DE19860278A1 - Verfahren und Vorrichtung zur optischen Detektion eines auf einer Oberfläche immobilisierten Partikels - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur optischen Detektion eines auf einer Oberfläche immobilisierten PartikelsInfo
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Abstract
Aufgabe der Erfindung ist es, eine quantitative Analyse der optischen Helligkeit von auf einer Oberfläche immobilisierten Partikeln zu ermöglichen. Bei dem Verfahren wird die Oberfläche (8) mit einem Lichtstrahl (5) derart bestrahlt, daß sich auf der Oberfläche ein elliptischer Fokus (7) mit einer Längsachse und einer kürzeren Querachse bildet. Die Oberfläche (8) mit dem immobilisierten Partikel wird in Richtung (9) der Querachse des elliptischen Fokus verschoben, wodurch alle Partikel quer durch den Fokus wandern. Das im Fokus (7) erzeugte optische Signal der Partikel wird über eine Sammeloptik (6) auf eine Spaltblende (2) abgebildet. Durch die Spaltblende werden nur Partikel aus einem zentralen Ausschnitt des elliptischen Fokus detektiert. Diese erfahren jeweils im wesentlichen die gleiche Anregungsintensität. Ihre Signale sind daher quantitativ besser definiert. Dies erlaubt auch eine quantitative Auswertung der Signalstärken.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur optischen Detek
tion eines auf einer Oberfläche immobilisierten Partikels.
Die optische Detektion einzelner Partikel bis hinunter zu einzelnen Molekülen
ist eine etablierte Technik. Eine Überblick über die Detektion einzelner Moleküle in
Flüssigkeiten und auf Oberflächen und deren Anwendungen in Chemie, Biologie und
Nanotechnologie findet man z. B. in der Übersichtsarbeit von Nie und Zare [S. M. Nie
und R. N. Zare, "Optical detection of single molecules", Annual Review of Biophysi
cal and Biomolecular Structure 26, 567-596, 1997]. Ein Standardverfahren zur opti
schen Detektion von Partikeln besteht darin, daß das zu detektierende Partikel durch
einen fokussierten Laserstrahl optisch angeregt und dann ein durch das Partikel gene
riertes optisches Signal (Fluoreszenz, Ramanstreuung o. ä.) detektiert wird. Die Parti
kel können sich dabei frei in Lösung oder immobilisiert auf einer Oberfläche befin
den.
Um Hintergrundsignale zu minimieren, wird eine räumliche Einschränkung des
Detektionsgebietes vermittels einer starken Fokussierung des anregenden Laserstrahls
und zusätzlicher Einbringung von räumlichen Blenden in den Detektionskanal vorge
nommen. Das zu detektierende Partikel wird in dieses Detektionsgebiet eingebracht
entweder durch freie Diffusion, durch hydrodynamische Konvektion, oder, bei ober
flächenimmobilisierten Partikeln, durch Verschiebung des Detektionsgebietes über die
Oberfläche.
Für chemo- und bioanalytische Zwecke ist es von großem Interesse, nicht nur
einzelne Partikel an sich zu detektieren, sondern auch Aussagen über deren Eigen
schaften machen zu können. Ein Weg dahin besteht darin, die optische Helligkeit (der
Fluoreszenz, Ramanstreuung o. ä.) des Partikels quantitativ zu messen.
Im allgemeinen hängt die gemessene Quantität des vom Partikel generierten op
tischen Signals nicht nur von seiner Eigenhelligkeit ab, welche im wesentlichen durch
den Absorptionsquerschnitt und die Quantenausbeute der optischen Signalgenerierung
des Partikels bestimmt ist, sondern auch von der Art und Weise, wie das Partikel
durch das Detektionsgebiet hindurch geführt wird. Das Intensitätsprofil des anregen
den Laserstrahls wie auch die Detektionseffizienz der detektierenden Optik sind im
allgemeinen beide Funktionen des Ortes, so daß das Partikel an verschiedenen Orten
unterschiedlich stark angeregt und unterschiedlich gut detektiert wird. Befindet sich
somit ein Partikel mit hoher Eigenhelligkeit am Rande des anregenden Laserstahls
und/oder des durch die Detektionsoptik definierten Detektionsgebietes, so kann seine
Helligkeit scheinbar wesentlich dunkler erscheinen als die eines Partikels mit geringer
Eigenhelligkeit, welches jedoch im Zentrum des anregenden Laserstrahls und/oder des
Detektionsgebietes positioniert ist. Wird eine Oberfläche, auf der Partikel immobili
siert sind, mit einem kleinen Fokus abgetastet, so werden von ein und demselben Par
tikel die unterschiedlichsten Signalstärken erfaßt, i.d.R. jedoch kleine Signalstärken,
da das Partikel nur selten zentral durch den Fokus tritt. Eine quantitative Analyse der
Signale ist nicht möglich.
Für oberflächenimmobilisierte Partikel wurde in der Literatur die Möglichkeit
beschrieben, die Oberfläche insgesamt möglichst homogen auszuleuchten und das
durch die Partikel generierte optische Signal durch eine hochsensitive Kamera zu er
fassen [M. Ishikawa, K. Hirano, T. Hayakawa, S. Hosoi und S. Brenner, "Single-
Molecule Detection by Laser-Induced Fluorescence Technique with a Position-
Sensitive Photon-Counting Apparatus", Japanese Journal of Applied Physics Part 1
33(3A), 1571-6, 1994]. Der Nachteil dieser Technik besteht in der Schwierigkeit, eine
räumlich völlig homogene Ausleuchtung und optische Detektion zu erreichen, und
besonders in den sehr hohen Kosten der Kamera, welche bei schwachem optischen
Signal (wie etwa bei einzelnen Molekülen) einzelphotonenempfindlich sein muß. Au
ßerdem stellt die hohe Intensität des Hintergrundsignals ein ernsthaftes Problem bei
diesem Verfahren dar.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung und ein Verfahren anzugeben,
die ein quantitatives Analysieren der optischen Helligkeit von auf einer Oberfläche
immobilisierten Partikeln mit einfachen Mitteln erlauben.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Verfahren mit den Merkmalen
des Anspruch 1 bzw. durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruch 7 ge
löst.
Durch das Verfahren bzw. die Vorrichtung werden die optischen Anregungs-
und Detektionsbedingungen für die optische Detektion einzelner Partikel, welche auf
einer Oberfläche immobilisiert sind, für jedes Partikel im wesentlichen identisch ge
staltet, also normiert. Die optische Abbildung der Blende auf die Oberfläche definiert
den Bereich optimaler Detektionseffizienz innerhalb des annähernd homogen anre
genden mittleren Bereichs des elongierten Fokus. Die Partikel treten aufgrund der
Verschiebung durch den Fokus senkrecht zu dessen Längsachse hindurch. Sie erfah
ren daher ein im wesentlichen einheitliches Anregungsprofil. Das pro Partikel detek
tierte optische Signal ist dann proportional zur Eigenhelligkeit der Partikel und unab
hängig von der Position des Partikels auf der Oberfläche. Die Eigenhelligkeit kann
somit für chemo- und bioanalytische Zwecke quantitativ ausgewertet werden.
Mit Hilfe der Vorrichtung kann für ein Ensemble von detektierten einzelnen
Partikeln eine Helligkeitsstatistik (Histogramm der Stärke des pro Partikel detektier
ten optischen Signals) erstellt werden. Da alle Partikel, welche detektiert werden, den
im wesentlichen gleichen Anregungs- und Detektionsbedingungen ausgesetzt sind,
widerspiegelt diese Statistik direkt die Verteilung der Eigenhelligkeiten der detektier
ten Partikel. Setzt sich das Ensemble von Partikeln z. B. aus einer diskreten Anzahl
verschiedener Partikelsorten unterschiedlicher Eigenhelligkeit zusammen, so wird je
der Partikelsorte ein Maximum in der Helligkeitsstatistik entsprechen. Somit läßt sich
aus der Helligkeitsstatistik direkt das Vorhandensein (bzw. die Abwesenheit) einer
bestimmten Partikelsorte ablesen. Außerdem kann über die Kenntnis der Zahl der de
tektierten Partikel in einem der Maxima der Helligkeitsstatistik die Oberflächenkon
zentration der dem Maximum entsprechenden Partikelsorte bestimmt werden.
Wenn die Eigenhelligkeit der Partikel proportional ist zu einer chemo- oder bio
analytisch relevanten Eigenschaft der Partikel, so spiegelt die Helligkeitsstatistik di
rekt die statistische Verteilung auch dieser chemo- oder bioanalytisch relevanten Ei
genschaft wider. Das Verfahren ist z. B. direkt anwendbar auf die Bestimmung der
Größenverteilung von Partikeln, welche mit optisch anregbaren und detektierbaren
Markern derartig markiert wurden, daß die Zahl der Marker per Partikel proportional
ist zur Größe der markierten Partikel.
Das Verfahren und die Vorrichtung sind auf jedes beliebige durch Licht anreg
bare optische Signal von Partikeln anwendbar, wie z. B. Fluoreszenz, Ramanstreuung
oder Rayleighstreuung. Das Verfahren und die Vorrichtung sind auf jede Art von Par
tikeln anwendbar, welche bei optischer Anregung ein optische Signal generieren, sei
en es vielatomige Teilchen oder einzelne Moleküle. Das Verfahren und die Vorrich
tung sind auch auf Partikel anwendbar, bei denen das optische Signal nicht durch opti
sche Anregung, sondern z. B. durch Chemolumineszenz entsteht.
Zur quantitativen Analyse der Stärke des optischen Signals und zur Bestimmung
der Eigenhelligkeit des Partikels ist es entscheidend, daß die Stärke des optischen Si
gnals während des Durchtritts durch den Fokus in ihrem Verlauf erfaßt wird. Dies er
laubt eine Integration oder sonstige Verarbeitung. Zu vermeiden ist, daß das Partikel
nur an einzelnen Stellen knapp vor oder nach dem Fokus beobachtet wird. Dazu sollte
die Verschiebung kontinuierlich oder mit einer Schrittweite erfolgt, die kleiner als die
Länge der Querachse ist. Die Detektion muß zur Verschiebung passend ausgelegt
sein. D. h. bei einer kontinuierlichen Relativverschiebung von Oberfläche bzw. Parti
kel und optischer Anordnung muß die Detektion in hinreichend kleinen Zeitinterval
len erfolgen.
Wird bei der Relativverschiebung nicht die Oberfläche, sondern der Fokus ver
schoben, so müssen auch die Sammeloptik, die Blende und der Detektor über die fixe
Oberfläche bewegt werden. Dazu bilden sie vorteilhafterweise eine bauliche Einheit.
Die Blende kann sowohl eine Spaltblende, deren Spalt parallel zur Oberfläche
und zur Querachse des elongierten Fokus ausgerichtet ist, als auch eine Rechteckblen
de sein, deren Längsachse parallel zur Oberfläche und zur Längsachse des elongierten
Fokus ausgerichtet ist.
Auch bei dieser optischen Anordnung ist es noch möglich, daß ein Partikel am
Rand des elongierten Fokus bzw. des Abbilds der Blende angeregt wird und ein
schwaches Signal liefert, obwohl seine Eigenhelligkeit im Prinzip groß ist. Die Mehr
zahl der Partikel wird jedoch durch den wesentlich größeren zentralen Bereich des
elongierten Fokus und des Abbilds der Blende hindurchtreten. Dies führt jeweils zu
im wesentlichen konstanten und starken optischen Signalen. Die Varianz der Stärke
der optischen Signale einer Vielzahl von einzelnen Partikeln (Helligkeitsstatistik) wird
somit gegenüber einem einfachen konfokalen Aufbau verkleinert. Die Verteilung der
optischen Signalstärke weißt ein Maximum in der Nähe des Erwartungswerts auf.
Dieses kann zur quantitativen Charakterisierung der Partikel mit hinreichender stati
stischer Zuverlässigkeit verwendet werden.
Eine weitere Verkleinerung der Varianz der Helligkeitsstatistik kann auf folgen
de Weise erreicht werden. Die Blende wird in Richtung der Längsachse des elongier
ten Fokus in Schwingung versetzt. Dabei wird die Amplitude der Schwingung ent
sprechend der räumlichen Ausdehnung des Übergangs von im wesentlichen maxima
ler Sammeleffizienz zu im wesentlichen verschwindender Sammeleffizienz in der
Ebene des elongierten Fokus gewählt. Partikel, die am Rand des Abbilds der Blende
durch den Fokus treten, erfahren dann abwechselnd eine verschwindende und eine
maximale Anregung. Die Stärke ihrer optischen Signale weißt dann charakteristische
Modulationen auf. Um diese detektieren zu können, wird die Frequenz der Schwin
gung zu den Zeitintervallen der Abtastung passend gewählt. Bei der Datenauswertung
werden die jeweils detektierten optischen Signale auf eine Modulation ihrer Stärke hin
untersucht. Wird eine Modulation mit der genannten Frequenz der Schwingung fest
gestellt, so liegt ein Signal eines Partikels vor, das am Rande des Abbilds der Blende
durch den Fokus trat. Diese Signale sind i.d.R. schwächer als es die Eigenhelligkeit
erwarten läßt. Um eine Fehleinschätzung der Eigenhelligkeit dieser Partikel zu ver
meiden, können sie bei einer weitergehenden Auswertung unberücksichtigt bleiben,
oder ihre reduzierte Eigenhelligkeit wird rechnerisch berücksichtigen. Auf diese Wei
se wird die Varianz der Helligkeitsstatistik weiter verkleinert.
In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung wird die Oberfläche mit einem zir
kular polarisierten Lichtstrahl bestrahlt. Dadurch wird ein eventueller Einfluß der Par
tikelorientierung auf die Anregungseffizienz ausgemittelt.
Eine weitere Möglichkeit, das Hintergrundsignal für die Detektion der einzelnen
Partikel zu verkleinern, wird dadurch erreicht, daß der Lichtstrahl von der dem Parti
kel abgewandten Seite der Oberfläche aus unter einem Winkel eingestrahlt wird, der
eine totale interne Reflexion des Lichtstrahls an der das Partikel tragenden Oberfläche
bewirkt, wodurch das Partikel evaneszent angeregt wird. Dadurch werden Rückrefle
xionen des Anregungslichts vermieden.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen ge
kennzeichnet.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen näher er
läutert, die in den Figuren schematisch dargestellt sind. Gleiche Bezugsziffern in den
einzelnen Figuren bezeichnen dabei gleiche Elemente. Im einzelnen zeigt:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht der Detektionsvorrichtung mit Auflichtan
regung, und
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht der Detektionsvorrichtung mit evanes
zenter Anregung in Totalreflektion.
Auf einer planaren Probenoberfläche 8 (z. B. Deckgläschen) seien die zu detek
tierenden Partikel immobilisert. Die optische Anregung dieser Partikel erfolgt durch
einen Laserstrahl 5 mit elongiertem (z. B. elliptischem) Intensitätsprofil, welcher über
den dichroitischen Spiegel 4 und die Optik 6 (z. B. Mikroskopobjektiv) auf die Pro
benoberfläche 8 fokussiert wird. Auf der Probenoberfläche 8 wird damit der elongierte
Anregungsfleck 7 gebildet. Der Laserstrahl kann dabei so polarisiert sein, daß die Po
larisation des Anregungslichtes im Anregungsfleck 7 zirkular ist, um somit die Anre
gungseffizienz der Partikel unabhängig von der oberflächenparallelen Orientierung
der Partikelabsorptionsdipole zu gestalten. Das von den Partikeln in diesem Anre
gungsfleck 7 erzeugte optische Signal wird über die Optik 6 gesammelt. Der dichroi
tische Spiegel 4 ist reflektierend für die Anregungswellenlänge des Lasers und durch
lässig für die Wellenlänge des von den Partikeln generierten optischen Signals. Somit
gelangt das von den Partikeln emittierte Licht über die Spaltblende 2 in den photo
elektrischen Detektor 1 (z. B. Photoelektronenvervielfacher), welcher das einfallende
Licht in ein elektrisches Signal umwandelt, was durch eine nachfolgende Elektronik
verarbeitet und ausgewertet werden kann. Die Längsachse des Anregungsflecks 7
steht senkrecht zur Spaltrichtung der Spaltblende 2, und die Längsausdehnung des
Anregungsflecks 7 ist größer als das Abbild der Spaltenbreite der Spaltblende 2, so
daß die Detektionseffizienz im Detektionsgebiet nahezu unabhängig von der Position
der Partikel senkrecht zur Spaltrichtung (entlang der Längsachse des Anregungsflecks
7) ist.
Um einen Einfluß der Abhängigkeit der photoelektrischen Empfindlichkeit des
photoelektrischen Detektors 1 über dessen Detektorfläche auf die Detektionsempfind
lichkeit auszuschließen, muß die Vergrößerung der Optik 6 so gewählt werden, so daß
der Detektor 1 jeden Punkt des Detektionsgebiets gleich empfindlich detektiert. Die
Detektionseffizienz hängt dann im wesentlichen nur ab von der Position der Partikel
längs der Spaltrichtung der Spaltblende 2 (quer zur Längsachse des Anregungsflecks
7).
Durch gleichmäßige relative Verschiebung der Probenoberfläche 8 entlang der
Richtung 9 werden die zu detektierenden Partikel in das Detektionsgebiet hinein- und
wieder hinaustransportiert. Die Verschiebung kann dabei kontinuierlich oder in dis
kreten Schritten erfolgen. Beträgt die Ausdehnung der Querachse des Fokus 7 im beu
gungsbegrenzten Fall etwa 1 µm, so empfiehlt sich eine Schrittweite der Verschie
bung von deutlich unter 0,5 µm, idealerweise etwa 0,1 µm. Bei größeren Abmessun
gen der Querachse kann auch die Schrittweite größer gewählt werden.
Simultan zur Verschiebung wird die Intensität des von den Partikeln generierten
optischen Signals in Zeitintervallen gemessen. Die Länge dieser Zeitintervalle ist we
sentlich kürzer als die Verweilzeit der Partikel im Anregungsfleck 7. Damit entsteht
ein kontinuierlicher Datenstrom, der jedem Zeitintervall die Quantität des darin ge
messenen optischen Signals zuordnet. Da die Länge eines Zeitintervalls wesentlich
kürzer ist als die Verweilzeit eines Partikels im Anregungsfleck 7, wird beim Eintritt
eines Partikels in das Detektionsgebiet die Quantität des gemessenen optischen Si
gnals von Zeitintervall zu Zeitintervall langsam steigen und nach Erreichen eines Ma
ximums wieder fallen, entsprechend dem Intensitätsprofil des Anregungslichtes quer
zur Elongation des Anregungsflecks 7. Damit können diese Partikeldurchgänge als
Intensitätspeaks im erfaßten Datenstrom identifiziert werden. Durch Aufsummierung
des optischen Signals in diesen Intensitätspeaks kann dann jedem Partikeldurchgang
eine Gesamthelligkeit zugeordnet werden. Da jedes Partikel beim Durchgang durch
das Detektionsgebiet dieselben Anregungs- und Detektionsbedingungen erfährt, wird
diese Gesamthelligkeit proportional zur Eigenhelligkeit der Partikel sein, was eine
Auswertung der ermittelten Gesamthelligkeiten für chemo- und bioanalytische Zwec
ke ermöglicht.
Der Aufbau ist ähnlich zu demjenigen gemäß Ausführungsbeispiel 1, aber die
optische Anregung erfolgt jetzt mit einem Laserstrahl 10 in Totalreflektion, wie in
Fig. 2 gezeigt. Wiederum muß die Längsachse des Anregungsflecks 7, die Spalten
breite der Spaltblende 2, deren gegenseitige Anordnung und die Vergrößerung der
Optik 6 so gewählt sein, daß die Detektionseffizienz im Detektionsgebiet nahezu un
abhängig von der Position der Partikel quer zur Spaltrichtung (entlang der Längsachse
des Anregungsflecks 7) ist. Auch der Transport der auf der Oberfläche immobilisier
ten Partikel sowie die Art und Weise der Erfassung des optischen Signals erfolgen wie
in Beispiel 1.
Claims (11)
1. Verfahren zur optischen Detektion eines auf einer Oberfläche (8) immobili
sierten Partikels,
wobei die Oberfläche (8) mit einem Lichtstrahl (5) derart bestrahlt wird, daß sich auf der Oberfläche ein elongierter Fokus (7) mit einer Längsachse und einer kür zeren Querachse bildet;
wobei die Oberfläche (8) mit dem immobilisierten Partikel und der Fokus (7) im wesentlichen in Richtung (9) der Querachse des elongierten Fokus relativ zueinander verschoben werden, wobei die Verschiebung kontinuierlich oder mit einer Schritt weite erfolgt, die kleiner als die Länge der Querachse ist;
wobei das im Fokus (7) erzeugte optische Signal über eine Sammeloptik (6) auf eine Blende (2) abgebildet wird, wobei Sammeloptik (6) und Blende (2) derart aufein ander abgestimmt werden, daß sich eine Sammeleffizienz für das im Fokus erzeugte optische Signal ergibt, die entlang der Längsachse des elongierten Fokus in dessen Mittelbereich im wesentlichen homogen ist und die außerhalb des Mittelbereichs im wesentlichen verschwindet; und
wobei das durch die Blende (2) tretende optische Signal von einer Detektions einrichtung (1) in Zeitintervallen detektiert wird, die das Abtasten des durch die Ver schiebung bewirkten Durchtritts des Partikels durch den elongierten Fokus (7) erlau ben.
wobei die Oberfläche (8) mit einem Lichtstrahl (5) derart bestrahlt wird, daß sich auf der Oberfläche ein elongierter Fokus (7) mit einer Längsachse und einer kür zeren Querachse bildet;
wobei die Oberfläche (8) mit dem immobilisierten Partikel und der Fokus (7) im wesentlichen in Richtung (9) der Querachse des elongierten Fokus relativ zueinander verschoben werden, wobei die Verschiebung kontinuierlich oder mit einer Schritt weite erfolgt, die kleiner als die Länge der Querachse ist;
wobei das im Fokus (7) erzeugte optische Signal über eine Sammeloptik (6) auf eine Blende (2) abgebildet wird, wobei Sammeloptik (6) und Blende (2) derart aufein ander abgestimmt werden, daß sich eine Sammeleffizienz für das im Fokus erzeugte optische Signal ergibt, die entlang der Längsachse des elongierten Fokus in dessen Mittelbereich im wesentlichen homogen ist und die außerhalb des Mittelbereichs im wesentlichen verschwindet; und
wobei das durch die Blende (2) tretende optische Signal von einer Detektions einrichtung (1) in Zeitintervallen detektiert wird, die das Abtasten des durch die Ver schiebung bewirkten Durchtritts des Partikels durch den elongierten Fokus (7) erlau ben.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Blende (2)
eine Spaltblende gewählt wird, deren Spalt parallel zur Oberfläche (8) und zur Quer
achse des elongierten Fokus ausgerichtet ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Blende (2)
eine Rechteckblende gewählt wird, deren Längsachse parallel zur Oberfläche (8) und
zur Längsachse des elongierten Fokus ausgerichtet ist.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß
der Lichtstrahl (5) von der dem Partikel abgewandten Seite der Oberfläche (8) aus
unter einem Winkel eingestrahlt wird, der eine totale interne Reflexion des Licht
strahls an der das Partikel tragenden Oberfläche bewirkt, wodurch das Partikel eva
neszent angeregt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die Oberfläche (8) mit einem zirkulär polarisierten Lichtstrahl (5) bestrahlt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die Blende in Richtung der Längsachse des elongierten Fokus in Schwin
gung versetzt wird,
wobei die Amplitude der Schwingung entsprechend der räumlichen Ausdehnung des Übergangs von im wesentlichen maximaler Sammeleffizienz zu im wesentlichen verschwindender Sammeleffizienz in der Ebene des elongierten Fokus gewählt wird, und
wobei die Frequenz der Schwingung zu den Zeitintervallen der Abta stung passend gewählt wird,
wodurch die optischen Signale von Partikeln, die am Rand des Abbilds der Blende durch den Fokus treten, in ihrer Stärke moduliert werden; und
daß die detektierten optischen Signale auf eine Modulation ihrer Stärke hin un tersucht und selektiert werden.
wobei die Amplitude der Schwingung entsprechend der räumlichen Ausdehnung des Übergangs von im wesentlichen maximaler Sammeleffizienz zu im wesentlichen verschwindender Sammeleffizienz in der Ebene des elongierten Fokus gewählt wird, und
wobei die Frequenz der Schwingung zu den Zeitintervallen der Abta stung passend gewählt wird,
wodurch die optischen Signale von Partikeln, die am Rand des Abbilds der Blende durch den Fokus treten, in ihrer Stärke moduliert werden; und
daß die detektierten optischen Signale auf eine Modulation ihrer Stärke hin un tersucht und selektiert werden.
7. Vorrichtung zur optischen Detektion eines auf einer Oberfläche (8) immobili
sierten Partikels, mit
einer Lichtquelle zum Erzeugen eines Lichtstrahls (5);
einer Fokussieroptik (6) zum Erzeugen eines elongierten Fokus (7) des Licht strahls (5) auf der Oberfläche (8), wobei der Fokus eine Längsachse und einer kürze ren Querachse hat;
einer Verschiebeeinrichtung zum Bewirken einer Relativverschiebung zwischen der Oberfläche (8) und dem Fokus (7), wobei die Verschiebung im wesentlichen in Richtung (9) der Querachse des elongierten Fokus (7) und kontinuierlich oder mit ei ner Schrittweite erfolgt, die kleiner als die Länge der Querachse ist;
einer Sammeloptik (6) zum Sammeln des im Fokus (7) erzeugten optischen Si gnals,
einer Blende (2), wobei das gesammelte optische Signal auf die Blende (2) ab gebildet wird, und wobei Sammeloptik (6) und Blende (2) derart aufeinander abge stimmt sind, daß sich eine Sammeleffizienz für das im Fokus erzeugte optische Signal ergibt, die entlang der Längsachse des elongierten Fokus in dessen Mittelbereich im wesentlichen homogen ist und die außerhalb des Mittelbereichs im wesentlichen ver schwindet; und mit
einer Detektionseinrichtung (1) zum Detektieren des durch die Blende (2) tre tenden optischen Signals, wobei die Detektionseinrichtung (1) das Abtasten des durch die Verschiebeeinrichtung bewirkten Durchtritts des Partikels durch den elongierten Fokus (7) erlaubt.
einer Lichtquelle zum Erzeugen eines Lichtstrahls (5);
einer Fokussieroptik (6) zum Erzeugen eines elongierten Fokus (7) des Licht strahls (5) auf der Oberfläche (8), wobei der Fokus eine Längsachse und einer kürze ren Querachse hat;
einer Verschiebeeinrichtung zum Bewirken einer Relativverschiebung zwischen der Oberfläche (8) und dem Fokus (7), wobei die Verschiebung im wesentlichen in Richtung (9) der Querachse des elongierten Fokus (7) und kontinuierlich oder mit ei ner Schrittweite erfolgt, die kleiner als die Länge der Querachse ist;
einer Sammeloptik (6) zum Sammeln des im Fokus (7) erzeugten optischen Si gnals,
einer Blende (2), wobei das gesammelte optische Signal auf die Blende (2) ab gebildet wird, und wobei Sammeloptik (6) und Blende (2) derart aufeinander abge stimmt sind, daß sich eine Sammeleffizienz für das im Fokus erzeugte optische Signal ergibt, die entlang der Längsachse des elongierten Fokus in dessen Mittelbereich im wesentlichen homogen ist und die außerhalb des Mittelbereichs im wesentlichen ver schwindet; und mit
einer Detektionseinrichtung (1) zum Detektieren des durch die Blende (2) tre tenden optischen Signals, wobei die Detektionseinrichtung (1) das Abtasten des durch die Verschiebeeinrichtung bewirkten Durchtritts des Partikels durch den elongierten Fokus (7) erlaubt.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Blende (2)
eine Spaltblende ist, deren Spalt parallel zur Oberfläche (8) und zur Querachse des
elongierten Fokus ausgerichtet ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Blende (2)
eine Rechteckblende ist, deren Längsachse parallel zur Oberfläche (8) und zur Längs
achse des elongierten Fokus ausgerichtet ist.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet,
daß der Lichtstrahl (5) zirkular polarisiert ist.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 10, gekennzeichnet durch ei
ne Vibrationseinrichtung zum Versetzen der Blende in Schwingung in Richtung der
Längsachse des elongierten Fokus, wobei die Amplitude der Schwingung der räumli
chen Ausdehnung des Übergangs von im wesentlichen maximaler Sammeleffizienz zu
im wesentlichen verschwindender Sammeleffizienz in der Ebene des elongierten Fo
kus entspricht, und wobei die Frequenz der Schwingung zu den Zeitintervallen der
Abtastung paßt.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998160278 DE19860278A1 (de) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Detektion eines auf einer Oberfläche immobilisierten Partikels |
PCT/DE1999/004105 WO2000039564A1 (de) | 1998-12-24 | 1999-12-23 | Verfahren und vorrichtung zur optischen detektion eines auf einer oberfläche immobilisierten partikels |
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DE1998160278 DE19860278A1 (de) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Detektion eines auf einer Oberfläche immobilisierten Partikels |
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DE19860278A1 true DE19860278A1 (de) | 2000-06-29 |
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ID=7892817
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1998160278 Withdrawn DE19860278A1 (de) | 1998-12-24 | 1998-12-24 | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Detektion eines auf einer Oberfläche immobilisierten Partikels |
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