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DE10357187A1 - Verfahren zum Betrieb eines zählenden Strahlungsdetektors mit verbesserter Linearität - Google Patents

Verfahren zum Betrieb eines zählenden Strahlungsdetektors mit verbesserter Linearität Download PDF

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DE10357187A1
DE10357187A1 DE10357187A DE10357187A DE10357187A1 DE 10357187 A1 DE10357187 A1 DE 10357187A1 DE 10357187 A DE10357187 A DE 10357187A DE 10357187 A DE10357187 A DE 10357187A DE 10357187 A1 DE10357187 A1 DE 10357187A1
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ray
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Björn Dr. Heismann
Silke Dr. Janssen
Thomas von der Dr. Haar
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Siemens Corp
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Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betrieb eines zählenden Strahlungsdetektors, insbesondere eines zählenden Röntgendetektors, mit verbesserter Linearität, bei dem jedes Detektorelement (14) des zählenden Strahlungsdetektors (4) während des Betriebs Zählimpulse mit Zählraten in Abhängigkeit von einer Anzahl von pro Zeiteinheit auftreffenden Strahlungsquanten liefert, wobei die von jedem Detektorelement (14) oder von Teilabschnitten des Detektorelementes (14) gelieferten Zählraten über einen funktionalen Zusammenhang in tatsächliche Zählraten umgerechnet werden oder mit von der Höhe der Zählraten abhängigen Korrekturfaktoren multipliziert werden. Die Korrekturfaktoren werden für das jeweilige Detektorelement (14) oder die Teilabschnitte hiervon vorab bestimmt und korrigieren eine aufgrund einer Totzeit des Detektorelementes (14) entstehende Abweichung der Zählraten von der tatsächlichen Anzahl der pro Zeiteinheit auftreffenden Strahlungsquanten. Mit dem vorliegenden Verfahren lässt sich die Linearität zählender Strahlungsdetektoren insbesondere bei hohen Strahlungsintensitäten verbessern, so dass auch die Linearitätsbedingung bei Röntgen-CT-Anlagen erfüllt wird.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betrieb eines zählenden Strahlungsdetektors, insbesondere eines zählenden Röntgendetektors, mit verbesserter Linearität, bei dem jedes Detektorelement des zählenden Strahlungsdetektors während des Betriebs Zählimpulse mit Zählraten in Abhängigkeit von einer Anzahl von pro Zeiteinheit auftreffenden Strahlungsquanten liefert. Die Erfindung betrifft auch einen zählenden Strahlungsdetektor sowie eine Röntgenanlage mit einem zählenden Strahlungsdetektor, der nach dem Verfahren betreibbar ist.
  • Das Verfahren eignet sich vor allem für zählende Röntgendetektoren, wie sie beispielsweise in der Zukunft in der Röntgen-Computer-Tomographie (CT) eingesetzt werden. Es lässt sich jedoch selbstverständlich auch für andere zählende Strahlungsdetektoren einsetzen, bei denen das Problem unzureichender Linearität aufgrund des Einflusses der Totzeit der Detektoren bei einer hohen Anzahl der pro Zeiteinheit einfallenden Strahlungsquanten besteht.
  • Bei mannigfaltigen Problemgestaltungen in der Medizin werden Untersuchungen mit Hilfe von Computer-Tomographen durchgeführt. Der Computer-Tomograph umfasst hierbei eine Röntgenquelle sowie einen der Röntgenquelle gegenüber liegenden Röntgendetektor, der aus mehreren Detektormodulen besteht, die durch einzelne Detektorelemente gebildet werden. Die Detektorelemente sind für die ortsaufgelöste Erfassung der Röntgenstrahlung in der Regel ein- oder mehrzeilig nebeneinander angeordnet. Aus der ortsaufgelösten Messung der Schwächung der Röntgenstrahlung durch das zwischen Röntgenquelle und Detektor befindliche Untersuchungsobjekt lassen sich Er kenntnisse über die Verteilung von Materie innerhalb des Untersuchungsobjektes gewinnen.
  • Zum Nachweis der Röntgenstrahlung sind einerseits Detektoren mit indirekten Wandlern bekannt, die sich aus einem Szintillatormaterial mit einem nachgeschaltetem Photodetektor zusammensetzen. Durch den Szintillator wird die eintreffende Röntgenstrahlung in optische Strahlung umgewandelt, die anschließend vom Photodetektor erfasst wird. Die Anzahl der erzeugten Photonen pro Röntgenquant ist dabei im allgemeinen etwa proportional zu seiner Quantenenergie. In der Regel wird bei dieser Technik über einen vorgegebenen Zeitabschnitt über das vom Photodetektor erhaltene elektrische Signal aufintegriert.
  • Weiterhin sind zum Nachweis von Röntgenstrahlung auch bestimmte Halbleitermaterialien bekannt, in denen die einfallende Röntgenstrahlung direkt Ladungsträger erzeugt. Die Anzahl der in diesen Direktwandlern erzeugten Ladungsträger pro Röntgenquant ist dabei im allgemeinen etwa proportional zu seiner Quantenenergie.
  • Anstelle der Integration über das vom Wandler erhaltene elektrische Signal ist für Computer-Tomographen auch ein zählendes Verfahren bekannt. So zeigt die DE 102 12 638 A1 ein Detektormodul für einen Computer-Tomographen, das mehrere Detektorelemente aufweist, die auf Basis von Direktwandlern die Röntgenstrahlung erfassen. Jeder Detektor ist mit einem Impulsgenerator zur Erzeugung von Zählimpulsen in Abhängigkeit von den empfangenen elektrischen Signalen verbunden. Der Impulsgenerator gibt die Impulse an eine Zähleinrichtung weiter, die die Zählimpulse über einen vorgebbaren Zeitabschnitt zählt und das Ergebnis ausgibt.
  • Beim Einsatz zählender Strahlungsdetektoren in Bereichen, in denen die Anzahl der pro Zeiteinheit zu detektierenden Strahlungsquanten sehr hoch ist, kann die gemessene Zählrate aufgrund der Totzeit des zählenden Detektors verfälscht sein.
  • Unter der Totzeit wird hierbei der Zeitraum verstanden, den der Detektor nach Eintreffen eines Ereignisses für die Verarbeitung dieses Ereignisses benötigt. Alle weiteren Ereignisse, die während dieses Zeitraums eintreffen, gehen verloren. Gerade bei den hohen Raten, mit denen Röntgenquanten bei der Röntgen-Computer-Tomographie auf die Detektorelemente auftreffen, führt die Totzeit der Detektorelemente dazu, dass die Linearitätsbedingung für die CT-Aufnahme nicht erfüllt wird und somit die Bildqualität nicht den Anforderungen entspricht.
  • Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Verfahren anzugeben, das den Betrieb eines zählenden Strahlungsdetektors, insbesondere eines zählenden Röntgendetektors, mit verbesserter Linearität ermöglicht.
  • Die Aufgabe wird mit dem Verfahren gemäß Patentanspruch 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen des Verfahrens sind Gegenstand der Unteransprüche oder lassen sich aus der nachfolgenden Beschreibung sowie den Ausführungsbeispielen entnehmen. Patentanspruch 11 betrifft ferner einen zählenden Strahlungsdetektor und Patentanspruch 12 eine Röntgenanlage mit einem zählenden Strahlungsdetektor, der nach dem Verfahren betreibbar ist.
  • Bei dem vorliegenden Verfahren zum Betrieb eines zählenden Strahlungsdetektors mit verbesserter Linearität liefert jedes Detektorelement des zählenden Strahlungsdetektors während des Betriebs Zählimpulse mit Zählraten in Abhängigkeit von einer Anzahl von pro Zeiteinheit auftreffenden Strahlungsquanten. Die von jedem Detektorelement oder von Teilabschnitten des Detektorelementes gelieferten Zählraten werden über einen bekannten funktionalen Zusammenhang in tatsächliche Zählraten umgerechnet oder mit von der Höhe der Zählraten abhängigen Korrekturfaktoren multipliziert, die für das jeweilige Detektorelement oder der Teilabschnitte hiervon vorab bestimmt werden und eine aufgrund einer Totzeit des Detektorelementes entstehende Abweichung der Zählraten von der tatsächlichen Anzahl der pro Zeiteinheit auftreffenden Strahlungsquanten (tatsächliche Zählraten) korrigieren. Unter einem Detektorelement ist hierbei ein Pixel des Detektors, unter Teilabschnitten des Detektorelementes sind mögliche Subpixel zu verstehen, in die das Detektorelement unterteilt sein kann und die jeweils eigene Zählraten liefern.
  • Der weiterhin beanspruchte Strahlungsdetektor umfasst eine Korrektureinheit, die eine Korrektur von Zählraten gemäß dem vorliegenden Verfahren vornimmt. In gleicher Weise umfasst die vorliegende Röntgenanlage, insbesondere Röntgen-CT-Anlage, einen zählenden Röntgendetektor und eine Korrektureinheit, die eine Korrektur von Zählraten des Röntgendetektors gemäß dem vorliegenden Verfahren vornimmt.
  • Bei dem vorliegenden Verfahren wird ausgenutzt, dass die aufgrund der Totzeit auftretende Nichtlinearität bei zählenden Detektoren deterministisch ist. Der Zusammenhang zwischen gemessener und tatsächlicher Zählrate ist dabei entweder bereits bekannt oder es kann ein Korrekturfaktor durch Messungen bestimmt und tabelliert werden. Durch die Korrektur der vom Detektor gelieferten Zählraten gemäß dem vorliegenden Verfahren wird eine erhöhte Linearität des Strahlungsdetektors erreicht, die insbesondere die Anforderungen an die Linearität bei Computer-Tomographie-Anwendungen erfüllt, so dass die Bildqualität bei Einsatz von zählenden Röntgendetektoren in diesem Bereich verbessert wird.
  • Wenn die Zählratenkorrektur mithilfe einer Vergleichs-Messung bestimmt wird, werden mit dem Korrekturfaktor gegebenenfalls zusätzlich auch Abweichungen von der Linearität korrigiert, die auf andere Einflussfaktoren zurückgehen.
  • Die Zählratenkorrektur kann beim vorliegenden Verfahren beispielsweise aus einem funktionalen Zusammenhang zwischen der tatsächlichen Anzahl der pro Zeiteinheit auftreffenden Strah lungsquanten, d. h. der tatsächlichen Zählrate, und der vom Detektorelement gelieferten Zählrate berechnet werden. Hierbei werden zwei Fälle im Verhalten eines Detektors unterschieden:
  • (1) „non-paralysing":
  • Nach jedem nachgewiesenen Ereignis ist der Detektor für eine feste Zeit τ nicht sensitiv (τ = Totzeit). Er kann während dieser Zeit eintretende Ereignisse nicht registrieren.
  • (2) „paralysing":
  • Der Detektor bleibt auch während der Totzeit sensitiv. Dadurch kann sich die Totzeit durch Eintreffen eines weiteren Ereignisses verlängern.
  • Für beide Fälle ist der theoretische Zusammenhang bekannt. Im Fall einer nicht paralysierenden Elektronik gilt:
    Figure 00050001
  • Bei einem Detektor mit paralysierender Elektronik besteht folgender Zusammenhang zwischen gemessener und tatsächlicher Zählrate: m = n·e–n·τ (2)
  • Dabei ist m jeweils die gemessene Zählrate, n die tatsächliche Zählrate und τ die Totzeit.
  • Um während der Messung Rechenzeit zu sparen, können vorab aus dem funktionalen Zusammenhang von der jeweiligen Zählrate abhängige Korrekturfaktoren bestimmt und tabelliert werden.
  • Ist dieser Zusammenhang nicht bekannt, können die Korrekturfaktoren durch eine einmalige Vor-Messung mit Hilfe eines Referenzdetektors ermittelt werden. Hierbei wird einfallende Strahlung bei unterschiedlichen Strahlungsintensitäten je weils mit dem Referenzdetektor und dem für die spätere Messung eingesetzten zählenden Strahlungsdetektor gemessen. Die unterschiedlichen Strahlungsintensitäten werden dabei vorzugsweise so gewählt, dass zumindest eine Messung in einem Bereich stattfindet, bei dem der zählende Strahlungsdetektor noch linear arbeitet und zahlreiche weitere Messungen bei Intensitäten, bei denen eine Abweichung von der Linearität aufgrund der Totzeit, im folgenden auch als Pile-up-Effekt bezeichnet, auftritt. Der Referenzdetektor muss dabei selbstverständlich in den jeweiligen Bereichen ausreichend linear arbeiten. Aus einem Vergleich der jeweils gemessenen Werte des Referenzdetektors und des zählenden Strahlungsdetektors können dann die Korrekturwerte für die unterschiedlichen Intensitäten, d.h. die unterschiedlichen Zählraten des zählenden Detektors berechnet werden.
  • Vorzugsweise werden die Korrekturfaktoren, die sich bei unterschiedlichen Zählraten ergeben, in eine Tabelle eingetragen, in der die jeweils vom zählenden Strahlungsdetektor gelieferten Zählraten den zugehörigen Korrekturfaktoren zugeordnet sind. Bei der Durchführung des vorliegenden Verfahrens wird dann jeweils der Wert der momentan gelieferten Zählrate in der Tabelle gesucht und mit dem zugeordneten Korrekturfaktor multipliziert. Als Ausgangswert wird die entsprechend korrigierte Zählrate für die Weiterverarbeitung bereitgestellt.
  • Die Korrektur der vom zählenden Detektor gelieferten Zählraten kann an unterschiedlichen Stellen bei der Weiterverarbeitung dieser Zählraten vorgenommen werden. So kann der Zusammenhang zwischen der gemessenen Zählrate und dem Korrekturfaktor bereits bei der Herstellung des Detektors im ASIC eines Detektormoduls implementiert werden, so dass der zählende Detektor direkt die korrigierten Zählraten liefert. Sind die Korrekturwerte bei der Herstellung des Detektors noch nicht bekannt und müssen erst später durch Messungen ermittelt werden, so bietet sich die Implementierung des Korrekturschrit tes in einer Auswerteeinheit an, die mit dem Detektor während des Betriebes verbunden ist. Im Falle eines zählenden Röntgendetektors, der in Röntgen-Computer-Tomographie-Anlagen eingesetzt wird, kann die Korrektur beispielsweise in der FPGA-Elektronik (FPGA: Field Programmable Gate Array) einer Mess- und Auswerteelektronik (DAS: Data Acquisition System) durchgeführt werden. Weiterhin lässt sich die Korrektur auch erst im Bildrechner bei der Bildrekonstruktion durchführen.
  • Das vorliegende Verfahren sowie eine Röntgen-CT-Anlage, in die das vorliegende Verfahren implementiert ist, werden nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen in Verbindung mit den Zeichnungen nochmals näher erläutert. Hierbei zeigen:
  • 1 Teile einer Röntgen-CT-Anlage mit einem zählenden Röntgen-Detektor sowie einer Korrektureinheit, in die das vorliegende Verfahren implementiert ist;
  • 2 schematisch der Korrekturvorgang anhand eines einzelnen Detektorelementes eines zählenden Detektors; und
  • 3 ein Beispiel für einen Ablauf zur Erstellung der Korrekturtabelle für das vorliegende Verfahren.
  • 1 zeigt schematisch ein Beispiel für Teile einer Röntgen-CT-Anlage mit einem zählenden Röntgendetektor (z.B. auf Basis von CZT oder CdZnTe) sowie einer Korrektureinheit 10, in die das vorliegende Verfahren implementiert ist. In der Figur ist die Gantry der CT-Anlage 1 mit dem rotierenden Teil 3 sowie dem stationären Teil 2 dargestellt. Innerhalb des rotierenden Teils 3 sind die Röntgenröhreneinheit 6 sowie die dieser gegenüber liegende Detektoreinheit 4 zu erkennen. Die Röntgenröhreneinheit 6 umfasst die Röntgenröhre, einen Kollimator, eine Fokuskontrolleinrichtung sowie eine Einrichtung zur Anodenrotation. Die Detektoreinheit 4 umfasst den zählenden Röntgendetektor mit den einzelnen Detektormodulen 5 und ist mit einer Mess- und Auswerteeinheit 10 verbunden, die im vorliegenden Fall ein FPGA umfasst. Weiterhin sind am rotierenden Teil 3 der Gantry ein Master-Controller 7 für den rotierenden Teil, der ggf. auch die Dosismodulation beinhaltet, sowie eine Spannungsversorgung 9 mit einem Hochfrequenzgenerator sowie einer Spannungsquelle für die Röntgenröhreneinheit 6 angeordnet. Die einzelnen Steuersignale und -daten werden vom Master-Controller 7 an die jeweiligen Teileinheiten übertragen oder von diesem empfangen, wie dies in der 1 durch die Pfeile angedeutet ist. Der Master-Controller 7 am rotierenden Teil 3 steht in Verbindung mit einem Master-Controller 8 am stationären Teil 2 der Gantry. Die Signal- und Datenübertragung zwischen beiden Master-Controllern kann beispielsweise über ein korrespondierendes Schleifringpaar erfolgen, das am rotierenden 3 und stationären Teil 2 der Gantry befestigt ist. Der stationäre Master-Controller 8 ist wiederum mit dem Bildrekonstruktionssystem 12 verbunden, in dem die Bildrekonstruktion für die Darstellung an einem Monitor 13 erfolgt.
  • Während des Betriebes der Röntgen-CT-Anlage 1 liefert die Detektoreinheit 4 von den einzelnen Detektorelementen 14 der Detektormodule 5 ständig Zählraten, die entsprechend dem vorliegenden Verfahren korrigiert werden. Die Korrektur in der zugehörigen Korrektureinheit 11 kann hierbei entweder direkt im ASIC eines mehrere der Detektorelemente 14 umfassenden Detektormoduls 5 oder anschließend in der Mess- und Auswerteeinheit 10 erfolgen. Weiterhin ist es selbstverständlich möglich, die nicht korrigierten Zählraten zunächst an die Bildrekonstruktionseinheit 12 zu übermitteln und die Korrektureinheit 11 dort vorzusehen. Die letztgenannten Möglichkeiten sind durch die gestrichelte Darstellung der Korrektureinheit 11 in der Figur veranschaulicht.
  • Bei Detektoreinheiten 4, bei denen die Korrektureinheit im ASIC der Detektormodule 5 implementiert ist, kann die Korrektur der von den einzelnen Detektorelementen 14 gelieferten Zählraten in unterschiedlicher Weise durchgeführt werden. So können für jedes Detektorelement 14, d.h. jedes einzelne Pixel des Detektors, zunächst die Zählraten der Subpixel n1 .. nn des Detektorelementes 14 addiert werden, falls eine Unterteilung der Pixelfläche in Subpixel vorhanden ist. Die aus den Subpixeln addierten Zählraten der gesamten Pixel der Detektoreinheit 4 werden dann parallel mit dem Korrekturfaktor multipliziert. Dies ist durch die schematische Darstellung der 2 veranschaulicht, bei dem die einzelnen Subpixel n1 .. nn eines Pixels zunächst aufsummiert werden und die Summe dann mit dem dieser Zählrate entsprechenden Korrekturfaktor g multipliziert werden.
  • Neben dieser Ausgestaltung ist es auch möglich, die Zählraten der Pixel seriell, also nacheinander, zu korrigieren. Auch eine Korrektur der Zählraten der einzelnen Subpixel vor der Addition ist möglich.
  • Steht der Zusammenhang zwischen der gemessenen und der tatsächlichen Zählrate nicht bereits bei Bereitstellung der Detektoreinheit zur Verfügung, so muss dieser Zusammenhang durch eine Vor-Messung mit dem zählenden Detektor zunächst bestimmt werden. In diesem Fall wird die Korrektur der während des Betriebs gelieferten Zählraten entweder in der Mess- und Auswerteelektronik 10 oder in der Bildrekonstruktionseinheit 12 durchgeführt, die die entsprechende Korrektureinheit 11 enthalten. Zur Erstellung der für die Korrektur erforderlichen Korrekturtabelle, kann beispielsweise das Verfahren gemäß 3 eingesetzt werden. Bei diesem Verfahren wird neben dem zählenden Detektor ein Referenzdetektor eingesetzt, der auch bei maximaler Intensität keine oder nur eine gut korrigierbare Nichtlinearität zeigen darf. Dies ist beispielsweise mit einem Xenon-Gas-Detektor, einem Szintillator mit Photodiode im Integrationsmode oder einem zählenden Detektor im linearen Bereich, der beispielsweise jeweils durch Abschirmung gewährleistet werden kann, realisierbar.
  • Bei dem Verfahren erfolgt in diesem Beispiel jeweils mit dem Referenzdetektor und dem entsprechenden zählenden Detektor eine Messung im Intensitätsbereich unterhalb des Pile-up-Effektes. Anschließend erfolgen n Messungen im Intensitätsbereich, bei dem der Pile-up-Effekt auftritt, sowie eine Messung mit maximaler Intensität, jeweils mit beiden Detektoren. Aus einem Vergleich der jeweils mit beiden Detektoren erhaltenen Messwerte wird schließlich ein Korrekturfaktor für jedes Detektorelement des Detektors und jede Messung, d. h. jede Intensität bzw. Zählrate, ermittelt. Aus diesen Werten kann für jedes Detektorelement des Detektors eine Korrekturkurve oder Korrekturtabelle erstellt und in der Korrektureinheit gespeichert werden. Je mehr Vor-Messungen n bei unterschiedlichen Intensitäten durchgeführt werden, desto genauer kann die spätere Korrektur der Zählrate beim bestimmungsgemäßen Betrieb des zählenden Detektors erfolgen (in der Figur mit dem gestrichelten Pfeil angedeutet). Bei Zählraten, die zwischen den in der Tabelle angelegten Zählraten liegen, kann der zugehörige Korrekturfaktor selbstverständlich auch durch Interpolation zwischen den in der Tabelle vorhandenen Werten ermittelt werden.

Claims (15)

  1. Verfahren zum Betrieb eines zählenden Strahlungsdetektors, insbesondere eines zählenden Röntgendetektors, mit verbesserter Linearität, bei dem jedes Detektorelement (14) des zählenden Strahlungsdetektors (4) während des Betriebs Zählimpulse mit Zählraten in Abhängigkeit von einer Anzahl von pro Zeiteinheit auftreffenden Strahlungsquanten liefert, dadurch gekennzeichnet, dass die von jedem Detektorelement (14) oder von Teilabschnitten des Detektorelementes (14) gelieferten Zählraten über einen funktionalen Zusammenhang in tatsächliche Zählraten umgerechnet werden oder mit von der Höhe der Zählraten abhängigen Korrekturfaktoren multipliziert werden, die für das jeweilige Detektorelement (14) oder die Teilabschnitte hiervon vorab bestimmt werden und eine aufgrund einer Totzeit des Detektorelementes (14) entstehende Abweichung der Zählraten von der tatsächlichen Anzahl der pro Zeiteinheit auftreffenden Strahlungsquanten korrigieren.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrekturfaktoren aus einem funktionalen Zusammenhang zwischen der tatsächlichen Anzahl der pro Zeiteinheit auftreffenden Strahlungsquanten und der Zählraten des jeweiligen Detektorelementes (14) oder der Teilabschnitte hiervon abgeleitet werden.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrekturfaktoren einer Tabelle entnommen werden.
  4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrekturfaktoren für die Detektorelemente (14) oder die Teilabschnitte der Detektorelemente (14) des Strahlungsdetektors (4) vorab mit Hilfe eines Referenzdetektors für un terschiedliche Zählraten ermittelt wird.
  5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrekturfaktoren vorab mit den folgenden Messungen ermittelt werden, die sowohl mit dem Strahlungsdetektor (4) als auch mit dem Referenzdetektor durchgeführt werden: – Messung bei einer Intensität, bei der noch kein Pile-up Effekt beim Strahlungsdetektor (4) auftritt; und – Messungen bei n unterschiedlichen Intensitäten, bei denen ein Pile-up Effekt beim Strahlungsdetektor (4) auftritt; wobei der Referenzdetektor so eingesetzt wird, dass er eine hohe Linearität bei den Messungen aufweist, und aus einem Vergleich der mit dem Strahlungsdetektor (4) und dem Referenzdetektor jeweils bei gleichen Intensitäten erhaltenen Messwerte die Korrekturfaktoren für die einzelnen Zählraten und Detektorelemente (14) oder Teilabschnitte hiervon berechnet werden.
  6. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrektur in einem ASIC eines die Detektorelemente (14) umfassenden Detektormoduls (5) durchgeführt wird.
  7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrektur in einer FPGA-Elektronik einer Mess- und Auswerteeinheit (10) durchgeführt wird, die mit dem Strahlungsdetektor (4) verbunden ist.
  8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrektur in einer Bildrekonstruktionseinheit (12) einer bildgebenden Röntgenanlage (1) durchgeführt wird, in der der Strahlungsdetektor (4) eingesetzt wird.
  9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrektur für alle Detektorelemente (14) des Strahlungsdetektors (4) oder eines Detektormoduls (5) des Strahlungsdetektors (4) gleichzeitig durchgeführt wird.
  10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrektur für die Detektorelemente (14) des Strahlungsdetektors (4) oder eines Detektormoduls (5) des Strahlungsdetektors (4) in zeitlicher Abfolge durchgeführt wird.
  11. Zählender Strahlungsdetektor mit einer Korrektureinheit (11), die eine Korrektur von Zählraten gemäß dem Verfahren der Patentansprüche 1 bis 10 vornimmt.
  12. Röntgenanlage, insbesondere Röntgen-CT-Anlage, mit einem zählenden Röntgendetektor (4) und einer Korrektureinheit (11), die eine Korrektur von Zählraten des Röntgendetektors (4) gemäß dem Verfahren der Patentansprüche 1 bis 10 vornimmt.
  13. Röntgenanlage nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrektureinheit (11) in einem ASIC eines die Detektorelemente (14) umfassenden Detektormoduls (5) implementiert ist.
  14. Röntgenanlage nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrektureinheit (11) in einer FPGA-Elektronik einer Mess- und Auswerteeinheit (10) implementiert ist, die mit dem Strahlungsdetektor (4) verbunden ist.
  15. Röntgenanlage nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrektureinheit (11) in einer Bildrekonstruktionseinheit (12) der Röntgenanlage (1) implementiert ist.
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