DE1524856A1 - Wortadressierbare Datenspeicher mit mehreren defekten Speicherelementen - Google Patents
Wortadressierbare Datenspeicher mit mehreren defekten SpeicherelementenInfo
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- DE1524856A1 DE1524856A1 DE19671524856 DE1524856A DE1524856A1 DE 1524856 A1 DE1524856 A1 DE 1524856A1 DE 19671524856 DE19671524856 DE 19671524856 DE 1524856 A DE1524856 A DE 1524856A DE 1524856 A1 DE1524856 A1 DE 1524856A1
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Description
703 B(JBLINGEN SINDELFINGER STRASSE 49
FERNSPRECHER (07031)6613040
Böblingen, 3. Juli 1967 " ko-hn
Anmelderin: International Business Machines
Corporation, Armonk, N. Y. 10 504
Amtliches Aktenzeichen: Neuanmeldung
Aktenzeichen der Anmelderin: Docket 10 898
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betrieb von wortadressierbaren
Datenspeichern mit mehreren defekten Speicherelementen.
Die überwiegende Mehrzahl üblicher Speicher ist vom magnetischen Typ
und hat adressierbare Wortspeicher stellen. Bei den meisten dieser Spei-
keine
eher istVVorsorge getroffen für den Fall, daß eine oder mehrere dieser Wortstellen defekte Speicherstellen enthalten; allenfalls kann der Programmierer die Benutzung gewi-sser Adressen vermeiden. Mit wa-chsender Speichergröße wächst das Problem, mit leistungsfähigen Stromkreisen bei wirtschaftlichem Aufwand einen Speicher mit defekten Speicherelementen ohne Programmier eins chränkungen noch weiter zu betreiben. Es ist ein Verfahren bekannt, dem ganzen Speicher oder bfcliebigen Teilen desselben ein oder mehrere weitere Speicherelemente zuzu-
eher istVVorsorge getroffen für den Fall, daß eine oder mehrere dieser Wortstellen defekte Speicherstellen enthalten; allenfalls kann der Programmierer die Benutzung gewi-sser Adressen vermeiden. Mit wa-chsender Speichergröße wächst das Problem, mit leistungsfähigen Stromkreisen bei wirtschaftlichem Aufwand einen Speicher mit defekten Speicherelementen ohne Programmier eins chränkungen noch weiter zu betreiben. Es ist ein Verfahren bekannt, dem ganzen Speicher oder bfcliebigen Teilen desselben ein oder mehrere weitere Speicherelemente zuzu-
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ordnen, deren Speicherinhalte vorbestimmte Operationen, die den Inhalt
der zugehörigen Speicherstelle betreffen, unterdrücken und/oder modifizieren (DAS 1 114 049). Dabei findet jedoch keine Änderung
der Adresse statt.
Das Problem wird noch komplizierter, wenn der Speicher aus Massenspeicherelementen
wie z. B. Ferritröhren oder dünnen magnetischen Filmen hergestellt ist statt aus diskreten Speicherelementen
wie z. B. Magnetkernen. Die letzteren Speicherelemente können individuell vor der Verdrahtung geprüft werden, so daß defekte Elemente
ausgeschieden werden können. Einige Elemente können aber erst beim Zusammenbau der Ebenen, oder noch später beim Gebrauch
defekt werden. Die vorliegende Erfindung findet auf alle diese Fälle Anwendung als auch in gesteigertem Maße auf umfangreiche Großraumspeicher
mit Massenspeicherelementen, bei deren Fabrikation, die zur gleichen Zeit gemeinsam stattfindet, viele Elementgruppen ein oder
mehrere defekte Speicherelemente enthalten. Großraumspeicher enthalten normalerweise eine größere Anzahl defekter Speicherpositionen
als Speicher aus diskreten Elementen. Weiterhin sind diese defekten Positionen über den ganzen Speicher verteilt und die Verteilung ist
unterschiedlich bei sonst gleichen Speichern.
Der moderne Einsatz datenverarbeitender Maschinen macht es erforderlich,
daß dem Programmierer keine Einschränkungen bei der Pro-
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grammierung derartiger Großraumspeicher auferlegt werden, dergestalt, daß gewisse Speicherpositionen nicht benutzt werden dürfen,
und daß diese Programme auf anderen Maschinen mit an anderen Speicherplätzen defekten Speichern nicht benutzt werden dürfen.
Es ist daher die Aufgabe der Erfindung, ein verbessertes und wirtschaftliches Speicherverfahren zu erstellen, welches ohne Änderung
von Programmadressen für das System, auch mit einer Anzahl defekter, willkürlich verteilter Speicherstellen betrieben werden kann.
Für ein Verfahren zum Betrieb von wortadressierbaren Datenspeichern
mit mehreren defekten Speicherelementen und je einem Wort zugeordneten zusätzlichen, statusanzeigenden Speicherelementen besteht die
Erfindung darin, daß beim Adressieren eines Wortes ein Prüfbittreiber zunächst das dem Wort zugeordnete, statusanzeigende Speicherelement abfragt, daß das Ausgangs signal des zusätzlichen Speicherelements eine'Vorrichtung zur Adressmodifikation erregt, und daß
beim Vorliegen eines Wortes mit einem oder mehreren defekten Speicherelementen die Vorrichtung statt der adressierten eine andere Wortstelle in geordneter Aufeinanderfolge auswählt.
Zur Durchführung dieses Verfahrens enthält die Vorrichtung zur Adress·
modifikation erfindungsgemäß ein Verschieberegister aus bistabilen
Speicherelementen, dessen Fortschaltung durch eine durch die Adresse
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der Wortstelle bestimmte Anzahl von Verschiebeimpulsen erfolgt, wobei
bei einem oder mehreren defekten Speicherelementen der Wortstelle die zugehörige Stufe der bistabilen Speichervorrichtung umgangen,
d. h. nicht gesetzt wird, wodurch nicht die adressierte defekte Wortstelle, sondern die nächstfolgende betriebsbereite Wortstelle im Speicher
angesprochen wird.
Weiterhin erfolgt gemäß der Erfindung nach zerstörendem Lesevorgang
das Wiedereinschreiben der vorher ausgelesenen Information in die zusätzlichen,
statusanzeigenden Speicherelemente unter der Mitwirkung des einen Halbstromes, der die Spaltenleitung der Speicherelemente
an der durch die modifizierte Adresse angegebenen Wortstelle durchfließt.
0 0 9 8 L 8 / 1 C 0 5
152A856
Im folgenden wird die Erfindung an Hand eines durch Zeichnungen erläuterten
Ausführungsbeispieles näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1: ein Blockdiagramm des Speichersystems in der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung,
Fig. 2B u. zusammen, wie in Fig. 2 gezeigt, mehr Einzelheiten der 2C
Adressmodifikation, die in Blockform in Fig. 2A erläutert ist und in dieser Form in das Blockdiagramm, der Fig. 1
aufgenommen ist.
Im Blockdiagramm, der Fig. 1 einer Ausführungsform der Erfindung stellen
zwölf Blöcke die prinzipiellen funktioneilen Einheiten des Systems dar. Die zentrale Einheit des Systems ist der Speicher, durch Block 10 dargestellt.
Der Speicher 10 besteht aus senkrechten Spalten und waagerechten Zeilen bistabiler Speicherelemente, die in einer Koordinatenanordnung zusammengestellt
sind. Diese Speicherelemente werden für Lese- und Schreiboperationen adressiert,und Auslesesignale werden unter Benutzung zweier Leitungsbündel
1OX und 1OY erzeugt» Die Leitungen 1OY verlaufen senkrecht
durch den Speicher, wobei jede Leitung mit allen Speicherelementen in
einer entsprechenden Spalte der Anordnung gekoppelt ist. Die Leitungen in dem anderen Bündel 1OX verlaufen waagerecht durch die Anordnung, wobei
jede dieser Leitungen mit allen Speicherelementen in einer entsprechenden Zeile der Anordnung gekoppelt ist. Die Speicherelemente der Anordnung
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können konventionelle ringförmige magnetische Kerne sein, da es jedoch
Ziel der Erfindung ist, auch bei Vorhandensein einer Anzahl unwirksamer Speicherelemente den Betrieb des Speichers zu gewährleisten, und
dieses Problem in seiner schwerwiegenden Form bei der Fabrikation sehr umfangreicher Großspeicher auftritt, ist die Erfindung nicht auf
Kernspeicher beschränkt. Insbesondere kann der Speicher aus fortlaufenden röhrenförmigen Zylindern magnetischen Materials gefertigt sein,
von denen jeder eine große Anzahl von Speicherelementen oder magnetischen Dünnfilmebenen enthält, die als integrierte Einheiten gefertigt sind,
die eine große Anzahl von Speicherelementen in jeder Ebene enthalten.
Der Speicher 10 der in Fig. 1 dargestellten Ausführungsform ist ein
2 1/2D Speicher. Diese Bezeichnung wird benutzt, um den Speicher von konventionellen zweidimensionalen (2D) und dreidimensionalen (3D) Speichern
zu unterscheiden. In einem 3D Speicher sind separate Bündel von AdressleitungenJund jedes Speicherelement in der Anordnung hat damit
verbunden eine unterschiedliche Kombination von drei Leitungen, je eine von jeder der drei-Gruppen» In einer 2D Anordnung sind zwei Gruppen
von Adressleitungen ,und jedes Speicherelement wird gesteuert von einer
unterschiedlichen Kombination von zwei Leitungen, je einer von jeder
dieser Gruppen. In einer 2 1/2D Anordnung ist der körperliche Aufbau ähnlich dem einer konventionellen 2D Anordnung, indem nur zwei Leitungsbündel
verwendet werden, jedoch ist der Operationsmodus unterschiedlich, indem sowohl das Legen als auch das Schreiben von Informationsworten
durch Halbstrombetrieb erreicht wird und Tor schaltungen
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am Eingang und Ausgang der Anordnung vorgesehen sind, um einen Speiche
rbetricb mit einer minimalen Anzahl von Eingabe- Zeilen- und Spalten-Treiberstromkreisen
und Ausgabe-LeBeverstärkern zu ermöglichen.
Genauer gesagt, stellt der Block 12 in dem System der Fig. 1 die Zeilentreiber
dar und der Block 14 die Eingabematrix für die Zeilenauswahl, die die Signale durchschaltet, die von den Zeilentreibern einer ausgewählten
Gruppe der Zeilen-Treiberleitungen 1OX zugeführt sind. Der Block 16 ™
stellt die Spaltentreiber und der Block 18 die Spaltenauswahl-Matrix dar,
die die Signale von diesem Treiber zu den ausgewählten Spalten-Treiber leitungen
1OY durchschaltet. Ausgabe signale werden während einer Ausleseoperation auf den Zeilenleitern 1OX erstellt, die als Treiber- und als
Leseleitungen dienen. Eine Ausgabematrix für Zeilenauswahl EO schaltet
die Ausgangssignale aus den ausgewählten Leitungen 1OX durch und leitet sie zu einer Gruppe von allgemein mit 22 bezeichneten Leseverstärkern,
die zehn Verstärkerpositionen Al bis AlO enthält. Die Leseverstärker i sind mit einem Datenregister 24 verbunden, welches zehn Positionen Rl
bis RIO enthält, und die Ausgangsleitungen dieses Registers sind mit
einem Ausgabeschalter 26 gekoppelt. Dieser Schalter wird so gesteuert,
daß er die verstärkten Ausgänge der Speicher selektiv auf drei Leitungsbündel 26A, 26B und 26C leitet. Die Leitungen 26A, von denen es zehn
gibt, übertragen diese Ausgänge auf die verbleibenden Teile des Systems, in denen der Speicher benutzt wird. Es gibt 10 Ausgangsleitungen 26B1
und diese Leitungen sind auf die Eingangsleitungen 12A für die Zeilentreiber
12 zurückgeführt. Sieben dieser Leitungen 26B sind auch mit
0 0 9 P : " ■' U 0 5
einem anderen Bündel verbunden, welches Prüf-Bit-Treiber genannt ist
und von Block 30 dargestellt wird. Sieben Ausgangsleitungen 26C vom
Ausgabe schalter 26 sind als Eingänge zur Adressmodifikation 32 geschaltet.
Die Ausgänge dieses Stromkreises sind die Leitungen 32C und sind mit den Eingangsleitungen 14A und 2OA der Eingabe- und
Ausgabematrizen für Zeilenauswahl 14 und 20 verbunden. Die Signale
für die Steuerung des Betriebs des Speichersystems werden den verschiedenen funktioneilen Einheiten durch eine Steuerung 34 zugeführt.
Die allgemeine Organisation und Arbeitsweise des Speicher systems der
Fig. 1 ist im wesentlichen die eines konventionellen 2 1/2D Speichers.
Um die Erfindung richtig darzulegen, werden zunächst in der nachfolgenden Beschreibung die konventionellen Aspekle des Speichersystems
beschriebenind danach die Wirkungsweise des Prüf-Bit-Treibers 30,
der Adressmodifikation 32 und gewisser Speicherpositionen in einem Teil 10-8 des Speichers und die Steuerung dieser Komponenten, die
die Fähigkeit besitzen, mit unwirksamen Speicherpositionen zu arbeiten.
Der Speicher 10 ist in acht Positionen aufgeteilt, die mit 10-1 bis 10-8
bezeichnet sind. Der achte Teil 10-8 ist ein Teil der Einrichtung zur Aufrechterhaltung
des Speicherbetriebs, wenn er unwirksame Speicherpositionen aufweist und soll im Augenblick nicht beschrieben werden.
Die sieben Teile des Speichers 10-1 bis 10-7 haben entlang jeder senkrechten Spalte 70 Speicherpositionen, die in sieben Gruppen mit
10 Speicherpositionen in jeder Gruppe unterteilt sind. Die Wortliinge
0 C 9 B '. 8 / 1 /. 0 5
BAD
für den Speicher dieser Ausführungsform ist zehn binäre Positionen, und
daraus kann man ersehen, daß es sieben Wortspeicherstellen gibt, die je zehn Bits entlang jeder senkrechten Spalte des Speichers 10 enthalten.
Die Anzahl der Speicherpositionen entlang jeder Zeile kann variieren und nur drei Treiberleitungen 1OY an jedem Ende der Anordnung sind gezeigt.
Wenn man annimmt, daß es 20 solcher Treiberleitungen gibt und 20 Spalten im. Speicher, so ist der Speicher in der Lage, 140 Wörter zu
speichern, wobei jedes Wort 10 Bits enthält. Es ist natürlich offensichtlich, daß Großspeicher des Typs, auf den sich diese Erfindung prinzipiell
bezieht, üblicherweise sehr viel mehr Wortstellen und sehr viel mehr Speicherpositionen pro Wort enthalten. Die Ausführungsform der Fig. 1
mit der relativ kleinen Anzahl von Wortstellen und Speicherpositionen ist als ein Beispiel der Erfindung gezeigt, da die Prinzipien des Betriebs,
wie sie sich auf die Erfindung beziehen, dieselben sind für diesen kleineren Speicher wie sie es auch für einen größeren Speicher sein
würden. Diese Vereinfachung in der Anzahl der Speicherpositionen ist daher nur vorgenommen, um eine Verkomplizierung der Zeichnung mit
mehr Verbindungen zu vermeiden, die in keiner Weise der Erklärung des erfinderischen Prinzips dienlich gewesen wäre.
