[go: up one dir, main page]

DE3831566C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3831566C2
DE3831566C2 DE3831566A DE3831566A DE3831566C2 DE 3831566 C2 DE3831566 C2 DE 3831566C2 DE 3831566 A DE3831566 A DE 3831566A DE 3831566 A DE3831566 A DE 3831566A DE 3831566 C2 DE3831566 C2 DE 3831566C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
angle
turntable
values
outline shape
function
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE3831566A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3831566A1 (de
Inventor
Masayasu Minamikawa
Yoshiaki Onabe
Masanao Nagoya Aichi Jp Ohno
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Publication of DE3831566A1 publication Critical patent/DE3831566A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3831566C2 publication Critical patent/DE3831566C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2433Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring outlines by shadow casting

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Schattenwurfverfahren zum Messen der Umrißform eines Gegenstands.
Aus der US 38 52 579 ist ein Verfahren bekannt, bei dem derjenige Zentrumspunkt eines Baumstamms bestimmt werden soll, bei dem bei einem Schälvorgang eine maximale Furniermenge erhalten werden kann. Zu diesem Zweck wird eine Infrarot-Entfernungsmessung verwendet.
Aus der DE 29 26 140 ist ein Verfahren zum Messen der Umrißform eines Gegenstands bekannt, bei dem eine Abschattung von Meß-Lichtstrahlen durch den zu erfassenden Gegenstand ermittelt wird. Ein derartiges Verfahren wird "Schattenwurfverfahren" genannt. Bei diesem bekannten Verfahren wird ein Gegenstand in Form eines zu überprüfenden Werkstücks auf einem Drehtisch plaziert. Unter gleichzeitiger Drehung des Drehtisches werden auf einen seitlichen Bereich des Werkstücks parallele Lichtstrahlen projiziert, so daß mittels einer Lichtempfangseinrichtung die momentane Größe der jeweiligen Abschattung der parallelen Lichtstrahlen durch das Werkstück als Funktion eines jeweilige Drehwinkels des Drehtisches erfaßt werden kann. Durch Vergleich der erfaßten Funktionswerte mit einer Soll-Umrißform des betreffenden Werkstücks kann eine Aussage dahingehend erfolgen, ob das überprüfte Werkstück jeweils gewünschte Fertigungstoleranzen einhält.
Gemäß der Darstellung in Fig. 7 und 8 hat eine gemäß dieser Druckschrift bekannte Einrichtung für das Messen der Umrißform von Gegenständen einen Drehtisch 6, auf den ein Gegenstand 5 als Meßobjekt aufgesetzt wird. Der Drehtisch 6 wird mittels eines Motors 9 über einen Getriebemechanismus 10 um eine Drehachse 8 gedreht. Die Einrichtung hat weiter einen Meßgeber 11, mit dem der Drehwinkel des Drehtisches erfaßt wird, um ein Drehwinkelsignal zu erzeugen, einen Randdetektor mit einer Parallelstrahlen-Projektionseinrichtung 12 für das Projizieren paralleler Lichtstrahlen auf den Gegenstand und mit einer Parallelstrahlen-Empfangseinrichtung 13, die den von dem Gegenstand nicht abgeschirmten Teil der parallelen Lichtstrahlen aufnimmt, um ein Randlagesignal zu erzeugen, einen Speicher 16 zum Speichern eines Soll-Randlagesignals, das einem Normalgegenstand mit einer vorgegebenen Umrißform entspricht, und eine Rechenschaltung 15 für die Aufnahme des Drehwinkelsignals usw. Die Projektionseinrichtung und die Empfangseinrichtung für die parallelen Lichtstrahlen sind an den einander gegenüberliegenden Seiten des Drehtisches angeordnet. Das Randlagesignal und das Soll-Randlagesignal ergeben ein Signal, das die Abweichung des Meßobjekts vom Soll- bzw. Normalgegenstand hinsichtlich der Umrißform wiedergibt. Mit 17 ist ein Drehungskodierer an der Rechenschaltung 15 bezeichnet. Der Gegenstand wird an der Drehscheibe mittels einer Führungsplatte 7 geführt. Da jedoch diese herkömmliche Meßeinrichtung für zylindrische oder elliptisch walzenförmige Gegenstände ausgebildet ist, ist es erforderlich, daß der Mittelpunkt der den Außenumfang bildenden zylindrischen oder elliptisch walzenförmigen Fläche auf einer X-Achse oder einer Y-Achse liegt. Daher können mit dieser Meßeinrichtung keine genauen Messungen an Gegenständen vorgenommen werden, bei denen gemäß der Darstellung in Fig. 3 einige von Mittelpunkten O₁ bis O₇ gegenüber der X-Achse und der Y-Achse versetzt sind. D. h., bei dem Verfahren gemäß diesem Stand der Technik wird bei der Drehung des Drehtisches ein Drehwinkel des Drehtisches ermittelt, bei dem eine Ortskurve der Stellen der Unterbrechung der parallelen Lichtstrahlen einen Spitzenwert zeigt, und es wird eine Abweichung hinsichtlich einer Winkelversetzung des Gegenstands an dem Drehtisch korrigiert. Bei dem Gegenstand mit der in Fig. 1 gezeigten Form ändert sich die Kurve nur leicht, so daß die Lage des Spitzenwertes nicht genau erfaßt werden kann.
