DE3505926C2 - Kapazitiver Druckmesser für Absolutdruck - Google Patents
Kapazitiver Druckmesser für AbsolutdruckInfo
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- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
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- G01L9/0073—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance using a semiconductive diaphragm
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen kapazitiven
Druckmesser für Absolutdruck.
In einem kapazitiven Druckmesser erzeugt der Druck
unterschied eine Durchbiegung einer elastischen Membran
und ändert den Abstand einer an der Membran angebrachten
Kondensatorplatte zu einer auf dem Grundgerüst der Geräte
anordnung aufgebrachten Kondensatorplatte oder zu einer
auf einer zweiten Membran angeordneten beweglichen Platte.
Die Bewegung kann mit den Platten entweder so verbunden
werden, daß eine Druckerhöhung den Plattenabstand ver
größert oder den Plattenabstand verkleinert.
Wenn die Plattenbewegung proportional zum Druck ist, wird
die Druckempfindlichkeit der Kapazität des Druckmessers
bei Drücken größer, bei denen die Platten näher beiein
ander sind, als bei Drücken, bei denen sie einen
größeren Abstand voneinander aufweisen. Dieser Umstand wur
de bei Druckmessern, die in einem großen Druckbe
reich arbeiten, dadurch ausgenutzt, daß die Platten bei einem tiefen
Druck den geringsten Abstand voneinander aufweisen und sich
dieser Abstand bei vergrößerndem Druck erhöht.
Die Fig. 1 und 2 zeigen Ausführungsformen derartiger
Druckmesser nach dem Stand der Technik. In Fig. 1 sind die
Kondensatorplatten außerhalb der Aneroidkapsel und in
Fig. 2 innerhalb der Kapsel angeordnet. Ein derartiger
Stand der Technik ergibt sich aus den Druckschriften:
K. E. Bean, "Anisotropic Etching of Silicon", IEEE Trans
actions on Electron Devices, Heft ED-25 (1978) Nr. 10,
Seiten 1185-93,
US 4,386,453,
US 4,257,274,
US 4,332,000,
US 4,390,925 und
US 3,397,278.
Aus dem vorgenannten Aufsatz "Anisotropic Etching of Silicon" ist es bekannt, miniaturisierte
kapazitive Druckmesser aus Silizium und Glas unter Verwendung
von Mikro-Photolithographie und Ätzverfahren herzustellen.
In der US 4 386 453 ist ein Druckmesser für
Absolutdruck beschrieben, bei dem die Kondensatorplatten
innerhalb der Aneroidkapsel angeordnet sind und sich bei
Druckerhöhung einander nähern.
Aus der DE 20 21 479 A1 ist ein kapazitiver Druckmesser
bekannt, der mit einer oder zwei Membranen ausgestattet ist
und eine Absolutdruckmessung erlaubt. Die Membranen beste
hen aus Quarzglas oder quarzähnlichem Glas und tragen an
ihrer innenliegenden oder außenliegenden Seite zumindest
eine Kondensatorplatte, deren Abstand zu einer festen Kon
densatorplatte druckabhängig variiert.
In der DE 32 36 848 A1 ist ein kapazitiver Druckgeber
beschrieben, bei dem auf einem Siliziumsubstrat Borsilikat
glas als Stützmaterial aufgebracht ist, auf dem eine dünne
Siliziumplatte montiert ist. Die Siliziumplatte kann planar
ausgebildet sein oder an ihrer dem Siliziumsubstrat zuge
wandten Seite einen dickeren, als Kondensatorplatte wirken
den Mittelteil besitzen, dessen Abstand zum gegenüberlie
genden Siliziumsubstrat bzw. einer dort aufgebrachten Elek
trode sich druckabhängig verändert.
In JP-Abstract 56-98630 A ist ein Drucksensor beschrie
ben, bei dem zwischen zwei Borsilikatglas-Platten eine Si
liziumscheibe mit verdünntem, eine Membran ausbildendem
Mittelteil angeordnet ist. Die beiden Borsilikatglas-Plat
ten sind mit Löchern zur Zuführung des Drucks zur Silizium
membran sowie mit die Löcher und die Platteninnenseiten
auskleidenden Elektrodenschichten versehen, so daß ein Dif
ferenzdruckmesser gebildet ist.
Aus der US 4 203 128 ist ein kapazitiver Druckmesser
bekannt, bei dem auf einem Silizium-Trägersubstrat eine se
lektiv abgetragene Siliziumdioxidschicht zur Bildung eines
Hohlraums 40 und oberhalb der Siliziumdioxidschicht eine
weitere Siliziumplatte angeordnet ist. Die oberseitige Si
liziumplatte ist im Bereich des Hohlraums derart bearbei
tet, daß sich ein verdünnter Bereich ergibt, der als Sili
ziummembran wirkt. Hierbei ist es möglich, oberhalb der
oberseitigen Siliziumplatte eine Schicht aus transparentem
Material wie etwa Pyrex aufzubringen, so daß sich eine
zweite, jedoch offene Kammer auf der dem Hohlraum gegen
überliegenden Membranseite ergibt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen kapazi
tiven Druckmesser für Absolutdruck zu schaffen, der sich in
einfacher, zuverlässiger Weise herstellen läßt und eine
präzise Druckmessung erlaubt.
Diese Aufgabe wird mit den im Patentanspruch 1 genann
ten Merkmalen gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den
Unteransprüchen angegeben.
Durch die Erfindung werden etliche Vorteile er
zielt. Im Vergleich zu der aus der US 4 386 453 be
kannten Konstruktion weist der Druckmesser gemäß der vor
liegenden Erfindung eine höhere Empfindlichkeit bei niedri
gen Drücken auf, das Volumen der Aneroidkapsel ist ver
größert - der Abstand zwischen den Kondensatorplatten be
trägt typischerweise 1/100 der Tiefe der Ausführung - und es
werden keine aus der Vakuumkapsel heraustretenden Leiter
bahnen benötigt.
Andererseits werden im Vergleich zu den herkömmlichen
Konstruktionen gemäß den Fig. 1 und 2 eine geringe Bau
größe, stabilere Materialien, schnelleres Ansprechen,
geringe interne Temperaturunterschiede und die Möglichkeit
zur Massenproduktion ermöglicht.
Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung
ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von
mehreren Ausführungsformen der Erfindung anhand der
Fig. 3 und 4.
Es zeigen
Fig. 3a eine seitliche Schnittansicht eines
Druckmessers gemäß der vorliegenden Er
findung,
Fig. 3b einen Schnitt des Druckmessers gemäß Fig. 3a
entlang der Ebene A-A, und
Fig. 4 eine seitliche Schnittansicht einer
zweiten Ausführungsform eines Druckmessers
gemäß der vorliegenden Erfindung.
Bei der Herstellung eines Druckmessers für Absolutdruck
mit einem großen Druckmeßbereich muß die Bewegung der
Kondensatorplatten entgegengesetzt zur Bewegung der Platten
sein, wie es in der US 4 386 453 beschrieben ist. Die
Fig. 3a und 3b zeigen eine solche Konstruktion eines
Druckmessers. Der Druckmesser weist eine erste Glasplatte
3, eine Siliziumplatte 2 und eine zweite Glasplatte 1 auf.
Diese Komponenten sind zum Beispiel mittels eines aus der
US 3 397 278 bekannten Verfahrens miteinander ver
bunden. Auf einer Seite der Siliziumplatte 2 wurde durch
Ätzen eine Aushöhlung 4 geschaffen, die durch die zweite
Glasplatte 1 unter Vakuum hermetisch abgeschlossen wird.
Die durch die zweite Glasplatte 1 abgeschlossene Aushöhlung
4 stellt die Aneroidkapsel des Druckmessers dar.
Die andere Seite der Siliziumplatte 2 wurde ebenfalls be
arbeitet, so daß ein Membranteil 5 mit einem dickeren Mit
telteil 6 geformt wird. Der Membranteil 5 ist druckempfind
lich und der Mittelteil 6 dient als bewegliche Kondensa
torplatte.
Auf der ersten Glasplatte 3 befindet sich eine feste Kondensatorplatte
7, die durch Aufbringen eines dünnen Metallfilms
auf die Glasplatte und entsprechendes Formen des Films ausgebildet
worden ist. Die Kondensatorplatte 7 ist mittels einer Leiterbahn
12 galvanisch mit einem Anschluß 10 verbunden. Ein
anderer Anschluß 11 steht in leitendem Kontakt mit der Siliziumplatte
2. Die Leiterbahn 12 durchläuft einen Kanal 9,
der in die Siliziumplatte 2 eingearbeitet ist, über den
der zu messende Druck auf die Membran 5 wirken kann. Die
Bereiche 10, 11 und 12 werden in gleicher Weise wie die Kondensatorplatte
7 hergestellt.
Durch den mittleren Teil 6 und die Kondensatorplatte 7 mit
dem dazwischen befindlichen Luftspalt 8 wird die druckempfindliche Kapazität
gebildet. Diese Kapazität kann über die Anschlüsse
10 und 11 bzw. die daran angeschlossenen Leiter elektrisch
gemessen werden.
Typische Dimensionsangaben für den Druckmesser sind 4 mm ×
6 mm × 2,5 mm. Die Dicke der Membrane 5 beträgt 10 bis
100 µm. Die Breite des Luftspaltes 8 beträgt 1 bis 10 µm.
Die Fläche der Kondensatorplatten 6 und 7 beträgt 1 bis
10 mm².
In der in Fig. 4 gezeigten zweiten Ausführungs
form sind für entsprechende Teile analoge Bezugszeichen
wie in den Fig. 3a und 3b verwendet.
Die Fig. 4 zeigt eine Abänderung der in den Fig. 3a und 3b
gezeigten Konstruktion, bei der der Hohlraum 4 der Aneroid
kapsel und der Luftspalt 8 statt in die Siliziumplatte 2
in die Glasplatten 1 und 3 eingearbeitet sind.
Beispielsweise ist
es aber auch möglich, entweder den Hohlraum 4 in die Glasplatte
1 und den Luftspalt in die Siliziumplatte 8 einzuarbeiten
oder den Hohlraum in die Siliziumplatte 2 und den Luft
spalt in die Glasplatte 3.
Claims (5)
1. Kapazitiver Druckmesser für Absolutdruck mit einer er
sten Glasplatte (3), einer auf der Glasplatte (3) aufge
brachten festen Kondensatorplatte (7) und einer auf dersel
ben Seite mit der Glasplatte (3) verbundenen Siliziumplatte
(2), die eine als bewegliche Kondensatorplatte wirkende,
durch Ausbilden eines dünnen Bereichs (5, 6) hergestellte
Siliziummembran (5, 6) aufweist, deren Abstand zur festen
Kondensatorplatte (7) durch den Druck verändert wird, mit
einer zur Bildung einer Aneroidkapsel (4) auf der Silizium
platte (2) hermetisch aufgebrachten zweiten Glasplatte, de
ren Bodenbereich durch die Siliziummembran (5, 6) definiert
ist, wobei die Siliziummembran (5, 6) im Zentrum einen fe
sten Bereich (6) aufweist und in die Siliziumplatte (2) ein
seitlich verlaufender Kanal (9) eingearbeitet ist, in dem
eine Leiterbahn (12), die mit der festen Kondensatorplatte
(7) verbunden ist und auf der ersten Glasplatte (3) ange
ordnet ist, verläuft und über den der zu messende Druck zum
Raum zwischen den Kondensatorplatten (5, 6, 7) geführt
wird, und wobei auf der ersten Glasplatte (3) neben einem
mit der Leiterbahn (12) verbundenen äußeren Anschluß (10)
ein weiterer Anschluß (11) angebracht ist, der mit der Si
liziummembran (5, 6) leitend verbunden ist.
2. Druckmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Hohlraum (4) der Aneroidkapsel wenigstens teilweise
in die Oberfläche der Siliziumplatte (2), die der zweiten
Glasplatte (1) gegenüberliegt, eingearbeitet ist.
3. Druckmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Hohlraum (4) der Aneroidkapsel wenigstens teilweise
in die Oberfläche der zweiten Glasplatte (1) eingearbeitet
ist, die der Siliziumplatte (2) gegenüberliegt.
4. Druckmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Luftspalt (8) zwischen den Kondensatorplatten (12
und 6) wenigstens teilweise in diejenige Oberfläche der er
sten Glasplatte (3) eingearbeitet ist, die der Silizium
platte (2) gegenüberliegt.
5. Druckmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Luftspalt (8) zwischen den Kondensatorplatten (12
und 6) wenigstens teilweise in diejenige Oberfläche der Si
liziumplatte (2) eingearbeitet ist, die der ersten Glas
platte (3) gegenüberliegt.
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Legal Events
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8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: KUHNEN, R., DIPL.-ING. WACKER, P., DIPL.-ING. DIPL |
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
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