Lese- und Schreiboperationen werden im Speicher 10 bei jeder Wortstelle
ausgeführt. Während einer jeden solchen Operation wird^iie Stelle des
zu verarbeitenden Wortes dadurch ermittelt, welche der Spalten-Treiberleitungen erregt sind und welche von den Gruppen der Zeilen-Treiberlei-
00iiß/i0/U0B
tungen 1OX erregt sind. Es gibt eine Gruppe mit zehn solcher Leitungen
für jede der sieben Teile 10-1 bis 10-7 der Speicheranordnung. Diese Auswahl wird unter der Steuerung der Spaltenauswahl-Matrix 18 und
den Eingabe- und Ausgabematrizen für Zeilenauswahl 14 und 20 getroffen, die wiederum von Signalen gesteuert werden, die an die Eingangsleitungen
18A, 14A und 20A angelegt sind. Bei konventioneller 2 l/2D Arbeitsweise des Speichers stellen die Signale, die an diese Eingangsleitungen
angelegt sind, die Eingangsadresse für den Speicher-Zyklus dar. Diese
Adressen-Signale werden von der Steuerung 34 zugeführt. Es sei angenommen,
daß der Speicher-Zyklus in der ersten Spalte des Speichers
durchzuführen sei, und daß der Speicher-Zyklus, wie üblich, eine Lese-
und eine Schreiboperation beinhaltet. Der betreffende Teil der ersten
Spalte des Speichers, in dem das Wort auszulesen ist, wird durch das Anlegen der Adressensignale an die Leitungen 14A bestimmt, die
die Matrix für die Zeilenauswahl veranlaßt, die für die Leseoperation richtige Gruppe der Zeilenleitungen 1OX auszuwählen. Die Auslese signale
werden von den Zeilentreibern 12 zugeführt und werden durch die Matrix 14 auf den ausgewählten Speicherteil durchgeschaltet. Eine Leitung
12B aktiviert die Zeilentreiber auf ein von der Steuerung 34 empfangenes Signal hin, die Auslese signale zur Matrix für Zeilenauswahl 14
hin abzusenden. Wenn man annimmt, daß die Leitungen 1OX für den Speicherteil 10-1 ausgewählt sind, werden Halbstrom-Auslesesignale
an diese Zeilenleitungen angelegt. Diese Signale haben eine Polarität, um jeden Kern, an den sie angelegt werden, in seinen binären NuIl-Zustand
umzuschalten, eines alleine ist jedoch nicht in der Lage,
009848/1/f 05
den stabilen Zustand der Kerne zu ändern. In der ersten Spalte des
Speichers und im Teil 10-1 dieser Spalte wird jedoch ein ähnliches Halbstromsignal an die Spalten-Treibferleitung 1OY angelegt, nachdem
die Zeilen-Leitungen 1OX erregt sind. Es werden also Koinzidenzsignale an die zehn Speicherkerne in dieser Wortstelle angelegt und jeder Kern,
der in seinem binären Eins-Zustand ist, wird in seinen binären NuIl-Zustandyumgeschaltet.
Da jeder Kern nur an zwei Leitungen angeschlossen ist, und die Leitungen 1OX als Treiber- und Leseleitungen dienen,
werden während einer Ausleseoperation die Leitungen 1OX erregt, und dann wird die ausgewählte Leitung 1OY erregt, wodurch ein Signal auf
jeder Leitung 1OX in der ausgewählten Wortstelle induziert wird, welche mit einem Kern, der eine binäre Eins speichert, gekoppelt ist.
Die Eingabematrix für Zeilenauswahl 14 und die Spaltenauswahl-Matrix
werden während einer Schreiboperation in derselben Art und Weise gesteuert. Der Spaltentreiber 16 führt dann jedoch einen Halbstrom-Impuls
gegensinniger Polarität zu. Die Zeilentreiber IZ führen Signale nur denjenigen Leitxmgen für die Zeilen zu, in denen binäre Einsen
geschrieben werden sollen, wobei diese Signale HalbBtrom-Signale entgegengesetzter Polarität als die während einer Leseoperation zugeführten
sind.
Während einer Ausleseoperation werden den Leitungen 20A Signale
von der Steuerung 34 zugeführt, um die Verbindung der Ausgabe-Matrix
für Zeilenauswahl mit der ausgewählten Gruppe der Zeilenleitungen
00 9ß'.f.'UQ5 bad ORlGWAL
1524356 11
1OX zu veranlassen. Die Ausgangssignale, die auf den Leitungen 1OX
entstanden sind, die mit dem ausgewählten Teil des Kernspeichers verbunden sind, durchlaufen die Ausgabematrix 20 und werden als Eingänge
an die zehn Leseverstärker Al bis AlO angelegt. Hier werden diese Signale
verstärkt und dem Datenregister 24 zugeführt. Bei der konventionellen Betriebsweise des 2 l/2D Speichers wird das vom Speicher zum Datenregister
24 ausgelesene Informationswort von diesem Register durch den Ausgabeschalter 26 auf die Leitungen IbA übertragen, die das Wort auf
die anderen betriebsbereiten Einheiten des Systems übermitteln. Die Ausleseoperation
ist, wie beschrieben, eine zerstörende Operation, d. h. , das Auslesen des Wortes zerstört die Information, die in der adressierten
Wortstelle gespeichert ist. Die Ausgabeleitungen 26B vom Ausgabe schalter 26 übermitteln diese Information zurück auf die Leitungen 12A,
die als Eingänge zu den Zeilentreibern 12 dienen, und eine Schreib-Operation
des oben beschriebenen Typs wird ausgeführt, um die Information wieder zurück in den Speicher 10 zu schreiben.
Die Operation des Speichers, wie bis zu diesem Punkt beschrieben, ist
die eines konventionellen 2 l/2D Speichers mit sieben Wortteilen 10-1 bis 10-7, in denen alle Bit-Speicherpositionen als fehlerfrei arbeitend
anger ommen Find. Bei der Fabrikatirin von Großspeichern werden jedoch einige Spei ehe rposilionen nach dem Piüfcn als nicht fehlerfrei arbeitoul
gefunden. Weiterhin ist es ebenialJt, möglich, daß gewisse Speiche
rpo si ti one ri, die ursprünglich wirksam waren, nach dem Gebrauch im
o: 9·. i :■/ U05
tatsächlichen Betrieb unwirksam werden. Da die Instandsetzung dieser
Speicher selbst bei Benutzung von Kernen als Speicherelemente schwierig ist und sogar noch schwieriger dort, wo integrierte oder Großtypen
dieser Geräte verwendet werden, sind die Vorteile offensichtlich, solche
Speicher auch noch bei Vorhandensein unwirksamer Speicherelemente betreiben zu können. In der Ausführungsform der Fig. 1 wird der Teil
10-8 nicht zum Speichern von Informationsworten benutzt, sondern um,
besser gesagt Kennzeichen zu speichern, ob alle Speicherpositionen in jedem Wort des Speichers betriebsbereit sind oder nicht. Der Teil
10-8 des Speichers enthält daher ein Speicherelement für jede Wortstelle im Speicher und es gibt sieben Speicherelemente in jeder senkrechten
Spalte des Teils 10-8 des Speichers, Diese Speicherelemente werden statusanzeigende Speicherelemente genannt und kennzeichnen durch
ihren binären Zustand^i&en betriebsfähigen Status der Wortstellen im Speicher.
Der Speicher wird nach der Fabrikation oder während der Benutzung geprüft, um festzustellen, ob die Speicherelemente in den verschiedenen
Wortstellen betriebsfähig sind. Wenn das Wort betriebsbereit ist, werden die zugehörigen Speicherelemente im Teil 10-8 in ihren binären NuIl-Zustand
versetzt. Wenn eines oder mehrere der Speicherelemente in irgendwelchen
Wortstellen nicht betriebsbereit sind, werden die entsprechenden Speicherelemente im Teil 10-8 des Speichers in ihren binären Eins-Speicherzustand
versetzt. Mit dieser im Teil 10-8 des Speichers gespeicherten Information wird der Speicher zunächst Immer dann abgefragt, wenn eine
Schreib- oder Leseoperation durchgeführt werden soll, um zu bestimmen,
BAD ürü 009848/14 06
ob die Speicherstelle, die adressiert werden soll, auch völlig betriebsbereit
ist.
Genauer gesagt, wird der Speicher 10 durch Spezifizieren der einzelnen
zu adressierenden Spalte adressiert uirld/er einzelnen Wortstelle (erste,
zweite, dritte, usw.) in dieser Spalte. Wenn irgendeine solche Adresse, so z, D. eine Adresse, die die dritte Wortstelle in Spalte 1 spezifiziert,
dem Speicher zugeführt wird, so wird der vorgesehene Stromkreis wirksam, um die dritte betriebsbereite Wortstelle in dieser Spalte automatisch
zu bestimmen. Wenn daher die zweite Wortstelle in der ersten Spalte nicht betriebsbereit ist (Teil 10-2 des Speichers) und der Speicher für
die zweite Wortstelle in der ersten Spalte adressiert ist, verursacht der Stromkreis automatisch die Durchführung der Lese- oder Schreiboperation
' in der zweiten betriebsbereiten Wortstelle in dieser Spalte, welches natürlich
die dritte Wortstelle wäre. Ähnlich würde verfahren, wenn die dritte Stelle adressiert würde und wieder angenommen würde, daß die
zweite Wortstelle nicht betriebsbereit ist, so würde die vierte Wortstelle automatisch für die durchzuführende funktionelle Operation gewählt
werden. Um Vorkehrungen gegen nicht betriebsbereite Wortstellen, oder, genauer gesagt, Wortstellen, die nicht-betriebsbereite Bits enthalten, zu
treffen, benutzt der Speicher der Fig. 1 tatsächlich zu jeder Zeit nur fünf der Wortstellen in jeder Spalte. Die beiden anderen Stellen sind
als Ersatz vorgesehen, um eingesetzt zu werden, wenn irgendeine der anderen Wortstellen nicht betriebebereit ist. Wenn mehr als zwei Wortstellen in irgendeiner Spalte unwirksam werden, müssen weitere Strom-
009848/ U05 bad or:g:nal
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kreise vorgesehen werden, um die Adressen zu ändern. Jedoch ist die Anordnung der-gestalt, daß in jedem Bereich oder jeder Spalte
des Speichers ausreichende Austausch-Wortstellen vorgesehen sind, um diese Möglichkeit vage erscheinen zu lassen.
Der Betrieb des Speichers schließt drei funktioneile Operationen ein,
um einen konventionellen normalen Speicherzyklus des Speichersystems der Fig. 1 durchzuführen. Zunächst eine Adressentest- und Modifika- Λ
tionsoperatiun, dann eine Lese-Operation und schließlich eine Schreib-Opcration.
Der erste Schritt in der Adressentest- und Modifikations-Operation ist, ein Signal über die Leitung 3OA an flic Prüfbit-Treiber
30 zu legen. Dieses Signal wird von der Steuerung 3H1 zugeführt. Dann
legen die Prüibit-Treiber Halbstrom-Lesehignale an die sieben Zeilenleitungen
1OX für den Teil 10-8 des Speichers an. Dann wird ein Halb- ' strom-Signal vom Spaltentreiber 1 ti über die Spaltenauswahl-Matrix 18
an die Spalten-Treiberleitung 1OY' für diejenige Spalte angelegt, in der
die Operation durchgeführt werden soll. Diese Halbstrom-Signale haben
dieselbe Polarität, wie sie während einer normalen Schreiboperation in einer Wortstelle der Anordnung benutzt wird, d. h., sie verlaufen
in einer Richtung, die in den Teilen 10-1 bis 10-7 des Speichers wirksam
ist, um einen Kern von seinem binären Null-Zustand in dt η binären
Eins-Zustand umzuschalten. Um das richtige Ausleeesignal vom Teil
10-8 zu erhalten, ist die remaiicnlc Orientierung dei Kerne iür ilen
binären Eins- und Null-Zustand entgegengesetzt zu der der anderen sieben
Teile des Speichers. Daher werden von den Prüfbil-T reiberr an
0 0 9 8 U 9 /1 L 0 5
- >r,- -.:■■■■ · ■■- ' ■_■ .
die zugehörigen Leitungen 1OX Halbst rom-Impulse angelegt, und dann
wird ein'" Halbstr-om-Impuls an eine ausgewählte Treiberleitung 1OY
angelegt, wobei das letztere Halbstrom-Signal , wenn es angelegt ist,
auf den Leitungen lOX Angaben hervorruft, die den Speicherzustand
der Kerne im Teil 10-8 des Speichers für die Spalte, in der die Lese-
oder Schreibopera tion durchgeführt werden soll, anzeigt. Ein eine
binäre Eins dar stellendes Signal auf den Leitungen 1OX zeigt zu dieser
Zeit eine fehlerhafte oder nicht betriebsbereite Wort-Speicher stelle an,
und ein binäres Null .-.Signal zeigt eine ordnungsgemäß funktionierende
Speicherstelle an. Diese mit dem Teil 10-8 des Speichers auf den Leitungen
1OX verbundenen Signale werden an die Ausgaberoatrix für Zeilenauswahl
20 angelegt, die zu diesem Zeitpunkt von einem Signal gesteuert
wird, welches von der Steuerung 34 an seine Eingabelfutung 2OB angelegt
ist, um die Signale zu den oberen sieben Leseverftärkern Al biß
A7 durchzuschalten. Die, verstärkten Signale, die binäre Einsen lind
Nullen darsteHen, werden dann dem Datenregister 24, dem Ausgabe;-
Schalter 26 und durch diesen Schalter über die Leitungen "«1.60 der
Adress-Mpdifikation 32 unter der Steuerung eines Signals zügel· extet,
welches durch die Steuerung 34 an die EingangEleitung ?6D für den
Ausgabebehälter 26 anpelegt wird.
Die Steuerung 34 legt ein Adressen-Signal an eine aus fünf Eingangsreitungen
32A für die Adreεs -Modifikation 32 ausgewählte Leitung an und legt dadurch
fest, welche Wortstelle in der ausgewählten Spalte des Speichers anzu-
": ■■ : .' .. ■' ' ". - ■';■. .'. -'■■'''.'. ■■■■■ BAD ORIßlMÄL.''
0D98/.37 UGS. Λ ■
sprechen ist. Die Adressmodifikation, die weiter unten unter besonderer
Beachtung der Fig. 2B und 2C näher beschrieben ist, wird dann durch
einen Impuls aktiviert, der an einen anderen Eingang des mit 32-B bezeichneten Stromkreises angelegt wird, um zu bestimmen, welche der
Wortstellen tatsächlich anzusprechen ist. Wenn alle fünf ersten Wortstellen in der ausgewählten Spalte betriebsbereit sind und diese Information,
über die Leitungen 26C in den Stromkreis 32 geleitet ist, wird
durch den Stromkreis eine Ausgabe erzeugt, um anzuzeigen, daß die
funktionelle Operation in der tatsächlich adressierten Wortstelle durchzuführen
ist. Wenn die Adresse eine Operation in der zweiten Wortstelle in der Spalte anfordert, liefert die Adressmodifikation 32 daher
eine Ausgabe an einer entsprechenden Leitung eines Bündels von Ausgangsleitungen
32C, um zu veranlassen, daß die zweite körperliche
Wortstelle in der geordneten Folge in der ausgewählten Spalte adressiert
wird. Wenn eine oder mehrere der Wortstellen nicht betriebsbereit sind, erzeugt die Ädressmodifikation in Erwiderung auf diese auf den
Leitungen 26C zugeführte Information auf den Leitungen 32C eine Ausgabe,
um zu veranlassen, daß die richtige Spei ehe rs te lie in der geordneten
Folge, das ist die zweite betriebsbereite Stelle in dem betrachteten Beispiel, tatsächlich adressiert wird. Die Leitungen 32C sind mit
den Leitungen 2OA, die die Ausgabematrix für Zeilenauswahl 20 steuern,
und den Leitungen 14A, die die Eingabematrix für Zeilenauswahl 14
steuern, verbunden* Die von den Leitungen 32C angelegten Signale steuern
die Matrizen 14 und 20, um die richtigen Zeilenleitungen 1OX für die
' - BAD ORISiMAL
009-848/U05
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durchzuführenden funktioneilen Lese- und Schreiboperationen auszuwählen.
Aus dem oben gesagten ist ersichtlich, daß der Teil der Eingangsadresse,
der die Wortstelle in der adressierten Spalte oder dem Teil des zu verarbeitenden Speichers spezifiziert, den Eingabe- und Ausgabematrizen
14 und 20 nicht direkt zugeführt wird, sondern vielmehr, der Adressmodifikation
32. Diese Information und die während der Auslese-Operation
des Teils 10-8 des Speichers entwickelte Information, die auch als
Eingabe an die Adressmodifikation 32 angelegt wird, ermittelt die tatsächliche Adresse der Wortstelle für die funktioneilen Lese- und Schreiboperationen.
Mit diesen an die Eingänge dieser zwei Matrizen angelegten Signalen
werden dann die Zeilentreiber 12 aktiviert, um richtige Halbstrom-Leseimpulse
an die adressierten Zeilenleitungen anzulegen. Die ausgewählte
Spalten-Treiberleitung 1OY wird nach dem Anlegen dieser Halbstrorn-Impulse
jedoch vor ihrer Beendigung ebenfalls mit einem Halbstrom -Lesesignal
erregt, das das "Abfragen der ausgewählten W.ortstelle verursacht und Ausgabesignale auf den Leitungen IQX erzeugt, die über die Matrix
20 und den Leseverstärker 22 zum Datenregister 24 übertragen werden.
Während dieser zweiten Operation des Speicherzyklus, die eine Informations-Auslepe operation ist, wird die während der vorausgegangenen
Adressentest- und Modifikationspperation aus den ,betriebsbereiten statusanzeigenden
Speicherelementen des Teile 10-8 des Speichers aus ge-
■ 0 0 98 4 87 1405 = : " BAD oftSlNAl
lesene Information in diesen Teil des Speichers -wieder eingeschrieben.
Diese Information wird nach der ersten Ausleseoperation durch sieben
Leitungen- 26B zu den Prüfbit-Treibern 30 zurückgeführt. Diese Treiber
legen unter der Steuerung der Informations-Signale auf den Leitungen
2(>B Signale an .die-mit dem Teil 10-8 im Speicher verbundenen Zeilen-.'
leitungen 1OX zur "selben Zeit an, zu der die ausgewählte Spei eher-Wortstelle
abgefragt wird. Obwohl während der zweiten Operation des Speieherzyklus die adressierte Wortstelle abgefragt wird, ist die Operation ™
im Teil 10 -K eher eine Schreiboperation als eine Leseoperation. Auidiesem
Grunde ist die Flußorientierung für eine binäre Eins und Null
in den Speicherelementen des Teils 10-8 entgegengesetzt zu d-t r der
anderen sieben Teilt· des Speichers.
Die letzte der drei wahrend eines normalen Speicherzyklus -durrligeführ-■
ten Operationen ist eine Schreiboperation, in der entweder das \orher
ausgelescne Informationswort wieder eingeschrieben wird, oder «on
neues Wort in.den Speicher eingegeben wird. Im erster en Fall worden
die das wieder einzuschreibende Wort darstellenden Signal«· vorn Aus gäbe schalter 26 aus den Leitungen ZdB zu den Eingabeleitungen 1.1Λ
für die Zeilentreiber 12 übertragen. Zur selben Zeit wird die Zeilen-,
adressinformation, die die Stelle des Speichers spezifiziert, in der die
Schreiboperation durchzuführen ist, über die Leitungen 32C von d-t-r
Adressmodifikation 32 auf die Eingangsleitungen 14A der Eingabematrix
für Zeilenauswahl 14 übertragen. Die Schreiboperation wird dann vir-
0098/ S/-1 /05
oben angedeutet durchgeführt, indem der Spaltentreiber 16 aktiviert
wird, um ein Signal an die ausgewählte Spaltenleitung 1OY zu legen,
und indem die Zeilentreiber 12 erregt' werden, um, die die Information enthaltenden Signale an die Eingabematrix 14 zu legen.
Die Schreiboperation ist im wesentlichen dieselbe, wenn ein neues
Wort in den Speicher einzugeben ist, sie differiert nur darin, indem
dann die Informations signale von der Steuerung 34 direkt zu den Eingangs
leitungen 12A für.die Zeitentreiber 12 übertragen werden.
Die Polarität des Signals, welches an die ausgewählte Spalten-Treibe»-
leitung 1OY für die zuletzt beschriebene Schreiboperation im Teil 10-1
bis 10-7 des Speichers angelegt wurde, ist dieselbe wie die des Signals, welches während der ersten Operation des Speicherzyklus angelegt
wurde, während der die Prüfbits für die adressierte Spalte aus
dem Speicher ausgelesen wurden. Wenn zwei aufeinanderfolgende Lese-/
Schreiboperationen in derselben Spalte des Speichers durchgeführt werden,
ist es möglich, daß die erste Operation des zweiten Speicherzyklus,
das ist die Adressent·t- und Modifikationsoperation, gleichzeitig mit
der letzten Operation des ersten Speicherzyklus durchgeführt wird,
während der ein Wort in xlen ausgewählten Teil der adressierten
Spalte geschrieben wird, ".'■-.·'■
Die Stromkreise für die Adressmodifikations-Funktion sind in den Fig.
2B und 2C dargestellt. Die Fig. 2 zeigt die Art und Weise, in der
" ' '00 9848/ UÜ5 : BAD
die Fig. 2B und 2C vereinigt werden müssen, um einen kompletten
Stromkreis zu ergeben. Das Blockdiagramm der Fig. 2A stellt die
Beziehung zwischen dem Block 32, wie er in Fig. 1 benutzt ist, und
den Verbindungen und detaillierten Stromkreisen der Fig. 2B und 2C
her. Wie bereits in der Beschreibung der Fig. 1 dargelegt wurde, werden die Ausgänge Von dem Teil 10-8 des-Speichers, die den betriebsfähigen Zustand der sieben Wortstellen in den adressierten Spalten
anzeigen, als Eingänge an die Leitungen 26C gelegt. Der andere Eingang
zur Adressmodifikation 32 ist die von den Teilen 32A angelegte
Eingabeadresse für die Wortstelle. Die Funktion der Adressmodifikation
ist, wenn erforderlich,modifizierte Adressen in einer geordneten Folge
herzustellen in Erwiderung auf diejenigen Eingaben, die den Betriebszustand der Wortstelle anzeigen, der durch die Eingabeadresse
sowohl als auch durch den Zustand der anderen vorhergehenden und
nachfolgenden Stellen in der adressierten Spalte spezifiziert ist. Die in den Fig. 2B und 2C gezeigten sieben Leitungen 26C sind als Eingänge
direkt mit sieben Schaltern verbunden, die durch die mit Sl bis S 7 bezeichneten Blöcke dargestellt sind. Die Blöcke Sl bis S7
sind als Teil eines Verschieberegisters verbunden, welches je aus acht mit TO bis T7 bezeichneten bistabilen Speichervorrichtungen oder
Triggern hergestellt ist. Beim Start des ersten Schrittes eines jeden
Speicherzyklus wird ein Signal von der Steuerung 34 in Fig. 1 zu
der Leitung 32B geliefert und von dieser Leitung an einen Impulsgenerator 40 int Fig. 2B gelegt, der die Steuerimpulse liefert, die notwendig sind, um den Adresemodifikations-Stromkrei« zu bedienen,
0O9Ö48/HQ5
Der Impulsgenerator 40 erregt zunächst eine Rückstell-Leitung 42, die
als Eingang mit jedem der acht Trigger TO bis T7 des Verschieberegisters verbunden ist. Die Verbindungen sind dergestalt, daß der Trigger
TO in seinen binären Eons-Zustand und die verbleibenden Trigger in
ihren binären Null-Zustand versetzt werden. Der Impulsgenerator legt
dann an die Verschiebeleitung 44 eine Anzahl von Verschiebeimplusen
an, die von der Adresse bestimmt werden, die anzeigt, welche der
Wortstellen in der ausgewählten Spalte des Speichers betrieben werden
soll. Diese Information wird von der Steuerung 34 den Leitungen 32A
zugeführt, die als Eingänge mit dem Impulsgenerator 40 verbunden sind.
Es wird daher nur ein Verschiebe impuls angelegt, wenn das erste Wort
in der ausgewählten Spalte bearbeitet werden soll. Wenn das vierte
Wort bearbeitet werden soll, sind vier Verschiebeimpulse erforderlich.
Da der Betrieb des Systems der Fig. 1 nur die Benutzung von fünf der
sieben Speicher stellen in jeder Spalte vorsieht, ist fünf auch die maximale
Anzahl der vom Impulsgenerator 40 zugeführten Verschiebeimpulee.
Wenn man annimmt, daß alle Speicher stellen betriebsbereit sind und
binäre Nullen vorhanden sind, die die Signale auf den Leitungen 26C
als das Resultat des Auslesens der enteprechenden Spalte des Teils
10-8 des Speichers der Fig. 1 darstellen, übertragen die Schalter
Sl bis S7 die Ausgabe vom vorhergehenden Trigger in das Verschieberegister
direkt in den nächsten Trigger im Register. Unter diesen
Umständen, wobei das Register ursprünglich mit einer im Trigger
009840/1405
TO gespeicherten Eins und Nullet in. den restlichen Triggern Tl bis
T7 hi.aif- -hlagt worden Ist, überträgt der erste Verschiebeimpuls die
Eins in den Trigger Tl, und alle restlichen Trigger TO und T2 bis T7
werden auf Null gesetzt. Dieser Verschiebeimpuls wird für den ersten
Trigger direkt über die Leitung 44 auf den mit 44-0 bezeichneten Verschiebeeingang
und über die Tor-Schaltungen 46-1 bis 46-7 an die Verschiebeeingänge 44-1 bis 44-6 der anderen Trigger mit Ausnahme des
Triggers T7, der keinen yerschiebeeingang benötigt, angelegt. Die ™
Tore 46-1 bis 46-6 werden von Invertem 4S-1 bis 48-6 gesteuert#und
jeder Inverter ist mit einer entsprechenden Ijeitung 26C verbunden. Jedes
der Tore 46-1 bis 46-6 ist normalerweise geschlossen und wird geöffnet, um Signale von der Leitung 44 zu der zugehörigen Verschiebe-Eingangsleitung
zu übcrt-agen, ween ein Signal von dem mit dem Tor
verbundenen Inverter angelegt wird. Diese Signale werden angelegt, wenn
die Leitung ?.6C, mit der der Inverter verbunden ist, ein eine binäre
Null darstellendes Signal trägt. I
Alle Tore 46-1 bis 4b-6 sind offen, um Signale auf ihre zugehörigen
Verschiebe -Eingangsleitungen zu übertragen, wenn alle Wortstellen in
der ausgewählten Spalte betriebsbereit sind. Da zu dieser Zeit alle
Schalter Sl bis S7 Signale direkt vom Ausgang 50 des vorhergehenden
Triggers auf den Eingang 52 des nächstfolgenden Triggers im Register
übertragen, verschiebt jeder vom Impulsgenerator 40 angelegte Verschiebeimpuls
die ursprünglich ina Trigger TO gespeicherte binäre "Eins um eine Stelle nach rechts. Am Eide der Verschiebeoperation
0 09 8 4 8/1 Λ05 bad
befinden sich alle Trigger bis auf einen, der der Anzahl der angelegten Verschiebeimpulse entspricht, im binären Null-Zustand und der
eine Trigger, der die Anzahl der angelegten Verschiebeimpulse darstellt, befindet sich im binären Eins-Zustand. Der Trigger T3 befindet
sich daher im binären Eins-Zustand, wenn das dritte Wort in der ausgewählten Spalte adressiert ist, und alle restlichen Trigger befinden
sich dann im binären Null-Zustand. Die Ausgänge dieser Trigger
sind über die Leitungen 54 mit den Toren 56 verbunden. Nachdem die
Verschiebeoperation abgeschlossen ist, wird der Leitung 58, die als
Eingang mit jedem der Tore 56 verbunden ist, vom Impulsgenerator
40 ein Signal zugeführt. Dieses Signal wird durch das eine dieser Tore
geführt, welches dann mit dem Trigger im binären Eins-Zustand
verbunden ist, um ein Ausgangssignal auf der zugehörigen Leitung 32C
* herzustellen. Dieser Ausgang wird, wie in Fig. 1 dargestellt, zurückgeführt,
um die Adressierung der Zeilenleitungen während der anschließend
' durchzuführenden Lese- und Schreiboperationen zu steuern.
Sind eine oder mehrere fehlerhafte oder nicht betriebsbereite Wortstellen
in der ausgewählten Spalte vorhanden, so werden binäre Eins-Signale
auf die entsprechenden Leitungen 26C gelegt, wenn der Teil 10-8 des Speichers abgefragt wird. Diese Signale werden an die Schalter
Sl bis S7 und ebenso an die Inverter 48-1 bis 48-6 gelegt. Das Anlegen
des binären Eine-Signals an irgendeinen der Schalter Sl bis S?
■ verursacht, daß dieser Schalter vom vorhergehenden Trigger über die
0098Λ8/1 A0,5 ,
ΐϊ :·· ; : ·: ; ■■ ■■.■■
Leitung 50 angelegte Eingaben an den Eingang 60 leitet, der nicht mit
dem nächsten Trigger im Verschieberegister, sondern mit dem nächstfolgenden
Schalter im Schieberegister verbunden ist. Zur selben Zeit,
wenn ein Signal, welches eine nicht betriebsbereite Wortstelle anzeigt,
mit irgendeinem der Inverter 48-1 bis 48-6 über die durchgeschaltete
Leitung 26C angelegt wird, wird das zugehörige Tor 46-1 bis 46-6 so
gesteuert, daß es die Verschiebe signale auf der Leitung 44 zum Verschiebeeingang
des damit verbundenen Triggers nicht weiterleitet.
Genauer gesagt, wird der Impulsgenerator 40 so gesteuert, daß er
drei Verschiebeimpulse anlegt, wenn wiederum angenomen wird, daß
die dritte Wortstelle in der ausgewählten Spalte des Speichers adressiert
wird. Wenn zur selben Zeit ein binäres Eins-Signal auf der zweiten
Leitung von links der Leitungen 26G vorhanden ist, welches anzeigt,
daß die zweite WoxtstelXe in der ausgewählten Spalte des Speichers
nicht betriebsbereit ist, legt das Tor 46-2 keine Verschiebesignale
e an den Trigger T2 und der Sehalter S2 wird so gesteurt, daß er die
an seine Eingabeleitung 50 angelegten Eingabesignale an den Eingang *
60 für den nächstfolgenden Schalter S3 überträgt statt auf den Trigger
T2. Der Effekt dieser Anordnung vom S chaltungs Standpunkt aus ist
der, den Trigger T2 vom Verschieberegister wegzunehmen, und nach
dem Anlegen der drei Eortachaltimpulse wird im Trigger T4 eine binäre Eins gespeichert« Wenn da» Signal vom Impulsgenerator 40 an, die
Leitung 5i angelegt iet, wird als Ergebnis dieses Signal durch das vierte Tpr 56 geleitet, pv #ie vierte "Vfwtfttelle im Teil lö-4 des
der Fig^ 1 zu adressieren, welches die dritte benutzbare Stelle in
der adressierten Spalte ist. Wenn beispielsweise zwei fehlerhafte
Stellen vorhanden sind und man annimmt* daß die erste und die zweite
Wortstelle nicht betriebsberei^ind, sind auf den ersten beiden Leitungen
26G binäre Eins-Signale vorhanden, wobei beide Tore 46-1 und 46-2 außerstand gesetzt werden, Verschiebeimpulse an die Trigger
Tl und T2 anzulegen« Beide Schalter Sl und S2 werden zu dieser
Zeit von diesen Signalen so gesteuert, daß sie die angelegten Eingangssignale auf die Ausgangsleitungen 60 für diese Schalter übertragen,
statt aui die Ausgangsleitung 52, Das während der ersten Verschiebeoperation
erstellte Ausgangssignal durchläuft daher, wenn die binäre Eins vom Trigger TO übertragen ist, den Schalter Sl zur Ausgabeleitung 60 zum Schalter S2t. i?a der Schalter S2 ebenfalls von einer
..-.-. . - der ■. . ■-."'"
binärenEins-Eingabe auf der durchverbu«denelV Leitungen 26G gesteuert
wird, wird das die binäre Eins darstellende Signal vorn Trigger TO
von der Ausgabeleitung60des Schalters $2 als Eingabe zum Trigger
T3 angelegt, Nachfolgende an die Verachiebeleitung 44 angelegte Impulse schalten die binäre Eins zaxn richtigen Trigger in der geordneten Reihenfolge waiter» de,r mit der Wq?tatejje tn der Anardwing übereinstimixit,
in der die Lege- und SchreibQ|iefation stattfinden soll» Wenn
di<e erste u**d zweite Wesp|*teile in det atiegtwählten Spali© nicht litetriipbsibereit
$§i£ und e^ne Adresse; a^zieigt,, daMi die dirltte: WortsteHe
zu b.eä^beite^ %ik%. iehjfeiMn die &pei aji dilfe ΖΜ*®&% 44 abgelegten
in den: TrJgQ*?- f$ we4feg** <$<%V Witjm diese® WmmWm&em I»lt
:\;r:;**- \ litÜS/UliX /
betriebsbereiten Wortstelle in der ausgewählten Spalte der Speicheranordnung
übereinstimmt.
Der Impulsgenerator 40 wird betrieben, um an die Leitung 5β Impulse
anzulegen, die durch das zugehörige der Tore 56 auf die durchgeschaltete
Leitung 32C während der zweiten und dritten Schritte eines jeden Speicherzyklus durchgeleitet werden. Genauer gesagt wird ein Ausgang
an der richtigen der Leitungen 32C vorgesehen, um das tatsächliche
Lesen in der ausgewählten Wortstelle in der geordneten Reihenfolge zu steuer-und daran anschließend das Schreiben in diese Stelle zu
steuern. Da diese Signale während der Anfangsphasen der Lese- und
Schreiboperationen übermittelt werden, ist es weiterhin möglich,wie
oben erwähnt, wenn zwei aufeinanderfolgende Speicherzyklen in derselben
Spalte der Anordnung durchzuführen sind, den Teil 10-8 des Speichers als erste Operation für den zweiten solchen Speiche rzyklus·
zur selben Zeit auszulesen, zu der die Schreiboperation durchgeführt {
wird, die der dritte Schritt des ersten Spei ehe rzyklus ist.
In der oben beschriebenen Aueführungsform der Erfindung wird der
Speicher 10 der Fig. 1 auf solche Art und Weise betrieben, daß
Spei ehe rzyklen in jeder Spalte des Speichers ausgeführt werden könnaj,
solange noch fünf der sieben Wortstellen in dieser Spalte betriebsbereit
sind, und diese Betriebsart mit fehlerhaften Speicher stellen erfordert
keinerlei Änderung in den von der Steuerung 34 an den Spei-
eher gelegten externen Adressen. Bei dieser Betriebsart kann jede
Spalte des Speichers als separater Teil angesehen werden, der eine
Anzahl Wortstellen und zusätzliche Speicherelemente enthält, die den
Status dieser Wortstellen anzeigt. Die Anordnung braucht nicht so eingeschränkt
zu werden, d. h., jeder Teil des Speichers kann mehr als eine Spalte enthalten oder die Anordnung kann so sein, daß die extra
Worts.tellen in jeder Spalte als Ersatz für fehlerhafte Stellen nicht nur
in dieser Spalte benutzt werden können, sondern auch in einer oder
mehreren Spalten. In dieser Betriebsart ist der Teil 10-8 des Speichers
größer und jede Spalte enthält statusanzeigende Speicherelemente
nicht nur für die adressierte Spalte, sondern für einen größeren Teil
des Speichers. Die Adressmodifikation erfordert in dieser Betriebsart
mehr Stromkreise, stellt jedoch, wie in der speziellen Ausführungsform
beschrieben, Ausgänge mit tatsächlichen Adressen in einer geordneten Folge zur Verfügung in Erwiderung auf die Eingabe-Adressinformation
und Eingaben, die den betriebsbereiten Status des adressierten Teils des Speichers anzeigen. Besonderes Augenmerk sollte auf die Tatsache
gerichtet werden,' daß bei dieser Betriebsart ein statusanzeigendes
Speicherelement in seinen binären Eins-Zustand in einer Spalte gesetzt
werden kann, nicht weil die entsprechende Wortstelle nicht betriebsbereit
ist, sondern weil diese Wortstelle als Ersatz für eine nicht betriebsbereite
Wortstelle in einer früheren Spalte benutzt wird. Weiterhin kann die Adressmodifikation Teilstromkreise enthalten für die Verschiebung
in eine geordnete Folge nicht nur zwischen Wertstellen in der gleichen
Spalte oder im gleichen Teil des Speichers, sondern von Spalte zu Spalte.
Da die im Adressmodifikationsstromkreis benutzten Bauteile ,Hoch-
1%
geschwindigkeits-Bauteile sind, die ihre Funktion in einem kleinen
Bruchteil der Zeit ausführen, der für eine Speicheroperation erforderlich
ist, addiert sich die für die Adressmodifikation selbst erforderliche
Zeit nicht zur Speicherzykluszeit, wo sogar verfeinerte Ausführungsformen verwendet werden. Die Adressmodifikation erfordert jedoch eine extra Speicheroperation während jedes Speicherzyklus, um
die betriebsbereiten Status-Speicherelemente abzufragen, wohingegen Λ
in sehr umfangreichen Großspeichern die Betriebserfordernisse dergestalt
sind, daß der Großspeicher in Verbindung mit kleineren Hoch'geschwindigkeits-Speichern
benutzt werden kann, um insgesamt hohe Datenverarbeitungsraten zu erzielen.
Claims (3)
1. Verfahren zum Betrieb von wortadressierbaren Datenspeichern
mit mehreren defekten Speicherelementen und je einem Wort
zugeordneten zusätzlichen, statusanzeigenden Speicherelementen, dadurch gekennzeichnet, daß beim Adressieren eines Wortes ein
Mt
Pfüftreiber (30) zunächst das dem Wort zugeordnete zusätzliche, statusanzeigende Speicherelement (10 -8) abfragt, daß das Ausgangssignal des zusätzlichen Speicherelements eine Vorrichtung zur Adressmodifikation (32) erregt, und daß beim Vorliegen eines Wortes mit einem oder mehreren defekten Speicherelementen die Vorrichtung statt der adressierten eine andere Wortstelle in geordneter Aufeinanderfolge auswählt«
Pfüftreiber (30) zunächst das dem Wort zugeordnete zusätzliche, statusanzeigende Speicherelement (10 -8) abfragt, daß das Ausgangssignal des zusätzlichen Speicherelements eine Vorrichtung zur Adressmodifikation (32) erregt, und daß beim Vorliegen eines Wortes mit einem oder mehreren defekten Speicherelementen die Vorrichtung statt der adressierten eine andere Wortstelle in geordneter Aufeinanderfolge auswählt«
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung
zur Adretsmödifikation ein Ver schieberegister aus bistabilen Speicherelementen enthält, dessen Fortschaltung durch
eine durch die Adresse der Wöftsteiie bestittimte Anzahl von
Verschiebeimpulsen erfolgt, daß bei einem oder mehreren defekten
Speicherelementen der Wörtstelle die zugehörige Stufe der
bistabilen Speicliervorrichtung umgangeri, d. h« nicht gesetzt
wird, und daß nicht die adressierte defekte Wöftsteiie, üöndern
die nächstfolgende betriebsbereite Wöftiteile im Speicher (10-1
. bit lö-fj
3. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet,
daß nach zerstörendem Lesevorgang das Wiedereinschreiben der
vorher ausgelesenen Information in die zusätzlichen, statusanzeigenden Speicherelemente unter der Mitwirkung des einen
Halbstromes erfolgt, der die Spaltenleitung der Speicherelemente an der durch die modifizierte Adresse angegebenen Wortstelle durchfließt.
Halbstromes erfolgt, der die Spaltenleitung der Speicherelemente an der durch die modifizierte Adresse angegebenen Wortstelle durchfließt.
00 9 P £■?■/ 1 '-0 5
Le e rs ei te
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US56543966A | 1966-07-15 | 1966-07-15 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1524856A1 true DE1524856A1 (de) | 1970-11-26 |
Family
ID=24258604
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19671524856 Pending DE1524856A1 (de) | 1966-07-15 | 1967-07-01 | Wortadressierbare Datenspeicher mit mehreren defekten Speicherelementen |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3432812A (de) |
DE (1) | DE1524856A1 (de) |
FR (1) | FR1526571A (de) |
GB (1) | GB1119428A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2400161A1 (de) * | 1973-01-03 | 1974-07-18 | Honeywell Inf Systems | Datenverarbeitungssystem und in diesem enthaltenes speichersystem |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3633175A (en) * | 1969-05-15 | 1972-01-04 | Honeywell Inc | Defect-tolerant digital memory system |
DE1963895C3 (de) * | 1969-06-21 | 1973-11-29 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Datenspeicher und Datenspeicher anste'uerschaltung |
US3681757A (en) * | 1970-06-10 | 1972-08-01 | Cogar Corp | System for utilizing data storage chips which contain operating and non-operating storage cells |
US3765001A (en) * | 1970-09-30 | 1973-10-09 | Ibm | Address translation logic which permits a monolithic memory to utilize defective storage cells |
US3742459A (en) * | 1971-11-26 | 1973-06-26 | Burroughs Corp | Data processing method and apparatus adapted to sequentially pack error correcting characters into memory locations |
US3755791A (en) * | 1972-06-01 | 1973-08-28 | Ibm | Memory system with temporary or permanent substitution of cells for defective cells |
US3845476A (en) * | 1972-12-29 | 1974-10-29 | Ibm | Monolithic memory using partially defective chips |
US4188670A (en) * | 1978-01-11 | 1980-02-12 | Mcdonnell Douglas Corporation | Associative interconnection circuit |
US4497020A (en) * | 1981-06-30 | 1985-01-29 | Ampex Corporation | Selective mapping system and method |
US4498146A (en) * | 1982-07-30 | 1985-02-05 | At&T Bell Laboratories | Management of defects in storage media |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3222653A (en) * | 1961-09-18 | 1965-12-07 | Ibm | Memory system for using a memory despite the presence of defective bits therein |
GB1051700A (de) * | 1962-12-08 | |||
US3311890A (en) * | 1963-08-20 | 1967-03-28 | Bell Telephone Labor Inc | Apparatus for testing a storage system |
US3245049A (en) * | 1963-12-24 | 1966-04-05 | Ibm | Means for correcting bad memory bits by bit address storage |
US3350690A (en) * | 1964-02-25 | 1967-10-31 | Ibm | Automatic data correction for batchfabricated memories |
US3331058A (en) * | 1964-12-24 | 1967-07-11 | Fairchild Camera Instr Co | Error free memory |
-
1966
- 1966-07-15 US US565439A patent/US3432812A/en not_active Expired - Lifetime
-
1967
- 1967-05-23 GB GB23786/67A patent/GB1119428A/en not_active Expired
- 1967-06-06 FR FR8544A patent/FR1526571A/fr not_active Expired
- 1967-07-01 DE DE19671524856 patent/DE1524856A1/de active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2400161A1 (de) * | 1973-01-03 | 1974-07-18 | Honeywell Inf Systems | Datenverarbeitungssystem und in diesem enthaltenes speichersystem |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1119428A (en) | 1968-07-10 |
FR1526571A (fr) | 1968-05-24 |
US3432812A (en) | 1969-03-11 |
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