DE2128792A1 - Schaltungsanordnung mit mindestens einem Feldeffekttransistor - Google Patents
Schaltungsanordnung mit mindestens einem FeldeffekttransistorInfo
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- 230000005669 field effect Effects 0.000 title claims description 15
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 41
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
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- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
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- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
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- H—ELECTRICITY
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- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
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- H03K3/037—Bistable circuits
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Description
7214-71/Dr.v.B/Ro.
RCA 61,331
US-Ser.No. 73,342
Filed: September 18, 1970
RCA Corporation, New York, N.Y., V.St.A.
Schaltungsanordnung mit mindestens einem Feldeffekttransistor.
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung mit mindestens einem Feldeffekttransistor, der eine mit einem
Eingangssignal gespeiste Steuerelektrode und eine Stromstrecke hat, die durch die Steuerelektrode in ihrer Leitfähigkeit steuerbar
ist, bei einem bestimmten Wert des Steuersignals Strom führt und mit einem Schaltungsknotenpunkt verbunden ist, an dem eine
erhebliche Streukapazität herrscht.
Bei vielen Feldeffekttransistorschaltungen ist die steuerbare
Stromstrecke eines oder mehrerer Feldeffekttransistoren mit einem Schaltungsknotenpunkt verbunden, an dem eine erhebliche
Streukapazität herrscht. Ein Beispiel einer solchen Schaltung ist ein Decodierer für ein mit Feldeffekttransistoren aufgebautes
Speicherwerk. Die Streukapazität gegen Masse oder einen auf einem anderen Potential liegenden Leiter der Anordnung beeinträchtigt
die Arbeitsgeschwindigkeit erheblich. Sie muß nämlich aufgeladen oder entladen werden, wenn sich die Spannung an dem
Schaltungsknotenpunkt ändert.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltungsanordnung anzugeben, bei der der störende Einfluß der
Streukapazität des Schaltungsknotenpunktes weitestgehend ausgeschaltet wird.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch eine Schaltungsanordnung
der eingangs angegebenen Art gelöst, die dadurch
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■»-■«·# ■ C J υ
gekennzeichnet ist, daß zwischen den Schaltungsknotenpunkt und eine Quelle für eine vorgegebene Spannung eine steuerbare Stromstrecke
einer Vorladungsschaltvorrichtung geschaltet ist, welche eine die Leitfähigkeit dieser Stromstrecke steuernde Steuerelektrode
aufweist, die mit einer Steueranordnung verbunden ist, welche die Steuerelektrode der Schaltvorrichtung im Ruhezustand
auf einem Signalwert hält, bei der die Stromstrecke der Schaltvorrichtung eine verhältnismäßig niedrige Impedanz hat und die
Spannungsquelle den Schaltungsknotenpunkt auf der vorgegebenen Spannung hält, und welche während mindestens eines Teiles der
Zeit, in der eine der Stromstrecken der Feldeffekttransistoren durch das Eingangssignal in den stromführenden Zustand ausgesteuert
ist, die Stromstrecke der Schaltvorrichtung in einen Zustand hoher Impedanz bringt.
Durch diese Maßnahmen wird der störende Einfluß der Streukapazität
des Schaltungsknotenpunktes weitestgehend beseitigt und die Arbeitsgeschwindigkeit der die Feldeffekttransistoren
enthaltenden Schaltungsanordnung wird gegenüber den bekannten Anordnungen erheblich gesteigert.
Weiterbildungen und Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Im folgenden werden Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert, es zeigen:
Fig. 1 ein Schaltbild eines mit Feldeffekttransistoren
aufgebauten Speicherwerkes, anhand dessen das der Erfindung zugrundeliegende und durch sie gelöste Problem erläutert wird;
Fig. 2 ein Schaltbild eines Teiles eines Speicherwerkes, das eine Schaltungsanordnung gemäß einem Ausführungsbeispiel
der Erfindung enthält, und
Fig. 3 eine graphische Darstellung des Verlaufes von Signalen, die in der Schaltungsanordnung gemäß Fig. 2 auftreten.
Bei der folgenden Beschreibung der Fig. 1 und 2 wird willkürlich angenommen, daß die Binärziffer 1 durch einen positiven
Spannungswert und die Binärziffer O durch einen relativ hierzu
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niedrigen Spannungswert, wie Massespannung, dargestellt wird. Die mit Indizes versehenen Buchstaben P und N bezeichnen Transistoren
und geben gleichzeitig den Leitfähigkeitstyp der betreffenden Transistoren an.
Das in Fig. 1 dargestellte Speicherwerk kann als integrierte Schaltung aufgebaut sein und enthält acht Metall-Oxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren
("MOS-FET's") pro Speicherplatz. Das Speicherwerk gemäß Fig. 1 enthält pro Zeile und Spalte der
Speicherplatzmatrix nur jeweils zwei Speicherplätze, selbstverständlich kann das Speicherwerk auch 4x4, 8x8 oder eine
wesentlich größere Anzahl von Speicherplätzen enthalten und die Anzahl der Zeilen der Speicherplatzmatrix muß auch nicht gleich
der Anzahl der Spalten sein. In den Speicherplätzen wird die Information 1 oder O jeweils in einem komplementär-symmetrischen
Flipflop mit vier Transistoren gespeichert. In Fig. 1 ist nur das Flipflop 10a genauer dargestellt, während die übrigen Flipflops 10b bis 1Od der Einfachheit halber durch Blöcke versinnbildlicht
sind. Die Steuerelektroden von Transistoren P, und N des Flipflops 10a sind an einen gemeinsamen Abflußanschluß von
Transistoren P- und N2 angeschlossen und die Steuerelektroden
der Transistoren P- und N2 sind mit einem gemeinsamen Abflußanschluß
der Transistoren P. und N. verbunden. Die Quellenelektroden der Transistoren P. und P2 sind mit einer Spannungsquelle
+VDD verkunden, die eine Spannung von z.B. +10 V liefert. Die
Quellenelektroden der Transistoren N. und N2 sind mit einer
Quelle für eine zweite Spannung, wie Masse, verbunden.
Die restlichen vier Transistoren, z.B. die Transistoren N3, N4, N5 und N6 jedes Speicherplatzes sind Decodierertransistoren.
Die Stromstrecken der Transistoren N- und N, sind in
Reihe miteinander zwischen eine Ziffernleitung D. und einen gemeinsamen Steuerelektrodenanschluß der Transistoren P2 und N2
geschaltet. Die Stromstrecken der Transistoren N,- und N, sind
in Reihe zwischen eine Ziffernleitung D_ und einen gemeinsamen Steuerelektrodenanschluß der Transistoren P, und N, geschaltet.
Die Steuerelektroden der Transistoren N3 und Ng sind mit einer
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Leitung Y1 verbunden, während die Steuerelektroden der Transistoren
N- und N5 an eine Leitung X. angeschlossen sind.
Beim Betrieb des in Fig. 1 dargestellten Speicherwerkes
liegen alle X- und Y-Leitungen im Ruhezustand auf Massepotential und die Ziffernleitungen D. und Dn sind mit nichtdargestellten
äußeren Schaltungen verbunden, nrtrch. die die Ziffernleitungen
beim Schreiben und Lesen von Information in einen bzw. aus einem adressierten Speicherplatz auf verschiedene Spannungswerte bringen.
Wenn z.B. im Speicherplatz mit dem Flipflop 10a eine 1 gespeichert
werden soll, wird die Leitung D, auf einen relativ positiven Spannungswert, wie +V00 gebracht, die Leitung D« wird
auf einen relativ niedrigen Spannungswert, wie null gebracht, der Zeilenleitung X, wird eine Spannung mit einem relativ positiven
Wert, wie Vn-. zugeführt und die Spaltenleitung Y, wird
ebenfalls mit einer Spannung von einem verhältnismäßig positiven Wert gespeist. Die den Leitungen X1 und Y1 und damit den Steuerelektroden
der Decodierertransistoren N3, N-, N5 und Nß zugeführten
verhältnismäßig positiven Spannungen steuern die Stromstrecken dieser Transistoren in den Zustand verhältnismäßig
niedriger Impedanz aus. Den Steuerelektroden der Transistoren N. und P. wird dadurch das an D_ liegende Massepotential über
die Stromstrecken der Transistoren Nß und N5 zugeführt, wodurch
der Transistor P1 in den leitenden Zustand gebracht und der
Transistor N1 gesperrt wird. In entsprechender Weise wird den
Steuerelektroden der Transistoren P2 und N2 die Spannung +V00
von D1 über die Transistoren N^ und N4 zugeführt, wodurch der
Transistor P_ gesperrt und der Transistor N2 in den leitenden
Zustand gebracht wird. Dies ist der Eins-Zustand des Flipflops 10a (P1 und N2 leitend; P2 und N1 gesperrt).
Wenn im Speicherplatz 10a eine 0 gespeichert werden soll,
werden die Leitungen X1 und Y1 wieder beide auf einen hohen
Spannungswert, wie +V00 gebracht, die Spannung auf der Ziffernleitung
D0 entspricht jedoch nun einer 1 (+V00) und die Spannung
auf der Leitung D1 entspricht nun einer 0 (Masse). Unter
diesen Umständen werden die Transistoren P2 und N1 aufgetastet
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während die Transistoren P, und N2 gesperrt werden. Dies ist
der Null-Zustand des Flipflops.
Das oben beschriebene Speicherwerk ist funktionsfähig, es hat sich jedoch gezeigt, daß seine Arbeitsweise mit zunehmender
Größe und Arbeitsgeschwindigkeit mehr und mehr zu wünschen übrig läßt. Als Grund hierfür wurden die Streukapazitäten in der Schaltung
ermittelt. Dajbei der in Fig. 1 dargestellten Schaltung des Speicherwerkes eine Anzahl von Transistoren entsprechend dem
Transistor N^ (in Fig. 1 sind nur zwei solcher Transistoren vorhanden,
in größeren Speichern sind es jedoch viel mehr) mit einer relativ langen Leitung 13, nämlich der Ziffernleitung D. verbunden
und auf einem gemeinsamen Substrat angeordnet sind, und da in entsprechender Weise die vielen Transistoren entsprechend dem Transistor
Ng mit einer verhältnismäßig langen gemeinsamen Leitung 15,
der Ziffernleitung DQ verbunden und auf dem gemeinsamen Substrat
angeordnet sind, hat jede solche Leitung eine beträchtliche Streukapazität. Diese Kapazität ist in Fig. 1 durch gestrichelt
gezeichnete Kondensatoren 12a bzw. 12b versinnbildlicht. Sie beeinträchtigt die Funktion der Decodierschaltung auf folgende
Weise:
Angenommen, im Speicherplatz mit dem Flipflop 10a sei eine 1 gespeichert worden. Während des Speicherns liegt die Leitung D1
auf Masse. Die Streukapazität 12b wird also praktisch vollständig entladen. Wenn die Decodierer-Leitungen X, und Y, wieder auf
Massepotential gebracht und die Ziffernleitungen D- und DQ von
allen Speicherplätzen abgetrennt werden, bleibt die Streukapazität 12b entladen. Diese entladene Streukapazität verlangsamt den
Betrieb des Speicherwerks.
Angenommen, es solle nach den oben beschriebenen Vorgängen
im Speicherplatz mit dem Flipflop 10c eine 0 gespeichert werden. Die Leitungen Y, und X2 werden dann auf +VDD gebracht, die Leitung
D0 wird durch die nichtdargestellten Schreibschaltwerke auf
+VDD 9e^racht und die Leitung D, wird auf Masse gelegt. Die Leitung
15 mit der verhältnismäßig großen, ungeladenen Streukapazität 12b kann dabei jedoch nicht sofort die gewünschte hohe Span-
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nung annehmen, sondern die an ihr liegende Spannung steigt entsprechend
der Aufladung der Streukapazität 12b exponentiell an. Die Zeit, die die Leitung 15 braucht, um die für das Speichern
der Information in dem adressierten Speicherplatz erforderliche Spannung anzunehmen, kann je nach der Geometrie und der Größe
des Speicherwerkes zwischen einigen zehn bis zu mehreren hundert Nanosekunden liegen und diese Verzögerungszeit addiert sich
selbstverständlich zur Lese-Schreibe-Zykluszeit des Speicherwerks .
Die ungeladenen Kapazitäten an solchen Schaltungsknotenpunkten beeinträchtigt auch den Lesevorgang. Angenommen im
Speicherplatz mit dem Flipflop 10c sei gerade eine 1 gespeichert worden (D =+VDD, D =0), so daß die Streukapazität 12b entladen
und die Streukapazität 12a auf +VDD geladen ist. Die vorher im
Flipflop 10a gespeicherte Information soll nun später gelesen werden und es sei angenommen, daß diese Information eine 0 ist
(N. und P2 leitend; P. und N2 gesperrt). Während des Lesevorgangs
sind sowohl D. als auch D- praktisch von den nichtdargestellten
Schreibschaltungen abgetrennt und ein nichtdargestellter Leseverstärker, der z.B. mit der Leitung D» verbunden ist,
nimmt wahr, ob in dieser Leitung ein Strom fließt oder nicht.
Um das Flipflop 10a zum Lesen zu adressieren, werden die Leitungen X1 und Y. auf +VQD gebracht. Da der Transistor P2
des Flipflops 10a leitet, sollte man annehmen, daß nun sofort ein Strom von der Klemme +VDD durch die Transistoren P3* N5 und
Ng sowie die Leitung DQ zu dem nichtdargestellten Leseverstärker
fließt. Da die Streukapazität 12b jedoch entladen war, fließt zuerst ein beträchtlicher Teil des vom Transistor Ng gelieferten
Stromes nicht zum Leseverstärker sondern in die Streukapazität
12b. Erst nach einer gewissen Zeitspanne, die wie oben erwähnt mindestens einige zehn Nanosekunden dauern kann, hat sich die
Streukapazität 12b soweit aufgeladen, daß der Strom in der entsprechenden Leitung, wie DQ, auf einen Wert ansteigt, der den
Ansprechschwellwert des Leseverstärkers übersteigt. Der Lesevorgang muß also derart verlängert werden, daß dem Einfluß der
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Streukapazität der Schaltung Rechnung getragen wird.
Ein noch ernsteres Problem entsteht durch die Streukapazität, wenn das Lesen der gespeicherten Information zerstörungsfrei
erfolgen soll. Es sei z.B. angenommen, daß der Speicherplatz mit dem Flipflop 10a in Fig. 2 eine 1 und der Speicherplatz
mit dem Flipflop 10c eine 0 speichern. Ferner sei angenommen, daß beim Lesen zuerst der Speicherplatz mit dem Flipflop
10c und dann der Speicherplatz mit dem Flipflop 10a abgefragt werden solle. Nach dem Abfragen des Speicherplatzes mit dem Flipflop 10c ist die Streukapazität 10a entladen während die Streukapazität
10b auf +VDD aufgeladen ist. Im Augenblick der Adressierung
des Speicherplatzes mit dem Flipflop 10a durch Auftasten der Transistoren N, bis Ng wird der gemeinsame Steuerelektrodenanschluß
von P- und N2 durch N3, N4 und die Streukapazität 12a
momentan an Masse gelegt. Dies kann ein Umschalten des Flipflops 10a mit den Transistoren P., P2 , N. und N3 und damit eine Zerstörung
der vorher gespeicherten Information zur Folge haben.
Die oben erläuterten Probleme werden durch die Erfindung gelöst, von der in Fig. 2 ein Ausführungsbeispiel dargestellt
ist. Das in Fig. 2 dargestellte Speicherwerk entspricht dem oben beschriebenen Speicherwerk. Zusätzlich enthält die Schaltungsanordnung
gemäß Fig. 2 noch eine Anzahl von Verknüpfungsgliedern für das Lesen und Schreiben sowie vier Transistoren P1Q» ^n*
N,Q und N... Die Transistoren Ρ._ und P,. sind mit ihren Quellenelektroden
an +VDD angeschlossen während die Transistoren N10
und N.. mit ihren Quellenelektroden an Masse liegen. Die Abflußelektrode des Transistors P,Q ist mit der Abflußelektrode des
Transistors N.o verbunden während die Abflußelektrode des Transistors
P.. an die Abflußelektrode des Transistors N., angeschlossen ist.
Die Verknüpfungsglieder 20-24 sind NOR-Glieder. Der Ausgang des NOR-Gliedes 21 ist mit der Steuerelektrode des Transistors
P,Q verbunden. Der Ausgang des NOR-Gliedes 22 ist mit der Steuerelektrode
des Transistors N10 und einem Eingang des NOR-Gliedes
24 verbunden. Das NOR-Glied 23 ist mit seinem Ausgang an die
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Steuerelektrode des Transistors P., angeschlossen. Der Ausgang des NOR-Gliedes 24 ist mit der Steuerelektrode des Transistors
N,, und mit einem Eingang des NOR-Gliedes 21 verbunden. Den Eingängen des NOR-Gliedes 20 werden ein Tastsignal und ein Schreibsignal
W zugeführt, sein Ausgang ist mit jeweils einem Eingang der NOR-Glieder 21 und 23 verbunden. Das Schreib-Signal W wird
ferner über einen Inverter 25 den NOR-Gliedern 22 und 24 zugeführt.
Wie die Schaltungsanordnung gemäß Fig. 2 arbeitet, geht aus der folgenden Tabelle hervor:
NOR-Glied Leitung! 20 ί 21 22: 23! 24 D, DJ Bemerkung
W | Tast signal |
Daten signal |
O | O | Φ |
1 | Φ | |
1 | Φ | O |
O 1 |
1 | Φ |
Dabei bedeuten: | ||
1 * +VDD | ||
O = Masse |
ein aus;aus aus ι aus
aus aus;aus ein;ein
i j
ι aus einj ein aus,aus
aus* ein, aus ein: aus
1 1 0
Ruhezustand 1 Schreiben1
1 IO Schreiben!
Lesen!
Φ = unbeachtlich
t = abhängig vom gespeicherten Bit ein = NOR-Glied liefert Signal 1 (+VDD)
aus = NOR-Glied liefert Signal O (Masse).
Die Tabelle dürfte ohne weiteres verständlich sein, im folgenden werden daher nur einige Zeilen diskutiert. Im Ruhezustand
sind das Schreib-Signal W=O und das Tastsignal = 0 und es ist daher unbeachtlich, welchen Wert das dem verbleibenden
Eingang des NOR-Gliedes 22 zugeführte Datensignal hat.
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— Q _
Wenn zwei Nullen anliegen, liefert das NOR-Glied 20 als Ausgangssignal eine 1, die die NOR-Glieder 21 und 23 sperrt.
Die gesperrten NOR-Glieder liefern das Ausgangssignal O (Masse) an die Steuerelektroden der Transistoren P10 und P.,, so daß
diese Transistoren leiten. Die Leitungen D1 und DQ liegen daher
annähernd auf der Spannung +VQD Volt. Durch diese Spannung werden
die Streukapazitäten 12a und 12b auf eine Spannung von ungefähr +VDD auf9ela^en gehalten.
Die vom Inverter 25 gelieferte 1 sperrt die NOR-Glieder 22 und 24. Diese NOR-Glieder liefern daher eine 0 (Massepotential)
an die Steuerelektroden der Transistoren N10 und N..f wodurch
die Stromstrecken dieser Transistoren in den Zustand hoher Impedanz
gebracht werden. Die Leitungen D1 und D2 werden dementsprechend
von Masse abgetrennt.
Die Schreiboperation ist in den Zeilen 2 und 3 der Tabelle angegeben. Beim Schreiben ist W gleich 1 und das Datensignal
entspricht dem Bit, das in dem gewünschten Speicherplatz zu speichern ist. Es spielt keine Rolle, ob ein Tastsignal vorhanden
ist oder nicht, da das NOR-Glied durch das Schreibsignal W=I und seinem einen Eingang gesperrt ist. Wenn z.B. im Speicherplatz
mit dem Flipflop 10a eine 1 gespeichert werden soll, werden die Leitungen X1 und Y1 beide auf +VDD gebracht. Die Decodierertransistoren
N3, N., N5 und Ng werden durch diese Spannungen
aufgetastet und der Speicherplatz mit dem Flipflop 10a wird dementsprechend selektiert.
Durch das Datensignal 1 wird das NOR-Glied 22 gesperrt und die Stromstrecke des Transistors N10 in den Zustand hoher Impedanz
gebracht. Entsprechend dem Schreibsignal W=I liefert der Inverter 25 eine 0 an den einen Eingang des NOR-Gliedes 24, an
dessen zweitem Eingang wegen des gesperrten NOR-Gliedes 22 ebenfalls eine 0 liegt. Das NOR-Glied 24 liefert dementsprechend eine
1 (+V00) und bringt die Stromstrecke des Transistors N11 in den
Zustand niedriger Impedanz. Die Leitung D- wird daher an Masse gelegt. Zur gleichen Zeit liegen zwei Nullen an den Eingängen des
NOR-Gliedes 23, so daß dieses anspricht und den Transistor P11
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sperrt. Hierdurch wird die Ladespannungsquelle +VDD effektiv
von der Leitung DQ abgeschaltet.
Die vom NOR-Glied 24 erzeugte 1 sperrt das NOR-Glied 21, welches wiederum den Transistor P10 auftastet. Die Spannung
+VDD w:*-r<^ dementsprechend durch die Stromstrecke des Transistors
P10 an die Leitung D. gelegt.
Die Massespannung an der Leitung D_ gelangt über die Transistoren
Ng und Wg an die Steuerelektroden der Transistoren P,
und N1, wodurch der Transistor P1 aufgetastet und der Transistor
N1 gesperrt wird. Die Spannung +Vnn an der Leitung D,
wird über die Transistoren N3 und N4 den Steuerelektroden der
Transistoren P2 und N3 zugeführt und sperrt den Transistor P2
während der Transistor N2 aufgetastet wird. Da die Streukapazität
12a vor dem Schreiben praktisch voll aufgeladen worden war, tritt praktisch keine Verzögerung zwischen dem Zeitpunkt, in dem die
Spannung +V_._. über den Transistor P10 an die Leitung D1 gelegt
wird und dem Zeitpunkt in dem diese Spannung zum Speichern im selektierten Speicherplatz 10a wirksam wird, ein. Außerdem wird
die Ladespannungsquelle automatisch von der anderen Streukapazität 12b abgetrennt.
Die dritte Zeile der Tabelle dürfte keiner weiteren Erläuterung bedürfen. Bei dem dieser Zeile entsprechenden Betriebszustand
nimmt die Leitung D1 eine niedrige Spannung (Masse) und
die Leitung DQ eine hohe Spannung (+VDD) an, um eine 0 in dem
selektierten Speicherplatz zu speichern. Die Ladespannungsquelle +VDD wird durch den gesperrten Transistor P10 automatisch
von der Leitung D1 abgetrennt.
Die letzte Zeile der Tabelle gibt die Verhältnisse beim Lesen an: Das Schreibsignal W ist 0, das Tastsignal ist 1 und
es spielt keine Rolle, ob ein Datensignal am NOR-Glied 22 anliegt oder nicht. Wie aus der Tabelle ersichtlich ist, werden
die NOR-Glieder 22 und 24 und dadurch die Transistoren N10 und
N11 durch diese beiden Signale gesperrt. Die NOR-Glieder 21
und 23 werden durch die Nullen an Ihren Eingängen aufgetastet und sperren die p-Transistoren P10 und P11· Die Ziffernleitungen
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D1 und D0 werden also bei dtesen vier Transistoren sowohl von
Masse als auch von +VQ abgetrennt.
Wenn Information aus einem Speicherplatz herausgelesen werden soll, werden die X- und Y-Leitungen des betreffenden
Speicherplatzes auf die Spannung +VDD gebracht. Wenn der selektierte
Speicherplatz das Bit 1 speichert CP. und N2 leitend,
P2 und N1 gesperrt) fließt Strom von der Klemme +VDD durch den
Transistor P1 und die selektierten Decodxerertransistoren (z.B.
N-j und N^) zur Leitung D1 während die Leitung DQ über entsprechende
Transistoren, z.B. N5 und N6 sowie den Flipflop-Transistor
N- des Speicherplatzes mit Masse verbunden ist, so daß
in DQ kein Strom fließt. Wenn andererseits im zugegriffenen
Speicherplatz eine 0 gespeichert ist, fließt Strom über den leitenden Transistor P2 des selektierten Speicherplatzes zur
Leitung DQ während D1 über den leitenden Transistor N1 des
Speicherplatzes mit Masse verbunden ist.
Mit einer der Ziffernleitungen kann ein Leseverstärker, wie der in Fig. 2 dargestellte Leseverstärker 30, verbunden
sein um festzustellen, ob ein Strom in der betreffenden Leitung fließt oder nicht. Der Leseverstärker kann normalerweise gesperrt
sein und durch einen Lesetastimpuls, der während des Leseintervalles einer Klemme 32 zugeführt wird, aufgetastet
werden. Der Leseverstärker kann für einen Stromfluß in beiden Richtungen ausgelegt sein und liefert dann eine Lesespannung
S, wie sie in der untersten Kurve der Fig. 3 dargestellt ist. Fig. 3 zeigt außerdem auch noch den Verlauf anderer Signale,
die während des Betriebs der Schaltung gemäß Fig. 2 auftreten.
Zusammenfassend kann also festgestellt werden, daß die Streukapazität von D1 und DQ während des Intervalles zwischen
den Lesekommandos durch einen leitenden MOS-FET vom p-Typ auf +Vnn aufgeladen wird. Es besteht keine direkte Verbindung nach
Masse und es wird lediglich die Energie aufgewendet, die zur Aufladung der Streukapazität auf +VDD erforderlich ist. Während
in einem Lesekommandointervall eine der Speicherzellen durch die zugehörigen Decodierertransistoren selektiert wird, sind die
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Leitungen D1 und D0 effektiv sowohl von +V"DD als auch Masse abgetrennt
und die an diesen Leitungen liegenden Spannungen werden durch den Zustand der selektierten Speicherzelle bestimmt. Die
Zeitspanne, die die Spannung an diesen Leitungen braucht um einen Wert zu erreichen, der mit einem Leseverstärker wahrgenommen
werden kann, hängt von der Größe der Streukapazität an den Leitungen D, und DQ und dem Widerstand zwischen der Datenleitung
und Masse ab. Hierbei handelt es sich um den Widerstand durch die beiden Decodierertransistoren und einen der Transistoren
vom η-Typ in der Speicherzelle.
Während einer Schreiboperation wird die Vorladungsschaltung abgeschaltet und der Rest der Schaltungsanordnung dient zur
Steuerung der Spannung auf den Leitungen D, und D0 entsprechend
den im Speicher zu speichernden Daten. Eine wichtige vorteilhafte Eigenschaft der vorliegenden Schaltungsanordnung besteht darin,
daß während des Schreibens keine direkte Stromstrecke zwischen +V"DD und Masse besteht. Der Eneigieverbrauch beschränkt sich
daher auf die Energie, die zum Aufladen und Entladen der Streukapazität der Leitungen D. und D0 und zum Ändern des Zustandes
der Speicherzelle (wenn sich das neu zu speichernde Bit von dem vorher gespeicherten Bit unterscheidet) benötigt wird. Die
Zeit, die erforderlich ist, um D. oder D0 von Massepotential
auf etwa +V^n aufzuladen, hängt von der Größe der Streukapazität
der Datenleitung (D. oder D_) und dem Widerstand eines Transistors
des p-Typs, z.B. P.Q in Fig. 2, ab. Es ist daher vorteilhaft,
die Transistoren, wie P.o und P11 so groß wie möglich
zu machen, um den Widerstand der steuerbaren Strornstrecke des betreffenden Transistors im leitenden Zustand möglichst klein
zu halten.
Die Schaltungsanordnung gemäß dem beschriebenen bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung hat u.a. folgende wichtigen
vorteilhaften Eigenschaften:
1. Weder beim Lesen noch beim Schreiben existiert ein direkter Stromweg von der Vorspannungsquelle nach Masse. Aus
diesem Grunde wird nur so viel Leistung verbraucht, als zum
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Laden oder Entladen der Streukapazität der Daten- oder Ziffernleitungen
und gegebenenfalls zum Ändern des Zustandes der Speicherzelle benötigt wird.
2. Ein und dieselbe Schaltungsanordnung kann mit nur einem Steuersignal (W) sowohl zum Lesen als auch zum Schreiben verwendet
werden.
3. Die Lese-Schreibe-Schaltung enthält nur MOS-Bauelemente
vom p- und η-Typ und kann auf demselben Substrat oder Plättchen wie der eigentliche Speicher hergestellt werden.
4. Das Problem, daß der Zustand einer Speicherzelle beim
Lesen durch die entladene Kapazität einer Daten- oder Ziffernleitung unbeabsichtigt geändert wird, besteht nicht.
Lesen durch die entladene Kapazität einer Daten- oder Ziffernleitung unbeabsichtigt geändert wird, besteht nicht.
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Claims (6)
1.) Schaltungsanordnung mit mindestens einem Feldeffekttransistor,
der eine mit einem Eingangssignal gespeiste Steuerelektrode und eine Stromstrecke hat, die durch die Steuerelektrode
in ihrer Leitfähigkeit steuerbar ist, bei einem bestimmten Wert des Steuersignals Strom führt und mit einem Schaltungsknotenpunkt verbunden ist, an dem eine erhebliche Streukapazität
herrscht, dadurch gekennzeichnet, daß
zwischen den Schaltungsknotenpunkt (13, 15) und eine Quelle für eine vorgegebene Spannung (+V0n) eine steuerbare Stromstrecke
einer Vorladungsschaltvorrichtung (P10* ριχ) geschaltet ist,
we.*.»*. " eine die Leitfähigkeit der Stromstrecke der Schaltvorrichtung
steuernde Steuerelektrode aufweist, die mit einer Steueranordnung (20-25) verbunden ist, welche die Steuerelektrode
der Schaltvorrichtung im Ruhezustand auf einem Signalwert hält, bei der die Stromstrecke der Schaltvorrichtung eine verhältnismäßig
niedrige Impedanz hat und die Spannungsquelle (+V00) den Schaltungsknotenpunkt auf der vorgegebenen Spannung
hältf und welche während mindestens eines Teiles der Zeit, in
der eine der Stromstrecken der Feldeffekttransistoren (Ng-Ng)
durch das Eingangssignal in den stromführenden Zustand ausgesteuert ist, die Stromstrecke der Schaltvorrichtung in einen
Zustand hoher Impedanz bringt.
2.) Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 mit mehreren, paarweise angeordneten Feldeffekttransistoren, bei denen die Stromstrecken
jedes Paares von Transistoren in Reihe geschaltet sind und ein Ende der Stromstrecke des einen Transistors des Paares mit dem
Schaltungsknotenpunkt verbunden ist und wobei die Eingangssignale den Steuerelektroden eines selektierten Transistorpaares
zuführbar ist um beide Transistoren des selektierten Paares in den stromführenden Zustand zu bringen, gekennzeichnet
durch eine auf das Eingangssignal ansprechende Schaltungsanordnung (20-25), die die Stromstrecke der Schaltvorrichtung
(Plo# pii' Nio' Nll^ immer dann in den Zustand
relativ hoher Impedanz bringt, wenn irgendein Transistorpaar
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in einen Betriebszustand gebracht wird, bei dem Strom durch
die in Reihe geschalteten Stromstrecken dieses Paares (z.B. N3, N4) fließt.
3.) Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet , daß die Schaltvorrichtung ein Feldeffekttransistor ist, dessen Stromstrecke die Stromstrecke
der Schaltvorrichtung zum Aufladen der Streukapazität (12a, 12b) des Schaltungsknotenpunktes bildet.
4.) Schaltungsanordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet
, daß der die Schaltvorrichtung bildende Transistor (P10' Pll^ ^em ent9e9engesetzten Leitungstyp angehört
wie der oder die ersterwähnten Transistoren (N^-Ng).
5.) Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß außerdem eine Anzahl von
Schaltungsanordnungen vorgesehen ist, die jeweils mindestens einem der Transistoren entsprechen; daß jede dieser Schaltungsanordnungen zwei Schaltvorrichtungen enthält, von denen die
erste zwischen einen inneren Schaltungspunkt und die Quelle für die vorgegebene Spannung geschaltet ist, während die zweite
Schaltvorrichtung zwischen den Schaltungspunkt und eine Quelle für eine von der vorgegebenen Spannung verschiedene, zweite
Spannung geschaltet ist, und daß jede Schaltungsanordnung so ausgebildet ist, daß im Ruhezustand die eine Schaltvorrichtung
geöffnet und die andere geschlossen ist, daß der gemeinsame Schaltungsknotenpunkt kapazitiv mit der Quelle für die zweite
Spannung gekoppelt ist, daß die Stromstrecke mindestens eines der Transistoren den Schaltungspunkt in der zugehörigen Schaltungsanordnung
mit dem gemeinsamen Schaltungsknotenpunkt koppelt und daß die Stromstrecke der Vorladungsschaltvorrichtung im Zustand
niedriger Impedanz den gemeinsamen Schaltungsknotenpunkt auf einer Spannung hält, die näher an der vorgegebenen Spannung
als an der zweiten Spannung liegt.
6.) Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet
, daß jede der Schaltungsanordnungen eine Speicherschaltung ist, daß die beiden Schaltvorrichtungen
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die Stromstrecken weiterer Feldeffekttransistoren enthalten,
die so geschaltet sind, daß im Ruhezustand der Speicherschaltungen die eine Stromstrecke eine niedrige Impedanz hat, wie die andere
Stromstrecke eine hohe Impedanz hat, daß der gemeinsame Schaltungsknotenpunkt ein Eingangspunkt für die Speicherschaltungen
ist und mit einer Ziffernleitung in Verbindung steht, die mehreren Speicherschaltungen zugeordnet ist, und daß der Vorladungs-Transistor
normalerweise die Ziffernleitung auf einer Spannung hält, die wenigstens annähernd in der Größenordnung der vorgegebenen
Spannung liegt.
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US7334270A | 1970-09-18 | 1970-09-18 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2128792A1 true DE2128792A1 (de) | 1972-03-23 |
Family
ID=22113169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19712128792 Pending DE2128792A1 (de) | 1970-09-18 | 1971-06-09 | Schaltungsanordnung mit mindestens einem Feldeffekttransistor |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3629612A (de) |
AU (1) | AU2957971A (de) |
CA (1) | CA1011457A (de) |
DE (1) | DE2128792A1 (de) |
FR (1) | FR2105787A5 (de) |
GB (1) | GB1338958A (de) |
NL (1) | NL7107903A (de) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3718915A (en) * | 1971-06-07 | 1973-02-27 | Motorola Inc | Opposite conductivity gating circuit for refreshing information in semiconductor memory cells |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US3343130A (en) * | 1964-08-27 | 1967-09-19 | Fabri Tek Inc | Selection matrix line capacitance recharge system |
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-
1970
- 1970-09-18 US US73342A patent/US3629612A/en not_active Expired - Lifetime
-
1971
- 1971-06-01 AU AU29579/71A patent/AU2957971A/en not_active Expired
- 1971-06-08 CA CA115,167A patent/CA1011457A/en not_active Expired
- 1971-06-09 DE DE19712128792 patent/DE2128792A1/de active Pending
- 1971-06-09 NL NL7107903A patent/NL7107903A/xx unknown
- 1971-06-15 GB GB2793671A patent/GB1338958A/en not_active Expired
- 1971-06-17 FR FR7122081A patent/FR2105787A5/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2105787A5 (de) | 1972-04-28 |
AU2957971A (en) | 1972-12-07 |
GB1338958A (en) | 1973-11-28 |
CA1011457A (en) | 1977-05-31 |
US3629612A (en) | 1971-12-21 |
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