DE1214511B - Verfahren zum AEtzen von Halbleiter-Bauelementen - Google Patents
Verfahren zum AEtzen von Halbleiter-BauelementenInfo
- Publication number
- DE1214511B DE1214511B DEW30274A DEW0030274A DE1214511B DE 1214511 B DE1214511 B DE 1214511B DE W30274 A DEW30274 A DE W30274A DE W0030274 A DEW0030274 A DE W0030274A DE 1214511 B DE1214511 B DE 1214511B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- solution
- semiconductor components
- germanium
- temperature
- platelets
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
- C23F1/00—Etching metallic material by chemical means
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
- C23F1/00—Etching metallic material by chemical means
- C23F1/10—Etching compositions
- C23F1/14—Aqueous compositions
- C23F1/32—Alkaline compositions
- C23F1/40—Alkaline compositions for etching other metallic material
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Weting (AREA)
Description
iUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. CL:
C23f
Deutsche Kl.: 48 dl -1/02
Nummer: 1 214 511
Aktenzeichen: W 30274 VI b/48 dl
Anmeldetag: 1. Juli 1961
Auslegetag: 14. April 1966
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Abätzen von Halbleiter-Bauelementen, die insbesondere
bereits in Gruppen gleicher Dicke sortiert sind.
Bei der Behandlung von Halbleiter-Bauelementen, beispielsweise von Plättchen aus Germanium oder
Silicium, mußte bisher nach dem Schneiden, Läppen, Rommeln und Ätzen der Plättchen auf eine
sehr geringe Stärke ein Arbeiter einen mit der Hand gehaltenen Plättchenhalter verwenden, um jedes
Plättchen auf die herabgesetzte Schlußdicke zu ätzen. Zum Beispiel war in einem besonderen Fall
bei der Verwendung von Germaniumplättchen für Transistoren eine Arbeitskraft erforderlich, um die
Plättchen mit einer Dicke von 0,0127 bis 0,0178 cm Dicke auf eine Schlußstärke von 0,0076
± 0,00025 cm von Hand herunterzuätzen, da die Genauigkeit der Schlußdicke für die elektrischen
Eigenschaften des Transistors wesentlich ist.
Beim Ätzen der Plättchen auf sehr geringe Stärke war vor der Handätzung die Geschwindigkeit der
Dickenherabsetzung annähernd bekannt, aber als veränderliche Größe, die von der Temperatur der
Lösung, ihrer Konzentration,, der Bewegung der Lösung und dem anfänglichen Zustand der Plättchenoberfläche
abhing. Durch den Einfluß dieser Variablen entstand eine Ätzmethode, die zunächst
eine Sortierung der Plättchen nach der Größe erforderlich machte, ferner das Ätzen dieser Plättchen für
eine Zeitdauer, die von der Erfahrung und Geschicklichkeit der Arbeitskraft abhing, sowie ein Nachmessen
und Nachsortieren der Plättchen und schließlich eine Wiederholung des ganzen Vorganges erforderte,
bis die gewünschte Plättchendicke erreicht war. Offenbar ergab dies nicht nur einen Verlust an
Halbleitermaterial, wenn einige Plättchen auf eine kleinere Größe als gewünscht geätzt waren, sondern
machte auch die Beschäftigung einer großen Anzahl geschickter Arbeitskräfte und den Aufwand von sehr
viel Zeit erforderlich, um diese Arbeit wirksam durchzuführen.
Die für diesen Zweck im allgemeinen zur Verwendung kommenden Ätzlösungen enthalten ein Oxydationsmittel
und Alkalien oder Säuren, wobei die letzteren die von dem Oxydationsmittel auf dem
Halbleitermaterial gebildeten Oxyde auflösen. Somit enthalten diese Lösungen einen »aktiven« Teil,
der aus einem Oxydationsmittel besteht, das mit dem Halbleitermaterial reagiert, und einen »passiven«
Teil, der mit diesem selbst nicht in Reaktion tritt. So ist z. B. für einen Cadmium-Leiter odef-einen
Zinn-Tellurid-Halbleiter eine Lösung bekannt, die
als Oxydationsmittel eine wäßrige Lösung von SaI-Verfahren zum Ätzen von
Halbleiter-B auelementen
Halbleiter-B auelementen
Anmelder:
Western Electric Company Incorporated,
New York, N. Y. (V. St. A.)
Vertreter:
Dipl.-Ing. H. Fecht, Patentanwalt,
Wiesbaden, Hohenlohestr. 21
Als Erfinder benannt:
Edwin James Pritchard,
Coopersburg, Pa. (V. St. A.)
Edwin James Pritchard,
Coopersburg, Pa. (V. St. A.)
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 6. Juli 1960 (41042) - -
petersäure enthält, und die Oxyde mittels einer Lösung von Na2S2O4 und NaOH entfernt werden.
Für Germanium ist z. B. eine Lösung aus Salpetersäure und Flußsäure oder Wasserstoffperoxyd und
NaOH bekannt. Weiterhin ist die CP4-Lösung gut bekannt, die Salpetersäure, Flußsäure und Essigsäure
mit oder ohne Bromid enthält.
Der Erfindung hegt die Aufgabe zugrunde, ein verbessertes Verfahren zur Massenätzung von Halbleiter-Bauelementen
auf eine vorbestimmte, verringerte Stärke zu schaffen.
Die Erfindung geht von einem Verfahren zum Abätzen
von bereits in Gruppen gleicher Dicke sortierten Halbleiter-Bauelementen insbesondere aus Germanium
aus, bei dem diese auf eine vorbestimmte Dicke durch Behandeln mit oxydierend wirkenden
sauren oder alkalischen Lösungen abgeätzt werden. Die Erfindung besteht darin, daß die Halbleiter-Bauelemente
in eine alkalische oder saure Lösung gebracht und darin bewegt werden, worauf dieser
Lösung eine mindestens ein Oxydationsmittel enthaltende Lösung kontinuierlich oder intermittierend so
langsam zugesetzt wird, daß die Badtemperatur zwischen etwa 600 und 100° C gehalten wird.
Als besonders vorteilhaft hat sich bei Halbleiter-Bauelementen aus Germanium erwiesen, daß diese
609 558/392
3 4
in eine Natriumhydroxydlösung gebracht werden und des-Reagens wird die Natriumhydroxydlösung in
eine Wasserstoffsuperöxydlösung zugesetzt wird oder einen Behälter gegeben und eine Gruppe von Plätt-
eine Mischung aus Flußsäure und Essigsäure bzw. chen praktisch ganz gleicher Dicke eingebracht.
Salpetersäure Verwendung findet. Ein empfindlicher Temperaturanzeiger, etwa ein
Durch das erfindungsgemäße Verfahren ist es 5 Thermistor, wird in den Behälter gesenkt und eine
möglich, den Ätzvorgang gleichmäßig und kontrol- kleine Menge Wasserstoffsuperoxyd der Lösung zuliert
durchzuführen, so daß die Stärke des von jedem gesetzt, bis die Temperatur der Lösung auf 60 bis
Element entfernten Materials gleichbleibt und eine 100° C ansteigt,, wobei die genaue Temperatur von
im wesentlichen lineare Beziehung zwischen der der gewünschten Reaktionsgeschwindigkeit abMenge
der Ätzlösung ■ und dem entfernten Material io hängt. Lösung und Plättchen werden gerührt, so daß
besteht, so daß die Enddicke der Bauelemente genau jedes Plättchen seinen Anteil an Ätzmittel erhält
bestimmt werden kann. und daher alle Plättchen gleichmäßig in der Dicke
Die Erfindung soll nachstehend eingehend er- herabgesetzt werden. Die Meßvorrichtung überwacht
läutert werden, wobei bevorzugte Ausführungsfor- die Temperatur der Lösung und deutet bei fallender
men der Erfindung an Hand von Beispielen beschrie- 15 Temperatur die Notwendigkeit für weiteren Wasserben
werden. stoffsuperoxydzusatz an, das in ausreichender Menge
Bei einer Ausführungsform der Erfindung sind die zugesetzt wird, um die gewünschte Temperatur auf-
Halbleiter-Bauelemente Germaniumplättchen. Nach- rechtzuerhalten. Es wird darauf hingewiesen, daß
dem die Plättchen geschnitten, geläppt, gerommelt die Zufuhr des Wasserstoffsuperoxyds von Hand
und auf eine verhältnismäßig geringe Stärke geätzt 20 oder durch erne übliche Automatik erfolgen kann,
sind, etwa 0,198 cm2 Fläche mit einer Dicke im Be- , die auf die empfindliche Meßvorrichtung anspricht,
reich von 0,0127 bis 0,0178 cm, werden sie in Grup- Alternativ kann das Wasserstoffsuperoxyd dem Na-
pen praktisch gleicher Dicke sortiert. triumhydroxyd kontinuierlich zugesetzt werden, je-
Eine spezielle Gruppe von Plättchen praktisch doch mit einer genügend geringen Geschwindigkeit,
gleicher Dicke wird dann gewogen, Um die Menge 25 um die Temperatur der Lösung zu steuern. Nach der
der »ätzenden« Reagenzien zu bestimmen, die zur . Zugabe der ganzen berechneten Menge des Wasser-Verringerung
der Dicke auf eine spezielle Stärke, stoffsuperoxyds zur Lösung läßt man die Ätzreaktion
beispielsweise 0,0076 ± 0,00025 cm, erforderlich ist. fortdauern, während welcher Zeit die Ätztemperatur
Im vorliegenden Fall besteht das Ätzmittel aus einer auf die Raumtemperatur abfällt und das Ätzen fertig
zweiteiligen Lösung, deren erster oder passiver Teil 30 ist.
Natriumhydroxyd in einer Konzentration von 0 bis . . Theoretisch dient das Wasserstoffsuperoxyd als
30%, vorzugsweise 10%, ist und einen zweiten oder Oxydationsmittel und bildet ein Oxyd auf der Oberaktiven
Teil aus Wasserstoffsuperoxyd mit einer fläche des Germaniums nach seiner Zugabe zur
Konzentration von etwa 30%. Indessen können auch Natriumhydroxydlösung, wobei die letztere das
andere Reagenzien verwendet werden, wie der noch 35 Oxyd auflöst und somit weiteren Angriff durch das
zu beschreibende CP4-Typ oder Reagenzien, die ein Wasserstoffsuperoxyd gestattet. Das Endergebnis ist
Alkalihydroxyd, -carbonat, -borat oder -phosphat in eine Verringerung der Plättchendicke.
Kombination mit einem Oxydationsmittel, wie Was- Von äußerster Wichtigkeit ist die Tatsache, daß serstoffsuperoxyd, enthalten. Auch die Salze einer der aktive Teil, das Oxydationsmittel Wasserstoffschwachen Säure, wie Essigsäure, in Kombination 40 superoxyd, entweder periodisch oder kontinuierlich mit einem Oxydationsmittel sind anwendbar. mit so geringer Geschwindigkeit zugegeben wird, daß
Kombination mit einem Oxydationsmittel, wie Was- Von äußerster Wichtigkeit ist die Tatsache, daß serstoffsuperoxyd, enthalten. Auch die Salze einer der aktive Teil, das Oxydationsmittel Wasserstoffschwachen Säure, wie Essigsäure, in Kombination 40 superoxyd, entweder periodisch oder kontinuierlich mit einem Oxydationsmittel sind anwendbar. mit so geringer Geschwindigkeit zugegeben wird, daß
Die erforderliche Menge der aktiven und passiven die Temperatur der Lösung und die Reaktions-Anteile
des Ätzmittels wird aus dem Gesamtgewicht geschwindigkeit bis zum Gleichgewicht kontrolliert
der Plättchen in folgender Weise berechnet: Das er- werden.
forderliche Volumen des konzentrierten 3O°/oigen 45 Es wurde festgestellt, daß bei Zugabe der gesam-
Wasserstoffsuperoxyds in Milliliter wird von der ten berechneten Menge an Oxydationsmittel mit
Gleichung , einem Male und ohne äußere Kühlung sich die Tem-
W · 0 72 · m ' peratur der Mischung schnell infolge der freigesetz-
'' ten Reaktionswärme steigert, was einen Geschwin-
gegeben, wobei W das Gesamtgewicht in Gramm 50 digkeitszuwachs der Ätzreaktion verursacht. Auch
und m die Anzahl der Einheiten darstellt, deren jede verursacht der plötzliche Temperaturanstieg ein
um 0,0025 cm Plättchendicke zu schwächen ist. Der heftiges Aufkochen der Ätzlösung, wodurch diese
Faktor 0,72 ist durch Ausprobieren erhalten, wobei außer Kontrolle kommt und Germanium und Ätz-
die Erfahrung gemacht wurde, daß eine lineare Be- mittel aus dem Behälter herausgeschleudert werden,
ziehung zwischen der Menge des verwendeten Ätz- 55 Augenscheinlich stört dies die Berechnung der
mittels und dem entfernten Germanium besteht. Mit Menge des Ätzmittels und die Massenätzung der
anderen Worten: Unter normalen Raumbedingungen Plättchen. Es wurde gefunden, daß es nicht wün-
ist das Volumen des benötigten Wasserstoffsuper- sehenswert ist, irgendein äußeres Kühlmittel wie
oxyds gleich annähernd 0,72 ml je Gramm vorhan- Wasser zu verwenden, um die Reaktionsgeschwindig-
denen Germaniums für 0,0025 cm zu entfernende 60 keit und Temperatur der Lösung zu regeln, weil die
Plättchendicke. Es ist zu beobachten, daß der Fak- Wärmeentwicklung aus der Reaktion die Tempe-
tor 0,72 Änderungen unterworfen ist, da er sich pro- ratur des Germanium-Ätzmittels so schnell steigert,
portional mit der Temperatur des Wasserstoffsuper- daß das schließliche chemische Gleichgewicht in
oxyds und des Natriumhydroxyds ändert. Die er- kürzerer Zeit als erwünscht erreicht wird. Angesichts
forderliche Menge an lO°/oiger Natriumhydroxyd- 65 der übermäßigen Wärmeverluste, der heftigen Reak-
lösung ist dreimal so groß wie die Menge des Was- tion und hohen Temperatur, die durch die Zugabe
serstoffsuperoxyds. des gesamten Oxydationsmittels mit einem Male
Nach der Berechnung der erforderlichen Menge ohne zusätzliche Kühlungsmittel erreicht wird, erhält
man nicht die erforderliche lineare Beziehung zwischen Gewicht und Volumen des verwendeten Ätzmittels
und dem Gewicht des entfernten Germaniums für ein Massenätzungsverfahren.
Bei einer anderen Ausführungsform wird erfindungsgemäß
ein anderes Ätzmittel, z. B. vom CP4-Typ,
verwendet, dessen Rezeptur 5 Teile Salpetersäure, 5 Teile Flußsäure und 5 Teile Essigsäure bzw.
5 Teile Salpetersäure, 100 Teile Flußsäure und 100 Teile Essigsäure vorsieht, wobei die Menge von
Anzahl und Größe der zu ätzenden Plättchen abhängt, so daß die lineare Beziehung zwischen der
verwendeten Säuremenge und der Menge des von den Plättchen zu entfernenden Germaniums erreicht
werden kann. Bei dieser Ausführungsform ist die Salpetersäure der aktive Teil, der als Oxydationsmittel
dient, und wird periodisch oder kontinuierlich mit geringer Geschwindigkeit der passiven Lösung
in gleicher Art zugeführt, wie oben beschrieben. In diesem Fall werden die besten Ergebnisse erhalten,
wenn man die Temperatur der Lösung auf annähernd 100° C hält.
Es ist zu beachten, daß trotz der beispielsweisen Erwähnung geeigneter Ätzlösungen auch andere
ätzende Reagenzien bei der Ausübung der Erfindung verwendet werden können, wenn sie Bestandteile
enthalten, die theoretisch eine Oxydschicht auf den Plättchen bilden und anschließend die Oxydschicht
entfernen. Der wesentliche Schritt ist die periodische oder kontinuierliche langsame Zugabe des Oxydationsmittels
zur Lösung, um die Temperatur derselben und die Reaktionsgeschwindigkeit bis zum
Gleichgewicht zu regeln, so daß die lineare Beziehung zwischen dem Gewicht oder dem Volumen des
Ätzmittels mit dem Gewicht des zu entfernenden Germaniums eingehalten wird.
Es versteht sich, daß das Verfahren nach der Erfindung auch auf andere Halbleitermaterialien anwendbar
ist, obwohl sich die obigen Ausführungsformen auf Germanium beziehen.
Claims (3)
1. Verfahren zum Abfetzen von bereits in Gruppen gleicher Dicke sortierten Halbleiter-Bauelementen,
insbesondere aus Germanium, auf eine vorbestimmte Dicke durch Behandeln mit oxydierend wirkenden sauren oder alkalischen
Lösungen, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiter-Bauelemente in eine alkalische
oder saure Lösung gebracht und darin bewegt werden, worauf dieser Lösung eine mindestens
ein Oxydationsmittel enthaltende Lösung kontinuierlich oder intermittierend so langsam zugesetzt
wird, daß die Badtemperatur zwischen etwa 60 und 100° C gehalten wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Halbleiter-Bauelemente aus
Germanium in eine Natriumhydroxydlösung gebracht werden und eine Wasserstoffsuperoxydlösung
zugesetzt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Halbleiter-Bauelemente aus
Germanium in eine eine Mischung aus Flußsäure und Essigsäure enthaltende Lösung gebracht
werden und eine Lösung mit Salpetersäure zugesetzt wird.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 058 333;
britische Patentschrift Nr. 773 860;
»Zeitschrift für Metallkunde«, 1955, Bd. 46,
S. 229 bis 233.
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 058 333;
britische Patentschrift Nr. 773 860;
»Zeitschrift für Metallkunde«, 1955, Bd. 46,
S. 229 bis 233.
609 558/392 4.66 © Bundesdruckerei Berlin
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US4104260A | 1960-07-06 | 1960-07-06 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1214511B true DE1214511B (de) | 1966-04-14 |
Family
ID=21914413
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEW30274A Pending DE1214511B (de) | 1960-07-06 | 1961-07-01 | Verfahren zum AEtzen von Halbleiter-Bauelementen |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
BE (1) | BE605794A (de) |
CH (1) | CH429364A (de) |
DE (1) | DE1214511B (de) |
GB (1) | GB909228A (de) |
NL (2) | NL266770A (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3356500A (en) * | 1964-09-28 | 1967-12-05 | Santa Barbara Res Ct | Production of infrared detector patterns |
DE1544281C3 (de) * | 1966-03-04 | 1975-04-03 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren zum Dotieren von Silicium- Halbleitermaterial |
CN114316990B (zh) * | 2021-12-09 | 2023-04-07 | 湖北兴福电子材料股份有限公司 | 一种高蚀刻锥角的锗蚀刻液 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB773860A (en) * | 1954-12-01 | 1957-05-01 | Philips Electrical Ind Ltd | Improvements in or relating to methods of etching away a surface layer of semi-conductive bodies of a tellurideof a bivalent metal |
DE1058333B (de) * | 1954-12-01 | 1959-05-27 | Philips Nv | Verfahren zum Abaetzen der Oberflaeche eines halbleitenden Koerpers aus einem Tellurid eines zweiwertigen Metalls |
-
0
- NL NL132314D patent/NL132314C/xx active
- NL NL266770D patent/NL266770A/xx unknown
-
1961
- 1961-04-07 GB GB1251361A patent/GB909228A/en not_active Expired
- 1961-06-30 CH CH772761A patent/CH429364A/de unknown
- 1961-07-01 DE DEW30274A patent/DE1214511B/de active Pending
- 1961-07-05 BE BE605794A patent/BE605794A/fr unknown
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB773860A (en) * | 1954-12-01 | 1957-05-01 | Philips Electrical Ind Ltd | Improvements in or relating to methods of etching away a surface layer of semi-conductive bodies of a tellurideof a bivalent metal |
DE1058333B (de) * | 1954-12-01 | 1959-05-27 | Philips Nv | Verfahren zum Abaetzen der Oberflaeche eines halbleitenden Koerpers aus einem Tellurid eines zweiwertigen Metalls |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH429364A (de) | 1967-01-31 |
BE605794A (fr) | 1961-11-03 |
NL266770A (de) | |
GB909228A (en) | 1962-10-31 |
NL132314C (de) |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3610587A1 (de) | Zum bonden von halbleitervorrichtungen geeigneter draht und verfahren zu dessen herstellung | |
DE1279848B (de) | Verfahren zum grossflaechigen Kontaktieren eines einkristallinen Siliziumkoerpers | |
DE1214511B (de) | Verfahren zum AEtzen von Halbleiter-Bauelementen | |
EP0070373A1 (de) | Verfahren zur Verminderung der Korrosion von nicht amalgamiertem Zink | |
DE2219507A1 (de) | Verfahren und Mittel zum Anzeigen von Temperaturveranderungen einer Ware, vor zugsweise eines Lebensmittels | |
DE1193766B (de) | Verfahren zur Stabilisierung der durch AEtzen erzielten Sperreigenschaften von Halbleiteranordnungen | |
DE2427300C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer ternären Legierung aus Blei, Calcium und Aluminium | |
DE1119625B (de) | Verfahren zum AEtzen der Oberflaeche eines Halbleiterkoerpers | |
AT226279B (de) | Verfahren zum Ätzen von Halbleiterelementen | |
DE966905C (de) | Verfahren zur Herstellung elektrisch unsymmetrisch leitender Systeme | |
DE2006609C3 (de) | Verfahren zur anodischen Behandlung von Eisenoberflächen | |
DE869310C (de) | Verfahren zur Herstellung hochkapazitiver keramischer Dielektriken | |
DE1174382B (de) | Elektrolyt fuer Akkumulatoren, insbesondere fuer alkalische Akkumulatoren | |
DE2237825C3 (de) | Verfahren zum Reinigen von gesägten Halbleiterscheiben und dessen Verwendung zum Reinigen von Siliciumscheiben | |
DE2324636B2 (de) | ||
DE1218257B (de) | Verfahren zum Weichloeten mittels Roehrenloetzinn | |
AT218570B (de) | Verfahren zur großflächigen Kontaktierung eines einkristallinen Siliziumkörpers | |
DE2220963A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Galliumarsenid-Bauelementen | |
DE1913136B2 (de) | Verfahren zur erhoehung der mechanischen festigkeit von alkalihaltigem glas von duenner abmessung durch ionenaustausch | |
DE2149359C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von wenigstens an der Oberfläche aus Bor bestehenden Drähten | |
DE1521953C (de) | Verfahren zur Herstellung eines Oxidbelages auf einem vorzugsweise einkristallinen Körper aus Halbleitermaterial | |
DE447142C (de) | Verfahren zur Verringerung des Siliciumgehalts von Eisen-Silicium-Zirkon-Legierungen | |
DE1913136C (de) | Verfahren zur Erhöhung der mechanischen Festigkeit von alkalihaltigem Glas von dünner Abmessung durch Ionenaustausch | |
DE909468C (de) | Verfahren zur Erzielung geringer Streuungen des spezifischen Widerstandswertes von Halbleiterwiderstaenden | |
AT237751B (de) | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes |