DE4301716C2 - Projektionsbelichtungsgerät und -verfahren - Google Patents
Projektionsbelichtungsgerät und -verfahrenInfo
- Publication number
- DE4301716C2 DE4301716C2 DE4301716A DE4301716A DE4301716C2 DE 4301716 C2 DE4301716 C2 DE 4301716C2 DE 4301716 A DE4301716 A DE 4301716A DE 4301716 A DE4301716 A DE 4301716A DE 4301716 C2 DE4301716 C2 DE 4301716C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- optical
- optical fiber
- light beam
- projection exposure
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 288
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 119
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 113
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 26
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 21
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 49
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 27
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 27
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 19
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 12
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 7
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 5
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 210000003608 fece Anatomy 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 2
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000003909 pattern recognition Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 235000010678 Paulownia tomentosa Nutrition 0.000 description 1
- 240000002834 Paulownia tomentosa Species 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001421 changed effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000010871 livestock manure Substances 0.000 description 1
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F21—LIGHTING
- F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- F21V13/00—Producing particular characteristics or distribution of the light emitted by means of a combination of elements specified in two or more of main groups F21V1/00 - F21V11/00
- F21V13/12—Combinations of only three kinds of elements
- F21V13/14—Combinations of only three kinds of elements the elements being filters or photoluminescent elements, reflectors and refractors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/0001—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems
- G02B6/0005—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being of the fibre type
- G02B6/0008—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being of the fibre type the light being emitted at the end of the fibre
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/04—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings formed by bundles of fibres
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/28—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals
- G02B6/2804—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals forming multipart couplers without wavelength selective elements, e.g. "T" couplers, star couplers
- G02B6/2808—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals forming multipart couplers without wavelength selective elements, e.g. "T" couplers, star couplers using a mixing element which evenly distributes an input signal over a number of outputs
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/4296—Coupling light guides with opto-electronic elements coupling with sources of high radiant energy, e.g. high power lasers, high temperature light sources
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Projektionsbelichtungsgerät
mit einer Lichtquelle und mit einem optischen Ausleuchtungssystem und auf
ein Projektionsbelichtungsverfahren, insbesondere zur Produktion von Halblei
terchips und im speziellen auf ein Projektionsbelichtungsgerät, Ausleuchtungs
verfahren und Ausleuchtungsgerät, das sowohl die Richtwirkung des aus
leuchtenden Lichtes in Übereinstimmung mit der Größe und der Form eines
zu beleuchtenden oder zu erkennenden Musters steuert, als auch die Art
einer Maske, eines Gitters oder eines Wafers, um zu ermöglichen, das
Muster unter geeigneten Bedingungen auszuleuchten oder zu erkennen.
Muster von integrierten Halbleiterschaltungen, die dazu tendieren, immer
feiner zu werden, haben einen Bereich erreicht, bei dem die Musterbreite
sich der Wellenlänge des Lichtes annähert. Obwohl Ausleuchtungsmethoden,
die Röntgenstrahlen oder Elektronenstrahlen anstelle von Lichtstrahlen benut
zen, entwickelt worden sind, nehmen diese Methoden einen geringeren
Stellenwert in der Massenproduktion ein, verglichen mit der Lichtausleuch
tungsmethode, die erlaubt, eine große Anzahl integrierter Schaltkreischips für
eine kurze Zeit auszuleuchten, speziell bei der Produktion von Speichern
usw., für die eine große Nachfrage besteht, und daher Schwierigkeiten bei
der Massenproduktion billiger Speicher auftreten. Unter diesen Umständen
wurden in den vergangenen Jahren Techniken entwickelt, um eine Maske
oder ein Gitter bereitzustellen, das in einem konventionellen i-Linienreduk
tions-Projektionsbelichtungsgerät (i-Linienschrittgeber) mit einem Phasenver
schiebungsteil benutzt wird, um auf signifikante Weise die Auflösung des
Musters verglichen mit einem konventionell benutzten normalen Gitter zu
verbessern. Weiterhin wurde eine Technik entwickelt, wie sie in JP-A-61-
91662 beschrieben wurde, um die Auflösung der Muster zu verbessern, auch
ohne Benutzung eines derartigen speziellen Gitters durch Formen eines
ringförmigen Lichtstrahls zur Ausleuchtung eines Gitters an einer Eingangs
pupille einer Reduktionsprojektionslinse, um ein hohes räumliches Frequenz
spektrum des Lichtes, das das Gitter überträgt, zu veranlassen durch eine
Eingangspupille der abbildenden Linse zur Belichtung zu laufen.
Wenn ein Verfahren zur Verbesserung der Auflösung von Mustern, wie es
oben beschrieben wurde, angewandt wird, wenn ein konventionell benutztes
Halbleiterbelichtungsgerät (i-Linienschrittgeber) benutzt wird, wie es getan
wird, tritt ein Problem auf, daß ein sogenannter σ-Wert, der die Ausleuch
tungsrichtwirkung eines das Gitter ausleuchtenden Lichtstrahles anzeigt (σ =
das Verhältnis des Ausmaßes des ausleuchtenden Lichtes auf der Pupille
einer abbildenden Belichtungslinse zum Durchmesser der Linsenpupille), nicht
übereinstimmt mit dem σ-Wert, der die Ausleuchtungsrichtwirkung angibt,
die optimal für das die Auflösung verbessernde Verfahren ist.
Um das o. g. Problem, das dem heutigen Stand der Technik eigen ist, zu
lösen, ist es ein Zeil der vorliegenden Erfindung, ein Projektionsbelichtungs
gerät und ein Projektionsbelichtungsverfahren bereitzustellen, die in der Lage
sind, auszuleuchtendes Licht zu selektieren und zu steuern, das für jedes der
verschiedenen, die Auflösung verbessernden Verfahren optimal ist, und
Belichtungslicht zu benutzen, das von einer Belichtungsquelle ausgesandt
wird, ohne es zu vergeuden.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Projektionsbelichtungsgerät
gemäß Anspruch 1 bez. durch ein Projektionsbelichtungsverfahren gemäß
Anspruch 11 gelöst. Weitere Ausführungsbeispiele sind in den Unteransprü
chen definiert.
DE 40 09 089 A1 offenbart einen Halter zum Einsatz mit einer Vielzahl
von Lichtleitfasern, die ein Werkstück beleuchten, wobei der Halter eine
zentrale Bohrung aufweist, durch die sich die Fasern erstrecken. Es werden
Schrauben und Federn benutzt, um die Orientierung der Fasern zueinander
einzustellen, um verschiedene Beleuchtungsmuster auf dem Werkstück zu
erzielen. Des weiteren wird ein entsprechendes Verfahren zum Bearbeiten
eines Werkstückes offenbart. Dieser Stand der Technik findet Anwendung für
einen Hochleistungs-Laser in der Metall-Materialbearbeitung, so daß dieser
Stand der Technik keine Anleitung zu der Lösung der erfindungsgemäßen
Aufgabe bietet.
In JP-OS 60-247 643 wird eine optische Vorrichtung offenbart, welche zur
Vermeidung von Speckles und zur Erhöhung der Ausbeute einer Vorrichtung
die Kohärenz eines Lichtstrahles schwächt. Hierzu wird ein Laser-Lichtstrahl
in seinem Durchmesser erweitert und mittels eines Glasfaser-Bündels in
mehrere Teilstrahlen aufgezweigt und wieder zusammengeführt, wobei die
Teilstrahlen unterschiedliche optische Weglängen durchlaufen. Aufgrund der
optischen Wegdifferenzen zwischen den einzelnen Lichtstrahlen wird die
Kohärenz-Weglänge der Lichtstrahlen überschritten, so daß lediglich die
Lichtstrahlen einer einzigen Glasfaser miteinander interferieren können.
Dieser Stand der Technik ist somit zur Lösung einer anderen Aufgabe be
stimmt und gibt für die Lösung der Aufgabe der vorliegenden Erfindung
keine Anhaltspunkte.
Im speziellen stellt die vorliegende Erfindung ein Projektionsbelichtungsgerät
bereit, das dadurch gekennzeichnet ist, daß es eine Lichtquelle zur Aus
sendung eines Lichtstrahls zur Belichtung aufweist; daß es ein optisches
Ausleuchtungssystem aufweist, das einen optischen Faserbündelabschnitt
aufweist, der eine Vielzahl von gebündelten optischen Fasern einschließt mit
einer Eingangsebene, auf die der von der Belichtungslichtquelle ausgesandte
Lichtstrahl einfällt, sowie einen optischen Kleinfaserbündelabschnitt, der eine
Vielzahl kleiner optischer Faserbündel mit jeweils einer Ausgangsebene
einschließt; und daß es ein Projektionsbelichtungssystem aufweist, zum
Projizieren eines Lichtstrahls, der ein optisches Ausleuchtungssystem durch
läuft und eine Maske oder ein Gitter auf ein Zeilobjekt überträgt, das als
Musterabbild der Maske oder des Gitters belichtet werden soll.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird insbesondere ein Projektionsbelich
tungsgerät bereitgestellt, das dadurch gekennzeichnet ist, daß es aufweist:
eine Lichtquelle zur Aussendung eines Lichtstrahles zur Belichtung; ein
optisches Ausleuchtungssystem, um eine Maske oder ein Gitter mit einem
Lichtstrahl anzustrahlen, der von einer Belichtungslichtquelle ausgestrahlt
wird, das eine optische Fasereinrichtung beinhaltet, die aus einem optischen
Faserbündelabschnitt besteht, der eine Vielzahl optischer Fasern einschließt
und eine Eingangsebene besitzt, von der der Lichtstrahl, der von der Be
leuchtungslichtquelle ausgesandt wird, eintritt, sowie einen optischen Kleinfa
serbündelabschnitt, der eine Vielzahl kleiner optischer Faserbündel ein
schließt, die jeweils eine Ausgangsebene besitzen, sowie ein optisches
Konvergierungs- und Divergierungssystem zum Konvergieren bestimmter
Winkelkomponenten eines einfallenden Licht
strahls, der von der optischen Fasereinrichtung austritt und zum Diver
gieren der konvergierten Komponenten; und ein optisches Projektions
system zum Projizieren eines Lichtstrahls, der ein optisches Ausleuch
tungssystem durchläuft und eine Maske oder ein Gitter auf ein Ziel
objekt überträgt, das als ein Musterabbild der Maske oder des Gitters
belichtet werden soll.
Insbesondere stellt die vorliegende Erfindung ein
Projektionsbelichtungsgerät zur Verfügung, das gekennzeichnet ist indem
es aufweist: eine Lichtquelle zur Aussendung eines Lichtstrahls zur
Belichtung; ein optisches Ausleuchtungssystem zur Bestrahlung einer
Maske oder eines Gitters mit einem Lichtstrahl, der von der Belichtungs
lichtquelle ausgesandt wird, die eine optische Fasereinrichtung beinhaltet,
welche einen optischen Faserbündelabschnitt aufweist, der eine Vielzahl
optischer Fasern einschließt und eine Eingangsebene besitzt, von der ein
Lichtstrahl, der von der Belichtungslichtquelle ausgeht, eintritt, sowie
einen optischen Kleinfaserbündelabschnitt, der eine Vielzahl kleiner
optischer Faserbündel einschließt, die jeweils eine Ausgangsebene haben;
und ein optisches Projektionssystem zum Projizieren eines Lichtstrahls,
der durch ein optisches Ausleuchtungssystem durchgeht und eine Maske
oder ein Gitter auf ein Zielobjekt übermittelt, das als ein Musterabbild
der Maske oder des Gitters belichtet werden soll. Im speziellen ist das
Projektionsbelichtungsgerät der vorliegenden Erfindung so konstruiert, daß
ein Lichtstrahl, der von der Lichtquelle ausgesandt wird, konvergiert wird,
um in eine Eingangsebene einer Seite des optischen Faserbündelabschnitt
einzutreten, der eine Vielzahl von gebündelten optischen Fasern aufweist,
und dieser optische Faserabschnitt ist mit einem optischen Kleinfaser
bündelabschnitt verbunden, der eine Vielzahl kleiner optischer Faserbün
del enthält. Weiterhin, wenn ein Zielobjekt, das belichtet werden soll,
eine Maske oder ein Gitter, mit Lichtstrahlen beleuchtet wird, die aus
der Vielzahl der kleinen optischen Faserbündeln austreten, sind die
Vielzahl der kleinen optischen Faserbündel so konstruiert, daß relative
Positionen der Ausgangsebenen davon steuerbar sind.
Durch Anordnen eines zylindrischen Spiegels mit einer Symmetrieachse
parallel zur Normalen der Eingangsendebene des optischen Faserbündels
und einer Spiegeloberfläche, die ein hohes Reflexionsvermögen bezüglich
eines Lichtstrahles zur Belichtung in der Nähe der Eingangsebene auf
weist, so daß die Symmetrieachse mit dem Zentrum der äußeren Form
der Eingangsendebene übereinstimmt, kann ein Lichtstrahl, der von der
Lichtquelle ausgesandt wird, in einer ringförmigen Form zur Eingangsend
ebene des optischen Faserbündels geleitet werden. Alternativerweise
kann, durch Anordnen in der Nähe der Eingangsendebene eines trans
parenten Gliedes, das eine symmetrische Rotationsachse parallel zur
Normalen dieser Eingangsendebene aufweist, sowie einen konkaven
Querschnitt, geschnitten durch eine Ebene, die diese Normale einschließt,
die im wesentlichen durch gerade Linien definiert ist, ein Lichtstrahl, der
von der Lichtquelle ausgesandt wird, auch so gestaltet werden, daß er in
einer ringförmigen Form in die Eingangsendebene des optischen Faser
bündels eintritt. Dieses ringförmige ausleuchtende Licht kann von der
Ausgangsebene der kleinen optischen Faserbündel erhalten werden,
dadurch, daß verhindert wird, daß Lichtstrahlen in einen zentralen Ab
schnitt der Eingangsebene des optischen Faserbündels eintreten. Weiter
hin können dieser zylindrische Spiegel und das transparente Glied, das
einen konkaven Querschnitt, der durch gerade Linien definiert ist, auf
weist, automatisch in der Nähe der Eingangsendebene des optischen
Faserbündels eingeführt und daraus entfernt werden.
In der obigen Struktur sind für eine Lichtquelle, wie z. B. ein Exzimerla
ser, der einen Lichtstrahl von hoher Kohärenz und Richtwirkung aus
sendet, die Längen der optischen Fasern, die das optische Faserbündel
bilden, verschieden gemäß der Kohärenz zwischen jeweiligen Positionen
des Querschnitts eines Laserstrahls, um die optischen Wege zu variieren,
um die Kohärenz eines belichtenden Lichtstrahls, der vom Ausgangsende
erhalten wird, zu reduzieren, und um einen einheitlichen beleuchtenden
Lichtstrahl zu gewährleisten. Wenn ein Laserstrahl mit hoher Richt
wirkung in die Eingangsendebene des optischen Faserbündels eintritt,
wird diese Eingangsendebene aufgeteilt in eine Vielzahl von Segmenten,
so daß jedes Segment einen verschiedenen Einfallswinkel bezüglich des
einfallenden Laserstrahls aufweist, wodurch es ermöglicht wird, einen
beleuchtenden Lichtstrahl, der vom Ausgangsende des optischen Faserbün
dels austritt, mit einer gewünschten Richtwirkung zu gewährleisten, die
für spezielle Beleuchtungen benötigt wird.
Spezieller ist die vorliegende Erfindung gekennzeichnet durch Konver
gieren eines Lichtstrahls, der von einer Lichtquelle ausgesandt wird, um
in eine Endebene eines optischen Faserbündels einzutreten, das durch
eine Vielzahl gebündelter optischer Fasern gebildet ist, durch Steuern
relativer Positionen der Endebenen einer Vielzahl kleiner optischer
Faserbündel, die an der gegenüberliegenden Seite des optischen Faser
bündels gebildet sind, und durch Bestrahlen eines Zielobjekts, das mit
Lichtstrahlen, die aus der Vielzahl der kleinen optischen Faserbündel
treten, beleuchtet werden soll. Die vorliegende Erfindung wird auch
dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der Vielzahl kleiner optischer
Faserbündel zu fünf oder mehr gewählt wird, daß ihre Endebenen in der
gewünschten Ebene positioniert sind, und daß eine Bewegung der End
ebenen, die durch die Steuerung der relativen Positionen verursacht wird,
längs der gewünschten Ebene durchgeführt wird. Die vorliegende Erfin
dung ist auch gekennzeichnet durch eine simultane Steuerung der relati
ven Positionen der Vielzahl kleiner optischer Faserbündel durch ein
einzelnes Antriebssystem. Die vorliegende Erfindung ist auch gekenn
zeichnet dadurch, data die relativen Positionen der Endebenen der klei
nen optischen Faserbündel gleichermaßen durch die Steuerung der relati
ven Positionen der Vielzahl der kleinen optischen Faserbündel geändert
wird. Die vorliegende Erfindung ist auch dadurch gekennzeichnet, daß
die relativen Positionen der Endebenen der kleinen optischen Faserbün
del radial um einen Punkt auf einer Ebene geändert werden, die durch
die Endebenen der Vielzahl kleiner optischer Faserbündel gebildet wird,
durch die Steuerung der relativen Positionen der Vielzahl kleiner opti
scher Faserbündel. Die vorliegende Erfindung ist auch dadurch gekenn
zeichnet, daß die Eingangsendebene des optischen Faserbündels, die die
eine Endebene dieses Bündels ist, eine kreisförmige oder polygonale
Außenform aufweist, und daß ein zylindrischer Spiegel, der eine Symme
trieachse parallel zur Normalen dieser Eingangsendebene aufweist sowie
eine Spiegeloberfläche, die ein hohes Reflexionsvermögen bezüglich eines
Lichtstrahls zur Belichtung aufweist, in der Nähe der Eingangsendebene
so angeordnet ist, daß dessen Symmetrieachse im wesentlichen mit dem
Zentrum der äußeren Form der Eingangsendebene des optischen Faser
bündels übereinstimmt, wobei ein Lichtstrahl, der von der Lichtquelle
ausgesandt wird, in einer ringförmigen Form ausgebildet wird und in die
Eingangsendebene des optischen Faserbündels mit einer hohen Lichtaus
beute eintritt. Die vorliegende Erfindung ist auch dadurch gekennzeich
net, daß der zylindrische Spiegel automatisch in der Nähe der Eingangs
endebene des optischen Faserbündels eingefügt und daraus entfernt
werden kann. Die vorliegende Erfindung ist auch dadurch gekennzeich
net, daß die Eingangsendebene, die die eine Endebene des optischen
Faserbündels darstellt, eine kreisförmige oder polygonale Außenform
aufweist und, daß ein transparentes Glied mit einer symmetrischen
Rotationsachse parallel zur Normalen dieser Eingangsendebene und
einem konkaven Querschnitt, geschnitten durch eine Ebene, die diese
Normale enthält, und die im wesentlichen durch gerade Linien definiert
wird, in der Nähe der Eingangsendebene angeordnet ist, wodurch ein
Lichtstrahl, der von der Lichtquelle ausgesandt wird, in einer Ringform
gebildet wird und in die Eingangsendebene des optischen Faserbündels
mit hoher Lichtausbeute eintritt. Die vorliegende Erfindung ist auch
dadurch gekennzeichnet, daß das transparente Glied automatisch in der
Nähe der Eingangsendebene des optischen Faserbündels eingefügt und
daraus entfernt werden kann.
Die vorliegende Erfindung ist auch dadurch gekennzeichnet, daß an der
Eingangsendebene, die die eine Endebene des optischen Faserbündels ist,
ein Raum zwischen lichtübertragenden Abschnitten der optischen Fasern
mit einem hochreflektierenden Material gefüllt ist, um die Hitzeentwick
lung zu reduzieren, die durch die Absorption des anfallenden Lichtes auf
die Eingangsendebene verursacht wird. Die vorliegende Erfindung ist
auch dadurch gekennzeichnet, daß die Eingangsendebene, die die eine
Endebene des optischen Faserbündels ist, die Form lichtübertragender
Abschnitte der jeweiligen optischen Fasern hat, die unterschiedlich zu der
Form lichtaussendender Abschnitte auf der Ausgangsendebene der jeweili
gen optischen Fasern gemacht ist. Die vorliegende Erfindung ist auch
dadurch gekennzeichnet, daß eine Laserlichtquelle als Lichtquelle benutzt
wird, und ein Lichtstrahl, der von der Laserlichtquelle ausgesandt wird,
nachdem er mit dem gewünschten Strahldurchmesser versehen wurde, in
eine Endebene des optischen Faserbündels geführt wird, das durch eine
Vielzahl optischer Faserbündel gebildet wird. Die vorliegende Erfindung
ist auch dadurch gekennzeichnet, daß die Längen der jeweiligen optischen
Fasern, die das optische Faserbündel bilden, verschieden gemacht sind in
Übereinstimmung mit der Kohärenz des Laserstrahles, der von der
Laserlichtquelle an der Eingangsendebene des optischen Faserbündels
ausgesandt wird, um die Kohärenz eines ausleuchtenden Lichtstrahles zu
reduzieren, der vom Ausgangsende erhalten wird, um eine Gleichförmig
keit der Beleuchtung zu erreichen. Die vorliegende Erfindung ist auch
dadurch gekennzeichnet, daß nachdem die optischen Wege der jeweiligen
Teile innerhalb des Strahlenquerschnittes geändert wurden in Überein
stimmung mit der Kohärenz zwischen den jeweiligen Positionen auf dem
Strahlenquerschnitt eines Laserstrahls, der von der Laserlichtquelle ausge
sandt wird, die Lichtstrahlen von den jeweiligen Teilen in das optische
Faserbündel geführt sind. Die vorliegende Erfindung sieht auch ein
Ausleuchtungsverfahren vor, bei dem, nachdem ein Laserstrahl von der
Laserlichtquelle ausgesandt und mit dem gewünschten Strahldurchmesser
versehen ist, die eine Endebene eines optischen Faserbündels, das durch
eine Vielzahl gebündelter optischer Fasern gebildet wird, in den opti
schen Weg eingeführt wird, und ein Laserstrahl, der von der entgegen
gesetzten Endebene des optischen Faserbündels austritt, zur Ausleuchtung
benutzt wird, was dadurch gekennzeichnet ist, daß die Eingangsendebene
des optischen Faserbündels eine Vielzahl von Abschnitten aufweist, und
daß die jeweiligen Abschnitte derart gestaltet sind, daß der Winkel, der
durch die Normale der Eingangsendebene mit der Eingangsrichtung des
Laserstrahls gebildet wird, z. B., der Einfallswinkel variiert in den jeweili
gen Abschnitten, wobei der austretende Lichtstrahl von der Ausgangsend
ebene mit einer gewünschten Lichtrichtwirkung zur Ausleuchtung versehen
wird.
Des weiteren erzeugt die vorliegende
Erfindung, in dem Projektionsbelichtungsgerät, eine optisch konjugierte
Beziehung zwischen dem Ausgangsende der optischen Fasereinrichtungen
in dem optischen Ausleuchtungssystem und der Eingangsebene des opti
schen Konvergierungs- und Divergierungssystems.
Des weiteren, um die o. g. Ziele zu erreichen, versieht die vorliegende
Erfindung das Projektionsbelichtungsgerät mit optisch verändernden Ein
richtungen zum Modifizieren eines Lichtstrahls, der auf das optische
Faserbündel im optischen Ausleuchtungssystem durch Brechung oder
Reflexion einfällt.
Des weiteren, um die o. g. Ziele zu erreichen, versieht die vorliegende
Erfindung das Projektionsbelichtungsgerät mit optisch modifizierenden
Einrichtungen zum Modifizieren eines Lichtstrahls, der auf das optische
Konvergierungs- und Divergierungssystem in dem optischen Ausleuch
tungssystem durch Brechung oder Reflexion einfällt.
Des weiteren, um die o. g. Ziele zu erreichen, besitzt die optische Faser
in dem Projektionsbelichtungsgerät eine derartige numerische Apertur
(NA), daß ein ausleuchtender Lichtstrahl mit einer Neigung, die durch
die optisch modifizierenden Einrichtungen modifiziert wird, ausreichend
das optische Konvergierungs- und Divergierungssystem übertragen kann.
Des weiteren, um die o. g. Ziele zu erreichen, besitzt das optische Kon
vergierungs- und Divergierungssystem im Projektionsbelichtungsgerät eine
derartige numerische Apertur (NA), daß ein ausleuchtender Lichtstrahl
mit einer durch die optisch modifizierenden Einrichtungen modifizierten
Neigung, ausreichend das optische Konvergierungs- und Divergierungs
system übertragen kann.
Des weiteren, um die o. g. Ziele zu erreichen, stellt die vorliegende
Erfindung das Projektionsbelichtungsgerät bereit mit optischen Einrichtun
gen zur Realisierung einer Köhler-Beleuchtung, also der
optischen Unendlichkeit zwischen der Ausgangsebene der optischen Faser
in dem optischen Ausleuchtungssystem und der Eingangsebene des opti
schen Konvergierungs- und Divergierungssystems.
Des weiteren stellt die vorliegende
Erfindung ein Projektionsbelichtungsverfahren bereit, das die folgenden
Schritte beinhaltet: Führen eines Lichtstrahles, der von einer Belich
tungslichtquelle ausgesandt wird, auf eine Eingangsebene optischer Faser
einrichtungen, die einen optischen Faserbündelabschnitt einschließen, der
durch eine Vielzahl gebündelter optischer Fasern gebildet wird, die die
Eingangsebenen aufweisen, sowie einen optischen Kleinfaserbündelab
schnitt, der durch eine Vielzahl kleiner optischer Faserbündel gebildet
wird, die von dem optischen Faserbündelabschnitt abgezweigt sind und
jeweils eine Ausgangsebene haben; Konvergieren bestimmter Winkelkom
ponenten von Lichtstrahlen, die von den Ausgangsebenen der optischen
Fasereinrichtung austreten, und Divergieren der konvergierten Komponen
ten durch ein optisches Konvergierungs- und Divergierungssystem, und
Beleuchten einer Maske oder eines Gitters mit dem Lichtstrahl durch
das optische Konvergierungs- und Divergierungssystem; und Projezieren
des Lichtstrahls, der die Maske oder das Gitter überträgt, auf ein Ziel
objekt, um ein Musterabbild der Maske oder des Gitters zu belichten.
Des weiteren stellt die vorliegende
Erfindung ein optisches Ausleuchtungsgerät bereit, das aufweist: eine
Lichtquelle; optische Fasereinrichtungen, die einen optischen Faserbündel
abschnitt einschließen, der durch eine Vielzahl optischer Faserbündel
gebildet wird, die eine Eingangsebene haben, auf welcher ein Lichtstrahl,
der von einer Lichtquelle ausgesandt wird, einfällt, sowie einen optischen
Kleinfaserbündelabschnitt, der durch eine Vielzahl kleiner optischer
Faserbündel gebildet wird, die von dem optischen Faserbündelabschnitt
abgezwiegt sind und jeweils eine Ausgangsebene haben; und ein Konver
gierungs- und Divergierungssystem zum Konvergieren bestimmter Winkel
komponenten eines Lichtstrahls, der von optischen Fasereinrichtungen
austritt oder ausgesendet wird und dann eintritt und zum Divergieren
der konvergierten Komponenten.
Die o. g. Einrichtung kann eine Ausleuchtung mit einer relativ hohen
Richtwirkung bereitstellen, d. h., ein kleiner σ-Wert, der passend ist für
ein Phasenverschiebungsgitter, ringförmige Ausleuchtungen, um hoch
auflösende Muster zu bilden mit einem normalen Gitter, oder Ausleuch
tungen mit konventioneller Richtwirkung. Die o. g. Einrichtung, wenn
angewandt, erlaubt einem Lichtstrahl, der von der Lichtquelle ausgesandt
wird, ein Zielobjekt zu bestrahlen, das mit einer hohen benutzbaren
Lichtausbeute belichtet werden soll.
Wenn in Zukunft ein Exzimerlaser oder ähnliches angewandt wird, um
Belichtungswellenlängen zu reduzieren, um Muster zu erreichen, die mit
dünneren Linienbreiten gezeichnet sind, löst das o. g. Verfahren leicht
Probleme ungleichmäßiger Ausleuchtung aufgrund der Kohärenz und
Richtwirkung des Lasers, wodurch es ermöglicht wird, leicht eine Vielfalt
von Ausleuchtungen mit kleiner Lichtvergeudung auch mit einem Exzi
merlaserschrittgeber zu verwirklichen.
Daher kann die vorliegende Erfindung in ein Beleuchtungssystem zur
Verwendung bei Belichtung, Tests, Anzeige usw. von Mustern eingebaut
werden, um sowohl leicht eine optimale Ausleuchtung bezüglich Form
und Größe eines einzelnen Musters, das belichtet, getestet oder angezeigt
werden soll, und optischen Systemen, die für derartige Belichtungs-, Test-
und Anzeigezwecke benutzt werden, bei einer relativ einfachen Struktur
bereitzustellen, als auch, um die optimale Ausleuchtung in Übereinstim
mung mit Änderungen in den optischen Systemen leicht zu modifizieren.
Auf diese Art und Weise muß das ausleuchtende Licht eines konventio
nellen festen Ausleuchtungssystems nicht teilweise abgeschirmt werden,
und eine gewünschte Ausleuchtungsrichtwirkung und Ausleuchtungslichtver
teilung kann realisiert werden, ohne die Lichtausbeute zu vermindern,
wobei ein Belichtungsgerät oder ein Testgerät mit einem verbesserten
Durchsatz bereitgestellt wird. Auch kann bei einer Anzeigeeinheit eine
klare Anzeige erreicht werden oder eine Lichtquelle mit geringerer
Leistung ist ausreichend für die gleiche Helligkeit wie zuvor.
Die o. g. Einrichtung kann leicht eine Ausleuchtung mit relativ hoher
Richtwirkung bereitstellen, d. h., ein kleiner σ-Wert, der passend ist für
ein Phasenverschiebungsgitter, ringförmige Ausleuchtung zur Bildung eines
Hochauflösungsmusters durch ein normales Gitter, oder Ausleuchtungen
mit konventioneller Richtwirkung. Des weiteren erlaubt die o. g. Ein
richtung, wenn sie angewandt wird, einen von einer Lichtquelle ausge
sandten Lichtstrahl ein Zielobjekt zu bestrahlen, das mit einer hohen
Lichtausbeute belichtet werden soll.
Weitere Vorteile, Merkmale und Anwendungsmöglichkeiten der vorliegen
den Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von
Ausführungsbeispielen in Verbindung mit der Zeichnung. In der Zeich
nung zeigen:
Fig. 1 ein Diagramm, das ein beispielhaftes optisches System eines
Belichtungsausleuchtungsgerätes, das eine Quecksilberdampf
lampe als Lichtquelle benutzt, zeigt, zum Gebrauch in
einem Projektionsbelichtungsgerät, entsprechend einer ersten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 einen Mechanismus zum Ändern relativer Positionen kleiner
optischer Faserbündel eines Ausleuchtungsgerätes gemäß der
vorliegenden Erfindung;
Fig. 3A
bis 3D Positionen kleiner optischer Faserbündel in dem Mechanis
mus zum Ändern relativer Positionen kleiner optischer
Faserbündel;
Fig. 4A
und 4B wie eine Vielzahl von Ausleuchtungsverfahren realisiert
werden durch ein Projektionsbelichtungsgerät, das ein opti
sches Ausleuchtungssystem gemäß der vorliegenden Erfin
dung einsetzt;
Fig. 5A
und 5B ein Projektionsbelichtungsgerät, das das optische Ausleuch
tungssystem gemäß der vorliegenden Erfindung aufweist;
Fig. 6 ein erstes Beispiel zum Realisieren eines Ausleuchtungs
strahls in einem Ring in einem Ausleuchtungsgerät zum
Gebrauch in einem Projektionsbelichtungsgerät oder ähn
lichem, basierend auf der ersten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung;
Fig. 7A
und 7B das Beispiel der Fig. 6 detaillierter;
Fig. 8 ein zweites Beispiel zum Realisieren eines Ausleuchtungs
strahles in einem Ring in einem Ausleuchtungsgerät zum
Gebrauch in einem Projektionsbelichtungsgerät, basierend
auf der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
Fig. 9A
und 9B das Beispiel der Fig. 8 detaillierter;
Fig. 10A
und 10B eine Ausführungsform eines Ausleuchtungsgerätes zum Ge
brauch in einem Projektionsbelichtungsgerät oder ähnlichem,
basierend auf der ersten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung, die optisch divergierende optische Teile an Aus
gangsenden kleiner optischer Faserbündel aufweist;
Fig. 11A
und 11B beispielhaft, wie der Durchmesser einer optischen Faser
geändert wird;
Fig. 12A
und 12B Grundrißansichten von optischen Fasereingangsenden, wobei
ein hochreflektierendes Material benutzt wird zwischen
angrenzenden optischen Fasern;
Fig. 13A
und 13B die erste Ausführungsform, die einen Laser als Lichtquelle
einsetzt;
Fig. 14A
bis 14E die Beziehung zwischen einem Eingangsende und einem
Ausgangsende optischer Fasern in der Ausführungsform, die
einen Laser als Lichtquelle einsetzt;
Fig. 15 die Ausführungsform, die zwei optische Faserbündel einsetzt;
Fig. 16A
bis 16D Schnittansichten optischer Wege in der Ausführungsform der
Fig. 15;
Fig. 17A
bis 17D wie Ausgangsenden kleiner optischer Faserbündel der vor
liegenden Erfindung geändert werden durch den Mechanis
mus zum Ändern relativer Positionen kleiner optischer
Faserbündel;
Fig. 18A
bis 18C wie Ausgangsenden anderer kleiner optischer Faserbündel
der vorliegenden Erfindung geändert werden durch den
Mechanismus zum Ändern relativer Positionen kleiner opti
scher Faserbündel;
Fig. 19 einen zweiten Fall der Ausführungsform, die einen Laser
als Lichtquelle einsetzt;
Fig. 20A
bis 20C Schnittansichten von Lichtwegen in der Ausführungsform
von Fig. 19;
Fig. 21 einen dritten Fall der Ausführungsform eines Ausleuchtungs
gerätes, das einen Laser als Lichtquelle einsetzt;
Fig. 22A
bis 22F Schnittansichten von Lichtwegen in der Ausführungsform
von Fig. 21;
Fig. 23A
bis 23F Einfallswinkel eines Lichtstrahls, der in eine optische Faser
eintritt und Ausgangswinkel (Bedingungen des divergieren
den Lichtstrahls), um die Prinzipien der Ausführungsform,
die in den Fig. 21, 22A und 22F gezeigt sind, zu zeigen;
Fig. 24A
und 24B eine Ausführungsform eines Reduktionsprojektionsbelich
tungsgerätes, das auf der ersten Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung basiert, wobei ein variables Filter in
der Position der Eingangspupille einer Reduktionsbelich
tungslinse montiert ist;
Fig. 25 eine Ausführungsform eines Mustertestgerätes, bei welchem
ein Ausleuchtungsgerät der vorliegenden Erfindung ange
wandt wird;
Fig. 26 ein Projektionsbelichtungsgerät, das das Belichtungsausleuch
tungssystem, basierend auf einer zweiten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung, aufweist;
Fig. 27A
bis 27D Diagramme zur Erklärung einiger Fälle, bei denen die
relativen Positionen der kleinen optischen Faserbündel,
gezeigt in Fig. 26, geändert werden;
Fig. 28 ein Projektionsbelichtungsgerät, das das Belichtungsausleuch
tungssystem, basierend auf der zweiten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung, aufweist;
Fig. 29 ein Projektionsbelichtungsgerät, das Ausleuchtungsmodifizie
rungseinrichtungen, basierend auf der zweiten Ausführungs
form der vorliegenden Erfindung, aufweist;
Fig. 30A
bis 30F Beispiele von ausleuchtungsmodifizierenden Einrichtungen,
die Reflexion gemäß der zweiten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung benutzen;
Fig. 31A
bis 31F Beispiele von ausleuchtungsmodifizierenden Einrichtungen,
die Brechung gemäß der zweiten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung benutzen;
Fig. 32A
und 32B erklärende Diagramme, um die Rationalisierung einer Sta
blinse gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung zu zeigen; und
Fig. 33 ein Projektionsbelichtungsgerät, das ausleuchtungsmodifizie
rende Einrichtungen aufweist, die auf der zweiten Ausfüh
rungsform der vorliegenden Erfindung beruhen;
Fig. 34 ein Projektionsbelichtungsgerät, das ausleuchtungsmodifizie
rende Einrichtungen aufweist, die auf der zweiten Ausfüh
rungsform der vorliegenden Erfindung basieren;
Fig. 35A
und 35B ausleuchtungsmodifizierende Einrichtungen, die eine Linse
benutzen, basierend auf der zweiten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung; und
Fig. 36 ein Projektionsbelichtungsgerät, das die ausleuchtungsmodifi
zierenden Einrichtungen, basierend auf der zweiten Ausfüh
rungsform der vorliegenden Erfindung, aufweist.
Die vorliegende Erfindung wird hier im Detail beschrieben, basierend auf
der begleitenden Zeichnung.
Um zu beginnen, soll eine erste Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung mit Bezug auf die Fig. 1-25 erklärt werden.
Fig. 4A zeigt ein optisches Belichtungsausleuchtungssystem in einem
Projektionsbelichtungsgerät. Ein i-Linien-Strahl, ausgesandt von einer
Quecksilberdampflampe 24, wird an einem elliptischen Spiegel 25 reflek
tiert und konvergiert in eine Stablinse 28 durch einen chromatischen
Spiegel 26 zum Auswählen eines Wellenbandes sowie in eine Eingangs
linse 27. Der Lichtstrahl durch die Stablinse 28 wird konvergiert durch
eine Ausgangslinse 29, reflektiert durch einen Spiegel 26', und bestrahlt
ein Gitter 3, nachdem er durch eine Kondensorlinse 23 gelaufen ist.
Der Lichtstrahl, der durch ein Muster, das auf dem Gitter 3 gezeichnet
ist, läuft, formt, durch eine Reduktionslinse 4, ein um ein Fünftel redu
ziertes Bild des Musters auf dem Gitter auf einem Wafer 5, der in
einem Waferspannfutter fixiert ist, das von einer Waferbühne 6 getragen
wird, und dadurch wird der Wafer 5 belichtet. Bei einer einzelnen
Belichtung wird eine quadratische Fläche mit Seiten zwischen 20 mm
und 25 mm belichtet, um gleichzeitig 2 oder 3 Chips zu produzieren.
Die Waferbühne ist präzise durch einen Laserstrahl 60 von einem Laser
maßstab (nicht gezeigt) und einem flachen Spiegel 61 eingerichtet, so
daß die ganze Oberfläche des Wafers dem Chipmuster ausgesetzt ist.
Wenn das vorhergehende Phasenverschiebungsgitter im Frojektionsbelich
tungsgerät benutzt wird, als Beispiel, muß die Richtwirkung hoch sein,
d. h. der σ-Wert muß klein sein, so daß eine lichtabschirmende Platte zur
Abschirmung eines äußeren peripheren Anteils des Lichtstrahls zur
Belichtung eingefügt werden muß, an einer Stelle, die mit der Eingangs
pupille der Abbildungslinse zur Belichtung im Belichtungsausleuchtungs
system konjugiert bzw paarweise zugeordnet ist. Daher ist eine licht
abschirmende Platte 19, mit einer Öffnung, wie in Fig. 4B gezeigt, vor
der Eingangslinse 27 angeordnet oder in hinter der Ausgangslinse 29, um
einen i-Linien-Anteil zu benutzen, der durch die relativ kleine Öffnung
192 durchgeht.
Die obige ringförmige Ausleuchtung erfordert auch eine Scheibe, die an
einem Ort einzufügen ist, der dieser Eingangspupille zugeordnet ist, um
einen zentralen Anteil des i-Strahls zur Beleuchtung abzuschirmen. In
diesem Falle wird eine lichtabschirmende Platte 19 mit einer ringförmi
gen Öffnung 193, wie in Abb. 4B gezeigt, angewandt. Weiterhin ist bei
dieser ringförmigen Ausleuchtung vorzuziehen, daß der Lichtstrahl zur
Belichtung an dem Ort, der der Eingangspupille des Ausleuchtungsstrahls
zugeordnet ist, ausgeweitet wird, durch einen Faktor von 1,2-1,6 ver
glichen mit einem Lichtstrahl, der für eine Belichtung in dem konventio
nellen Halbleiterbelichtungsgerät benutzt wird.
Wenn die Vielzahl der Verfahren zur Verbesserung der Auflösung durch
ein einzelnes Halbleiterbelichtungsgerät realisiert werden soll, muß die
lichtabschirmende Platte durch eine andere ersetzt werden, jedesmal,
wenn eine andere Methode angewandt wird, und zusätzlich wird ein
Anteil des Lichtsstrahls zur Belichtung abgeschirmt, d. h., das belichtende
Licht wird vergeudet, was in einer längeren Zeit resultiert, die zum
Belichten eines Wafers eines integrierten Chip-Schaltkreismusters benötigt
wird und verschlechtert um einiges den Belichtungsdurchsatz. Wird
beispielsweise der σ-Wert von 0,6 zu 0,4 geändert, um ein Phasenver
schiebungsgitter anzuwenden, dann wird eine Belichtungszeitperiode um
ein 2,25-faches länger benötigt, da die Belichtungsenergie reziprok pro
portional zu einem Quadrat des Verhältnisses σ ist.
Die vorliegende Erfindung wurde gemacht, um die obengenannten Proble
me zu lösen und wird detaillierter in bezug auf die begleitende Zeich
nung beschrieben.
Fig. 1 zeigt eine Ausführungsform eines Belichtungsausleuchtungsgerätes
2 gemäß der vorliegenden Erfindung. Ein Lichtstrahl, ausgesandt von
einer Quecksilberlampe 23, wird von einem elliptischen Spiegel 25 reflek
tiert, weiterhin reflektiert durch einen chromatischen Spiegel 26, um ein
Wellenband auszuwählen, um selektiv ein gewünschtes belichtendes Licht
wellenband zu reflektieren, z. B., i-Linie, und durchläuft dann eine Linse
21, um in eine A-A'-Ebene einer Endoberfläche eines optischen Faser
bündels 1 einzutreten. Die Eingangsendebene A-A' schließt eine große
Anzahl von gebündelten optischen Fasern ein, wobei der Durchmesser
jeder optischen Faser zu 0,2 mm gewählt wurde und das Bündel einen
Durchmesser von ungefähr 30 mm besitzt. Die gebündelten optischen
Fasern werden in eine Vielzahl kleiner Bündel 11 optischer Fasern an
einer Stelle aufgezweigt, die einer vorhergegebenen Distanz weg von
dessen Eingangsebene entspricht. Durch einen Mechanismus 10 zum
Ändern relativer Positionen der Bündel optischer Fasern, der eine Funk
tion zur Regelung der relativen Position der jeweiligen Endebenen der
verzweigten kleinen Bündel 11 der optischen Faser besitzt, können die
Ausgangsebenen der kleinen optischen Faserbündel 11 in ihren relativen
Positionen in einer Ebene B-B' geändert werden.
Da die Ausgangsenden der kleinen optischen Faserbündel, die sich auf
der B-B'-Ebene befinden, als sogenannte Sekundärlichtquelle dienen, kann
die Größe und Form der Sekundärlichtquelle geändert werden durch
Bedienung des Mechanismus 10 zum Ändern der relativen Position der
kleinen optischen Faserbündel. Belichtendes Licht, das aus den jeweili
gen Endebenen der kleinen optischen Faserbündel der B-B'-Ebene aus
tritt oder ausgesendet wird, fällt durch eine Ausgangslinse 22 und dann
durch eine Kondensorlinse 23, um ein zu belichtendes Zielobjekt auszu
leuchten, d. h., ein Gitter 3 auf dieselbe Art und Weise, wie das Aus
leuchtungssystem, das in dem normalen Halbleiterbelichtungsgerät oder
ähnlichem benutzt wird.
In dem Halbleiterbelichtungsgerät ist das Ausgangsende der sogenannten
Stablinse eine Sekundärlichtquelle der Quecksilberdampflampe im kon
ventionellen belichteten Lichtausleuchtungssystem 2', und dieses Ausgangs
ende entspricht den Ausgangsenden der optischen Kleinfaserbündel 11 auf
der B-B'-Ebene der Fig. 1. Der Lichtstrahl, der von dieser Sekundär
lichtquelle ausgesendet wird, bestrahlt das Gitter 3 durch die Ausgangs
linse 22 und die Kondensorlinse 23. Der Lichtstrahl, der ein Muster,
das auf dem Gitter 3 gezeichnet ist, überträgt, formt, durch eine Reduk
tionsprojektionsbelichtungslinse 4, ein um ein Fünftel reduziertes Abbild
des Musters auf dem Gitter 3 auf der Oberfläche eines Wafers 5, der
in einem Waferspannfutter 51 eingespannt ist, das von einer Waferbühne
6 getragen wird, welche grob und fein bewegbar in den drei Dimensions
richtungen x, y, z ist und der Wafer 5 wird somit belichtet. Wie oben
erklärt, wird in einem konventionellen Halbleiterbelichtungsgerät das
Verhältnis des Durchmessers d eines Abbildes 200 auf einer Pupille 41
einer Reduktionsbelichtungslinse einer Sekundärlichtquelle in einem
Belichtungsausleuchtungssystem zu dem Durchmesser D der Pupille, z. B.,
die partielle Kohärenz σ, festgelegt. Jedoch durch Ausrüstung eines
Halbleiterbelichtungsgerätes mit dem Belichtungsausleuchtungssystem 2 der
vorliegenden Erfindung wird die Größe eines Abbildes, das durch die
Sekundärlichtquelle auf der Pupille 41 der Reduktionsbelichtungslinse
geformt wird, variabel gemacht durch Betätigung des Mechanismus zum
Ändern relativer Positionen der kleinen optischen Faserbündel. Zum
Beispiel wird der Mechanismus 10 zum Ändern der relativen Positionen
der kleinen optischen Faserbündel durch ein Steuerungssystem 7 angetrie
ben, das einen Antriebssteuerkreis einschließt, um den σ-Wert auf unge
fähr 0,6 für ein konventionelles Gitter zu setzen, das Musterinformation
repräsentiert dadurch, daß Licht durchläuft, oder jenes abschirmt, oder
auf mindestens 0,4 zu setzen bei Anwendung eines Phasenverschiebungs
gitters.
Fig. 2 zeigt im Detail den Mechanismus 10 zum Ändern relativer Posi
tionen der kleinen optischen Faserbündel entsprechend der ersten Aus
führungsform der Erfindung. Das optische Faserbündel 1 besteht aus
einem verzweigten flexiblen Abschnitt 11' und einem hierzu nachfolgen
den Abschnitt 11", der durch eine feste metallische Röhre umgeben ist.
Eine Endoberfläche dieses Abschnitts 11", der von einer festen Metall
röhre umgebenen wird, dient als Ausgangsende, das auf der Ebene B-B'
erscheint. Der Abschnitt 11", der von einer Metallröhre umgeben ist, ist
im wesentlichen symmetrisch bezüglich einem Zwischenpunkt in der
Längsrichtung und weist senkrecht zur Lichtfortschreitungsrichtung Ab
schnitte 111, 111' und schiefe Abschnitte 112, 112' auf. Die schiefen
Abschnitte 112, 112' haben glatte Oberflächen, so daß sie verschiebbar
bezüglich der Richtung der schiefen Führungslöcher sind, die in dem
Gleitmechanismus 12, 12' mit schiefen Führungslöchern ausgebildet sind.
Die Gleitmechanismen 12, 12' mit schiefen Führungslöchern haben eine
Vielzahl von Gleitlöchern in den jeweiligen peripheren Abschnitten, durch
welche sich eine Vielzahl von Führungsstäben erstreckt. Die Mechanis
men 12, 12', um sie einander anzunähern oder um sie voneinander zu
trennen, werden durch Drehen, nach links oder rechts, eines Rotations
schaftes 14, der einen Bolzen aufweist, der nach rechts oder links rotier
bar ist und der durch einen Motor 19 über die Übersetzung 15, 15'
angetrieben wird, angetrieben. Folglich, wenn die Mechanismen 12, 12'
sich annähern, nähern sich die jeweiligen optischen Faserenden 110
ebenfalls, wobei die partielle Kohärenz σ der Ausleuchtung kleiner wird.
Demgegenüber, wenn die Mechanismen 12, 12' sich trennen, wird die
partielle Kohärenz σ größer. Die Fig. 3A-3D zeigen, wie die partielle
Kohärenz σ aufgrund der Änderung der Distanz zwischen den Gleitme
chanismen 12 und 12' variieren. Im speziellen zeigt die Fig. 3A die
Ausrichtung der kleinen optischen Faserbündel 11 auf der Ausgangs
endebene B-B', wenn die Gleitmechanismen 12, 12' mit schiefen Füh
rungslöchern am nächsten zueinander sind. Die Fig. 3B-3D zeigen die
Ausrichtungen, wenn die Gleitmechanismen 12, 12' mit schiefen Füh
rungslöchern allmählich voneinander getrennt werden. Durch Antreiben
des Motors 19, basierend auf einem Anweisungssignal des Steuerungs
systems 7, kann eine gewünschte Ausleuchtungsrichtwirkung eingestellt
werden, innerhalb einer kurzen Zeit, ohne Licht, das von einer Licht
quelle erzeugt wird, zu vergeuden.
Im folgenden soll ein Beispiel der vorliegenden Erfindung zur Realisie
rung einer ringförmigen Ausleuchtung beschrieben werden mit Bezugnah
me auf Fig. 6. Wenn die Bezugszeichen, die Bauteile in Fig. 6 bezeich
nen, die gleichen sind wie in Fig. 1, repräsentieren sie die gleichen
Bauteile. Ein Lichtstrahl, ausgesandt von einer Quecksilberdampflampe
24, wird in eine Eingangsendebene eines optischen Faserbündels 1 kon
vergiert. Diese Eingangsendebene hat eine kreisförmige oder im wesent
lichen polygonale äußere Form. Ein zylindrischer Spiegel, der eine
Symmetrieachse parallel zur Normalen dieser Eingangsendebene besitzt
und eine Spiegeloberfläche mit einem hohen Reflexionsvermögen be
züglich eines Lichtstrahls zur Belichtung, wird so positioniert, daß die
Symmetrieachse davon im wesentlichen mit dem Zentrum der äußeren
Form der Eingangsendebene des optischen Faserbündels 1 übereinstimmt,
wodurch ein Lichtstrahl, ausgesandt von der Lichtquelle, in einer Ring
form ist und in die Eingangsendebene des optischen Faserbündels mit
einer hohen Lichtausbeute eintritt. In dieser Struktur wird ein Lichtstrahl,
der auf einen zentralen Abschnitt des optischen Faserbündels einfallen
würde, wenn dieser zylindrische Spiegel 17 nicht benutzt werden würde,
durch die Oberfläche des zylindrischen Spiegels 17 reflektiert, wie in Fig.
7A gezeigt, und tritt in einen Abschnitt innerhalb der äußeren Bregren
zung des optischen Faserbündels 1 ein sowie in die Nähe dieser äußeren
Begrenzung, wie es durch Schraffierung in Fig. 7B angezeigt wird. Da
der Einfallswinkel dieses Lichtstrahles im wesentlichen gleich jenem eines
Lichtstrahls ist, der auf die Eingangsendebene des optischen Faserbündels
einfallen würde, wenn der zylindrische Spiegel nicht benutzt werden
würde, fällt der Lichtstrahl in das optische Faserbündel ohne Vergeudung
des Lichtstrahls, und ein ringförmiger belichtungsausleuchtender Strahl
tritt aus den kleinen optischen Faserbündeln 11 am anderen Ende des
optischen Faserbündels 1 aus. In diesem Falle versteht es sich von
selbst, daß die Lagebeziehung zwischen den optischen Fasern an der
Eingangsendebene und den gleichen Fasern an der Ausgangsendebene
nicht willkürlich ist, sondern daß Fasern in einem peripheren Abschnitt
des Eingangsendes, ähnlich in einem peripheren Abschnitt auf der ausge
henden Endebene, positioniert sind.
Ein anderes Beispiel der Erfindung zur Realisierung ringförmiger Aus
leuchtung wird mit Bezug auf Fig. 8 beschrieben. Falls Bezugszeichen,
die Bauteile in Fig. 8 beschreiben, die gleichen sind wie in Fig. 1,
stellen sie die gleichen Bauteile dar. Ein Lichtstrahl, ausgesandt von
einer Quecksilberdampflampe 24, wird in die Eingangsendebene eines
optischen Faserbündels 1 konvergiert. Diese Eingangsendebene hat eine
kreisförmige oder im wesentlichen polygonale äußere Form. Vor der
Eingangsendebene ist ein transparentes Glied angeordnet, dessen rotatori
sche Symmetrieachse parallel zur Normalen dieser Eingangsendebene ist,
und dessen konkaver Querschnitt, geschnitten durch eine Ebene, die
diese Normale beinhaltet, im wesentlichen durch gerade Linien definiert
ist. Da Lichtstrahlen, die dieses transparente konkave Glied durchlaufen,
außerhalb der optischen Achse divergieren, wenn eine konvexe Linse
benutzt wird, um Hauptstrahlen von Lichtstrahlen, die auf die jeweiligen
optischen Fasern einfallen, parallel zu machen, kann der Lichtstrahl, der
von der Lichtquelle ausgesandt wird, in die Eingangsendebene des opti
schen Faserbündels in einer Ringform mit hoher Lichtausbeute eintreten.
Auf diese Art und Weise erreichen Lichtstrahlen nicht einen zentralen
Abschnitt der Eingangsendebene des optischen Faserbündels, sondern
treten nur in einen Abschnitt innerhalb der äußeren Begrenzung des
optischen Faserbündels und nahe dieser äußeren Begrenzung, wie in Fig.
9A gezeigt, ein, und als Konsequenz tritt ein ringförmiger Belichtungsaus
leuchtungslichtstrahl von den kleinen optischen Faserbündeln 11 am
anderen Ende, wie durch Schraffierung in Fig. 9B angezeigt, aus. Es
versteht sich von selbst auch in diesem Fall, daß die Lagebeziehung
zwischen den optischen Fasern auf der Eingangsendebene und den
gleichen optischen Fasern auf der Ausgangsendebene nicht willkürlich ist,
sondern daß Fasern in einem peripheren Abschnitt am Eingangsende
ähnlich in einem peripheren Abschnitt am Ausgangsende positioniert.
Fig. 10A und 10B zeigen ein Beispiel einer Einrichtung zur Erzeugung
eines Lichtstrahls, der von dem optischen Faserbündel 1 mit einem
gewünschten Divergenzwinkel austritt. Wie in Fig. 10A gezeigt, ist jedes
der kleinen optischen Faserbündel 11 am Ausgangsende mit einer winzi
gen Konkavlinse 122 versehen, die vor dem Ganzen so positioniert ist,
um den Strahlungswinkel (Divergenzwinkel) θ jedes kleinen optischen
Faserbündels 11 zu einem Winkel Θ zu erweitern. Obwohl dieses
Beispiel Konkavlinsen anwendet, die vor dem Ausgangsende der kleinen
optischen Faserbündel positioniert sind, wird es offensichtlich sein, daß
das Ziel der vorliegenden Erfindung auch durch Anwendung von Kon
vexlinsen erreicht werden kann.
Fig. 11A und 11B zeigen ein Beispiel einer Einrichtung zur Bereitstel
lung eines Lichtstrahls, der aus einem optischen Faserbündel 1 austritt
mit einem gewünschten Divergenzwinkel. Wenn der Durchmesser jeder
optischen Faser allmählich geändert wird, so daß der Durchmesser D
auch an der Eingangsendebene des optischen Faserbündels unterschiedlich
zu dem Durchmesser d an der Ausgangsendebene ist, kann ein Strah
lungswinkel θ an der Eingangsendseite unterschiedlich zu einem Strah
lungswinkel Θ an der Ausgangsendseite gemacht werden. Wenn der
Strahlungswinkel Θ an der Ausgangsendseite so gemacht ist, daß er einen
gewünschten Winkel darstellt, kann ein gewünschter Divergenzwinkel ohne
Anwendung konkaver Linsen, wie im Beispiel in Fig. 10A gezeigt, ge
währleistet werden.
Fig. 12A und 12B zeigen jeweils eine vergrößerte Ansicht der Struktur
der Eingangsendebene des optischen Faserbündels 1. Fig. 12A zeigt, daß
das optische Faserbündel 1 optische Fasern aufweist, deren Eingangsende
kreisförmig ist, und wobei ein Raum zwischen den jeweiligen optischen
Fasern mit einem Material gefüllt ist, das ein hohes Reflexionsvermögen
aufweist, oder so strukturiert ist, um ein hohes Reflexionsvermögen
aufzuweisen. Im speziellen, wenn eine ultraviolette Quecksilberdampf
lampe zur Erzeugung einer i-Linie oder ein KrF- oder ArF-Exzimerlaser
zur Erzeugung hochultravioletter Strahlen als Lichtquelle benutzt werden,
könnte ein Material, das eine hohe Reflexion in diesem Wellenlängen
band aufweist, wie Aluminium, benutzt werden, um deren Oberfläche zu
schützen und ein dünner Film Silikonoxid, mit einem reflexionsverbes
sernden Effekt, könnte darauf zum Schutz überzogen werden. Auf diese
Weise, auch wenn eine Energie des belichtenden Lichts hoch wird, wird
solch eine optische Energie auf der Eingangsendebene des optischen
Faserbündels absorbiert, um die Eingangsendebene jeder optischen Faser
vor Schaden durch die optische Energie zu bewahren, wodurch es mög
lich wird, ein optisches Faserbündel zu realisieren, das eine hohe
Beleuchtungsstärke und eine lange Lebensdauer gewährleistet. Übrigens
wird, wie es auch aus den Fig. 12A und 12B verstanden werden kann,
die Lichtausbeute höher, je kleiner der Bereich des Raumes zwischen
den jeweiligen optischen Fasern ist. Im einzelnen ist es vorzuziehen,
eine Form einer Eingangsendebene der Fasern anzuwenden, wie sie in
Fig. 12B gezeigt wird, um den Raum zwischen den Fasern im Prinzip zu
eliminieren. Augenscheinlich ist es ausreichend um das Ziel der vor
liegenden Erfindung zu erreichen, das hochreflektierende Material, das
den Raum ausfüllt, nur in der Nähe der Eingangsendebene des optischen
Faserbündels bereitzustellen. Auch kann die Oberfläche dieses hoch
reflektierenden Materials, das den Raum ausfüllt, als eben, konkav oder
ähnlich ausgewählt werden, so daß Licht, reflektiert durch diese Refle
xionsebene, zusammenpaßt mit dem Ziel des Ausleuchtungssystems der
vorliegenden Erfindung.
Fig. 13A und 13B zeigen eine Ausführungsform eines Ausleuchtungs
gerätes entsprechend der vorliegenden Erfindung, das einen KrF- oder
ArF-Exzimerlaser als Lichtquelle einsetzt. Bezugszeichen in Fig. 13A,
identisch zu denen in Fig. 5A, repräsentieren die gleichen Bauteile. Ein
Laserlichtstrahl, ausgesandt von einer Lichtquelle 24', hat einen recht
winkligen Strahlquerschnitt und wird, ohne die Form zu ändern, in ein
optisches Faserbündel 1' eingeführt, das eine identische rechtwinklige
Eingangsendebene besitzt. Jedes der kleinen optischen Faserbündel 11
an der Ausgangsendebene ist mit einer kleinen Linse versehen, ähnlich
dem in Fig. 10A gezeigten Beispiel, um ausgesandtes Licht mit einem
gewünschten Divergenzwinkel bereitzustellen. Durch Versehen des
Projektionsbelichtungsgerätes von Fig. 5A mit diesem Ausleuchtungssy
stem, wird ein Projektionsbelichtungsgerät mit einer hohen Laserlicht
ausbeute realisiert. Dieses Ausleuchtungssystem, das einen Laserstrahl
einsetzt, kann nicht nur auf Projektionsbelichtungsgeräte angewendet
werden, sondern auch für eine Vielfalt von Geräten, die einen Laser
strahl zum gleichförmigen Ausleuchten erfordern, wobei es möglich wird
Ausleuchtung zu realisieren, die eine hohe Lichtausbeute und eine
variable Lichtrichtwirkung oder einen variablen Ausleuchtungsbereich hat.
Fig. 14A bis 14E zeigen eine Ausführungsform eines Projektionsbelich
tungsgerätes gemäß der vorliegenden Erfindung. Bezugszeichen in den
Fig. 14A bis 14E, die identisch zu denen in Fig. 5A und 5B sind,
repräsentieren die gleichen Bauteile. Eine positionierende Lichtquelle
wird durch einen KrF- oder ArF-Exzimerlaser implementiert. Da eine
Reduktionsprojektionslinse zum Gebrauch in einem Reduktionsbelichtungs
gerät ausschließlich aus synthetischem Quartz hergestellt ist, wird die
Spektrumsbreite des Laserlichtes, z. B. ungefähr 1 µm, eine Verschlechte
rung der Auflösung aufgrund chromatischer Aberration, verursacht durch
ein zerstreutes Reflexionsvermögen des Quartzglases, vermeiden, was es
möglich macht einen Wafer einem feineren Gitter auszusetzen. Jedoch,
wenn die Spektrumsbreite enger ist, tendiert die Anzahl der Moden im
allgemeinen dazu abzunehmen. Als Ergebnis, angenommen, daß die
Längen der jeweiligen optischen Fasern, die in dem optischen Faser
bündel der Fig. 13A enthalten sind, alle im wesentlichen gleich sind,
wenn Lichtstrahlen, die aus den jeweiligen kleinen optischen Faserbün
deln 11 austreten, divergiert werden und einander überlappen, wird
Interferenz auftreten und eine Ungleichmäßigkeit im ausleuchtenden Licht
auf dem Gitter hervorrufen. In dieser Ausführungsform, wie in den Fig.
14A bis 14E gezeigt, besitzt die Eingangsendebene A-A' im wesentlichen
eine identische Form wie die Strahlenform eines Laserlichtstrahls und ist
aufgeteilt in fünf Segmente 1100 bis 1500 in der longitudinalen Richtung
der Strahlenform, wie es in Fig. 14B erkannt werden kann. Jedes
Segment ist weiterhin aufgeteilt in eine Matrixform wie es in Fig. 14C
gezeigt wird. Da aneinander anstoßende Abschnitte dieser Matrizen eine
starke Kohärenz aufweisen, haben optische Fasern die in jeder Matrix
enthalten sind die gleiche Länge, wohingegen die Längen optischer
Fasern in einander berührenden Matrizen unterschiedlich gemacht sind.
Der Unterschied in der Länge optischer Fasern sollte nicht kleiner als
eine kohärente Länge sein. Es sollte jedoch bemerkt werden, daß,
obwohl der Unterschied unterhalb einer derartigen gewünschten Länge
liegt, ausreichend Effekte produziert werden können. In jedem der fünf
aufgeteilten Segmente weisen Stellen, die einander entsprechen, zum
Beispiel 1111 und 1211; 1151 und 1251; und 1114 und 1214, wie in Fig.
14C gezeigt, optische Fasern der gleichen Länge auf, und diese Stellen
mit den optischen Fasern der gleichen Länge sind zu identischen opti
schen Fasern wie z. B. 1111', 1211' usw. verbunden mit dem gleichen
kleinen optischen Faserbündel 110.
Auf diese Art und Weise werden Laserlichtstrahlen, die von den jeweili
gen kleinen optischen Faserbündeln ausgehen, nicht miteinander inter
venieren, so daß im wesentlichen keine Variation der Intensität der
Ausleuchtung vorhanden ist auf dem Gitter, wobei es möglich ist Belich
tungsausleuchtung zu realisieren, die eine gleichförmige Lichtstärke, eine
hohe Lichtausbeute und eine gewünschte Richtwirkung haben. In dieser
Ausführungsform ist die Querschnittsfläche des optischen Faserbündels
gleich der Querschnittsfläche eines Laserstrahls, der von dem Exzimerla
ser erzeugt wurde. Im speziellen, da ein Querschnitt von ungefähr 4 ×
20 mm ausreicht, kann das Ziel der vorliegenden Erfindung wirtschaftlich
erreicht werden mit einer reduzierten Anzahl optischer Fasern, verglichen
mit dem Fall, bei dem eine Hochleistungsquecksilberdampflampe als
Lichtquelle (20 bis 30 mm Durchmesser) benutzt wird.
Fig. 15 zeigt eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, wobei
ein Abschnitt mit Funktionen zur Reduktion der Kohärenz des Laserlich
tes und zur Reduktion der Richtwirkung, die ursprünglich dem Laser
eigen waren, getrennt ist von einem Abschnitt mit einer Funktion zur
Bereitstellung einer gewünschten Richtwirkung der Ausleuchtung. Im
einzelnen besitzt ein optisches Faserbündel 1A' einen Eingangsquerschnitt
mit einer rechtwinkligen Form, die im wesentlichen identisch der Quer
schnittsform eines Laserstrahles ist, der durch den vorigen, in Fig. 15A
gezeigten Exzimerlaser erzeugt wird sowie eine Ausgangsendebene mit
einer kreisförmigen Form wie in Fig. 15B gezeigt. Die Länge der
optischen Fasern in dem Bündel ist nicht kleiner gemacht als die kohä
rente Länge, um zu vermeiden, daß Laserstrahlen, die davon austreten,
miteinander intervenieren. Eine Gruppe kleiner Linsen ist gegenüber
dem ausgehenden Ende des optischen Faserbündels 1A' positioniert, um
eine hohe Richtwirkung des Laserstrahls zu beseitigen. Das dermaßen
produzierte gestreute Licht wird konvergiert durch eine Linse in einer
Eingangsendebene eines zweiten optischen Faserbündels 1B', wie in Fig.
16C gezeigt. Die Ausgangsendebene B2-B2' des optischen Faserbündels
1B' kann ausgedehnt werden, wie in Fig. 16D gezeigt, durch einen
Mechanismus 10 zum Ändern relativer Positionen der kleinen optischen
Faserbündel, wie gewünscht. Ein optischer Weg nachfolgend den Aus
gangsendebenen der kleinen optischen Faserbündel ist identisch in der
Struktur zur Ausführungsform, die in Fig. 1 gezeigt ist.
Die Fig. 17A bis 17E zeigen ein Beispiel eines Belichtungsausleuchtungs
systems in einem Projektionsbelichtungsgerät gemäß der vorliegenden
Erfindung. Eine Lichtquelle kann entweder eine Quecksilberdampflampe
oder ein Exzimerlaser sein. Zum Beispiel ist das Belichtungsgerät von
Fig. 5A mit einem Ausleuchtungssystem versehen, das die gleiche Struk
tur hat, wie das in der Nähe des Eingangsendes des optischen Faserbün
dels, das in Fig. 6 gezeigt wurde. Das Ausgangsende eines optischen
Faserbündels 1" wird getrennt in fünf kleine optische Faserbündel 11, wie
in den Fig. 17A bis 17D gezeigt. Im speziellen wird eines dieser klei
nen optischen Faserbündel 11 in einem zentralen Abschnitt positioniert
und die anderen vier in einen peripheren Abschnitt. Das zentral positio
nierte kleine optische Faserbündel ist fest, während die vier peripheren
Bündel sicher auf radial gleitbare Mechanismen montiert sind. Wenn
ein normales Gitter mit einer relativ breiten Musterbreite zur Belichtung
benutzt wird, werden die vier peripheren kleinen optischen Faserbündel
relativ nach innen gebracht auf eine Weise, daß Lichtstrahlen zur Belich
tung von allen fünf kleinen Faserbündeln 11 zur Belichtung benutzt
werden. Wenn ein normales Gitter mit einer relativ engen Musterbreite
zur Belichtung benutzt wird, wird ein zylindrischer Spiegel 17 durch
Anweisung eines Steuerungssystems 7 vor der Eingangsendebene des
optischen Faserbündels 1" eingefügt, um an den Seitenoberflächen des
zylindrischen Spiegels 17 einen Lichtstrahl zu reflektieren, gerichtet auf
ein optisches Faserbündel, das sich in dem zentralen Abschnitt der
Ausgangsendebene des optischen Faserbündels 1" befindet, um zum
Eingangsende der optischen Fasern vorzulaufen, die wiederum den Licht
strahl zu den vier peripheren kleinen optischen Faserbündeln führen. Im
weiteren werden die vier peripheren kleinen optischen Faserbündel durch
einen Mechanismus 10 zum Ändern relativer Positionen der kleinen
optischen Faserbündel nach außen bewegt. Auf diese Weise wird ein
ringförmiger Ausleuchtungsstrahl gewährleistet zum Belichten eines Wafers
mit einem relativ engen Muster ohne Lichtstrahlvergeudung. Wenn ein
Wafer belichtet wird mit einem sehr engen zu belichtenden Muster,
werden die vier peripher positionierten kleinen optischen Faserbündel zu
den inneren Grenzen auf Befehl des Steuersystems 7 gebracht, so daß
Lichtstrahlen für die Belichtung aller fünf kleinen optischen Faserbündel
11 zur Belichtung benutzt werden. Es wird Gefallen enden, daß dieses
Beispiel in einer einfachen Struktur erlaubt, die Ausleuchtungsrichtwir
kung leicht zu ändern in Übereinstimmung mit der Größe und Form des
zu belichtenden Musters, und die Belichtung ohne Lichtstrahlvergeudung
durchzuführen.
Fig. 18A bis 18C zeigen ein Beispiel eines Belichtungsausleuchtungs
systems in dem Projektionsbelichtungsgerät entsprechend der vorliegenden
Erfindung. Das Ausgangsende eines optischen Faserbündels 1" ist aufge
teilt in neun kleine optische Faserbündel 11, wie dargestellt, wobei eines
davon in einem zentralen Abschnitt plaziert ist, vier davon sind um das
kleine optische Faserbündel plaziert, und die restlichen vier davon sind
um diese vier kleinen optischen Faserbündel angeordnet. Das zentrale
kleine optische Faserbündel ist fest, während die acht peripheren sicher
auf einem radial gleitbaren Mechanismus befestigt sind. Die acht klei
nen optischen Faserbündel werden, wie in den Fig. 18A, 18B und 18C
gezeigt, bewegt. Bei einem ringförmigen Ausleuchtungsschema, gezeigt
in Fig. 18B, wird ein zylindrischer Spiegel 17 eingefügt, wie vorher in
Verbindung mit Fig. 6 erklärt, um die Ausführungsform der gewünschten
Richtwirkung der Belichtungsausleuchtung zu ermöglichen sowie eine
maximale Lichtausbeute in Übereinstimmung mit der Auflösung und der
Art eines benutzten Gitters.
Fig. 19 stellt ein anderes Beispiel eines Belichtungsausleuchtungssystems
in dem Projektionsbelichtungsgerät entsprechend der vorliegenden Erfin
dung dar. Ein Laserstrahl, ausgesandt von einer Laserlichtquelle 24',
zeigt einen Querschnitt A3-A3', welcher lang in Richtung senkrecht zum
Blatt der Fig. 19 und kurz längs der Richtung des Blattes ist, wie in
Fig. 20A gezeigt. Da es in Richtung längs des Blattes eine kleine
Anzahl von Moden gibt, ist die Kohärenz stark. Stablinsen 261, 262
werden benutzt um die Strahlenbreite auszuweiten in Richtung längs des
Blattes der Fig. 19, wie Querschnitt A4-A4' in Fig. 20B zeigt. Der
erweiterte Strahl wird durch ein Prisma 250 aufgeteilt, um eine optische
Wegdifferenz in sechs Strahlen mit verschiedenen optischen Weglängen
zu erzeugen. Die jeweiligen aufgeteilten Strahlen werden in ein opti
sches Faserbündel 1C' geleitet, das eine Eingangsendebene besitzt, die in
sechs Segmente aufgeteilt ist. Diese Eingangsendebene A5-A5' besitzt
eine Intensitätsverteilung wie in Fig. 20C gezeigt. Die Eingangsendebene
des optischen Faserbündels 1C' besteht aus sechs getrennten rechtwink
ligen Ebenen, wie in Fig. 20C gezeigt, wobei zwei Faserenden nahe dem
Zentrum der Ebene in den Richtungen, die durch Pfeile in der Figur
angezeigt sind, bewegbar sind. Unter der Gesamtheit der vier beweg
baren Faserenden sind Faserenden 101" und 101', gezeigt in den Fig. 19
und 20, jeweils verbunden mit einem zentralen Abschnitt und einem
peripheren Abschnitt der Ausgangsenden 122 der Fasern. Der Rest der
festen Eingangsenden 101 ist nur zu peripher liegenden Ausgangsenden
122 verbunden. Auf diese Weise wird eine normale Ausleuchtung mit
dem variablen Wert s realisiert, wenn die Eingangsendebene in einem
Zustand (Position) sich befindet, in dem ein Lichtstrahl auf das Faseren
de 101" einfällt, und ringförmige Ausleuchtung ist realisiert, wenn die
Eingangsendebene in einem Zustand (Position) sich befindet, bei dem ein
Lichtstrahl auf das Faserende 101' einfällt.
Fig. 21 zeigt ein Beispiel eines Belichtungsausleuchtungssystems des
Projektionsbelichtungsgerätes entsprechend der vorliegenden Erfindung.
Ein Laserlichtstrahl, ausgesandt von einer Laserlichtquelle 24', wird zu
einer gewünschten Größe aufgeweitet durch Stablinsen 261, 262, ähnlich
dem Beispiel, das in Fig. 19 gezeigt wurde, und wird dann in sechs
Strahlen mit verschiedenen optischen Weglängen durch ein Prisma 250',
um eine optische Wegdifferenz zu machen, aufgeteilt. Dieses Beispiel
unterscheidet sich von dem Beispiel der Fig. 19 dadurch, daß die Grö
ßen der jeweiligen aufgeteilten Strahlen unterschiedlich zueinander sind.
Im speziellen ist die Größe der Strahlen in einem peripheren Abschnitt
größer als die der Strahlen im zentralen Abschnitt. Die Strahlen, die
aus diesem Prisma 250' zur optischen Wegdifferenzherstellung austreten,
erreichen ein optisches wegauswählendes Prisma 120, dessen Querschnitt
in Fig. 22C, 22D und 22E gezeigt wird. Dieses Prisma 120 besteht aus
zwei Prismen 120A, 120B, die in einem vorbestimmten Abstand befestigt
sind und einstückig bewegbar in die linke und rechte Richtung auf dem
Blatt von Fig. 22C bis 22E sind. Die Lichtstrahlen, die dieses optische
wegauswählende Prisma 120 durchfallen, treten in die Eingangsenden
eines optischen Faserbündels 1D' ein, diese Eingangsenden werden in
Übereinstimmung mit den Größen der Strahlen geformt, so daß diejeni
gen die die peripheren Strahlen empfangen breit sind und diejenigen, die
die zentralen Strahlen empfangen, eng sind. Wie in den Fig. 21 und
22A gezeigt wird, ist die Normalenrichtung der Endebenen dieser Faser
bündel bezüglich den einfallenden Lichtstrahlen in dem peripheren
Abschnitt geneigt und parallel zu den einfallenden Lichtstrahlen im
zentralen Abschnitt. Die Beziehung zwischen einem Einfallswinkel des
optischen Faserendes und einem Winkel eines ausgehenden Lichtstrahls
bezüglich der Normalen der Ausgangsendebene wird mit Referenz zu den
Fig. 23A bis 23F erklärt werden. Lichtstrahlen, die auf optische Fasern
101a und 101f, die sich in einem peripheren Abschnitt befinden und die
um einen Winkel θ1 bezüglich des einfallenden Lichtstrahles geneigt sind,
einfallen, wie in Fig. 23A gezeigt wird, treten von Ausgangsenden 101a'
und 101f' mit einer Richtungwirkung aus, die einen konstanten Winkel
bereich bezüglich der Normalen zur Ausgangsendebene, wie in Fig. 23B
gezeigt, besitzt. Im einzelnen ist ein Winkel θ, der durch den austreten
den Lichtstrahl mit der Normalen der Ausgangsendebene gebildet wird,
gegeben durch:
θ1 - Δθ ≦ θ ≦ θ1 + Δθ
Auf der anderen Seite treten Lichtstrahlen, die senkrecht in zentrale
optischen Fasern 101c und 101d eintreten, vom Ausgangsende aus, wobei
ihr Hauptstrahl leicht aufgeweitet ist im wesentlichen vertikal zum Aus
gangsende, wie in Fig. 23E gezeigt. Auch treten Lichtstrahlen, die in
die optischen Fasern 101b und 101e einfallen, die sich an einer Zwi
schenposition zwischen dem peripheren Abschnitt und dem zentralen
Abschnitt befinden, aus, wobei ihre Breiten geringer aufgeweitet sind als
bei dem Strahl, wie er in Fig. 23A gezeigt wird, aber mehr aufgeweitet
sind als der Strahl, der in Fig. 23E gezeigt wird, wie in Fig. 23C darge
stellt. Da eine derartige Beziehung zwischen dem einfallenden Winkel
einer optischen Faser und der Richtwirkung eines ausgesandten Licht
strahls besteht, wenn das Eingangsende mit dem Ausgangsende so ver
bunden ist, wie es unten gezeigt wird, erhält man im Durchschnitt einen
gewünschten Lichtstrahl mit einer gleichförmigen Richtwirkung von jedem
Ort auf der Ausgangsendebene, wodurch es möglich wird, ein Gitter
gleichförmig auszuleuchten. Im speziellen ist jedes Eingangsende des
optischen Faserbündels 1D', z. B. 101a, aufgeteilt in drei Segmente 101aA,
101aB und 101aC, wie in Fig. 22A gezeigt. Dann ist das Segment
101aA mit einem Abschnitt 110A verbunden, der an einem Ort zwischen
dem zentralen und dem peripheren Abschnitt an dem Ausgangsende 110
der optischen Faser plaziert ist, wie in Fig. 22F gezeigt. Entsprechend
ist das Segment 101aB verbunden mit einem Abschnitt 110B und das
Segment 101aC mit einem Abschnitt 110C. Ein Eingangsende 101b
optischer Fasern besitzt entsprechend ein Segment 101bA verbunden mit
dem Abschnitt 110A; ein Segment 101bB mit dem Abschnitt 110B; und
ein Segment 101aC mit dem Abschnitt 110C. Wenn sich das optische
wegauswählende Prisma 120 in einem Zustand, wie er in Fig. 22C
gezeigt ist, befindet, treten Lichtstrahlen, die von dem Prisma 250' zur
Erzeugung optischer Weglängendifferenzen austreten, in Segmente 101aB,
101bB, 101cB, 101dB, 101eB und 101fB an der Eingangsendebene des
optischen Faserbündels ein und treten nur von dem Ausgangsende 101B
der optischen Fasern aus. Wie in Verbindung mit den Fig. 23A bis 23F
erklärt wurde, ist es möglich, obwohl ein Lichtstrahl, der auf das Ein
gangsende eines optischen Faserbündels einfällt, eine hohe Richtwirkung
zeigt, diesen Lichtstrahl, der vom ausgehenden Ende austritt, mit einer
gewünschten Richtwirkung zu versehen. Außerdem, da der Lichtstrahl
nur am Ausgangsende 101B der optischen Fasern austritt, wird ein Pha
senverschiebungsgitter 3 durch einen Lichtstrahl zur Belichtung mit hoher
Richtwirkung, d. h. mit kleinem σ-Wert, ausgeleuchtet.
Wenn das Gitter durch eines mit einer normalen Linienbreite ersetzt
wird, wird das den optischen Weg auswählende Prisma 120 so bewegt,
daß das Prisma 120A wie in Fig. 22B gezeigt positioniert wird. Durch
ein derartiges Positionieren des Prismas 120A treten Lichtstrahlen gleich
zeitig in die Eingangsendsegmente 101aA und 101aB des optischen
Faserbündels ein. Lichtstrahlen treten ähnlich in zwei Segmente am
anderen Eingangsende der optischen Faserbündel ein. Da diese zwei
Segmente verbunden sind mit den Ausgangsenden 110A und 110B, wird
ausleuchtendes Licht mit einer moderaten Richtwirkung gewährleistet.
Daher kann eine optimale Belichtung für dieses linienbreite Muster
realisiert werden, wenn der Mechanismus 10 zum Ändern relativer
Positionen der kleinen optischen Faserbündel angetrieben wird, um eine
optimale Ausrichtung für das obige Gitter mit normaler Linienbreite zu
erreichen.
Wenn ein Gitter 3, das kein Phasenverschiebungsgitter ist, aber eines,
das ein Muster nahe der Auflösungsgrenze einer Reduktionsprojektions
linse einschließt, in den Belichtungsapparat montiert wird, wird das den
optischen Weg auswählende Prisma 120, wie in Fig. 22E gezeigt, bewegt,
so daß das Prisma 120B innerhalb des optischen Weges positioniert ist
und Lichtstrahlen in das Eingangsendsegment 101aC usw. des optischen
Faserbündels eintreten. Auf diese Weise treten Lichtstrahlen, die von
dem jeweiligen Eingangsendsegment des optischen Faserbündels eintreten,
von dem Ausgangsendabschnitt 110C aus, der in dem äußeren peripheren
Abschnitt an der Ausgangsendebene der optischen Fasern angeordnet ist,
ein, was zur Folge hat, daß die ringförmige Ausleuchtung realisiert wird
und ermöglicht wird, ein Muster nahe der Auflösungsgrenze in einer zu
friedenstellenden Musterform abzubilden.
Fig. 24A zeigt ein Reduktionsprojektionsbelichtungsgerät, bei dem die
erste Ausführungsform der vorliegenden Erfindung angewandt wird.
Bezugszeichen bei dieser Figur, die identisch denen in den Fig. 5A, 5B
und 6 sind, bezeichnen die gleichen Bauelemente. Ein Ausleuchtungs
system 2 kann eine der beiden vorhergehenden Ausführungsformen sein.
In einer Reduktionsprojektionslinse 4' wird ein variables Filter 400
eingefügt am Eingang der Pupille 41', um teilweise einen durchtretenden
Lichtbetrag von Licht, das dadurch hindurchtritt abzuschirmen oder zu
reduzieren und zwar nur in einer gewünschten Region. Das variable
Filter 400 besteht aus drei Teilen 401, 402 und 403, z. B. wie in Fig.
23B gezeigt, und ist bewegbar, um jedes Teil auf der Pupille der Reduk
tionsprojektionslinse 4' zu positionieren, wie in Fig. 24A gezeigt. Bei
einem Gitter, auf welches ein Muster mit normaler Linienbreite gezeich
net ist, wird der Mechanismus 10 zum Ändern relativer Positionen
kleiner optischer Faserbündel angetrieben, um den σ-Wert auf 0,5 (σ =
0,5) zu setzen, und das variable Filter 400 wird bewegt, um den Teil
401 auf die Pupille zu positionieren. Wenn bei Belichtung ein Gitter
mit einer dünnen Musterlinienbreite benutzt wird, wird ein zylindrischer
Spiegel 17, der nahe dem Eingangsende eines optischen Faserbündels 1
angeordnet ist, in einen optischen Weg eingeführt, während der Mecha
nismus 10 zum Ändern relativer Positionen kleiner optischer Faserbündel
angetrieben wird, um die Ausgangsenden der kleinen optischen Faserbün
del aufzuweiten, um ringförmige Ausleuchtung zu gewährleisten. Des
weiteren wird das variable Filter 403 bewegt, um den Teil 403 auf die
Pupille zu positionieren. Da der Teil 403 Form und Größe besitzt, die
im wesentlichen identisch derer eines Sekundärlichtquellenbildes auf der
Pupille der ringförmigen Ausleuchtung ist, wird dieser Teil benutzt für
ein Schaltkreismuster, bei welchem dünne Musterlinien mit fetten Muster
linien gemischt sind, um beide Musterlinien mit einer relativ hohen
Auflösung zu belichten. Daher kann durch Vorsehen des variablen
Filters auf der Pupille zur Reduktionsprojektionslinse der Belichtungsgerät
eine breitere Anzahl von Mustern bedienen.
Fig. 25 zeigt, daß das Ausleuchtungssystem entsprechend der ersten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung auf ein Mustertestgerät
angewandt wird. Bezugszeichen in dieser Figur, die identisch denen in
den Fig. 5A, 5B, 6 und 24 sind, kennzeichnen die gleichen Bauelemen
te. Lichtstrahlen, die von Ausgangsenden kleiner optischer Faserbündel
austreten, passieren durch eine Kondensorlinse 12", werden reflektiert
durch einen halbdurchlässigen Spiegel 91 und bilden dann ein Abbild auf
den Ausgangsenden der kleinen optischen Faserbündel an einer Pupille
41" einer Objektivlinse 4". Das Verhältnis σ dieses Abbilds zum äußeren
Durchmesser der Pupille 41 ist die partielle Kohärenz der Ausleuchtung
bei Mustererkennung. Wenn der Bereich der Ausgangsenden der kleinen
optischen Faserbündel geändert wird durch Antreiben des Mechanismus
10 zum Ändern relativer Positionen kleiner optischer Faserbündel, kann
der σ-Wert geändert werden. Zum Beispiel wird der Wert σ zu unge
fähr Eins gesetzt, wenn ein Muster eine körnige Oberfläche besitzt, um
die Richtwirkung des ausleuchtenden Lichtstrahles herabzusetzen, wodurch
es möglich wird, Muster mit geringerem Rauschen zu erkennen. Ent
gegengesetzt, für ein Muster mit geringerer Ungleichmäßigkeit, könnte
der Wert σ so gesetzt werden, daß er klein ist um einen niedrigen
Kontrast zu erreichen, wodurch ein Signal ohne weiteres entdeckt werden
kann. Weiterhin, wenn es erwünscht ist, ein Muster mit hervorgehobe
nen Ecken zu erkennen, kann der zylindrische Spiegel 17 in den opti
schen Weg eingeführt werden, um ringförmige Ausleuchtung zu erhalten,
wodurch die Eckabschnitte hervorgehoben werden. Des weiteren, obwohl
nicht in der Figur gezeigt, wenn ein ringförmiger Anschlag, wie durch 403
in Fig. 24B gezeigt, bei der Position der Pupille der Objektivlinse 4"
eingeführt wird, wird, ähnlich dem Belichtungsgerät, das in Fig. 24A
gezeigt wird, bei welchem die erste Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung angewandt wird, eine sogenannte Dunkelfeldausleuchtung
bereitgestellt, wodurch man ein Dunkelfeldabbild erhält, bei dem die
Mustereckabschnitte allein hell sind. Auf diese Weise, wenn das Aus
leuchtungsgerät der vorliegenden Erfindung bei einem Mustererkennungs
system angewandt wird, kann ohne weiteres eine optimale Ausleuchtung
durch Anweisung eines Steuersystems 7' in Übereinstimmung mit der Art
des zu erkennenden Musters bereitgestellt werden, wobei die Vergeudung
des Lichtstrahls reduziert wird.
Es sollte angemerkt werden, daß der Mechanismus 10 zum Ändern
relativer Positionen kleiner optischer Faserbündel sich nicht auf das Bei
spiel in Fig. 2 beschränkt, sondern auch zur Ausführungsform einer
gewünschten Ausleuchtungsrichtwirkung in jedem Fall angetrieben werden
kann nur durch die Einrichtung dieses Mechanismus 10 ohne Anwendung
der optischen Teile zur ringförmigen Ausleuchtung, wie in den Fig. 6
und 8 gezeigt. Es ist ebenso offensichtlich, daß die Positionsänderung
der kleinen optischen Faserbündel sich nicht nur auf die radiale Rich
tung beschränken, wie in den vorausgehenden Ausführungsformen gezeigt
wurde, sondern auch in spiral oder nichtlinearer Form sein können.
Wie oben in Verbindung mit der ersten Ausführungsform beschrieben, ist
die vorliegende Erfindung in ein Ausleuchtungssystem zur Belichtung,
Test, Anzeigen usw. von Mustern eingebaut, um ohne weiteres eine
optimale Ausleuchtung bezüglich der Form und Größe eines einzelnen
Musters, das belichtet, getestet oder angezeigt werden soll und optischen
Systemen, die für eine derartige Belichtung, Test und Anzeige benutzt
werden, mit einer relativ einfachen Struktur bereitgestellt, als auch um
die optimale Ausleuchtung in Übereinstimmung mit Änderungen in den
optischen Systemen leicht zu modifizieren. Daher muß ausleuchtendes
Licht eines konventionellen festen Ausleuchtungssystems nicht teilweise
abgeschirmt werden, und eine gewünschte Ausleuchtungsrichtwirkung und
Ausleuchtungslichtverteilung kann ohne Verminderung der Lichtausbeute
realisiert werden, wodurch ein Belichtungsgerät oder ein Testgerät bereit
gestellt wird, das einen breiten Durchsatz aufweist. Auch kann eine
Anzeigeeinheit eine klare Anzeige bereitstellen und erfordert eine Licht
quelle mit kleinerer Leistung für die gleiche Helligkeit wie zuvor.
Als nächstes wird eine zweite Ausführungsform der vorliegenden Erfin
dung mit Bezug auf die Fig. 26 bis 36 beschrieben werden.
Fig. 26 zeigt ein Belichtungsausleuchtungsgerät 2 entsprechend der zwei
ten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Ein Lichtstrahl, der
von einer Quecksilberdampflampe 24 ausgeht, wird an einem elliptischen
Spiegel 25 reflektiert, weiterhin reflektiert an einem chromatischen
Spiegel 26 zur Auswahl des Wellenlängenbandes, um selektiv ein ge
wünschtes Wellenband des belichtenden Lichtes zu reflektieren, z. B. eine
i-Linie, und tritt dann in eine Eingangsebene A-A' eines optischen
Faserbündels 1 ein. Das optische Faserbündel 1 weist eine Vielzahl von
gebündelten optischen Fasern auf und ist in eine Vielzahl kleiner opti
scher Faserzweige 11 an einem Ort mit vorbestimmter Distanz vor dem
Eingangsende davon verzweigt. Der Durchmesser einer einzelnen opti
schen Faser, z. B., beträgt ungefähr 0,2 mm und der Durchmesser des
Bündels 1 beträgt ungefähr 30 mm. Die Ausgangsendebenen der Viel
zahl der verzweigten kleinen optischen Faserbündel 11 ändern ihre
relative Position in einer Ausgangsebene B-B' der kleinen optischen
Faserbündel durch einen Mechanismus 10 zum Ändern relativer Positio
nen kleiner optischer Faserbündel. Lichtstrahlen, die von den jeweiligen
kleinen optischen Faserbündeln 11 ausgehen, treten in eine Stablinsen
gruppe 500 ein, die als optisches Konvergierungs- und Divergierungs
system dient. Da der Durchmesser eines Lichstrahls, der auf die Stablin
sengruppe 500 einfällt, variiert werden kann durch die kleinen optischen
Faserbündel 11, ist es möglich willkürlich Form und Größe einer Sekun
därlichtquelle vorzugeben, die in der Nähe einer Ausgangsebene der
Stablinsengruppe 500 gebildet ist, was ohne weiteres zu einer Änderung
der partiellen Kohärenz σ der Ausleuchtung ohne eine Verminderung der
Lichtausbeute führt. Ein Lichtstrahl, der von der Stablinsengruppe 500
ausgeht, tritt durch eine Ausgangslinse 22, ähnlich einem Ausleuchtungs
system, wie es in einem normalen Halbleiterbelichtungsgerät benutzt wird,
und beleuchtet dann ein Gitter 3 oder ein zu belichtendes Zielobjekt
durch eine Kondensorlinse 23 aus.
Fig. 27 zeigt einen Zustand der Ausgangsebene, wenn die relativen
Positionen der kleinen optischen Faserbündel 11 geändert werden, durch
Benutzung des Mechanismus 10 zum Ändern der relativen Positionen der
kleinen optischen Faserbündel in dem Belichtungsausleuchtungsgerät, wie
in Fig. 27 gezeigt. Derart die relativen Positionen der kleinen optischen
Faserbündel 11 ändernd, kann der Durchmesser eines Lichtstrahls, der
auf die Stablinsengruppe 500 einfällt, als Antwort geändert werden. In
Übereinstimmung damit kann die Größe der Sekundärlichtquelle, die in
der Nähe der Ausgangsebene der Stablinsengruppe 500 gebildet, will
kürlich geändert werden, was ermöglicht die partielle Kohärenz σ der
Ausleuchtung frei festzulegen, was weiterhin in der Bereitstellung eines
optischen Ausleuchtungssystems mit einem hohen Ausleuchtungswirkungs
grad aufgrund der geringen Verschwendung des Belichtungslichtes, resul
tiert. Folglich wird der Mechanismus 10 zum Ändern der relativen
Positionen kleiner optischer Faserbündel, angetrieben, um die relativen
Positionen der Ausgangsebene B-B' der kleinen optischen Faserbündel
dermaßen zu ändern, um die partielle Kohärenz σ, z. B. auf ungefähr 0,6
zu setzen, wenn ein normales Gitter benutzt wird, und auf ungefähr 0,4,
wenn ein Phasenverschiebungsgitter benutzt wird.
Fig. 28 zeigt das Belichtungsausleuchtungsgerät 2, wie in Fig. 26 gezeigt,
bei dem sich die Ausgangsebene der kleinen optischen Faserbündel 11
an der Vorderseitenfokusposition einer optischen Linse 517 befindet, und
die Eingangsebene der Stablinsengruppe 500 an die Rückseitenfokusposi
tion der gleichen Linse gesetzt ist, um die Ausgangsebene B-B' der
kleinen optischen Faserbündel 11 und die Eingangsebene der Stablinsen
gruppe 500 als ein optisches Konvergierungs- und Divergierungssystem bei
unendlich entfernten Positionen festzulegen. Anders dargestellt, die
Ausgangsebene B-B' der kleinen optischen Faserbündel 11 und die
Eingangsebene der Stablinsengruppe 500 als optisches Konvergierungs-
und Divergierungssystem können in unendlicher Positionbeziehung plaziert
werden. Der Rest der Struktur ist ähnlich derer von Fig. 26. Auf diese
Weise wird die Intensität des Lichtstrahls, der auf die Stablinsengruppe
500 einfällt gleichförmig, so daß das Gitter 3 oder das zu belichtende
Zielobjekt gleichförmig ausgeleuchtet werden können.
Fig. 29 zeigt, daß das Belichtungsausleuchtungsgerät 2, wie in Fig. 26
gezeigt, mit einem Reflexionsänderungsmechanismus 510 versehen ist, der
die Reflexion eines Lichtstrahles zum Ändern des Durchmessers des
Lichtstrahles benutzt, wenn er in die Eingangsebene A-A' des optischen
Faserbündels 1 eintritt. Ein Lichtstrahl, der von der Quecksilberdampf
lampe 24 ausgesandt wird, wird von dem elliptischen Spiegel 25 reflek
tiert, um in das optische Faserbündel 1 einzutreten. Zu dieser Zeit wird
ein Spiegel, der mit einem konischen Loch versehen ist und dessen
innere Oberfläche ein hohes Reflexionsvermögen aufweist, an der Ein
gangsebene des optischen Faserbündels plaziert, um Lichtstrahlen, die
ansonsten in einen peripheren Abschnitt des optischen Faserbündels 1
eintreten würden, zu ermöglichen, in einen zentralen Abschnitt desselben
einzutreten, wodurch die ausgehenden Lichtstrahlen nur von zentral
liegenden kleinen optischen Faserbündeln 11 austreten und demgemäß
nur diese ausgehenden Lichtstrahlen von dem Zentralabschnitt in die
Stablinsengruppe 500 eintreten. Dazu wird eine Sekundärlichtquelle, die
in der Nähe der Ausgangsebene der Stablinsengruppe 500 gebildet ist
und die als ein optisches Konvergierungs- und Divergierungssystem dient,
nur in einem zentralen Abschnitt der Stablinsengruppe 500 gebildet,
wodurch es möglich wird, die partielle Kohärenz σ ohne Vergeudung des
ausleuchtenden Lichtstrahles zu ändern. Auch ist es durch Plazierung
eines Brechungsänderungsmechanismus 520, der die Brechung eines Licht
strahles zum Ändern des Durchmessers des Lichtstrahles benutzt, wenn
dieser in die Eingangsebene A-A' des optischen Faserbündels 1 eintritt,
möglich die partielle Kohärenz σ zu ändern, ohne den ausleuchtenden
Lichtstrahl zu vergeuden.
Fig. 30 zeigt, daß in dem Belichtungsausleuchtungsgerät 2 ein Reflexions
änderungsmechanismus 510 angewandt wird, um den Durchmesser eines
Lichtstrahles, der auf das optische Faserbündel 1 (511) einfällt, zu
modifizieren. Zum Beispiel, wie in den Fig. 30A und 30D gezeigt, ist
ein optisches System auf eine Weise entworfen, daß ein Lichtstrahl in
die vollständige Eingangsebene des optischen Faserbündels 1 eintreten
würde, wenn der Reflexionsänderungsmechanismus 510 nicht plaziert
wäre. Dann wird ein Lichtstrahl-reflexionsändernder Spiegel 512 mit
einer zentral konischen Form in diesem optischen System angeordnet, wie
in den Fig. 30B und 30E gezeigt, um Lichtstrahlen zu reflektieren, die
anders in einen zentralen Abschnitt konvergieren würden, gegen einen
peripheren Abschnitt, so daß ein ringförmiger Lichtstrahl in das optische
Faserbündel 1 (511) eintritt. Alternativ hierzu, wenn ein Lichtstrahl
reflexionsändernder Spiegel 513 mit einer peripher konischen Form in
dem optischen System, wie in Fig. 30C und 30F gezeigt, angeordnet wird,
werden die Strahlen, die sonst in einen peripheren Abschnitt konver
gieren würden, in das optische Faserbündel 1 (511) als ein kreisförmiger
Lichtstrahl eintreten. Weiterhin, um willkürlich den Durchmesser eines
Lichtstrahles, der auf das optische Faserbündel 1 einfällt, zu ändern,
können die Grade der Verjüngung der reflexionsändernden Spiegel 512,
513 auf passende Werte gesetzt werden.
Fig. 31A bis 31F zeigen, daß der Brechungsänderungsmechanismus 520
angewandt wird, um den Durchmesser eines Lichtstrahles zu ändern, der
in das optische Faserbündel 1 des Belichtungsausleuchtungsgerätes 2
einfällt, wie in Fig. 26 gezeigt. Beispielsweise, wie in den Fig. 31A und
31D gezeigt, ist ein optisches System derartig entworfen, daß ein Licht
strahl in die vollständige Eingangsebene des optischen Faserbündels 1
eintreten würde, wenn der Brechungsänderungsmechanismus 520 nicht
angeordnet wäre. Darm, we 13314 00070 552 001000280000000200012000285911320300040 0002004301716 00004 13195nn ein Prisma 521 vor der Eingangsebene
des optischen Faserbündels 1 in diesem optischen System angeordnet
wird, wie in den Fig. 31B und 31E gezeigt, werden Lichtstrahlen, die
anders in einen zentralen Abschnitt der Eingangsebene konvergieren
würden, gegen einen peripheren Abschnitt der gleichen Ebene gebrochen
und treten in das optische Faserbündel 1 durch eine Linse zum Par
allelrichten von Lichtstrahlen, die bezüglich der optischen Achse geneigt
sind, ein. Auf diese Weise werden die Lichtstrahlen gezwungen, nur in
den peripheren Abschnitt des optischen Faserbündels einzutreten, wodurch
ein ringförmiger Lichtstrahl erzeugt wird, ohne den ausleuchtenden
Lichtstrahl zu vergeuden. Alternativ hierzu, wenn eine Linse 522, die
Lichtstrahlen komprimiert, anstelle des Prismas 521, wie in den Fig. 31C
und 31F gezeigt, angeordnet wird, können Lichtstrahlen, die ansonsten in
einen peripheren Abschnitt konvergieren würden, gebrochen werden, um
in einen zentralen Abschnitt des optischen Faserbündels 1 als ein kreis
förmiger Lichtstrahl einzutreten. Nebenbei bemerkt, um willkürlich den
Durchmesser eines Lichtstrahles, der auf das optische Faserbündel 1
einfällt, zu ändern, kann die Brennweite der Linse 522 auf einen passen
den Wert gesetzt werden.
Obwohl die oben dargestellten reflektionsändernden Spiegel 512, 513 und
die Prismen 521, 522, die als Einrichtung zum Ändern der Lichtstrahlen
dienen, am effektivsten sind, wenn sie vor der Eingangsebene des opti
schen Faserbündels 1 angeordnet sind, können ähnliche Effekte erzeugt
werden, wenn sie vor der Eingangsebene der Stablinsengruppe 500, die
als ein optisches Konvergierungs- und Divergierungssystem dient, angeord
net werden. Folglich können sie vor der Eingangsebene entweder der
optischen Faserbündel 1 oder der Stablinsengruppe 500 angeordnet
werden.
Bei der Ausführungsform, die in Fig. 29 gezeigt ist, wird, wenn der
Reflektionsänderungsmechanismus 510 oder der Brechungsänderungsmecha
nismus 520 angeordnet ist, die Neigung des Lichtstrahles größer, um eine
Neigungsgrenze zu überschreiten, bis zu der der Lichtstrahl die Stablin
sengruppe durchlaufen kann, wodurch die Möglichkeit der Lichtstrahlver
geudung erhöht wird. Um dieses Problem zu lösen, können Einrichtun
gen, wie sie in Fig. 32 gezeigt werden, eingesetzt werden. Im einzelnen
wie in Fig. 32A gezeigt, wenn der Reflektionsänderungsmechanismus 510
oder der Brechungsänderungsmechanismus 520 nicht angeordnet ist,
beträgt der maximale Einfallswinkel eines Lichtstrahles α1. Normalerwei
se ist eine Stablinse 501 entworfen, die eine numerische Apertur (NA)
benutzt, die durch NA = sin α1 gegeben ist. Jedoch, wenn der Reflek
tionsänderungsmechanismus 510 oder der Brechungsänderungsmechanismus
520 angeordnet ist, wird die Neigung des Lichtstrahles größer, so daß ein
maximaler Einfallswinkel α2 in diesem Falle weiter ist als der maximale
Einfallswinkel α1, wobei die Anwendung der normalen Stablinse 501
Lichtvergeudung verursachen wird, z. B. aufgrund der Reflexion von
Lichtstrahlen an der Eingangsebene der Linse, und wird demgemäß in
einer geringeren Lichtausbeute resultieren. Um dieses Problem zu lösen,
können individuelle Stablinsen 502, die die Stablinsengruppe 500 bilden,
entworfen werden, mit der numerischen Apertur, die durch NA = sin α2,
gegeben ist, um eine derartige Lichtstrahlenvergeudung zu vermeiden. Es
sollte jedoch bemerkt werden, daß, wenn die numerische Apertur der
Stablinsengruppe 500 geändert wird, der Aufbau der Ausgangslinse 22
und der Kondensorlinse 23 auch geändert werden muß.
Fig. 33 zeigt einen ersten Fall, bei dem die ausleuchtungsändernde
Einrichtung entsprechend der zweiten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung für ein Projektionsbelichtungsgerät angewandt ist. Ein Licht
strahl, z. B. eine i-Linie, der von einer Quecksilberdampflampe 24 aus
gesandt wird, tritt in ein optisches Faserbündel 1 ein, tritt von einer
Ausgangsendebene derselben aus, und wird durch eine Linse 516 gebro
chen, um in eine Stablinsengruppe 500 einzutreten. Die Linse 516 dient
dazu eine konjugierte Ortsbeziehung zwischen der Ausgangsebene des
optischen Faserbündels 1 und der Eingangsebene der Stablinsengruppe
500 zu definieren. Ein Reflexionsänderungsmechanismus 510 oder ein
Brechungsänderungsmechanismus 520 ist vor der Eingangsebene der
Stablinsengruppe 500 angeordnet, um die Form einer Sekundärlichtquelle,
die in der Nähe der Ausgangsebene der Stablinsengruppe 500 gebildet
ist, zu modifizieren. Ein Lichtstrahl, der von der Sekundärlichtquelle
divergiert, durchläuft eine Kondensorlinse 23 und leuchtet nach Keller
ein Gitter 3 gleichförmig aus, um eine Sekundärlichtquellenabbildung 200
am Ort einer Eingangspupille einer Reduktionsprojektionslinse 4 zu
bilden. Folglich ist es möglich, willkürlich die partielle Kohärenz σ der
Ausleuchtung, die durch das Verhältnis des Durchmessers d des Sekun
därlichtquellenabbildes 200, das am Ort der Eingangspupille 41 gebildet
wird, zu dem Durchmesser D der Eingangspupille 41 der Reduktions
projektionslinse 4, zu setzen. Nach Setzen des Belichtungsausleuchtungs
systems 2 auf passende optische Bedingungen, wird ein Schaltkreismuster,
das auf dem Gitter 3 ausgebildet ist, mit einem Muster ausgerichtet, das
auf ein Wafer 5 bei dem vorhergehenden Belichtungsprozeß transferiert
wurde, so daß ein Laserstrahl 60 für Meßzwecke und eine Waferfahr
bühne 6 benutzt werden, um den Wafer 5 zu fahren, der aufnahmefähig
in einem Waferspannfutter 51 befestigt ist.
Fig. 34 zeigt einen zweiten Fall, bei dem die ausleuchtungsändernden
Einrichtungen gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung angewandt werden für ein Projektionsbelichtungsgerät. Ein
Lichtstrahl, z. B. eine i-Linie, die von einer Quecksilberdampflampe 24
ausgesandt wird, tritt in ein optisches Faserbündel 1 ein und tritt an der
Ausgangsebene desselben aus, und wird dann durch eine Linse 516
gebrochen, um in die Stablinsengruppe 500 einzufallen. Die Linse 516
dient dazu, eine konjungierte Ortsbeziehung zwischen der Ausgangsebene
des optischen Faserbündels 1 und der Eingangsebene der Stablinsen
gruppe 500 zu definieren. Ein Reflexionsänderungsmechanismus 510 oder
ein Brechungsänderungsmechanismus 520 ist vor der Eingangsebene der
Stablinsengruppe 500 angeordnet, um die Form einer Sekundärlichtquelle
zu modifizieren, die in der Nähe der Ausgangslinse der Stablinsengruppe
500 gebildet ist. Auf diese Weise ist es möglich, willkürlich die partielle
Kohärenz σ der Ausleuchtung, die durch das Verhältnis des Durchmes
sers d eines Sekundärlichtquellenabbildes 200, das sich am Ort der
Eingangspupille 41 bildet, zu dem Durchmesser D der Eingangspupille 41
einer Reduktionsprojektionslinse 4, darstellt, zu setzen.
Fig. 35A und 35B zeigen ein Beispiel, bei dem drei Linsen in einem
optischen Weg von der Ausgangsebene des optischen Faserbündels 1 zur
Eingangsebene der Stablinsengruppe 500 des Belichtungsausleuchtungs
gerätes 2 gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
angeordnet sind, um einen Zoomlinsenmechanismus 53 zur willkürlichen
Änderung des Durchmessers eines Lichtstrahles, der auf die Stablinsen
gruppe 500 einfällt, bereitzustellen. Angenommen, daß die Brennweiten
einer ersten Linse, einer zweiten Linse und einer dritten Linse, die in
dieser Reihenfolge vom optischen Faserbündel 1 positioniert sind, jeweils
durch f1, f2 und f3 dargestellt werden; der Durchmesser der Ausgangs
ebene des optischen Faserbündels 1 durch d1 dargestellt wird; und der
Durchmesser eines Lichtstrahls, der in die Stablinsengruppe 500 einfällt,
durch d2 dargestellt wird, kann der Durchmesser eines Lichtstrahls, der
auf die Stablinsengruppe 500 einfällt, willkürlich geändert werden, wenn
die Linsen, die die Brennweiten f1 und f2 haben, parallel zur optischen
Achse verschoben werden, um eine Gleichung zu erfüllen, die in den
Fig. 35A und 35B gezeigt wird. Auf diese Weise kann die partielle
Kohärenz σ der Ausleuchtung willkürlich geändert werden ohne Licht zu
vergeuden. Zusätzlich kann in diesem optischen System ein Gitter, z. B.
ein zu belichtendes Zielobjekt, gleichmäßiger ausgeleuchtet werden, da
die Eingangsebene der Stablinsengruppe 500 mit der Position der Keller-
Ausleuchtung zur gleichmäßigen Ausleuchtung der Eingangsebene der
Stablinsengruppe 500 zusammenfällt.
Fig. 36 zeigt eine Ausführungsform eines Projektionsbelichtungsgerätes,
das mit dem Zoomlinsenmechanismus 530 versehen ist, der darin mon
tiert ist. Ein Lichtstrahl, z. B. eine i-Linie, die von einer Quecksilber
dampflampe 24 ausgesandt wird, tritt in ein optisches Faserbündel 1 ein,
tritt von einer Ausgangsebene desselben aus, wird gebrochen durch einen
Zoomlinsenmechanismus 530, um auf die Stablinsengruppe 500 einzufal
len. Der Zoomlinsenmechanismus 530 dient dazu, die Form einer
Sekundärlichtquelle, die in der Nähe der Ausgangsebene der Stablinsen
gruppe 500 gebildet ist, zu modifizieren. Durch Betreiben des Zoom
linsenmechanismus 530 ist es möglich, willkürlich die partielle Kohärenz
σ der Ausleuchtung, die durch das Verhältnis des Durchmessers d eines
Sekundärlichtquellenabbildes 200, das am Ort der Eingangspupille 41
einer Reduktionsprojektionslinse 4 gebildet wird, zu dem Durchmesser D
der Eingangspupille 41 dargestellt wird, festzulegen.
Nebenbei bemerkt, obwohl die vorhergehenden Ausführungsformen gezeigt
haben, daß ein Lichtstrahl, der von einer Quecksilberdampflampe 24 als
Lichtquelle ausgesandt wird, reflektiert wird durch einen elliptischen
Spiegel 25, und eine gewünschte Belichtungslichtwellenlänge, z. B. die von
einer i-Linie, reflektiert wird durch einen chromatischen Spiegel 26 zur
Auswahl eines Wellenbandes, ist die vorliegende Erfindung nicht begrenzt
durch eine derartige Lichtquelle, sondern kann z. B. auch eine Exzimerla
serlichtquelle aufweisen.
Bei den vorhergehenden Ausführungsformen wurde ein Reduktionsbelich
tungsgerät erklärt, bei welchem das Ausleuchtungssystem der vorliegenden
Erfindung angewandt wird, jedoch ist die Anwendung der vorliegenden
Erfindung nicht begrenzt auf diese Art von Gerät. Im speziellen kann
die vorliegende Erfindung weitläufig angewandt werden, z. B. für Belich
tungsgeräte für Großbildschirm-Flüssigkristall-Fernsehanzeigen, Mustertest
geräte, oder eine Vielfalt von Anzeigegeräten, die eine passende Aus
leuchtungsrichtwirkung oder eine passende Lichtstärkenverteilung durch
Änderung einer Sekundärlichtquelle eines Ausleuchtungsstrahles erhalten,
um Belichtung, Test, Anzeige usw. durchzuführen. Auch kann es in
einigen Fällen für Geräte angewandt werden, die kein Abbildungssystem
zur Durchführung von Belichtung (Nahbelichtung), Erfassung, Anzeige
usw. haben.
Wie oben beschrieben erzeugt die vorliegende Erfindung Effekte zur
Ausführungsform einer gewünschten Ausleuchtungsrichtwirkung oder Aus
leuchtungslichtverteilung ohne die Lichtausbeute zu vermindern.
Die vorliegende Erfindung ermöglicht auch die Änderung der Richt
wirkung eines Lichtstrahles ohne Licht zu vergeuden, bei gleichzeitiger
Aufrechterhaltung einer gleichförmigen Beleuchtungsverteilung, wodurch
eine passende Ausleuchtung effizient realisiert werden kann für eine
Vielfalt von Mustern, die von einem Einzelbelichtungsgerät, einem Test
gerät oder einem Anzeigegerät, verarbeitet werden sollen. Dies führt zu
einer breiten Verbesserung der Auflösungsleistung eines derartigen Belich
tungsgerätes, eines Testgerätes oder eines Anzeigegerätes genauso wie zur
Reduktion der Leistung einer Lichtquelle, die in diesen Geräten benutzt
wird und zur Steigerung eines hohen Durchsatzes in dem Belichtungs
gerät und dem Testgerät.
Claims (21)
1. Projektionsbelichtungsgerät mit einer Lichtquelle (24) zum Erzeugen
eines Lichtstrahls zur Belichtung und mit einem optischen Ausleuch
tungssystem, welches aufweist:
einen optischen Faserbündelabschnitt (1) mit einer Vielzahl von gebün delten optischen Fasern, die eine Eingangsstirnfläche (A-A') haben, auf die der Lichtstrahl einfällt,
einen optischen Kleinfaserbündelabschnitt, der eine Vielzahl kleiner optischer Faserbündel (11) aufweist, die aus dem optischen Faserbündel abschnitt (1) aufgezweigt sind und jeweils eine Ausgangsstirnfläche haben,
eine Steuereinrichtung (10) zum Steuern relativer Positionen der Aus gangsstirnflächen der kleinen optischen Faserbündel (11) in einer Aus gangsebene (B-B') mit Separierungsmitteln (12, 12') zur Separierung der kleinen optischen Faserbündel (11) voneinander derart, daß die relativen Positionen der Ausgangsstirnflächen der kleinen optischen Faserbündel (11) zur Veränderung des Querschnitts des Ausleuchtungstrahles ohne Strahlungsverlust einstellbar sind, und
ein Projektionsbelichtungssystem (22, 23) zum Projizieren des Licht strahls durch eine Maske oder ein Gitter (3) auf ein zu belichtendes Zielobjekt (5).
einen optischen Faserbündelabschnitt (1) mit einer Vielzahl von gebün delten optischen Fasern, die eine Eingangsstirnfläche (A-A') haben, auf die der Lichtstrahl einfällt,
einen optischen Kleinfaserbündelabschnitt, der eine Vielzahl kleiner optischer Faserbündel (11) aufweist, die aus dem optischen Faserbündel abschnitt (1) aufgezweigt sind und jeweils eine Ausgangsstirnfläche haben,
eine Steuereinrichtung (10) zum Steuern relativer Positionen der Aus gangsstirnflächen der kleinen optischen Faserbündel (11) in einer Aus gangsebene (B-B') mit Separierungsmitteln (12, 12') zur Separierung der kleinen optischen Faserbündel (11) voneinander derart, daß die relativen Positionen der Ausgangsstirnflächen der kleinen optischen Faserbündel (11) zur Veränderung des Querschnitts des Ausleuchtungstrahles ohne Strahlungsverlust einstellbar sind, und
ein Projektionsbelichtungssystem (22, 23) zum Projizieren des Licht strahls durch eine Maske oder ein Gitter (3) auf ein zu belichtendes Zielobjekt (5).
2. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 1, das weiterhin ein opti
sches Konvergierungssystem (21) zum Konvergieren eines Lichtstrahls,
der von der Belichtungsquelle ausgesandt wird auf die Eingangsseite der
optischen Fasern im optischen Ausleuchtungssystem, aufweist.
3. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 1, das weiterhin einen
Spiegel (17) an der Eingangsseite der optischen Fasern im optischen
Ausleuchtungssystem aufweist.
4. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 3, bei dem der Spiegel (17)
von einem zylindrischen Spiegel gebildet wird.
5. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 1, bei dem das optische
Konvergierungssystem des optischen Ausleuchtungssystems ein optisches
Element (19) hat, um einen ringförmigen Lichtstrahl an der Eingangs
ebene des optischen Faserbündelabschnitts einzugeben.
6. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 1, bei dem die belichtende
Lichtquelle (24) eine Laserlichtquelle aufweist.
7. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 1, bei dem mindestens ein
Teil der Eingangsstirnfläche (A-A') des optischen Faserbündelabschnittes
im optischen Ausleuchtungssystem eine Vielzahl von Segmenten (101a,
b, c, d, e, f) aufweist, bei dem die Einfallswinkel der jeweiligen Seg
mente verschieden voneinander sind bezüglich der Einfallsrichtung eines
Lichtstrahles, wodurch eine gewünschte Richtwirkung der Lichtstrahlen,
die von den Ausgangsstirnflächen der kleinen optischen Faserbündel aus
treten, gewährleistet wird.
8. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 1 oder 6, bei dem optische
Weglängen der optischen Fasern im optischen Ausleuchtungssystem
unterschiedlich gemacht sind, um die Kohärenz eines ausleuchtenden
Lichtstrahles zu reduzieren.
9. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Separierungsmittel (12, 12') erste und zweite Separierungsmittel
(12, 12') aufweisen, die längs einer einzigen Achse verschiebbar sind
und längs dieser Achse voneinander beabstandet sind, und daß die Ab
stände aller Ausgangsstirnflächen der optischen Faserbündel (11) vonein
ander durch Änderung des Abstandes der ersten und zweiten Separie
rungsmittel (12, 12') längs dieser Achse veränderbar sind.
10. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß die Separierungsmittel (12, 12') schräg zur Achse angeordnete
Durchgänge zur Führung jeweils eines kleinen optischen Faserbündels
(11) aufweisen.
11. Projektionsbelichtungsverfahren, das die Schritte aufweist:
Durchführen eines Lichtstrahles durch einen optischen Faserbündelab schnitt (1) mit einer Vielzahl von gebündelten optischen Fasern, die eine Eingangsstirnfläche (A-A') haben,
Verzweigen des Lichtstrahles und Durchlaufen der verzweigten Licht strahlen durch eine Vielzahl verzweigter kleiner optischer Faserbündel (11), die aus dem optischen Faserbündelabschnitt aufgezweigt sind und jeweils eine Ausgangsstirnfläche haben;
Aussenden der Lichtstrahlen von den jeweiligen Ausgangsstirnflächen der Vielzahl kleiner optischer Faserbündel, wobei die relativen Positionen der Ausgangsstirnflächen der kleinen optischen Faserbündel (11) zur Veränderung des Querschnitts des Ausleuchtungstrahles ohne Strahlungs verlust einstellbar sind, und
Führen des Lichtstrahls durch eine Maske oder ein Gitter (3) auf ein zu belichtendes Objekt.
Durchführen eines Lichtstrahles durch einen optischen Faserbündelab schnitt (1) mit einer Vielzahl von gebündelten optischen Fasern, die eine Eingangsstirnfläche (A-A') haben,
Verzweigen des Lichtstrahles und Durchlaufen der verzweigten Licht strahlen durch eine Vielzahl verzweigter kleiner optischer Faserbündel (11), die aus dem optischen Faserbündelabschnitt aufgezweigt sind und jeweils eine Ausgangsstirnfläche haben;
Aussenden der Lichtstrahlen von den jeweiligen Ausgangsstirnflächen der Vielzahl kleiner optischer Faserbündel, wobei die relativen Positionen der Ausgangsstirnflächen der kleinen optischen Faserbündel (11) zur Veränderung des Querschnitts des Ausleuchtungstrahles ohne Strahlungs verlust einstellbar sind, und
Führen des Lichtstrahls durch eine Maske oder ein Gitter (3) auf ein zu belichtendes Objekt.
12. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 1, das weiterhin aufweist:
ein optisches Konvergierungs- und Divergierungssystem (500) zum
Konvergieren bestimmter Winkelkomponenten eines einfallenden Licht
strahles, der aus den optischen Fasereinrichtungen austritt, und zum
Divergieren der konvergierten Komponenten.
13. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 12, bei dem die Ausgangs
ebene (B-B') der optischen Fasereinrichtungen im optischen Ausleuch
tungssystem in einer optisch konjugierten Beziehung mit der Eingangs
ebene des optischen Konvergierungs- und Divergierungssystems steht.
14. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 12, das weiterhin optisch
modifizierende Einrichtungen (510, 520) aufweist zum Modifizieren
eines Lichtstrahles, der durch Brechung oder Reflexion auf die opti
schen Fasereinrichtungen (1) im optischen Ausleuchtungssystem einfällt.
15. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 12, das weiterhin optisch
modifizierende Einrichtungen (510, 520) zum Modifizieren eines Licht
strahles aufweist, der durch Brechung oder Reflexion in das optische
Konvergierungs- und Divergierungssystem im optischen Ausleuchtungs
system einfällt.
16. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 14, bei dem die optischen
Fasereinrichtungen (1) eine derartige numerische Apertur (NA) haben,
daß ein ausleuchtender Lichtstrahl, der eine Neigung aufweist, die durch
die optisch modifizierenden Einrichtungen modifiziert wurde, ausreichend
das optische Konvergierungs- und Divergierungssystem durchläuft.
17. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 15, bei dem das optische
Konvergierungs- und Divergierungssystem eine derartige numerische
Apertur (NA) hat, daß ein ausleuchtender Lichtstrahl, der eine Neigung
aufweist, die durch die optisch modifizierenden Einrichtungen modifiziert
wurde, ausreichend das optische Konvergierungs- und Divergierungs
system durchläuft.
18. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 12, das weiterhin optische
Einrichtungen (516) aufweist zur Realisierung eines gleichförmigen
Lichteinfalls auf das optische Konvergierungs- und Divergierungssystem
(500), wobei die Ausgangsebene der kleinen optischen Faserbündel (11)
sich an der vorderen Fokusposition der optischen Einrichtung (516) und
die Eingangsebene des optischen Konvergierungs- und Divergierungs
systems (500) sich an der hinteren Fokusposition der optischen
Einrichtung (516) befindet.
19. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 18, das weiterhin
modifizierende Einrichtungen (510, 520) aufweist zum Modifizieren des
Durchmessers von Lichtstrahlen, die von den kleinen optischen
Faserbündeln (11) im optischen Ausleuchtungssystem austreten, um den
Lichtstrahl in das optische Konvergierungs- und Divergierungssystem zu
führen.
20. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Anspruch 18, das weiterhin optisch
modifizierende Einrichtungen (510, 520) aufweist zum Modifizieren eines
Lichtstrahles, der in das optische Konvergierungs- und Divergierungs
system im optischen Ausleuchtungssystem durch Brechung oder Reflexion
einfällt.
21. Projektionsbelichtungsgerät gemäß Ansprüchen 12, 13, 14, 16, 18, 19 oder
20, bei dem das optische. Konvergierungs- und Divergierungssystem (500)
durch eine Stablinse gebildet wird.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP01867692A JP3380868B2 (ja) | 1992-02-04 | 1992-02-04 | 投影露光装置 |
JP4184962A JPH0629189A (ja) | 1992-07-13 | 1992-07-13 | 投影式露光装置およびその方法並びに照明光学装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4301716A1 DE4301716A1 (de) | 1993-08-05 |
DE4301716C2 true DE4301716C2 (de) | 1999-08-12 |
Family
ID=26355391
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4301716A Expired - Lifetime DE4301716C2 (de) | 1992-02-04 | 1993-01-22 | Projektionsbelichtungsgerät und -verfahren |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5302999A (de) |
DE (1) | DE4301716C2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19901219B4 (de) * | 1998-01-14 | 2017-10-19 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Optische Anordnung im Beleuchtungsstrahlengang eines Auflichtmikroskops |
Families Citing this family (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5436114A (en) * | 1989-12-06 | 1995-07-25 | Hitachi, Ltd. | Method of optical lithography with super resolution and projection printing apparatus |
US5729331A (en) * | 1993-06-30 | 1998-03-17 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, optical projection apparatus and a method for adjusting the optical projection apparatus |
US5677757A (en) * | 1994-03-29 | 1997-10-14 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus |
US6304317B1 (en) | 1993-07-15 | 2001-10-16 | Nikon Corporation | Projection apparatus and method |
US5406351A (en) * | 1993-12-30 | 1995-04-11 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Photolithography system with improved illumination |
US5754719A (en) * | 1996-11-22 | 1998-05-19 | Cogent Light Technologies, Inc. | Method for coupling light from single fiberoptic to a multi-fiber bundle with enhanced field uniformity and better coupling efficiency |
EP0889335B1 (de) * | 1997-06-30 | 2009-06-03 | Hamamatsu Photonics K. K. | Faserbündel und Faserlasergerät unter Verwendung des Faserbündels |
JP3363787B2 (ja) * | 1998-05-02 | 2003-01-08 | キヤノン株式会社 | 露光方法および露光装置 |
US6115108A (en) * | 1998-12-04 | 2000-09-05 | Advanced Micro Devices, Inc. | Illumination modification scheme synthesis using lens characterization data |
EP1043899A1 (de) * | 1999-04-06 | 2000-10-11 | Raytheon Marine GmbH | Licht-Querschnittswandler |
DE19922941A1 (de) * | 1999-05-14 | 2000-11-30 | Epigenomics Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur photolithographischen Belichtung von biologischen Stoffen |
TW498184B (en) * | 1999-06-04 | 2002-08-11 | Asm Lithography Bv | Method of manufacturing a device using a lithographic projection apparatus, and device manufactured in accordance with said method |
US20020075490A1 (en) * | 2000-12-20 | 2002-06-20 | Affymetrix, Inc. | System and method for addressable light-directed microarray printing |
DE10125467C2 (de) * | 2001-05-25 | 2003-04-10 | Arccure Technologies Gmbh | Bestrahlungsvorrichtung mit einer Anordnung von optischen Wellenleitern |
US6850673B2 (en) | 2002-03-07 | 2005-02-01 | Johnston, Ii Richard Fendall | Light source for fiber optics |
EP1567894A2 (de) * | 2002-12-02 | 2005-08-31 | 3M Innovative Properties Company | Beleuchtungssystem das eine mehrzahl von lichtquellen benutzt |
US7525659B2 (en) * | 2003-01-15 | 2009-04-28 | Negevtech Ltd. | System for detection of water defects |
US7486861B2 (en) * | 2003-01-15 | 2009-02-03 | Negevtech Ltd. | Fiber optical illumination system |
US7130020B2 (en) * | 2003-04-30 | 2006-10-31 | Whitney Theodore R | Roll printer with decomposed raster scan and X-Y distortion correction |
US20050116635A1 (en) * | 2003-12-02 | 2005-06-02 | Walson James E. | Multiple LED source and method for assembling same |
MXPA06006280A (es) * | 2003-12-02 | 2006-08-25 | 3M Innovative Properties Co | Aparato y metodo de modificacion de emisor de luz. |
US7329887B2 (en) | 2003-12-02 | 2008-02-12 | 3M Innovative Properties Company | Solid state light device |
US7250611B2 (en) * | 2003-12-02 | 2007-07-31 | 3M Innovative Properties Company | LED curing apparatus and method |
US7403680B2 (en) * | 2003-12-02 | 2008-07-22 | 3M Innovative Properties Company | Reflective light coupler |
US7456805B2 (en) * | 2003-12-18 | 2008-11-25 | 3M Innovative Properties Company | Display including a solid state light device and method using same |
US7813541B2 (en) | 2005-02-28 | 2010-10-12 | Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. | Method and apparatus for detecting defects in wafers |
US7804993B2 (en) | 2005-02-28 | 2010-09-28 | Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. | Method and apparatus for detecting defects in wafers including alignment of the wafer images so as to induce the same smear in all images |
DE102006008075A1 (de) * | 2005-04-19 | 2006-10-26 | Kleo Halbleitertechnik Gmbh & Co Kg | Belichtungsanlage |
DE102006008080A1 (de) | 2006-02-22 | 2007-08-30 | Kleo Maschinenbau Ag | Belichtungsanlage |
US8031931B2 (en) * | 2006-04-24 | 2011-10-04 | Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. | Printed fourier filtering in optical inspection tools |
US7659973B2 (en) * | 2006-05-26 | 2010-02-09 | Applied Materials Southeast Asia, Pte Ltd. | Wafer inspection using short-pulsed continuous broadband illumination |
US8422030B2 (en) * | 2008-03-05 | 2013-04-16 | General Electric Company | Fringe projection system with intensity modulating by columns of a plurality of grating elements |
US7812968B2 (en) * | 2008-03-05 | 2010-10-12 | Ge Inspection Technologies, Lp | Fringe projection system and method for a probe using a coherent fiber bundle |
DE102011004375B3 (de) * | 2011-02-18 | 2012-05-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Führung von elektromagnetischer Strahlung in eine Projektionsbelichtungsanlage |
US9875574B2 (en) | 2013-12-17 | 2018-01-23 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying the deepest point on the surface of an anomaly |
US9984474B2 (en) | 2011-03-04 | 2018-05-29 | General Electric Company | Method and device for measuring features on or near an object |
US10157495B2 (en) | 2011-03-04 | 2018-12-18 | General Electric Company | Method and device for displaying a two-dimensional image of a viewed object simultaneously with an image depicting the three-dimensional geometry of the viewed object |
US10586341B2 (en) | 2011-03-04 | 2020-03-10 | General Electric Company | Method and device for measuring features on or near an object |
US10019812B2 (en) | 2011-03-04 | 2018-07-10 | General Electric Company | Graphic overlay for measuring dimensions of features using a video inspection device |
NL2008936A (en) | 2011-07-28 | 2013-01-29 | Asml Netherlands Bv | Illumination source for use in inspection methods and/or lithography inspection and lithographic apparatus and inspection method. |
KR101406434B1 (ko) * | 2013-01-18 | 2014-06-13 | 광주과학기술원 | 번들형 광섬유 프로브 |
US9818039B2 (en) | 2013-12-17 | 2017-11-14 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying a point of interest in a depth measurement on a viewed object |
US9842430B2 (en) | 2013-12-17 | 2017-12-12 | General Electric Company | Method and device for automatically identifying a point of interest on a viewed object |
US20170055840A1 (en) * | 2015-09-02 | 2017-03-02 | Olympus Corporation | Measurement probe and optical measurement system |
US10288803B2 (en) * | 2016-01-20 | 2019-05-14 | Schott Corporation, Inc. | Foveal image inverter |
CN112710611A (zh) * | 2021-01-09 | 2021-04-27 | 之江实验室 | 一种环形光纤束照明装置 |
DE102021104700A1 (de) * | 2021-02-26 | 2022-09-01 | Schott Ag | Beleuchtungseinrichtung und optisches Element für eine Beleuchtungseinrichtung |
US20250058350A1 (en) | 2023-08-18 | 2025-02-20 | GM Global Technology Operations LLC | Ultraviolet lighting systems with optical cables for curing paint |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3323852A1 (de) * | 1982-07-02 | 1984-01-05 | Canon K.K., Tokyo | Beleuchtungsvorrichtung |
DE2622064C2 (de) * | 1975-05-20 | 1985-09-26 | Sony Corp., Tokio/Tokyo | Verfahren zum Belichten einer großen Anzahl streifenartiger Bereiche auf der Oberfläche eines lichtempfindlichen Materials durch eine Originalphotomaske |
JPS60247643A (ja) * | 1984-05-24 | 1985-12-07 | Canon Inc | 光学装置 |
JPS61251858A (ja) * | 1985-05-01 | 1986-11-08 | Hitachi Ltd | 照明光学系 |
DE4009089A1 (de) * | 1989-03-27 | 1990-10-04 | Gen Electric | Mehrfasernhalter fuer ausgangskuppler und verfahren zu dessen anwendung |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2982175A (en) * | 1957-12-30 | 1961-05-02 | Pan American Petroleum Corp | Trace-shifting photographic recorder |
US3560085A (en) * | 1968-08-09 | 1971-02-02 | Xerox Corp | Apparatus for graphic distortion |
US4118123A (en) * | 1976-06-23 | 1978-10-03 | Harry Arthur Hele Spence-Bate | Editors for microfiche cameras |
US5091744A (en) * | 1984-02-13 | 1992-02-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination optical system |
JPH0682598B2 (ja) * | 1984-10-11 | 1994-10-19 | 日本電信電話株式会社 | 投影露光装置 |
US5168021A (en) * | 1989-09-21 | 1992-12-01 | Ushio Denki | Method for exposing predetermined area of peripheral part of wafer |
JP2586662B2 (ja) * | 1989-12-07 | 1997-03-05 | 松下電器産業株式会社 | 投影露光装置 |
JPH03225815A (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-04 | Canon Inc | 露光装置 |
US5144362A (en) * | 1990-11-14 | 1992-09-01 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Projection aligner |
US5075716A (en) * | 1990-11-29 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Apparatus and method for precisely exposing radiation sensitive materials |
-
1993
- 1993-01-22 DE DE4301716A patent/DE4301716C2/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-01-27 US US08/009,928 patent/US5302999A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2622064C2 (de) * | 1975-05-20 | 1985-09-26 | Sony Corp., Tokio/Tokyo | Verfahren zum Belichten einer großen Anzahl streifenartiger Bereiche auf der Oberfläche eines lichtempfindlichen Materials durch eine Originalphotomaske |
DE3323852A1 (de) * | 1982-07-02 | 1984-01-05 | Canon K.K., Tokyo | Beleuchtungsvorrichtung |
JPS60247643A (ja) * | 1984-05-24 | 1985-12-07 | Canon Inc | 光学装置 |
JPS61251858A (ja) * | 1985-05-01 | 1986-11-08 | Hitachi Ltd | 照明光学系 |
DE4009089A1 (de) * | 1989-03-27 | 1990-10-04 | Gen Electric | Mehrfasernhalter fuer ausgangskuppler und verfahren zu dessen anwendung |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
"Utilization of Optical Fibres in Remote Inelastic Light Scattering Probes", R. Benner u. R. Chang, in "Fiber Optics", B. Bendow, Plenum Press, New York 1979, S. 625-640 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19901219B4 (de) * | 1998-01-14 | 2017-10-19 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Optische Anordnung im Beleuchtungsstrahlengang eines Auflichtmikroskops |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4301716A1 (de) | 1993-08-05 |
US5302999A (en) | 1994-04-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4301716C2 (de) | Projektionsbelichtungsgerät und -verfahren | |
DE69233508T2 (de) | Bilderzeugungsgerät und -Verfahren zur Herstellung von Mikrovorrichtungen | |
DE69612554T2 (de) | Beugungsgittersystem mit verdoppelter lichtsammlung | |
DE69326630T2 (de) | Beleuchtungsvorrichtung für einen Projektionsbelichtungsapparat | |
DE69529866T2 (de) | Apparat zur gleichmässigen Beleuchtung eines Lichtventils | |
DE60030024T2 (de) | Lithographisches Verfahren zur Herstellung von Bauelementen mit Dunkelfeld-Beleuchtung und Gerät dafür | |
EP2064597B1 (de) | Beleuchtungssystem mit einem detektor zur aufnahme einer lichtintensität | |
DE69817663T2 (de) | Optischer Belichtungsapparat und optisches Reinigungsverfahren | |
DE102006006797A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Strukturbelichtung | |
EP1845417B1 (de) | Beleuchtungssystem mit Zoomobjetiv | |
DE3888813T2 (de) | Spektralphotometer mit Verwendung eines konkaven holographischen Beugungsgitters. | |
WO1997025722A2 (de) | Kondensor-monochromator-anordnung für röntgenstrahlung | |
DE10040898A1 (de) | Beleuchtungssystem für die Mikrolithographie | |
DE102012213515A1 (de) | Verfahren zum Betreiben einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage | |
DE102007023411A1 (de) | Optisches Element, Beleuchtungsoptik für die Mikrolithographie mit mindestens einem derartigen optischen Element sowie Beleuchtungssystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik | |
EP0815476B1 (de) | Optisches system mit grossen messbereichen | |
DE102006038473A1 (de) | Beleuchtungssystem und Belichtungsvorrichtung | |
DE10237325A1 (de) | Gerät und Verfahren zur Belichtung eines Objektes mit Licht | |
DE19856575A1 (de) | Projektions-Mikrolithographiegerät | |
DE10322393A1 (de) | Beleuchtungssystem für eine Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage | |
DE102018216392B4 (de) | Lichtquelleneinheit für ein Operationsmikroskop | |
DE69703099T2 (de) | Vorrichtung zur lichtverteilung auf einem bildträger | |
WO2017097601A1 (de) | Beleuchtungssystem einer mikrolithographischen projektionsanlage und verfahren zum betreiben eines solchen systems | |
DE102007024961A1 (de) | Vorrichtung zum Ändern des Abstandes zwischen Lichtstrahlachsen und Substratbelichtungsvorrichtung | |
DE102020108117B4 (de) | Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R071 | Expiry of right | ||
R071 | Expiry of right |