DE19735716C2 - Verfahren zum Betrieb eines nichtdispersiven Infrarotspektrometers - Google Patents
Verfahren zum Betrieb eines nichtdispersiven InfrarotspektrometersInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betrieb eines nichtdispersiven
Infrarotspektrometers gemäß dem Oberbegriff der Patentansprüche 1 bzw 2.
Zur Zweikomponentenmessung nach dem nichtdispersiven fotometrischen Verfahren
wird üblicherweise für jede zu messende Komponente ein eigener Detektor eingesetzt.
Jeder Detektor wird hierbei mit der spezifisch zu messenden Gaskomponente gefüllt.
Nachteilig ist bei diesen Verfahren, daß jede Komponente einen eigenen Detektor
erfordert, der in der Herstellung relativ aufwendig ist. Bei der Realisierung einer
Mehrkomponentenmessung mit einer Anordnung aus dem Stand der Technik müsste
man ein Spektrometer vorsehen, welches entsprechend der Anzahl zu messender
Komponenten auch eine entsprechende Anzahl von Detektoren aufweist.
Eine weitere Möglichkeit besteht darin, mehrere Gase in einen Detektor zu
füllen und ihn so für mehrere Komponenten gleichzeitig zu selektivieren.
Auch hier ist die Herstellung relativ aufwendig. Hinzu kommt, daß sich nur
Gase einfüllen lassen, die nicht miteinander chemisch reagieren. Die
allgemeine Anwendbarkeit wird hierdurch beschränkt.
Aus der DE 39 37 141 A1 ist ein NDIR Analysator bekannt, welcher bereits
zwei hintereinander angeordnete Detektoren aufweist, aber es sind keine
Maßnahmen einer geeigneten Auswertung angegeben.
Aus der DE 44 29 010 A1 ist eine Vorrichtung zur Analyse von Gasen
bekannt, bei welcher mehrere Küvetten und somit mehrere Strahlengänge
parallel angeordnet sind. Dabei sind zwar mehrere Komponenten meßbar,
aber nicht in einem zusammenhängenden Gasgemisch.
Aus der DE 23 33 664 B2, der DE-AS 12 96 839 sowie der DE-OS 16 73
159 sind NDIR-Analysatoren bekannt, bei welchen die Einstellung einer
Phasenverschiebung durch Änderung der Geometrie oder des
Gasdruckes bewirkt wird. Diese werden, so wie bei der DE 28 45 070 A1
auch, zur Beseitigung von Störsignalen eingestellt.
Der vorliegenden Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, ein NDIR-
Fotometerbetriebsverfahren zur Zwei- oder Mehr-Komponentenmessung
zu entwickeln, das die genannten Nachteile nicht aufweist und das
Fotometer nur einen Detektor mit möglichst nur einer Füllgaskomponente
aufweist.
Die gestellte Aufgabe wird bei dem Verfahren der gattungsgemäßen Art
erfindungsgemäß durch die kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruches 1
gelöst. Eine weitere Ausgestaltungsform der Erfindung ist in den kennzeichnenden
Merkmalen des Anspruches 2 angegeben. Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der
erfindungsgemäßen Verfahren sind in den abhängigen Ansprüchen 3 bis 6
angegeben.
Zur Lösung der Aufgabe wird die Tatsache genutzt, daß ein NDIR-
Empfänger, der mit der Komponente A gefüllt ist, nicht nur für die
Komponente A sensitiv sein kann, sondern auch für eine Komponente B,
deren Absorptionsspektrum das Spektrum der Komponente A überlappt.
Bei der üblichen Anwendung des NDIR-Verfahrens wird der Empfänger
durch geeignete Dimensionierung des Kammerverhältnisses und der
Füllkonzentration so optimiert, daß die Komponente B möglichst
vollständig unterdrückt wird. Der für die Komponente A sensitive
Empfänger hat dann keine "Querempfindlichkeit" gegenüber der
Komponente B.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren wird dagegen die potentielle
Empfindlichkeit für die Komponente B gezielt genutzt. Es ist dann möglich,
sowohl die Komponente A als auch die Komponente B zu messen. Man
kann quasi zwischen Komponente A und B "hin- und herschalten". Beide
Komponenten können somit unabhängig voneinander und gleichberechtigt
gemessen werden.
Das Verfahren soll im folgenden näher erläutert werden. Wesentlich ist
hierbei zunächst der Verlauf der sogenannten Selektivitätsfunktion. Fig. 1
zeigt als Beispiel den Verlauf für eine einzige Rotationslinie des
feinstrukturierten Absorptionsspektrums der Modell-Komponente A. Im
Linienzentrum dominiert die Absorption der vorderen Empfänger-Kammer
(positives Signal), in den Flanken die Absorption der hinteren Kammer
(negatives Signal). Der Kammer- bzw. Detektoraufbau ist in Fig. 4
dargestellt; verwendet wird ein aus vorderer und hinterer
Empfängerkammer bestehender Zweischichtdetektor ZD, deren jeweilige
Längen d1 und d2 sind mit Membrankondensator M.
Das Infrarotspektrometer weist ferner noch auf, eine Strahlungsquelle S,
einen Chopper CH, eine Meßküvette MC, eine Referenzküvette RC, eine
phasenempfindliche Signaldetektion G; ferner ein Referenzsignal RS was
der Chopperfrequenz entspricht, eine Einrichtung PH zur Bestimmung der
Phasenlage der Choppperfrequenz, sowie dem zur Meßauswertung
erhaltenen Empfangssignal ES, welches in der phasenempfindlichen
Signaldetektion G phasenempfindlich ausgewertet wird.
Der Empfänger sei mit der Komponente A gefüllt. Befindet sich die
Komponente A in der vor dem Empfänger angeordneten Meßküvette MC,
so koinzidieren die Absorptions-Feinstrukturen des Füllgases und das
Meßküvettengases vollständig. Somit ist im wesentlichen nur die vordere
Empfängerkammer aktiv. Für die Komponente B, deren Spektrum i. a.
erheblich vom Spektrum der Komponente A abweicht, ergeben sich ganz
andere Verhältnisse. Mit einer Koinzidenz der Feinstrukturen ist hier
überhaupt nicht zu rechnen. Im allgemeinen wird deshalb sowohl die
vordere als auch die hintere Empfängerkammer je nach
Absorptionsspektrum der Komponente B beteiligt sein.
Bei der Umsetzung der im Empfänger absorbierten Energie in die vom
Membrankondensator M gemessene Druckänderung spielt die
Wärmeleitung des Empfängerfüllgases eine wichtige Rolle. Da die
Strahlungsabsorption für Komponente A und B an verschiedenen
Empfängerkammerorten geschieht, ergeben sich für Komponente A und B
etwas unterschiedliche Phasenbeziehungen bei der Umsetzung in das
Drucksignal.
Diese Phasenverschiebung ist der Schlüssel zum Verständnis der
Erfindung. In Fig. 2 sind die elektrischen Ausgangssignale des
Empfängers für die Komponente A und für eine ausgewählte Komponente
B schematisch dargestellt. Die zeitlichen Maxima der beiden Signale
treten zu verschiedenen Zeiten auf. Der Empfänger ist so optimiert, daß
die Maxima um etwa 90° gegeneinander verschoben sind.
In der phasenempfindlichen Signaldetektion G der Signalverarbeitung
gemäß Fig. 4 wird die Fläche innerhalb des eingezeichneten Zeitfensters
in Fig. 2 aufintegriert. Für die Komponente A erhält man so maximale
Empfindlichkeit. Das Signal der Komponente B verschwindet aber
andererseits, da sich die positiven und negativen Anteile gerade aufheben.
Verschiebt man das Phasenfenster um 90° nach links, so kehren sich die
Verhältnisse um (Fenster mit gestrichelten Linien). Jetzt wird Komponente
B optimal erfaßt und Komponente A verschwindet. Durch entsprechende
Wahl des Phasenfensters kann also einmal nur Komponente A und zum
anderen nur Komponente B gemessen werden.
Ist die Phasenverschiebung des Meßsignales zwischen Komponente A
und Komponente B nicht exakt 90°, so kann durch leichte Verschiebung
des Phasenfensters immer der Punkt gefunden werden, wo jeweils der
Meßbetrag einer Komponente verschwindet.
Die Wirkung des beschriebenen Verfahrens ist auch in der imaginären
Zahlenebene der Empfindlichkeit vektoriell darstellbar (gemäß Fig. 3; x-
Achse = Realteil der Empfindlichkeit; y-Achse = Imaginärteil der
Empfindlichkeit). Im Diagramm sind die Vektoren A' und B' eingezeichnet,
die den Komponenten A und B entsprechen, die etwa einen Winkel von
70° einschließen. Die Länge des Vektors entspricht der Signalamplitude.
Zur Kompensation der Komponente B wird die x-Achse solange gedreht,
bis B' senkrecht auf ihr steht. Die neue Lage der x-Achse ist mit x'
gekennzeichnet. Das Phasenfenster steht jetzt so, daß die Komponente B
gerade kompensiert wird. Für die Komponente A erhält man eine
Empfindlichkeit, die der Projektion des Vektors A' auf die x'-Achse
entspricht.
Für die Messung der Komponente B dreht man das Koordinatensystem
so, daß der Vektor A' senkrecht auf der x-Achse steht (x"-Achse). Die
Komponente A wird also vollständig kompensiert. Die Empfindlichkeit für
die Komponente B entspricht jetzt der Projektion des Vektors B' auf die x"-
Achse.
Das Verfahren ist auch dann anwendbar, wenn die Phasenverschiebung
von 90° abweicht und auch dann, wenn mehr als zwei Komponenten zu
messen sind. Mit Hilfe chemometrischer Methoden kann auch ein n-
komponentiges Problem gelöst werden, indem die Phase nacheinander
auf n verschiedene Werte eingestellt wird.
Insbesondere ist es mit dem chemometrischen Ansatz auch möglich,
Nullpunktdriften zu kompensieren, die durch "graue" Absorption (z. B.
Verschmutzung und Alterung) entstehen. Je nach Empfängerfüllung hat
die graue Absorption eine ganz bestimmte Vektorlage und kann so über
die Phasenbeziehung erfaßt werden.
Je nach gewünschter Anwendung kann es vorteilhaft sein, eine zweite
Gaskomponente in den Empfänger einzubringen, mit der sich die
gewünschte 90°-Phasendrehung für die Komponente B realisieren läßt.
Mit Hilfe des beschriebenen Verfahrens ist es nunmehr außerdem möglich
auch zur Mehrkomponentenmessung den Detektor lediglich nur mit einer
Gaskomponente füllen zu müssen. Die Sensitivität auf die zweite oder
weitere Komponenten ensteht beispielsweise durch sogenannte
Querempfindlichkeit, die in diesem Falle zweckmäßig ausgenutzt wird. Der
Detektor wird also bei einer n-Komponenten-Messung nur mit maximal n - 1
Gaskomponenten gefüllt. Für eine Zwei-Komponentenmessung wird
beispielsweise der Detektor nur mit einer Gaskomponente gefüllt.
Claims (6)
1. Verfahren zum Betrieb eines nichtdispersiven Infrarotspektrometers, bei welchem
ein aus mehreren Gaskomponenten bestehendes Meßgas durch eine Küvette
durchgeleitet wird, die von einem von einer Strahlungsquelle ausgehenden und
modulierten Lichtstrahl durchlaufen wird, und der von einem nach
optopneumatischem Effekt arbeitenden Zweischichtdetektor erfaßt wird, dessen
Signalerzeugung von den Absorptionsverhältnissen des Meßgases abhängt,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Infrarotspektrometer zur Erfassung von mindestens zwei verschiedenen
Gaskomponenten (A, B, . . .) dadurch sensitiv eingestellt wird, daß die Abmessungen
der Empfängerkammern und die Konzentration des Füllgases der
Empfängerkammern derart fest vorgegeben oder eingestellt werden, daß zwischen
den Signalen der einzelnen Gaskomponenten (A, B, . . .) eine Phasenverschiebung
entsteht, die so bemessen wird, daß in einem verwendeten Zeitfenster der
Signalauswertung das Integral des Wechselsignals bezüglich der jeweils einen zu
messenden Gaskomponente maximal ist und das Integral der anderen
Gaskomponente Null oder nahe Null ist.
2. Verfahren zum Betrieb eines nichtdispersiven Infrarotspektrometers, bei welchem
ein aus mehreren Gaskomponenten bestehendes Meßgas durch eine Küvette
durchgeleitet wird, die von einem von einer Strahlungsquelle ausgehenden und
modulierten Lichtstrahl durchlaufen wird, und der von einem nach
optopneumatischem Effekt arbeitenden Zweischichtdetektor erfaßt wird, dessen
Signalerzeugung von den Absorptionsverhältnissen des Meßgases abhängt,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Infrarotspektrometer zur Erfassung von mindestens zwei verschiedenen
Gaskomponenten (A, B, . . .) dadurch sensitiv eingestellt wird, daß die Abmessungen
und die Konzentration des Füllgases eines vor dem Zweischichtdetektor
angeordneten Gasfilters derart fest vorgegeben oder eingestellt werden, daß
zwischen den Signalen der einzelnen Gaskomponenten (A, B, . . .) eine
Phasenverschiebung entsteht, die so bemessen wird, daß in einem verwendeten
Zeitfenster der Signalauswertung das Integral des Wechselsignals bezüglich der
jeweils einen zu messenden Gaskomponente maximal ist und das Integral der
anderen Gaskomponente Null oder nahe Null ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2
dadurch gekennzeichnet,
daß die Phasenverschiebung zwischen zwei Gaskomponenten gleich oder nahe 90°
ist.
4. Verfahren nach einem
der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Zeitfenster in welchem das Signal erfaßt wird durch eine elektronische
Filterung in Form einer phasenempfindlichen Gleichrichtung eingestellt oder
verschoben wird.
5. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß zur Messung der Konzentration zweier oder mehrerer
Gaskomponenten temporär gemessen wird, indem zwischen den
einzelnen zur Messung der jeweiligen Komponente wesentlichen
Phasenlagen hin- und hergeschaltet wird.
6. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Detektor mit maximal n - 1 Gaskomponenten gefüllt wird, wobei
n die Anzahl der Gaskomponenten ist, auf die der Detektor sensitiv
einstellbar ist.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10255697A1 (de) * | 2002-11-29 | 2004-06-17 | Abb Patent Gmbh | Optisches Fotometer mit Referenz- und Messstrahlengang |
DE102011109000A1 (de) * | 2011-07-29 | 2013-01-31 | Abb Technology Ag | Optische Gasanalysatoreinrichtung mit Mitteln zumVerbessern des Dynamikbereichs der Messung |
DE102012216210A1 (de) * | 2012-09-12 | 2014-01-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator nach dem Zweistrahlverfahren |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19922590C2 (de) * | 1999-03-08 | 2001-10-18 | Inst Chemo Biosensorik | Infrarot-Gassensor und Verfahren zum Betreiben des Infrarot-Gassensors |
ATE248367T1 (de) | 1999-03-08 | 2003-09-15 | Icb Inst Fuer Chemo Und Biosen | Gassensor und verfahren zum betreiben eines gassensors |
DE102009021829A1 (de) * | 2009-05-19 | 2010-11-25 | Siemens Aktiengesellschaft | NDIR-Zweistrahl-Gasanalysator und Verfahren zur Bestimmung der Konzentration einer Messgaskomponente in einem Gasgemisch mittels eines solchen Gasanalysators |
DE102010063521B4 (de) | 2010-12-20 | 2013-07-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum Ermitteln einer Lageänderung der Rotationsachse eines rotierenden Körpers innerhalb der Rotationsebene |
DE102011108941B4 (de) | 2011-07-29 | 2013-02-28 | Abb Technology Ag | Optische Gasanalysatoreinrichtung mit Mitteln zum Verbessern der Selektivität bei Gasgemischanalysen |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1296839B (de) * | 1964-04-07 | 1969-06-04 | Ustav Pro Vyzkum A Vyuziti Tuh | Nichtdispersiver Infrarot-Einstrahl-Analysator |
DE1673159A1 (de) * | 1964-04-07 | 1970-08-06 | Ustav Pro Vyzkum A Vyuziti Tuh | Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Stoffen,vorzugsweise von Gasen,durch selektive Absorption eines infraroten Strahlenbuendels |
DE1598893B2 (de) * | 1966-07-27 | 1972-06-22 | Nicht-dispersives ultrarotanalysengeraet | |
DE2333664B2 (de) * | 1973-07-02 | 1979-04-05 | H. Maihak Ag, 2000 Hamburg | Nichtdispersives Infrarot-Gasanalysengerät |
DE2845070A1 (de) * | 1978-10-16 | 1980-04-30 | Hartmann & Braun Ag | Elektrische signalverarbeitungsschaltung fuer infrarotgasanalysatoren |
DE3937141A1 (de) * | 1989-11-08 | 1991-05-16 | Hartmann & Braun Ag | Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator zur gleichzeitigen messung der konzentration mehrerer komponenten einer gasprobe |
DE4429010A1 (de) * | 1994-08-16 | 1996-02-22 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Analyse von Gasen |
-
1997
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1296839B (de) * | 1964-04-07 | 1969-06-04 | Ustav Pro Vyzkum A Vyuziti Tuh | Nichtdispersiver Infrarot-Einstrahl-Analysator |
DE1673159A1 (de) * | 1964-04-07 | 1970-08-06 | Ustav Pro Vyzkum A Vyuziti Tuh | Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Stoffen,vorzugsweise von Gasen,durch selektive Absorption eines infraroten Strahlenbuendels |
DE1598893B2 (de) * | 1966-07-27 | 1972-06-22 | Nicht-dispersives ultrarotanalysengeraet | |
DE2333664B2 (de) * | 1973-07-02 | 1979-04-05 | H. Maihak Ag, 2000 Hamburg | Nichtdispersives Infrarot-Gasanalysengerät |
DE2845070A1 (de) * | 1978-10-16 | 1980-04-30 | Hartmann & Braun Ag | Elektrische signalverarbeitungsschaltung fuer infrarotgasanalysatoren |
DE3937141A1 (de) * | 1989-11-08 | 1991-05-16 | Hartmann & Braun Ag | Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator zur gleichzeitigen messung der konzentration mehrerer komponenten einer gasprobe |
DE4429010A1 (de) * | 1994-08-16 | 1996-02-22 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Analyse von Gasen |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10255697A1 (de) * | 2002-11-29 | 2004-06-17 | Abb Patent Gmbh | Optisches Fotometer mit Referenz- und Messstrahlengang |
DE102011109000A1 (de) * | 2011-07-29 | 2013-01-31 | Abb Technology Ag | Optische Gasanalysatoreinrichtung mit Mitteln zumVerbessern des Dynamikbereichs der Messung |
DE102011109000B4 (de) * | 2011-07-29 | 2014-05-15 | Abb Technology Ag | Optische Gasanalysatoreinrichtung mit Mitteln zumVerbessern des Dynamikbereichs der Messung |
DE102012216210A1 (de) * | 2012-09-12 | 2014-01-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator nach dem Zweistrahlverfahren |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19735716A1 (de) | 1999-02-04 |
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8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: ABB PATENT GMBH, 68309 MANNHEIM, DE |
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D2 | Grant after examination | ||
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Owner name: ABB PATENT GMBH, 68526 LADENBURG, DE |
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