Mit anderen Worten treten dann erhebliche Probleme auf, wenn der zu prüfende Gegenstand eine stark unregelmäßige bzw. asymmetrische Form zeigt (Fig. 3). In einem solchen Fall ist es kaum möglich, beim Auflegen des Gegenstands auf den Drehtisch auch nur annähernd einen geeigneten Bezug zu den beiden Achsen bzw. zum Drehmittelpunkt zu erreichen. Folglich sind die hierdurch erreichbaren Meßwerte mit erheblichen Toleranzen behaftet.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Schattenwurfverfahren gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 derart weiterzubilden, daß auch bei unregelmäßig bzw. asymmetrisch geformten Gegenständen eine hohe Meßgenauigkeit erzielbar ist.
Die Aufgabe wird mit den im Kennzeichnungsteil des Patentanspruchs 1 angegebenen Maßnahmen gelöst.
Dadurch daß alle erfaßten Funktionswerte L(R) von der Recheneinrichtung gespeichert werden und daß wiederum hieraus jeweils die Summen der Funktionswerte L(R) und L(R+180°) gebildet werden, läßt sich aus der so ermittelten Summenfunktion, die relativ stark ausgeprägte Spitzen aufweist, ein Funktionsmaximum und ein Drehwinkel Rmax, bei dem dieses auftritt, sicher und genau bestimmen.
Mit anschließender Ermittlung eines Versetzungswinkels ϕ als ϕ=Rmax-90° und Ermittlung der Versetzung der Mitte des Gegenstands gegen die Sollposition aus den Summen der Funktionswerte und den für die Soll-Umrißform berechneten Summen können sowohl der Versetzungswinkel ϕ als auch die Versetzung der Mitte des Gegenstands gegen die Sollposition als Korrekturwerte herangezogen werden, so daß sich eine Verringerung der Meßtoleranzen und damit eine Erhöhung der Meßgenauigkeit ergibt.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 eine Draufsicht, die das erfindungsgemäße Meßprinzip veranschaulicht,
Fig. 2 eine graphische Darstellung von Meßwerten L (R),
Fig. 3 eine Draufsicht, die die Umrißform eines Gegenstands gemäß einem Beispiel zeigt,
Fig. 4 und 5 Draufsichten, die Variable zeigen, die die Umrißform des Gegenstands wiedergeben,
Fig. 6 eine Draufsicht, die Zusammenhänge zwischen einem Versetzungswinkel ϕ und einer Mittelpunktsabweichung (W, Rw) zeigt,
Fig. 7 eine schematische Draufsicht auf eine herkömmliche Meßeinrichtung, und
Fig. 8 eine schematische Seitenansicht der in Fig. 7 gezeigten herkömmlichen Meßeinrichtung.
Zuerst werden vor der ausführlichen Erläuterung Variable für die Darstellung der in Fig. 3 gezeigten Umrißform des Gegenstands definiert.
