DE4238765A1 - Verfahren zur stromlosen Verzinnung von Leiterplatten und deren Verwendung - Google Patents
Verfahren zur stromlosen Verzinnung von Leiterplatten und deren VerwendungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur stromlosen Verzin
nung von Leiterplatten, bei dem die Leiterplatten in ein Ver
zinnungsbad eingetaucht werden, das Zinnsalz, Komplexbildner,
Reduktionsmittel, organische Disulfonsäure und gegebenenfalls
Tensid enthält und einen pH-Wert von weniger als 1 aufweist.
Ferner betrifft die Erfindung die Verwendung der so hergestell
ten Leiterplatten.
Leiterplatten bestehen aus einem dielektrischen Träger, auf
dem sich metallische Leiterbahnen befinden, bei denen es sich
üblicherweise um sogenannte gedruckte Schaltungen in der Regel
aus Kupfer oder Kupferlegierungen handelt. Die Leiterbahnen
weisen so geringe Schichtdicken auf, daß die natürliche Oxida
tion des Kupfers an der Luft die elektrischen und sonstigen
Eigenschaften der Kupferstrukturen nachteilig beeinflußt. Außer
dem lassen sich Lötverbindungen auf oxidiertem Kupfer nur schwer
oder mit schlechter Qualität herstellen. Es ist deshalb erfor
derlich, die Leiterbahnen mit einem dünnen Überzug aus einem
weniger oxidierenden Material, das gleichzeitig eine lötbare
Oberfläche schafft, als Oxidationsschutz zu versehen. Dies ge
schieht heutzutage überwiegend durch Heißluftverzinnung. Dabei
wird jedoch ein unregelmäßiges Schichtdickenprofil mit Wölbungen
des auf getragenen Zinns erhalten, was bei der Montage von SMD-
Bauelementen (SMD = Surface Mounted Devices) zu Fehlpositionie
rungen führen kann.
Alternativ kann die als Oxidationsschutz dienende Beschich
tung der Leiterbahnen durch galvanische Prozesse aufgebracht
werden. Dazu werden die Leiterplatten in ein Metallisierungsbad
eingetaucht, das ein gelöstes Salz desjenigen Metalls (z. B.
Zinn) enthält, das auf den Leiterbahnen abgeschieden werden
soll. Übliche Sudverfahren, die lediglich auf dem Kationen Aus
tausch des metallischen Kupfers mit den Zinnsalzen der Sudlösung
basieren, ergeben jedoch nur Schichtdicken im Bereich von weni
ger 1 µm. Größere Zinnschichtdicken von mehr als 1 µm können nur
durch Disproportionierungsreaktionen in stark alkalischer Lösung
oder durch Zusatz von Reduktionsmitteln erzielt werden. Wegen
der bei Leiterplatten notwendigen pH-Limitierung kommen aller
dings nur Verfahren mit sauren oder schwach alkalischen Lösungen
in Betracht.
Die im Stand der Technik für diesen Zweck vorgeschlagenen
Verzinnungsbäder enthalten regelmäßig Zinnsalz, Komplexbildner,
Reduktionsmittel und in den meisten Fällen weitere Zusätze, die
die Abscheidung des Zinns und die Beschaffenheit der Zinnbe
schichtung positiv beeinflussen sollen (siehe z. B. US PS 4 657
632, DE PS 33 22 156, DE 05 26 16 409 und DE 05 38 00 918).
Ferner ist aus der GB 2 072 709 A ein Verzinnungsverfahren
für die stromlose Erzeugung von Ätzmasken auf Leiterplatten
bekannt, bei dem ein Bad zur Anwendung kommt, das als zusätzli
chen Bestandteil eine organische Sulfonsäure oder ein Salz der
selben enthält. Dieser Zusatz dient dazu, das Anätzen des zu
verzinnenden Kupfersubstrats zu inhibieren, da das Anätzen des
Kupfersubstrats durch das Verzinnungsbad zu einer zusätzlichen
Auflösung von Kupfer und dadurch - insbesondere bei fortge
schrittener Abscheidung von Zinn - zu einer Beeinträchtigung der
Eigenschaften der Zinnbeschichtung führen soll. Beschrieben wird
in dieser Druckschrift der Schutz von Leiterbahnen von gedruck
ten Schaltungen während der Entfernung des Kupfers von denjeni
gen Teilen des Trägers, die nicht leitend sein und dementspre
chend keine Leiterbahnen aufweisen sollen. Ganz abgesehen davon,
daß in dieser Druckschrift im wesentlichen daraufabgestellt
wird, eine größtmögliche Ausnutzung der Verzinnungslösung zu
erreichen, ist es bevorzugt, die erhaltene Zinnbeschichtung
durch Wärmeeinwirkung aufzuschmelzen (Reflow-Behandlung), wo
durch das Zinn abfließt und sich unter Freilegung des Kupfersub
strats an bestimmten Stellen sammelt. Es ist offensichtlich, daß
auf diese Art hergestellte Leiterplatten nicht für die SMD-Tech
nik geeignet sind und daß die Zinnbeschichtung nur als Ätzmaske
aber nicht als Oxidationsschutz für die fertigen Leiterplatten
dient. Dementsprechend werden in dieser Druckschrift die Proble
me der Verlötbarkeit und der Aufbringung von SMD-Bauteilen nicht
angesprochen.
