DE1100820B - Vorrichtung zur Herstellung von Halbleiter-anordnungen durch Dotieren von Halbleiterkoerpern aus der Gasphase und Verfahren mittels einer solchen Vorrichtung - Google Patents
Vorrichtung zur Herstellung von Halbleiter-anordnungen durch Dotieren von Halbleiterkoerpern aus der Gasphase und Verfahren mittels einer solchen VorrichtungInfo
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Description
DEUTSCHES
Seit einer Reihe von Jahren sind Halbleiteranordnungen mit pn-, pnp- oder npn-Halbleiterkörpern, insbesondere
Transistoren, bekannt, deren Halbleiterkörper durch Dotieren aus der Gasphase hergestellt
ist. Dies geschieht in an sich bekannter Weise in einer aus dem Dotierungsstoff bestehenden Atmosphäre, in
der die zu dotierenden kristallinen Halbleiterkörper einer entsprechend hohen Temperatur ausgesetzt werden.
Der Dotierungsstoff wandert dann durch Diffusion von der Oberfläche in das Innere des Halbleiterkristalls
und erzeugt auf diese Weise eine dotierte bzw. undotierte Oberflächenschicht. Gegebenenfalls ist
auch die gleichzeitige Herstellung zweier aufeinanderliegender
dünner Oberflächenschichten mit entgegengesetzter Dotierung möglich.
Bei einer Reihe von auf diese Weise hergestellten Halbleiter anordnungen kommt es auf äußerst exakte
Maßhaltigkeit der Dicke der durch das Eindiffundieren des Dotierungsstoffes hergestellten Halbleiterzonen
sowie der Stärke der Dotierung in den einzelnen Zonen an. Es muß deshalb für eine möglichst exakte
Bemessung des Dampfdruckes des Dotierungsstoffes sowie der Dotierungstemperatur im Behandlungsgefäß
als auch der Dotierungszeit Sorge getragen werden. Ferner ist es wichtig, daß während des Dotierungsvorganges keine gasförmigen Fremdstoffe, welche zu
unerwünschten Verunreinigungen Anlaß geben könnten, in dem Behandlungsgefäß entstehen, können.
Die meisten bekannten Vorrichtungen zur Durchführung
des Dotierungsverfahrens aus der Gasphase verwenden ein Quarzgefäß, in welchem sich die zu
dotierenden Halbleiterkristalle befinden, in welchem die dotierende Gasatmosphäre erzeugt wird und das
während der Dotierungsbehandlung in einen Ofen eingebracht wird. Es hat sich jedoch bei Verwendung
einer solchen Vorrichtung ergeben, daß die erhitzte Quarzwand des Behandlungsgefäßes sehr häufig Anlaß
für das Auftreten Undefinierter Verunreinigungen in den zu dotierenden Halbleiterkristallen gibt, die besonders
dann störend sind, wenn die Dicke der zu erzeugenden bzw. umzudotierenden Schichten kleiner
als 5 μ ist. -
Andere bekannte Anordnungen verlegen das Heizelement,
welches die zur Dotierung erforderliche hohe Temperatur liefert, in das Innere des Behandlungsgefäßes. Bei einer bekannten Vorrichtung dieser Art,
die allerdings zum Herstellen von Halbleiteranordnungen nach dem Legierungsverfahren vorgesehen ist,
befindet sich im Innern des Behandlungsgefäßes ein stromdurchflossener plattenförmiger Träger, auf dem
die Halbleiterkristalle mit einer Pille des Dotierungsstoffes auf ihrer Oberseite angeordnet sind. Eine
andere bekannte Vorrichtung dieser Art zum Dotieren aus der Gasphase besteht aus einem an beiden Enden
Vorrichtung
zur Herstellung von Halbleiteranordnungen durch Dotieren
von Halbleiterkörpern aus der Gasphase und Verfahren mittels einer solchen
Vorrichtung
von Halbleiterkörpern aus der Gasphase und Verfahren mittels einer solchen
Vorrichtung
Anmelder:
Siemens & Halske Aktiengesellschaft,
Berlin und München,
München 2, Wittelsbacherplatz 2
München 2, Wittelsbacherplatz 2
Andreas Weißfloch, München,
Otto Frodl, Kreuzstraße bei Holzkirchen,
Otto Frodl, Kreuzstraße bei Holzkirchen,
Dr. Heinz Dorendorf, München,
und Dr. Reinhard Dahlberg, Freiburg (Breisgau),
sind als Erfinder genannt worden
nicht völlig abgeschlossenen Tantalrohr, welches von
einem Quarzrohr konzentrisch umgeben ist und dieses seinerseits am einen Ende abgeschlossen und am anderen
Ende an eine Evakuierungspumpe angeschlossen ist. Die zu dotierenden Halbleiterkristalle befinden
sich im Innern des Tantalrohres, während der Dotierungsstoff derart angeordnet ist, daß sein Dampf, der
sich beim Erhitzen des Tantalrohres oder durch Anwendung einer besonderen Wärmequelle bildet, in das
Tantalrohr einströmen kann. Die Beheizung des ■Tantalrohres, welches gleichzeitig als Dotierungsofen
dient, erfolgt auf induktivem Wege über eine das Ouarzrohr und damit das Tantalrohr konzentrisch
umgebende Induktionsspule.
