DE4317945A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung eines Objektes - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren gemäß dem Anspruch
1 sowie Vorrichtungen entsprechend den Gattungsbegrif
fen der Ansprüche 9 und 10 zur Untersuchung eines Ob
jekts.
Bei aus der Praxis bekannten Mikroskopen wird das Ob
jekt auf einen Detektor abgebildet, wobei als Detektor
beispielsweise eine Kamera verwendet wird. Hierbei wird
die vom Objekt ausgehende elektromagnetische Strahlung
durch ein Linsensystem zum Detektor geführt.
Derartige Linsensysteme sind radialsymmetrisch um eine
optische Achse aufgebaut, wobei bei Entwurf und Kon
struktion dieser Systeme alle Fehlerquellen möglichst
klein gehalten werden. Dennoch treten bei der optischen
Bearbeitung der vom zu untersuchenden Objekt ausgehen
den elektromagnetischen Strahlung Verzerrungen in der
Abbildung des Objekts auf. Diese Verzerrungen sind da
bei um so größer, je weiter abaxial die Strahlung in
das Linsensystem einfällt. Die Spektraleigenschaften
des Objekts werden daher verfälscht wiedergegeben, so
daß beispielsweise aufgrund chromatischer Aberrationen
der Linsen eine räumlich verfälschte Abbildung ent
steht. Metrische und spektrale Eigenschaften von trans
parenten sowie opaken Objekten können somit nicht ohne
Verzerrungen registriert werden. Dies macht sich beson
ders stark bei Untersuchungen von großen Objekten be
merkbar, bei denen verschiedene Teilflächen des Objekts
mosaikartig zusammengesetzt werden müssen.
Die Konstruktion des Linsensystems mit einer optischen
Achse erfordert zudem eine ausreichende mechanische
Stabilität, so daß derartige Geräte Kompromisse zwi
schen Größe, Gewicht und genauer Wiedergabe des Objek
tes eingehen müssen.
Derartige Linsensysteme sind ferner relativ kostspielig
und erfordern bei ihrer Bedienung geschultes Fachwis
sen, um beispielsweise die Zentrierung und Abblendung
des optisches Weges zu überprüfen.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, das
Verfahren gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1 sowie
die Vorrichtungen gemäß den Gattungsbegriffen der An
sprüche 9 und 10 derart weiterzuentwickeln, daß eine
kostengünstigere Herstellung sowie eine einfachere
Handhabung ermöglicht wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die kennzeich
nenden Merkmale der Ansprüche 1, 9 und 10 gelöst, indem
die elektromagnetische Strahlung durch eine nichtfokus
sierende Strahlungsführung vom Objekt zum Detektor ge
langt. Im Idealfall wird der Detektor unmittelbar mit
der Objektfläche in Kontakt gebracht.
In einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist zwischen
dem Objekt und dem Detektor eine Einrichtung zur nicht
fokussierenden Strahlungsführung der elektromagneti
schen Strahlung vorgesehen. Diese Einrichtung wird bei
spielsweise durch eine Apertur gebildet, die in ihrer
Form der wirksamen Fläche des Detektors entspricht. Bei
der Untersuchung eines Objekts wird der Detektor rela
tiv zum Objekt bewegt, beispielsweise gerastert, wobei
jeweils die elektromagnetische Strahlung einer Teilflä
che des Objekts zum Detektor gelangt.
Bei herkömmlichen Vorrichtungen kann ein Teil der elek
tromagnetischen Strahlung, beispielsweise ultraviolet
tes oder infrarotes Licht nicht detektiert werden, da
das Linsensystem die Strahlung zum größten Teil absor
biert. Für derartige Anwendungsbereiche wurden spe
zielle Mikroskope entwickelt, die die Strahlung durch
fokussierende Spiegel erfaßt. Bei Untersuchungen in
breiten Bereichen des elektromagnetischen Spektrums ist
daher bisher ein erheblicher präparativer und apparati
ver Aufwand notwendig.
Indem die elektromagnetische Strahlung erfindungsgemäß
durch eine nichtfokussierende Strahlungsführung vom Ob
jekt zum Detektor gelangt, ist das Verfahren bzw. die
Vorrichtung der Erfindung über den gesamten, interes
sierenden Wellenlängenbereich von 0,01 nm bis 250 µm
anwendbar.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand
der Unteransprüche und werden im folgenden anhand der
Zeichnung und der Beschreibung einiger Ausführungsbei
spiele näher erläutert.
In der Zeichnung zeigen
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines ersten Aus
führungsbeispiels und
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines zweiten Aus
führungsbeispiels.
In Fig. 1 ist ein erstes Ausführungsbeispiel einer er
findungsgemäßen Vorrichtung dargestellt. Mit 1 ist eine
elektromagnetische Strahlung bezeichnet, die von einer
nicht näher dargestellten Strahlungsquelle erzeugt
wird. Sie durchläuft zunächst eine erste Apertur 2 und
fällt auf ein zu untersuchendes Objekt 3. Die vom Ob
jekt 3 emittierte elektromagnetische Strahlung 1 durch
läuft eine zweite Apertur 5 und wird einem Detektor 6
zugeführt. Der Detektor 6 kann beispielsweise durch
lichtempfindliche Transistoren oder sogenannte Couple-
Charged-Devices (CCD) gebildet werden. Zweckmäßiger
weise werden mehrere Detektoren zu einer Zeile bzw. zu
einer Matrix zusammengefaßt.
Jeder Detektor 6 empfängt die Strahlung von einer Teil
fläche des Objekts, die in ihrer Größe der wirksamen
Fläche des Detektors entspricht. Demzufolge bestimmt
die Größe der wirksamen Fläche des Detektors 6 die
räumliche Auflösung der Übertragung.
Um das gesamte Objekt 3 untersuchen zu können, muß die
ses relativ zum Detektor 6 beispielsweise rastermäßig
verschoben werden (Pfeil 4). Die dabei am Detektor 6
entstehenden Ausgangssignale werden digitalisiert und
in einem Rechner aufbereitet (Pfeil 7).
In dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel wird
das Objekt 3 im Durchlicht bestrahlt.
Demgegenüber wird in einem zweiten Ausführungsbeispiel
gemäß Fig. 2 das Objekt 3 im Auflicht bestrahlt.
Hierbei gelangt die elektromagnetische Strahlung 1 über
die erste Apertur 2, einen Halbspiegel 8 und die zweite
Apertur 5 auf das Objekt 3. Die hiervon wieder reemit
tierte Strahlung wird wiederum über die zweite Apertur
5, den Halbspiegel 8 und eine dritte Apertur 9 dem De
tektor 6 zugeführt.
Der Detektor 6 kann, wie auch schon im ersten Ausfüh
rungsbeispiel, durch eine Vielzahl von Detektoren in
Zeilen- bzw. Matrixanordnung gebildet werden.
Auch hier wird das Objekt beispielsweise über einen
Linear- oder Schrittmotor in Scanbewegung gerastert
(Pfeil 4)
Die Bestrahlung und die Verschiebung des Objekts kann bei beiden Ausführungsbeispielen räumlich und zeitlich synchronisiert werden. Im Rahmen der Erfindung ist es jedoch auch möglich, das Objekt auch während der Scan bewegung zu bestrahlen.
Die Bestrahlung und die Verschiebung des Objekts kann bei beiden Ausführungsbeispielen räumlich und zeitlich synchronisiert werden. Im Rahmen der Erfindung ist es jedoch auch möglich, das Objekt auch während der Scan bewegung zu bestrahlen.
Die in den Ausführungsbeispielen verwendeten Aperturen
werden zweckmäßig als Schlitzblenden ausgebildet, wobei
die Schlitzbreite von der Wellenlänge abhängig ist und
bei sichtbarem Licht vorzugsweise 1 bis 5 µm beträgt,
wobei der Detektor etwa der Schlitzbreite entspricht.
Die Länge des Schlitzes richtet sich nach der Größe der
wirksamen Fläche des Detektors 6. Wird beispielsweise
eine CCD-Zeile verwendet, beträgt die Schlitzlänge etwa
1 bis 10 cm.
Während im ersten Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1 zwi
schen dem Objekt 3 und dem Detektor 6 eine derartige
Apertur 5 angeordnet ist, kann gemäß einem nicht näher
dargestellten dritten Ausführungsbeispiel auf diese
Apertur 5 verzichtet werden, so daß der Detektor 6 un
mittelbar mit einem Teilbereich des Objekts 3 in Kon
takt gebracht wird.
Bei einer herkömmlichen Charge-Coupled-Device- Zeile
sind beispielsweise etwa 750 Detektoren pro cm angeord
net. Dies ergibt eine räumliche Auflösung in der Achse
der Zeile von
1/750*10000 µm = 13 µm.
Die beispielsweise in einem Rechner umgesetzten Aus
gangssignale des Detektors 6 können in einer Bilddatei
gespeichert werden, die sowohl Struktur als auch Spek
tralinformationen enthalten kann.
Durch die nichtfokussierende Strahlungsführung treten
bei dem erfindungsgemäßen Verfahren keine Verzerrungen
bei den aufgenommenen Informationen ein, so daß auch
große Objekte mit hoher Auflösung untersucht werden
können.
Die oben beschriebenen Ausführungsbeispiele ermöglichen
eine Mikroskopie in einem Spektralbereich, insbesondere
im Bereich der Röntgen-, UV- und IR-Strahlung, der bis
her aufgrund des hohen finanziellen und apparativen
Aufwands kaum berücksichtigt wurde.
Die elektromagnetische Strahlung kann in jeglicher Form
verwendet werden, beispielsweise in polarisier
ter/nichtpolarisierter, polychromatischer/monochroma
tischer oder nicht-kohärenter/kohärenter Form.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren kann auf eine
Strahlungsquelle verzichtet werden, wenn das Objekt
selbstemittierend ist.
Die von den Detektoren empfangene Strahlung wird digi
tal gespeichert und verarbeitet und steht sofort nach
der Aufnahme zur Verfügung. Dabei ist die Ausgabe eines
Bildes unter Umständen nicht notwendig, wenn beispiels
weise allein quantitative Aussagen über das zu untersu
chende Objekt ausgegeben werden sollen.
Die elektromagnetische Strahlung kann durch vor den De
tektoren angeordnete Filter oder nachgeschaltete Strah
lungsteiler für verschiedene Wellenlängen getrennt re
gistriert werden.
Das erfindungsgemäße Verfahren kann neben Auflicht- und
Durchlichtverfahren beispielsweise auch für Hellfeld-
und Dunkelfelduntersuchungen eingesetzt werden. Außer
dem sind Anwendungen wie die Fluoreszenzanalyse oder
Produktionen von Stereoaufnahmen denkbar.
Indem die erfindungsgemäße Vorrichtung auf ein aufwen
diges und schweres Linsensystem verzichten kann, können
derartige Vorrichtungen relativ klein und leicht ausge
bildet werden. Dadurch ist insbesondere die Untersu
chung von lebendem Gewebe ohne Beschädigung mit hoher
Auflösung möglich. So können beispielsweise mit sicht
barem Licht und hoher räumlicher und spektraler Auflö
sung Änderungen der Haut untersucht werden. Weiterhin
kann die erfindungsgemäße Vorrichtung in Verbindung mit
Endoskopen verwendet werden.
Nachdem eine Zentrierung der optischen Achse nicht not
wendig ist, benötigt man für viele Anwendungen kein ge
schultes Fachwissen.
Weitere Anwendungsgebiete der Erfindung sind beispiels
weise kriminalistische Untersuchungen, wie beispiels
weise Analyse von Fingerabdrücken, Haaren oder Körper
flüssigkeiten. Weiterhin kann eine Anwendung in der
Qualitätskontrolle, beispielsweise in der Halbleiter
herstellung oder bei der Lagerung von Lebensmitteln, in
Betracht kommen.
Claims (18)
1. Verfahren zur Untersuchung eines Objekts (3), wobei
die vom Objekt ausgehende elektromagnetische Strah
lung (1) einem Detektor (6) zugeführt wird,
dadurch gekennzeichnet,
daß die elektromagnetische Strahlung (1) durch eine
nichtfokussierende Strahlungsführung vom Objekt zum
Detektor gelangt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die dem Detektor (6) zugeführte Strahlung in ein
digitales Signal umgewandelt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Detektor (6) relativ zum Objekt
(3) verschoben wird, wobei jeweils die elektromagne
tische Strahlung (1) einer Teilfläche des Objekts
zum Detektor gelangt.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlänge der
elektromagnetischen Strahlung im Bereich von 0,01 µm
und 250 µm liegt.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß das Objekt mit elektro
magnetischer Strahlung im Durchlicht bestrahlt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß das Objekt mit elektromagneti
scher Strahlung im Auflicht bestrahlt wird.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor (6) die
elektromagnetische Strahlung elektronisch oder opto
elektronisch aufnimmt.
8. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die wirksame Fläche des Detektors (6) der Größe
der Teilfläche des Objekts (3) entspricht.
9. Vorrichtung zur Untersuchung eines Objekts (3) mit
wenigstens einem Detektor (6) zum Empfang der von
dem Objekt ausgehenden elektromagnetischen Strahlung
(1), dadurch gekennzeichnet,
daß der Detektor derart angeordnet ist, daß er un
mittelbar mit dem Objekt in Kontakt bringbar ist.
10. Vorrichtung zur Untersuchung eines Objekts (3),
enthaltend wenigstens einen Detektor (6) zum Empfang
der von dem Objekt ausgehenden elektromagnetischen
Strahlung (1), dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem Objekt und dem Detektor eine Ein
richtung zur nichtfokussierenden Strahlungsführung
vorhanden ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeich
net, daß die Einrichtung zur nichtfokussierenden
Strahlungsführung durch eine Apertur (5) gebildet
wird.
12. Vorrichtung nach Anspruch 10 oder 11, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Form der Öffnung der Apertur
(5) der Form der wirksamen Fläche des Detektors (6)
entspricht.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 12, da
durch gekennzeichnet, daß mit dem Detektor (6) eine
Einrichtung zur Digitalisierung des Ausgangssignales
des Detektors verbunden ist.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 13, da
durch gekennzeichnet, daß eine Quelle zur Bestrah
lung des Objekts mit elektromagnetischer Strahlung
vorgesehen ist.
15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 14, da
durch gekennzeichnet, daß optoelektronisch-arbei
tende Detektoren verwendet werden.
16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 14, da
durch gekennzeichnet, daß als Detektoren (6) Charge-
Coupled-Devices verwendet werden.
17. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 16, da
durch gekennzeichnet, daß die Detektoren (6) in ei
ner Zeile angeordnet sind.
18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 16, da
durch gekennzeichnet, daß die Detektoren (6) in ei
nem Array angeordnet sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4317945A DE4317945A1 (de) | 1993-03-22 | 1993-05-28 | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung eines Objektes |
Applications Claiming Priority (2)
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Publications (1)
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DE4317945A1 true DE4317945A1 (de) | 1994-09-29 |
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ID=6483501
Family Applications (1)
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Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4317945A1 (de) |
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