DE2919529A1 - Verfahren und vorrichtung zum abschirmen einer inertzonen-elektronenbestrahlung von sich bewegenden bahnmaterialien - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum abschirmen einer inertzonen-elektronenbestrahlung von sich bewegenden bahnmaterialienInfo
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Description
PATENTANWÄLTE
fer
körner & Qt^ey
D-1 BERLIN-DAHLEM 33 · PODBIELSKIALLEE :9.19b29
D-8 MÜNCHEN 22 · WIDENMAYERSTRASSE 48
Energy Sciences Ine.
BERLIN: DIPL.-IN6. R. MÜLLER-BÖRNER
MÜNCHEN: DIPL.-INa. HANS-HEINRICH WEY DIPL.-ING. EKKEHARD KÖRNER
Berlin, den 11. Mai 1979
Verfahren und Vorrichtung zum Abschirmen einer Inertzonen-Elektronenbestrahlung
von sich bewegenden Bahnmaterialien
(Priorität: USA, Nr. 948,999 vom 05. Oktober 1978)
25 Seiten Beschreibung mit
2O Patentansprüchen
4 Blatt Zeichnungen
2O Patentansprüchen
4 Blatt Zeichnungen
MP - 27 466
BERLIN: TELEFON (OSO) 8312O88
KABEL: PROPINDUS · TELEXOI 84O57 030021/05^9
NCHEN: TELEFON (O89) 225δθβ
KABEL: PROPINDUS · TELEX O524244
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Verfahren und Vorrichtungen zum Abschirmen einer Inertzonen-Elektronenbestrahlung
von sich bewegenden Bahnmaterialien einschließlich von zu bestrahlenden Flachmaterialien selbst oder von Überzügen
auf denselben oder von zu behandelnden dadurch getragenen Materialien, die vorliegend ausnahmslos allgemein mit als zu
bestrahlende Bahnen oder Oberflächen bezeichnet sind.
Eines der Haupthindernisse für die weitverbreitete industrielle Anwendung der verlockenden Vorteile der Anwendung von energiereichen
Elektronen (Energien "7 20 keV) zum Abschluß einer
Polymerisation in ausgehärteten Freiradikalsystemen, zum Querverknüpfen oder Abbauen von verschiedenen natürlichen und
synthetischen Polymeren und zum Oberflächen- und Massensterilisieren
von Materialien lag bis jetzt in der Tat in der Schwierigkeit der Einführung des Produkts in den Elektronenprozessor
oder -irradiator auf ununterbrochene Weise, und zwar gewöhnlich mit hohen Fertigungsstraßengeschwindigkeiten (z.B.
mit 30 m/min bis 500 m/min).
Dieses Problem ergibt sich aus der Art der Energiequelle. Wenn energiereiche Elektronen im Material stoppen, verbraucht das
verhältnismäßig nicht durchdringende Teilchen (Elektron), während es sich verlangsamt, etwas von seiner Energie in Form
von durchdringenden Photonen (Bremsstrahlung), und zwar auch durch die Erregung von arteigenen X-Strahlen aus den Atomen
des Materials, mit dem es zusammenwirkt. Es ist schwierig, die sich ergebene Quelle von durchdringender X- oder Photonenstrahlung
aufgrund ihrer starken Durchdringbarkeit in Feststoffen zu begrenzen. Dies hatte zur Folge, daß eine fortgesetzte
On-Line-Anwendung der Elektronenaushärtung bisher
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undurchführbar schien. Die bis heute entwickelten Verfahren für Draht- und Kabel-, Polyäthylenquerverknüpfungs- und Oberflächenbeschichtungsaushärtungsanwendungen
wurden mit einer Gewölbe- oder Raumabschirmung des gesamten Systems ausgeführt - eine
Methode, die sich mit den meisten Erfordernissen einer Hochgeschwindigkeits-Fertigungsaushärtung
ganz und gar nicht verträgt» Auch ist eine troggespeiste, selbst abgeschirmte Ausrüstung
für starre Produkte, wie sie beispielsweise in "Shielding and Safety Requirements", Rad. Phys. and Chem., 2, S. 131-145 (1977),
von Carl Hoffman beschrieben ist, für die Probleme der vorliegenden
Erfindung hinsichtlich einer nachgiebigen Bahn und die dabei erforderlichen Herstellungstechniken völlig ungeeignet.
Die Techniken der vorliegenden Erfindung sind jedoch für die ununterbrochene, risikofreie Einführung von Material von der
Außenumgebung in die Behandlungszone eines solchen Elektronenprozessors und die anschließende Rückverbringung desselben in
die Außenumgebung entwickelt und erfolgreich angewendet worden. Da ein solches System gleichzeitig den Erfordernissen eines
Strahlungsschutzes für die Außenumgebung, einer Überwachung
der Prozeßzone von außen und des außerhalb des Prozessors liegenden Bereichs während des fortgesetzten Betriebes, einer
sicheren Handhabung des Produktes während seines Eintritts in den, Durchgangs durch den und Austritts aus dem Prozessor
und einer leichten Wartbarkeit Genüge tun muß, müssen all diese Faktoren bei der Auslegung und Konstruktion dieses kritischen
Teils des Gesamtsystems mit berücksichtigt werden. Die der vorliegenden Erfindung zugrundeliegenden Techniken sind insbesondere
für die fortlaufende Behandlung eines Produkts bei Umgebungsdrücken entwickelt worden, und zwar entweder in Luft
oder in einer sauerstoffverarmten Umgebung, wo eine derartige
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Inaktivierung das Portspülen von freien Radikalen in der Nähe oder an der Oberfläche des auszuhärtenden Überzugs oder
Polymers einschränken soll. Dementsprechend beschäftigt die Erfindung sich auch mit der Notwendigkeit einer Sauerstoffbegrenzung
im Behandlungs- oder Bestrahlungsbereich, -station oder -zone, so daß vernachlässigbares Ozon durch Sekundärreflektionen
und -streuung erzeugt werden kann, und zwar abgesehen davon, daß es möglich ist, das Entweichen von X-Strahlen
und anderer Strahlung, die sich aus Reflektionen und einer Streuung im System insbesondere dort ergibt, wo sich bewegende
Bahnen durch die Behandlungs- oder Bestrahlungszone laufen müssen, zu verhindern.
Wo die Elektronen als geradliniger Streifen wie mit Hilfe der bevorzugten Vorrichtung zum Erzeugen von verhältnismäßig
niedrigen Elektronenstrahlspannungen (beispielsweise von 5O bis 250 KV) erzeugt werden, wie sie in den US-PS'en 3 702 412,
3 745 396, und 3 769 600 beschrieben ist, sind diese Probleme zusammengesetzter Natur, weil Strahlungslappen in der Ebene
der Produktoberfläche erzeugt werden, da die durch den gestoppten Strahl mit diesen Energien erzeugte Br emsstrahlung
in etwa isotropisch ist. Folglich sind verhältnismäßig starke Photonenpegel vorhanden, die in Längsrichtung vor und hinter
der Bahn beim vorbeilaufen derselben an dem quergerichteten elektronendurchlässigen Fenster des Elektronenstrahlgenerators
oder -prozessors erzeugt werden. Die Erfindung ist in erster Linie eben insbesondere auf die Lösung der im Zusammenhang
mit solchen und ähnlichen Konstruktionen auftretenden Probleme gerichtet, obwohl die neuartigen Techniken, die vorliegend
aufgezeigt werden, auch bei anderen Systemen mit energiereichem Elektronenstrahl der abgetasteten oder nicht abgetasteten
Arten, der gepulsten oder Gleichstromtypen nützlich sind, wie sie z.B. in den US-PS'en 3 440 566, 3 588 565 und
3 749 967 beschrieben werden.
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Es ist demgemäß Aufgabe der Erfindung, ein neues und verbessertes
Verfahren und eine die gleichen Eigenschaften aufweisende Vorrichtung zum Abschirmen von Inertzonen-Elektronenirradiatoren
von sich bewegenden Bahnen u. dgl. zu schaffen, und zwar insbesondere, obwohl nicht ausschließlich, dort,
wo bedeutende längsgerichtete Streuungslappen wie bei linearen Elektronenstrahlen erzeugt werden, und eine derartige Abschirmung
bei Konstruktionen vorzunehmen, die die Verwendung eines Behandlungsbereichs von minimalem Raumumfang und Größe
ermöglichen, in der Inertmedien vorhanden sein sollen oder das Entweichen von Ozon verhindert werden soll. Dabei sollen
neuartige Abschirmungskonstruktionen geschaffen werden, die für
eine Fertigungsstraßenbehandlung von Flachmaterial u. dgl. geeignet und darüberhinaus von allgemeinerer Anwendbarkeit
sind.
Diese Aufgabe wird mit der im Hauptanspruch angegebenen Erfindung gelöst.
Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Einzelheiten, Vorteile und Anwendungen der Erfindung werden nunmehr anhand von in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispielendes
Erfindungsgegenstandes näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 einen Längsschnitt durch ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung, das von dem ihr zugrundeliegenden
neuen Verfahren Gebrauch macht;
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Fig. 2a und 2b schematische Schaubildervon Anwendungen der
Vorrichtung in Fig. 1 und
Fig. 3 und 4 der Fig. 1 ähnliche Ansichten von Abwandlungen.
Zusammenfassend sei gesagt, daß die Erfindung von einem ihrer wichtigen Gesichtspunkte aus gesehen eine Vorrichtung zum
Durchführen einer Bahn durch eine sauerstoffbegrenzte Elektronenbestrahlungszone
und zur Abschirmung gegen Streustrahlung umfaßt, die ein sich in Längsrichtung erstreckendes Abschirmgehäuse,
das mit Einlaß- und Auslaßbereichen versehen ist, die durch eine Zwischenzone verbunden sind, auf die die Elektronenbestrahlung
konzentriert werden soll; eine Einrichtung zum Erzeugen einer Elektronenstrahl-Strahlung und zum Leiten derselben
durch ein elektronendurchlässiges Fenster, das entlang der Zwischenzone angeordnet ist und als eine Wand der Zone
dient, und eine eine gegenüberliegende Wand entlang der Zwischenzone bildende Einrichtung aufweist, die eine mit einer Kühleinrichtung
versehene Strahlungsfalle in Form eines abgeschirmten Kastens umfaßt, wobei jeder der Einlaß- und Auslaßbereiche
aus parallelen abgeschirmten Wandflächen besteht, die sich in Längsrichtung erstreckende Schlitze bilden, die diejenige
Strahlung kollimieren, welche von der Bestrahlungszwischenzone nach außen hin entlang derselben gestreut wurde;
wobei an den Einlaß- und Auslaßbereichen FaIleneinrichtungen
in Form eines abgeschirmten Hohlraums zur Aufnahme der Strahlung angeordnet sind, die nach außen hin entlang der Kollimierschlitze
von der Zwischenzone aus gestreut worden ist? wobei eine Einrichtung zum Zuführen einer Bahn an den Kollimierschlitz
des Einlaßbereichs und zum Vorschieben derselben in Längsrichtung durch den Einlaßbereich sowie von dort in Längsrichtung
zwischen dem Fenster und dem abgeschirmten Kasten durch die Zwischenzone und dann entlang des Kollimierschlitzes
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des Auslaßbereichs zum Austraten aus demselben und wobei eine
Einrichtung zum Schaffen einer ozonbeschränkten Atmosphäre
innerhalb der Zone vorgesehen ist. Weitere Einzelheiten werden nachstehend erläutert.
Ein gemeinsames dem Maschinenaufbau der Erfindung zugrundeliegendes
und für die Behandlung von zweidimensionalen oder Bahnoberflächen geeignetes Merkmal besteht darin, daß die
energiereichen Elektronen sämtlich in einer Ebene stoppen, wie sie entweder von dem Produkt, wenn es gehandhabt wird, oder
von einem gekühlten Abstrahlblech für jene Elektronen bestimmt wird, die im Produkt selbst nicht gestoppt wurden. Wenn diese
Teilchen gestoppt werden, werden eine durchdringende Bremsstrahlung oder X-Strahlen hervorgerufen, die unter gleichzeitiger
Erhöhung der Atomzahl des Mediums, in dem sich die Elektronen verlangsamen, quadratisch zunehmen. Was die verhältnismäßig
niedrigen Energien anbelangt, die vorliegend für die meisten Elektronenbehandlungsvorgänge ( <
300 keV) insbesondere dort mit einbezogen werden, wo eine nachgiebige
Bahn betroffen ist, so ist dieser Energieverlust direkt von der Elektronenenergie abhängig, und das Strahlungsmuster ist
angemessen isotropisch. Die vorerwähnten starken Strahlungslappen, die entlang der Ebene des Produkts oder des Wärmeverbrauchers
auftreten, welcher die Bremsstrahlung der Photonquelle bestimmt hat, dürfen den Bereich außerhalb des Prozessors
nicht erreichen.
Bei einem Elektronenverlust in solchen Systemen muß außerdem berücksichtigt werden, daß innerhalb desselben mit hoher
Wahrscheinlichkeit eine Elektronenrückstreuung stattfindet, so daß aufgrund dieser gestreuten Primären eine Bremsstrahlung
in anderen Teilen der Abschirmkonfiguration erzeugt wird. In diesem Energiebereich ist gezeigt worden (z.B. K.A. WRIGHT und
J.G. TRUMP , "Back Scattering of Electrons from THICK TARGETS",
030021/0559 " 13 "
4t
"^' 29)9529
J.A.P. y^L, S. 687, 1962,) daß die Rückstreuung von der
Primärenergie zwar verhältnismäßig unabhängig ist, aber sehr empfindlich von der Atomzahl des Streuers abhängt.
Die primären oder gestreuten primären Elektronen haben einen begrenzten Bereich in der Luft und können deshalb normalerweise
niemals den Bereich außerhalb des Prozessors erreichen. Nichtsdestoweniger kann eine Mehrfachstreuung zu einer Fernerzeugung
von Bremsstrahlung führen, die berücksichtigt
werden muß, und ebenso muß die Abhängigkeit der Mehrfachstreuung von Elektronen von der Atomzahl des Streumediuras
in Betracht gezogen werden.
Schließlich muß, und das ist am wichtigsten, bei der Abschirmung des Systems die Compton-Streuung der durchdringenden
Photonen (Brerasstrahlung) in Rechnung gestellt werden, die beim Stoppen der direkten oder gestreuten primären
erzeugt wird. Dieser Vorgang ist recht genau durch die Klein-Nishina-Theorie der Compton-Streuung beschrieben
(vgl. beispielsweise CM. Davisson und R.D. Evans "Rev.Mod.
Phys." 2Λ, 1952).
Basierend auf diesen Überlegungen hinsichtlich der Strahlungs-/ Elektronenabsorption und der Streuung, schließen die allgemeinen
Merkmale einer produkthandhabenden Abschirmgeometrie, die in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung entworfen
wurde, die nachstehend aufgeführten Überlegungen ein:
(1) Elektronenenergie muß so niedrig wie möglich gehalten werden, um den Betrag an Bremsstrahlung
zu verringern, der pro Einheit aus dem Prozessor abgegebener Elektronenladung erzeugt wird.
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(2) Der Elektronenstrora muß in einem Absorber von niedriger Atomzahl innerhalb der Abschirmung
stoppen? falls es nicht der organische Überzug
o. dgl. ist, der ausgehärtet werden soll, dann eine Oberfläche von niedriger Atomzahl, die auch als
Abstrahlblech für Abwärme dienen kann.
(3) Der Elektronenstrom muß in einer Falle gestoppt werden, so daß die erzeugte isotropische Bremsstrahlung
nur durch Mehrfachstreuung entweichen kann.
(4) Die Ausströmschlitze für die Primärphotonen des
Bremsstrahlungsspektrums müssen einen festen Winkel einschließen, der an der Ebene des Stoppens
der Elektronen so klein wie möglich gehalten ist. Außerdem haben die Produktführungsschlitze den
weiteren Vorteil, daß die Verarbeitungs-, Bestrahlungs- oder Behandlungszone isoliert werden
kann, so daß sie eine verhältnismäßig niedrige Gaskonduktanz auf die Außenumgebung zu aufweist
und dadurch eine wirksame Neutralisierung der Behandlungszone mit verhältnismäßig geringen
Gasdurchflußmengen selbst bei hohen Produktgeschwindigkeiten
gestattet.
(5) Die Bremsstrahlung, die aus dem primär-Prozeßraum
entweicht, muß in Labyrinthen gefangen werden, um zu verhindern, daß weitere nach Compton gestreute
Photonen die Außenumgebung erreichen.
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(6) Die Streuflächen müssen aus einem Material von niedriger Atomzahl bestehen, um Streuung,
arteigene Erzeugung von X-Strahlen und Erzeugung von Photoelektronen zu vermindern.
(7) Die Bahn oder das Folienprodukt muß sich einer geringfügigen Winkelveränderung in der Bewegungsrichtung
(g) unterziehen, die es der nach vorn gestreuten starken Compton-Komponente unmöglich
macht, die äußere Arbeitsumgebung zu erreichen, und einen In-Line-Labyrinth- und Hohlraumabsorber
zuläßt.
(8) Die Produktzugangsöffnung muß an den Primäröffnungen einen Winkel einschließen, der so
klein wie möglich gehalten ist, so daß die Streustrahlung nicht in der Lage sein wird, die
Außenumgebung zu erreichen.
(9) Es werden dünne Absorber von niedriger Atomzahl zum Vermindern des Flusses von gestreuten
Elektronen von den primären Streu- und Absorbierflächen in dem Abschirmungsaufbau aus verwendet.
Ein bevorzugter diese Merkmale enthaltender Abschirmungsaufbau ist in Fig. 1 dargestellt, der als solcher insbesondere
zur Verwendung mit einem prozessor für einen Strahl in Form
eines Linear-Streifens mit einer Energie""von 50 mA - 15O kV
der in der US-PS 3 702 412 beschriebenen Art geeignet ist.
In Fig. 1 ist eine nachgiebige Bahn oder Oberfläche aus zu bestrahlendem Material bei 1 gezeigt, die an einer Produktzugangs-
oder Einlaßöffnung D^ eingeführt wird, welche einen
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kleinen Winkel zur Vertikalen (Punkt (8), oben) in einem als Strahlungsabschirmung ausgebildeten Gehäuse E, des
Einlaßbereichs einschließt und als Einlaßschlitz dargestellt ist, der in einem Winkel von ungefähr 60° zur Horizontalen
ausgerichtet ist. Das Bahnprodukt 1 wird einer Winkelveränderung in der Bewegungsrichtung θ (Punkt (7)) unterzogen,
während es über eine Leerlaufwalze R, und entlang eines sich in Längsrichtung erstreckenden Parallelplattenschlitzes A-,
(waagerecht) in die dazwischenliegende Behandlungs- oder Bestrahlungszone, -bereich oder -raum V am (den Bereich V
an der oberen Wand begrenzenden) elektronendurchlässigen Fenster 2 des einen Elektronenstrahl in Form eines Linear-Streifens
mit niedriger Energie hervorbringenden Generators oder Prozessors PR (Punkt (1)), wie er vorstehend beschrieben
und in der zuerst genannten US-PS dargestellt ist, weiterläuft, von wo es die Elektronenstrahl-Strahlung als quergerichteten
Streifenstrahl empfängt, wie dies durch die nach unten gerichteten Pfeile B schematisch dargestellt ist. Der
Prozessor PR ist als innerhalb eines grundlegenden Hauptabschirmungsgehäuses oder -aufbaus H angebracht dargestellt,
das bzw. der in einer U-förmigen Strahlungsfalle 7 lösbar befestigt ist, die das die Bestrahlungszone V enthaltende
Abschirmungsgehäuse von außen in Quer- und Längsrichtung umgibt. Dann läuft die bestrahlte Bahn oder das auf die
gleiche Weise behandelte Material in waagerechter Richtung durch einen ähnlichen sich in Längsrichtung erstreckenden
Parallelplattenschlitz A- und anschließend über eine Leerlaufwalze
R_ weiter, bis sie bzw. es schließlich in einem dem Eintrittswinkel ähnlichen Winkel über eine Auslaßöffnung
D7 im Gehäuse E- des rechten Auslaßbereichs austritt.
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In der dazwischenliegenden Behandlungs-, Bestrahlungs- oder
Bearbeitungszone, -bereich oder -raum V begrenzt der U-förmige
Strahlungsfallenkasten T-T den unteren Abschnitt der Bestrahlungszone oder -raums und erfüllt dadurch das Kriterium
des Fangens von (3),oben. Eine platte P von niedriger Atomzahl (wie aus Aluminium) dient als gegenüberliegende Bodenwand der
Falle T-T und bedeckt oder liegt einer darunterliegenden wärmeaufnehmenden oder gekühlten Platte S wie Wasserkühlungsröhren
gegenüber (Punkt (2)). Da die Schlitze A-, und A- so
ausgebildet sind, daß sie parallel zur Ebene der Bahn beim Laufen derselben durch den prozessor PR liegen, schließen sie
einen sehr kleinen festen Winkel an der Ebene des Stoppens der Elektronen an der Bahn und an der Platte P ein (Punkt (4)) und
dienen dadurch zum Kollimieren von entlang derselben gestreuter Strahlung. Diese Ausbildung ermöglicht des weiteren eine
Isolierung des Behandlungsbereichs oder -raums V, wodurch eine verhältnismäßig niedrige Gaskonduktanz auf "die Außenumgebung
außerhalb von D-, und D2 zu geschaffen wird, was wiederum zur
Folge hat, daß eine wirksame Neutralisierung der Zone V mit verhältnismäßig geringen Gasdurchflußmengen (wie Stickstoff)
selbst bei hohen Fertigungsdurchgangsgeschwindigkeiten der Bahn 1 ermöglicht wird. Die Kollimierschlitze A, und A- an den
jeweiligen Einlaß- und Auslaßbereichen können aus aluminiumbeschichtetera
Blei hergestellt sein und vermindern wie vorstehend dargelegt, die nach außen strömende Strahlung seitlich
auf die Einlafi- und Auslaßbereiche von der Bestrahlungszwischenzone
V aus zu.
Die Wege, die eine solche nach Compton gestreute Photonstrahlung durch die Kollimierschlitze A-, und A- einschlagen kann, enden
in Labyrinthen L, und L-, die mit dünnen Absorbern F-, bzw. F2
von niedriger Atomzahl wie aus überzogenem oder gegenüberliegendem Blei abgedeckt sind, wobei die Hohlräume W,und W-an
dieser Stelle als Strahlungsfallenhohlräume dienen (Punkt (5)
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und (9)) . Außerdem bestehen die den Schlitzen A, , A„ usw. zugeordneten
Streuflächen bei K, und K~ ebenfalls aus einem Material von niedriger Atomzahl, damit auf diese Weise die
Streuung und die Erzeugung von X-Strahlen und Photoelektronen (Punkt (6)) sowie insbesondere diejenige Strahlungserzeugung
verringert wird, die auf durch die Falle T-T, das Fenster 2 und/ oder das Bahnprodukt 1 seitlich gestreuten Elektronen zurückzuführen
ist. Das Hohlraumfallenlabyrinth L-, -F, usw. des Einlaßbereichs,
das im Außenabstand vom Kollimierschlitz A-, angeordnet ist, kann mit einer Fensterabdeckung 5 aus Aluminium zum Abschließen
desselben und Stoppen von Reflektionen im Hohlraum versehen sein, obwohl der Eintritt von Streustrahlung gestattet
wird.
In der Praxis sind die Eintritts- und Austrittswinkel der Bahn (die größer als ein paar Grad sind und bei einer bevorzugten
Anwendung in der Größenordnung von 60° liegen) deshalb derart eingestellt, daß sie genauso wenig Streustrahlung aus den
Kollimierschlitzen A, und A2 und den stirnseitig angeordneten
und Fallen darstellenden Hohlräumen "sehen", wobei die Erfindung
für einen minimalen Strahlungsbearbeitungsraum und einen minimalen Raum sorgt, der zur Inaktivierung oder Ozonbeseitigung erforderlich
ist. Das Inertgas kann beispielsweise über eine Rohrverzweigung Io und eine darunterliegende Verteilerleitplatte 11 an
der Oberseite des linken Endgehäuses E,-W, zugeführt werden. In der Nähe der Einlaßführung D^ kann eine Luftschneide wie eine
Stickstoff unter hohem Druck abgebende Düse N angeordnet sein, um die von der Bahn 1 getragene Luftgrenzschicht abzustreifen.
Es ist gefunden worden, daß der Aufbau in Fig. 1 den Pegel der prxmären Bremsstrahlung in dem Bearbeitungshohlraum V von lo
Rad/sec auf einen Sekundärbremsstrahlungspegel von ■** lo Rad/h
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in den Sekundär-Produkthandhabungshohlräumen W, und W0, auf
einen Tertiärbremsstrahlungspegel von λ/ lo" Rad/Τι in der
Außenumgebung jenseits der Produktzugangs- und -austrittsschlitze
D, und D» herabsetzt.
Weitere Varianten dieser Auslegungsgeometrie sind mehr auf schematische Weise (und in umrissener und nicht ins Einzelne
gehender Form) in Fig. 2 dargestellt. Fig. 2a umreißt die Anordnung in Fig. 1, die hier beispielsweise als auf die
Aushärtung von Überzügen auf Flachmaterial Anwendung findend dargestellt ist. Die sich in Querrichtung erstreckende Kathode C
und das sich in gleicher Richtung erstreckende Gitter E des Prozessors PR sind mit dem Fenster 2 ausgerichtet schematisch
dargestellt. Die Variante in Fig. 2b ist jedoch am besten für eine Bahnhandhabung mit hoher Geschwindigkeit auf einer
einzigen gekühlten Walze R wie zum Aushärten von Druckfarben u. dgl. und mit einem etwas steilwinkligen Bahneintritt und
-austritt geeignet. Ein solcher Aufbau umfaßt zwar viele der Merkmale in Fig. 1, auf die schematisch verwiesen wurde, verrin-
gert jedoch den Fluß in der Primärzone V von Io Rad/h auf
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lO Rad/h an der Außenfläche der Austrittsschlxtze D, und D- und an der äußeren Arbeitsumgebung.
lO Rad/h an der Außenfläche der Austrittsschlxtze D, und D- und an der äußeren Arbeitsumgebung.
Diese Gedanken sind bei einer Maschinerie mit einem streifenförmiges
in Querrichtung in einer Breite von 30 cm, 1,25 m und 1,70 m verlaufenden Elektronenstrahl in die Praxis überführt
worden. Sämtliche Systeme machten von den vorliegend offenbarten Techniken Gebrauch, um eine selbstabgeschirmte
Maschinerie mit Strahlungspegelverringerungen von Io Rad/sec im Bereich V unmittelbar unter dem Prozessorfenster 2 auf
3 χ Io Rad/sec im Bereich unmittelbar neben dem Produktzugangsschlitz
D-, oder D- zu schaffen. Dieser Pegel liegt
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etwas unterhalb der Zahl von 2,5 mr/h (oder 7 χ 1O~ Rad/sec),
wie sie von OSHA für einen Handzugriffsbereich in einem "unbeschränkten" Flächenbereich bestimmt wurde (vgl. hierzuι
OSHA 1910.96, S. 10518, FR 36, Nr. 105, 29. Mai 1971).
In Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung wird daher ein System geschaffen, das die fortlaufende Einführung einer
nachgiebigen Bahn direkt in die und das fortgesetzte Entfernen derselben aus der Primärprozeßzone eines Elektronenprozessors
gestattet, der im Energiebereich von beispielsweise lOO bis 500 Kilovolt und mit durchschnittlichen Dosis-
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leistungen von lO bis lo Rad/sec arbeitet, und das diese
Prozeßzone von der Außenumgebung derart isoliert, daß die Strahlungspegel in Größenordnungen von 14 bis 16 im Bereich
unmittelbar neben dem Elektronenprozessor oder seinem zugeordneten Produkthandhabungssystem verringert werden. Dieses
selbstabgeschirmte Produkthandhabungssystem sorgt für die fortlaufende Einführung von nachgiebigen oder starren Proben
in den und die Entfernung derselben aus dem Elektronenprozessor, während eine inerte oder gesteuerte Umgebung in der Prozeßzone
mit einer niedrigen Gaskonduktanz auf die Außenumgebung zu geschaffen wird, und für die fortwährende Benutzung unter
Äußenumgebungsbedingungen. Während sie bei Anwendungen, die von einem streifenförmigen Elektronenstrahl im Gleichstrombereich
von lOO bis 5OO Kilovolt Gebrauch machen, den größten Nutzen zeigt, ist die Erfindung auch bei wiederholt gepulsten
Bedingungen mit momentanen Elektronendosisleistungen bei
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10 Rad/sec in der Prozeßzone (wie in Kaltkathodensystemen) geeignet, und bei Bedingungen des abgetasteten Strahls mit momentanen Elektronendosisleistungen bis zu lO Rad/sec in der Prozeßzone und bei einer fortwährenden Strahlilluminierung mit durchschnittlichen Elektronendosisleistungen bis auf 10 Rad/sec in der Prozeßzone verwendbar. Außerdem ist die
10 Rad/sec in der Prozeßzone (wie in Kaltkathodensystemen) geeignet, und bei Bedingungen des abgetasteten Strahls mit momentanen Elektronendosisleistungen bis zu lO Rad/sec in der Prozeßzone und bei einer fortwährenden Strahlilluminierung mit durchschnittlichen Elektronendosisleistungen bis auf 10 Rad/sec in der Prozeßzone verwendbar. Außerdem ist die
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Konstruktion symmetrisch und modular und trennbar, so daß das die Endbereiche E,-W, usw., E 2~W2 usw· un& d^e dazwischenliegende
abgeschirmte Kastenfalle T-T usw. umfassende System vom Elektronenprozessor PR (H) zum Zugänglichmachen jederzeit
getrennt und mit diesem mit zwischengeschichteten Abschirmungsabschnitten 7 (Fig. 1 und 2) leicht in Eingriff gebracht werden
kann, um eine Strahlungsdichte Schnittstelle zu schaffen, die den Benutzungserfordernissen eines derartigen Systems in einem
unbeschränkten Flächenbereich entspricht.
Die selbstabgeschirmten Bahnhandhabungssysterne der Erfindung
sind insbesondere zur Verwendung bei nachgiebigen Produkten (Papier, Film und Folie, Laminaten derselben oder ungeschlitzten
Packungskonstruktionen) bis zu einer Dicke von 5 mm und mit Elektronenenergien von 50 bis 250 kev und mit Produktgeschwindigkeiten
von 5 bis 5.000 m/min geeignet. Die durchschnittlichen Elektronenleistungsflüsse in der Aushärtungszone
2 bewegen sich zwischen Io und 2OO Watt/ cm . Die Selbstabschirmung
wird unter Verwendung von Blei oder eines anderen Materials von hoher Atomzahl ohne weiteres erreicht, das dauerhaft
typischerweise mit einer Dicke von 6 mm bei 175 kev und von bis zu 1 cm bei 250 keV mit einzusteckenden, der Abschirmung
dienenden Montageteilen an dem Prozessorkopf und einer eingeschobenen Ausnehmung oder Aufnahmemontageteil 7 auf dem Produkthandhabungsaufbau
an dem Prozessorkopf und dem Bahnhandhabungssystem in Form einer Ummantelung befestigt ist, wie vorstehend
erwähnt.
Die vorerwähnte Verringerung der Strahlungspegel in der Größenordnung
von ungefähr 15 oder mehr in dem selbstabgeschirmten Bahnhandhabungsaufbau wird somit mittels der Kollimation der
eaergiereichen Primärbremsstrahlung und ihres Fangens in einem
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abgeschirmten Labyrinth oder Ausnehmung mit einem sekundären, nicht in gleicher Ebene liegenden ProduktZugangsschlitz
für die fortwährende Einführung des Produktes in den und die Entfernung desselben aus dem Prozessor erreicht.
Während der waagerechte Durchlauf durch die Elektronenstrahlzone beschrieben worden ist, ist auch ein schräger, nicht
waagerechter Durchlauf möglich, wobei die Primärstrahlungskollimatoren
die Strahlung in schräge Kollektoren leiten, wodurch ein waagerechter Eintritt des Produktes in den Bahnhandhabungsaufbau
gestattet wird, wenn dies erwünscht ist. Dies ist in Fig. 3 mit einem von rechts erfolgenden Eintritt
und einem schrägen oder geneigten Durchlauf durch die Bestrahlung szone V und einem im spitzen Winkel erfolgenden
Austritt bei D2 dargestellt. Des weiteren ist ein der Hohlraum-Strahlungsfalle
W, · im rechten Endabschnitt oder Gehäuse E,' zugewandtes elektronendurchlässiges Fenster 5
aus Aluminium od. dgl. dargestellt, und es sind Ablenkstufen 12 zur Verhinderung einer Mehrfachstreuung entlang
der Bahn vorgesehen.
Eine bevorzugte Geometrie ist in Fig. 4 gezeigt, die den weiteren Vorteil aufweist, daß die Kanal- oder Öffnungslängen,
die an den Eintritts- und Austrittsseiten erforderlich sind, verringert werden können, und die von einer Doppelwinkelveränderung
bei der Produktbewegung Gebrauch macht, während die waagerechte Darbietung an den Strahl in der Prozeßzone
unter dem Fenster 2 bewahrt bleibt. Die Eintritts- und Austrittskollirnatoren D, durch die das Produkt läuft, enden
an der Primärwalze C, während dadurch eine kleine Winkelveränderung (typischerweise um 5°) in Richtung der Produktbewegung
eingebracht wird. Der Eintrittskollimator D ist mit
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ausgesparten Strahlungsfallen D1 1 und D3 1 versehen, die das
Strömen der Streustrahlung zu den Eintritts- oder Austrittsschlitzen S' neben der Bestrahlungszone V verhindern. Nachdem
sie über die Walze C gelaufen ist, läuft die Bahn 1 durch die Strahlungsfalle E und die Kollimatoren F'-F" zur Walze B1,
wo die zweite geringfügige Winkelveränderung stattfindet. Dann läuft die Bahn 1 über den erweiterten Kollimator A zur Prozeßzone
V weiter. Diese (bogenförmige) Doppelwinkeländerung erlaubt eine spannende Verringerung der Strahlungspegel, die
8 9
bei S1 ermittelt werden können, auf Pegel von lO bis 10
Rad/sec in V, und zwar mit einem sehr kurzen Eintritt (d.h. Fensterabstand S'-V).
Die Walzen C und B1 können durch starre Stäbe ersetzt oder
gar für Anwendungen mit niedriger Geschwindigkeit ( ^ 91,44 m/
min) entfernt werden. Eine weitere Verkörperung dieser Geometrie für eine Bahn würde eine sanft gekrümmte bogenförmige Schlitzausbildung
(lieber als die roh bogenförmige Art der Doppelwinkeländerung) einbeziehen, wobei weder von Walzen oder Stäben
noch von eingefügten Kollimatoren (A) und Fallen (D) entlang der Länge der Eintritts- oder Austrittsbogen Gebrauch gemacht
wird.
Wie aus dieser Geometrie in Fig. 4 hervorgeht, kann eine Stickstoffschneide K oberhalb (oder unterhalb) der Bahn im
Hohlraum K1 zum Abstreifen der Luftgrenzschicht von der Bahn
bei hohen Geschwindigkeiten verwendet werden. Abgesehen davon, kann zusätzlich noch eine Verteiler- oder Leitplatte M zum
Fluten der Produktoberfläche vor dem Eintritt in V verwendet werden, indem von einem solchen Rohrverzweigungsaufbau im
Hohlraum M1 Gebrauch gemacht wird. Eine weitaus wirksamere
Inaktivierung wird durch Verwendung einer Blechverblendung
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über den Strahlungsfallen D und E erreicht, so daß das Inertgas mit einer höheren Geschwindigkeit turbulenzfrei über die
Länge der Bahn strömt, während diese in die Behandlungszone V eintritt.
Ein zusätzliches Ausführungsbeispiel für die Inaktivierung
(Neutralisierung) ist ebenfalls dargestellt, bei dem das Inertgas über die Rohrverzweigung N in den Schlitz S" in der Niederhalteplatte
des Fensters 2 gelassen wird. Diese Technik gestattet die Anwendung einer Gas- oder einer konvektiven Kühlung
des Fensters 2 mit einer wirksamen "Unterdrucksetzung" der Prozeßzone V mit dem Inertgas, und zwar aufgrund der verhältnismäßig
niedrigen Konduktanz der Eintritts- und Austrittsöffnungen.
Bei Anwendungen, die keine Inaktivierung erfordern, wie einer Querverknüpfung oder dem Aushärten eines Verbundhaftmittels,
kann der Produkthandhabungsaufbau erschöpft sein, so daß ein ununterbrochener Luftstrom in den Aufbau strömt, der die
Ozonerzeugung innerhalb desselben beschränkt und das Entweichen von Ozon in die Arbeitsumgebung verhindert. Dies bezieht
typischerweise die Verwendung eines Strahlungsleitkanals in
den Aufbau mit ein, der über einen nicht dargestellten biegsamen Schlauch mit einem externen Absauggebläse verbunden ist. Ein
Gebläse mit 56,6 m /h und Kanäle, die beispielsweise in die Oberseite und den Boden von Kanalerweiterungen eingeschnitten
sind, die an dem abgeschirmten Bahnhandhabungsaufbau der Zeichnung angebracht sind, können die Ozonpegel der Umgebung
bei weniger als 0,1 ppm halten, welches die OSHA-Grenze für belegte Flächenbereiche ist (Abschnitt 191O.93 "Air Contamination")
. Die Erfindung ist daher auch dort von Nutzen, wo keine Inaktivierung notwendig ist, sondern der umgekehrte Prozeß ange-
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wendet wird, d.h. das Gas-Schlitzsystem mit niedriger Konduktanz wird bei einem negativen Druck in der Behandlungsoder Bestrahlungszone verwendet, um das durch Elektronen
erzeugte Ozon auf den Bahnhandhabungsaufbau und seinen Fluß
auf die Außenumgebung zu beschränken.
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Leerseite
Claims (20)
- PatentansprücheVorrichtung zum Durchführen einer Bahn durch eine sauerstoffbegrenzte Elektronenbestrahlungszone und zur Abschirmung gegen Streustrahlung, die ein sich in Längsrichtung erstreckendes Abschirmgehäuse, das mit Einlaß- und Auslaßbereichen versehen ist, die durch eine Zwischenzone verbunden sind, auf die die Elektronenbestrahlung konzentriert werden soll; eine Einrichtung zum Erzeugen einer Elektronenstrahl-Strahlung und zum Leiten derselben durch ein elektronendurchlässiges Fenster, das entlang der Zwischenzone angeordnet ist und als eine Wand der Zone dient, und eine eine gegenüberliegende Wand entlang der Zwischenzone bildende Einrichtung aufweist, die eine mit einer Kühleinrichtung versehene Strahlungsfalle in Form eines abgeschirmten Kastens umfaßt, dadurch gekennzeichnet, daß jeder der Einlaß- und Auslaßbereiche aus parallelen abgeschirmten Wandflächen besteht, die sich in Längsrichtung erstreckende Schlitze bilden, die diejenige Strahlung kollimieren, welche von der Bestrahlungszwischenzone nach außen hin entlang derselben gestreut wurde; daß an den Einlaß- und Auslaßbereichen Falleneinrichtungen in Form eines abgeschirmten Hohlraums zur Aufnahme der Strahlung angeordnet sind, die nach außen hin entlang der Kollimierschlitze von der Zwischenzone aus gestreut worden ist; daß eine Einrichtung zum Zuführen einer Bahn an den Kollimierschlitz des Einlaßbereichs und zum Vorschieben derselben in Längsrichtung durch den Einlaßbereich sowie von dort in Längsrichtung zwischen030021/0559dem Fenster und dem abgeschirmten Kasten durch die Zwischenzone und dann entlang des Kollimierschlitzes des Auslaßbereichs zum Austreten aus demselben und eine Einrichtung zum Schaffen einer sauerstoffbeschränkten oder ozonbegrenzenden Atmosphäre innerhalb der Zone vorgesehen ist.
- 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Elektronenstrahl sich in Querrichtung über die Bahn erstreckt.
- 3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Abschirmung der Fallen und Wandflächen aus Blei besteht, das mit einer Fläche von niedriger Atomzahl wie Aluminium verkleidet ist.
- 4. Vorrichtung nach Anspruch 3,dadurch gekennzeichnet, daß die Falleneinrichtung in Form eines Hohlraums durch die Abschirmung begrenzt ist und ein Labyrinth aufweist, das mit einem elektronendurchlässigen Fenster zum Abschließen desselben verblendet ist, durch das jedoch entlang der Kollimierschlitze nach außen hin gestreute Strahlung in das Hohlraumlabyrinth eintreten kann.
- 5. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens eine der Falleneinrxchtungen in Form eines Hohlraums im Abstand vom Ende ihres angrenzenden Kollimierschlitzes angeordnet ist.
- 6. vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Falleneinrichtungen in Form eines Hohlraums in abgeschirmten Endabschnitten angeordnet sind, die geneigte Führungen enthalten, um die Bahn in spitzen Winkeln in das und aus dem Gehäuse zu leiten.030021/05592919S29
- 7. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens eine der Falleneinrichtungen in Form eines Hohlraums in einem abgeschirmten Endabschnitt angeordnet ist, der eine Führung zum im wesentlichen waagerechten Leiten der Bahn enthält, wobei die Bahn geneigt durch die Zone läuft.
- 8. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß einer der Abschnitte eine Einrichtung zum Hineindiffundieren eines Inertmediums in den Kanal enthält.
- 9. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß eine Luftschneideneinrichtung auf die in die Führung des Einlaß-Endabschnitts eintretende Bahn gerichtet ist.
- 10. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Leiten des Elektronenstrahls im Inneren eines sich in Querrichtung erstreckenden Abschirmgehäuses enthalten ist, das auf dem Gehäuse auf jeder Seite der Bestrahlungszone angebracht ist.
- 11. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Aufbau ein Gehäuse aufweist, dessen freie Ränder von einer sich in Querrichtung erstreckenden U-förmigen Strahlungsfalle aufgenommen werden, die außerhalb der Seiten der Bestrahlungszone von der Einschließung getragen wird.— 4 —030021/0559 ORIGfNAL INSPECTED29 1 9S29
- 12. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Führungen der Endabschnitte und die Bahnzuführexnrichtung und die Falle in Form eines abgeschirmten Kastens als eine Einheit angeordnet sind, die eine Wand der abgeschirmten Einschließung bildet und mit der gegenüberliegenden, die elektronenerzeugene Einrichtung tragenden Wand sowie mit einem peripheren Flansch zum Fangen der Strahlung, der dasselbe abschließt, in Nebeneinanderstellung bewegbar ist.
- 13. Vorrichtung nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet, daß die Kühleinrichtung eine wassergekühlte Einrichtung ist, die mit einer Fläche von niedriger Atomzahl wie aus Aluminium bedeckt und am Boden der Kastenfalle angeordnet ist.
- 14. Verfahren zum Reduzieren der durch Elektronen erzeugten Reflektion und der Streustrahlung auf ein Minimum bei gleichzeitiger Schaffung einer minimalen Raumzone für die Elektronenbestrahlung einer durchlaufenden Bahn u. dgl., gekennzeichnet durch:(a) Führen der Bahn zwischen einem Einlaß und einem Auslaß und in Längsrichtung über eine dazwischenliegende Bearbeitungszone hinweg?(b) Leiten einer quergerichteten Elektronenreihe auf die Bahn beim Laufen derselben entlang dieses Bereichs in Längsrichtung;(c) Einfangen und Unterdrücken von auf der anderen Seite der Bahn innerhalb der Bearbeitungszone austretenden Elektronen;030021/05592919S29(d) Kollimieren der durch Elektronen erzeugten Streuung in entgegengesetzten Richtungen von der Zone aus in Längsrichtung nach außen hin auf den Einlaß und den Auslaß zu;(e) Einfangen de°r kolliraierten Streustrahlung in einem Hohlraum;(f) Einführen der Bahn in einem Winkel zur Richtung der Einlaßkollimation und Austretenlassen derselben in einem Winkel zur Richtung der Auslaßkollimation, wobei diese Winkel eingestellt sind, um das Entweichen einer derartigen Streuung zu blockieren, und(g) Inaktivieren oder Schaffen einer Ozonbegrenzung innerhalb dieser Zone.
- 15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß ein Gas auf die Bahn beim Durch-- laufen derselben zwischen Einlaß und Bearbeitungszone geblasen wird.
- 16. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Schritte des Einführens und des Austretenlassens jeweils aufeinanderfolgende Winkeländerungen umfassen.
- 17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß eine Gasdecke auf der Bahn im Anschluß an die Winkeländerungen vorgesehen wird.
- 18. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Schritte des Einführens und des Austretenlassens entlang im wesentlichen bogenförmiger Bahnen erfolgen.030021/05592319529
- 19. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn zeichnet, daß die sich in Längsrichtung erstreckenden Schlitze aufeinanderfolgende Winkeländerungen haben.
- 20. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn zeichnet, daß die sich in Längsrichtung erstreckenden Schlitze bogenförmig ausgebildet sind.Ma/MP - 27 466 -Τ030021/0559
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