DE2255210A1 - Datenspeicherschaltung - Google Patents
DatenspeicherschaltungInfo
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Description
7461-72/kö/S
RCA Docket No.: 64,226
Convention Date:
November 22, 1971
RCA Docket No.: 64,226
Convention Date:
November 22, 1971
RCA Corporation, New York, N.Y., V.St.A,
Datenspeicherschaltung
Die Erfindung betrifft eine Datenspeicherschaltung mit
einem Halbleiterbauelement, das zwei ,verschiedene Zustände annehmen
kann. Die Datenspeicherschaltung ist für Schieberegister, ins besondere für dynamische Schieberegister, in denen Information
statisch speicherbar ist, geeignet.
Dynamische Schieberegister erfordern normalerweise weniger Schaltungselemente und sind daher weniger kostspielig als statische
Schieberegister. Jedoch verwenden dynamische Schieberegister Kondensatoren für die zeitweilige Speicherung, und während des
Umlaufs der gespeicherten Daten muß Energie in die Register eingegeben werden, um den Ladungsverlust in diesen Kondensatoren zu
kompensieren. Dynamische Schieberegister kommen daher im allgemeinen mit einem geringeren Schaltungsaufwand aus als statische
Schieberegister,- benötigen jedoch mehr Betriebsenergie, und auße£
dem ist wie bei anderen dynamischen Systemen die Möglichkeit des Auftretens von Fehlern verhältnismäßig groß, da die einzelnen
Stufen ständig zwischen verschiedenen Betriebszuständen geschaltet werden. Ein weiterer Nachteil von mit Halbleiterbauelementen
arbeitenden Schieberegistern besteht darin, daß die gespeicherte Information zerstört werden kann, wenn die Energiezufuhr auch nur
kurzzeitig unterbrochen wird.
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omm.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Datenspeicher^
schaltung zu schaffen, die bei einem Schaltungsaufwand, der mit dem von dynamischen Schaltungen vergleichbar ist, die obigen
Schwierigkeiten vermeidet.
Eine Datenspeicherschaltung der eingangs genannten Art ist erfindungsgemäß gekennzeichnet durch eine Einrichtung, die zur
dynamischen Übertragung von binären Datenbits durch die Speicher^
schaltung das Halbleiterbauelement auf den einen Zustand einstellt und in diesem Zustand hält; und durch eine Einrichtung
zum statischen Speichern der Datenbits mit einer Einrichtung, die bei Empfang einer Steuerspannung und des der Schaltung zugeleiteten
Bits das Halbleiterbauelement, wenn das zugeleitete Bit den einen Wert hat, in den einen Zustand und, wenn das zugeleitete
Bit den anderen Wert hat, in den anderen Zustand schaltet. Es wird also je nach dem Wert des eingegebenen Datenbits die Schwellenspannung
des Halbleiterbauelements auf entweder den einen oder den anderen der beiden Zustände eingestellt.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand der Zeichnung im einzelnen erläutert. Es zeigen:
Figur 1 ein idealisiertes Diagramm der Schwellenspannung (V s als Funktion der angelegten Gate-Substrat-Spannung eines für
die erfindungsgemäße Schaltung verwendbaren MNOS-Transistors;
Figur 2 ein die Arbeitscharakteristik eines MNOS-Transistors mit den Eigenschaften nach Figur 1 wiedergebendes Diagramm;
Figur 3 das Schaltschema eines Schieberegisters mit erfindungsgemäßer
Datenspeicherschaltung; und
Figur 4 ein Diagramm, das in der Schaltung nach Figur 3 auftretende
Signal- und Spannungsverläufe wiedergibt.
Ein bekannter Typ von Halbleiterbauelementen, der für die erfindungsgemäße Datenspeicherschaltung geeignet ist, hat eine
veränderliche Schwellenspannung (V_), die auf elektrischem Wege
auf je einen von mehreren Werten eingestellt werden kann, indem man zwischen die Steuerelektrode (Gate-Elektrode) und das Substrat
des Bauelements eine Spannung mit einer einen gegebenen Wert
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übersteigenden Amplitude legt, wobei die eingestellte Schwellenspannung;
(VT) über einen erheblichen Zeitraum erhalten bleibt. Zu
dieser Klasse von Halbleiterbauelementen gehören Feldeffekttransistoren
mit einem MIS-Aufbau (Metall-Isolator-IIalbleiter), in
dem Ladung gespeichert werden kann;
Ein spezielles, .jedoch nicht einschränkend aufzufassendes
Beispiel hierfür ist ein Feldeffekttransistor, dessen Isolierschicht
aus einer Siliciumnitrid-Siliciumdioxyd-Doppelschicht besteht
und der gewöhnlich als MNOS-Transistor (Metall-Nitrid-Oxyd-Silicium)
bezeichnet wird. Ein solcher MNOS-Transistor kann nach üblichen Verfahren für MOS-Transistoren (MetaLl-O.xyd-Halblei.ter)
hergestellt werden, außer daß unmittelbar vor dem Metallisierung^ Vorgang das Gate-Oxyd sehr dünn gemacht und zwischen dem Silicium
dioxyd und der Gate-Elektrode eine Nitridschicht angebracht wird. Der so erhaltene Transistor kann entweder einen P-Kanal' oder
einen N-Kanal haben und weist zwei die beiden Enden des stromführenden
Kanals bildende Hauptelektroden sowie eine Gate-Elektrode zum Steuern der Stromleitung im Kanal auf. Der Transistor hat die
gleichen allgemeinen Eigenschaften wie ein herkömmlicher MOS-Transistor, außer daß aufgrund der zusätzlichen isolierenden Nitridschicht
über dem dünnen Oxydgebiet an oder nahe der Grenzfläche zwischen den beiden Isolatoren Ladung gespeichert werden
kann, so daß sich die in Figur 1 und 2 gezeigten Charakteristiken ergeben.
Figur 1 zeigt in idealisierter Darstellung die Hysteresischarakteristik
der Schwellenspannung V als Funktion der anliegenden Gate-Substrat-Spannung (V.oo)- für einen P-Kanal-MNOS-Feldeffekttransistor.
V ist definiert als diejenige Gate-Source-Spannung,
bei der ein Stromfluß im Kanal des Feldeffekttransistors einsetzen
kann. Der mit V-. bezeichnete Punkt entspricht dem Tiefwert von
V , und der mit V1^ bezeichnete Punkt entspricht dem Hochwert von
Vr . 'beispielsweise kann V den Wert -2 Volt und V „ den Wert
-10 Volt haben. Die Bezugsspannungen -Vn„„ und Vtl_„ sind diejeni-
KLr Ktr
gen Gate-Source-Spannungen, bei denen der Feldeffekttransistor
seinen Zustand ändert, d.h, umschaltet. Die Werte von V und
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V rr hängen von dem .jeweils verwendeten Bauelement sowie von der
verwendeten Impulsbreite ab; im vorliegenden Fall sei vorausgesetzt,
daß diese Werte zwischen -15 Volt und +15 Volt liefen. Das heißt, wenn zwischen Gate und Substrat (oder Halbleiterkörper)
eine Spannung: von 15 Volt in einer die Stromleitung unterbindenden
Polarität gelegt wird, schaltet der Transistor auf die niedrige Schwellenspannung (V-), während bei Anlegen einer
Spannung von 15 \rolt zwischen Gate und Substrat (oder Halbleiterkörper)
in einer die Stromleitung bewirkenden Polarität der Transistor auf die hohe Schwellenspannung (VTIJ) schaltet.
Figur 2 zeigt die Arbeitscharakteristik des P-Kanal-MNOS-Feldeffekttransistors
mit der Hysteresischarakteristik nach Figur 1. Für den einen Zustand (Kurve A) beträgt die Schwellenspannung
(VTI ) -2 Volt, während sie für den anderen Zustand (Kurve B) -10
Volt (VT„) beträgt. Das heißt, im einen Fall (Kurve A) erfolgt
Stromleitung, wenn die Gate-Elektrode um 2 Volt negativer ist als die Source-Elektrode, und im anderen Fall (Kurve B) erfolgt Strom
leitung, wenn die Gate-Elektrode um 10 Volt negativer ist als die Source-Elektrode. Sobald die Schwellenspannung V_ einmal eingestellt
ist, verhält sich der MNOS-Transistor wie ein MOS-Transistor mit dieser gegebenen Schwellenspannung, vorausgesetzt,
daß die Gate-Spannung nicht den Wert der einen oder der anderen Pezugsspannung über st e irrt.
Die Schaltungsanordnung nach Figur ,3 enthält zwei Stufen
eines η-stufigen Schieberegisters, wobei die einzelnen Stufen identisch ausgebildet sind. Jede Stufe hat einen ersten Abschnitt
(P-Kanal-Feldeffekttransistoren Tl, T2, T3), der durch einen
ersten Taktimpuls (φ-.) gesteuert wird, und einen zweiten Abschnitt
(P-Kanal-Feldeffekttransistoren T4, T5, TC), der durch
einen zweiten Taktimpuls (φ?) gesteuert wird. Der die Datensignale
empfangende Eingang 16 ist an die Gate-Elektrode des verstärkenden
und polaritätsumkehrenden Transistors Tl angeschlossen. Die Source-Drain-Strecke dieses Transistors Tl liegt zwischen
einem Anschluß 3, dem eine Betriebsspannung Y' zugeleitet ist, und einem Schaltungspunkt 30. Die Source-Drain-Strecke des als
Last arbeitenden Transistors T? liegt /wischen dom Schaltung?:-
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punkt 30 und einem-Anschluß 5, dem eine Betriebsspannung: Vßl zu
geleitet ist. Die Source-Drain-Strecke des als Torelement arbeitenden
Transistors T3 liegt zwischen dem Schaltungspunkt 30 und der Gate-Elektrode 46 des Transistors T4. Ein Anschluß 7, dem
der φ..-Taktimpuls zugeleitet ist, ist an die Gate-Elektrode 26
des Transistors T2 und an die Gate-Elektrode 3 6 des Transistors
T3 angeschlossen.
Der als Verstärker und Polaritätsumkehrer arbeitende Transistor T4 ist ein MNOS-Feldeffekttransistor mit den oben erläutei?
ten, in Figur 1 und 2 wiedergegebenen Eigenschaften. Um ihn von
den anderen Transistoren der Stufe zu unterscheiden, sind bei ihm zwischen der Gate-Elektrode und dem Halbleiterkörper Strichelchen
gezeichnet. Die Source-Drain-Strecke des Transistors T4 liegt zwischen einem Schaltungspunkt 60 und einem Anschluß 9* dem eine
Betriebsspannung Vc„ zugeleitet ist. Die Source-Drain-Strecke des
als Last arbeitenden Transistors T5 liegt zwischen dem Schaltung^ punkt 60 und einem Anschluß 11, dem eine Betriebsspannung V^? zugeleitet
ist. Die Source-Drain-Strecke des als Torelement arbeitenden Transistors T6 liegt zwischen dem Schaltungspunkt 60 und
der Gate-Elektrode l6a eines Transistors TIa. Ein Anschluß 13, dem
der φ„-Taktimpuls zugeleitet wird, ist an die Gate-Elektrode 56
des Transistors T5 und an die Gate-Elektrode 66 des Transistors Τ6 angeschlossen. Die gestrichelt dargestellten Kondensatoren Cl
und C2 stellen die Gesamtkapazität der Schaltungspunkte 16 bzw.
46 dar. Diese Kondensatoren speichern zeitweilig die den entsprechenden
Schaltungspunkten zugeleitete Ladung.
Die zweite Stufe (sowie die nicht gezeigten nachgeschalteten weiteren Stufen) ist in ihrem Aufbau und in ihrer Arbeitsweise
der ersten Stufe identisch, und ihre entsprechenden Schaltungselemente sind mit den gleichen Bezugszeichen wie die betreffenden
Schaltungselemente der ersten Stufe, jedoch mit angefügtem Kleinbuchstaben a bezeichnet.
Die Arbeitsweise der Schaltungsanordnung nach Figur 3 wird
am besten an Hand der Signalverlaufe nach Figur 4 verständlich.
Während des Zeitintervalls Pl sind sämtliche MNOS-Transistoren
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- 6 - 225521t)
auf den Zustand ihrer niedrigen Schwellenspannung (V ) von -2
Volt eingestellt, die ungefähr gleich der Schwellenspannung V
der MOS-Transistoren der Schaltung ist. Die Schwellenspannung \'
des MNOS-Transistors braucht nicht genau gleich der Schwellenspannung
V der MOS-Transistoren zu sein, muß ,-jedoch in der Nähe
dieser Schwellenspannung liegen. Unter dieser Voraussetzung arbeitet das Schieberegister als ein herkömmliches dynamisches Register
mit Informationsübertragung von Stufe zu Stufe durch das
Register. Um die MNOS-Transistoren auf den V -Zustand einzustellen, wird zwischen Gate-Elektrode und Halbleiterkörper der
Transistoren eine Sperrspannung von 20 Volt gelegt. Zu diesem Zweck werden die Spannungen V„ und V^. auf +20 Volt und die Spari
nungen V„„, V sowie die Taktimpulse φ1 und ψ auf 0 Volt geschaltet
.
Bei V01 = + 20 Volt und ψ = 0 Volt ist der Transistor T2
leitend und erscheint am Schaltungspunkt ,30 im wesentlichen die volle Vp -Spannung von +20 Volt. Bei V„. = +20 Volt ist der Transistor
Tl, dessen Gate-Spannung entweder 0 oder -10 Volt beträgt, ebenfalls leitend und liegt am Schaltungspunkt 30 im wesentlichen
die volle VC1 -Spannung. Selbst wenn der Transistor Tl gesperrt
wäre, würd-e die Spannung von +20 Volt am Schaltungspunkt 30 dadurch nicht beeinflußt. Der Transistor T3 ist leitend, da seine
(dem Schaltungspunkt 30 gemeinsame) Source-Elektrode +20 Volt und seine Gate-Elektrode 36 eine Spannung von 0 Volt (^1 =0)
führt. Es gelangt daher zur Gate-Elektrode 46 des Transistors T4
im wesentlichen die volle Spannung von +20 Volt von Vni und V
U X öl
Die Spannung von +20 Volt an der Gate-Elektrode des Transistors T4 ergibt sich durch Aufladung der Gate-Kapazität über die Kanäle
der Transistoren T2 und T3. Dies beansprucht eine endliche Zeitspanne.
Bei V_ = 0 Volt und φ2 = 0 Volt sind die Transistoren T5
und T6 gesperrt und ist der Schaltungspunkt 60 an keinerlei Poteri
tial angeklammert. Da dem Schaltungspunkt 60 niemals eine positive
Spannung zugeführt ist, beträgt sein Potential 0 Volt oder weniger. Mithin führt die an den Schaltungspunkt 60 angeschlossene
Elektrode (Drain-Elektrode) des Transistors T4 eine Spannung
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von höchstens O Volt, und die an den Anschluß 9 angeschlossene
Elektrode (Source-Elektrode) des Transistors T 4 führt die Spannung
V0, die ebenfalls 0 Volt beträgt. Der Transistor T4 führt
daher an seiner Gate-Elektrode eine Spannung von +20 Volt und an seiner Source-Drain-Strecke eine Spannung von 0 Volt, und
durch diese Spannungen xtfird der Transistor T4 (sowie sämtliche
entsprechenden MNOS-Transistoren in den anderen Registerstufen)
auf den niedrigen Schwellenspannungszustand (V T) eingestellt.
Bei auf ungefähr -2 Volt eingestelltem V„, der MNOS-Transistoren
und bei ungefähr auf dem gleichen Wert befindlichem V
der übrigen MOS-Transistoren kann das Register als ein übliches dynamisches Schieberegister betrieben werden. Die dem Register
während dieser Phase zugeleiteten Spannungen sind in Figur 4 für das Zeitintervall P 2 gezeigt. Die während des Intervalls P2 den
Transistoren zugeleiteten Spannungen werden zwischen 0 und -10
Volt fehalten, um sicherzustellen, daß die MNOS-Transistoren
nicht über den kritischen Wert von 15 Volt hinaus beansprucht werden. Die normale Betriebsart einer Stufej die allgemein bekannt
ist, ist in Kürze wie folgt:
Ein Dateneincangssignal, das entweder 0 Volt (willkürlich
definiert als binäre "0") oder -10 Volt (willkürlich definiert
als binäre "1") betragen kann, wird dem Dateneingang 16 zugeleitet.
Dieses Datensignal wird mittels eines aktivierenden A1-Taktimpulses
in den ersten Abschnitt eingeschleust und vorübergehend (in polaritätsverkehrter Form) in der Schaltungskapazität
(C2) des zweiten Abschnitts gespeichert. Das vorübergehend gespeicherte Signal wird vom Schaltungsounkt 4^ unter Steuerung
durch einen φ_-Taktimpuls zum Aussrangspunkt 16a übertragen und
dabei abermals in seiner Polarität umgekehrt. Der Schaltungspunkt l6a ist natürlich der Signaleingang für die nächstfolgende Stufe.
Während des dynamischen Betriebs können beide Taktimpulse φ., und
<)>2 den Wert 0 Volt haben, .-jedoch dürfen nicht beide gleichzeitig
den Wert -10 Volt (Aktivierungswert·) haben. Während des dynamischen betriebs sind normalerweise zunächst φ.. = -10 und φ0 = 0,
dann φ.. - φ — 0, dann φ1 = O und φ0 = -10, dann ^1 = <j>„ = 0,
woraufhin sich do.r /'.yklus wiederholt.
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Wenn φ1 , das normalerweise 0 Volt ist,, auf -10 Volt schaltet,
werden die Transistoren T3 und T2 eingeschaltet (leitend).
V.ei leitendem Transistor Tl (d.h. -10 Volt an seiner Gate-Elektrode)
sind die Transistoren Tl und T2 beide leitend, indem ihre Source-Drain-Strecken in Reihe zwischen \' (-10 Volt) und \'
(0 Volt:) liegen. Die Transistoren sind so anpef ertigt, daß die
Impedanz des Last -Transistors T2 im leitenden Zustand erheblich größer ist als die des Verstärker-Transistors Tl. Aufgrund von
Spannungstei 1 erviirkung liegt daher die Spannung am Schaltungspunkt 30 nahe bei Massepotential, und es sei hier vorausgesetzt,
daß sie tatsächlich auf Massepotential (0 Volt) liegt. Der Tor-Transistor
T3 mit -10 Volt an seiner Gate-Elektrode ist leitend und koppelt das 0-\ olt-Signal am Schaltungspunkt .10 zur Gate Elektrode
46, die den Kondensator C2 auf 0 Volt auflädt.
Wenn φ auf -10 Volt schaltet, leiten bei gesperrtem Transistor
Tl (d.h. 0 Volt an seiner Gate-Elektrode) die Transistoren T2 und T3 im Source-Folgerbetrieb, wodurch die Spannung an
der Gate-Elektrode 46 des Transistors T4 in negativer Richtung gegen -10 Volt gedrückt wird. Aufgrund der Schwellenspannungsabfälle
der Transistoren T2 und T3 (voraussetzungsgemäß -2 Volt) wird die Spannung an der Gate-Elektrode 46 auf ungefähr -6 Volt
begrenzt. Wenn der Impuls φ1 auf 0 Volt zurückschaltet, werden
die Transistoren T2 und T3 gesperrt, und die Spannung an der Gate-Elektrode 46 bleibt wegen der Haltewirkung der Kapazität C2
an der Gate-Elektrode 46 erhalten.
Es erzeugt also, wenn der Taktimpuls φ1 von 0 Volt auf -10
Volt schaltet, der Abschnitt 1 jeder Stufe an seinem Ausgangspunkt (46) das Komplement des am Eingang 16 anstehenden Datensignal
s.
Der Abschnitt 2 ,jeder Stufe arbeitet bei auf V eingestelltem V des M'iO^-Transistors (z.H. T4 ) in der gleichen Weise wie
der Abschnitt 1. Und zwar erzeugt der Abschnitt 2 an seinem Ausgang
l6a das Komplement des an seinem Eingang 4<" anstehenden Datensignals
, wenn der Taktimpuls φ von 0 Volt auf -10 Volt
schaltet. So wird im Anschluß an die Eingabe eines Taktimpulses
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φ. und eines Taktimpulses φ ein Eingangssignal vom Eingang 16
einer Stufe zum Eingang l6a der nächsten Stufe übertragen.
Man kann eine Kette oder Folge von Eingangsimpulsen seriell in das Register eingeben und die in der oben beschriebenen Weise
in das Register eingegebene Information dann statisch und leistungslos speichern, indem man die verschiedenen Betriebsspan,
nungen in der für das Zeitintervall P3 in Figur 4 gezeigten Weise verändert. Und zwar werden V >
νς , V und der Taktimpuls φ2
auf O Volt und V^1 sowie der Taktimpuls φ. auf -20 Volt geschaltet.
.
Wenn V , V und φ~ den Wert 0 Volt haben, sind die Transistoren
T5 und To gesperrt. Die Spannung am Schaltungspunkt 60 beträgt ungefähr 0 Volt,(wie oben erläutert), und da VQO an 0
Volt angeklammert ist, beträgt die vom Substrat der MNOS-Transistoren
angenommene Spannung ungefähr 0 Volt.
Es sei angenommen, daß unter den obigen Voraussetzungen der
Transistor Tl leitend ist (d.h. -10 Volt am Eingang 1-6). Wenn V und φ1 den Wert -20 Volt haben, sind die Transistoren T2 und T3
ebenfalls leitend. Die Transistoren Tl und T2 sind leitend, indem ihre Source-Drain-Strecken in Reihe zwischen VC1 und V^1 liegen.
Jedoch liegt, da die Impedanz des^Transistors T2 im leitenden Zustand erheblich größer ist als die des Transistors Tl und da
V^1 bei 0 Volt liegt, die Spannung am Schaltungspunkt 30 aufgrund
von Spannungsteilerwirkung dicht bei 0 Volt. Der Transistor T3 koppelt die am Schaltungspunkt 30 anstehende Spannung von ungefähr
0 Volt auf die Gate-Elektrode 46 des Transistors T4· Die
Gate-Spannung des MNOS-Transistors T4 liegt somit dicht bei 0 Volt, und die Source-Drain-Strecke führt ebenfalls eine Spannung
von oder nahe 0 Volt. Die Beaufschlagung des MNOS-Transistors T4
mit Gate-Substrat-Spannung ist somit niedriger als der kritische Wert von 15 Vo1It, und der Transistor bleibt ungestört in seinem
V ,-Zustand, auf den er zuvor eingestellt worden ist. Wenn daher
der Transistor Tl leitet, ist die Spannung am Schaltungspunkt 30 stets positiver als -15 Volt, und die Schwellenspannung des MNOS-Transistors
bleibt auf V™, eingestellt.
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Es sei jetzt angenommen, daß unter den obigen Voraussetzungen
der Transistor Tl gesperrt ist (d.h. 0 Volt am Eingang 10)· Bei gesperrtem Transistor Tl und leitenden Transistoren T2 und T 3
geht die Spannung am Schaltungspunkt 30 gegen -20 Volt. Der Transistor T3 leitet im Source-Folgerbetrieb, wodurch der Kondensator
C2 auf annähernd den Pegel von -20 Volt aufgeladen wird. Wegen der Schwellenspannungsabfälle der Transistoren T2 und T3 ist
jedoch die tatsächliche Spannung etwas positiver als -20 Volt (z.B. -l6 Volt). Der Transistor T4 hat somit an seiner Gate-Elektrode
eine Spannung von ungefähr -16 Volt und an seiner Source Drain-Strecke eine Spannung von ungefähr 0 Volt. Es liegt also
ander Gate-Isolation eine Spannung von mehr als 15 λ'οΐΐ, und zwar
in einer den Transistor leitend machenden Polarität. Diese Spannung übersteigt den kritischen Wert von 15 Volt und reicht aus,
um den Transistor in seinen hohen Schwellenspannungszustand (V ) zu schalten.
Bei den Schaltungsspannungen entsprechend dem Intervall P3 in Figur 4 bleibt also, wenn am Eingang 16 einer Stufe eine binäre
"1" (-10 Volt) ansteht, die Schwellenspannung des MNOS-Transistors
T4 der Stufe auf V , während, wenn am Eingang 16 einer Stufe eine binäre "0" (0 Volt) ansteht, der MNOS-Transistor T4
der Stufe auf die Schwellenspannung V eingestellt wird.
Aus der obigen Erläuterung wird deutlich, daß bei Durchführung des für das Zeitintervall P3 beschriebenen Vorganges nach
Beladen des Registers die Zustände der MNOS-Transistoren (V
oder Vt-) den zuvor dynamisch an den verschiedenen Eingängen 16,
l6a, I6b...l6n gespeicherten Bits entsprechen. Sobald diese Vorgänge
durchgeführt sind, kann die Betriebsenergie für die Schaltungsanordnung
vollständig abgeschaltet werden, und die MNOS-Transistoren bleiben für lange Zeit (hunderte von Stunden) in
den Zuständen, auf die sie eingestellt sind, so daß sie die Registerdaten über diesen Zeitraum statisch speichern.
Die im Register statisch gespeicherte Information kann nach dem Zeitraum der leistungslosen Speicherung wieder herausgeholt
werden, indem man dem Register die für das Zeitintervall P4 in
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Figur 4 gezeigten Spannungen zuleitet. Als erstes werden für das
Zeitintervall von P40 bis P41 die Spannungen V<-,„ und φ_ auf 0
Volt und Vg1, VD1, VD2 und φχ auf .-10 Volt geschaltet. Vgl wird
auf -10 Volt geschaltet, um sicherzustellen, daß auch bei leiten dem Transistor Tl die Spannung am Schaltungspunkt 30 dadurch
nicht beeinflußt wird.
Wenn V^1 und (J)1 den Wert -10 Volt haben, leiten die Last-Transistoren
(T2, T2a) und die Tor-Transistoren (T3, T3a) im Abschnitt 1 sämtlicher Stufen im Source-Folgerbetrieb unter Entladung
der Schaltungskapazitäten (C2, C2a) gegen -V01 Volt. Bei
Arbeiten im Source-Folgerbetrieb ergibt sich an .jedem Transistor ein Spannungsabfall, der gleich ist seiner Schwellenspannung, die
voraussetzungsgemäß. 2 Volt beträgt. Die auf die Gate-Elektrode
der Transistoren T4 und T4a gekoppelte Spannung beträgt daher annähernd
-6 Volt.
Die an der Gate-Elektrode des MNOS-Transistors T4 auftretende
Spannung von -6 Volt liegt in der Mitte des Bereiches zwischen
V (-2 Volt) und V (-10 Volt), und als Folge davon bleiben die
auf V^n eingestellten MNOS-Transisboren gesperrt, während die auf·
V T eingestellten Transistoren leitend werden. Wenn der Taktim-
-I. Ij
puls (J)1 zum Zeitpunkt P41 in Figur 4 auf 0 A^oIt zurückgeschaltet
wird, bleiben die Gate-Elektroden der MNOS-Transistoren aufgrund
der in ihren Kapazitäten angesammelten Ladung auf -6 Volt. Durch einen zum Zeitpunkt P41 auf -10 Volt geschalteten Taktimpuls φ
v/erden die Tor-Transistoren im Abschnitt 2 sämtlicher Stufen leitend gemacht und die Ausgänge (Schnltunrspunkt 60, 60a ...usw.)
der H":0S-Transistoren mit dem Eingang (16a, l('b...usw.) der ,-jeweils
nächsten Stufe gekoppelt. Wenn beispielsweise der Transistor T/? auf V T eingestellt ist und folglich leitet, so liegt
die Spannung a.m .Schaltungspunkt ('0 dicht bei 0 Volt, und diese
Spannung wird durch den Transistor T6 auf den Eingang des Transistor?
TIa gekoppelt. Wenn .jetzt der Transistor- T4a auf V , ein-/rr;Rtel3t
ist, so leitet er nicht, und der Schaltungspunkt öOa
wird' gegen -10 Volt aufgeladen, und diese Spannung wird über den
Tor-Transistor T6a auf den E.inranp lC-h des Transistors TIb (nicht
/τ;:.'Γ>
i fi,) der nächsten Stufe rckoppolt.
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Der Schwellenspannungszustand der Transistoren, der entsprechend
gegebenen Binärdaten eingestellt worden ist, wird daher in normale Spanr.unpswcrte rückgewandelt und um einen Abschnitt
nach unten verschoben. Die in den MNOS-Transistoren gespeicherten Daten werden somit wiederpewonnen oder herausgeholt. Die MNOS-Transistoren
können Jetzt auf den niedrigen SJchiirellenspannungszustand
rückgestellt werden, wie oben für das Zeitintervall Pl beschrieben,
und der Vorgang des normalen Registerbetriebs, wie für das Zeitintervall P2 beschrieben, kann wiederholt werden.
Zu beachten ist, daß beim Speichern und Wiederherausholen der Information eine Inversion oder Umkehrung· der einer Stufe zugeleiteten
Daten stattfindet. Und zwar schaltet ein Stufeneingangs;
signal von -10 Volt den MNOS-Transistor auf V , wodurch ein Stufenausgangssignal
von 0 Volt erzeugt wird, während ein Stufeneingangssignal von 0 Volt den MNOS-Transistor auf V . schaltet,
wodurch ein Stufenausgangssignal von -10 Volt erzeuget wird. Dies
steht im Gegensatz zur üblichen dynamischen Betriebsweise, wo keine Umkehrung der von einer Stufe übertragenen Daten erfolgt.
Jedoch ist damit keine ernsthafte Schwierigkeit verbunden. Wenn das Schieberegister so betrieben wird, daß pro eingegebenem Satz
von Datenbits nur ein Speichervorgang erfolgt, so wird durch eine einzige Inversions- oder Umkehrstufe am Ende des Registers die
Information wieder auf das richtige Format gebracht. Wird mit mehr als einem Speichervorgang pro Satz oder Teilsatz von in das
Register eingegebenen Datenbits gearbeitet, so kann mit Hilfe einer einfachen 7ähleranordnung eine Inversionsstufe für die ungeradzahlige
Anzahl von Speicher\rorgängen eingeschaltet und für
eine geradzahlige Anzahl von Speichervorgängen ausgeschaltet werden.
8^2/0795
Claims (9)
- PatentansprücheDatenspeicherschaltung mit einem Ha3-bleiterbauelement, das zwei verschiedene Zustände annehmen kann, gekennzeichnet durch eine Einrichtung, die zur dynamischen Übertragung von binären Datenbits durch die Speicherschaltung das Halbleiterbauelement (T4) auf den einen Zustand einstellt und in diesem Zustand hält 5 und durch eine Einrichtung* zum statischen Speichern der Datenbits mit einer Einrichtung, die bei Empfang einer Steuerspannung und des der Schaltung zugeleiteten Bits das Halbleiterbauelement (T4-), wenn das zugeleitete Bit den einen Wert hat, in den einen Zustand und, xvenn das zugeleitete Bit den anderen Wert hat, in den andren Zustand schaltet.
- 2. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Halbleiterbauelement (T4) ein Feldeffekttransistor mit auf elektrischem Wege verändern barer Schwellenspannung ist.
- 3. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet , daß der Feldeffekttransistor ein MNOS-Transistor ist.
- 4. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß sie zwei, während zweier aufeinanderfolgender Zeitintervalle betreibbare Abschnitte aufweist, deren erster Signale vom Stufeneingang (l6) auf einen mittleren Schaltungspunkt und deren zweiter Signale von diesem Schaltungspunkt auf den Stufenausgang (16a) koppeltj daß das Halbleiterbauelement (T4) ein Feldeffekttransistor mit auf elektrischem Wege veränderbarer Schwellenspannung ist und sich in einem (2) der beiden Abschnitte befindet! daß die Einrichtung, die das Halbleiterbauelement (T4) einstellt und in seinem Zustand hält,eine Einrichtung zum Betreiben des Transistors bei einer ersten Schwellenspannung für die dynamische Datenübertragung ent-30982 2/0795hält; und daß die Einrichtung zu-m statischen Speichern eine Einrichtung enthält, die bei Anwesenheit eines Datensignals am Stufeneingang (16) und einer Steuersignaldarstellung (φ.,, φ?) den Transistor, wenn das Datensignal den einen Binärwert darstellt, auf der ersten Schwellenspannung hält und, wenn das Daten signal den anderen Pdnärwert darstellt, die Schwellenspannung des Transistors auf einen /,weiten Wert schaltet, derart, daß das Datensignal statisch gespeichert wird.
- 5. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 4> g e k e η η-zeichnet durch eine Einrichtung zum Zurückschalten vom statischen auf den dynamischen Betrieb mit einer Einrich tung zum Zuleiten eines Steuersignals an den Transistor (T4) zwecks Erzeugung eines Datensignals am Stufenausgang (16a), das der Schwellenspannung, auf die der Transistor eingestellt ist, entspricht, und zum anschließenden Zurückschalten des Transistors auf die erste Schwellenspannung.
- 6. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 4 oder 5> dadurch gekennzeichnet, daß der Feldeffekttransistor (T4) mit seiner Steuerelektrode an einen Eingangspunkt (46), mit seiner Source-Elektrode an einen ersten Betriebsspannungsanschluß (νς(?) und mit seiner Drain-Elektrode an das eine Ende eines Lastelements (T5) angeschlossen ist, das mit seinem anderen Ende an einen zweiten Betriebsspannungsanschluß (V _) angeschlossen ist; daß zwischen die Drain-Elektrode des Feldeffekt transistors (T4) und den Stufenausgang (16a) ein Torelement (To) geschaltet ist; und daß vorgesehen sind: eine Einrichtung zum Einstellen der Schwellenspannung des Feldeffekttransistors (T4) auf einen ersten Wert mit einer Einrichtung, welche die Source-Drain-Strecke des Feldeffekttransistors auf einem gegebenen Span nungswert hält und die Steuerelektrode mit einer Sperrspannung beaufschlagt; eine Einrichtung zum Koppeln von Datensigrialen auf den Eingangspunkt (46) und eine Einrichtung, die bei Empfang von Signalen eines gegebenen Wertes die Schwellenspannung des Feldeffekttransistors (T4) auf einen zweiten Wert einstellt, mit einer Einrichtung, welche die Source-Drain-Strecke des Feldeffekt309822/0795transistors auf dem einen Spannungswert hält und die Steuerelektrode mit einer Durchlaßspannung beaufschlagt.
- 7. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet , daß der Eingangsabschnitt (l) der Stufe einen Eingangsanschluß (16) aufweistj daß die Einrich tung zum Einstellen des Feldeffekttransistors (T4) und zum Koppeln von Datensignalen auf den Eingangspunkt (46) einen Signalübertragungsabschnitt mit einem zweiten Feldeffekttransistor (Tl), der mit seiner Steuerelektrode an den Eingangsanschluß (l6), mit seiner Source-Elektrode an einen dritten Betriebsspannungsanschluß (V^1) und mit seiner Drain-Elektrode über ein Lastelement (T2) an einen vierten Betriebsspannungsanschluß (Vn-.) angeschlossen ist, enthält und daß die an der Drain-Elektrode des zweiten Feldeffekttransistors (Tl) erzeugten Signale über ein Torelement (T3) auf den Eingangspunkt (46) gekoppelt werden.
- 8. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet , daß die Lastelemente und die Tor elemente Feldeffekttransistoren mit isolierter Steuerelektrode sind.
- 9. Datenspeicherschaltung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zum Einstellen des Feldeffekttransistors mit auf elektrischem Wege veränderbarer Schwellenspannung eine Einrichtung zum Zuleiten bestimmter gewählter Spannungen an den dritten und den vierten Betriebsspannungsanschluß sowie eine Einrichtung enthält, welche die Last- und Torelemente des Signalüber'tragungsabschnitts leitend macht, derart, daß die gewählten Spannungen vom dritten und vom vierten Betriehsspannungsanschluß der Steuerelektrode des Feldeffekttransistors (T4) mit veränderbarer Schwellenspannung zugeleitet werden.309822/079B'6Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US20069071A | 1971-11-22 | 1971-11-22 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2255210A1 true DE2255210A1 (de) | 1973-05-30 |
DE2255210B2 DE2255210B2 (de) | 1974-07-25 |
DE2255210C3 DE2255210C3 (de) | 1975-03-13 |
Family
ID=22742768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2255210A Expired DE2255210C3 (de) | 1971-11-22 | 1972-11-10 | Datenspeicherschaltung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3781570A (de) |
JP (1) | JPS5112979B2 (de) |
CA (1) | CA993105A (de) |
DE (1) | DE2255210C3 (de) |
FR (1) | FR2160969B1 (de) |
GB (1) | GB1401487A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2442132A1 (de) * | 1974-09-03 | 1976-03-11 | Siemens Ag | Dynamisches schieberegister |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3774177A (en) * | 1972-10-16 | 1973-11-20 | Ncr Co | Nonvolatile random access memory cell using an alterable threshold field effect write transistor |
US3885196A (en) * | 1972-11-30 | 1975-05-20 | Us Army | Pocketable direct current electroluminescent display device addressed by MOS or MNOS circuitry |
USRE34363E (en) | 1984-03-12 | 1993-08-31 | Xilinx, Inc. | Configurable electrical circuit having configurable logic elements and configurable interconnects |
US4870302A (en) * | 1984-03-12 | 1989-09-26 | Xilinx, Inc. | Configurable electrical circuit having configurable logic elements and configurable interconnects |
EP0204034B1 (de) * | 1985-04-17 | 1994-11-09 | Xilinx, Inc. | Konfigurierbare logische Matrix |
KR101154338B1 (ko) * | 2006-02-15 | 2012-06-13 | 삼성전자주식회사 | 쉬프트 레지스터와, 이를 갖는 스캔 구동 회로 및 표시장치 |
CN101515431B (zh) * | 2008-02-22 | 2011-01-19 | 财团法人工业技术研究院 | 栅极驱动器用的平移寄存器 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3573498A (en) * | 1967-11-24 | 1971-04-06 | Rca Corp | Counter or shift register stage having both static and dynamic storage circuits |
-
1971
- 1971-11-22 US US00200690A patent/US3781570A/en not_active Expired - Lifetime
-
1972
- 1972-10-20 CA CA154,419A patent/CA993105A/en not_active Expired
- 1972-11-10 DE DE2255210A patent/DE2255210C3/de not_active Expired
- 1972-11-20 GB GB5345472A patent/GB1401487A/en not_active Expired
- 1972-11-21 JP JP11706172A patent/JPS5112979B2/ja not_active Expired
- 1972-11-22 FR FR7241516A patent/FR2160969B1/fr not_active Expired
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2442132A1 (de) * | 1974-09-03 | 1976-03-11 | Siemens Ag | Dynamisches schieberegister |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS4863649A (de) | 1973-09-04 |
DE2255210B2 (de) | 1974-07-25 |
FR2160969B1 (de) | 1976-10-29 |
CA993105A (en) | 1976-07-13 |
DE2255210C3 (de) | 1975-03-13 |
GB1401487A (en) | 1975-07-16 |
US3781570A (en) | 1973-12-25 |
JPS5112979B2 (de) | 1976-04-23 |
FR2160969A1 (de) | 1973-07-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |