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DE4302399A1 - Electronic passenger restraint device testing system - evaluates signals provided by acceleration sensors during normal operation of vehicle - Google Patents

Electronic passenger restraint device testing system - evaluates signals provided by acceleration sensors during normal operation of vehicle

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Publication number
DE4302399A1
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DE
Germany
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acceleration
sensor
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sensor arrangements
output signals
Prior art date
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Granted
Application number
DE4302399A
Other languages
German (de)
Other versions
DE4302399C2 (en
Inventor
Bernhard Dipl Ing Mattes
Hartmut Dipl Ing Schumacher
Norbert Dipl Ing Crispin
Michael Dipl Ing Henne
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
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Priority to JP23062593A priority patent/JP3426295B2/en
Priority to US08/126,948 priority patent/US5440913A/en
Publication of DE4302399A1 publication Critical patent/DE4302399A1/en
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    • B60VEHICLES IN GENERAL
    • B60RVEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B60R21/00Arrangements or fittings on vehicles for protecting or preventing injuries to occupants or pedestrians in case of accidents or other traffic risks
    • B60R21/01Electrical circuits for triggering passive safety arrangements, e.g. airbags, safety belt tighteners, in case of vehicle accidents or impending vehicle accidents
    • B60R21/017Electrical circuits for triggering passive safety arrangements, e.g. airbags, safety belt tighteners, in case of vehicle accidents or impending vehicle accidents including arrangements for providing electric power to safety arrangements or their actuating means, e.g. to pyrotechnic fuses or electro-mechanic valves
    • B60R21/0173Diagnostic or recording means therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D1/00Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
    • G01D1/18Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application with arrangements for signalling that a predetermined value of an unspecified parameter has been exceeded
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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Abstract

The testing system is used for a passenger restraint device with at least two acceleration sensors, and evaluates the acceleration signals provided during the normal operation of the vehicle in response to the vehicle acceleration and braking. The total measurement period is between 100 and 500 milliseconds, ideally 200-300 milliseconds. Pref. the testing system evaluates the acceleration signals beneath a threshold acceleration force of 4g, e.g. between -1g and +1g, by comparing corrected integration values obtained from the output signals of both acceleration sensors. USE - For monitoring function of vehicle passenger restraint device during normal operation of vehicle.

Description

Stand der TechnikState of the art

Die Erfindung geht aus von einer elektronischen Einrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Elektronische Einrichtungen dieser Art dienen der Sicherheit von Fahrzeuginsassen, insbesondere der Insassen von Kraftfahrzeugen. Sie umfassen beschleunigungsempfind­ liche Sensoren, die die auf das Fahrzeug einwirkenden Beschleuni­ gungen registrieren und bei auf eine Gefahr hinweisenden hohen Beschleunigungswerten rechtzeitig die Auslösung von Sicherungs­ mitteln für die Fahrzeuginsassen, wie beispielsweise Gurtstraffer und/oder Airbag veranlassen. Gefahrbringende hohe Beschleunigungs­ werte treten insbesondere bei Fahrzeugkollisionen oder bei einem Aufprall des Fahrzeugs auf feststehende Hindernisse auf. Für sicherheitsrelevante elektronische Einrichtungen der eingangs genannten Art, denen im Gefahrenfall das Leben von Fahrzeuginsassen anvertraut ist, wird eine außerordentlich hohe Betriebssicherheit gefordert. Diese hohe Betriebssicherheit kann praktisch nur dann garantiert werden, wenn alle Komponenten der elektronischen Einrichtung überprüfbar sind und zumindest in regelmäßigen Abständen überprüft werden. Ein besonderes Problem bieten hierbei die beschleunigungsempfindlichen Sensoren, die ohne größeren Aufwand während des normalen Fahrzustands eines Fahrzeugs nicht ohne weiteres überprüfbar sind. Ein Hauptgrund hierfür ist die Tatsache, daß bei normalen Fahrzuständen des Fahrzeugs die für einen Unfall charakteristischen Kurvenverläufe der Beschleunigung als Funktion der Zeit und auch die hohen Amplitudenwerte nicht auftreten. Zwar ist eine Prüfung der beschleunigungsempfindlichen Sensoren in einem Nichtbereitschaftszustand des Fahrzeugs grundsätzlich möglich. Dazu müssen beispielsweise die beschleunigungsempfindlichen Sensoren demontiert und auf einem Prüfstand einem Beschleunigungstest unter­ zogen werden. Alternativ könnte das Fahrzeug mit eingebauten beschleunigungsempfindlichen Sensoren in einem simulierten Crash-Test realitätsnahen Beschleunigungswerten ausgesetzt werden. Auch wenn die beschleunigungsempfindlichen Sensoren bei derartigen, sehr aufwendigen Testverfahren als brauchbar befunden werden, ist jedoch nicht sichergestellt, daß die Funktionsfähigkeit über längere Zeit während des normalen Fahrbetriebs aufrechterhalten bleibt.The invention relates to an electronic device according to the Preamble of claim 1. Electronic devices of this type serve the safety of vehicle occupants, in particular the Motor vehicle occupants. They include acceleration sensitivity sensors that measure the accelerations acting on the vehicle registration and when there is a high risk Acceleration values timely triggering of backup means for vehicle occupants, such as belt tensioners and / or cause airbag. Dangerous high acceleration values occur particularly in the event of a vehicle collision or in the event of a Impact of the vehicle on fixed obstacles. For safety-related electronic devices at the beginning mentioned type, in the event of danger the life of vehicle occupants is entrusted with an extraordinarily high level of operational safety required. This high level of operational security can practically only then guaranteed if all components of the electronic Facility are verifiable and at least at regular intervals be checked. The acceleration-sensitive sensors without much effort  during the normal driving condition of a vehicle not without further verifiable. A main reason for this is the fact that in normal driving conditions of the vehicle for an accident characteristic curves of the acceleration as a function of time and also the high amplitude values do not occur. Though is a test of the acceleration sensitive sensors in one The vehicle is generally not ready for operation. To For example, the acceleration-sensitive sensors disassembled and under an acceleration test on a test bench be drawn. Alternatively, the vehicle could be built in acceleration-sensitive sensors in a simulated Crash test exposed to realistic acceleration values. Even if the acceleration-sensitive sensors with such, very elaborate test procedures are found to be useful however, it does not ensure that the functionality lasts longer Time is maintained during normal driving.

Aus US-A-48 73 452 ist eine überprüfbare elektronische Einrichtung mit einem piezoelektrischen beschleunigungsempfindlichen Sensor bekannt, bei der der Sensor für Diagnosezwecke mit einem elek­ trischen Testimpuls beaufschlagt wird. Als Reaktion auf diesen elektrischen Testimpuls gibt der piezoelektrische Sensor ein Ausgangssignal ab, das von einer Auswerteschaltung analysierbar ist. Abgesehen davon, daß die zusätzliche Testeinrichtung sehr aufwendig ist und eine solche elektronische Einrichtung sehr aufwendig und teuer macht, kann mit dieser bekannten Testmethode keine den wirk­ lichen Einsatzbedingungen entsprechende Prüfung des Sensors durch­ geführt werden. Zwar sind die elektrischen Eigenschaften des Sensors überprüfbar. Nicht überprüfbar ist jedoch, ob der Sensor in der gewünschten Weise auf eine mechanische Kraftwirkung infolge einer Beschleunigungsbeaufschlagung reagiert. Nicht überprüfbar ist auch die mechanische Verbindung des beschleunigungsempfindlichen Sensors mit dem Fahrzeug. From US-A-48 73 452 is a verifiable electronic device with a piezoelectric acceleration sensitive sensor known in which the sensor for diagnostic purposes with an elek trical test pulse is applied. In response to this the piezoelectric sensor enters the electrical test pulse Output signal from which can be analyzed by an evaluation circuit. Apart from the fact that the additional test facility is very complex is and such an electronic device very expensive and expensive, none of them can work with this known test method testing the sensor according to the operating conditions be performed. Although the electrical properties of the sensor verifiable. However, it is not possible to check whether the sensor is in the desired way on a mechanical force effect as a result Acceleration application reacts. It is also not verifiable the mechanical connection of the acceleration sensitive sensor with the vehicle.  

Aus US-A-49 50 915 ist ein beschleunigungsempfindlicher Sensor mit einer Prüfeinrichtung bekannt. Die Prüfeinrichtung umfaßt eine Schallquelle, die den beschleunigungsempfindlichen Sensor zum Zwecke der Überprüfung mit Schallwellen beaufschlagt. Die Einkopplung der Schallwellen auf den beschleunigungsempfindlichen Sensor erfolgt einerseits unmittelbar, andererseits mittelbar über ein den Sensor und die Schallquelle umgebendes Gehäuse. Auf diese Weise soll neben der grundsätzlichen Überprüfung der Wandlereigenschaften des beschleunigungsempfindlichen Sensors noch die Befestigung des Sensors im Fahrzeug überprüfbar sein. Abgesehen davon, daß die zusätzliche Schallquelle und deren Ansteuerungsschaltung die bekannte elektronische Einrichtung aufwendiger und teurer machen, besteht ein erhöhtes Risiko darin, daß, bedingt durch die größere Anzahl von Bauelementen, auch Fehler in der Testeinrichtung auftreten können.From US-A-49 50 915 is an acceleration sensitive sensor a test facility known. The test facility includes a Sound source that the acceleration sensitive sensor for the purpose subjected to sound waves during the check. The coupling of the Sound waves occur on the acceleration sensitive sensor on the one hand directly, on the other hand indirectly via the sensor and housing surrounding the sound source. This way is supposed to the fundamental review of the converter characteristics of the acceleration sensitive sensor still attaching the Sensor can be checked in the vehicle. Apart from the fact that the additional sound source and its control circuit the known make electronic equipment more complex and expensive increased risk that, due to the larger number of Components, including errors in the test facility can occur.

Aus DE-AS 24 54 424 ist es weiter bekannt, daß bei einer Sicher­ heitsvorrichtung für Fahrzeuginsassen Beschleunigungswerte unter einem vorgebbaren Minimalwert, unter den beispielsweise auch normale Fahrerschütterungen fallen, nicht ausgewertet werden. Begründet wird dies in der Regel damit, daß derart niedrige Beschleunigungswerte keine Gefahr für die Fahrzeuginsassen darstellen. Auf derart niedrige Beschleunigungswerte zurückzuführende Ausgangssignale der beschleunigungsempfindlichen Sensoren werden daher unterdrückt. Aus DE-C2-26 12 215 ist es beispielsweise bekannt, daß erst oberhalb eines Grenzwertes von 4g liegende Beschleunigungswerte von Sicher­ heitseinrichtungen ausgewertet werden. Darunterliegende Beschleuni­ gungswerte bleiben unberücksichtigt.From DE-AS 24 54 424 it is also known that in a safe safety device for vehicle occupants a predeterminable minimum value, among which, for example, also normal ones Driver shocks fall, cannot be evaluated. Is justified this usually means that such low acceleration values pose no danger to vehicle occupants. On such output signals from the low acceleration values acceleration-sensitive sensors are therefore suppressed. Out DE-C2-26 12 215 it is known, for example, that only above a limit value of 4g is the acceleration value of Safe facilities are evaluated. Accelerator below values are disregarded.

Schließlich ist aus DE-A1-39 20 091.4 eine zwei beschleunigungs­ empfindliche Sensoren umfassende Sicherheitseinrichtung für Fahr­ zeuginsassen bekannt, die zwecks Überprüfung der Funktionsfähigkeit der Sensoren einen Vergleich der Sensorausgangssignale vornimmt. Die bekannte Einrichtung macht sich die Tatsache zunutze, daß auch im normalen Fahrbetrieb zeitweilig hohe Beschleunigungswerte auftreten, die nicht unfallspezifisch sind, sondern auf starke Beanspruchungen des Fahrzeugkörpers und der Sensoren beispielsweise infolge des Überfahrens von Schlaglöchern, Bodenunebenheiten oder dergleichen zurückzuführen sind. Allerdings treten diese Beschleunigungs­ beanspruchungen sehr unregelmäßig auf, so daß eine zuverlässige Überprüfung darauf nicht aufgebaut werden kann. Die bekannte Einrichtung setzt weiter voraus, daß beschleunigungsempfindliche Sensoren mit im wesentlichen übereinstimmendem Ausgangssignal­ verhalten eingesetzt werden. Dies macht aber einen aufwendigen Selektionsprozeß mit vergleichsweise geringer Ausbeute an Sensoren mit übereinstimmendem Ausgangssignalverhalten notwendig. Derart selektierte Sensoren sind aber vergleichsweise teuer.Finally, DE-A1-39 20 091.4 is a two acceleration Sensitive sensors comprehensive safety device for driving witness inmates known to check functionality the sensors compare the sensor output signals. The known facility takes advantage of the fact that also in during normal driving, occasionally high acceleration values occur,  that are not accident-specific, but are subject to heavy use of the vehicle body and the sensors, for example as a result of Driving over potholes, bumps or the like are due. However, this acceleration occurs claims very irregularly, so that a reliable Check on it can not be built. The well-known Establishment also requires that acceleration sensitive Sensors with an essentially matching output signal be used cautiously. However, this makes it complex Selection process with a comparatively low yield of sensors with matching output signal behavior necessary. Such selected sensors are comparatively expensive.

Vorteile der ErfindungAdvantages of the invention

Die erfindungsgemäße elektronische Einrichtung und das Verfahren zur Überprüfung derselben bieten demgegenüber insbesondere den Vorteil, daß eine ständige Überprüfung der beschleunigungsempfindlichen Sensoren während eines regulären Fahrzustandes des Fahrzeugs ermög­ licht wird, bei dem nur vergleichsweise niedrige Beschleunigungs­ werte auftreten. So findet eine Überprüfung schon bei weit unterhalb eines Grenzwertes von 4 g liegenden Beschleunigungswerten statt, die bei herkömmlichen elektronischen Einrichtungen dieser Art durch Vor­ gabe eines Mindestschwellwertes der Beschleunigung überhaupt von einer Bewertung ausgenommen wurden. Für die Überprüfung der Sensoren ist die Einrichtung daher auch nicht auf die Auswertung von Beschleunigungsspitzenwerten angewiesen, die sporadisch, etwa bei Durchfahren von Schlaglöchern und/oder bei Schlagbeanspruchungen der Karosserie oder sogar erst im Zusammenhang mit einem Unfallereignis auftreten. Durch die praktisch ständig gegebene Überprüfbarkeit der beschleunigungsempfindlichen Sensoren ist sichergestellt, daß ent­ stehende Fehler sehr schnell erkannt werden. Die erfindungsgemäße Lösung ermöglicht daher eine außerordentlich große Sicherheit und Zuverlässigkeit des die Fahrzeuginsassen schützenden Sicherungs­ systems. The electronic device according to the invention and the method for In contrast, checking them offers the particular advantage of that a constant review of the acceleration sensitive Sensors enabled during a regular driving state of the vehicle is light, with only comparatively low acceleration values occur. So a check takes place at far below a limit value of 4 g lying acceleration values instead in conventional electronic devices of this type by pre giving a minimum threshold value for acceleration at all were excluded from an assessment. For checking the sensors the facility is therefore not based on the evaluation of Acceleration peaks instructed that sporadically, for example Driving through potholes and / or in the event of impact loads Body or even only in connection with an accident event occur. Due to the practically constant verifiability of the acceleration-sensitive sensors ensure that ent standing errors can be recognized very quickly. The invention Solution therefore enables an extraordinarily high security and Reliability of the safety device protecting the vehicle occupants systems.  

Zeichnungdrawing

Die Erfindung wird nachstehend anhand von zeichnerisch dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert, aus welchen weitere Vorteile und Merkmale hervorgehen. Hierbei zeigt Fig. 1 ein erstes Aus­ führungsbeispiel der elektronischen Einrichtung, wobei diese im wesentlichen als Blockschaltbild dargestellt ist, Fig. 2 ein etwas detaillierter ausgeführtes Blockschaltbild der elektronischen Ein­ richtung, Fig. 3 ein weiteres Blockschaltbild der elektronischen Einrichtung, Fig. 4 eine typische Beschleunigungs-Zeit-Kurve eines in Betrieb befindlichen Kraftfahrzeugs, Fig. 5 in einem Beschleuni­ gungs-Zeit-Diagramm Beschleunigungen repräsentierende Ausgangs­ signale von zwei beschleunigungsempfindlichen Sensoren, Fig. 6 in einem Diagramm aufintegrierte Sensorausgangssignale als Funktion der Zeit, Fig. 7 ein Ablaufdiagramm zur Erläuterung des erfindungs­ gemäßen Verfahrens, Fig. 8 ein Diagramm zur Erläuterung der Abweichung des Sensorausgangssignals von dem Beschleunigungssignal, Fig. 9 bis Fig. 12 Beschleunigungs-Zeit-Diagramme zur Erläuterung der näherungsweisen Darstellung der wahren Beschleunigung durch ein Sensorausgangssignal.The invention is explained in more detail below with reference to exemplary embodiments shown in the drawings, from which further advantages and features emerge. Here, Figures 2, 3 4, a typical. 1 shows a first off operation example of the electronic device, which is substantially represented as a block diagram, Fig. A somewhat more detailed block diagram, the electronic A directional Fig. Is a further block diagram of the electronic device, Fig. Acceleration-time curve of a motor vehicle in operation, FIG. 5 in an acceleration-time diagram accelerations representing output signals from two acceleration-sensitive sensors, FIG. 6 in a diagram integrated sensor output signals as a function of time, FIG. 7 a flowchart for Explanation of the method according invention, Fig. 8 is a diagram for explaining the deviation of the sensor output signal from the acceleration signal, Fig. 9 to Fig. 12 acceleration-time diagrams for explaining the approximate representation of the true acceleration by a sensor output signal.

Beschreibung der AusführungsbeispieleDescription of the embodiments

Das in Fig. 1 dargestellte Blockschaltbild zeigt eine elektronische Einrichtung, die zwei im wesentlichen identisch ausgestaltete Sensoranordnungen S1 und S2 aufweist. Jede Sensoranordnung umfaßt einen Beschleunigungsaufnehmer, insbesondere piezoelektrischen Beschleunigungsaufnehmer 10, 20, ein Widerstands-Kondensator-Netz­ werk mit den Widerständen R1, R2 und den Kondensatoren CK1 und CK2 sowie die Verstärker 11 und 21. Die Verstärker, vorzugsweise Operationsverstärker 11, 21, haben Eingangswiderstände Re1, Re2, für die die BeziehungThe block diagram shown in FIG. 1 shows an electronic device which has two essentially identical sensor arrangements S1 and S2. Each sensor arrangement comprises an accelerometer, in particular piezoelectric accelerometers 10 , 20 , a resistor-capacitor network with the resistors R1, R2 and the capacitors CK1 and CK2 and the amplifiers 11 and 21st The amplifiers, preferably operational amplifiers 11 , 21 , have input resistances Re1, Re2 for which the relationship

Re1, Re2 » R1, R2 (1)Re1, Re2 »R1, R2 (1)

gelte.apply.

Die Beschleunigungsaufnehmer 10, 20, haben Kapazitätswerte von CP1 bzw. CP2. Die mit CK1 bzw. CK2 bezeichneten Kondensatoren sind Kompensationskondensatoren zur Kompensation des Temperaturganges der piezoelektrischen Spannungskonstante der Beschleunigungsaufnehmer 10, 20. Die Widerstände R1, R2 sind hochohmige Belastungswider­ stände, die parallel zu den Beschleunigungsaufnehmern 10, 20 geschaltet sind. Mit den genannten Größen ergeben sich folgende Beziehungen hinsichtlich der Zeitkonstante und der unteren Grenzfrequenz der Sensoranordnungen S1, S2.
Zeitkonstante Sensoranordnung S1:
Accelerometers 10 , 20 have capacitance values of C P1 and C P2, respectively. The capacitors labeled CK1 and CK2 are compensation capacitors for compensating the temperature response of the piezoelectric voltage constant of the acceleration sensors 10 , 20 . The resistors R1, R2 are high-resistance resistances that are connected in parallel to the accelerometers 10 , 20 . With the variables mentioned, the following relationships result with regard to the time constant and the lower limit frequency of the sensor arrangements S1, S2.
Time constant sensor arrangement S1:

τ 1 = R1 (CP1 + CK1) (2)τ 1 = R1 (C P1 + CK1) (2)

Zeitkonstante Sensoranordnung S2:Time constant sensor arrangement S2:

τ 2 = R2 (CP2 + CK2) (3)τ 2 = R2 (C P2 + CK2) (3)

Untere Grenzfrequenz Sensoranordnung S1:Lower limit frequency sensor arrangement S1:

Untere Grenzfrequenz Sensoranordnung S2:Lower limit frequency sensor arrangement S2:

Für beschleunigungsempfindliche Sensoranordnungen S1, S2 zur Aus­ wertung der mit Unfallvorgängen verbundenen Beschleunigungssignale werden im allgemeinen keine besonderen Anforderungen an die Genauig­ keit der unteren Grenzfrequenz gestellt. Die interessierenden Frequenzen liegen deutlich oberhalb einer GrenzfrequenzFor acceleration sensitive sensor arrangements S1, S2 for off evaluation of the acceleration signals associated with accident processes generally have no special requirements for accuracy speed of the lower cutoff frequency. The interested Frequencies are well above a cut-off frequency

fgUTYP = 0,6 Hz (6)fgU TYPE = 0.6 Hz (6)

In der Praxis haben sich etwa folgende Bauelementewerte als geeignet herausgestellt: R1, R2 ca. 200 Megaohm; CK1, CK2 ca. 330 Pikofarad; CP1, CP2 ca. 900 Pikofarad.In practice, the following component values have been found to be suitable exposed: R1, R2 approx. 200 megohms; CK1, CK2 approx. 330 picofarads; CP1, CP2 approx. 900 picofarads.

Auf die Bedeutung der unteren Grenzfrequenz fgu der Sensoranordnun­ gen S1, S2 im Zusammenhang mit der Erfindung wird weiter unten noch eingegangen. Die Ausgangsanschlüsse der in Fig. 1 mit 11 und 21 bezeichneten Verstärker sind mit Eingangsanschlüssen eines Pro­ zessors, insbesondere Mikroprozessors 12 verbunden. Ein Ausgangs­ anschluß des Mikroprozessors 12 ist mit einem Sicherungsmittel für Fahrzeuginsassen, vorzugsweise einem Airbag 13, verbunden.The importance of the lower cut-off frequency fgu of the sensor arrangements S1, S2 in connection with the invention will be discussed further below. The output connections of the amplifier designated in FIG. 1 with 11 and 21 are connected to input connections of a processor, in particular a microprocessor 12 . An output connection of the microprocessor 12 is connected to a securing means for vehicle occupants, preferably an airbag 13 .

Fig. 2 zeigt ein etwas detaillierter ausgeführtes Blockschaltbild der elektronischen Einrichtung. Die elektronische Einrichtung umfaßt zwei Beschleunigungsaufnehmer 10, 20, deren Ausgangsanschlüsse mit einem Eingangsanschluß mindestens je eines Verstärkers 11, 21 bzw. 11′, 21′ verbunden sind. Die Bauelemente eines ggf. für die Beschaltung der Beschleunigungsaufnehmer 10, 20 vorgesehenen Wider­ stands-Kondensator-Netzwerks sind nicht dargestellt. Die Ausgangs­ anschlüsse der Verstärker 11, 21, 11′, 21′ sind mit Eingangs­ anschlüssen des Mikroprozessors 12 verbunden und führen insbesondere zu in dem Mikroprozessor vorgesehenen Analog/Digital-Wandlern (A/D-Wandler). Die A/D-Wandler sind mit A/D-1 bis A/D-4 bezeichnet. Der Mikroprozessor 12 umfaßt weiter eine Recheneinheit 14, eine Speichereinheit 15, einen Schnittstellenbaustein 16 und einen Eingabe/Ausgabe-Baustein 17. Ausgangsanschlüsse dieses Eingabe/Aus­ gabe-Bausteins sind über Leitungen Test 1, Test 2 mit Eingangs­ anschlüssen der Sensoranordnungen S1, S2 verbunden und könnten diese mit Testsignalen beaufschlagen. Zusätzlich ist ein Temperatursensor 18 vorgesehen, der mit dem Eingangsanschluß eines weiteren A/D-Wandlers A/D-5 innerhalb des Prozessors verbunden ist. Fig. 2 shows a somewhat more detailed block diagram of the electronic device. The electronic device comprises two accelerometers 10 , 20 , the output connections of which are connected to an input connection of at least one amplifier 11 , 21 and 11 ', 21 ', respectively. The components of a possibly provided for the wiring of the accelerometers 10 , 20 against resistance capacitor network are not shown. The output connections of the amplifiers 11 , 21 , 11 ', 21 ' are connected to input connections of the microprocessor 12 and in particular lead to analog / digital converters (A / D converters) provided in the microprocessor. The A / D converters are labeled A / D-1 to A / D-4. The microprocessor 12 further comprises a computing unit 14 , a memory unit 15 , an interface module 16 and an input / output module 17 . Output connections of this input / output module are connected via lines Test 1, Test 2 to input connections of the sensor arrangements S1, S2 and could apply test signals to them. In addition, a temperature sensor 18 is provided, which is connected to the input connection of a further A / D converter A / D-5 within the processor.

In dem Blockschaltbild der Fig. 3 sind Beschleunigungsaufnehmer 10, 20 über je ein Widerstands-Kondensator-Netzwerk mit nicht näher bezeichneten Elementen mit Eingangsanschlüssen von Verstärkern 50a, 50b verbunden. Die Ausgangsanschlüsse der Verstärker 50a, 50b sind über Schaltmittel 51a, 51b mit Eingangsanschlüssen von Integrator­ bausteinen 52a, 52b verbindbar, die die an den Ausgangsanschlüssen der Verstärker 50a, 50b anliegenden Ausgangssignale aufintegrieren. Die Schaltmittel 51a, 51b sind mit einem Zeitglied 58 verbunden und werden von diesem betätigt. Die Ausgangsanschlüsse der Integrator­ bausteine 52a, 52b sind mit Eingangsanschlüssen von Frequenz­ kompensationsmitteln 53a, 53b verbunden. Mit Hilfe dieser Frequenz­ kompensationsmittel kann eine Korrektur des Frequenzgangs durch­ geführt werden. Dazu sind beispielsweise in Kennfeldern 54a, 54b Korrekturwerte K1, K2 abgespeichert, die zum Zwecke der Korrektur mit den Ausgangssignalen der Integratorbausteine 52a, 52b verknüpft werden. Die Ausgangssignale der Integratorbausteine 52a, 52b werden, ggf. nach Frequenzkompensation durch die Frequenzkompensationsmittel 53a, 53b den Eingangsanschlüssen eines Differenzglieds 55 zugeführt, das den Differenzwert ggf. mit einem von einem Referenzglied 56 gelieferten Referenzwert VREF vergleicht. Der Ausgangsanschluß des Differenzglieds 55 ist mit einem Eingangsanschluß eines Ver­ knüpfungsglieds 57 verbunden, dessen Ausgangsanschluß wiederum mit einer Auswerteschaltung 30 verbunden ist. Die Auswerteschaltung 30 ist ihrerseits mit einer Ansteuerschaltung 40 verbunden, an die ein Rückhaltemittel für Fahrzeuginsassen, insbesondere ein Airbag 41, angeschlossen ist. In the block diagram of FIG. 3, acceleration sensors 10 , 20 are each connected to input connections of amplifiers 50 a, 50 b via a resistor-capacitor network with elements that are not described in greater detail. The output connections of the amplifiers 50 a, 50 b can be connected via switching means 51 a, 51 b to input connections of integrator modules 52 a, 52 b, which integrate the output signals present at the output connections of the amplifiers 50 a, 50 b. The switching means 51 a, 51 b are connected to a timer 58 and are actuated by this. The output connections of the integrator modules 52 a, 52 b are connected to input connections of frequency compensation means 53 a, 53 b. With the aid of this frequency compensation means, a correction of the frequency response can be carried out. For this purpose, correction values K1, K2 are stored, for example, in characteristic maps 54 a, 54 b, which are linked with the output signals of the integrator modules 52 a, 52 b for the purpose of correction. The output signals of the integrator components 52 a, 52 b are fed, if necessary after frequency compensation by the frequency compensation means 53 a, 53 b, to the input connections of a differential element 55 , which compares the differential value with a reference value VREF supplied by a reference element 56 , if necessary. The output terminal of the differential element 55 is connected to an input terminal of a coupling element 57 , the output terminal of which is in turn connected to an evaluation circuit 30 . The evaluation circuit 30 is in turn connected to a control circuit 40 to which a restraint device for vehicle occupants, in particular an airbag 41 , is connected.

Die Erfindung macht sich die Tatsache zunutze, daß auch bei dem regulären Betrieb eines Kraftfahrzeugs ständig Beschleunigungen auftreten, die zu einer Überprüfung der die Sensoranordnungen umfassenden elektronischen Einrichtung ausgenutzt werden können. Unter einem regulären Betrieb des Kraftfahrzeugs werden dabei Betriebszustände verstanden, die keine Unfallsituation darstellen. Im Verlauf eines derartigen regulären Betriebszustands treten derartige Beschleunigungen beispielsweise im Zusammenhang mit einem Bremsvorgang auf, dessen typischer Verlauf anhand des in Fig. 4 dargestellten Diagramms erläutert ist. Dieses Diagramm stellt eine Beschleunigungs-Zeit-Kurve dar, bei der also die Beschleunigung a als Funktion der Zeit t aufgetragen ist. In dem Diagramm sind verschiedene charakteristische Zeiten und Beschleunigungswerte her­ vorgehoben, die folgende Bedeutung haben. as ist der Sollwert der gewünschten Vollverzögerung, der unterhalb der maximal möglichen Verzögerung liegt. Mit Tr ist die Reaktionszeit bezeichnet, die ein Fahrer vom Erkennen eines Hindernisses bis zum Betätigen des Brems­ pedals benötigt. Ta ist die Ansprechzeit der Bremse. Tsr ist die Bremsschwellenzeit in der Anstiegsphase, also diejenige Zeitdauer, die im Bremsfall vergeht, um ausgehend vom Verzögerungswert 0,1 as den Verzögerungswert 0,9 as zu erreichen. Analog ist mit Tsf die Bremsschwellenzeit in der Abfallphase der Bremsbetätigung bezeich­ net. Die Bremsschwellenzeit Tsr ist u. a. von der Pedalcharakte­ ristik des Fahrzeugs abhängig. Für kleine Beschleunigungswerte in der Größenordnung zwischen etwa 0,1 bis 0,2 g (g = Erdbeschleuni­ gung) beträgt Tsr ca. 150 bis 250 Millisekunden. Für größere Ver­ zögerungen in der Größenordnung von etwa 0,2 bis 0,8 g beträgt Tsr ca. 250 bis 450 Millisekunden. Die bei üblichen Bremsvorgängen während regulärer Betriebszustände des Kraftfahrzeugs auftretenden Verzögerungswerte in der Größenordnung zwischen etwa 0,1 und 1 g liegen somit wesentlich unter dem in dem Diagramm auch noch einge­ tragenen Verzögerungsgrenzwert von - 4 g, der bei herkömmlichen elektronischen Einrichtungen als unterer Schwellwert für die Auswertung von Beschleunigungswerten vorgesehen ist. Um nun derart vergleichsweise geringe Beschleunigungswerte zum Zwecke der Über­ prüfung der elektronischen Einrichtung, insbesondere der Sensor­ anordnungen, ausnutzen zu können, müssen bestimmte Vorbedingungen erfüllt sein.The invention makes use of the fact that even during regular operation of a motor vehicle accelerations occur continuously which can be used to check the electronic device comprising the sensor arrangements. Regular operation of the motor vehicle is understood to mean operating states that do not represent an accident situation. In the course of such a regular operating state, such accelerations occur, for example, in connection with a braking operation, the typical course of which is explained with the aid of the diagram shown in FIG. 4. This diagram represents an acceleration-time curve, in which acceleration a is plotted as a function of time t. Various characteristic times and acceleration values are highlighted in the diagram, which have the following meaning. he is the setpoint of the desired full deceleration, which is below the maximum possible deceleration. Tr is the reaction time that a driver needs from recognizing an obstacle to pressing the brake pedal. Ta is the response time of the brake. Tsr is the braking threshold time in the rising phase, i.e. the time that elapses in the event of a brake in order to reach the deceleration value 0.9 as starting from the deceleration value 0.1 as. Analogously, the braking threshold time in the fall phase of the brake application is designated by Tsf. The braking threshold time Tsr depends, among other things, on the pedal characteristics of the vehicle. For small acceleration values on the order of about 0.1 to 0.2 g (g = gravitational acceleration), Tsr is approx. 150 to 250 milliseconds. For larger delays in the order of magnitude of approximately 0.2 to 0.8 g, Tsr is approximately 250 to 450 milliseconds. The deceleration values in the order of magnitude between approximately 0.1 and 1 g which occur during normal braking operations during regular operating states of the motor vehicle are thus substantially below the deceleration limit value of - 4 g, which is also entered in the diagram, which is the lower threshold value for conventional electronic devices Evaluation of acceleration values is provided. In order to be able to use such comparatively low acceleration values for the purpose of checking the electronic device, in particular the sensor arrangements, certain preconditions must be met.

Einerseits muß es möglich sein, vergleichsweise langsame Vorgänge zu erfassen, das heißt, Vorgänge, für die giltOn the one hand, it must be possible to perform comparatively slow processes capture, that is, processes to which it applies

In dieser Gleichung bedeuten fguMeßsignal die untere Grenzfrequenz des zu erfassenden Beschleunigungssignals und fgusensor die untere Grenzfrequenz des das Beschleunigungssignal erfassenden Beschleunigungsaufnehmers.In this equation, fgu measurement signal means the lower limit frequency of the acceleration signal to be detected and fgu sensor the lower limit frequency of the acceleration sensor that detects the acceleration signal.

Als weitere Voraussetzung muß es möglich sein, ggf. vorhandene große Unterschiede bezüglich der unteren Grenzfrequenz der verwendeten Sensoren zu berücksichtigen. Weiterhin müssen die im regulären Betriebs des Fahrzeugs auftretenden vergleichweise niedrigen Beschleunigungswerte sehr gut auflösbar sein. Schließlich müssen ggf. noch weitere Einflußgrößen, wie zum Beispiel Temperatur­ einflüsse auf die Empfindlichkeit der Sensoren, berücksichtigt werden können.As a further prerequisite, it must be possible to have existing large ones Differences in the lower cut-off frequency of the used Sensors to consider. Furthermore, the regular Operation of the vehicle occurring comparatively low Acceleration values can be resolved very well. Finally have to if necessary, other influencing variables, such as temperature influences on the sensitivity of the sensors can be.

Das erfindungsgemäße Verfahren wird im folgenden anhand der in Fig. 5 und Fig. 6 dargestellten Diagramme und anhand des in Fig. 7 dargestellten Ablaufdiagramms weiter erläutert.The inventive process is with reference to the diagrams shown further illustrated in FIG 6. 5 and Fig. And with reference to the shown in Fig. 7 flowchart.

Die Ausgangssignale der Sensoranordnungen S1, S2, also die an den Ausgangsanschlüssen der Verstärker 50a, 50b der Fig. 3 anstehenden Signale werden zum Zwecke der Prüfung durch Abtastung erfaßt, indem die Schaltmittel 51a, 51b betätigt werden und dabei die Ausgangs­ anschlüsse der Verstärker 50a, 50b mit den jeweils nachfolgenden Stufen der Schaltungsanordnung verbinden. Für die Abtastzeit TA gilt dabei die BeziehungThe output signals of the sensor arrangements S1, S2, that is to say the signals present at the output connections of the amplifiers 50 a, 50 b of FIG. 3, are detected for the purpose of testing by scanning, by actuating the switching means 51 a, 51 b and thereby the output connections the amplifier 50 a, 50 b connect to the subsequent stages of the circuit arrangement. The relationship applies to the sampling time T A

hierin bedeutet fgoMeßsignal die obere Grenzfrequenz des von der jeweiligen Sensoranordnung zu erfassenden Meßsignals. Zweckmäßig liegt die Abtastzeit TA in einem Bereich zwischen etwa 1 und 50 Millisekunden, insbesondere bei 10 Millisekunden.fgo measurement signal means the upper limit frequency of the measurement signal to be detected by the respective sensor arrangement. The sampling time T A is expediently in a range between approximately 1 and 50 milliseconds, in particular 10 milliseconds.

Bei der Erfassung der Beschleunigungswerte a ist in der Praxis eine Auflösungsgrenze zu beachten, d. h. für die kleinste auflösbare Beschleunigung giltIn practice, when recording the acceleration values a is a Resolution limit to be observed, d. H. for the smallest resolvable Acceleration applies

âmin (Grenze) = 10 · 10-3 g = 0,01 g (9)â min (limit) = 10 · 10 -3 g = 0.01 g (9)

Eine mit akzeptabler Genauigkeit in der Praxis noch erfaßbare Amplitude ist beispielsweiseOne that can still be recorded in practice with acceptable accuracy For example, amplitude

âmin = 100 · 10-3 g = 0,1 g (10)â min = 100 · 10 -3 g = 0.1 g (10)

wenn man von einem Fehler von ± 1 LSB (least significant bit) bei der Analog/Digital-Wandlung ausgeht und einen Erfassungsfehler in der Größenordnung von etwa ±10% bei der Erfassung von âmin ausgeht. Befinden sich die Beschleunigungswerte repräsentierenden Ausgangssignale aS1 bzw. aS2 der Sensoranordnung S1, S2 also die an den Ausgangsanschlüssen der Verstärker 50a, 50b anliegenden Signale, innerhalb eines vorgebbaren Amplitudenfensters, dann wird nach folgender Beziehungif one assumes an error of ± 1 LSB (least significant bit) in the analog / digital conversion and an acquisition error in the order of magnitude of approximately ± 10% in the acquisition of â min . If the output signals aS1 or aS2 representing the acceleration values of the sensor arrangement S1, S2 are thus the signals present at the output connections of the amplifiers 50 a, 50 b, within a predeterminable amplitude window, then the following relationship applies

ein Grundwert GW1/2 gebildet. a basic value GW 1/2 is formed.

Der Wert nmax ist dabei so zu wählen, daß langsame Änderungen des Grundwertes GW1/2 durch Offsetdrift, beispielsweise infolge langsamer Temperaturänderungen, in den hochverstärkenden Meßkanälen der Sensoranordnungen S1, S2 ausgeglichen werden. Beispielsweise wirdThe value n max is to be selected so that slow changes in the basic value GW 1/2 are offset by offset drift, for example as a result of slow temperature changes, in the high-gain measuring channels of the sensor arrangements S1, S2. For example

nmax = 255 (12)n max = 255 (12)

gewählt. Das Amplitudenfenster ist hierbei von der Empfindlichkeit der in den Sensoranordnungen S1, S2 angeordneten Beschleunigungsaufnehmer 10, 20 abhängig.chosen. The amplitude window is dependent on the sensitivity of the acceleration sensors 10 , 20 arranged in the sensor arrangements S1, S2.

Nach Ermittlung der Grundwerte GW1/2 wird geprüft, ob diese Grund­ werte in einem Bereich liegen, der es noch ermöglicht, Beschleuni­ gungsänderungen der erwarteten Größenordnung zu übertragen. Ist dies nicht der Fall, wird keine Prüfung der elektronischen Einrichtung durchgeführt. Nach Erfüllung bestimmter vorgebbarer Kriterien, bei­ spielsweise Fortdauer des zuvor beschriebenen Zustandes, über eine vorgebbare Zeitdauer hinaus, wird eine Fehlermeldung abgegeben.After determining the basic values GW 1/2 , it is checked whether these basic values are in a range that still allows acceleration changes of the expected magnitude to be transferred. If this is not the case, the electronic device is not checked. After certain predefinable criteria have been met, for example if the previously described state continues beyond a predefinable period of time, an error message is issued.

Die Abtastung der von den Sensoranordnungen S1, S2 abgegebenen Aus­ gangssignale aS1, aS2 wird anhand von Fig. 5 erläutert. Der obere Teil des in Fig. 5 dargestellten Diagramms zeigt Beschleuni­ gungs-Zeit-Kurven; in dem unteren Teil ist zusätzlich eine Zeitachse dargestellt. Solange die Beschleunigungssignale aS1, aS2 ihrem Betrag nach einen vorgebbaren Mindestschwellwert, der in dem Diagramm mit a1 bezeichnet ist, nicht überschreiten, werden die Signale nicht abgetastet und nicht zu einer Auswertung herangezogen. Dies ist beispielsweise dann der Fall, wenn die während des regu­ lären Betriebs eines Kraftfahrzeuges auftretenden Brems- und/oder Beschleunigungsvorgänge und/oder Schaltvorgänge derart gering sind, daß die entsprechenden Ausgangssignale der Beschleunigungsaufnehmer 10, 20 im Rauschen untergehen und nicht mehr auswertbar sind. Überschreitet das Ausgangssignal aS1, aS2 der Sensoranordnungen S1, S2 jedoch von seinem Betrag her den vorgebbaren Mindestschwellwert a1, der beispielsweise bei etwa 0,1 g liegt, so wird eine Auswertung der Sensorausgangssignale begonnen. Die Auswertung beginnt dabei, sobald mindestens ein Signal aS1, aS2 in einem der beiden Signal­ kanäle den vorgebbaren Mindestschwellwert a1 überschreitet. Dies ist in Fig. 5 zum Zeitpunkt T1 der Fall, da dort das Signal aS2 be­ tragsmäßig den vorgegebenen Grenzwert a1 überschreitet. In diesem Zeitpunkt T1 wird ein erstes Zeitfenster T1-T2 geöffnet (siehe die Zeitachse in dem unteren Teil des Diagramms gemäß Fig. 5), inner­ halb dessen die Signale aS1, aS2 kanalweise abgetastet und aus­ gewertet werden. Die Auswertung umfaßt einen Integrationsvorgang< der für die beiden Kanäle der Sensorordnungen S1 und S2 in dem Diagramm gemäß Fig. 6 dargestellt ist. In beiden, in Fig. 6 dargestellten, Kurvenverläufen, wird ein Integralwert I als Funktion der Zeit t gebildet. Und zwar wird in dem oberen Teil der Dar­ stellung der Fig. 6 der Integralwert a*S1 des Signals aS1 gebildet. Dieser Integralwert erreicht zum Zeitpunkt T2, also am Ende des ersten Zeitfensters oder Abtastintervalls T1-T2 den Wert IS1. Die untere Kurve stellt den Integralwert a*S2 des Signals aS2, ebenfalls für das Zeitintervall T1-T2 dar. Am Ende des Zeitfensters, also zum Zeitpunkt T2, wird der Integralwert IS2 erreicht. Zum Zeitpunkt T′1 beginnt ein neues Zeitfenster oder Abtastintervall T′1-T′2; der Endpunkt dieses Zeitfensters, also der Zeitpunkt T′2, ist in dem Diagramm gemäß Fig. 6 nicht mehr dargestellt.The sampling of the output signals aS1, aS2 emitted by the sensor arrangements S1, S2 is explained with reference to FIG. 5. The upper part of the diagram shown in Fig. 5 shows acceleration-time curves; a time axis is also shown in the lower part. As long as the magnitude of the acceleration signals aS1, aS2 do not exceed a predefinable minimum threshold value, which is designated a1 in the diagram, the signals are not sampled and are not used for an evaluation. This is the case, for example, when the braking and / or acceleration processes and / or switching processes occurring during the regular operation of a motor vehicle are so small that the corresponding output signals of the acceleration sensors 10 , 20 are lost in noise and can no longer be evaluated. However, if the output signal aS1, aS2 of the sensor arrangements S1, S2 exceeds the predefinable minimum threshold value a1, which is, for example, about 0.1 g, an evaluation of the sensor output signals is started. The evaluation begins as soon as at least one signal aS1, aS2 in one of the two signal channels exceeds the predefinable minimum threshold value a1. This is the case in FIG. 5 at the time T1, since the signal aS2 there exceeds the predetermined limit value a1. At this point in time T1, a first time window T1-T2 is opened (see the time axis in the lower part of the diagram according to FIG. 5), within which the signals aS1, aS2 are sampled and evaluated channel by channel. The evaluation comprises an integration process <which is shown for the two channels of the sensor arrangements S1 and S2 in the diagram according to FIG. 6. In both of the curve profiles shown in FIG. 6, an integral value I is formed as a function of the time t. Namely, the integral value of a * S1 is in the upper part of Dar position of FIG. 6 of the signal aS1 formed. This integral value reaches the value IS1 at the time T2, that is to say at the end of the first time window or sampling interval T1-T2. The lower curve represents the integral value a * S2 of the signal aS2, likewise for the time interval T1-T2. At the end of the time window, that is to say at the time T2, the integral value IS2 is reached. At time T'1 a new time window or sampling interval T'1-T'2 begins; the end point of this time window, ie the time T'2, is no longer shown in the diagram according to FIG. 6.

Die Erfassung und Auswertung der Signale aS1, aS2 erfolgt während einer vorgebbaren Meßdauer TM, die 100 bis 500 Millisekunden, vor­ zugsweise 200 bis 300 Millisekunden beträgt. Die Abtastintervalle innerhalb der Meßdauer TM, also die Zeitfenster oder Zeitintervalle T1-T2, T′1-T′2, haben eine Dauer von 5 bis 50 Millisekunden, vor­ zugsweise von 10 bis 20 Millisekunden. Sofern die Signale aS1, aS2 während der Meßzeit TM die vorgebbaren Grenzwerte -a1, a1 unter­ schreiten, also in das in dem in Fig. 5 dargestellten Ausführungs­ beispiel symmetrisch um die T-Achse den Rauschuntergrund dar­ stellende Wertefenster von a wiedereintauchen, wird die Messung nicht gewertet. Weiterhin hat es sich als zweckmäßig erwiesen, in den Signalkanälen für die Verarbeitung der Signale aS1, aS2 Tief­ pässe anzuordnen, die in dem Blockschaltbild gemäß Fig. 1 mit Bezugsziffern 19, 22 bezeichnet sind. Mit Hilfe dieser Tiefpässe lassen sich ggf. das Meßergebnis verfälschende Spitzenwerte unterdrücken. Die Grenzfrequenz des Tiefpasses 19, 22 liegt vorzugsweise zwischen etwa 30 bis 40 Hz.The acquisition and evaluation of the signals aS1, aS2 takes place during a predeterminable measuring period TM, which is 100 to 500 milliseconds, preferably 200 to 300 milliseconds. The sampling intervals within the measuring period TM, that is, the time windows or time intervals T1-T2, T'1-T'2, have a duration of 5 to 50 milliseconds, preferably 10 to 20 milliseconds. If the signals aS1, aS2 fall below the predeterminable limit values -a1, a1 during the measuring time TM, that is to say again in the value window of a representing the noise background in the embodiment shown in FIG. 5 symmetrically around the T-axis, the measurement is carried out Unrated. Furthermore, it has proven to be expedient to arrange low-pass filters in the signal channels for processing the signals aS1, aS2, which are denoted in the block diagram according to FIG. 1 with reference numbers 19 , 22 . These low-pass filters can be used to suppress peak values that falsify the measurement result. The limit frequency of the low pass 19 , 22 is preferably between about 30 to 40 Hz.

Im folgenden wird unter Bezug auf Fig. 8 bis Fig. 12 dargestellt, daß bei Beschleunigungsaufnehmern bzw. Sensoranordnungen der Einfluß der unteren Grenzfrequenz fgu, bis auf deren Toleranz ausgeglichen werden kann, sofern sich die Auflösung des Meßsignals für die Meßwerte genügend steigern läßt. In realen Systemen sind dabei einer Steigerung der Auflösung Grenzen gesetzt, da es nicht möglich ist, für eine beliebig lange Meßzeit TM, unabhängig von dem zu messenden Signal, den Einfluß der unteren Grenzfrequenz fgu zu beseitigen. Zur weiteren Erläuterung wird zunächst auf Fig. 8 Bezug genommen, in deren oberer Teil eine Sensoranordnung S dargestellt ist, der eingangsseitig ein Beschleunigungssignal a(t) zugeführt wird und die ausgangsseitig ein beschleunigungsabhängiges Ausgangssignal b(t) liefert. Die Sensoranordnung habe eine untere Grenzfrequenz fgu, eine obere Grenzfrequenz fgo, wobei gilt:In the following 8 is described with reference to FIG. To FIGS. 12, that for accelerometers or sensor arrangements of the influence of the lower limit frequency fgu, can be compensated to their tolerance is provided that the resolution of the measured signal for the measured values can be increased sufficiently. In real systems there are limits to increasing the resolution, since it is not possible to remove the influence of the lower limit frequency fgu for an arbitrarily long measuring time TM, regardless of the signal to be measured. For further explanation, reference is first made to FIG. 8, in the upper part of which a sensor arrangement S is shown, to which an acceleration signal a (t) is supplied on the input side and which supplies an acceleration-dependent output signal b (t) on the output side. The sensor arrangement has a lower limit frequency fgu, an upper limit frequency fgo, where:

Mit E ist die Empfindlichkeit der Sensoranordnung S bezeichnet. Handelsübliche Sensoren haben beispielsweise eine Empfindlichkeit vonE denotes the sensitivity of the sensor arrangement S. Commercial sensors have a sensitivity, for example from

Charakteristische Kurvenverläufe der Signale a, b als Funktion der Zeit sind beispielhaft in dem unteren Teil der Fig. 8 dargestellt. Ist nun âmin die kleinste mit einem noch tolerierbaren Fehler erfaßbare Amplitude des Meßsignals und wählt manCharacteristic curves of the signals a, b as a function of time are shown by way of example in the lower part of FIG. 8. If â min is the smallest amplitude of the measurement signal that can be detected with a tolerable error, then one selects

| b(t) | dt E · âmin (16)| b (t) | dt E · min (16)

so läßt sich das unverfälschte Integral des Meßsignals a (t) aus dem durch die untere Grenzfrequenz des Sensors S verfälschten Signal b (t) wiedergewinnen.the unadulterated integral of the measurement signal a (t) can be determined from the signal distorted by the lower limit frequency of the sensor S. recover b (t).

Den idealen Meßwert MWi The ideal measured value MW i

erhält man durch Anwendung einer mathematischen Vorschrift V auf das Signal b (t), d. h. es giltis obtained by applying a mathematical rule V to that Signal b (t), d. H. it applies

MWi = V { b (t) } (18)MW i = V {b (t)} (18)

falls die Beziehung (16) erfüllt ist und falls weiterhin giltif the relationship (16) is fulfilled and if it still applies

t ε [T1, T1 + TM] (19)t ε [T1, T1 + TM] (19)

Im Idealfall ließe sich das Meßsignal gemäß Fig. 9 durch direkte Abtastung ermitteln, falls das Meßsignal keine höhere Frequenz als die obere Grenzfrequenz fgo aufwiese und falls man die Abtastzeit gemäß Beziehung (8) wählte:Ideally, the measurement signal according to FIG. 9 could be determined by direct sampling if the measurement signal did not have a frequency higher than the upper limit frequency fgo and if the sampling time was selected according to relationship (8):

Mit T1 ist in Fig. 9 der Beginn der Messung und mit T1 + TM der Endpunkt der Messung bezeichnet. TM ist die gesamte Meßdauer, während die Abtastzeit mit TA bezeichnet ist. Aus den in Fig. 9 dargestellten Abtastwerten ergibt sich die in Fig. 10 dargestellte ideale Treppenfunktion a⁺(t), die aufgrund des Abtasttheorems weitgehend angenähert das Beschleunigungssignal a (t) wiedergibt. Wird nun das Signal a⁺(t) einem Sensor S mit der Filtercharakteristik eines Bandpasses (untere Grenzfrequenz fgu, obere Grenzfrequenz fgo) zugeführt, wobei giltThe start of the measurement is designated by T1 in FIG. 9 and the end point of the measurement by T1 + TM. TM is the total measuring time, while the sampling time is called TA. The sample values shown in FIG. 9 result in the ideal staircase function a⁺ (t) shown in FIG. 10, which largely reproduces the acceleration signal a (t) due to the sampling theorem. If the signal a⁺ (t) is now fed to a sensor S with the filter characteristic of a bandpass filter (lower limit frequency fgu, upper limit frequency fgo), where

fgoMeßsignal « fgo (20)fgo measurement signal «fgo (20)

so werden die Treppensprünge in der Funktion a⁺(t) nahezu ideal durch den Sensor S im betrachteten Zeitmaßstab wiedergegeben. Da aber giltthis makes the steps in the a Funktion (t) function almost ideal reproduced by the sensor S in the time scale under consideration. There but applies

fguMeßsignal fgu (21)fgu measurement signal fgu (21)

nimmt die Treppenhöhe innerhalb der Abtastzeiten TA, wie aus Fig. 11 ersichtlich ist, stark ab. In Fig. 11 bedeuten:the staircase height decreases sharply within the sampling times TA, as can be seen from FIG. 11. 11 indicate in Fig.:

a (t): Meßsignal,
b (t): Sensor-Ausgangssignal,
a⁺(t): durch Abtastung im Abstand TA des Sensorausgangssignals gewonnene Treppenfunktion
bH (t): Hilfsfunktion zur Konstruktion von b (t).
a (t): measurement signal,
b (t): sensor output signal,
a⁺ (t): staircase function obtained by sampling at the distance TA of the sensor output signal
b H (t): auxiliary function for the construction of b (t).

b (t) ist das Ausgangssignal des Sensors, wenn die Treppenfunktion a⁺(t) als Eingangssignal wirkt.b (t) is the output signal of the sensor when the stair function a⁺ (t) acts as an input signal.

Läßt sich die Bandpaßcharakteristik des Sensors S im Bereich seiner unteren Grenzfrequenz fgu durch ein Filter erster Ordnung beschreiben, so gilt:Can the bandpass characteristic of the sensor S be in the range of its lower limit frequency fgu through a first order filter describe, the following applies:

Usp (t) = E · â · e-t/ (22)U sp (t) = E · â · e -t / (22)

fürFor

mitWith

Darin bedeuten E = Empfindlichkeit des Sensors und â = Sprunghöhe des Meßsignals.E = sensitivity of the sensor and â = jump height of the measurement signal.

Aufgrund der Kenntnis dieser Sprungantwort (oder ggf. jeder anders gearteten Antwort auf einen Sprung bei Filtern höherer Ordnung), läßt sich das Sensorsignal b (t) aus der Treppenfunktion a⁺(t) des abgetasteten Meßsignals berechnen. Wie die Darstellung dieser Funktionen in Fig. 12 zeigt, weicht das abgetastete Sensorsignal am Ende der Meßzeit TM schon erheblich von dem abgetasteten Ursprungssignal ab. Daraus ergibt sich, daß die Meßzeiten TM nicht zu groß gewählt werden dürfen. Based on the knowledge of this step response (or possibly any other type of response to a step with filters of a higher order), the sensor signal b (t) can be calculated from the step function a⁺ (t) of the sampled measurement signal. As the illustration of these functions in FIG. 12 shows, at the end of the measuring time TM the sampled sensor signal already deviates considerably from the sampled original signal. It follows from this that the measuring times TM must not be chosen too long.

Aus Gründen der Vereinfachung wird im folgenden T1 = 0 gesetzt; weiterhin werden folgende Abkürzungen eingeführt:For reasons of simplification, T1 = 0 is set in the following; the following abbreviations are also introduced:

Durch konsequente Anwendung der Beziehung (22) auf die Funktion a⁺(t) erhält man:By consistently applying the relationship (22) to the function a⁺ (t) one gets:

Bei integraler Auswertung gilt mit:With integral evaluation, the following applies:

Unter Verwendung der Simpsonregel (n, gerade) gilt:Using the Simpson rule (n, even):

Unter Verwendung der Gleichungen (32) und (33) folgt aus (34):Using equations (32) and (33), it follows from (34):

Mit Gleichung (35) ist damit die Vorschrift V gegeben, die es ermöglicht, durch Abtastung des Sensor-Ausgangssignals b (t), trotz beschränkter unterer Grenzfrequenz fgo des Sensors s, langsame physikalische Meßsignale (mit fgoMeß < fgo) richtig zu erfassen, solange die zu erfassenden Signalwerte nicht zu stark durch das endliche Auflösungsvermögen des Meßkanals verfälscht werden. Da in Gleichung (35) neben den jeweiligen Abtastwerten des Sensor-Ausgangssignals b⁺(t) lediglich Konstanten vorkommen, die einmal festgelegt werden müssen, ist diese Beziehung besonders vorteilhaft für vergleichsweise einfache Mikroprozessorsysteme, wie sie in Steuergeräten eingesetzt werden. Mit der erfindungsgemäß vorgeschlagenen Lösung ist es beispielsweise möglich, mit einem Beschleunigungssensor eines Airbagsystems, der eine Zeitkonstante von ca. 250 Millisekunden aufweist, noch Bremsvorgänge zu erfassen, die mit Beschleunigungsänderungen in der Größenordnung von etwa 0,5 g pro 300 Millisekunden einhergehen.Equation (35) thus provides regulation V, which makes it possible to correctly record slow physical measurement signals (with fgo measurement <fgo) by scanning sensor output signal b (t), despite the limited lower cut-off frequency fgo of sensor s, as long as the signal values to be recorded are not falsified too much by the finite resolution of the measuring channel. Since in equation (35) in addition to the respective samples of the sensor output signal b⁺ (t) there are only constants that have to be determined once, this relationship is particularly advantageous for comparatively simple microprocessor systems, such as those used in control units. With the solution proposed according to the invention, it is possible, for example, to use an acceleration sensor of an airbag system that has a time constant of approximately 250 milliseconds to still detect braking processes that are associated with changes in acceleration in the order of magnitude of approximately 0.5 g per 300 milliseconds.

Zu den nur einmal neu zu ermittelnden und dann abzuspeichernden Termen gehören die in den folgenden Gleichungen (36) und (37) aufgeführten Abklingfaktoren AF1 für die Sensoranordnung S1 und AF2 für die Sensoranordnung S2:The only ones to be determined once and then saved Terms include those in equations (36) and (37) below decay factors AF1 listed for the sensor arrangement S1 and AF2 for sensor arrangement S2:

TA ist die bereits mehrfach erwähnte Abtastzeit. E steht allgemein für die Empfindlichkeit eines Sensors S. Für die Sensoranordnung S1 ist anstelle von E der Wert E1 zu setzen und für die Sensoranordnung S2 entsprechend der Wert E2.TA is the sampling time already mentioned several times. E is general for the sensitivity of a sensor S. For the sensor arrangement S1 the value E1 must be set instead of E and for the sensor arrangement S2 corresponds to the value E2.

Die Empfindlichkeiten E1, E2 der Sensoranordnungen S1, S2 sind Funktionen der Temperatur ϑ und lassen sich, gemäß den folgenden Beziehungen (38), (39) als eine entsprechende Reihenentwickung darstellen:The sensitivities E1, E2 of the sensor arrangements S1, S2 are Functions of temperature ϑ and can be, according to the following Relationships (38), (39) as a corresponding series expansion represent:

E1 = E1 (ϑ) = e¹2 ϑ² + e¹1 ϑ + e¹0 (38)E1 = E1 (ϑ) = e¹2 ϑ² + e¹1 ϑ + e¹0 (38)

E2 = E2 (ϑ) = e²2 ϑ² + e²2 · ϑ + e²0 (39)E2 = E2 (ϑ) = e²2 ϑ² + e²2 · ϑ + e²0 (39)

Auch die im Exponenten der Abklingfaktoren AF1, AF2 gemäß (36) und (37) erscheinenden Größen 1 und 2 sind temperaturabhängig und lassen sich entsprechend als Reinentwicklung darstellen:Also those in the exponent of the decay factors AF1, AF2 according to (36) and (37) appearing sizes 1 and 2 are temperature dependent and can be represented as a pure development:

1 = 1 (ϑ) = f¹2 · ϑ² + f¹1 · ϑ + f¹0 (40)1 = 1 (ϑ) = f¹2 · ϑ² + f¹1 · ϑ + f¹0 (40)

2 = 2 (ϑ) = f²2 · ϑ² + f²1 · ϑ + f²0 (41)2 = 2 (ϑ) = f²2 · ϑ² + f²1 · ϑ + f²0 (41)

Auf besonders zweckmäßige Art und Weise wird die Temperaturabhängig­ keit der vorgenannten Größen schon bei der Herstellung des elektro­ nischen Gerätes in der Weise berücksichtigt, daß das elektronische Gerät, insbesondere dessen Sensoranordnungen S1, S2 (vgl. dazu ins­ besondere Fig. 2 und Fig. 3) zum Zwecke der Prüfung unterschied­ lichen Umgebungstemperaturen ausgesetzt werden. Zweckmäßig werden mindestens drei Temperaturwerte RT, HT und TT eingestellt, wobei RT der mittleren Raumtemperatur entspricht und HT sowie TT extrem hohe bzw. niedrige Temperaturwerte darstellen, denen das elektronische Gerät während seines Einsatzes in einem Kraftfahrzeug ausgesetzt ist. Gemäß Fig. 2 und Fig. 3 umfaßt das elektronische Gerät einen Temperatursensor 59, der diese Testtemperaturen erfaßt und ein entsprechendes Ausgangssignal erzeugt, das dann, wie beispielsweise aus Fig. 2 ersichtlich ist, auch über einen A/D-Wandler A/D-5 in ein digitales Signal umgesetzt wird. Aus den Prüftemperaturen wird zweckmäßig mit Hilfe eines externen Rechners ein Interpolations­ polynom beispielsweise zweiter Ordnung ermittelt, dessen Konstanten in einem Speicherbereich des geräteeigenen Prozessors 12, also beispielsweise in der Speichereinheit 15 des Prozessors 12 in Fig. 2 abgelegt werden. Im regulären Betrieb greift dann das elektro­ nische Gerät nach Maßgabe der vom Temperatursensor 59 jeweils festgestellten Umgebungstemperatur auf diese abgespeicherten Werte zurück, um temperaturabhängige Korrekturen durchführen zu können.In particularly advantageous manner, the temperature dependent ness of the above sizes, already during the manufacture of the considered electrostatic African device in such a manner that the electronic device, in particular its sensor arrays S1, S2 (see FIG. Thereto in particular Fig. 2 and Fig. 3 ) are exposed to different ambient temperatures for the purpose of testing. At least three temperature values RT, HT and TT are expediently set, RT corresponding to the mean room temperature and HT and TT representing extremely high or low temperature values to which the electronic device is exposed during its use in a motor vehicle. Referring to FIG. 2 and FIG. 3 includes the electronic equipment a temperature sensor 59 which detects these test temperatures and generates a corresponding output signal, which is then seen for example from Fig. 2, also via an A / D converter A / D 5 is converted into a digital signal. An interpolation polynomial, for example of second order, is expediently determined from the test temperatures with the aid of an external computer, the constants of which are stored in a memory area of the device's own processor 12 , that is to say for example in the memory unit 15 of the processor 12 in FIG. 2. In regular operation, the electronic device then uses these stored values in accordance with the ambient temperature determined by the temperature sensor 59 in order to be able to carry out temperature-dependent corrections.

Die in den Abklingfaktoren AF1, AF2 gemäß Gleichung (36) und (37) auftretenden Zeitkonstanten τ1 , τ2 der unteren Grenzfrequenzen fgu der Sensoranordnungen S1, S2 werden zweckmäßig wie folgt ermittelt. Bei der Herstellung des elektronischen Geräts werden den Sensor­ anordnungen S1, S2 (vgl. Ausführungsbeispiel nach Fig. 2) über Testleitungen Test1, Test2 zu jeweils zwei verschiedenen Meßzeit­ punkten sprungförmige Testsignale zugeleitet. Die an den Ausgangs­ anschlüssen der Sensoranordnungen S1, S2 entstehenden Ausgangs­ spannungen werden über Verstärker 11′, 21′ A/D-Wandlern A/D-3 und A/D-4 zugeleitet und in digitale Signale umgewandelt. Diese Messungen werden ebenfalls bei mindestens 3 unterschiedlichen Umgebungstemperaturen RT, HT und TT durchgeführt. Die Sensor­ anordnungen S1, S2 antworten auf die Testsignale Test1, Test2 mit einem Ausgangssignal, das die Gestalt einer abklingenden e-Funktion hat. Aus dieser e-Funktion lassen sich die Zeitkonstanten τ1, τ2 bestimmen. Diese Zeitkonstanten werden, wie bereits erwähnt, für drei unterschiedliche Temperaturwerte ermittelt. Aus diesen Größen kann dann wiederum mit Hilfe eines ggf. externen Rechners ein Inter­ polationspolynom zweckmäßig von maximal zweiter Ordnung für den Abklingfaktor, siehe Gleichungen (36) und (37), ermittelt werden. Die Konstanten dieser Interpolationspolynome werden wiederum in der Speichereinheit 15 des Prozessors 12 abgespeichert.The time constants τ1, τ2 of the lower limit frequencies fgu of the sensor arrangements S1, S2 that occur in the decay factors AF1, AF2 according to equations (36) and (37) are expediently determined as follows. In the manufacture of the electronic device, the sensor arrangements S1, S2 (cf. exemplary embodiment according to FIG. 2) via test lines Test1, Test2 are supplied with jump test signals at two different measuring times. The resulting at the output connections of the sensor arrangements S1, S2 output voltages are fed via amplifiers 11 ', 21 ' A / D converters A / D-3 and A / D-4 and converted into digital signals. These measurements are also carried out at at least 3 different ambient temperatures RT, HT and TT. The sensor arrangements S1, S2 respond to the test signals Test1, Test2 with an output signal which has the shape of a decaying e-function. The time constants τ1, τ2 can be determined from this e-function. As already mentioned, these time constants are determined for three different temperature values. An interpolation polynomial of a maximum of second order for the decay factor can then advantageously be determined from these variables with the aid of a possibly external computer, see equations (36) and (37). The constants of these interpolation polynomials are in turn stored in the memory unit 15 of the processor 12 .

Die auf die zuvor beschriebene Weise gewonnenen Korrekturfaktoren werden in der regulären Betriebsweise des elektronischen Gerätes für eine Korrektur der Sensorausgangssignale herangezogen. Dies wird anhand der schematischen Darstellung der Fig. 6 erläutert. Oben wurde bereits ausgeführt, daß die Sensorausgangssignale aS1, aS2 integriert werden, so daß sich die Signale a*S1 und a*S2 ergeben. Einen korrigierten Signalverlauf erhält man aus diesen Integrations­ werten beispielsweise dadurch, daß im Zeitpunkt T2, also am Ende eines Abtastintervalls TA Korrekturwerte K1 zu dem Signal a*1 bzw. K2 zu dem a*S2 hinzugeführt werden. Mit derart korrigierten Meß­ werten MWi, also bei beiden Sensoranordnungen S1, S2 mit den Meß­ werten MW1 und MW2, wird dann gemäß der folgenden Beziehung (42)The correction factors obtained in the manner described above are used in the regular operating mode of the electronic device for correcting the sensor output signals. This is explained on the basis of the schematic illustration in FIG. 6. It has already been stated above that the sensor output signals aS1, aS2 are integrated, so that the signals a * S1 and a * S2 result. A corrected signal curve can be obtained from these integration values, for example, by adding correction values K1 to the signal a * 1 and K2 to the a * S2 at the time T2, that is to say at the end of a sampling interval TA. With measured values MWi corrected in this way, that is to say with two sensor arrangements S1, S2 with measured values MW1 and MW2, the following relationship (42)

eine Differenzbildung durchgeführt, um den Differenzwert D zu erhalten. Im Anschluß daran wird abgefragt, vgl. Beziehung (43),a difference is formed in order to obtain the difference value D receive. Subsequently, a query is made, cf. Relationship (43),

ob dieser Differenzwert D unterhalb eines vorgebbaren Sollwertes F liegt. Sofern das der Fall ist, wird auf eine ordnungsgemäße Funktion der Sensoranordnungen S1, S2 geschlossen, andernfalls wird eine Fehlermeldung veranlaßt.whether this difference value D is below a predeterminable target value F lies. If that is the case, the order is correct Function of the sensor arrangements S1, S2 is closed, otherwise causes an error message.

Der gesamte Prüfungsablauf der Sensoranordnungen S1 und S2 wird nochmals anhand des Ablaufdiagramms der Fig. 7 kurz erläutert. Der Schritt 100 startet die Prüfung und gibt ggf. Mindestwerte -a1, a1 der Beschleunigung vor, die für eine Auswertung überschritten werden müssen. Im Schritt 200 werden die Ausgangssignale aS1 und aS2 der Sensoranordnungen S1 und S2 erfaßt. Im Schritt 300 wird überprüft, ob wenigstens eines der Ausgangssignale aS1, aS2 der Sensoranordnun­ gen S1, S2 betragsmäßig den vorgebbaren Mindestwert a1 der Beschleu­ nigung übersteigt. Falls das zutrifft wird im Schritt 400 ein Zeit­ fenster, beispielsweise das Zeitfenster T1-T2 geöffnet und während einer Abtastzeit das Ausgangssignal der Sensoranordnung S1, S2 erfaßt. In einem Schritt 500 werden die Integralwerte I der Sensor­ ausgangssignale, also I s1 und I s2 gebildet. In dem Schritt 600 wird das Zeitfenster geschlossen. Im Schritt 700 werden die er­ mittelten Integralwerte I s1 und I s2 mit Korrekturwerten K1, K2 verknüpft. Die derart korrigierten Integralwerte werden anschließend in einem Schritt 800 einer Differenzbildung unterzogen, um den Differenzwert D zu erhalten. In einem Schritt 900 wird anschließend festgestellt, ob der ermittelte Differenzwert D unterhalb eines vorgebbaren Sollwertes F liegt. Sollte das der Fall sein, wird in einem Schritt 1000 bestätigt, daß die Sensoranordnungen S1, S2 in Ordnung sind. Sollte der Differenzwert D größer als der vorgebbare Sollwert F sein, dann wird in dem Schritt 2000 eine Fehlermeldung veranlaßt und darauf hingewiesen, daß die Sensoranordnungen S1, S2 fehlerhaft sind.The entire test sequence of the sensor arrangements S1 and S2 is briefly explained again using the flow diagram in FIG. 7. Step 100 starts the test and, if necessary, specifies minimum values -a1, a1 of the acceleration which must be exceeded for an evaluation. In step 200 , the output signals aS1 and aS2 of the sensor arrangements S1 and S2 are detected. In step 300 it is checked whether at least one of the output signals aS1, aS2 of the sensor arrangements S1, S2 exceeds the predefinable minimum value a1 of the acceleration in terms of amount. If this is the case, a time window, for example the time window T1-T2, is opened in step 400 and the output signal of the sensor arrangement S1, S2 is detected during a sampling time. In a step 500 , the integral values I of the sensor output signals, that is to say I s1 and I s2, are formed. In step 600 , the time window is closed. In step 700 , the determined integral values I s1 and I s2 are linked with correction values K1, K2. The integral values corrected in this way are then subjected to a difference formation in a step 800 in order to obtain the difference value D. In a step 900 it is then determined whether the determined difference value D is below a predeterminable target value F. If this is the case, it is confirmed in a step 1000 that the sensor arrangements S1, S2 are OK. If the difference value D is greater than the predefinable target value F, then an error message is initiated in step 2000 and it is pointed out that the sensor arrangements S1, S2 are faulty.

Durch das beschriebene Verfahren ist es möglich, ein zwei Sensor­ anordnungen S1, S2 umfassendes elektronisches Gerät auch durch Aus­ wertung vergleichsweise langsamer Regelvorgänge, wie sie übliche Bremsvorgänge im Straßenverkehr darstellen, mit hoher Güte zu über­ wachen und auftretende Fehler, beispielsweise zu große Empfindlich­ keitsabweichungen zwischen den Sensorkanälen, unverzüglich zu er­ kennen. Auf diese Weise wird eine außerordentlich hohe Betriebs­ sicherheit des elektronischen Gerätes erreicht, da die bisher nur schwer überprüfbaren Sensoren jetzt einer ständigen Kontrolle unter­ liegen.The described method makes it possible to use a two sensor arrangements S1, S2 comprehensive electronic device also by off evaluation of comparatively slow control processes, as usual Represent braking processes in road traffic with high quality over awake and occurring errors, for example too sensitive deviations between the sensor channels, he immediately know. In this way, an extremely high operating Security of the electronic device has been achieved since so far only difficult to check sensors now under constant control lie.

Claims (21)

1. Verfahren zur Überprüfung einer mindestens zwei beschleunigungs­ empfindliche Sensoranordnungen umfassenden elektronischen Einrich­ tung, insbesondere Sicherheitseinrichtung für Fahrzeuginsassen, dadurch gekennzeichnet, daß die im normalen Fahrbetrieb des Fahr­ zeugs, beispielsweise durch Beschleunigungs- und/oder Bremsvorgänge auftretenden Beschleunigungssignale ausgewertet werden.1. A method for checking an at least two acceleration-sensitive sensor arrangements comprising electronic Einrich device, in particular safety device for vehicle occupants, characterized in that the acceleration signals occurring in normal driving operation of the vehicle, for example by acceleration and / or braking operations, are evaluated. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die unter einem Grenzwert von etwa 4 g, insbesondere zwischen -1 g und +1 g liegenden Beschleunigungssignale ausgewertet werden.2. The method according to claim 1, characterized in that the under a limit of approximately 4 g, in particular between -1 g and +1 g lying acceleration signals are evaluated. 3. Verfahren zur Überprüfung einer mindestens zwei beschleunigungs­ empfindliche Sensoranordnungen (S1, S2) umfassenden elektronischen Einrichtung, dadurch gekennzeichnet, daß ein Mindestbeschleunigungs­ wert (a1, -a1) vorgegeben wird, daß die Ausgangssignale (aS1, aS2) von mindestens zwei Sensoranordnungen (S1, S2) erfaßt werden, daß geprüft wird, ob die Ausgangssignale (aS1, aS2) mindestens einer der Sensoranordnungen (S1, S2) den Mindestbeschleunigungswert (a1, -a1) überschreiten, daß bei Überschreitung des Mindestbeschleunigungs­ wertes (a1, -a1) ein Zeitfenster bzw. Zeitintervall (T1-T2) geöffnet wird, daß in dem Zeitfenster (T1-T2) die Ausgangssignale (aS1, aS2) beider Sensoranordnungen (S1, S2) integriert werden, daß die nach dem Schließen des Zeitfensters (T1-T2) gewonnenen Integratorwerte (IS1, IS2) mit Korrekturwerten (K1, K2) verknüpft werden, um die korrigierten Integratorwerte (IS1*, IS2*) zu bilden, daß die Differenz der korrigierten Integratorwerte (IS1*, IS2*) gebildet wird, und daß geprüft wird, ob diese Differenz einen vorgebbaren Schwellwert (F) überschreitet.3. Procedure for checking at least two accelerations sensitive electronic sensor assemblies (S1, S2) Device, characterized in that a minimum acceleration value (a1, -a1) that the output signals (aS1, aS2) by at least two sensor arrangements (S1, S2) that it is checked whether the output signals (aS1, aS2) at least one of the Sensor arrangements (S1, S2) the minimum acceleration value (a1, -a1) exceed that when the minimum acceleration is exceeded value (a1, -a1) a time window or time interval (T1-T2) is opened  is that in the time window (T1-T2) the output signals (aS1, aS2) Both sensor arrangements (S1, S2) are integrated so that the after the integrator values obtained after closing the time window (T1-T2) (IS1, IS2) with correction values (K1, K2) are linked to the corrected integrator values (IS1 *, IS2 *) to form that the Difference of the corrected integrator values (IS1 *, IS2 *) formed and that it is checked whether this difference is a predefinable one Threshold value (F) exceeded. 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß als Korrekturwerte (K1, K2) konstante Werte verwendet werden.4. The method according to claim 3, characterized in that as Correction values (K1, K2) constant values can be used. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn­ zeichnet, daß als Korrekturwerte (K1, K2) variable Werte verwendet werden, wobei gilt K1, K2 = f (P1, P2, . . . Pn), mit P1 bis Pn als Betriebsparametern, insbesondere der Umgebungstemperatur.5. The method according to any one of claims 1 to 3, characterized shows that variable values are used as correction values (K1, K2) , where K1, K2 = f (P1, P2, ... Pn), with P1 to Pn as Operating parameters, especially the ambient temperature. 6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Korrekturwerte (K1, K2) in einer Tabelle oder in einem Kennfeld abgespeichert sind.6. The method according to any one of claims 1 to 5, characterized records that the correction values (K1, K2) in a table or in a map are stored. 7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekenn­ zeichnet, daß eine Gesamtmeßdauer (TM) vorgesehen ist und daß innerhalb dieser Gesamtmeßdauer (TM) mindestens ein Zeitfenster (T1-T2, T1′-T2′) vorgesehen ist.7. The method according to any one of claims 1 to 6, characterized records that a total measuring period (TM) is provided and that at least one time window within this total measuring period (TM) (T1-T2, T1'-T2 ') is provided. 8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Dauer der Gesamtmeßdauer (TM) zwischen 100 bis 500 Millisekunden, vorzugsweise 200 bis 300 Millisekunden beträgt. 8. The method according to any one of claims 1 to 7, characterized records that the duration of the total measuring period (TM) between 100 to 500 Is milliseconds, preferably 200 to 300 milliseconds.   9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Dauer eines Zeitfensters (T1-T2, T1′-T2′) zwischen 5 und 50 Millisekunden, vorzugsweise zwischen 10 bis 20 Milli­ sekunden beträgt.9. The method according to any one of claims 1 to 8, characterized records that the duration of a time window (T1-T2, T1'-T2 ') between 5 to 50 milliseconds, preferably between 10 to 20 milliseconds seconds. 10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Ausgangssignale (aS1, aS2) der Sensoranordnungen (S1, S2), bzw. daraus abgeleitete Größen, mit Korrekturfaktoren (K1, K2) verknüpft werden, um störende Toleranzschwankungen der Sensor­ ausgangssignale insbesondere aufgrund unterschiedlicher Grenz­ frequenzen der Sensoranordnungen (S1, S2) zu kompensieren.10. The method according to any one of claims 1 to 9, characterized records that the output signals (aS1, aS2) of the sensor arrangements (S1, S2), or quantities derived from them, with correction factors (K1, K2) are linked to disturbing tolerance fluctuations of the sensor output signals in particular due to different limits frequencies of the sensor arrangements (S1, S2) to compensate. 11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekenn­ zeichnet, daß zur Gewinnung der Korrekturfaktoren (K1, K2) die elektronische Einrichtung im Verlauf ihrer Herstellung einem Test­ lauf unterzogen wird, bei dem die Empfindlichkeit der Sensor­ anordnungen (S1, S2) der elektronischen Einrichtung und ggf. die Temperaturabhängigkeit der Empfindlichkeit ermittelt wird.11. The method according to any one of claims 1 to 10, characterized records that to obtain the correction factors (K1, K2) electronic device in the course of its manufacture a test is subjected to the sensitivity of the sensor arrangements (S1, S2) of the electronic device and possibly the Temperature dependence of the sensitivity is determined. 12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekenn­ zeichnet, daß zur Gewinnung von Korrekturfaktoren (K1, K2) die elektronische Einrichtung während ihres Herstellungsgangs einem Testlauf unterzogen wird, in dem Sensoranordnungen (S1, S2) der elektronischen Einrichtung mit Testsignalen (Test 1, Test 2) beauf­ schlagt und bei dem die Abklingkonstanten (τ1, τ2) der Sensor­ anordnungen (S1, S2) und ggf. die Temperaturabhängigkeit der Abklingkonstanten ermittelt werden.12. The method according to any one of claims 1 to 10, characterized records that to obtain correction factors (K1, K2) electronic device during its manufacturing process Is subjected to a test run in which sensor arrangements (S1, S2) electronic device with test signals (Test 1, Test 2) beats and at which the decay constant (τ1, τ2) the sensor arrangements (S1, S2) and possibly the temperature dependence of the Decay constants can be determined. 13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die elektronische Einrichtung während des Testlaufs mindestens drei verschiedenen Temperaturwerten (HT, RT, TT) aus­ gesetzt wird, wobei mit RT die Raumtemperatur bezeichnet ist und HT bzw. TT extreme Temperaturgrenzwerte bedeuten, denen die elektronische Einrichtung während ihres Einsatzes im Kraftfahrzeug ausgesetzt ist.13. The method according to any one of claims 1 to 12, characterized records that the electronic device during the test run at least three different temperature values (HT, RT, TT) is set, RT being the room temperature and HT  or TT mean extreme temperature limits to which the electronic device during its use in the motor vehicle is exposed. 14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekenn­ zeichnet, daß aus den während des Testlaufs ermittelten Meßwerten ein Interpolationspolynom, insbesondere ein Interpolationspolynom zweiter Ordnung, berechnet wird und daß die Konstanten dieses Interpolationspolynoms in Form einer Tabelle und/oder Kennfeldes in einer Speichereinheit der elektronischen Einrichtung abgespeichert werden.14. The method according to any one of claims 1 to 13, characterized records that from the measured values determined during the test run an interpolation polynomial, in particular an interpolation polynomial second order, is calculated and that the constants of this Interpolation polynomial in the form of a table and / or map in stored in a memory unit of the electronic device become. 15. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Ausgangssignale (aS1, aS2) der Sensoranordnungen (S1, S2) über Tiefpaßfilter (19, 22) geleitet werden.15. The method according to any one of claims 1 to 14, characterized in that the output signals (aS1, aS2) of the sensor arrangements (S1, S2) via low-pass filters ( 19 , 22 ) are passed. 16. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekenn­ zeichnet, daß Tiefpaßfilter (19, 22) verwendet werden, deren Grenz­ frequenz zwischen 30 und 40 Hz liegt.16. The method according to any one of claims 1 to 15, characterized in that low-pass filters ( 19 , 22 ) are used, the limit frequency is between 30 and 40 Hz. 17. Elektronische Einrichtung mit mindestens zwei beschleunigungs­ empfindlichen Sensoren (S1, S2), insbesondere Sicherheitssystem für Fahrzeuginsassen, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel zum Vergleich der Ausgangssignale (aS1, aS2) der Sensoranordnungen (S1, S2) vorgesehen sind, sowie Warnmittel, die eine Warnung abgeben, wenn der Vergleich eine unzulässige Abweichung der beiden Ausgangssignale (aS1, aS2) von einem vorgebbaren Grenzwert ergibt.17. Electronic device with at least two accelerators sensitive sensors (S1, S2), in particular security system for Vehicle occupants, characterized in that means for comparison the output signals (aS1, aS2) of the sensor arrangements (S1, S2) are provided, as well as warning means that issue a warning if the comparison shows an impermissible deviation of the two output signals (aS1, aS2) results from a specifiable limit. 18. Einrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß Korrekturmittel vorgesehen sind, die die Ausgangssignale (aS1, aS2) der Sensoranordnungen (S1, S2) mit einem Korrekturfaktor (K1, K2) verknüpfen, bevor der Vergleich der Ausgangssignale (aS1, aS2) durchgeführt wird. 18. Device according to claim 17, characterized in that Correction means are provided that the output signals (aS1, aS2) the sensor arrangements (S1, S2) with a correction factor (K1, K2) link before comparing the output signals (aS1, aS2) is carried out.   19. Einrichtung nach einem der Ansprüche 17, 18, dadurch gekenn­ zeichnet, daß eine Speichereinheit (15) vorgesehen ist, in der Korrekturwerte (K1, K2) abgespeichert sind.19. Device according to one of claims 17, 18, characterized in that a memory unit ( 15 ) is provided in the correction values (K1, K2) are stored. 20. Einrichtung nach einem der Ansprüche 17 bis 19, dadurch gekenn­ zeichnet, daß ein Temperatursensor (59) zur Erfassung der Umgebungs­ temperatur vorgesehen ist, der die elektronische Einrichtung im Betrieb ausgesetzt ist.20. Device according to one of claims 17 to 19, characterized in that a temperature sensor ( 59 ) is provided for detecting the ambient temperature to which the electronic device is exposed in operation. 21. Elektronische Einrichtung nach einem der Ansprüche 17 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß zur Filterung der Ausgangssignale (aS1, aS2) der Sensoranordnungen (S1, S2) Tiefpaßfilter (19, 22) vorgesehen sind.21. Electronic device according to one of claims 17 to 20, characterized in that low-pass filters ( 19 , 22 ) are provided for filtering the output signals (aS1, aS2) of the sensor arrangements (S1, S2).
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