DE1109483B - Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung - Google Patents
Verfahren zum Herstellen einer HalbleitervorrichtungInfo
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- B60M—POWER SUPPLY LINES, AND DEVICES ALONG RAILS, FOR ELECTRICALLY- PROPELLED VEHICLES
- B60M1/00—Power supply lines for contact with collector on vehicle
- B60M1/12—Trolley lines; Accessories therefor
- B60M1/13—Trolley wires
- B60M1/135—Trolley wires composite
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung, bei dem auf
einem aus Germanium bestehenden Halbleiterkörper mindestens eine Elektrode dadurch vorgesehen wird,
daß ein geeignetes Metall oder eine geeignete Legierung auf diesen Halbleiterkörper aufgebracht und
dieses Material in geschmolzenem Zustand mit einem Teil des Germaniums des Halbleiterkörpers legiert
wird.
Bei diesem Verfahren scheidet sich bei Abkühlung eine Germaniumschicht aus, die am Kristallgitter des
ursprünglichen Germaniumkörpers anwächst und in der sich mindestens eines der Elemente des Materials
in fester Lösung befindet. Mit Hufe dieses Verfahrens werden durch passende Wahl des aufzubringenden
Materials p-n-Sperrschichten erhalten.
Ein Nachteil dieses bekannten Verfahrens war, daß das Material den Körper nicht hinreichend benetzte.
Gemäß der älteren Patentanmeldung 1041164
wird vorgeschlagen, ein Flußmittel anzuwenden, das imstande ist, das Halogenid mindestens eines der
legierenden Elemente zu bilden.
Obzwar dabei eine bessere Benetzung der Körperoberfläche erreicht wird, hat es sich herausgestellt,
daß nicht immer der gewünschte Oberflächenteil von der Schmelze benetzt wird.
Die Erfindung, die sich insbesondere auf ein Verfahren
zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung bezieht, bei dem auf einem aus Germanium bestehenden
Halbleiterkörper mindestens eine Elektrode dadurch vorgesehen wird, daß ein geeignetes Metall oder eine
geeignete Legierung auf diesen Halbleiterkörper aufgebracht und dieses Material im geschmolzenen Zustand
mit einem Teil des Germaniums des Halbleiterkörpers legiert wird und ein Flußmittel Anwendung
findet, das imstande ist, das Halogenid mindestens eines der legierenden Elemente zu bilden, bezweckt
unter anderem den obenerwähnten Nachteil zu beseitigen. Erfindungsgemäß wird der Halbleiterkörper
vor der Aufbringung des Materials bei einer Temperatur von mindestens 150° C in einer oxydierenden
Atmosphäre erhitzt. Unter »legierenden Elementen« sind das Element oder die Elemente, aus dem bzw.
denen das aufgebrachte Material besteht, und das Germanium selbst zu verstehen.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand eines Beispiels erörtert, das mit Hilfe einer Zeichnung erläutert
wird.
Fig. 1 ist ein Schnitt durch eine Form, in der zwei Elektroden auf eine Germaniumscheibe aufgeschmolzen
werden können;
Verfahren zum Herstellen
einer Halbleitervorrichtung
einer Halbleitervorrichtung
Anmelder:
N. V. Philips' Gloeilampenfabrieken,
Eindhoven (Niederlande)
Eindhoven (Niederlande)
Vertreter: Dr. rer. nat. P. Roßbach, Patentanwalt,
Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Beanspruchte Priorität:
Niederlande vom 5. September 1958
Niederlande vom 5. September 1958
Johannes Jacobus Asuerus Ploos van Amstel,
Eindhoven (Niederlande),
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
Fig. 2 ist eine Untenansicht dieser Form.
Eine Germaniumscheibe 1 vom n-Leitungstyp und mit einer Dicke von 150 Mikron wird 10 Minuten
lang in Luft auf 250° C erhitzt.
Nach der Abkühlung wird die Scheibe in einem offenen Raum 2 zwischen dem Oberteil 3 und dem
Unterteil 4 der Form angeordnet.Im Oberteil befindet sich eine runde Öffnung 5 mit einem Durchmesser
von 0,7 mm und im Unterteil 4 eine Öffnung 6 mit einem Durchmesser von 1,0 mm.
In der Öffnung 5 wird eine Indiumkugel mit einem Gewicht von 0,8 mg auf die Scheibe gebracht und bei
einer Temperatur von 3000C in einem trocknen
Wasserstoffstrom erhitzt, dem einige Sekunden lang ein wenig Salzsäuredampf zugesetzt ist. Das geschmolzene
Indium verbreitet sich über die Germaniumoberfläche bis zu den Rändern der Öffnung 5,
wobei der Salzsäuredampf die Benetzung fördert. Auf diese Weise ergibt sich eine Elektrode 7.
Nachdem die Form umgekehrt ist, wird auf entsprechende Weise eine zweite Indiumkugel mit einem
Gewicht von 1,8 mg auf der anderen Seite der Scheibe in der Öffnung 6 angebracht und festgeschmolzen,
wodurch sich eine Elektrode 8 ergibt. Zugleich wird ein nicht dargestellter Basiskontakt mit Hilfe von
Zinn angelötet.
Dann wird die Temperatur auf 600° C erhöht, wobei das Indium sich mit dem Germanium legiert.
Nach Abkühlung entstehen unter dem Indium segregierte Germaniumschichten vom p-Typ.
109 618/278
Es hat sich herausgestellt, daß die Dauer der Vorerhitzung der Germaniumscheibe in Luft wenig kritisch
ist, wenn man von der bereits erwähnten unteren Temperaturgrenze absieht und daß auch eine Erhitzung
bei 5000C während 20 Minuten das gleiche gute Ergebnis liefert. Bei Temperaturen über 500° C
besteht die Gefahr, daß örtlich eine zu tiefe Oxydierung auftritt, die einer guten Haftung wiederum entgegenwirkt.
Eine derartige Oxydierung äußert sich durch Farbveränderung der Oberfläche. Vorzugsweise
wird deshalb die Erhitzung abgebrochen, bevor eine Farbveränderung dieser Oberfläche stattfindet.
Vorzugsweise erfolgt die Erhitzung jedoch bei einer Temperatur über 200° C, weil sonst eine zu lange
Erhitzungszeit erforderlich ist, um den beabsichtigten Zweck zu erreichen.
Zur Erläuterung des Ergebnisses dieses Verfahrens sei bemerkt, daß, wenn die Vorerhitzung in einer
oxydierenden Atmosphäre völlig unterlassen und im übrigen dem Verfahren nach dem Ausführungsbeispiel
gefolgt wird, das Elektrodenmaterial nicht immer bis zum Rand der Öffnungen 5 bzw. 6 ausfließt. Die
Elektroden erhalten dann z. B. die durch gestrichelte Linien angegebenen Profile, während sichelförmige
Teile 11 und 12 (s. Fig. 2) frei bleiben. Der Emitter und der Kollektor liegen nicht mehr gleichachsig was
selbstverständlich die elektrischen Eigenschaften beeinträchtigt.
Im Beispiel wurde die Legierung von Indium auf Germanium unter Verwendung von Salzsäuredampf
als Flußmittel beschrieben. Selbstverständlich ist das Verfahren nach der Erfindung nicht auf diese Ausführungsform
beschränkt, sondern kann es auch bei Verwendung anderer aufgebrachter Metalle oder
Legierungen Anwendung finden.
Weiterhin können als Flußmittel nicht nur Salzsäure, sondern auch andere Substanzen Anwendung
finden, die das Halogenid mindestens eines der legierenden Elemente bilden können, wie andere Halogenwasserstoffsäuren,
Halogenwasserstoffmolekülkomplexe organischer Verbindungen, wie Pyridinhydrochlorid,
oder verschiedene anorganische Halogenide, wie Indiumchlorid.
Claims (5)
1. Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung, bei dem auf einem aus Germanium
bestehenden Halbleiterkörper mindestens eine Elektrode dadurch vorgesehen wird, daß ein geeignetes
Metall oder eine geeignete Legierung auf diesen Halbleiterkörper aufgebracht und dieses
Material im geschmolzenen Zustand mit einem Teil des Germaniums des Halbleiterkörpers legiert
wird und ein Flußmittel Anwendung findet, welches imstande ist, das Halogenid mindestens
eines der legierenden Elemente zu bilden, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper vor der
Aufbringung des Metalls bzw. der Legierung bei einer Temperatur von mindestens 150° C in einer
oxydierenden Atmosphäre erhitzt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper in Luft
erhitzt wird.
3. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß der Halbleiterkörper bei einer Temperatur von mindestens 200° C erhitzt wird.
4. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß der Halbleiterkörper bei einer Temperatur von höchstens 500° C erhitzt wird.
5. Verfahren nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß die Erhitzungsbehandlung in oxydierender Atmosphäre abgebrochen wird, bevor sich eine
Farbveränderung der Oberfläche des Germaniumkörpers ergibt.
In Betracht gezogene ältere Patente:
Deutsches Patent Nr. 1041164.
Deutsches Patent Nr. 1041164.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
© 109 618/278 6.61
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL231155 | 1958-09-05 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1109483B true DE1109483B (de) | 1961-06-22 |
Family
ID=19751336
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEN17168A Pending DE1109483B (de) | 1958-09-05 | 1959-09-01 | Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3002864A (de) |
DE (1) | DE1109483B (de) |
FR (1) | FR1234100A (de) |
GB (1) | GB914262A (de) |
NL (2) | NL108505C (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3091849A (en) * | 1959-09-14 | 1963-06-04 | Pacific Semiconductors Inc | Method of bonding materials |
NL260812A (de) * | 1961-02-03 | |||
NL274847A (de) * | 1961-02-16 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2419237A (en) * | 1945-01-18 | 1947-04-22 | Bell Telephone Labor Inc | Translating material and device and method of making them |
US2823149A (en) * | 1953-10-27 | 1958-02-11 | Sprague Electric Co | Process of forming barrier layers in crystalline bodies |
US2874083A (en) * | 1954-06-16 | 1959-02-17 | Rca Corp | Transistor construction |
US2761800A (en) * | 1955-05-02 | 1956-09-04 | Rca Corp | Method of forming p-n junctions in n-type germanium |
NL210216A (de) * | 1955-12-02 |
-
0
- NL NL231155D patent/NL231155A/xx unknown
- NL NL108505D patent/NL108505C/xx active
-
1959
- 1959-08-10 US US832852A patent/US3002864A/en not_active Expired - Lifetime
- 1959-09-01 DE DEN17168A patent/DE1109483B/de active Pending
- 1959-09-02 GB GB29958/59A patent/GB914262A/en not_active Expired
- 1959-09-03 FR FR804232A patent/FR1234100A/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR1234100A (fr) | 1960-10-14 |
US3002864A (en) | 1961-10-03 |
NL108505C (de) | |
NL231155A (de) | |
GB914262A (en) | 1963-01-02 |
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