DE4230290A1 - Vorrichtung zum Erzeugen eines Plasmas mittels Kathodenzerstäubung und Mikrowelleneinstrahlung - Google Patents
Vorrichtung zum Erzeugen eines Plasmas mittels Kathodenzerstäubung und MikrowelleneinstrahlungInfo
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Description
Auf zahlreichen Gebieten der Technik ist es erforderlich, dünne Schichten auf Substrate
aufzubringen. Beispielsweise werden Glasscheiben beschichtet, um ihnen zu besonderen
Eigenschaften zu verhelfen, oder es werden Uhrengehäuse aus einem weniger edlen Mate
rial mit einer aus edlem Material bestehenden Schicht überzogen.
Für das Aufbringen dünner Schichten auf Substrate sind bereits zahlreiche Verfahren vor
geschlagen worden, von denen lediglich die Galvanotechnik und das Beschichten aus
einem Plasma heraus erwähnt seien. Das Beschichten aus dem Plasma hat in den letzten
Jahren immer mehr an Bedeutung gewonnen, weil es eine Vielzahl von Materialien als Be
schichtungsmaterial zuläßt.
Um ein für die Beschichtung geeignetes Plasma herzustellen, sind ebenfalls verschiedene
Verfahren vorgeschlagen worden. Von diesen Verfahren ist das Kathodenzerstäubungsver
fahren, das auch Sputtern genannt wird, wegen seiner hohen Beschichtungsraten von gro
ßem Interesse. Die Beschichtungsraten lassen sich mit dem Sputtern noch erhöhen, wenn
in den Raum vor der zerstäubten Kathode eine Mikrowelle eingestrahlt wird.
Es sind bereits mehrere Vorrichtungen für ein mikrowellenunterstütztes Sputtern bekannt
(US-A-4 610 770, US-A-4 721 553, DE-A-39 20 834). Hierbei werden die Mikrowellen
entweder parallel oder senkrecht oder in einem bestimmten Winkel zur Substratoberfläche
in den Plasmabereich eingeführt. Durch das Zusammenwirken des Magnetfelds des
Magnetrons mit den Mikrowellen kann eine Elektronenzyklotronresonanz (ECR) herge
stellt werden, welche die Teilchen des Plasmas verstärkt ionisiert.
Nachteilig ist bei den meisten bekannten Vorrichtungen indessen, daß die ECR-Bedingung
in der Nähe der Sputterkathode auftritt, wo die Anregung der Teilchen nicht so notwendig
ist wie im Bereich des Substrats. Um diesen Nachteil zu beheben, wird bei der Vorrichtung
gemäß DE-A-39 20 834 die Mikrowelle auf ein Substrat gestrahlt, das seinerseits von den
Feldlinien eines Dauermagneten durchdrungen ist. Hierdurch ist direkt über dem Substrat
die ECR-Bedingung erfüllt. Allerdings kann bei dieser bekannten Vorrichtung eine
Plasmaentladung nur bis zu einer bestimmten Mindestspannung und bis zu einem be
stimmten Mindestdruck erfolgen. Selbst durch sehr starke Magnetfelder an der Targetober
fläche läßt sich die Plasma-Brennspannung nicht mehr erniedrigen. Hohe Entladespannun
gen führen aber zu unerwünschten Effekten, z. B. dem Einbau von Edelgasen in die Sub
stratstruktur oder zu Strahlenschäden.
Um die Plasma-Brennspannung weiter zu erniedrigen, kann man einen Hohlleiter, mit dem
Mikrowellenenergie zu einer Targetoberfläche geleitet wird, innerhalb einer Vakuumkam
mer bis an den seitlichen Rand eines Targets führen. Die Ionisation des Plasmas wird hier
durch erheblich erhöht, so daß es möglich ist, bei geringer Entladespannung und hohem
Strom zu sputtern. Entladespannungen bis unter 100 Volt sind realisierbar.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Ionisierung des Plasmas in der Umgebung
einer Sputterkathode weiter zu erhöhen.
Diese Aufgabe wird gemäß den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst.
Der mit der Erfindung erzielte Vorteil besteht insbesondere darin, daß bei Sputteranlagen
eine sehr niedrige Entladespannung zum Einsatz kommen kann. Außerdem kann durch die
Wahl des zusätzlichen Magnetfelds vor der Sputterkathode die Verteilung des Plasmas in
einem weiten Bereich beeinflußt werden. Es kann z. B. mit einem normalen Magnetronfeld
unterschiedlicher Stärke zusammenwirken, so daß für die Elektron-Gas-Wechselwirkung
eine ECR-Bedingung geschaffen wird, oder mit einem schwachen Feld, wenn keine ECR-
Bedingung vorliegt, gearbeitet werden kann.
Durch Überlagerung des zusätzlichen statischen Magnetfelds oder Wechselmagnetfelds
wird die Mikrowellen-Plasma-Wechselwirkung erhöht. Dabei ist das Magnetfeld derart
orientiert, daß die Magnetfeldlinien senkrecht auf dem Target stehen.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird im fol
genden näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 eine Plasmakammer und eine Magnetronkathode und eine Mikrowellen
einstrahlung;
Fig. 2 eine perspektivische Schnittdarstellung der Mikrowelleneinstrahlung und des
Plasmaraums unmittelbar vor der Magnetronkathode.
In der Fig. 1 ist eine Plasmakammer 1 dargestellt, deren Gehäuse 2 einen Gasauslaß 3 auf
weist, der an eine nicht gezeigte Vakuumpumpe angeschlossen ist. In dem Gehäuse 2, das
aus Edelstahl besteht, befindet sich ein zu beschichtendes oder zu ätzendes Substrat 5 auf
einem Drehteller 6, der am Boden 7 des Gehäuses 3 angeordnet ist. Gegenüber dem Sub
strat 5 und in die obere Wand 4 des Gehäuses 2 integriert ist eine Sputterelektrode 8 vorge
sehen, die mit einer Kathodenwanne 9 in Verbindung steht. An die Kathodenwanne 9 ist
eine Stromversorgung 10 angeschlossen, bei der es sich vorzugsweise um eine Gleich
stromversorgung handelt. Die Kathodenwanne 9 sitzt auf elektrischen Isolatoren 11, 12,
die ihrerseits in einer Aussparung der oberen Wand 4 des Gehäuses 2 eingelassen sind und
jeweils einen Dichtungsring 35, 36 tragen.
In der Kathodenwanne 9 sind drei Dauermagnete 15, 16, 17 mit jeweils einem Nordpol
und einem Südpol vorgesehen, wobei diese Dauermagnete 15, 16, 17 über ein Joch 14 mit
einander in Verbindung stehen. Die Feldlinien 18, 19 der Dauermagneten 15 bis 17 treten
durch die Elektrodenwanne 9 und das Target 8 hindurch und bilden im Plasmaraum 20
zwei Bögen.
Dieser Plasmaraum 20 wird seitlich durch zwei Winkel- oder Abschirmbleche 21, 22 aus
Kupfer begrenzt, die an die Innenseite der oberen Wand 4 stoßen. Im Plasmaraum 20 und
zwischen oberer Wand 4 und den Abschirmblechen 21, 22 ist eine Spule angeordnet, die
ein Magnetfeld erzeugt, das auf dem Target 8 senkrecht steht. Von dieser Spule sind die
beiden Spulenhälften 24, 25 zu erkennen, die auf nicht dargestellte Weise miteinander ver
bunden sind. Mit dem weitgehend homogenen Magnetfeld der Spule 24, 25 sollen im
wesentlichen drei Effekte erzielt werden. Zum einen soll durch eine effektive Wechsel
wirkung der Elektronen mit der Mikrowelle eine zusätzliche Plasmaaktivierung erreicht
werden. Zum anderen soll durch das Magnetfeld das Plasma vor dem Target bzw. der
Sputterelektrode 8 vergleichmäßigt werden, so daß sich eine bessere Targetausnutzung er
gibt. Schließlich soll durch das Magnetfeld das Plasma stärker in Richtung auf das Substrat
ausgedehnt werden, was einen günstigen Einfluß auf das Schichtwachstum hat.
Auf der Außenseite des Gehäuses 2 ist ein Hohlleiter 26 vorgesehen, der das aus den
Magneten 15 bis 17, dem Joch 14 und der Elektrodenwanne 9 bestehende Magnetron um
gibt. Dieser Hohlleiter 26 hat die Form eines rechtwinkligen Rohrs und ist auf Resonanz
gestimmt. In diesen Hohlleiter 26 werden Mikrowellen eingegeben, und zwar senkrecht
zur Zeichenebene. Nähere Einzelheiten über die Eingabe der Mikrowellen sind der Fig. 2
entnehmbar.
Die Mikrowellen gelangen über die Isolatoren 11, 12, die beispielsweise aus Teflon beste
hen, sowie über Spalten 27, 28 in den Plasmaraum 20. Dort erzeugen sie in Verbindung
mit den Magnetfeldern 18, 19 der Dauermagneten 15 bis 17 und dem Magnetfeld des Zu
satzmagneten 24, 25 eine Elektronen-Zyklotron-Resonanz eines aus Zuführungsröhren 29,
30 strömenden Gases. Die positiv elektrisch geladenen Partikel im Plasmaraum 20 treffen
mit hoher Geschwindigkeit auf dem Target 8 auf und schlagen aus diesem Teilchen heraus,
die sich auf dem Substrat 5 niederschlagen. Damit die Zuführungsröhren 29, 30 nicht im
Laufe der Zeit zugesputtert werden, sind Schutzwinkel 31, 32 vorgesehen.
Die in dem Plasmaraum 20 eintretenden Mikrowellen sind symbolisch dargestellt und mit
den Bezugszahlen 33, 34 versehen. Bei der Einkopplung der Mikrowelle durch die Schlit
ze bzw. die Dunkelräume 27, 28 in den Plasmaraum 20 sind keine aufwendigen Vorrich
tungen erforderlich. Es genügt vielmehr eine Standard-Sputterelektrodenanordnung. Der
Atmosphärenseite der Kathode 9 wird lediglich ein Mikrowellenresonatorkasten überge
stülpt, aus dem die Mikrowelle über die Dunkelräume 27, 28 in das Plasma geleitet wird.
Die Isolatoren 11, 12 aus Teflon haben auch eine Vakuum-Dichtfunktion, weshalb auf bei
den Seiten der Isolatoren 11, 12 O-Ringe 35, 36 als Dichtungsringe vorgesehen sind.
In der Fig. 2 ist die Vorrichtung gemäß Fig. 1 noch einmal in einer perspektivischen Teil
ansicht dargestellt. Man erkennt hierbei, daß die Mikrowelle über einen Ansatz 40 in den
Hohlraumresonator 26 gegeben wird, der hier aufgeschnitten dargestellt ist, um einen Ein
blick in das Magnetron zu gewährleisten. Die Gas-Zuführungsleitungen 29, 30 weisen
zahlreiche auf den Plasmaraum 20 gerichtete Löcher auf, von denen nur drei mit den Be
zugszahlen 41, 42, 43 versehen sind. Vor diesen Löchern 41 bis 43 ist der Schutzwinkel
31, 32 vorgesehen worden, der dazu dient, das Zusputtern der Löcher zu verhindern. Wird
die Spule 24, 25 von Wechselstrom durchflossen, so kann das Plasma vor der Kathode 9
zum Pulsieren gebracht werden. Zudem oszilliert das Plasma vor dem Target 8 etwas hin
und her, so daß eine höhere Targetausnutzung resultiert.
Durch die Abschirmbleche 21, 22 wird der Hohlraumresonator in einen oberen und einen
unteren Hohlraumresonator unterteilt. Der untere Resonator ist ein Ringresonator entlang
den Teflondichtungen 11, 12 mit einer Verbindung zum oberen Resonator an der dem
Mikrowelleneintritt gegenüberliegenden Seite. Von dem unteren Resonator gelangt die
Mikrowelle über die Dunkelräume 27, 28 zum Plasma. Der obere Resonator wirkt hierbei
als Pufferresonator. Durch die Struktur des Resonators wird eine ausgeprägte Gleich
mäßigkeit des Feldes im Dunkelraum entlang der Kathodenseite erzielt.
Es versteht sich, daß in den Fig. 1 und 2 nur eine von mehreren möglichen Ausführungs
formen dargestellt ist. Anstelle eines Drehtellers 6 kann auch ein linear beweglicher
Substratträger vorgesehen sein, wie er in herkömmlichen In-Line-Anlagen vorzugsweise
verwendet wird.
Claims (10)
1. Vorrichtung zum Erzeugen eines Plasmas mittels Kathodenzerstäubung und Mikro
welleneinstrahlung, mit
- a) einer Plasmakammer (20);
- b) einem Target (8) in dieser Plasmakammer (20), das mit einer Elektrode (9) verbunden ist, die an einer Stromversorgung (10) liegt;
- c) einem Magnetron (13), dessen Magnetfeld (18, 19) aus dem Target (8) austritt und in dieses wieder eintritt;
- d) einem Mikrowellensender, der über einen Hohlleiter (26) Mikrowellen (33, 34) in den Bereich vor dem Target (8) sendet, wobei senkrecht zur Targetoberfläche parallele Ab schirmbleche (21, 22) vorgesehen sind;
dadurch gekennzeichnet, daß an den Abschirmblechen (21, 22) ein Magnet (24, 25) vor
gesehen ist, der ein Feld erzeugt, welches im wesentlichen parallel zu den Abschirm
blechen (21, 22) verläuft.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Magnet (24, 25) ein
Elektromagnet ist, der eine um das Abschirmblech (21, 22) gewickelte Spule (24, 25) ent
hält.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Magnetfeld ein
Gleichfeld ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Magnetfeld ein
Wechselfeld ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sich die Plasmakammer
(20) in einem Gehäuse (2) befindet, auf dessen Außenseite der Hohlleiter (26) angeordnet
ist, der über eine für Mikrowellen durchlässige Dichtung (11, 12) und einen Spalt (27, 28)
mit dem Plasmaraum (20) in Verbindung steht.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in die Abschirmbleche
(21, 22) Gaszuführungsleitungen (29, 30) integriert sind, die mehrere in den Plasmaraum
(20) gerichtete Löcher (41 bis 43) aufweisen.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschirmbleche (21,
22) Gaszuführungsleitungen (29, 30) aufweisen, die von Schutzwinkeln (31, 32) umgeben
sind.
8. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Dichtung (11, 12) aus
einem Teflon-Element mit einem Dichtungsring (35, 36) besteht.
9. Vorrichtung nach Anspruch 1 und Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das
Teflon-Element als ein unterer Resonator wirkt.
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