DE2917942C2 - Analog-Digital-Wandler - Google Patents
Analog-Digital-WandlerInfo
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- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 41
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 20
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical group [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/0948—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET using CMOS or complementary insulated gate field-effect transistors
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- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/30—Modifications for providing a predetermined threshold before switching
- H03K17/302—Modifications for providing a predetermined threshold before switching in field-effect transistor switches
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
- H03K17/687—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
- H03K17/693—Switching arrangements with several input- or output-terminals, e.g. multiplexers, distributors
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/34—Analogue value compared with reference values
- H03M1/36—Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type
- H03M1/361—Analogue value compared with reference values simultaneously only, i.e. parallel type having a separate comparator and reference value for each quantisation level, i.e. full flash converter type
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- Mathematical Physics (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
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Description
11. Analog-Digital-Wandler nach Anspruch 9 oder
10, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Widerstandsbahnen (100,101) zwischen den beiden Reihen
von Feldeffekttransistoren (113, 114) liegen, und daß die beiden Leiterbahnen (106,107) zu beiden
Seiten der beiden Reihen von Transistoren (100,101) liegen (Fig. 6,7).
12. Analog-Digital-Wandler nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die beiden Widerstandsbahnen (100, 101) mit einer Isolierschicht (123)
überzogen sind, und daß die Drain-Elektroden jeweils beider einander gegenüberliegender Feldeffekttransistoren
(113,114) mit dritten Leiterbahnen
(HO), die sich über die Isolierschicht erstrecken, verbunden sind (Fig. 6,7,10).
13. Analog-Digital-Wandler nach Anspruch 12, dadurch
gekennzeichnet, daß sich die genannten dritten Leiterbahnen (110) an dritte Bahnen (112) aus
demselben Material wie die erste (100) und die zweite (101) Widerstandsbahn anschließen, wobei
diese dritten Bahnen (112) gleichfalls mit einer Isolierschicht
(123) überzogen sind und sich in Richtungen im wesentlichen senkrecht zu der Richtung
der zweiten Leiterbahn (106) unter diese zweite Leiterbahn (106) hindurch erstrecken (Flg. 7,10).
14. Analog-Digital-Wandler nach einem der Ansprüche 9 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß eine
vierte Leiterbahn (103) vorhanden ist, mit deren Hilfe ein Ende (131) der ersten Widerstandsbahn
(100) mit demjenigen Ende (132) der zweiten Widerstandbahn (101) verbunden ist, das nicht dem
genannten Ende (131) der ersten Widerstandsbahn (100) gegenüberliegt (Flg. 6).
Beschreibung
Die Erfindung bezieht sich auf einen Analog-Digital-Wandler entsprechend dem Oberbegriff des Patentanspruchs
1.
Eine Schwellenschaltung der dort angegebenen Art ist aus der US-PS 38 23 330 bekannt, wobei dir Schaltung
als Inverter verwendet wird.
Bei diesen bekannten Schaltungen ist die Größe der Speisespannung für den dynamischen Bereich der Ausgangsspannung
mitbestimmend. Daher ist es erwünscht, daß die Speisespannung in bezug auf die Schwellenspannung
der verwendeten Transistoren verhältnismä-Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, mit Hilfe
von derartigen Schwellenschaltungen einen Analog-Digital-Wandler zu realisieren.
Diese Aufgabe wird durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 genannten Merkmale gelöst
Diese Aufgabe wird durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 genannten Merkmale gelöst
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Nach der Erfindung kann ein Analog-Digital-Wandler erhalten werden, wenn eine Anzahl von Schwellen-Schaltungen
mit voneinander verschiedenen Schwellen mit einem gemeinsamen Signaleingang kombiniert werden.
Jedes Paar /-ter Transistoren bildet bei diesem Analog-Digital-Wandler eine Schwellenschaltung. Zwischen
den Gate-Elektroden jeweils der beiden /-ten Transistoren ist stets die gleiche Anzahl von Widerständen vorhanden.
Wenn diese alle denselben Wert aufweisen, ist für jedes Paar der Widerstandswert zwischen den beiden
Gate-Elektroden gleich, so daß auch die Gleichspannung dazwischen gleich ist.
Wenn der zweite Punkt zwischen den beiden Reihenschaltungen als Eingang gewählt wird, ist von diesem
Eingang her die Anzahl von Widerständen zu der Gate-Elektrode des Transistors vom ersten Leitungstyp jedes
/-ten Paares stets anders, so daß auch der Schwellwert stets anders ist. Wenn diese Widerstände einander
gleich sind, isl der Schwellwert jeder folgenden Schwellenschaltung
in der Reihe, die von / = 1 zu / = n+ 1 geht, stets um eine Spannung IR höher, wobei / den
Gleichstrom durch diese Widerstände und R den Wert jedes dieser Widerstände darstellen. Wenn die Ruhespannung
an diesem Eingang niedriger als der niedrigste Schwellwert ist, wird beim Anlegen einer Eingangsspannung
die Anzahl von Schwellenschaltungen, deren Schwelle überschritten wird, ein Maß für diese Eingangsspannung
sein.
Entsprechendes gilt, wenn jeder andere Punkt der beiden Reihenschaltungen von &eegr; Widerständen, z. B. der
genannte erste Punkt, als Signaleingang gewählt wird.
Bei der zuletzt genannten Ausführungsform können die Mittel, mit deren Hilfe Gleichströme hindurchgeschickt werden, durch eine Gleichspannungsquelle zwischen dem ersten und dem dritten Punkt gebildet werden.
Bei der zuletzt genannten Ausführungsform können die Mittel, mit deren Hilfe Gleichströme hindurchgeschickt werden, durch eine Gleichspannungsquelle zwischen dem ersten und dem dritten Punkt gebildet werden.
Dabei ist es vorteilhaft, daß ein Eingangswiderstand zwischen dem ersten Punkt und einem Punkt auf konstanter
Spannung zur Aufnahme eines Signaleingangsstromes aufgenommen ist. Dieser Signaleingangsstrom
führt über dem Eingangswiderstand eine Signalspannung herbei, die, weil über jedem Widerstand der ersten
so und der zweiten Reihenschaltung eine Gleichspannung vorhanden ist, an jedem Punkt dieser Reihenschaltungen
vorhanden ist.
Da es mit Rücksicht auf eine vielseitige Anwendbarkeit oft erwünscht ist, Schaltungen nur teilweise als integrierte
Schaltung auszuführen, kann der Analog-Digital-Wandler auch gemäß der Weiterbildung nach Anspruch
9 ausgeführt werden.
Eine solche integrierte Schaltung kann sehr einfach mit z. B. externen Verbindungen und Einzelteilen zu ei-
Schwellenspannung von &zgr;. B. 1 V. Um dabei den Hub der Eingangsspannung, der erforderlich ist um die Ausgangsspannung
sich von ihrem Minimalwert zu ihrem Maximalwert ändern zu lassen, verhältnismäßig klein zu
halten, wird zwischen den Gate-Elektroden des ersten und des zweiten Feldeffekttransistors eine Gleichspannung
angelegt, deren Polarität gleich der der anzulegenden Speisespannung ist
&igr; viiiv ou iivi «jviivrviiviiaviiaiiuiig Vi vrvitvi &igr; ntiutn·
grierte Schaltung ist dabei sehr kompakt mit minimalen
Verbindungen zwischen den Transistorpaaren vom ersten u.id vom zweiten Leitungstyp, während die Anzahl
einander kreuzender Verbindungen auf ein Mindestmaß beschränkt bleiben kann.
Bei dieser integrierten Schaltung ist es vorteilhaft,
daß die ersten Feldeffekttransistoren mit ihrem Kanal parallel zu der ersten Widerstandsbahn zwischen der
ersten Widerstandsbahn und der ersten Leiterbahn liegen,
wobei von dieser ersten Widerstandsbahn bzw. dieser ersten Leiterbahn Abzweigungen zu den Gate-Elektroden
bzw. Source-Elektroden der ersten Feldeffekttransistoren führen, und daß die zweiten Feldeffekttransistoren
mit ihrem Kanal parallel zu der zweiten Widerstandsbahn zwischen der zweiten Widerstandsbahn und
der zweiten Leiterbahn liegen, wobei von dieser zweiten Widerstandsbahn bzw. von dieser zweiten Leiterbahn
Abzweigungen zu den Gate-Elektroden bzw. Source-Elektroden der zweiten Feldeffekttransistoren
führen.
Durch die Weiterbildung gemäß Anspruch 10 können
die beiden Widerstandsbahnen und die beiden Leiterbahnen mit den Source- und Gate-Elektroden der beiden
Reihen von Transistoren ohne einander kreuzende Verbindungen verbunden werden.
Dabei ist es weiter günstig, daß die beiden Widerstandsbahnen zwischen den beiden Reihen von Feldeffekttransistoren
liegen, und daß die beiden Leiterbahnen zu beiden Seiten der beiden Reihen von Transistoren
liegen.
Einige Ausführungsformen der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im folgenden näher
beschrieben. Es zeigt
Fig. la eine bekannte CMOS-Inverterschaltung,
Rg. Ib ein zu der Schaltung nach Fig. la gehöriges
Diagramm,
Fig. Ic ebenfalls ein zu der Schaltung nach Rg. la
gehöriges Diagramm,
Fig. 2a eine weitere bekannte CMOS-Inverterschaltung.
Fig. 2b ein zu der Schaltung nach Fig. 2a gehöriges
Diagramm,
Fig. 3a eine Abwandlung der Schaltung nach Fig. 2a,
Fig. 3b eine verbesserte Form der Schaltung nach Fig. 3a,
Fig. 3c ein zu der Schaltung nach Fig. 3b gehöriges
Diagramm,
Fig. 4 eine Ausfühmngsform des Analog-Digital-Wandlers nach der Erfindung,
Fig. 5 eine Abwandlung eines Teiles der Schaltung nach Fig. 4,
Fig. 6 den Prinzipaufbau einer integrierten Schaltung, in der die Widerstände und Transistoren der Schaltung
nach Fig. 4 auf sehr kompakte Weise angeordnet sind.
Fig. 7 einen Teil der Fig. 6 in detaillierterer Form,
Fig. 8 einen Schnitt durch einen p-Kanaltransistor aus
der Schaltung nach Fig. 7 längs der Linie VIH-VIII,
Fig. 9 einen Schnitt durch einen n-Kanaltransistor aus
der Schaltung nach Fig. 7 längs der Linie IX-IX,
Fig. 10 einen Schnitt durch die Schaltung nach Fig. 7
längs der Linie X-X, und
Fig. 11 einen Schnitt durch die Schaltung nach Fig. 7
längs der Linie XI-XI.
Fig. la zeigt eine bekannte CMOS-Inverterschaltung mit einem p-Kanalfeldeffekttransistor Tp und einem n-Kanalfeldeffekttransistor
Tn. Die Gate-Elektroden beider Feldeffekttransistoren Tp und Tn sind mit einem Eingangsanschlußpunkt
1 und die Drain-Elektroden mit einem Ausgangsanschlußpunkt 2 verbunden. Weiter ist
die Source-Elektrode des Transistors Tp mit einem Speisungsanschlußpunkt
3 und die Source-Elektrode des Transistors Tr. mit einem Speisungsanschlußpunkt 4 verbunden.
Wenn die Spannungen an den Anschlußpunkten 1,2, 3 bzw. 4 gleich V,, V0, Vdd bzw. V15 sind, zeigt Fig. 1 b ein
Diagramm, das die Beziehung zwischen der Ausgangsspannung Vo und der Eingangsspannung V; darstellt
Wenn die Eingangsspannung V1 gleich Vss ist, ist der
Transistor Tn nichtleitend und der Transistor Tp leitend
und ist die Ausgangsspannung V0 (in unbelastetem Zustand)
gleich Vdd. Wenn die Eingangsspannung V, zunimmt
und die Schwellenspannung Vn des Transistors Tn
überschreitet (V1 ■ = Vss+ Vn), wird der Transistor Tn leitend,
während der Transistor Tp weniger gut leitend wird, wodurch V0 abnimmt Wenn die Eingangsspannung
Vi die Schwellenspannung Vp des Transistors Tp
überschreitet (V1 = Vdd — Vp\ wird der Transistor Tp
nichtleitend und ist die Ausgangsspannung V0 gleich Vss.
Im Umschaltbereich &Dgr; Vist die Ausgangsspannung V0
nicht genau definierbar und hängt von verschiedenen Parametern ab. Dadurch läßt sich kein genauer Kippunkt
definieren.
Fig. Ic zeigt die gleiche Kennlinie wie Fig. Ib für
Vdd — Vs5 = Vn+ Vp. Da in der Kennlinie nach Flg. Ib
gilt daß 4V= Vdd- Vss- Vn- V„ ist, gilt in der
Kennlinie nach Fig. Ic: &Dgr; V = O. Der Umschaltpunkt ist
bei Vi = Vn+ Vss genau definiert. Dabei ist es jedoch
nachteilig, daß der Spannungshub V&i — Vss des Ausgangssignals
V0 in bezug auf den Hub im Falle der Fig. 1 b, z. B. 2 V in bezug auf 10 V herabgesetzt ist.
Fig. 2a zeigt eine weitere bekannte Schwellenschaltung. Diese entspricht der Schaltung nach Fig. la unter
HinzufUgung einer Spannungsquelle 5, die in diesem
Beispiel eine Spannung &Dgr; V = Vdd — Vss — Vn — Vp
führt und zwischen den Gate-Elektroden der Transistoren Tp und Tn liegt.
Flg. 2b zeigt das zugehörige Diagramm, das dem Diagramm
nach Fig. 1 b entspricht wobei jedoch die Ausgangsspannung V0 gleich Vdd bleibt, solange die Eingangsspannung
V, den Wert Vis+ Vn+ &Dgr;Vnicht überschritten
hat Denn erst bei V,= Vss+ Vn+ &Dgr;&ngr;wird
der Transistor Tn leitend. Da davon ausgegangen wird,
daß die Quelle 5 eine Spannung 4V= Vdd- Vss- Vn- Vp führt, gilt denn auch:
Vi = Vdd- vP; dies ist der Wert V* bei dem der Transistor
Tp nichtleitend wird. Die Ausgangsspannung V0 weist
also einen schroffen Obergang von Vdd zu Vss für
Vi: - V5S+ &Dgr; V+ Vn= Vdd - Vp auf, ohne daß auf einen
großen Ausgangsspannungshub verzichtet werden muß.
Die Spannung der Quelle 5 braucht nicht notwendigerweise den Wert &Dgr; V aufzuweisen. Denn jeder Wert
zwischen 0 und &Dgr; V hat eine Verbesserung zur Folge. Wenn die Quelle 5 eine Spannung Vc führt, ist die Breite
des Obergangsbereiches gleich &Dgr;&ngr; — Vc in bezug auf
so eine Breite &Dgr; Vin der Situation nach Fig. Ib.
Fig. 3a zeigt eine Möglichkeit die Eingangsspannung Vi, bei der die Schwelle der Schwellenschaltung überschritten
wird, unabhängig von V»+ Vj,+ &Dgr; V zu wählen.
Dazu ist die Schaltung nach Fig. 2a mit einer Spannungsquelle
6 zwischen der Gate-Elektrode des Transistors Tp und dem Eingangsanschlußpunkt 1 erweitert
Wenn diese Spannungsquelle eine Spannung V4 führt,
liegt der Kippunkt bei V,= V5*+ Vn+ AV- V6.
Wenn die Polarität der Spannung Vb in bezug auf die Gate-Elektrode des Transistors Tp gleich der der Spannung &Dgr;&ngr; ist können die Quellen 5 und 6 kombiniert werden. Eine solche Schaltung zeigt Fig. 3b. Dabei ist zwischen dem Eingangsanschlußpunkt 1 und der Gate-Elektrode des Transistors Tp eine Spannungsquelle 51 und zwischen dem Eingangsanschlußpunkt 1 und der Gate-Elektrode des Transistors Tn eine Spannungsquelle 52 angeordnet Die Spannungsquelle 51 entspricht dann der Quelle 6 der Fig. 3a und die Reihenschaltung
Wenn die Polarität der Spannung Vb in bezug auf die Gate-Elektrode des Transistors Tp gleich der der Spannung &Dgr;&ngr; ist können die Quellen 5 und 6 kombiniert werden. Eine solche Schaltung zeigt Fig. 3b. Dabei ist zwischen dem Eingangsanschlußpunkt 1 und der Gate-Elektrode des Transistors Tp eine Spannungsquelle 51 und zwischen dem Eingangsanschlußpunkt 1 und der Gate-Elektrode des Transistors Tn eine Spannungsquelle 52 angeordnet Die Spannungsquelle 51 entspricht dann der Quelle 6 der Fig. 3a und die Reihenschaltung
der Quelle 51 und der Quelle 52 entspricht der Quelle 5 in Flg. 3a.
Wenn die Quelle 51 eine Spannung m &Dgr; V und die Quelle 52 eine Spannung (1 — m) &Dgr; V führt, ist die Gesamtspannung
zwischen den Gate-Elektroden der Transistoren T9 und Tn gleich &Dgr; Vund von dem Parameter m
unabhängig. Der Kipppunkt liegt dann bei Vi = Vss+ Vn+ (1 - m)AV\ma kann durch die Wahl
des Parameters m eingestellt werden. Flg. 3d zeigt dabei die Kennlinien für m — 1, V4, V2,V4 und 0.
Die Schaltungen nach den Fig. 3a und 3b sind besonders
gut dazu geeignet, zu einem Analog-Digital-Wandler zusammengebaut zu werden. Fig. 4 zeigt einen solchen
Analog-Digital-Wandler mit vier Schwellenschaltungen.
Die Schaltung enthält zwischen den Punkten 21 und 31 eine erste Reihenschaltung von Widerständen R\,
Rp\< Rpi, Rp3 und Ri und zwischen den Punkten 31 und 11
die Reihenschaltung von Widerständen R3, RnU R„2 , Rn3
und Ra. Weiter enthält die Schaltung die p-Kanaltransistoren
Tp\, Tp2, Tp3 und T^ und die n-Kanaltransistoren
Tnu T„2, Tn3 und Tn4. Die Gate-Elektrode des Transistors
Tpu Tp2, Tp3, Tpi, TnU Tm, Tn3 bzw. Tn* ist mit dem Verbindungspunkt
zwischen den Widerständen R\ und Rpu Rp\
und Rp2, Rp2 und Rp3, Rp3 und R2, R3 und Rn\,Rn\ und Rn2,
RRrO2 und Rn3 bzw. Rn3 und Ra verbunden. Die Drain-Elektroden
jedes Paares von Transistoren Tp\ und 7"„i,
Tp2 und Tn2, Tp3 und Tn3 bzw. Tp4 und Tn 4 sind gemeinsam
mit einem Ausgangsanschlußpunkt 21, 22, 23 bzw. 24 verbunden. Die Source-Elektroden der Transistoren
Tpu Tp2, Tp3 und Tpi sind mit dem Speisungsanschlußpunkt
3 und die Drain-Elektroden der Transistoren Tni,
Tn2, Tn3 und T„i, mit dem SpeisungsanschluBpunkt 4 verbunden.
Um durch die Widerstände zwischen den Punkten 214 und 11 einen Gleichstrom fließen zu lassen, ist
eine Zenerdiode 12 mit einer Zenerspannung V2 zwischen
diesen Punkten angeordnet Der Punkt 214 ist über einen Widerstand R, mit einem Punkt 9 konstanten
Potentials verbunden. Eine Signalstromquelle 7 schickt Signalstrom über diesen Widerstand R3. Weiter ist der
Punkt 11 mit einer Einstellstromquelle 8 verbunden.
Infolge der Zenerdiode 12 ist über jedem Widerstand in dem Kreis zwischen den Punkten 214 und 11 eine
konstante Spannung vorhanden. Wenn die Werte der Widerstände Rp\, Rp2, Rp3, Rn\, Rn2 und Rn3 einander
gleich sind ist zwischen den Gate-Elektroden jedes Paares von Transistoren Tp] und Tn\, Tp2 und T„2, Tp3 und Tn3,
Tpi und Tm dieselbe Gleichspannung vorhanden. Wenn
diese Widerstände RppU Rp2, Rp3, Rpi, R„\, Rn2, Rn3 und
R„i einen Wert R0 und die Widerstände A1, A2, A3 und R*
einen Wert V2 R0 aufweisen, ist diese Gleichspannung
zwischen den Gate-Elektroden jedes Paares gleich V2 Vx. Für eine optimale Situation muß also gelten:
Vz = 2&Dgr; V. Wenn die Schaltung zu &ohgr; Paaren von Transistoren
unter Hinzufügung von Widerständen Rp3 bis Rpn
und R„i bis R„n erweitert wird, gilt in diesem Falle nach
wie vor: V2 = 2AV. Auf diese Weise kann also eine
große Anzahl von Paaren mit je derselben Gleichspannung zwischen den Gate-Elektroden zusammengefügt
werden.
Wenn der Punkt 31 als Signaleingang betrachtet wird, sind die Gate-Elektroden der Transistoren Tn\, Tn2, Tn3
bzw. Toi über Spannungen 1Ae V2, V16 V2, 5/)6 V1 bzw. 7/)6
Vz in bezug auf die Gleichspannung am Eingangsanschlußpunkt
31 verschoben. Die Schaltung nach Flg. 4 besteht also aus vier ineinander geflochtenen Schaltungen
nach Fig. 3b mit für die Parameter m den Werten
Wenn der Punkt 11 oder der Punkt 21 als Signaleingang betrachtet wird, kann die Schaltung alsvier ineinander
geflochtene Schaltungen nach Flg. 3a betrachtet werden.
Die Signalstromquelle 7 schickt ein Signal durch den Widerstand Ra, über dem eine Signalspannung V, entsteht.
Diese Signalspannung ist ebenfalls an jedem Punkt des Widerstandskreises zwischen den Punkten
214 und 11, jedoch in bezug auf den Gleichspannungspegel
verschoben, vorhanden.
Wenn mit der Einstellstromquelle 8. die zugleich den Ruhestrom für die Zenerdiode 12 liefert, die Ruhespannung
über dem Widerstand Ra derart eingestellt wird, daß beim Fehlen von Signalstrom alle Transistoren Tn\
bis T„i ieitend und alie Transistoren Tp\ bis Tp, nichtleitend
sind, führen alle Ausgänge 21 bis 24 eine Spannung V55. Wenn Signalstrom angeboten wird, werden bei zunehmendem
Signalstrom nacheinander die Transistoren Tpu Tp2, Tp3 und Tpi leitend und werden die zugehörigen
Transistoren Tn] bis Tm gesperrt, so daß nacheinander
die Ausgänge 21,22,23 und 24 die Spannung V^ führen
werden. Eine Spannung Vdd an einem Ausgang kann als
ein logischer Pegel "1" und eine Spannung Vss als ein
logischer Pegel "0" betrachtet werden. Wenn der Zustand der Ausgänge in einen digitalen Code umgewandelt
wird, wird ein Analog/Digital-Wandler erhalten, wobei mit der Stromquelle 8 der Nullpunkt und mit dem
Widerstand R1 die Schrittgröße eingestellt werden kann,
d. h. die Signalstromänderung, die erforderlich ist. um eine Änderung des Zustandes eines folgenden Ausgangs
herbeizuführen.
Die Schaltung nach Fig. 4 kann zu einer sehr großen
Anzahl, z. B. vierundsechzig, von Paaren von Transistoren Tn und Tp erweitert werden.
Was die Ansteuerung und die Einstellung von &Dgr; V anbelangt, gibt es sehr viele Möglichkeiten. Bei der
Schaltung nach Fig. 4 kann die Zenerdiode 12 durch eine Spannungsquelle eines anderen Typs ersetzt oder
weggelassen werden, wenn eine Stromquelle hinzugefügt wird, die einen stabilisierten Strom durch den Widerstandskreis
zwischen den Punkten 214 und 11 schickt Wenn die Zenerdiode 12 fehlt oder wenn eine
gesonderte Ruhestromschaltung für die Zenerdiode angebracht wird, kann die Einstellstromqueiie 8 auch unmittelbar
mit dem Widerstand R3 verbunden werden.
Weil die Zenerdiode für Signalstrom einen Kurzschluß bildet, kann sie auch mit dem Punkt 11 verbunden werden.
Ferner kann das Signal auch direkt als Spannung einem geeigneten Punkt des Widerstandskreises zwisehen
den Punkten 214 und 11 zugeführt werden.
Fig. 5 zeigt zur Illustrierung eine andere Weise zur Ansteuerung der Schaltung nach Fig. 4. Dabei siftd der
Einfachheit halber die Transistoren Tm bis Tm und 7^i
bis Tpi nicht mehr dargestellt
Im Vergleich zu der Schaltung nach Fig. 4 ist die Zenerdiode
12 durch zwei Zenerdioden 13 und 14 je in Reihe mit einer Zenerspannung gleich V2 V2 ersetzt Der
Knotenpunkt zwischen den beiden Zenerdioden ist mit dem Punkt 31 verbunden, während die Signalstromquel-Ie
7 ebenfalls mit dem Punkt 31 verbunden ist
Eine Schaltung der in Flg. 4 dargestellten Art wird häufig als integrierte Schaltung ausgebildet werden.
Zum Erhalten einer vielseitigen Anwendbarkeit werden dann z. B. die Zenerdiode 12, der Einstellwiderstand R3.
die Signalstromquelle 7 und die Einstellstromquelle 8 der Schaltung nach Flg. 4 nicht in eine solche integrierte
Schaltung aufgenommen werden. Dagegen werden aber der Widerstandskreis zwischen den Punkten 4 und
11 und alle Transistoren Tp und Tn aufgenommen werden.
Das Widerstandsnetzwerk und die Feldeffekttransistoren in der Schaltung nach Fig. 4 können, wie sich
herausstellt, sehr kompakt integriert werden. Fig. 6 zeigt schematisch das Verbindungsmuster auf der Oberfläche
einer derartigen integrierten Schaltung.
Die integrierte Schaltung nach Fig. 6 weist zwischen den Punkten 121 und 131 eine Bahn 100 aus Widerstandsmaterial,
in einer praktischen Ausführungsform aus &eegr;-Typ dotiertem Polysilizium, auf, die den Widerstandskreis
zwischen den Punkten 21 und 31 nach Fig. 4 bildet Ebenso bildet eine Widerstandsbahn 101 zwischen
den Punkten 132 und Ul den Widerstandskreis zwischen den Punkten 31 und !! nach Rg. 4. Die Punkte
131 und 132 (die dem Punkt 31 in Fig. 4 entsprechen) können, wie in Fig. 6 dargestellt ist, mittels einer Metallbahn
103 miteinander verbunden werden. Falls es wünschenswert ist, die Punkte 131 und 132 mit Anschlußstiften
der integrierten Schaltung zu verbinden, kann dies auch außerhalb der integrierten Schaltung erfolgen.
Neben der Bahn 100 werden alle Transistoren Tp und
neben der Bahn 101 werden alle Transistoren Tn gebildet
(diese Transistoren sind in Rg. 7 dargestellt). Abzweigungen 104 und 105 der Widerstandsbahnen 100
bzw. 101 bilden die Anschlüsse der Gate-Elektroden aller Transistoren Tp bzw. Tn. Parallel zu der Bahn 101
erstreckt sich eine Metallbahn 106, von der Abzweigungen 108 Verbindungen mit den Source-Elektroden aller
Transistoren Tn herstellen. Diese Metallbahn 106 führt
zu einem Anschlußpunkt 4 (entsprechend Rg. 4) für die Zufuhr der Speisespannung V„. Ebenso erstreckt sich
parallel zu der Bahn 100 eine Metallbahn 107, von der Abzweigungen 109 Verbindungen mit allen Drain-Elektroden
aller Transistoren Tp herstellen. Diese Bahn 107
führt zu einem Anschlußpunkt 3 für die Zufuhr der Speisespannung Vdd- MetaHbahnen 110 verbinden die Drain-Elektroden
der jeweils einander gegenüber liegenden Transistoren Tp und Tn miteinander und führen jeweils
über eine Polysiliziumbahn 112 (um Kreuzung mit der Metallbahn 106 zu erleichtern) zu weiteren Schaltungen
oder zu Ausgängen 21,22,23,..., wie bei der Schaltung
nach Rg. 4.
Der von einer gestrichelten Linie umrahmte Teil A
der integrierten Schaltung nach Rg. 6 ist in Rg. 7 in detaillierterer Form dargestellt. Darin symbolisieren die
mit einer gestrichelten Linie angegebenen Rechtecke 113 die Transistoren Tn, deren Source-, Gate- bzw.
Drain-Elektroden sich an die Abzweigungen 108, 105 bzw. die Bahnen 110 anschließen. Ebenso symbolisieren
die mit einer gestrichelten Linie angegebenen Rechtekke 114 die Transistoren Tp, deren Source-, Gate- bzw.
Drain-Elektroden sich an die Abzweigungen 109, 104 bzw. die Bahnen 110 anschließen.
Zur Verdeutlichung des Aufbaus der integrierten Schaltung nach Rg. 6 zeigen die Rg. 8,9,10 und 11 vier
in Rg. 7 angegebene Schnitte, wobei Rg. 8 einen Schnitt durch einen p-Kanaltransistor Tp, Rg. 9 einen
Schnitt durch einen n-Kanaltransistor Tn, Rg-10 einen
Schnitt durch die Drain-Elektroden zweier nebeneinander liegender Transistoren T9 und Tn und Rg. 11 einen
Schnitt durch die Source-Elektroden dieser zwei Transistoren darstellen.
Die Schaltung ist in diesem Beispiel auf einem n-leitenden
Substrat 115 aufgebaut, auf dem sich eine verhältnismäßig dicke Siliziumoxidschicht 116 befindet, in
der öffnungen (die in Rg. 7 mit den gestrichelten Linien 113 und 114 dargestellt sind) vorgesehen sind. Dies läßt
sich in der Praxis dadurch erzielen, daß an den Stellen, an denen dieses Oxid erforderlich ist, das Substrat 115
oxidiert wird. In diesen Öffnungen werden die Transistoren gebildet und sind dann gegeneinander durch das
Siliziumoxid 116 isoliert In einer folgenden Stufe werden in den Inseln für die n-Kanaltransistoren z. B. mit
Hilfe von Ionenimplantation p-leitende Gebiete 117 erzeugt. In einer folgenden Stufe werden für die p-Kanaltransistoren
auf dem p-leitenden Gebiet 117 und für die
&iacgr;&ogr; n-Kanaltransistoren auf dem &eegr;-leitenden Substrat 115
dünne Siliziumoxidschichten 118 erzeugt, die die zu bildende Gate-Elektrode gegen das darunterliegende
Halbleitermaterial isolieren. In der folgenden Stufe werden in diesem Beispiel die &eegr;-leitenden Polysiliziumbah
nen 100 und 101 zusammen mit ihren Abzweigungen
104 und 105, die auf den Gate-Isolierschichten 118 gebildet werden, und die Polysilizium-Ausgangsbahnen 112
angebracht. In den Gebieten zwischen den Siliziumoxidschichten 116 und 118 werden nacheinander, z. B. durch
Diffusion, &eegr;-leitende Schichten 119a bzw. 1196, die die Source-Elektroden bzw. die Drain-Elektroden der zu
bildenden p-Kanaltransistoren Tp bilden, und p-leitende
Schichten 120a bzw. 120Z>, die die Source-Elektroden bzw. die Drain-Elektroden der zu bildenden n-Kanal
transistoren Tn bilden, angebracht In denselben Schrit
ten werden p-leitende Kontakte 122a zum Verbinden des p-leitenden Gebietes 117 mit der zu bildenden Source-Elektrodenmetallisierung
der p-Kanaltransistoren Tp und &eegr;-leitende Kontakte 1226 zum Verbinden des n-lei
tenden Substrats mit der jeweiligen zu bildenden Sour
ce-Elektrodenmetallisierung der n-Kanaltransistoren Tn
angebracht In einer folgenden Stufe wird Siliziumoxid 123 zum Definieren von Kontaktöffnungen über den
Source- und Drain-Elektroden 119a, 119/) , 120a und
1206 und zum Isolieren der Polysiliziumbahnen angebracht,
um Kreuzungen mit den Metallbahnen zu ermöglichen, wobei die Enden der Polysiliziumbahnen 112
freigelassen werden, um Kontakt mit den zu bildenden Metallbahnen 110 herstellen zu können. Schließlich
werden die Metallbahnen 106,107 und UO, einschließlich
der Abzweigungen 104 und 108, z. B. durch das Aufdampfen von Aluminium angebracht.
Der Prinzipaufbau der integrierten Schaltung, die das Widerstandsnetzwerk und die Transistoren Tp und Tn
enthält, ist sehr kompakt Dadurch, daß die beiden Teilnetzwerke als zwei antiparallele Bahnen ausgeführt
werden, kommt jeder Transistor Tp eines Paares, das
zusammen eine Schwellenschaltung (ohne Spannungsquellen) nach Rg. 3 bildet, neben dem zugehörigen
Transistor Tn zu liegen, wodurch sehr kurze und einander
nicht kreuzende Verbindungen zwischen ihren Drain-Elektroden erzielbar sind. Weiter können dann
die Source-Elektroden aller Transistoren Tp, gleich wie die aller Transistoren Tn, über je eine Bahn mit Abzwei
gungen mit den Speisungsanschlußpunkten verbunden
werden.
Was die Ausführung im Detail anbelangt, wie sie an
Hand der Rg. 7 bis 11 beschrieben ist, sei bemerkt, daß
von dieser Ausführung viele Abwandlungen möglich
sind und daß sie vor allem durch den Vorgang bestimmt
wird, mit dessen Hilfe die integrierte Schaltung hergestellt wird. So kann statt Siliziumoxid ein anderes Isoliermaterial,
z. B. Siliziumnitrid, gewählt werden. Für das Widerstandsmaterial Polysilizium können ebenfalls an
dere Materialien, z. B. Titan gewählt werden. Statt auf
gebrachter Widerstandsbahnen können z. B. auch Widerstandsbahnen durch eine p- oder &eegr;-Diffusion in das
Substrat gebildet werden.
Was den Prinzipaufbau nach Fig. 6 anbelangt, ist es
z. B. auch möglich, die Speisungsbahnen 106 und 107
zwischen den beiden Reihen von Transistoren und die
Widerstandsbahnen 100 und 101 zu beiden Seiten der
beiden Reihen von Transistoren anzubringen.
10
ji 15
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40
45
50
55
60
65
Claims (10)
1. Analog-Digital-Wandler mit einer Schwellenschaltung mit einem ersten Feldeffekttransistor
von einem ersten Leitungstyp mit einer Gate-Elektrode,
einer Source-Elektrode und einer Drain-Elektrode, einem zweiten Feldeffekttransistor von
einem zweiten komplementären Leitungstyp mit einer Gate-Elektrode, einer Source-Elektrode und
einer Drain-Elektrode, einem Eingangsanschlußpunkt, der mit den Gate-Elektroden des ersten und
des zweiten Feldeffekttransistors verbunden ist, einem ersten bzw. zweiten Speisungsanschlußpunkt,
der mit der Source-Elektrode des ersten bzw. zweiten Feldeffekttransistors verbunden ist. ersten Mitteln
zum Anlegen einer Speisespannung zwischen dem ersten und dem zweiten Speisungsanschlußpunkt
und zweiten Mitteln zum Anlegen einer Gleichspannung zwischen den Gate-Elektroden
des ersten und des zweiten Feldeffekttransistors mit einer Polarität gleich der der anzulegenden
Speisespannung, dadurch gekennzeichnet, daß der Analog-Digital-Wandler eine Parallelschaltung
von (n+ 1) Schwellenschaltungen aufweist, wobei die Source-Elektroden der n+ 1 Feldeffekttransistören
(Tpi bis Tp>
) vom ersten Leitungstyp gemeinsam mit dem ersten Speisungsanschlußpunkt (Vdd) verbunden sind und die Source-Elektroden
der &lgr;+ 1 Feldeffekttransistoren (Tn\ bis 7"^) vom
zweiten Leitungstyp gemeinsam mit dem zweiten Speisungsanschlußpunkt (V15) verbunden sind, und
wobei jeweils die Drain-Elektrode des /-ten Feldeffekttransistors (Tp) vom ersten Leitungstyp gemeinsam
mit der Drain-Elektrode des /-ten Feldeffekttransistors (Tn) vom zweiten Leitungstyp mit
einem /-ten Ausgangsanschlußpunkt (2/) verbunden ist, und wobei die Gate-Elektroden der n+ 1 Feldeffekttransistoren
(Tpi bis Tpi) vom ersten Leitungstyp
und die Gate-Elektroden der n+ 1 Feldeffekttransistoren (T„\ bis &Tgr;,*) vom zweiten Leitungstyp
mit einem gemeinsamen Eingangsanschlußpunkt (214) gekoppelt sind, daß sämtliche
zweite Mittel n+ 1 Schwellenschaltungen eine erste Reihenschaltung von &eegr; Widerständen (Rp\ bis
Rpi) zwischen einem ersten (214) und einem zweiten (31) Punkt und eine zweite Reihenschaltung
von &pgr; Widerständen (R„\ bis Rnj) zwischen dem
zweiten Punkt (31) und einem dritten (11) Punkt bilden; daß jeweils der /-ten Widerstand (Rp) aus
der ersten Reihenschaltung, von dem ersten Punkt her (214) gerechnet, zwischen die Gate-Elektroden
eines i-ten und eines (i+ 1)-ten Feldeffekttransistors (Tp„ Tpi+1) vom ersten Leitungstyp und jeweils
der /-ten Widerstand (Rn) aus der zweiten Reihenschaltung, von dem zweiten Punkt (31) her
gerechnet, zwischen die Gate-Elektroden eines iten und eines (i+ I)-ten Feldeffekttransistors (Tn,,
T„i+1 ) vom zweiten Leitungstyp aufgenommen ist,
wobei / eine positive ganze Zahl zwischen 1 und &eegr; ist und daß Mittel (12) vorhanden sind, mit deren
Hilfe Gleichströme durch die erste und die zweite Reihenschaltung geschickt werden (Fig. 4).
2. Analog-Digital-Wandler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Punkt (214)
den Eingangsanschlußpunkt bildet (Flg. 4).
3. Analog-Digital-Wandler nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Punkt (214)
über einen Widerstand (R]) mit der ersten Reihenschaltung fÄpi bis Rp3) verbunden ist (Rg. A).
4. Analog-Digital-Wandler nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein Eingangswideratand
(Rs) zwischen den ersten Punkt (214) und einen Punkt (9) auf konstanter Spannung zur Aufnahme
eine Signaleingangsstroms aufgenommen ist (Rg. 4).
5. Analog-Digital-Wandler nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Wandler eine Einstellstromquelle
(8) enthält, mit deren Hilfe ein Einstellstrom durch den Eingangswiderstand (Ra) geschickt
wird (Rg. 4).
6. Analog-Digital-Wandler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Punkt (31)
den Eingangsanschlußpunkt bildet (Rg. 5).
7. Analog-Digital-Wandler nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Punkt (31)
über einen ersten Widerstand (R2) mit der ersten Reihenschaltung (Rp\ bis Rpi) und über einen zweiten
Widerstand (Ri) mit der zweiten Reihenschaltung (R„\ bis Än4) verbunden ist (Rg. 5).
8. Analog-Digital-Wandler nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die genannten
Mittel (12) zum Hindurchschicken von Gleichströmen durch eine Gleichspanr.ungsquelle
(12) zwischen dem ersten (214) und dem dritten Punkt (11) gebildet sind (Rg. 4).
9. Analog-Digital-Wandler nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Wandler
zumindest teilweise als integrierte Schaltung ausgebildet ist, wobei diese Schaltung eine erste
(100) und eine zweite (101) Widerstandsbahn enthält,
die sich in im wesentlichen parallelen Richtungen erstrecken; eine Reihe von &pgr; ersten Feldeffekttransistoren
(114) von einem ersten Leitungstyp, in einer Reihe im wesentlichen parallel zu der ersten
Widerstandsbahn (100) liegen; eine Reihe von &eegr; zweiten Feldeffekttransistoren (113) von einem
zweiten, komplementären Leitungstyp, die in einer Reihe im wesentlichen parallel zu der zweiten Widerstandsbahn
(101) liegen, wobei jeweils ein erster Feldeffekttransistor (114) einem zweiten Feldeffekttransistor
(113) gegenüberliegt; eine erste Leiterbahn (107) die im wesentlichen parallel zu der
Reihe erster Feldeffekttransistoren (114) liegt, und
eine zweite Leiterbahn (106), die im wesentlichen parallel zu der Reihe zweiter Feldeffekttransistoren
(113) liegt, wobei die Gate-Elektroden (104) der
ersten Feldeffekttransistoren (114) jeweils mit der ersten Widerstandsbahn (100), die Gate-Elektroden
(105) der zweiten Feldeffekttransistoren (113) jeweils mit der zweiten Widerstandsbahn (101), die
Source-Elektroden (109) der ersten Feldeffektransistoren (114) jeweils mit der ersten Leiterbahn
(107), die Source-Elektroden (108) der zweiten Feldeffekttransistoren (113) jeweils mit der zweiten
Leiterbahn (106) und die Drain-Elektroden der jeweiligen ersten Feldeffekttransistoren (114) mit
den Drain-Elektroden der gegenüberliegenden zweiten Feldeffekttransistoren ( 113) verbunden
sind (Rg. 6, Fig. 7).
10. Analog-Digital-Wandler nach Anspruch«), dadurch gekennzeichnet, daß die ersten Feldeffekttransistoren
mit ihrem Kanal parallel zu der ersten Widerstandsbahn (100) zwischen der ersten Widerstandsbahn
(100) und der ersten Leiterbahn (107) liegen, wobei von dieser ersten Widerstandsbahn
(100) bzw. von dieser ersten Leiterbahn (107) Ab-
zweigungen (104, 109) zu den Gate-Elektroden bzw. Source-Elektroden der ersten Feldeffekttransistoren
(114) führen, und daß die zweiten Feldeffekttransistoren
(113) mit ihrem Kanal parallel zu der zweiten Widerstandsbahn (101) zwischen der
zweiten Widerstandsbahn (101) und der zweiten Leiterbahn (106) liegen, wobei von dieser zweiten
Widerstandsbahn (101) bzw. von dieser zweiten Leiterbahn (106) Abzweigungen (105,108) zu den
Gate-Elektroden bzw. Source-Elektroden der zweiten Feldeffekttransistoren (113) führen (Rg. 6,
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL7805068A NL7805068A (nl) | 1978-05-11 | 1978-05-11 | Drempelschakeling. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2917942A1 DE2917942A1 (de) | 1979-11-22 |
DE2917942C2 true DE2917942C2 (de) | 1987-02-19 |
Family
ID=19830815
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2917942A Expired DE2917942C2 (de) | 1978-05-11 | 1979-05-04 | Analog-Digital-Wandler |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4326136A (de) |
JP (1) | JPS54163665A (de) |
CA (1) | CA1141441A (de) |
DE (1) | DE2917942C2 (de) |
FR (1) | FR2425771B1 (de) |
GB (1) | GB2021346B (de) |
HK (1) | HK19783A (de) |
NL (1) | NL7805068A (de) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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1978
- 1978-05-11 NL NL7805068A patent/NL7805068A/xx not_active Application Discontinuation
-
1979
- 1979-05-03 CA CA000327036A patent/CA1141441A/en not_active Expired
- 1979-05-04 DE DE2917942A patent/DE2917942C2/de not_active Expired
- 1979-05-04 US US06/035,977 patent/US4326136A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-05-08 GB GB7915803A patent/GB2021346B/en not_active Expired
- 1979-05-10 JP JP5757979A patent/JPS54163665A/ja active Granted
- 1979-05-11 FR FR7912052A patent/FR2425771B1/fr not_active Expired
-
1983
- 1983-06-08 HK HK197/83A patent/HK19783A/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL7805068A (nl) | 1979-11-13 |
HK19783A (en) | 1983-06-17 |
FR2425771A1 (fr) | 1979-12-07 |
JPS54163665A (en) | 1979-12-26 |
FR2425771B1 (fr) | 1985-11-29 |
JPH0237729B2 (de) | 1990-08-27 |
GB2021346A (en) | 1979-11-28 |
US4326136A (en) | 1982-04-20 |
DE2917942A1 (de) | 1979-11-22 |
GB2021346B (en) | 1982-07-07 |
CA1141441A (en) | 1983-02-15 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
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|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
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|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |