DE2913999C2 - Einrichtung zum Prüfen von Systemprogrammen numerischer Steuerungen für Werkzeugmaschinen - Google Patents

Description

gekennzeichnetdurch folgende Merkmale:

c) es ist ein zusätzlicher Halbleiterspeicher (5) vorgesehen, in dem für jeden Halbleiterspeicher (SP) des Systemprogrammes die Längssumme (Y₁SP) seiner programmierten Information gespeichert ist;

d) beim Neueinschalten oder zyklisch in vorgegebenen Zeitabständen werden durch die Steuerung fire Längssummen (Y₁SP) der in den einzelnen Haibleiterspeichern (SP)einprogrammierten Informationen ermittelt:

e) die ermittelten Längssummen (Y₁SP) werden durch die Steuerung mit den entsprechenden, im zusätzlichen Halbleiterspeicher (S) enthaltenen Längssummen (Y₁SP) erglichen;

f) bei Abweichungen zwischen einer gespeicherten Längssumme (YSP) und einer ermittelten Längssumme (YSP) wird ein Signal zur Anzeige des defekten Halbleiterspeichers (SP) ausgegec„>n.

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Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung nach dem Oberbegriff des Hauptanspruches. Mit diesem Oberbegriff wird auf Steuerungen Bezug genommen. wie sie beispielsweise in der Siemens-Zeitschrift 1977. Heft8, Seiten 586-592, insbesondere Bild 7, näher beschrieben sind. Von wesentlicher Bedeutung sind hier Überwachungsroutinen, mit denen Programmier- odei Bedienungsfehler oder Fehler im Gesamtsystem, in Steuerung, Antrieb und Maschine erkannt und signalisiert werden.

Die logischen Befehlsabläufe in der Steuerung werden durch Systemprogramme vorgegeben, die meist in Halbleiterspeichern fest einprogrammiert sind. Ein fehlendes Bit — die kleinste Informationseinheit — eines solchen Halbleiterspeichers kann dazu führen, daß das gesamte Steuerungssystem fehlerhaft arbeitet. In einem solchen Fall ist es auch für den Service relativ schwierig, den defekten Halbleiterspeicher zu lokalisieren.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine einfache und betriebssichere Prüfeinrichtung anzugeben, mit der fehlerhafte Systemprogrammspeicher sofort erkannt werden können.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Kennzeichnenden Merkmale des Hauptanspruches gelöst.

Auf diese Weise werden Fehler im Betriebssystem sofort erkannt und können schnell beseitigt werden.

Im vorliegenden Zusammenhang sei erwähnt, daß in der älteren Anmeldung DE-OS 27 23 689 eine Prüfeinrichtung für ein Werkstückprogramm beschrieben ist, die bereits mit einer Längssummenprüfung arbeitet. Hierbei wird bei der Eingabe des Programmes in einen transportablen Speicher die Längssumme gebildet und mitgespeichert Beim Auslesen des Speichers wird erneut die Längssumme gebildet und mit der gespeicherten Längssumme verglichen. Dieses Verfahren dient im wesentlichen zur Erhöhung der Übertragungssicherheit der Werkstückdaten auf dem Weg zur Steuerung. Demgegenüber aber handelt es sich bei der vorliegenden Erfindung um steuerungsinterne Petriebsabläufe.

Erwähnt sei auch noch, daß die Längssummenprüfung in der Datentechnik an sich bereits zur Fehlererfassung bekannt ist, z. B. für Magnetbandaufzeichnungen, bei denen jeweils nach einer Reihe von Worten auch deren Längssumme mitgespeichert ist, so daß eine fehlerhafte Lesung innerhalb der Wortgruppe festgestellt werden kann (vgl. z. B. US-PS 35 19 988).'

Anhand einer Zeichnung soll die Erfindung näher erläutert werden. Es zeigt

Fig. I die Darstellung der Informationen in einem Systemprogrammspeicher.

F i g. 2 das Abbild der Längssummen der Halbleiterspeicher des Systemprogrammes in einem zusätzlichen Speicher und

F i g. 3 eine Schaltungsanordnung zur Durchführung der Prüfung.

In F i g. I ist von Haibleiterspeichern SP der numerischen Steuerrung, die das Systemprogramm enthalten, ein Halbleiterspeicher SP27 näher dargestellt Er hat jeweils eine Wortlänge von 8 Bit und 1024 Adressen. Die Addition aller Worte ergibt ein neues Bitmuster, eine Längssumme YSP27 — wie am Ende des Halbleiterspeichers SP 27 dargestellt. Auf die Speicherung eines Übertrages 11. der über die Wortbreite von 8 Bit hinausgeht, kann dabei verzichtet werden.

In Fig.2 ist angegeben, wie in einem zusätzlichen Halbleiterspeicher 5 Längssummen YSP 1. YSPZ usw. der einzelnen Halbleiterspeicher 5Pfür das Systemprogramm abgelegt sind. Ersichtlich ist, daß unter der Adresse des Halbleiterspeichers SP27 die in Fig. 1 unten angegebene Längssumme Y SP 27 abgelegt ist.

Betriebsmäßig läuft der Vorgang derart, daß mit Einschalten des Systems ein Summationsvorgang gestartet wird, in dem die Längssumme J₁SP jedes Halbleiterspeichers SPermittelt wird. Diese Längssumme Y₁SP wird mit der zugeordneten Sollsumme des zusätzlichen Halbleiterspeichers 5 (Fig. 2) verglichen. Bei Abweichungen ivird die Nummer des fehlerhaften Halbleiterspeichers SP angezeigt und das System stillgesetzt. Dieser Vorgang kann zyklisch ablaufen oder auch nur beim Einschalten durchgeführt werden.

Line schaltungsmäßige Realisierung der Prüfung ist in F i g. 3 näher dargestellt. In dem gestrichelt umrandeten Feld 1 sind mit 5Pl. 5P2, usw. die einzelnen Halbleiterspeicher für das Systemprogramm angegeben. Bei einem Startbefehl 5/ wird zunächst Wort für Wort des Halbleiterspeichers .SPl aufgerufen und in einem Summierer 2 zum jeweils vorhergehenden Wort addiert. Das Summationserjfebnis wird über eine Leitung 21 an einen Vergleicher 4 gegeben. Gleichzeitig wird über eine Leitung 51 die im zusätzlichen Halbleiterspeicher 5 abgespeicherte Längssumme J₁SP für den Halbleiterspeicher 5Pl an den Vergleicher 4 gegeben. Stellt der Vergleicher 4 fest, daß die beiden Längssummen übereinstimmen, wird über eine Leitung der Summierer 2 gelöscht und mit dem Halbleiter-

speicher SP2 verbünde",. Die Worte dieses Halbleiterspetchers S/* 2 werden nun in gleicher Weise addiert und mit der im zusätzlichen Halbleiterspeicher 5 niedergelegten Längssumme Σ.ΞΡ dieses Halbleiterspeichers SP2 verglichen. Ergibt sich bei diesem fortlaufenden Vergleich des Istwertes der Längssummen £SP mit dem zugeordneten Sollwert der Längssumme £SP eine Ungleichheit, so wird die Nummer des defekten Halbieiterspeichers SP an einer Anzeige 6 sichtbar gemacht.
In einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung kann

es vorteilhaft sein, wenn die Schaltung dahingehend erweitert wird, daß in einer besonderen Betriebsart das System die Bitsummen aller Halbleiterspeicher SP in einer Anzeige 3 anzeigt Dies ist für den Entwickler von Vorteil, da er ja die Längssumme %SP je Halbleiterspeicher in dem zusätzlichen Halbleiterspeicher hinterlegen muß und sie ihm deshalb bekannt sein muß. In solchen Fällen wird per Handbetrieb Halbleiterspeicher für Halbleiterspeicher abgefragt, wogegen natürlich bei der automatischen Prüfung sämtliche Steuerungsvorgänge selbsttätig ablaufen.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

1. Patentanspruch:

   Einrichtung zum Prüfen von Systemprogrammen numerischer Steuerungen für Werkzeugmaschinen, bei denen

   a) die Systemprogramme zur internen Steuerung der Befehlsabläufe fest in einen Teil der Steuerung bildenden Halbleiterspeichern einprogrammiert sind, und ₍0

   b) steuerseitig Prüfeinrichtungen vorgesehen sind,