DE3615310A1 - Vorladeschaltung fuer wortleitungen eines speichersystems - Google Patents
Vorladeschaltung fuer wortleitungen eines speichersystemsInfo
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- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 26
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
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- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
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- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
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Description
Beschreibung
Die Erfindung betrifft eine Vorladeschaltung für Wortleitungen eines Speichersystems, insbesondere eines
solchen mit programmierbaren Zellen.
Bekanntlich wird bei programmierbaren Speichern hoher Dichte ein großer Teil der zum Lesen erforderlichen
Zeit dazu verwendet, die ausgewählte Wortleitung auf
einen solchen Pegel zu bringen, daß es der betroffenen Speicherzelle möglich ist, genügend Strom zum Kippen
des Fühlverstärkers zu leiten.
Dies beruht hauptsächlich auf der langen Signallauf- !5 zeit entlang der betroffenen Wortleitung, der ein
hoher Widerstand und eine hohe Kapazität zugeordnet sind, besonders wenn das für die Wortleitung verwendete
Material polykristallines Silizium ist.
Insbesondere die Zugriffszeit, die mit dem Chip-Freigabesignal
verbunden ist, welches das Speichersystem aus einem standby- oder Bereitsteh-Zustand, in dem
alle Schaltungen des Systems gesperrt sind, in einen Betriebs-Zustand für das Lesen einer Date bringt, ist
lang.
Zu dem Zweck, die Zugriffszeit zu den Speicherzellen zu verringern, insbesondere ausgehend von einem
Bereitsteh-Zustand, wurde die Lehre gegeben, alle
Wortleitungen während der Bereitsteh-Phasen auf die Versorgungsspannung (Vcc) des Speichers aufzuladen
und während der Lese-Phase alle Wortleitungen mit Ausnahme der einen angesteuerten, die eine hohe Betriebsspannung
behält, zu erden. In diesem Fall müssen vor
dem Erhalt eines korrekten Lesens alle Wortleitungen mit Ausnahme der einen ausgewählten Wortleitung unter
einen Spannungswert fallen, der niedriger ist als der Schwellenwert einer jungfräulichen Zelle oder Neuzelle.
Diese Lösung, die auf viele Weisen akzeptabel ist, hat mehrere Nachteile, speziell wenn sie bei Speichern
hoher Dichte angewendet wird. Zu diesen Nachteilen gehören die folgenden Tatsachen:
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(1) Der beim Umschalten all der Wortleitungen auftretende
Stromübergang kann Rauschen auf den geerdeten Versorgungsleitungen hervorbringen;
(2) Die Kapazität, welche das Substrat des Speichersystem
und die Wortleitungen koppelt, bewirkt einen Spannungsabfall des Substrats während des
Umschalten? mit dem Ergebnis, daß alle mit dem
Substrat gekoppelten Knoten einer mehr oder weniger ernsten Störung unterliegen;
(3) Der Widerstand des Substrats trägt merklich zur Entladezeit der Wortleitungen bei, wenn diese
alle auf einmal umschalten, und tatsächlich können
2^ diese Wortleitungen schematisiert werden als eine
RC-Schaltung, in der R gleich ist dem Widerstandswert
der parallelen Widerstände der Streifen aus polykristallinem Silizium, welche die Wortleitungen
bilden, plus dem Widerstand des Substrats und des Substrat—Erde-Kontaktes, und bei der C gleich ist
der Summe der Kapazitäten aller Wortleitungen gegenüber dem Substrat, und wenn man von den beteiligten
Kapazitätswerten (0,5 nF) ausgeht, kann mann den Widerstand des Substrats offensichtlich
nicht außer acht lassen;
(4) Die kapazitive Kopplung aller Wortleitungen und des eine Bit-Leitung bildenden DotierStreifens N
drängt die Bit-Leitung während des Ausgangs der 35
Bereitsteh-Phase auf ein negatives Potential bezüglich Erde; Der Übergang von N nach P (Substrat)
kann somit in Durchlaßrichtung vorgespannt werden, was eine Injektion von Minoritätsladungsträgern in
das Substrat bewirkt, mit der Gefahr, daß die
bipolaren parasitären Komponenten, die durch Bit-Leitung (N), Substrat (P) und irgendwelche
in der Nähe befindlichen übergänge (K) aebildet
werden, in den leitenden Zustand versetzt werden.
Diese Nachteile haben manche Hersteller dazu gebracl...,
das Vorladen der Wortleitungen zu vermeiden, was dazu
führt, daß die damit verbundenen Nützlichkeiten hinsichtlich Zugriffszeit ungenutzt bleiben.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Vorladesystem
verfügbar zu machen für Wortleitungen von Speichern mit programmierbaren Zellen, das aber auch
-5 auf andere Speichertypen ausgedehnt werden kann, bei
denen es die Nützlichkeiten des Vorladens im Hinblick auf die Zugriffsgeschwindigkeit sicherstellen würde,
ν οbei die erwähnten negativen Wirkungen auf ein
Minimum reduziert sein sollen.
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Eine Lösung dieser Aufgabe ist im Anspruch 1 angegeben und kann den Unteransprüchen gemäß vorteilhaft weitergebildet
werden.
ΔΌ Mit der Erfindung ist eine Vorladeschaltung verfügbar
gemacht worden, die dadurch gekennzeichnet ist, daß sie für jede Wortleitung des Speichers einen Spannungsteiler
aufweist, der zwischen einen Versorgungsanschluß der Speicherzelle und Erde angeordnet ist, wo-
bei der Zwischenknoten oder Zwischenabgriff mit der
Wortleitung verbunden ist, und daß der Spannungsteiler zwischen dem Zwischenknoten und Erde einen Vorladetransistor
aufweist, der elektrische und geometrische
Eigenschaften aufweist, die denen der Speicherzellen
35
ähnlich und in ganz besonders bevorzugter Weise gleich sind.
Die vorliegende Erfindung sieht also vor, die Wort-
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leitungen des Speichers mit einer Vorladespannung reduzierten Werts zu versorgen, was die Zugriffszeit
der Signale begrenzt, während es die mit bisherigen Vorladesystemen verbundenen Nachteile vermeidet.
Gleichzeitig vermeidet die Verwendung eines Spannungsteilers mit einem Vorladetransistor, dessen Eigenschaften
denen der Speicherzellen gleichen, üngenauigkeiten und Ungewissheiten bei der Bestimmung der
optimalen Vorladespannung, die ansonsten aufgrund des breiten Variationsbereichs der Zelleneigenschaften
aufträten.
Die Erfindung und Weiterbildungen der Erfindung sowie 1^ weitere Aufgabenaspekte werden nun anhand einer Ausführungsform
näher erläutert, die in der beiliegenden Zeichnung dargestellt ist. Deren einzige Figur zeigt
die Einzelheiten einer Vorladeschaltung, die einer Wortleitung eines Speichers mit einer programmierbaren
2^ Zellenmatrix zugeordnet ist.
In der Zeichnung sind CI-Cn die einer gegebenen Wortleitung WL zugeordneten Speicherzellen, von denen jede
über eine je zugehörige Bit-Leitung BLI-BLn mit einer Spannung V beaufschlagt werden kann.
Die Wortleitung WL bildet den Zwischenknoten eines Spannungsteilers, der durch einen Ladetransistor T1
und einen Vorladetransistor T3 gebildet ist. Dabei
ist ersterer Transistor zwischen einen Versorgungsanschluß mit der Spannung Vcc und die Wortleitung geschaltet,
während sich letzterer zwischen der Wortleitung und Erde befindet. Der Transistor T3 ist so gewählt,
daß er elektrische und geometrische Eigen-35
schäften aufweist, die denen der Zellen CI-Cn des
Speichers gleich oder mindestens ähnlich sind.
BAD ORIGINAL
Ein Übertragungstransistor T2, der mit einem Freigabesignai
S gesteuert wird, ist der Wortleitung WL zugeordnet, um den Transistor T3 während der aktiven Zyklen
des Speichers auszuschließen.
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Auf diese Weise wird dann, wenn sich das Speichersystem im Bereithalte-Zustand befindet, die Wortleitung
WL auf eine Spannung vorgeladen, die zwischen Vcc und Null liegt, was eine hohe Zugriffsgeschwindigkeit
der Signale sicherstellt, ohne zu den Nachteilen zu führen, die ansonsten auf einer hohen Vorladespannung
beruhen. Die Vorladespannung ist solchermaßen gewählt, daß sie das Minimum darstellt, das
unentbehrlich ist, um eine Neuzelle zum Leiten eines ausreichenden Stroms zu bringen.
unentbehrlich ist, um eine Neuzelle zum Leiten eines ausreichenden Stroms zu bringen.
