DE4219810A1 - Optisches System - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein optisches System nach dem
Oberbegriff des Anspruches 1.
Zur Einstellung von Strahlquerschnitten nach bestimmten
Vorgaben sind sogenannte Axcion-Anordnungen bekannt, die
erstmals von John H. McCleod in "The Akicon: A new type of
optical element, Journal of optical Society of America, 44,
1954, S. 592" definiert wurden. Ähnliche Anordnungen, die dem
selben Zweck dienen, wurden desweiteren bereits in der
österreichischen Patentschrift AT 137 452 der Anmelderin
beschrieben. Hierbei trifft ein Strahl mit kreisförmigem
Strahlquerschnitt auf zwei zweiteilige reflektive Axicon-
Anordnungen, die jeweils aus einer zentralen konischen
Reflektor-Komponente sowie einer äußeren entgegengesetzt
konischen Reflektor-Komponente bestehen. Die beiden Axicon-
Anordnungen sind symmetrisch-zu einer Ebene angeordnet, die
senkrecht zur optischen Achse steht. Nach zweimaliger
Reflexion an den beiden ersten Reflektor-Komponenten trifft
der Strahl auf die beiden Reflektor-Komponenten der zweiten
Axicon-Anordnung und verläßt das optische System mit einem
veränderten Strahlquerschnitt. Durch die Variation des
Relativabstandes der beiden inneren Reflektor-Komponenten zu
den beiden äußeren Reflektor-Komponenten ist nun die Ein
stellung des gewünschten Strahlquerschnitts sowie der ent
sprechenden Strahlparameter, wie etwa Innen- und Außen
durchmesser des austretenden Strahles, möglich. Mit Hilfe
einer derartigen Anordnung kann demzufolge die Transformation
eines Strahles mit kreisförmigem Strahlquerschnitt in einen
Strahl mit kreisringförmigem Strahlquerschnitt realisiert
werden. Diese Transformation ist prinzipiell auch durch die
Verwendung einer einzelnen, zweiteiligen derartigen Axicon-
Anordnung möglich, wie etwa in der europäischen Patentschrift
EP 0 224 622 beschrieben wird.
Für bestimmte Anwendungen, z. B. in der Materialbearbeitung
oder in der refraktiven Cornea-Chirurgie ist neben der
definierten Einstellbarkeit der Strahlquerschnitts-Parameter
des Ausgangsstrahles jedoch auch ein möglichst homogener
Intensitätsverlauf über den Gesamtquerschnitt des Ausgangs
strahles erforderlich, da die Abtragungs-Charakteristik
bestimmter Materialien stark von der Intensität der auf
treffenden Strahlung abhängen kann. Bei einem inhomogenen
Intensitätsverlauf im auftreffenden Strahlquerschnitt würde
dann ein unerwünschtes Abtragungsergebnis resultieren.
Verwendet man nun zur Dimensionierung des Bearbeitungs-
Strahlquerschnittes eine reflektive Axicon-Anordnung wie
vorab beschrieben, so ist die erforderliche Intensitäts-
Homogenität über den Strahlquerschnitt nicht gewährleistet.
So wird ein kreisringförmiger Teil der Dicke dK eines ein
tretenden Strahlquerschnittes zwar wieder in einen kreis
ringförmigen Teil des austretenden Strahlquerschnittes mit
der gleichen Dicke dK transformiert, da jedoch dieser
Transformation ein bestimmtes - gewünschtes - Aufweit
verhältnis zugrunde liegt, ist die resultierende Kreis
ringfläche des Ausgangsstrahles im allgemeinen nicht
identisch mit der Kreisringfläche des eintretenden -
ursprünglichen - Strahlquerschnittes. Die Folge ist eine
radiale Intensitätsverteilung im austretenden Strahl
querschnitt, die im Gegensatz zum eintretenden Strahl
querschnitt nicht mehr homogen in radialer Richtung ist,
sondern vielmehr vom Strahlradius r abhängt. Eine derartige
Intensitätsverteilung hat eine unerwünschte, von Ort zu Ort
verschiedene Abtragung des Materialvolumens zur Folge.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein
optisches System zur Transformation beliebiger Strahl
querschnitte zu schaffen, das die definierte Einstellung von
Strahlquerschnitts-Parametern erlaubt, und gleichzeitig eine
radial-homogene Intensitätsverteilung des Eintrittsstrahls in
eine ebenso radial-homogene Intensitätsverteilung des Aus
trittsstrahls transformiert.
Diese Aufgabe wird gelöst durch ein optisches System mit den
Merkmalen des Anspruches 1.
Gemäß Anspruch 1 findet ein mindestens zweiteiliges optisches
System Verwendung, dessen optische Eigenschaften so dimen
sioniert sind, daß bestimmte Bedingungen für die Verhältnisse
von Strahl-Parametern des ein- und austretenden Strahles
stets erfüllt sind.
Gemäß den Unteransprüchen 2 und 3 ist dies wahlweise mit
reflektiven oder aber transmissiven Axicon-Anordnungen
realisierbar.
Die erforderlichen Konuskonturen der einzelnen Reflektor
komponenten einer reflektiven Axicon-Anordnung, die sich aus
der Bedingung nach Anspruch 1 ergeben, sind-explizit Gegen
stand von Unteranspruch 4.
Entscheidender Vorteil des erfindungsgemäßen optischen
Systemes ist, daß trotz der Transformation eines kreis
förmigen Eingangs-Strahlquerschnittes in einen beliebig
großen kreisringförmigen Ausgangs-Strahlquerschnitt eine
konstante Intensität über den gesamten Querschnitt des
austretenden Strahles gewährleistet ist. Diese Ausgangs
strahl-Intensität kann z. B. identisch mit der Intensität im
Strahlquerschnitt des eintretenden Strahles sein. Dadurch ist
bei der Materialbearbeitung ein definiertes Ablationsergebnis
gesichert.
Gegenstand von Unteranspruch 5 ist eine Vorrichtung zum
definierten Abtragen von Teilbereichen einer beliebigen
Oberfläche, wobei neben Strahlquelle und Steuereinrichtung
ein oder mehrere optische Systeme nach Anspruch 1 vorgesehen
sind. Diese sind wahlweise in den Strahlengang einschwenkbar.
Hierbei ist für jedes Transformationsverhältnis bzw. jeden
gewünschten Ausgangsstrahlquerschnitt bei gleichbleibendem
Eingangsstrahl ein optisches System nach Anspruch 1
vorgesehen.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen
optischen Systemes sind Gegenstand der Unteransprüche 7-9.
Hierbei sind neben dem erfindungsgemäßen optischen System
Elemente im Strahlengang angeordnet, die ein definiertes
Abschatten von Teilbereichen des resultierenden Ausgangs
strahlquerschnittes ermöglichen, der durch ein optisches
System für ein bestimmtes Aufweitverhältnis erzeugt wurde.
Damit wird erreicht, daß die Positionierungs-Anforderungen
beim Aneinanderfügen von beaufschlagten Teilbereichen
herabgesetzt werden.
Gegenstand des Unteranspruches 10 ist ein Verfahren, in dem
das erfindungsgemäße optische System zum definierten Abtragen
von Oberflächen eingesetzt wird. Dies kann gemäß den Unter
ansprüchen 11 oder 12 der Einsatz in der refraktiven Cornea-
Chirurgie bzw. in der Materialbearbeitung sein.
Weitere Vorteile und Einzelheiten des erfindungsgemäßen opti
schen Systemes ergeben sich aus der nachfolgenden Beschrei
bung mehrerer Ausführungsbeispiele anhand der beigefügten
Fig. 1-6.
Hierbei zeigt
Fig. 1 eine Prinzipskizze eines Teiles des erfindungs
gemäßen optischen Systemes zur Erläuterung
relevanter Größen;
Fig. 2 eine Darstellung von möglichen Eintritts- und
Austritts-Strahlquerschnitten;
Fig. 3 eine erste Ausführungsform des erfindungs
gemäßen optischen Systemes mit zwei reflek
tiven Axicon-Elementen;
Fig. 4 eine Vorrichtung zur Oberflächenbearbeitung, in dem
das erfindungsgemäße optische System im Strahlen
gang angeordnet ist.
Fig. 5 das Aneinanderfügen teilweise abgeschatteter
Strahlbereiche;
Fig. 6 die Abschattung zentraler Strahlbereiche mittels
eines koaxial verschiebbaren Zylinders innerhalb
des erfindungsgemäßen optischen Systemes.
Anhand von Fig. 1 und Fig. 2 werden im folgenden wichtige
Größen des erfindungsgemäßen optischen Systemes definiert.
Dargestellt ist in Fig. 1 ein Teil eines Strahlbündels einer
beliebigen Strahlungsquelle, wobei das Strahlbündel auf zwei
im Strahlengang angeordnete Reflektorelemente (1, 2) trifft.
Hierbei ist in Fig. 1 lediglich eine Hälfte der kompletten
Anordnung dargestellt, d. h. der rotations-symmetrisch zur
optischen Achse (3) angeordnete, untere Teil der beiden
Reflektor-Elemente (1, 2) sowie der untere Teil des eintreten
den und austretenden Strahlbündels sind nicht dargestellt.
Von den beiden Reflektor-Elementen (1, 2) ist ferner lediglich
ein Teil der gesamten Reflektorfläche dargestellt. Vom ein
tretenden Strahlbündel wird im folgenden ein kreisringför
miges Teilbündel mit der infinitesimalen Kreisringdicke δri
und dem mittleren Abstand ri von der optischen Achse (3)
betrachtet. Nach der Reflexion dieses Teilstrahlenbündels am
ersten (1) und zweiten Reflektor-Element (2) verläßt ein
ebenfalls kreisringförmiges Teilstrahlenbündel parallel zur
optischen Achse (3) das erfindungsgemäße optische System. Das
austretende Teilstrahlenbündel besitzt den mittleren Abstand
ra von der optischen Achse (3) und weist die infinitesimale
Kreisringdicke δa auf. Je nach der eingestellten Winkelposi
tion der beiden Reflektor-Elemente (1, 2) zur optischen Achse
(3) sowie in Abhängigkeit der Relativposition der beiden
Reflektor-Elemente (1, 2) entlang der optischen Achse (3)
erfolgt eine mehr oder weniger große Aufweitung des eintre
tenden Strahlbündels in ein austretendes kreisringförmiges
Strahlbündel, wobei das Verhältnis ra/ri im folgenden als
Aufweitverhältnis A bezeichnet wird. Mit Hilfe einer derarti
gen Anordnung ist demzufolge die Transformation eines eintre
tenden kreisförmigen Strahlbündels in ein kreisringförmiges
Strahlbündel möglich, wobei das Aufweitverhältnis A sowie die
Kreisring-Parameter des Austrittsbündels definiert einstell
bar sind. Dies wird anhand von Fig. 2 noch einmal veranschau
licht, wo ein eintretendes, kreisförmiges Strahlbündel mit
dem Strahlradius rO in ein kreisringförmiges Strahlbündel mit
dem Kreisring-Innendurchmesser rID, dem -Außendurchmesser rAD
sowie der Kreisring-Dicke δD transformiert wurde.
Um bei der Verwendung eines derartigen optischen Systemes,
z. B. in der Materialbearbeitung, ein definiertes Abtragungs
ergebnis zu erzielen, ist es vorteilhaft, wenn der trans
formierte Strahlquerschnitt die gleiche - möglichst homogene
- Intensitätsverteilung über den Strahlquerschnitt aufweist
wie der eintretende Strahl. Dies ist jedoch bei Axikon-Anord
nungen, die bei Querschnitten, die die Symmetrieachse enthal
ten, ungekrümmte Oberflächenschnitte aufweisen, nicht gewähr
leistet. Bei der Transformation eines beliebigen kreisring
förmigen Teilstrahlenbündels mit Hilfe derartiger Axikon-
Anordnungen bleibt zwar dessen Kreisringdicke erhalten, nicht
jedoch dessen Abstand von der optischen Achse. Da sich demzu
folge die effektive Strahlquerschnittsfläche ändert, hat dies
auch bei homogener Intensität im eintretenden Strahl eine
Intensitätsinhomogenität im austretenden Strahl zur Folge.
Die mittlere Intensität des austretenden Teilstrahlenbündels
ist hierbei um das reziproke Aufweitverhältnis 1/A = ri/ra
reduziert, wobei ri und ra in diesem Fall als mittlere Kreis
ringradien des ein- und austretenden Strahles definiert sind.
Soll demzufolge ein achsparalleler Teilstrahl eines eintre
tenden Strahles der infinitesimalen Dicke δri mit dem mitt
leren Abstand ri von der optischen Achse in einen ebenfalls
achsenparallelen Teilstrahl der infinitesimalen Dicke δra mit
dem mittleren Abstand ra von der optischen Achse bei gleich
zeitiger Homogenität der Strahlungsquelle und des austreten
den Strahles transformiert werden, so muß die Bedingung
δri/δra = q * (ra/ri) (I)
durch das verwendete optische System für jeden eintretenden
infinitesimalen Teil-Kreisring bzw. Teilstrahl mit der Dicke
δri stets erfüllt sein. Mit q wird hierbei das - konstante -
Intensitätsverhältnis zwischen aus- und eintretendem Strahl
bezeichnet. Die Differentialgleichung (I) wird gelöst durch
ra² = q * ri² + rID² (Ia),
wobei sich die Integrationskonstante rID aus der Randbe
dingung des gewünschten Aufweitverhältnisses ergibt.
Aufgrund dieses nichtlinearen Zusammenhanges zwischen ri und
ra kann die Beziehung (I) nach einer Relativ-Verschiebung der
reflektierenden Flächen in Richtung der optischen Achse zur
Variation des Aufweitverhältnisses A nicht mehr für alle
korrespondierenden Paare ri und ra erfüllt sein. Eine belie
bige Variation des Aufweitverhältnisses A kann demnach nicht
bei gleichzeitiger Erhaltung der Homogenität realisiert
werden. Das verwendete optische System ist deshalb so zu
dimensionieren, daß die Abstände eines achsparallelen Strahls
von der optischen Achse vor und nach dem Durchgang durch das
optische System den Bedingungen (I) bzw. (Ia) genügen. Hier
bei kann neben einer reflektiven optischen Anordnung, wie im
folgenden erläutert wird, prinzipiell ebenso eine transmis
sive, d. h. brechende optische Anordnung eingesetzt werden.
Die Konturen der Reflektor-Elemente (1, 2), die den Bedingun
gen (I) und (Ia) genügen, werden durch die Koordinate z
beschrieben, die parallel zur optischen Achse (3) verläuft.
Als (willkürlicher) Ursprung dieser Koordinate ist in Fig. 1
der Punkt O auf der optischen Achse (3) gewählt worden. Mit
zi wird hierbei die Konuskontur des zentralen Reflektor-
Elementes (1) bezeichnet, während die Konuskontur des äußeren
Reflektor-Elementes (2) durch die Koordinate za charakteri
siert wird.
Bei der im folgenden in Fig. 3 dargestellten, möglichen Aus
führungsform des erfindungsgemäßen optischen Systems, beste
hend aus zwei Reflektorelementen (4, 5), werde ein eintreten
der Strahl, der parallel zur optischen Achse (3) einfällt,
von einer ersten reflektierenden Oberfläche, d. h. dem ersten
Reflektorelement (5), im Zentrum um 90° abgelenkt. Die rota
tionssysmmetrische, reflektierende Fläche des ersten, zentra
len Reflektorelementes (5) weist demzufolge im Grenzfall r → 0
einen Winkel α = 45° auf, wobei r als radiale Koordinate in
der Ebene der Strahlquerschnittsfläche definiert sei. Wird
gleichzeitig ohne Beschränkung der Allgemeinheit der Aus
tritts-Strahlradius rID = 1 gesetzt, so ist oben angeführte
Bedingung (I) zur Homogenitätserhaltung sowie die Bedingung,
daß achsparallele eintretende Strahlen in achsparallele Aus
gangsstrahlen transformiert werden, durch folgende Konus
konturen zi (ri) bzw. za (ri) der beiden Reflektor-Elemente
(4, 5) erfüllt, wobei z jeweils als parallel zur optischen
Achse (3) verlaufende Koordinate definiert ist
za (ra) ergibt sich aus der Kombination der beiden Beziehungen
(III) und (Ia).
Die beiden rotationssymmetrisch zur optischen Achse (3)
angeordneten Reflektor-Elemente (4, 5) in Fig. 3 besitzen
Konuskonturen zi (ri) und za (ri), die die Bedingungen (II)
und (III) erfüllen. Anhand des ebenfalls dargestellten Strah
lenganges ist deutlich zu erkennen, daß für achsnah eintre
tende Strahlen eine andere optische Wirkung resultiert als
für achsfern eintretende Strahlen. Hierdurch wird das unter
schiedliche Aufweitverhältnis für diese unterschiedlichen
Strahlen kompensiert und derart die Homogenität im Austritts-
Strahlquerschnitt gewährleistet. Nach dem Passieren des
erfindungsgemäßen optischen Systemes trifft das transfor
mierte Strahlbündel beispielsweise auf eine beliebige Ober
fläche (6), die bearbeitet werden soll.
Eine Vorrichtung zur Materialbearbeitung, in dem das erfin
dungsgemäße optische System im Strahlengang angeordnet ist,
wird anhand von Fig. 4 beschrieben. Eine Strahlungsquelle
(7), z. B. ein geeigneter Laser, emittiert in zeitlicher Folge
Strahlungspulse. Diese Strahlungspulse mit einem bestimmten
Strahlquerschnitt gelangen auf das erfindungsgemäße optische
System (9), durch das eine definierte Einstellung der ge
wünschten Strahlquerschnittsparameter möglich ist, mit denen
die Oberfläche (10) beaufschlagt wird. Sollen innerhalb des
jeweiligen Materialbearbeitungsverfahrens in zeitlicher Folge
unterschiedliche Bereiche der zu bearbeitenden Oberfläche
(10) mit gleicher Intensität von den Strahlungspulsen beauf
schlagt werden, so sind hierfür mehrere erfindungsgemäße op
tische Systeme im Strahlengang zur Verfügung zu stellen, die
allesamt der Bedingung (I) genügen müssen. Dies ist erforder
lich, da jedes dieser optischen Systeme (9) einen bestimmten
Strahlquerschnitt bei gleichzeitig homogen-konstanter Inten
sität über den Strahlquerschnitt lediglich für ein definier
tes Aufweitverhältnis A gewährleistet. Die unterschiedlich
große Strahlaufweitung wird dabei mittels der entsprechend
angepaßten Skalierungsbedingung rID = 1 erreicht. In einer
geeigneten Vorrichtung ist es möglich, mehrere derartige op
tische Systeme (9) auf einem Revolver oder einer Scheibe (12)
anzuordnen, die mittels eines geeigneten Antriebes (13) das
definierte Einschwenken des jeweils erforderlichen optischen
Systemes (9) in den Strahlengang erlauben. Neben den
erfindungsgemäßen optischen Systemen zur Erzeugung
kreisringförmiger Strahlquerschnitte können auf einer
derartigen Scheibe (12) weiterhin Kreisblenden mit
verschiedenen Durchmessern angeordnet werden, um ein
Beaufschlagen zentraler Strahlbereiche zu ermöglichen. Die
Steuerung sowohl der Strahlungsquelle (7), d. h.
beispielsweise deren Pulsfolge, als auch des Antriebes (13)
zum Einschwenken des jeweils erforderlichen optischen
Systemes (9) bzw. der entsprechenden Scheibe (12) übernimmt
innerhalb der beschriebenen Vorrichtung eine Steuereinheit
(8), z. B. ein geeigneter Rechner. Weiterhin ist es möglich,
den Abtragungsprozeß zu überwachen, was mittels des Pfeiles
(11) schematisch dargestellt wird, und diese Daten der
Steuereinheit (8) zur Verfügung zu stellen.
Durch die verschiedenen, zuschaltbaren optischen Systeme im
Strahlengang einer Vorrichtung zur Materialbearbeitung, wie
in Fig. 4 beschrieben, ist somit eine größere Fläche im Ver
gleich zum primären Strahlquerschnitt bearbeitbar. Die erfor
derliche Leistung der Strahlungsquelle kann dabei entspre
chend niedriger ausgelegt werden.
Als zweckmäßig erweist sich weiterhin, die jeweils beauf
schlagten Bereiche der Oberfläche derart aneinanderzufügen,
daß effektiv bearbeitete Bereiche der Oberfläche durch die
Überlagerung teilweise abgeschatteter Strahlbereiche erzeugt
werden. Durch ein solches Aneinanderfügen beaufschlagter
Teilbereiche werden die Positionierungsanforderungen herab
gesetzt. Eine derartige Überlagerung von nacheinander beauf
schlagten Teilbereichen (15, 16, 17) sowie der resultierende
beaufschlagte Gesamtbereich (18) ist in Fig. 5 dargestellt.
Die einzelnen Teilbereiche (15, 16, 17) ergeben sich dabei aus
der teilweisen Abschattung eines kreis- oder kreisringförmi
gen Strahlenbündels.
Eine derartige Abschattung eines kreisringförmigen Strahlen
bündels von außen her kann beispielsweise bei einer reflekti
ven Axicon-Anordnung, wie in Fig. 6 dargestellt, durch eine
zusätzliche Irisblende (23) im Strahlengang erfolgen, die der
reflektiven Axikon-Anordnung nachgeordnet ist und die das
variable Abschatten äußerer Kreisringbereiche ermöglicht. Die
Abschattung eines kreisringförmigen Strahlenbündels von innen
her ist mit Hilfe eines eines koaxial angeordneten Zylinders
(19) möglich, wie in Fig. 6 dargestellt ist. Der Zylinder
(19) ist im Strahlengang vor dem jeweiligen optischen System
angeordnet und entlang der optischen Achse (20) definiert
verschiebbar. Hierdurch können variable Anteile des
Strahlenbündels, die an der zentralen, ersten
Reflektorkomponente (21) reflektiert werden, abgeschattet
werden. Die Konuskonturen der beiden Reflektorelemente
(21, 22) sind in Fig. 6 lediglich schematisch dargestellt,
d. h. diese Konuskonturen genügen nicht den beschriebenen
Anforderungen. Kombiniert man ein erfindungsgemäßes optisches
System, das eine Strahlaufweitung und -Transformation für ein
bestimmtes Aufweitverhältnis garantiert, mit einer Irisblende
und einem koaxial verschiebbaren Zylinder im Strahlengang, so
ist hiermit beispielsweise die aufeinanderfolgende
Beaufschlagung von einzelnen Teil-Kreisringen möglich, ohne
für jeden Teil-Kreisring ein separates optisches System in
den Strahlengang einschwenken zu müssen.
Mögliche Anwendungen für das erfindungsgemäße optische System
liegen in der Materialbearbeitung mit Lasern, wo definiert
einstellbare Strahlquerschnitte gefordert sind, die ein mög
lichst homogenes Intensitätsprofil aufweisen sollen. Eine
weitere, bereits angedeutete Anwendung, liegt in der refrak
tiven Corneachirurgie, um einen definierten Abtrag der Augen
hornhaut sicherzustellen und derart eine Sehfehlerkorrektur
zu erzielen.
Claims (12)
1. Optisches System zur definierten Einstellung von Strahl
querschnitts-Parametern, bestehend aus mindestens zwei
separaten optischen Elementen, die symmetrisch zur opti
schen Achse angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß
ein achsenparalleler Eingangsstrahl mit einem Strahl
radius ri von den beiden optischen Elementen in einen
ebenfalls achsenparallelen Ausgangsstrahl mit dem
Strahlradius ra transformierbar ist, wobei die optischen
Eigenschaften der beiden einzelnen optischen Elemente
gewährleisten, daß die Bedingung
δri/δra = q * (ra/ri)erfüllt ist, wobei δri die infinitesimale Dicke eines
Kreisringsegementes des Eingangsstrahles ist, δra die
infinitesimale Dicke dieses Kreisringsegmentes nach dem
Durchgang durch das optische System und q das - kon
stante - Intensitätsverhältnis zwischen ein- und austre
tendem Strahl ist und der austretende Strahl dadurch
eine homogene Intensität über den gesamten Strahlquer
schnitt besitzt.
2. Optisches System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß zwei reflektive Axicon-Elemente (4, 5) im
Strahlengang angeordnet sind.
3. Optisches System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß zwei transmissive Axicon-Elemente im
Strahlengang angeordnet sind.
4. Optisches System nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß ein zentrales Axicon-Element (5) rotations
symmetrisch zur optischen Achse (3) angeordnet ist, eine
reflektierende Oberfläche besitzt und einen eintretenden
Strahl, der mit der optischen Achse (3) zusammenfällt,
im Zentrum um 90° aus seiner Ausbreitungsrichtung
auslenkt und für die Konuskontur zi (ri) des zentralen
Axicon-Elementes (5) mit z als parallel zur optischen
Achse verlaufender Koordinate gilt
und für die Konuskontur za (ri) des äußeren Axicon-
Elementes (4), das ebenfalls symmetrisch zur optischen
Achse (3) angeordnet ist und ebenfalls eine reflektie
rende Oberfläche besitzt gilt:
5. Vorrichtung zum definierten Abtragen von Oberflächen,
bestehend aus einer Steuereinheit (8) und einer Strah
lungsquelle (7), dadurch gekennzeichnet, daß die
Vorrichtung mindestens ein optisches System nach
Anspruch 1 oder einem der folgenden enthält.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
mehrere optische Systeme im Strahlengang angeordnet
sind, die wahlweise in den Strahlengang einbringbar sind
und jeweils ein definiertes Aufweitverhältnis zwischen
ein- und austretendem Strahlenbündel gewährleisten.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
Elemente im Strahlengang angeordnet sind, die ein defi
niertes Abschatten von Teilbereichen des jeweils resul
tierenden Ausgangsstrahlquerschnittes erlauben.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Irisblende im Strahlengang dem optischen System
nachgeordnet ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
ein Zylinder (19) im Strahlengang vor dem optischen
System angeordnet ist, der symmetrisch zur optischen
Achse (20) angeordnet ist und entlang dieser definiert
verschiebbar ist.
10. Verfahren zum definierten Abtragen einer Oberfläche mit
einer Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeich
net, daß sukzessive Teilbereiche (15, 16, 17) der abzutra
genden Oberfläche beaufschlagt werden, wobei diese Teil
bereiche (15, 16, 17) durch die Abschattung von Teilen des
resultierenden Ausgangsstrahlquerschnittes entstehen und
der beaufschlagte Gesamtbereich (18) durch Aneinanderfü
gen einzelner Teilbereiche (15, 16, 17) zusammensetzbar
ist.
11. Verfahren nach Anspruch 10, gekennzeichnet durch die
Verwendung in der refraktiven Cornea-Chirurgie.
12. Verfahren nach Anspruch 10, gekennzeichnet durch die
Verwendung in der Materialbearbeitung.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4219810A DE4219810A1 (de) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Optisches System |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4219810A DE4219810A1 (de) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Optisches System |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4219810A1 true DE4219810A1 (de) | 1993-12-23 |
Family
ID=6461203
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4219810A Withdrawn DE4219810A1 (de) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Optisches System |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4219810A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19538990A1 (de) * | 1995-10-19 | 1997-04-24 | Anton P Rudkowski | Katheter für medizinische Eingriffe |
DE10323984A1 (de) * | 2003-05-27 | 2004-12-16 | Hentze-Lissotschenko Patentverwaltungs Gmbh & Co.Kg | Vorrichtung zur Transformation eines Lichtstrahls |
US10642172B2 (en) | 2018-05-14 | 2020-05-05 | Asml Netherlands B.V. | Illumination source for an inspection apparatus, inspection apparatus and inspection method |
-
1992
- 1992-06-17 DE DE4219810A patent/DE4219810A1/de not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19538990A1 (de) * | 1995-10-19 | 1997-04-24 | Anton P Rudkowski | Katheter für medizinische Eingriffe |
DE10323984A1 (de) * | 2003-05-27 | 2004-12-16 | Hentze-Lissotschenko Patentverwaltungs Gmbh & Co.Kg | Vorrichtung zur Transformation eines Lichtstrahls |
US10642172B2 (en) | 2018-05-14 | 2020-05-05 | Asml Netherlands B.V. | Illumination source for an inspection apparatus, inspection apparatus and inspection method |
US11347155B2 (en) | 2018-05-14 | 2022-05-31 | Asml Netherlands B.V. | Illumination source for an inspection apparatus, inspection apparatus and inspection method |
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