[go: up one dir, main page]

DE2902875A1 - Maskiervorrichtung fuer die feinlinien-lithographie - Google Patents

Maskiervorrichtung fuer die feinlinien-lithographie

Info

Publication number
DE2902875A1
DE2902875A1 DE19792902875 DE2902875A DE2902875A1 DE 2902875 A1 DE2902875 A1 DE 2902875A1 DE 19792902875 DE19792902875 DE 19792902875 DE 2902875 A DE2902875 A DE 2902875A DE 2902875 A1 DE2902875 A1 DE 2902875A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
mask
substrate
grid
thread
fluid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19792902875
Other languages
English (en)
Other versions
DE2902875C2 (de
Inventor
Addison Brooke Jones
David B Wittry
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Boeing North American Inc
Original Assignee
Rockwell International Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rockwell International Corp filed Critical Rockwell International Corp
Publication of DE2902875A1 publication Critical patent/DE2902875A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2902875C2 publication Critical patent/DE2902875C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/70866Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of mask or workpiece
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/70866Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of mask or workpiece
    • G03F7/70875Temperature, e.g. temperature control of masks or workpieces via control of stage temperature

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

if.
KARL H. WAGNER 8000 MÖNCHEN 22
GEWÜRZMÜHLSRASSE POSTFACH 246
25. Januar 1979
78-T-3415 (77E46)
ROCKWELL INTERNATIONAL CORPORATION, El Segundo, Kalifornien, V.St.A.
Maskiervorrichtung für die Feinlinien-Lithographie
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung allgemein zur Verwendung bei der Feinlinien-Lithographie. Insbesondere richtet sich die Erfindung auf eine Vorrichtung, welche die thermische und abstandsmäßige Steuerung für eine dünne Maske vorsieht.
Im Zeitalter der Schaltungsmikrominiaturisation ist die Feinlinien-Lithographie eine Grundvoraussetzung bei der Herstellung. Die Lithographie mit hoher Auflösung ist auf vielen technischen Gebieten brauchbar, wie beispielsweise bei der Herstellung von Magnetblasendomänenvorrichtungen, Halbleitervorrichtungen, MOS/LSI-Vorrichtungen und dgl. Zahlreiche andere technologische Gebiete übernehmen schnell die Verfahren der Feinlinien-Lithographie.
Die Lithographie unter Verwendung von anderen Belichtungsquellen als nahe dem UV-Gebiet arbeitenden Lampen ist eine bekannte sich weiter entwickelnde Arbeitsweise. Bei der Anwendung dieser Art einer Lithographie werden verschiedene
909831/0749 original inspected
Energiequellen, wie beispielsweise Rontgenstrahlenquellen, Elektronenquellen und dgl. verwendet. In der Vergangenheit wurden diese Quellen zusammen mit Kontakt- oder Projektionsverfahren verwendet. Es wurde festgestellt, daß die Maskierung der Proximitäts- oder Nähe-Type zweckmäßiger ist als die Kontaktmaskierung, da die Maskenlebensdauer bei Verwendung des Nähe-Verfahrens wesentlich verlängert.wird. Es wird jedoch auch festgestellt, daß die Verwendung von Nähe- oder Proximitäts-Masken eine relativ dicke Maske erforderlich macht, um den dabei auftretenden Problemen zu widerstehen. Natürlich kann um so weniger Auflösung bei der Feinlinien-Lithographie erreicht werden,desto dicker die Maske ist. Die Verwendung der dünnen Masken war typischerweise nicht erfolgreich, weil die dünnen Masken Energie und somit Wärme absorbieren. Dünne Masken werden ebenfalls durch die Energiequelle geladen. Diese Probleme (d.h. die thermische und Ladungs-Absorption) bewirken das Verformen bzw. Zerstören der Maske und machen diese unbrauchbar. Infolgedessen werden die Nähe-Masken-Verfahren nicht in signifikantem Ausmaß verwendet, obwohl die Vorteile dieses Verfahrens zahlreich sind.
Es sei auf die folgenden US-Patent-Anmeldungen hingewiesen: Serial Nr. 810,469 mit dem Titel "High Resolution Mask and Method of Fabricating Thereof", Jones, eingereicht am 27. Juni 1977; Serial Nr. 721,121 "Method and Apparatus for Thermally Stabilizing Workpieces", Jones et al, eingereicht am 7. Sept. 1976.
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung, die bei dünnen Masken bei lithographischen Verfahren mit Nähe-Belichtung verwendet wird. Die Vorrichtung sieht eine thermische Vorrichtung vor, um Wärme von der Maske wegzuleiten und um auch eine stabile thermische Basis für das Substrat,auf das eingewirkt wird, vorzusehen. Eine Drucklage ist zwischen der Maske und dem Substrat vorgesehen, um zu verhindern, daß die Maske das Substrat berührt und um die Wärme von der Maske abzuleiten. Zudem sind Mittel vorgesehen, um ein elektrostatisches Feld zwischen dem Substrat und der Maske vorzusehen,
809831/074·
um den genauen Abstand der Maske bezüglich des Substrats zu steuern.
Weitere Vorteile, Ziele und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich insbesondere aus den Ansprüchen sowie aus der Beschreibung eines Ausführungsbeispiels anhand der Zeichnung, welche ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung darstellt.
Die Zeichnung zeigt eine Querschnittsansicht der erfindungsgemäßen Vorrichtung, die vorzugsweise in einem Vakuum betrieben wird. Eine geeignete Energiequelle dient zur Erzeugung eines in einer Operation verwendeten Energiestrahls. In diesem Ausführungsbeispiel ist ein Teil 10 vorgesehen, welcher zu irgendeiner temperaturstabilisierten oder thermisch leitenden Bauart gehört und beispielsweise in der US-Patentanmeldung Serial Nr. 721,121 beschrieben ist. Teil 10 weist in der Oberseite eine Ringnut 11 auf, die im wesentlichen den Umfang des Teils umfaßt. In der Nut 11 ist ein O-Ring oder eine andere geeignete Dichtung 12 vorgesehen. Die Oberseite des Teils 10 weist ebenfalls eine Ausnehmung 13 auf, die in diesem Ausführungsbeispiel im wesentlichen die ganze Oberseite des Teils innerhalb der Nut 11 umfaßt. Die Ausnehmung 13 ist derart angeordnet, daß darinnen eine dünne Lage aus einem geeigneten, sich nicht verunreinigendem,thermisch leitendem, sich anpassendem Material gehalten wird, wie beispielsweise ein Polymer, destilliertes Wasser, Silikongummi oder dgl. Die Tiefe der Ausnehmung 13 ist hinreichend klein, um das thermische Kontaktmaterial als eine dünne Schicht (Film) vorzusehen. Das Substrat 14 ist derart positioniert, daß es über dem Teil 10 liegt und in Berührung mit den O-Ringen 12 steht, um eine vakuumdichte Abdichtung zwischen dem Substrat 14 und der Oberseite des Teils 10 vorzusehen. Das Substrat kann auf irgendeine Weise gehalten werden, beispielsweise in der Art, wie dies in US-Patentanmeldung Serial Nr. 721,121 beschrieben ist oder aber einfach durch direkten Druck von Klemm-Mitteln, die nach der Maskenausrichtung aufgebracht werden. Geeignete (nicht gezeigte) Klemm-Mittel sind vorgesehen, um die Maske 15 in Berührung mit dem Substrat 14 und dem Teil (Futter, Einspannmittel) 10 zu halten, um die Abdichtung an den O-Ringen 12 und 18 vorzusehen.
909831/074S
Eine Maske 15 ist über dem Substrat 14 angeordnet. Die Maske 15, die beispielsweise von der in US-Serial Nr. 810,469 beschriebenen Art sein kann, weist ein Tragglied 16 auf, welches aus Quarz oder dgl. hergestellt sein kann. Das Tragglied 16 kann um den Umfang der Maske 15 herum angeordnet sein. Eine Nut 17 (die ringförmig ausgebildet sein kann) ist in der Unterseite des Tragglieds 16 vorgesehen. Ein O-Ring 18 ist in die Nut 17 eingesetzt und sieht eine Abdichtung mit der Oberseite des Substrats 14 vor. Die Innenoberfläche des Trägers 16 kann eine geringe Ausnehmung aufweisen, wie beispielsweise bei der Lippe 16A gezeigt, um das dünne Membranmaskiermaterial 19 aufzunehmen. Die dünne Membran 19 ist an den Innenkanten des Trägers 16 in einer geeigneten Weise befestigt, wie beispielsweise mittels eines Epoxyklebers oder dergleichen. Die Membran 19 kann aus irgendeinem geeigneten Material bestehen, wie beispielsweise einer Kunststoff-Folie, Parylen, Formvar oder einem Oxidfilm gebildet durch Anodisierung von beispielsweise Alo0_. Typische Flächendichten der Membran 19
2
sind 20 g/cm oder weniger im Dünnmasken-Ausführungsbeispiel.
Die Maske 15 an sich bildet keinen Teil der Erfindung.
Eine geeignete Öffnung 20 ist im Tragglied 16 vorgesehen. Die Öffnung 20 steht mit der Außenkante von Träger 16 in Verbindung und mit dem Raum zwischen dem Maskiermaterial 19 und der Oberseite des Substrats 14. Auf diese Weise kann ein geeignetes thermisch leitendes, inertes (typischerweise gasförmiges) Strömungsmittel- in den Hohlraum 40 zwischen der Membran 19 und dem Substrat 14 über Öffnung 20 eingefügt werden. Typischerweise bildet das inerte Gas (wie beispielsweise Ar, He, Ne, N, usw.) eine dünne Lage mit einem Druck zwischen 10 und 100 Mikron. ?
Benachbart zur Vorrichtung ist mindestens ein geeigneter Ladefaden 21 angeordnet, der über Widerstand 27 mit einer Fadenversorgung 22 in Verbindung steht. Eine Vorspannungsversorgung 23 liegt zwischen dem Substrat 14 und der Maskiermembran 19 durch eine geeignete elektrische Verbindungsvorrichtung. Es
909831/074
sei bemerkt, daß die Vorspannungsversorgung 2 3 oder die Ladefäden 21 und die zugehörige Versorgung 22 gesondert oder gemeinsam verwendet werden können.
Eine erste Gitterstruktur 25 ist zwischen den Fäden 21 und dem Rest der Vorrichtung angeordnet. Das Gitter 25 ist mit dem Widerstand 27 über einen veränderbaren Widerstand 28 verbunden. Zudem ist das Gitter 25 mit einer Elektronenbeschleunigungsversorgung 29 verbunden. Diese Verbindungen zum Gitter stellen das Potential am Gitter 25 bezüglich der an die Fäden 21 angelegten Spannung dar. Eine Gitterstruktur 26 kann zwischen dem Gitter 25 und dem Rest der Vorrichtung angeordnet sein. Das Gitter 26 ist ebenfalls mit der Versorgung 29 verbunden und erzeugt einen feldfreien Raum zwischen den Gittern und der Maskiermembran 19.
Im Betrieb wird eine Schicht aus destilliertem Wasser oder einem anderen thermisch leitenden und sich anpassenden Material vorgesehen zwischen dem Substrat 14 und dem Teil 10, um einen guten thermischen Kontakt zu erzeugen. Dies hat zur Folge, daß das Substrat auf einer relativ konstanten gleichförmigen Temperatur gehalten wird, und zwar unabhängig von der daran angelegten thermischen Energie durch den Elektronenstrahl, den Röntgenstrahl oder die jeweils verwendete Energiequelle. Zudem ist eine dünne Gaslage zwischen der Membran 19 und dem Substrat 14 vorgesehen. Das Gas ist ein thermisch leitendes Material und dient zur Ableitung der durch den einfallenden Energiestrahl normalerweise erzeugten Wärme. Es wurde festgestellt, daß die thermische Leitfähigkeit der dünnen Gaslage unabhängig vom Druck ist bis hinab zu ungefähr 100 Millitorr. Dieser Druckpegel sollte von der Membran 19 ohne Bruch oder übermäßige Verformung ausgehalten werden. Nichtsdestoweniger wird bei der gezeigten Anordnung das Substrat auf einer im wesentlichen konstanten Temperatur durch Teil 10 gehalten,und die Membran 19 wird durch das Gas gekühlt, um ebenfalls eine im wesentlichen konstante Temperatur aufrechtzuerhalten. Darüber hinaus kann der Druck der · or"
90 98 3 1 /0749
Gasschicht derart gesteuert werden, daß sich das Maskenmaterial 19 leicht vom Substrat 14 wegbiegt, wodurch die Gefahr des Verkratzens der Maske oder des Substrats vermindert wird.
Zur genauen Steuerung der Position der Membran 19 wird zur Verhinderung einer übermäßigen Auswärtsbiegung (und umgekehrt auch zur Verhinderung einer Einwärtsbiegung) die elektrostatische Vorrichtung verwendet. Das heißt, durch Anlegen eines elektrischen Signals von Versorgung 22 äiv Ladedrähte oder- -fädea—34 kann die Membran 19 auch geladen worden, um eine geeignete Anziehungskraft bezüglich des Substrats 14 zu erzeugen. Das heißt, die Fäden 21 werden hinreichend erhitzt, um Elektronen zu emittieren, welche eine Ladung auf der Oberfläche von Membran 19 erzeugen. Auf diese Weise ist die in der Membran 19 durch die L-adefäden 21 erzeugte Anziehungskraft viel größer als die Anziehungskraft, die durch die Energiequelle erzeugt werden könnte. Diese Anziehungskraft kann auf einem stetigen konstanten Niveau gehalten werden und kann ausgeglichen werden durch den Druck der Kühlgaslage, wodurch ein genau reproduzierbarer Abstand zwischen der Maske und dem Substrat für eine Proximitäts- oder Nähe-Belichtung vorgesehen wird, und zwar selbst bei einer relativ großen Maskenfläche. Zudem kann durch Erzeugung dieser Anziehungskraft ein etwas größerer Gasdruck ausgeübt v/erden, um die thermische Leitfähigkeit zu erhöhen, ohne daß der Bruch der Membran 19 riskiert wird.
Die Fadenversorgung 22 liefert eine Spannung an die Fäden über Widerstand 27. Ebenfalls erzeugt eine durch den IR-Abfall am Widerstand 28 hervorgerufene Spannung eine Spannungsdifferenz zwischen Gitter 25 und Fäden 21. Diese Spannung steuert den Niederenergie-Elektronenstrom vom Gitter 25 zum Substrat 14. In gleicher Weise wird eine Spannung V (typischerweise in der Größenordnung von 100 bis 2000 Volt) zwischen Gitter 25 und Substrat 14 angelegt, um die Elektronenenergie zu steuern. Durch geeignete Wahl von V kann eine Isolations-
a mak^se 19 mit einem positiven, negativen oder Null-Potential
909831/0749
bezüglich des Substrats betrieben werden. Dieses relative Potential kann als eine Funktion der Sekundäremission der Elektronen vom Substrat 14 analysiert werden. Der veränderbare Widerstand 28 gestattet auch eine relativ empfindliche und schnelle Steuerung des Potentials am Gitter 25, wodurch die genaue Steuerung der Ladungsbeziehung zwischen Maske 19 und Substrat 14 aufrechterhalten werden kann.
Alternativ kann die Vorspannungsversorgung 2 3 zwischen Substrat 14 und Tragglied 16 (und somit Membran 19) geschaltet werden. Die VorspannungsVersorgung 23 kann entweder nacn Wunsch eine Wechselspannungs- oder Gleichspannungs-Versorgung sein, um die Ausgleichs-Anziehkraft zwischen Maske und Substrat zu erreichen. Typischerweise wird die Vorspannungsquelle 23 verwendet für Masken und Substrate, hergestellt aus elektrisch leitendem Material, während die Ladefäden 21 für isolierende Masken und Substrate verwendet werden. Es können natürlich Fälle auftreten, wo beide Ladekonzepte in gleicher Weise brauchbar sind.
Vorstehend wurde somit ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Feinlinien-Lithographievorrichtung beschrieben. Diese Vorrichtung gestattet die vorteilhafte Verwendung dünner Membranenmaskenvorrichtungen. Die gezeigte und beschriebene Vorrichtung weist spezielle körperliche Merkmale auf. Diese körperlichen Merkmale können natürlich in einer dem Fachmann gegebenen Weise abgewandelt werden, ohne daß die allgemeine Funktionsweise der Vorrichtung verändert wird.
Zusammenfassend kann man sagen, daß die erfindungsgemäße Vorrichtung besonders zweckmäßig bei sehr dünnen Masken ist, die in der Röntgenstrahlen-Lithographie, Transmissionselektronen-Lithographie oder Elektronenprojektions-Lithographie verwendet werden. Die erfindungsgemäße Vorrichtung weist dabei
909831/0749
Temperaturstabilisationsmittel auf, um den schädlichen Auswirkungen in der Maske entgegenzuwirken, die durch die Energieabsorption von der Energiequelle ausgehen, wobei auch Positioniermittel vorgesehen sind, um die dünnen Masken genau mit Abstand für die Nähe-Lithographie -Verfahren anzuordnen. Thermischen Effekten wird durch ein Spannfutter oder Teil 10 entgegengewirkt, welches das zu behandelnde Substrat trägt. Eine thermisch leitende Lage, beispielsweise ein Strömungsmittel oder ein anderes sich anpassendes Medium, kann zwischen dem Substrat und dem Futter vorgesehen sein. Die Maske ist in gleicher Weise gegenüber dem Substrat durch eine dünne Lage aus thermisch leitendem Material mit Abstand angeordnet, beispielsweise unter Verwendung eines Niederdruckgases, welches die in Rede stehende Energie leiten kann. Der genaue Abstand der Maske wird durch die Verwendung einer Quelle gesteuert, die eine elektrostatische Ladung zwischen dem Substrat und der Maske aufbaut. Die Ladung kann durch eine Quelle vorgesehen werden, die mit dem Substrat und der Maske verbunden ist oder mittels Fäden, die oberhalb der Maske angeordnet sind. Der genaue Abstand wird erreicht durch Ausgleichen der Anziehungskraft der elektrostatischen Ladung mit der Repulsionskraft des Niederdruckgases .
909831/074®
-43-
Leerseite

Claims (3)

  1. 23Ü287S
    Ansprüche
    Π J Vorrichtung zum Haltern von zu bearbeitenden Substratmitteln, gekennzeichnet durch Einspannmittel (10) zur Halterung der Substratmittel, Maskenmittel (15) angeordnet benachbart zu den Substratmitteln und erste Mittel zum Einschließen eines Strömungsmittels zwischen den Maskenmitteln und den Substratmitteln.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch zweite Mittel zum Einschließen einer Lage aus thermisch leitendem, sich anpassendem Material zwischen dem Substrat und den Einspannmitteln (10).
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch Lademittel zum Aufbau einer elektrischen Ladung auf der Maske, um so ein Kraftfeld zwischen den Maskenmitteln und den Substratmitteln zu erzeugen.
    4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch jekennzeichnet, daß die ersten Mittel einen Hohlraum in den Maskenmitteln aufweisen,und daß die zweiten Mittel einen Hohlraum in den Einspannmitteln (10) aufweisen.
    5. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, insbesondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Strömungsmittel in den ersten Mitteln von gasförmiger Natur ist.
    6. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, insbesondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Strömungsmittel in den zweiten Mitteln eine thermisch leitende Flüssigkeit ist.
    ORIGINAL INSPECTED 909831/0749
    -αϊ'
    ν. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das gasförmige Strömungsmittel einen hinreichenden Druck ausübt, um die Maskenmittel mit einem vorgeschriebenen Abstand gegenüber den Substratmitteln zu halten.
    8. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Lademittel Fadenmittel (21) aufweisen, um geladene Teilchen zu emittieren, die von den Maskenmitteln zur Aufprägung einer Ladung absorbiert werden.
    9. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Lademittel eine elektrische Quelle aufweisen, die zwischen den Maskenmitteln und den Substratmitteln liegt.
    10. Vorrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch Gittermittel angeordnet zwischen den Lademitteln und den Maskenmitteln zur Steuerung der durch die Fadenmittel emittierten geladenen Teilchen.
    11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Gittermittel erste und zweite Gitter aufweisen, wobei das erste Gitter zwischen den Fädenmitteln und dem zweiten Gitter angeordnet ist, wodurch das erste Gitter den Niederenergie-Elektronenstrom von den Fadenmitteln steuert und das zweite Gitter eine feldfreie Zone zwischen den Gittern und den Maskenmitteln aufbaut.
    12. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß Quellenmittel mit den Gittermitteln verbunden sind, um die Energie der von den Fadenmitteln emittierten Elektronen zu steuern.
    1 3. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, insbesondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Maskenmittel eine relativ dünne Membran aufweisen.
    3 1/0749 origshäl iHSPEC
    14. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, insbesondere nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Lage ein Polymermaterial aufweist.
    15. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
    daß die Lademittel eine elektrische Versorgung aufweisen,
    die zwischen Maskenmittel und Substratmittel geschaltet ist.
    ORIGINAL INSPECTED
DE2902875A 1978-01-30 1979-01-25 Vorrichtung zur kontaktlosen Kontaktkopie Expired DE2902875C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/873,307 US4194233A (en) 1978-01-30 1978-01-30 Mask apparatus for fine-line lithography

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2902875A1 true DE2902875A1 (de) 1979-08-02
DE2902875C2 DE2902875C2 (de) 1983-02-03

Family

ID=25361372

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2902875A Expired DE2902875C2 (de) 1978-01-30 1979-01-25 Vorrichtung zur kontaktlosen Kontaktkopie

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4194233A (de)
JP (1) JPS54104777A (de)
DE (1) DE2902875C2 (de)
GB (1) GB2013909B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3605916A1 (de) * 1986-02-25 1987-09-10 Licentia Gmbh Verfahren zur kontrasterhoehung bei der roentgenstrahl-lithographie und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4261762A (en) * 1979-09-14 1981-04-14 Eaton Corporation Method for conducting heat to or from an article being treated under vacuum
US4680061A (en) * 1979-12-21 1987-07-14 Varian Associates, Inc. Method of thermal treatment of a wafer in an evacuated environment
US4909314A (en) * 1979-12-21 1990-03-20 Varian Associates, Inc. Apparatus for thermal treatment of a wafer in an evacuated environment
US4743570A (en) * 1979-12-21 1988-05-10 Varian Associates, Inc. Method of thermal treatment of a wafer in an evacuated environment
EP0134269B1 (de) * 1983-08-11 1988-01-07 Ibm Deutschland Gmbh Elektronenstrahl-Projektionslithographie
US4864356A (en) * 1987-04-21 1989-09-05 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Exposure device for image recording apparatus
US4949783A (en) * 1988-05-18 1990-08-21 Veeco Instruments, Inc. Substrate transport and cooling apparatus and method for same
EP0357423B1 (de) * 1988-09-02 1995-03-15 Canon Kabushiki Kaisha Belichtungseinrichtung
JP2731950B2 (ja) * 1989-07-13 1998-03-25 キヤノン株式会社 露光方法
EP0422814B1 (de) * 1989-10-02 1999-03-17 Canon Kabushiki Kaisha Belichtungsvorrichtung
US5511799A (en) 1993-06-07 1996-04-30 Applied Materials, Inc. Sealing device useful in semiconductor processing apparatus for bridging materials having a thermal expansion differential
JP2626618B2 (ja) * 1995-03-10 1997-07-02 株式会社日立製作所 真空処理装置の試料保持方法
US5751538A (en) * 1996-09-26 1998-05-12 Nikon Corporation Mask holding device and method for holding mask
DE19781631T1 (de) * 1997-01-02 1999-04-01 Cvc Products Inc Wärmeleitendes Spannfutter für Vakuumbearbeitungsvorrichtung
US6138745A (en) * 1997-09-26 2000-10-31 Cvc Products, Inc. Two-stage sealing system for thermally conductive chuck
US6073576A (en) 1997-11-25 2000-06-13 Cvc Products, Inc. Substrate edge seal and clamp for low-pressure processing equipment
US5901030A (en) * 1997-12-02 1999-05-04 Dorsey Gage, Inc. Electrostatic chuck employing thermoelectric cooling
US6241005B1 (en) 1999-03-30 2001-06-05 Veeco Instruments, Inc. Thermal interface member
GB2351567A (en) * 1999-04-19 2001-01-03 Ims Ionen Mikrofab Syst Transmission mask and mask-exposure arrangement for projection lithography
US6188124B1 (en) 1999-07-14 2001-02-13 International Business Machines Corporation Semiconductor arrangement preventing damage during contact processing
JP2001294852A (ja) * 2000-04-14 2001-10-23 Tdk Corp 蛍光体とその製造方法、薄膜の製造装置、およびel素子
US6404481B1 (en) * 2000-05-25 2002-06-11 Board Of Supervisors Of Louisiana State University And Agricultural And Mechanical College Adaptive lithography membrane masks
US6440619B1 (en) 2000-05-25 2002-08-27 Board Of Supervisors Of Louisiana State University And Agricultural And Mechanical College Method of distortion compensation by irradiation of adaptive lithography membrane masks
EP1202329A3 (de) * 2000-10-31 2006-04-12 The Boc Group, Inc. Verfahren und Vorrichtung zum Rückhalten einer Maske
US7803419B2 (en) * 2006-09-22 2010-09-28 Abound Solar, Inc. Apparatus and method for rapid cooling of large area substrates in vacuum
WO2016169758A1 (en) 2015-04-21 2016-10-27 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3873824A (en) * 1973-10-01 1975-03-25 Texas Instruments Inc X-ray lithography mask
US4026653A (en) * 1975-05-09 1977-05-31 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Proximity printing method

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE538344A (de) * 1954-06-03
US4007987A (en) * 1976-01-12 1977-02-15 Tamarack Scientific Co. Inc. Vacuum contact printing system and process for electronic circuit photomask replication
US4054383A (en) * 1976-02-02 1977-10-18 International Business Machines Corporation Jig and process for contact printing
US4139051A (en) * 1976-09-07 1979-02-13 Rockwell International Corporation Method and apparatus for thermally stabilizing workpieces

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3873824A (en) * 1973-10-01 1975-03-25 Texas Instruments Inc X-ray lithography mask
US4026653A (en) * 1975-05-09 1977-05-31 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Proximity printing method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3605916A1 (de) * 1986-02-25 1987-09-10 Licentia Gmbh Verfahren zur kontrasterhoehung bei der roentgenstrahl-lithographie und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5754933B2 (de) 1982-11-20
GB2013909A (en) 1979-08-15
DE2902875C2 (de) 1983-02-03
JPS54104777A (en) 1979-08-17
GB2013909B (en) 1982-04-28
US4194233A (en) 1980-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2902875A1 (de) Maskiervorrichtung fuer die feinlinien-lithographie
DE69920453T2 (de) Elektrode für plasmabehandlungsverfahren und verfahren zur herstellung und anwendung derselben
DE69216710T2 (de) Diamantüberzogene Feldemissions-Elektronenquelle und Herstellungsverfahren dazu
DE2647242A1 (de) Elektrolithographische vorrichtung
DE2819698A1 (de) Verfahren zur herstellung von feststoffanordnungen und vorrichtung zur anwendung bei diesem verfahren
EP0010596A1 (de) Verfahren zur Ausbildung von Maskenöffnungen bei der Herstellung von Halbleiteranordnungen
EP0010623A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer Schichtstruktur für hochintegrierte Halbleiteranordnungen mit einer zwischen zwei leitenden Schichten angeordneten Isolierschicht
DE3417192A1 (de) Vorrichtung zur bildung eines amorphen siliziumfilms
EP0021140A1 (de) Ionenquelle in einer Vakuumkammer und Verfahren zum Betrieb derselben
DE102015101888A9 (de) Optoelektronisches Halbleiterbauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterbauelements
DE4000783A1 (de) Koronaentladungszelle und verfahren zur herstellung einer ozonerzeugerzelle
DE69315758T2 (de) Implantationsgerät mittels fokusierten Ionenstrahls
DE2354523B2 (de) Verfahren zur Erzeugung von elektrischisolierenden Sperrbereichen in Halbleitermaterial
DE112010003657B4 (de) Ätzanlage
DE2726265A1 (de) Verfahren zum zuechten genetischer halbleiteroxidschichten
EP0134269A1 (de) Elektronenstrahl-Projektionslithographie
DE2422120B2 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung
DE2146941A1 (de) Strahlenformungs- und Abbildungssystem
DE4205349C2 (de) Vakuum-Bearbeitungsvorrichtung
DE69938491T2 (de) Plasmaerzeuger mit substratelektrode und verfahren zur behandlung von stoffen/ materialen
DE69518397T2 (de) Elektronenstrahlquelle und Herstellungsverfahren derselben, Elektronenstrahlquellenvorrichtung und Elektronenstrahlgerät unter Verwendung derselben
DE102004031453A1 (de) Verfahren zur Erzeugung eines Dielektrikums und Halbleiterstruktur
DE3904969A1 (de) Verfahren zur beseitigung von staubpartikeln von oberflaechen in gasfoermiger umgebung
DE102008054072A1 (de) Selbstkorrigierendes Substrathaltesystem für die Fokussteuerung in Belichtungssystemen
DE102022124388A1 (de) Verfahren zum herstellen einer halbleitervorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
8125 Change of the main classification

Ipc: G03F 7/02

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition