DE3704328A1 - Schichtwerkstoff oder schichtwerkstueck sowie verfahren zu dessen herstellung - Google Patents
Schichtwerkstoff oder schichtwerkstueck sowie verfahren zu dessen herstellungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft Schichtwerkstoff oder Schichtwerkstücke,
insbesondere für die Herstellung von Gleit- oder Reibelementen,
mit mindestens einer im Vakuum durch Auftragen von bis zu
molekularer bzw. atomarer Größe feinen Materialteilchen aus
einer Dampf- oder Feinteilchen-Phase aufgebauten Schicht.
Ferner betrifft die Erfindung Verfahren zur Herstellung von
solchem Schichtwerkstoff bzw. solchen Schichtwerkstücken.
Für den Aufbau von Schichtwerkstoffen bzw. Schichtwerkstücken
durch Aufdampfen oder Aufbringen einer Funktionsschicht mittels
Kathodenzerstäubung sind bereits die verschiedensten Verfahren
bekannt. Es lassen sich in diesen bekannten Verfahren auch
feine Strukturen in solchen Funktionsschichten erreichen,
jedoch konnten in den bisherigen Aufdampf- und Kathodenzer
stäubungs-Verfahren beträchtliche Mängel nicht behoben
werden: Die Beeinflussung der Struktur der in diesen bekannten
Verfahren aufgebauten Funktionsschichten war bisher nur sehr
begrenzt möglich. Die Haftfähigkeit der in diesen bekannten
Verfahren aufgebauten Funktionsschichten auf der Substratober
fläche war oftmals mangelhaft und konnte bisher nicht in re
produzierbarer Weise im Sinne einer Verbesserung wesentlich
beeinflußt werden. Die Abscheidungsrate zur Bildung der
Funktionsschicht war insbesondere bei Kathodenzerstäubungs
verfahren bisher für fabrikatorische Herstellung von Schicht
werkstoffen und Schichtwerkstücken zu gering. Bei Bildung der
Funktionsschicht durch Aufdampfen im Vakuum, läßt sich zwar er
heblich größere Abscheidungsrate als bei Kathodenzerstäubungs
verfahren erreichen, jedoch haben die aufgedampften Funktions
schichten nur geringe Haftfestigkeit zum Substrat und geringe
Gefügedichte.
Demgegenüber ist es Aufgabe der Erfindung, Schichtwerkstoff
bzw. Schichtwerkstücke für die Herstellung von Gleit- oder
Reibelementen hinsichtlich der Haftfestigkeit der Gleit-
bzw. Reibschicht auf dem Substrat und hinsichtlich der
Kompaktheit der Gleit- bzw. Reibschicht zu verbessern, und
zwar auch gegenüber solchem Schichtwerkstoff oder solchen
Schichtwerkstücken, deren Gleit- bzw. Reibschicht durch
Kathodenzerstäubung oder Aufdampfen hergestellt ist.
Dabei soll die Abscheidungsrate des die Gleit- bzw. Reib
schicht bildenden Materials bzw. Materialgemisches er
heblich vergrößert werden, insbesondere gegenüber der bei
Kathodenzerstäubung erreichbaren Abscheidungsrate.
Diese Aufgabe wird gelöst durch Schichtwerkstoff bzw.
Schichtwerkstücke, die sich dadurch kennzeichnen, daß
die Teilchen in der aus einer Dampf- oder Feinstteilchen-
Phase aufgebauten Schicht in einem feinen, vorzugsweise fein
kristallinen, praktisch isotropen Gefüge auf die Dichte
des entsprechenden kompakten Materials zusammengepackt
sind und im Grenzflächenbereich der aus einer Dampf- oder
Feinstteilchen-Phase aufgebauten Schicht mit einer darunter
angeordneten Schicht eine diffusionsartige Durchsetzung
der darunter angeordneten Schicht mit Materialteilchen der
aus einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase aufgebauten
Schicht sowie Einlagerung von Materialteilchen der darunter
angeordneten Schicht in die aus einer Dampf- oder Feinst
teilchen-Phase aufgebauten Schicht vorhanden sind.
Im Unterschied zu den in den bekannten Bedampfungs- und
Kathodenzerstäubungs-Verfahren aufgebauten Funktions
schichten ist gemäß der Erfindung die Gleit- bzw. Reib
schicht nicht mehr durch einfaches Aufeinanderfügen und
einfaches Verankern der Teilchen aus der Dampf- bzw.
Feinstteilchen-Phase gebildet, sondern in feinem, bevorzugt
feinkristallinem Strukturaufbau wie er nur erreichbar ist,
wenn die zum Aufbau der Schicht herangeführten Teilchen
noch während des Einbaues in die Schicht erhebliche
Relativgeschwindigkeiten zueinander aufweisen. Die so nach
der Art eines Kristallisationsvorganges aufgebaute Gleit-
bzw. Reibschicht erhält dadurch eine Kompaktzeit, die im
wesentlichen dem kompakten Material entspricht. Dadurch
werden die Festigkeit, die Ermüdungsfestigkeit, die Trag
fähigkeit und weitere für Gleit- und Reibelemente wichtige
Eigenschaften der Gleit- bzw. Reibschicht wesentlich ver
bessert. Trotz der beim Zusammenbau der Materialteilchen
in der Schicht herrschenden, relativ starken Teilchenbe
wegung lassen sich Gleit- bzw. Reibschichten gemäß der Er
findung mit sehr hohen Abscheidungsraten, hoher Haftfestig
keit am Substrat und hoher Gefügedichte aufbauen, wie dies
bei den bisherigen Aufdampfverfahren und Kathodenzer
stäubungsverfahren nicht möglich gewesen ist.
In besonders vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung
können in die aus einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase
aufgebaute Schicht dispersionshärtende Hartstoffteilchen
in einer der gewünschten Schichthärte vorher bestimmbaren
Menge eingelagert sein. Dabei sollte die aus einer Dampf-
oder Feinstteilchen-Phase aufgebaute Schicht ein Metall
oder eine Metall-Legierung enthalten, und die Hartstoff
teilchen sollten aus einer oder mehreren während des Be
schichtens gebildeten chemischen Verbindungen des Metalls
oder mindestens einer metallischen Legierungskomponente
bestehen, wobei gilt:
< 1.
Im Rahmen der Erfindung kann auch die gesamte, aus einer
Dampf- oder Feinstteilchen-Phase aufgebaute Schicht im
wesentlichen durch eine während des Schichtaufbaus ge
bildete und in status nascendi in die Schicht eingelagerte
chemische Verbindung, vorzugsweise chemische Metallver
bindung gebildet sein.
In bevorzugter Ausführungsform der Erfindung, die insbe
sondere für die Herstellung von Gleitlagern gedacht ist,
kann die aus einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase aufge
baute Schicht als Gleitschicht aus Gleitlagerwerkstoff oder
mit einer Matrix aus Gleitlagerwerkstoff ausgebildet sein.
Dabei kann die aus einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase
aufgebaute Schicht in einer Matrix aus vorzugsweise
metallischem Gleitlagerwerkstoff Feinstteilchen aus die
Gleiteigenschaften verbesserndem Stoff oder verbessernden
Stoffen enthalten. In dieser Ausführungsform der Er
findung kommen die durch die erfindungsgemäße Struktur
der Gleitschicht und die erfindungsgemäße Verbindung dieser
Gleitschicht mit der Substratoberfläche erzielten Vorteile
zu besonders günstiger Wirkung.
Wenngleich denkbar wäre, die mit wesentlich vergrößerter
Kompaktheit und wesentlich verbesserter Bindung zum
Substrat ausgestattete Schicht des erfindungsgemäßen
Schichtwerkstoffes bzw. der erfindungsgemäßen Schicht
werkstücke dadurch zu erzeugen, daß während des Aufbaus
der Schicht aus der Dampf- oder Feinstteilchen-Phase eine
beträchtlich erhöhte Temperatur an der zu beschichtenden
Oberfläche aufrechterhalten wird oder auch die Relativ
bewegung der in die Schicht einzubauenden Teilchen in
anderer Weise erzeugt werden könnte, hat sich erfindungs
gemäß ein Herstellungsverfahren für Schichtwerkstoff oder
Schichtwerkstücke gemäß der Erfindung wie folgt als be
sonders geeignet herausgestellt:
Bei diesem Verfahren wird davon ausgegangen, daß das zur Bildung einer aufzubauenden Schicht vorgesehene Material im Vakuum oder in einer Atmosphäre verminderten Druckes in Dampf- und Feinstteilchen-Phase übergeführt und auf die zu beschichtende Oberfläche eines ggf. vorbeschichteten Substrates geführt wird. Dabei kennzeichnet sich das er findungsgemäße Verfahren dadurch, daß die zu beschichtende Oberfläche des Substrates während des Aufbauens der Schicht gleichzeitig mit dem Aufbringen von Material aus einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase unter Beschuß mit Ionen gehalten wird, deren kinetische Energie ausreichend groß ist um die Haftfähigkeit und den Aufbau der sich bildenden Schicht zu beeinflussen. Während bei den herkömmlichen Verfahren zum Beschichten mittels Vakuumbedampfen oder Kathodenzerstäuben der Dampf bzw. die Feinstteilchen auf der zu beschichtenden Oberfläche niedergeschlagen werden und dabei nur mäßige kinetische Energie mitbringen, zeichnet sich das erfindungsgemäße Verfahren dadurch aus, daß die zum Aufbau der Schicht benutzten Teilchen deren Größe von Feinstteilchen-Größe bis zu atomarer Größe reicht mit erheblicher kinetischer Energie auf die zu beschichtende Substratoberfläche geschossen werden. Durch die von von diesen Teilchen mitgebrachte kinetische Energie erfolgt der Aufbau der Schicht unter fortgesetzter Teilchen- bzw. Molekular- oder Atombewegung, so daß beim Aufbau der Schicht zugleich eine Art von Rekristallisationsvorgang aufrechterhalten wird. Diese Teilchenbewegung setzt auch schon bei Beginn des Beschichtungsvorganges an der zu be schichtenden Substratoberfläche ein und hat zur Folge, daß nicht allein die mit hoher Energie auftreffenden Teilchen in die Substratoberfläche hineingeschossen werden, sondern auch an der Substratoberfläche ein Rekristallisationsvorgang mit Eindiffundieren von Teilchen des für die Beschichtung herangebrachten Materials in das Substratmaterial erfolgt. Hierdurch wird eine besonders feste und dauerhafte Bindung der aufgebauten Schicht auf der Substratoberfläche sicher gestellt. Wenngleich davon auszugehen ist, daß durch die an der beschichteten Oberfläche aufrechterhaltene Teilchen bewegung auch ein Teil der aufgebrachten Teilchen wieder abgeschleudert wird, läßt sich durch das erfindungsgemäße Verfahren die Bildung jeglichen Teilchenstaues oder Dampf staues vor der zu beschichtenden Oberfläche vermeiden. Dadurch wird die Menge der in die aufzubauende Schicht ein gebrachten Teilchen um ein Vielfaches erhöht, gegenüber denjenigen Beschichtungsverfahren, bei denen die die Schicht aufbauenden Teilchen mit nur mäßiger kinetischer Energie auf der zu beschichtenden Oberfläche niedergeschlagen werden. Das erfindungsgemäße Verfahren gestattet es dadurch die Leistungsfähigkeit der jeweils eingesetzten Teilchenquelle voll auszuschöpfen und bietet dadurch eine gegenüber den bisherigen Beschichtungsverfahren um ein Vielfaches er höhte Beschichtungseffektivität zusätzlich zu der wesent lich verbesserten Srukturausbildung der aufgebauten Schicht.
Bei diesem Verfahren wird davon ausgegangen, daß das zur Bildung einer aufzubauenden Schicht vorgesehene Material im Vakuum oder in einer Atmosphäre verminderten Druckes in Dampf- und Feinstteilchen-Phase übergeführt und auf die zu beschichtende Oberfläche eines ggf. vorbeschichteten Substrates geführt wird. Dabei kennzeichnet sich das er findungsgemäße Verfahren dadurch, daß die zu beschichtende Oberfläche des Substrates während des Aufbauens der Schicht gleichzeitig mit dem Aufbringen von Material aus einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase unter Beschuß mit Ionen gehalten wird, deren kinetische Energie ausreichend groß ist um die Haftfähigkeit und den Aufbau der sich bildenden Schicht zu beeinflussen. Während bei den herkömmlichen Verfahren zum Beschichten mittels Vakuumbedampfen oder Kathodenzerstäuben der Dampf bzw. die Feinstteilchen auf der zu beschichtenden Oberfläche niedergeschlagen werden und dabei nur mäßige kinetische Energie mitbringen, zeichnet sich das erfindungsgemäße Verfahren dadurch aus, daß die zum Aufbau der Schicht benutzten Teilchen deren Größe von Feinstteilchen-Größe bis zu atomarer Größe reicht mit erheblicher kinetischer Energie auf die zu beschichtende Substratoberfläche geschossen werden. Durch die von von diesen Teilchen mitgebrachte kinetische Energie erfolgt der Aufbau der Schicht unter fortgesetzter Teilchen- bzw. Molekular- oder Atombewegung, so daß beim Aufbau der Schicht zugleich eine Art von Rekristallisationsvorgang aufrechterhalten wird. Diese Teilchenbewegung setzt auch schon bei Beginn des Beschichtungsvorganges an der zu be schichtenden Substratoberfläche ein und hat zur Folge, daß nicht allein die mit hoher Energie auftreffenden Teilchen in die Substratoberfläche hineingeschossen werden, sondern auch an der Substratoberfläche ein Rekristallisationsvorgang mit Eindiffundieren von Teilchen des für die Beschichtung herangebrachten Materials in das Substratmaterial erfolgt. Hierdurch wird eine besonders feste und dauerhafte Bindung der aufgebauten Schicht auf der Substratoberfläche sicher gestellt. Wenngleich davon auszugehen ist, daß durch die an der beschichteten Oberfläche aufrechterhaltene Teilchen bewegung auch ein Teil der aufgebrachten Teilchen wieder abgeschleudert wird, läßt sich durch das erfindungsgemäße Verfahren die Bildung jeglichen Teilchenstaues oder Dampf staues vor der zu beschichtenden Oberfläche vermeiden. Dadurch wird die Menge der in die aufzubauende Schicht ein gebrachten Teilchen um ein Vielfaches erhöht, gegenüber denjenigen Beschichtungsverfahren, bei denen die die Schicht aufbauenden Teilchen mit nur mäßiger kinetischer Energie auf der zu beschichtenden Oberfläche niedergeschlagen werden. Das erfindungsgemäße Verfahren gestattet es dadurch die Leistungsfähigkeit der jeweils eingesetzten Teilchenquelle voll auszuschöpfen und bietet dadurch eine gegenüber den bisherigen Beschichtungsverfahren um ein Vielfaches er höhte Beschichtungseffektivität zusätzlich zu der wesent lich verbesserten Srukturausbildung der aufgebauten Schicht.
Die Beschleunigung der zum Ausbau dieser Schicht an die zu be
schichtende Oberfläche herangebrachten Teilchen kann in
unterschiedlicher Weise erfolgen.
In einer Ausführungsform der Erfindung werden zum Be
schleunigen der die Schicht aufbauenden Teilchen während
des Aufbauens der Schicht gleichzeitig mit dem Aufbringen
von Material aus einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase
von einer Ionenquelle herrührenden Ionenstrahlen durch die
auf das Substrat zu bewegende Dampf- und Feinstteilchen-Phase
hindurch auf die zu beschichtende Oberfläche gerichtet.
Diese Ionenstrahlen bestehen im wesentlichen aus Gasionen.
Jedoch haben diese auf die zu beschichtende Oberfläche
gerichteten und dort aufprallenden Gasionen keinen nach
teiligen Einfluß auf die Strukturausbildung der aufzu
bauenden Schicht, weil diese Gasionen zumindest zum wesent
lichen Teil an der sich aufbauenden Schicht abprallen,
nachdem sie ihre elektrische Ladung abgegeben haben.
Zumindest Teile der auf die zu beschichtende Oberfläche
geschossenen Gasionen werden aber bereits von den im Ober
flächenbereich der sich aufbauenden Schicht in Bewegung
befindlichen Dampfteilchen und Feinstteilchen aufgefangen
und nach Abgabe der elektrischen Ladung abgestoßen.
Dabei kann das zum Aufbau der Schicht vorgesehene Material
im Vakuum verdampft und auf der zu beschichtenden Oberfläche
unter Verdichtung durch die Ionenstrahlen im wesentlichen
thermisch niedergeschlagen werden. Diese Art der Verfahrens
führung eignet sich insbesondere für solche Anwendungsfälle,
bei denen es wesentlich auf die Erreichung hoher Abscheidungs
raten, also hoher Beschichtungseffektivität ankommt. Die
Strahlen von Gasionen werden in solchem Fall im wesentlichen
als Vehikel zum Verdichten des an die zu beschichtende
Oberfläche herangebrachten verdampften Materials und zum
Einstopfen der Dampfteilchen in die aufzubauende Schicht
benutzt. Die Gasionen werden dabei im wesentlichen durch
Abprallen an der sich aufbauenden Schicht daran gehindert
in die Schicht einzudringen oder in diese eingebaut zu
werden.
In ähnlicher Weise kann auch verfahren werden, wenn Schichten
aus nicht verdampfungsfähigem Material aufgebaut werden
sollen. Solche nicht verdampfungsfähige Materialien können
durch Kathodenzerstäubung unter Aufrechterhaltung einer
Atmosphäre verminderten Druckes in Form von Feinstteilchen
aus einem Target gelöst werden, wobei diese Feinstteilchen
in einer elektrischen Gasentladung auf die zu schichtende
Oberfläche geführt und dabei mittels der durch die Feinst
teilchen-Phase geführten Ionenstrahlen vor der zu be
schichtenden Oberfläche beschleunigt und auf der zu be
schichtenden Oberfläche verdichtet werden. Diese letztere
Verfahrensweise kann naturgemäß auch mit an sich ver
dampfungsfähigen Materialien durchgeführt werden, jedoch
wird man in der Praxis für verdampfungsfähige Materialien
die Möglichkeit der Vakuumverdampfung vorziehen, weil
hierfür erheblich leistungsfähigere Teilchenquellen bzw.
Dampfquellen verfügbar sind als bei Kathodenzerstäubung.
Eine Schicht die sowohl verdampfungsfähiges Material als
auch nicht verdampfungsfähiges Material enthält, kann in
dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens
unter Benutzung der Kathodenzerstäubung als Teilchenquelle
für beide Arten von Materialien benutzt werden, es lassen
sich aber im Rahmen dieser Ausführungsform des erfindungs
gemäßen Verfahrens auch gleichzeitige oder in kurzen Zeit
intervallen alternierend auszuführende Vakuumverdampfung
und Kathodenzerstäubung als simultan benutzte Teilchen
quellen heranziehen.
In einer bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Verfahrens wird das zum Aufbau der Schicht vorgesehene
verdampfte und/oder aus einem Target zerstäubte Material
mit dem Plasma einer zwischen der Verdampfungsstelle bzw.
Zerstäubungsstelle und dem Substrat aufrechterhaltenen
elektrischen Entladung zusammengebracht und mit in diesem
Plasma gebildeten Ionen mittels eines elektrischen Feldes
auf die beschichtete Oberfläche zu auf hohe kinetische
Energie beschleunigt. Dies bedeutet, daß zwischen der
Teilchenquelle oder einer zwischen der Teilchenquelle und
dem Substrat angeordneten Übernahmestelle des erzeugten
Dampfes bzw. Feinstteilchen und dem Substrat eine normale
elektrische Gasentladung aufrechterhalten wird, für die
das Substrat die Kathode bildet. In der positiven Säule
dieser elektrischen Gasentladung wird eine Vorbeschleunigung
des auf die zu beschichtende Oberfläche zu führenden
Dampfes bzw. der Feinstteilchen hervorgerufen, wobei der
Bereich der positiven Säule, also der Plasmabereich der
elektrischen Entladung zugleich als Raum für die Durch
führung gewünschter chemischer Reaktionen an dem zum
Schichtaufbau benutzten Material benutzt werden kann.
Die eigentliche Beschleunigung auf hohe kinetische Energie
wird dann in dem Kathoden-Dunkelraum der elektrischen Ent
ladung, also in kurzem Abstand von der zu beschichtenden
Oberfläche vorgenommen. Diese Beschleunigung kann einer
seits dadurch erfolgen, daß Gasionen aus der positiven
Säule der elektrischen Entladung heraus in Art von Ionen
strahlen durch den Kathoden-Dunkelraum auf die zu beschich
tende Oberfläche geschossen werden und dabei als Vehikel
für die Beschleunigung, Verdichtung und das Zusammenpacken
des Beschichtungsmaterials in der aufzubauenden Schicht
dienen. Andererseits wird aber in dieser Ausführungs
form des erfindungsgemäßen Verfahrens in der positiven
Säule der Gasentladung durch Aggregation von Beschichtungs
material mit Gasionen eintreten oder das Beschichtungs
materials selbst ionisiert werden und dadurch direkt durch
die Wirkung des elektrischen Feldes beschleunigt werden.
Diese Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens
zeichnet sich durch hohe Abscheidungsraten und hohe Einbau
energie des die Schicht aufbauenden Materials aus. Dies
äußert sich dadurch, daß in bzw. an der aufzubauenden
Schicht hohe Temperatur herrscht, die je nach Anwendungs
fall durch entsprechende Kühlung zu steuern ist. In vielen
Fällen ist eine Substrattemperatur bis zu etwa 300°C bis
500°C erwünscht, weil dadurch Desorptionsprozesse störender
Gase, sowie Erhöhungen der chemischen Reaktionsfähigkeiten
bei reaktiver Beschichtung stattfinden und im allgemeinen
besser ausgebildete, dichte kristalline Schichten ent
stehen.
Um den bei dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Verfahrens herrschenden hohen Bedarf an heranzuführendem
Beschichtungsmaterial zu decken, können Dampf- bzw. Teilchen
quellen verschiedener Art benutzt werden. So kann zum Auf
bau der Schicht vorgesehenes Material mittels elektrischer
Widerstandsheizung verdampft werden. Es besteht im Rahmen
dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens
auch die Möglichkeit zum Aufbau der Schicht vorgesehenes
Material durch Aufheizen mittels einer Glimmentladung zu
verdampfen oder/und mittels einer Glimmentladung aus einem
Target zu zerstäuben. Zum Aufbau der Schicht vorgesehenes
Material kann auch durch Aufheizen mittels eines Plasma
strahles verdampft oder/und mittels eines Plasmastrahles
aus einem Target zerstäubt werden. Eine andere Möglichkeit
besteht darin, zum Aufbau der Schicht vorgesehenes Material
durch Aufheizen mittels eines Elektronenstrahles zu ver
dampfen oder/und mittels eines Elektronenstrahles aus einem
Target zu zerstäuben. Dabei kann aus zwei oder mehr Komponenten
bestehendes Material für die aufzubauende Schicht aus ge
trennten Materialvorräten mittels springendem Elektronen
strahl mit Einstellung des Verdampfungszeit-Verhältnisses
bzw. Zerstäubungszeit-Verhältnisses entsprechend der ge
wünschten Zusammensetzung der Schicht verdampft oder/und
aus einem Target zerstäubt werden. Weiterhin kann zum Auf
bau der Schicht vorgesehenes Material durch Aufheizen
mittels eines Lichtbogens verdampft oder/und mittels eines
Lichtbogens aus einem Target zerstäubt werden. Eine weitere
Möglichkeit um ausreichend Material zum Aufbau der Schicht
in dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens
zur Verfügung zu stellen, besteht darin, zum Aufbau der
Schicht vorgesehenes Material zum Verdampfen kontinuierlich
oder diskontinuierlich in ausreichend kleinen Mengen auf
eine heiße Oberfläche zu bringen, um augenblickliches Ver
dampfen ohne Bildung eines Schmelzesumpfes hervorzurufen.
Das verdampfte oder/und zerstäubte Material kann im Rahmen
dieser Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens
einem beschleunigten Plasma zugeführt werden, das mittels
einer elektrischen Entladung, z. B. einer Glühkathoden-
Hilfsentladung außerhalb des Weges von der Verdampfungsstelle
bzw. Zerstäubungsstelle zu der zu beschichtenden Oberfläche
erzeugt und in den von der Verdampfungsstelle bzw. Zer
stäubungsstelle zu der zu beschichtenden Oberfläche bewegten
Dampf- oder/und Feinstteilchen-Phase eingeführt wird.
Diese Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens
eignet sich besonders für die Herstellung von Schichtwerk
stoff oder Schichtwerkstücken für Gleitelemente. Hierzu
werden erfindungsgemäß verdampfungsfähige, vorzugsweise
metallische Gleitwerkstoff-Komponenten intermittierend
in der gewünschten Zusammensetzung entsprechenden Inter
vallen verdampft, wobei das Dampfgemisch mittels Zusammen
führung mit ionisiertem Plasma ggf. unter teilweiser
eigener elektrischer Beladung durch Einwirkung eines
elektrischen Feldes beschleunigt und mit hoher kinetischer
Energie auf die zu beschichtende Oberfläche geführt wird.
Dabei können dem Gemisch von verdampften Gleitwerkstoff-
Komponenten zusätzlich die Gleiteigenschaften verbessernde
Zusätze in Form von Dampf- oder ggf. zerstäubten Fein
teilchen-Phase zugegeben werden, vorzugsweise vor dem Zu
führen zu dem elektrisch geladenen Plasma. Zusätzliche
Variationen in der in dieser Ausführungsform des erfindungs
gemäßen Verfahrens aufgebauten Gleitschicht lassen sich
durch Variieren der Beschleunigung des elektrisch geladenen
Gemisches von Plasma, verdampften Teilchen und ggf. Feinst
teilchen im zeitlichen Verlauf des Beschichtungsvorganges
erreichen, beispielsweise durch Verringerung der Beschleuni
gung.
Wenn es erwünscht ist, in einer Gleitschicht, die unter An
wendung dieser bevorzugten Ausführungsform des erfindungs
gemäßen Verfahrens aufgebaut wird, Bestandteile vorzusehen,
die durch chemische Reaktion von Ausgangsstoffen gebildet
werden oder sogar die Gleitschicht weitgehend oder ganz
aus solchen chemischen Reaktionsstoffen aufzubauen, bietet
sich die Möglichkeit, dem mit dem Gemisch von Material
komponenten zu vereinigenden ionisierten Plasma zusätzlich
Stoffkomponenten in vorher festlegbarer Menge beizugeben,
die mit den Gleitwerkstoff-Komponenten bzw. deren Ausgangs
stoffen zur Erzeugung von in der Gleitschicht gewünschten
Zusätzen oder überhaupt chemischen Verbindungen chemisch
zu reagieren. Ein Beispiel für eine solche Möglichkeit
besteht darin, daß die dem Plasma beigegebenen Reaktions
stoffkomponenten zur Erzeugung von Hartstoff durch chemische
Reaktion mit der einen oder anderen Gleitwerkstoff-Komponente
oder den Gleitwerkstoff-Komponenten ausgewählt werden,
beispielsweise O2 zur Erzeugung von Oxiden, C2H2 zur Er
zeugung von Karbiten und/oder NH3 oder N2 zur Erzeugung von
Nitriden von vornehmlich metallischen Gleitwerkstoff-
Komponenten.
Das erfindungsgemäße Verfahren läßt sich in beiden darge
legten Ausführungsformen zur Bildung von zwei oder mehr
übereinanderliegenden Schichten eines Schichtwerkstoffs
oder an Schichtwerkstücken anwenden. Zur Bildung von Schicht
werkstoff oder Schichtwerkstücken von zwei oder mehr über
einanderliegend aus Dampf- oder Feinstteilchen-Phase aufge
bauten Schichten kann erfindungsgemäß nach Abschluß des
Aufbaues einer Schicht eine Dampf- oder Feinstteilchen-Phase
aus dem für den Aufbau der nächst oberen Schicht vorgesehenen
Material oder Zusammensetzung von Materialkomponenten ge
bildet werden, wobei die für den Aufbau dieser Schicht vor
gesehenen Ionisierungs- und Beschleunigungsverhältnisse
für diese Dampf- oder Feinstteilchen-Phase eingerichtet
werden.
Die Bindung der im erfindungsgemäßen Verfahren sowohl der
einen als auch der anderen Ausführungsform aufgebauten
Schicht an die Substratoberfläche läßt sich in Weiterbildung
der Erfindung dadurch wesentlich verbessern, daß die zu be
schichtende Substratoberfläche unmittelbar vor Beginn der
Beschichtung in Vakuum bzw. in einer Atmosphäre verminderten
Druckes durch Beschuß mit Elektronen und/oder Ionen ge
reinigt aufgerauht und auf eine für die Beschichtung ge
wünschte Temperatur gebracht wird und die so vorbehandelte
Oberfläche bis zur Beschichtung vor Zutritt von jeglichen
anderen Stoffen, insbesondere Gasen geschützt wird.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden
anhand der Zeichnung näher erläutert.
Es zeigt
Fig. 1 einen aus einem Substrat und einer er
findungsgemäß gebildeten Gleitschicht
bestehenden Schichtwerkstoff im Schnitt;
Fig. 2 einen Teilschnitt 2-2 der Fig. 1 stark
vergrößert;
Fig. 3 einen Teilschnitt 3-3 der Fig. 1 stark
vergrößert;
Fig. 4 ein Schema für eine Anlage zur Durchführung
des erfindungsgemäßen Verfahrens in einer
Varianten und
Fig. 5 ein Schema für eine Anlage zur Durch
führung des Verfahrens gemäß der Erfindung
in einer anderen Varianten.
Im Beispiel der Fig. 1 bis 3 handelt es sich um einen
Schichtwerkstoff 10, der zur Herstellung, beispielsweise von
Gleitelementen wie Gleitlagern, zu verwenden ist. Der
Schichtwerkstoff 10 hat eine Substratschicht 11, die im dar
gestellten Beispiel aus Stahl besteht und den Rücken eines
Gleitelementes bilden soll. Auf die Substratschicht 11 ist
eine Funktionsschicht 12, und zwar eine Gleitschicht aufge
bracht. Wie Fig. 2 zeigt, ist diese Funktionsschicht 12
im dargestellten Beispiel aus feinen Aluminiumteilchen 13,
Feinteilchen 14 aus Blei-Zinn-Legierung mit etwa 2 bis 4%
Zinngehalt und Feinteilchen 15 aus Graphit oder Molybdän
disulfid gebildet. Dabei sind in das Gefüge noch feinste
Teilchen 16 aus Aluminiumoxid eingelagert. Diese in der
Funktionsschicht 12 vereinigten Teilchen bilden ein feines
bis feinkristallines Gefüge, das aufgrund der Feinheit der
Teilchen praktisch isotrop ist. Dabei sind diese Teilchen
zu einer Gefügedichte zusammengepackt, die im wesentlichen
dem Gefüge eines kompakten Materials entspricht.
Die Funktionsschicht 12 ist durch ionenstrahlaktivierte oder
plasmaaktivierte Beschichtung gebildet, wobei die metallischen
Bestandteile, nämlich Aluminium und Blei durch mengenge
steuertes bzw. zeitlich gesteuertes Verdampfen aus getrennten
Materialquellen und die nicht verdampfungsfähigen Teilchen 15
aus Graphit oder Molybdändisulfid durch Herausschlagen,
beispielsweise mittels Elektronenstrahlen, aus einer ent
sprechenden Materialquelle zeitlich gesteuert in den
Beschichtungsvorgang eingeleitet worden sind. Die in das
Gefüge eingebauten Teilchen 16 aus Aluminiumoxid sind durch
Reaktion von Aluminium mit im Plasma in vorher festgelegter
Menge enthaltenem Sauerstoff auf dem Weg von der Teilchen
quelle zur dem Substrat gebildet und in status nascendi in
das Gefüge eingebaut.
Um die im gezeigten Beispiel vorgesehenen unterschiedlichen
Werkstoffe Aluminium, Blei, Graphit oder Molybdändisulfid
dem Beschichtungsvorgang in festgelegter Menge zur Ver
fügung zu stellen, eignet sich in diesem Beispiel insbe
sondere eine Verdampfungsvorrichtung mit getrennten Material
vorräten von Aluminium, Blei und Graphit bzw. Molybdändisul
fid, die mit einem zeitlich gesteuerten springenden Elektronen
strahl beaufschlagt werden. Dabei werden die jeweils von dem
Elektronenstrahl getroffenen Bereiche des Aluminiumvorrats
und des Bleivorrats örtlich begrenzt und sehr rasch auf
Verdampfungstemperatur aufgeheizt, so daß mit der Bestrahlungs
zeit der jeweiligen Metalloberfläche genau bestimmbare
Metallmengen verdampft werden. Wird der Elektronenstrahl
jedoch auf die Oberfläche des nicht verdampfungsfähigen
Materials, nämlich Graphit oder Molybdändisulfid geführt,
dann werden durch die auf die Oberfläche dieser Materialien
mit erheblicher Energie auftreffenden Elektronen, Material
teilchen aus der Oberfläche geschlagen und in den noch vor
handenen Metalldampf übergeführt.
Durch die Ionenstrahlaktivierung oder Plasmaaktivierung
werden die in den Beschichtungsvorgang eingeführten Metall
dämpfe und Feinstteilchen nach der zu beschichtenden Ober
fläche des Substrates hin so beschleunigt, daß ein diffusions
artiges Eindringen und Durchsetzen der Substratoberfläche
mit dem aufgebrachten Material, beispielsweise Aluminium,
Blei und Aluminiumoxid, eintritt. Andererseits werden auch
durch das mit hoher Beschleunigung auf die Substratoberfläche
gebrachte Material Teilchen aus der Substratoberfläche
herausgeschlagen und bei Beginn des Aufbaus der Funktions
schicht 12 in diese wieder mit eingelagert. Insgesamt kommt
es somit zu einer Art von gegenseitiger Durchdringung an
der Berührungsfläche der Funktionsschicht 12 mit der
Substratschicht 11, wie dies beispielsweise in Fig. 3 an
gedeutet ist. Dort ist die Strahlstruktur der Substrat
schicht mit den Teilchen 17 angedeutet, wobei Aluminium
teilchen 13 und Bleiteilchen 14 sowie Teilchen 16 aus
Aluminiumoxid in die Stahlstruktur eingedrungen sind,
während andererseits losgelöste Teilchen 18 aus der Stahl
struktur wieder in den unteren Bereich der Substratschicht
12 eingebaut sind. Die Fig. 4 und 5 zeigen in schema
tischer Darstellung Möglichkeiten für Anlagen zur Her
stellung von Schichtwerkstoff nach Fig. 1 bis 3 nach zwei
unterschiedlichen Verfahrensvarianten.
Bei einer Anlage 20 nach Fig. 4 sind im Inneren eines
Rezipienten 21 ein Träger 22 für das Substrat und eine
Quelle 23 für das für die Beschichtung des Substrates vor
gesehene Material einander gegenübergestellt. Wie durch den
Anschlußstutzen 24 angedeutet, ist der Rezipient an Vakuum
pumpen angeschlossen. Ferner ist der Rezipient 21 mit
einem Gaseinlaß 25 versehen, der über ein Feinventil 26
an eine Quelle 27 für Plasmagas angeschlossen ist. Im
Inneren des Rezipienten 21 ist die Materialquelle 23 mit
einer Blende 28 wahlweise abdeckbar. Der Substratträger 22
ist im dargestellten Beispiel mit einer auf das elektrische
Potential des Rezipienten 21 gelegten bzw. geerdeten Ab
schirmung 29 versehen. Mittels einer Hochspannungs-Ver
sorgungseinrichtung 30 ist der Substratträger 22 auf
negatives Hochspannungspotential gelegt, während das
positive Potential an den Rezipienten 21 und die Material
quelle 23 gelegt und geerdet ist. Für die Materialquelle 23
ist eine Stromversorgungseinrichtung 31 vorgesehen.
Mit der in Fig. 4 schematisch dargestellten Anlage wird
eine Funktionsschicht 12 auf dem Substrat 11 (Fig. 1)
nach folgendem Verfahren aufgebaut:
Zwischen der Materialquelle 23 und dem Substratträger 22 wird eine elektrische Plasmaentladung, beispielsweise eine normale Gasentladung, aufgebaut, deren wesentlicher Potentialabfall im Kathodendunkelraum 32 eintritt. Sobald die bewegliche Blende 28 geöffnet worden ist, wird die von der Materialquelle 23 abgegebene Dampf- und/oder Feinst teilchen-Phase der elektrischen Plasmaentladung übergeben und durch das Plasma der positiven Säule 33 geführt und dabei etwas in Richtung auf das Substrat zu beschleunigt sowie zumindest teilweise elektrisch geladen. Sobald die so vorbereitete Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase in den Bereich des Dunkelraumes 32 gelangt, werden die elektrisch geladenen Teilchen in dem dort herrschenden starken Potentialabfall erheblich beschleunigt und mit großer kinetischer Energie auf die Substratoberfläche bzw. die sich neu bildende Oberfläche der Funktionsschicht bewegt. Soweit elektrisch nicht geladene Teilchen in der Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase enthalten sind, werden diese mitgerissen und ebenfalls auf hohe kinetische Energie beschleunigt. Insgesamt treffen die Teilchen der Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase mit so hoher kine tischer Energie auf die jeweilige Substratoberfläche bzw. neu gebildete Oberfläche der sich aufbauenden Funktions schicht, daß im Bereich dieser Oberfläche erhebliche Teilchenbewegung auftritt, d. h. festsitzende Teilchen losgelöst und ankommende Teilchen eingepackt werden. Es kommt dadurch an der Substratoberfläche zu einem diffusions artigen Ineinanderbauen von ankommenden Teilchen aus Materialien der Funktionsschicht mit in der Substratober fläche vorhandenen Materialteilchen, wie dies in Fig. 3 angedeutet ist. Beim weiteren Aufbau der Funktionsschicht wird die kinetische Energie der ankommenden Teilchen dazu benutzt, einen Teil der bereits angelagerten Teilchen wieder abzulösen und mit neu ankommenden Teilchen fest zusammenzupacken.
Zwischen der Materialquelle 23 und dem Substratträger 22 wird eine elektrische Plasmaentladung, beispielsweise eine normale Gasentladung, aufgebaut, deren wesentlicher Potentialabfall im Kathodendunkelraum 32 eintritt. Sobald die bewegliche Blende 28 geöffnet worden ist, wird die von der Materialquelle 23 abgegebene Dampf- und/oder Feinst teilchen-Phase der elektrischen Plasmaentladung übergeben und durch das Plasma der positiven Säule 33 geführt und dabei etwas in Richtung auf das Substrat zu beschleunigt sowie zumindest teilweise elektrisch geladen. Sobald die so vorbereitete Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase in den Bereich des Dunkelraumes 32 gelangt, werden die elektrisch geladenen Teilchen in dem dort herrschenden starken Potentialabfall erheblich beschleunigt und mit großer kinetischer Energie auf die Substratoberfläche bzw. die sich neu bildende Oberfläche der Funktionsschicht bewegt. Soweit elektrisch nicht geladene Teilchen in der Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase enthalten sind, werden diese mitgerissen und ebenfalls auf hohe kinetische Energie beschleunigt. Insgesamt treffen die Teilchen der Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase mit so hoher kine tischer Energie auf die jeweilige Substratoberfläche bzw. neu gebildete Oberfläche der sich aufbauenden Funktions schicht, daß im Bereich dieser Oberfläche erhebliche Teilchenbewegung auftritt, d. h. festsitzende Teilchen losgelöst und ankommende Teilchen eingepackt werden. Es kommt dadurch an der Substratoberfläche zu einem diffusions artigen Ineinanderbauen von ankommenden Teilchen aus Materialien der Funktionsschicht mit in der Substratober fläche vorhandenen Materialteilchen, wie dies in Fig. 3 angedeutet ist. Beim weiteren Aufbau der Funktionsschicht wird die kinetische Energie der ankommenden Teilchen dazu benutzt, einen Teil der bereits angelagerten Teilchen wieder abzulösen und mit neu ankommenden Teilchen fest zusammenzupacken.
Um die normale elektrische Entladung für optimale Teilchen
beschleunigung einzurichten, kann mittels des Gaseinlasses
25 und des fein einstellbaren Ventils 26 bei laufender
Vakuumpumpe der Druck im Inneren des Rezipienten 21 in der
Größe von 10-3 mbar gehalten werden. Dabei kann der Gasein
laß zugleich für das Einlassen von mit den Dampf- bzw. den
Feinstteilchen des für die Funktionsschicht vorgesehenen
Materials chemisch reagierenden Gasen benutzt werden. So
kann beispielsweise Sauerstoff zur Erzeugung von Oxiden,
C2H2 zur Erzeugung von Karbiden und/oder NH3 oder Stick
stoff zur Erzeugung von Nitriden von vornehmlich metallischen
Gleitwerkstoff-Komponenten vorgesehen werden. Beispielsweise
wäre für die Erzeugung von Aluminiumoxid-Feinstteilchen 16
gemäß dem Beispiel nach Fig. 1 bis 3 Sauerstoff in das
Plasmagas in vorher festgelegter Menge einzuführen, wobei
bevorzugt Argon als Plasmagas zu benutzen ist.
Wenn zwei oder mehrere Materialquellen 23 vorgesehen sind
und wahlweise betrieben werden können oder wahlweise von
der Blende 28 freigegeben werden können, ergibt sich die
Möglichkeit des nacheinander erfolgenden Aufbaus mehrerer
übereinander liegender Schichten, wobei die diffusionsartige
gegenseitige Verankerung dieser Schichten durch die mit
hoher kinetischer Energie auftreffenden Teilchen auch in
diesem Fall ausgenutzt werden kann.
Die Materialquelle 23 kann unterschiedlicher Art sein. Bei
spielsweise kann bei Herstellung von Funktionsschichten aus
gut verdampfbarem Material eine Materialquelle 23 vorge
sehen sein, die zum Verdampfen des Materials mittels Wider
standsheizung ausgebildet ist. Es ist jedoch auch denkbar,
eine Materialquelle 23 vorzusehen, bei der das als Dampf-
und/oder Feinstteilchen-Phase abzugebende Material mittels
einer Glimmentladung verdampft oder mittels einer Glimm
entladung zerstäubt wird. Eine andere denkbare Möglichkeit
besteht darin, daß die Materialquelle 23 dazu ausgebildet
ist, zu verdampfendes Material mittels eines Plasmastrahles
aufzuheizen oder nicht verdampfbares Material mittels
eines Plasmastrahles zu zerstäuben. Bei diesen beiden
letzteren Möglichkeiten ist jedoch zu beachten, daß eine
Glimmentladung oder ein Plasmastrahl nicht mit der für die
Beschleunigung des Materials benutzten normalen elektrischen
Entladung kollidiert. Es empfiehlt sich daher für die meisten
Zwecke eine hochwirksame Materialquelle, bei der zum Aufbau
der Funktionsschicht vorgesehenes Material durch Aufheizen
mittels eines Elektronenstrahles verdampft oder/und mittels
eines Elektronenstrahles zerstäubt wird. Besonders vorteil
haft ist dabei eine Einrichtung mit springendem Elektronen
strahl, mit der sich auch Materialien unterschiedlichster
Art in Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase überführen
lassen. Zugleich lassen sich mit dieser Einrichtung auch
gewünschte Zusammensetzungen durch Einrichten der zeit
lichen Perioden in welchen der springende Elektronenstrahl
auf den einen und anderen Materialvorrat wirksam ist.
Es sind jedoch auch noch andere Möglichkeiten für den Auf
bau der Materialquelle 23 gegeben, beispielsweise das Ver
dampfen und/oder Zerstäuben des Materials mittels eines
Lichtbogens und dergleichen mehr.
Das mit einer Vorrichtung nach Fig. 4 durchzuführende Ver
fahren läßt sich noch dahingehend ergänzen, daß vor dem
eigentlichen Beschichten eine reinigende und aufrauhende
Behandlung der Oberfläche des Substrats vorgenommen wird.
Man kann hierzu die normale Gasentladung benutzen, um die
Oberfläche des Substrates mit Ionen, beispielsweise Argon-
Ionen zu beschießen, bevor der positiven Säule 33 Dampf-
und/oder Feinstteilchen-Phase von die Funktionsschicht
bildendem Material zugeführt wird.
Bei einer abgewandelten Anlage 40 nach Fig. 5 ist im
Inneren eines Rezipienten 41 ein Substrathalter 42 einer
Materialquelle 43 für Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase
aus für die Bildung der Funktionsschicht vorgesehenen
Material gegenübergestellt. Der Rezipient ist wiederum bei
24 an eine Vakuumpumpe angeschlossen und mit einem Gas
einlaß 25 versehen, der über ein fein einstellbares Ventil
26 an eine Plasmagasquelle 27 angeschlossen ist. Die Material
quelle 43 kann, wie im Beispiel der Fig. 4, mit einer be
weglichen Blende überdeckbar sein. Im vorliegenden Beispiel
ist jedoch die Materialquelle 43 mit einer Betriebseinrich
tung 44 versehen, mit der sich die Materialquelle 43
praktisch augenblicklich zur Abgabe einer Dampf- und/oder
Feinstteilchen-Phase von die Funktionsschicht bildendem
Material einschalten und auch ebensoschnell wie abschalten
läßt. In diesem Zusammenhang kommt besonders Ausbildung
der Materialquelle 43 mit springendem Elektronenstrahl oder
Verdampfungseinrichtungen in Betracht, bei denen kleine
Mengen von zu verdampfendem Material auf eine heiße Ober
fläche gebracht werden, um augenblickliches Verdampfen ohne
Bildung eines Schmelzsumpfes hervorzurufen. Zur Beschleuni
gung der von der Materialquelle 43 auf den Substrathalter
42 gerichteten Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase ist im
Beispiel der Fig. 5 eine Ionenstrahl-Einrichtung 45 an den
Rezipienten 41 derart angebaut, daß der aus der Ionenstrahl-
Einrichtung 45 kommende Ionenstrahl durch die von der
Materialquelle 43 kommende Dampf- und/oder Feinstteilchen-
Phase hindurch auf den Substrathalter 42 bzw. das dort
angebrachte Substrat gerichtet ist. Der Ionenstrahlerzeuger
45 ist in diesem Beispiel mit einem Gaseinlaß 46 versehen,
durch den das die Ionen bildende Gas in wählbarer Menge ein
gelassen wird. Im Inneren des Ionengaserzeugers ist ein
Filament 47 angebracht, mit dem das eingelassene Gas wirksam
ionisiert wird. Mittels eines Magneten 48 werden die er
zeugten Ionen zu einem Strahl gebündelt und mittels an eine
elektrische Spannungsquelle 50 angelegten Gittern 49 be
schleunigt, wobei die Beschleunigung des Ionenstrahls dem
beim Aufbau der jeweiligen Funktionsschicht auftretenden
Erfordernissen entsprechend eingerichtet werden kann. Die
Beschleunigung des Ionenstrahls kann auch während des Be
schichtungsvorganges variiert werden, beispielsweise während
des Beschichtungsvorgangs verringert werden.
Mit dem die Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase durchsetzenden
Ionenstrahl wird auch die Dampf- und/oder Feinstteilchen-Phase
selbst auf das Substrat zu beschleunigt, so daß im wesent
lichen die gleiche Wirkungen beim Aufbau der Schicht erzielt
werden, wie sie oben in Verbindung mit der Verfahrensvariante
nach Fig. 4 erläutert sind. Auch im Beispiel der Fig. 5 kann
eine reaktive Beschichtung vorgenommen werden, in dem ent
sprechende Reaktionsgase in abgemessener Menge über das fein
einstellbare Ventil 26 in dem Rezipienten 41 eingelassen
werden.
- Bezugszeichenliste
10 - Schichtwerkstoff
11 - Substratschicht
12 - Funktionsschicht
13 - Aluminiumteilchen
14 - Feinteilchen (Blei-)
15 - Feinteilchen
16 - Aluminiumoxidteilchen
17 - Teilchen
18 - losgelöste Teilchen
20 - Anlage
21 - Rezipienten
22 - Träger
23 - Quelle
24 - Anschlußstutzen
25 - Gaseinlaß
26 - Feinventil
27 - Quelle
28 - Blende
29 - Abschirmung
30 - Hochspannungs-Versorgungseinrichtung
31 - Stromversorgungseinrichtung
32 - Kathodendunkelraum
33 - Säule
40 - Anlage
41 - Rezipienten
42 - Substrathalter
43 - Materialquelle
44 - Betriebseinrichtung
45 - Ionenstrahleinrichtung
46 - Gaseinlaß
47 - Filament
48 - Magnet
49 - Gitter
50 - Spannungsquelle
Claims (26)
1. Schichtwerkstoff oder -werkstück, insbesondere für die
Herstellung von Gleit- oder Reibelementen, mit mindestens
einer im Vakuum durch Auftragen von bis zu molekularer
Größe feinen Materialteilchen aus einer Dampf- oder
Feinstteilchen-Phase aufgebauten Schicht,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Teilchen (13, 14, 15) in der aus einer Dampf- oder Feinst
teilchen-Phase aufgebauten Schicht (12) in einem feinen,
vorzugsweise feinkristallinen, praktisch isotropen Ge
füge auf die Dichte des entsprechenden kompakten Materials
zusammengepackt sind und im Grenzflächenbereich der aus
einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase aufgebauten
Schicht (12) mit einer darunter angeordneten Schicht
(11) eine diffusionsartige Durchsetzung der darunter
angeordneten Schicht (11) mit Materialteilchen der
aus einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase aufgebauten
Schicht (12) sowie Einlagerung von Materialteilchen
der darunter angeordneten Schicht (11) in die aus
einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase aufgebauten
Schicht (12) vorhanden sind.
2. Schichtwerkstoff oder -werkstück nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß in die aus einer Dampf- oder Feinst
teilchen-Phase aufagebaute Schicht (12) dispersions
härtende Hartstoffteilchen (16) in einer der gewünschten
Schichthärte vorher bestimmbaren Menge eingelagert sind.
3. Schichtwerkstoff oder -werkstück nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die aus einer Dampf- oder Feinst
teilchen-Phase aufgebaute Schicht (12) ein Metall
oder eine Metall-Legierung enthält und die Hartstoff
teilchen (16) aus einer oder mehreren während des Beschichtens
gebildeten chemischen Verbindungen des Metalls oder
mindestens einer metallischen Legierungskomponente
bestehen, wobei gilt:
< 1.
4. Schichtwerkstoff oder -werkstück nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die aus einer Dampf- oder Feinst
teilchen-Phase aufgebaute Schicht (12) im wesentlichen
durch eine während des Schichtaufbaus gebildete und in
statu nascendi in die Schicht (12) eingelagerte
chemische Verbindung, vorzugsweise chemische Metall
verbindung gebildet ist.
5. Schichtwerkstoff oder -werkstück nach einem der Ansprüche
1 bis 4 für die Herstellung von Gleitlagern, dadurch
gekennzeichnet, daß die aus einer Dampf- oder Feinst
teilchen-Phase aufgebaute Schicht (12) als Gleit
schicht aus Gleitlagerwerkstoff oder mit einer Matrix (Teil
chen 13, 14) aus Gleitlagerwerkstoff ausgebildet ist.
6. Schichtwerkstoff oder -werkstück nach Anspruch 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die aus einer Dampf- oder Feinst
teilchen-Phase aufgebaute Schicht (12) in einer Matrix (Teil
chen 13, 14) aus vorzugsweise metallischem Gleitlagerwerkstoff
Feinstteilchen aus die Gleiteigenschaften verbesserndem
Stoff oder verbessernden Stoffe enthält.
7. Verfahren zur Herstellung von Schichtwerkstoff oder
-werkstücken nach einem der Ansprüche 1 bis 6, bei dem
das zur Bildung einer aufzubauenden Schicht
vorgesehene Material im Vakuum oder in einer Atmosphäre
verminderten Druckes in Dampf- oder Feinstteilchen-Phase
übergeführt und auf die zu beschichtende Oberfläche eines
ggf. vorbeschichteten Substrates geführt wird,
dadurch gekennzeichnet, daß
die zu beschichtende Oberfläche des Substrates während
des Aufbaues der Schicht gleichzeitig mit dem Aufbringen
von Material aus einer Dampf- oder Feinstteilchen-Phase
unter Beschuß mit Ionen gehalten wird, deren kinetische
Energie ausreichend groß ist, um die Haftfähigkeit und
den Aufbau der sich bildenden Schicht zu beeinflussen.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
während des Aufbauens der Schicht gleichzeitig mit dem
Aufbringen von Material aus einer Dampf- oder Feinst
teilchen-Phase von einer Ionenquelle herrührende Ionen
strahlen durch die auf das Substrat zu bewegte Dampf- und
Feinstteilchen-Phase hindurch auf die zu beschichtende
Oberfläche gerichtet werden.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
das zum Aufbau der Schicht vorgesehene Material im Vakuum
verdampft und auf der zu beschichtenden Oberfläche unter
Verdichtung durch die Ionenstrahlen im wesentlichen
thermisch niedergeschlagen wird.
10. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
das zum Aufbau der Schicht vorgesehene Material durch
Kathodenzerstäubung unter Aufrechterhaltung einer
Atmosphäre verminderten Druckes in Form von Feinst
teilchen aus einem Target gelöst wird, diese Feinst
teilchen in einer elektrischen Gasentladung auf die
zu beschichtende Oberfläche geführt und dabei mittels
der durch die Feinstteilchen-Phase geführten Ionen
strahlen vor der zu beschichtenden Oberfläche beschleu
nigt und auf der zu beschichtenden Oberfläche verdichtet
werden.
11. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
das zum Aufbau der Schicht vorgesehene verdampfte und/
oder aus einem Target zerstäubte Material mit dem Plasma
einer zwischen der Verdampfungsstelle bzw. Zerstäubungs
stelle und dem Substrat aufrecht erhaltenen elektrischen
Entladung zusammengebracht und mit in diesem Plasma ge
bildeten Ionen mittels eines elektrischen Feldes auf
die beschichtete Oberfläche zu auf hohe kinetische
Energie beschleunigt wird.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
zum Aufbau der Schicht vorgesehenes Material mittels
elektrischer Widerstandsheizung verdampft wird.
13. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet,
daß zum Aufbau der Schicht vorgesehenes Material durch
Aufheizen mittels einer Glimmentladung verdampft oder/
und mittels einer Glimmentladung aus einem Target zer
stäubt wird.
14. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
zum Aufbau der Schicht vorgesehenes Material durch
Aufheizen mittels eines Plasmastrahles verdampft oder/
und mittels eines Plasmastrahles aus einem Target zer
stäubt wird.
15. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet,
daß zum Aufbau der Schicht vorgesehenes Material durch
Aufheizen mittels eines Elektronenstrahles verdampft oder/und
mittels eines Elektronenstrahles aus einem Target zer
stäubt wird.
16. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
daß aus zwei oder mehr Komponenten bestehendes Material
für die aufzubauende Schicht aus getrennten Material
vorräten mittels springendem Elektronenstrahl mit Ein
stellung des Verdampfungszeit-Verhältnisses bzw. Zer
stäubungszeit-Verhältnisses entsprechend der gewünschten
Zusammensetzung der Schicht verdampft oder/und aus
einem Target zerstäubt wird.
17. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
zum Aufbau der Schicht vorgesehenes Material durch Auf
heizen mittels eines Lichtbogens verdampft oder/und
mittels eines Lichtbogens aus einem Target zerstäubt
wird.
18. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
zum Aufbau der Schicht vorgesehenes Material zum Ver
dampfen kontinuierlich oder diskontinuierlich in aus
reichend kleinen Mengen auf eine heiße Oberfläche
gebracht wird, um augenblickliches Verdampfen ohne
Bildung eines Schmelzesumpfes hervorzurufen.
19. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß
das verdampfte oder/und zerstäubte Material einem be
schleunigendem Plasma zugeführt wird, das mittels
einer elektrischen Entladung, z. B. einer Glühkathoden-
Hilfsentladung außerhalb des Weges von der Verdampfungs
stelle bzw. Zerstäubungsstelle zu der zu beschichten
den Oberfläche erzeugt und in den von der Verdampfungs
stelle bzw. Zerstäubungsstelle zu der zu beschichtenden
Oberfläche bewegten Dampf- oder/und Feinteilchen-Phase
eingeführt wird.
20. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 19 zur Her
stellung von Schichtwerkstoff oder -werkstücken für
Gleitelemente, dadurch gekennzeichnet, daß verdampfungs
fähige, vorzugsweise metallische Gleitwerkstoff-
Komponenten intermittierend in der gewünschten Zusammen
setzung entsprechenden Intervallen verdampft werden,
daß Dampfgemisch mittels Zusammenführung mit ionisiertem
Plasma ggf. unter teilweiser eigener elektrischer Be
ladung durch Einwirkung eines elektrischen Feldes be
schleunigt und mit hoher kinetischer Energie auf die
zu beschichtende Oberfläche geführt wird.
21. Verfahren nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet,
daß dem Gemisch von verdampften Gleitwerkstoff-Komponen
ten die Gleiteigenschaften verbessernde Zusätze in
Form von Dampf- oder ggf. zerstäubten Feinteilchen-
Phase zugegeben werden, vorzugsweise vor dem Zuführen
zu dem elektrisch geladenen Plasma.
22. Verfahren nach Anspruch 20 oder 21, dadurch gekennzeich
net, daß die Beschleunigung des elektrisch geladenen
Gemisches von Plasma, verdampftem Material und ggf.
Feinstteilchen im zeitlichen Verlauf des Beschichtungs
vorganges variiert, beispielsweise verringert wird.
23. Verfahren nach einem der Ansprüche 20 bis 22, dadurch
gekennzeichnet, daß dem mit dem Gemisch von Material
komponenten zu vereinigenden ionisierten Plasma Stoff
komponenten in vorher festlegbarer Menge beigegeben
werden, die mit den Gleitwerkstoff-Komponenten zur
Erzeugung von in der Gleitschicht gewünschten Zusätzen
chemisch reagieren.
24. Verfahren nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß
die dem Plasma beigegebenen Reaktions-Stoffkomponenten
zur Erzeugung von Hartstoff durch chemische Reaktion
mit der einen oder anderen Gleitwerkstoff-Komponente
oder den Gleitwerkstoff-Komponenten ausgewählt werden,
beispielsweise O₂ zur Erzeugung von Oxiden, C2H2 zur
Erzeugung von Karbiden und/oder NH3 oder N2 zur Er
zeugung von Nitriden von vornehmlich metallischen
Gleitwerkstoff-Komponenten.
25. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 24, dadurch ge
kennzeichnet, daß zur Bildung von Schichtwerkstoff oder
-werkstücken von zwei oder mehr übereinanderliegend
aus Dampf- oder Feinstteilchen-Phase aufgebauten Schich
ten nach Abschluß des Aufbaus einer Schicht eine Dampf-
oder Feinstteilchen-Phase aus dem für den Aufbau der
nächstoberen Schicht vorgesehenen Material oder Zu
sammensetzung von Materialkomponenten gebildet wird und
die für den Aufbau dieser Schicht vorgesehenen Ionisie
rungs- und Beschleunigungsverhältnisse für diese Dampf-
oder Feinstteilchen-Phase eingerichtet werden.
26. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 25, dadurch ge
kennzeichnet, daß die zu beschichtende Substratober
fläche unmittelbar vor Beginn der Beschichtung in Vakuum
bzw. in einer Atmosphäre verminderten Druckes durch
Beschuß mit Elektronen und/oder Ionen gereinigt, aufge
rauht und auf eine für die Beschichtung gewünschte
Temperatur gebracht wird und die so vorbehandelte
Oberfläche bis zur Beschichtung vor Zutritt von jeg
lichen anderen Stoffen, insbesondere Gasen, geschützt
wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873704328 DE3704328A1 (de) | 1987-02-12 | 1987-02-12 | Schichtwerkstoff oder schichtwerkstueck sowie verfahren zu dessen herstellung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19873704328 DE3704328A1 (de) | 1987-02-12 | 1987-02-12 | Schichtwerkstoff oder schichtwerkstueck sowie verfahren zu dessen herstellung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3704328A1 true DE3704328A1 (de) | 1988-08-25 |
Family
ID=6320807
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19873704328 Withdrawn DE3704328A1 (de) | 1987-02-12 | 1987-02-12 | Schichtwerkstoff oder schichtwerkstueck sowie verfahren zu dessen herstellung |
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DE (1) | DE3704328A1 (de) |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: GLYCO AG, 6200 WIESBADEN, DE |
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8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |