DE2402709B2 - Festkoerperbauelement mit einem duennen film aus vanadinoxyd - Google Patents
Festkoerperbauelement mit einem duennen film aus vanadinoxydInfo
- Publication number
- DE2402709B2 DE2402709B2 DE19742402709 DE2402709A DE2402709B2 DE 2402709 B2 DE2402709 B2 DE 2402709B2 DE 19742402709 DE19742402709 DE 19742402709 DE 2402709 A DE2402709 A DE 2402709A DE 2402709 B2 DE2402709 B2 DE 2402709B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- platinum
- contacts
- film
- vanadium oxide
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 title description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 96
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 48
- XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 40
- 229910001935 vanadium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 39
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 26
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 22
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 21
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 16
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 13
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 9
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 9
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 8
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 claims description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 claims 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 11
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910021542 Vanadium(IV) oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- GRUMUEUJTSXQOI-UHFFFAOYSA-N vanadium dioxide Chemical compound O=[V]=O GRUMUEUJTSXQOI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 2-iodoquinoline Chemical compound C1=CC=CC2=NC(I)=CC=C21 FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QUEDYRXQWSDKKG-UHFFFAOYSA-M [O-2].[O-2].[V+5].[OH-] Chemical compound [O-2].[O-2].[V+5].[OH-] QUEDYRXQWSDKKG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N beryllium oxide Inorganic materials O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- -1 for example Chemical class 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- YMNMFUIJDSASQW-UHFFFAOYSA-N distrontium;oxygen(2-);vanadium Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V].[V].[Sr+2].[Sr+2] YMNMFUIJDSASQW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C7/00—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
- H01C7/04—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having negative temperature coefficient
- H01C7/041—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having negative temperature coefficient formed as one or more layers or coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C7/00—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
- H01C7/04—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having negative temperature coefficient
- H01C7/042—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having negative temperature coefficient mainly consisting of inorganic non-metallic substances
- H01C7/043—Oxides or oxidic compounds
- H01C7/047—Vanadium oxides or oxidic compounds, e.g. VOx
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/14—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
- H01L23/15—Ceramic or glass substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
- Manufacture Of Switches (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
55
Die Erfindung betrifft ein Festkörperbauelement mit einem plattenförmigen Substrat aus einem elektrisch
isolierenden Material, auf dessen einer Oberfläche im Abstand voneinander Metallkontakte und ein dünner
Film aus Vanadinoxyd einen Teil der Metallkontakte überbrückend angeordnet sind.
Es ist bekannt, Kontakte für Festkörperbauelemente aus Vanadinoxyden, wie beispielsweise Vanadindioxyd
(VO2) oder Vanadintrioxyd (V2O3) in der Weise herzustellen, daß geeignete Metalle auf das Festkörperbauelement
durch eine Maske aufgedampft werden. Dieses Aufdampfungsverfahren unterliegt jedoch im
Hinblick auf die Ausgestaltung und die Größe der Kontakte Einschränkungen. Darüber hinaus wird der
Vanadinoxydfilm während des Aufdampfens der Wirkung eines Vakuums ausgesetzt, wodurch in nachteiliger
Weise die Filmeigenschaften beeinflußt werden können. Ferner wird oft ein schlechtes Haften des Metalls an
dem Vanadinoxydfilm festgestellt. Oft ist auch der Kontaktwiderstand zwischen dem Metall und dem
Vanadinoxydfilm sehr hoch.
In den Philips Research Reports, Bd. 22,1967, wird auf
den Seiten 170 bis 177 ein Festkörperbauelement der eingangs genannten Art mit Kontakten aus Aluminium
beschrieben. Zur Herstellung d-eses Festkörperbauelements wird der Vanadindioxydfilm zuerst auf ein
Glas-Substrat aufgebracht, worauf die Aluminiumkontakte über dem Rand des Vanadinoxydfilms aufgetragen
werden. Der Vanadinoxydfilm und die Aluminiumkontakte können mit einer Siliziumdioxydschicht bedeckt
sein.
Es wurde gefunden, daß bei solchen Festkörperbauelementen ein relativ hoher Widerstand zwischen dem
Vanadinoxydfilm und den Metallkontakten in der Größenordnung von 25 bis 100 Ohm auftritt, der
wahrscheinlich auf die Bildung eines Oxyds an der Gienzi'läche. das nicht sehr leitend ist, zurückzuführen
ist. Darü! er hinaus treten erhebliche Kontaktwiderstandsschwankungen
von einem Festkörperbauelement zu dem anderen auf, die nicht toleriert werden können.
Im vorliegenden Falle ist unter dem Kontaktwiderstand
die Summe aus dem Reihenwiderstand in dem Vanadinoxydfilm, der das Kontaktmetall überlappt, dem
Zwischenschichtwiderstand zwischen dem Vanadinoxydfilm und dem Kontaktmetall und dem Reihenwiderstand
in dem Kontaktmetall, das unter dem Vanadinoxyd liegt, zu verstehen.
Aus der DT-OS 17 64 373 ist es bekannt, ein Festkörperbauelement, dessen Festkörper aus Strontiumvanadat
mit sporadischen Vanadinoxydeinschlüssen besteht, mittels Platindrähten zu kontaktieren.
Die Erfindung hat sich die Aufgabe gestellt, bei einem Festkörperbauelement der eingangs genannten Art den
Kontaktwiderstand wesentlich herabzusetzen.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß die Metallkontakte aus Platin bestehen. Im Falle dieses
erfindungsgemäßen Festkörperbauelements liegt der Kontaktwiderstand in reproduzierbarer Weise unterhalb
10 Ohm.
Es war in Kenntnis des Standes der Technik nicht vorherzusehen, daß Metallkontakte aus Platin einen
geringen Kontaktwiderstand zu dem Vanadinoxydfilm ermöglichen. Es liegt an der Kompliziertheit des
Kontaktwiderstands, daß sich nicht ohne weiteres ein Metall anbietet, das einen geringen Kontaktwiderstand
mit Vanadinoxydfilmen gestattet. Die Auswahl der Metallkontakte wird weiter dadurch erschwert, daß
keine Reaktion mit dem aufgebrachten Vanadinoxyds erfolgen darf.
Das Substrat des Festkörperbauelements besteht vorzugsweise aus Saphir, es kann jedoch ebenso aus
einem polykristallinen Aluminiumoxyd, Berylliumoxyd, Quarz oder Glas bestehen. Wird ein Substrat aus Saphir,
Glas oder Quarz verwendet, dann werden zuerst Titankontakte auf dem Substrat abgeschieden, worauf
die Platinkontakte auf die Titankontakte aufgebracht werden, da Platin allein ein schlechtes Haftvermögen an
Saphir, Glas oder Quarz besitzt. Natürlich kann man auch andere reaktive Metalle dazu verwenden, das
Haftvermögen des Platinfilms zu erhöhen.
Zur Verbesserung der Verbindungen zu den Platinkontakten
wird vorzugsweise eine Goldschicht auf den Platinkontakten aufgebracht, um das Verbinden der
Abgabeleitungen mit der Goldschiclit zu erleichtern.
Andere weiche Metalle, beispielsweise Aluminium, können ebenfalls verwendet werden.
Besteht das Substrat aus Saphir oder Quarz oder Glas, dann wird zuerst ein Film aus Titan oder einem
anderer, reaktiven Metall auf dem Substrat aufgebracht, worauf der Platinfilm auf dem reaktiven Metallfilm
aufgebracht wird, um das Haften des Platins an dem Substrat zu verbessern. Die nicht gewünschten Teile
beider Filme werden zusammen unter Zurücklassung von in einem Abstand vorgesehenen Kontakten
entfernt.
Soll eine Gold- oder Aluminiumschicht auf dem Platinfilm aufgebracht werden, dann wird eine derartige
Schieb! auf dem Platinfilm abgeschieden, wobei das Gold oder das Aluminium zuerst von demjenigen Teil
des Platinfilms abgeätzt wird, der mit dem Vanadinoxydfilm kontaktiert werden soll, so daß die Ränder der
Platinkontakte frei bleiben, damit das Vanadinoxyd darauf abgeschieden werden kann. Die nicht gewünschten
Teile des Platinfilms und des Titanfilms werden, falls derartige Filme vorliegen, anschließend entfernt. Abschließend
kann eine Schicht aus Siliciumdioxyd über dem Vanadinoxydfilm sowie über der Gold- oder
Aluminiumschicht aufgebracht werden, um das Festkörperbauelement gegenüber Umgebungseinflüssen zu
schützen und die Stabilität des Films zu verbessern. Natürlich wird tin Teil des Siliciumdioxydfilms entfernt,
um die Gold- oder Aluminiumkontakte freizulegen.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 eine schematische Seitenansicht eines Festkörperbauelements,
F i g. 2 eine Draufsicht auf das Festkörperbauelement von Fig. 1 vor der Aufbringung eines Siliciumdioxydfilms.
Die F i g. 1 und 2 zeigen schematisch ein Festkörperbauelement
mit einem Substrat 10 aus einem elektrisch isolierenden Material, das beispielsweise eine Breite von
0,37 mm , eine Länge von 0,75 mm und eine Dicke von 0,25 mm besitzt. Ein derartiges Substrat besteht aus
einem Saphirmaterial, es kann jedoch auch aus polykristallinem Aluminiumoxyd, Berylliumoxyd, Quarz
oder Glas bestehen. Zwei in einem Abstand angebrachte Kontakte 12 sind an jedem Ende eines derartigen
Substrats vorgesehen, wobei jeder Kontakt aus einem Titanfilm 14, der auf dem Substrat 10 aufgebracht ist,
einem Platinfilm 16, der auf dem Titanfilm 14 aufgebracht ist, und einer Goldschicht 18, die auf dem
Platinfilm 16 aufgebracht ist, besteht. Der Titanfilm kann eine Dicke zwischen 100 und 500 A besitzen,
während die Dicke des Gold- und Platinfilms zwischen 1000 und 5000 Ä schwanken kann. Ein Vanadinoxyd-Film
20, beispielsweise ein Film aus Vanadindioxyd (VO2) oder Vanadintrioxyd (V2O3), wird auf dem
Saphirsubstrat 10 und auf den Rändern der Platinkon takte 16 aufgebracht, um die zwei Platinkontakte zu
überbrücken. Die Dicke des Vanadinoxyd-Films liegt zwischen 1000 und 5000 A. Abschließend wird ein
Überzug 22 aus Siliciumdioxyd mit einer geeigneten Dicke auf der Vanadinoxyd-Schicht 20 aufgebracht, um
das ganze Bauelement gegenüber Umgebungseinflüssen zu schützen.
Das vorstehend beschriebene Substrat kann in einem Standardkopfstück (TO5) befestigt werden, das mit
wenigstens zwei Kontaktstiften sowie Verbindungen zwischen den Stiften und den Goldkontakt 18 über eine
Drahtverbindung versehen ist.
Zur Herstellung des durch die Fig. 1 und 2 wiedergegebenen Festkörperbauelements wird das
Substrat 10 zuerst über seiner ganzen Oberfläche mit einem Titanfilm nach einer bekannten Methode,
beispielsweise durch Zerstäuben, überzogen. Durch eine zweite Zerstäubung wird ein Film aus Platin auf dem
Titanfilm aufgebracht. Abschließend wird eine dritte Schicht aus Gold ebenfalls nach bekannten Methoden
über dem Platinfilm zerstäubt oder auf diesen aulgedampft. Unter Anwendung eines an sich bekannten
Photoresist-Verfahrens sowie unter Einsatz einer photographischen Maske zur Ausbildung des Goldmusters
wird der Goldfilm von dem zentralen Teil des Substrats IvJ weggeätzt, wodurch die Goldkontakte 18
freigelegt werden, wie aus den F i g. 1 und 2 hervorgeht. Dann werden nach einem weiteren Photoresist-Verfahren
die Platin- und Titanfilme von dem zentralen Abschnitt des Substrats weggeätzt, jedoch in einem
etwas geringeren Ausmaß, so daß die Schultern zurückbleiben, auf denen, wie aus F i g. 1 hervorgeht, der
Vanadinoxydfilm aufgebracht wird. Der Vanadinoxydfilm 20 wird unter Anwendung eines reaktiven
Zerstäubungsverfahrens bei einer Temperatur von ungefähr 4000C in einer Argon/Sauerstoff-Atmosphäre
aufgebracht. Die Sauerstoffdrucke liegen zwischen 0,7 und 2,5 mTorr, während der Gesamtdruck mit Argon
auf 7,5 mTorr gebracht wird. Die Hochfrequenzleistung bei der Durchführung des Zerstäubungsverfahrens
beträgt ungefähr 350 W. Dabei wird eine Abscheidungsgeschwindigkeit erzielt, die mit zunehmendem Sauerstoffdruck
zwischen 50 und 35 A/Minute schwankt. Ein derartiges Verfahren wird näher in einem Artikel
beschrieben, der die Überschrift »Transport and Structural Properties of VO2 Films« trägt und von
Clarence C. Y. K w a η et al in »Applied Physics Letters«, Band 20, Nr. 2, 15. Januar 1972, veröffentlicht
ist. Natürlich kann man auch andere Methoden anwenden, um den Vanadinoxydfilm 20 auf das Substrat
aufzubringen. Der Vanadinoxydfilm liegt in polykristallinem Zustand vor und bedeckt den mittleren Teil des
Substrats 10 sowie die Ränder der Platinschicht 10 und kann in Reihe mit den Kontakten 18 verbunden werden.
Das Vanadinoxydmuster wird anschließend nach einem Photoresist-Verfahren ausgebildet, wobei der Vanadinoxydfilm
von den Goldkontakten 18 abgeätzt wird. Abschließend wird der Vanariinoxydfilm mit einem
Überzug aus Siliciumdioxyd bedeckt, um das Bauelement gegenüber der Umgebung zu schützen und die
Stabilität des Films zu verbessern. Natürlich muß der Siliciumdioxydfilm so weit abgeätzt werden, daß die
Goldkontakte freigelegt werden.
Die vorstehend beschriebenen Ätzungen werden vorzugsweise chemisch durchgeführt, wenn Gold, Titan,
Siliciumdioxyd und Vanadinoxyd entfernt werden sollen, während Platin vorzugsweise unter Anwendung
einer Sprühätzmethode entfernt wird.
Es wurde gefunden, daß Platin einen sehr guten Kontakt mit Vanadinoxydfilmen bildet. Platin ist bei
400°C stabil, d.h. bei der Temperatur, die zum Versprühen von Vanadinoxyd auf die Ränder der
Platinkontakte 16 eingehalten wird. Ferner erfolgen keine chemischen Reaktionen zwischen Vanadinoxyd
und Platin bei der vorstehend angegebenen Temperatur. Die vorstehend angegebenen Bedingungen ermöglichen
einen niedrigohmigen Kontaktwiderstand sowie ein
gutes Haften zwischen dem Vanadinoxydfilm und dem Platinfilm.
Platin allein haftet nicht gut an Saphir, Glas oder Quarz. Wird daher ein Substrat aus Saphir, Glas oder
Quarz verwendet, dann wird zuerst ein Titanfilm auf dem Substrat aufgebracht, worauf der Platinfilm auf den
Titanfilm aufgebracht wird. Andere reaktive Materialien zur Erhöhung des Haftens des Platinfilms können
ebenfalls verwendet werden, beispielsweise Vanadin, Molybdän und Tantal.
Die Abgabeleitungen des Bauelements können direk! mit dem Platinfilm verbunden werden, wobei jedoch eir
Schweißen oder ein anderweitiges Verbinden schwierig durchzuführen ist. Folglich wird zuerst eine Goldschich
18 auf dem Platinfiim 16 aufgebracht, worauf die
Abgabedrähte mit den Goldkontakten 18 verschweiß werden. In ähnlicher Weise kann man andere weichf
Metalle, beispielsweise Aluminium, zur Erleichterung des Befestigens der Leitungen verwenden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (8)
1. Festkörperbauelement mit einem plattenförmigen Substrat aus einem elektrisch isolierenden
Material, auf dessen einer Oberfläche im Abstand voneinander Metallkontakte und ein dünner Film
aus Vanadinoxyd einen Teil der Metallkontakte überbrückend angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet,
daß die Metallkontakte (16) aus Platin bestehen.
2. Festkörperbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Plaiinkontakte (16)
auf auf dem Substrat (10) angeordneten Titankontckten (14) abgeschieden sind.
3. Festkörperbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Goldschicht (18) auf
den Platinkontakten (16) aufgebracht ist.
4. Festkörperbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Aluminiumschicht
(18) auf den Platinkontakten (16) aufgebracht ist.
5. Verfahren zur Herstellung eines Festkörperbauelements nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Platinfilm auf einem Substrat (10) aus einem elektrisch isolierenden Material aufgebracht
wird. Teile des Platinfilms unter Zurücklassung von in einem Abstand angebrachter Platinkontakte
(16) entfernt werden, ein dünner Vanadinoxydfilm (20) auf dem Substrat und auf den Platinkontakten
aufgebracht wird und das Vanadinoxyd von einem Teil der Platinkontakte unter Zurücklassung
von Vanadinoxyd entfernt wird, das die Ränder der Platinkontakte überbrückt.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß auf einem Substrat (10) aus Saphir,
Glas oder Quarz zuerst ein Titanfilm (14) und der Platinfilm auf dem Titanfilm aufgebracht wird und
Teile beider Filme zusammen entfernt werden.
7. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß eine Schicht (18) aus Gold oder
Aluminium auf dem Platinfilm aufgebracht wird, daß diese Schicht zuerst von dem Teil der Platinschichi
abgeätzt wird, die mit dem Vanadinoxyd kontaktiert werden soll, so daß die Ränder der Platinkontakte
(16) für die Aufbringung des Vanadinoxyds unbedeckt zurückbleiben.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß eine Schicht (22) aus Siliciumdioxyd auf
dem Vanadinoxydfilm sowie auf der Schicht aus Gold oder Aluminium aufgebracht wird, worauf das
Siliciumdioxyd über den Gold- oder Aluminiumkontakten entfernt wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US335651A US3886578A (en) | 1973-02-26 | 1973-02-26 | Low ohmic resistance platinum contacts for vanadium oxide thin film devices |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2402709A1 DE2402709A1 (de) | 1974-09-05 |
DE2402709B2 true DE2402709B2 (de) | 1977-11-03 |
DE2402709C3 DE2402709C3 (de) | 1978-06-29 |
Family
ID=23312698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2402709A Expired DE2402709C3 (de) | 1973-02-26 | 1974-01-21 | Festkörperbauelement mit einem dünnen Film aus Vanadinoxyd |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3886578A (de) |
JP (1) | JPS5529562B2 (de) |
AU (1) | AU465334B2 (de) |
BE (1) | BE811337A (de) |
CA (1) | CA1019039A (de) |
DE (1) | DE2402709C3 (de) |
FR (1) | FR2219606B1 (de) |
GB (1) | GB1408122A (de) |
NL (1) | NL7401619A (de) |
SE (1) | SE387038B (de) |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2311410A1 (fr) * | 1975-05-13 | 1976-12-10 | Thomson Csf | Circuit de commutation integre, matrice de commutation et circuits logiques utilisant ledit circuit |
FR2318442A1 (fr) * | 1975-07-15 | 1977-02-11 | Kodak Pathe | Nouveau produit, notamment, photographique, a couche antistatique et procede pour sa preparation |
US4025793A (en) * | 1975-10-20 | 1977-05-24 | Santa Barbara Research Center | Radiation detector with improved electrical interconnections |
US4168343A (en) * | 1976-03-11 | 1979-09-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Thermal printing head |
US4087778A (en) * | 1976-04-05 | 1978-05-02 | Trw Inc. | Termination for electrical resistor and method of making the same |
DE2952161A1 (de) * | 1979-12-22 | 1981-06-25 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Duennfilmschaltung |
JPS5817649A (ja) * | 1981-07-24 | 1983-02-01 | Fujitsu Ltd | 電子部品パツケ−ジ |
JPS58104675U (ja) * | 1982-01-09 | 1983-07-16 | キング商事株式会社 | 連続伝票発行器 |
US4772935A (en) * | 1984-12-19 | 1988-09-20 | Fairchild Semiconductor Corporation | Die bonding process |
EP1011111A1 (de) * | 1988-02-26 | 2000-06-21 | Gould Electronics Inc. | Metallische Widerstandsschichten und Verfahren zu ihrer Herstellung |
US5280194A (en) * | 1988-11-21 | 1994-01-18 | Micro Technology Partners | Electrical apparatus with a metallic layer coupled to a lower region of a substrate and metallic layer coupled to a lower region of a semiconductor device |
KR0133730B1 (ko) * | 1988-11-21 | 1998-04-23 | Pulse Microwave M | 링 쿼드에 있어서 쇼트키-배리어 다이오드 용 빔리드 |
US5403729A (en) * | 1992-05-27 | 1995-04-04 | Micro Technology Partners | Fabricating a semiconductor with an insulative coating |
US5592022A (en) * | 1992-05-27 | 1997-01-07 | Chipscale, Inc. | Fabricating a semiconductor with an insulative coating |
US5656547A (en) * | 1994-05-11 | 1997-08-12 | Chipscale, Inc. | Method for making a leadless surface mounted device with wrap-around flange interface contacts |
AU2659995A (en) * | 1994-06-09 | 1996-01-04 | Chipscale, Inc. | Resistor fabrication |
US5672913A (en) * | 1995-02-23 | 1997-09-30 | Lucent Technologies Inc. | Semiconductor device having a layer of gallium amalgam on bump leads |
US5801383A (en) * | 1995-11-22 | 1998-09-01 | Masahiro Ota, Director General, Technical Research And Development Institute, Japan Defense Agency | VOX film, wherein X is greater than 1.875 and less than 2.0, and a bolometer-type infrared sensor comprising the VOX film |
DE10045195B4 (de) * | 1999-09-22 | 2008-04-10 | Epcos Ag | Thermistor und Verfahren zu dessen Herstellung |
EP1261241A1 (de) * | 2001-05-17 | 2002-11-27 | Shipley Co. L.L.C. | Widerstand und Leiterplatte, die den Widerstand in ihre Struktur einbettet |
WO2003046265A2 (en) * | 2001-11-26 | 2003-06-05 | Massachusetts Institute Of Technology | Thick porous anodic alumina films and nanowire arrays grown on a solid substrate |
KR100734830B1 (ko) * | 2005-01-14 | 2007-07-03 | 한국전자통신연구원 | 전하방전수단을 포함하는 리튬 2차전지 |
US8228159B1 (en) | 2007-10-19 | 2012-07-24 | University Of Central Florida Research Foundation, Inc. | Nanocomposite semiconducting material with reduced resistivity |
DE102011056951A1 (de) * | 2011-12-22 | 2013-06-27 | Helmholtz-Zentrum Dresden - Rossendorf E.V. | Thermochromes Einzel- und Mehrkomponentensystem, dessen Herstellung und Verwendung |
CN109791838B (zh) * | 2016-10-07 | 2022-07-19 | 世美特株式会社 | 焊接用电子零件、安装基板及温度传感器 |
US11460353B2 (en) * | 2017-05-01 | 2022-10-04 | Semitec Corporation | Temperature sensor and device equipped with temperature sensor |
CN108495485A (zh) * | 2018-04-09 | 2018-09-04 | 陈长生 | 一种多层印制板嵌入电阻制作方法 |
US12146800B2 (en) * | 2018-08-10 | 2024-11-19 | Semitec Corporation | Temperature sensor and device equipped with temperature sensor |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3402131A (en) * | 1964-07-28 | 1968-09-17 | Hitachi Ltd | Thermistor composition containing vanadium dioxide |
GB1113686A (en) * | 1964-10-23 | 1968-05-15 | Ass Elect Ind | Improvements in or relating to tantalum thin film electrical components |
US3560256A (en) * | 1966-10-06 | 1971-02-02 | Western Electric Co | Combined thick and thin film circuits |
US3562040A (en) * | 1967-05-03 | 1971-02-09 | Itt | Method of uniformally and rapidly etching nichrome |
US3483110A (en) * | 1967-05-19 | 1969-12-09 | Bell Telephone Labor Inc | Preparation of thin films of vanadium dioxide |
US3616348A (en) * | 1968-06-10 | 1971-10-26 | Rca Corp | Process for isolating semiconductor elements |
US3614480A (en) * | 1969-10-13 | 1971-10-19 | Bell Telephone Labor Inc | Temperature-stabilized electronic devices |
US3667008A (en) * | 1970-10-29 | 1972-05-30 | Rca Corp | Semiconductor device employing two-metal contact and polycrystalline isolation means |
-
1973
- 1973-02-26 US US335651A patent/US3886578A/en not_active Expired - Lifetime
-
1974
- 1974-01-08 GB GB83574A patent/GB1408122A/en not_active Expired
- 1974-01-21 DE DE2402709A patent/DE2402709C3/de not_active Expired
- 1974-01-24 AU AU64864/74A patent/AU465334B2/en not_active Expired
- 1974-02-06 NL NL7401619A patent/NL7401619A/xx unknown
- 1974-02-19 CA CA192,886A patent/CA1019039A/en not_active Expired
- 1974-02-20 BE BE141186A patent/BE811337A/xx unknown
- 1974-02-21 FR FR7406024A patent/FR2219606B1/fr not_active Expired
- 1974-02-22 JP JP2131774A patent/JPS5529562B2/ja not_active Expired
- 1974-02-26 SE SE7402536A patent/SE387038B/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3886578A (en) | 1975-05-27 |
SE387038B (sv) | 1976-08-23 |
JPS49117959A (de) | 1974-11-11 |
FR2219606A1 (de) | 1974-09-20 |
NL7401619A (de) | 1974-08-28 |
JPS5529562B2 (de) | 1980-08-05 |
DE2402709C3 (de) | 1978-06-29 |
DE2402709A1 (de) | 1974-09-05 |
AU6486474A (en) | 1975-08-21 |
AU465334B2 (en) | 1975-09-25 |
GB1408122A (en) | 1975-10-01 |
FR2219606B1 (de) | 1979-01-05 |
CA1019039A (en) | 1977-10-11 |
BE811337A (fr) | 1974-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2402709C3 (de) | Festkörperbauelement mit einem dünnen Film aus Vanadinoxyd | |
DE3632209C2 (de) | ||
DE3906018A1 (de) | Verfahren zum einkapseln von leitern | |
DE2729030A1 (de) | Verfahren zum erzeugen eines mehrschichtigen leiterzugsmusters bei der herstellung monolithisch integrierter schaltungen | |
DE1283970B (de) | Metallischer Kontakt an einem Halbleiterbauelement | |
DE1614872A1 (de) | Vielschichtiges Leitungssystem mit ohmischen Kontakten fuer integrierte Schaltkreise | |
DE2314731B2 (de) | Halbleiteranordnung mit höckerartigen Vorsprüngen auf Kontaktflecken und Verfahren zur Herstellung einer solchen Halbleiteranordnung | |
DE2033532B2 (de) | Halbleiteranordnung mit einer Passivierungsschicht aus Siliziumdioxid | |
DE2509912B2 (de) | Elektronische Dünnfilmschaltung | |
DE1927646B2 (de) | Verfahren zur herstellung einer halbleiteranordnung | |
DE69024728T3 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Elektrode zur elektrischen Kontaktierung eines Oxyd-Supraleiters | |
EP0016263B1 (de) | Dünnschichtwiderstand mit grossem Temperaturkoeffizienten und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE2039027C3 (de) | Halbleiteranordnung mit einem Träger aus Isoliermaterial, einem Halbleiterbauelement und einem Anschlußfleck | |
EP0090820B1 (de) | Elektronische dünnschichtschaltung und deren herstellungsverfahren | |
DE1764937C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Isolationsschichten zwischen mehrschichtig übereinander angeordneten metallischen Leitungsverbindungen für eine Halbleiteranordnung | |
DE1665248C3 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Trägers für eine miniaturisierte Schaltung | |
DE1439529B2 (de) | : Halbleiterbauelement mit einem planaren Halbleiterelement auf einer Kontaktierungsplatte und Verfahren zum Herstellen desselben | |
DE2057204C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Metall-Halbleiterkontakten | |
DE1924845C3 (de) | Halbleiteranordnung mit metallischen Kontakten und/oder metallischen Verbindungsschichten | |
DE1540175C (de) | Verfahren zur Herstellung von Kon takten | |
DE1514668B2 (de) | Verfahren zum herstellen von chrom- silber-kontakten auf halbleiterbauelementen | |
DE4139908A1 (de) | Halbleiteranordnung mit metallschichtsystem sowie verfahren zur herstellung | |
DE1514668C3 (de) | Verfahren zum Herstellen von Chrom-Silber-Kontakten auf Halbleiterbauelementen | |
DE2406578A1 (de) | Verfahren zur herstellung integrierter halbleiterschaltungen | |
DE2155056C3 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Tantalnitrid-Dünnschicht-Widerstandsschaltung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
EGA | New person/name/address of the applicant | ||
8330 | Complete renunciation |