DE3831566C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Schattenwurfverfahren zum
Messen der Umrißform eines Gegenstands.
Aus der US 38 52 579 ist ein Verfahren bekannt, bei dem derjenige
Zentrumspunkt eines Baumstamms bestimmt werden soll,
bei dem bei einem Schälvorgang eine maximale Furniermenge erhalten
werden kann. Zu diesem Zweck wird eine Infrarot-Entfernungsmessung
verwendet.
Aus der DE 29 26 140 ist ein Verfahren zum Messen der Umrißform
eines Gegenstands bekannt, bei dem eine Abschattung von
Meß-Lichtstrahlen durch den zu erfassenden Gegenstand ermittelt
wird. Ein derartiges Verfahren wird "Schattenwurfverfahren"
genannt. Bei diesem bekannten Verfahren wird ein Gegenstand
in Form eines zu überprüfenden Werkstücks auf einem
Drehtisch plaziert. Unter gleichzeitiger Drehung des Drehtisches
werden auf einen seitlichen Bereich des Werkstücks parallele
Lichtstrahlen projiziert, so daß mittels einer Lichtempfangseinrichtung
die momentane Größe der jeweiligen Abschattung
der parallelen Lichtstrahlen durch das Werkstück
als Funktion eines jeweilige Drehwinkels des Drehtisches erfaßt
werden kann. Durch Vergleich der erfaßten Funktionswerte
mit einer Soll-Umrißform des betreffenden Werkstücks kann
eine Aussage dahingehend erfolgen, ob das überprüfte Werkstück
jeweils gewünschte Fertigungstoleranzen einhält.
Gemäß der Darstellung in Fig. 7 und 8 hat eine gemäß dieser Druckschrift bekannte Einrichtung
für das Messen der Umrißform von Gegenständen einen Drehtisch
6, auf den ein Gegenstand 5 als Meßobjekt aufgesetzt
wird. Der Drehtisch 6 wird mittels eines Motors 9 über einen Getriebemechanismus
10 um eine Drehachse 8 gedreht. Die Einrichtung hat weiter einen
Meßgeber 11, mit dem der Drehwinkel des Drehtisches erfaßt
wird, um ein Drehwinkelsignal zu erzeugen, einen Randdetektor
mit einer Parallelstrahlen-Projektionseinrichtung
12 für das Projizieren paralleler Lichtstrahlen auf den
Gegenstand und mit einer Parallelstrahlen-Empfangseinrichtung
13, die den von dem Gegenstand nicht abgeschirmten
Teil der parallelen Lichtstrahlen
aufnimmt, um ein Randlagesignal zu erzeugen, einen Speicher
16 zum Speichern eines Soll-Randlagesignals, das einem
Normalgegenstand mit einer vorgegebenen Umrißform entspricht,
und eine Rechenschaltung 15 für die Aufnahme
des Drehwinkelsignals usw. Die Projektionseinrichtung
und die Empfangseinrichtung für die parallelen Lichtstrahlen
sind an den einander gegenüberliegenden Seiten des Drehtisches
angeordnet. Das Randlagesignal und das Soll-Randlagesignal
ergeben ein Signal, das die Abweichung des
Meßobjekts vom Soll- bzw. Normalgegenstand hinsichtlich der
Umrißform wiedergibt. Mit 17 ist ein Drehungskodierer an
der Rechenschaltung 15 bezeichnet. Der Gegenstand wird
an der Drehscheibe mittels einer Führungsplatte 7 geführt.
Da jedoch diese herkömmliche Meßeinrichtung für zylindrische
oder elliptisch walzenförmige Gegenstände ausgebildet
ist, ist es erforderlich, daß der Mittelpunkt der den
Außenumfang bildenden zylindrischen oder elliptisch walzenförmigen
Fläche auf einer X-Achse oder einer Y-Achse liegt.
Daher können mit dieser Meßeinrichtung
keine genauen Messungen an Gegenständen vorgenommen werden,
bei denen gemäß der Darstellung in Fig. 3 einige von Mittelpunkten
O₁ bis O₇ gegenüber der X-Achse und der Y-Achse
versetzt sind. D. h., bei dem Verfahren gemäß diesem
Stand der Technik wird bei der Drehung des Drehtisches
ein Drehwinkel des Drehtisches ermittelt, bei dem eine
Ortskurve der Stellen der Unterbrechung der parallelen
Lichtstrahlen einen Spitzenwert zeigt, und es wird eine
Abweichung hinsichtlich einer Winkelversetzung des Gegenstands
an dem Drehtisch korrigiert. Bei dem Gegenstand
mit der in Fig. 1 gezeigten Form ändert sich die Kurve
nur leicht, so daß die Lage des Spitzenwertes nicht genau
erfaßt werden kann.
Mit anderen Worten treten dann erhebliche Probleme auf, wenn
der zu prüfende Gegenstand eine stark unregelmäßige bzw.
asymmetrische Form zeigt (Fig. 3). In einem solchen Fall ist
es kaum möglich, beim Auflegen des Gegenstands auf den Drehtisch
auch nur annähernd einen geeigneten Bezug zu den beiden
Achsen bzw. zum Drehmittelpunkt zu erreichen. Folglich sind
die hierdurch erreichbaren Meßwerte mit erheblichen Toleranzen
behaftet.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Schattenwurfverfahren
gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1
derart weiterzubilden, daß auch bei unregelmäßig bzw. asymmetrisch
geformten Gegenständen eine hohe Meßgenauigkeit erzielbar
ist.
Die Aufgabe wird mit den im Kennzeichnungsteil des Patentanspruchs
1 angegebenen Maßnahmen gelöst.
Dadurch daß alle erfaßten Funktionswerte L(R) von der Recheneinrichtung
gespeichert werden und daß wiederum hieraus jeweils
die Summen der Funktionswerte L(R) und L(R+180°) gebildet
werden, läßt sich aus der so ermittelten Summenfunktion,
die relativ stark ausgeprägte Spitzen aufweist, ein
Funktionsmaximum und ein Drehwinkel Rmax, bei dem dieses auftritt,
sicher und genau bestimmen.
Mit anschließender Ermittlung eines Versetzungswinkels
ϕ als ϕ=Rmax-90° und Ermittlung der Versetzung der
Mitte des Gegenstands gegen die Sollposition aus den Summen
der Funktionswerte und den für die Soll-Umrißform berechneten
Summen können sowohl der Versetzungswinkel ϕ als auch die
Versetzung der Mitte des Gegenstands gegen die Sollposition
als Korrekturwerte herangezogen werden, so daß sich eine Verringerung
der Meßtoleranzen und damit eine Erhöhung der Meßgenauigkeit
ergibt.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen
unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher
beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 eine Draufsicht, die das erfindungsgemäße
Meßprinzip veranschaulicht,
Fig. 2 eine graphische Darstellung von Meßwerten
L (R),
Fig. 3 eine Draufsicht, die die Umrißform eines
Gegenstands gemäß einem Beispiel zeigt,
Fig. 4 und 5 Draufsichten, die Variable zeigen, die
die Umrißform des Gegenstands wiedergeben,
Fig. 6 eine Draufsicht, die Zusammenhänge
zwischen einem Versetzungswinkel ϕ und einer
Mittelpunktsabweichung (W, Rw) zeigt,
Fig. 7 eine schematische Draufsicht auf eine
herkömmliche Meßeinrichtung, und
Fig. 8 eine schematische Seitenansicht der in
Fig. 7 gezeigten herkömmlichen Meßeinrichtung.
Zuerst werden vor der ausführlichen Erläuterung Variable
für die Darstellung der in Fig. 3 gezeigten Umrißform
des Gegenstands definiert.
In Fig. 3 sind Mittelpunkte für zylindrische Oberflächen
abschnitte jeweils mit O₁, O₂, . . . und O₇ bezeichnet.
Dabei verläuft eine Y-Achse in der Richtung der maximalen Abmessung
des Gegenstands und eine X-Achse in der hierzu
senkrechten Richtung. Fig. 3 zeigt, daß der
Gegenstand durch die sieben zylindrischen Oberflächenabschnitte
begrenzt ist und daß die Y-Achse eine gerade
Linie ist, die durch die Mittelpunkte O₃ und O₇ verläuft.