Der Transistor T3 weist die gleichen Eigenschaften wie die Speicherzelle auf und gibt die Möglichkeit,
die Vorladespannung mit denjenigen Parametern zu
variieren, welche den Übertragungsleitwert (Transkonduktanz) der Zellen beeinflussen. Wenn sich der ubertragungsleitwert erhöht, erhöht sich derjenige des Transistors T3 ebenfalls und folglich verringert
variieren, welche den Übertragungsleitwert (Transkonduktanz) der Zellen beeinflussen. Wenn sich der ubertragungsleitwert erhöht, erhöht sich derjenige des Transistors T3 ebenfalls und folglich verringert
sich die Vorladespannung und umgekehrt.
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Durch den Spannungsteiler T1, T3 wird auch die Abhängigkeit
der Vorladespannung von Versorgungsspannungsänderungen verringert.
Der Transistor T2 trennt die Wortleitung von dem Vorladesystem während aktiver Zyklen. Wie bereits erwähnt,
wird er durch das Freigabesignal S des
Speicherchips gesteuert.
Speicherchips gesteuert.
Es sei bemerkt, daß der Widerstand der Wortleitung die Vorladespannung längs der gesamten Leitung unregelmäßig
macht. Geht man von den niedrigen Strömen aus, die im Spiel sind, ist der Unterschied jedoch
ORIGINAL
ve mach I äs Bigbar .
Das erfίndungsgemäße Vorladesystem ist an alle Arten
von Fühlverstärkern anpaßbar, die zum Lesen gespeicherter Daten verwendet werden, ist jedoch besonders
geeignet für den Differenztyp, bei welchem der Speicherzellenstrom mit einem Referenzzellenstrom
verglichen wird. Im allgemeinen werden die Gates der beiden Zellen von derselben Wortleitung versorgt, und
zwar aus Gründen der Symmetrie, so daß bei dieser Schaltung die beiden Zellen auf exakt die gleiche
Spannung vorgeladen werden, was zu einer Verbesserung des Ansprechens des Fühlverstärkers führt.
BAD ORIGINAL
Claims (3)
1. Vorladeschaltung für Wortleitungen eines Speichersystems,
insbesondere eines solchen mit programmierbaren Zellen,
dadurch gekennzeichnet, daß für jede Wortleitung (WL) des Speichers ein Spannungsteiler (T1, T3) vorgesehen ist, der zwischen einen Versorgungsanschluß der Speicherzellen (CI-Cn) und Erde geschaltet ist, daß der Zwischenknoten mit der Wortleitung (WL) verbunden ist,
dadurch gekennzeichnet, daß für jede Wortleitung (WL) des Speichers ein Spannungsteiler (T1, T3) vorgesehen ist, der zwischen einen Versorgungsanschluß der Speicherzellen (CI-Cn) und Erde geschaltet ist, daß der Zwischenknoten mit der Wortleitung (WL) verbunden ist,
und daß der Spannungsteiler (T1, T3) zwischen dem Zwischenknoten
und Erde einen Vorladetransistor (T3) aufweist, dessen elektrische und geometrische Eigenschaften denen
der Speicherzellen (CI-Cn) ähnlich, vorzugsweise gleich
sind.
2. Vorladeschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekenn ze ichnet, daß der
Spannungsteiler (T1, T3) einen zwischen dem Versorgungsspannungsanschluß und dem Zwischenknoten
angeordneten Ladetransistor (T1) aufweist.
3. Vorladeschaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Wortleitung
(WL) ein Übertragungstransistor (T2) zugeordnet
ist, der durch ein Speicherfreigabesignal gesteuert wird, um den Vorladetransistor (T2) während
der aktiven Zyklen des Speichers zu deaktivieren.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IT8520688A IT1214607B (it) | 1985-05-14 | 1985-05-14 | Circuito di precarica per linee di riga di un sistema di memoria, in particolare a celle programmabili. |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3615310A1 true DE3615310A1 (de) | 1986-11-20 |
DE3615310C2 DE3615310C2 (de) | 1995-11-30 |
Family
ID=11170590
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3615310A Expired - Fee Related DE3615310C2 (de) | 1985-05-14 | 1986-05-06 | Vorladeschaltung für Wortleitungen eines Speichersystems |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4847811A (de) |
JP (1) | JPH0766673B2 (de) |
DE (1) | DE3615310C2 (de) |
FR (1) | FR2582135B1 (de) |
GB (1) | GB2175168B (de) |
IT (1) | IT1214607B (de) |
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JPH0766673B2 (ja) | 1995-07-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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