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DE3679394D1 - Verfahren zur pruefung einer transistorsteuermatrix sowie fuer diese pruefung eingerichtete matrix. - Google Patents

Verfahren zur pruefung einer transistorsteuermatrix sowie fuer diese pruefung eingerichtete matrix.

Info

Publication number
DE3679394D1
DE3679394D1 DE8686402726T DE3679394T DE3679394D1 DE 3679394 D1 DE3679394 D1 DE 3679394D1 DE 8686402726 T DE8686402726 T DE 8686402726T DE 3679394 T DE3679394 T DE 3679394T DE 3679394 D1 DE3679394 D1 DE 3679394D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
matrix
testing
test
transistor control
established
Prior art date
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Expired - Fee Related
Application number
DE8686402726T
Other languages
English (en)
Inventor
Michel Benoit Sirieix
Henri Guy Gaston Pruvot
Albin Virdis
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Societe Anonyme de Telecommunications SAT
Original Assignee
Societe Anonyme de Telecommunications SAT
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Societe Anonyme de Telecommunications SAT filed Critical Societe Anonyme de Telecommunications SAT
Application granted granted Critical
Publication of DE3679394D1 publication Critical patent/DE3679394D1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
DE8686402726T 1985-12-10 1986-12-09 Verfahren zur pruefung einer transistorsteuermatrix sowie fuer diese pruefung eingerichtete matrix. Expired - Fee Related DE3679394D1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR8518237A FR2591349B1 (fr) 1985-12-10 1985-12-10 Procede de test d'une plaquette de traitement a circuits d'entree a injection directe et plaquette de traitement agencee pour ce test

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3679394D1 true DE3679394D1 (de) 1991-06-27

Family

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Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE8686402726T Expired - Fee Related DE3679394D1 (de) 1985-12-10 1986-12-09 Verfahren zur pruefung einer transistorsteuermatrix sowie fuer diese pruefung eingerichtete matrix.

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EP (1) EP0228945B1 (de)
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FR2656186B1 (fr) * 1988-07-01 1996-08-23 Telecommunications Sa Procede de liaison d'une plaquette refroidie de pretraitement de signaux et d'une plaquette de traitement et ensemble de traitement pour la mise en óoeuvre du procede.
US5229609A (en) * 1989-05-18 1993-07-20 Sat (Societe Anonyme De Telecommunications) Detection assembly for an infrared monitoring system

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Publication number Publication date
EP0228945B1 (de) 1991-05-22
FR2591349A1 (fr) 1987-06-12
FR2591349B1 (fr) 1988-03-04
EP0228945A1 (de) 1987-07-15

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