DE4440937A1 - Field source for testing electromagnetic compatibility testing, using passive magnetic field probe - Google Patents
Field source for testing electromagnetic compatibility testing, using passive magnetic field probeInfo
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Abstract
Description
Die Erfindung betrifft eine als Feldquelle arbeitende pas sive Magnetfeldsonde nach Patentanmeldung P 44 38 935.3, bei der mittels einer Verstellmöglichkeit die Intensität der von ihr abgegebenen pulsförmigen magnetischen bzw. elektrischen Felder im Nanosekundenbereich zur Nachbil dung von Burst- und ESD-Feldern verändert werden kann.The invention relates to a pas operating as a field source active magnetic field probe according to patent application P 44 38 935.3, the intensity by means of an adjustment the pulse-shaped magnetic or Electric fields in the nanosecond range for the afterimage of burst and ESD fields can be changed.
Die Intensität der abgegebenen Pulsfelder von E- und B- Feldsonden (Feldquellen), die über Kabel von einem Stör impulsgenerator gespeist werden, ist an den Sonden nach dem Stand der Technik nicht verstellbar. Die Verstellung der Intensität ermöglicht aber eine Anpassung der Pulsfel der an die Empfindlichkeit störsensibler Bereiche insbe sondere auf Leiterkarten. Eine genauere Identifizierung sensibler Leiterzüge und Bauelemente wird erst dadurch möglich.The intensity of the delivered pulse fields of E- and B- Field probes (field sources) over cables from a disturbance pulse generator is fed to the probes not adjustable to the state of the art. The adjustment the intensity allows an adjustment of the pulse field especially sensitive to sensitive areas especially on printed circuit boards. A more precise identification This is the only way to make sensitive conductor tracks and components possible.
Die Veränderung der Intensität erfolgt z. Z. durch Einstel lung der abgegebenen Störimpulsamplitude am Störimpulsge nerator.The change in intensity takes place e.g. Z. by setting development of the emitted interference pulse amplitude at the interference pulse nerator.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, die Intensität der von den Feldquellen abgegebenen Pulsfelder direkt an den über Kabel von einem Störimpulsgenerator gespeisten Sonden einstellbar zu machen.The object of the invention is therefore the intensity of pulse fields emitted by the field sources directly to the probes powered by cables from an interference pulse generator to make adjustable.
Zu diesem Zweck wird nach Anspruch 1 parallel in die Son denleitung ein verstellbarer Widerstand geschaltet, der über einen Abgriff von außen eingestellt werden kann. Über diesen verstellbaren Widerstand wird für die Induk tionsspule oder die Koppelplatten der Sonde eine Strom- bzw. Spannungsteilung erzeugt.For this purpose, according to claim 1 in parallel in the Son denleitung switched an adjustable resistor, the can be adjusted via a tap from the outside. This adjustable resistance is used for the induc tion coil or the coupling plates of the probe a current or voltage division generated.
Mit der Anordnung kann die Intensität eines durch eine Induktionsspule bzw. durch ein Plattenpaar erzeugten pulsförmigen B- bzw. E-Feldes variiert werden.With the arrangement, the intensity of one by one Induction coil or generated by a pair of plates pulsed B or E field can be varied.
Die im Hauptpatent beschriebenen, getrennt realisierten Lösungen zur B-Feldbündelung und Gleichtaktunterdrückung mittels Ferritelementen können erfindungsgemäß kombiniert werden. Dazu wird gemäß Anspruch 3 die Verbindungsleitung zwischen verstellbarem Widerstand und Induktionsspule durch ein Ferritelement geführt. Die Spule schließt sich dabei an das Ferritelement an und liegt mit dem Ferritelement auf einer gemeinsamen Längsachse.Those described in the main patent, implemented separately Solutions for B-field bundling and common mode suppression using ferrite elements can be combined according to the invention will. For this purpose, according to claim 3, the connecting line between adjustable resistor and induction coil led a ferrite element. The coil closes to the ferrite element and lies with the ferrite element on a common longitudinal axis.
Wird die Induktionsspule in Form einer Acht ausgebildet, können selektiv besonders empfindliche Leitungen, Pins von IC u. a. m. aufgespürt werden. Eine derartige Spule kann auf einen U-förmigen Kern aufgebracht werden.If the induction coil is shaped like an eight, can selectively sensitive cables, pins of IC u. a. m. to be tracked down. Such a coil can a U-shaped core can be applied.
Durch die Anwendung der Erfindung sind vereinfachte Stör impulsgeneratoren anwendbar, die ohne Verstellmöglichkeit der Impulsparameter ausgeführt sind.Through the application of the invention simplified sturgeon pulse generators can be used without adjustment the pulse parameters are executed.
Die Zusatzerfindung wird im folgenden anhand eines Ausfüh rungsbeispiels näher erläutert; in der zugehörigen Zeich nung zeigenThe additional invention is explained in the following on the basis of an embodiment Rungsbeispiel explained in more detail; in the associated drawing show
Fig. 1 die Schaltung zur Einstellung der Intensität der Feldquelle an der Sonde und Fig. 1 shows the circuit for adjusting the intensity of the field source on the probe and
Fig. 2 die zusätzliche Anordnung eines Ferritelements zur B-Feldbündelung und gleichzeitigen Gleichtaktunter drückung. Fig. 2 shows the additional arrangement of a ferrite element for B-field bundling and simultaneous common mode suppression.
Fig. 1 zeigt die Prinzipschaltung der Feldquelle zur Er zeugung pulsförmiger B- bzw. E-Felder. Fig. 1 shows the basic circuit of the field source for generating He pulse-shaped B or E fields.
Ein Störimpulsgenerator 2 ist über ein Verbindungskabel 32 mit der Sonde 1 verbunden. Im Gehäuse 31 der Sonde 1 inte griert ist die Induktionsspule 3 oder das Plattenpaar 4 sowie ein parallel in die Sondenleitung eingeschaltetes Potentiometer 30.An interference pulse generator 2 is connected to the probe 1 via a connecting cable 32 . Integrated in the housing 31 of the probe 1 is the induction coil 3 or the pair of plates 4 and a potentiometer 30 which is switched on in parallel in the probe line.
In Fig. 2 ist eine komplette Sonde 1 zur B-Felderzeugung dargestellt. Sie besitzt eine Intensitätsverstellmöglich keit in Form eines Potentiometers 30 kombiniert mit einem Ferritelement 14 zur B-Feldbündelung und gleichzeitigen Gleichtaktunterdrückung.In FIG. 2 a complete probe 1 is shown for the B-field generation. It has an intensity adjustment possibility in the form of a potentiometer 30 combined with a ferrite element 14 for B-field bundling and simultaneous common-mode suppression.
Von einem Störimpulsgenerator 2 wird pulsförmiger Stör strom über ein Verbindungskabel 32 in die Sonde 1 einge speist. Am Eingang der Sonde befindet sich ein parallel liegender Widerstand 30 (Potentiometer). Der über einen Einstellknopf verstellbare Schleifer des Potentiometers greift eine Teilspannung bzw. einen Teilstrom für die Induktionsspule 3 ab.From an interference pulse generator 2 , pulse-shaped interference current is fed via a connecting cable 32 into the probe 1 . A parallel resistor 30 (potentiometer) is located at the input of the probe. The wiper of the potentiometer, which is adjustable via an adjusting knob, taps off a partial voltage or partial current for the induction coil 3 .
Die Verbindungsleitung zwischen Potentiometer 30 und Induktionsspule 3 ist durch ein Ferritelement 14 geführt. Es dient der Gleichtaktunterdrückung und bei der in Fig. 2 dargestellten Spulenanordnung der Feldbündelung.The connecting line between potentiometer 30 and induction coil 3 is guided through a ferrite element 14 . It is used for common mode suppression and, in the case of the coil arrangement shown in FIG. 2, for field bundling.
Die Verbindung zwischen Sonde 1 und Einstellregler 30 sowie zwischen Einstellregler und Verbindungskabel 32 kann dabei über Steckverbinder erfolgen.The connection between probe 1 and setting controller 30 and between setting controller and connecting cable 32 can be made via connectors.
Claims (4)
Priority Applications (2)
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DE19944438935 DE4438935C2 (en) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | Field source for the investigation of electromagnetic compatibility |
DE4440937A DE4440937A1 (en) | 1994-10-31 | 1994-11-17 | Field source for testing electromagnetic compatibility testing, using passive magnetic field probe |
Applications Claiming Priority (2)
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DE19944438935 DE4438935C2 (en) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | Field source for the investigation of electromagnetic compatibility |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE4440937A1 true DE4440937A1 (en) | 1996-07-11 |
Family
ID=6532177
Family Applications (2)
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DE4440937A Withdrawn DE4440937A1 (en) | 1994-10-31 | 1994-11-17 | Field source for testing electromagnetic compatibility testing, using passive magnetic field probe |
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DE (2) | DE4440937A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN103033708A (en) * | 2012-12-13 | 2013-04-10 | 中国航空无线电电子研究所 | Plane whole-machine high-strength illumination testing method |
CN108226656A (en) * | 2017-12-28 | 2018-06-29 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 | The compound passive probe of electromagnetic field |
-
1994
- 1994-11-17 DE DE4440937A patent/DE4440937A1/en not_active Withdrawn
-
1995
- 1995-12-22 DE DE19548277A patent/DE19548277A1/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103033708A (en) * | 2012-12-13 | 2013-04-10 | 中国航空无线电电子研究所 | Plane whole-machine high-strength illumination testing method |
CN108226656A (en) * | 2017-12-28 | 2018-06-29 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 | The compound passive probe of electromagnetic field |
CN108226656B (en) * | 2017-12-28 | 2020-04-03 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 | Electromagnetic field composite passive probe |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19548277A1 (en) | 1997-06-26 |
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