In Fig. 3 sind Mittelpunkte für zylindrische Oberflächen­ abschnitte jeweils mit O₁, O₂, . . . und O₇ bezeichnet. Dabei verläuft eine Y-Achse in der Richtung der maximalen Abmessung des Gegenstands und eine X-Achse in der hierzu senkrechten Richtung. Fig. 3 zeigt, daß der Gegenstand durch die sieben zylindrischen Oberflächenabschnitte begrenzt ist und daß die Y-Achse eine gerade Linie ist, die durch die Mittelpunkte O₃ und O₇ verläuft. Selbstverständlich ändern sich die Anzahl der Mittelpunkte und die Richtungen der X-Achse und der Y-Achse in Abhängigkeit von den betreffenden Gegenständen bzw. Meßobjekten. Da jedoch die Umrißform von Gegenständen, bei denen die Anzahl von Mittelpunkten "4" oder weniger beträgt, nach dem herkömmlichen Verfahren mit nahezu der gleichen Meßgenauigkeit wie nach dem erfindungsgemäßen Verfahren ermittelt werden kann, dürfte das erfindungsgemäße Verfahren hauptsächlich bei Gegenständen mit fünf oder mehr Mittelpunkten als Meßobjekt verwendet werden.
Es sei angenommen, daß gemäß Fig. 4 der Abstand zwischen einem Mittelpunkt ON und dem Ursprungspunkt O der Koordinatenachse X und Y und ein von der X-Achse ausgehend im Uhrzeigersinn gemessener Winkel einer Strecke O-ON jeweils YN bzw. RN sind, während der Krümmungsradius des um den Mittelpunkt ON gezeichneten zylindrischen Oberflächenabschnitts und ein Anschlußpunkt zwischen diesem zylindrischen Oberflächenabschnitt und dem nachfolgend daran angrenzenden Abschnitt jeweils RN bzw. PN sind. Da die aneinander angrenzenden zylindrischen Oberflächenabschnitte stoßfrei bzw. stufenlos ineinander übergehen, liegt gemäß der Darstellung in Fig. 5 der Biegungs-Anschlußpunkt PN auf einer geraden Linie, die durch den Mittelpunkt ON und einen Mittelpunkt ON +1 verläuft. Diese gerade Linie wird derart parallel verschoben, daß sie durch den Ursprungspunkt der Koordinatenachsen X und Y verläuft, und der Winkel zwischen der auf diese Weise verschobenen geraden Linie und der X-Achse wird als Ablenkwinkel RPN bezeichnet.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird gemäß Fig. 1 ein Gegenstand 1, der gemäß den vorangehenden Ausführungen durch eine Vielzahl zylindrischer Oberflächenabschnitte bestimmt ist, auf einen Drehtisch 2 aufgesetzt. Dann werden unter Drehung des Gegenstands auf einen Seitenbereich des Gegenstands 1 parallele Lichtstrahlen wie Laserlichtstrahlen gerichtet. Von dem Seitenbereich des Gegenstandes werden die parallelen Lichtstrahlen in einer Breite e abgefangen, die mittels eines Lichtempfangselements 4 gemessen wird. Dabei wird als "L" die Summe aus dieser Breite e und einem im voraus auf genaue Weise gemessenen Abstand R von der Drehmitte des Drehtisches 2 bis zu dem nächstgelegenden durchlaufenden parallelen Lichtstrahl gemessen. Der Wert L ergibt für jeweilige Drehwinkel R des Drehtellers 2 eine Funktion L (R). Falls der Gegenstand 1 die ideale bzw. Soll-Form hat, gilt die Beziehung
L(R) = RN + YN · Cos (RN - R)
Da sich der Wert von N jedesmal ändert, wenn R den vorangehenden genannten Ablenkungswinkel RPN übersteigt, ändern sich die Werte von RN, YN und RN folgendermaßen:
wenn O ≦ R ≦ RP 1 gilt, ist L(R) = R₁ + Y₁ · Cos (R₁ - R), und
wenn RP 1 < R ≦ RP 2 gilt, ist L(R) = R₂ + Y₂ · Cos (R₂-R).
Die bei diesen Berechnungen erzielten Werte L(R) sind in Fig. 2 in dem Bereich von 0° ≦ R ≦ 360° als stark ausgezogene Linie dargestellt.
Bei der tatsächlichen Messung der Umrißform des Gegenstands läßt es sich jedoch nicht vermeiden, daß gemäß der Fig. 6 die Mitte O′ des Gegenstands von der Mitte O des Drehtisches weg versetzt ist und die Koordinatenachsen um einen Versetzungswinkel verschwenkt sind. Aus diesem Grund ergeben sich bei der tatsächlichen Messung Werte L(R), die gemäß der Darstellung durch eine dünne Linie in Fig. 2 abweichen. Infolgedessen werden Abweichungen hinsichtlich des Mittelpunkts und des Winkels dadurch korrigiert, daß ein Spitzenwert von L(R) und ein Wert von R an dieser Stelle herangezogen werden. Gemäß Fig. 2 verläuft die Kurve von L(R) bei einem derartigen Gegenstand verhältnismäßig flach, so daß es schwierig ist, auf genaue Weise den Wert von R zu erfassen, bei dem der Spitzenwert auftritt.
Daher werden die Daten L(R) in den Speicher eines Computers eingegeben, in dem durch das Addieren eines Werts L(R + 180°) der Wert L(R) + L(R + 180°) berechnet wird. Als Ergebnis wird gemäß Fig. 2 eine Kurve erzielt, die verhältnismäßig scharfe bzw. ausgeprägte Spitzen hat. Daher können von diesem Rechenwert ausgehend die Lage und der Winkel des Gegenstands in bezug auf den Drehtisch korrigiert werden.
Zum Ermitteln des Versetzungswinkels ϕ werden jeweils aus den Daten für L(R) nahe von R = 90° und R = 270° beispielsweise an dreizehn Punkten in dem jeweiligen Bereich von 13° um diese Winkelwerte herum eine erste Regressionsgleichung y₁ und eine zweite Regressionsgleichung y₂ folgendermaßen bestimmt:
y₁(R) = a₁R² + b₁R + c₁
y₂(R) = a₂R² + b₂R + c₂
Danach wird mittels der vorangehend genannten Addition die Funktion
Y(R) = y₁(R) + y₂(R + 180°)
gebildet und nach R differenziert, um
dY(R)/dR = d {y₁(R) + y₂(R + 180°)}/dR
zu erhalten. Danach wird der Wert R für dY(R)/dR = 0, nämlich R max ermittelt, aus dem der Versetzungswinkel ϕ als ϕ = R max -90° ermittelt wird.
Dann wird eine Versetzung der Mitte des Gegenstands gegen die Mitte des Drehtisches gemäß der Darstellung in Fig. 6 unter Verwendung von Polarkoordinaten (W, Rw) ermittelt. Zu diesem Zweck werden wie bei der Ermittlung des Versetzungswinkels ϕ beispielsweise an dreizehn Punkten zu jeweils 1° im Bereich von 13° um Werte R = 90° und R = 270° herum jeweils eine dritte und eine vierte Regressionsgleichung y₃ und y₄ folgendermaßen bestimmt:
y₃(R) = a₃R² + b₃R + c₃
y₄(R) = a₄R² + b₄R + c₄
Ausgehend von diesen Regressionsgleichungen und den Differenzen von L(R) zwischen der tatsächlichen bzw. Ist-Umrißform und der idealen bzw. Soll-Umrißform des Gegenstands bei R = 0°, 90°, 180° und 270° werden die Werte a und b folgendermaßen bestimmt:
a = [{y₂(180°-ϕ) - L(180°)} - {y₁(R max) - L(0°)}]/2
b = [{y₄(270°-ϕ) - L(270°)} - {y₃(90°-ϕ) - L (90°)}]/2
Die Werte von a und b werden der Koordinatentransformation nach folgenden Gleichungen unterzogen:
a = - (a cos ϕ + b sin ϕ)
b = - (b cos ϕ - a sin ϕ)
Unter Anwendung der auf diese Weise erhaltenen Werte a und b können Polarkoordinaten (W, Rw) für die Versetzungen der Mitte des Gegenstands auf genaue Weise folgendermaßen bestimmt werden:
W = (a² + b²)1/2
Rw = nπ ± sin-1 (b/Y)
Gemäß vorstehenden Ausführungen können bei dem erfindungsgemäßen Verfahren mittels Ermittlung der Summe aus L(R) und L(R + 180°) die Werte (W, Rw) auf genaue Weise bestimmt werden, die die Versetzungswinkel ϕ und die Abweichungen gegen die Mittelpunkte zeigen.
Daher können die bei dem Aufsetzen des Gegenstands 1 auf den Drehtisch 2 unvermeidbar auftretenden Abweichungen hinsichtlich der Lage und des Winkels auf genaue Weise korrigiert werden. Da die auf diese Weise korrigierten Daten für L(R) die Umrißform des Gegenstandes bei der normalen bzw. Soll-Lage darstellen, kann durch die Berechnung der Differenz zwischen der idealen und der tatsächlichen Umrißform festgestellt werden, wie weit die Umrißform des Gegenstands gegenüber der idealen Form des Gegenstands verformt ist. Wenn das Verformungsausmaß einen annehmbaren Wert übersteigt, wird der Gegenstand als nicht annehmbar zurückgewiesen.
Somit kann nach dem erfindungsgemäßen Verfahren die Umrißform des durch eine Vielzahl von zylindrischen Oberflächenabschnitten begrenzten Gegenstands berührungsfrei gemessen werden. Daher ist das erfindungsgemäße Verfahren für das Messen der Umrißformen von Gegenständen mit geringen Wanddicken wie beispielsweise Wabenbauteilen geeignet. Ferner treten zwar bei einer Messung unvermeidbar Abweichungen hinsichtlich der Mitte und des Winkels des Gegenstands in bezug auf diejenigen des Drehtisches auf, jedoch können der Spitzenwert und der entsprechende Drehwinkel auf genaue Weise erfaßt und ihre Abweichungen entsprechend den Rechenwerten L(R) + L(R + 180°) korrigiert werden. Somit können ohne Beeinflussung durch diese Abweichungen genaue Meßwerte erhalten werden. Daher kann nach dem beschriebenen Verfahren mit hoher Genauigkeit ermittelt werden, inwieweit das Meßobjekt gegenüber der idealen Umrißform verformt ist.

Claims (3)

1. Schattenwurfverfahren zum Messen der Umrißform eines Gegenstands, bei dem
  • a) der Gegenstand auf einen Drehtisch plaziert wird,
  • b) unter gleichzeitiger Drehung des Drehtisches auf einen seitlichen Bereich des Gegenstands parallele Lichtstrahlen projiziert werden,
  • c) mittels einer Lichtempfangseinrichtung die momentane Größe L der jeweiligen Abschattung der parallelen Lichtstrahlen durch den Gegenstand als Funktion L(R) eines Drehwinkels R des Drehtisches erfaßt wird, und bei dem
  • d) die erfaßten Funktionwerte L(R) von einer Recheneinrichtung mit jeweils zugeordneten, eine Soll-Umrißform des Gegenstands angebenden Sollwerten verglichen werden,
dadurch gekennzeichnet,
  • e) daß alle erfaßten Funktionswerte L(R) von der Recheneinrichtung gespeichert werden,
  • f) daß hieraus jeweils die Summen der Funktionswerte L(R) und L(R+180°) gebildet werden,
  • g) daß aus der gebildeten Summenfunktion ein Funktionsmaximum und ein Drehwinkel Rmax, bei dem dieses auftritt, ermittelt werden,
  • h) daß ein Versetzungswinkel ϕ als ϕ=Rmax-90° ermittelt wird,
  • i) daß aus den Summen der Funktionswerte und den für die Soll-Umrißform berechneten Summen die Versetzung der Mitte des Gegenstands gegen die Sollposition ermittelt wird, und
  • k) daß sowohl der Versetzungswinkel ϕ als auch die Versetzung der Mitte des Gegenstands gegen die Sollposition als Korrekturwerte herangezogen werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Umrißform eines Wabenbauteils als Gegenstand gemessen wird, der durch die Vielzahl zylindrischer Oberflächenabschnitte begrenzt ist.
DE3831566A 1987-09-17 1988-09-16 Verfahren zum messen der umrissformen von gegenstaenden, die durch eine vielzahl zylindrischer oberflaechenabschnitte begrenzt sind Granted DE3831566A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62233574A JPH0619251B2 (ja) 1987-09-17 1987-09-17 多数の円筒面により構成された物品の外形状測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3831566A1 DE3831566A1 (de) 1989-05-11
DE3831566C2 true DE3831566C2 (de) 1993-06-03

Family

ID=16957203

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3831566A Granted DE3831566A1 (de) 1987-09-17 1988-09-16 Verfahren zum messen der umrissformen von gegenstaenden, die durch eine vielzahl zylindrischer oberflaechenabschnitte begrenzt sind

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4877970A (de)
JP (1) JPH0619251B2 (de)
BE (1) BE1003159A3 (de)
DE (1) DE3831566A1 (de)
FR (1) FR2620817B1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4316780A1 (de) * 1993-05-19 1994-11-24 Baljer & Zembrod System zur Vermessung von Baumstämmen im Sägereibetrieb
DE4401238A1 (de) * 1994-01-18 1995-07-20 Bmt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von exzentrischen Teilen eines Meßobjekts

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07117386B2 (ja) * 1989-05-17 1995-12-18 アンリツ株式会社 曲面形状測定装置
US5175601A (en) * 1991-10-15 1992-12-29 Electro-Optical Information Systems High-speed 3-D surface measurement surface inspection and reverse-CAD system
US5319445A (en) * 1992-09-08 1994-06-07 Fitts John M Hidden change distribution grating and use in 3D moire measurement sensors and CMM applications
US5636030A (en) * 1995-05-01 1997-06-03 Limbach; Douglas C. Optical method and apparatus for measuring surface topography of an object
US5805288A (en) * 1996-03-05 1998-09-08 Laserscore, Inc. Apparatus for detecting the presence and location of at least one object in a field
US5841662A (en) * 1996-07-31 1998-11-24 Coburn Optical Industries, Inc. Method and apparatus for chucked work piece recognition
CA2319535A1 (en) * 1998-02-04 1999-08-12 Laserscore, Inc. System for detecting the presence and location of at least one object in a field by using a divergent radiation source and an array of opposed plural detectors which rotate together around the field
US6342705B1 (en) 1999-09-10 2002-01-29 Chapman Instruments System for locating and measuring an index mark on an edge of a wafer
US6750446B2 (en) * 2001-01-17 2004-06-15 Fuji Photo Film Co., Ltd. Ultrasonic-welding apparatus, optical sensor and rotation sensor for the ultrasonic-welding apparatus
US6860632B2 (en) * 2003-07-28 2005-03-01 Perkinelmer Instruments Llc Instrument material holder and method of fabrication thereof
US8641942B2 (en) * 2010-05-12 2014-02-04 Corning Incorporated Laser scanning systems and methods for measuring extruded ceramic logs
JP5629729B2 (ja) * 2012-06-27 2014-11-26 日本碍子株式会社 セラミックハニカム構造体の製造方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1555808A (de) * 1967-12-11 1969-01-31
US3852579A (en) * 1973-03-23 1974-12-03 Sun Studs Method and apparatus for determining the surface configuration of elongate objects, particularly logs
US3907438A (en) * 1973-06-22 1975-09-23 Gen Electric Contour measuring system for cylinders
US4064534A (en) * 1976-04-20 1977-12-20 Leone International Sales Corporation System for monitoring the production of items which are initially difficult to physically inspect
US4122525A (en) * 1976-07-12 1978-10-24 Eaton-Leonard Corporation Method and apparatus for profile scanning
HU174718B (en) * 1977-12-17 1980-03-28 Elzett Muevek Cylinder lock which may be actuated by magnetic bodies
FR2432158A1 (fr) * 1978-07-28 1980-02-22 Sopelem Procede et dispositif de mesure de la position d'un plateau circulaire tournant, et du profil exact de ce plateau
JPS5537919A (en) * 1978-09-11 1980-03-17 Ngk Insulators Ltd Automatic outer configuration measurement device
IT1110780B (it) * 1979-02-09 1986-01-06 Somet Soc Mec Tessile Dispositivo perfezionato per la presentazione della trama in telai di tessitura
JPS56117107A (en) * 1980-02-20 1981-09-14 Sumitomo Metal Ind Ltd Measuring method of profile
GB2083621B (en) * 1980-03-31 1984-03-28 Brames Ltd Method and apparatus for determining the shape of objects
DE3214253C2 (de) * 1982-04-17 1994-06-09 Messwandler Bau Ag Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Mittenabweichung zweier Achsen
GB2138562B (en) * 1983-04-19 1986-08-06 Beta Instr Co Measurement of profiles of irregular objects
JPS61256211A (ja) * 1985-05-08 1986-11-13 Honda Motor Co Ltd 物体の形状判別方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4316780A1 (de) * 1993-05-19 1994-11-24 Baljer & Zembrod System zur Vermessung von Baumstämmen im Sägereibetrieb
DE4401238A1 (de) * 1994-01-18 1995-07-20 Bmt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von exzentrischen Teilen eines Meßobjekts

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6475904A (en) 1989-03-22
FR2620817A1 (fr) 1989-03-24
FR2620817B1 (fr) 1993-04-09
DE3831566A1 (de) 1989-05-11
JPH0619251B2 (ja) 1994-03-16
US4877970A (en) 1989-10-31
BE1003159A3 (fr) 1991-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3831566C2 (de)
DE3911307C2 (de) Verfahren zum Feststellen, ob zwei hintereinander angeordnete Wellen hinsichtlich ihrer Mittelachse fluchten oder versetzt sind
DE4031637C2 (de) Anordnung zum Messen einer Verschiebung zwischen zwei Objekten
DE2926140C2 (de) Vorrichtung zur Ermittlung von projizierten Querschnittsgrößen gleichgestaltiger Werkstücke
DE3886767T3 (de) Kalibrierungssystem für koordinatenmessvorrichtung.
DE602005002274T2 (de) Berührungsloses Messsystem für sphärische und asphärische Oberflächen und Methode zur Benutzung
DE102016001337A1 (de) Werkstückpositionierungsvorrichtung, die eine Bildgabeeinheit verwendet
EP1944582A1 (de) Verfahren zur bestimmuing einer einflussgrosse auf die exzentrizitat in einem wineklmesser
DE19731854A1 (de) Skala zur Erfassung der Position eines sich bewegenden Objekts sowie eine diese Skala verwendende Vorrichtung
EP1154226A2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Dicke und Unrundheit von länglichen Werkstücken
DE102009036776A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Aufmaßes eines hartfeinzubearbeitenden Zahnrades
EP0266525B1 (de) Verfahren zum Generieren von Lagesignalen, die Orte repräsentieren, welche die etwa elliptische Querschnittsfläche eines Objektes begrenzen
DE102011012611B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Messung eines Winkels
DE10058650A1 (de) Verfahren zur interferometrischen Messung von nichtrotationssymmetrischen Wellenfrontfehlern
DE69128865T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Koordinateneingabe
DE2907648A1 (de) Justiergeraet
DE4439307A1 (de) 3D - Oberflächenmeßgerät mit hoher Genauigkeit
DE10152038C5 (de) Verfahren zur optoelektronischen Bestimmung von Gewindeparametern
DE3736704A1 (de) Verstellungsmessvorrichtung
DE3909855C2 (de)
EP0353647B1 (de) Einrichtung zur Messung des Drehwinkels oder der Winkelstellung eines rotierenden Objektes
DE3634688A1 (de) Verfahren und einrichtung zur messung von verzahnungen mit hilfe eines koordinatenmessgeraetes
DE2753782A1 (de) Vorrichtung zum bestimmen der richtungskoordinaten eines entfernten objekts
WO2017178224A1 (de) Positionsmessanordnung und verfahren zum betrieb einer positionsmessanordnung
DE102022104416A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Vermessen von Wafern

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: TIEDTKE, H., DIPL.-ING. BUEHLING, G., DIPL.-CHEM.

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee