[go: up one dir, main page]

DE2414297C3 - Verfahren zur teilautomatischen Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente - Google Patents

Verfahren zur teilautomatischen Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente

Info

Publication number
DE2414297C3
DE2414297C3 DE19742414297 DE2414297A DE2414297C3 DE 2414297 C3 DE2414297 C3 DE 2414297C3 DE 19742414297 DE19742414297 DE 19742414297 DE 2414297 A DE2414297 A DE 2414297A DE 2414297 C3 DE2414297 C3 DE 2414297C3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
copper
semiconductor components
intermediate carriers
plastic tape
photoresist
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19742414297
Other languages
English (en)
Other versions
DE2414297B2 (de
DE2414297A1 (de
Inventor
Hanns- Heinz Peltz
Detlev Schmitter
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19742414297 priority Critical patent/DE2414297C3/de
Publication of DE2414297A1 publication Critical patent/DE2414297A1/de
Publication of DE2414297B2 publication Critical patent/DE2414297B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2414297C3 publication Critical patent/DE2414297C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49572Lead-frames or other flat leads consisting of thin flexible metallic tape with or without a film carrier
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
    • H05K3/061Etching masks
    • H05K3/064Photoresists
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4092Integral conductive tabs, i.e. conductive parts partly detached from the substrate

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur teilautomatischen Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente, insbesondere Zwischenträgern zur Herstellung von integriei tea Schaltungen in Diial-in-line-Gehäusen oder von Mikrogehäusen für Hybridschaltungen.
Es wurde bereits diskutiert, perforierte Metallbänder für die Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente zu verwenden. Bei diesen Metallbändern lag jedoch eine Normierung, welche der Normierung von optischen Filmen entspricht, nicht vor. Damit wird eine Verwendung von handelsüblichen optischen und mechanischen Vorrichtungen für eine automatisierte Herstellung derartiger Zwischenträger unmöglich. Strebt man eine automatisierte oder teilautomatisierte Herstellung derartiger Zwischenträger an, so müssen hierfür eigens Vorrichtungen entwickelt werden. Die Entwicklungskosten für die erforderlichen Präzisionsvorrichtungen sind bekanntlich hoch und liegen sicherlich höher als die Anschaffungskosten für bereits am Markt befindliche optische Vorrichtungen, die für die automatisierte beziehungsweise teilautomatisierte Herstellung von Zwischenträgern verwendbar sind. Ein automatisiertes beziehungsweise teilautomatisiertes Herstellungsverfahren für Zwischenträger, welches mit perforierten Metallbändern arbeitet, muß deshalb zwangsläufig zu höheren Kosten der Endprodukte führen, als das erfindungsgemäße Herstellungsverfahren.
Weiterhin ist zur Verwendung von Metallbändern zu erwähnen, däß sie im Gegensalz zu dem beim erfindungsgemäßen Verfahren verwendeten Kunststoffband keine Kleberschicht tragen. Diese Tatsache wirkt sich nachteilig für die danach gefertigten Bauelemente aus, da eine Kleberschicht beim fertigen Bauelement als mechanischer und thermischer Puffer wirkt, welcher die thermische und mechanische Belastbarkeit des fertigen Bauelements heraufsetzt, was wiederum zur Folge hat, daß die Ausfallquote von Bauelementen mit Kleberschicht geringer ist, die elektrische Zuverlässigkeit dieser Bauelemente höher ist, die thermischen Toleranzen dieser Bauelemente größer sind und ähnliche Vorteile mehr daraus erwachsen. Kurz gesagt, die Verwendung einer Kleberschicht bei derartigen Bauelementen setzt deren Qualität herauf.
Weiterhin wurde angeregt, unperforierte Kunststoff-
KJ bänder zur Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente zu verwenden. Be; einem derartigen Kunststoffband läßt sich bei entsprechender Bearbeitung eine Kleberschicht aufbringen, so daß die eben erwähnten Qualitätsmangel mit diesen Bändern vermeidbar sind.
Es ist jedoch zweifelhaft, ob eine Automatisierung beziehungsweise Teilautomatisierung der Herstellung von Zwischenträgern mittels unperforierter Bänder überhaupt möglich ist, da der Bandvorschub eine außerordentliche Exaktheit aufweisen muß, welche durch die Erzeugung von Fein- und Feinststrukturen mittels Photomasken und Phototechnik vorgegeben ist. Falls eine derartige Automatisierung mit der geforderten Bandvorschubgenauigkeit überhaupt möglich ist, so
2> wäre hierfür zumindest die Entwicklung neuer Vorrichtungen nötig, die einen ganz erheblichen Kostenaufwand mit sich brächt-·. Die Herstellungskosten derartig gefertigter Zwischenträger wären somit ebenfalls entsprechend hoch.
·■» Aus der US-PS 37 24 068 ist ein eigens angefertigter Apparat bekannt, bei dem ein perforiertes Kunststoffband zur automatischen Herstellung von Halbleiterbauelementen und von integrierten Schaltungen verwendet wird, in welches Zusatzlöcher für den Transport
y> des Kunststoffbandes ausgestanzt sind und daß mit metallischen Feinstrukturen versehen ist.
Eine spezielle optische Norm ist jedoch zur Perforation der Kunststoffbänder nicht vorgesehen. Dadurch können käuflich erwerbliclv'· optische Appara-
··<> türen zum Transport der Kunststoffbänder und damit zur Herstelung von Halbleiterbauelementen und integrierten Schaltungen, welche aus Kunststoffbändern gefertigte Zwischenträger aufweisen, nicht verwendet werden.
'»> Es wurde auch bereits versucht, für die teilautomatisierte Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente perforierte Kunststoffbänder mit Normen der optisch üblichen Filme zu benützen. Jedoch wurden dazu bisher nur Bandnormen verwendet, die eine um
■Vi den Faktor 10 bis 20 schlechtere Materialausnutzung des Bandes zulassen, als das beim erfindungsgemäßen Verfahren der Fall ist.
Da die Kosten des Bandmaterials erheblich sind, führt eine Fertigung von Halbleiterbauelementen mittels des
"'r> erfindungsgemäßen Verfahrens zu einer Reduktion der Herstellungskosten, verglichen mit den Kosten der bisher bekannten Herstellungsmethoden.
Gleichzeitig mit der besseren Materialausnulzung von Kunststoffbändern geht außerdem eine Miniaturi-
M! sierung der Zwischenträger sowie der darauf befindlichen Feinstrukturen ebenfalls um den Faktor iÖ bis 20 einher. Bei einer Verkleinerung von Feinstrukturen im angeführten Maße werden die technischen Grenzen zur Herstellung von Feinstrukturen nach üblichen Ätzver-
M fahren überschritten, weshalb bisher eine Perforation von Kunststoffbändern nach DIN 15 851, Blatt 2, Form A, nicht angewendet wurde, obwohl der Vorteil einer Verwendung von handelsüblichen optischen
Apparaten zur Herstellung von Halbleiterbauelementen und integrierten Schaltungen klar ersichtlich ist.
Nachdem der Entwicklungstrend für Halbleiterbauelemente auf eine Miniaturisierung der Abmessungen hinstrebt, leistet das erfindungsgemäße Verfahren zur teilautomatisierten Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente auch für diese Entwicklung einen erheblichen Beitrag. Weiterhin eröffnet sich die Möglichkeit, Zwischenträger, welche nach dem erfindungsgemäßen Verfahren hergestellt werden, dank der Miniaturisierung der Abmessungen, erstmals zum Einbau als Zwischenträger in Dual-in-line-Gehäusen zu verwenden. Außerdem bewirkt die Miniaturisierung der Zwischenträger und damit auch der Halbleiterbauelemente bei der erfindungsgemäßen Verwendung von perforierten Kunststoffbändern eine höhere Packungsdichte beim Einbau derart gefertigter Halbleiterbauelemente in gedruckte Schaltungen.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zur teilautomatisierten Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente anzugeben, wobei eine bessere Materialausnutzung als bisher üblich gewährleistet, eine Miniaturisierung von Feinstrukturen auf Kunststoffbändern, die über die üblichen technischen Grenzen hinausgeht, sowie eine Miniaturisierung der hiermit gefertigten Halbleiterbauelemente sichergestellt ist und die Herstellungskosten für hiernach gefertigte Halbleiterbauelemente gesenkt werden.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß ein nach DIN 15 851, Blatt 2, Form A perforiertes und in S-8-Bänder gesplittetes Kunststoffband (1, 11) verwendet wird, wobei der Reihe nach auf das Kunststoffband ein Epoxydharzkleber aufkaschiert wird, aus dem Kunststoffband Zusatzlöcher (13, 23) ausgestanzt werden, auf das Kunststoffband einseitig eine Kupferfolie und dann beidseitig eine Photolackschicht aufgebracht wird, weiterhin kupferseitig mittels Photomasken und Phototechnik den gewünschten Feinstrukturen (24) entsprechend öffnungen in der PhotolackscLicht erzeugt werden, auf den so freigelegten Teilen der Kupferfolie Zinn galvanisch abgeschieden wird, der Photolack anschließend von der Kupferseite entfernt wird, das Kupfer bis auf die verzinnten Teile der Kupferfolie weggeätzt wird und der Photolack auf der der Kupferseite abgewandten Seite des Kunststoffbandes entfernt w.rd.
Diese Erfindung bringt folgende Vorteile: eine Reduktion der Herstellungskosten durch Materialeinsparung, Miniaturisierung von Zwischenträgern und hiermit gefertigten Halbleiterbauelementen, Verwendbarkeit der erfindungsgemäß gefertigten Zwischenträger zum Einbau in Dual-in-line-Gehäuse, Erreichung einer größeren Lagegenauigkeit der Feinstrukturen auf dem Kunststoffband sowie einer höheren Packungsdichte beim Einbau von Halbleiterbauelementen mit erfindungsgemäß gefertigten Zwischenträgern in gedruckte Schaltungen.
Ein weiterer Vorteil besteht darin, spezielle genormte optische Einrichtungen zur teilautomatisierten Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente zu verwenden, so daß ein erheblicher Anteil von Entwicklungskosten für diesbezügliche Apparate eingespart wird-
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
Fig. I eine Draufsicht auf ein nach DIN 15851, ί Blatt 2, Form A perforiertes Band,
Fig.2 eine Draufsicht auf ein nach DIN 15851, Blatt 2, Form A, perforiertes Band mit ausgestanzten Zusatzlöchern,
Fig.3 eine Draufsicht auf einen vergrößert darge-
K) stellten Teil eines S-8-Bandes mit Feinstrukturen.
Fig. 1 stellt eine Draufsicht auf ein nach DIN 15 851, Blatt 2, Form A, perforiertes Band 1 dar. Die Löcher 2 dieser Perforation sind form- und anordnungsgerecht auf dem Band 1 dargestellt.
υ F i g. 2 stellt die Draufsicht auf ein perforiertes Band 11 dar, welches außer der S-8-Perforation nach DIN 15 851, Blatt 2, mit den Löchern J2 noch Zusatzlöcher 13 aufweist, die aus dem Band ausgestanzt wurden. Die strichpunktierten Linien 14 stellen die Linien dar, längs denen das dargestellte Band '/ in S-8-Bänder gesplittet wird. Die beiden äußeren S-S-Perforationszcilen 15 übernehmen bis zum Splitten des Bandes in S-8-Bänder den Bandtransport.
F i g. 3 ist eine Draufsicht auf ein vergrößert dargestelltes Teil eines S-8-Bandes 21, mit S-8-Perforationslöchern 22, einem Zusatzloch 23 und mit auf den Film aufgebrachten Feinstrukturen 24.
Im folgenden soll ein spezielles Ausführungsbeispiel näher erläutert werden:
mi Es sollen Zwischenträger für Halbleiterbauelemente, zum Beispiel Zwischenträger zur Herstellung von integrierten Schaltungen in Dual-in-line-Gehäusen oder von Mikrogehäusen für Hybridschaltiingen, teilautomatisch mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens
Ji hergestellt werden. Dazu wird von einem 16 mm, 32 mm oder 35 mm Kunststoffilm, zum Beispiel Polyimidfilm ausgegangen, der mit einer Kunststoffkleberschicht, zum Beispiel einer Epoxydharzkleberschich'. von ?5 μπι Dicke versehen ist. In diesem Film wird eine
■»<· S-8-Perforation nach DIN 15 851, Blatt 2, Form A eingebracht. Außerdem werden Zusatzlöcher 13, wie in F i g. 2 dargestellt, ausgestanzt. Auf den so vorbereiteten Film wird eine Kupferfolie so auflaminieri, daß die beiden äußeren S-8-Perforationszeilen 15 (siehe Fi g. 2)
·!■· von der Kupferfolie nicht überdeckt werden. Anschließend wird auf den Film beidseitig Photolack aufgezogen. Mittels Photomasken und Phototechnik werden kupferseitig auf den Film Feinstrukturen aufgebracht. In diesen Feinstrukturen wird galvanisch Zinn abgeschie-
w den. Anschließend wird der Photolack kupferseitig entfernt, das Kupfer bis auf die verzinnten Kupferbahnen der Feinstrukturen 24 (siehe Fig.3) weggeätzt. Nach Entfernen des Photolacks auf der Rückseite des Films erhält man das erfindungsgemäße Kunststoff-■ band. Ein anschließerdes Splitten in S-8-Bär.der entlang den Linien 14 (siehe Fig. 2) ermöglicht die Verwendung von S-8-genormten optischen Vorrichtungen für die weitere Verarbeitung dieses Bandes, zum Beispiel für die drahtlose Montage von Halbleiterbauelementen auf
•ίι dem so genormten Zwischenträgerband. Durch einfaches Abschneiden vom S-8-Band erhält man schließlich die endgültige Form des Zwischenträgers.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (1)

  1. Patentanspruch:
    Verfahren zur teilautomatischen Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente, insbesondere Zwischenträgern zur Herstellung von integrierten Schaltungen in Dual-jn-line-Gehäuse oder von Mikrogehäusen für Hybridschaltungen, dadurch gekennzeichnet, daß ein nach DIN 15 851, Blatt 2, Form A perforiertes und in S-8-Bänder gesplittetes Kunststoffband (1, 11) verwendet wird, wobei der Reihe nach auf das Kunststoffband ein Epoxydharzkleber aufkaschiert wird, aus dem Kunststoffband Zusatzlöcher (13, 23) ausgestanzt werden, auf das Kunststoffband einseitig eine Kupferfolie und dann beidseitig eine Photolackschicht aufgebracht wird, weiterhin kupferseitig mittels Photomasken und Phototechnik den gewünschten Feinstrukturen (24) entsprechende Öffnungen in der Photolackschicht erzeugt werden, auf den so iteigelegten Teilen der Kupferfolie Zinn galvanisch abgeschieden wird, der Photolack anschließend von der Kupferseite entfernt wird, das Kupfer bis auf die verzinnten Teile der Kupferfolie weggeätzt wird und der Photolack auf der der Kupferseite angewandten Seite des Kunststoffbandes entfernt wird.
DE19742414297 1974-03-25 1974-03-25 Verfahren zur teilautomatischen Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente Expired DE2414297C3 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19742414297 DE2414297C3 (de) 1974-03-25 1974-03-25 Verfahren zur teilautomatischen Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19742414297 DE2414297C3 (de) 1974-03-25 1974-03-25 Verfahren zur teilautomatischen Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2414297A1 DE2414297A1 (de) 1975-10-02
DE2414297B2 DE2414297B2 (de) 1979-05-17
DE2414297C3 true DE2414297C3 (de) 1980-01-17

Family

ID=5911081

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19742414297 Expired DE2414297C3 (de) 1974-03-25 1974-03-25 Verfahren zur teilautomatischen Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2414297C3 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3033900A1 (de) * 1980-09-09 1982-04-29 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Gehaeuseloses schaltungsmodul und verfahren zu seiner herstellung
DE3123241A1 (de) * 1981-06-11 1983-01-20 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum herstellen von einem plattenfoermigen schaltungsmodul

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1052912A (en) * 1975-07-07 1979-04-17 National Semiconductor Corporation Gang bonding interconnect tape for semiconductive devices and method of making same
DE2725260A1 (de) * 1977-06-03 1978-12-14 Nippon Electric Co Rahmen- und leiter-anordnung fuer ein halbleiterbauelement
DE2760435C2 (de) * 1977-06-03 1989-01-26 Nec Corp., Tokio/Tokyo, Jp
DE2752655A1 (de) * 1977-09-23 1979-06-07 Blaupunkt Werke Gmbh Elektronisches bauelement
DE3019207A1 (de) * 1980-05-20 1981-11-26 GAO Gesellschaft für Automation und Organisation mbH, 8000 München Traegerelement fuer einen ic-chip
DE3029667A1 (de) * 1980-08-05 1982-03-11 GAO Gesellschaft für Automation und Organisation mbH, 8000 München Traegerelement fuer einen ic-baustein
US4689719A (en) * 1980-09-25 1987-08-25 Siemens Aktiengesellschaft Housing-free vertically insertable single-in-line circuit module
US4549247A (en) * 1980-11-21 1985-10-22 Gao Gesellschaft Fur Automation Und Organisation Mbh Carrier element for IC-modules
DE3147729A1 (de) * 1981-12-02 1983-06-09 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Zwischentraegerband mit verdrahtungselementen zur bestueckung mit chipbausteinen
DE3235702C2 (de) * 1982-09-27 1985-01-17 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur Herstellung von Filmträgern für Halbleiterchips
DE3235675A1 (de) * 1982-09-27 1984-03-29 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur herstellung von halbleiterchip-filmtraegern
JPS61196546A (ja) * 1985-02-25 1986-08-30 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト フイルムキヤリヤ集積回路とその製造方法
JPS61196564A (ja) * 1985-02-25 1986-08-30 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト フイルムキヤリヤ集積回路とその製造方法
DE3522852C2 (de) * 1985-06-26 1994-06-01 Gao Ges Automation Org Verfahren zur Herstellung eines Zwischenträgers für Halbleiterkörper
EP0218849A1 (de) * 1985-09-12 1987-04-22 Siemens Aktiengesellschaft Trägerband für einen filmmontierten Schaltkreis
DE3608410A1 (de) * 1986-03-13 1987-09-17 Siemens Ag Herstellung von feinstrukturen fuer die halbleiterkontaktierung
DE3731787C2 (de) * 1987-09-22 2000-11-16 Aeg Ges Moderne Inf Sys Mbh Anordnung von mehreren IC's auf einem Bandstreifen aus Isoliermaterial
AT411197B (de) * 2001-02-16 2003-10-27 Datacon Semiconductor Equip Verfahren zum montieren, haltern oder abmontieren eines wafers sowie einrichtung zur durchführung des verfahrens
US6495397B2 (en) * 2001-03-28 2002-12-17 Intel Corporation Fluxless flip chip interconnection

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3033900A1 (de) * 1980-09-09 1982-04-29 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Gehaeuseloses schaltungsmodul und verfahren zu seiner herstellung
DE3123241A1 (de) * 1981-06-11 1983-01-20 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum herstellen von einem plattenfoermigen schaltungsmodul

Also Published As

Publication number Publication date
DE2414297B2 (de) 1979-05-17
DE2414297A1 (de) 1975-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2414297C3 (de) Verfahren zur teilautomatischen Herstellung von Zwischenträgern für Halbleiterbauelemente
EP0689164B1 (de) Verfahren zur Herstellung von Datenträgern
DE2920012C2 (de) Ausweiskarte mit IC-Baustein und Verfahren zur Herstellung einer derartigen Ausweiskarte
DE1465606B1 (de) Geschlossenes Gehaeuse fuer elektronische Bauelemente mit einem isolierenden Koerper und mit diesen Koerper eingebetteten elektrischen Leitungen sowie Verfahren zu dessen Herstellung
DE4446566A1 (de) Mehrpoliges, oberflächenmontierbares, elektronisches Bauelement
EP0723244A2 (de) Datenträger mit einem elektronischen Modul
DE2810054A1 (de) Elektronische schaltungsvorrichtung und verfahren zu deren herstellung
EP0999583B1 (de) Stabilisierung eines Substrats mittels Trägerelement
EP0902973A1 (de) Trägerelement für einen halbleiterchip
EP0521502A1 (de) Verfahren zum Einbau eines Trägerelements
DE102017203365A1 (de) Kameravorrichtung
AT514564B1 (de) Verfahren zum Ankontaktieren und Umverdrahten
DE3110351A1 (de) Verfahren zur herstellung von elektrischen schichtkondensatoren mit glimmpolymerisatschichten als dielektrika
DE3834361C2 (de)
DE102008058287B4 (de) Elektronisches Modul mit einem Dichtelement und Verfahren zum Herstellen des Moduls
EP0638924A1 (de) Verfahren zum Herstellen von TAB-Filmträgern
DE8803653U1 (de) Chipmodul
DE19723847A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer Chipkarten-Transponderfolie sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE102018216126A1 (de) Elektronische Vorrichtung und Verfahren zur Fertigung der elektronischen Vorrichtung
DE69218336T2 (de) Verfahren zur Herstellung eines elektrisch leitenden Kontakts
EP0472086B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Gurten von SMT-fähigen Halbleiterchips und damit bestückte SMD-Platine
DE4204459A1 (de) Filmtraegermontierter integrierter baustein
DE3842572A1 (de) Verfahren zum herstellen eines loetkamms fuer das elektrische und mechanische verbinden von leiterplatten
DE102010005771A1 (de) Verbesserung der Ebenheit durch Freischnitte an den Prägen
DE3235702C2 (de) Verfahren zur Herstellung von Filmträgern für Halbleiterchips

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee