DE516805C - Mikroskop mit Feineinstellung - Google Patents
Mikroskop mit FeineinstellungInfo
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Description
-
[0001] Mikroskop mit Feineinstellung Gegenstand der Erfindung ist ein Mikroskop, bei dem der tote Gang in der Feinstellungsvorrichtung und zwischen dieser und den optischenTeilen des Instrumentes unter Verwendung relativ einfacher technischer Mittel so weit beseitigt ist, daß er auch beim Gebrauch starker Objektive nicht wahrgenommen werden kann. Die bei bekannten Ausführungen oft vorhandenen Fehler ergeben sich hauptsächlich aus der in bezug auf den Schwerpunkt einseitigen Führung des die Optik tragenden Instrumententeils und der einseitigen Lage des Angriffspunktes der die Feineinstellung bewirkenden Vorrichtung. Der Erfindungsgegenstand weist diese Nachteile nicht auf, da hier die Führungen im wesentlichen symmetrisch zur Schwerehnie angeordnet sind und die Vorrichtung zur Feineinstellung möglichst genau unter dem Schwerpunkt angreift. Die richtige Lage des Schwerpunktes zwischen den Führungen kann leicht durch entsprechende Verteilung der Masse des zu verschiebenden Teiles, z. B. durch ein Gegengewicht, herbeigeführt werden. Wenn die Vorrichtung zur Feineinstellung an sich frei von totem Gang ist, also z. B. eine in axialer Richtung belastete Mikrometerschraube verwendet wird, erfolgt die Verschiebung der optischen Teile auch bei Umkehrung der Bewegungsrichtung ohne Spiel, weil Kippmomente nicht auftreten können. -
[0002] In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel dargestellt. Das Mikroskopstativ ist mit a bezeichnet. Mittels des Rändelkopfes b kann der im Stativ geführte Schlitten c grob verstellt werden. Am Schlitten c befinden sich die Führungen d (Abb. z) des Tubus e. In diesen Führungen wird der Tubus mittels der Mikrometerschraube f, die möglichst genau unter dem Schwerpunkt der Tubusanordnung angreift, verschoben.
Claims (1)
- PATrNTANSPRUCII: Mikroskop, bei dem sich die Objektive unter der Objektebene befinden und mittels einer unter dem Objektivträger angebrachten Mikrometerschraube in vorzugsweise senkrechter Richtung verstellbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß der Schwerpunkt des durch die Mikrometerschraube verstellbaren Instrumententeils zwischen den Führungen dieses Teiles liegt und die Mikrometerschraube unter dem Schwerpunkt angreift.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEB144226D DE516805C (de) | Mikroskop mit Feineinstellung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DEB144226D DE516805C (de) | Mikroskop mit Feineinstellung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE516805C true DE516805C (de) | 1931-01-28 |
Family
ID=7000743
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEB144226D Expired DE516805C (de) | Mikroskop mit Feineinstellung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE516805C (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE973656C (de) * | 1952-04-18 | 1960-04-21 | Leitz Ernst Gmbh | Mikroskop mit Feineinstellung des Objekttisches |
EP1418455A1 (de) * | 2001-07-26 | 2004-05-12 | Japan Science and Technology Corporation | Vertikal-feinbewegungsmechanismus eines mikroskops |
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- DE DEB144226D patent/DE516805C/de not_active Expired
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE973656C (de) * | 1952-04-18 | 1960-04-21 | Leitz Ernst Gmbh | Mikroskop mit Feineinstellung des Objekttisches |
EP1418455A1 (de) * | 2001-07-26 | 2004-05-12 | Japan Science and Technology Corporation | Vertikal-feinbewegungsmechanismus eines mikroskops |
EP1418455A4 (de) * | 2001-07-26 | 2005-07-27 | Japan Science & Tech Corp | Vertikal-feinbewegungsmechanismus eines mikroskops |
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