DE4135011C2

DE4135011C2 - Bildplattengerät

Info

Publication number: DE4135011C2
Application number: DE4135011A
Authority: DE
Inventors: Masato Noguchi
Original assignee: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
Current assignee: Pentax Corp
Priority date: 1990-10-23
Filing date: 1991-10-23
Publication date: 1996-06-05
Anticipated expiration: 2011-10-24
Also published as: DE4135011A1; US5500849A; GB2251514B; US5365504A; GB2251514A; GB9122433D0

Description

Die Erfindung betrifft ein Bildplattengerät gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.

Zum besseren Verständnis der Erfindung wird zunächst ein herkömmliches Bildplattengerät beschrieben, welches schematisch in Fig. 19 dargestellt ist. Ein Lichtstrahl von einer Laser lichtquelle 1 verläuft über eine Sammellinse 2, einen Spiegel 3 und eine Objektivlinse 4 so, daß er einen Lichtfleck auf einer optischen Platte OD bildet. Von der optischen Platte OD reflektiertes Licht durchläuft einen Strahlteiler 5, eine Sammellinse 6 und gelangt auf einen Fotodetektor 7. Die Objektivlinse 4 und der Spiegel 3 sind in einem Kopf 8 angeordnet, der in ra dialer Richtung zur optischen Platte frei verschiebbar ist. Alle Anordnungen von der Laserlichtquelle 1 bis zum Strahlteiler 5 sind dagegen fest.

Der Fotodetektor 7 umfaßt gemäß der Darstellung in Fig. 20 zwei Bereiche A und B, die durch eine Grenzlinie ge trennt sind, die der Tangentialrichtung der optischen Platte entspricht. Die Differenz zwischen den Ausgangs signalen dieser Bereiche A und B liefern ein Spurfeh lersignal gemäß dem Gegentaktverfahren.

Die Verteilung des auf den Fotodetektor 7 gebündelten reflektierten Lichtes variiert aufgrund von Beugungsef fekten, die durch die räumliche Beziehung der Löcher oder Nuten und dem Lichtfleck auf der optischen Platte erzeugt werden.

Fig. 21 zeigt die Lichtverteilung auf dem Fotodetektor, wenn ein Lichtstrahl ohne Abbildungsfehler einfällt. In der Figur entspricht die x-Achse der radialen Richtung und die y-Achse der Tangentialrichtung auf der opti schen Platte.

Die Fig. 21(a), (b) und (c) zeigen die Lichtverteilung auf dem Fotodetektor und zwar in der Fig. 21(a) für den Fall, daß der Lichtfleck auf der optischen Platte in der +x-Richtung aus dem Zentrum der Spur verschoben ist, in Fig. 21(b) für den Fall, daß der Lichtfleck im Zentrum der Spur liegt und in Fig. 21(c) für den Fall, daß der Lichtfleck auf der optischen Platte aus dem Spurzentrum in Richtung der -x-Achse verschoben ist. Die Veränderung der Lichtverteilung aufgrund eines Spurfehlers ist asymmetrisch nur in radialer Richtung, wogegen sie in tangentialer Richtung symmetrisch ist.

Da die Lichtverteilung in dieser Weise variiert, ist es möglich, eine Verschiebung zwischen dem Lichtfleck und einer Spur in der x-Richtung, d. h. einen Spurfehler festzustellen, indem man die Differenz der Ausgangssi gnale der beiden Bereiche A und B des Fotodetektors 7 mißt.

Der Spiegel kann in Richtung des in der Fig. 19 einge zeichneten Pfeiles frei gedreht werden. Sein Stellwin kel wird mit Hilfe des Spurfehlersignals so gesteuert, daß der Lichtfleck auf der optischen Platte im Zentrum der Spur liegt.

Bei dem vorstehend beschriebenen herkömmlichen Bild plattengerät kann jedoch der Gleichfluß des in jedem Bereich des Fotodetektors gemessenen Lichtes gestört sein, so daß das Spurfehlersignal zusätzlich zu dem üb lichen Fehler noch eine Fehlerkomponente hat, selbst wenn es keine Änderung der Lichtverteilung gibt. Ein solcher zusätzlicher Fehler oder eine Verschiebung wird erzeugt, wenn der gesamte Lichtfleck auf dem Fotodetek tor versetzt wird, weil beispielsweise der optische Weg des reflektierten Lichtstrahles ausgelenkt wird, wenn der Lichtstrahl relativ zur optischen Platte infolge einer Deformation der Platte geneigt ist. Die Verschie bung umfaßt eine Komponente in einer Richtung, die der radialen Richtung der Platte entspricht.

Wenn ferner der Spiegel 3 geneigt ist, ohne daß der Kopf 8 bewegt wird, so daß der Lichtfleck in radialer Richtung bewegt wird, wird auch der optische Weg des reflektierten Lichtstrahles verschoben, verglichen mit dem Fall, daß der Spiegel sich in seiner Referenzposi tion befindet, wie dies in Fig. 22 dargestellt ist. Der gesamte Lichtfleck auf dem Fotodetektor wird dann aus der in Fig. 23 durch eine ausgezogene Linie wiedergege benen Referenzposition versetzt und das Spurfehlersi gnal enthält diese Versetzung.

Fig. 24 ist eine grafische Darstellung, welche die Be ziehung zwischen der Position des Lichtfleckes auf ei ner Platte relativ zur Spur sowie den Spurfehler zeigt. Die horizontale Achse ist der Verschiebungsbetrag des Lichtfleck mittelpunktes gegenüber dem Spurzentrum, während auf der ver tikalen Achse das Spurfehlersignal TE aufgetragen ist. Die durchgezogene Linie in der Figur zeigt das Spurfehlersignal, wenn der Lichtstrahl vertikal von der optischen Platte re flektiert wird. Die gestrichelte Linie zeigt das Spurfehler signal, wenn der Spiegel 3 geneigt ist und der Lichtfleck auf der Platte um 10 Spuren gegenüber der vorher genannten Spur verschoben ist.

Wenn die optische Platte und der Lichtstrahl relativ zueinan der geneigt sind, wird die Spurfehlersignalkurve insgesamt mit zunehmendem Neigungswinkel des Spiegels verschoben. Der tatsächliche Verschiebungsbetrag des Lichtfleckes und das Spurfehlersignal entsprechen einander nicht. Selbst wenn eine Servosteuerung auf der Basis des Spurfehlersignals verwendet wird, läßt sich daher die Position des Lichtfleckes nicht ak kurat steuern.

Aus der US-PS 4,866,688 ist ein Bildplattengerät nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 bekannt, bei dem die Detek toreinheit in tangentialer Richtung einer Spur der optischen Platte in zwei Detektorbereiche unterteilt ist. Zur Ermitt lung eines Spurfehlersignals wird die Differenz der von den Detektorbereichen erzeugten Signale ausgewertet. Wenn die op tische Platte infolge mechanischer Lagefehler gegenüber der Einfallrichtung des Strahlenbündels verkippt wird, erzeugen die Detektorbereiche ein Offset-Signal, welches das Spurfeh lersignal in einer Weise beeinflußt, daß die genaue Spurfuh rung nicht mehr sichergestellt ist. Zur Vermeidung derartiger Offset Fehler sind auf der optischen Platte beiderseits der Spur Wobbelmarken vorgesehen, die ebenfalls von der Detektor einheit abgetastet werden. Aus den durch die Wobbelmarken hervorgerufenen Signalen werden Korrektursignale erzeugt, mit denen die durch Kippfehler erzeugten Spurabweichungen erkannt und ausgeregelt werden können. Das bekannte Bildplattengerät hat einen komplizierten Aufbau und erfordert einen hohen technischen Aufwand.

Aus der DE 34 14 052 A1 ist ein Bildplattengerät mit einer Spurführungs-Servoschaltung bekannt, deren Detektoreinheit in vier Bereiche unterteilt ist. Es ergeben sich somit zwei Grenzlinien, die in radialer bzw. tangentiale- Richtung der optischen Platte verlaufen. Zur Ermittlung eines Spurfehler signals werden Signale nebeneinanderliegender Bereiche, nämlich die Bereiche A und B bzw. C und D, jeweils zusammengefaßt und die sich aus den Signalen ergebende Signaldifferenz ausgewer tet. Durch die Zusammenfassung der nebeneinanderliegenden Be reiche entstehen zwei Detektorbereiche, die durch eine einzi ge Grenzlinie voneinander getrennt sind. Diese Grenzlinie verläuft tangential zur optischen Platte.

Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Bildplattengerät anzugeben, bei welchem Spurfehler mit geringem technischen Aufwand genau erfaßt werden können.

Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.

Gemäß der Erfindung wird das einfallende Strahlenbündel mit einer Wellenfrontabberation versehen, die eine ungerade Funk tion sowohl in radialer als auch in tangentialer Richtung der Platte hat. Wenn das reflektierte Licht mit mindestens zwei Detektorbereichen erfaßt wird, deren Grenzlinie in radialer Richtung verläuft, so wird ein Herausbewegen des Strahlungs flecks auf der optischen Platte aus dem Zentrum einer Spur im Differenzsignal der Signale der Detektorbereiche abgebildet Der beim Stand der Technik auftretende Offset-Fehler ist beim Bildplattengerät nach der Erfindung daher erheblich redu ziert.

Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung, welche in Verbin dung mit den beigefügten Zeichnungen die Erfindung an hand von Ausführungsbeispielen erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 eine schematische Darstellung zur Er läuterung des Strahlenganges in einer ersten Ausführungsform eines erfin dungsgemäßen Bildplattengerätes,

Fig. 2 eine schematische Darstellung der Lichtmeßbereiche eines Fotodetektors und einer Signalverarbeitungsschal tung,

Fig. 3(a), (b), (c) grafische Darstellungen der Lichtver teilung auf dem Fotodetektor,

Fig. 4 eine grafische Darstellung eines Spurfehlersignals,

Fig. 5 eine grafische Darstellung eines op tischen Systems einer zweiten Ausfüh rungsform des erfindungsgemäßen Gerä tes,

Fig. 6(a), (b), (c) schematische Darstellungen des in der Ausführungsform gemäß Fig. 5 verwen deten Fehlerdetektorverfahrens,

Fig. 7(a), (b) schematische Darstellungen zur Erläu terung der Lichtmeßbereiche des Foto detektors,

Fig. 8 eine Draufsicht auf eine Vorrichtung zur Erzeugung eines Astigmatismus,

Fig. 9 einen Schnitt entlang Linie IX-IX in Fig. 8,

Fig. 10 einen Schnitt entlang Linie X-X in Fig. 9,

Fig. 11 eine teilweise geschnittene Darstel lung eines Ausführungsbeispieles ei ner Spiegelanordnung,

Fig. 12 einen Schnitt entlang Linie XII-XII in Fig. 11,

Fig. 13 eine Draufsicht auf eine weitere Ausführungsform einer Spiegelanordnung,

Fig. 14 einen Schnitt durch eine Prismenhal terungsvorrichtung,

Fig. 15 einen schematischen Teilschnitt zur Erläuterung der Struktur einer erfin dungsgemäßen optischen Platte,

Fig. 16 eine der Fig. 15 entsprechende Dar stellung eines weiteren Ausführungs beispieles einer erfindungsgemäßen optischen Platte,

Fig. 17 eine schematische Darstellung zur Er läuterung der Intensität des reflek tierten Lichtes an der Pupille eines Objektivs,

Fig. 18 eine schematische Darstellung der An ordnung der Lichtmeßbereiche eines Fotodetektors,

Fig. 19 eine schematische Darstellung eines optischen Systems eines herkömmlichen Spurfehlersignaldetektors,

Fig. 20 eine schematische Darstellung der Lichtmeßbereiche eines Fotodetektors in der Anordnung gemäß Fig. 19,

Fig. 21 eine schematische Darstellung der Lichtverteilung auf dem Fotodetektor,

Fig. 22 eine schematische Darstellung der Verschiebung des reflektierten Lich tes bei Neigung des Lichtstrahles,

Fig. 23 eine schematische Darstellung zur Er läuterung der Bewegung eines Licht fleckes auf dem Fotodetektor und

Fig. 24 eine grafische Darstellung des Spur fehlersignals.

Ausführungsbeispiel 1

Fig. 1 bis 4 zeigen eine erste Ausführungsform der Er findung. In Ausführungsbeispiel 1 ist die Erfindung auf ein Bildplattengerät angewandt, das nur zum Lesen einer Bildplatte dient.

