ein Schritt 156 ausgeführt, der
den aktuellen Kanal beibehält,
und der Systemprozessor 68 kehrt zu der äußeren Schleife 132 zurück. Wenn
E kleiner als Aref ist, vergleicht ein zweiter
Vergleichsschritt 158 E mit einem minimalen akzeptablen
Wert Amin. Wenn E kleiner als der minimale
akzeptable Wert Arm ist, wird ein Schritt 160 ausgeführt, der
den Verstärkungswert
des aktuellen Kanals auf Null setzt. Wenn E nicht kleiner als der
minimale akzeptable Wert ist, berechnet ein Korrekturschritt 162 einen
Betrag G = (Aref – E)/Aref.
Ein Schritt 164, der die aktuelle Kanalverstärkung um
G% erhöht,
wird ausgeführt,
und dann kehrt der Systemprozessor 68 zur äußeren Schleife 132 zurück.
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Für die ausgewählte Dreizelle
prüft der
Algorithmus jede Maske einmal pro Kanal für sechs Kanäle und prüft dann jede von vier Banken
von sechs Kanälen
für jede
von fünf
Versuchen. Der Algorithmus vergleicht dann die Ergebnisse der fünf Versuche
von jedem der vierundzwanzig Kanäle.
Wenn ein Prüfschritt 166 drei
oder mehr Male angibt, dass die Maske A den größten Wert von E hat, wählt ein
Masken-Einstellschritt 168 für diesen Kanal den Fotodetektor
A als denjenigen aus, der das stärkste
Signal bereitstellt. Wenn ein Prüfschritt 170 drei
oder mehr Male angibt, dass die Maske B den größten Wert von E hat, wählt ein
Masken-Einstellschritt 172 für diesen Kanal den Fotodetektor
B als denjenigen aus, der das stärkste
Signal bereitstellt. Wenn ein Prüfschritt 174 drei
oder mehr Male angibt, dass die Maske C den größten Wert von E hat, wählt ein
Masken-Einstellschritt 176 für diesen Kanal den Fotodetektor
A als denjenigen aus, der das stärkste
Signal bereitstellt.
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Die äußere Schleife 132 hat
einen variablen Index, so dass die Arbeitszyklusnutzung des Prozessors
(Effizienz des Algorithmus) durch Genauigkeit des Algorithmus ausgeglichen
werden kann. Typische Prüfergebnisse
haben gezeigt, dass drei Durchgänge
ausreichend waren, um eine adäquate
Genauigkeit für
die meisten Anwendungen des Sensorsystems 10 zu gewährleisten.
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Die
hierin offenbarten Strukturen und Verfahren veranschaulichen die
Grundsätze
der vorliegenden Erfindung. Die Erfindung kann in anderen spezifischen
Formen ausgeführt
werden, ohne ihre grundlegenden Charakteristika zu verlassen. Die
beschriebenen Ausführungsformen
sind in jeglicher Hinsicht als beispielhaft und veranschaulichend
und nicht als einschränkend
anzusehen. Daher definieren die beigefügten Patentansprüche und
nicht die vorstehende Beschreibung den Rahmen der Erfindung. Alle
Abwandlungen an den hierin beschriebenen Ausführungsformen, die in die Bedeutung
und den Äquivalenzbereich
der Patentansprüche
fallen, sind im Rahmen der Erfindung enthalten.