Selbstverständlich ändern sich die Anzahl der Mittelpunkte
und die Richtungen der X-Achse und der Y-Achse in Abhängigkeit
von den betreffenden Gegenständen bzw. Meßobjekten.
Da jedoch die Umrißform von Gegenständen, bei denen die
Anzahl von Mittelpunkten "4" oder weniger beträgt, nach
dem herkömmlichen Verfahren mit nahezu der gleichen Meßgenauigkeit
wie nach dem erfindungsgemäßen Verfahren ermittelt werden
kann, dürfte das erfindungsgemäße Verfahren hauptsächlich
bei Gegenständen mit fünf oder mehr Mittelpunkten als Meßobjekt
verwendet werden.
Es sei angenommen, daß gemäß Fig. 4 der Abstand zwischen
einem Mittelpunkt ON und dem Ursprungspunkt O der Koordinatenachse
X und Y und ein von der X-Achse ausgehend
im Uhrzeigersinn gemessener Winkel einer Strecke O-ON
jeweils YN bzw. RN sind, während der Krümmungsradius des
um den Mittelpunkt ON gezeichneten zylindrischen Oberflächenabschnitts
und ein Anschlußpunkt zwischen diesem
zylindrischen Oberflächenabschnitt und dem nachfolgend
daran angrenzenden Abschnitt jeweils RN bzw. PN sind.
Da die aneinander angrenzenden zylindrischen Oberflächenabschnitte
stoßfrei bzw. stufenlos ineinander übergehen,
liegt gemäß der Darstellung in Fig. 5 der Biegungs-Anschlußpunkt
PN auf einer geraden Linie, die durch den Mittelpunkt
ON und einen Mittelpunkt ON +1 verläuft. Diese gerade
Linie wird derart parallel verschoben, daß sie durch den
Ursprungspunkt der Koordinatenachsen X und Y verläuft,
und der Winkel zwischen der auf diese Weise verschobenen
geraden Linie und der X-Achse wird als Ablenkwinkel RPN
bezeichnet.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird gemäß
Fig. 1 ein Gegenstand 1, der gemäß den vorangehenden
Ausführungen durch eine Vielzahl zylindrischer
Oberflächenabschnitte bestimmt ist, auf einen Drehtisch
2 aufgesetzt. Dann werden unter Drehung des Gegenstands auf
einen Seitenbereich des Gegenstands 1 parallele Lichtstrahlen
wie Laserlichtstrahlen gerichtet. Von
dem Seitenbereich des Gegenstandes werden die parallelen
Lichtstrahlen in einer Breite e abgefangen, die mittels
eines Lichtempfangselements 4 gemessen wird. Dabei wird als "L"
die Summe aus dieser Breite e und einem im voraus auf
genaue Weise gemessenen Abstand R von der Drehmitte des
Drehtisches 2 bis zu dem nächstgelegenden durchlaufenden
parallelen Lichtstrahl gemessen. Der Wert L ergibt für
jeweilige Drehwinkel R des Drehtellers 2 eine Funktion
L (R). Falls der Gegenstand 1 die ideale bzw. Soll-Form
hat, gilt die Beziehung
L(R) = RN + YN · Cos (RN - R)
Da sich der Wert von N jedesmal ändert, wenn R den vorangehenden
genannten Ablenkungswinkel RPN übersteigt, ändern
sich die Werte von RN, YN und RN folgendermaßen:
wenn O ≦ R ≦ RP 1 gilt, ist L(R) = R₁ + Y₁ · Cos (R₁ - R), und
wenn RP 1 < R ≦ RP 2 gilt, ist L(R) = R₂ + Y₂ · Cos (R₂-R).
Die bei diesen Berechnungen erzielten Werte L(R) sind
in Fig. 2 in dem Bereich von 0° ≦ R ≦ 360° als stark
ausgezogene Linie dargestellt.
Bei der tatsächlichen Messung der Umrißform des Gegenstands
läßt es sich jedoch nicht vermeiden, daß gemäß der Fig. 6 die Mitte
O′ des Gegenstands von der Mitte O des Drehtisches weg
versetzt ist und die Koordinatenachsen um einen Versetzungswinkel
verschwenkt sind. Aus diesem Grund ergeben sich
bei der tatsächlichen Messung Werte L(R), die gemäß der
Darstellung durch eine dünne Linie in Fig. 2 abweichen.
Infolgedessen werden Abweichungen hinsichtlich des Mittelpunkts
und des Winkels dadurch korrigiert, daß ein Spitzenwert
von L(R) und ein Wert von R an dieser Stelle herangezogen
werden. Gemäß Fig. 2 verläuft die Kurve von L(R)
bei einem derartigen Gegenstand verhältnismäßig flach,
so daß es schwierig ist, auf genaue Weise den Wert von
R zu erfassen, bei dem der Spitzenwert auftritt.
Daher werden die Daten
L(R) in den Speicher eines Computers eingegeben, in dem
durch das Addieren eines Werts L(R + 180°) der Wert L(R) +
L(R + 180°) berechnet wird. Als Ergebnis wird gemäß
Fig. 2 eine Kurve erzielt, die verhältnismäßig
scharfe bzw. ausgeprägte Spitzen hat. Daher können
von diesem Rechenwert ausgehend die Lage und der Winkel
des Gegenstands in bezug auf den Drehtisch korrigiert
werden.
Zum Ermitteln des Versetzungswinkels ϕ werden jeweils
aus den Daten für L(R) nahe von R = 90° und R = 270°
beispielsweise an dreizehn Punkten in dem jeweiligen Bereich
von 13° um diese Winkelwerte herum eine erste Regressionsgleichung
y₁ und eine zweite Regressionsgleichung y₂ folgendermaßen
bestimmt:
y₁(R) = a₁R² + b₁R + c₁
y₂(R) = a₂R² + b₂R + c₂
Danach wird mittels der vorangehend genannten Addition
die Funktion
Y(R) = y₁(R) + y₂(R + 180°)
gebildet und nach R differenziert, um
dY(R)/dR = d {y₁(R) + y₂(R + 180°)}/dR
zu erhalten. Danach wird der Wert R für dY(R)/dR = 0, nämlich
R max ermittelt, aus dem der Versetzungswinkel ϕ als ϕ =
R max -90° ermittelt wird.
Dann wird eine Versetzung der Mitte des Gegenstands
gegen die Mitte des Drehtisches gemäß der Darstellung
in Fig. 6 unter Verwendung von Polarkoordinaten (W, Rw)
ermittelt. Zu diesem Zweck werden wie bei der Ermittlung
des Versetzungswinkels ϕ beispielsweise an dreizehn Punkten
zu jeweils 1° im Bereich von 13° um Werte R = 90° und
R = 270° herum jeweils eine dritte und eine vierte
Regressionsgleichung y₃ und y₄ folgendermaßen bestimmt:
y₃(R) = a₃R² + b₃R + c₃
y₄(R) = a₄R² + b₄R + c₄
Ausgehend von diesen Regressionsgleichungen
und den Differenzen von L(R) zwischen der tatsächlichen
bzw. Ist-Umrißform und der idealen bzw. Soll-Umrißform
des Gegenstands bei R = 0°, 90°, 180° und 270° werden die Werte
a und b folgendermaßen bestimmt:
a = [{y₂(180°-ϕ) - L(180°)} - {y₁(R max) - L(0°)}]/2
b = [{y₄(270°-ϕ) - L(270°)} - {y₃(90°-ϕ) - L (90°)}]/2
Die Werte von a und b werden der Koordinatentransformation
nach folgenden Gleichungen unterzogen:
a = - (a cos ϕ + b sin ϕ)
b = - (b cos ϕ - a sin ϕ)
Unter Anwendung der auf diese Weise erhaltenen Werte a
und b können Polarkoordinaten (W, Rw) für die Versetzungen
der Mitte des Gegenstands auf genaue Weise folgendermaßen
bestimmt werden:
W = (a² + b²)1/2
Rw = nπ ± sin-1 (b/Y)
Gemäß vorstehenden Ausführungen können bei dem
erfindungsgemäßen Verfahren mittels Ermittlung der Summe aus
L(R) und L(R + 180°) die Werte (W, Rw) auf genaue Weise
bestimmt werden, die die Versetzungswinkel ϕ und die
Abweichungen gegen die Mittelpunkte zeigen.
Daher können die bei dem Aufsetzen des Gegenstands 1 auf
den Drehtisch 2 unvermeidbar auftretenden Abweichungen
hinsichtlich der Lage und des Winkels auf genaue Weise
korrigiert werden. Da die auf diese Weise korrigierten
Daten für L(R) die Umrißform des Gegenstandes bei der normalen
bzw. Soll-Lage darstellen, kann durch die Berechnung der
Differenz zwischen der idealen und der tatsächlichen Umrißform
festgestellt werden, wie weit die Umrißform des Gegenstands
gegenüber der idealen Form des Gegenstands verformt
ist. Wenn das Verformungsausmaß einen annehmbaren Wert
übersteigt, wird der Gegenstand als nicht annehmbar
zurückgewiesen.
Somit kann
nach dem erfindungsgemäßen Verfahren die Umrißform des
durch eine Vielzahl von zylindrischen Oberflächenabschnitten
begrenzten Gegenstands berührungsfrei gemessen werden.
Daher ist das erfindungsgemäße Verfahren für das
Messen der Umrißformen von Gegenständen mit geringen Wanddicken
wie beispielsweise Wabenbauteilen geeignet. Ferner
treten zwar bei einer Messung unvermeidbar Abweichungen
hinsichtlich der Mitte und des Winkels des Gegenstands
in bezug auf diejenigen des Drehtisches auf, jedoch können
der Spitzenwert und der entsprechende Drehwinkel auf genaue
Weise erfaßt und ihre Abweichungen entsprechend
den Rechenwerten L(R) + L(R + 180°) korrigiert werden.
Somit können ohne Beeinflussung durch diese Abweichungen
genaue Meßwerte erhalten werden. Daher kann nach
dem beschriebenen Verfahren mit hoher Genauigkeit ermittelt
werden, inwieweit das Meßobjekt gegenüber der idealen
Umrißform verformt ist.
Claims (3)
1. Schattenwurfverfahren zum Messen der Umrißform eines Gegenstands, bei dem
- a) der Gegenstand auf einen Drehtisch plaziert wird,
- b) unter gleichzeitiger Drehung des Drehtisches auf einen seitlichen Bereich des Gegenstands parallele Lichtstrahlen projiziert werden,
- c) mittels einer Lichtempfangseinrichtung die momentane Größe L der jeweiligen Abschattung der parallelen Lichtstrahlen durch den Gegenstand als Funktion L(R) eines Drehwinkels R des Drehtisches erfaßt wird, und bei dem
- d) die erfaßten Funktionwerte L(R) von einer Recheneinrichtung mit jeweils zugeordneten, eine Soll-Umrißform des Gegenstands angebenden Sollwerten verglichen werden,
dadurch gekennzeichnet,
- e) daß alle erfaßten Funktionswerte L(R) von der Recheneinrichtung gespeichert werden,
- f) daß hieraus jeweils die Summen der Funktionswerte L(R) und L(R+180°) gebildet werden,
- g) daß aus der gebildeten Summenfunktion ein Funktionsmaximum und ein Drehwinkel Rmax, bei dem dieses auftritt, ermittelt werden,
- h) daß ein Versetzungswinkel ϕ als ϕ=Rmax-90° ermittelt wird,
- i) daß aus den Summen der Funktionswerte und den für die Soll-Umrißform berechneten Summen die Versetzung der Mitte des Gegenstands gegen die Sollposition ermittelt wird, und
- k) daß sowohl der Versetzungswinkel ϕ als auch die Versetzung der Mitte des Gegenstands gegen die Sollposition als Korrekturwerte herangezogen werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Umrißform eines Wabenbauteils als Gegenstand gemessen wird,
der durch die Vielzahl zylindrischer Oberflächenabschnitte
begrenzt ist.
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