DE2450468C2 - Fehlerkorrekturanordnung für einen Speicher - Google Patents
Fehlerkorrekturanordnung für einen SpeicherInfo
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Description
nung nach dem Oberbegriff im Patentanspruch 1. das zweite Bit eines Wortes fehlerhaft ist so wird der
bereits verschiedene Anordnungen entwickelt worden, ursprünglich in der zweiten Spalte gespeichert waren,
um das Bitfehlerproblem bei Speichern zu überwinden. werden zur 18ten Spalte übertragen. Von da an arbeitet
festzustellen, ob ein Fehler vorhanden ist. Zeigt sich ein eingefügt wird.
des Fehlerkorrekturcode richtig gestellt. fehlerhafte Spalte dann aus dem Speicher herausge-
beispielsweise eine dauernde Fehlfunktion eines Umstand, daß ein typischer Speicher mit 64 000 Wör-
(byte), das das falsche Bit enthält, aus dem Speicher schenzeit (MTBF) von etwa 6 Jahren besetzt. Nimmt
gelesen wird, der Fehlerkorrekturcode zur Beseitigung man eine Auswechselzeit von einem Tag für jede
der Schwierigkeit benötigt. Mit einem solchen Verfah- Speicherspalte an, die sich als fehlerhaft herausgestellt
hat, so wird die mittlere Fehlerzwischenzeit MTBF unter Anwendung der erfindungsgemäßen Lösung bis
über denjenigen Wert verlängert, für den der erste Ausfall anderer Bauteile der Anlage zu erwarten ist,
beispielsweise eine Zentraleinheit mit einer Fehlerzwischenzeit von 30 Jahren. Demgemäß läßt sich erfindungsgemäß
eine Speicherverdopplung vermeiden und die Zuverlässigkeit erhöhen.
Außerdem können Speicherausgangsfehler automatisch korrigiert werden und die wesentliche Erhöhung
der mittleren Fehlczwischenzeit MTBF wird ohne eine strukturelle Änderung des Speichers und ohne Verwendung
von Fehlerkorrektur-Codierungen erreicht
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher beschrieben. Es zeigt
F i g. 1 das Blockschaltbild eines Ausfuhrungsbeispiels
unter Verwendung eines Schreib-Lesespeichers; F i g. 2 die Verwendung mehrerer Reservespalten.
Vor einer genauen Beschreibung der Gesamtanlage soll zweckmäßig die Funktion einiger der dargestellten
Einzelelemente erläutert werden. Die Decodierer, beispielsweise 12, 13, nehmen Datenbits auf den vier
Eingangsadern 19 auf. Diese Datenbits stellen im binären Format jede Zahl 0 bis 15 dar. Wenn die
Eingangsader für EN 1 eines Decodieren auf niedrigem Potential (L) liegt, so entspricht das Ausgangssignal auf
der dem decodierten Wert zugeordneten Ausgangsleitung genau dem Signal auf der Eingangsleitung EN2.
Nimmt man beispielsweise an, daß die Eingangsbits 0110 (dezimal 6) auf den Eingangsleitungen 19 zum
Decodierer 12 laufen, so wird, wenn die Eingangsleitung EN 2 auf niedrigem Potential liegt die Ausgangsleitung
6 ebenfalls auf niedrigem Potential liegen. Wenn dagegen die Eingangsleitung EN 2 auf hohem Potential
(H) liegi, würde die Ausgangsleitung 6 ebenfalls H
führen. Das Ausgangssignal wird beim Durchlaufen eines Puffergatters (nicht gezeigt) invertiert
Der Multiplexer MPX14 arbeitet umgekehrt wie die
Decodierer. Er überträgt das Signal auf einer der Eingangsadern 0 bis 15 der Eingangsleitung 101 zur
einzigen Ausgangsleitung in Abhängigkeit vom decodierten Dezimaläquivalent des binärcodierten Eingangssignals
auf den Adern 19. Bei dem Beispiel, bei dem die Eingangsadern 19 die Bits 0110 führe«, würde
also das Signal H oder L auf der Ader 6 der Leitung 101 invertiert zur Ausgangsleitung übertragen. Beim Lesen
findet eine erneute Invertierung des Bit' statt
Die Paritätsprüfschaltung 11 arbeit« in bekannter Weise derart daß die Adern 0 bis 16 auf Parität geprüft
werden. Tritt ein Paritätsfehler auf, so wird ein Ausgangssignal abgegeben Zur Durchführung dieser
Funktion sind zahlreiche Schaltungsanordnungen bekannt. Einig- dieser Schaltungen beruhen auf dem
Prinzip einer Einzelfehlerfeststellung gemäß US-Patent Re. 23 601 (23. 12.1952).
Die Fehlersteuerschaltung 17 arbeitet aufgrund eines Signals der Paritätsprüf schaltung 11. Sie nimmt das
Ausgangswort aus 16 Bits auf und bestimmt welches Bit
fehlerhaft ist Verschiedene Verfahren lassen sich zu diesem Zweck verwenden. Dazu gehört ein Einschreiben
von nur 1-Werten in den Speicher und Prüfen des Ausgangssignäls, gefolgt von einem Einschreiben von
nur 0-Werten, wonach wiederum das Ausgangssignal geprüft wird. Bei Feststellung des fehlerhaften Bits wird
ein binäres AusgaOgssignal gebildet, dessen Wert der Bitposition des Fehlerdatenbits entspricht Geht man
davon aus, daß das Datenbit in der Position 2 eines Speicherausgangswortes Has fehlerhafte Bit enthalt,
dann würde das Ausgangssignal der Fehlersteuerschaltung 17 den Wert 0010 haben. Wenn diese Information
zur Verfügung steht, so geht die Ader LOAD auf den Wert L, wodurch das 4-Bit-Register 16 mit den Bits OClO
geladen wird, also der Binärdarstellung für die Bit-Position des als fehlerhaft festgestellten Datenbits.
Gleichzeitig stellt das Signal auf der Ader LOAD das Flipflop 15 ein.
In einem typischen Fall erhält der Schreib-Lesespeiin
eher 10 Informationen von einer Eingangsquelle über die Adern 0 bis 16 des Kabels 101. Diese Informationen
werden in den Spalten 0 bis 16 des Schreib-Lesespeichers 10 in Abhängigkeit von der Speichersteuerung 18
in bekannter Weise gespeichert jedes ankommende Wort mit 17 Bit wird aufgenommen. Die Speichersteuerschaltung
18 zur Durchführung dieser Funktionen ist nicht im einzelnen dargestellt Solche Schaltungen sind
jedoch bekannt
Spalte 17 des Speichers bleibt zunächst leer und Spalte 16 enthält die Paritätsprüfbits für jedes Wort
Beim Lesen eines Wortes aus dem Speicher wird die Information aus den Spalten 0 bis 15 de- Schreib-Lesespeichers
10 zu einem Eingang der W A N D-Glieder IMO bis IM 15 übertragen. Zu diesem Zeitpunkt liegen
die Ausgänge 0 bis 15 des Decodieren 13 auf H, wodurch am Ausgang der Glieder IMO bis IM 15 tbr
invertierte Wert der vom Speicher 10 kommenden Bits steht Wenn also auf der Ausgangsader 1 bei einem
gegebenen Wort aus dem Speicher 10 der Wert H steht, so geht der Asugang des Gliedes 1M1 auf L
Dieses niedrige Potential wird an einen invertierenden Eingang des NAND-Gliedes ICl angelegt. Der
Wert H am 1-Ausgang des Decodieren, 12 liegt an anderen invertierenden Eingang des Gliedes ICl. so
daß dessen Ausgangssignal H ist. Das ist genau das aus dem Schreib-Lesespeicher 10 gewonnene Datenbit
nämlich eine binäre I.
Auf ähnliche Weise wäre, wenn die Bit-Position 2 eines aus dem Speicher 10 gewonnenen Wortes den
Wert L führt der Ausgang des Gliedes 1M2 au< H. wodurch der Ausgang des Gliedes 1C2 L ist Wiederum
entspricht das Datenbit an der Ausgangsposition 2 des Speichers genau dem aus Spalte 2 des Speichers
gewonnenen Datenbit.
Nimmt man an, daß die Paritätspriif schalung 11
feststellt daß das gelesene Wort am Ausgang der Glieder ICO bis IC 15 richtig ist dann wird dieses Wort
auf die übliche Weise benutzt Wenn jedoch die Paritätsprüfschaltung 11 feststellt daß eines der Bits
so fehlerhaft ist so wird ein Signal erzeugt das die weitere Verarbeitung sperrt und die Fehlersteuerschaltung 17 in
Tätigkeit setzt. Diese stellt dann entsprechend der obigen Erläuterung fest welches oder welche der Bits
fehlerhaft sind.
E.« se ingenommen, daß das Datenbit der Bit-Position
2 als fehlerhaftes Bit festgestellt worden ist Demgemäß liefert die Fehlersteuerschaltuf^f 17 an
ihrem Ausgang den Binärwert 0010 (Dezimal 2). Dieser Wert wird zum *~Bit-Register 16 übertragen. Bei
ω Betätigung der Ader LOAD durch die Fehlersteuerschaltung
17 wird dtr Binärcode 0010 in das Register aufgenommen. Außerdem wird zu diesem Zeitpunkt das
Flipflop 15 eingestellt, wodurch der Eingang EN 1 der Decodierer 13 und 12 auf L geht Am Ausgang des
4-Bit-Registers 16 stehen jetzt die Bits 0010, die zum Eingang des Decodierers 13 geführt werden. Da der
Eingang EN 2 des Decodierers 13 auf L liegt, geht sein Ausgang 2 ebenfalls auf L, wodurch der Ausgang des
NAND-Gliedes IMl den Wert H annimmt. Auf diese
Weise werden Daten aus der Spalte 2 des Schreib-Lesespeichers 10 gesperrt.
Gleichzeitig steht der Multiplexer 14 unter dem Einfluß der vom 4-Bit-Register 16 gelieferten Binärda- s
ten, wodurch die Ader 2 des Kabels 101 zum Ausgang des Multiplexers geführt wird, der mit Spalte 17 des
Speichers 10 verbunden ist.
Unter Steuerung des Ausgangssignals des Flipflops 15 über die Leitung 102 werden dann Daten von einer to
äußeren Quelle über das Kabel 101 zum erneuten Einschreiben in den Speicher 10 übertragen. Jetzt wird
jedoch die über die Ader 2 des Kabels 101 ankommende Information über den Multiplexer 14 zur Spalte 17 des
Schreib-Lesespeichers 10 geführt. Am Ende der Einschreibphase enthält Spalte 17 dann Datenbits, die
die Inversion der Datenbits darstellen, die in Spalte 2 hätten eingeschrieben werden sollen. Dann wird der
normale Betrieb des Speichers wieder aufgenommen. Immer wenn ein Wort aus dem Speicher geiesen wird, zo
gehen die Datenbits aus Spalte 17 zum Eingang EN 2
des Decodierers 12. Die invertierten Bits werden dann über den Decodierer 12 zu dessen Ausgang 2
übertragen, und zwar unter Steuerung des vom 4-Bit-Register 16 gelieferten Binärcode 0010. Die Bits
werden dann in den Gliedern ICO bis IC 15 erneut invertiert.
Es sei beispielsweise angenommen, daß eine binäre 1 (H) in der Bit-Position von Spalte 17 steht. Dieser
Wert H würde dann über die Ader 2 des Decodierers 12
zu einem Eingang des NAND-Gliedes 1C2 geführt. Da beide Eingänge des NAND-Gliedes 1C2 auf H liegen,
ist dessen Ausgangssignal L Man erkennt also, daß das Datenbit aus der Spalte 17 an die Stelle des Datenbits
eingefügt wird, das vorher aus der gesperrten Spalte 2 zur Verfugung stand. Diese Arbeitsweise bleibt
bestehen, solange das Flipflop IS eingestellt ist. und die
gesamte fehlerhafte Spähe 2 des Schreib-Lesespeichers
10 kann ersetzt werden, wenn der Speicher gelesen wird. Nachdem das Flipflop 15 zurückgestellt ist, kommt «o
das Ausgangssignal des Speichers wiederum nur von den ersten 16 Spalten, wie oben beschrieben.
Man beachte, daß. wenn das Flipflop 15 und das 4-Bit-Register 16 unter Verwendung von einrastenden
Bauteilen hergestellt werden, beispielsweise magnetisch « verrastenden Relais, der Speicher nach einem Stromausfall
weiter auf die gleiche Weise arbeiten würde. Die Umschaltung auf eine Reservespalte oder -spalten kann
demgemäß auf semipermanente Weise erfolgen.
F i g. 2 zeigt ein Ausführungsbeispiel bei dem mehr als eine Reservespalte benutzt wird. Bei Feststellung eines
Paritätsfehlers durch die Paritätsprüfschaltung 31 liefert die Fehlersteuerschaltung 37 in binärcodierter Form ein
Ausgangssignal für die Dezimalposition des fehlerhaften Bits auf die oben beschriebene Weise. Dieses
codierte Ausgangssignal wird zusammen mit dem Einschreibsignal zur Verteilerschaltung 38 und dann zu
einem freien der 4-Bit-Register geführt, beispielsweise
den Registern 306 und 326. Jedes dieser Register ist einer der Reserve-Speicherspalten 17, 18, 19 zugeordnet
Es sei beispielsweise angenommen, daß das erste Bit eines Wortes als fehlerhaft festgestellt worden ist Dann
liefert die Fehlersteuerschaltung 37 die Bits 0001 zur Verteilerschaltung 38, die diese Bits zum 4-Bit-Register
306 führt und gleichzeitig das Piipftop 305 einstellt
Der Decodierer 303 liefert unter dem Einfluß des eingestellten Flipflops 305 und des Binärwertes 0001 aus
dem 4-Bit-Register 306 niedriges Potential L über die Ader 1 zum Eingang des Gliedes 3Af1. Dadurch wird
dessen Ausgang dauernd auf H gehalten, das Glied 3M1
also im Effekt abgeschaltet. Damit ist der Ausgang der Spalte 1 des Speichers gesperrt. Gleichzeitig legt der
Decodierer 302 den invertierten Wert des Datenbits in Spalte 17 des Schreib-Lesespeichers 30 an einen
Eingang des Gliedes 3Cl, so daß jede aus Spalte 17 gelieferte Information über den Decodierer 302 und das
Glied 3Cl zur ersten Bitposition jedes aus dem Speicher gelesenen Ausgangswortes geht. Es kann dann
erneut in den Speicher vom Kabel 101 aus auf die oben beschriebene Weise eingeschrieben werden, wobei der
Multiplexer 304 die Datenbits der Speicherspalte 1 zur Speicherspalte 17 führt.
Es sei jetzt angenommen, daß ein zweiter Fehler durch die Paritätsprüfschaltung 31 festgestellt wird. Die
Fehlersteuerschaltung 37 liefert dann erneut das binärcodierte Äquivalent der als fehlerhaft festgestellten
Bit-Position lusarutricü mit einem Firi3chrcib;ig"a!
zur Verteilerschaltung 38. In diesem Fall werden die ermittelten Bits in das 4-Bit-Register 326 eingegeben
und das Flipflop 325 wird eingestellt Nimmt man an, daß ein Fehler in der Bit-Position vorliegt, so lautet das
Binärsignal am Ausgang der Fehlersteuerschaltung 37 IUl. Das 4-Bit-Register 326 enthält dann die Bits till,
und das Flipflop 325 wäre eingestellt. Der Decodierer 323 liefert aufgrund der zugeführten Bits 1111 und des
Wericj L. auf der Ader EN 2 Erdpotential über die Ader
15. so daß das NAND-Glied 3Ai 15 abgeschaltet wird.
Gleichzeitig verbindet der Decodierer 323 ebenfalls unter dem Einfhiß der Bits Ί11Ι die Spalte 19 des
Schreib-Lesespeichers 30 übertiie Ader 15 des Decodierers
322 mit einem Eingang des NAND-Gliedes 3C15. Folglich wird immer dann, wenn ein Wort aus dem
Speicher 30 gelesen wird, das Datenbit in Position 15 des Wortes das in Spalte 19 des Speichers befindliche
DatcnbiJ und nicht das Dstenbi» in Spalte 1S sein.
Bei Feststellung des Fehlers werden entsprechend der obigen Erläuterung dem Schreib-Lesespeicher 30 zum
erneuten Einschreiben über das Kabel 101 Eingangsinformationen zugeführt Der Multiplexer 324. der
ebenfalls in Abhängigkeit von den Bits 1111 aus dem
4-Bit-Register 326 und dem eingestellten Flipflop 325 arbeitet, entfernt vom Kabel 101 die Spalte zugeordneten
Bits und überträgt sie zur Spalte 19 des Speichers, wodurch die Informationen aus Spalte 15 zur Spalte 19
gegeben werden.
Obwohl bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel bei Feststellung eines Ausgangsfehlers die gesamte
fehlerhafte Spalte gesperrt und die darin enthaltene Information an eine Reservespalte übertragen wird,
könnte die Anlage auch so ausgelegt werden, daß die Sperrung nur auf einer Wort für Wortbasis auftritt Bei
einer solchen Anordnung findet eine Substitution nur statt wenn ein Fehler festgestellt wird. Wegen der
prinzipiellen Einfachheit des erfindungsgemäßen Speicnerwiederherstellungsverfahrens dürfte ein Fachmann
die Erfindung mit Vorteil in Anwendungsbereichen benutzen können, die strukturell wenig oder keine
Ähnlichkeit mit dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel zeigen und zwar ohne vom Grundgedanken der
Erfindung abzugehen.
Man beachte, daß statt eines erneuten Einschreibens
in den Speicher aus einer äußeren Quelle bei Auftreten eines Fehlers, die Datenbits der fehlerhaften Spalte
direkt zur gewählten Reservespalte übertragen werden könnten. Zu diesem Zweck könnte zuerst festgestellt
werden, welche Bit-Position fehlerhaft ist. Dann würde
der Speicher zyklisch Zeile für Zeile gelesen und die Bits aus der fehlerhaften Position in die entsprechende Zeile
der gewählten Reservespalte übertragen werden. Bei Auftreten eines Paritätsfehlers wird angenommen, daB
der Fehler sich in der fehlerhaften Spalte befindet, und das entsprechende Bit wird invertiert, bevor es in der
Reservespalte abgespeichert wird. Demgemäß läßt sich
das richtige Bit aus dem fehlerhaften Wort und dem Paritätsbit rekonstruieren.
Die Erfindung kann auch Anwendung finden bei einer Anordnung, bei der die Wörter in den Spalten
gespeichert sind und das Ausgangssignal aus den Zeilen gewonnen wird. Die zugeordneten Schaltungen sind
dann entsprechend umzuordnen.
Claims (3)
1. Fehlerkorrekturanordnung zur Verwendung in Zur Oberwindung dieses Problems sind mehrere
einem Speicher mit einer Vielzahl von Spalten und Anordnungen bekannt, bei denen das Ausgangswort
Zeilen, bei dem jedes in einer Zeile abgelegte 5 eines Speichers geprüft wird, um festzustellen, ob es
Ausgangswort aus je einem Datenbit jeder Spalte fehlerhaft ist Zeigen sich Fehler, so wird das Wort
zusammengesetzt ist, wiederum unter Verwendung von Fehlerkorrekturver-
fahren korrigiert und an einen neuen Speicherplatz im
mit einer Prüfschaltung (11), die jedes Ausgangswort Speiche· übertragen. Dieser neue Speicherplatz wird
prüft und ein Fehlersignal erzeugt, wenn ein io dann jedesmal benutzt, wenn der Speicher aa. Platz des
Ausgangswort einen Fehler enthält und ursprünglichen Wortes gelesen werden solL Ein solches
mit einer Fehlersteuerschaitung (17), die in Abhän- Verfahren arbeitet zufriedenstellend, benötigt aber
gigkeit von dem Fehlersignal ein die fehlerhafte komplizierte Schaltungen im Umsetzerabschnitt des
Bitposition anzeigendes Fehlersteuersignal erzeugt, Speichers und außerdem ist eine zusätzliche Operation
Ii erforderlich, bevor eine Information aus dem Speicher
dadurch gekennzeichnet, daß gewonnen werden kann. Die zusätzliche Operation ist
wiederum zeitaufwendig.
erste Schaltungen (12, 13, 15, 16) vorgesehen sind. Die Erfindung hat sich die Aufgabe gestellt eine
die auf das Fehlersteuersignal hin ein Markiersignal einfache Fehlerkorrekturanordnung zu schaffen, die
erzeugen, das die der fehlerhaften Bitposition 20 einen zusätzlichen Zeitaufwand beim Betrieb des
entsprechende Spalte markiert, ferner Speichers vermeidet Die Lösung der Aufgabe ist im
Torschaliungen (IAfO bis IAf 15), die aufgrund des Patentanspruch! angegeben. Weiterbildungen der
Markiersignals die markierte Spalte sperren, Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche,
und zweite Schaltungen (14), die auf das Markierst- Eine Fehlersteuerschaltung, die in Abhängigkeit von
gnal hin in einer zusätzlichen Spalte des Speichers 25 einem Fehlersignal ein eine fehlerhafte Bitposition
(10) der markierten Spake entsprechende Datenbits anzeigendes Binärsignal erzeugt ist bekannt (DE-OS
erzeugen, und daß die ersten Schaltungen (12) so 22 60 850).
ausgelegt sind, daß sie in jedem Ausgangswort an Elektronische Speicher enthalten im allgemeinen eine
der Bitposition der markierten Spalte das Datenbit Matrix-Anordnung von Bits, die in Spalten und Zeilen
aus der zusätzlichen Spalte an die Stelle des 30 organisiert sind. Bei Auswahl einer gegebenen Zeile
Datenbits aus der markierten Spalte setzt erhält man ein Wort (Byte) aus dem Speicher, das aus
2. Fehle'-korrekturanordnung nach Anspruch 1, Datenbits zusammengesetzt ist und zwar jeweils einem
dadurch gekennzeichnet daß die zweiten Schaltun- Bit aus jeder Spalte. Beim Ausführungsbeispiel der
gen (14) so ausgelegt sind, aaß sie die Datenbits aus Erfindung ist der Speicher so ausgelegt daß er
der markierten Spalte zur zusätzlichen Spalte 35 wenigstens eine Reservespalte zusätzlich zu der Anzahl
übertragen. von Spalten aufweist, die für die Datenbits und die
3. Fehlerkorrekturanordnung nach Anspruch!, Paritätsprüfung erforderlich sind
dadurch gekennzeichnet daß die zweiten Schaltun- Wenn ein Wort aus dem Speicher gelesen wird,
gen (14) so ausgelegt sind, daß sie von einer äußeren benutzt man ein Paritätsprüfverfahren, um festzustellen.
Quelle in die zusätzliche Spalte diejenigen Bits 40 ob das Ausgangswort richtig ist Zeigt sich ein
eingeben, die in die markierte Spalte eingegeben Paritätsfehler, so wird festgestellt welches Bit und
worden sind. folglich welche Spalte fehlerhaft 1M, und aufgrund dieser
Feststellung werden die Ausgangssignale der fehlerhaf-
ten Spalte gesperrt
45 Geht man von einem Wort mit 16 Bits, einem
Paritätsbit und einem Reservebit aus. so hätte der
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|
8126 | Change of the secondary classification |
Ipc: ENTFAELLT |
|
D2 | Grant after examination | ||
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