Darüber hinaus wurde bei Nacharbeitung der GB 2 072 709 A
gefunden, daß die beschriebenen Verzinnungsbäder bei der Endbe
handlung von Leiterplatten ungeeignet sind, daß heißt man erhält
beispielsweise nach 20-minütiger Einwirkungszeit eines frisch
hergestellten Bades auf einen Leiterplattenstreifen gar keine
Zinnabscheidung oder nur schmutzigbraune, sehr dünne Zinnschich
ten. Außerdem scheint das Trägermaterial von den Verzinnungs
lösungen gemäß GB 2 072 709 A angeätzt zu werden.
Der Erfindung lag nunmehr die Aufgabe zugrunde, ein Verfah
ren zur Verzinnung von Leiterplatten zwecks Oxidationsschutzes
der Lötflächen zu schaffen, das für die Endbehandlung von Lei
terplatten geeignet ist und eine von Weichlot gut benetzbare
Zinnschicht mit einer gleichmäßigen Schichtdickenverteilung
(plane Oberfläche) ergibt, welche ein mehrmaliges Löten zuläßt
und mindestens ein halbes Jahr lagerbeständig ist.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird ein Verfahren der eingangs
genannten Art vorgeschlagen, das dadurch gekennzeichnet ist, daß
man das Verzinnungsbad vor der Verzinnung der Leiterplatten
konditioniert, indem man
- a) das Bad zunächst 12 bis 15 Stunden auf 55 bis 70°C er wärmt und dann dem Bad Kupfersalz zusetzt, oder
- b) das Bad über mindestens 72 Stunden mit Leiterplatten bei einer Temperatur von etwa 50 bis 70°C einarbeitet.
Gegenstand der Erfindung ist ferner die Verwendung der nach
dem erfindungsgemäßen Verfahren hergestellten Leiterplatten als
SMD-Platinen.
Das erfindungsgemäße Verfahren führt zu Leiterplatten, die
den heutigen technischen Anforderungen an Leiterplatten in vol
lem Umfang genügen und insbesondere eine Zinnbeschichtung auf
weisen, die beim späteren Verlöten von Weichlot gut benetzbar
ist und dadurch einen guten Lotdurchstieg ergibt, mehrfaches
Löten zuläßt, mindestens ein halbes Jahr lagerbeständig und
damit gut lötbar ist, aufgrund der silbrigweißen Farbe gut er
kennbar ist und schließlich eine plane Oberfläche aufweist, die
die Positionierung von SMD-Bauteilen und deren Anbindung in
idealer Weise gestattet. Dementsprechend werden die erfindungs
gemäß hergestellten Leiterplatten vorzugsweise als SMD-Platinen
eingesetzt.
Geeignete Zinnsalze für das beim erfindungsgemäßen Verfahren
verwendete Verzinnungsbad sind beispielsweise Zinn-(II)-chlorid,
Zinn-(II)-sulfat oder Zinn-(II)-sulfonat, wobei Zinn-(II)-sulfat
bevorzugt ist.
Als Komplexbildner können beispielsweise Harnstoff, Thio
harnstoff, Alkylthioharnstoff, Tartrat, Citrat, EDTA, NTA und
TriIon B verwendet werden. Erfindungsgemäß bevorzugt ist Thio
harnstoff.
Als Reduktionsmittel können u. a. Titan(III)-chlorid, Hydra
zin, Hypophosphit, insbesondere Natriumhypophosphit, Natriumbo
ranat sowie Titan(III)-sulfonat verwendet werden. Bevorzugt ist
Hypophosphit.
Als organische Disulfonsäuren werden vorzugsweise aromati
sche Disulfonsäuren verwendet. Geeignet sind beispielsweise 1,3-
Benzoldisulfonsäure, 1,2-Dihydroxybenzol-2,4-disulfonsäure,
Toluol-2,4-disulfonsäure, Benzaldehyd-2,4-disulfonsäure, Amin
obenzol-3,5-disulfonsäure, 2-Aminophenol-4,6-disulfonsäure, 1-
Amino-3-methoxybenzol-4,6-disulfonsäure, 4-Amino-6-chlorbenzol-
1,3-disulfonsäure, Naphthalin-1,5-disulfonsäure, Naphthalin-1,6-
disulfonsäure, Naphthalin-2,6-disulfonsäure und Naphthalin-2,7-
disulfonsäure. Sehr gute Ergebnisse sind bisher mit 1,3-Benzol
disulfonsäure erzielt worden.
Die Konzentration der Badbestandteile richtet sich im we
sentlichen nach den an das Bad zu stellenden Anforderungen hin
sichtlich Temperaturbedingungen, Durchsatz und angestrebte Ver
zinnungsgeschwindigkeit. So erhöht sich beispielsweise die Be
schichtungsgeschwindigkeit mit zunehmender Komplexbildnerkonzen
tration (z. B. Thioharnstoff oder Mischungen von Harnstoff und
Thioharnstoff). Bei hohen Temperaturen und verhältnismäßig in
tensiver Durchmischung des Verzinnungsbades muß die Reduktions
mittelkonzentration höher sein als bei niedrigeren Temperaturen
und geringer Durchmischung des Verzinnungsbades. Da die organi
schen Disulfonsäuren beziehungsweise deren Salze (insbesondere
Natriumsalze) verhältnismäßig teuer sind, werden sie in mög
lichst geringen Mengen zugesetzt, daß heißt die zugesetzte Menge
muß natürlich noch ausreichend sein, um die durch den Zusatz der
organischen Disulfonsäure erzielbaren Effekte, insbesondere die
gute Benetzbarkeit der Zinnbeschichtung durch Weichlot sicherzu
stellen. Unabhängig von all diesen Gesichtspunkten sind die
Konzentrationen der Badbestandteile nach oben hin durch die
maximale Löslichkeit dieser Bestandteile begrenzt. Wird die
Löslichkeitsgrenze überschritten, kommt es zu Ausfällungen, was
auf die Wirksamkeit des Verzinnungsbades allerdings keine oder
nur geringe Auswirkungen hat. Ausfällungen sind aber aus anderen
Gründen unerwünscht, da sie beispielsweise aufgrund der Durch
mischung des Verzinnungsbades aufgewirbelt und sich auf den Lei
terplatten absetzen können, was wiederum zu Störungen bei der
Ausbildung der Zinnbeschichtung führen kann.
Der pH-Wert des Verzinnungsbades soll weniger als 1 betra
gen. Die Einstellung des pH-Wertes erfolgt mit Mineralsäure,
vorzugsweise Schwefelsäure.
Wie aus dem Stand der Technik bekannt, kann es darüber hin
aus vorteilhaft sein, eine geringe Menge Tensid (weniger als
1‰) zuzusetzen. Geeignet sind solche Tenside, die unter den
Badbedingungen nicht hydrolysierbar sind.
Entscheidend für die Wirksamkeit des Verzinnungsbades ist
die erfindungsgemäße Konditionierung. Gleich nach dem Ansetzen
ist das Bad nämlich für Beschichtungszwecke nicht verwendbar.
Wie bereits oben erwähnt, werden beispielsweise nach 20-minüti
ger Einwirkungszeit auf einen Leiterplattenstreifen schmutzig
braune, sehr dünne Schichten erhalten. Dementsprechend ist es
erforderlich, daß das Bad zunächst über 12 bis 15 Stunden auf 55
bis 70°C erwärmt wird (thermische Konditionierung). Anschließend
wird dem Bad Kupfersalz zugesetzt. Bezogen auf das Bad beträgt
die Menge des in einer oder mehreren Portionen zugesetzten Kup
fersalzes etwa 0,05 bis 1 Gew.%, z. B. 0,1 Gew.%.
Alternativ kann das Verzinnungsbad dadurch konditioniert
werden, daß man es über mindestens 72 Stunden mit Leiterplatten
bei einer Temperatur von etwa 50 bis 70°C und insbesondere 65°C
einarbeitet.
Wann das Verzinnungsbad arbeitsbereit ist, kann durch zwi
schenzeitlich gefahrene Proben leicht festgestellt werden. Die
mit dem arbeitsbereiten Verzinnungsbad durchgeführte Verzinnung
von Leiterplatten erfolgt bei den üblichen Badtemperaturen,
insbesondere bei 50 bis 70°C. Vor dem Eintauchen in das Verzin
nungsbad ist es empfehlenswert, daß die Leiterplatten in übli
cher Weise vorgereinigt werden, was meist mit einem sauren Rei
nigungsmittel plus Tensid, anschließendes Spülen, kurzes Anätzen
und erneutes Spülen geschieht. Die Platten werden während der
Verzinnung im Bad bewegt. Zusätzlich kann das Bad umgewälzt
werden. Bei den üblichen Konzentrationen der Badbestandteile
(siehe Beispiel) wird innerhalb von 20 Minuten eine Zinnbe
schichtung mit einer Schichtdicke von 1 bis 2 µm erzeugt.
Die Badstabilität des erfindungsgemäß verwendeten Verzin
nungsbades beträgt mehr als 3 Monate, so daß eine kontinuierli
che Verfahrensführung über längere Zeiträume ohne Schwierigkei
ten möglich ist.
Der Wirkungsmechanismus der Konditionierung des Verzinnungs
bades ist zur Zeit noch ungeklärt. Wichtig ist offensichtlich,
daß Kupfer(II)-Ionen zugeführt werden. Diese lösen anscheinend
im Verzinnungsbad Reaktionen aus, die zu einer Badkonstitution
führen, die die hervorragenden Verzinnungsergebnisse nach dem
erfindungsgemäßen Verfahren ermöglichen.
Überraschend ist auch, daß gerade der Zusatz von organischen
und insbesondere aromatischen Disulfonsäuren zu den hervorragen
den Eigenschaften der erhaltenen Leiterplatten beiträgt. Ver
suche mit Verzinnungsbädern auf Basis von Zinn(II)-Salzen in
mineralsaurer Lösung mit Hypophosphit als Reduktionsmittel und
Thioharnstoff als Komplexbildner, wobei andere Zusätze in Form
von organischen Säuren, mehrwertigen Alkoholen oder Quellmitteln
verwendet wurden, führten nämlich im Vergleich zum Standardver
fahren ohne Zusätze zu einer Verschlechterung der Benetzbarkeit
der erzeugten Zinnbeschichtung.
Daß gerade organische Disulfonsäuren die Benetzbarkeit der
Zinnbeschichtung so günstig beeinflussen, war aufgrund der An
gaben im Stand der Technik nicht vorhersehbar. Zum einen wird in
der GB 2 072 709 A auf diese Eigenschaft der Zinnbeschichtung
nicht eingegangen und zum anderen werden in dieser Druckschrift
überhaupt nur zwei Disulfonsäuren in den Beispielen 39 und 40
beiläufig erwähnt. Diese ergeben dort jedoch schlechtere Ergeb
nisse als die gemäß GB 2 072 709 A bevorzugt verwendeten Mono
sulfonsäuren. Demgegenüber wurde erfindungsgemäß gefunden, daß
die in GB 2 072 709 A bevorzugten Monosulfonsäuren für die er
findungsgemäßen Zwecke nicht geeignet sind. Während Methandis
ulfonsäure (Beispiel 38) der GB 2 072 709 A deutlich schlechtere
Ergebnisse als die erfindungsgemäß bevorzugte 1,3-Benzoldisul
fonsäure ergab, erwiesen sich die anderen in GB 2 072 709 A
ausdrücklich erwähnten Monosulfonsäuren als unbrauchbar.
Die Zugabe der Disulfonsäuren führt offensichtlich zu einer
Zunahme der Feinkristallinität und wohl auch der Dichte des
Zinnniederschlages. Dadurch ist die Zinnbeschichtung so dicht
und nahezu porenfrei, daß der gewünschte langfristige Oxida
tionsschutz der Leiterbahnen erzielt wird. Außerdem sind die
nach dem erfindungsgemäßen Verfahren erhaltenen Schichtdicken so
groß, daß eine ausreichende Zinnmenge an der Oberfläche der
Leiterbahnen vorgehalten und das Zinn nicht durch Diffusion in
das Kupfer total verbraucht wird.
Es wurde ein Verzinnungsbad aus 30 ml H2SO4 (96%ig), 15 g
SnSO4, 45 g Thioharnstoff, 15 g Natriumhypophosphit, 3 g Natrium
salz der 1,3-Benzoldisulfonsäure und 720 ml Wasser hergestellt.
