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DE4440937A1 - Field source for testing electromagnetic compatibility testing, using passive magnetic field probe - Google Patents

Field source for testing electromagnetic compatibility testing, using passive magnetic field probe

Info

Publication number
DE4440937A1
DE4440937A1 DE4440937A DE4440937A DE4440937A1 DE 4440937 A1 DE4440937 A1 DE 4440937A1 DE 4440937 A DE4440937 A DE 4440937A DE 4440937 A DE4440937 A DE 4440937A DE 4440937 A1 DE4440937 A1 DE 4440937A1
Authority
DE
Germany
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probe
field source
testing
field
coil
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Withdrawn
Application number
DE4440937A
Other languages
German (de)
Inventor
Gunter Dipl Ing Langer
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Individual
Original Assignee
Individual
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Filing date
Publication date
Priority to DE19944438935 priority Critical patent/DE4438935C2/en
Priority claimed from DE19944438935 external-priority patent/DE4438935C2/en
Application filed by Individual filed Critical Individual
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Publication of DE4440937A1 publication Critical patent/DE4440937A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)

Abstract

The field source includes a pulse generator (2) connected by a lead (32) to the probe (1). Parallel to the lead, within the probe, is a potentiometer (30), the resistance of which can be adjusted by a knob on the outside of the housing (31). Through this potentiometer the strength of the pulse in the probe at the induction coil (3) or coupling plates (4) can be set. For B fields, the intensity control offered by the potentiometer can be combined with a ferrite element.

Description

Die Erfindung betrifft eine als Feldquelle arbeitende pas­ sive Magnetfeldsonde nach Patentanmeldung P 44 38 935.3, bei der mittels einer Verstellmöglichkeit die Intensität der von ihr abgegebenen pulsförmigen magnetischen bzw. elektrischen Felder im Nanosekundenbereich zur Nachbil­ dung von Burst- und ESD-Feldern verändert werden kann.The invention relates to a pas operating as a field source active magnetic field probe according to patent application P 44 38 935.3, the intensity by means of an adjustment the pulse-shaped magnetic or Electric fields in the nanosecond range for the afterimage of burst and ESD fields can be changed.

Die Intensität der abgegebenen Pulsfelder von E- und B- Feldsonden (Feldquellen), die über Kabel von einem Stör­ impulsgenerator gespeist werden, ist an den Sonden nach dem Stand der Technik nicht verstellbar. Die Verstellung der Intensität ermöglicht aber eine Anpassung der Pulsfel­ der an die Empfindlichkeit störsensibler Bereiche insbe­ sondere auf Leiterkarten. Eine genauere Identifizierung sensibler Leiterzüge und Bauelemente wird erst dadurch möglich.The intensity of the delivered pulse fields of E- and B- Field probes (field sources) over cables from a disturbance pulse generator is fed to the probes not adjustable to the state of the art. The adjustment the intensity allows an adjustment of the pulse field especially sensitive to sensitive areas especially on printed circuit boards. A more precise identification This is the only way to make sensitive conductor tracks and components possible.

Die Veränderung der Intensität erfolgt z. Z. durch Einstel­ lung der abgegebenen Störimpulsamplitude am Störimpulsge­ nerator.The change in intensity takes place e.g. Z. by setting development of the emitted interference pulse amplitude at the interference pulse nerator.

Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, die Intensität der von den Feldquellen abgegebenen Pulsfelder direkt an den über Kabel von einem Störimpulsgenerator gespeisten Sonden einstellbar zu machen.The object of the invention is therefore the intensity of pulse fields emitted by the field sources directly to the probes powered by cables from an interference pulse generator to make adjustable.

Zu diesem Zweck wird nach Anspruch 1 parallel in die Son­ denleitung ein verstellbarer Widerstand geschaltet, der über einen Abgriff von außen eingestellt werden kann. Über diesen verstellbaren Widerstand wird für die Induk­ tionsspule oder die Koppelplatten der Sonde eine Strom- bzw. Spannungsteilung erzeugt.For this purpose, according to claim 1 in parallel in the Son denleitung switched an adjustable resistor, the can be adjusted via a tap from the outside. This adjustable resistance is used for the induc tion coil or the coupling plates of the probe a current  or voltage division generated.

Mit der Anordnung kann die Intensität eines durch eine Induktionsspule bzw. durch ein Plattenpaar erzeugten pulsförmigen B- bzw. E-Feldes variiert werden.With the arrangement, the intensity of one by one Induction coil or generated by a pair of plates pulsed B or E field can be varied.

Die im Hauptpatent beschriebenen, getrennt realisierten Lösungen zur B-Feldbündelung und Gleichtaktunterdrückung mittels Ferritelementen können erfindungsgemäß kombiniert werden. Dazu wird gemäß Anspruch 3 die Verbindungsleitung zwischen verstellbarem Widerstand und Induktionsspule durch ein Ferritelement geführt. Die Spule schließt sich dabei an das Ferritelement an und liegt mit dem Ferritelement auf einer gemeinsamen Längsachse.Those described in the main patent, implemented separately Solutions for B-field bundling and common mode suppression using ferrite elements can be combined according to the invention will. For this purpose, according to claim 3, the connecting line between adjustable resistor and induction coil led a ferrite element. The coil closes to the ferrite element and lies with the ferrite element on a common longitudinal axis.

Wird die Induktionsspule in Form einer Acht ausgebildet, können selektiv besonders empfindliche Leitungen, Pins von IC u. a. m. aufgespürt werden. Eine derartige Spule kann auf einen U-förmigen Kern aufgebracht werden.If the induction coil is shaped like an eight, can selectively sensitive cables, pins of IC u. a. m. to be tracked down. Such a coil can a U-shaped core can be applied.

Durch die Anwendung der Erfindung sind vereinfachte Stör­ impulsgeneratoren anwendbar, die ohne Verstellmöglichkeit der Impulsparameter ausgeführt sind.Through the application of the invention simplified sturgeon pulse generators can be used without adjustment the pulse parameters are executed.

Die Zusatzerfindung wird im folgenden anhand eines Ausfüh­ rungsbeispiels näher erläutert; in der zugehörigen Zeich­ nung zeigenThe additional invention is explained in the following on the basis of an embodiment Rungsbeispiel explained in more detail; in the associated drawing show

Fig. 1 die Schaltung zur Einstellung der Intensität der Feldquelle an der Sonde und Fig. 1 shows the circuit for adjusting the intensity of the field source on the probe and

Fig. 2 die zusätzliche Anordnung eines Ferritelements zur B-Feldbündelung und gleichzeitigen Gleichtaktunter­ drückung. Fig. 2 shows the additional arrangement of a ferrite element for B-field bundling and simultaneous common mode suppression.

Fig. 1 zeigt die Prinzipschaltung der Feldquelle zur Er­ zeugung pulsförmiger B- bzw. E-Felder. Fig. 1 shows the basic circuit of the field source for generating He pulse-shaped B or E fields.

Ein Störimpulsgenerator 2 ist über ein Verbindungskabel 32 mit der Sonde 1 verbunden. Im Gehäuse 31 der Sonde 1 inte­ griert ist die Induktionsspule 3 oder das Plattenpaar 4 sowie ein parallel in die Sondenleitung eingeschaltetes Potentiometer 30.An interference pulse generator 2 is connected to the probe 1 via a connecting cable 32 . Integrated in the housing 31 of the probe 1 is the induction coil 3 or the pair of plates 4 and a potentiometer 30 which is switched on in parallel in the probe line.

In Fig. 2 ist eine komplette Sonde 1 zur B-Felderzeugung dargestellt. Sie besitzt eine Intensitätsverstellmöglich­ keit in Form eines Potentiometers 30 kombiniert mit einem Ferritelement 14 zur B-Feldbündelung und gleichzeitigen Gleichtaktunterdrückung.In FIG. 2 a complete probe 1 is shown for the B-field generation. It has an intensity adjustment possibility in the form of a potentiometer 30 combined with a ferrite element 14 for B-field bundling and simultaneous common-mode suppression.

Von einem Störimpulsgenerator 2 wird pulsförmiger Stör­ strom über ein Verbindungskabel 32 in die Sonde 1 einge­ speist. Am Eingang der Sonde befindet sich ein parallel liegender Widerstand 30 (Potentiometer). Der über einen Einstellknopf verstellbare Schleifer des Potentiometers greift eine Teilspannung bzw. einen Teilstrom für die Induktionsspule 3 ab.From an interference pulse generator 2 , pulse-shaped interference current is fed via a connecting cable 32 into the probe 1 . A parallel resistor 30 (potentiometer) is located at the input of the probe. The wiper of the potentiometer, which is adjustable via an adjusting knob, taps off a partial voltage or partial current for the induction coil 3 .

Die Verbindungsleitung zwischen Potentiometer 30 und Induktionsspule 3 ist durch ein Ferritelement 14 geführt. Es dient der Gleichtaktunterdrückung und bei der in Fig. 2 dargestellten Spulenanordnung der Feldbündelung.The connecting line between potentiometer 30 and induction coil 3 is guided through a ferrite element 14 . It is used for common mode suppression and, in the case of the coil arrangement shown in FIG. 2, for field bundling.

Die Verbindung zwischen Sonde 1 und Einstellregler 30 sowie zwischen Einstellregler und Verbindungskabel 32 kann dabei über Steckverbinder erfolgen.The connection between probe 1 and setting controller 30 and between setting controller and connecting cable 32 can be made via connectors.

Claims (4)

1. Feldquelle zur Untersuchung der elektromagnetischen Verträglichkeit nach Patentanmeldung P 44 38 935.3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Einstellung der Intensität der pulsförmigen E- oder B-Felder direkt an den Sonden (1) eine Verstellmöglichkeit vorgesehen ist.1. Field source for examining the electromagnetic compatibility according to patent application P 44 38 935.3, characterized in that an adjustment option is provided directly on the probes ( 1 ) for adjusting the intensity of the pulsed E or B fields. 2. Feldquelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Verstellmöglichkeit als Widerstand (30), der parallel in die Sondenleitung ge­ schaltet ist, ausgeführt ist, wobei ein verstellbarer Abgriff des Widerstandes (30) durch das Gehäuse (31) der Sonde (1) nach außen geführt ist.2. Field source according to claim 1, characterized in that the adjustment possibility as a resistor ( 30 ), which is connected in parallel in the probe line, is executed, an adjustable tap of the resistor ( 30 ) through the housing ( 31 ) of the probe ( 1st ) is led outside. 3. Feldquelle nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zur Bündelung des pulsförmigen B-Feldes und zur Gleichtaktunterdrückung die Verbindungs­ leitung zwischen verstellbarem Widerstand (30) und Induk­ tionsspule (3) durch ein Ferritelement (14) geführt ist, wobei die Längsachsen von Spule (3) und Ferritelement (14) übereinstimmen und die Spule sich an das Ferritelement anschließt.3. Field source according to claim 1 or 2, characterized in that for bundling the pulsed B field and for common mode suppression, the connecting line between the adjustable resistor ( 30 ) and induction coil ( 3 ) is guided by a ferrite element ( 14 ), the longitudinal axes of coil ( 3 ) and ferrite element ( 14 ) match and the coil connects to the ferrite element. 4. Feldquelle nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Induktionsspule (3) in Form einer Acht ausgebildet ist und diese Spule auf einen U-förmigen Kern aufgebracht sein kann.4. Field source according to one of claims 1 to 3, characterized in that the induction coil ( 3 ) is designed in the form of an eight and this coil can be applied to a U-shaped core.
DE4440937A 1994-10-31 1994-11-17 Field source for testing electromagnetic compatibility testing, using passive magnetic field probe Withdrawn DE4440937A1 (en)

Priority Applications (2)

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DE19944438935 DE4438935C2 (en) 1994-10-31 1994-10-31 Field source for the investigation of electromagnetic compatibility
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DE4440937A Withdrawn DE4440937A1 (en) 1994-10-31 1994-11-17 Field source for testing electromagnetic compatibility testing, using passive magnetic field probe
DE19548277A Withdrawn DE19548277A1 (en) 1994-10-31 1995-12-22 Field source for electromagnetic compatibility testing of electronic appts.

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103033708A (en) * 2012-12-13 2013-04-10 中国航空无线电电子研究所 Plane whole-machine high-strength illumination testing method
CN108226656A (en) * 2017-12-28 2018-06-29 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 The compound passive probe of electromagnetic field

Cited By (3)

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CN103033708A (en) * 2012-12-13 2013-04-10 中国航空无线电电子研究所 Plane whole-machine high-strength illumination testing method
CN108226656A (en) * 2017-12-28 2018-06-29 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 The compound passive probe of electromagnetic field
CN108226656B (en) * 2017-12-28 2020-04-03 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 Electromagnetic field composite passive probe

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DE19548277A1 (en) 1997-06-26

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