Diese bekannte Vorrichtung besitzt gegenüber dem bereits Besprochenen Vorteile. Einmal wird der Raum,
in welchem sich die Halbleiterkristalle befinden, nicht unmittelbar von einer Quarzwand, sondern von einer
Tantalwand gebildet. Dieses Metall hat die Eigenschaft, gegen Königswasser äußerst widerstandsfähig
zu sein, während andere Metalle von diesem Stoff quantitativ in kurzer Zeit gelöst werden. Das Tantalrohr
läßt sich daher mit diesem Mittel vorzüglich von Resten der Dotierungsmetalle reinigen. Hierzu kommt
weiterhin, daß Tantal keine Verbindung mit den Dotierungsstoffen eingeht und außerdem in gereinig-
109 528/587
tem Zustand auch nicht als Dotierungsstoff wirksam ist. Weiterhin besitzt die bekannte Vorrichtung den
Vorteil, daß durch Anwendung der Evakuierungspumpe der Dampfdruck des Dotierungsstoffes im
Dotierungsraum genau eingestellt werden kann.
Die zu der Erfindung führenden Untersuchungen haben jedoch ergeben, daß es bei induktiver Beheizung
des Tantalrohres praktisch unmöglich ist, homogene Temperaturverhältnisse im Dotierungsraum einzu-
Tantalgefäßes derart angeschlossen werden, daß der aus einer Öffnung der Tantalkapsel bei Erhitzung austretende
Dampf von Dotierungsstoff in das Innere des Tantalgefäßes gelangt.
Einzelheiten der Ausgestaltung und der Wirkungsweise einer Vorrichtung nach der Erfindung werden
an Hand eines in der Figur dargestellten Ausführungsbeispiels erläutert.
Ein aus Tantalblech bestehendes, vorzugsweise stellen, da der in der Wandung des Tantalrohres er- io nahtloses Rohr 1 enthält die zu dotierenden Halbleiterzeugte
elektrische Strom eine ungleichmäßige Dichte- kristalle 3, die auf einem aus Tantal bestehenden Geverteilung
aufweist. Die induktive Beheizung, die, um stell 2 angeordnet sind. Das Tantalrohr 1 ist an beiden
eine zusätzliche Quelle der Verunreinigung auszu- Enden mit je einem aus dem gleichen Metall bestehenschalten,
mittels einer außerhalb des das nicht gas- den Verschluß 4 und 5 abgeschlossen, welcher den
dicht abschließbare Tantalrohr umgebenden, gegen 15 Abschluß auf Grund seiner federnden Eigenschaften
den Außenraum gasdicht abgeschlossenen zweiten ohne Anwendung eines abdichtenden Stoffes bewirkt.
Rohres konzentrisch zu dem zweiten Rohr und dem Durch jeden der beiden Verschlüsse 4 und 5 ist ein
Tantalrohr angeordneten Induktionsspule erfolgt, ver- rohrförmiger Stutzen 6 und 7 geführt, der ebenfalls
langt außerdem, daß das zweite Rohr aus Isolierstoff aus Tantalblech besteht und ohne Anwendung eines
besteht, wofür vor allem aus Gründen der erf order- 20 Fremdstoffes mit dem jeweiligen Verschlußverbunden
liehen Temperaturbeständigkeit und Reinigungs- ist. Zur Erhöhung der mechanischen Stabilität der
möglichkeit praktisch nur Quarz in Betracht kommt. beiden Rohrstutzen 6 und 7 können an den beiden End-Im
Interesse eines guten Wirkungsgrades der Induk- verschlüssen 4 und 5 Stützbügel 4' und 5' vorgesehen
tionsbeheizung ist es jedoch wünschenswert, daß die sein, die ihrerseits an den den Heizstrom liefernden,
Wandung des äußeren Rohres und die Induktionsspule 25 das Tantalrohr 1 an den Enden kontaktierenden Elekdas
Tantalrohr in möglichst engem Abstand um- troden 11 und 12 befestigt sind. Mindestens einer der
schließen. Dies führt jedoch anderseits dazu, daß die
Wand des äußeren Rohres sich infolge der von dem
Tantalrohr abgestrahlten Wärme so stark erhitzt, daß
gasförmige Verunreinigungen aus dem äußeren Rohr 30
abdampfen und in den Gasraum und damit auch in
das Innere des Tantalrohres gelangen können. Es besteht dann trotz des Betriebes der Vakuumpumpe bei
der bekannten Anordnung die Möglichkeit, daß die
Wand des äußeren Rohres sich infolge der von dem
Tantalrohr abgestrahlten Wärme so stark erhitzt, daß
gasförmige Verunreinigungen aus dem äußeren Rohr 30
abdampfen und in den Gasraum und damit auch in
das Innere des Tantalrohres gelangen können. Es besteht dann trotz des Betriebes der Vakuumpumpe bei
der bekannten Anordnung die Möglichkeit, daß die
beiden Verschlüsse 4 und 5 kann zum Zwecke der Beschickung des Tantalrohres 1 mit den Halbleiterkristallen
3 herausgenommen werden.
Der eine der beiden rohrförmigen Stutzen, beispielsweise
der Stutzen 6, enthält ein Thermoelemente und ist an dem gegen das Innere des Tantalrohres 1
weisenden Ende z. B. mit einer Kappe aus Tantal abgeschlossen. Der andere der beiden Stutzen, z. B. der
aus der heißen Quarzwand abdampfenden Verunrei- 35 Stutzen 7, dient zur Aufnahme einer aus Tantal be
in die Halbleiterkristalle eindiffundieren
stehenden Kapsel 9 für den Dotierungsstoff 10. Gegebenenfalls kann noch ein weiterer, gleichartiger
Stutzen zwecks Unterbringung einer zweiten Kapsel für einen anderen Dotierungsstoff vorgesehen sein.
Das Tantalrohr 1 ist an beiden Enden mit je einer ringförmig berührenden Elektrode 11 und 12 aus gut
wärmeleitendem Metall kontaktiert. Diese Art der Stromzuführung sorgt dafür, daß die Richtung des
elektrischen Stromes praktisch unmittelbar nach dem
nigungen
können.
können.
Die genannten Nachteile können entsprechend der Lehre der Erfindung vermieden werden, wenn die Erhitzung
des Tantalrohres durch direkten Stromdurchgang erfolgt. Es bereitet dann keine Schwierigkeiten,
den Stromfluß im Tantalrohr z. B. durch geeignete Kontaktierung auf ein Höchstmaß von Gleichmäßigkeit
einzustellen. Hiervon ist wiederum die Folge, daß
im Innern des Tantalrohres ein nahezu gradientenloses 45 Eintritt in das Tantalrohr 1 parallel zu dessen Achse
Temperaturfeld entsteht. Anderseits kann die Wan- verläuft und die Stromdichte ein Höchstmaß an
dung des äußeren Rohres, ohne die Wirksamkeit der Homogenität erhält. Demzufolge sind auch die Quellen
Beheizung zu beeinträchtigen, so weit von der Wand des Jouleschen Wärmeflusses in hohem Maße homogen
des Tantalrohres entfernt sein, daß der Einfluß der verteilt, was die Entstehung eines nahezu gradienten-Temperaturstrahlung
des Tantalrohres bedeutungslos 50 losen Temperaturfeldes im Innern des Rohres 1, minwird.
Ferner kann das äußere Rohr auch aus einem destens jedoch in der Umgebung der möglichst in der
hochtemperaturbeständigen Metall bestehen oder zwi- Mitte des Rohres 1 angeordneten Halbleiterkristalle,
sehen dem Tantalrohr und dem äußeren Rohr dann zur Folge hat. Begünstigt wird diese homogene Temein
ebenfalls aus Tantal bestehender Strahlungsschirm peraturverteilung noch durch eine sehr dünnwandige
angeordnet werden. Durch Anwendung dieser Maß- 55 Ausgestaltung des Tantalrohres 1, z. B. 1Ao mm und
nähme wird eine großräumige Ausgestaltung des darunter. Gegebenenfalls können zur Erhöhung der
äußeren Behandlungsgefäßes vermieden. Temperaturhomogenität im Inneren des Rohres 1 an-
Die Erfindung bezieht sich somit auf eine Vorrich- geordnete Blenden und Schirme vorgesehen sein,
tung zur Herstellung von Halbleiteranordnungen durch welche ebenfalls aus Tantal bestehen sollen. Zu dem
Dotieren von Halbleiterkörpern aus der Gasphase. 60 gleichen Zwecke kann das die Halbleiterkristalle ent-Gemäß
der Erfindung ist dabei ein aus Tantal beste- haltene Tantalrohr 1 von einem offenen, entsprechend
hendes und eine Öffnung aufweisendes Gefäß durch
direkten Stromdurchgang so beheizt, daß ein nahezu
gradientenloses Temperaturfeld im Innern dieses Tantalgefäßes entsteht; in diesem Tantalgefäß sind die zu 65
dotierenden Halbleiterkörper auf einem aus Tantal
bestehenden Gestell angeordnet, das Tantalgefäß ist
von einem weiteren evakuierbaren Gefäß umgeben,
und schließlich kann eine mit dem Dotierungsstoff ge
direkten Stromdurchgang so beheizt, daß ein nahezu
gradientenloses Temperaturfeld im Innern dieses Tantalgefäßes entsteht; in diesem Tantalgefäß sind die zu 65
dotierenden Halbleiterkörper auf einem aus Tantal
bestehenden Gestell angeordnet, das Tantalgefäß ist
von einem weiteren evakuierbaren Gefäß umgeben,
und schließlich kann eine mit dem Dotierungsstoff ge
bemessenen und als Wärmeschild dienenden zweiten Tantalrohr 4, welches die beiden Elektroden 11 und
12 nicht gleichzeitig berühren darf, umgeben sein.
Das Tantalrohr 1 befindet sich im Innern eines an eine Evakuierungspumpe 14 angeschlossenen Vakuumgefäßes
13. Dieses kann z. B. aus Quarz oder einem mit einem Beobachtungsfenster ausgerüsteten Stahlgehäuse
bestehen. Das Vakuumgefäß wird gemäß einer
füllte beheizbare Tantalkapsel an die Öffnung des 70 besonderen Ausbildung des Erfindungsgedankens nicht
5 6
nur vor dem Erzeugen der dotierenden Atmosphäre, beispielsweise eine Temperatur von 600° C wünsondern
während des ganzen Dotierungsverfahrens sehenswert. Bei dieser Temperatur findet jedoch
evakuiert. Diese Maßnahme bezweckt, wie noch näher bereits ein zu rapides Verdampfen des Arsens statt,
dargelegt wird, die Einstellung einer definiert dotie- Es ist deshalb zweckmäßig, die Temperatur im Innerenden
Atmosphäre. Zur Halterung des Tantalrohres 1 5 ren der Kapsel 9 möglichst unabhängig von der Beim
Vakuumgefäß 13 kann ein aus Isolierstoff beste- handlungstemperatur im Inneren des Tantalrohres 1
hender, hitzebeständiger Support vorgesehen sein. zu halten und dadurch einer zu raschen Verdampfung
Statt dessen können auch die gegeneinander isolierten des Dotierungsstoffes entgegenzuarbeiten.