Wie Fig. 1 zeigt, gelangt ein von einer Laserlichtquel le 1 ausgesandter Lichtstrahl über eine Sammellinse 2, einen Spiegel 3 und eine Objektivlinse 4 auf eine Bild platte OD, um auf dieser einen Fleck zu bilden. Der von der Bildplatte OD reflektierte Lichtstrahl gelangt über einen Strahlteiler 5 und eine Sammellinse 6 auf einen Fotodetektor 7. Eine planparallele Platte 9, welche ei nen Wellenfrontabbildungsfehler mit einem ungeraden Funktionsanteil auf den Lichtstrahl überträgt, wird zwischen der Laserlichtquelle 1 und der Sammellinse 2 angeordnet.

Im Falle des Astigmatismus kann der Wellenfrontabbil dungsfehler üblicherweise durch die Krümmungsdifferenz der Wellenfronten auf zwei zueinander senkrechten Ach sen x, y (0°, 90°), wobei die x-Achse die radiale Rich tung und die y-Achse die tangentiale Richtung der Bild platte bezeichnen, sowie durch die Krümmungsdifferenz auf zwei zueinander senkrechten Achsen dargestellt wer den, die aus den ursprünglichen Achsen durch Drehung um 45° hervorgegangen sind und bei ±45° liegen. Die bei dieser Ausführungsform verwendete planparallele Platte 9 ist unter einem Winkel zur optischen Achse derart an geordnet, daß sie einen Wellenfrontabbildungsfehler auf den bei ±45° liegenden Achsen erzeugt.

Die Objektivlinse 4 und der Spiegel 3 sind in einem Kopf 8 derart angeordnet, daß sie in radialer Richtung zur Bildplatte frei verschiebbar sind, während alle Einrichtungen von der Laserlichtquelle 1 bis zum Strahlteiler 5 feststehen.

Der Fotodetektor 7 dient dazu, ein Spurfehlersignal festzustellen. Wie in Fig. 2 dargestellt ist, ist seine Lichtdetektorfläche durch eine der radialen Richtung der Bildplatte entsprechende Grenzlinie in zwei Berei che A, B unterteilt.

Fig. 3 zeigt die Lichtverteilung auf dem Fotodetektor, wenn ein Lichtstrahl mit Astigmatismus in den ±45°- Richtungen auf die Bildplatte fällt. In der Figur ent spricht die x-Achse der radialen Richtung und die y- Achse der tangentialen Richtung. Die Fig. 3(a), (b) und (c) zeigen jeweils die Lichtverteilung auf dem Fotode tektor und zwar in Fig. 3(a) für den Fall, daß der Fleck auf der Bildplatte aus dem Zentrum einer Spur in die +x-Richtung verschoben ist, in Fig. 3(b) für den Fall, daß der Fleck sich im Zentrum einer Spur befindet und in Fig. 3(c) für den Fall, daß der Fleck aus dem Zentrum einer Spur auf der Bildplatte in die -x-Rich tung verschoben ist. Die Variation der Lichtverteilung aufgrund eines Spurfehlers ist sowohl in der radialen als auch der tangentialen Richtung aufgrund der Ver schiebung des Fleckes asymmetrisch.

Ein Spurfehler wird daher erfaßt, wenn die beiden Be reiche des Fotodetektors 7 durch eine Grenzlinie in der tangentialen Richtung unterteilt werden, wie dies üb lich ist, oder wenn die beiden Bereiche des Fotodetek tors 7 durch eine in radialer Richtung verlaufende Grenzlinie unterteilt sind, wie dies in der vorliegen den Ausführungsform der Fall ist.

Das Spurfehlersignal TE wird dadurch erhalten, daß man die Ausgangssignale der beiden Bereiche A und B in der folgenden Weise subtrahiert:

TE = B - A.

In den Fällen der Fig. 3(a), (b) und (c) erhält man für das Spurfehlersignal TE

(a) TE = B - A < 0
(b) TE = B - A = 0
(c) TE = B - A < 0.

Wenn die beiden Bereiche des Fotodetektors 7 durch eine in radialer Richtung verlaufende Grenzlinie unterteilt sind, enthält das Spurfehlersignal TE selbst dann, wenn der Spiegel 3 geneigt ist, so daß der Fleck auf der Bildplatte verschoben wird, keine Versetzung, da der Fleck auf dem Fotodetektor sich entlang der Grenzlinie in radialer Richtung bewegt.

Fig. 4 zeigt eine grafische Darstellung, welche die Ortsbeziehung zwischen dem Fleck und den Spuren auf der Platte und ihre Entsprechung mit dem Spurfehlersignal wiedergibt. Auf der horizontalen Achse ist der Betrag der Verschiebung des Fleckmittelpunktes auf der Bild platte aus dem Zentrum einer Spur aufgetragen, während auf der vertikalen Achse der ausgegebene Spurfehler aufgetragen ist. Die durchgezogene Linie in der Figur zeigt das Spurfehlersignal, wenn der Lichtstrahl von der Bildplatte vertikal reflektiert wird. Die gestri chelte Linie zeigt den Spurfehler, wenn der Spiegel 3 geneigt ist, so daß sich der Fleck auf der Bildplatte um 10 Spuren von der vorgenannten Spur verschiebt.

Selbst wenn die Bildplatte und der Lichtstrahl relativ zueinander geneigt sind, tritt praktisch keine Verände rung des Spurfehlersignals auf, so daß der Fleck auf der Bildplatte akkurat im Zentrum der Spur positioniert werden kann, indem der Spiegel 3 in Richtung des in der Figur eingezeichneten Fehlers in Abhängigkeit des er mittelten Spurfehlersignals gedreht wird.

In der obigen Beschreibung wurde nur der Fall betrach tet, in dem ein Fotodetektor vorgesehen ist, um das Spurfehlersignal zu erfassen. Es ist jedoch im Stand der Technik bekannt, daß in einem tatsächlichen Gerät auch ein Fotodetektor zur Erzeugung eines Aufzeich nungssignals und ein Fotodetektor zum Erfassen eines Fokussierungsfehlersignales vorgesehen sein können.

Ferner wird der theoretische Hintergrund für die Bezie hung zwischen dem Abbildungsfehler des einfallenden Lichtstrahles und der Intensitätsverteilung auf dem Fo todetektor später noch erläutert.

Ausführungsbeispiel 2

Die Fig. 5 bis 7 zeigen ein zweites Ausführungsbeispiel der Erfindung, in welchem die Erfindung auf ein Infor mationsaufzeichnungs- und -wiedergabegerät unter Ver wendung einer magnetooptischen Platte angewandt ist.

Um bei dieser Ausführungsform den Kopf leichter zu ma chen und damit den Zugriff zu beschleunigen, sind die Objektivlinse, der Spiegel und eine Betätigungseinrich tung, welche die Objektivlinse zum Fokussieren in Rich tung der optischen Achse, d. h. in z-Richtung verstellt, in einem Kopf angeordnet. Der Lichtfleck wird in radialer Richtung durch einen Galvanometerspiegel bewegt, der in einem festen Teil des Gerätes angeordnet ist.

Bei dieser Anordnung ist jedoch der Abstand zwischen dem Spiegel und der optischen Platte größer als das Ge rät gemäß der Ausführung 1. Wenn der Spiegel geneigt ist, so daß sich der Fleck auf der optischen Platte in radialer Richtung verschiebt, wird der Fleck auf dem Fotodetektor weiter als bei dem Gerät gemäß der Ausfüh rungsform 1 versetzt. Das Ausschalten einer solchen Versetzung ist daher wichtiger als bei einem Gerät ge mäß dem ersten Ausführungsbeispiel.

Bei dem Gerät der vorliegenden Ausführungsform läßt man einen Lichtstrahl, der einen durch eine ungerade Funk tion dargestellten Wellenfrontabbildungsfehler hat, auf eine optische Platte fallen. Spurfehlersignale und Fo kussierungsfehlersignale werden von zwei Sätzen von Fo todetektoren erfaßt, deren Lichtempfangsflächen durch eine Grenzlinie, welche der radialen Richtung der opti schen Platte entspricht, in drei Bereiche unterteilt sind.

Der Gesamtaufbau des optischen Systems wird nun zu nächst beschrieben.

Bei diesem in Fig. 5 dargestellten optischen System sind eine Lichtquelleneinheit 10, ein optisches Objek tivsystem 20, ein Prismenblock 30 und ein optisches Si gnaldetektorsystem 40 vorgesehen. Die Lichtquellenein heit 10 umfaßt einen Halbleiterlaser 11, der einen di vergenten Lichtstrahl erzeugt, eine planparallele Plat te 100, die einen durch eine ungerade Funktion darge stellten Wellenfrontabbildungsfehler auf den Laser lichtstrahl überträgt, eine Sammellinse 12 zum Umwan deln des divergenten Lichtbündels in ein paralleles Lichtbündel, zwei Anamorphotprismen 13, 14 zum Formen der Querschnittsform des Lichtbündels, und einen Galva nometerspiegel 15. Die Lichtquelleneinheit 10 erzeugt ein paralleles Strahlbündel mit kreisförmigem Quer schnitt. Der Galvanometerspiegel 15 kann sich frei dre hen, um den Lichtfleck auf der optischen Platte in ra dialer Richtung zu verschieben.

Das optische Objektivsystem 20 umfaßt eine Objektivlin se 21, die einen Lichtstrahl auf die Signalaufzeich nungsfläche einer magnetooptischen Platte MOD sammelt, und einen Spiegel 22. Die Objektivlinse 21 und der Spiegel 22 sind in einem nicht dargestellten Kopf ange ordnet, der in radialer Richtung der magnetooptischen Platte MOD frei beweglich ist. Auf der anderen Seite sind die Lichtquelleneinheit 10, der Prismenblock 30 und das optische Signaldetektorsystem 40 fest instal liert. Ferner ist die Objektivlinse 21 an einer Betäti gungseinrichtung in einem Kopf so angeordnet, daß sie in z-Richtung, d. h. in Richtung der optischen Achse verstellt werden kann.

Der Prismenblock 30 umfaßt einen ersten Block 31 mit zwei Halbspiegelflächen 31a, 31b und einen zweiten Block 33 mit einer polarisierenden Trennfläche 33a und einer vollreflektierenden Fläche 33b, wobei der zweite Block 33 mit dem ersten Block 31 durch eine Halbwellen platte 32 verbunden ist.

Der aus der Lichtquelleneinheit 10 austretende Licht strahl wird von der zweiten Halbspiegelfläche 31b teil weise reflektiert und von einer Sammellinse 34 auf ei nen Fotodetektor 35 zur automatischen Regelung des Aus ganges des Halbleiterlasers gesammelt.

Ein Teil des von der magnetooptischen Platte MOD re flektierten Lichtstrahles wird ebenfalls von der zwei ten Halbspiegelfläche 31b reflektiert, wobei seine Po larisationsrichtung von der Halbwellenplatte 32 um 45° gedreht wird. Eine P-Komponente tritt durch die Polari sationstrennfläche 33a und dann durch eine Sammellinse 41a, welche die Strahlkomponente auf einem ersten Foto detektor 42a zum Erfassen eines magnetisch aufgezeich neten Signales sammelt.

Eine S-Komponente andererseits wird von der Polarisa tionstrennfläche 33a und der voll reflektierenden Flä che 33b reflektiert und durchläuft eine Sammellinse 41b, welche ihn auf einen zweiten Fotodetektor 42b zum Erfassen eines magnetisch aufgezeichneten Signales sam melt.

Da die Polarisationsrichtung des auf die magnetoopti sche Platte MOD einfallenden Laserstrahls durch den magnetischen Kerr-Effekt entsprechend der Magnetisie rungsrichtung der optischen Platte an der Stelle ge dreht wird, wo der Fleck ein Bild formt, kann das auf gezeichnete Signal gelesen werden, indem man den Laser strahl um 45° in der oben beschriebenen Weise dreht und dabei in zwei Komponenten P und S aufteilt, und indem man diese Komponenten mittels der getrennten Fotodetek toren 42a, 42b erfaßt, um so die Intensitätsdifferenz zwischen ihnen zu bestimmen.

Der Teil des von der optischen Platte reflektierten Lichtes, welcher durch den zweiten Halbspiegel 31b hin durchgetreten ist, wird von der ersten Halbspiegelflä che 31a reflektiert, von der Sammellinse 43 gebündelt, von dem Strahlteiler 44 geteilt und dann von zwei Foto detektoren 45, 46 erfaßt, um ein Fehlersignal zu ermit teln. Die Fotodetektoren 45, 46 sind, wie Fig. 6 zeigt, auf beiden Seiten eines Punktes P angeordnet, der sich in einer konjugierten Position zu der magnetooptischen Platte MOD befindet, wenn das System fokussiert ist. Ferner haben diese Fotodetektoren 45, 46 entsprechend der Darstellung in Fig. 7 jeweils drei Bereiche A, B und C bzw. D, E, F, die durch eine Grenzlinie geteilt sind, die einem Radius der optischen Platte entspricht, auf der der Lichtfleck liegt.

Wenn der Abstand zwischen der Objektivlinse 21 und der magnetooptischen Platte MOD variiert, wie dies in den Fig. 6(a), 6(b) und 6(c) dargestellt ist, variiert auch die Größe des Lichtfleckes auf jedem Fotodetektor, wie dies die Fig. 7(a), 7(b) und 7(c) zeigen. Die Fig. 6(a) zeigt die Situation, wenn die optische Platte zu weit von der Objektivlinse entfernt ist. Fig. 6(b) zeigt die Situation, wenn das System fokussiert ist, und Fig. 6(c) zeigt die Situation, wenn die optische Platte zu nahe an der Objektivlinse ist.

Ein Fokussierungsfehlersignal FE kann daher dadurch er mittelt werden, daß man die Ausgangssignale der Licht empfangsbereiche A, B, C, D, E und F entsprechend der folgenden Gleichung berechnet:

FE = (A + C - B) - (D + F - E).

Eine nicht dargestellte Fokussierungseinrichtung ver stellt die Objektivlinse 21 in der Richtung z aufgrund dieses Signales, so daß der Brennpunkt der Linse auf der magnetooptischen Platte liegt.

Die Intensitätsverteilung eines Fleckes, der auf den Fotodetektoren 45, 46 gebildet wird, ist sowohl in ra dialer Richtung als auch in tangentialer Richtung der optischen Platte asymmetrisch aufgrund eines Spurfeh lers wie bei der ersten Ausführungsform. Ein Spurfeh lersignal TE kann daher ermittelt werden, indem man das Ausgangssignal der Fotodetektoreinheit entsprechend der folgenden Gleichung berechnet:

TE = (A + F) - (C + D).

Da der Fleck auf dem Fotodetektor nur in einer der ra dialen Richtung der optischen Platte entsprechenden Richtung verschoben wird, kann selbst dann, wenn der Galvanometerspiegel so gedreht wird, daß der Licht strahl geneigt auf die magnetooptische Platte fällt, ein genaues Spurfehlersignal ermittelt und ein Spurfeh ler aus dieser Beziehung genau berechnet werden.

Der Galvanometerspiegel 15 wird aufgrund des Spurfeh lersignals so gesteuert, daß der Mittelpunkt des Fleckes auf der optischen Platte mit dem Zentrum einer Spur zusammenfällt.

Bei dieser Ausführungsform wurden zum Erfassen magne tisch aufgezeichneter Signale die Fotodetektoren 42a, 42b verwendet, die getrennt von den zum Erfassen eines Fehlers verwendeten Fotodetektoren 45, 46 sind. Durch Einsetzen einer Halbwellenplatte zwischen die Sammel linse 43 und den Strahlteiler 44 und durch Verwendung eines Polarisationsstrahlteilers, wie beispielsweise des Strahlteilers 44, kann aber auch ein magnetisch aufgezeichnetes Signal MO unter Verwendung der der Feh lererfassung dienenden Fotodetektoren 45, 46 entspre chend der folgenden Beziehung ermittelt werden:

MO = (A + E + C) - (D + E + F).

Im folgenden werden nun andere Mittel zum Erzeugen ei nes Wellenfrontabbildungsfehlers beschrieben, der eine ungerade Funktion ist. Diese Mittel können individuell zum Erzeugen eines Wellenfrontabbildungsfehlers anstel le der in Fig. 5 dargestellten planparallelen Platte 100 verwendet werden. Jedoch kann auch eine Mehrzahl solcher Mittel in Kombination verwendet werden.

Die Fig. 8 bis 10 zeigen schematische Diagramme zur Darstellung einer Einrichtung 80 zur Erzeugung eines Astigmatismus, die zwischen den Galvanometerspiegel 15 und den Prismenblock 30 eingesetzt und in Fig. 5 ge strichelt dargestellt ist.

Die Astigmatismus erzeugende Vorrichtung 80 ist an eine Blattfeder 81 angeklebt. Diese ist mittels zweier Schrauben 82, 83 an einem Halter 84 befestigt. Der Halter 84 hat eine zylindrische Achse und wird in einer in einer Basis 85 vorgesehenen Nut mittels einer Halte platte 86 gehalten.

Mit der Schraube 82 kann die Deformation der Astigma tismus erzeugenden Einrichtung 80 eingestellt werden. Wenn die Schraube 82 angezogen wird, biegt sich die Blattfeder 81 und bewirkt somit, daß sich auch die Oberfläche der Astigmatismus erzeugenden Einrichtung 80 so krümmt, daß sie einen vorgegebenen Wellenfrontabbil dungsfehler erzeugt. Wenn ferner die Halterungsplatte 86 gelockert und der Halter 84 um die optische Achse gedreht wird, kann die Richtung des erzeugten Abbil dungsfehlers verändert werden.

Indem man so die Krümmung und den Drehwinkel der den Astigmatismus erzeugenden Einrichtung 80 einstellt, kann ein Wellenfrontabbildungsfehler erzeugt werden, der eine ungerade Funktion ist.

Im folgenden wird die Auswirkung der Formen der Spiegel 15, 22 auf die Wellenfront beschrieben.

Die Fig. 11 und 12 betreffen einen Mechanismus zum Hal ten der Spiegel, d. h. zum wahlweisen Verändern des Be trages des von den Spiegeln erzeugten Wellenfrontabbil dungsfehlers.

Der Spiegel 15 ist mittels einer Federklammer 92 an einem Halter 91 befestigt, der einen axialen Ab schnitt 90 aufweist. Wie Fig. 12 zeigt, ist der axiale Abschnitt 90 in einer Nut 93a angeordnet, die in einer Basis 93 vorgesehen ist. Der axiale Abschnitt 90 wird dabei durch eine im oberen Teil der Figur dargestellte flache Feder 94 in seiner Stellung festgehalten, die an der Basis 93 angeschraubt ist.

Eine der Schrauben 95, die in den Halter 91 einge schraubt sind, ist eine Verformungseinstellschraube. Durch Anziehen dieser Schraube 95 kann die Spannung an dem Spiegel 15 variiert und eine Verformung seiner Oberfläche erreicht werden. Da ferner die Richtung der von der Schraube 95 bewirkten Verformung festliegt, wird der Halter 91 gedreht, wenn diese Richtung geän dert werden soll.

Fig. 13 zeigt ein Ausführungsbeispiel, bei welchem der Spiegel 15 an dem Halter 91 angeklebt ist. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird eine Verformung der Oberfläche und ein Wellenfrontabbildungsfehler dadurch erzeugt, daß man lokal die Menge des Klebstoffes bei dem Befe stigungsprozeß variiert.

Fig. 14 betrifft einen Mechanismus zur Halterung von Anamorphotprismen 13 oder 14. Das Prisma 14 ist in ei ner Nut 93b einer Y-förmigen Basis 93 mittels eines halbkreisförmigen Halters 110 gehalten. Ein Ende des Halters 110 ist elastisch mittels einer Blattfeder 111 befestigt, während das andere Ende an der Basis 93 mit tels einer Schraube 112 über eine Einstellplatte 110a befestigt ist, die mit dem Halter 110 fest verbunden ist. Durch Drehung dieser Schraube 112 wird der Halter 110 gedreht, so daß das Prisma 14 dadurch in eine Rich tung um die optische Achse gedreht werden kann. Ferner kann durch Veränderung des Abstandes zwischen dem Halb leiterlaser 11 und der Sammellinse 12 ein Astigmatismus in der Drehrichtung korrigiert werden.

Im folgenden wird die Auswirkung des Abbildungsfehlers des einfallenden Lichtstrahles auf die Intensitätsver teilung des reflektierten Lichtes analysiert. Zur Durchführung dieser Analyse werden folgende fünf Annah men getroffen:

Die erste Annahme besteht darin, daß eine Fourier-Ana lyse angewendet werden kann.

Die zweite Annahme besteht darin, daß die Intensität ermittelt werden kann allein durch Analyse der Beu gungsbilder nullter Ordnung und erster Ordnung und daß das gebeugte Licht höherer Ordnungen vernachlässigt werden kann. Die Menge des gebeugten Lichtes in den Be reichen höherer Ordnung ist sehr viel geringer als das gebeugte Licht erster Ordnung und da praktisch nichts von diesem Licht zur Pupille des tatsächlichen opti schen Systems zurückkehrt, ist diese Annahme für eine vernünftige Analyse gerechtfertigt.

Die dritte Annahme besteht darin, daß eine magnetoopti sche Platte als ein Phasenbeugungsgitter mit eindimen sionaler Symmetrie betrachtet werden kann. Dies bein haltet, daß die Beugungswirksamkeit für die erste Ord nung in Plus-Richtung und Minus-Richtung gleich ist und daß auch die Phasendifferenz zwischen dem gebeugten Licht erster Ordnung und dem gebeugten Licht nullter Ordnung in Plus-Richtung und Minus-Richtung die gleiche ist, wenn der Lichtfleck auf der Platte im Spurzentrum liegt.

Die vierte Annahme besteht darin, daß das rückkehrende Licht durch vier Punkte auf der Pupille der Objektiv linse dargestellt werden kann, die in der Fig. 17 mit P1, P2, P3 und P4 bezeichnet sind. Die Punkte P1 und P2 sind wichtiger für das gebeugte Licht nullter Ordnung und plus-erster Ordnung, während die Punkte P3 und P4 wichtiger sind für das gebeugte Licht nullter Ordnung und minus-erster Ordnung. Diese Punkte sind symmetrisch bezüglich der x- und y-Achsen angeordnet, welche der Tangentialrichtung bzw. Radialrichtung der optischen Platte entsprechen.

Die fünfte Annahme besteht darin, daß die Intensitäts verteilung des einfallenden Lichtstrahles konstant ist.

Wenn diese Annahmen richtig sind und wenn die Amplitude des Beugungslichtes nullter Ordnung von der optischen Platte mit a, die Amplitude des Beugungslichtes ± er ster Ordnung von der Platte mit b, die Phasendifferenz zwischen dem Beugungslicht ± erster Ordnung und nullter Ordnung mit P, die Position des Strahles bezüglich des Spurzentrums mit x bei Normung des Abstandes zwischen zwei Spurzentren auf 2 π und der Betrag des Wellen frontabbildungsfehlers an Punkten (X, Y) auf der Pupil le der Objektivlinse mit W (X, Y) bezeichnet wird, wer den die Amplituden A₁, A₀ und A_-1 des Beugungslichtes plus-erster, nullter und minus-erster Ordnung darge stellt durch:

A₁ = be^{1[P+x-W(X-d, Y)]}
Beugung erster Ordnung
A₀ = ae^{1W(X, Y)}	Beugung nullter Ordnung
A₁ = be^{1[P-x+W(X+d, Y)]}	Beugung erster Ordnung

In diesen Beziehungen bezeichnet d den Abstand von der optischen Achse zum Zentrum der Beugungsmaxima ± erster Ordnung auf der Pupille der Objektivlinse.

Wenn ferner die Wellenfrontabbildungsfehler an den Punkten P1, P2, P3 und P4 mit W1, W2, W3 bzw. W4 be zeichnet werden, werden die Amplitude AP1 und die In tensität I1 des zum Punkt P1 zurückgekehrten Lichtes und die Amplitude AP2 und die Intensität I2 des am Punkt P2 zurückgekehrten Lichtes durch die folgenden Beziehungen gegeben:

AP1 = ae^1W1 + be^1(P+x+W3)
I1 = a² + b² + 2ab·cos(P + x + W3 - W1)
AP2 = ae^1W2 + be^1(P+x+W4)
I2 = a² + b² + 2ab·cos(P + x + W4 - W2).

In ähnlicher Weise werden die Amplitude AP3 und die In tensität I3 des am Punkt P3 zurückgekehrten Lichtes und die Amplitude AP4 und die Intensität I4 des am Punkt P4 zurückgekehrten Lichtes durch die Beziehungen gegeben:

AP3 = ae^1W3 + be^1(P-x+W1)
I3 = a² + b² + 2ab·cos(P - x + W1 - W3)
AP4 = ae^1W4 + be^1(P-x+W2)
I4 = aa + b² + 2ab·cos(P - x + W2 - W4).

Abbildungsfehler relativ niedriger Ordnung können in die folgenden vier Arten abhängig von ihrer Symmetrie bezüglich der X- und Y-Achsen eingeordnet werden.

Die erste Art sind Parameter gerader Funktion bezüglich der X- und Y-Achsen wie beispielsweise eine sphärische Abweichung und Astigmatismus, die in den X-, Y-Richtun gen auf der Pupille erzeugt werden (ausgezogen in den x-, y-Richtungen abhängig von den Fokussierungspunkten auf der optischen Platte).

Die zweite Art sind Parameter ungerader Funktion bezüg lich der X-Achse und Parameter gerader Funktionen be züglich der Y-Achse, wie beispielsweise die Neigung der Wellenfront, die in der Y-Achse auf der Pupille auf tritt (Fokussierungspunkt auf der optischen Platte be wegt sich in y-Richtung), und ein Komafehler, der in der Y-Richtung auftritt (Strichbildung in der y-Rich tung auf der optischen Platte).

Die dritte Art sind Parameter gerader Funktion bezüg lich der X-Achse und ungerader Funktion bezüglich der Y-Achse, wie beispielsweise die Neigung der Wellen front, die in der X-Richtung auf der Pupille auftritt (der Fokussierungspunkt bewegt sich auf der optischen Platte in der x-Richtung), und ein Komafehler, der in der X-Richtung auftritt (Strichbildung in der x-Rich tung auf der optischen Platte).

Die vierte Art sind Parameter ungerader Funktion bezüg lich der X-Achse und der Y-Achse, wie beispielsweise Astigmatismus, der in der ±45°-Richtung bezüglich der X- und Y-Richtungen auf der Pupille auftritt (ausgezo gen in der x-, y-Richtung abhängig von der Lage der Fo kussierungspunkte auf der optischen Platte).

Im folgenden wird die Wirkung dieser Abbildungsfehler auf die Signalerfassung beschrieben. Wie in Fig. 18 dargestellt ist, ist die Lichtdetektorfläche in vier Bereiche A, B, C, D unterteilt mit einer Grenzlinie Y′ in tangentialer Richtung der optischen Achse und einer Grenzlinie X′ in radialer Richtung. Die Intensitäten dieser Bereiche auf dem Fotodetektor entsprechen den Intensitäten I1, I2, I3 und I4 auf der Pupille der Ob jektivlinse. Das Differenzsignal E1 der durch die Grenzlinie Y′ in tangentialer Richtung geteilten Berei che (Spurfehlersignal, das durch das übliche Gegentakt verfahren erhalten wird), das Differenzsignal E2 der durch die Grenzlinie X′ in radialer Richtung unterteil ten Bereiche und das Fokussierungsfehlersignal FE, das mit der Astigmatismusmethode erhalten wird, sind je weils durch die folgenden Gleichungen gegeben:

E1 = (I1 + I2) - (I3 + I4)
E2 = (I1 + 13) - (I2 + I4)
FE1 = (I1 + I4) - (I2 + I3).

Wenn ein Abbildungsfehler auftritt, der eine gerade Funktion bezüglich der X- und Y-Achse ist, gilt W1 = W2 = W3 = W4 aufgrund der Symmetrie, und die In tensitäten an jedem Punkt sind gegeben durch:

I1 = I2 = a² + b² + 2ab·cos(P + x)
I3 = I4 = a² + b² + 2ab·cos(P - x).

Die Intensität ist daher keine Funktion des Abbildungs fehlers und die Differenzsignale werden gegeben durch:

E1 = -8ab·sin(x)·sin(P)
E2 = 0
FE = 0.

Das durch das Gegentaktverfahren erhaltene Spurfehler signal wird daher durch Abbildungsfehler nicht berührt und das Differenzsignal E2 und das Fokussierungsfehler signal FE werden nicht erzeugt.

Wenn ein Abbildungsfehler auftritt, der eine ungerade Funktion bezüglich der X-Achse und eine gerade Funktion bezüglich der Y-Achse ist, gilt W1 = -W2 = W3 = -W4 aufgrund der Symmetrie, und für die Intensitäten an je dem Punkt erhält man:

I1 = I2 = a² = b² + 2ab·cos(P + x)
I3 = 14 = a² = b² + 2ab·cos(P - x).

Wie beim vorhergehenden Beispiel ist daher die Intensi tät keine Funktion des Abbildungsfehlers und die Diffe renzsignale werden durch folgende Gleichung gegeben:

E1 = -8ab·sin(x)·sin(p)
E2 = 0
FE = 0.

Wenn ein Abbildungsfehler auftritt, der eine gerade Funktion bezüglich der X-Achse und eine ungerade Funk tion bezüglich der Y-Achse ist, gilt W1 = W2 = -W3 = -W4 (= W) aufgrund der Symmetrie und für die Intensitäten an jedem Punkt erhält man folgende Gleichungen:

I1 = I2 = a² + b² + 2ab·cos(P + x - 2W)
I3 = I4 = a + b² + 2ab·cos(P - x + 2W).

Die Intensität ist daher eine Funktion des Abbildungs fehlers und die Differenzsignale werden gegeben durch:

E1 = -8ab·sin(x - 2W)·sin(P)
E2 = 0
FE = 0.

Das durch das Gegentaktverfahren erhaltene Spurfehler signal wird somit von dem Abbildungsfehler berührt, so daß seine Phase um 2W verschoben wird. Dagegen werden das Differenzsignal E2 und das Fokussierungsfehlersi gnal nicht erzeugt.

Wenn ein Abbildungsfehler auftritt, der eine ungerade Funktion bezüglich der X-Achse und der Y-Achse ist, gilt W1 = -W2 = W3 = -W4 (= W) aufgrund der Symmetrie und für die Intensitäten an jedem Punkt erhält man fol gende Gleichung:

I1 = a² + b² + 2ab·cos(P + x - 2W)
I2 = a² + b² + 2ab·cos(P - x + 2W)
I3 = a² + b² + 2ab·cos(P - x + 2W)
I4 = a² + b² + 2ab·cos(P - x - 2W).

Die Intensität ist daher eine Funktion des Abbildungs fehlers und die Differenzsignale sind gegeben durch:

E1 = -8ab·sin(x)·sin(P)·cos(2W)
E2 = 8ab·sin(x)·cos(P)·sin(2W)
FE = 8ab·cos(x)·sin(P)·sin(2W).

Wenn der Fleck auf der optischen Platte sich aus dem Zentrum einer Spur heraus bewegt, nimmt der durch das Gegentaktverfahren erhaltene Spurfehler El proportional zu cos 2W aufgrund des Effektes des Abbildungsfehlers ab. Das Differenzsignal E2 wächst proportional sin 2W und das Fokussierungsfehlersignal FE, das durch das Astigmatismusverfahren erhalten wird, wächst proportio nal zu sin 2W. Die Phase des Differenzsignals E2 ist dieselbe wie die des Signales E1, während die Phase des Fokussierungsfehlersignals um 90° gegenüber jener des Signales E1 versetzt ist.

Aus den oben dargestellten analytischen Resultaten er kennt man, daß ein Differenzsignal E2 nur ausgegeben wird, wenn der Lichtstrahl einen Abbildungsfehler hat, der eine ungerade Funktion bezüglich der X-Achse und der Y-Achse ist, und daß die anderen Abbildungsfehler kein Signal erzeugen. Indem man dem einfallenden Licht strahl einen Abbildungsfehler gibt, der eine ungerade Funktion sowohl bezüglich der X-Achse als auch der Y- Achse ist, ist es möglich, einen Spurfehler aufgrund des Differenzsignals E2 zu erfassen.

Wenn aber der Lichtstrahl einen Abbildungsfehler hat, der eine ungerade Funktion bezüglich der X-Achse und der Y-Achse ist, wird dem Fokussierungsfehlersignal FE ein Rauschen überlagert, wenn der Fleck horizontal über die Spuren bewegt wird. In der vorliegenden Beschrei bung wird das Rauschen definiert als F/T (Fokus/Spur) Übersprechen. Wenn ein F/T-Übersprechen auftritt, wird ein Fokussierungsfehlersignal erzeugt, als ob die Ob jektivlinse defokussiert wäre, obwohl sie in Wirklich keit fokussiert ist. Wenn also der Fleck horizontal über die Spuren wandert, wird die Objektivlinse automa tisch durch den Stellmechanismus in Richtung der opti schen Achse verstellt, obwohl sie eigentlich bereits fokussiert war.

Um dieses F/T-Übersprechen zu vermeiden, kann entweder der Fokussierungsfehler durch ein anderes Verfahren als das Astigmatismusverfahren erfaßt werden oder es wird eine optische Platte so ausgebildet, daß P = N (wobei N eine ganze Zahl ist).

Im ersteren Fall gibt es ein Verfahren zur Ermittlung des Fokussierungsfehlers aus der Strahlbreite wie in der oben beschriebenen zweiten Ausführungsform. Bei diesem Verfahren tritt ein F/T-Übersprechen nicht auf, selbst wenn der Lichtstrahl einen Wellenfrontabbil dungsfehler hat, so daß ein Fokussierungsfehlersignal korrekt und genau erfaßt werden kann.

Im folgenden werden zwei Beispiele optischer Platten beschrieben, welche die Bedingung P = Nπ (N = eine ganze Zahl) erfüllen. Wenn P = Nπ, tritt F/T-Übersprechen nicht auf selbst wenn ein Fokussierungsfehler durch das Astigmatismusverfahren entdeckt wird.

Wie in Fig. 15 dargestellt ist, umfaßt eine optische Platte D eine transparente Kunststoffschicht 150 und eine Aufzeichnungsschicht 200. Ein Lichtstrahl fällt durch die transparente Schicht 150 in dem oberen Teil der Figur ein und wird von der Aufzeichnungsschicht 200 reflektiert. Spuren 201 sind mit einem vorgegebenen Ab stand voneinander in der Aufzeichnungsschicht vorgese hen, wobei der Steg 202 zwischen den Spuren 201 Informa tionsaufzeichnungsspuren bildet. Die derzeit üblicher weise verwendeten Optischen Platten haben einen Spurab stand (Abstand zwischen den Zentren benachbarter Spuren von 1,6 µm.

Wenn, wie in Fig. 15 dargestellt ist, die Querschnitts form der Spuren 201 rechteckig ist, wobei die Basislän ge des Rechtecks 0,3 µm beträgt, und der Brechungsindex der transparenten Schicht 150 mit n bezeichnet ist, er hält man P = Nπ, wenn die Tiefe H der Spuren λ/4n ist. Gilt λ = 780 nm und n = 1,59, erhält man H = 0,12 µm.

Wenn gemäß Fig. 16 die Querschnittsform der Spuren 201 dreieckförmig ist, wobei die Basislänge des Dreiecks 0,3 µm beträgt, erhält man P = Nπ, wenn die Tiefe H 1,83 λ/4n beträgt. Mit λ = 780 nm und n = 1,59, er hält man H = 0,22 µm.

Claims

1. Bildplattengerät, mit einem optischen System, das ein Strahlenbündel erzeugt und es auf eine Spur einer opti schen Platte (MOD) richtet, mit einer in mindestens zwei Detektorbereiche (A, B) durch eine Grenzlinie unterteilten Detektoreinheit (7, 45), der das von der Platte (MOD) re flektierte Strahlenbündel zugeführt ist, und mit einer Steuereinheit, die aus der Differenz der von den zwei De tektorbereichen (A, B) der Detektoreinheit (7, 45) erzeug ten Signale ein Spurfehlersignal ermittelt, dadurch ge kennzeichnet, daß das optische System eine Strahlaberra tionseinrichtung (9, 15, 80, 100) enthält, die das Strahlenbündel mit einer Wellenfrontaberration mit ungerader Funktion bezüglich zueinander senkrecht stehender Achsen in radialer (X) und tangentialer (Y) Richtung der optischen Platte (MOD) beaufschlagt, und daß die die Detektorbereiche (A, B) trennende Grenzlinie in radialer Richtung (X) verläuft.

2. Bildplattengerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das optische System einen Halbleiterlaser (1, 11) ent hält, der ein divergierendes Strahlenbündel erzeugt, daß eine Sammellinse (2, 12) vorgesehen ist, die das divergen de Strahlenbündel in ein paralleles Strahlenbündel wan delt, und daß als Strahlaberrationseinrichtung eine planparallele Platte (9, 100) zwischen dem Halbleiterlaser (1, 11) und der Sammellinse (2, 12) angeordnet ist.

3. Bildplattengerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn zeichnet, daß als Strahlaberrationseinrichtung eine planparallele Platte (80) oder ein Spiegel (15) vorgesehen ist, deren jeweilige Oberfläche zum Einstellen einer die Wellenfrontaberration erzeugenden Wölbung vorgespannt ist.