In das Bad wurden bei einer Temperatur von 70°C Leiterplat
tenabschnitte mit Lochreihen und SMD-Pads eingetaucht und im Bad
bewegt. Die Leiterplattenabschnitte besaßen Abmessungen von
75 × 25 mm mit einem Lochraster aus vier Reihen von je 22 durch
kontaktierten Bohrungen von 1 mm Durchmesser. Die Bohrungen
zweier benachbarter Lochreihen waren dabei jeweils durch ein
SMD-Pad mit Abmessungen von 1,5 × 2 mm verbunden (Gesamtzahl 44
Pads).
Abweichungen von der Gleichmäßigkeit der abgeschiedenen
Zinnschichten und Veränderungen während der Alterungsprozedur
konnten so nach dem Löten als mangelhafter Lotdurchstieg in den
Bohrungen quantifiziert werden.
Die Leiterplatten wurden entsprechend der Siemens-Norm Nr.
SN 57030, Teil 14, Stand 04/1988 (gedruckte Schaltungen, Liefer
bedingungen, Lötbarkeit, Absatz 2.2.3 Leiterplatten mit heißver
zinnter oder umgeschmolzener SnPb-Oberfläche) zur Simulation
einer Lagerzeit von 24 Monaten acht Stunden bei einer Temperatur
von 155°C gealtert.
Die Lötungen der frischen und gealterten Proben erfolgten
auf einer Wellenlötmaschine mit 2% Fluxgehalt bei 240°C und
einer Transportgeschwindigkeit von 0,9 m/min.
Auch nach der 8-stündigen Alterungsbehandlung zeigten sämt
liche Lochreihenmuster noch einen guten Lotdurchstieg in den
Bohrungen bei hinreichender Benetzbarkeit der Pads.
Es wurde ein Verzinnungsbad mit den gleichen Bestandteilen
wie im obigen Beispiel mit Ausnahme der Disulfonsäure herge
stellt. Die mit diesem Bad durchgeführten Versuche ergaben Lei
terplatten mit einem guten Erscheinungsbild, die aber nur einmal
lötbar waren und die simulierte Auslagerungsprozedur nicht über
standen.
Claims (12)
1. Verfahren zur stromlosen Verzinnung von Leiterplatten, bei
dem die Leiterplatten in ein Verzinnungsbad eingetaucht
werden, das Zinnsalz, Komplexbildner, Reduktionsmittel,
organische Disulfonsäure und gegebenenfalls Tensid enthält
und einen pH-Wert von weniger als 1 aufweist, dadurch ge
kennzeichnet, daß man das Verzinnungsbad vor der Verzinnung
der Leiterplatten konditioniert, indem man
- a) das Bad zunächst 12 bis 15 Stunden auf 55 bis 70°C er wärmt und dann dem Bad Kupfersalz zusetzt, oder
- b) das Bad über mindestens 72 Stunden mit Leiterplatten bei einer Temperatur von etwa 50 bis 70°C einarbeitet.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß man
die Konditionierung über einen Zeitraum von 1 bis 3 Tagen
durchführt.
3. Verfahren nach Ansprüchen 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß man in der Konditionierungsstufe Kupfersalz in einer
Menge von etwa 0,05-1 Gew.% bezogen auf das Bad zusetzt.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß man als Kupfersalz Kupfersulfat verwendet.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekenn
zeichnet, daß man als Zinnsalz Zinn(II)-sulfat verwendet.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß man als Komplexbildner Thioharnstoff verwen
det.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß man als Reduktionsmittel Hypophosphit verwen
det.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß man als organische Disulfonsäure 1,3-Benzol
disulfonsäure oder ein Salz derselben verwendet.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß man den pH-Wert durch Zugabe von Schwefelsäure
einstellt.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Bad mit einer Verzinnungsgeschwindigkeit
von mindestens 0,1 am/min. fährt.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekenn
zeichnet, daß man die Verzinnung bis zu einer Schichtdicke
von 1 bis 2,5 µm durchführt.
12. Verwendung der nach dem Verfahren gemäß einem der Ansprüche
1 bis 11 hergestellten Leiterplatten als SMD-Platinen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4238765A DE4238765A1 (de) | 1992-11-10 | 1992-11-10 | Verfahren zur stromlosen Verzinnung von Leiterplatten und deren Verwendung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE4238765A DE4238765A1 (de) | 1992-11-10 | 1992-11-10 | Verfahren zur stromlosen Verzinnung von Leiterplatten und deren Verwendung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4238765A1 true DE4238765A1 (de) | 1994-05-11 |
Family
ID=6473095
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4238765A Ceased DE4238765A1 (de) | 1992-11-10 | 1992-11-10 | Verfahren zur stromlosen Verzinnung von Leiterplatten und deren Verwendung |
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