Elektroden 11 und 12 als Stützen ausgebildet sein, wie Zu diesem Zweck ist die Kapsel 9 an der Austrittses
in der Figur dargestellt ist. Die elektrischen Zufüh- io stelle des Dotierungsstoffes doppelwandig ausgestaltet,
rungen 15 zu den beiden Elektroden 11 und 12 sind und die zum Austritt des Dotierungsdampfes dienenebenso
wie die das Thermoelement 8 mit einem GaI- den Öffnungen 9' in den beiden Wandungen sind so
vanometer 17 verbindenden Leitungen 18 isoliert durch weit gegeneinander versetzt angeordnet bzw. derart
die Wand des Vakuumgefäßes 13 geführt und liegen ausgestaltet, daß keine direkte Strahlung aus dem
an einer Stromquelle, z. B. einem regelbaren Trans- 15 Inneren des Rohres 1 zu dem sich in der Kapsel 9 beformator
16. Falls die Vorrichtung, was in der Regel findlichen Dotierungsstoff 10 gelangen kann. Diese
der Fall sein wird, während des Betriebes zu bedie- Ausgestaltung der Kapsel 9 wirkt gewissermaßen als
nende, im Inneren des Vakuumgefäßes befindliche be- Schirm, der einen beträchtlichen Teil der auf die
wegliche Teile aufweist, so sind sie in bekannter Weise Kapsel auftreffenden Wärmestrahlung reflektiert und
entsprechend, z. B. als Drehdurchführungen, ausgebil- 20 davon abhält, zu dem im Inneren der Kapsel befinddet
bzw. ausgerüstet. So kann z. B. mittels eines durch liehen Dotierungsstoff zu gelangen. Ferner kann der
die Wand des Vakuumgefäßes geführten Schiebers 19 Stutzen 7 gegen den Verschluß 5 verschiebbar ausgedie
Kapsel mit dem Dotierungsstoff wahlweise in den bildet sein, so daß er mehr oder weniger aus dem Ende
Rohrstutzen 7 eingeführt bzw. aus ihm herausgezogen des Rohres 1 herausragt. Dadurch kann die Temperawerden.
25 tür der Kapsel 9 und des Dotierungsstoffes 10 eben-Die
Lötstelle des zur Messung und Überwachung falls verändert werden. Schließlich kann auch für die
der Temperatur in der Umgebung der Halbleiter- Kapsel 9 eine besondere Temperaturregelung, z. B.
kristalle 3 bestimmten Thermoelementes 8, z. B. eines eine besondere Heizspule, die in der Figur nicht dar-Platin-Indium-Elementes,
soll möglichst in der Nähe gestellt ist, und auch ein besonderes Thermoelement 23
dieser Halbleiterkristalle angeordnet sein. Aus diesem 3° vorgesehen sein. Die benötigten elektrischen Zuleitun-Grunde
reicht der Stutzen bis in die Nähe dieser gen können über den zu diesem Zwecke hohl gestalte-Kristalle.
Da das Thermoelement 8 und die zu seiner ten Schieber 19 zu der Kapsel 9 geführt sein.
Montage benötigten Isolatoren nicht mit dem Innen- Um die Wirkungsweise einer Vorrichtung gemäß
raum des Tantalrohres 1 in Berührung kommen sollen, Erfindung darzulegen, ist vor allem auf folgendes hinist
der rohrförmige Stutzen 6 an dem in das Innere 35 zuweisen: Die bekannten Vorrichtungen besaßen vor
des Rohres 1 weisenden Ende mit einer Kappe aus allem den Nachteil, daß die Wände des Dotierungs-Tantal
abgeschlossen. Die Lötstelle des Thermo- raumes selbst zu Verunreinigungen des Halbleiterelementes
liegt jedoch möglichst an dieser Kappe an, materials und damit zu Undefinierten starken Streuum
auf diese Weise eine möglichst exakte Bestimmung ungen der elektrischen Eigenschaften der mit ihrer
bzw. Überwachung der im Inneren des Rohres herr- 4° Hilfe hergestellten elektrischen Halbleiterbauelemente
sehenden Temperatur zu ermöglichen. Gegebenenfalls führten. Gemäß Erfindung besteht der Dotierungsraum
kann, wie in der Figur dargestellt, die den Stutzen 6 ausschließlich aus Tantal. Andere Stoffe, mit Ausabschließende
Tantalkappe einen Teil des Gestells 2 nähme der zu dotierenden Halbleiterkristalle, sollen
für die Halbleiterkristalle bilden, so daß dieses von im Dotierungsraum nicht anwesend sein, da es sich
dem Rohrstutzen frei getragen wird und diesen 45 gezeigt hat, daß solche Stoffe leicht zu Undefinierten
gleichzeitig abschließt. Das Gestell 2 soll in diesem Verunreinigungen der Halbleiterkristalle führen, da
Falle nicht mit dem gegenüberliegenden Rohrstutzen 7 sie zur Abgabe von Gasen bei erhöhten Temperaturen
in Berührung kommen, da sich sonst eine Ungleich- neigen. Dementsprechend bestehen sowohl das Rohr 1
förmigkeit des Stromflusses und damit der Tempera- als auch möglichst alle an den Innenraum dieses
turverteilung im Inneren des Tantalrohres 1 einstellen 5o Rohres angrenzenden Teile der Apparatur aus Tantal,
würde. Die einzelnen Teile können, soweit erforderlich, mit-Der Abschluß des anderen Stutzens 7 wird durch einander verschweißt oder vernietet sein. Die Verdie
Kapsel 9 für den Dotierungsstoff bewirkt. Diese Schlüsse werden vorzugsweise durch die federnde
besteht ebenfalls aus Tantal und wird während des Kraft der einzelnen ineinandergefügten Teile bewirkt.
Betriebes in den Stutzen 7 eingeschoben, derart, daß 55 Es wurde bereits die Anwendung eines als Wärmedie
Öffnung 9' der Kapsel 9 gegen das Innere des Tan- schutz dienenden zweiten Tantalrohres 4 erwähnt,
talrohres 1 weist. Die Kapsel wird ebenfalls durch welches das die Halbleiterkristalle beinhaltende Tan-Federung
und ohne Anwendung von Dichtungsstoffen talrohr 1 vorzugsweise konzentrisch umgibt. Dabei
gehalten. Die dabei durch Wärmeleitung übertragene wurde auf die vergleichmäßigende Wirkung eines sol-Wärme
bringt dann den Dotierungsstoff zum Ver- 6o chen Wärmeschildes auf die im Inneren des Tantaldampfen,
der dann ungehindert durch die Öffnung 9' rohres 1 herrschenden Temperaturverhältnisse hingeder
Kapsel 9 in das Innere des Tantalrohres 1 ein- wiesen. Dem Tantalrohr 24 kommt jedoch noch eine
treten kann. weitere, mindestens ebenso wichtige Funktion zu. Es Die zur Dotierung erforderlichen Temperaturen verhindert nämlich, daß sich die Wand des Vakuumhängen
von einer Reihe von Gesichtspunkten ab, von 65 gefäßes 13 infolge der vom Tantalrohr 1 abgestrahlten
denen die wichtigsten die stoffliche Natur der betref- Hitze zu stark erhitzt. Zu dem gleichen Zweck können
fenden Halbleiterkristalle und die Diffusionsgeschwin- auch an den Enden des Tantalrohres je ein als Strahdigkeit
des gewählten Dotierungsstoffes in dem betref- lungsschild dienender Tantalschirm vorgesehen sein,
fenden Halbleitermaterial sind. Sollen z. B. Germani- der beispielsweise gleichzeitig die Funktion der
umkristalle mit Arsen dotiert werden, so ist 70 Bügel 4' und 5' ausüben kann. Es hat sich nämlich
herausgestellt, daß auch bei ständigem Betrieb der
Vakuumpumpe 14 die aus der Wand des Vakuumgefäßes 13 infolge einer solchen Erhitzung austretenden
Gasspuren zu einer Beeinträchtigung der erzielten Dotierung führen können. Durch die beschriebenen
Maßnahmen kann jedoch eine solche Erhitzung weitgehend vermieden werden, ohne daß eine großräumige
Ausgestaltung des Vakuumgefäßes-13 und die hiermit verbundenen Nachteile in Kauf genommen werden
müssen.
Wie erkannt wurde, besitzt Tantal bei den: in, Frage
kommenden Behandlungstemperaturen eine gewisse Fähigkeit, gasförmige Stoffe bei höheren Temperaturen zu absorbieren, die es erst bei noch wesentlich
höheren Temperaturen wieder abgibt. Es besteht deshalb keine Gefahr, daß bei den üblichen Dotierungstemperaturen die Apparatur gasförmige, zu einer Verunreinigung
des Halbleiters führende Verunreinigungen abspaltet. Tantal hat ferner die Eigenschaft, gegen
heißes Königswasser unempfindlich zu sein. Dies gibt die Möglichkeit, die Oberfläche der verwendeten
Tantalapparatur vor jedem neuen Dotierungsprozeß auf höchste Reinheit zu bringen, indem sie zunächst
einige Zeit in Königswasser gekocht und anschließend im Vakuum geglüht wird.
Der Betrieb einer Vorrichtung gemäß der Erfindung gestaltet sich folgendermaßen: Zunächst werden die
aus Tantal bestehenden Teile der Apparatur durch Behandlung mit einem flüssigen organischen Lösungsmittel
entfettet, dann in Königswasser ausgekocht und anschließend mit einem Gemisch aus destilliertem
Wasser und Alkohol gewaschen. Anschließend werden sie längere Zeit unter Vakuum geglüht. Es ist ferner
zweckmäßig, auch die im Inneren des Väkuumgefäßes befindlichen Teile der Apparatur sowie die Innenwand
des Vakuumgefäßes 13 soweit wie möglich zu säubern und durch an sich bekannte Mittel, z. B. durch Erwärmen
oder durch Anwendung einer Gasentladung, von Gas- und Feuchtigkeitsresten möglichst zu befreien.
Das Tantalrohr wird dann mit den zu dotierenden Halbleiterkristallen bestückt und mit den Verschlüssen
4 und 5 abgeschlossen. Die Kapsel 9 wird mit dem hochreinen Dotierungsstoff gefüllt. Es empfielt sich
jedoch, die Kapsel 9 erst nach Beendigung der folgenden Arbeitsschritte in den Stutzen 7 einzuführen:
Nachdem das Tantalrohr 1 im Vakuumgefäß 13 montiert, die erforderlichen elektrischen Anschlüsse
hergestellt und das Vakuumgefäß 13 verschlossen ist, wird die Evakuierungspumpe 14 eingeschaltet und im
Inneren des Vakuumgefäßes ein Innendruck von etwa ΙΟ"5 bis ΙΟ-" Torr erzeugt. Da das Tantalrohr nicht
gasdicht abgeschlossen ist, stellt sich auch in seinem Inneren ein entsprechend niedriger Druck ein. Da, wie
bereits bemerkt, die Kapsel 9 mit dem Dotierungsstoff 10 während dieser Phase des Verfahrens nicht in
den Stutzen 7 eingeführt ist, wird die Evakuierung des Tantalrohres 1 keinen zusätzlichen zeitlichen Aufwand
bedingen. Falls eine regelbare Blende vorgesehen ist, empfiehlt es sich, diese aus dem gleichen Grund
während des Evakuierens der Anordnung zu öffnen. Nach dem Erreichen des gewünschten Unterdruckes
im Vakuumgefäß 13 wird das Tantalrohr 1 mittels des von der Stromquelle 16 gelieferten Stromes erhitzt.
Dabei soll vor dem Einregeln der gewünschten Dotierungstemperatur ein »Ausheizen« der Halbleiterkristalle
bei höherer Temperatur, z. B. 800° C bei Germaniumkristallen, vorgenommen werden, um die
Halbleiteroberfläche von Oxydspuren und anderen verdampfbaren Verunreinigungen zu säubern und ein einwandfreies
Funktionieren des Diffusionsvorganges zu ermöglichen. Die Ausheizzeit ist von der Natur der
betreffenden Halbleiterkristalle abhängig und beträgt bei Germaniumkristallen etwa Va bis 1 Stunde.
Nach dem Ausheizen der_ Halbleiterkristalle wird die gewünschte Dotierungstemperatur eingeregelt. Anschließend wird die Kapsel 9 mit dem Dotierungsstoff 10. in den Stutzen 7 mittels des Schiebers 19 eingeführt. Durch Wärmeübertragung wird sich dann in den meisten Fällen. der DotierungsstofF so weit erhitzen, daß ein merklicher Teil verdampft. Der Dotierungsdampf gelangt über die öffnungen 9' in das Innere des Tantalrohres 1 und damit in Berührung mit den zu dotierenden Halbleiterkristallen. Um den Druck der dotierenden Atmosphäre möglichst unabhängig von der Behandlungstemperatur im Inneren des Tantalrohres 1 variieren zu können, kann eine regelbare Blende vorgesehen sein, die über eine Drehdurchführung 22 betätigt werden kann. Durch Einstellung ihrer lichten Öffnung kann der Einfluß der Vakuumpumpe 14 auf das Innere des Rohres 1 stärker oder schwächer auch während des Ablaufes des Dotierungsvorganges eingestellt werden.
Nach dem Ausheizen der_ Halbleiterkristalle wird die gewünschte Dotierungstemperatur eingeregelt. Anschließend wird die Kapsel 9 mit dem Dotierungsstoff 10. in den Stutzen 7 mittels des Schiebers 19 eingeführt. Durch Wärmeübertragung wird sich dann in den meisten Fällen. der DotierungsstofF so weit erhitzen, daß ein merklicher Teil verdampft. Der Dotierungsdampf gelangt über die öffnungen 9' in das Innere des Tantalrohres 1 und damit in Berührung mit den zu dotierenden Halbleiterkristallen. Um den Druck der dotierenden Atmosphäre möglichst unabhängig von der Behandlungstemperatur im Inneren des Tantalrohres 1 variieren zu können, kann eine regelbare Blende vorgesehen sein, die über eine Drehdurchführung 22 betätigt werden kann. Durch Einstellung ihrer lichten Öffnung kann der Einfluß der Vakuumpumpe 14 auf das Innere des Rohres 1 stärker oder schwächer auch während des Ablaufes des Dotierungsvorganges eingestellt werden.
Da sich außerdem, wie bereits bemerkt, durch entsprechende Anordnung der Kapsel 9 im Stützen 7, die
Kapsel kann sich z. B. am inneren oder am äußeren Ende des Stutzens befinden, und des Stutzens 7 in
bezug auf das Rohr 1, der Stutzen kann weit in das Rohr hineingeschoben und er kann aber auch ganz
herausgezogen sein, die Wärmeübertragung an den Dotierungsstoff in weiten Grenzen regeln läßt, ergibt
sich ein weiteres Mittel, um die Dichte der im Rohr 1 herrschenden Atmosphäre unabhängig von der Behandlungstemperatur
in diesem Rohr einzustellen.
Schließlich kann die Kapsel 9 noch, falls erwünscht, zusätzlich geheizt werden.
Insbesondere kann man bei Verwendung einer zusätzlichen Heizung für die Kapsel 9 den zugehörigen
Rohrstutzen möglichst erst aus dem Rohr herausziehen und die Kapsel am äußeren Ende anordnen. Dadurch
wird erreicht, daß die Temperatur in der Kapsel weitgehend unabhängig von der Temperatur im Inneren
des Tantalrohres wird.
Eine Vorrichtung gemäß Erfindung gestattet, wenn sie entsprechend den soeben gegebenen Lehren betrieben
wird, Halbleiterkristalle mit großer Gleichmäßigkeit zu dotieren bzw. umdotierte Halbleiterschichten
an der Oberfläche von Halbleiterkristaüen mit gut reproduzierbarer Dicke und Gleichmäßigkeit ihrer
elektrischen Eigenschaften herzustellen. Dies beruht einmal darauf, daß es bei Verwendung einer Vorrichtung
gemäß Erfindung gelingt, die Halbleiterkristalle in einem besonders hohen Maße definiert zu erhitzen,
zum anderen, weil störende, undefinierbare Verunreinigungen mit größter Sicherheit vermieden, und
schließlich, weil die die Einstellung des Druckes der dotierenden Atmosphäre bestimmenden Einflüsse mit
hoher Exaktheit reproduzierbar eingestellt werden können.
Zu dem letzten Punkt ist noch folgendes zu bemerken: Bekanntlich ist der Dampfdruck eines Dotierungsstoffes
eine ausschließliche Funktion seiner Temperatur. Falls das Tantalrohr 1 auf die gleiche
Temperatur erhitzt wird, wird auch die Kapsel 9 bei gleicher Stellung zu diesem Rohr in gleichem Maße
erwärmt, falls keine der Kapsel zugeordneten zusätzlichen Wärmequellen in Betrieb sind. Das Thermoelement
22 gestattet überdies eine genaue Einstellung und Überwachung dieser Temperatur. Damit ist aber
auch eine reproduzierbare Verdampfungsquote des
Dotierungsstoffes bei den Wiederholungen des Verfahrens gesichert, wenn bei diesen Wiederholungen,
vorausgesetzt, der gleiche Dotierungsstoff findet Verwendung, die Evakuierung im gleichen Maße durchgeführt
wird, zum anderen, wenn bei gleicher Temperatur im Tantalrohr 1 auch in der Kapsel 9 die gleiche
Temperatur erzeugt wird. Durch gleiche Einstellung der Blende 22 und der Diffusionsdauer muß bei gleichmäßigen
Abmessungen der zu dotierenden Halbleiterkristalle ein Höchstmaß an Reproduzierbarkeit der
erzielten Dotierung und damit der elektrischen Eigenschaften der Halbleiteranordnungen gesichert sein. Da
außerdem die Evakuierung während des gesamten Dotierungsprozesses und auch während der sich anschließenden
Abkühlung aufrechterhalten wird, ist die saubere Durchführung der Dotierung gesichert.
Mitunter empfielt es sich, nach Beendigung der Dotierung die Dotierungskapsel wieder aus dem Stutzen 7
herauszunehmen, die Evakuierungs- und Temperaturverhältnisse hingegen unverändert beizubehalten, ao
Dann findet ein Abdampfen von Dotierungsstoffen aus der dotierten Oberfläche statt, welches zu einem
unter Umständen vorteilhaften Profil der Störstellenverteilung führt.
Claims (10)
1. Vorrichtung zur Herstellung von Halbleiteranordnungen durch Dotieren von Halbleiterkörpern
aus der Gasphase, dadurch gekennzeichinet, daß ein aus Tantal bestehendes und eine öffnung aufweisendes
Gefäß durch direkten Stromdurchgang so beheizt ist, daß ein nahezu gradientenloses
Temperaturfeld im Innern dieses Tantalgefäßes entsteht, daß in diesem Tantalgefäß die zu
dotierenden Halbleiterkörper auf einem aus Tantal bestehenden Gestell angeordnet sind, daß das Tantalgefäß
von einem weiteren evakuierbaren Gefäß umgeben ist, daß eine mit dem Dotierungsstoff
gefüllte beheizbare Tantalkapsel an die öffnung des Tantalgefäßes derart angeschlossen werden
kann, daß der aus einer Öffnung der Tantalkapsel bei Erhitzung austretende Dampf von Dotierungsstoff in das Innere des Tantalgefäßes gelangt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Tantalgefäß mit einem aus
Tantal bestehenden federnden Verschluß und ohne Anwendung eines Dichtungsstoffes abgeschlossen
ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Tantalgefäß zwei Verschlüsse
an den beiden Enden aufweist und daß in jedem der beiden Verschlüsse ein ebenfalls aus
Tantal bestehender rohrförmiger Stutzen eingelassen ist, von denen der eine ein Thermoelement
enthält und an dem ins Innere des Tantalrohres weisenden Ende abgeschlossen ist und der andere
die Tantalkapsel für den Dotierungsstoff aufnimmt und an beiden Enden offen ist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Tantalgefäß aus
einem dünnwandigen Tantalrohr besteht und daß beide Enden des Tantalgefäßes mit je einer Elektrode
in Form eines längs eines senkrecht zur Rohrachse stehenden und ringförmig die Enden
des Tantalrohres umschließenden Streifens kontaktiert sind.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Tantalkapsel für
den Dotierungsstoff an der Austrittsstelle des Dotierungsdampfes doppelwandig ist und daß die
zum Austritt des Dotierungsdampfes dienenden, in beiden Wandungen vorgesehenen öffnungen so
weit gegeneinander verschoben bzw. derart ausgestaltet sind, daß die aus dem Inneren des rohrförmigen
Tantalgefäßes auf die Tantalkapsel auffallende Wärmestrahlung nicht direkt zu dem im
Inneren der Tantalkapsel befindlichen Dotierungsstoff gelangen kann.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Tantalkapsel für
den Dotierungsstoff ebenfalls mit einem Thermoelement, gegebenenfalls auch mit einer elektrischen
Heizvorrichtung, ausgestattet ist.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß das rohrförmige Tantalgefäß
von einem Wärmeschild in Gestalt eines zweiten konzentrischen Tantalrohres umgeben ist,
welches eine starke Erhitzung des evakuierbaren Gefäßes verhindert.
8. Verfahren mittels einer Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die zu dotierenden Halbleiterkörper im Tantalgefäß montiert werden, daß in evakuierbarem
Gefäß ein Vakuum von 10~5 bis 10~e Torr
hergestellt und aufrechterhalten wird, daß die Halbleiterkörper bei einer oberhalb der Dotierungstemperatur
liegenden Temperatur aufgeheizt werden und daß dann die Halbleiterkörper auf die
für die Dotierung vorgesehene Temperatur gebracht werden und daß das Tantalgefäß durch
Kopplung mit der gegebenenfalls vorgeheizten Tantalkapsel für den Dotierungsstoff, insbesondere,
durch eine mit Wärmeübertragung verbundene Kopplung, mit dem Dampf des Dotierungsstoffes
gefüllt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Tantalkapsel für den Dotierungsstoff mit dem die Halbleiterkörper enthaltenden
Tantalgefäß durch Einschieben in einen an dem Tantalgefäß angebrachten, nach dem Inneren des
Tantalgefäßes offenen, vorzugsweise in seinem lichten Querschnitt der Tantalkapsel angepaßten
Rohrstutzen aus Tantal gekoppelt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß die aus Tantal bestehenden
Teile der Vorrichtung vor jedem Gebrauch mit heißem Königswasser gewaschen und anschließend
unter Vakuum geglüht werden.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 040 799;
deutsche Patentanmeldung S 30275, VIIIc/21g (bekanntgemacht am 30. 9. 1954);
Deutsche Auslegeschrift Nr. 1 040 799;
deutsche Patentanmeldung S 30275, VIIIc/21g (bekanntgemacht am 30. 9. 1954);
französische Patentschrift Nr. 1 174 076;
USA.-Patentschrift Nr. 2 742 383.
USA.-Patentschrift Nr. 2 742 383.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
© 109 525/587 2.61
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL254549D NL254549A (de) | 1959-08-07 | ||
DES64342A DE1100820B (de) | 1959-08-07 | 1959-08-07 | Vorrichtung zur Herstellung von Halbleiter-anordnungen durch Dotieren von Halbleiterkoerpern aus der Gasphase und Verfahren mittels einer solchen Vorrichtung |
CH875960A CH387803A (de) | 1959-08-07 | 1960-08-02 | Verfahren und Einrichtung zum Dotieren von Halbleiterkristallen aus der Gasphase |
FR834757A FR1263731A (fr) | 1959-08-07 | 1960-08-02 | Dispositif pour doper les cristaux semi-conducteurs à partir d'une phase gazeuse |
GB2738760A GB907164A (en) | 1959-08-07 | 1960-08-08 | Improvements in or relating to the doping of semi-conductor crystals |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES64342A DE1100820B (de) | 1959-08-07 | 1959-08-07 | Vorrichtung zur Herstellung von Halbleiter-anordnungen durch Dotieren von Halbleiterkoerpern aus der Gasphase und Verfahren mittels einer solchen Vorrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1100820B true DE1100820B (de) | 1961-03-02 |
Family
ID=7497114
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES64342A Pending DE1100820B (de) | 1959-08-07 | 1959-08-07 | Vorrichtung zur Herstellung von Halbleiter-anordnungen durch Dotieren von Halbleiterkoerpern aus der Gasphase und Verfahren mittels einer solchen Vorrichtung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH387803A (de) |
DE (1) | DE1100820B (de) |
GB (1) | GB907164A (de) |
NL (1) | NL254549A (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2849240C2 (de) * | 1978-11-13 | 1983-01-13 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | CVD-Beschichtungsvorrichtung für Kleinteile und ihre Verwendung |
FR2542432B1 (fr) * | 1983-03-08 | 1985-07-19 | Centre Nat Etd Spatiales | Dispositif chauffant transparent comprenant au moins deux zones a temperatures differentes |
CN101942697B (zh) * | 2010-08-23 | 2012-11-14 | 清华大学 | 光伏多晶硅铸锭炉测温热电偶套管抽真空装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2742383A (en) * | 1952-08-09 | 1956-04-17 | Hughes Aircraft Co | Germanium junction-type semiconductor devices |
DE1040799B (de) * | 1957-03-15 | 1958-10-09 | Telefunken Gmbh | Anordnung zum Hochreinigen und/oder Dopen eines Halbleiterkoerpers |
FR1174076A (fr) * | 1956-05-18 | 1959-03-05 | Western Electric Co | Procédé pour la fabrication de corps semi-conducteurs |
-
0
- NL NL254549D patent/NL254549A/xx unknown
-
1959
- 1959-08-07 DE DES64342A patent/DE1100820B/de active Pending
-
1960
- 1960-08-02 CH CH875960A patent/CH387803A/de unknown
- 1960-08-08 GB GB2738760A patent/GB907164A/en not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2742383A (en) * | 1952-08-09 | 1956-04-17 | Hughes Aircraft Co | Germanium junction-type semiconductor devices |
FR1174076A (fr) * | 1956-05-18 | 1959-03-05 | Western Electric Co | Procédé pour la fabrication de corps semi-conducteurs |
DE1040799B (de) * | 1957-03-15 | 1958-10-09 | Telefunken Gmbh | Anordnung zum Hochreinigen und/oder Dopen eines Halbleiterkoerpers |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL254549A (de) | |
CH387803A (de) | 1965-02-15 |
GB907164A (en) | 1962-10-03 |
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