DE2532117A1

DE2532117A1 - Verfahren zur messung der oberflaechenebenheit von gegenstaenden aus metall sowie einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens

Info

Publication number: DE2532117A1
Application number: DE19752532117
Authority: DE
Inventors: Makio Gocho; Tatsuo Kuraishi; Masanori Ota
Original assignee: Nippon Kokan Ltd
Current assignee: JFE Engineering Corp
Priority date: 1974-07-22
Filing date: 1975-07-18
Publication date: 1976-02-12
Also published as: GB1502107A; US4048849A; JPS5112154A; DE2532117B2; FR2280054B1; FR2280054A1

Description

Firma NIPPON KOKAN KABUSHIKI KAISHA, 1-2 Marunouchi-l-chome, Chiyoda-ku, Tokyo/Japan

Verfahren zur Messung der Oberflächenebenheit von Gegenständen aus Metall sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens.

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung der Oberflächenebenheit von Gegenständen aus Metall sowie eine Einrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens.

Technischer Hintergrund der Erfindung.

Bei der Herstellung von Erzeugnissen aus Stahl, beispielsweise Stahlplatten, Stahlprofilteilen und Schienen, treten gewisse periodische Oberflächenunregelmässigk.siten am Material auf, und diese Unregelmässigkeiten sind manchmal so groß, daß das Material den Abnahmevorschriften nicht mehr entspricht.

Diese unbefriedigende Ebenheit muß genau gemessen werden, damit die Einstellungen der Walzwerke usw. an der Herstellungsbahn entsprechend einjustiert werden können. Insbesondere dann, wenn die Periode der Unregelmässigkeiten relativ kurz ist, besteht eine große Notwendigkeit zum Geraderichten der Unregelmässigkeiten, und die Unregelmässigkeiten müssen mit einem hohen Grad an Genauigkeit gemessen werden.

Es sind bisher verschiedene Verfahren zur Messung der Eben-

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heit für den oben erwähnten Zweck verwendet worden. Bei einem bekannten Verfahren wird beispielsweise ein elektrisches Bezugsniveau verwendet und bei einem anderen Verfahren wird eine Verschiebungsmeßvorrichtung mit einem Differential transformator so verwendet, daß die Ebenh it des zu messenden Materials, welche auf eine Abrichtplatte aufgelegt ist, als Funktion der Änderungen in der Höhe des Materials bestimmt wird. Diese beiden bekannten Verfahren haben jedoch ihre eigenen Nachteile, die im folgenden näher beschrieben werden.

Das Meßverfahren, bei dem ein elektrisches Bezugsniveau verwendet wird, ist nachteilig, weil bei ihm die Ebenheit eines zu messenden Materials durch Messung des Grades der Ebenheit der zu messenden Oberfläche in regelmäßigen Intervallen von etwa 200 mm durch Anwendung des elektrischen Bezugsniveaus auf die Oberfläche des Materials erhalten wird. Dies hat zur Folge, daß nicht nur die Durchführung der Messung kompliziert ist, indem sie viel Zeit erfordert, sondern die Messung durch die Bedingungen beeinflußt wird, unter denen das Material angeordnet ist oder durch den Grad der Ebenheit des Haltegestells und die stärkere Krümmung des Materials im ganzen (nachfolgend mit "Gesamtkrümmung" bezeichnet), welche es unmöglich machen, eine genaue Messung der wirklichen Unregelmässigkeiten in der Oberfläche des Materiales durchzuführen. Die Meßmethode, bei der die Ebenheit eines Materials, unter Verwendung einer Verschiebungsmeßvorrichtung mit einem Differentialtransformator als Funktion der Änderungen in der Höhe der gemessenen Oberfläche bestimmt wird, ist auch nachteilig, weil die Messung so durchgeführt wird, daß das zu messende Material auf eine Abrichtplatte aufgelegt wird, welche einen sehr hohen Ebenheitsgrad aufweist,und die Verschiebungsmeßvorrichtung in einer Richtung parallel zur Oberfläche der Abrichtplatte bewegt wird. Da es aus diesem Grunde notwendig ist, eine Abrichtplatte ausgezeichneter Ebenheit zu verwenden, ist es schwierig, die geforderte Genauigkeit der Abrichtplatte sicherzustellen oder eine geeignete Abrichtplatte zu finden, welche eine lange Meßstrecke zuläßt, so daß es überhaupt schwierig ist, die notwendige Ausrüstung bereitzustellen. Weiterhin

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ist nachteilig, daß der Standort der Messung beschränkt ist durch den Standort der Abrichtplatte, was bei der Durchführung des Verfahrens schwierigKe Probleme ergibt, beispielsweise im Hinblick auf den Transport des zu messenden Materials. Schließlich wird der Wirkungsgrad des Verfahrens auch dadurch eingeschränkt, daß sogar dann, wenn das Material bei der Messung auf eine Abrichtplatte aufgelegt ist, die Messung durch die Gesamtkrümmung des Materials beeinflußt wird.

Zusammenfassung der Erfindung.

Im Hinblick auf die Überwindung der oben beschriebenen Schwierigkeiten ist Gegenstand der vorliegenden Erfindung ein Meßverfahren und eine Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens, mit deren Hilfe die tatsächliche Oberflachenebenheit eines Materials mit einem hohen Grad an Genauigkeit gemessen werden kann, ohne daß die Messung durch den Grad der Ebenheit eines Haltegestells oder einer Abrichtplatte oder die Gesamtkrümmung des Materials usw. beeinflußt wird.

Erfindungsgemäß sind daher das Verfahren zur Messung der Oberflachenebenheit und die Einrichtung zur Messung der Oberflachenebenheit eines Produktes aus Metall gekennzeichnet durch mindestens einen berührungslos arbeitenden Detektor, der gegenüber dem zu messenden Produkt aus Metall angeordnet ist und mit dem die Lücke zwischen Detektor und einer Oberfläche des Produktes ausgebe*sen wird, wobei dieser Detektor mindestens an dem mitt-

Meßpunkt
leren eines Satzes von drei Meßpunkten zur Lückenausmessung angeordnet ist, welche in vorgegebenen, gleichmäßigen Intervallen auf einer geraden Bezugsachse in Meßrichtung liegen, und entweder die Meßpunkte oder das Material gegeneinander in Meßrichtung, ohne Veränderung der gegenseitigen Lage der Meßpunkte relativ zueinander, bewegt werden, wobei sowohl die Ebenheit des Materials als auch die Amplitude und Periode von Oberflächenunregelmäßideiten kontinuierlich gemessen werden durch kontinuierliche, rechnerische Ermittlung der Differenz

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-A-

zwischen dem arithmetischen Mittel aus den Abständen, die an den Meßpunkten zu beiden Seiten des mittleren Meßpunktes und von diesem durch vorgegebene, gleiche Abstände getrennt gemessen werden und dem Abstand,der von dem Detektor an dem mittleren Meßpunkt gemessen wird.

Kurzbeschreibung der Zeichnungen.

Fig. 1 zeigt in einem schematischen Diagramm die typische Anordnung eines zu messenden Materials im Hinblick auf die Meßvorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.

Fig. 2 ist eine schematische Darstellung ähnlich Fig. 1, in der angenommen wird, daß die Unregelmässigkeiten in der Oberfläche eines Materials durch einen allgemeinen mathematischen Ausdruck darstellbar sind, wobei das Bild der Oberflächenunregelmässigkeiten graphisch als eine diesem Ausdruck entsprechende Kurve dargestellt ist.

Fig. 3 ist ein Diagramm, welches die Einwirkung der Entfernung zwischen den Detektoren auf das Verhältnis zwischen den gemesseinen Amplitudenwerten, welche die ausgemessenen Lücken repräsentieren /und den Amplitudenwerten der tatsächlichen Unregelmäßigkeiten darstellt.

Fig. 4 ist ein Diagramm,welches graphisch die gemessenen Werte ^ h einer Gesamtkrümmung und die gemessenen Werte Δ h, einer

2 ^L

welligen Krümmung, die Gegenstand der Messung gemäß der Erfindunc ist, zeigt.

Fig. 5 ist ein Diagramm, welches graphisch die aus den Größen /^ h, und Ä hp zusammengesetzte Wellenform zeigt,

Fig. 6 ist ein schematisches Blockdiagramm, welches den Aufbau einer Meßeinrichtung bei einem Ausführungsbeispiel des Gegenstandes der Erfindung zeigt.

Fig. 7 zeigt zwei Diagramme mit den Ergebnissen von tatsächlicher Messungen.

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Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen des Gegenstandes der Erfindung«

Im folgenden wird die Erfindung ausführlicher an Hand der in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispiele beschrieben.

Wie aus dem schematischen Diagramm in Fig. 1, welches zur Erklärung des allgemeinen Prinzips der vorliegenden Erfindung nützlich ist, hervorgeht, ist eine ein Unterstützungsteil E, das eine ausgezeichnete Geradlinigkeit (Ebenheit) besitzt, und als gerade Bezugsachse dient, in Meßrichtung S über der zu messenden Oberfläche eines Werkstückes 1 angeordnet. An dem Unterstützungsteil E sind an drei in gleichen Abständen voneinander angeordneten Punkten Detektoren D,, D-, D_ angeordnet.

Es werden nun entweder das Unterstützungsteil E, welches die Detektoren D₁, D₂, D₃ trägt, oder das Werkstück 1 in Meßrichtung S relativ zueinander bewegt, und die Ausgangssignale der Detektoren werden zur Bestimmung der Ebenheit der gemessenen Oberfläche weiterverarbeitet.

Dies geschieht in folgender Weise;

Nimmt man an, daß h, , h- und h., jeweils die gemessenen Werte der Detektoren D₁, D₂ und D₃ sind, dann ist die resultierende Oberflachenwelligkeit h gegeben durch:

^hl ^{+ h}3

- ^h2

Daher können durch Vorgabe eines Gesamtabstandes L zwischen den beiden äußeren Detektoren mit verschiedenen geeigneten Werten Oberflächenunregelmässigkeiten mit verschiedenen Perioden| quantitativ gemessen werden.

Wenn man annimmt, wie dies in Fig. 2 graphisch dargestellt ist, daß die periodische Welligkeit der Materialoberfläche gegeben ist durch

Y(x) = Asin CJX-B (wobei Uf»2TlX₁ die Periode der Welligkeit

ist)

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und L/2 der Abstand zwischen den Detektoren ist, dann werden die von den Detektoren D,, D₂, D₃ angezeigten Werte durch folgende Ausdrücke gegeben:

Tn₁ = B - Asin LOX

h₂ = B - AsinLL>(x + L/2)

h₃ = B - Asin U) (x + L)

Hierbei ist χ die Strecke der Relativbewegung zwischen dem

Werkstück und den Meßpunkten in Richtung des Fortlaufens der

Messung. Die sich hieraus ergebende Oberflächenwelligkeit £ ⁿ

ist gegeben durch den Ausdruck:

Ah » (h, + h_) /2 - h_o

= A(I - cos ^) . sin U>(x + \ ) » A(I - cos TTt- ) . sin —υ (_x + k)

Λι Ai ²

Dies bedeutet, daß in Übereinstimmung mit dem Meßverfahren diese Erfindung der gemessene Wert Δ h sich ausdrücken läßt als eine Wellenform, deren Amplitude gegeben ist durch

A(I- cos IT ^T- )

Λι

und deren Periode ^,beträgt. Der gemessene Wert^ h hat also einen Amplitudenwert, der proportional zu den Oberflächenunregelmässigkeiten des Materials ist und der die gleiche Periode wie diese Oberflächenunregelmässigkeiten aufweist.

Der gemessene Amplitudenwert kann wegen der gewünschten Abhänigkeit von dem Abstand L zwischen den äußersten Detektoren eingestellt werden. Wenn also a ein Amplitudenverhältnis, und zwar das Verhältnis der Amplitude von ^ h zur Amplitude der UnregelmässigJceiten der gemessenen Oberfläche bedeutet, dann wird dieses Amplitudenverhältnis gegeben durch a =A(1 - cos TT-^r-) /A= (1 - cosiT-^—)

Λι Λι _ ₇ _

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Das Amplitudenverhältnis kann also in Abhängigkeit vom Wert der Größe L/ -χ ,, wie in Fig. 3 dargestellt, auf den Wert 1 gebracht werden. Da die Periode ^, aus den gemessenen Werten ermittelt werden kann, ist es in der Praxis möglich, das Verhältnis des gemessenen Amplitudenwertes zu dem wirklichen Amplitudenwert aufgrund der Beziehung zwischen der Periode \, und einem vorgegebenen Wert von L einzustellen.

Wenn andererseits in dem zu messenden Material zusätzlich zu solch einer periodischen, unregelmässigen Welligkeit (nachfolgend als "Wellenkrümmung" bezeichnet) eine Gesamtkrümmung auftritt, so hat diese Gesamtkrümmung auf den gemäß der Erfindung gemessenen Wert ^ h die nachstehend erläuterte Wirkung.

Wenn man annimmt, daß die Wellenkrümmung durch ρ

A din
¹

gegeben ist und die Gesamtk-rümmung durch 21Γ

so ergibt sich der gemessene Wert ^j h als Summe der Wellenkrümmung skomponente -4 h, und einer Gesamtkrummungskomponente j^ hp in folgender Weise:

sin Z3L- (χ + L·)

\ ²

'-$-) . sin
^₂

In Fig. 4 sind als Diagramm graphisch die oben erwähnten Komponen ten £ h^ und ^ h₂ dargestellt und Fig. 5 zeigt als Diagramm in graphischer Form die zusammengesetzte Wellenform Δ h =A h, + /1 h.~ Wie aus den Figuren 4 und 5 zu ersehen, ist der Amplitudenwert (Maximum) einer Wellenlänge der zusammengesetzten Wellenform

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wie sie in Fig. 5 dargestellt ist (beispielsweise die Wellenlänge zwischen

^xi - ^{(n +} i ⁾ \ ι

x₂ - (n + f)

gleich der Summe einer Wellenkrümmungskomponente 2A, und einer Gesamtkrümmungskomponente^ B, wobei dieses ^j B einem durch die Gesamtkrümmung hervorgerufenen Fehler entspricht. Der Wert von ^/ B ergibt sich aus folgender Beziehung

A B - A h_o (x, ) - A h_o (x_o)

A₀(I - cos ⁴Jt ~k~ ) x 2 cos

_{x sin} Jf A

Hieraus folgt, daß das Verhältnis der Komponente £ B zur Wellenkrümmungsamplitude 2A, gegeben wird durch den Ausdruck:

A₀(I - cos/lT-T-) · ^{2 cos} ΐ ^ 4₂ 4,2

. sin -4t- -sr=- /2A₁

Hieraus ergibt sich unter der Voraussetzung, daß L/^i . » 1/2

- cos 4L 2±L·) .sin

2±L·) .sin 4I -iL· - -i²-α 2 ^ 42' ^Al

Wenn weiterhin vorausgesetzt wird, daß die Periode^- der Ge samtkrümmung zwanzig Mal so groß ist wie die Periode ^, der Wellenkrümraung, dann ergibt sich

s 21Ox 10~⁴ —~
A₁

— 9 —

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-Sf-

Es ergibt sich damit, daß bei dem Meßverfahren gemäß der Erfindung die Wirkung einer Gesamtkrümmung mit einer Periode, die normalerweise sehr viel größer ist als die Periode der Wellenkrümmung, so ist, daß sie praktisch vernachlässigt werden kann, und es ist möglich, allein die Wellenkrümmung genau zu messen.

Mit dem oben beschriebenen erfindungsgemäßen Meßverfahren ist es möglich, die Ebenheit eines Materials in einer wirklich berührungsfreien Weise zu messen, indem beispielsweise der Detektor an jedem der drei Meßpunkte zur Messung der Lücke zwischen der zu messenden Oberfläche und den j ^weiligen Meßpunkten angeordnet wird. Wenn dagegen der Detektor nur an dem mittleren Meßpunkt angeordnet ist und eine Rolle, die frei von vertikalen Schwingungen und Exzentrizität ist, am vorderen Ende eines beinartigen Bauteiles montiert ist, das an jedem der Meßpunkte zu beiden Seiten des mittleren Meßpunktes angeordnet ist, können die oben erwähnten Werte h, und h~ festgelegt werden, und auf diese Weise kann die Ebenheit eines Werkstückes, unter Verwendung nur eines einzigen Detektors, gemessen werden.

Wenn für die Messung ein Satz von drei Meßpunkten verwendet wird, kann die sich ergebende Distanz L zwischen den beiden äußersten Detektoren im Verlauf einer Messung nicht verändert werden, und aus diesem Grunde muß, wenn die Benutzung einer anderen Distanz L gewünscht wird, das Meßverfahren von neuem durchgeführt werden. Wenn jedoch beispielsweise eine Anzahl von Detektoren, die größer ist als drei, im voraus auf einem Unterstützungsteil angeordnet ist, können die Detektoren in verschiedener Weise ausgewählt werden, um gleichzeitige Messungen mit verschiedenen Distanzen L zu ermöglichen.

Fig. 6 zeigt den Aufbau einer Meßeinrichtung gemäß einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens, die zur Messung der welligen Deformation von Schienen benutzt wird und

Fig. 7 zeigt die Ergebnisse der Messungen mit dieser Einrichtung

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- ία -

In Fig. 6 ist mit 1 eine Schiene oder ein anderes zu messendes Werkstück bezeichnet. An dnem Meßwagen C ist ein Unterstützungsteil E befestigt, an dem Detektoren D₁, D₂, D₃ angeordnet sind. An den Enden des Unterstützungsteiles E sind angetriebene Rollen R angeordnet sowie an einem Ende ein Impulsoszillator 4 vom Rollentyp zur Einstellung des Kartenantriebs einer Registriei vorrichtung 3 zur Registrierung der Meßlänge. Der Rechenvorrichtung 2 werden die durch die Detektoren D₁, D₂, D₃ gemessenen Werte h., , h₂ und h₃ zugeführt, aus denen sie den Wert

^h = (h, + h,)/2 - hp berechnet und der Registriervorrichtung zuführt, auf der dieser Wert in Abhängigkeit von der Meßlänge festgehalten wird.

Der Ausgang der Rechenvorrichtung 2 ist über einen zweiten Zweig verbunden mit einer Analysatorvorrichtung 5, welche die Amplitude und Periode der tatsächlichen Unregelmässigkeiten an der Schiene 1 bzw. dem Werkstück berechnet, die aus einer mit Hilfe einer Eingabevorrichtung 6 vorgegebenen Distanz L für die Detektoren und dem Ausgangssignal ^h der Rechenvorrichtung 2 bestimmt werden, wobei das Ausgangssignal der Analysatorvorrichtung 5 mit Hilfe einer Anzeigevorrichtung 7 angezeigt wird.

Die Figuren 7a und 7b zeigen die Ergebnisse von Messungen, die bei einer Bewegung des Meßwagens C entlang der Schiene in Meßrichtung S durchgeführt wurden.

Fig. 7a zeigt Werte von ^ h, welche in Längsrichtung der Schiene mit einem Wert von L = 600 mm gemessen wurden, während

Fig. 7b das Ergebnis einer ähnlichen Messung mit einem Wert L = .1000 mm zeigt.

Aufgrund der vorausgegangenen Beschreibung wird klar, daß mit dem er/ijfndungsgemäßen Verfahren alle Unregelmässigkeiten in der Oberfläche eines zu messenden Materials, welche periodisch sind und deren Wellenlängen innerhalb eines spezifischen Bereiches liegen, gemessen werden können, ohne daß praktisch durch die Bedingungen, unter denen das Material angeordnet ist und die

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Gesamtkrümmung des Materials selbst,eine Beeinflussung auftritt. Weiterhin gibt es keine Beschränkungen hinsichtlich des Meßortes, d.h. die Messung kann selbst dann durchgeführt werden, wenn eine Schiene beispielsweise bereits im Boden verlegt ist. Die Durchführung des Meßverfahrens ist einfach,und eine Meßeinrichtung nach der Erfindung besitzt eine kompakte Anordnung und einen weiten Anwendungsbereich. Es kann also mit ihr nicht nur die Oberflächenebenheit von.dicken Stahlplatten, Stahlprofilen usw. gemessen werden, sondern auch das Aufbauprofil von Bandwickeln usw. Das erfindungsgemäße Verfahren hat also viele technische Anwendungsmöglichkeiten.

Patentansprüche:

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Claims

Patentansprüche

1.) Verfahren zur Messung der Oberflächenebenheit von Gegenständen aus Metall, gekennzeichnet durch die Verwendung mindestens eines Detektors, der gegenüber dem zu messenden Gegenstand angeordnet ist und mit dem berührungsfrei der Abstand zwischen dem Detektor und einer Oberfläche des Gegenstandes meßbar ist, wobei zur Durchführung des Verfahrens mindestens ein Satz von drei Meßpunkten zur AbstandsbeStimmung ausgewählt wird, welche in Meßrichtung in vorgegebenen, gleichmäßigen Intervallen auf einer geraden Bezugsachse angeordnet sind, und mindestens an dem mittleren der Meßpunkte ein Detektor angeordnet ist,und der Gegenstand oder die Meßpunkte gegeneinander in Meßrichtung, ohne Veränderung der gegenseitigen Lage der Meßpunkte relativ zueinander, bewegt werden, wobei die von dieser Relativbewegung durchlaufene^ Stecke gemessen wird, und die Oberflächenebenheit des Gegenstandes kontinuierlich bestimmt wird durch kontinuierliche rechnerische Ermittlung der Differenz zwischen den arythmetischen Mittel aus den Abständen, die an den Meßpunkten zu beiden Seiten des mittleren Meßpunktes gemessen werden und dem Abstand, der an dem mittleren Meßpunkt gemessen wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein zusätzlicher Satz von drei Meßpunkten ausgewählt wird, wobei jeweils der mittlere der Meßpunkte des ersten Satzes von drei Meßpunkten, welche in Meßrichtung in vorgegebenen_r gleichmäßigen Intervallen auf der geraden Bezugsachse angeordnet sind, in den Sätzen gemeinsam verwendet wird, und die Meßpunkte des zusätzlichen Satzes in vorgegebenen, gleichmäßigen Intervallen angeordnet sind, welche von den Intervallen des ersten Satzes von Meßpunkten verschieden sind, und daß an diesen Meßpunkten zur Abstandsbestinuaung Detektorei so angeordnet sind, daß jeder der Sätze von drei Detektoren den Abstand zwischen diesen ausgewählten Detektoren und der Oberfläche des Gegenstandes mißt.

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3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Periode des Auftretens einer die Oberflächenebenheit des Gegenstandes beeinträchtigenden Stelle rechnerisch ermittelt wird.

4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Abstandsmessung durch den Detektor nur an dem mittleren Meßpunkt des Satzes von drei Meßpunkten durchgeführt wird und eine mit einem Bein und einem Rad versehene Vorrichtung an jedem der Meßpunkte zu beiden Seiten des mittleren Meßpunktes angeordnet ist, wobei die Vorrichtung mit einem Bein und einem Rad eine Länge aufweist, die einem vorgegebenen Abstand zwischen dem ihr zugeordneten Detektor und der Oberfläche des Gegenstandes entspricht, wodurch die Abstandsmessung von jedem der Detektoren zu beiden Seiten des mittleren Meßpunktes eliminiert wird.

5. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 4, gekennzeichnet durch eine Bezugsfläche, die gegenüber der Oberfläche des Gegenstandes (1) angeordnet ist, einen Detektor (D,, D_, D-) an jedem Meßpunkt eines ersten Satzes von drei Meßpunkten, welche in Meßrichtung in vorgegebenen, gleichmäßigen Intervallen auf der Bezugsfläche angeordnet sind sowie mindestens eines zusätzlichen Satzes von drei Meßpunkten, bei dem der mittlere der Meßpunkte des ersten Sate« von drei Meßpunkten in den Sätzen gemeinsam verwendet wird, und eine Rechenvorrichtung (2) zum Empfang und zur Verarbeitung von Signalwerten, die von jeweils drei Detektoreinheiten ausgehen, welche einem ausgewählten Satz von Meßpunkten zugeordnet sind, eine Registriervorrichtung (3), eine AraLysiervarichtung (5), eine Eingabevorrichtung (6) zur Vorgabe des Wertes der Entfernung (L) zwischen den Meßpunkten zu beiden Seiten des mittleren Meßpunktes des ausgewählten Satzes von drei Meßpunkten sowie eine Vorrichtung (4) zur Messung der in der Relativbewegung zwischen dem Gegenstand und den ausgewählten Meßpunkten durchlaufenen Strecke.

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6. Vorrichtung nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch einen Meßwagen (C) mit einem Paar Rädern (R), die auf dem Gegenstand (1) abrollbar.,in Meßrichtung angeordnet sind sowie eine
Detektoraufhängevorrichtung (E) und einen walzengesteuerten Impulsoszillator (4).

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