DE2852886A1 - Kontaktbaustein - Google Patents
KontaktbausteinInfo
- Publication number
- DE2852886A1 DE2852886A1 DE19782852886 DE2852886A DE2852886A1 DE 2852886 A1 DE2852886 A1 DE 2852886A1 DE 19782852886 DE19782852886 DE 19782852886 DE 2852886 A DE2852886 A DE 2852886A DE 2852886 A1 DE2852886 A1 DE 2852886A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- contact
- contact head
- module according
- head
- circuit boards
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title abstract 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
- G01R1/06738—Geometry aspects related to tip portion
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R11/00—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
- H01R11/11—End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
- H01R11/18—End pieces terminating in a probe
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
- Kontaktblustein
- Aktenzeichen: P ! Die Erfindung betrifft einen Kontaktbaustein einer im Oberbegriff des Anspruches 1 bezeichneten Bauart.
- Solche Kontaktbausteine werden bisher hauptsächlich zur Prüfung ebener elektrischer Leiterplatten verwendet, wobei die aus der Hülse vorstehende kegelige Spitze des Kontaktkolbens durch senkrechtes Andrücken einen in der Regel ausreichend guten Kontakt zu der Leiterplatte vermittelt. Nun kommen aber in zunehmendem Maße gebogene oder räumlich gewölbte Leiterplatten zur Anwendung, die ebenfalls vor dem Einbau auf ihre Funktionsfähigkeit überprüft werden müssen. Da hierbei die Kontaktkolben schräg zu der Leiterplattenfläche stehen, werden die Kontaktkolben beim Andrücken seitlich weggeschoben mit dem Ergebnis, daß die Führung des Kontaktkolbens vorzeitig verschleißt und die Kontaktierung beeinträchtigt ist.
- Die Aufgabe der Erfindung besteht also darin, durch eine diesem Verwendungszweck angepaßte besondere Gestaltung des Kontaktkolbens dessen Haften an gewölbten Leiterplatten und damit die Kontaktierung zu verbessern.
- Zur Lösung dieser Aufgabe schlägt die Erfindung die im Kennzeichen des Anspruchs 1 genannten Merkmale vor. Ein so gestalteter Kontaktkopf arbeitet sich beim Andrücken gewissermaßen in die Oberfläche der gewölbten Leiterplatte ein, kann daher nicht von ihr abrutschen und bewirkt einen überraschend guten Kontakt. Da der Kontaktkopf im Durchmesser größer als der Schaft ist, liegt der Schaft immer gegenüber der Leiterplatte frei, auch dann, wenn er nahezu parallel zu ihr liegt und kann das Eingraben des Kontaktkopfes in die Leiterplatte nicht behindern.
- Im einfachsten Fall ist die griffige Profilierung als Rändelung ausgeführt.
- In bevorzugter Ausgestaltung der Erfindung ist nach den AnsprUchen 3, 4 und 5 der Kontaktkopf als Zylinder mit kegeliger Anfasung und stirnseitiger zentrischer Vertiefung gestaltet. Der Kegelmantel ist mit Schneidkanten versehen, die entweder nach Anspruch 7 längs der Kegelmantellinien in Richtung zur Kegelspitze verlaufen oder nach Anspruch 8 annähernd tangential zur kegeligen Vertiefung liegen.
- Im letzteren Falle wird der Kontaktkolben beim Andrücken an die Leiterplatte etwas gedreht und bohrt sich somit wie ein Wendelbohrer in sie ein.
- In der Zeichnung ist der erfindungsgemäße Kontaktbaustein dargestellt.
- Es zeigen: Fig. 1 Längsschnitt des Kontaktbausteins Fig. 2 Längsschnitt durch den Kontaktkopf in größerem Maßstab Fig. 3 Frontansicht des Kontaktkopfes Fig. 4 Frontansicht einer zweiten Ausführungsform des Kontaktkopfes.
- In einer zylindrischen Hülse 1 ist ein Kontaktkolben 2 längs- und drehbeweglich geführt. Er wird an einer Umbördelung 3 der Hülse durch eine Schraubenfeder 4 angedrückt, die sich an einem Anschlußstift 5 abstützt, der mittels einer Einbördelung 6 in der Hülse 1 formschlüssig gehalten ist und zur Weiterleitung des Prüfstromes dient.
- Das aus der Hülse herausragende Teilstück des Kontaktkolbens 2 besteht aus einem Schaft 7, der in einer Rundung 8 in einen im Durchmesser größeren, zylindrischen Kontaktkopf 9 übergeht. Der Kontaktkopf 9 ist kegelig angefast mit einem Winkel von ca. 120 °. An dem Kegelmantel 10 sind ringsum in symmetrischer Anordnung dreieckförmige Schneidkanten 11 eingeschliffen, die in einer kegeligen, zentrischen Vertiefung 12 auslaufen und,wie Fig. 3 erkennen läßt, auf die Kegelspitze zu gerichtet sind.
- In einer weiteren Ausführungsform nach Fig. 4 verlaufen die Schneidkanten 13 des Kontaktkopfes 14 schräg zu den Kegelmantellinien und annähernd tangential zu der kegeligen Vertiefung 15.
Claims (8)
- Patentansprüche ( 1.) KontaXtbaustein für Meß- und Prüfzwecke, insbesondere zum Prüfen von gewölbten elektrischen Leiterplatten, mit einem in einer Hülse geführten Kontaktkolben, der unter Vorspannung einer in der Hülse angeordneten Schraubenfeder steht, dadurch gekennzeichnet, daß das aus der Hülse (1) herausragende Teilstück des Kontaktkolbens (2) aus einem Schaft (7) und einem ihm gegenüber abgesetzten Kontaktkopf (9, 14) größeren Durchmessers besteht, wobei der Kontaktkopf (9, 14) eine griffige oder scharfkantige Profilierung (Schneidkanten 11, 13) aufweist.
- 2. Kontaktbaustein nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kontaktkopf (9) kegelig ausgebildet ist.
- 3. Kontaktbaustein nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kontaktkopf (9, 14) als Zylinder mit kegeliger Anfasung (10) gestaltet ist.
- 4. Kontaktbaustein nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Kontaktkopf (9) stirnseitig eine zentrische Vertiefung (12) aufweist.
- 5. tontaktbaustein nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kontaktkopf (9, 14) ringsum mit Schneidkanten (11, 13) versehen ist.
- 6. Kontaktbaustein nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Schneidkanten (11, 13) am Außenumfang des Kontaktkopfes (9, 14) symmetrisch verteilt sind.
- 7. Kontaktbaustein nach einem der Ansprüche 2 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Schneidkanten (11) längs der Kegelmantellinien auf die Kegelspitze des Kontaktkopfes (9) zulaufen (Fig. 3).
- 8. Kontaktbaustein nach Anspruch 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Schneidkanten (13) am Außenumfang annähernd tangential zu einer zentrischen kegeligen Vertiefung (15) verlaufen (Fig.4).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782852886 DE2852886A1 (de) | 1978-12-07 | 1978-12-07 | Kontaktbaustein |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782852886 DE2852886A1 (de) | 1978-12-07 | 1978-12-07 | Kontaktbaustein |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2852886A1 true DE2852886A1 (de) | 1980-06-19 |
DE2852886C2 DE2852886C2 (de) | 1989-04-27 |
Family
ID=6056539
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782852886 Granted DE2852886A1 (de) | 1978-12-07 | 1978-12-07 | Kontaktbaustein |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2852886A1 (de) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3231772A1 (de) * | 1982-08-26 | 1984-03-01 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Verfahren zum herstellen eines pruef-kontaktelements und konstruktive gestaltung des kontaktelements |
DE3441480A1 (de) * | 1984-11-13 | 1986-05-15 | MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH, 6384 Schmitten | Kontaktstift |
DE3716205A1 (de) * | 1986-05-21 | 1987-11-26 | Feinmetall Gmbh | Federkontaktstift fuer pruefvorrichtungen |
EP0292590A1 (de) * | 1987-05-26 | 1988-11-30 | Feinmetall Gesellschaft mit beschrÀ¤nkter Haftung | Kontaktiervorrichtung für Prüfvorrichtungen |
DE3717782A1 (de) * | 1987-05-26 | 1988-12-08 | Feinmetall Gmbh | Kontaktiervorrichtung fuer pruefvorrichtungen |
DE8806162U1 (de) * | 1988-05-09 | 1989-09-07 | Nixdorf Computer Ag, 4790 Paderborn | Kontaktstift für die Funktionsprüfung von Leiterplatten |
EP0432870A2 (de) * | 1989-12-04 | 1991-06-19 | Everett/Charles Contact Products Inc. | Elektrische Testsonde |
WO1999005308A2 (en) * | 1997-07-22 | 1999-02-04 | Rapigene, Inc. | Apparatus and methods for arraying solution onto a solid support |
EP1006363A2 (de) * | 1998-12-01 | 2000-06-07 | Hitachi Software Engineering Co., Ltd. | Biochip und Verfahren zur Herstellung |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1765461B2 (de) * | 1968-05-22 | 1976-12-16 | Bossert, Anneliese, 7530 Pforzheim | Federkontakt |
DE2717420A1 (de) * | 1977-04-20 | 1978-10-26 | Ingun Pruefmittelbau | Kontaktstift |
-
1978
- 1978-12-07 DE DE19782852886 patent/DE2852886A1/de active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1765461B2 (de) * | 1968-05-22 | 1976-12-16 | Bossert, Anneliese, 7530 Pforzheim | Federkontakt |
DE2717420A1 (de) * | 1977-04-20 | 1978-10-26 | Ingun Pruefmittelbau | Kontaktstift |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Firmenschrift der Amphenol-Tuchel Electronics GmbH "Federkontakte für optimalen Prüfmittelbau" vom November 1973 * |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3231772A1 (de) * | 1982-08-26 | 1984-03-01 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Verfahren zum herstellen eines pruef-kontaktelements und konstruktive gestaltung des kontaktelements |
DE3441480A1 (de) * | 1984-11-13 | 1986-05-15 | MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH, 6384 Schmitten | Kontaktstift |
EP0181429A1 (de) * | 1984-11-13 | 1986-05-21 | MANIA Elektronik Automatisation Entwicklung und Gerätebau GmbH | Kontakststift |
DE3716205A1 (de) * | 1986-05-21 | 1987-11-26 | Feinmetall Gmbh | Federkontaktstift fuer pruefvorrichtungen |
EP0292590A1 (de) * | 1987-05-26 | 1988-11-30 | Feinmetall Gesellschaft mit beschrÀ¤nkter Haftung | Kontaktiervorrichtung für Prüfvorrichtungen |
DE3717782A1 (de) * | 1987-05-26 | 1988-12-08 | Feinmetall Gmbh | Kontaktiervorrichtung fuer pruefvorrichtungen |
DE8806162U1 (de) * | 1988-05-09 | 1989-09-07 | Nixdorf Computer Ag, 4790 Paderborn | Kontaktstift für die Funktionsprüfung von Leiterplatten |
EP0432870A2 (de) * | 1989-12-04 | 1991-06-19 | Everett/Charles Contact Products Inc. | Elektrische Testsonde |
EP0432870A3 (en) * | 1989-12-04 | 1992-04-08 | Everett/Charles Contact Products Inc. | Electrical test probe |
WO1999005308A2 (en) * | 1997-07-22 | 1999-02-04 | Rapigene, Inc. | Apparatus and methods for arraying solution onto a solid support |
WO1999005308A3 (en) * | 1997-07-22 | 1999-05-27 | Rapigene Inc | Apparatus and methods for arraying solution onto a solid support |
US6365349B1 (en) | 1997-07-22 | 2002-04-02 | Qiagen Genomics, Inc. | Apparatus and methods for arraying solution onto a solid support |
EP1006363A2 (de) * | 1998-12-01 | 2000-06-07 | Hitachi Software Engineering Co., Ltd. | Biochip und Verfahren zur Herstellung |
EP1006363A3 (de) * | 1998-12-01 | 2000-08-16 | Hitachi Software Engineering Co., Ltd. | Biochip und Verfahren zur Herstellung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2852886C2 (de) | 1989-04-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2757717C3 (de) | Prüfstift | |
DE2425070C3 (de) | Elektrischer Steckverbinder für Koaxialkabel | |
DE69122651T2 (de) | Sonde mit Drallfederkontakt zur Prüfung von gedruckten Schaltkreisen | |
DE19957518A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Kontaktieren eines Aussenleiters eines Koaxialkabels | |
DE4140227A1 (de) | Vorrichtung fuer den anschluss eines kabelendes | |
WO2007048455A1 (de) | Rundschaftmeissel mit meisselhalter | |
DE102005051449B3 (de) | Rundschaftmeißel mit Meißelhalter | |
DE9004335U1 (de) | Aufnahmevorrichtung für eine Düse, insbesondere eines Laserschneidkopfes | |
DE2852886A1 (de) | Kontaktbaustein | |
EP0705489B1 (de) | Vorrichtung zum anschliessen eines koaxialkabels an mit weiterführenden leitungseinrichtungen verbindbare kontakte | |
DE202005004308U1 (de) | Erdanschluss-Vorrichtung für ein Metallprofil | |
DE2634097C2 (de) | Kombinationswerkzeug zum Wickeln und Abwickeln von Drahtenden um Anschlußstifte sowie zum Abisolieren | |
CH589947A5 (en) | Test pin for printed circuit boards - with spring loaded shank in barrel and test end with conical hollow for boards test point | |
DE1665470A1 (de) | Elektrischer Anschlussteil | |
DE3722485C2 (de) | ||
DE7836284U1 (de) | Kontaktbaustein | |
DE3637190A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur befestigung von bauteilen auf elektronischen schaltungsplatten | |
DE202018106154U1 (de) | Einpoliger Prüfstift | |
DE3521012C2 (de) | ||
DE3426295A1 (de) | Kontaktstift fuer eine vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte | |
DE8535264U1 (de) | Steckverbindung für Lichtleiter | |
DE444255C (de) | Sicherheitsvorrichtung fuer Sprengpatronen | |
DE3818728A1 (de) | Federkontaktstift | |
DE578654C (de) | Einrichtung zur Befestigung eines Leitungsdrahtes an Steckern, Kabelschuhen und aehnlichen Kontaktteilen durch Einklemmen | |
DE202014103886U1 (de) | Kontaktvorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAM | Search report available | ||
OC | Search report available | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |