DE19716044C2 - Verfahren zum selektiven galvanischen Aufbringen von Lotdepots auf Leiterplatten - Google Patents
Verfahren zum selektiven galvanischen Aufbringen von Lotdepots auf LeiterplattenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum selektiven galvanischen Aufbringen von Lotdepots auf
Leiterplatten gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1.
Leiterplatten enthalten auf ihrer Oberfläche Pads (Kupferflächen), auf die unter Verwendung von
Zinn-Blei-Lot Bauelemente aufgelötet werden. Beim Aufschmelzlöten oberflächenmontierter
Bauelemente muß das notwendige Lot in Form eines Depots zur Verfügung gestellt werden.
Für die Bestückung ausgelieferte Leiterplatten bestehen aus voneinander elektrisch getrennten
metallischen Leiterzügen und Metallflächen (Pads) auf isolierendem Träger. Die Leiterzüge sind
meist durch einen Oberflächenschutz (Lötstopplack), der sich mit Ausnahme der Pads über die
gesamte Leiterplattenfläche zieht, geschützt. Auf die Pads werden oberflächenmontierte
Bauelemente unter Verwendung von Zinn-Blei-Lot durch Aufschmelzlöten aufgelötet (Montage).
Dazu muß die erforderliche Lotmenge durch ein vorher auf die Pads aufgebrachtes Lotdepot zur
Verfügung gestellt werden. Diese Lotdepots müssen definierte Abmessungen und insbesondere eine
relativ große Höhe haben. Weiterhin müssen die Oberflächen plan sein, damit das aufschmelzende
Lot beim Löten die Bauelementanschlüsse umschließt, denn Lot bildet beim Aufschmelzen eine
kugelförmige Oberfläche auf Grund der Oberflächenspannung aus. Das Depot wird dadurch höher.
Aus diesem Grund sind vor der Montage aufgeschmolzene Lotdepots oder schmelzflüssig
aufgebrachtes Lot nicht geeignet.
Zu den bekannten Verfahren zur Herstellung dieser Lotdepots zählt der Sieb- oder Schablonendruck
von Lotpasten. Dieses Verfahren wird derzeit weitestgehend angewendet. Es werden zwar plane
Depots erzeugt, die jedoch nicht fest sind und damit durch mechanische Beanspruchung zerstört
werden können. Damit muß der Anwender diesen Arbeitsgang unmittelbar vor dem Montageprozeß
ausführen. Angestrebt werden deshalb feste Lotdepots, die vom Leiterplattenhersteller
vorkonfektioniert geliefert werden. Weiterhin ist der Sieb- oder Schablonendruck für Feinstruktur-
Anwendungen nicht mehr präzise genug. Durch seitlich unter dem Sieb oder der Schablone
austretendes Lot oder durch beim Aufsetzen der Bauelemente verdrücktes Lot können Lotperlen
auf der isolierten Oberfläche oder Kurzschlüsse entstehen, die die Qualität der Leiterplatten
verringern.
Verfahren zum Planieren aufgeschmolzener Lotdepots sind bekannt. In durch eine zusätzliche wieder
entfernbare Resistschicht hergestellte Kavitäten wird Lot (als Paste oder schmelzflüssig) eingebracht
(EP 0487 782 A1), aufgeschmolzen und durch einen Walzvorgang planiert (EP 0681 416 A2). Das
Verfahren ist kompliziert, nicht zuverlässig genug und ebenfalls nur bedingt für feine Strukturen
verwendbar. Auch das Formen mittels Matritzen (EP 0540 497 A2) oder das Aufpressen von gestanzten
Lotfolien (DE 195 35 622 A1) findet Anwendung, ist jedoch für feine Strukturen nicht anwendbar.
Durch den Walzvorgang werden Oxide gebildet und in die Oberfläche eingearbeitet, wodurch die
Lötfähigkeit beeinträchtigt wird.
Weiterhin ist der galvanische Auftrag fester dicker Lotschichten auf die Pads bekannt. Dies ist ein
wirtschaftlich günstigstes Verfahren zur Herstellung relativ dicker Metallschichten. In der DE 43 07
784 A1 wird dieses Verfahren eingesetzt. Bei diesem Verfahren wird die galvanische Lotabscheidung
bereits in einer Vorstufe im Leiterplattenherstellungsprozeß, wenn die leitende Kupferkaschierung
noch vorhanden ist, durchgeführt. Danach wird aber das aufgebrachte Lotdepot im weiteren
Leiterplattenherstellungsprozeß durch die nachfolgenden Arbeitsschritte, insbesondere den
Ätzprozeß chemisch und durch die Aushärtung des Lötstopplackes (Oberflächenschutz) thermisch
stark korrodiert. Ergebnis ist eine schlechte Lötbarkeit.
Insbesondere durch die geforderte Höhe der Beschichtung und die Materialmenge, können bekannte
chemische stromlose Abscheidungsverfahren durch z. B. Ladungsaustausch nicht Anwendung finden,
da nur geringe Materialmengen abgeschieden werden können. Lediglich die galvanische Abscheidung
mittels Strom ist produktiv genug, um feste Lotdepots ausreichender Höhe mit planer Oberfläche
herzustellen. Um die abgeschiedenen Metallschichten jedoch durch nachfolgende chemische und
thermische Prozesse wenig zu schädigen, muß die Abscheidung möglichst als letzter Arbeitsgang
vor der Montage erfolgen. In diesem Bearbeitungszustand sind die Pads auf der Leiterplatte nicht
mehr elektrisch miteinander verbunden, wodurch die galvanische Abscheidung mittels Strom
ungeeignet erscheint. Deshalb muß die Leiterplatte mit einer Leitschicht überzogen werden.
Es ist bekannt, Kunststoffflächen galvanisch mit einer Metallschicht zu versehen. Dazu werden diese
Flächen herkömmlich mit leitfähigen Materialien beschichtet, auf die dann galvanisiert werden kann.
Bekannt sind Beschichtungen mit Graphit oder Ruß, mit intrinsisch leitfähigen Polymeren (DE 42
27 836 A1 oder DE 195 02 988 A1), mit Metallic-Grundlack (DE 36 37 088 C2). Diese Schichten können auch
maskiert werden, damit eine selektive Beschichtung erfolgen kann (DE 36 37 088 C2). Diese Verfahren
dienen jedoch dazu, die nichtleitenden Flächen galvanisch zu beschichten. Meist verbleibt die
leitfähige Beschichtung oder ein Teil eines zusammengesetzten Lackes (DE 36 37 088 C2) unter der
aufzugalvanisierenden Metallschicht als Haftvermittler. Die Leitfähigkeit dieser aufgebrachten
Materialien ist meist für die Stromleitung für eine galvanische Abscheidung zu gering.
In einem bekannten Verfahren (EP 0726 698 A2) wird zur Herstellung von Lotbeschichtungen auf
Pads von Mikroleiterplatten die gesamte Leiterplatte mit einer leitfähigen Metallschicht überzogen.
Diese Metallschicht kann durch chemisch/galvanische Abscheidung von Metallen, wie Kupfer, Gold
u. a. oder durch Vakuumbedampfung (u. a. mit Aluminium) hergestellt werden. Nach einer
Abdeckung mit einem Dielektrikum und dessen Strukturierung, gegebenenfalls der strukturierten
Entfernung der Leitschicht wird galvanisch Zinn-Blei oder ein anderes Lot so abgeschieden, daß die
Menge nach dem Aufschmelzen den Raum zwischen der Lötabdeckung um das Pad ausfüllt und der
Meniskus über das Niveau der Lötabdeckung ragt. Durch das notwendige Aufschmelzen entsteht
keine plane, sondern eine kuglige Oberfläche des Lotdepots. Die leitfähige Metallschicht verbleibt
bzw. löst sich im Lot auf und kann dabei die Lötergebnisse beeinträchtigende Metalllegierungen
ergeben oder sie muß durch einen zusätzlichen Ätzschritt entfernt werden. Die Entfernung der
erforderlichen Leit- und Strukturierungs-Hilfsschichten muß mehrstufig erfolgen. Das Aufbringen
der Leitschicht mittels galvanotechnischer oder vakuumtechnischer Verfahren ist sehr
arbeitsaufwendig. Weiterhin muß die Leitschicht entweder sehr gut lötfähig sein oder leicht entfernt
werden können.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist ein weiteres Verfahren zur galvanischen Herstellung von
Lotdepots mittels elektrischer Kontaktierung vereinzelter Pads auf Leiterplatten zur nachfolgenden
strukturierten galvanischen Behandlung, wobei die elektrische Kontaktierung, die Strukturierung und
die Entfernung der Hilfsschichten in wenig Arbeitsschritten durchgeführt werden sollen.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe durch ein Verfahren mit den im Anspruch angegebenen
Merkmalen gelöst.
Auf die gesamte Oberfläche der strukturierten und mit Lötstopplack abgedeckten Leiterplatte wird
eine zusätzliche leitfähige Schicht aufgebracht. Diese Leitschicht kann aus reinem Metall bestehen
(z. B. eine aufgesputterte Al-Schicht, eine chemisch/fremdstromlos nach bekanntem Verfahren
aufgebrachte Kupferschicht) oder aus einem gut leitfähigen Polymer (z. B. Polymerlack oder
fotostrukturierbarer Lack, der mit Metallpulver oder leitfähigen anorganischen oder organischen
Verbindungen gefüllt ist oder ein intrinsisch leitfähiges Polymer hoher Leitfähigkeit) oder einem
sandwichartigen Verbund einer reinen Polymerfolie (z. B. Fotoresist) mit einer leitfähigen Schicht
(z. B. metallgefülltes Polymer) bestehen. Die Sandwichfolie wird dann mit der leitfähigen Seite auf
die Isolier- und Metallflächen auflaminiert.
Diese temporäre Leitschicht wird mit einer strukturierbaren Abdeckung (temporärer
Lackabdeckung) versehen, damit sie bei dem nachfolgenden Galvanikprozeß nicht mit beschichtet
wird. Die Strukturierung kann durch strukturierten Auftrag (Siebdruck o. ä..) oder durch
fotolithografische Prozesse eines üblichen Fotolackes erfolgen. Die Pads bleiben frei oder werden
durch fotolithografische Bearbeitung (Belichten, Entwickeln) der Abdeckung freigelegt. Diese
Abdeckung braucht nicht zu erfolgen, wenn die Leitschicht auf Grund ihres Aufbaues (Sandwich-
Aufbau) oberflächlich nicht leitfähig ist
Auf den freigelegten Metallflächen wird die temporäre Leitschicht von den Pads so entfernt, daß nur
die Ränder des Pads elektrisch kontaktiert werden, die Padfläche jedoch frei von Fremdschichten ist.
Das kann erfindungsgemäß dadurch erfolgen, daß die Leitschicht selbst fotolithografisch bearbeitbar
und damit bereits mit belichtet und entwickelt wird (Leitmaterial gemischt mit fotostrukturierbarem
Lack) oder leicht löslich oder ätzbar ist.
In die entstandenen Kavitäten werden galvanotechnisch aus einem Elektrolyten unter Verwendung
der temporären Leitschicht zur Stromübertragung auf die damit kathodisch geschalteten Pads nach
üblichem Verfahren eine oder mehrere Schichten der aufzutragenden Metalle oder sonstige durch
galvanische Verfahren abscheidbare Materialien abgeschieden. Damit entsteht das feste Lotdepot.
Im Gegensatz zu den bekannten Lösungen können mit dem erfindungsgemäßen Verfahren feste
Lotdepots hergestellt werden, die eine plane Oberfläche besitzen, die durch nur geringe chemische
und thermische Beanspruchung wenig verändert ist, sodaß die gute Lötfähigkeit erhalten bleibt.
Weiterhin zeichnet sich das Verfahren durch wenige Arbeitsschritte (fotolithografische
Strukturierung und Galvanisierung) aus. Das Verfahren ist auch geeignet, andere galvanisch
herstellbare Materialaufbauten auf vereinzelt liegenden Metallflächen zu realisieren.
Durch die Strukturierung können auch Metallflächen, die nicht beschichtet werden sollen (zum
Bonden vorbereitete Flächen, Durchkontaktierungen) und nicht durch den Oberflächenschutz
geschützt sind, unbeschichtet bleiben.
Die Erfindung wird zunächst nachstehend anhand der Zeichnung erläutert:
In den Fig. 1-6 wird die Abfolge des erfindungsgemäßen Verfahrens bis zum Vorliegen der
erfindungsgemäßen Leiterplatte dargestellt.
Fig. 1 zeigt zunächst eine typische Leiterplatte, auf der die zu galvanisierenden Metallflächen (Pads)
für die Aufnahme der Lotdepots (1) und nicht zu galvanisierende Metallflächen (2) bzw. Leiterzüge
(3) dargestellt sind. Die nicht zu galvanisierenden Metallflächen sind schon durch einen
Oberflächenschutz (Lötstopplack) abgedeckt.
Fig. 2 zeigt diese Leiterplatte im Querschnitt mit den vorhandenen Pads aus Kupfer (1) und dem
Lötstopplack (4), sowie dem isolierenden Träger (Basismaterial) (5) der Leiterplatte.
Fig. 3 stellt den ganzflächigen Auftrag der temporären Leitschicht (6) auf die Oberfläche der
Trägerplatte und die aufgetragene temporäre Lackabdeckung (7) dar. Beide Schichten können nach
einander oder im Verbund miteinander auf die Oberfläche aufgebracht werden. Im letzteren Fall muß
die Leitschicht so verformbar sein, daß sie an den Kanten des Oberflächenschutzes nicht reißt. Wird
im Siebdruck oder einem ähnlichen strukturierten Auftragsverfahren die temporäre Lackabdeckung
(7) aufgebracht, ist sie dann bereits wie in Fig. 4 strukturiert.
In Fig. 4 ist die temporäre Lackabdeckung (7) strukturiert und die Leitschicht (6) von den zu
beschichtenden Pads (1) entfernt. Die Strukturierung kann fotolithografisch erfolgen (wenn der
Auftrag nicht bereits durch Siebdruck strukturiert erfolgt ist). Bei der fotlithografischen
Strukturierung wird die temporäre Lackabdeckung so mit UV-Licht durch eine Fotovorlage
belichtet, daß durch nachfolgende Entwicklung die zu galvanisierenden Flächen freigelegt werden.
Es entstehen Kavitäten, in die später die Lotdepots eingebracht werden. Metallflächen oder Teile
davon, die nicht galvanisch beschichtet werden sollen (2), bleiben bedeckt, wenn dies bei der
Belichtung berücksichtigt wird. Wird insbesondere die Fotovorlage so gestaltet, daß ein schmaler
Randbereich des Pads bedeckt bleibt, ist gewährleistet, daß die temporäre Leitschicht stets auf der
Metallfläche endet. Ist dies nicht der Fall, können dort, wo die temporäre Leitschicht keinen Kontakt
mit Metallflächen hat, vagabundierende Beschichtungen an den Flanken der Metallschicht auf den
Isoliermaterialien oder dem Oberflächenschutz entstehen, die zwar mechanisch (weil nicht haftfest)
entfernt werden können, jedoch zusätzlichen Aufwand erfordern. Durch überstehende temporäre
Lackabdeckung wird auch vermieden, daß beim Entfernen der temporären Leitschicht von der
Metallfläche die elektrische Leitung an den Flanken mit zerstört wird.
Fig. 5 stellt die galvanische Abscheidung der Zinn-Blei-Legierung bzw. des Lotdepots (8) in die
Kavitäten dar. Die galvanische Abscheidung kann über den Rand der Abdeckung hinaus erfolgen,
jedoch muß dann mit seitlichem Überwachsen gerechnet werden. Die mögliche Höhe der
Beschichtung richtet sich nach der Dicke der temporären Lackabdeckung und dem auf Grund der
Feinstruktur (Nähe benachbarter Metallflächen) möglichen seitlichen Überhang. An Stelle eines
Metalles oder einer Metallegierung (Zinn/Blei-Lot für Reflow-Lötverfahren) kann auch ein
sandwichartiger Metallaufbau aus verschiedenen galvanischen abscheidbaren Materialien in die
Kavitäten eingebracht werden, wie z. B. ein Aufbau aus Kupfer mit oberflächlicher Nickel-Gold
Abscheidung als Bondfläche oder palladiumbeschichtete Kontakte.
Fig. 6 stellt die fertige Leiterplatte im Querschnitt dar. Die temporäre Lackabdeckung (7) und die
temporäre Leitschicht (6) wurden rückstandslos entfernt. Auf Grund der Herstellung ist die
Oberfläche der aufgebrachten Metallschicht an der Oberfläche plan. Sie eignet sich besonders gut
zum optimalen Aufsetzen vielpoliger SMD-Bauelemente, die dann durch Reflow-Löten kontaktiert
werden sollen. Die Oberfläche des Lotdepots (8) ist chemisch und thermisch nahezu unbeeinflußt,
da nach der galvanischen Abscheidung lediglich das Strippen der temporären Lackabdeckung und
der temporären Leitschicht erfolgt. Dieses Strippen kann mit milden Strippern erfolgen. Die
temporäre Leitschicht kann dabei in einem Arbeitsgang mit entfernt werden, wenn das Bindemittel
oder die Schicht in dem gleichen Strippmittel entfernbar ist. Eine dünne Metallschicht aus Aluminium
kann z. B. mi Hilfe verdünnter Säure oder Lauge, die wenig schädigend wirkt und nur kurzzeitig
verwendet werden muß, entfernt werden. Eine thermische Belastung, wie sie beim Aushärten von
Lötstopplack oder ähnlichen Oberflächenschutz entsteht, entfällt im Gegensatz zu anderen
Verfahren, da dieser Oberflächenschutz vor und nicht nach der galvanischen Lotdepotherstellung
angebracht werden kann.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen noch näher erläutert.
Auf die ganze Oberfläche einer strukturierten und mit Lötstopplack beschichteten Leiterplatte wird
ein speziell präparierter Fotofestresist als temporäre Lackabdeckung (7) laminiert, der auf seiner
Unterseite eine leitfähige Schicht (temporäre Leitschicht (6)) eines feinkörnigen Silberpulvers in
Fotolack gebunden enthält. Diese so vorbereitete Oberfläche wird mittels UV-Licht durch eine
Fotoschablone belichtet und in einem üblichen Entwickler (z. B. 1.%-ige Sodalösung) entwickelt.
Dabei lösen sich über den Pads (1), die mit Lotdepots (8) beschichtet werden sollen, die
Resistschicht (7), der Fotolack und damit wird das Silberpulver abgeschwemmt. Danach wird in
einem Zinn-Bleielektrolyten auf Fluoroboratbasis solange galvanisiert, bis die gewünschte
Lotdepothöhe erreicht wird. In einem zweiten galvanischen Schritt kann noch eine lötvermittelnde
Schutzschicht, z. B. Reinzinn abgeschieden werden. Fotoresist und Fotolack werden mittels Lauge
abgelöst (gestrippt), das Silberpulver abgeschwemmt. Diese Leiterplatte kann nach dem Spülen und
Trocknen sofort in üblicher Weise mit Bauelementen bestückt werden. Durch die Verwendung des
speziell präparierten Fotofestresistes wird der Verfahrensaufwand beträchtlich gesenkt.
Vorgehensweise wie in Beispiel 1, jedoch wird statt des speziell präparierten Fotofestresistes ein mit
Metallpulver gefüllter Fotolack auf die Leiterplatte aufgegossen. Während des Trocknungsprozesses
sinken die Metallteilchen im Lack, so daß eine leitfähige Schicht (temporäre Leitschicht (6)) zur
elektrischen Kontaktierung der Pads (1) ensteht, die Oberfläche des gehärteten Lackes (temporäre
Lackabdeckung (7)) jedoch nicht galvanisierfähig ist. Es wird in der beschriebenen Form belichtet,
entwickelt und galvanisiert. Durch einen milden Fotolackstripper wird die Lackschicht und damit
auch das Metallpulver entfernt, die Leiterplatte gereinigt und getrocknet.
Claims (1)
- Verfahren zum selektiven galvanischen Aufbringen von Lotdepots (8) auf mit Lötstoplack versehenen Leiterplatten, wobei
- a) auf die Oberfläche einschließlich der freiliegenden Metallflächen eine zusätzliche leitfähige Schicht (6) aufgebracht wird,
- b) die zusätzliche leitfähige Schicht (6) mit einer strukturierbaren Abdeckung (7) versehen wird,
- c) die mit Lotdepots (8) zu versehenden Metallflächen (1) von der strukturierbaren Abdeckung (7) und der zusätzlichen leitfähigen Schicht (6) befreit werden, wobei die leitfähige Schicht so entfernt wird, daß die Ränder der mit Lotdepots (8) zu versehenden Metallflächen (1) mit der leitfähigen Schicht (6) kontaktiert bleiben,
- d) in den bei Schritt c) gebildeten Kavitäten galvanotechnisch unter Verwendung der leitfähigen Schicht (6) ein oder mehrere Schichten aufzutragender galvanisch abscheidbarer Materialien abgeschieden werden und
- e) die strukturierbare Abdeckung (7) und die leitfähige Schicht (6) von der Leiterplatte entfernt
werden, wobei die Lotdepots (8) auf den Metallflächen verbleiben,
dadurch gekennzeichnet, daß die Schritte a) und b) in einem gemeinsamen Schritt erfolgen, indem- 1. ein mit Metallpulver gefüllter Fotolack aufgebracht wird, dessen Metallteilchen sich beim Trocknen absetzen und so die leitfähige Schicht (6) bilden, oder
- 2. ein Festresist auflaminiert wird, der auf seiner Unterseite eine leitfähige Schicht (6) in Form von leitfähigen Metallpulvern aufweist.
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EP1322146A1 (de) * | 2001-12-18 | 2003-06-25 | Phoenix Precision Technology Corporation | Methode zur elektrochemische Abscheidung von Lötbällen auf eine organische Leiterplatte |
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0487782A1 (de) * | 1990-11-30 | 1992-06-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum Beloten von Leiterplatten |
EP0540497A2 (de) * | 1991-10-29 | 1993-05-05 | Alcatel Austria Aktiengesellschaft | Verfahren zur Herstellung fester Lotbeschichtungen |
DE4227836A1 (de) * | 1992-08-20 | 1994-05-05 | Atotech Deutschland Gmbh | Verfahren zur Metallisierung von Nichtleitern und die Verwendung einer sauren Lösung |
DE4307784A1 (de) * | 1993-03-12 | 1994-09-15 | Korsten & Goossens Gue | Verfahren zum Herstellen von mit Pads versehenen Leiterplatten für die SMD-Bestückung |
EP0681416A2 (de) * | 1994-05-06 | 1995-11-08 | Seiko Epson Corporation | Leiterplatte und Verfahren zur Verbindung von elektronischen Teilen |
DE19502988A1 (de) * | 1995-01-31 | 1996-08-08 | Univ Dresden Tech | Verfahren zur galvanischen Beschichtung von Polymeroberflächen |
EP0726698A2 (de) * | 1995-02-13 | 1996-08-14 | International Business Machines Corporation | Verfahren zum selektiven Auftragen von Lötmetall auf Schaltungspackungen |
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1997
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0487782A1 (de) * | 1990-11-30 | 1992-06-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum Beloten von Leiterplatten |
EP0540497A2 (de) * | 1991-10-29 | 1993-05-05 | Alcatel Austria Aktiengesellschaft | Verfahren zur Herstellung fester Lotbeschichtungen |
DE4227836A1 (de) * | 1992-08-20 | 1994-05-05 | Atotech Deutschland Gmbh | Verfahren zur Metallisierung von Nichtleitern und die Verwendung einer sauren Lösung |
DE4307784A1 (de) * | 1993-03-12 | 1994-09-15 | Korsten & Goossens Gue | Verfahren zum Herstellen von mit Pads versehenen Leiterplatten für die SMD-Bestückung |
EP0681416A2 (de) * | 1994-05-06 | 1995-11-08 | Seiko Epson Corporation | Leiterplatte und Verfahren zur Verbindung von elektronischen Teilen |
DE19502988A1 (de) * | 1995-01-31 | 1996-08-08 | Univ Dresden Tech | Verfahren zur galvanischen Beschichtung von Polymeroberflächen |
EP0726698A2 (de) * | 1995-02-13 | 1996-08-14 | International Business Machines Corporation | Verfahren zum selektiven Auftragen von Lötmetall auf Schaltungspackungen |
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